JP2005012287A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

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JP2005012287A
JP2005012287A JP2003171435A JP2003171435A JP2005012287A JP 2005012287 A JP2005012287 A JP 2005012287A JP 2003171435 A JP2003171435 A JP 2003171435A JP 2003171435 A JP2003171435 A JP 2003171435A JP 2005012287 A JP2005012287 A JP 2005012287A
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JP
Japan
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integrated circuit
semiconductor integrated
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function module
use restriction
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JP2003171435A
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Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Miura
勉 三浦
Hiroshi Sekibe
洋 関部
Satoshi Bansho
聡志 番正
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor integrated circuit the use of a function mounted module of which can partially be restricted. <P>SOLUTION: The semiconductor integrated circuit includes a use restriction function module 302 whose use is restricted when use restriction release information 410 is invalid; a key information acquisition means 400 for acquiring use permission key information to validate the use restriction function module 302; and an authentication means 402 for authenticating the use permission key information given from the key information acquisition means 400 based on the use permission information stored in advance and validating the use restriction release information 410 and gives the information to the use restriction function module 302 only when the use permission is to be authenticated, and also includes a switching means for switching the use restriction function module 302 to be partially valid and partially invalid. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体集積回路に関し、特に、機能モジュールの使用制限を行えるようにした半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
図9は、機能モジュールの使用制限を行えるようにした従来の半導体集積回路を示す。この図9に示すように、従来の半導体集積回路は使用制限制御回路303を有し、この使用制限制御回路303は、鍵データレジスタ400と認証回路402とを搭載している。301はメモリバス、410は使用制限解除信号である。また302はスクランブル機能モジュールである。
【0003】
このような構成において、鍵データレジスタ400は、メモリバス301から送出されてくる使用許可用鍵データを保持した上で、その使用許可用鍵データを認証回路402に送出する。認証回路402は、秘匿された使用許可情報を比較基準データとしてあらかじめ保有しており、鍵データレジスタ400からの鍵データを使用許可情報と比較する。そして、不一致のときは使用制限解除信号410を使用禁止の状態にする。反対に、一致するときに限って使用制限解除信号410を使用許可の状態にして、スクランブル機能モジュール302に対して使用許可を与える(特許文献1)。
【0004】
【特許文献1】
特開2002−305250号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記した従来の技術では、使用制限制御回路303は、メモリバス301から送出されてくる使用許可用鍵データによってのみ、有効または無効にされている。例えば、フラッシュメモリとのデータ入出力時に使用するスクランブル機能モジュールへの使用制限回路を有する半導体集積回路の場合は、使用制限回路に使用許可鍵情報を与えるとフラッシュメモリ全領域、すなわち入出力される全データに対してスクランブル処理が施される。
【0006】
しかし、利用者がフラッシュメモリを部分的にRAM空間として使用する、というような使用用途においては、スクランブル機能をフラッシュメモリ全領域に対して有効にしない方が望ましい場合がある。ところが、上述した従来の技術では、使用するフラッシュメモリの部分的な領域ごとにスクランブル機能モジュールの使用についての有効/無効を選択する手段はなく、利用者が使用する際に不都合であるという問題点があった。
【0007】
そこで本発明は、このような問題点を解決して、半導体集積回路において、機能搭載モジュールの使用制限を部分的に行えるようにすることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
請求項1に係る本発明は、使用制限解除情報が無効であるときに使用が制限される使用制限付き機能モジュールと、前記使用制限付き機能モジュールを有効化するための使用許可用鍵情報を取得する鍵情報取得手段と、前記鍵情報取得手段から与えられる前記使用許可用鍵情報をあらかじめ保有している使用許可情報に基づいて認証し、使用許可の認証を行うときに限り前記使用制限解除情報を有効にして前記使用制限付き機能モジュールに与える認証手段とを持つ半導体集積回路が、使用制限付き機能モジュールを部分的に有効、無効と切り替える切り替え手段を持つことを特徴とする。
【0009】
請求項2に係る本発明は、請求項1に記載の半導体集積回路であって、使用制限付き機能モジュールがスクランブル機能を持つことを特徴とする。
請求項3に係る本発明は、請求項1または2に記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象であるメモリのアドレス範囲に基づいて行われる構成であることを特徴とする。
【0010】
請求項4に係る本発明は、請求項3記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、アドレス範囲を指定することで決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段によって取得させるか否かにより行われる構成であることを特徴とする。
【0011】
請求項5に係る本発明は、請求項3記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、アドレス範囲を指定することで決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段から認証手段に与えるか否かにより行われる構成であることを特徴とする。
【0012】
請求項6に係る本発明は、請求項3記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、アドレス範囲を指定することで有効にされる使用制限解除情報を認証手段から使用制限付き機能モジュールに与えるか否かにより行われる構成であることを特徴とする。
【0013】
請求項7に係る本発明は、請求項3記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、(a)アドレス範囲を指定することで決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段によって取得させるか否か、(b)アドレス範囲を指定することで決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段から認証手段に与えるか否か、(c)アドレス範囲を指定することで有効にされる使用制限解除情報を認証手段から使用制限付き機能モジュールに与えるか否か、のうちの任意の組み合わせによって行われる構成であることを特徴とする。
【0014】
請求項8に係る本発明は、請求項1または2に記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号に基づいて行われる構成であることを特徴とする。
【0015】
請求項9に係る本発明は、請求項8記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段によって取得させるか否かにより行われる構成であることを特徴とする。
【0016】
請求項10に係る本発明は、請求項8記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段から認証手段に与えるか否かにより行われる構成であることを特徴とする。
【0017】
請求項11に係る本発明は、請求項8記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて有効にされる使用制限解除情報を認証手段から使用制限付き機能モジュールに与えるか否かにより行われる構成であることを特徴とする。
【0018】
請求項12に係る本発明は、請求項8記載の半導体集積回路であって、切り替え手段による切り替え制御が、(a)使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段によって取得させるか否か、(b)使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段から認証手段に与えるか否か、(c)使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて有効にされる使用制限解除情報を認証手段から使用制限付き機能モジュールに与えるか否か、のうちの任意の組み合わせによって行われる構成であることを特徴とする。
【0019】
請求項13に係る本発明は、請求項1から12までのいずれか1項記載の半導体集積回路であって、使用制限制御手段への制御信号の切り替えをプログラムにより動的に行う機能をもつことを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る半導体集積回路の実施の形態について、図面に基づいて詳細に説明する。
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1の半導体集積回路の概略構成と外部フラッシュメモリとを示すブロック図である。100は半導体集積回路、200は半導体集積回路100の外部に設けられたフラッシュメモリである。半導体集積回路100において、300はCPU(中央演算処理装置)、301はメモリバス、302はスクランブル機能モジュール、303は使用制限制御回路である。
【0021】
スクランブル機能モジュール302は、使用が許可された利用者に限って、その使用が可能となっている。すなわち、スクランブル機能モジュール302は、使用制限付きモジュールの一例である。使用許可を与えるか否かを制御するのが、使用制限制御回路303である。CPU300は、メモリバス301に接続されているフラッシュメモリ200からスクランブル機能モジュール302を経由して読み出したプログラムに従って動作する。スクランブル機能モジュール302は、使用制限制御回路303で使用許可の認証をクリアして使用制限解除信号410が使用許可状態となっているときに限って、その使用が可能である。使用制限解除信号410は、レベル“1”、レベル“0”のいずれをその使用許可状態としてもよいが、ここではレベル“1”が使用許可状態であるとする。
【0022】
図2は、フラッシュメモリ200の使用方法を示す図である。本発明においてはフラッシュメモリ200をいくつかの領域に分けて使用するが、ここでは2つの領域に分けて使用することにし、一つをユーザープログラム領域201、もう一つをユーザー情報領域202として使用する。またここではユーザープログラム領域のアドレスを0x200000〜0x2f7fff番地、ユーザー情報領域のアドレスを0x2f8000〜0x2fffff番地とする。
【0023】
図3は、図1における使用制限制御回路303の内部構造を示すブロック図である。ここで、400は鍵情報保持手段としての鍵データレジスタ、401はアドレス範囲を指定する手段としての有効アドレスレジスタ、402は認証手段としての認証回路である。鍵データレジスタ400は、メモリバス301から送出されてくる使用許可用鍵データを保持した上で、この使用許可用鍵データを認証回路402に送出するものである。認証回路402は、秘匿された使用許可情報を比較基準データとしてあらかじめ保有しており、鍵データレジスタ400からの使用許可用鍵データを使用許可情報と比較し、不一致のときは使用制限解除信号410をレベル“0”の使用禁止のままとし、一致するときに限って使用制限解除信号410をレベル“1”に切り替え、スクランブル機能モジュール302に対して使用許可を与える。
【0024】
この切り替えのための制御信号として、有効アドレスレジスタ401から鍵データレジスタ400への制御信号404は、鍵データレジスタ400へ信号を与えるか否かを制御するものである。また有効アドレスレジスタ401から出力される制御信号405は、鍵データレジスタ400から出力される信号とともにAND回路407に入力されることで、この鍵データレジスタ400から出力される信号を認証回路402に与えるか否かを制御する信号である。また有効アドレスレジスタ401から出力される制御信号406は、認証回路402から出力される信号とともにAND回路408に入力されることで、この認証回路402から出力される信号を使用制限解除信号410として使用するか否かを制御するものである。これらの制御信号404、405、406は、すべてを必要とするものではなく、いずれか一つが実装されておればよいものである。二つ以上実装する分にもなんら問題はない。
【0025】
まず、制御信号404によって使用制限解除信号410の切り替え制御を行う場合について説明する。
この場合に、認証回路402は、半導体集積回路100を製品として出荷する時には、使用制限解除信号410として使用禁止を表す“0”を出力する状態に初期設定されている。このとき、使用制限解除信号410として“0”を入力されているスクランブル機能モジュール302は、無効状態になっている。すなわちスクランブル機能モジュール302は使用禁止状態になっている。
【0026】
当該半導体集積回路100の利用者は、スクランブル機能モジュール302を使用したいときは、それを有効化する処理を行う。すなわち、このときに利用者は、アドレス範囲情報を基に有効アドレスレジスタ401によって生成される制御信号404を使用することにより、スクランブル機能モジュールを部分的に有効/無効とする切り替えを行う。その具体的な処理、すなわち、部分的に選択した領域にスクランブル・デスクランブル機能を適用して、フラッシュメモリ200の書き換え・確認作業を行う処理を、図4に示す。
【0027】
図4において、フラッシュメモリ200は、同図(a)に示すように、初期化時すなわち全ビットが書換可能な状態である時のデータは、「x’ff’」である。利用者は、この状態のフラッシュメモリ200の全領域に書き込むデータを作成する。このデータは、ユーザープログラム領域に該当する部分にはプログラムデータが設定されるとともに、ユーザー情報領域に該当する部分には「x’ff’」が設定されたデータである。
【0028】
スクランブル機能モジュール302が使用有効状態である時に、このスクランブル機能モジュール302を部分的に有効にするために、有効アドレスレジスタ401には、0x200000から0x2f7fff(図2)が有効範囲であるというデータを与える。スクランブル機能モジュール302が部分的に有効化された状態で、利用者が用意したデータをフラッシュメモリ200に書き込んだ場合は、図4(b)に示すように、フラッシュメモリ200のユーザープログラム領域201にはスクランブル化されたユーザープログラムデータが書き込まれ、そのユーザー情報領域202には「x’ff’」すなわちスクランブル化されていないデータが書き込まれる。
【0029】
次に、図4(c)に示すように、ユーザー情報領域202にユーザー情報設定データを書き込む。その書き込み内容、書き込みタイミングは、利用者が任意に決めるものである。例として、図1の半導体集積回路100が搭載されたシステムがDVDシステムであった場合は、書き込み内容として、ユーザープログラムの管理番号、各光ディスクメディア毎のレーザーパワーデータ調整値、リージョンコード情報等があげられる。書き込みタイミングとしては、生産ライン上における工程調整段階があげられる。ユーザー情報設定データの具体例の一部分として、ここでは図4(c)に示すようにユーザープログラムの管理番号を x’A5’、x’80’、x’ff’、x’35’として書き込んだものとする。
【0030】
次に、フラッシュメモリ200に書き込まれたデータを確認するために読み出しを行う。以下、図3に示す有効アドレスレジスタ401にはプログラムデータ書き込み時と同じデータが設定されているものとして、説明を行う。データ読み出し時には、図4(d)に示すように、スクランブル機能モジュール302によりデスクランブルが行われる。これにより、ユーザープログラム領域201からは、デスクランブルされたデータ、すなわちユーザーが用意したプログラムデータと同じデータが読み出される。ユーザー情報領域202からの読み出し時には、デスクランブルが行われない書き込み時と同じデータが読み出される。
【0031】
次に、図4(e)に示すように、ユーザープログラム領域201から読み出したデータと、利用者が書き込み時に用意したユーザープログラムデータすなわちアドレス0x200000から0x2f7fffを対象としたデータとの比較を行う。またユーザー情報領域202から読み出したデータは、利用者がユーザー情報設定データとして書き込んだデータであるが、ここではユーザープログラムの管理番号部だけを抽出し、x’A5’、x’80’、x’ff’、x’35’と比較する。比較の結果によって、フラッシュメモリ200からの読み出し、フラッシュメモリ200への書き込みの動作可否の判別を行う。
【0032】
上記においては、有効アドレスレジスタ401から鍵データレジスタ400へ送られる制御信号404によって、鍵データレジスタ400へ信号を与えるか否かを制御することで、使用制限解除信号410の切り替え制御を行う場合について説明した。これに対し、図3に示すように使用制限制御回路303に有効アドレスレジスタ401を持つ構成においては、メモリバス301から与えられる信号に基づき有効アドレスレジスタ401により生成される制御信号405にて、鍵データレジスタ400からの出力を認証回路402に与えるか否かを制御することによっても、使用制限解除信号410の切り替え制御を行うことができる。また、使用制限制御回路303に有効アドレスレジスタ401を持つ構成においては、メモリバス301から与えられる信号に基づき有効アドレスレジスタ401にて生成される制御信号406により、認証回路402から出力される信号を使用制限解除信号410として使用できるか否かを制御することによっても、この使用制限解除信号410の切り替え制御を行うことができる。
(実施の形態2)
図5は、本発明の実施の形態2の半導体集積回路と外部フラッシュメモリとの構成を示すブロック図である。100は半導体集積回路、300はCPU、301はメモリバス、302はスクランブル機能モジュール、303は使用制限制御回路、410は使用制限解除信号である。ここでは、第1のフラッシュメモリ210と第2のフラッシュメモリ220との、二つのフラッシュメモリを備えている。
【0033】
図6は、図5における使用制限制御回路303の内部構造を示すブロック図である。この使用制限制御回路303は、他の半導体集積回路を指定する信号、もしくは他のメモリを選択する信号を生成する指定手段として、セレクタ403を備えている。それ以外の構成については、図3に示した使用制限制御回路303と同様である。
【0034】
図5に示す第1のフラッシュメモリ210がユーザープログラム領域、第2のフラッシュメモリ210がユーザー情報領域としたときに、利用者は、スクランブル機能を第1のフラッシュメモリ210に対してのみ使用したい。このとき、利用者は、第1のフラッシュメモリ210に対してのみスクランブル機能モジュール302が有効になるよう、図6に示すセレクタ403によって鍵データレジスタ400への制御信号404の制御を行う。これにより、使用制限解除信号410の切り替えを行って、使用制限付き機能モジュールとしてのスクランブル機能モジュール302を部分的に有効/無効と切り替える。
【0035】
なお、図6の使用制限制御回路303においては、上記のように鍵データレジスタ400への制御信号404の制御を行うことに代えて、メモリバス301から与えられる信号に基づきセレクタ403により生成される制御信号405にて、鍵データレジスタ400からの出力を認証回路402に与えるか否かを制御することによっても、使用制限解除信号410の切り替え制御を行うことができる。さらに、メモリバス301から与えられる信号に基づきセレクタ403にて生成される制御信号406により、認証回路402から出力される信号を使用制限解除信号410として使用できるか否かを制御することによっても、この使用制限解除信号410の切り替え制御を行うことができる。
(実施の形態3)
図7は、本発明の実施の形態3の半導体集積回路と外部フラッシュメモリとの構成を示すブロック図である。ここでも、第1のフラッシュメモリ210と第2のフラッシュメモリ220との二つのフラッシュメモリを備えている。
【0036】
図8は、図7における使用制限制御回路303の内部構造を示すブロック図である。この使用制限制御回路303は、アドレス範囲を指定する手段としての有効アドレスレジスタ401と、他の半導体集積回路を指定する信号、もしくは他のメモリを選択する信号を生成する指定手段としてのセレクタ403とを備えている。その他の構成については図3あるいは図6に示したものと同様である。
【0037】
第1のフラッシュメモリ210は、ユーザープログラム領域201とユーザー情報領域202とに分けて使用される。これに対し、第2のフラッシュメモリ220は、ユーザープログラム領域201のみを有する。このようなものにおいては、利用者は、スクランブル機能を、第1のフラッシュメモリ210のユーザープログラム領域201と第2のフラッシュメモリ220のユーザープログラム領域201とに対してのみ使用したい。
【0038】
そこで、この第3の実施の形態においては、図8における有効アドレスレジスタ401とセレクタ403とを組み合わせて使用することにより、制御信号404または制御信号405または制御信号406に基づいて制御を行う。これにより、上述した実施の形態1、実施の形態2の場合と同様に、使用制限付き機能モジュールであるスクランブル機能モジュール302を部分的に有効/無効と切り替えることができる。
(実施の形態4)
上記においては、フラッシュメモリ200、210、220からのデータ読み込み時と、フラッシュメモリ200、210、220へのデータ書き込み時とで、共に、有効アドレスレジスタ401へのデータもしくはセレクタ403へのデータを同一にしていた。しかし、ユーザーデータの秘匿性を考慮すると、常に同一である必要はない。フラッシュメモリ200、210、220へ書き込んだユーザーデータの内容確認は、利用者が特定の条件下でのみ行えるようにすることも可能である。
【0039】
すなわち、例えば図3のような構成の使用制限制御回路303を有した図1の半導体集積回路100が搭載されたシステムにおいて、利用者が指定した条件下で読み出しを行ったときにのみ、有効アドレスレジスタ401にプログラム書き込み時と同じデータが設定されるといったこともできる。このようなことは、利用者があらかじめプログラム中に条件の設定を行い、使用制限制御手段303への制御信号がプログラムにより動的に切り替えられることで、実施することができる。このようなものであると、通常使用時において他人がプログラム領域を読み出そうとしても、デスクランブルされないスクランブルされたままのデータが読み出され、利用者が指定した条件に合致したときのみデスクランブルされたユーザープログラム領域のデータを読み出す、というようにすることができる。
【0040】
【発明の効果】
以上のように本発明によると、半導体集積回路において機能搭載モジュールの使用制限を部分的に行えることを実現することにより、使用制限付き機能モジュールを部分的に有効/無効と切り替えることができる利便性を利用者に提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1の半導体集積回路の概略構成とメモリとを示すブロック図
【図2】図1におけるフラッシュメモリの使用形態図
【図3】図1における使用制限制御回路の構成を示すブロック図
【図4】図1におけるフラッシュメモリの動作説明図
【図5】本発明の実施の形態2の半導体集積回路の概略構成とメモリとを示すブロック図
【図6】図5における使用制限制御回路の構成を示すブロック図
【図7】本発明の実施の形態3の半導体集積回路の概略構成とメモリとを示すブロック図
【図8】図7における使用制限制御回路の構成を示すブロック図
【図9】従来の半導体集積回路における使用制限制御回路の構成を示すブロック図
【符号の説明】
100 半導体集積回路
200 フラッシュメモリ
300 CPU
302 スクランブル機能モジュール
303 使用制限制御回路
400 鍵データレジスタ
401 有効アドレスレジスタ
402 認証回路
403 セレクタ
410 使用制限解除信号
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly, to a semiconductor integrated circuit capable of restricting the use of functional modules.
[0002]
[Prior art]
FIG. 9 shows a conventional semiconductor integrated circuit in which the use of function modules can be restricted. As shown in FIG. 9, the conventional semiconductor integrated circuit has a use restriction control circuit 303, and this use restriction control circuit 303 includes a key data register 400 and an authentication circuit 402. 301 is a memory bus, and 410 is a use restriction release signal. Reference numeral 302 denotes a scramble function module.
[0003]
In such a configuration, the key data register 400 holds the use permission key data sent from the memory bus 301 and sends the use permission key data to the authentication circuit 402. The authentication circuit 402 holds secret use permission information in advance as comparison reference data, and compares the key data from the key data register 400 with the use permission information. If they do not match, the use restriction release signal 410 is set to a use-prohibited state. On the other hand, only when they match, the use restriction release signal 410 is set to a use permission state, and use permission is given to the scramble function module 302 (Patent Document 1).
[0004]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laid-Open No. 2002-305250
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional technique described above, the use restriction control circuit 303 is enabled or disabled only by the use permission key data sent from the memory bus 301. For example, in the case of a semiconductor integrated circuit having a use restriction circuit for a scramble function module used at the time of data input / output with a flash memory, if the use permission key information is given to the use restriction circuit, the entire flash memory, that is, input / output is performed. All data is scrambled.
[0006]
However, it may be desirable not to enable the scramble function for the entire area of the flash memory in usages where the user partially uses the flash memory as a RAM space. However, in the above-described conventional technique, there is no means for selecting valid / invalid for use of the scramble function module for each partial area of the flash memory to be used, which is inconvenient for the user to use. was there.
[0007]
Accordingly, an object of the present invention is to solve such problems and to partially limit the use of function-equipped modules in a semiconductor integrated circuit.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The present invention according to claim 1 obtains a function module with use restriction whose use is restricted when the use restriction release information is invalid, and key information for use permission for activating the function module with use restriction And the use restriction release information only when the use permission information is authenticated based on the use permission information held in advance and the use permission information provided from the key information acquisition means is authenticated. A semiconductor integrated circuit having an authentication unit that validates and gives to the function module with use restriction has switch means for partially switching the function module with use restriction between valid and invalid.
[0009]
The present invention according to claim 2 is the semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the functional module with use restriction has a scramble function.
According to a third aspect of the present invention, in the semiconductor integrated circuit according to the first or second aspect, the switching control by the switching unit is performed based on an address range of a memory that is a target of use of the function module with use restriction. It is the structure.
[0010]
According to a fourth aspect of the present invention, in the semiconductor integrated circuit according to the third aspect, the switching control by the switching unit causes the key information acquisition unit to acquire key information for use permission determined by designating an address range. It is the structure performed by whether or not.
[0011]
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the semiconductor integrated circuit according to the third aspect, wherein the switching permission by the switching means is obtained from the key information acquisition means to the authentication means by the use permission key information determined by designating an address range. It is the structure performed by whether it gives to.
[0012]
According to a sixth aspect of the present invention, in the semiconductor integrated circuit according to the third aspect, the use restriction release information that is enabled by the switching control by the switching means being specified by specifying the address range is restricted from use by the authentication means. The configuration is performed depending on whether or not the function module is given.
[0013]
According to a seventh aspect of the present invention, in the semiconductor integrated circuit according to the third aspect, the switching control by the switching means includes: (a) key information obtaining means for obtaining use permission key information determined by designating an address range. (B) whether or not to give the key information for use permission determined by designating the address range from the key information obtaining unit to the authentication unit, and (c) effectively by designating the address range The use restriction cancellation information is given to the functional module with use restriction from the authentication means.
[0014]
The present invention according to claim 8 is the semiconductor integrated circuit according to claim 1 or 2, wherein the switching control by the switching unit is another semiconductor integrated circuit or other memory to which the function module with use restriction is used. It is the structure performed based on the selection signal to (5).
[0015]
The present invention according to claim 9 is the semiconductor integrated circuit according to claim 8, wherein the switching control by the switching means is selected to another semiconductor integrated circuit or another memory that is a target of use of the function module with use restriction. It is characterized in that the configuration is performed depending on whether or not the key information for use permission determined by the signal is acquired by the key information acquisition means.
[0016]
According to a tenth aspect of the present invention, in the semiconductor integrated circuit according to the eighth aspect, the switching control by the switching means is a selection to another semiconductor integrated circuit or another memory that is a target of use of the functional module with use restriction. The configuration is characterized in that it is performed depending on whether the key information for use permission determined by the signal is given from the key information acquisition means to the authentication means.
[0017]
The present invention according to claim 11 is the semiconductor integrated circuit according to claim 8, wherein the switching control by the switching means is selected to another semiconductor integrated circuit or another memory that is a target of use of the function module with use restriction. The configuration is characterized in that it is performed depending on whether or not use restriction release information validated by a signal is given from the authentication means to the function module with use restriction.
[0018]
The present invention according to claim 12 is the semiconductor integrated circuit according to claim 8, wherein the switching control by the switching means is (a) another semiconductor integrated circuit or other memory that is a target of use of the function module with use restriction. Whether or not the key information acquisition means is allowed to acquire use permission key information determined by the selection signal to (b) selection to another semiconductor integrated circuit or other memory that is a target of use of the function module with use restriction Whether or not to give the key information for use permission determined by the signal from the key information acquisition means to the authentication means, and (c) a selection signal to another semiconductor integrated circuit or another memory that is a target of use of the function module with use restriction In the configuration that is performed by any combination of whether or not to give the usage restriction release information that is enabled in the authentication means to the functional module with usage restriction And wherein the Rukoto.
[0019]
A thirteenth aspect of the present invention is the semiconductor integrated circuit according to any one of the first to twelfth aspects, having a function of dynamically switching a control signal to a use restriction control means by a program. It is characterized by.
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of a semiconductor integrated circuit according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a semiconductor integrated circuit according to a first embodiment of the present invention and an external flash memory. Reference numeral 100 denotes a semiconductor integrated circuit, and reference numeral 200 denotes a flash memory provided outside the semiconductor integrated circuit 100. In the semiconductor integrated circuit 100, 300 is a CPU (Central Processing Unit), 301 is a memory bus, 302 is a scramble function module, and 303 is a use restriction control circuit.
[0021]
The scramble function module 302 can be used only by users who are permitted to use it. That is, the scramble function module 302 is an example of a module with use restriction. The use restriction control circuit 303 controls whether or not the use permission is given. The CPU 300 operates according to a program read from the flash memory 200 connected to the memory bus 301 via the scramble function module 302. The scramble function module 302 can be used only when the use restriction control circuit 303 clears the use permission authentication and the use restriction release signal 410 is in the use permission state. The use restriction canceling signal 410 may have either the level “1” or the level “0” in the use permission state, but here the level “1” is in the use permission state.
[0022]
FIG. 2 is a diagram illustrating a method of using the flash memory 200. In the present invention, the flash memory 200 is divided into several areas. Here, the flash memory 200 is divided into two areas. One is used as a user program area 201 and the other is used as a user information area 202. To do. In this example, the address of the user program area is 0x200000 to 0x2f7fff, and the address of the user information area is 0x2f8000 to 0x2fffff.
[0023]
FIG. 3 is a block diagram showing the internal structure of the use restriction control circuit 303 in FIG. Here, 400 is a key data register as key information holding means, 401 is an effective address register as means for specifying an address range, and 402 is an authentication circuit as authentication means. The key data register 400 holds the use permission key data sent from the memory bus 301 and sends the use permission key data to the authentication circuit 402. The authentication circuit 402 holds secret use permission information in advance as comparison reference data, compares the use permission key data from the key data register 400 with the use permission information, and if they do not match, the use restriction release signal 410. The use restriction cancellation signal 410 is switched to the level “1” only when they match, and the use permission is given to the scramble function module 302.
[0024]
As a control signal for switching, a control signal 404 from the effective address register 401 to the key data register 400 controls whether or not a signal is given to the key data register 400. The control signal 405 output from the effective address register 401 is input to the AND circuit 407 together with the signal output from the key data register 400, so that the signal output from the key data register 400 is given to the authentication circuit 402. It is a signal that controls whether or not. Further, the control signal 406 output from the effective address register 401 is input to the AND circuit 408 together with the signal output from the authentication circuit 402, so that the signal output from the authentication circuit 402 is used as the use restriction release signal 410. This is to control whether or not to do. These control signals 404, 405, and 406 do not need all, and any one of them may be implemented. There is no problem with implementing two or more.
[0025]
First, a case where switching control of the use restriction release signal 410 is performed by the control signal 404 will be described.
In this case, when the semiconductor integrated circuit 100 is shipped as a product, the authentication circuit 402 is initially set to a state of outputting “0” indicating prohibition of use as the use restriction release signal 410. At this time, the scramble function module 302 to which “0” is input as the use restriction release signal 410 is in an invalid state. That is, the scramble function module 302 is disabled.
[0026]
When the user of the semiconductor integrated circuit 100 wants to use the scramble function module 302, the user performs a process of enabling it. That is, at this time, the user performs switching to partially enable / disable the scramble function module by using the control signal 404 generated by the effective address register 401 based on the address range information. FIG. 4 shows specific processing, that is, processing for rewriting and checking the flash memory 200 by applying the scramble / descramble function to a partially selected area.
[0027]
4, in the flash memory 200, as shown in FIG. 4A, data at the time of initialization, that is, when all bits are rewritable, is “x′ff ′”. The user creates data to be written in the entire area of the flash memory 200 in this state. This data is data in which program data is set in a portion corresponding to the user program area, and “x′ff ′” is set in a portion corresponding to the user information area.
[0028]
When the scramble function module 302 is in a usable valid state, in order to partially validate the scramble function module 302, the valid address register 401 is given data indicating that the valid range is from 0x200000 to 0x2f7fff (FIG. 2). . When data prepared by the user is written in the flash memory 200 with the scramble function module 302 partially enabled, the user program area 201 of the flash memory 200 is stored in the user program area 201 as shown in FIG. The scrambled user program data is written, and “x'ff '”, that is, the unscrambled data is written in the user information area 202.
[0029]
Next, as shown in FIG. 4C, user information setting data is written in the user information area 202. The contents and timing of writing are arbitrarily determined by the user. As an example, when the system in which the semiconductor integrated circuit 100 of FIG. 1 is mounted is a DVD system, the user program management number, the laser power data adjustment value for each optical disk medium, region code information, etc. can give. As the write timing, there is a process adjustment stage on the production line. As a part of a specific example of the user information setting data, the user program management numbers are written as x'A5 ', x'80', x'ff ', x'35' as shown in FIG. Shall.
[0030]
Next, reading is performed to confirm the data written in the flash memory 200. In the following description, it is assumed that the same data as that at the time of program data writing is set in the effective address register 401 shown in FIG. At the time of data reading, descrambling is performed by the scramble function module 302 as shown in FIG. As a result, the descrambled data, that is, the same data as the program data prepared by the user is read from the user program area 201. At the time of reading from the user information area 202, the same data as at the time of writing without descrambling is read.
[0031]
Next, as shown in FIG. 4E, the data read from the user program area 201 is compared with the user program data prepared by the user at the time of writing, that is, data targeting addresses 0x200000 to 0x2f7fff. The data read from the user information area 202 is data written by the user as user information setting data. Here, only the management number part of the user program is extracted, and x'A5 ', x'80', x Compare with 'ff', x'35 '. Based on the result of the comparison, it is determined whether or not reading from the flash memory 200 and writing to the flash memory 200 are possible.
[0032]
In the above, switching control of the use restriction release signal 410 is performed by controlling whether or not to give a signal to the key data register 400 by the control signal 404 sent from the effective address register 401 to the key data register 400. explained. On the other hand, in the configuration in which the use restriction control circuit 303 has the effective address register 401 as shown in FIG. 3, the control signal 405 generated by the effective address register 401 based on the signal supplied from the memory bus 301 Switching control of the use restriction release signal 410 can also be performed by controlling whether or not the output from the data register 400 is given to the authentication circuit 402. Further, in the configuration in which the use restriction control circuit 303 has the effective address register 401, a signal output from the authentication circuit 402 is generated by a control signal 406 generated by the effective address register 401 based on a signal given from the memory bus 301. The switching control of the use restriction release signal 410 can also be performed by controlling whether or not the use restriction release signal 410 can be used.
(Embodiment 2)
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of the semiconductor integrated circuit and the external flash memory according to the second embodiment of the present invention. Reference numeral 100 denotes a semiconductor integrated circuit, 300 denotes a CPU, 301 denotes a memory bus, 302 denotes a scramble function module, 303 denotes a use restriction control circuit, and 410 denotes a use restriction release signal. Here, two flash memories, a first flash memory 210 and a second flash memory 220, are provided.
[0033]
FIG. 6 is a block diagram showing the internal structure of the use restriction control circuit 303 in FIG. The use restriction control circuit 303 includes a selector 403 as designation means for generating a signal for designating another semiconductor integrated circuit or a signal for selecting another memory. The other configuration is the same as that of the use restriction control circuit 303 shown in FIG.
[0034]
When the first flash memory 210 shown in FIG. 5 is the user program area and the second flash memory 210 is the user information area, the user wants to use the scramble function only for the first flash memory 210. At this time, the user controls the control signal 404 to the key data register 400 by the selector 403 shown in FIG. 6 so that the scramble function module 302 is effective only for the first flash memory 210. As a result, the usage restriction cancellation signal 410 is switched, and the scramble function module 302 as the functional module with usage restriction is partially switched between valid / invalid.
[0035]
6 is generated by the selector 403 based on a signal given from the memory bus 301 instead of controlling the control signal 404 to the key data register 400 as described above. Switching control of the use restriction release signal 410 can also be performed by controlling whether or not the output from the key data register 400 is given to the authentication circuit 402 by the control signal 405. Furthermore, by controlling whether or not the signal output from the authentication circuit 402 can be used as the use restriction release signal 410 by the control signal 406 generated by the selector 403 based on the signal given from the memory bus 301, Switching control of the use restriction release signal 410 can be performed.
(Embodiment 3)
FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of the semiconductor integrated circuit and the external flash memory according to the third embodiment of the present invention. Here, two flash memories of the first flash memory 210 and the second flash memory 220 are provided.
[0036]
FIG. 8 is a block diagram showing the internal structure of the use restriction control circuit 303 in FIG. The use restriction control circuit 303 includes an effective address register 401 as means for specifying an address range, and a selector 403 as specification means for generating a signal for specifying another semiconductor integrated circuit or a signal for selecting another memory. It has. Other configurations are the same as those shown in FIG. 3 or FIG.
[0037]
The first flash memory 210 is divided into a user program area 201 and a user information area 202. On the other hand, the second flash memory 220 has only the user program area 201. In such a case, the user wants to use the scramble function only for the user program area 201 of the first flash memory 210 and the user program area 201 of the second flash memory 220.
[0038]
Therefore, in the third embodiment, control is performed based on the control signal 404, the control signal 405, or the control signal 406 by using the effective address register 401 and the selector 403 in FIG. 8 in combination. Accordingly, as in the case of the first embodiment and the second embodiment described above, the scramble function module 302 that is a function module with use restriction can be partially switched between valid / invalid.
(Embodiment 4)
In the above description, the data in the effective address register 401 or the data in the selector 403 is the same both when reading data from the flash memories 200, 210, and 220 and when writing data to the flash memories 200, 210, and 220. I was doing. However, considering the confidentiality of user data, it is not always necessary to be the same. It is possible to allow the user to confirm the contents of the user data written to the flash memories 200, 210, and 220 only under specific conditions.
[0039]
That is, for example, in a system in which the semiconductor integrated circuit 100 of FIG. 1 having the use restriction control circuit 303 configured as shown in FIG. 3 is mounted, the effective address is only obtained when reading is performed under the conditions specified by the user. It is also possible to set the same data in the register 401 as when writing a program. This can be implemented by the user setting conditions in the program in advance and the control signal to the use restriction control means 303 being dynamically switched by the program. In such a case, even when someone else tries to read the program area during normal use, the scrambled data that is not descrambled is read and descrambled only when the condition specified by the user is met. It is possible to read out data in the user program area that has been set.
[0040]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to partially switch the function module with use restriction between valid / invalid by realizing that the function use module can be partially restricted in the semiconductor integrated circuit. Can be provided to users.
[Brief description of the drawings]
1 is a block diagram showing a schematic configuration and a memory of a semiconductor integrated circuit according to a first embodiment of the present invention; FIG. 2 is a usage pattern diagram of a flash memory in FIG. 1; FIG. 4 is a block diagram showing an operation of the flash memory in FIG. 1. FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of a semiconductor integrated circuit according to a second embodiment of the present invention and a memory. FIG. 7 is a block diagram showing a schematic configuration of a semiconductor integrated circuit according to a third embodiment of the present invention and a memory. FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of a usage restriction control circuit in FIG. Block diagram [FIG. 9] A block diagram showing the configuration of a use restriction control circuit in a conventional semiconductor integrated circuit
100 Semiconductor Integrated Circuit 200 Flash Memory 300 CPU
302 Scramble function module 303 Usage restriction control circuit 400 Key data register 401 Effective address register 402 Authentication circuit 403 Selector 410 Usage restriction release signal

Claims (13)

使用制限解除情報が無効であるときに使用が制限される使用制限付き機能モジュールと、前記使用制限付き機能モジュールを有効化するための使用許可用鍵情報を取得する鍵情報取得手段と、前記鍵情報取得手段から与えられる前記使用許可用鍵情報をあらかじめ保有している使用許可情報に基づいて認証し、使用許可の認証を行うときに限り前記使用制限解除情報を有効にして前記使用制限付き機能モジュールに与える認証手段とを持つ半導体集積回路であって、使用制限付き機能モジュールを部分的に有効、無効と切り替える切り替え手段を持つ半導体集積回路。A use-restricted function module whose use is restricted when the use restriction release information is invalid, a key information obtaining unit for obtaining use permission key information for enabling the use-restricted function module, and the key The use restricted function which validates the use restriction release information only when authenticating the use permission by authenticating the use permission key information given from the information acquisition means in advance and performing use permission authentication. A semiconductor integrated circuit having authentication means for giving to a module, and having switching means for switching a function module with use restriction partially between valid and invalid. 使用制限付き機能モジュールがスクランブル機能を持つ請求項1記載の半導体集積回路。The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the functional module with use restriction has a scramble function. 切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象であるメモリのアドレス範囲に基づいて行われる構成である請求項1または2記載の半導体集積回路。3. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the switching control by the switching means is performed based on an address range of a memory that is a target of use of the function module with use restriction. 切り替え手段による切り替え制御が、アドレス範囲を指定することで決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段によって取得させるか否かにより行われる構成である請求項3記載の半導体集積回路。4. The semiconductor integrated circuit according to claim 3, wherein the switching control by the switching unit is performed depending on whether or not the key information acquiring unit acquires use permission key information determined by designating an address range. 切り替え手段による切り替え制御が、アドレス範囲を指定することで決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段から認証手段に与えるか否かにより行われる構成である請求項3記載の半導体集積回路。4. The semiconductor integrated circuit according to claim 3, wherein the switching control by the switching means is performed depending on whether or not use permission key information determined by designating an address range is given from the key information acquisition means to the authentication means. 切り替え手段による切り替え制御が、アドレス範囲を指定することで有効にされる使用制限解除情報を認証手段から使用制限付き機能モジュールに与えるか否かにより行われる構成である請求項3記載の半導体集積回路。4. The semiconductor integrated circuit according to claim 3, wherein the switching control by the switching means is performed depending on whether or not use restriction release information that is enabled by designating an address range is given from the authentication means to the function module with use restriction. . 切り替え手段による切り替え制御が、
(a)アドレス範囲を指定することで決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段によって取得させるか否か、
(b)アドレス範囲を指定することで決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段から認証手段に与えるか否か、
(c)アドレス範囲を指定することで有効にされる使用制限解除情報を認証手段から使用制限付き機能モジュールに与えるか否か、
のうちの任意の組み合わせによって行われる構成である請求項3記載の半導体集積回路。
Switching control by switching means is
(A) whether to allow the key information acquisition means to acquire key information for use permission determined by specifying an address range;
(B) whether or not to give use permission key information determined by designating an address range from the key information acquisition means to the authentication means;
(C) whether or not to give usage restriction release information that is enabled by designating an address range from the authentication means to the functional module with usage restrictions;
4. The semiconductor integrated circuit according to claim 3, wherein the semiconductor integrated circuit is configured by any combination of the above.
切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号に基づいて行われる構成である請求項1または2記載の半導体集積回路。3. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the switching control by the switching means is performed based on a selection signal to another semiconductor integrated circuit or another memory that is a target of use of the function module with use restriction. 切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段によって取得させるか否かにより行われる構成である請求項8記載の半導体集積回路。Whether or not the switching control by the switching means causes the key information acquisition means to acquire use permission key information determined by a selection signal to another semiconductor integrated circuit or another memory that is a target of use of the function module with use restriction 9. The semiconductor integrated circuit according to claim 8, wherein the semiconductor integrated circuit is configured as described above. 切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段から認証手段に与えるか否かにより行われる構成である請求項8記載の半導体集積回路。Whether the switching control by the switching means gives the key information for use permission determined by the selection signal to another semiconductor integrated circuit or another memory to be used for the function module with use restriction from the key information acquisition means to the authentication means. The semiconductor integrated circuit according to claim 8, wherein the semiconductor integrated circuit is configured depending on whether or not. 切り替え手段による切り替え制御が、使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて有効にされる使用制限解除情報を認証手段から使用制限付き機能モジュールに与えるか否かにより行われる構成である請求項8記載の半導体集積回路。Switching control by the switching means is used from the authentication means to the function module with use restriction, which is enabled by the selection signal to the other semiconductor integrated circuit or other memory to be used by the function module with use restriction. The semiconductor integrated circuit according to claim 8, wherein the semiconductor integrated circuit is configured to be performed depending on whether or not to provide. 切り替え手段による切り替え制御が、
(a)使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段によって取得させるか否か、
(b)使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて決められる使用許可用鍵情報を鍵情報取得手段から認証手段に与えるか否か、
(c)使用制限付き機能モジュールの使用対象である他の半導体集積回路もしくは他のメモリへの選択信号にて有効にされる使用制限解除情報を認証手段から使用制限付き機能モジュールに与えるか否か、
のうちの任意の組み合わせによって行われる構成である請求項8記載の半導体集積回路。
Switching control by switching means is
(A) whether or not to allow the key information obtaining means to obtain use permission key information determined by a selection signal to another semiconductor integrated circuit or another memory that is a target of use of the function module with use restriction;
(B) whether or not to give key information for use permission determined by a selection signal to another semiconductor integrated circuit or another memory to be used by the function module with use restriction from the key information acquisition unit to the authentication unit;
(C) Whether or not use restriction release information validated by a selection signal to another semiconductor integrated circuit or another memory that is a target of use of the function module with use restriction is given from the authentication means to the function module with use restriction ,
9. The semiconductor integrated circuit according to claim 8, wherein the semiconductor integrated circuit is configured by any combination of the above.
使用制限制御手段への制御信号の切り替えをプログラムにより動的に行う機能をもつ請求項1から12までのいずれか1項記載の半導体集積回路。13. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, which has a function of dynamically switching a control signal to the use restriction control means by a program.
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