JP2004342916A - Thin film pattern forming method, device and its manufacturing method, and electro-optical device and electronic instrument - Google Patents

Thin film pattern forming method, device and its manufacturing method, and electro-optical device and electronic instrument Download PDF

Info

Publication number
JP2004342916A
JP2004342916A JP2003139188A JP2003139188A JP2004342916A JP 2004342916 A JP2004342916 A JP 2004342916A JP 2003139188 A JP2003139188 A JP 2003139188A JP 2003139188 A JP2003139188 A JP 2003139188A JP 2004342916 A JP2004342916 A JP 2004342916A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
banks
thin film
film pattern
functional liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003139188A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4042625B2 (en
Inventor
Hironobu Hasei
宏宣 長谷井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2003139188A priority Critical patent/JP4042625B2/en
Publication of JP2004342916A publication Critical patent/JP2004342916A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4042625B2 publication Critical patent/JP4042625B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To form a thin film pattern more surely by arranging functional liquid between the banks. <P>SOLUTION: The forming method of the thin film pattern 33 by arranging the functional liquid on a substrate P comprises a process for forming the banks B, B in accordance with the thin film pattern 33 on the substrate P, a process for arranging the functional liquid on the substrate P between the banks B, B, a process for making the banks B, B so as to repel the liquid after the functional liquid arranging process, and a process for further discharging the functional liquid on the functional liquid already arranged between the banks B, B again after the process of making the banks B, B so as to repel the liquid. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、薄膜パターン形成方法、デバイスとその製造方法及び電気光学装置並びに電子機器に関する。
【0002】
【従来の技術】
電子回路または集積回路などに使われる配線を有するデバイス製造には、例えばフォトリソグラフィ法が用いられている。このリソグラフィ法は、予め導電膜を形成した基板上にレジストと呼ばれる感光材を塗布し、回路パターンを照射して現像し、レジストパターンに応じて導電膜をエッチングすることで薄膜の配線パターンを形成するものである。このリソグラフィ法は真空装置などの大掛かりな設備と複雑な工程を必要とし、また材料使用効率も数%程度でそのほとんどを廃棄せざるを得ず、製造コストが高い。
【0003】
これに対して、液体吐出ヘッドから液体材料を液滴状に吐出する液滴吐出法、いわゆるインクジェット法を用いて基板上に配線パターンを形成する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。この方法では、金属微粒子等の導電性微粒子を分散させた機能液である配線パターン用インクを基板に直接パターン配置し、その後熱処理やレーザー照射を行って薄膜の導電膜パターンに変換する。この方法によれば、フォトリソグラフィが不要となり、プロセスが大幅に簡単なものになるとともに、原材料の使用量も少なくてすむというメリットがある。
【0004】
【特許文献1】
米国特許5132248号明細書
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、導電膜パターンは、通常、基板上に配線パターンに応じて形成されたバンクの間に配線パターン用インクを複数回に分けて配置させ、該配線パターン用インクに対し上述のように熱処理やレーザー照射を行うことによって形成される。また、バンクは、配線パターン用インクがバンク間に入り込みやすくなるように基板上よりも高い撥液性が付与されている。ところが、始めに配線パターン用インクをバンク間に配置した際に配線パターン用インクがバンクに配置し、バンクの撥液性が低下する場合がある。この場合に、続けて配線パターン用インクをバンク間に配置すると配線パターン用インクがバンク間から溢れ出し、導電膜パターンを形成できなくなるという問題が生じる。
【0006】
本発明は、上述する問題点に鑑みてなされたもので、機能液をバンク間に確実に配置させることによって、より確実に薄膜パターンを形成することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明に係る薄膜パターン形成方法は、機能液を基板上に配置させて薄膜パターンを形成する方法であって、上記基板上に上記薄膜パターンに応じたバンクを形成する工程と、上記バンク間の上記基板上に機能液を配置させる工程と、機能液を配置させる工程後に上記バンクを撥液化する工程と、該バンクを撥液化する工程後に再び上記バンク間に配置された上記機能液上にさらに機能液を吐出する工程とを有することを特徴とする。
【0008】
このような特徴を有する本薄膜パターン形成方法によれば、始めに機能液をバンク間に配置した際に機能液がバンクに配置してバンクの撥液性が低下した場合であっても、再びバンクの撥液性が高められる。このため、続いてバンク間の機能液上に機能液を吐出しても、機能液を確実にバンク間に入れることが可能となる。特に、バンク間の寸法が吐出された機能液の液滴の径よりも小さい場合には必ず機能液がバンクに配置するので、より高い効果が得られる。
【0009】
次に、本発明に係る薄膜パターン形成方法は、機能液を配置させる工程後に上記バンクを撥液化する工程と、上記バンクを撥液化する工程後に再び上記バンク間に配置された上記機能液上に機能液を吐出する工程とを繰り返し行うことによって所定量の機能液を基板上に配置させることを特徴とする。
【0010】
このような特徴を有する本薄膜パターン形成方法によれば、バンク間に機能液を吐出するたびに、撥液性が低下したバンクの撥液性を再び高めるので、機能液を3回以上バンク間に吐出する場合であっても機能液を確実にバンク間に入れることが可能となる。
また、複数回に分けて機能液をバンク間に吐出することによって、先に吐出下機能液がバンク間において濡れ広がるのを待ってから次ぎの機能液を吐出することができる。これにより、一度に所定量の機能液をバンク間に吐出したために機能液がバンク間から溢れ出してしまうというような事態を防止しつつ、所定量の機能液を確実にバンク間の基板上に配置させることが可能となる。
【0011】
なお、バンクが撥液性の低い材料によって形成されている場合には特に、上記基板上に機能液を配置させる工程より前に上記バンクに基板上よりも高い撥液性を付与することが好ましい。これによって始めに吐出された機能液を確実にバンク間の基板上に配置させることが可能となる。
【0012】
なお、バンクと基板の界面にバンクと基板との密着性を向上させる密着性膜を形成することが好ましい。この密着性膜によってバンクと基板との密着性が向上し、バンクが基板に対して剥離することを防止することが可能となる。
また、この密着性膜は、バンクをマスクとしてパターニングされることが好ましい。これによって、密着性膜をパターニングするためのマスクを製造したり、基板上にマスクをセッティングする作業が不要となので、生産性を向上させることが可能となる。
【0013】
なお、機能液に導電性微粒子が含まれている場合には、薄膜パターンを配線パターンとすることができ、各種デバイスの配線パターンに応用することが可能となる。また、導電性微粒子の他に有機EL等の発光素子形成材料やR・G・Bのインク材料を用いることによって、有機EL表示装置やカラーフィルタを有する液晶表示装置等の製造にも適用するこが可能となる。
【0014】
一方、本発明に係るデバイス製造方法は、基板に形成された薄膜パターンを備えるデバイスの製造方法であって、上記薄膜パターン形成方法によって上記基板に上記薄膜パターンを形成することを特徴とする。
本発明に係る薄膜パターン形成方法は、確実に機能液をバンク間に吐出することができるので、より確実に基板上に薄膜パターンを形成することが可能となり、この本薄膜パターン形成方法を用いることによって、本発明に係るデバイス製造方法は、より確実にデバイスに備えられた薄膜パターンを形成することが可能となる。
また、上記薄膜パターンがスイッチング素子に接続される配線を構成する場合には、スイッチング素子に接続される配線をより確実に形成することが可能となり、デバイスの信頼性が向上する。
【0015】
そして、本発明に係る電気光学装置は、上記のデバイス製造方法を用いて製造されたデバイスを備えることを特徴としている。
また、本発明の電子機器は、上記の電気光学装置を備えることを特徴としている。
これによって、本発明では、信頼性の高い電気光学装置及び電子機器を得ることが可能となる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明に係る薄膜パターン形成方法、デバイスとその製造方法及び電気光学装置並びに電子機器の一実施形態について説明する。なお、参照する各図において、図面上で認識可能な大きさとするために縮尺は各層や各部材ごとに異なる場合がある。
【0017】
(第1実施形態)
本実施の形態では、液滴吐出法によって液体吐出ヘッドのノズルから導電性微粒子を含む配線パターン(薄膜パターン)用インク(機能液)を液滴状に吐出し、基板上に配線パターンに応じて形成されたバンクの間に導電性膜からなる配線パターンを形成する場合の例を用いて説明する。
【0018】
この配線パターン用インクは、導電性微粒子を分散媒に分散させた分散液からなるものである。
本実施の形態では、導電性微粒子として、例えば、金、銀、銅、パラジウム、及びニッケルのうちのいずれかを含有する金属微粒子の他、これらの酸化物、並びに導電性ポリマーや超電導体の微粒子などが用いられる。
これらの導電性微粒子は、分散性を向上させるために表面に有機物などをコーティングして使うこともできる。
導電性微粒子の粒径は1nm以上0.1μm以下であることが好ましい。0.1μmより大きいと、後述する液体吐出ヘッドのノズルに目詰まりが生じるおそれがある。また、1nmより小さいと、導電性微粒子に対するコーティング剤の体積比が大きくなり、得られる膜中の有機物の割合が過多となる。
【0019】
分散媒としては、上記の導電性微粒子を分散できるもので、凝集を起こさないものであれば特に限定されない。例えば、水の他に、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノールなどのアルコール類、n−ヘプタン、n−オクタン、デカン、ドデカン、テトラデカン、トルエン、キシレン、シメン、デュレン、インデン、ジペンテン、テトラヒドロナフタレン、デカヒドロナフタレン、シクロヘキシルベンゼンなどの炭化水素系化合物、またエチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、1,2−ジメトキシエタン、ビス(2−メトキシエチル)エーテル、p−ジオキサンなどのエーテル系化合物、さらにプロピレンカーボネート、γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、シクロヘキサノンなどの極性化合物を例示できる。これらのうち、微粒子の分散性と分散液の安定性、また液滴吐出法(インクジェット法)への適用の容易さの点で、水、アルコール類、炭化水素系化合物、エーテル系化合物が好ましく、より好ましい分散媒としては、水、炭化水素系化合物を挙げることができる。
【0020】
上記導電性微粒子の分散液の表面張力は0.02N/m以上0.07N/m以下の範囲内であることが好ましい。インクジェット法にて液体を吐出する際、表面張力が0.02N/m未満であると、インク組成物のノズル面に対する濡れ性が増大するため飛行曲りが生じやすくなり、0.07N/mを超えるとノズル先端でのメニスカスの形状が安定しないため吐出量や、吐出タイミングの制御が困難になる。表面張力を調整するため、上記分散液には、基板との接触角を大きく低下させない範囲で、フッ素系、シリコーン系、ノニオン系などの表面張力調節剤を微量添加するとよい。ノニオン系表面張力調節剤は、液体の基板への濡れ性を向上させ、膜のレベリング性を改良し、膜の微細な凹凸の発生などの防止に役立つものである。上記表面張力調節剤は、必要に応じて、アルコール、エーテル、エステル、ケトン等の有機化合物を含んでもよい。
【0021】
上記分散液の粘度は1mPa・s以上50mPa・s以下であることが好ましい。インクジェット法を用いて液体材料を液滴として吐出する際、粘度が1mPa・sより小さい場合にはノズル周辺部がインクの流出により汚染されやすく、また粘度が50mPa・sより大きい場合は、ノズル孔での目詰まり頻度が高くなり円滑な液滴の吐出が困難となる。
【0022】
配線パターンが形成される基板としては、ガラス、石英ガラス、Siウエハ、プラスチックフィルム、金属板など各種のものを用いることができる。また、これら各種の素材基板の表面に半導体膜、金属膜、誘電体膜、有機膜などが下地層として形成されたものも含む。
【0023】
ここで、液滴吐出法の吐出技術としては、帯電制御方式、加圧振動方式、電気機械変換式、電気熱変換方式、静電吸引方式などが挙げられる。帯電制御方式は、材料に帯電電極で電荷を付与し、偏向電極で材料の飛翔方向を制御してノズルから吐出させるものである。また、加圧振動方式は、材料に30kg/cm2程度の超高圧を印加してノズル先端側に材料を吐出させるものであり、制御電圧をかけない場合には材料が直進してノズルから吐出され、制御電圧をかけると材料間に静電的な反発が起こり、材料が飛散してノズルから吐出されない。また、電気機械変換方式は、ピエゾ素子(圧電素子)がパルス的な電気信号を受けて変形する性質を利用したもので、ピエゾ素子が変形することによって材料を貯留した空間に可撓物質を介して圧力を与え、この空間から材料を押し出してノズルから吐出させるものである。
【0024】
また、電気熱変換方式は、材料を貯留した空間内に設けたヒータにより、材料を急激に気化させてバブル(泡)を発生させ、バブルの圧力によって空間内の材料を吐出させるものである。静電吸引方式は、材料を貯留した空間内に微小圧力を加え、ノズルに材料のメニスカスを形成し、この状態で静電引力を加えてから材料を引き出すものである。また、この他に、電場による流体の粘性変化を利用する方式や、放電火花で飛ばす方式などの技術も適用可能である。液滴吐出法は、材料の使用に無駄が少なく、しかも所望の位置に所望の量の材料を的確に配置できるという利点を有する。なお、液滴吐出法により吐出される液状材料(流動体)の一滴の量は、例えば1〜300ナノグラムである。
【0025】
次に、本発明に係るデバイスを製造する際に用いられるデバイス製造装置について説明する。
このデバイス製造装置としては、液滴吐出ヘッドから基板に対して液滴を吐出(滴下)することによりデバイスを製造する液滴吐出装置(インクジェット装置)が用いられる。
【0026】
図1は、液滴吐出装置IJの概略構成を示す斜視図である。
液滴吐出装置IJは、液滴吐出ヘッド1と、X軸方向駆動軸4と、Y軸方向ガイド軸5と、制御装置CONTと、ステージ7と、クリーニング機構8と、基台9と、ヒータ15とを備えている。
ステージ7は、この液滴吐出装置IJによりインク(液体材料)を設けられる基板Pを支持するものであって、基板Pを基準位置に固定する不図示の固定機構を備えている。
【0027】
液滴吐出ヘッド1は、複数の吐出ノズルを備えたマルチノズルタイプの液滴吐出ヘッドであり、長手方向とY軸方向とを一致させている。複数の吐出ノズルは、液滴吐出ヘッド1の下面にY軸方向に並んで一定間隔で設けられている。液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルからは、ステージ7に支持されている基板Pに対して、上述した導電性微粒子を含むインクが吐出される。
【0028】
X軸方向駆動軸4には、X軸方向駆動モータ2が接続されている。X軸方向駆動モータ2はステッピングモータ等であり、制御装置CONTからX軸方向の駆動信号が供給されると、X軸方向駆動軸4を回転させる。X軸方向駆動軸4が回転すると、液滴吐出ヘッド1はX軸方向に移動する。
Y軸方向ガイド軸5は、基台9に対して動かないように固定されている。ステージ7は、Y軸方向駆動モータ3を備えている。Y軸方向駆動モータ3はステッピングモータ等であり、制御装置CONTからY軸方向の駆動信号が供給されると、ステージ7をY軸方向に移動する。
【0029】
制御装置CONTは、液滴吐出ヘッド1に液滴の吐出制御用の電圧を供給する。また、X軸方向駆動モータ2に液滴吐出ヘッド1のX軸方向の移動を制御する駆動パルス信号を、Y軸方向駆動モータ3にステージ7のY軸方向の移動を制御する駆動パルス信号を供給する。
クリーニング機構8は、液滴吐出ヘッド1をクリーニングするものである。クリーニング機構8には、図示しないY軸方向の駆動モータが備えられている。このY軸方向の駆動モータの駆動により、クリーニング機構は、Y軸方向ガイド軸5に沿って移動する。クリーニング機構8の移動も制御装置CONTにより制御される。
ヒータ15は、ここではランプアニールにより基板Pを熱処理する手段であり、基板P上に配置された液体材料に含まれる溶媒の蒸発及び乾燥を行う。このヒータ15の電源の投入及び遮断も制御装置CONTにより制御される。
【0030】
液滴吐出装置IJは、液滴吐出ヘッド1と基板Pを支持するステージ7とを相対的に走査しつつ基板Pに対して液滴を吐出する。ここで、以下の説明において、X軸方向を走査方向、X軸方向と直交するY軸方向を非走査方向とする。したがって、液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルは、非走査方向であるY軸方向に一定間隔で並んで設けられている。なお、図1では、液滴吐出ヘッド1は、基板Pの進行方向に対し直角に配置されているが、液滴吐出ヘッド1の角度を調整し、基板Pの進行方向に対して交差させるようにしてもよい。このようにすれば、液滴吐出ヘッド1の角度を調整することで、ノズル間のピッチを調節することが出来る。また、基板Pとノズル面との距離を任意に調節することが出来るようにしてもよい。
【0031】
図2は、ピエゾ方式による液体材料の吐出原理を説明するための図である。
図2において、液体材料(配線パターン用インク、機能液)を収容する液体室21に隣接してピエゾ素子22が設置されている。液体室21には、液体材料を収容する材料タンクを含む液体材料供給系23を介して液体材料が供給される。ピエゾ素子22は駆動回路24に接続されており、この駆動回路24を介してピエゾ素子22に電圧を印加し、ピエゾ素子22を変形させることにより、液体室21が変形し、ノズル25から液体材料が吐出される。この場合、印加電圧の値を変化させることにより、ピエゾ素子22の歪み量が制御される。また、印加電圧の周波数を変化させることにより、ピエゾ素子22の歪み速度が制御される。ピエゾ方式による液滴吐出は材料に熱を加えないため、材料の組成に影響を与えにくいという利点を有する。
【0032】
次に、本発明の配線パターン形成方法の実施形態の一例として、基板上に導電膜配線を形成する方法について図3及び図4を参照して説明する。本実施形態に係る配線パターン形成方法は、上述した配線パターン用のインクを基板上に配置し、その基板上に配線用の導電膜パターンを形成するものであり、HMDS膜(密着性膜)形成工程、バンク形成工程、HMDS膜パターニング工程、残渣処理工程、第1撥液化処理工程、材料配置工程、第2撥液化処理工程、中間乾燥工程及び焼成工程から概略構成される。
以下、各工程毎に詳細に説明する。
【0033】
(HMDS形成工程)
HMDS(ヘキサメチルジシラザン)膜は、基板とバンクとの密着性を向上させるものであり、例えばHMDSを蒸気状にして対象物に対して付着させる方法(HMDS処理)によって形成される。これによって、図3(a)に示すように、基板P上にHMDS膜32が形成される。
【0034】
(バンク形成工程)
バンクは、仕切部材として機能する部材であり、バンクの形成はリソグラフィ法や印刷法等、任意の方法で行うことができる。例えば、リソグラフィ法を使用する場合は、スピンコート、スプレーコート、ロールコート、ダイコート、ディップコート等所定の方法で、図3(b)に示すように、基板P上にバンクの高さに合わせて有機系感光性材料31を塗布し、その上にレジスト層を塗布する。そして、バンク形状(配線パターン)に合わせてマスクを施しレジストを露光・現像することによりバンク形状に合わせたレジストを残す。最後にエッチングしてマスク以外の部分のバンク材料を除去する。また、下層が無機物で上層が有機物で構成された2層以上でバンク(凸部)を形成してもよい。
これによって、図3(c)に示されるように、配線パターンを形成すべき領域(例えば10μm幅)の周辺を囲むようにバンクB、Bが形成される。
【0035】
バンクを形成する有機材料としては、液体材料に対して撥液性を示す材料でも良いし、後述するように、プラズマ処理による撥液化(テフロン(登録商標)化)が可能で下地基板との密着性が良くフォトリソグラフィによるパターニングがし易い絶縁有機材料でも良い。例えば、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、オレフィン樹脂、メラミン樹脂等の高分子材料を用いることが可能である。
【0036】
(HMDS膜パターニング工程)
基板P上にバンクB、Bが形成されると、続いてバンクB、B間のHMDS膜32(バンクB、B間の底部)を図3(d)に示すようにエッチングすることによってHMDS膜32をパターニングする。具体的には、バンクB、Bが形成された基板Pに対してバンクをマスクとして、例えば2.5%フッ酸水溶液でエッチングを施すことでHMDS膜をエッチングする。これによって基板PがバンクB、B間の底部に露出される。
【0037】
(残渣処理工程(親液化処理工程))
次に、バンク間におけるバンク形成時のレジスト(有機物)残渣を除去するために、基板Pに対して残渣処理を施す。
残渣処理としては、紫外線を照射することにより残渣処理を行う紫外線(UV)照射処理や大気雰囲気中で酸素を処理ガスとするO2プラズマ処理等を選択できるが、ここではO2プラズマ処理を実施する。
【0038】
具体的には、基板Pに対しプラズマ放電電極からプラズマ状態の酸素を照射することで行う。O2プラズマ処理の条件としては、例えばプラズマパワーが50〜1000W、酸素ガス流量が50〜100ml/min、プラズマ放電電極に対する基板1の板搬送速度が0.5〜10mm/sec、基板温度が70〜90℃とされる。
なお、基板Pがガラス基板の場合、その表面は配線パターン形成材料に対して親液性を有しているが、本実施の形態のように残渣処理のためにO2プラズマ処理や紫外線照射処理を施すことで、バンクB、Bの底部に露出した基板Pの親液性を高めることができる。
【0039】
(第1撥液化処理工程)
続いて、バンクBに対し撥液化処理を行い、その表面に撥液性を付与する。撥液化処理としては、例えば大気雰囲気中でテトラフルオロメタンを処理ガスとするプラズマ処理法(CF4プラズマ処理法)を採用することができる。CF4プラズマ処理の条件は、例えばプラズマパワーが50〜1000W、4フッ化メタンガス流量が50〜100ml/min、プラズマ放電電極に対する基体搬送速度が0.5〜1020mm/sec、基体温度が70〜90℃とされる。
なお、処理ガスとしては、テトラフルオロメタン(四フッ化炭素)に限らず、他のフルオロカーボン系のガスを用いることもできる。
【0040】
このような撥液化処理を行うことにより、バンクB、Bにはこれを構成する樹脂中にフッ素基が導入され、基板Pに対して高い撥液性が付与される。なお、上述した親液化処理としてのO2プラズマ処理は、バンクBの形成前に行ってもよいが、アクリル樹脂やポリイミド樹脂等は、O2プラズマによる前処理がなされた方がよりフッ素化(撥液化)されやすいという性質があるため、バンクBを形成した後にO2プラズマ処理することが好ましい。
なお、バンクB、Bに対する撥液化処理により、先に親液化処理した基板P表面に対し多少は影響があるものの、特に基板Pがガラス等からなる場合には、撥液化処理によるフッ素基の導入が起こらないため、基板Pはその親液性、すなわち濡れ性が実質上損なわれることはない。
また、バンクB、Bについては、撥液性を有する材料(例えばフッ素基を有する樹脂材料)によって形成することにより、その撥液処理を省略するようにしてもよい。
【0041】
(材料配置工程)
次に、液滴吐出装置IJによる液滴吐出法を用いて、配線パターン形成材料をバンクB、B間に露出した基板P上に吐出して配置させる。なお、ここでは、導電性微粒子として銀を用い、溶媒(分散媒)としてジエチレングリコールジエチルエーテルを用いたインク(分散液)を吐出する。
【0042】
すなわち、材料配置工程では、図4(e)に示すように、液体吐出ヘッド1から配線パターン形成材料を含む液体材料を液滴にして吐出し、その液滴をバンクB、B間に露出した基板P上に配置させる。
このとき、バンクB、B間に露出した基板PはバンクB、Bに囲まれているので、液状体が所定位置以外に拡がることを阻止できる。また、バンクB、Bは撥液性が付与されているため、吐出された液滴の一部がバンクB、B上にのっても、バンク表面が撥液性となっていることによりバンクB、Bからはじかれ、バンクB、B間に流れ落ちるようになる。さらに、バンクB、B間に露出した基板Pは親液性を付与されているため、吐出された液状体がバンクB、B間に露出した基板P上において拡がり易くなる。これによって図4(f)に示すように液状体を所定位置内でより均一にすることができる。
【0043】
(第2撥液化処理工程)
上述の材料配置工程において、バンクB、Bの側面の上部や上面に液状体が配置すると、バンクB、Bの撥液性が低下する。このようにバンクB、Bの撥液性が低下した状態で再び液状体をバンクB、B間に吐出すると、吐出された液滴の一部がバンクB、B上にのった場合にバンクB、Bからはじかれず、バンクB、B間に流れ落ちなくなる。そこで、再び上述の第1撥液化処理と同様に、例えばCF4プラズマ処理法によって、バンクB、Bを撥液化する。
【0044】
この第2撥液化工程と上述の材料配置工程とを繰り返し行うことによって、図4(g)に示すように所定量のインクをバンクB、B間に露出した基板P上に確実に配置させることができる。特に、バンクB、B間の寸法が吐出された液滴の径よりも小さい場合には必ずインクがバンクに配置するので、より高い効果が得られる。
また、第2撥液化工程と材料配置工程を繰り返し行うことによって、インクを複数回に分けてバンクB、B間に吐出することができるので、先に吐出したインクがバンクB、B間において濡れ拡がるのを待ってから次のインクを吐出することができ、結果、インクがバンクB、B間から溢れ出すことを防止することが可能となる。
【0045】
(中間乾燥工程)
基板Pに所定量のインクを吐出した後、分散媒の除去のため、必要に応じて乾燥処理をする。乾燥処理は、例えば基板Wを加熱する通常のホットプレート、電気炉などによる処理の他、ランプアニールによって行なうこともできる。ランプアニールに使用する光の光源としては、特に限定されないが、赤外線ランプ、キセノンランプ、YAGレーザー、アルゴンレーザー、炭酸ガスレーザー、XeF、XeCl、XeBr、KrF、KrCl、ArF、ArClなどのエキシマレーザーなどを光源として使用することができる。これらの光源は一般には、出力10W以上5000W以下の範囲のものが用いられるが、本実施形態では100W以上1000W以下の範囲で十分である。
【0046】
(焼成工程)
吐出工程後の乾燥膜は、微粒子間の電気的接触をよくするために、分散媒を完全に除去する必要がある。また、導電性微粒子の表面に分散性を向上させるために有機物などのコーティング材がコーティングされている場合には、このコーティング材も除去する必要がある。そのため、吐出工程後の基板には熱処理及び/又は光処理が施される。
【0047】
熱処理及び/又は光処理は通常大気中で行なわれるが、必要に応じて、窒素、アルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰囲気中で行うこともできる。熱処理及び/又は光処理の処理温度は、分散媒の沸点(蒸気圧)、雰囲気ガスの種類や圧力、微粒子の分散性や酸化性等の熱的挙動、コーティング材の有無や量、基材の耐熱温度などを考慮して適宜決定される。
例えば、有機物からなるコーティング材を除去するためには、約300℃で焼成することが必要である。また、プラスチックなどの基板を使用する場合には、室温以上100℃以下で行うことが好ましい。
以上の工程により吐出工程後の乾燥膜は微粒子間の電気的接触が確保されて導電性膜に変換され、図4(h)に示すように、バンクB、B間に所定の厚みの配線33が形成される。
【0048】
以上のように、本実施の形態では、第2撥液化工程と材料配置工程を繰り返し行うので、所定量のインクを確実にバンクB、B間に露出した基板P上に配置させることができ、より確実に配線パターンを形成することが可能となる。
【0049】
(第2実施形態)
第2実施形態として、本発明の電気光学装置の一例である液晶表示装置について説明する。図5は、本発明に係る液晶表示装置について、各構成要素とともに示す対向基板側から見た平面図であり、図6は図1のH−H’線に沿う断面図である。図7は、液晶表示装置の画像表示領域においてマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図で、図8は、液晶表示装置の部分拡大断面図である。
【0050】
図5及び図6において、本実施の形態の液晶表示装置(電気光学装置)100は、対をなすTFTアレイ基板10と対向基板20とが光硬化性の封止材であるシール材52によって貼り合わされ、このシール材52によって区画された領域内に液晶50が封入、保持されている。シール材52は、基板面内の領域において閉ざされた枠状に形成されてなり、液晶注入口を備えず、封止材にて封止された痕跡がない構成となっている。
【0051】
シール材52の形成領域の内側の領域には、遮光性材料からなる周辺見切り53が形成されている。シール材52の外側の領域には、データ線駆動回路201及び実装端子202がTFTアレイ基板10の一辺に沿って形成されており、この一辺に隣接する2辺に沿って走査線駆動回路204が形成されている。TFTアレイ基板10の残る一辺には、画像表示領域の両側に設けられた走査線駆動回路204の間を接続するための複数の配線205が設けられている。また、対向基板20のコーナー部の少なくとも1箇所においては、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的導通をとるための基板間導通材206が配設されている。
【0052】
なお、データ線駆動回路201及び走査線駆動回路204をTFTアレイ基板10の上に形成する代わりに、例えば、駆動用LSIが実装されたTAB(Tape Automated Bonding)基板とTFTアレイ基板10の周辺部に形成された端子群とを異方性導電膜を介して電気的及び機械的に接続するようにしてもよい。なお、液晶表示装置100においては、使用する液晶50の種類、すなわち、TN(Twisted Nematic)モード、STN(Super Twisted Nematic)モード等の動作モードや、ノーマリホワイトモード/ノーマリブラックモードの別に応じて、位相差板、偏光板等が所定の向きに配置されるが、ここでは図示を省略する。
また、液晶表示装置100をカラー表示用として構成する場合には、対向基板20において、TFTアレイ基板10の後述する各画素電極に対向する領域に、例えば、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタをその保護膜とともに形成する。
【0053】
このような構造を有する液晶表示装置100の画像表示領域においては、図7に示すように、複数の画素100aがマトリクス状に構成されているとともに、これらの画素100aの各々には、画素スイッチング用のTFT(スイッチング素子)30が形成されており、画素信号S1、S2、…、Snを供給するデータ線6aがTFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画素信号S1、S2、…、Snは、この順に線順次で供給してもよく、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。また、TFT30のゲートには走査線3aが電気的に接続されており、所定のタイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、…、Gmをこの順に線順次で印加するように構成されている。
【0054】
画素電極19は、TFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけオン状態とすることにより、データ線6aから供給される画素信号S1、S2、…、Snを各画素に所定のタイミングで書き込む。このようにして画素電極19を介して液晶に書き込まれた所定レベルの画素信号S1、S2、…、Snは、図6に示す対向基板20の対向電極121との間で一定期間保持される。なお、保持された画素信号S1、S2、…、Snがリークするのを防ぐために、画素電極19と対向電極121との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量60が付加されている。例えば、画素電極19の電圧は、ソース電圧が印加された時間よりも3桁も長い時間だけ蓄積容量60により保持される。これにより、電荷の保持特性は改善され、コントラスト比の高い液晶表示装置100を実現することができる。
【0055】
図8は、ボトムゲート型TFT30を有する液晶表示装置100の部分拡大断面図であって、TFTアレイ基板10を構成するガラス基板Pには、上記第1実施形態の配線パターン形成方法によりゲート配線61がガラス基板Pに形成されたバンクB、B間に形成されている。なお、本実施形態では、ゲート配線61を形成する際に、後述するアモルファスシリコン層を形成するプロセスで約350℃まで加熱されるため、その温度に耐えられる材料として無機質のバンク材を用いている。
【0056】
ゲート配線61上には、SiNxからなるゲート絶縁膜62を介してアモルファスシリコン(a−Si)層からなる半導体層63が積層されている。このゲート配線部分に対向する半導体層63の部分がチャネル領域とされている。半導体層63上には、オーミック接合を得るための例えばn+型a−Si層からなる接合層64a及び64bが積層されており、チャネル領域の中央部における半導体層63上には、チャネルを保護するためのSiNxからなる絶縁性のエッチストップ膜65が形成されている。なお、これらゲート絶縁膜62、半導体層63、及びエッチストップ膜65は、蒸着(CVD)後にレジスト塗布、感光・現像、フォトエッチングを施されることで、図示されるようにパターニングされる。
【0057】
さらに、接合層64a、64b及びITOからなる画素電極19も同様に成膜するとともに、フォトエッチングを施されることで、図示するようにパターニングされる。そして、画素電極19、ゲート絶縁膜62及びエッチストップ膜65上にそれぞれバンク66を形成し、これらバンク66間に上述した第1実施形態の配線パターン形成方法によってソース線、ドレイン線を形成することができる。
このように、本実施形態では、確実にゲート配線61、ソース線及びドレイン線を形成することができるので、より信頼性の向上させた液晶表示装置100を得ることができる。
【0058】
(第3実施形態)
上記実施の形態では、TFT30を液晶表示装置100の駆動のためのスイッチング素子として用いる構成としたが、液晶表示装置以外にも例えば有機EL(エレクトロルミネッセンス)表示デバイスに応用が可能である。有機EL表示デバイスは、蛍光性の無機および有機化合物を含む薄膜を、陰極と陽極とで挟んだ構成を有し、前記薄膜に電子および正孔(ホール)を注入して再結合させることにより励起子(エキシトン)を生成させ、このエキシトンが失活する際の光の放出(蛍光・燐光)を利用して発光させる素子である。そして、上記のTFT30を有する基板上に、有機EL表示素子に用いられる蛍光性材料のうち、赤、緑および青色の各発光色を呈する材料すなわち発光層形成材料及び正孔注入/電子輸送層を形成する材料をインクとし、各々をパターニングすることで、自発光フルカラーELデバイスを製造することができる。
本発明におけるデバイス(電気光学装置)の範囲にはこのような有機ELデバイスをも含むものである。
【0059】
(第4実施形態)
第4実施形態として、非接触型カード媒体の実施形態について説明する。図9に示すように、本実施形態に係る非接触型カード媒体(電子機器)400は、カード基体402とカードカバー418から成る筐体内に、半導体集積回路チップ408とアンテナ回路412を内蔵し、図示されない外部の送受信機と電磁波または静電容量結合の少なくとも一方により電力供給あるいはデータ授受の少なくとも一方を行うようになっている。
【0060】
本実施形態では、上記アンテナ回路412が、上記実施形態に係る配線パターン形成方法によって形成されている。
本実施形態の非接触型カード媒体によれば、信頼性が向上した非接触型カード媒体とすることができる。
なお、本発明に係るデバイス(電気光学装置)としては、上記の他に、PDP(プラズマディスプレイパネル)や、基板上に形成された小面積の薄膜に膜面に平行に電流を流すことにより、電子放出が生ずる現象を利用する表面伝導型電子放出素子等にも適用可能である。
【0061】
(第5実施形態)
第5実施形態として、本発明の電子機器の具体例について説明する。
図10(a)は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図10(a)において、600は携帯電話本体を示し、601は上記実施形態の液晶表示装置を備えた液晶表示部を示している。
図10(b)は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図10(b)において、700は情報処理装置、701はキーボードなどの入力部、703は情報処理本体、702は上記実施形態の液晶表示装置を備えた液晶表示部を示している。
図10(c)は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図10(c)において、800は時計本体を示し、801は上記実施形態の液晶表示装置を備えた液晶表示部を示している。
図10(a)〜(c)に示す電子機器は、上記実施形態の液晶表示装置を備えたものであるので、信頼性が向上した電子機器を提供することが可能となる。
なお、本実施形態の電子機器は液晶装置を備えるものとしたが、有機エレクトロルミネッセンス表示装置、プラズマ型表示装置等、他の電気光学装置を備えた電子機器とすることもできる。
【0062】
以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施の形態例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。
【0063】
例えば、上記実施の形態では、薄膜パターンを導電性膜とする構成としたが、これに限られず、例えば液晶表示装置において表示画像をカラー化するために用いられているカラーフィルタにも適用可能である。このカラーフィルタは、基板に対してR(赤)、G(緑)、B(赤)のインク(液状体)を液滴として所定パターンで吐出(配置)することで形成することができるが、基板に対して所定パターンに応じたバンクを形成し、このバンク間にインクを配置させてカラーフィルタを形成することで、信頼性が向上したカラーフィルタ、すなわち信頼性が向上した液晶表示装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】液滴吐出装置の概略斜視図である。
【図2】ピエゾ方式による液状体の吐出原理を説明するための図である。
【図3】配線パターン形成する手順を示す図である。
【図4】配線パターン形成する手順を示す図である。
【図5】液晶表示装置を対向基板の側から見た平面図である。
【図6】図5のH−H’線に沿う断面図である。
【図7】液晶表示装置の等価回路図である。
【図8】同、液晶表示装置の部分拡大断面図である。
【図9】非接触型カード媒体の分解斜視図である。
【図10】本発明の電子機器の具体例を示す図である。
【符号の説明】
B……バンク、P……基板(ガラス基板)、30……TFT(スイッチング素子)、33……配線パターン(薄膜パターン)、100……液晶表示装置(電気光学装置)、400……非接触型カード媒体(電子機器)、600……携帯電話本体(電子機器)、700……情報処理装置(電子機器)、800……時計本体(電子機器)
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for forming a thin film pattern, a device and a method for manufacturing the same, an electro-optical device, and an electronic apparatus.
[0002]
[Prior art]
For example, a photolithography method is used for manufacturing a device having a wiring used for an electronic circuit or an integrated circuit. This lithography method forms a thin film wiring pattern by applying a photosensitive material called a resist on a substrate on which a conductive film has been formed in advance, irradiating and developing a circuit pattern, and etching the conductive film according to the resist pattern. To do. This lithography method requires large-scale equipment such as a vacuum apparatus and complicated steps, has a material use efficiency of about several percent, and has to dispose most of the material, resulting in high manufacturing costs.
[0003]
On the other hand, there has been proposed a method of forming a wiring pattern on a substrate by using a droplet discharge method of discharging a liquid material in a droplet form from a liquid discharge head, a so-called inkjet method (for example, see Patent Document 1). ). In this method, a wiring pattern ink, which is a functional liquid in which conductive fine particles such as metal fine particles are dispersed, is directly arranged on a substrate and then converted into a thin conductive film pattern by heat treatment or laser irradiation. According to this method, there is an advantage that photolithography is not required, the process is greatly simplified, and the amount of raw materials used can be reduced.
[0004]
[Patent Document 1]
US Pat. No. 5,132,248.
[Problems to be solved by the invention]
By the way, the conductive film pattern is usually formed by arranging the wiring pattern ink a plurality of times between the banks formed on the substrate according to the wiring pattern, and subjecting the wiring pattern ink to the heat treatment as described above. It is formed by performing laser irradiation. The banks are provided with higher liquid repellency than on the substrate so that the wiring pattern ink can easily enter between the banks. However, when the wiring pattern ink is first arranged between the banks, the wiring pattern ink is arranged in the banks, and the liquid repellency of the banks may be reduced. In this case, if the wiring pattern ink is subsequently arranged between the banks, the wiring pattern ink overflows from between the banks, causing a problem that the conductive film pattern cannot be formed.
[0006]
The present invention has been made in view of the above-described problems, and has as its object to form a thin film pattern more reliably by reliably disposing a functional liquid between banks.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a thin film pattern forming method according to the present invention is a method of forming a thin film pattern by disposing a functional liquid on a substrate, and forming a bank corresponding to the thin film pattern on the substrate. Performing a step of disposing a functional liquid on the substrate between the banks; a step of disposing the banks after the step of disposing the functional liquid; and a step of disposing the banks between the banks again after the step of repelling the banks. And discharging the functional liquid onto the functional liquid.
[0008]
According to the thin film pattern forming method having such features, even when the functional liquid is disposed between the banks when the functional liquid is first disposed between the banks and the lyophobic property of the bank is reduced, the liquid repellency is reduced again. The liquid repellency of the bank is improved. Therefore, even if the functional liquid is subsequently discharged onto the functional liquid between the banks, the functional liquid can be reliably introduced between the banks. In particular, when the size between the banks is smaller than the diameter of the discharged functional liquid droplet, the functional liquid is always arranged in the bank, so that a higher effect can be obtained.
[0009]
Next, in the method for forming a thin film pattern according to the present invention, the step of lyophobizing the bank after the step of disposing the functional liquid, and the step of lyophobizing the bank on the functional liquid disposed again between the banks after the step of lyophobizing the bank By repeating the step of discharging the functional liquid, a predetermined amount of the functional liquid is disposed on the substrate.
[0010]
According to the thin film pattern forming method having such a feature, the liquid repellency of the bank having reduced liquid repellency is increased again every time the functional liquid is discharged between the banks. In this case, the functional liquid can be surely put between the banks even when the liquid is discharged to the banks.
In addition, by discharging the functional liquid between the banks a plurality of times, the next functional liquid can be discharged after waiting for the discharged lower functional liquid to spread between the banks. As a result, a predetermined amount of the functional liquid is reliably discharged onto the substrate between the banks while preventing a situation in which the functional liquid overflows from between the banks due to the discharge of the predetermined amount of the functional liquid between the banks at one time. It becomes possible to arrange.
[0011]
In particular, when the bank is formed of a material having low liquid repellency, it is preferable to give the bank a higher liquid repellency than on the substrate before the step of disposing the functional liquid on the substrate. . This makes it possible to reliably arrange the functional liquid discharged first on the substrate between the banks.
[0012]
In addition, it is preferable to form an adhesion film for improving the adhesion between the bank and the substrate at the interface between the bank and the substrate. This adhesion film improves the adhesion between the bank and the substrate, and makes it possible to prevent the bank from peeling off from the substrate.
Preferably, the adhesive film is patterned using the bank as a mask. This eliminates the need for manufacturing a mask for patterning the adhesive film or setting the mask on the substrate, so that productivity can be improved.
[0013]
If the functional liquid contains conductive fine particles, the thin film pattern can be used as a wiring pattern, and can be applied to wiring patterns of various devices. Further, by using a light emitting element forming material such as an organic EL or an R, G, or B ink material in addition to the conductive fine particles, the present invention can be applied to the manufacture of an organic EL display device, a liquid crystal display device having a color filter, and the like. Becomes possible.
[0014]
On the other hand, a device manufacturing method according to the present invention is a method for manufacturing a device including a thin film pattern formed on a substrate, wherein the thin film pattern is formed on the substrate by the thin film pattern forming method.
The method for forming a thin film pattern according to the present invention can reliably discharge a functional liquid between banks, so that a thin film pattern can be more reliably formed on a substrate. Accordingly, the device manufacturing method according to the present invention can more reliably form a thin film pattern provided on a device.
Further, when the thin film pattern forms a wiring connected to the switching element, the wiring connected to the switching element can be formed more reliably, and the reliability of the device is improved.
[0015]
An electro-optical device according to the present invention includes a device manufactured using the above-described device manufacturing method.
According to another aspect of the invention, an electronic apparatus includes the above-described electro-optical device.
As a result, according to the present invention, it is possible to obtain a highly reliable electro-optical device and electronic apparatus.
[0016]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of a method of forming a thin film pattern, a device, a method of manufacturing the same, an electro-optical device, and an electronic apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. In each of the drawings referred to, the scale may be different for each layer or each member in order to make the size recognizable in the drawings.
[0017]
(1st Embodiment)
In the present embodiment, ink (functional liquid) for a wiring pattern (thin film pattern) containing conductive fine particles is discharged from a nozzle of a liquid discharge head in the form of droplets by a droplet discharging method, and is discharged onto a substrate according to the wiring pattern. This will be described using an example in which a wiring pattern made of a conductive film is formed between the formed banks.
[0018]
This wiring pattern ink is composed of a dispersion in which conductive fine particles are dispersed in a dispersion medium.
In the present embodiment, as the conductive fine particles, for example, other than metal fine particles containing any of gold, silver, copper, palladium, and nickel, oxides thereof, and fine particles of a conductive polymer or a superconductor Are used.
These conductive fine particles can be used by coating the surface with an organic substance or the like in order to improve dispersibility.
The particle size of the conductive fine particles is preferably 1 nm or more and 0.1 μm or less. If it is larger than 0.1 μm, clogging may occur in nozzles of a liquid ejection head described later. On the other hand, if it is smaller than 1 nm, the volume ratio of the coating agent to the conductive fine particles becomes large, and the ratio of the organic substance in the obtained film becomes excessive.
[0019]
The dispersion medium is not particularly limited as long as it can disperse the above-described conductive fine particles and does not cause aggregation. For example, in addition to water, alcohols such as methanol, ethanol, propanol and butanol, n-heptane, n-octane, decane, dodecane, tetradecane, toluene, xylene, cymene, durene, indene, dipentene, tetrahydronaphthalene, decahydro Hydrocarbon compounds such as naphthalene and cyclohexylbenzene, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol methyl ethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, 1,2-dimethoxyethane, bis (2- Methoxyethyl) ether, ether compounds such as p-dioxane, propylene carbonate, γ- Butyrolactone, N- methyl-2-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, can be exemplified polar compounds such as cyclohexanone. Of these, water, alcohols, hydrocarbon compounds, and ether compounds are preferred in terms of the dispersibility of the fine particles and the stability of the dispersion, and the ease of application to the droplet discharge method (inkjet method). More preferred dispersion media include water and hydrocarbon compounds.
[0020]
The surface tension of the dispersion liquid of the conductive fine particles is preferably in the range of 0.02 N / m to 0.07 N / m. When the surface tension is less than 0.02 N / m when the liquid is ejected by the ink jet method, the wettability of the ink composition with respect to the nozzle surface increases, so that the ink composition tends to bend, and exceeds 0.07 N / m. In addition, since the shape of the meniscus at the tip of the nozzle is not stable, it becomes difficult to control the discharge amount and the discharge timing. In order to adjust the surface tension, a small amount of a surface tension regulator such as a fluorine-based, silicone-based, or nonionic-based surfactant may be added to the above-mentioned dispersion liquid within a range that does not significantly reduce the contact angle with the substrate. The nonionic surface tension modifier improves the wettability of the liquid to the substrate, improves the leveling property of the film, and helps prevent the occurrence of fine irregularities on the film. The surface tension adjuster may contain an organic compound such as alcohol, ether, ester, and ketone, if necessary.
[0021]
The dispersion preferably has a viscosity of 1 mPa · s or more and 50 mPa · s or less. When a liquid material is ejected as droplets using an ink jet method, if the viscosity is less than 1 mPa · s, the periphery of the nozzle is likely to be contaminated by the outflow of ink, and if the viscosity is greater than 50 mPa · s, the nozzle hole And the frequency of clogging increases, making it difficult to discharge droplets smoothly.
[0022]
Various substrates such as glass, quartz glass, Si wafer, plastic film, and metal plate can be used as the substrate on which the wiring pattern is formed. In addition, a substrate in which a semiconductor film, a metal film, a dielectric film, an organic film, or the like is formed as a base layer on the surface of these various material substrates is also included.
[0023]
Here, as a discharge technique of the droplet discharge method, there are a charge control method, a pressure vibration method, an electromechanical conversion method, an electrothermal conversion method, an electrostatic suction method, and the like. In the charging control method, a charge is applied to a material with a charging electrode, and the deflecting electrode controls the flying direction of the material and discharges the material from a nozzle. In the pressure vibration method, the material is ejected toward the nozzle tip side by applying an ultra-high pressure of about 30 kg / cm2 to the material. When no control voltage is applied, the material moves straight and is ejected from the nozzle. When a control voltage is applied, electrostatic repulsion occurs between the materials, and the materials are scattered and are not discharged from the nozzles. The electromechanical conversion method utilizes the property that a piezo element (piezoelectric element) is deformed by receiving a pulse-like electric signal, and the piezo element is deformed into a space in which a material is stored through a flexible substance. Pressure is applied to push out the material from this space and discharge it from the nozzle.
[0024]
In the electrothermal conversion method, a material is rapidly vaporized by a heater provided in a space in which the material is stored to generate bubbles (bubbles), and the material in the space is discharged by the pressure of the bubbles. In the electrostatic suction method, a minute pressure is applied to a space in which a material is stored, a meniscus of the material is formed in a nozzle, and in this state, the material is pulled out by applying an electrostatic attractive force. In addition, other techniques such as a method using a change in viscosity of a fluid due to an electric field and a method using a discharge spark are also applicable. The droplet discharge method has an advantage that a useless amount of material is reduced and a desired amount of material can be accurately arranged at a desired position. The amount of one droplet of the liquid material (fluid) discharged by the droplet discharge method is, for example, 1 to 300 nanograms.
[0025]
Next, a device manufacturing apparatus used when manufacturing the device according to the present invention will be described.
As the device manufacturing apparatus, a droplet discharge apparatus (inkjet apparatus) that manufactures a device by discharging (dropping) droplets from a droplet discharge head to a substrate is used.
[0026]
FIG. 1 is a perspective view illustrating a schematic configuration of the droplet discharge device IJ.
The droplet discharge device IJ includes a droplet discharge head 1, an X-axis drive shaft 4, a Y-axis guide shaft 5, a control unit CONT, a stage 7, a cleaning mechanism 8, a base 9, a heater 15 is provided.
The stage 7 supports a substrate P on which ink (liquid material) is provided by the droplet discharge device IJ, and includes a fixing mechanism (not shown) that fixes the substrate P at a reference position.
[0027]
The droplet discharge head 1 is a multi-nozzle type droplet discharge head having a plurality of discharge nozzles, and the longitudinal direction and the Y-axis direction are matched. The plurality of ejection nozzles are provided at regular intervals on the lower surface of the droplet ejection head 1 in the Y-axis direction. From the discharge nozzle of the droplet discharge head 1, the ink containing the conductive fine particles described above is discharged to the substrate P supported on the stage 7.
[0028]
The X-axis direction drive motor 4 is connected to the X-axis direction drive shaft 4. The X-axis direction drive motor 2 is a stepping motor or the like, and rotates the X-axis direction drive shaft 4 when a drive signal in the X-axis direction is supplied from the control device CONT. When the X-axis direction drive shaft 4 rotates, the droplet discharge head 1 moves in the X-axis direction.
The Y-axis direction guide shaft 5 is fixed so as not to move with respect to the base 9. The stage 7 has a Y-axis direction drive motor 3. The Y-axis direction drive motor 3 is a stepping motor or the like, and moves the stage 7 in the Y-axis direction when a drive signal in the Y-axis direction is supplied from the control device CONT.
[0029]
The control device CONT supplies the droplet discharge head 1 with a voltage for controlling the droplet discharge. A drive pulse signal for controlling the movement of the droplet discharge head 1 in the X-axis direction is sent to the X-axis direction drive motor 2, and a drive pulse signal for controlling the movement of the stage 7 in the Y-axis direction is sent to the Y-axis direction drive motor 3. Supply.
The cleaning mechanism 8 is for cleaning the droplet discharge head 1. The cleaning mechanism 8 includes a drive motor (not shown) in the Y-axis direction. The driving of the drive motor in the Y-axis direction causes the cleaning mechanism to move along the Y-axis direction guide shaft 5. The movement of the cleaning mechanism 8 is also controlled by the controller CONT.
Here, the heater 15 is means for heat-treating the substrate P by lamp annealing, and performs evaporation and drying of the solvent contained in the liquid material disposed on the substrate P. The turning on and off of the power of the heater 15 is also controlled by the controller CONT.
[0030]
The droplet discharge device IJ discharges droplets onto the substrate P while relatively scanning the droplet discharge head 1 and the stage 7 supporting the substrate P. Here, in the following description, the X-axis direction is a scanning direction, and the Y-axis direction orthogonal to the X-axis direction is a non-scanning direction. Therefore, the ejection nozzles of the droplet ejection head 1 are provided at regular intervals in the Y-axis direction, which is the non-scanning direction. In FIG. 1, the droplet discharge head 1 is disposed at right angles to the direction of travel of the substrate P. However, the angle of the droplet discharge head 1 is adjusted so as to intersect the direction of travel of the substrate P. It may be. In this way, the pitch between the nozzles can be adjusted by adjusting the angle of the droplet discharge head 1. Further, the distance between the substrate P and the nozzle surface may be arbitrarily adjustable.
[0031]
FIG. 2 is a diagram for explaining the principle of discharging the liquid material by the piezo method.
In FIG. 2, a piezo element 22 is provided adjacent to a liquid chamber 21 containing a liquid material (ink for a wiring pattern, functional liquid). The liquid material is supplied to the liquid chamber 21 via a liquid material supply system 23 including a material tank for storing the liquid material. The piezo element 22 is connected to a drive circuit 24, and a voltage is applied to the piezo element 22 via the drive circuit 24 to deform the piezo element 22. Is discharged. In this case, the amount of distortion of the piezo element 22 is controlled by changing the value of the applied voltage. Further, by changing the frequency of the applied voltage, the strain rate of the piezo element 22 is controlled. The droplet discharge by the piezo method does not apply heat to the material, and thus has an advantage that the composition of the material is hardly affected.
[0032]
Next, as an example of an embodiment of the wiring pattern forming method of the present invention, a method of forming a conductive film wiring on a substrate will be described with reference to FIGS. The method of forming a wiring pattern according to the present embodiment includes disposing the above-described ink for a wiring pattern on a substrate and forming a conductive film pattern for the wiring on the substrate, and forming an HMDS film (adhesive film). It roughly comprises a process, a bank forming process, a HMDS film patterning process, a residue treatment process, a first liquid repellency treatment process, a material disposing process, a second liquid repellency treatment process, an intermediate drying process, and a firing process.
Hereinafter, each step will be described in detail.
[0033]
(HMDS forming step)
The HMDS (hexamethyldisilazane) film is for improving the adhesion between the substrate and the bank, and is formed by, for example, a method (HMDS treatment) in which HMDS is vaporized and adhered to an object. Thereby, the HMDS film 32 is formed on the substrate P as shown in FIG.
[0034]
(Bank forming process)
The bank is a member that functions as a partition member, and the bank can be formed by an arbitrary method such as a lithography method or a printing method. For example, when a lithography method is used, a predetermined method such as spin coating, spray coating, roll coating, die coating, and dip coating is applied to the substrate P on the substrate P so as to match the height of the bank as shown in FIG. An organic photosensitive material 31 is applied, and a resist layer is applied thereon. Then, a mask is applied according to the bank shape (wiring pattern), and the resist is exposed and developed to leave a resist adapted to the bank shape. Finally, etching is performed to remove the bank material other than the mask. Alternatively, a bank (convex portion) may be formed of two or more layers in which the lower layer is made of an inorganic material and the upper layer is made of an organic material.
Thus, as shown in FIG. 3C, the banks B are formed so as to surround the periphery (for example, 10 μm width) of the region where the wiring pattern is to be formed.
[0035]
As the organic material for forming the bank, a material having liquid repellency to a liquid material may be used, and as described later, liquid repellency (Teflon (registered trademark)) can be achieved by plasma treatment and adhesion to the underlying substrate can be achieved. An insulating organic material having good properties and easy to be patterned by photolithography may be used. For example, a polymer material such as an acrylic resin, a polyimide resin, an olefin resin, and a melamine resin can be used.
[0036]
(HMDS film patterning step)
After the banks B, B are formed on the substrate P, the HMDS film 32 (bottom between the banks B, B) between the banks B, B is etched as shown in FIG. 32 is patterned. Specifically, the HMDS film is etched by etching the substrate B on which the banks B and B are formed, for example, with a 2.5% hydrofluoric acid aqueous solution using the bank as a mask. As a result, the substrate P is exposed at the bottom between the banks B.
[0037]
(Residue treatment step (lyophilic treatment step))
Next, residue processing is performed on the substrate P in order to remove resist (organic matter) residues between the banks when the banks are formed.
As the residue treatment, an ultraviolet (UV) irradiation treatment in which residue treatment is performed by irradiating ultraviolet rays, an O2 plasma treatment using oxygen as a treatment gas in an air atmosphere, or the like can be selected. Here, the O2 plasma treatment is performed.
[0038]
Specifically, this is performed by irradiating the substrate P with oxygen in a plasma state from a plasma discharge electrode. The conditions for the O2 plasma treatment include, for example, a plasma power of 50 to 1000 W, an oxygen gas flow rate of 50 to 100 ml / min, a plate transport speed of the substrate 1 with respect to the plasma discharge electrode of 0.5 to 10 mm / sec, and a substrate temperature of 70 to 100 mm. 90 ° C.
When the substrate P is a glass substrate, its surface has lyophilic property to the wiring pattern forming material, but O2 plasma treatment or ultraviolet irradiation treatment for residue treatment as in this embodiment is performed. By applying, the lyophilic property of the substrate P exposed at the bottom of the banks B, B can be improved.
[0039]
(First lyophobic treatment step)
Subsequently, a lyophobic treatment is performed on the bank B to impart lyophobic properties to the surface thereof. As the liquid repellency treatment, for example, a plasma treatment method (CF4 plasma treatment method) using tetrafluoromethane as a treatment gas in an air atmosphere can be employed. The CF4 plasma processing conditions include, for example, a plasma power of 50 to 1000 W, a flow rate of methane tetrafluoride gas of 50 to 100 ml / min, a transfer speed of the substrate to the plasma discharge electrode of 0.5 to 1020 mm / sec, and a substrate temperature of 70 to 90 ° C. It is said.
The processing gas is not limited to tetrafluoromethane (carbon tetrafluoride), and other fluorocarbon-based gases can be used.
[0040]
By performing such a lyophobic treatment, the banks B, B are introduced with a fluorine group in the resin constituting the banks B, so that a high lyophobic property is imparted to the substrate P. The O2 plasma treatment as the lyophilic treatment described above may be performed before the formation of the bank B. However, the acrylic resin, the polyimide resin, and the like are more likely to be fluorinated (liquid-repellent) if the pretreatment with O2 plasma is performed. ), It is preferable to perform O2 plasma treatment after forming the bank B.
Although the lyophobic treatment for the banks B and B has a slight effect on the surface of the substrate P which has been previously lyophilic, the introduction of fluorine groups by the lyophobic treatment is particularly effective when the substrate P is made of glass or the like. Does not occur, the lyophilic property of the substrate P, that is, the wettability is not substantially impaired.
Further, the banks B, B may be made of a material having liquid repellency (for example, a resin material having a fluorine group), so that the liquid repellent treatment may be omitted.
[0041]
(Material placement process)
Next, the wiring pattern forming material is discharged and arranged on the substrate P exposed between the banks B by using a droplet discharging method by the droplet discharging device IJ. Here, an ink (dispersion liquid) using silver as the conductive fine particles and diethylene glycol diethyl ether as the solvent (dispersion medium) is ejected.
[0042]
That is, in the material disposing step, as shown in FIG. 4E, the liquid material including the wiring pattern forming material was ejected as droplets from the liquid ejection head 1, and the droplets were exposed between the banks B and B. It is arranged on the substrate P.
At this time, since the substrate P exposed between the banks B, B is surrounded by the banks B, B, the liquid material can be prevented from spreading to a position other than the predetermined position. Further, since the banks B, B are provided with liquid repellency, even if a part of the discharged droplets are on the banks B, B, the bank surface is liquid repellent. B is flipped from B and flows between banks B and B. Further, since the substrate P exposed between the banks B and B is provided with lyophilicity, the discharged liquid material easily spreads on the substrate P exposed between the banks B and B. As a result, as shown in FIG. 4F, the liquid material can be made more uniform within a predetermined position.
[0043]
(Second lyophobic treatment step)
In the above-described material disposing step, if the liquid material is disposed on the upper portion or the upper surface of the side surfaces of the banks B, the liquid repellency of the banks B, B is reduced. When the liquid material is discharged again between the banks B and B in a state where the liquid repellency of the banks B and B is lowered, when a part of the discharged droplets are deposited on the banks B and B, the bank is discharged. B is not repelled from B and does not flow down between banks B and B. Then, similarly to the above-described first liquid-repellent treatment, the banks B and B are made liquid-repellent by, for example, a CF4 plasma treatment method.
[0044]
By repeatedly performing the second liquid repellency step and the above-described material disposing step, a predetermined amount of ink is reliably disposed on the substrate P exposed between the banks B, B as shown in FIG. Can be. In particular, when the size between the banks B is smaller than the diameter of the discharged droplet, the ink is always arranged in the banks, so that a higher effect can be obtained.
In addition, by repeatedly performing the second liquid repellent process and the material disposing process, the ink can be ejected between the banks B and B in a plurality of times, so that the ink ejected earlier becomes wet between the banks B and B. The next ink can be ejected after waiting for the ink to spread, and as a result, it is possible to prevent the ink from overflowing between the banks B and B.
[0045]
(Intermediate drying process)
After discharging a predetermined amount of ink onto the substrate P, a drying process is performed as necessary to remove the dispersion medium. The drying process can be performed by lamp annealing, for example, in addition to a process using a normal hot plate for heating the substrate W or an electric furnace. The light source of the light used for lamp annealing is not particularly limited, but may be an infrared lamp, a xenon lamp, a YAG laser, an argon laser, a carbon dioxide laser, an excimer laser such as XeF, XeCl, XeBr, KrF, KrCl, ArF, ArCl, or the like. Can be used as a light source. These light sources generally have an output of 10 W or more and 5000 W or less, but in this embodiment, a range of 100 W or more and 1000 W or less is sufficient.
[0046]
(Baking process)
It is necessary to completely remove the dispersion medium from the dried film after the discharge step in order to improve the electrical contact between the fine particles. When the surface of the conductive fine particles is coated with a coating material such as an organic substance in order to improve dispersibility, it is necessary to remove the coating material. Therefore, the substrate after the discharging step is subjected to heat treatment and / or light treatment.
[0047]
The heat treatment and / or light treatment is usually performed in the atmosphere, but may be performed in an atmosphere of an inert gas such as nitrogen, argon, or helium, if necessary. The processing temperature of the heat treatment and / or light treatment includes the boiling point (vapor pressure) of the dispersion medium, the type and pressure of the atmospheric gas, the thermal behavior such as the dispersibility and oxidizing property of the fine particles, the presence and amount of the coating material, and the It is appropriately determined in consideration of the heat resistance temperature and the like.
For example, it is necessary to bake at about 300 ° C. in order to remove a coating material made of an organic substance. In the case where a substrate such as a plastic substrate is used, it is preferable to perform the heating at room temperature or higher and 100 ° C. or lower.
By the above process, the dried film after the discharging process is converted into a conductive film by securing the electrical contact between the fine particles, and as shown in FIG. Is formed.
[0048]
As described above, in the present embodiment, since the second liquid repellent process and the material disposing process are repeatedly performed, a predetermined amount of ink can be surely arranged on the substrate P exposed between the banks B, B. It is possible to more reliably form a wiring pattern.
[0049]
(2nd Embodiment)
As a second embodiment, a liquid crystal display device as an example of the electro-optical device according to the invention will be described. FIG. 5 is a plan view showing the liquid crystal display device according to the present invention together with each component as viewed from the counter substrate side, and FIG. 6 is a sectional view taken along line HH ′ in FIG. FIG. 7 is an equivalent circuit diagram of various elements, wiring, and the like in a plurality of pixels formed in a matrix in an image display area of the liquid crystal display device. FIG. 8 is a partially enlarged cross-sectional view of the liquid crystal display device.
[0050]
5 and 6, in the liquid crystal display device (electro-optical device) 100 according to the present embodiment, a pair of the TFT array substrate 10 and the opposing substrate 20 are attached to each other by a sealing material 52 which is a photo-curing sealing material. The liquid crystal 50 is sealed and held in a region defined by the sealing material 52. The sealing material 52 is formed in a closed frame shape in a region within the substrate surface, has no liquid crystal injection port, and has no trace of sealing with a sealing material.
[0051]
A peripheral partition 53 made of a light-shielding material is formed in a region inside the formation region of the sealing material 52. In a region outside the sealing material 52, a data line driving circuit 201 and mounting terminals 202 are formed along one side of the TFT array substrate 10, and a scanning line driving circuit 204 is formed along two sides adjacent to this one side. Is formed. On one remaining side of the TFT array substrate 10, a plurality of wirings 205 for connecting between the scanning line driving circuits 204 provided on both sides of the image display area are provided. In at least one of the corners of the opposing substrate 20, an inter-substrate conducting material 206 for establishing electric conduction between the TFT array substrate 10 and the opposing substrate 20 is provided.
[0052]
Instead of forming the data line driving circuit 201 and the scanning line driving circuit 204 on the TFT array substrate 10, for example, a TAB (Tape Automated Bonding) substrate on which a driving LSI is mounted and a peripheral portion of the TFT array substrate 10 May be electrically and mechanically connected to the terminal group formed through the anisotropic conductive film. In the liquid crystal display device 100, the type of the liquid crystal 50 to be used, that is, an operation mode such as a TN (Twisted Nematic) mode, an STN (Super Twisted Nematic) mode, or a normally white mode / normally black mode. Thus, a retardation plate, a polarizing plate and the like are arranged in a predetermined direction, but are not shown here.
When the liquid crystal display device 100 is configured for color display, for example, red (R), green (G), A blue (B) color filter is formed together with the protective film.
[0053]
In the image display area of the liquid crystal display device 100 having such a structure, as shown in FIG. 7, a plurality of pixels 100a are arranged in a matrix, and each of the pixels 100a has a pixel switching device. , And a data line 6a for supplying pixel signals S1, S2,..., Sn is electrically connected to the source of the TFT 30. The pixel signals S1, S2,..., Sn to be written to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied to a plurality of adjacent data lines 6a for each group. . The scanning line 3a is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the scanning signals G1, G2,..., Gm are applied to the scanning line 3a in a pulsed manner in this order at a predetermined timing. It is configured.
[0054]
The pixel electrode 19 is electrically connected to the drain of the TFT 30. By turning on the TFT 30 as a switching element for a certain period, the pixel signals S1, S2,... Writing is performed on each pixel at a predetermined timing. The predetermined-level pixel signals S1, S2,..., Sn written to the liquid crystal via the pixel electrodes 19 are held for a certain period between the counter electrodes 121 of the counter substrate 20 shown in FIG. Note that a storage capacitor 60 is added in parallel with a liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 19 and the counter electrode 121 to prevent the held pixel signals S1, S2,..., And Sn from leaking. For example, the voltage of the pixel electrode 19 is held by the storage capacitor 60 for a time that is three orders of magnitude longer than the time when the source voltage is applied. Thereby, the charge retention characteristics are improved, and the liquid crystal display device 100 having a high contrast ratio can be realized.
[0055]
FIG. 8 is a partially enlarged cross-sectional view of the liquid crystal display device 100 having the bottom gate type TFT 30. A glass substrate P constituting the TFT array substrate 10 is provided with a gate wiring 61 by the wiring pattern forming method of the first embodiment. Are formed between the banks B formed on the glass substrate P. In the present embodiment, when the gate wiring 61 is formed, since it is heated to about 350 ° C. in a process of forming an amorphous silicon layer described later, an inorganic bank material is used as a material that can withstand the temperature. .
[0056]
On the gate line 61, a semiconductor layer 63 made of an amorphous silicon (a-Si) layer is stacked via a gate insulating film 62 made of SiNx. The portion of the semiconductor layer 63 facing the gate wiring portion is a channel region. Junction layers 64a and 64b made of, for example, an n + type a-Si layer for obtaining an ohmic junction are stacked on the semiconductor layer 63, and the channel is protected on the semiconductor layer 63 at the center of the channel region. An insulating etch stop film 65 made of SiNx is formed. The gate insulating film 62, the semiconductor layer 63, and the etch stop film 65 are patterned as shown by applying resist, exposing / developing, and photoetching after vapor deposition (CVD).
[0057]
Further, the pixel electrodes 19 made of the bonding layers 64a and 64b and ITO are formed in the same manner, and are subjected to photoetching to be patterned as shown in the drawing. Then, a bank 66 is formed on each of the pixel electrode 19, the gate insulating film 62, and the etch stop film 65, and a source line and a drain line are formed between the banks 66 by the wiring pattern forming method of the above-described first embodiment. Can be.
As described above, in the present embodiment, the gate wiring 61, the source line, and the drain line can be reliably formed, so that the liquid crystal display device 100 with further improved reliability can be obtained.
[0058]
(Third embodiment)
In the above embodiment, the TFT 30 is used as a switching element for driving the liquid crystal display device 100. However, the present invention is applicable to an organic EL (electroluminescence) display device other than the liquid crystal display device. An organic EL display device has a configuration in which a thin film containing a fluorescent inorganic and organic compound is sandwiched between a cathode and an anode, and is excited by injecting electrons and holes into the thin film and recombining them. This is an element that generates electrons (excitons) and emits light by using light emission (fluorescence / phosphorescence) when the excitons are deactivated. Then, on the substrate having the above-described TFT 30, among the fluorescent materials used for the organic EL display element, materials exhibiting respective luminescent colors of red, green and blue, that is, a luminescent layer forming material and a hole injection / electron transport layer are provided. A self-luminous full-color EL device can be manufactured by using a material to be formed as ink and patterning each of them.
The range of the device (electro-optical device) in the present invention includes such an organic EL device.
[0059]
(Fourth embodiment)
As a fourth embodiment, an embodiment of a non-contact type card medium will be described. As shown in FIG. 9, a non-contact type card medium (electronic device) 400 according to the present embodiment has a semiconductor integrated circuit chip 408 and an antenna circuit 412 built in a housing composed of a card base 402 and a card cover 418. At least one of power supply and data transfer is performed by at least one of electromagnetic waves or capacitive coupling with an external transceiver (not shown).
[0060]
In the present embodiment, the antenna circuit 412 is formed by the wiring pattern forming method according to the embodiment.
According to the non-contact card medium of the present embodiment, a non-contact card medium with improved reliability can be obtained.
In addition, as a device (electro-optical device) according to the present invention, in addition to the above, a PDP (plasma display panel) or a small-area thin film formed on a substrate is supplied with a current in parallel with the film surface. The present invention can also be applied to a surface conduction electron-emitting device utilizing a phenomenon in which electron emission occurs.
[0061]
(Fifth embodiment)
As a fifth embodiment, a specific example of the electronic device of the invention will be described.
FIG. 10A is a perspective view illustrating an example of a mobile phone. In FIG. 10A, reference numeral 600 denotes a mobile phone main body, and reference numeral 601 denotes a liquid crystal display unit provided with the liquid crystal display device of the above embodiment.
FIG. 10B is a perspective view illustrating an example of a portable information processing device such as a word processor or a personal computer. 10B, reference numeral 700 denotes an information processing device, 701 denotes an input unit such as a keyboard, 703 denotes an information processing main body, and 702 denotes a liquid crystal display unit provided with the liquid crystal display device of the above embodiment.
FIG. 10C is a perspective view illustrating an example of a wristwatch-type electronic device. In FIG. 10C, reference numeral 800 denotes a watch main body, and reference numeral 801 denotes a liquid crystal display unit including the liquid crystal display device of the above embodiment.
Since the electronic devices shown in FIGS. 10A to 10C include the liquid crystal display device of the above embodiment, it is possible to provide an electronic device with improved reliability.
Although the electronic device of the present embodiment includes a liquid crystal device, the electronic device may include another electro-optical device such as an organic electroluminescence display device and a plasma display device.
[0062]
As described above, the preferred embodiments of the present invention have been described with reference to the accompanying drawings. However, it goes without saying that the present invention is not limited to the embodiments. The shapes, combinations, and the like of the constituent members shown in the above-described examples are merely examples, and can be variously changed based on design requirements and the like without departing from the gist of the present invention.
[0063]
For example, in the above embodiment, the configuration is such that the thin film pattern is a conductive film. However, the present invention is not limited to this. For example, the present invention can be applied to a color filter used to color a display image in a liquid crystal display device. is there. This color filter can be formed by discharging (arranging) R (red), G (green), and B (red) inks (liquids) as droplets on a substrate in a predetermined pattern. By forming a bank corresponding to a predetermined pattern on the substrate and arranging ink between the banks to form a color filter, a color filter with improved reliability, that is, a liquid crystal display device with improved reliability is obtained. be able to.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic perspective view of a droplet discharge device.
FIG. 2 is a diagram for explaining a principle of discharging a liquid material by a piezo method.
FIG. 3 is a diagram showing a procedure for forming a wiring pattern.
FIG. 4 is a diagram showing a procedure for forming a wiring pattern.
FIG. 5 is a plan view of the liquid crystal display device as viewed from a counter substrate side.
FIG. 6 is a sectional view taken along the line HH ′ of FIG. 5;
FIG. 7 is an equivalent circuit diagram of the liquid crystal display device.
FIG. 8 is a partially enlarged cross-sectional view of the same liquid crystal display device.
FIG. 9 is an exploded perspective view of a non-contact type card medium.
FIG. 10 is a diagram illustrating a specific example of an electronic apparatus according to the invention.
[Explanation of symbols]
B: Bank, P: Substrate (glass substrate), 30: TFT (switching element), 33: Wiring pattern (thin film pattern), 100: Liquid crystal display (electro-optical device), 400: Non-contact Type card medium (electronic device), 600 mobile phone body (electronic device), 700 information processing device (electronic device), 800 watch body (electronic device)

Claims (11)

機能液を基板上に配置させて薄膜パターンを形成する方法であって、
前記基板上に前記薄膜パターンに応じたバンクを形成する工程と、
前記バンク間の前記基板上に機能液を配置させる工程と、
機能液を配置させる工程後に前記バンクを撥液化する工程と、
該バンクを撥液化する工程後に再び前記バンク間に配置された前記機能液上にさらに機能液を吐出する工程と
を有することを特徴とする薄膜パターン形成方法。
A method of forming a thin film pattern by disposing a functional liquid on a substrate,
Forming a bank corresponding to the thin film pattern on the substrate;
Disposing a functional liquid on the substrate between the banks,
A step of lyophobizing the bank after the step of disposing the functional liquid;
Discharging the functional liquid onto the functional liquid disposed between the banks again after the step of making the banks liquid repellent.
機能液を配置させる工程後に前記バンクを撥液化する工程と、前記バンクを撥液化する工程後に再び前記バンク間に配置された前記機能液上に機能液を吐出する工程とを繰り返し行うことによって所定量の機能液を基板上に配置させることを特徴とする請求項1記載の薄膜パターン形成方法。The step of lyophobizing the bank after the step of disposing the functional liquid and the step of discharging the functional liquid onto the functional liquid disposed between the banks again after the step of lyophobizing the bank are repeatedly performed. 2. The method for forming a thin film pattern according to claim 1, wherein a fixed amount of the functional liquid is disposed on the substrate. 前記基板上に機能液を配置させる工程より前に前記バンクに基板上よりも高い撥液性を付与する工程を有することを特徴とする請求項1または2記載の薄膜パターン形成方法。3. The thin film pattern forming method according to claim 1, further comprising a step of giving the bank higher lyophobicity than the substrate before the step of disposing the functional liquid on the substrate. 前記基板上に前記基板と前記バンクとの密着性を向上させる密着性膜を形成する工程と、前記薄膜パターンに応じて密着性膜をパターニングする工程とを有し、前記バンクは前記密着性膜を介して基板上に形成されることを特徴とする請求項1〜3いずれかに記載の薄膜パターン形成方法。A step of forming an adhesive film on the substrate to improve the adhesion between the substrate and the bank, and a step of patterning the adhesive film according to the thin film pattern, wherein the bank is the adhesive film The method for forming a thin film pattern according to any one of claims 1 to 3, wherein the thin film pattern is formed on a substrate via a substrate. 前記密着性物質をパターニングする工程において、密着性物質は、前記バンクをマスクとしてパターニングされることを特徴とする請求項4記載の薄膜パターン形成方法。5. The method according to claim 4, wherein in the step of patterning the adhesive substance, the adhesive substance is patterned using the bank as a mask. 前記機能液には、導電性微粒子が含まれることを特徴とする請求項1〜5いずれかに記載の薄膜パターン形成方法。The method according to claim 1, wherein the functional liquid includes conductive fine particles. 基板に形成された薄膜パターンを備えるデバイスの製造方法であって、
請求項1〜6いずれかに記載の薄膜パターン形成方法によって前記基板に前記薄膜パターンを形成することを特徴とするデバイスの製造方法。
A method for manufacturing a device including a thin film pattern formed on a substrate,
A method for manufacturing a device, comprising: forming the thin film pattern on the substrate by the thin film pattern forming method according to claim 1.
前記薄膜パターンは、スイッチング素子に接続される配線を構成することを特徴とする請求項7記載のデバイスの製造方法。The device manufacturing method according to claim 7, wherein the thin film pattern forms a wiring connected to a switching element. 請求項7または8記載のデバイスの製造方法によって製造されることを特徴とするデバイス。A device manufactured by the device manufacturing method according to claim 7. 請求項9記載のデバイスを備えることを特徴とする電気光学装置。An electro-optical device comprising the device according to claim 9. 請求項10記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 10.
JP2003139188A 2003-05-16 2003-05-16 THIN FILM PATTERN FORMING METHOD, DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE Expired - Fee Related JP4042625B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003139188A JP4042625B2 (en) 2003-05-16 2003-05-16 THIN FILM PATTERN FORMING METHOD, DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003139188A JP4042625B2 (en) 2003-05-16 2003-05-16 THIN FILM PATTERN FORMING METHOD, DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004342916A true JP2004342916A (en) 2004-12-02
JP4042625B2 JP4042625B2 (en) 2008-02-06

Family

ID=33528349

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003139188A Expired - Fee Related JP4042625B2 (en) 2003-05-16 2003-05-16 THIN FILM PATTERN FORMING METHOD, DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4042625B2 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006252876A (en) * 2005-03-09 2006-09-21 Casio Comput Co Ltd Lamination method of organic compound layers, electro-luminescence display panel and manufacturing method therefor
WO2006100790A1 (en) * 2005-03-22 2006-09-28 Cluster Technology Co., Ltd. Process for producing wiring board, and wiring board
KR100845645B1 (en) * 2005-12-23 2008-07-10 아이씨에프 테크놀러지 컴퍼니 리미티드 Method for manufacturing patterned thin-film layer
JP2009105413A (en) * 2004-12-08 2009-05-14 Samsung Sdi Co Ltd Method for forming conductive pattern, and thin film transistor using the same and method for manufacturing the same
CN112397879A (en) * 2019-08-12 2021-02-23 群创光电股份有限公司 Antenna device
CN113035445A (en) * 2021-03-04 2021-06-25 上海超导科技股份有限公司 Patterned plate for plating superconducting strip, preparation method, equipment and use method

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009105413A (en) * 2004-12-08 2009-05-14 Samsung Sdi Co Ltd Method for forming conductive pattern, and thin film transistor using the same and method for manufacturing the same
JP2006252876A (en) * 2005-03-09 2006-09-21 Casio Comput Co Ltd Lamination method of organic compound layers, electro-luminescence display panel and manufacturing method therefor
WO2006100790A1 (en) * 2005-03-22 2006-09-28 Cluster Technology Co., Ltd. Process for producing wiring board, and wiring board
KR100845645B1 (en) * 2005-12-23 2008-07-10 아이씨에프 테크놀러지 컴퍼니 리미티드 Method for manufacturing patterned thin-film layer
CN112397879A (en) * 2019-08-12 2021-02-23 群创光电股份有限公司 Antenna device
CN113035445A (en) * 2021-03-04 2021-06-25 上海超导科技股份有限公司 Patterned plate for plating superconducting strip, preparation method, equipment and use method
CN113035445B (en) * 2021-03-04 2021-09-17 上海超导科技股份有限公司 Patterned plate for plating superconducting strip, preparation method, equipment and use method

Also Published As

Publication number Publication date
JP4042625B2 (en) 2008-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3788467B2 (en) Pattern forming method, device and device manufacturing method, electro-optical device, electronic apparatus, and active matrix substrate manufacturing method
JP4123172B2 (en) Thin film pattern forming method, device manufacturing method, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2005019955A (en) Method for forming thin film pattern and method for manufacturing corresponding devices, electro-optic device and electronic instrument
JP2005012173A (en) Film pattern forming method, device and its manufacturing method, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2004351272A (en) Method of forming thin film pattern, and method of producing device, optoelectronic device, and electronic component
JP2004363561A (en) Pattern and patterning method, device and its fabricating process, electrooptic device, electronic apparatus, and process for producing active matrix substrate
JP2004363560A (en) Substrate, device, process for fabricating device, process for producing active matrix substrate,electrooptic device and electronic apparatus
JP2005013986A (en) Device and its production method, production method of active matrix substrate and electro-optic apparatus as well as electronic equipment
JP2006259687A (en) Method of forming film pattern, method of manufacturing device, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2005013985A (en) Method for forming film pattern, device and its production method, electro-optic apparatus, and electronic component, production method of active matrix substrate, active matrix substrate
JP2004335962A (en) Method for forming thin film pattern, device, its manufacturing method, electro-optical device and electronic apparatus
JP4400290B2 (en) Film pattern forming method, device manufacturing method, and active matrix substrate manufacturing method
JP2006126692A (en) Thin-film pattern substrate, manufacturing method for device, electro-optical device, and electronic equipment
JP2004351305A (en) Film-pattern forming method, device and method of manufacturing the same, electro-optical device and electronic device
JP2006147827A (en) Method for forming wiring pattern, process for manufacturing device, device, electrooptical device, and electronic apparatus
JP4517583B2 (en) Line pattern forming method and device manufacturing method
JP4539032B2 (en) Film pattern forming method and device manufacturing method
JP4192674B2 (en) Thin film pattern forming method and device manufacturing method
JP4042625B2 (en) THIN FILM PATTERN FORMING METHOD, DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE
JP4075929B2 (en) Pattern formation method
JP2004356321A (en) Process for forming thin film pattern, device and its manufacturing method, electro-optical device, and electronic apparatus
JP4572814B2 (en) Active matrix substrate, manufacturing method thereof, electro-optical device, and electronic apparatus
JP4389747B2 (en) Pattern forming method and wiring forming method
JP4179026B2 (en) Film pattern forming method and device manufacturing method
JP2004311530A (en) Pattern forming method, device and its manufacturing method, method of manufacturing liquid crystal display device, method of manufacturing plasma display panel, method of manufacturing organic el device, method of manufacturing field emission display, electro-optical device, and electronic apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051007

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070427

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070508

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070703

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071023

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071105

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101122

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101122

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111122

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees