JP2005037247A - Physical quantity measuring device with time recording function - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、時間記録とともに自己診断機能、設定量の変更及び電源のオン・オフなどの履歴を保存することができる物理量測定器に関するものである。 The present invention relates to a physical quantity measuring device capable of storing a history of self-diagnosis function, setting amount change, power on / off, etc. along with time recording.
図3に物理量測定器(例えば2線式伝送器)の構成を示す。1は2線式伝送器であり、その内部のマイクロプロセッサ2は図示しないセンサからの信号を加工してD/Aコンバータ3に出力する。D/Aコンバータ3はこの信号をアナログ信号に変換して出力回路4に出カする。出力回路4は入力された信号を4〜20mAなどの電流信号に変換して、通信ライン5を介して外部に出力する。不揮発性メモリ6にはタイマカウンタ7の一定周期の時間が異常発生や設定値変更と共に保存される。
FIG. 3 shows the configuration of a physical quantity measuring device (for example, a two-wire transmitter). Reference numeral 1 denotes a two-wire transmitter, and an
このような2線式伝送器の設定変更や調整は、通信ライン5に接続された機器管理ツール8により行われる。機器管理ツール8は通信ライン5を介して2線式伝送器1に設定変更要求を送信する。この設定変更要求はイベント検出部9を介してマイクロプロセッサ2に伝達される。10は2線式伝送器内に内蔵された設定/調整スイッチである。
Such setting change or adjustment of the two-wire transmitter is performed by the
なお、メモリに時間を記録する装置の先行文献としては次のようなものがある。 Note that the following is a prior document of an apparatus for recording time in a memory.
ところで、上記従来の測定器においては不揮発性メモリにタイマカウンタ7が計測する時間を一定時間ごとに記録していく。しかしながら、不揮発性メモリ書換回数には限度があり現実的ではないという問題があった。
例えば、
タイマカウンタ7が計測する一定時間を1秒
不揮発性メモリ書替回数の限度を10万回とすると
記録可能時間 10万秒 =27.8時間なので
製品耐用年数を10年とすると、27.8時間後に不揮発性メモリの書替回数が10万回を超えてしまい故障となる。
記録可能時間は現実的ではない。
By the way, in the conventional measuring device, the time measured by the
For example,
The fixed time measured by the
The recordable time is not realistic.
従って本発明の目的は、長時間に渡って時間情報を記録可能な物理量測定器を提供することにある。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a physical quantity measuring device capable of recording time information for a long time.
このような課題を解決するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
時間情報と共にイベント情報を記録する時間記録機能付き物理量測定器において、該測定器の内部に設けられたタイマカウンタと、前記測定器に発生したイベントを検出するイベント検出部と、前記タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を記録するとともに前記検出器がイベントを検出したときに、そのイベント履歴を記録する不揮発性メモリとを有し、該不揮発性メモリに時間を記録するに際しては対数的な重み付けに従って記録することにより長時間に渡って時間情報を記録することが可能になる。
In order to solve such a problem, the invention according to claim 1 of the present invention,
In a physical quantity measuring device with a time recording function for recording event information together with time information, a timer counter provided in the measuring device, an event detecting unit for detecting an event generated in the measuring device, and a time of the timer counter And a non-volatile memory that records an event history when the detector detects an event and records a time value in the non-volatile memory according to logarithmic weighting. By recording, time information can be recorded for a long time.
請求項2記載の発明は、請求項l記載の物理量測定器において、
時間記録はイベント発生毎に、タイマカウンタをリセットすることで、イベントの発生時間間隔が高精度にえられる。
The invention according to
In the time recording, by resetting the timer counter at every event occurrence, the event occurrence time interval can be obtained with high accuracy.
請求項3記載の発明は、請求項l記載の物理量測定器において、
前記不揮発性メモリは、予め定めた記録時間の分解能レベル値を記録することで、イベントの発生時間間隔が高精度にえられる。
The invention according to
The non-volatile memory records the resolution level value of a predetermined recording time, so that the event occurrence time interval can be obtained with high accuracy.
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の物理量測定器おいて、
イベントの内容には、自己診断機能、設定量の変更及び電源のオン・オフを含むことで、異常発生時間や設定情報変更時間の特定が容易となる。
The invention according to claim 4 is the physical quantity measuring instrument according to any one of claims 1 to 3,
The content of the event includes a self-diagnosis function, a setting amount change, and power on / off, thereby facilitating specification of an abnormality occurrence time and setting information change time.
請求項5記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載の物理量測定器おいて、
時間の記録を対数的に記録するようにしたことで長時間に渡って時間情報を記録することが可能になる。
The invention according to
By recording the time logarithmically, it becomes possible to record time information for a long time.
請求項6記載の発明は、請求項1〜5のいずれかに記載の物理量測定器おいて、
定周期カウンタと組み合わせ、測定器内部で発生したイベントの発生時間を記録することで、異常発生時間や設定情報変更時間の特定が容易となる。
The invention according to claim 6 is the physical quantity measuring instrument according to any one of claims 1 to 5,
In combination with a fixed period counter, the occurrence time of an event occurring inside the measuring instrument is recorded, so that it is easy to specify the abnormality occurrence time and the setting information change time.
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば、時間情報と共にイベント情報を記録する時間記録機能付き物理量測定器において、該測定器の内部に設けられたタイマと、前記測定器に発生したイベントを検出するイベント検出部と、前記タイマの時刻を記録するとともに前記検出器がイベントを検出したときに、そのイベント履歴を記録する不揮発性メモリとを有し、該不揮発性メモリに時間を記録するに際しては対数的な重み付けに従って記録するようにしたので、長時間に渡ってメモリ交換が不要となり、イベントの発生時間を記録することで、異常発生時間や設定情報変更時間の特定が容易な物理量測定器を実現することができる。 As is apparent from the above description, according to the present invention, in a physical quantity measuring device with a time recording function for recording event information together with time information, a timer provided in the measuring device and generated in the measuring device. An event detection unit that detects the event, and a non-volatile memory that records the time of the timer and records the event history when the detector detects the event, and stores time in the non-volatile memory. Since recording is performed according to logarithmic weighting, it is not necessary to replace the memory over a long period of time, and it is easy to specify the occurrence time of abnormality and setting information change time by recording the event occurrence time. A physical quantity measuring device can be realized.
以下、図に基づいて本発明を詳細に説明する。
図1は本発明に係る時間記録機能付き物理量測定器の一実施例の構成図である。なお、図3と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。図1において、11は本発明で設けた重み付け設定器であり、タイマカウンタの時間情報を表すカウント値を不揮発性メモリに記録するに際して対数的な重み付けを行う。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of a physical quantity measuring device with a time recording function according to the present invention. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same element as FIG. 3, and description is abbreviate | omitted. In FIG. 1,
上述の構成において、設定/調整スイッチ10によって設定変更や調整が行われたときは、その変更や調整がマイクロプロセッサ2に通知され、2線式伝送器1は設定変更や調整を行い、その設定変更や調整の履歴をメモリ6に書き込む。
In the above configuration, when a setting change or adjustment is performed by the setting /
時間記録イベント発生時、マイクロプロセッサ2内に設けたタイマカウンタが時間計測を開始するが、その時間は重み付け設定器で対数的な重み付けが行われ、例えば
2n(n=0〜23)のように設定される。
nが不揮発性メモリに記録する値である。
重み付け設定器で対数的な重み付けをされたタイマカウンタの時間記録する
タイミングを単位時間で表すと以下の通りである。
不揮発性メモリ記録値(記録時間の分解能レベル値)
↓
2の ”0” 乗単位時間( 1単位時間)
2の ”1” 乗単位時間( 2単位時間)
2の ”2” 乗単位時間( 4単位時間)
2の ”3” 乗単位時間( 8単位時間)
2の ”4” 乗単位時間( 16単位時間)
2の ”5” 乗単位時間( 32単位時間)
2の ”6” 乗単位時間( 64単位時間)
2の ”7” 乗単位時間( 128単位時間)
2の ”8” 乗単位時間( 256単位時間)
2の ”9” 乗単位時間( 512単位時間)
2の”10” 乗単位時間( 1024単位時間)
2の”11” 乗単位時間( 2048単位時間)
2の”12” 乗単位時間( 4096単位時間)
2の”13” 乗単位時間( 8192単位時間)
2の”14” 乗単位時間( 16384単位時間)
2の”15” 乗単位時間( 32768単位時間)
2の”16” 乗単位時間( 65536単位時間)
2の”17” 乗単位時間( 131072単位時間)
2の”18” 乗単位時間( 262144単位時間)
2の”19” 乗単位時間( 524288単位時間)
2の”20” 乗単位時間( 1048576単位時間)
2の”21” 乗単位時間( 2097152単位時間)
2の”22” 乗単位時間( 4194304単位時間)
2の”23” 乗単位時間( 8388608単位時間)
この仕組みを用いることによりイベント発生時間間隔が短い時間記録は高精度に得られ、イベント発生時間間隔が長い時間記録は低精度に得られる。
例えばイベント発生時間間隔が短い時間記録の場合、
不揮発性メモリ記録値“1”の場合のイベント発生時間は
1単位時間前≦イベント発生時間<2単位時間前
となり、精度は1単位時間となる。
次に、イベント発生時間間隔が長い時間記録の場合、
不揮発性メモリ記録値“22”の場合のイベント発生時間は
4194304単位時間前≦イベント発生時間<8388608単位時間前
となり、精度は4194304単位時間となる。
When a time recording event occurs, a timer counter provided in the
n is a value recorded in the nonvolatile memory.
The time recording timing of the timer counter that is logarithmically weighted by the weighting setter is expressed in unit time as follows.
Non-volatile memory recording value (resolution level value of recording time)
↓
2 "0" power unit time (1 unit time)
2 "1" power unit time (2 unit hours)
2 "2" power unit time (4 unit hours)
2 "3" power unit time (8 unit hours)
2 "4" power unit time (16 unit hours)
2 "5" power unit time (32 unit hours)
2 "6" power unit time (64 unit hours)
2 7th power unit time (128 unit hours)
2 "8" power unit time (256 unit time)
2 "9" power unit time (512 unit hours)
2 “10” power unit time (1024 unit hours)
2 "11" power unit time (2048 unit time)
2 "12" power unit time (4096 unit time)
2's 13th power unit time (8192 unit time)
2 14th power unit time (16384 unit time)
2 "15" power unit time (32768 unit time)
2 "16" power unit time (65536 unit time)
2's 17th power unit time (131072 unit time)
2 "18" power unit time (262144 unit time)
2 "19" power unit time (524288 unit time)
2's 20th power unit time (1048576 unit time)
2's "21" power unit time (2097152 unit time)
2's 22nd power unit time (4194304 unit time)
2's 23th power unit time (8388608 unit time)
By using this mechanism, a time record with a short event occurrence time interval can be obtained with high accuracy, and a time record with a long event occurrence time interval can be obtained with low accuracy.
For example, in the case of time recording with a short event occurrence time interval,
In the case of the nonvolatile memory recording value “1”, the event occurrence time is 1 unit time ago ≦ event occurrence time <2 unit hours ago, and the accuracy is 1 unit time.
Next, in the case of time recording with a long event occurrence time interval,
In the case of the nonvolatile memory recording value “22”, the event occurrence time is 4194304 unit hours ago ≦ event occurrence time <8388608 unit hours ago, and the accuracy is 4194304 unit hours.
計測完了時、不揮発性メモリ6に時間記録イベント発生からの経過時間の指標値である記録時間の分解能レベル値を記録する。
例えば最小計測時間をl(分)とした場合、測定器の耐用年数を10年とすると、
223=8388608(分)≒ 16(年)に相当するので、十分なマージンが確保できる。
1)重み付け設定器は設定値2nまで計測する。
2)計測完了毎に、不揮発性メモリ6に時間記録イベント発生からの経過峙問時間の指標値として、記録時間の分解能レベル値を記録する。
1),2)を繰り返し行い、n=23まで時間計測を行ったら、タイマカウントを停止し、値nの更新は行わない。
When the measurement is completed, the resolution level value of the recording time which is an index value of the elapsed time from the time recording event occurrence is recorded in the nonvolatile memory 6.
For example, if the minimum measurement time is l (minutes) and the service life of the measuring device is 10 years,
Since 2 23 = 8388608 (minutes) ≈16 (years), a sufficient margin can be secured.
1) The weighting setter measures up to the set value 2n .
2) Every time measurement is completed, the resolution level value of the recording time is recorded in the nonvolatile memory 6 as an index value of the elapsed inquiry time from the occurrence of the time recording event.
When 1) and 2) are repeated and time is measured until n = 23, the timer count is stopped and the value n is not updated.
なお、物理量測定器が、電源OFFの間は時間記録は出来ない。しかし電源0FF時刻検出機能を持つ外部機器と接続されている場合、不揮発性メモリに記録した時間と外部機器がもつ時間管理機能を組み合わせることにより、電源0FFの前に発生した異常発生時間、設定情報変更時間の特定が容易となる。
また、時間記録イベント発生毎に、タイマカウンタをリセットする仕組みを設けることにより、イベントの発生時間間隔が高精度に得られ、異常発生原因の特定が可能となる。
Note that time recording is not possible while the physical quantity measuring instrument is turned off. However, when connected to an external device that has a power supply 0FF time detection function, by combining the time recorded in the non-volatile memory with the time management function of the external device, the occurrence time and setting information of the error that occurred before the power supply 0FF The change time can be easily specified.
Further, by providing a mechanism for resetting the timer counter each time a time recording event occurs, the event occurrence time interval can be obtained with high accuracy, and the cause of the abnormality can be specified.
例えば2n(n=0,1,2,・・・)の場合、異常Aが発生し、l秒未満後異常Bが発生し、8秒後に異常履歴を確認した場合は、以下の通りとなる。
即ち、異常内容Aが一秒後に発生した場合は不揮発性メモリには異常内容Aと共に時間情報が0と記録され、その8秒後に異常Bが発生した場合は異常内容Bと共に時間情報としてが3と記録される。
For example, in the case of 2 n (n = 0, 1, 2,...), Abnormality A occurs, abnormality B occurs after less than 1 second, and abnormality history is confirmed after 8 seconds. Become.
That is, when the abnormal content A occurs after one second, the time information is recorded as 0 along with the abnormal content A in the nonvolatile memory, and when the abnormal B occurs after 8 seconds, the time information is displayed as 3 along with the abnormal content B. Is recorded.
また、対数的な重み付けをした時間と、定周期の時間を組み合わせる時間記録を行うことにより、さらに測定データに適した、時間記録を行うことが可能となる。
図3は稼働時間に対する不揮発性メモリの稼働時間記録間隔及び記録のタイミングの他の実施例を示す図である。
Further, by performing time recording that combines logarithmically weighted time and fixed period time, it is possible to perform time recording that is more suitable for measurement data.
FIG. 3 is a diagram showing another embodiment of the operation time recording interval and recording timing of the nonvolatile memory with respect to the operation time.
図(a,b)は稼働時間と不揮発性メモリの稼働時間記録間隔の関係を示すものである。これらの図において単位時間を分とすると、0〜5分の稼働時間は1単位時間であり、
この時間は不揮発性メモリには0,1,2,3,4,5と記録される。
次に5〜15分の稼働時間は2単位時間なので、不揮発性メモリには7,9,11,13,15と2単位ごとに記録される。
Figures (a, b) show the relationship between the operating time and the operating time recording interval of the nonvolatile memory. In these figures, if the unit time is minutes, the operation time of 0 to 5 minutes is 1 unit time,
This time is recorded as 0, 1, 2, 3, 4, 5 in the nonvolatile memory.
Next, since the operation time of 5 to 15 minutes is 2 unit hours, it is recorded in the nonvolatile memory every 7, 9, 11, 13, and 15 units.
次に15〜30分の稼働時間は3単位時間なので、不揮発性メモリには15,18,21,24,27,30と3単位ごとに記録される。
次に30〜50分の稼働時間は4単位時間なので、不揮発性メモリには34,38,42,46,50と4単位ごとに記録される。以降5,6,7単位ごとに記録するようにしてもよく、ある稼働時間から2n(n=0,1,2,・・・)のように記録するようにしても良い。
Next, since the operation time of 15 to 30 minutes is 3 unit hours, it is recorded in the nonvolatile memory every 15, 18 and 21, 24, 27, and 30.
Next, since the operation time of 30 to 50 minutes is 4 unit hours, 34, 38, 42, 46, and 50 are recorded in the nonvolatile memory every 4 units. Thereafter, recording may be performed every 5, 6, 7 units, or may be recorded as 2n (n = 0, 1, 2,...) From a certain operation time.
なお、この実施例においては16分と26分にイベントが発生しており、不揮発性メモリはその時間と共にイベントの内容を記録する。
このように重み付け設定器で時間情報を表すカウント値を予め任意に設定することにより長時間に渡って時間情報を記録することができる。
In this embodiment, an event occurs at 16 minutes and 26 minutes, and the nonvolatile memory records the contents of the event with the time.
As described above, the time information can be recorded for a long time by arbitrarily setting the count value representing the time information in advance by the weighting setting device.
なお、この実施例では設定変更、調整の履歴を時間情報とともに記憶する例について説明したが、これに限るものではない。その他の操作の履歴を保存する用途にも使用することができる。また、本実施例は2線式伝送器について説明したが、必ずしも2線式伝送器に限られるものではない。時間情報を書き込むメモリを有するもの全てに適用可能である。 In this embodiment, the setting change / adjustment history is stored together with the time information. However, the present invention is not limited to this. It can also be used to save other operation histories. Moreover, although the present Example demonstrated the 2-wire type transmitter, it is not necessarily restricted to a 2-wire type transmitter. The present invention can be applied to all devices having a memory for writing time information.
1 2線式伝送器
2 マイクロプロセッサ
3 D/Aコンバータ
4 出力回路
5 通信ライン
6 不揮発性メモリ
7 タイマ
8 機器管理ツール
9 イベント検知部
10 設定/調整スイッチ
11 重み付け設定器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Two-
Claims (6)
6. The physical quantity measuring device according to claim 1, wherein the physical time measuring device is combined with a fixed-cycle counter and records an occurrence time of an event occurring inside the measuring device.
Priority Applications (1)
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JP2003274521A JP4403741B2 (en) | 2003-07-15 | 2003-07-15 | Physical quantity measuring instrument with time recording function |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2514669A (en) * | 2013-04-17 | 2014-12-03 | Honeywell Int Inc | A system and method for storing and monitoring events at security devices |
EP2913640A1 (en) | 2014-02-27 | 2015-09-02 | Yokogawa Electric Corporation | Measurement system, measurement management apparatus, measurement device, and measurement method |
-
2003
- 2003-07-15 JP JP2003274521A patent/JP4403741B2/en not_active Expired - Lifetime
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EP2913640A1 (en) | 2014-02-27 | 2015-09-02 | Yokogawa Electric Corporation | Measurement system, measurement management apparatus, measurement device, and measurement method |
US10359766B2 (en) | 2014-02-27 | 2019-07-23 | Yokogawa Electric Corporation | Measurement system, measurement management apparatus, measurement device, and measurement method |
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