JP2004342213A

JP2004342213A - Magnetic disk device and method and program for optimizing read gate

Info

Publication number: JP2004342213A
Application number: JP2003136868A
Authority: JP
Inventors: Yuichiro Yamazaki; 雄一郎山崎
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2003-05-15
Filing date: 2003-05-15
Publication date: 2004-12-02
Anticipated expiration: 2023-05-15
Also published as: US7009793B2; US20040228021A1; JP4277260B2

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To perform reading with a small number of errors by optimizing the reading time. <P>SOLUTION: A hard disk controller 28 generates a read gate signal RG having a predetermined read start time and a predetermined reading end time set with a sector pulse as a reference. A read data demodulation part 76 reproduces the read data from a medium read signal by reading based on the read gate signal RG. A read gate optimizing part 66 detects the error in the read data demodulated by a read data demodulation part 76 while changing the read start time and the read end time of the read gate signal RG, determines a read start time and a read end time in which the detected error becomes minimum and sets them in a read gate generation part. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、リードゲートの設定により媒体読出し信号からリードデータを復調する磁気ディスク装置、リードゲート最適化方法及びプログラムに関し、特に、テストリードの実行によりリードゲートの開始と終了のタイミングを最適化する磁気ディスク装置、びリードゲート最適化方法及びプログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、磁気ディスク装置において、媒体に記録されたサーボ情報の読取信号から得られたセクタパルスを基準にリードゲート信号を発生してリード実行時間を決めており、通常、リード実行時間は媒体どの場所においても一定である。これは磁気ディスク装置そのもののフォーマットが媒体のどのデータエリアにあっても常に一定であるからである。
【０００３】
具体的な例としては、シンクバイト部（ＳＢ部）が４バイト、データ部（Ｄａｔａ）が５１２バイト、ＥＣＣ部が３０バイトとなるフォーマットの場合、

となる。ここで、ＰＬＯはリードチャネルのＡＧＣ及びＰＬＬが必要な引き込み時間、αはパイプラインによる時間（通常はマイナス）である。
【０００４】
リードを開始する時間は、上位側でコントロールしており、例えばハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）内に持つ。ハードディスクコントローラ内では、サーボ情報を示すウィンドウ（サーボゲート）により、ライト及びリードのタイミングを制御するための基準クロックであるセクタパルスを生成しており、リードゲート信号が立上るリード開始時間はセクタパルスを基準に決められる。
【０００５】
リード開始時間は、媒体に書かれたデータを最適な位置からリードするために決定される値であり、この値を決める要素としては、先に挙げたリードチャネル内のＡＧＣ及びＰＬＬの引き込みに必要な時間、ヘッドＩＣの書き込み時のディレイ時間、リードチャネルのエンコーダ遅延時間、ライトヘッドとリードヘッドのギャップ距離等が挙げられる。一方、リードゲート信号が立下るリード終了時間は、リード開始時間から（１）式のリード時間後となる。
【０００６】
従来の磁気ディスク装置においては、リード開始時間はセクタパルスを基準とし、予め決められたタイミングからリードを開始し、そこから一定時間後にリードを終了するというのが、通常用いられている手法である。
【０００７】
また、最近では、ゾーン・ビット・レコーディング（ＺｏｎｅＢｉｔＲｅｃｏｒｄｉｎｇ）方式として、半径方向を数ゾーンに分割して、転送レートを変えて記録することが多い。この場合でも磁気ディスク装置内は、媒体のどのエリアであっても予め決められたセクタフォーマットに応じ設定されているため、セクタフォーマットが一定である限りリード時間は一定である。
【０００８】
【特許文献１】
特開平１１−３１３５８号公報
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の磁気ディスク装置においては、以下のような問題がある。
【００１０】
（１）リード開始時間が規定値である時に起こり得る不具合
ヘッドに搭載しているライトヘッドとリードヘッドのギャップが大きい場合、媒体に書き込まれるデータは時間的により遅れて書き込まれる。このため規定のリード開始時間でリードを開始すると、本来リードすべきであるＰＬＯ位置からの読み出しが出来ず、ＰＬＯが書かれていない手前の部分から早くリードを開始することになってしまう。
【００１１】
この場合、書き込み前の下地のデータは通常ＤＣ的にイレーズされているので、リード開始時にＤＣイレーズの部分を読むことになり、復調ＩＣにおいて自動利得制御（ＡＧＣ）が誤動作してしまう恐れがあった。
【００１２】
このようなライトヘッドとリードヘッドのギャップ間距離は、データを読み書きするヘッドの特性に左右され、ヘッドの製造メーカやウエハのばらつきなどの要素で変わってくる。
【００１３】
（２）リード終了時間が規定値であることで、起こり得る不具合
リード終了時間が規定値である場合、起こり得る現象として、媒体に書き込まれるデータが時間的に早く書き込まれてしまったときに、ＥＣＣの後のＰＡＤ部のデータを読み取れないことが起こる。
【００１４】
この場合、ＰＡＤ部は書き込んだデータの位相とは異なるデータが書かれているため、リードチャネル内のデコーダの誤訂正を招くことになる。これにより、データとしてはＥＣＣ部のミスコレクションを起こす可能性がある。媒体にデータが早く書き込まれてしまう要因としては、環境温度等によりヘッドやプリアンプ等の特性が変化する場合がある。
【００１５】
（３）フォーマット効率向上により起こりうる不具合（ＰＡＤ不足）
もう一つの要因としては、ＰＡＤ部の不足により、リードすべきデータが最後まで書かれていない場合である。最近の装置では、性能向上のために必要なデータが読めた時点でリード終了時間を終了させるパイプライン処理が実施されている。
【００１６】
パイプライン処理は、リード後半部の無駄な時間はなるべく無くす処理を行なっているもので、長所として、フォーマット効率の上昇とリードのパフォーマンス向上につながっている。しかし、これは裏を返せばデータ後半部のリードを確実に行なうというマージンの不足を招く。
【００１７】
当然のことながら、データ部後半に十分な長さのＰＡＤ部に書かれていれば、このようなことは起きないが、近年はフォーマット効率を少しでも良くするため、このＰＡＤ部も少なくする傾向があるため、必ずしもＰＡＤ部が十分にあるとはいえなくなってきている。
【００１８】
このようなデータ後半部のマージン不足によりＰＡＤ後半部のデータの書かれていない部分を読んでしまい、データのエラー、この場合はＥＣＣのミスコレクションを招くことになる。
【００１９】
本発明は、リード実行時間を最適化してエラーの少ない読出しを可能とする磁気ディスク装置、リードゲート最適化方法及びプログラムを提供することを目的とする。
【００２０】
【課題を解決するための手段】
図１は本発明の原理説明図である。本発明は、セクタパルスを基準に設定された所定のリード開始時間とリード終了時間をもつリードゲート信号を発生するリードゲート発生部と、リードゲート信号に基づくリード実行により媒体の読出信号からリードデータを再生するリードデータ復調部７６とを備えた磁気ディスク装置を対象とし、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させながらリードデータ復調部７６により復調されるリードデータのエラーを検出し、検出されたエラーが最小となるリード開始時間とリード終了時間を判定してリードゲート発生部に設定するリードゲート最適化部６６を設けたことを特徴とする。
【００２１】
このようにリードゲートの開始時間の最適化を行なうことで、媒体に書かれたデータを正しくリード開始できるようになり、エラーの少ない読み出しを可能とデータを末尾まで確実にリードできる。またリード終了時間を最適化することで、パイプライン処理によりリード処理がパイプライン処理なしの時に比べ早く終わっている場合にも、媒体のデータを正しい位置までリードすることができ、例えば、ＰＡＤ以降に書かれないゴミデータを読むことがなくなり、その結果、ＥＣＣミスコレクションを防止する。
【００２２】
リードゲート最適化部は、複数回のテストリード実行毎に、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させてリードデータ復調部７６に出力するタイミング調整部７０と、タイミング調整部７０からリードゲート信号によりテストリード実行毎にリードデータ復調部７６で復調されたリードデータのエラーを検出するエラー検出部７２と、エラー検出部７２により検出された複数のエラーの内、エラーが最小となるリードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を最適時間として判定してリードゲート発生部に設定する最適時間判定部７４とを備えたことを特徴とする。
【００２３】
タイミング調整部７０は、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間とを個別に変化させ、最適時間判定部７４は、エラー検出部７２により検出されたエラーが最小となるリード開始時間とリード終了時間を個別に判定してリードゲート発生部に設定する。
【００２４】
タイミング調整部７０は、リード開始時間及びリード終了時間を、デフォルト値を中心に前後に所定時間単位で変化させる。具体的にタイミング調整部７０は、リード開始時間及びリード終了時間を、デフォルト値を中心に前後にリードデータの１バイト時間単位で変化させる。
【００２５】
エラー検出部７２は、リードデータのエラーとして、リードデータ復調部７６に設けたビタビ判定部のビタビ・メトリック・マージン（ＶＭＭ）を検出し、最適時間判定部７４は、検出されたビタビ・メトリック・マージンが最大となるリード開始時間及びリード終了時間を判定してリードゲート発生部に設定する。このビタビ・メトリック・マージン（ＶＭＭ）は、ビタビ判定部内のパスメモリの分岐失敗数をカウントしており、エラーレートに比べ少ないリードデータでエラー内容が判定できる。
【００２６】
エラー検出部７２は、リードデータ復調部７６により復調されるリードデータのエラーレートを検出し、最適時間判定部７４は、検出されたエラーレートが最小となるリード開始時間及びリード終了時間を判定してリードゲート発生部に設定する。
【００２７】
本発明の磁気ディスク装置は、パワーオンスタート時に、リードゲート最適化部６６を動作させてリード実行時間を最適化する。また所定のタイムスケジュールに従ってリードゲート最適化部６６を動作させてもよい。更に装置内部温度等の環境条件の変化を検出した際にリードゲート最適化部を動作させることもできる。
【００２８】
本発明の磁気ディスク装置は、複数の読出ヘッドを備えた場合、各ヘッド単位にリードゲート最適化部６６を動作させる。また媒体をゾーン分割した場合、各ゾーン単位にリードゲート最適化部６６を動作させる。
【００２９】
本発明は、セクタパルスを基準に設定された所定のリード開始時間とリード終了時間をもつリードゲート信号を発生するリードゲート発生部と、リードゲート信号に基づくリード実行により媒体の読出信号からリードデータを再生するデータ復調部とを備えた磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法を提供する。
【００３０】
このリードゲート最適化方法として本発明は、
複数回のテストリード実行毎に、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させて前記データ復調部に出力するタイミング調整ステップと、タイミング調整ステップで出力されたリードゲート信号によりテストリード実行毎にリードデータ復調部で復調されたリードデータのエラーを検出するエラー検出ステップと、
エラー検出ステップにより検出された複数のエラーの内、エラーが最小となるリードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を最適時間として判定して前記リードゲート発生部に設定する最適時間判定ステップと、
を備えたことを特徴とする。
【００３１】
本発明は、セクタパルスを基準に設定された所定のリード開始時間とリード終了時間をもつリードゲート信号を発生するリードゲート発生部と、リードゲート信号に基づくリード実行により媒体の読出信号からリードデータを再生するデータ復調部とを備えた磁気ディスク装置内蔵のコンピュータにより実行されるプログラムを提供する。
【００３２】
このプログラムは、磁気ディスク装置内蔵のコンピュータに、
複数回のテストリード実行毎に、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させてデータ復調部に出力するタイミング調整ステップと、
タイミング調整ステップで出力されたリードゲート信号によりテストリード実行毎にデータ復調部で復調されたリードデータのエラーを検出するエラー検出ステップと、
エラー検出ステップにより検出された複数のエラーの内、エラーが最小となるリードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を最適時間として判定してリードゲート発生部に設定する最適時間判定ステップと、
を実行させることを特徴とするプログラム。
【００３３】
なお、本発明によるリードゲート最適化方法及びプログラムの詳細は、装置の場合と基本的に同じになる。
【００３４】
【発明の実施の形態】
図２は、本発明が適用される磁気ディスク装置であるハードディスクドライブ（ＨＤＤ）１０のブロック図である。
【００３５】
図２において、ハードディスクドライブ１０はディスクエンクロージャ１２とコントロールボード１４で構成される。ディスクエンクロージャ１２にはスピンドルモータ（ＳＰＭ）１６とボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１８が設けられる。
【００３６】
スピンドルモータ１６の回転軸には磁気ディスク媒体２０−１，２０−２が接続され、一定速度で回転する。ボイスコイルモータ１８にはヘッドアクチュエータが装着されており、アーム先端にヘッド２２−１〜２２−４が支持され、磁気ディスク媒体２０−１，２０−２のディスク面に対し情報の読み書きを行う。
【００３７】
ヘッド２２−１〜２２−４には、ライトヘッドとリードヘッドが所定のギャップを介して一体に搭載されている。ヘッドＩＣ２４は、ヘッド２２−１〜２２−４の各ライトヘッド及びリードヘッドを信号線接続しており、コントロールボード１４側からのヘッドセレクト信号に基づいて、いずれか１つのヘッドを選択して、ライトまたはリードを行う。
【００３８】
コントロールボード１４には、リードライトＬＳＩ２６、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）２８、ホストインタフェース３０、ＳＤＲＡＭ３２、ＭＰＵ３４、フラッシュＲＯＭ３６及びＶＣＭ／ＳＰＭコントローラ３８が設けられている。
【００３９】
このような構成を持つハードディスクドライブ１０のライト及びリード動作は次のようになる。ホストインタフェース３０を介して接続している上位装置例えばパーソナルコンピュータからライトコマンドとライトデータを受信すると、転送バッファとして機能するＳＤＲＡＭ３２にライトデータをバッファした後、ハードディスクコントローラ２８でライトデータのフォーマットとＥＣＣのためのエンコードを行い、リードチャネルとして機能するリードライトＬＳＩ２６の中のライトデータ復調部で復調処理を行った後、ヘッドＩＣ２４に与えられ、そのとき選択されているヘッドのライトヘッドによりディスク媒体に対する書込みを行う。
【００４０】
このときライトコマンドに基づくＭＰＵ３４の指示により、ＶＣＭ／ＳＰＭコントローラ３８はボイスコイルモータ１８を駆動して、ヘッドをライトコマンドで指定された媒体位置にシークしてオントラック制御しており、従ってライトコマンドで指定された媒体位置にライトデータの書込みが行われる。
【００４１】
ホストインタフェース３０が上位装置からのリードコマンドを受信すると、ＭＰＵ３４によるヘッドＩＣ２４の選択と、ＶＣＭ／ＳＰＭコントローラ３８によるボイスコイルモータ１８のヘッドシークによる位置決めオントラックにより、リードコマンドで指定されたデータの読み出しが行われる。
【００４２】
磁気ディスクからの読出し信号は、ヘッドＩＣ２４でプリ増幅された後、リードライトＬＳＩ２６に内蔵されているリードデータ復調部においてリードデータの復調が行われ、ハードディスクコントローラ２８でＥＣＣのデコード処理によるエラー検出訂正を行った後、転送バッファとしてのＳＤＲＡＭ３２のバッファを経由して、ホストインタフェース３０から上位装置にリードデータが転送される。
【００４３】
図３は図２のリードライトＬＳＩの内部構成のブロック図である。図３において、ライトデータ変調部７５は、スクランブル回路４４、ＲＬＬエンコーダ４６、プリコーダ４８で構成される。またリードデータ復調部７６は可変利得アンプ（ＶＧＡ）５０、非対称性補正回路５２、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）５４、ＡＤコンバータ５６、ＦＩＲフィルタ５８、ビタビデコータ６０、ＲＬＬデコーダ６２及びデスクランブル回路６４で構成される。
【００４４】
ハードディスクコントローラ２８からのＮＲＺライトデータはスクランブル回路４４でランダマイズされた後、ＲＬＬエンコーダ４６で例えば３２／３４ＲＬＬ符号に変換され、連続する「０」の数が最小３２で最大３４のデータとなる。
【００４５】
プリコーダ４８は、１ビット前の磁化反転の影響で次の磁化反転が前方にシフトする非線形シフト（ＮＬＴＳ）を補償するため、ライトデータを予め僅かに移動させる。プリコーダ４８のライトデータはＮＲＺ符号からＮＲＺＩ符号（Ｎｏｎ −Ｒｅｔｕｒｎ−ｔｏＺｅｒｏＩｎｔｅｒｌｅａｖｅ符号）に変換された後にヘッドＩＣ２４内のライトアンプによりデータに対応した記録電流をライトヘッド４０に流し、磁気ディスク媒体に記録される。
【００４６】
磁気ディスク媒体２２に記録されたデータはリードヘッド４２で読み出され、ヘッドＩＣ２４に内蔵したプリアンプで増幅した後、可変利得アンプ５０で読出波形の振幅を一定にし、非対称補正回路７４で読出信号の波形の上下非対称性を補正した後、ローパスフィルタ７２で不要なノイズを除去する。
【００４７】
ＡＤコンバータ５６はＶＦＯ回路（図示せず）からのクロックにより読出信号をサンプルホールドしてデジタル的なリードデータに変換する。ＦＩＲフィルタ５８はパーシャルレスポンスに従ってリードデータを波形等化する。ビタビデコーダ６０は、候補のパスを記憶するパスメモリと、正負交互にデータが反転することにより正しいパスを判定する判定回路で構成され、最尤検出されたリードデータを出力する。
【００４８】
ＲＬＬデコーダ６２は３２／３４ＲＬＬ符号を元のＮＲＺデータに変換する。デスクランブル回路６４は変調時に対する逆変換としてデスクランブルしたＮＲＺリードデータを生成し、ハードディスクコントローラ２８に出力する。
【００４９】
図４は、本発明によるリードゲート最適化処理の機能構成のブロック図である。図４において、本発明のリードゲート最適化処理は、ＭＰＵ３４のプログラム制御によりリードゲート最適化部６６の機能として実現される。
【００５０】
リードゲート最適化部６６は、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させながら、リードデータ復調部７６により復調されるリードデータのエラーを検出し、検出されたエラーが最小となるリード開始時間とリード終了時間を判定して、リードゲートを発生するハードディスクコントローラ２８のフラッシュＲＯＭ３６に設定する。
【００５１】
ＭＰＵ３４に設けたリードゲート最適化部６６は、パラメータ設定部６８、タイミング調整部７０、最適時間判定部７４及びエラー検出部７２の機能を有する。パラメータ設定部６８には、図５に示すようなパラメータテーブル７８が格納されている。
【００５２】
図５のパラメータテーブル７８には、リードゲート信号について予め設定されたディフォルトとしてのリード開始時間ＴＳとリード終了時間ＴＥ、更にタイミング調整部７０でリードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させるための可変量として、この実施形態にあっては「０，＋１，＋２，＋３，＋４，−１，−２，−３，−４」で示されるバイト時間が格納されている。
【００５３】
このパラメータ設定部６８に設定されたリード開始時間ＴＳ、リード終了時間ＴＥ及び可変量に基づき、タイミング調整部７０はリードゲート最適化のために行われる複数回のテストリード実行ごとに、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を異なる時間に変化させてリードデータ復調部７６に出力する。
【００５４】
ここでタイミング調整部７０による調整は、リードゲート信号のリード開始時間を可変させる処理と、リードゲート信号のリード終了時間を可変させる処理とを分けて個別に行う。なお、実際のプログラムにあっては、パラメータテーブル７８のパラメータはプログラム領域の値として確保されている。
【００５５】
エラー検出部７２は、タイミング調整部７０からのリードゲート信号によるテストリード実行ごとに、リードデータ復調部７６で復調されたリードデータのエラーを検出する。本発明におけるリードデータのエラー検出方法としては次の２つのいずれかを行う。
（１）ビタビデコーダ６０におけるビタビ・メトリック・マージン（ＶＭＭ）
（２）エラーレート
ビタビデコーダ６０内部で検出されるビタビ・メトリック・マージンは、内蔵したパスメモリにおいて分岐に失敗したパスの数をカウントしており、比較的短いリードデータにより得られる値であり、より高速にリードデータのエラーを検出することができる。
【００５６】
これに対しエラーレートは、ライトデータとリードデータをビット単位に比較して、エラーしたビット数をカウントするもので、エラーレートを正確に検出できるが、ある程度の量のリードデータを必要とするため、ビタビ・メトリック・マージンによるエラー検出に比べ時間がかかることになる。
【００５７】
最適時間判定部７４はエラー検出部７２により検出された複数回のテストリード実行結果に対するエラーのうち、エラーが最小となるタイミング調整されたリードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を最適時間として判定し、リードゲート発生部として機能するハードディスクコントローラ２８の時間発生管理情報として、フラッシュＲＯＭ３６にパラメータ設定部６８を経由して格納する。
【００５８】
図６は本発明の磁気ディスク装置におけるリード及びライトのタイミングチャートである。図６（Ａ）はハードディスクコントローラ２８から出力されるフォーマット処理が済んだＮＲＺライトデータであり、ギャップ領域ＧＡＰ１、パイロット領域ＰＬＯ、サーボ膜領域ＳＭ１、データ領域Ｄａｔａ、エラー検出修正領域ＥＣＣ、パッド領域ＰＡＤ及びギャップ領域ＧＡＰ２で構成される。
【００５９】
このＮＲＺライトデータは図６（Ｂ）のライトゲート信号に基づき、図６（Ｃ）のように媒体に書き込まれる。ここで、媒体書込データのパイロット部ＰＬＯにはエンコードディレイτｄ１が生じ、またデータ領域Ｄａｔａについてもエンコードディレイτｄ２が生じている。
【００６０】
リード動作は、図６（Ｄ）のセクタパルスを基準に所定のリード開始時間ＴＳとリード終了時間ＴＥにより図６（Ｅ）のリードゲート信号が発生され、リードゲート信号によるリード動作の実行で、図６（Ｆ）のようなフォーマットを持つＮＲＺリードデータがハードディスクコントローラ２８に出力される。
【００６１】
図７は、図４のリードゲート最適化部６６の処理で作成されてハードディスクコントローラ２８によるリードゲート信号発生のためにフラッシュＲＯＭ３６に設定されるリードゲート時間テーブルの説明図である。
【００６２】
このリードゲート時間テーブル８０にあっては、ヘッド番号と媒体のゾーン番号により分けて、リードゲート信号最適化処理で得られたリード開始時間及びリード終了時間を格納している。またリード開始時間及びリード終了時間は、図５のパラメータテーブル７８に示したディフォルトとしてのリード開始時間ＴＳ及びリード終了時間ＴＥに最適化処理でタイミング調整された可変量としてのバイト時間を加算または減算した値として格納している。
【００６３】
図８は、図４のリードゲート最適化部６６でリード開始時間を変化させて最適値を判定する際に検出されたエラーレートの説明図である。図４のリードゲート最適化部６６にあっては、図５に示したパラメータテーブル７８のようにリード開始時間ＴＳの可変量として０，＋１〜＋４，−１〜−４の設定値を含む９つのリード開始時間の変化によるタイミング調整を行っており、それぞれのタイミング調整時間によって得られたエラーレート、即ち縦軸に示すエラー回数を折れ線として、例えば特性曲線８２，８４のような２つを例に取っている。
【００６４】
まず特性曲線８２は設定値によるリードゲート開始時間が最適な場合であり、設定値を中心とした＋１〜＋４バイト及び−１〜−４バイトの各バイト時間の調整に対し、−３〜＋３バイトの範囲でエラーカウントが設定値の場合とほぼ同じ最小値を示している。このため設定値としてのリードゲート開始時間は、エラーが最小であると同時に、時間的に見た前後について十分なタイミングマージンを持つことから、安定した値ということができる。
【００６５】
これに対し特性曲線８４は、ディフォルトとしての設定値によるリードゲート開始時間が最適でない場合であり、エラーカウントの最小値は設定値に対し＋側となる＋１，＋２，＋３バイトの各バイト時間で得られている。この場合には、エラーカウントを最小とし且つ左右に十分なマージンを持たせるため、リードゲート開始時間の最適値を＋２バイトとし、設定値の時間に対し後ろ側に持っていけばよい。
【００６６】
このようなエラーカウントに基づくリードゲート開始時間をエラーカウントの最小値で且つマージンも十分に取れるようにする最適値の判定は、エラーゲート終了時間についても同様にして行われる。またエラーカウントの代わりにビタビデコーダ内で得られるビタビ・メトリック・マージンについて、マージンが最大となる最適時間、即ちパスメモリの分岐失敗数が最小となる時間で且つマージンを十分に持つ時間を最適時間として判定する。
【００６７】
図９は、本発明によるリードゲート最適化処理のフローチャートであり、この処理手順が図４におけるＭＰＵ３４のプログラムの内容を表わしている。ここで図９のリードゲート最適化処理は、磁気ディスク装置における例えば次のタイミングで実行される。
（１）パワーオンスタート時にリードゲート最適化処理を実行
（２）パワーオンスタート時にリードゲート最適化処理を実行した後、所定のタイムスケジュールに従ってリードゲート最適化処理をその後実行
（３）磁気ディスク装置の内部温度などの環境条件の変化を検出したときにリードゲート最適化処理を実行
また磁気ディスク装置の運用中にリードゲート最適化処理を実行する際には、リードライト動作が行われていないアイドル状態で実行することになる。
【００６８】
更に本発明のリードゲート最適化処理にあっては、磁気ディスク媒体のゾーンごとに実行するが、この場合、まず選択したゾーンの所定の位置にテストデータを書き込んだ後に、テストリードを実行しながらリードゲート最適化処理を行うことになる。
【００６９】
リードゲート最適化処理に使用するテストデータとしては、ユーザデータをそのまま使用することも可能であるが、ユーザデータの破損などを回避するためには、専用のテストデータの領域を割り付け、ここにテストデータを書き込んでテストリードすることが望ましい。図９のリードゲート最適化処理の手順は次のようになる。
【００７０】
ステップＳ１：ヘッド番号Ｈ＝０、ゾーン番号Ｚ＝０に初期化する。
ステップＳ２：ヘッド番号Ｈ＝０のヘッドを選択し、ゾーン番号Ｚ＝０にヘッドをシークしてオントラックする。
ステップＳ３：リード開始時間の最適化処理を実行する。
ステップＳ４：リード終了時間の最適化処理を実行する。
ステップＳ５：最終ゾーンか否か判別し、最終ゾーンでなければステップＳ６に進む。最終ゾーンであればステップＳ７に進む。
ステップＳ６：ゾーン番号Ｚを１つ増加して、ステップＳ２に戻る。
ステップＳ７：最終ヘッドか否か判別し、最終ヘッドでなければステップＳ８に進み、最終ヘッドであればステップＳ９に進む。
ステップＳ８：ヘッド番号Ｈを１つ増加し、且つゾーン番号をＺ＝０に初期化した後、ステップＳ２に戻る。
ステップＳ９：調整結果として得られた図７のようなリードゲート時間テーブル８０をハードディスクコントローラ２８側のフラッシュＲＯＭ３６に格納する。
【００７１】
図１０は、図９のステップＳ３におけるリード開始時間最適化処理のフローチャートであり、次の処理手順に従って行われる。なお、このフローチャートにあっては、エラーとしてビタビ・メトリック・マージンを測定した場合を例に取っている。
【００７２】
ステップＳ１：リード開始時間のディフォルト値ＴＳをセットし、リード終了時間ＴＥは固定とする。
ステップＳ２：テストデータのリードを調整されたリード開始時間と固定のリード終了時間を持つリードゲート信号の発生により実行する。
ステップＳ３：ビタビデコーダ６０内のビタビ・メトリック・マージンを測定する。
ステップＳ４：＋バイト時間によるオフセットが終了したか否かチェックし、終了していなければステップＳ５に進み、終了していればステップＳ６に進む。
ステップＳ５：リード開始時間ＴＳを（ＴＳ＋１）として１バイト遅くする。
ステップＳ６：リード開始時間の−オフセットが終了したか否か判別する。終了していなければステップＳ７に進み、終了していればステップＳ８に進む。
ステップＳ７：リード開始時間ＴＳを（ＴＳ＋１）として１バイト早める。
ステップＳ８：測定されたビタビ・メトリック・マージンから最適開始時間を判定する。
ステップＳ９：リード開始時間が変更か否か判別し、変更がなければ処理を終了し、変更があればステップＳ１０に進む。
ステップＳ１０：変更したリード開始時間をテーブルに保存する。
【００７３】
図１１は、図９のステップＳ４におけるリード終了時間最適化処理のフローチャートである。このリード終了時間最適化処理の処理手順は基本的に図１０のリード開始時間最適化処理と同じであり、図１０におけるリード開始時間ＴＳをリード終了時間ＴＥと読み替えればよい。
【００７４】
ステップＳ１：リード終了時間のディフォルト値ＴＥをセットし、リード開始時間ＴＳは固定とする。
ステップＳ２：テストデータのリードを固定のリード開始時間と調整されたリード終了時間を持つリードゲート信号の発生により実行する。
ステップＳ３：ビタビデコーダ６０内のビタビ・メトリック・マージンを測定する。
ステップＳ４：＋バイト時間によるオフセットが終了したか否かチェックし、終了していなければステップＳ５に進み、終了していればステップＳ６に進む。
ステップＳ５：リード終了開始時間ＴＳを（ＴＳ＋１）として１バイト遅くする。
ステップＳ６：リード終了時間の−オフセットが終了したか否か判別する。終了していなければステップＳ７に進み、終了していればステップＳ８に進む。
ステップＳ７：リード終了時間ＴＳを（ＴＳ＋１）として１バイト早める。
ステップＳ８：測定されたビタビ・メトリック・マージンから最適終了時間を判定する。
ステップＳ９：リード終了時間が変更か否か判別し、変更がなければ処理を終了し、変更があればステップＳ１０に進む。
ステップＳ１０：変更したリード終了時間をテーブルに保存する。
【００７５】
なお上記の実施形態にあっては、リードゲート信号におけるリード開始時間とリード終了時間の両方をタイミング調整により最適化しているが、リード開始時間のみをタイミング調整して最適化する実施形態であってもよいし、リード終了時間のみのタイミング調整して最適化する処理であってもよい。
【００７６】
また本発明は上記の実施形態に限定されず、その目的と利点を損なうことのない適宜の変形を含む。更に本発明は上記の実施形態に示した数値による限定は受けない。
ここで本発明の特徴を列挙すると次の付記のようになる。
【００７７】
（付記）
（付記１）
セクタパルスを基準に設定された所定のリード開始時間とリード終了時間をもつリードゲート信号を発生するリードゲート発生部と、
前記リードゲート信号に基づくリード実行により媒体の読出信号からリードデータを再生するデータ復調部と、
を備えた磁気ディスク装置に於いて、
前記リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させながら前記データ復調部により復調されるリードデータのエラーを検出し、検出されたエラーが最小となるリード開始時間とリード終了時間を判定して前記リードゲート発生部に設定するリードゲート最適化部を設けたことを特徴とする磁気ディスク装置。（１）
【００７８】
（付記２）
付記１記載の磁気ディスク装置に於いて、前記リードゲート最適化部は、
複数回のテストリード実行毎に、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させて前記データ復調部に出力するタイミング調整部と、
前記タイミング調整部からリードゲート信号によりテストリード実行毎に前記データ復調部で復調されたリードデータのエラーを検出するエラー検出部と、
前記エラー検出部により検出された複数のエラーの内、エラーが最小となるリードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を最適時間として判定して前記リードゲート発生部に設定する最適時間判定部と、
を備えたことを特徴とする磁気ディスク装置。（２）
【００７９】
（付記３）
付記２記載の磁気ディスク装置に於いて、
前記タイミング調整部は、前記リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間とを個別に変化させ、
前記最適時間判定部は、前記エラー検出部により検出されたエラーが最小となるリード開始時間とリード終了時間を個別に判定して前記リードゲート発生部に設定することを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８０】
（付記４）
付記２記載の磁気ディスク装置に於いて、前記タイミング調整部は、前記リード開始時間及びリード終了時間を、デフォルト値を中心に前後に所定時間単位で変化させることを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８１】
（付記５）
付記２記載の磁気ディスク装置に於いて、前記タイミング調整部は、前記リード開始時間及びリード終了時間を、デフォルト値を中心に前後にリードデータの１バイト時間単位で変化させることを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８２】
（付記６）
付記２記載の磁気ディスク装置に於いて、
前記エラー検出部は、前記リードデータのエラーとして、前記データ復調部に設けたビタビ判定部のビタビ・メトリック・マージンを検出し、
前記最適時間判定部は、検出されたビタビ・メトリック・マージンが最大となるリード開始時間及びリード終了時間を判定して前記リードゲート発生部に設定することを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８３】
（付記７）
付記１記載の磁気ディスク装置に於いて、
前記エラー検出部は、前記データ復調部により復調されるリードデータのエラーレートを検出し、
前記最適時間判定部は、検出されたエラーレートが最小となるリード開始時間及びリード終了時間を判定して前記リードゲート発生部に設定することを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８４】
（付記８）
付記１記載の磁気ディスク装置に於いて、パワーオンスタート時に、前記リードゲート最適化部を動作させることを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８５】
（付記９）
付記１記載の磁気ディスク装置に於いて、所定のタイムスケジュールに従って前記リードゲート最適化部を動作させることを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８６】
（付記１０）
付記１記載の磁気ディスク装置に於いて、装置内部温度等の環境条件の変化を検出した際に前記リードゲート最適化部を動作させることを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８７】
（付記１１）
付記１記載の磁気ディスク装置に於いて、複数の読出ヘッドを備えた場合、各ヘッド単位に前記リードゲート最適化部を動作させることを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８８】
（付記１２）
付記１記載の磁気ディスク装置に於いて、媒体をゾーン分割した場合、各ゾーン単位に前記リードゲート最適化部を動作させることを特徴とする磁気ディスク装置。
【００８９】
（付記１３）
セクタパルスを基準に設定された所定のリード開始時間とリード終了時間をもつリードゲート信号を発生するリードゲート発生部と、前記リードゲート信号に基づくリード実行により媒体の読出信号からリードデータを再生するデータ復調部とを備えた磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法に於いて、
複数回のテストリード実行毎に、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させて前記データ復調部に出力するタイミング調整ステップと、
前記タイミング調整ステップで出力されたリードゲート信号によりテストリード実行毎に前記データ復調部で復調されたリードデータのエラーを検出するエラー検出ステップと、
前記エラー検出ステップにより検出された複数のエラーの内、エラーが最小となるリードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を最適時間として判定して前記リードゲート発生部に設定する最適時間判定ステップと、
を備えたことを特徴とする磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法。（３）
【００９０】
（付記１４）
付記１３記載の磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法に於いて、前記タイミング調整ステップは、前記リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間とを個別に変化させることを特徴とする磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法。
【００９１】
（付記１５）
付記１３記載の磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法に於いて、前記タイミング調整ステップは、前記リード開始時間及びリード終了時間を、デフォルト値を中心に前後に所定時間単位で変化させることを特徴とする磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法。
【００９２】
（付記１６）
付記１３記載の磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法に於いて、前記タイミング調整ステップは、前記リード開始時間及びリード終了時間を、デフォルト値を中心に前後にリードデータの１バイト時間単位で変化させてエラーを検出することを特徴とする磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法。
【００９３】
（付記１７）
付記１記載の磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法に於いて、
前記エラー検出ステップは、前記リードデータのエラーとして、前記データ復調部に設けたビタビ判定部のビタビ・メトリック・マージンを検出し、
前記最適時間判定ステップは、検出されたビタビ・メトリック・マージンが最大となるリード開始時間及びリード終了時間を判定して前記リードゲート発生部に設定することを特徴とする磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法。
【００９４】
（付記１８）
付記１記載の磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法に於いて、
前記エラー検出ステップは、前記データ復調部により復調されるリードデータのエラーレートを検出し、
前記最適時間判定ステップは、検出されたエラーレートが最小となるリード開始時間及びリード終了時間を判定して前記リードゲート発生部に設定することを特徴とする磁気ディスク装置のリードゲート最適化方法。
【００９５】
（付記１９）
セクタパルスを基準に設定された所定のリード開始時間とリード終了時間をもつリードゲート信号を発生するリードゲート発生部と、前記リードゲート信号に基づくリード実行により媒体の読出信号からリードデータを再生するデータ復調部とを備えた磁気ディスク装置内蔵のコンピュータに、
複数回のテストリード実行毎に、リードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を変化させて前記データ復調部に出力するタイミング調整ステップと、
前記タイミング調整ステップで出力されたリードゲート信号によりテストリード実行毎に前記データ復調部で復調されたリードデータのエラーを検出するエラー検出ステップと、
前記エラー検出ステップにより検出された複数のエラーの内、エラーが最小となるリードゲート信号のリード開始時間とリード終了時間を最適時間として判定して前記リードゲート発生部に設定する最適時間判定ステップと、
を実行させることを特徴とするプログラム。（５）
【００９６】
【発明の効果】
以上説明してきたように本発明によれば、リードゲートのリード開始時間の最適化を行うことで、媒体から読み出されたデータを対象に正しくリード動作を実行することができ、エラーの少ないデータ読出しを実現することができる。
【００９７】
また、リード終了時間について最適化を行うことにより、媒体に書かれたデータを末尾まで確実にリードすることができ、この結果、パイプライン処理によりリード処理がパイプラインなしの時に比べて早く終わっている場合にも、媒体のデータを正しい位置までリードすることができ、パッド部以降に書かれていないゴミデータを読むことがなくなり、ＥＣＣにおけるミスコレクションを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明が適用される磁気ディスク装置のブロック図
【図３】図２のリードライトＬＳＩの内部構成のブロック図
【図４】本発明によるリードゲート最適化処理の機能構成のブロック図
【図５】図４のパラメータ設定部に保持されるパラメータテーブルの説明図
【図６】本発明におけるライト及びリードのタイミングチャート
【図７】図４のリードゲート最適化処理により生成されるリードゲート時間テーブルの説明図
【図８】本発明でリード開始時間を変化させたときのエラーレートの説明図
【図９】本発明のリードゲート最適化処理のフローチャート
【図１０】図９におけるリード開始時間最適化処理のフローチャート
【図１１】図９におけるリード終了時間最適化処理のフローチャート
【符号の説明】
１０：ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）
１２：ディスクエンクロージャ
１４：コントロールボード
１６：スピンドルモータ（ＳＰＭ）
１８：ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）
２０，２０−１，２０−２：磁気ディスク媒体
２２−１〜２２−４：ヘッド
２４：ヘッドＩＣ
２６：リードライトＬＳＩ
２８：ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）
３０：ホストインタフェース
３２：ＳＤＲＡＭ
３４：ＭＰＵ
３６：フラッシュＲＯＭ
３８：ＶＣＭ／ＳＰＭコントローラ
４０：ライトヘッド
４２：リードヘッド
４４：スクランブル回路
４６：ＲＬＬエンコーダ
４８：プリコーダ
５０：可変利得アンプ（ＶＧＡ）
５２：非対称性補正回路
５４：ローパスフィルタ（ＬＰＦ）
５６：ＡＤコンバータ
５８：有限長フィルタ（ＦＩＲフィルタ）
６０：ビタビデコーダ
６２：ＲＬＬデコーダ
６４：デスクランブル回路
６６：リードゲート最適化部
６８：パラメータ設定部
７０：タイミング調整部
７２：エラー検出部
７４：最適時間判定部
７５：ライトデータ変調部
７６：リードデータ復調部
７８：パラメータテーブル
８０：リードゲート時間テーブル[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a magnetic disk device for demodulating read data from a medium read signal by setting a read gate, a read gate optimizing method and a program, and more particularly, to optimizing the start and end timings of a read gate by executing a test read. The present invention relates to a magnetic disk drive, a read gate optimization method, and a program.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in a magnetic disk drive, a read gate signal is generated based on a sector pulse obtained from a read signal of servo information, and a read gate signal is generated to determine a read execution time. Is also constant. This is because the format of the magnetic disk device itself is always constant regardless of the data area of the medium.
[0003]
As a specific example, in the case of a format in which the sync byte portion (SB portion) is 4 bytes, the data portion (Data) is 512 bytes, and the ECC portion is 30 bytes,

It becomes. Here, PLO is a pull-in time required for the AGC and PLL of the read channel, and α is a pipeline time (usually minus).
[0004]
The time at which reading is started is controlled by the host, and is held in, for example, a hard disk controller (HDC). In the hard disk controller, a window (servo gate) indicating servo information generates a sector pulse which is a reference clock for controlling write and read timings. The read start time when the read gate signal rises is the sector pulse. Can be determined based on
[0005]
The read start time is a value determined in order to read data written on the medium from an optimum position. The factor for determining this value is necessary for pulling in the AGC and PLL in the read channel described above. Time, a delay time at the time of writing of the head IC, an encoder delay time of the read channel, a gap distance between the write head and the read head, and the like. On the other hand, the read end time at which the read gate signal falls is after the read time of the formula (1) from the read start time.
[0006]
In a conventional magnetic disk drive, it is a commonly used technique to start reading from a predetermined timing with a read start time based on a sector pulse and finish reading after a fixed time from that timing. .
[0007]
Further, recently, as a zone bit recording method, the recording medium is often recorded by dividing the radial direction into several zones and changing the transfer rate. Even in this case, the read time is constant as long as the sector format is constant since the magnetic disk device is set according to a predetermined sector format in any area of the medium.
[0008]
[Patent Document 1]
JP-A-11-31358
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, such a conventional magnetic disk device has the following problems.
[0010]
(1) Problems that can occur when the read start time is the specified value
When the gap between the write head and the read head mounted on the head is large, data to be written to the medium is written with a longer delay. Therefore, if reading is started at a prescribed read start time, reading from the PLO position where the reading should be originally performed cannot be performed, and reading will be started earlier from a portion before the PLO is not written.
[0011]
In this case, since the underlying data before writing is normally erased in a DC manner, the DC erased portion is read at the start of the read, and the automatic gain control (AGC) may malfunction in the demodulation IC. Was.
[0012]
The distance between the gap between the write head and the read head depends on the characteristics of the head for reading and writing data, and varies depending on factors such as head manufacturer and wafer variation.
[0013]
(2) Problems that can occur when the read end time is the specified value
When the read end time is the specified value, as a possible phenomenon, when data to be written to the medium is written earlier in time, data in the PAD part after the ECC cannot be read.
[0014]
In this case, since data different from the phase of the written data is written in the PAD section, erroneous correction of the decoder in the read channel is caused. As a result, there is a possibility that miscorrection of the ECC part occurs as data. A factor that causes data to be written to the medium quickly is that the characteristics of the head, the preamplifier, and the like change due to environmental temperature and the like.
[0015]
(3) Problems that may occur due to improved format efficiency (PAD shortage)
Another factor is that data to be read has not been written to the end due to lack of a PAD unit. In a recent apparatus, a pipeline process for ending the read end time when data necessary for improving performance is read is implemented.
[0016]
The pipeline processing is a processing for minimizing wasted time in the latter half of the read, and has advantages in that it leads to an increase in format efficiency and an improvement in read performance. However, this in turn causes a shortage of margin for securely reading the latter half of the data.
[0017]
As a matter of course, if the data part is written in the PAD part having a sufficient length in the latter half of the data part, such a problem does not occur. Therefore, it cannot be said that the PAD section is always sufficient.
[0018]
Due to such a lack of margin in the latter half of the data, a portion where the data in the latter half of the PAD is not written is read, leading to a data error, in which case ECC miscorrection occurs.
[0019]
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a magnetic disk drive, a read gate optimizing method, and a program that enable reading with less errors by optimizing a read execution time.
[0020]
[Means for Solving the Problems]
FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention. The present invention provides a read gate generator for generating a read gate signal having a predetermined read start time and a predetermined read end time set with reference to a sector pulse; For a magnetic disk device having a read data demodulation unit 76 for reproducing the read data, an error of the read data demodulated by the read data demodulation unit 76 is detected while changing the read start time and the read end time of the read gate signal. And a read gate optimizing unit 66 for determining the read start time and the read end time at which the detected error is minimized and setting the read start time and the read end time in the read gate generating unit.
[0021]
By optimizing the start time of the read gate in this manner, it becomes possible to start reading data written on the medium correctly, and it is possible to read with less errors and to reliably read the data to the end. Further, by optimizing the read end time, even when the read processing is completed earlier than the case without the pipeline processing by the pipeline processing, the data of the medium can be read to the correct position. The garbage data that is not written in the ECC is not read, and as a result, ECC miscorrection is prevented.
[0022]
The read gate optimizing unit changes the read start time and the read end time of the read gate signal every time the test read is executed a plurality of times, and outputs the read data to the read data demodulation unit 76. An error detection unit 72 that detects an error of the read data demodulated by the read data demodulation unit 76 every time the test read is executed by the read gate signal, and the error is minimized among a plurality of errors detected by the error detection unit 72. An optimum time determination unit 74 that determines the read start time and the read end time of the read gate signal as the optimum time and sets the optimum time in the read gate generation unit.
[0023]
The timing adjustment unit 70 individually changes the read start time and the read end time of the read gate signal, and the optimal time determination unit 74 determines the read start time and the read end time at which the error detected by the error detection unit 72 is minimized. The time is determined individually and set in the read gate generator.
[0024]
The timing adjustment unit 70 changes the read start time and the read end time back and forth in predetermined time units around the default value. Specifically, the timing adjustment unit 70 changes the read start time and the read end time back and forth around the default value in units of one byte of the read data.
[0025]
The error detection unit 72 detects a Viterbi metric margin (VMM) of the Viterbi determination unit provided in the read data demodulation unit 76 as an error in the read data, and the optimum time determination unit 74 detects the detected Viterbi metric margin. The read start time and the read end time at which the margin is maximized are determined and set in the read gate generator. The Viterbi metric margin (VMM) counts the number of branch failures of the path memory in the Viterbi determination unit, and the error content can be determined with read data smaller than the error rate.
[0026]
The error detection unit 72 detects an error rate of the read data demodulated by the read data demodulation unit 76, and the optimum time determination unit 74 determines a read start time and a read end time at which the detected error rate is minimum. To set the read gate generator.
[0027]
In the magnetic disk drive of the present invention, at the time of power-on start, the read gate optimizing unit 66 is operated to optimize the read execution time. Further, the read gate optimizing unit 66 may be operated according to a predetermined time schedule. Further, when a change in environmental conditions such as the internal temperature of the apparatus is detected, the read gate optimizing unit can be operated.
[0028]
When the magnetic disk drive of the present invention includes a plurality of read heads, the read gate optimization unit 66 operates for each head. When the medium is divided into zones, the read gate optimizing unit 66 is operated for each zone.
[0029]
The present invention provides a read gate generator for generating a read gate signal having a predetermined read start time and a predetermined read end time set with reference to a sector pulse; And a method for optimizing a read gate of a magnetic disk device having a data demodulation unit for reproducing the data.
[0030]
The present invention as this read gate optimization method,
A timing adjustment step of changing the read start time and the read end time of the read gate signal for each of the plurality of test read executions and outputting to the data demodulation unit, and executing the test read by the read gate signal output in the timing adjustment step An error detection step of detecting an error of the read data demodulated by the read data demodulation unit for each
Among the plurality of errors detected by the error detection step, an optimum time determination step of determining the read start time and the read end time of the read gate signal with the minimum error as the optimum time and setting the read gate generation unit,
It is characterized by having.
[0031]
The present invention provides a read gate generator for generating a read gate signal having a predetermined read start time and a predetermined read end time set with reference to a sector pulse; And a program executed by a computer with a built-in magnetic disk device having a data demodulation unit for reproducing the data.
[0032]
This program is stored on a computer with a built-in magnetic disk drive.
A timing adjustment step of changing the read start time and the read end time of the read gate signal and outputting the read data to the data demodulation unit every time the test read is performed a plurality of times;
An error detection step of detecting an error of the read data demodulated by the data demodulation unit every time a test read is executed by the read gate signal output in the timing adjustment step;
An optimal time determining step of determining a read start time and a read end time of a read gate signal in which the error is minimized among the plurality of errors detected by the error detecting step as an optimal time and setting the read time to a read gate generating unit;
A program characterized by executing
[0033]
The details of the read gate optimization method and program according to the present invention are basically the same as those of the apparatus.
[0034]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 2 is a block diagram of a hard disk drive (HDD) 10 which is a magnetic disk device to which the present invention is applied.
[0035]
In FIG. 2, the hard disk drive 10 includes a disk enclosure 12 and a control board 14. The disk enclosure 12 is provided with a spindle motor (SPM) 16 and a voice coil motor (VCM) 18.
[0036]
Magnetic disk media 20-1 and 20-2 are connected to the rotation shaft of the spindle motor 16, and rotate at a constant speed. A head actuator is mounted on the voice coil motor 18, and heads 22-1 to 22-4 are supported at the ends of the arms, and read and write information on the disk surfaces of the magnetic disk media 20-1 and 20-2.
[0037]
A write head and a read head are integrally mounted on the heads 22-1 to 22-4 via a predetermined gap. The head IC 24 connects the write heads and the read heads of the heads 22-1 to 22-4 with signal lines, and selects one of the heads based on a head select signal from the control board 14 side. Write or read.
[0038]
The control board 14 includes a read / write LSI 26, a hard disk controller (HDC) 28, a host interface 30, an SDRAM 32, an MPU 34, a flash ROM 36, and a VCM / SPM controller 38.
[0039]
The write and read operations of the hard disk drive 10 having such a configuration are as follows. When a write command and write data are received from a higher-level device, such as a personal computer, connected via the host interface 30, the write data is buffered in the SDRAM 32 functioning as a transfer buffer, and then the format of the write data and the ECC After performing a decoding process, a demodulation process is performed by a write data demodulation unit in the read / write LSI 26 functioning as a read channel, and then the data is given to the head IC 24 and written to the disk medium by the write head of the currently selected head. I do.
[0040]
At this time, in accordance with the instruction of the MPU 34 based on the write command, the VCM / SPM controller 38 drives the voice coil motor 18 to seek the head to the medium position specified by the write command and perform on-track control. The write data is written to the medium position specified by.
[0041]
When the host interface 30 receives the read command from the host device, the MPU 34 selects the head IC 24 and the VCM / SPM controller 38 reads the data specified by the read command according to the on-track positioning of the voice coil motor 18 by the head seek. Is performed.
[0042]
The read signal from the magnetic disk is pre-amplified by the head IC 24, and then the read data is demodulated in a read data demodulation unit incorporated in the read / write LSI 26. The hard disk controller 28 performs error detection and correction by ECC decoding. After that, the read data is transferred from the host interface 30 to the host device via the buffer of the SDRAM 32 as the transfer buffer.
[0043]
FIG. 3 is a block diagram of the internal configuration of the read / write LSI of FIG. In FIG. 3, the write data modulation section 75 includes a scramble circuit 44, an RLL encoder 46, and a precoder 48. The read data demodulation unit 76 includes a variable gain amplifier (VGA) 50, an asymmetry correction circuit 52, a low-pass filter (LPF) 54, an AD converter 56, an FIR filter 58, a Viterbi decoder 60, an RLL decoder 62, and a descramble circuit 64. You.
[0044]
The NRZ write data from the hard disk controller 28 is randomized by the scramble circuit 44, and then converted into, for example, a 32/34 RLL code by the RLL encoder 46. The number of consecutive “0” is 32 at the minimum and 34 at the maximum.
[0045]
The precoder 48 slightly moves the write data beforehand in order to compensate for a nonlinear shift (NLTS) in which the next magnetization reversal shifts forward due to the influence of the magnetization reversal one bit before. After the write data of the precoder 48 is converted from the NRZ code to the NRZI code (Non-Return-to Zero Interleave code), a write amplifier in the head IC 24 causes a write current corresponding to the data to flow to the write head 40 and to the magnetic disk medium. Be recorded.
[0046]
The data recorded on the magnetic disk medium 22 is read by the read head 42, amplified by a preamplifier built in the head IC 24, then the amplitude of the read waveform is made constant by the variable gain amplifier 50, and the read signal is read by the asymmetry correction circuit 74. After correcting the vertical asymmetry of the waveform, unnecessary noise is removed by the low-pass filter 72.
[0047]
The AD converter 56 samples and holds the read signal in response to a clock from a VFO circuit (not shown) and converts the read signal into digital read data. The FIR filter 58 equalizes the waveform of the read data according to the partial response. The Viterbi decoder 60 includes a path memory for storing candidate paths, and a determination circuit for determining a correct path by alternately inverting data, and outputs read data that has been detected with maximum likelihood.
[0048]
The RLL decoder 62 converts the 32/34 RLL code into the original NRZ data. The descrambling circuit 64 generates descrambled NRZ read data as an inverse conversion with respect to the modulation, and outputs the data to the hard disk controller 28.
[0049]
FIG. 4 is a block diagram of a functional configuration of the read gate optimizing process according to the present invention. 4, the read gate optimizing process of the present invention is realized as a function of the read gate optimizing unit 66 under program control of the MPU 34.
[0050]
The read gate optimizing unit 66 detects an error in the read data demodulated by the read data demodulating unit 76 while changing the read start time and the read end time of the read gate signal, and performs a read operation in which the detected error is minimized. The start time and the read end time are determined and set in the flash ROM 36 of the hard disk controller 28 that generates a read gate.
[0051]
The read gate optimization unit 66 provided in the MPU 34 has functions of a parameter setting unit 68, a timing adjustment unit 70, an optimum time determination unit 74, and an error detection unit 72. The parameter setting section 68 stores a parameter table 78 as shown in FIG.
[0052]
In the parameter table 78 of FIG. 5, the read start time TS and the read end time TE which are preset as defaults for the read gate signal, and the read start time and the read end time of the read gate signal are changed by the timing adjustment unit 70. In this embodiment, a byte time indicated by "0, +1, +2, +3, +4, -1, -2, -3, -4" is stored as a variable amount for this purpose.
[0053]
Based on the read start time TS, the read end time TE, and the variable amount set in the parameter setting section 68, the timing adjustment section 70 sets the read gate signal every time a plurality of test reads are performed for read gate optimization. The read start time and the read end time are changed to different times and output to the read data demodulation unit 76.
[0054]
Here, the adjustment by the timing adjustment unit 70 is performed separately for the process of varying the read start time of the read gate signal and the process of varying the read end time of the read gate signal. Note that, in an actual program, the parameters of the parameter table 78 are secured as values of the program area.
[0055]
The error detection unit 72 detects an error of the read data demodulated by the read data demodulation unit 76 every time the test read is performed by the read gate signal from the timing adjustment unit 70. One of the following two methods is performed as an error detection method for read data in the present invention.
(1) Viterbi metric margin (VMM) in Viterbi decoder 60
(2) Error rate
The Viterbi metric margin detected inside the Viterbi decoder 60 counts the number of paths that failed to branch in the built-in path memory, and is a value obtained by relatively short read data. Error can be detected.
[0056]
The error rate, on the other hand, compares write data and read data in bit units and counts the number of error bits. The error rate can be accurately detected, but requires a certain amount of read data. It takes more time than error detection by the Viterbi metric margin.
[0057]
The optimum time determination unit 74 sets the read start time and the read end time of the read gate signal whose timing has been adjusted to minimize the error among the errors in the plurality of test read execution results detected by the error detection unit 72 as the optimum time. The determination is made and stored as time generation management information of the hard disk controller 28 functioning as a read gate generation unit in the flash ROM 36 via the parameter setting unit 68.
[0058]
FIG. 6 is a timing chart of reading and writing in the magnetic disk drive of the present invention. FIG. 6A shows NRZ write data output from the hard disk controller 28 and having undergone format processing, and includes a gap area GAP1, a pilot area PLO, a servo film area SM1, a data area Data, an error detection correction area ECC, and a pad area PAD. And a gap region GAP2.
[0059]
The NRZ write data is written to the medium as shown in FIG. 6C based on the write gate signal shown in FIG. Here, an encode delay τd1 occurs in the pilot portion PLO of the medium write data, and an encode delay τd2 also occurs in the data area Data.
[0060]
In the read operation, the read gate signal shown in FIG. 6E is generated based on the predetermined read start time TS and read end time TE with reference to the sector pulse shown in FIG. 6D, and the read operation is performed by the read gate signal. The NRZ read data having the format as shown in FIG. 6 (F) is output to the hard disk controller 28.
[0061]
FIG. 7 is an explanatory diagram of a read gate time table created in the processing of the read gate optimizing unit 66 of FIG. 4 and set in the flash ROM 36 for the generation of the read gate signal by the hard disk controller 28.
[0062]
In the read gate time table 80, the read start time and the read end time obtained by the read gate signal optimizing process are stored separately according to the head number and the zone number of the medium. The read start time and the read end time are obtained by adding or subtracting the variable byte times adjusted in timing by the optimization processing to the default read start time TS and read end time TE shown in the parameter table 78 of FIG. Is stored as a value.
[0063]
FIG. 8 is an explanatory diagram of an error rate detected when the read start time is changed by the read gate optimizing unit 66 in FIG. 4 to determine an optimum value. The read gate optimizing unit 66 shown in FIG. 4 includes set values of 0, +1 to +4, -1 to -4 as variable amounts of the read start time TS like the parameter table 78 shown in FIG. The timing adjustment is performed by changing the two read start times, and the error rate obtained by each timing adjustment time, that is, the number of errors indicated on the vertical axis is taken as a polygonal line, for example, two such as

characteristic curves

82 and 84 are used. I'm taking
[0064]
First, the characteristic curve 82 shows a case where the read gate start time according to the set value is optimum. Shows the minimum value that is almost the same as the case where the error count is the set value. For this reason, the read gate start time as the set value can be said to be a stable value since it has a minimum error and has a sufficient timing margin before and after the time.
[0065]
On the other hand, the characteristic curve 84 shows the case where the read gate start time based on the set value as the default is not optimal, and the minimum value of the error count is +1, +2, +3 bytes on the + side of the set value. Have been obtained. In this case, in order to minimize the error count and to provide a sufficient margin on the left and right, the optimum value of the read gate start time may be set to +2 bytes, and the read gate start time may be set behind the time of the set value.
[0066]
The determination of the optimum value for making the read gate start time based on the error count the minimum value of the error count and having a sufficient margin is similarly performed for the error gate end time. For the Viterbi metric margin obtained in the Viterbi decoder instead of the error count, the optimal time at which the margin is maximized, that is, the time at which the number of path memory branch failures is minimized and the time at which the margin is sufficient, is determined as the optimal time. Is determined.
[0067]
FIG. 9 is a flowchart of the read gate optimizing process according to the present invention, and this processing procedure represents the contents of the program of the MPU 34 in FIG. Here, the read gate optimization processing of FIG. 9 is executed at the following timing in the magnetic disk device, for example.
(1) Execute read gate optimization processing at power-on start
(2) After executing the read gate optimization processing at the time of power-on start, the read gate optimization processing is thereafter executed according to a predetermined time schedule.
(3) Execute read gate optimization processing when a change in environmental conditions such as the internal temperature of the magnetic disk drive is detected.
When executing the read gate optimization process during operation of the magnetic disk device, the read gate optimization process is executed in an idle state in which a read / write operation is not performed.
[0068]
Further, the read gate optimization processing of the present invention is executed for each zone of the magnetic disk medium. In this case, first, test data is written to a predetermined position of the selected zone, and then the test read is executed. The read gate optimization process will be performed.
[0069]
As the test data used for the read gate optimization processing, user data can be used as it is, but in order to avoid damage to the user data, a dedicated test data area is allocated and the test data is allocated here. It is desirable to write data and perform a test read. The procedure of the read gate optimization processing of FIG. 9 is as follows.
[0070]
Step S1: Initialize the head number H = 0 and the zone number Z = 0.
Step S2: The head with the head number H = 0 is selected, the head is sought to the zone number Z = 0, and the track is on-tracked.
Step S3: Execute a read start time optimizing process.
Step S4: Execute a read end time optimizing process.
Step S5: It is determined whether or not it is the last zone, and if it is not the last zone, the process proceeds to step S6. If it is the last zone, the process proceeds to step S7.
Step S6: Increment the zone number Z by one and return to step S2.
Step S7: It is determined whether or not the head is the final head. If the head is not the final head, the process proceeds to step S8. If the head is the final head, the process proceeds to step S9.
Step S8: After incrementing the head number H by one and initializing the zone number to Z = 0, return to step S2.
Step S9: The read gate time table 80 as shown in FIG. 7 obtained as an adjustment result is stored in the flash ROM 36 of the hard disk controller 28.
[0071]
FIG. 10 is a flowchart of the read start time optimizing process in step S3 of FIG. 9, and is performed according to the following processing procedure. In this flowchart, a case where a Viterbi metric margin is measured as an error is taken as an example.
[0072]
Step S1: The default value TS of the read start time is set, and the read end time TE is fixed.
Step S2: The test data is read by generating a read gate signal having an adjusted read start time and a fixed read end time.
Step S3: Measure the Viterbi metric margin in the Viterbi decoder 60.
Step S4: It is checked whether or not the offset by the + byte time has been completed. If not completed, the process proceeds to step S5, and if completed, the process proceeds to step S6.
Step S5: The read start time TS is set to (TS + 1) and delayed by one byte.
Step S6: It is determined whether or not the offset of the read start time has ended. If not completed, the process proceeds to step S7, and if completed, the process proceeds to step S8.
Step S7: The read start time TS is advanced by one byte as (TS + 1).
Step S8: Determine an optimum start time from the measured Viterbi metric margin.
Step S9: It is determined whether or not the read start time has been changed. If there is no change, the process ends. If there is a change, the process proceeds to step S10.
Step S10: The changed read start time is stored in a table.
[0073]
FIG. 11 is a flowchart of the read end time optimizing process in step S4 in FIG. The processing procedure of the read end time optimizing process is basically the same as the read start time optimizing process of FIG. 10, and the read start time TS in FIG. 10 may be replaced with the read end time TE.
[0074]
Step S1: The default value TE of the read end time is set, and the read start time TS is fixed.
Step S2: The test data is read by generating a read gate signal having a fixed read start time and an adjusted read end time.
Step S3: Measure the Viterbi metric margin in the Viterbi decoder 60.
Step S4: It is checked whether or not the offset by the + byte time has been completed. If not completed, the process proceeds to step S5, and if completed, the process proceeds to step S6.
Step S5: The read end start time TS is set to (TS + 1) and delayed by one byte.
Step S6: It is determined whether or not the offset of the read end time has ended. If not completed, the process proceeds to step S7, and if completed, the process proceeds to step S8.
Step S7: The read end time TS is set to (TS + 1) to advance one byte.
Step S8: Determine the optimal end time from the measured Viterbi metric margin.
Step S9: It is determined whether or not the read end time has been changed. If there is no change, the process ends. If there is a change, the process proceeds to step S10.
Step S10: The changed read end time is stored in a table.
[0075]
In the above embodiment, both the read start time and the read end time in the read gate signal are optimized by timing adjustment. However, only the read start time is optimized by timing adjustment. Alternatively, it may be a process of optimizing the timing by adjusting only the read end time.
[0076]
In addition, the present invention is not limited to the above embodiments, and includes appropriate modifications without impairing the objects and advantages thereof. Further, the present invention is not limited by the numerical values shown in the above embodiments.
Here, the features of the present invention are listed as follows.
[0077]
(Note)
(Appendix 1)
A read gate generator that generates a read gate signal having a predetermined read start time and read end time set based on the sector pulse,
A data demodulation unit that reproduces read data from a read signal of a medium by performing a read based on the read gate signal;
In a magnetic disk drive provided with
While changing the read start time and the read end time of the read gate signal, an error of the read data demodulated by the data demodulation unit is detected, and the read start time and the read end time at which the detected error is minimized are determined. And a read gate optimizing unit for setting the read gate generating unit. (1)
[0078]
(Appendix 2)
In the magnetic disk drive according to Supplementary Note 1, the read gate optimization unit includes:
A timing adjustment unit that changes the read start time and the read end time of the read gate signal and outputs the read data to the data demodulation unit for each of a plurality of test read executions,
An error detection unit that detects an error in read data demodulated by the data demodulation unit every time a test read is performed by the read gate signal from the timing adjustment unit;
An optimal time determination unit configured to determine a read start time and a read end time of a read gate signal with a minimum error as an optimal time and set the read gate generation unit among the plurality of errors detected by the error detection unit; ,
A magnetic disk drive comprising: (2)
[0079]
(Appendix 3)
In the magnetic disk drive according to Supplementary Note 2,
The timing adjustment unit individually changes the read start time and the read end time of the read gate signal,
The magnetic disk device according to claim 1, wherein the optimum time determination unit individually determines a read start time and a read end time at which an error detected by the error detection unit is minimized, and sets the read start time and the read end time in the read gate generation unit.
[0080]
(Appendix 4)
3. The magnetic disk drive according to claim 2, wherein the timing adjustment unit changes the read start time and the read end time back and forth in predetermined time units around a default value.
[0081]
(Appendix 5)
3. The magnetic disk device according to claim 2, wherein the timing adjustment unit changes the read start time and the read end time back and forth in units of 1-byte time of read data around a default value. Disk device.
[0082]
(Appendix 6)
In the magnetic disk drive according to Supplementary Note 2,
The error detection unit detects a Viterbi metric margin of a Viterbi determination unit provided in the data demodulation unit as an error of the read data,
The magnetic disk device according to claim 1, wherein the optimum time determination unit determines a read start time and a read end time at which the detected Viterbi metric margin is maximum and sets the read start time and the read end time in the read gate generation unit.
[0083]
(Appendix 7)
In the magnetic disk drive according to Supplementary Note 1,
The error detection unit detects an error rate of read data demodulated by the data demodulation unit,
The magnetic disk apparatus according to claim 1, wherein the optimum time determination unit determines a read start time and a read end time at which the detected error rate is minimum and sets the read start time and the read end time in the read gate generation unit.
[0084]
(Appendix 8)
The magnetic disk drive according to claim 1, wherein said read gate optimization unit is operated at the time of power-on start.
[0085]
(Appendix 9)
The magnetic disk drive according to claim 1, wherein said read gate optimizing unit is operated according to a predetermined time schedule.
[0086]
(Appendix 10)
The magnetic disk drive according to claim 1, wherein the read gate optimizing unit is operated when a change in environmental conditions such as an internal temperature of the apparatus is detected.
[0087]
(Appendix 11)
The magnetic disk drive according to claim 1, wherein when a plurality of read heads are provided, the read gate optimization unit is operated for each head.
[0088]
(Appendix 12)
The magnetic disk drive according to claim 1, wherein, when the medium is divided into zones, the read gate optimizing unit is operated for each zone.
[0089]
(Appendix 13)
A read gate generator for generating a read gate signal having a predetermined read start time and read end time set based on a sector pulse; and reproducing read data from a medium read signal by executing a read based on the read gate signal. In a method of optimizing a read gate of a magnetic disk device having a data demodulation unit,
A timing adjusting step of changing the read start time and the read end time of the read gate signal and outputting the read data to the data demodulation unit for each of the plurality of test read executions,
An error detection step of detecting an error in the read data demodulated by the data demodulation unit every time a test read is performed by the read gate signal output in the timing adjustment step;
An optimal time determining step of determining a read start time and a read end time of a read gate signal in which an error is minimized among the plurality of errors detected by the error detecting step as an optimal time and setting the read gate signal in the read gate generating unit; ,
A method for optimizing a read gate of a magnetic disk drive, comprising: (3)
[0090]
(Appendix 14)
13. The method of optimizing a read gate of a magnetic disk device according to claim 13, wherein the timing adjusting step individually changes a read start time and a read end time of the read gate signal. Read gate optimization method.
[0091]
(Appendix 15)
The read gate optimizing method for a magnetic disk drive according to supplementary note 13, wherein the timing adjusting step changes the read start time and the read end time back and forth in predetermined time units around a default value. Gate optimization method for a magnetic disk drive.
[0092]
(Appendix 16)
In the read gate optimizing method for a magnetic disk drive according to supplementary note 13, the timing adjusting step includes changing the read start time and the read end time back and forth around a default value in units of one byte of read data. A read gate optimization method for a magnetic disk drive, wherein an error is detected by using the method.
[0093]
(Appendix 17)
In the method for optimizing a read gate of a magnetic disk drive according to Supplementary Note 1,
The error detecting step detects a Viterbi metric margin of a Viterbi determination unit provided in the data demodulation unit as an error of the read data,
The optimum time determining step determines a read start time and a read end time at which the detected Viterbi metric margin is maximum and sets the read start time and the read end time in the read gate generating unit. Method.
[0094]
(Appendix 18)
In the method for optimizing a read gate of a magnetic disk drive according to Supplementary Note 1,
The error detection step detects an error rate of read data demodulated by the data demodulation unit,
The method of optimizing a read gate of a magnetic disk drive, characterized in that the optimum time determining step determines a read start time and a read end time at which the detected error rate is a minimum and sets the read start time and the read end time in the read gate generator.
[0095]
(Appendix 19)
A read gate generator for generating a read gate signal having a predetermined read start time and read end time set based on a sector pulse; and reproducing read data from a medium read signal by executing a read based on the read gate signal. A computer with a built-in magnetic disk device equipped with a data demodulation unit
A timing adjusting step of changing the read start time and the read end time of the read gate signal and outputting the read data to the data demodulation unit for each of the plurality of test read executions,
An error detection step of detecting an error in the read data demodulated by the data demodulation unit every time a test read is performed by the read gate signal output in the timing adjustment step;
An optimal time determining step of determining a read start time and a read end time of a read gate signal in which an error is minimized among the plurality of errors detected by the error detecting step as an optimal time and setting the read gate signal in the read gate generating unit; ,
A program characterized by executing (5)
[0096]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, by optimizing the read start time of the read gate, the read operation can be correctly performed on the data read from the medium, and the data with few errors can be executed. Reading can be realized.
[0097]
In addition, by optimizing the read end time, data written on the medium can be reliably read to the end, and as a result, the read processing is completed earlier by the pipeline processing as compared with the case without the pipeline. In this case, the data on the medium can be read to the correct position, dust data not written after the pad portion is not read, and miscorrection in ECC can be prevented.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram of a magnetic disk drive to which the present invention is applied;
FIG. 3 is a block diagram of an internal configuration of the read / write LSI of FIG. 2;
FIG. 4 is a block diagram of a functional configuration of a read gate optimization process according to the present invention.
FIG. 5 is an explanatory diagram of a parameter table held in a parameter setting unit in FIG. 4;
FIG. 6 is a timing chart of write and read in the present invention.
FIG. 7 is an explanatory diagram of a read gate time table generated by the read gate optimization process of FIG. 4;
FIG. 8 is an explanatory diagram of an error rate when a read start time is changed in the present invention.
FIG. 9 is a flowchart of a read gate optimization process of the present invention.
FIG. 10 is a flowchart of a read start time optimizing process in FIG. 9;
FIG. 11 is a flowchart of a read end time optimizing process in FIG. 9;
[Explanation of symbols]
10: Hard disk drive (HDD)
12: Disk enclosure
14: Control board
16: Spindle motor (SPM)
18: Voice coil motor (VCM)
20, 20-1, 20-2: magnetic disk medium
22-1 to 22-4: Head
24: Head IC
26: Read / write LSI
28: Hard Disk Controller (HDC)
30: Host interface
32: SDRAM
34: MPU
36: Flash ROM
38: VCM / SPM controller
40: Light head
42: Readhead
44: Scramble circuit
46: RLL encoder
48: Precoder
50: Variable gain amplifier (VGA)
52: Asymmetry correction circuit
54: Low-pass filter (LPF)
56: AD converter
58: Finite length filter (FIR filter)
60: Viterbi decoder
62: RLL decoder
64: descrambling circuit
66: Read gate optimization unit
68: Parameter setting unit
70: Timing adjustment unit
72: Error detection unit
74: Optimal time judgment unit
75: Write data modulator
76: Read data demodulation unit
78: Parameter table
80: Read gate time table

Claims

A read gate generator that generates a read gate signal having a predetermined read start time and read end time set based on the sector pulse,
A data demodulation unit that reproduces read data from a read signal of a medium by performing a read based on the read gate signal;
In a magnetic disk drive provided with
While changing the read start time and the read end time of the read gate signal, an error of the read data demodulated by the data demodulation unit is detected, and the read start time and the read end time at which the detected error is minimized are determined. And a read gate optimizing unit for setting the read gate generating unit.

In the magnetic disk drive according to claim 1, the read gate optimizing unit includes:
A timing adjustment unit that changes the read start time and the read end time of the read gate signal and outputs the read data to the data demodulation unit for each of a plurality of test read executions,
An error detection unit that detects an error in read data demodulated by the data demodulation unit every time a test read is performed by the read gate signal from the timing adjustment unit;
An optimal time determination unit configured to determine a read start time and a read end time of a read gate signal with a minimum error as an optimal time and set the read gate generation unit among the plurality of errors detected by the error detection unit; ,
A magnetic disk drive comprising:

In the magnetic disk drive according to claim 2,
The timing adjustment unit individually changes the read start time and the read end time of the read gate signal,
The magnetic disk device according to claim 1, wherein the optimum time determination unit individually determines a read start time and a read end time at which an error detected by the error detection unit is minimized, and sets the read start time and the read end time in the read gate generation unit.

A read gate generator for generating a read gate signal having a predetermined read start time and read end time set based on a sector pulse; and reproducing read data from a medium read signal by executing a read based on the read gate signal. In a method of optimizing a read gate of a magnetic disk device having a data demodulation unit,
A timing adjusting step of changing the read start time and the read end time of the read gate signal and outputting the read data to the data demodulation unit for each of the plurality of test read executions,
An error detection step of detecting an error in the read data demodulated by the data demodulation unit every time a test read is performed by the read gate signal output in the timing adjustment step;
An optimal time determining step of determining a read start time and a read end time of a read gate signal in which an error is minimized among the plurality of errors detected by the error detecting step as an optimal time and setting the read gate signal in the read gate generating unit; ,
A method for optimizing a read gate of a magnetic disk drive, comprising:

A read gate generator for generating a read gate signal having a predetermined read start time and read end time set based on a sector pulse; and reproducing read data from a medium read signal by executing a read based on the read gate signal. A computer with a built-in magnetic disk device equipped with a data demodulation unit
A timing adjusting step of changing the read start time and the read end time of the read gate signal and outputting the read data to the data demodulation unit for each of the plurality of test read executions,
An error detection step of detecting an error in the read data demodulated by the data demodulation unit every time a test read is performed by the read gate signal output in the timing adjustment step;
An optimal time determining step of determining a read start time and a read end time of a read gate signal in which an error is minimized among the plurality of errors detected by the error detecting step as an optimal time and setting the read gate signal in the read gate generating unit; ,
A program characterized by executing