JP2005006123A - Lvds receiver - Google Patents

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JP2005006123A JP2003168424A JP2003168424A JP2005006123A JP 2005006123 A JP2005006123 A JP 2005006123A JP 2003168424 A JP2003168424 A JP 2003168424A JP 2003168424 A JP2003168424 A JP 2003168424A JP 2005006123 A JP2005006123 A JP 2005006123A
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pll circuit
serial
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lvds receiver
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JP2003168424A
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Hitoshi Tomizawa
仁 冨澤
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Sharp Corp
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Sharp Corp
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  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an LVDS receiver which is not affected by the change of transition time and is capable of maximizing a skew margin. <P>SOLUTION: The LVDS receiver is provided with a voltage controlled oscillator having a plurality of stages of ring oscillators and a frequency divider of which the multiplication ratio is 2. The LVDS receiver is further provided with: a PLL circuit 2 which divides the frequency of the output signal of each stage of the voltage controlled oscillator by using the frequency divider; a common edge sense timing generator 7 which uses signals having frequencies divided by the PLL circuit 2 to generate clock signals of a plurality of equi-spaced phases from edges being in the same transition state as an input signal edge to which the PLL circuit 2 is locked; and a serial/parallel converter 8 which uses the clock signals generated by the common edge sense timing generator 7 to perform serial/parallel conversion. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
この発明は、高速動作、低消費電力が要求されるLCD(液晶表示装置)に代表されるFPD(フラットパネルディスプレイ)パネルのインタフェースに使用されるLVDS(LowVoltage Differential Signaling)レシーバおよびそれを設けた半導体集積装置に関するもので、製造プロセスのばらつきの影響を抑制し、LVDSレシーバの精度、性能向上に寄与する有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
上述したLVDSレシーバとしては、PLL(フェイズ・ロックド・ループ)回路を備えるものが知られている。
【0003】
図6に従来のPLL回路の構成を示す。このPLL回路は、位相比較器91、チャージポンプ92、ループフィルタ93、電圧制御発振器(以下VCOと記す。)94および分周器95を有する。
【0004】
位相比較器91は、基準信号FRと分周器95からの帰還信号FPとの間の位相差を検出し、VCO94の発振周波数を上昇させる制御信号UPまたは下降させる制御信号DNを出力する。基準信号FRに対して帰還信号FPが遅れているときは、位相比較器91はVCO94の発振周波数を上昇させる制御信号UPを位相差に相当する期間出力する。逆に、基準信号FRに対して帰還信号FPが進んでいるときは、位相比較器91はVCO94の発振周波数を下降させる制御信号DNを位相差に相当する期間出力する。このように位相比較器91は、入力された2つの信号の位相差をパルス幅変調した信号として出力する。
【0005】
チャージポンプ92は、位相比較器91からの制御信号(UPまたはDN)をアナログ信号に変換し、その出力信号CPOはループフィルタ93に通されて制御電圧VcとしてVCO94に出力される。
【0006】
ループフィルタ93は、抵抗と容量とで構成されたローパスフィルタ回路(以下LPFと記す。)であり、チャージポンプ92からの出力信号CPOに含まれる高周波ノイズ等を低減させる目的およびフィードバックループを安定化させる目的で用いられる。
【0007】
VCO94の出力信号FOは、このPLL回路の出力信号FOとして出力されるとともに、分周器95で分周されて帰還信号FPとして位相比較器91へ入力される。その際、出力信号FOは分周器95で1/Nの周波数に変換されるので、帰還信号FPと出力信号FOとの関係は下記(1)式で表される。
【0008】
【数1】
FP=FO/N・・・(1)
このように構成されたPLL回路は、FR=FPとなるように制御電圧Vcを制御するので、出力信号FOは下記(2)式のように表される。すなわち、基準信号FRに対してN倍の周波数とされた出力信号FOがPLL回路から出力される。
【0009】
【数2】
FO=N×FR・・・(2)
図7は、シリアル・パラレル変換器の回路構成を示す図である。このシリアル・パラレル変換器は、例えば7bitのシリアルデータをパラレルデータに変換する場合の例であり、7個のフリップフロップを有するシリアル・パラレル変換器に、PLL回路から入力クロックを7逓倍したクロックを与えて7bitのシリアルデータをパラレルデータに変換して出力するように構成されている。なお、図8は、この場合における入力クロックとシリアルデータと7逓倍クロックとの関係を示す図である。
【0010】
しかし、上述したようにPLL回路を7逓倍で動作させる場合には、高速化に伴い消費電力が増大化し、またVCOの高速動作に対する設計が困難になるという問題がある。このことを以下に詳細に説明する。即ち、LVDSレシーバを使用したLCD用インタフェース回路等においては、入力クロックを7逓倍しシリアル・パラレル変換用のラッチクロックを生成する必要があるため、上記PLL回路の分周比N=7としてPLL回路を構成する。このとき、VCOの発振周波数は入力クロックの7倍(N=7)となる。しかし、入力クロックを7逓倍することによりVCOの発振周波数が7倍となることで消費電力が増加するとともに、入力クロックの高速化に対しVCOを7倍の周波数で発振させることが困難になるという問題がある。
【0011】
そこで、上記問題を解決するための技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
【0012】
この提案技術は、図9に示すようにPLL回路を逓倍化せず、VCO部の複数段にリングオシレータのそれぞれの各段から出力p1〜p7を取出すことによって、等間隔の複数の位相クロック信号を取出し、その各クロック信号のエッジを用いてシリアル・パラレル変換を動作させるように構成し、複数段のリングオシレータにおける各段の負荷を等価にし、それぞれのクロック信号を利用して等間隔の複数相のクロック信号を生成する技術である。このため、入力クロック信号の複数倍周波数のラッチ動作を複数逓倍せずに行うことができるので、高速動作を低発振周波数で実現することが可能となる。
【0013】
【特許文献1】
特開2002−94360号公報
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記提案技術では、PLL回路におけるVCOを構成する複数のリングオシレータ各段の出力はPLL回路をロックさせる入力クロック信号のエッジ極性とは反対の極性でラッチするタイミングとなり、図10に示すように立上り遷移時間(Δtr)と立下り遷移時間(Δtf)の相違により、図11に示すようにシリアルデータをラッチするp1〜p7の立下りエッジ位置はデータValidセンターにはならない。図11(b)に示すように遷移時間が短い(小)ときはセンターよりも左寄りとなり、遷移時間が長い(大)ときはセンターよりも右寄りとなる。それは、前記リングオシレータを構成するインバータ素子は、製造プロセスのばらつき等により立上り、立下りエッジの遷移時間が異なるからである。
【0015】
図10に、周期Tに対してPLL回路を構成する7段のリングオシレータの各段における出力p1〜p7のタイミングを示す。
【0016】
この図10において、周期Tに対してリングオシレータ各段の出力波形に注目すると、周期TでかつPLL回路が立上りエッジでロックしているので、各出力波形の周期Tは、T=tH(High Time;ハイタイム)+tL(Low Time;ロータイム)で表される。そして、上記立下り、立上りの遷移時間に関しては、リングオシレータを構成するインバータ素子の製造プロセスのばらつき、動作温度の影響等々により違いを生じる。よって、tH≠tL(Duty比は50%ではない。)であることが分かる。
【0017】
したがって、この技術では、図10に示すようにPLL回路を入力クロックの立上りエッジでロックさせるとすると、図11に示すようにシリアルデータをラッチするクロックは立下りでシリアルデータをラッチするタイミングとなる。このため、製造プロセスのばらつき等により遷移時間が変化した場合、シリアルデータをラッチする立下りのエッジ位置が変動することになる。つまり、遷移時間が小さいとシリアルデータをラッチするエッジ位置は図11のようにセットアップタイム(setup−time)を減少させる方向へシフトすることになり、反対に遷移時間が大きいとホールドタイム(hold−time)を減少させる方向にシフトすることとなる。
【0018】
この遷移時間の変化は、シリアル・パラレル変換用のクロック信号のシリアルデータが高速化されるに従い、シリアルデータをラッチする際のセットアップ/ホールドタイムマージンのいずれかを減少させることとなり、入力されるシリアルデータとクロック間にスキューが発生した場合に、正しくシリアル・パラレル変換が行われなくなるという虞が有る。また、LVDSレシーバの重要スペックであるスキューマージンも減少させることにつながる。
【0019】
本発明は、このような従来技術の課題を解決するためになされたもので、遷移時間の変化の影響を受けることがなく、しかもスキューマージンを最大とすることができるLVDSレシーバを提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】
本発明のLVDSレシーバは、複数段のリングオシレータを有する電圧制御発振器および逓倍比が偶数である分周器を備え、該電圧制御発振器における各段の出力信号のそれぞれを該分周器で分周するPLL回路と、該PLL回路により分周された信号を用い、該PLL回路がロックしている入力信号エッジの遷移状態と同一遷移状態のエッジから等間隔の複数相のクロック信号を作成する信号作成手段と、該信号作成手段により作成された該クロック信号を用いてシリアル・パラレル変換を行うシリアル・パラレル変換器とを具備することを特徴とする。
【0021】
この発明のLVDSレシーバにあっては、PLL回路を偶数逓倍する構成とし、かつVCOを構成するリングオシレータの各段における出力信号のどちらか一方のエッジ(立上り又は立下り)だけを利用する信号作成手段を設けた構成としてあるので、遷移時間、デューティ比のような製造プロセス変動の影響を受けることなく等間隔で複数相のクロック信号を作成することが可能となる。これにより、シリアルデータの各ビットに対するクロック信号のセットアップ/ホールドマージンを最大化できるとともに、シリアルデータに対する入力クロック信号の耐スキューマージンを最大とすることが可能となる。
【0022】
本発明のLVDSレシーバにおいて、前記信号作成手段が、前記入力信号の同一エッジにのみに反応するコモンエッジセンスタイミング発生器である構成とすることができる。この構成にあっては、フリップフロップを用いて簡単に作製することができる。
【0023】
本発明のLVDSレシーバにおいて、インタフェース用LSI、前記PLL回路および前記シリアル・パラレル変換器が半導体基板上に形成されている構成とすることができる。この構成にあっては、半導体集積装置として半導体基板上に回路の集積化が図れ、小型化することが可能となる。なお、インタフェース用LSIとしては、LCD等のFPDパネルに用いられるものが該当する。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の一実施形態を具体的に説明する。
【0025】
図1に本発明に係るLVDSレシーバの構成図を示す。このLVDSレシーバ1は、偶数逓倍のPLL回路2と、LVDS入力バッファ回路3、4、5、6と、
信号作成手段としてのコモンエッジセンスタイミング信号発生器7と、シリアル・パラレル変換器8とを有する。なお、入力バッファ回路3〜6は、LSIからなり、例えばLCD等のFPDパネルのインタフェースに用いられるものであり、また、PLL回路2、LVDS入力バッファ回路3〜6、コモンエッジセンスタイミング信号発生器7およびシリアル・パラレル変換器8は、単一の半導体基板10上に形成されている。
【0026】
PLL回路2は、図2に示すように位相比較器21、チャージポンプ22、LPF(ループフィルタ)23、VCO24、分周(逓倍)器25を有する。
【0027】
位相比較器21は、基準クロック信号FRと分周器25からの期間信号FPとの間の位相差を検出し、VCO24の発振周波数を上昇させる制御信号UPまたは下降させる制御信号DNを出力する。基準信号FRに対して帰還信号FPが遅れている時、位相比較器21からVCO24の発振周波数を上昇させる制御信号UPが位相差に相当する期間出力される。反対に基準信号FRに対し帰還信号FPが進んでいる時は、位相比較器21からVCO24の発振周波数を下降させる制御信号DNが位相差に相当する期間出力される。このように、位相比較器21は入力される2つの信号FRとFPの位相差をパルス幅変換した信号を出力する。
【0028】
チャージポンプ22は、位相比較器21からの制御信号(UP又はDN)をアナログ信号に変換し、その出力信号CPOを、ループフィルタ23を通して制御電圧VcとしてVCO24に与える。
【0029】
ループフィルタ23は、抵抗およびコンデンサで構成されたローパスフィルタ回路であり、チャージポンプ92からの出力信号CPOに含まれるノイズ等を低減する目的で用いられる。
【0030】
VCO24は、7段のリングオシレータ(インバータ素子)24a、24b、24c、24d、24e、24fおよび24gを有し、VCO24の出力信号S1は、このPLL回路2の出力信号として出力されるとともに、分周器25で分周され帰還信号FPとして位相比較器21へ入力される。その際、出力信号S1は分周器25で1/N(Nは整数)の周波数に変換されるので、帰還信号FPと出力信号S1の関係はFP=S1/N、すなわちS1=N・FPとなり、N逓倍されることとなる。すなわちFR=FPとなるようにPLL回路2は動作するので、基準信号FRに対してN倍の周波数の出力信号S1が出力されることとなる。したがって、VCO24中のリングオシレータの各タップ出力信号S1〜S7も同様にN倍の周波数となる。
【0031】
ここで、この分周比N、すなわち逓倍比Nを2とし、VCOを構成するリングオシレータの段数を7段とした例を図2に示す。このように構成することで2逓倍PLL回路となる。この2逓倍PLL回路2の出力タイミングは図3のようになる。なお、LVDS入力バッファ回路3には、シリアルデータ(LVDSデータ1)が、LVDS入力バッファ回路4には、シリアルデータ(LVDSデータ2)が、LVDS入力バッファ回路5には、シリアルデータ(LVDSデータ3)が、LVDS入力バッファ回路6にはLVDS入力クロック信号がそれぞれ入力される。
【0032】
コモンエッジセンスタイミング発生器7は、図5に示すように7段のフリップフロップ回路7a、7b、7c、7d、7e、7f及び7gにより構成されており、図3に示される2逓倍されたPLL回路2の出力信号S1〜S7を入力し、シリアル・パラレル変換用のクロック信号を生成する。図3のタイミング図を見ても分かるように2逓倍された出力信号S1〜S7を用い、シリアル・パラレル変換用の多相クロック信号CKSP1〜CKSP7を生成している。そして、このタイミングに注目すると、PLL回路2がロックするための入力クロック信号FRのエッジと、作成されたシリアル・パラレル変換用クロック信号FPのエッジとの極性が同一になっていることが分かる。
【0033】
上記PLL回路2は、ロックしているエッジ−エッジ間の周期が一致するように動作するため立上りエッジでロックする。このとき、入力クロック信号FRの周期をTとすると、クロック信号CKSP1〜CKSP7の立上りエッジ間の周期はTとなる。また、ロックしているエッジと同じ立上りエッジでシリアルデータ(LVDSデータ1、LVDSデータ2、LVDSデータ3)をラッチすることになる。
【0034】
したがって、本実施形態による場合には、遷移時間、デューティ比のような製造プロセス変動の影響を受けることなく等間隔で複数相のクロック信号を作成することが可能となるので、シリアルデータの各ビットに対するクロック信号のセットアップ/ホールドマージンを最大化できるとともに、シリアルデータに対する入力クロック信号の耐スキューマージンを最大とすることが可能となる。
【0035】
図4は、本発明を、図3に示すタイミングで7ビットのLVDSシリアルデータを受信し、7ビットのパラレルデータへと変換するLVDSレシーバ1Aに適用した例を示す。なお、PLL回路2、LVDS入力バッファ回路3〜6、コモンエッジセンスタイミング信号発生器7およびシリアル・パラレル変換器8は、単一の半導体基板10上に形成されている。
【0036】
LVDSデータ1、2、3は、まずLVDS入力バッファ部3、4、5でそれぞれ受信され、ここで差動信号から単相信号へ変換される。同様にLVDS入力クロック信号もLVDS入力バッファ部6で受信され、ここで差動信号から単相信号へ変換され、PLL回路2へ出力される。PLL回路2では、このLVDS入力クロック信号でロックするように動作する。このとき、PLL回路2の構成を、上述した2逓倍PLL回路(図2参照)のように構成することで、シリアル・パラレル変換を行う多相クロックを、PLL回路2の逓倍出力S1〜S7の同一エッジよりコモンエッジセンスタイミング発生器7で作成することができる。これにより、立ち上がり、立下りの遷移時間の影響を受けることなく、等間隔の多相クロック信号を生成することが可能となる。なお、コモンエッジセンスタイミング発生器7は、前同様に図5に示したように7段のフリップフロップ回路7a〜7gにより構成されている。
【0037】
このときのPLL回路2およびコモンエッジセンスタイミング発生器7の動作について以下に詳しく説明する。
【0038】
2逓倍した際のPLL回路2の出力信号のタイミングを図3に示す。2逓倍することで、S1〜S7はS1を基準として、Δt(T/28)ずつ等間隔で遅延したタイミングでS2、S3、S4、S5、S6、S7となる。つまり、S1を基準としてS2はS1に対してΔt遅れることでS1の反転したものとなり、S3はS2に対してΔt遅れることでS2の反転したものとなる。続くS4、S5、S6およびS7についても、同様のものになる。
【0039】
そして、基準信号FRに対して2逓倍された上記S1〜S7を用いてシリアル・パラレル変換用のクロック信号を作成する。また、S1〜S7信号を用いてコモンエッジセンスタイミング発生器7においてそれぞれ同一の立上りエッジからクロック信号CKSP1〜CKSP7を作成することで、前記したような立上り、立下りエッジの遷移時間の違いによる影響を受けることが無くなる。このことを、以下に詳しく説明する。
【0040】
LVDSデータ1、2、3(シリアルデータ)とLVDS入力クロック信号FRが図3のタイミングであるとき、LVDS入力クロック信号FRの立上りエッジで2逓倍PLL回路2がロックしているので、PLL回路2において信号FPと信号FRとの位相が一致する。そして、コモンエッジセンスタイミング発生器7は、PLL回路2の出力信号S1〜S7の立上りエッジを使用してクロック信号CKSP1〜CKSP7を作り出す。このように作り出されたCKSP1〜CKSP7の立上りエッジがシリアルデータの各ビットに位置する。このとき、PLL回路2が立上りエッジでかつ周期Tでロックしているのでクロック信号CKSP1〜CKSP7の立上りエッジ間の周期もTである。そして、クロック信号CKSP1〜CKSP7のそれぞれの立上りエッジ間隔はT/7で等しい。さらにクロック信号CKSP1〜CKSP7を作り出すS1〜S7信号についても同様に考えられ、VCOが信号FRの2倍で発振していることから、出力信号S1〜S7の立上りエッジ間の周期はT/2である。
【0041】
いま、クロック信号CKSP1〜CKSP7の立上りエッジを作り出している出力信号S1〜S7信号の立上りエッジ位置に注目すると、やはり周期Tである。PLL回路2が周期Tで信号FRの立上りエッジでロックしている限り、この関係は変わらない。すなわち、図3のようなLVDSデータとLVDS入力クロック信号の関係のとき、PLL回路2がロックする入力クロック信号のエッジと同じ極性の信号エッジを使用する構成とすることで、製造プロセス等のばらつきによって変動するエッジを使用することなしに、シリアル・パラレル変換用クロック信号を、等間隔かつ多相に作成することができる。
【0042】
これに対して、従来の提案技術では図9に示したように逓倍しない7段のリングオシレータ各段の出力は、立上り、立下りの遷移時間に違いがあるため、PLL回路が立上りエッジでロックしているとすると、シリアル・パラレル変換用の多相クロック信号は、立下りエッジでシリアルデータをラッチすることになる(図10参照)。
【0043】
図10に示したように立上りエッジ−立上りエッジ間の周期をTとすると、立上り、立下りエッジの遷移時間の相違からシリアルデータをラッチする立下りエッジ位置は、シリアルデータの各ビットのセンターにはならない。加えて、製造プロセスのばらつきにより立下りエッジの位置は遷移時間が変わることで、ともに変動する関係となる。つまり、遷移時間が小さいとシリアルデータをラッチするエッジ位置は図11に示したようにセットアップタイム(setup−time)を減少させる方向へシフトすることになり、反対に遷移時間が大きいとホールドタイム(hold−time)を減少させる方向にシフトすることとなる。
【0044】
本実施形態では、コモンエッジセンスタイミング発生回路7は図5のように構成しているので、信号S1〜S7の同一の立上りエッジのみを使用して等間隔な7相クロック信号を生成することができる。このようにして作成された7相クロック信号は、PLL回路2が入力クロックの立上りエッジでロックしているとすると、同様の立上りエッジを使用して、シリアル・パラレル変換器8にてシリアル・パラレル変換することになり、シリアルデータの各ビットデータValidセンターの位置にラッチする各相のクロック信号のエッジが位置するようになる。
【0045】
よって、スキューに対する動作マージンを最大にすることができるとともに、安定したLVDSレシーバを構成することが可能となる。また、PLL回路がロックしているエッジと同じ極性を使用するので、立上り、立下りエッジの遷移時間の違いによる影響を受けないことになる。これにより、2逓倍のPLL回路を構成し、その2逓倍出力信号を利用して共通の同一エッジによりシリアル・パラレル変換用のクロック信号を生成することで、7相クロック信号を遷移時間、デューティ比の影響と無関係に、等間隔のタイミングで得ることができる。このことは、シリアルデータをラッチする7相クロック信号のエッジ位置を各ビットに対し同じ位置に一度設計で合わせ込むだけで、製造プロセスがばらついてもシリアル・パラレル変換用のクロック信号のエッジの位置が変動せず、シリアル・パラレル変換用7相クロックに対するシリアルデータのセットアップ・ホールドタイムを最大とすることができるとともに、スキューマージンを最大にできる。
【0046】
なお、上述した説明では2逓倍のPLL回路を用いる構成としているが、本発明はこれに限らず、偶数逓倍のPLL回路を用いる構成としてもよい。
【0047】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明による場合には、シリアルデータの各ビットをラッチするクロック信号をPLL回路のロックする入力クロック信号のエッジと同一エッジとすることで、立上り、立下りの遷移時間の相違による影響を受けることなく同一間隔の多相クロック信号をシリアル・パラレル変換器へ供給できるようになることから、LVDSレシーバのスキューマージンを最大とできるばかりではなく、低消費電力、高性能なLVDSレシーバを実現することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のLVDSレシーバの基本構成図である。
【図2】本発明のLVDSレシーバに用いるPLL回路の構成図である。
【図3】本発明のLVDSレシーバにおけるタイミング図である。
【図4】本発明を適用した7bit−3chLVDSレシーバの構成図である。
【図5】本発明のLVDSレシーバに用いるコモンエッジセンスタイミング発生器の構成図である。
【図6】従来技術のPLL回路のブロック図である。
【図7】従来技術のシリアル・パラレル変換器のブロック図である。
【図8】7逓倍クロックを使用したシリアル・パラレル変換のタイミング図である。
【図9】提案技術(特開2002−94360)のリングオシレータの構成図である。
【図10】提案技術(特開2002−94360)のタイミング問題点の説明図である。
【図11】提案技術(特開2002−94360)の無逓倍PLLを使用したシリアル・パラレル変換のタイミング図である。
【符号の説明】
1、1A LVDSレシーバ
2 PLL回路
3、4、5、6 LVDS入力バッファ回路(インタフェース用LSI)
7 コモンエッジセンスタイミング信号発生器(信号作成手段)
8 シリアル・パラレル変換器
10 半導体基板
[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to an LVDS (Low Voltage Differential Signaling) receiver used for an interface of an FPD (Flat Panel Display) panel represented by an LCD (Liquid Crystal Display) requiring high speed operation and low power consumption, and a semiconductor provided with the LVDS receiver. The present invention relates to an integrated device, and relates to an effective technique that contributes to improving the accuracy and performance of an LVDS receiver by suppressing the influence of manufacturing process variations.
[0002]
[Prior art]
As the LVDS receiver described above, one having a PLL (phase locked loop) circuit is known.
[0003]
FIG. 6 shows the configuration of a conventional PLL circuit. This PLL circuit includes a phase comparator 91, a charge pump 92, a loop filter 93, a voltage controlled oscillator (hereinafter referred to as VCO) 94, and a frequency divider 95.
[0004]
The phase comparator 91 detects a phase difference between the reference signal FR and the feedback signal FP from the frequency divider 95, and outputs a control signal UP for increasing the oscillation frequency of the VCO 94 or a control signal DN for decreasing it. When the feedback signal FP is delayed with respect to the reference signal FR, the phase comparator 91 outputs a control signal UP for increasing the oscillation frequency of the VCO 94 for a period corresponding to the phase difference. On the contrary, when the feedback signal FP is advanced with respect to the reference signal FR, the phase comparator 91 outputs a control signal DN for decreasing the oscillation frequency of the VCO 94 for a period corresponding to the phase difference. As described above, the phase comparator 91 outputs a signal obtained by pulse-modulating the phase difference between the two input signals.
[0005]
The charge pump 92 converts the control signal (UP or DN) from the phase comparator 91 into an analog signal, and the output signal CPO is passed through the loop filter 93 and output to the VCO 94 as the control voltage Vc.
[0006]
The loop filter 93 is a low-pass filter circuit (hereinafter referred to as LPF) composed of a resistor and a capacitor, and it aims to reduce high-frequency noise and the like contained in the output signal CPO from the charge pump 92 and stabilize the feedback loop. It is used for the purpose.
[0007]
The output signal FO of the VCO 94 is output as the output signal FO of the PLL circuit, and is divided by the frequency divider 95 and input to the phase comparator 91 as the feedback signal FP. At that time, since the output signal FO is converted to a frequency of 1 / N by the frequency divider 95, the relationship between the feedback signal FP and the output signal FO is expressed by the following equation (1).
[0008]
[Expression 1]
FP = FO / N (1)
Since the PLL circuit configured as described above controls the control voltage Vc so that FR = FP, the output signal FO is expressed by the following equation (2). That is, an output signal FO having a frequency N times that of the reference signal FR is output from the PLL circuit.
[0009]
[Expression 2]
FO = N × FR (2)
FIG. 7 is a diagram showing a circuit configuration of the serial / parallel converter. This serial / parallel converter is an example in the case of converting 7-bit serial data to parallel data, for example. A serial / parallel converter having seven flip-flops is supplied with a clock obtained by multiplying the input clock from the PLL circuit by seven. The 7-bit serial data is converted into parallel data and output. FIG. 8 is a diagram showing the relationship among the input clock, serial data, and 7-fold clock in this case.
[0010]
However, when the PLL circuit is operated at 7 times as described above, there is a problem that power consumption increases as the speed increases and design for high-speed operation of the VCO becomes difficult. This will be described in detail below. That is, in an LCD interface circuit or the like using an LVDS receiver, it is necessary to multiply the input clock by 7 to generate a serial / parallel conversion latch clock, so that the PLL circuit has a division ratio N = 7. Configure. At this time, the oscillation frequency of the VCO is seven times the input clock (N = 7). However, by multiplying the input clock by 7, the oscillation frequency of the VCO is increased by 7 times, so that power consumption is increased and it is difficult to oscillate the VCO at 7 times the frequency of the input clock. There's a problem.
[0011]
Therefore, a technique for solving the above problem has been proposed (see, for example, Patent Document 1).
[0012]
This proposed technique does not multiply the PLL circuit as shown in FIG. 9, and takes out the outputs p1 to p7 from each stage of the ring oscillator to a plurality of stages of the VCO unit, thereby providing a plurality of equally spaced phase clock signals. Configured to operate serial-parallel conversion using the edges of each clock signal, equalize the load of each stage in a multi-stage ring oscillator, and use each clock signal to make multiple equal intervals This is a technique for generating a phase clock signal. For this reason, since it is possible to perform a multiple frequency latch operation of the input clock signal without multiplying the input clock signal, it is possible to realize a high speed operation at a low oscillation frequency.
[0013]
[Patent Document 1]
JP 2002-94360 A [0014]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in the above proposed technique, the output of each stage of the plurality of ring oscillators constituting the VCO in the PLL circuit is the timing to latch with the polarity opposite to the edge polarity of the input clock signal that locks the PLL circuit, as shown in FIG. Due to the difference between the rising transition time (Δtr) and the falling transition time (Δtf), as shown in FIG. 11, the falling edge positions of p1 to p7 for latching serial data do not become the data valid center. As shown in FIG. 11 (b), when the transition time is short (small), it is further to the left than the center, and when the transition time is long (large), it is to the right of the center. This is because the inverter elements that constitute the ring oscillator have different rising times and falling edge transition times due to variations in manufacturing processes.
[0015]
FIG. 10 shows the timings of the outputs p1 to p7 in each stage of the seven-stage ring oscillator constituting the PLL circuit with respect to the period T.
[0016]
In FIG. 10, when attention is paid to the output waveform of each stage of the ring oscillator with respect to the period T, since the PLL circuit is locked at the rising edge at the period T, the period T of each output waveform is T = tH (High Time; high time) + tL (Low Time; low time). The falling and rising transition times are different due to variations in the manufacturing process of the inverter elements constituting the ring oscillator, the influence of the operating temperature, and the like. Therefore, it can be seen that tH ≠ tL (the duty ratio is not 50%).
[0017]
Therefore, in this technique, when the PLL circuit is locked at the rising edge of the input clock as shown in FIG. 10, the clock for latching the serial data becomes the timing for latching the serial data at the falling edge as shown in FIG. . For this reason, when the transition time changes due to variations in the manufacturing process or the like, the falling edge position where the serial data is latched changes. In other words, when the transition time is small, the edge position for latching the serial data is shifted in the direction of decreasing the setup time (setup-time) as shown in FIG. 11, and conversely when the transition time is large, the hold time (hold− (time) is shifted in a decreasing direction.
[0018]
This change in transition time reduces either the setup / hold time margin when latching serial data as the serial data of the clock signal for serial-to-parallel conversion increases in speed. If skew occurs between data and the clock, serial / parallel conversion may not be performed correctly. In addition, the skew margin, which is an important specification of the LVDS receiver, is also reduced.
[0019]
The present invention has been made to solve such a problem of the prior art, and provides an LVDS receiver that is not affected by changes in transition time and that can maximize the skew margin. Objective.
[0020]
[Means for Solving the Problems]
An LVDS receiver according to the present invention includes a voltage controlled oscillator having a plurality of stages of ring oscillators and a frequency divider having an even multiplication ratio, and each of the output signals of each stage in the voltage controlled oscillator is divided by the frequency divider. And a signal that generates a clock signal having a plurality of phases at equal intervals from the transition state of the input signal edge that is locked by the PLL circuit, using a signal that is frequency-divided by the PLL circuit. And a serial / parallel converter that performs serial / parallel conversion using the clock signal generated by the signal generating means.
[0021]
In the LVDS receiver according to the present invention, the PLL circuit is configured to multiply evenly, and a signal is generated using only one edge (rising or falling) of the output signal at each stage of the ring oscillator constituting the VCO. Since the means are provided, it is possible to create clock signals having a plurality of phases at equal intervals without being affected by manufacturing process variations such as transition time and duty ratio. As a result, the setup / hold margin of the clock signal for each bit of the serial data can be maximized, and the skew tolerance margin of the input clock signal for the serial data can be maximized.
[0022]
In the LVDS receiver of the present invention, the signal generating means may be a common edge sense timing generator that reacts only to the same edge of the input signal. In this configuration, it can be easily manufactured using a flip-flop.
[0023]
In the LVDS receiver of the present invention, the interface LSI, the PLL circuit, and the serial / parallel converter may be formed on a semiconductor substrate. With this configuration, a circuit can be integrated on a semiconductor substrate as a semiconductor integrated device, and the size can be reduced. The interface LSI corresponds to that used for an FPD panel such as an LCD.
[0024]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be specifically described.
[0025]
FIG. 1 shows a configuration diagram of an LVDS receiver according to the present invention. The LVDS receiver 1 includes an even multiplication PLL circuit 2, LVDS input buffer circuits 3, 4, 5, 6,
It has a common edge sense timing signal generator 7 and a serial / parallel converter 8 as signal generating means. The input buffer circuits 3 to 6 are made of an LSI and used for an interface of an FPD panel such as an LCD, for example. The PLL circuit 2, the LVDS input buffer circuits 3 to 6, a common edge sense timing signal generator 7 and the serial / parallel converter 8 are formed on a single semiconductor substrate 10.
[0026]
As shown in FIG. 2, the PLL circuit 2 includes a phase comparator 21, a charge pump 22, an LPF (loop filter) 23, a VCO 24, and a frequency divider (multiplier) 25.
[0027]
The phase comparator 21 detects a phase difference between the reference clock signal FR and the period signal FP from the frequency divider 25, and outputs a control signal UP for increasing the oscillation frequency of the VCO 24 or a control signal DN for decreasing it. When the feedback signal FP is delayed with respect to the reference signal FR, the phase comparator 21 outputs a control signal UP that increases the oscillation frequency of the VCO 24 for a period corresponding to the phase difference. On the other hand, when the feedback signal FP is advanced with respect to the reference signal FR, the control signal DN for decreasing the oscillation frequency of the VCO 24 is output from the phase comparator 21 for a period corresponding to the phase difference. In this manner, the phase comparator 21 outputs a signal obtained by performing pulse width conversion on the phase difference between the two input signals FR and FP.
[0028]
The charge pump 22 converts the control signal (UP or DN) from the phase comparator 21 into an analog signal, and supplies the output signal CPO to the VCO 24 as the control voltage Vc through the loop filter 23.
[0029]
The loop filter 23 is a low-pass filter circuit composed of a resistor and a capacitor, and is used for the purpose of reducing noise included in the output signal CPO from the charge pump 92.
[0030]
The VCO 24 has seven stages of ring oscillators (inverter elements) 24a, 24b, 24c, 24d, 24e, 24f, and 24g. The output signal S1 of the VCO 24 is output as an output signal of the PLL circuit 2, and The frequency is divided by the frequency divider 25 and input to the phase comparator 21 as the feedback signal FP. At that time, since the output signal S1 is converted to a frequency of 1 / N (N is an integer) by the frequency divider 25, the relationship between the feedback signal FP and the output signal S1 is FP = S1 / N, that is, S1 = N · FP. Thus, N is multiplied. That is, since the PLL circuit 2 operates so that FR = FP, an output signal S1 having a frequency N times that of the reference signal FR is output. Therefore, each of the tap output signals S1 to S7 of the ring oscillator in the VCO 24 similarly has N times the frequency.
[0031]
Here, FIG. 2 shows an example in which the division ratio N, that is, the multiplication ratio N is 2, and the number of stages of the ring oscillator constituting the VCO is seven. With this configuration, a double PLL circuit is obtained. The output timing of the double PLL circuit 2 is as shown in FIG. The LVDS input buffer circuit 3 has serial data (LVDS data 1), the LVDS input buffer circuit 4 has serial data (LVDS data 2), and the LVDS input buffer circuit 5 has serial data (LVDS data 3). However, the LVDS input buffer circuit 6 receives the LVDS input clock signal.
[0032]
As shown in FIG. 5, the common edge sense timing generator 7 is composed of seven stages of flip-flop circuits 7a, 7b, 7c, 7d, 7e, 7f and 7g, and the doubled PLL shown in FIG. The output signals S1 to S7 of the circuit 2 are input, and a clock signal for serial / parallel conversion is generated. As can be seen from the timing chart of FIG. 3, output signals S1 to S7 multiplied by two are used to generate multiphase clock signals CKSP1 to CKSP7 for serial / parallel conversion. When attention is paid to this timing, it can be seen that the polarity of the edge of the input clock signal FR for locking the PLL circuit 2 and the edge of the generated serial / parallel conversion clock signal FP are the same.
[0033]
Since the PLL circuit 2 operates so that the period between the locked edges is matched, the PLL circuit 2 is locked at the rising edge. At this time, if the period of the input clock signal FR is T, the period between the rising edges of the clock signals CKSP1 to CKSP7 is T. Further, serial data (LVDS data 1, LVDS data 2, LVDS data 3) is latched at the same rising edge as the locked edge.
[0034]
Therefore, according to the present embodiment, it is possible to create a clock signal having a plurality of phases at regular intervals without being affected by variations in the manufacturing process such as transition time and duty ratio. The clock signal setup / hold margin for the serial data can be maximized, and the skew tolerance margin of the input clock signal for the serial data can be maximized.
[0035]
FIG. 4 shows an example in which the present invention is applied to an LVDS receiver 1A that receives 7-bit LVDS serial data at the timing shown in FIG. 3 and converts it into 7-bit parallel data. The PLL circuit 2, the LVDS input buffer circuits 3 to 6, the common edge sense timing signal generator 7 and the serial / parallel converter 8 are formed on a single semiconductor substrate 10.
[0036]
The LVDS data 1, 2, and 3 are first received by the LVDS input buffer units 3, 4, and 5, respectively, where they are converted from differential signals to single-phase signals. Similarly, the LVDS input clock signal is also received by the LVDS input buffer unit 6, where it is converted from a differential signal to a single-phase signal and output to the PLL circuit 2. The PLL circuit 2 operates to lock with the LVDS input clock signal. At this time, the configuration of the PLL circuit 2 is configured like the above-described double-multiplication PLL circuit (see FIG. 2), so that the multi-phase clock for performing serial-to-parallel conversion is supplied to the multiplication outputs S1 to S7 of the PLL circuit 2. The common edge sense timing generator 7 can be created from the same edge. As a result, it is possible to generate a multiphase clock signal at equal intervals without being affected by the transition time of rising and falling. The common edge sense timing generator 7 is composed of seven stages of flip-flop circuits 7a to 7g as shown in FIG.
[0037]
The operations of the PLL circuit 2 and the common edge sense timing generator 7 at this time will be described in detail below.
[0038]
FIG. 3 shows the timing of the output signal of the PLL circuit 2 when the frequency is doubled. By multiplying by two, S1 to S7 become S2, S3, S4, S5, S6, and S7 at a timing delayed by Δt (T / 28) by equal intervals with reference to S1. That is, with reference to S1, S2 is inverted from S1 by being delayed by Δt with respect to S1, and S3 is inverted from S2 by being delayed by Δt with respect to S2. The subsequent S4, S5, S6 and S7 are the same.
[0039]
Then, a clock signal for serial / parallel conversion is created using S1 to S7 multiplied by 2 with respect to the reference signal FR. In addition, by generating the clock signals CKSP1 to CKSP7 from the same rising edge in the common edge sense timing generator 7 using the S1 to S7 signals, the influence due to the difference in transition time between the rising and falling edges as described above. No longer receive. This will be described in detail below.
[0040]
When the LVDS data 1, 2, 3 (serial data) and the LVDS input clock signal FR are at the timing shown in FIG. 3, the double PLL circuit 2 is locked at the rising edge of the LVDS input clock signal FR. The phases of the signal FP and the signal FR coincide with each other. The common edge sense timing generator 7 generates clock signals CKSP1 to CKSP7 using the rising edges of the output signals S1 to S7 of the PLL circuit 2. The rising edges of CKSP1 to CKSP7 created in this way are located at each bit of the serial data. At this time, since the PLL circuit 2 is locked at the rising edge and with the period T, the period between the rising edges of the clock signals CKSP1 to CKSP7 is also T. The rising edge intervals of the clock signals CKSP1 to CKSP7 are equal to T / 7. Further, the S1 to S7 signals that generate the clock signals CKSP1 to CKSP7 can be considered in the same manner. Since the VCO oscillates at twice the signal FR, the period between the rising edges of the output signals S1 to S7 is T / 2. is there.
[0041]
Now, when attention is paid to the rising edge positions of the output signals S1 to S7 that create the rising edges of the clock signals CKSP1 to CKSP7, the period is also T. As long as the PLL circuit 2 is locked at the rising edge of the signal FR in the period T, this relationship does not change. In other words, when the relationship between the LVDS data and the LVDS input clock signal as shown in FIG. 3 is used, a signal edge having the same polarity as the edge of the input clock signal locked by the PLL circuit 2 is used. The clock signal for serial / parallel conversion can be created at equal intervals and in multiple phases without using edges that vary depending on the frequency of the signal.
[0042]
On the other hand, in the conventional proposed technique, as shown in FIG. 9, the output of each stage of the seven-stage ring oscillator that is not multiplied is different in rising and falling transition times, so that the PLL circuit is locked at the rising edge. If this is the case, the serial data is latched at the falling edge of the multi-phase clock signal for serial / parallel conversion (see FIG. 10).
[0043]
As shown in FIG. 10, assuming that the period between the rising edge and the rising edge is T, the falling edge position for latching serial data from the difference in transition time between the rising edge and the falling edge is at the center of each bit of the serial data. Must not. In addition, the position of the falling edge changes due to the variation in the manufacturing process, so that the transition time changes to change both. That is, when the transition time is small, the edge position for latching serial data shifts in the direction of decreasing the setup time (setup-time) as shown in FIG. (hold-time) is shifted in a decreasing direction.
[0044]
In this embodiment, since the common edge sense timing generation circuit 7 is configured as shown in FIG. 5, it is possible to generate equidistant 7-phase clock signals using only the same rising edges of the signals S1 to S7. it can. Assuming that the PLL circuit 2 is locked at the rising edge of the input clock, the 7-phase clock signal generated in this way is serial-parallel converted by the serial-to-parallel converter 8 using the same rising edge. The edge of the clock signal of each phase to be latched is positioned at the position of each bit data Valid center of the serial data.
[0045]
Therefore, it is possible to maximize the operation margin with respect to the skew and to configure a stable LVDS receiver. Further, since the same polarity as the edge locked by the PLL circuit is used, it is not affected by the difference in transition time between the rising and falling edges. As a result, a PLL circuit of double frequency is configured, and a clock signal for serial / parallel conversion is generated by the same common edge using the doubled output signal, so that the 7-phase clock signal is converted into a transition time and a duty ratio. Regardless of the influence of the above, it can be obtained at equal intervals. This means that the edge position of the 7-phase clock signal for latching serial data is adjusted to the same position for each bit once by design, and the edge position of the clock signal for serial / parallel conversion can be obtained even if the manufacturing process varies. The serial data setup / hold time for the serial / parallel conversion seven-phase clock can be maximized, and the skew margin can be maximized.
[0046]
In the above description, the configuration is such that a PLL circuit of double multiplication is used. However, the present invention is not limited to this, and a configuration using a PLL circuit of even multiplication is also possible.
[0047]
【The invention's effect】
As described above in detail, in the case of the present invention, the clock signal for latching each bit of the serial data is set to the same edge as the edge of the input clock signal to be locked by the PLL circuit, so that the transition time between the rising and falling edges. The multi-phase clock signal with the same interval can be supplied to the serial-to-parallel converter without being affected by the difference between the LVDS receiver and the skew margin of the LVDS receiver can be maximized, as well as low power consumption and high performance. An LVDS receiver can be realized.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a basic configuration diagram of an LVDS receiver of the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram of a PLL circuit used in the LVDS receiver of the present invention.
FIG. 3 is a timing diagram in the LVDS receiver of the present invention.
FIG. 4 is a configuration diagram of a 7-bit-3ch LVDS receiver to which the present invention is applied.
FIG. 5 is a configuration diagram of a common edge sense timing generator used in the LVDS receiver of the present invention.
FIG. 6 is a block diagram of a prior art PLL circuit.
FIG. 7 is a block diagram of a prior art serial-to-parallel converter.
FIG. 8 is a timing diagram of serial / parallel conversion using a 7-fold clock.
FIG. 9 is a configuration diagram of a ring oscillator of the proposed technique (Japanese Patent Laid-Open No. 2002-94360).
FIG. 10 is an explanatory diagram of a timing problem of the proposed technique (Japanese Patent Laid-Open No. 2002-94360).
FIG. 11 is a timing diagram of serial / parallel conversion using a non-multiplying PLL of the proposed technique (Japanese Patent Laid-Open No. 2002-94360).
[Explanation of symbols]
1, 1A LVDS receiver 2 PLL circuit 3, 4, 5, 6 LVDS input buffer circuit (interface LSI)
7 Common edge sense timing signal generator (Signal creation means)
8 Serial-parallel converter 10 Semiconductor substrate

Claims (3)

複数段のリングオシレータを有する電圧制御発振器および逓倍比が偶数である分周器を備え、該電圧制御発振器における各段の出力信号のそれぞれを該分周器で分周するPLL回路と、
該PLL回路により分周された信号を用い、該PLL回路がロックしている入力信号エッジの遷移状態と同一遷移状態のエッジから等間隔の複数相のクロック信号を作成する信号作成手段と、
該信号作成手段により作成された該クロック信号を用いてシリアル・パラレル変換を行うシリアル・パラレル変換器とを具備するLVDSレシーバ。
A PLL circuit including a voltage controlled oscillator having a plurality of stages of ring oscillators and a frequency divider having an even multiplication ratio, and frequency-dividing each output signal of each stage in the voltage controlled oscillator by the frequency divider;
A signal generating means for generating a clock signal having a plurality of phases at equal intervals from an edge of the same transition state as the transition state of the input signal edge locked by the PLL circuit, using the signal divided by the PLL circuit;
An LVDS receiver comprising a serial / parallel converter that performs serial / parallel conversion using the clock signal generated by the signal generating means.
前記信号作成手段が、前記入力信号の同一エッジにのみに反応するコモンエッジセンスタイミング発生器である請求項1に記載のLVDSレシーバ。2. The LVDS receiver according to claim 1, wherein the signal generating means is a common edge sense timing generator that reacts only to the same edge of the input signal. インタフェース用LSI、前記PLL回路、前記信号作成手段および前記シリアル・パラレル変換器が半導体基板上に形成されている請求項1に記載のLVDSレシーバ。2. The LVDS receiver according to claim 1, wherein the interface LSI, the PLL circuit, the signal generating means, and the serial / parallel converter are formed on a semiconductor substrate.
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