JP2004538586A - Anti-counterfeit object marking and identification method of marking - Google Patents

Anti-counterfeit object marking and identification method of marking Download PDF

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JP2004538586A JP2003520605A JP2003520605A JP2004538586A JP 2004538586 A JP2004538586 A JP 2004538586A JP 2003520605 A JP2003520605 A JP 2003520605A JP 2003520605 A JP2003520605 A JP 2003520605A JP 2004538586 A JP2004538586 A JP 2004538586A
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ラルフ ドムニク
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Abstract

本発明は、チェックカード、紙幣、ラベル等のオブジェクトの偽造防止マーキングに関する。 The present invention is, check cards, banknotes, counterfeit prevention marking objects such as labels. 当該偽造防止マーキングは第1および第2表面を有する透明プラスチック膜(1)を含み、これにより複数の膜が第2表面に塗布される。 The anti-counterfeit marking comprises transparent plastic film (1) having first and second surfaces, thereby a plurality of film is applied to the second surface. 第1表面から見た場合、前記複数の膜の色は見る角度により変化し、前記複数の膜は第2表面に設けられた吸収層、その吸収層に重なるスペーサー層(3)、およびそのスペーサー層(3)に重なるミラー層(2)から形成される。 When viewed from the first surface, the color of a plurality of films varies depending on the angle of viewing, the plurality of film absorption layer provided on the second surface, the spacer layer overlying the absorption layer (3), and its spacers is formed from a mirror layer overlying the layer (3) (2). 装置によるマーキングの真贋の識別性を向上させるために、本発明は吸収層を金属クラスター(4)で構成する。 In order to improve the identification of the authenticity of the marking by the device, the present invention constitutes an absorbent layer with metal cluster (4).

Description

【技術分野】 【Technical field】
【0001】 [0001]
本発明は、請求項1の前文に係る偽造防止マーキングに関するものである。 The present invention relates to anti-counterfeit markings according to the preamble of claim 1. また、本発明は装置によるそのマーキングの識別方法に関するものである。 Further, the present invention relates to method of identifying the marking by device.
【背景技術】 BACKGROUND OF THE INVENTION
【0002】 [0002]
特許文献1に、同様のマーキングが開示されている。 Patent Document 1, the same marking is disclosed. このマーキングは基本的に、ホログラフィー的な構造を有する膜と見る角度により色が異なって見える一連の層との組み合わせで構成されている。 This marking is basically formed by a combination of a series of layers look different colors depending on the angle of viewing a film having a holographic structure. 前記一連の層は吸収層、誘電層、および反射層から成る。 Said sequence of layers absorbing layer, a dielectric layer, and a reflective layer. 前記一連の層の層厚はそれぞれナノメータ領域である。 The thickness of the sequence of layers are each nanometer region. 提案された偽造防止マーキングは特に紙幣、チェックカード等を識別するために使用されるものである。 The proposed anti-counterfeit markings are of particular banknotes, it is used to identify the check card or the like. このような用途において、装置はマーキングの真贋を確実かつ高信頼性で確認しなければならない。 In such applications, the device must verify the authenticity of the marking in a reliable and high reliability. 上記のマーキングはこの必要条件を満たしていない。 The above marking does not meet this requirement.
【特許文献1】 [Patent Document 1]
国際公開第01/53113A1号パンフレット【発明の開示】 SUMMARY OF THE INVENTION International Publication No. 01 / 53113A1 pamphlet
【発明が解決しようとする課題】 [Problems that the Invention is to Solve
【0003】 [0003]
本発明の目的は、従来技術の欠点を解消する、偽造防止マーキングおよびそのマーキングの識別方法を提供することである。 An object of the present invention overcomes the disadvantages of the prior art and to provide a method of identifying anti-counterfeit marking and marking. 本発明は特に、装置によりその真贋の確認を確実かつ高信頼性で行うことが可能な偽造防止マーキングを提供するものである。 More particularly, the present invention provides a confirmation of its authenticity anti-counterfeit markings which can perform in a reliable and high reliability by the device. 本発明のさらなる目的は、そのような偽造防止マーキングの識別方法を提供することである。 A further object of the present invention is to provide a method of identifying such a forgery prevention markings.
【課題を解決するための手段】 In order to solve the problems]
【0004】 [0004]
上記目的は、請求項1および請求項20の特徴により達成される。 The above object is achieved by the features of claim 1 and claim 20. 好ましい形態は請求項2〜19および請求項21〜26の特徴に示されている。 The preferred form is shown to the features of claim 2 to 19 and claims 21 to 26.
【0005】 [0005]
本発明において、吸収層は金属クラスターを含む。 In the present invention, the absorbent layer comprises a metal cluster. これにより、装置がマーキングの真贋を確認できるという状況が効果的に得られる。 Thus, device status is effectively obtained that can verify the authenticity of the marking. 金属クラスターで形成された前記吸収層は、予想外の屈折率の変化および波長に対する吸光度の変化により、非常に特徴的な吸収スペクトルを生じさせる。 The absorbing layer formed of metal clusters, the change in absorbance with respect to the change and the wavelength of the refractive index of the unexpected, very produce a characteristic absorption spectrum. 例えば、前記金属クラスターにより生じる特定のピーク、および/またはピークの移動、および/またはピークの形状を測定することができる。 For example, it is possible to measure the specific peak, and / or movement of peaks, and / or peak shape caused by the metal cluster. 更に、前記金属クラスターは自身の極端な吸光度係数により、従来の非構造化吸収層に比べ、前記吸収スペクトルにおいて特に高いピーク強度を生じさせる。 Furthermore, the metal clusters by extreme absorbance coefficient itself, compared with the conventional unstructured absorption layer causes a particularly high peak intensity in the absorption spectrum. 従来の非構造化吸収層において、吸収は、周知のように広い角度領域での角度にわずかに依存するだけである。 In the conventional unstructured absorption layer, the absorption is only slightly dependent on the angle over a wide angular range as is well known. 本発明に係る金属クラスターを含む構造化吸収層を使用した場合、実質的に更に強い角度依存性の吸収を本質的に示すことが判明する。 When using a structured absorbing layer comprising a metal cluster according to the present invention it will be found to exhibit absorption substantially stronger angular dependence essentially. その結果、本発明に係る偽造防止マーキングの吸収スペクトルは予想外の様式で変化し、また異なる角度で測定したときに装置で確認することができる。 As a result, the absorption spectrum of anti-counterfeit markings according to the present invention can be confirmed by the system as measured by changes, or different angles in unexpected fashion. 前述の偽造防止マーキングの特性により、装置による確実で信頼性の高い真贋の確認が可能になる。 The characteristics of anti-counterfeit markings described above, it is possible to identify the top reliable and trusted by the device authenticity.
【0006】 [0006]
前記クラスターは少なくとも一空間方向に、100nm以下の、好ましくは5〜35nmの不連続な島を形成することが有用であることが判明する。 The clusters in at least one spatial direction, following 100 nm, preferably found to be useful to form a discontinuous island 5~35Nm. 好ましくは誘電性である前記スペーサー層の厚さは、前記クラスター層に入射する可視光の吸収が最大になるように適切に選択される。 Preferably the thickness of the spacer layer is a dielectric, the absorption of visible light incident on the cluster layer are appropriately selected so as to maximize.
【0007】 [0007]
さらなる構成の特徴として、前記一連の層は、300〜800nmの波長領域における視野角45°で、最大値が少なくとも60%、好ましくは80%、特に好ましくは90%の吸収を有すると有用であることが判明する。 A feature of a further configuration, the series of layers, at a viewing angle 45 ° in the wavelength region of 300 to 800 nm, the maximum value is at least 60%, preferably 80%, particularly preferably to have an absorption of 90% useful it is found. これにより、装置は確実かつ高信頼性で偽造防止マーキングを識別することができる。 Thus, the device can identify the anti-counterfeiting markings in a reliable and high reliability.
【0008】 [0008]
前記クラスターは、好ましくは金、銀、白金、パラジウム、スズ、アルミニウム、銅、インジウムから選択される1種の金属から形成される。 The clusters are preferably formed of gold, silver, platinum, palladium, tin, aluminum, copper, one metal selected from indium.
【0009】 [0009]
さらに好ましい実施形態によれば、前記クラスター層はスペーサー層に堅固に接着され得るだけでなく、さらに取外し自在に前記スペーサー層に接着され得る。 According to a further preferred embodiment, the cluster layer not only be firmly adhered to the spacer layer, it may be bonded to further releasably said spacer layer. また、前記スペーサー層もミラー層に堅固に接着され得るだけでなく、さらに取外し自在に前記ミラー層に接着され得る。 Further, the spacer layer may not only be firmly adhered to the mirror layer may be bonded to further releasably the mirror layer. これらの提案された構成により、前記一連の層の可逆的分離が可能になる。 These proposed configuration allows reversible separation of the series of layers. 一方、逆の場合、前記一連の層を前記提案された分離表面で可逆的に接着することも可能である。 On the other hand, the opposite case, it is also possible to bond reversibly the sequence of layers in the proposed separation surface. これにより、偽造防止マーキングは読み取る場合にのみ目視できるようになる。 Thus, it becomes possible to visually only when the anti-counterfeit marking read.
【0010】 [0010]
前記スペーサー層に関して、その厚さは40〜2000nmであると有用であることが判明する。 With respect to the spacer layer, its thickness is found to be useful when is 40~2000Nm. 前記スペーサー層は、金属酸化物、金属亜硝酸塩、金属オキシナイトライト、金属炭化物、特に、シリコン酸化物、シリコン炭化物、亜硝酸シリコン、酸化スズ、亜硝酸スズ、酸化アルミニウム、亜硝酸アルミニウム、ポリマー、特に、ポリカーボネート(PC)、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリウレタン(PU)、ポリイミド(PI)、ポリスチレン(PS)、ポリメタクリレート(PMA)、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリアクリレート(PA)、ニトロセルロース(NC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)から選択される1種の材料から作製してもよい。 The spacer layer is a metal oxide, metal nitrite, metal oxy-nitrite, metal carbide, in particular, silicon oxide, silicon carbide, nitrite silicon, tin oxide, nitrite tin, aluminum oxide, aluminum nitrite, polymers, In particular, polycarbonate (PC), polyethylene (PE), polypropylene (PP), polyurethane (PU), polyimide (PI), polystyrene (PS), polymethacrylate (PMA), polyvinyl alcohol (PVA), polyacrylates (PA), nitrocellulose (NC), may be made from one material selected from polyethylene terephthalate (PET).
【0011】 [0011]
さらに好ましい実施形態によれば、前記膜は、5〜100μmの厚さを有する。 According to a further preferred embodiment, the film has a thickness of 5 to 100 [mu] m. 前記膜はポリエチレンテレフタレートから作製してもよい。 The membrane may be made of polyethylene terephthalate. 特に好ましい形態として、前記膜の前記第1または第2表面は、ホログラフィー効果を生じさせる構造である。 As a particularly preferred form, the first or second surface of the film has a structure to produce a holographic effect. 前記ホログラフィー効果を生じさせる構造は0.1〜1.0μmの領域であり得る。 Structure to produce the holographic effect may be in the region of 0.1 to 1.0 [mu] m. この好適な実施形態により、偽造防止カラーマーキング付きのホログラフィー的な構造の膜が得られる。 This preferred embodiment, the membranes of the holographic structure with anti-counterfeiting color marking is obtained. このマーキングの真贋は装置により識別することができる。 Authenticity of the marking can be identified by the device.
【0012】 [0012]
さらなる構成の特徴によれば、前記ミラー層をキャリア膜に塗布してもよい。 According to a feature of a further configuration may be applied to the mirror layer to the carrier film. 更には、例えば積層法により前記キャリア膜に接着層を塗布することが可能である。 Furthermore, it is possible to apply an adhesive layer on the carrier film, for example by lamination. これにより、マーキングするオブジェクト上に上記のように形成された偽造防止マーキングを貼り付けることができる。 Thus, it is possible to paste the anti-counterfeit markings which are formed as described above on the object to be marked.
【0013】 [0013]
前記接着層は、感圧接着剤またはホットメルト接着剤のいずれかから好都合に作製される。 The adhesive layer is conveniently fabricated from any pressure sensitive adhesive or hot melt adhesive. 前記接着層は剥離可能な保護膜で効果的に覆われている。 The adhesive layer is effectively covered by a peelable protective film. これにより、マーキングするオブジェクトへの偽造防止マーキングの固定が容易に行えるようになる。 Thereby, the fixation of the anti-counterfeit marking on the object to be marked can be easily performed.
【0014】 [0014]
さらなる好ましい実施形態によれば、前記第2表面に塗布された前記一連の層は、透明マトリックスに収容された薄片の積層体であってもよい。 According to a further preferred embodiment, said sequence of layers coated on the second surface may be a laminate of housed in a transparent matrix flakes. 前記薄片の積層体は、例えば、透明なプラスチックのマトリックス中で、規則的な配列で浮動し得る。 Laminates of the flakes, for example, in a matrix of clear plastic, may be floating in a regular sequence. 前記薄片の積層体は、透明なプラスチックのワニス中に分散された前記膜に塗布してもよい。 Laminates of the flakes may be applied to the film which is dispersed varnish of transparent plastic.
【0015】 [0015]
例えばクラスター層から始まる前記一連の層は、好ましくは、コーティング工程により直接前記膜の表面に塗布される。 For example, the sequence of layers starting from the cluster layer is preferably applied directly to the surface of the film by coating process. このコーティング工程において、コーティング装置を用いて前記膜を巻き取り、連続的あるいは半連続的に誘導するようにすると効果的であることが判明する。 In this coating step, winding the film by using a coating apparatus, it is found that a continuous or semi-continuous manner to the effective induced. 一方、不連続コーティングの場合、例えば製品上への直接的なコーティングの場合、単位価格の上昇が予測され、真空コーティング法などのコーティング法が前記連続モードで比較的経済的に用いられる。 On the other hand, in the case of discontinuous coating, for example, in the case of direct coating on the product, increase the unit price is predicted, a coating method such as a vacuum coating method is employed relatively economical in the continuous mode. この場合、反射膜が特に適している。 In this case, the reflection film is particularly suitable. なぜなら、反射膜が使用された場合、特徴的な色彩効果を生じさせるために必要なミラー動作が、マーキングされる表面によって少なくともいくらか達成され得るからである。 This is because, if the reflection film is used, because the mirror operations required to produce a characteristic color effect may be at least somewhat achieved by a surface to be marked.
【0016】 [0016]
前記膜と前記クラスター層との間の距離が2μm未満の場合、マーキングを形成する彩色が目視できるようになる。 If the distance between the film and the cluster layer is less than 2 [mu] m, color forming the marking so visible. 従って、前記スペーサー層の厚さは、好ましくは20〜2000nmである。 Therefore, the thickness of the spacer layer is preferably 20 to 2000 nm. 上記の三種類の方法において、構造化された形態で好都合に適用される。 In three of the above methods are conveniently applied in a structured form. この構造化は、文字列、パターン(例えば、バーコード)、または図(例えば、ロゴ)の様式で表面内に存在する構造であり得る。 This structuring, strings, patterns (e.g., bar code), or FIG (e.g., logos) may be structures present in the surface in the manner of. しかしながら、浮き彫り状の構造でもよい。 However, it may be a relief-like structure. この場合、マーキングは異なる色で現れる。 In this case, marking appears in a different color. 非真空ベースの方法を用いて、薄くて、好ましくはポリマーの層を塗布することにより、上記の浮き彫り状の構造のスペーサー層を簡単に作製することができる。 Using a non-vacuum based methods, thin, preferably by applying a layer of polymer, it is possible to easily produce a spacer layer of relief-like structure described above.
【0017】 [0017]
更なる構成上の特徴によれば、電磁波に対して透明な不活性保護層を前記クラスター層に塗布してもよい。 According to a feature of the further arrangement, a transparent inert protective layer may be applied to the cluster layer against electromagnetic waves. この保護層は機械的損傷および汚染から保護するために使用される。 The protective layer is used to protect against mechanical damage and contamination. しかしながら、この保護層は特徴的な色のスペクトルに対し特定の様式で影響を及ぼす。 However, the protective layer affects in a specific manner with respect to the spectrum of the characteristic color. その結果、層構造の複雑さが増すため、マーキングの偽造に対するセキュリティが増す。 As a result, due to the increased complexity of the layer structure, the security increases against forgery of the marking.
【0018】 [0018]
前記保護層は、電磁波に対して透過性である以下の材料のうちの1つから作製され得る:ポリマー、金属酸化物、金属亜硝酸塩、金属オキシナイトライト、金属炭化物、金属フッ化物、特に、シリコン酸化物、シリコン炭化物、亜硝酸シリコン、酸化スズ、亜硝酸スズ、酸化アルミニウム、亜硝酸アルミニウム。 The protective layer may be made from one of the following materials are permeable to electromagnetic waves: polymer, metal oxide, metal nitrite, metal oxy-nitrite, metal carbide, metal fluorides, in particular, silicon oxide, silicon carbide, nitrite silicon, tin oxide, nitrous acid tin, aluminum oxide, aluminum nitrite. これらの材料は実質的に化学的に不活性で、水分に反応しない。 These materials are substantially chemically inert, it does not react to moisture.
【0019】 [0019]
更なる構成上の特徴によれば、作製される一連の層は、少なくともある程度まで薄層技術により作製される。 According to a feature on a further configuration, a series of layers to be manufactured is manufactured by at least a thin layer technology to some extent. この場合、特にPVD、CVD法等が適している。 In this case, in particular PVD, CVD method, or the like is suitable. また、湿式化学法により、溶液を用いて一連の層を蒸着してもよい。 Furthermore, by wet chemical methods, the solution may be deposited a series of layers used. ここまでに関しては、WO98/48275が参照され、この公報の開示内容は本明細書中に援用される。 For the far, WO98 / forty-eight thousand two hundred seventy-five is referred to, the disclosure of this publication is incorporated herein.
【0020】 [0020]
さらなる好ましい実施形態によれば、一連の層で被覆された膜を加工して、接着ラベルまたはラミネートラベルを形成する。 According to a further preferred embodiment, by processing the coated film in a series of layers, forming an adhesive label or laminated label. この目的で、膜は接着層または両面接着膜あるいはラミネート層の2面のうちの一方の面に設けられる。 For this purpose, the membrane is provided on one of the two faces of the adhesive layer or double-sided adhesive film or laminate layer. 例示的な適用に従えば、このように作られた層システムは、次いで、接着層を一番下にしてシリコン処理された基板に塗布される。 According to exemplary application, such a layer system made in is then applied to the silicon-treated substrate face down bonding layer most. その後、シリコン処理された基板の安定性に影響を及ぼすことなく、層システムに所望の形状の穴を開けたり、または所望の形状を切り取ったりすることができる。 Then, without affecting the stability of the substrate which is a silicon process, it is possible to cut or puncture the desired shape in the layer system, or a desired shape. 次いで、余分な部分はストリッピングで除去され得、その結果、粘着性または積層可能な形態の層システムは、小出し口(dispensing edges)から自動化形態で各種製品に塗布することができる。 Then, excess portions can be removed by stripping, so that a layer system tacky or stackable form, can be applied to various products in an automated form from dispensing port (dispensing edges).
【0021】 [0021]
前記偽造防止マーキングは、特に、チェックカード、紙幣、例えば貴重品またはそれらの包装などのためのラベル等を加工するための膜に使用され得る。 It said anti-counterfeit markings, in particular, check cards, may be used in the membrane for processing bills, for example, valuables or label or the like, such as for their packaging. この場合、所定の膜厚のスペーサー層を、膜に接着されたミラー層に塗布する。 In this case, the spacer layer of predetermined thickness, is applied to the mirror layer adhered to the membrane. 更に、金属クラスター層をスペーサー層に塗布する。 Furthermore, applying a metal cluster layer to the spacer layer. このようなマーキングは永久的に目視できるため、偽造防止性が高い。 Since such markings may be permanently visible, high forgery prevention property.
【0022】 [0022]
偽造防止マーキングはまた、膜に接着しているクラスター層上に、それに塗布された所定の膜厚のスペーサー層およびその上に設けられたミラー層を有してもよい。 Anti-counterfeit marking also adhered to that on the cluster layer film may it be a predetermined thickness of the spacer layer and the coating may have a mirror layer provided thereon. このようなマーキングは膜を介して永久的に目視できるため、これもまた偽造防止性が高い。 Such markings because it can permanently visible through the film, which also has high forgery prevention property.
【0023】 [0023]
前記偽造防止マーキングはまた、前記膜に接着されたミラー層および所定の膜厚のスペーサー層を有してもよい。 Said anti-counterfeit marking may also have a mirror layer and a spacer layer of predetermined thickness bonded to said membrane. このようなマーキングは最初は目視できない。 Such marking is initially not visible. クラスター層は、基体として、照合の目的で、あるいはマーキングを目視できるようにするために、さらなる膜に塗布され得る。 Cluster layer, as a substrate, in order to be visible for the purpose, or the marking of verification can be applied to further film. それは、第1の層から所定の距離に配置され得る。 It can be placed from the first layer to a predetermined distance.
【0024】 [0024]
マーキングされるべき膜は、例えば、プラスチック(例えば、ポリカーボネート、ポリウレタン、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリアクリラート、ポリイミド、ポリ塩化ビニル、ポリエポキシド、ポリエチレンテレフタラートなど)または金属(例えば、アルミニウム、金、銀、銅、鉄、ステンレス鋼など)から作製される。 Film to be marked, for example, plastics (e.g., polycarbonate, polyurethane, polyethylene, polypropylene, polyacrylate, polyimide, polyvinyl chloride, polyepoxides, such as polyethylene terephthalate) or a metal (e.g., aluminum, gold, silver, copper is made from iron, stainless steel, etc.).
【0025】 [0025]
マーキングされる膜がすでに電磁波を反射する材料から作製されている場合(例えば、金属)、あるいはそのような材料で被覆されている場合、ミラー層はその膜自身で形成され得る。 If the membrane to be marked are made of a material that already reflecting the electromagnetic wave (e.g., metal), or if it is covered with such a material, the mirror layer can be formed in the film itself.
【0026】 [0026]
マーキングされる膜は、被覆される前に印刷することが可能なため、マーキング層システムの光学的効果が、予測し得ない様式で印刷インキとの相互作用により影響を受ける可能性がある。 Film to be marked, since that can be printed before being coated, the optical effect of the marking layer system, can be affected by interaction with the printing ink in a manner that can not be predicted. 本発明によれば、層が電磁波を反射し、またクラスター層が、少なくとも一部の可視スペクトルにわたって50%未満の反射を示す場合、有利な形態であることが判明する。 According to the present invention, the layer reflects electromagnetic waves, also the cluster layer, indicating reflection of less than 50% over at least a portion of the visible spectrum, is found to be advantageous form.
【0027】 [0027]
一般的に、印刷法を使用することにより、マーキング表面上に付加的な情報を記録することができる。 In general, by using a printing method, it is possible to record additional information on the marking surface. その結果、独自のマーキングを得ることも可能である。 As a result, it is possible to obtain a unique marking. このようなマーキングの独自化はまた、マーキングされた表面を、より広く一般に使用されている印刷方法(レーザープリンタ、インクジェットプリンタ等)で引き続いて印刷することにより、達成することが可能である。 Unique of such markings also a marked surface, wider printing method generally used (laser printer, ink jet printer, etc.) by printing successively with, it is possible to achieve.
【0028】 [0028]
マーキングされる膜はまた、ホログラムを備えていてもよい。 Film is marked may also comprise a hologram. マーキングは、全てのマーキング層が共に、入射光の90%未満を吸収し、そうして下側に設けられたホログラム構造が依然として容易に検出され得るように形成すると効果的であり得る。 Marking all the marking layer both absorbs less than 90% of the incident light, thus may be effective to form such that the hologram structure provided on the lower side can still easily detected. 更に、上記のマーキングはまた、エンボス加工されたホログラムの表面上に直接、またはその近傍に設けてもよい。 Furthermore, the marking can also directly on the surface of the embossed hologram, or may be provided in the vicinity thereof. その結果、ホログラムは偽造防止性を有し、また装置により読み取り可能になる。 As a result, the hologram has a forgery prevention property and becomes readable by the device.
【0029】 [0029]
更に本発明は、装置による偽造防止マーキングの識別方法を提供する。 The present invention further provides a method of identifying anti-counterfeit marking by device. 当該方法は、a)所定の視野角で偽造防止マーキングに反射した光のスペクトルを記録するステップと、b)所定のスペクトル範囲内におけるマーキングに特徴的な一つ以上の吸収ピークの(i)位置および/または(ii)形状および/または(iii)強度を決定するための値を測定するステップと、c)ステップbで測定された(i)〜(iii)の値を所定の対応する値と比較するステップと、d)上記比較結果を用いて上記マーキングを識別するステップとを含む。 The method, a) a predetermined and recording the spectrum of the light reflected on the anti-counterfeit marking viewing angle, b) (i) location of characteristic one or more absorption peaks in the marking in the predetermined spectral range a method and / or a value to determine the (ii) the shape and / or (iii) the intensity is measured, c) the corresponding value of the value of a predetermined measured in step b (i) ~ (iii) comparing, d) using said comparison result and identifying the marking.
【0030】 [0030]
特徴的な吸収ピークを決定するための値の測定は、ステップbに基づいて、所定のスペクトル範囲内で行われる。 Measurement values ​​for determining characteristic absorption peaks based on the step b, is performed within a predetermined spectral range. ここで、マーキングに特徴的な吸収ピークが予想されるスペクトル領域は、適切に選択される。 Here, the spectral region is expected characteristic absorption peaks in the marking is suitably selected. この所定のスペクトル範囲内で吸収ピークが生じない場合、識別のためのさらなるステップを省略してもよい。 If the absorption peak within the predetermined spectral range does not occur, it may be omitted additional steps for identification. ステップcおよびbにより、高い識別のセキュリティが付与される。 The steps c and b, security high discrimination is given.
【0031】 [0031]
スペクトルを視野角5°〜50°で(表面に対する垂線に基づいて)、好ましくは15°〜40°で記録すると有用であることが判明している。 The spectrum at a viewing angle of 5 ° to 50 ° (on the basis of the normal to the surface), preferably have proven useful to record at 15 ° to 40 °. とりわけ顕著な吸収ピークが、この範囲で観測される。 Especially pronounced absorption peaks are observed in this range. 更に、吸収ピークの対称性を、前記クラスター層により生じる吸収ピークの存在を検出する機能として使用すると有用である。 Further, the symmetry of the absorption peak, it is useful to use as a function of detecting the presence of an absorption peak caused by the cluster layer. クラスター層により生じる吸収スペクトルは、部分的に明確に非対称的に形成される。 Absorption spectra caused by the cluster layer is partially clearly asymmetrically formed.
【0032】 [0032]
他の識別機能として、吸収ピークの絶対強度が測定される。 Other identification features, the absolute intensity of the absorption peak is measured. これは、従来技術に基づいて作製された一連の層の吸収ピークに比べ、著しく高い。 This is compared with the absorption peak of a series of layers made on the basis of the prior art, significantly higher.
【0033】 [0033]
マーキングに照らされた光は、白熱灯、レーザー、蛍光灯、発光ダイオード、またはキセノンランプによって生成し得る。 Light illuminated marking, incandescent lamps, lasers, fluorescent lamps, can be generated by a light emitting diode or a xenon lamp. この場合、反射光は、吸収スペクトルを測定するのに特に適している。 In this case, the reflected light is particularly suitable for measuring the absorption spectrum. 識別のセキュリティを強化するために、様々な視野角での反射スペクトルを記録して、マーキングを識別してもよい。 To enhance the security of identification, to record a reflection spectrum at various viewing angles, may identify the markings.
【0034】 [0034]
更にマーキングの真贋を確実にするために、測定値(i)〜(iii)が、対応する値付近の所定値の範囲内に存在する場合のみ、マーキングを識別してもよい。 Furthermore in order to ensure the authenticity of the marking, measurement (i) ~ (iii) it is, only when present within the predetermined value in the vicinity of the corresponding values ​​may identify the markings.
【0035】 [0035]
本発明の方法のさらなる構成上の特徴については、偽造防止マーキングに関する前述の説明が参照される。 The features on the further construction of the method of the present invention, the foregoing description is referenced counterfeit prevention marking.
【発明を実施するための最良の形態】 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
【0036】 [0036]
以下に、図面を用いて本発明の模範的な実施例について詳しく説明する。 Hereinafter, it will be described in detail exemplary embodiments of the present invention with reference to the drawings.
【0037】 [0037]
図1〜図5に示すマーキングにおいて、電磁波を反射するミラー層は、参照符号2で示されている。 In marking shown in FIGS. 1-5, a mirror layer for reflecting an electromagnetic wave is indicated by reference numeral 2. 例えば、この層はアルミニウムの薄膜であり得る。 For example, this layer may be a thin film of aluminum. しかしながら、ミラー層2はまた、金属クラスターで形成された層でもよく、膜1に塗布される。 However, the mirror layer 2 also may be a layer formed of metal clusters, it is applied to the membrane 1. 膜1はマーキングされる膜であり得る。 Film 1 may be a film to be marked. 不活性スペーサー層は3で示されている。 Inert spacer layer is indicated by 3. クラスター層は参照符号4で示されている。 Cluster layer is indicated by reference numeral 4.
【0038】 [0038]
図2および図5において、マーキングを可視化する第2膜には参照符号5が付されている。 2 and 5, reference numeral 5 are assigned the marking in the second film to visualize.
【0039】 [0039]
図3〜図5において、偽造防止のためにマーキングされた膜を更に処理するために設けられた接着層またはラミネート層を、6で示している。 In 3-5, the adhesive layer or laminated layer is provided in order to further process the marked film for preventing forgery is shown in 6. 入射光と比較して、特徴的な色のスペクトルを生じさせる反射光の変化を、矢印内におけるグレーの段階的な変化で、図3および図4に示している。 Compared to the incident light, the change in the reflected light to produce a spectrum of characteristic color, a gray step change in the arrow is shown in FIGS.
【0040】 [0040]
図1および図3に示すマーキングでは、クラスター層4は、スペーサー層3に塗布されている。 The markings shown in Figures 1 and 3, the cluster layer 4 is applied to the spacer layer 3. この場合、スペーサー層3はミラー層2に塗布される。 In this case, the spacer layer 3 is applied to the mirror layer 2. また、図1および図3において、前記ミラー層は膜1に塗布されている。 Further, in FIGS. 1 and 3, the mirror layer is applied to the membrane 1.
【0041】 [0041]
図4において、膜1に対してまずクラスター層4が塗布され、その後、スペーサー層3、次いで、ミラー層2、最後に接着層またはラミネート層6が塗布されている。 4, the cluster layer 4 first is applied to the film 1, then the spacer layer 3, and then, the mirror layer 2, finally the adhesive layer or laminate layer 6 is applied.
【0042】 [0042]
図2および図5に示すマーキングでは、光学的に透明なスペーサー層3のみがミラー層2に塗布され、後者は膜1に塗布されている。 The markings shown in Figures 2 and 5, only the optically transparent spacer layer 3 is applied to the mirror layer 2, the latter being applied to the film 1. このマーキングは最初は目視できない。 This marking is initially not visible. マーキングは、その表面に金属クラスターで形成されたクラスター層4が塗布されている第2の膜5と接触したときのみ目視可能である。 Marking can be seen visually when in contact with the second film 5 cluster layer 4 formed of metal clusters on the surface thereof is coated. 次いで、透明膜5を介して観測できる色彩効果が生じる。 Then, color effects that can be observed through the transparent film 5 occurs. 膜5は透明材料(例えば、ポリカーボネート、ポリウレタン、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリアクリラート、ポリ塩化ビニル、ポリエポキシド、ポリテレフタラートなどのプラスチック)から効果的に作製される。 Film 5 is a transparent material (e.g., polycarbonate, polyurethane, polyethylene, polypropylene, polyacrylates, polyvinyl chloride, polyepoxides, plastics such as poly terephthalate) effectively be produced from.
【0043】 [0043]
マーキングの機能は以下のとおりである。 Function of the marking is as follows.
【0044】 [0044]
白熱灯、レーザー、蛍光灯、キセノンランプなどの光源からの光が、図1、3および4に示すいずれかのマーキングに照らされると、この光はミラー層2で反射される。 Incandescent lamps, lasers, fluorescent lamps, light from a light source such as a xenon lamp, when illuminated by any one of the markings shown in FIGS. 1, 3 and 4, the light is reflected by the mirror layer 2. 反射光と、金属クラスターで形成されたクラスター層4との間の相互作用により、一部の入射光が吸収される。 And reflected light, the interaction between the cluster layer 4 formed of metal clusters, some of the incident light is absorbed. この反射光は、パラメータ(例えば、層構造の光学定数またはクラスターの形状等)の数に依存する特徴的なスペクトルを有している。 This reflected light has a characteristic spectrum that depends on the number of parameters (e.g., optical constants or cluster layer structure shape). このマーキングは色付きで現れる。 This marking will appear in color. 彩色は、マーキングの真贋の偽造防止の確認としての役割を果たす。 Coloring serves as a confirmation of the anti-counterfeiting of the authenticity of the marking. このように得られた色の印象は、角度に依存し、裸眼で大まかにでも、反射モードで動作する読み取り機(好ましくは、分光計)でも、認識することができる。 Impression of the resulting color, depending on the angle, at roughly the naked eye, (preferably, a spectrometer) reader operating in reflection mode but can be recognized. このような読み取り機は、例えば、二つの異なる角度からのマーキングの彩色を記録することができる。 Such reader, for example, can be recorded color marking from two different angles. この記録は、適切に傾斜させた、適切に接続された二つの光源による検出器を用いて、あるいは二つの異なる角度から照射されたサンプルをその二つの対応する角度から測定する二つの読み取り機を用いて行われる。 This record was appropriately inclined, using a detector according to the two light sources which are appropriately connected, or two reader that measures the sample irradiated from two different angles from the two corresponding angles It is performed using.
【0045】 [0045]
相互作用を起こすために維持するパラメータに関しては、US5,611,998およびWO99/47702が参照され、これらの公報の開示内容は本明細書に援用される。 For the parameters maintained to cause interaction, reference is US5,611,998 and WO99 / ​​47,702, the disclosure of these publications are incorporated herein.
【0046】 [0046]
図6Aは、連続的に被覆された偽造防止マークが付された膜を示している。 Figure 6A shows an anti-counterfeit mark continuously coated is attached membrane. この膜は部分的にロールに巻き上げられている。 This film is wound up to partially roll.
【0047】 [0047]
図6Bは、偽造防止マーキングを用いた、図6Aの膜から作製された粘着ラベルの製造方法を示している。 6B is used anti-counterfeit markings, which describes the preparation of an adhesive label made from the film of Figure 6A.
【0048】 [0048]
図7に示す図1の偽造防止マーキングのスペクトルは、Perkin Elmer社のラムダUV/VIS分光計を用いて、反射不活性(reflection insert)を用いて測定された。 Spectrum of anti-counterfeiting markings of Figure 1 shown in FIG. 7, using a Perkin Elmer Co. Lambda UV / VIS spectrometer, was measured using a reflection inert (reflection insert). 図7は、より長い波長のピークは、視野角が大きくなるにつれ短波長の方へ移動することを示す。 7, longer wavelength peaks indicate that moves toward a shorter wavelength as the viewing angle increases. また、使用されている銀のクラスターの特徴である静止ピークも観測され得る。 Further, the stationary peak that is characteristic of clusters of silver being used may also be observed. 視野角が45°未満の場合、このマーキングのピークの強度は約1ODであり、これは90%の吸光度に相当する。 If the viewing angle is less than 45 °, the intensity of the peak of the marking is approximately 1 OD, which corresponds to 90% of the absorbance.
【0049】 [0049]
図8は、図7のスペクトルの定量的評価を示しており、各々の場合において、二つの異なる波長で評価している。 Figure 8 shows the quantitative evaluation of the spectrum of FIG. 7, in each case, are evaluated at two different wavelengths. 考察される波長において、変化した吸光度は視野角の関数として観測される。 In the considered is the wavelength, altered absorbance is observed as a function of viewing angle. 吸収パターンはマーキングの真贋に特徴的である。 Absorption pattern is characteristic of authenticity of the marking.
【0050】 [0050]
図9および図10は、金属層で形成された従来の吸収層と比較した場合の、本発明に係るクラスター層の違いを示している。 9 and 10, when compared to conventional absorbent layer formed of a metal layer, which shows the difference between the cluster layer according to the present invention. 図9に示されているスペクトルは、ポリエチレンテレフタレートから作製された膜厚75μmの膜を有する偽造防止マーキングについて測定したものである。 Spectrum shown in Figure 9, is measured for anti-counterfeit marking having a film having a thickness of 75μm made of polyethylene terephthalate. この膜に膜厚100nmの金層がミラー層として塗布されている。 Gold layer having a thickness of 100nm is applied as a mirror layer on the membrane. ミラー層はMgF 2から作製された膜厚270nmのスペーサー層で覆われている。 Mirror layer is covered by a spacer layer of 270nm thickness made from MgF 2. そして、スペーサー層は、金属金クラスターで作製された膜厚0〜12nmの層で覆われている。 Then, the spacer layer is covered with a layer of the fabricated film thickness 0~12nm with metallic gold clusters. 上記各層は真空コーティング法により膜に塗布された。 The layers were applied to the film by a vacuum coating method. いずれの場合も、視野角18°で測定された。 In both cases, it measured at a viewing angle 18 °.
【0051】 [0051]
比較として図10に上記パラメータを用いて計算された、金で作製された吸収層の吸収スペクトルを示す。 Figure 10 as a comparison were calculated using the above parameters shows the absorption spectrum of the produced absorbent layer of gold.
【0052】 [0052]
図9および図10を比較すると、この場合、特に膜厚2.5〜5nmの範囲のクラスター層が高波長へ移動するという特徴的な吸収ピークを示すということが分かる。 Comparing Figures 9 and 10, in this case, it can be seen that particularly shows a characteristic absorption peak of the cluster layer ranging thickness 2.5~5nm moves higher wavelength. この吸収ピークは大幅に広くなり、膜厚5nmのクラスター層の場合、非対称形になる。 The absorption peak becomes much wider, if a cluster layer having a thickness of 5 nm, becomes asymmetric. クラスターの厚さが8nmの場合、吸収ピークは計算されたスペクトルにおける波長と同じであるが、まだかなり高めである。 When the thickness of the cluster of 8 nm, an absorption peak is the same as the wavelength in the calculated spectrum it is still quite high. さらに大きい膜厚のクラスター層では、吸収ピークは計算されたスペクトルの吸収ピークと同様である。 The larger the thickness of the cluster layer, the absorption peak is the same as the absorption peak of the computed spectrum. これは、膜厚約12nmで始まる図に示す例において、クラスターのコーティング密度が非常に高いため、形成されたクラスター層が少なくとも光学的に連続した金属層のように作用しているという事実を示している。 This, in the example shown in FIG starting with a thickness of about 12 nm, for coating density of clusters is very high, the cluster layer formed indicates the fact that acts as at least optically continuous metal layer ing.
【0053】 [0053]
本発明で提案された偽造防止マーキングは、装置により高い信頼性で識別することができる。 The proposed anti-counterfeiting markings in the present invention, can be identified with high reliability by the device. この目的のために、マーキングは、例えば、白熱灯で照射される。 For this purpose, markings, for example, is illuminated with an incandescent lamp. マーキングから反射された光の吸収スペクトルは、例えば視野角18°で測定される。 Absorption spectra of the light reflected from the marking is measured, for example, viewing angle 18 °. この目的のために、500〜700nmの間のスペクトル域が有利に観測される。 For this purpose, spectral range between 500~700nm is advantageously observed. そこで生じる可能性のある吸収ピークの絶対強度が決定される。 Therefore the absolute intensity of the absorption peak that may occur is determined. 更に、最大のスペクトル位置が決定される。 Furthermore, the maximum of the spectral position is determined. さらに、吸収ピークの対称性は、所定の基準点を用いて決定される。 Further, the symmetry of the absorption peak is determined using a predetermined reference point. 決定された値は、マーキングを識別するために、標準を用いて決定された所定の値の範囲と比較される。 Determined value, in order to identify the marking, is compared to a predetermined range of values ​​determined using standard.
【0054】 [0054]
識別の確実性を高めるために、上記測定を異なる視野角で行ってもよい。 To increase the reliability of identification, it may be subjected to the measurement at different viewing angles.
【0055】 [0055]
図11Aは、装置評価の分析を実証するための5本の縞のサンプル(アルミニウムのミラー上に形成された酸化アルミニウムのスペーサー層の上に金クラスターが形成されている)を示している。 Figure 11A shows a sample of five stripes to demonstrate analysis apparatus evaluation (gold clusters are formed on the spacer layer of aluminum oxide formed on aluminum mirrors). 約45°で、5本全ての縞は青みがかった色を示す。 At about 45 °, 5 present all stripes show the bluish color. 縞間の違いは、グレーステップモード(gray−step mode)では、縞が殆どあるいは全く目視できないかどうかである。 The difference between the fringes in the gray step mode (gray-step mode), fringes is whether hardly or no visually.
【0056】 [0056]
図11Bは、図11Aの5本の縞を測定したスペクトルを示しており、これらのスペクトルは手動操作の2チャンネル分光計を用いて測定された。 Figure 11B shows a spectrum measured by using five stripes of FIG. 11A, these spectra were measured using a 2-channel spectrometer manually operated. 縞3のデータがオリジナルとして保存されている場合、縞1、2、4、および5は、前記2チャンネル分光計からのデータのソフトウェア補助による評価において、偽造物として検出される。 If the data of the stripe 3 is stored as an original, stripes 1, 2, 4, and 5, in the evaluation by software aid of data from the 2-channel spectrometer, it is detected as a forgery.
【図面の簡単な説明】 BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
【0057】 [0057]
【図1】連続的に見える第1マーキングの概略断面図【図2】連続的に見えない第1マーキング、および確認するために適した、あるいは視認性を与える第2膜の概略断面図【図3】積層可能な、あるいは接着可能な連続的に見える第1マーキングの概略断面図【図4】積層可能な、あるいは接着可能な連続的に見える他の第2マーキングの概略断面図【図5】連続的に見えない、積層可能な、あるいは接着可能な第1マーキング、および確認するために適した、あるいは、視認性を与える第2膜の概略断面図【図6A】クラスターマーキングのストリップコーティングを示す図【図6B】図6Aのストリップから作製した接着ラベルを示す図【図7】様々な視野角での偽造防止マーキングの吸収スペクトルを示す図【図8】様々な波長での 1 is a schematic cross-sectional view Figure of a second material providing a continuous visible first marking schematic cross-sectional view FIG. 2 the first marking invisible continuously and suitable for confirming, or visibility 3] stackable, or schematic sectional view of the first marking that looks bondable continuous [4] stackable, or schematic sectional view of a bondable continuously looks another second marking [5] shows invisible continuously, stackable, or bondable first marking, and suitable for confirming, or strip coating of a schematic cross-sectional view 6A-cluster marking of the second material providing visibility Figure 6B is a diagram 8 showing the absorption spectra of Figure 7 anti-counterfeiting markings at various viewing angles showing the adhesive label made from strips of Figure 6A at various wavelengths 7に示すスペクトルの定量的評価を示す図【図9】異なる膜厚の金属クラスター層を用いた偽造防止マーキングの吸収スペクトルを測定したものを示す図【図10】異なる膜厚の金属層を用いたマーキングの吸収スペクトルを計算したものを示す図【図11A】目ではっきりと識別することができない、アルミニウム基板に塗布された5本の偽造防止マーキングを示す図【図11B】図11Aに示す5本の偽造防止マーキングの吸収スペクトルを測定したものを示す図【符号の説明】 Use Figure 9 different film shows what the absorption spectrum was measured for anti-counterfeit marking using a metal cluster layer having a thickness [10] different thicknesses of the metal layer showing a quantitative evaluation of the spectra shown in 7 can not be clearly identified in FIGS. FIG. 11A eyes for what was to calculate the absorption spectra of have markings, 5 shown in FIG. FIG. 11B Figure 11A showing the anti-counterfeiting markings five coated on an aluminum substrate shows what the absorption spectrum of the anti-counterfeit marking of the measured [description of symbols]
【0058】 [0058]
1 膜2 ミラー層3 スペーサー層4 クラスター層5 第2膜6 接着層 1 film 2 mirror layer 3 spacer layer 4 clusters layer 5 second film 6 adhesive layer

Claims (26)

  1. チェックカード、紙幣、ラベル等のオブジェクトの偽造防止マーキングであって、 Check card, a bill, a counterfeit-proof marking of objects such as a label,
    第1および第2表面を有する、プラスチックで作製された透明膜(1)と、 Having first and second surfaces, a transparent film made of plastic (1),
    前記第2表面上に設けられた、見る角度により色が異なって見える一連の層と、 A series of layers that appear different colors by said provided second surface, viewing angle,
    前記一連の層を形成する、吸収層(4)、当該吸収層(4)に重なるスペーサー層(3)、および当該スペーサー層(3)に重なるミラー層(2)とを含み、 Forming said sequence of layers, the absorption layer (4) includes a spacer layer overlying the said absorbent layer (4) (3), and the spacer layer (3) to overlap the mirror layer (2),
    前記吸収層は金属クラスター(4)を含むことを特徴とする偽造防止マーキング。 Anti-counterfeit marking the absorbent layer which comprises a metal cluster (4).
  2. 前記クラスター(4)は少なくとも一空間方向に、100nm以下の、好ましくは5〜35nmの不連続な島を形成することを特徴とする、請求項1に記載の偽造防止マーキング。 The clusters (4) in at least one spatial direction, following 100 nm, preferably characterized by forming a discontinuous island 5~35Nm, anti-counterfeit marking of claim 1.
  3. 好ましくは誘電性である前記スペーサー層(3)の厚さは、前記クラスター層(4)に入射する光の吸収が最大になるように選択されることを特徴とする、請求項1または2に記載の偽造防止マーキング。 Preferably the thickness of the spacer layer is a dielectric (3) is characterized in that absorption of light incident on the cluster layer (4) is selected to maximize, to claim 1 or 2 anti-counterfeiting marking described.
  4. 前記一連の層は、300〜800nmの波長領域における視野角45°で、最大値が少なくとも60%、好ましくは80%、特に好ましくは90%の吸収を有することを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 Said sequence of layers, at a viewing angle of 45 ° in the wavelength region of 300 to 800 nm, the maximum value of at least 60%, preferably characterized in that 80%, particularly preferably having an absorption of 90%, according to claim 1 anti-counterfeit marking according to any one of the three.
  5. 前記クラスター(4)は、金、銀、白金、パラジウム、スズ、アルミニウム、銅、インジウムから選択される1種の金属から形成されることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 The cluster (4) is characterized gold, silver, platinum, palladium, tin, aluminum, copper, to be formed from one metal selected from indium, according to any of claims 1 to 4 anti-counterfeit markings.
  6. 前記クラスター層(4)は堅固に、または取外し自在に前記スペーサー層(3)に接着されていることを特徴とする、請求項1〜5のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 The cluster layer (4) is rigidly or, characterized in that it is bonded to detachably the spacer layer (3), anti-counterfeit marking according to claim 1.
  7. 前記スペーサー層(3)は堅固に、または取外し自在に前記ミラー層(1)に接着されていることを特徴とする、請求項1〜6のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 The spacer layer (3) is rigidly or, characterized in that it is bonded to releasably said mirror layer (1), anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 6.
  8. 前記スペーサー層(3)の厚さは40〜2000nmであることを特徴とする、請求項1〜7のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 Wherein the thickness of said spacer layer (3) is 40~2000Nm, anti-counterfeit marking according to claim 1.
  9. 前記スペーサー層(3)は、金属酸化物、金属亜硝酸塩、金属オキシナイトライト、金属炭化物、特に、シリコン酸化物、シリコン炭化物、亜硝酸シリコン、酸化スズ、亜硝酸スズ、酸化アルミニウム、亜硝酸アルミニウム、ポリマー、特に、ポリカーボネート(PC)、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリウレタン(PU)、ポリイミド(PI)、ポリスチレン(PS)またはポリメタクリレート(PMA)、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリアクリレート(PA)、ニトロセルロース(NC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)から選択される1種の材料から作製されることを特徴とする、請求項1〜8のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 The spacer layer (3) is a metal oxide, metal nitrite, metal oxy-nitrite, metal carbide, in particular, silicon oxide, silicon carbide, nitrite silicon, tin oxide, nitrous acid tin, aluminum oxide, aluminum nitrite , polymers, polycarbonate (PC), polyethylene (PE), polypropylene (PP), polyurethane (PU), polyimide (PI), polystyrene (PS) or polymethacrylate (PMA), polyvinyl alcohol (PVA), polyacrylates ( PA), nitrocellulose (NC), characterized in that it is made from one material selected from polyethylene terephthalate (PET), anti-counterfeit marking according to claim 1.
  10. 前記膜(1)の膜厚は5〜100μmであることを特徴とする、請求項1〜9のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 Wherein the thickness of said film (1) is 5 to 100 [mu] m, anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 9.
  11. 前記膜はポリエチレンテレフタレートから作製されることを特徴とする、請求項1〜10のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 The film is characterized by being made from polyethylene terephthalate, anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 10.
  12. 前記膜(1)の前記第1または第2表面は、ホログラフィー効果を生じさせる構造を有することを特徴とする、請求項1〜11のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 Wherein the membrane (1) the first or second surface, characterized by having a structure to produce a holographic effect, anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 11.
  13. 前記ホログラフィー効果を生じさせる構造は0.1〜1.0μmの範囲にあることを特徴とする、請求項1〜12のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 Structure to produce the holographic effect is characterized in that in the range of 0.1 to 1.0 [mu] m, anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 12.
  14. 前記ミラー層(2)に接着層が塗布されていることを特徴とする、請求項1〜13のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 Wherein the adhesive layer is applied to the mirror layer (2), anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 13.
  15. 前記ミラー層(2)はキャリア膜(6)に塗布されていることを特徴とする、請求項1〜14のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 The mirror layer (2) is characterized in that it is applied to the carrier film (6), anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 14.
  16. 前記キャリア膜(6)に接着層が塗布されていることを特徴とする、請求項1〜15のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 Wherein the adhesive layer is applied the the carrier film (6), anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 15.
  17. 前記接着層は感圧接着剤またはホットメルト接着剤のいずれかから作製されることを特徴とする、請求項1〜16のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 The adhesive layer is characterized by being manufactured from any pressure sensitive adhesive or hot melt adhesive, anti-counterfeit marking according to any of claims 1 to 16.
  18. 前記接着剤は剥離可能な保護膜で覆われていることを特徴とする、請求項1〜17のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 The adhesive is characterized by being covered with a peelable protective film, anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 17.
  19. 前記第2表面に塗布された前記一連の層は、透明なマトリックスに収容された薄片の積層体であることを特徴とする、請求項1〜18のいずれかに記載の偽造防止マーキング。 Wherein the sequence of layers coated on the second surface, characterized in that it is a laminate of housed in a transparent matrix flakes, anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 18.
  20. 装置による、請求項1〜19のいずれかに記載の偽造防止マーキングの識別方法であって、 By the device, a method of identifying anti-counterfeit marking according to any one of claims 1 to 19,
    a)所定の視野角で前記偽造防止マーキングに反射した光のスペクトルを記録するステップと、 And recording the spectrum of the light reflected on said anti-counterfeit marking with a) a predetermined viewing angle,
    b)所定のスペクトル範囲内における、前記マーキングに特徴的な一つ以上の吸収ピークの(i)位置および/または(ii)形状および/または(iii)強度を決定するための値を測定するステップと、 The step of measuring b) in a given spectral range, the values ​​for determining (i) the position and / or (ii) the shape and / or (iii) the intensity of the characteristic of one or more absorption peaks in the marking When,
    c)ステップbで測定された前記値(i)〜(iii)を所定の対応する値と比較するステップと、 Comparing c) said measured values ​​in step b the (i) ~ (iii) a predetermined corresponding value,
    d)前記比較結果により前記マーキングを識別するステップとを含む方法。 How and identifying the marking through d) the comparison result.
  21. 前記スペクトルは視野角5°〜50°、好ましくは15°〜40°で記録されることを特徴とする、請求項20に記載の方法。 The spectra viewing angle 5 ° to 50 °, preferably characterized in that it is recorded in 15 ° to 40 °, The method of claim 20.
  22. 前記吸収ピークの対称性は、前記クラスター(4)により生じる吸収スペクトルの存在を検出するための特徴として使用されることを特徴とする、請求項20または21に記載の方法。 The symmetry of the absorption peak, characterized in that it is used as a feature for detecting the presence of absorption spectrum caused by the clusters (4) The method of claim 20 or 21.
  23. 前記吸収ピークの絶対強度が測定されることを特徴とする、請求項20〜22のいずれかに記載の方法。 Wherein the absolute intensity of the absorption peak is measured, the method according to any one of claims 20 to 22.
  24. 前記マーキングは、前記測定値(i)〜(iii)が前記対応する値付近の所定値の範囲内に存在する場合のみ識別されることを特徴とする、請求項20〜23のいずれかに記載の方法。 The marking, characterized in that it is identified only if the measured value (i) ~ (iii) is present within a predetermined value in the vicinity of the corresponding values, according to any one of claims 20 to 23 the method of.
  25. 前記マーキングに照らされた前記光は、白熱灯、レーザー、蛍光灯、発光ダイオード、またはキセノンランプによって発生することを特徴とする、請求項20〜24のいずれかに記載の方法。 The light illuminated to the marking, incandescent lamps, lasers, fluorescent lamps, characterized in that generated by a light emitting diode or a xenon lamp, A method according to any one of claims 20 to 24.
  26. 前記マーキングは、様々な視野角での前記反射スペクトルを記録することにより識別されることを特徴とする、請求項20〜25のいずれかに記載の方法。 The marking, characterized in that it is identified by recording the reflection spectra at various viewing angles, the method according to any one of claims 20 to 25.
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