JP2005037222A - 画像情報における位置補正を自動的に処理する方法 - Google Patents
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Abstract
本発明が解決しようとする課題は、感圧塗料を塗布した模型の表面に働く圧力分布をルミネッセンス画像から計測する際に測定画像の位置補正を自動的に速く行うことができる手法を提供することにある。
【解決手段】
本発明の位置補正を自動的に行う方法は、表面に多数のマークポイントを施した被検体の基準画像において一筆書きで前記マーク群を結んだ1つのパターンを認識させるステップと、測定画像におけるマーク群を結ぶ多数の一筆書きパターンの中から先の認識パターンと最も類似したパターンを選定して対応するマーク同士を特定するステップと、対応をとった各マークの両画像における座標情報からアフィン変換式の係数を求めるステップと、この求めた係数を用いて被検体表面全領域のポイントに適用して補正位置を算出するステップとからなる。
【選択図】 図2
Description
xi=a1+a2xi'+a3yi'+a4xi'2+a5xi'yi'+a6yi'2
yi=b1+b2xi'+b3yi'+b4xi'2+b5xi'yi'+b6yi'2
基準画像と測定画像におけるマーカ同士の対応が分かればそれぞれの画像における位置情報から上記のアフィン変換式の係数が求められる。マーカの数が多いほどより正確な係数を求めることができることになるが、手作業によるマーク同士の対応は時間がかかりすぎるため、自動化が強く望まれるところである。
本発明の位置補正を自動的に行う方法は、一筆書きでマーク群を結んだ1つのパターンを最短距離を条件として最適化手法によって特定するものである。
また、本発明の最適化方法は、測定画像におけるマーク群を結ぶ多数の一筆書きパターンの中から先の認識パターンと最も類似したパターンを選定する手法として、遺伝的アルゴリズムを採用する。
本発明の測定画像の位置補正を自動的に処理する方法は、一筆書きでマーク群を結んだ1つのパターンは最短距離を条件として最適化手法によって特定することにより、単純で判定がし易いパターンをいち早く取得することができ、測定画像のパターン選定についても同じ条件で対応パターンを多くの場合直接得ることができるため、両画像での同じマークポイントの対応を速くとることができる。
更に、本発明の測定画像の位置補正を自動的に処理する方法は、最適化手法として、遺伝的アルゴリズムを採用したものであることにより、適正パターンの特定や対応マークポイントの特定を短時間で行うことができる。しかもマーク数が増えても実用的な時間内に演算が効能である。
Claims (4)
- 表面に多数のマークポイントを施した被検体の基準画像において一筆書きで前記マーク群を結んだ1つのパターンを認識させるステップと、測定画像におけるマーク群を結ぶ多数の一筆書きパターンの中から先の認識パターンと最も類似したパターンを選定して対応するマーク同士を特定するステップと、対応をとった各マークの両画像における座標情報からアフィン変換式の係数を求めるステップと、この求めた係数を用いて被検体表面全領域のポイントに適用して補正位置を算出するステップとからなる測定画像の位置補正を自動的に処理する方法。
- 一筆書きでマーク群を結んだ1つのパターンは最短距離を条件として最適化手法によって特定したものである請求項1に記載の測定画像の位置補正を自動的に処理する方法。
- 最適化手法として、遺伝的アルゴリズムを採用したものである請求項2に記載の測定画像の位置補正を自動的に処理する方法。
- 被検体はロケット若しくは航空機の機体の模型であって、該模型表面には感圧塗料が塗布され、風洞内におけるそのルミネッセンス画像から圧力分布を測定するシステムに適用したものである請求項1乃至3のいずれかに記載の測定画像の位置補正を自動的に処理する方法。
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