JP2004309440A - Device for detecting center of beam - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device for detecting the center of a light (laser) beam, which can accurately detect the center of the beam, even when there is widening of the beam. <P>SOLUTION: In the device, a photodetector section 31 where 50 photodetectors are arranged in a direction 4 (Fig.1) in which a level measurement is carried out, receives the laser beam from a rotating laser level 1 (Fig.1), and 50 received signals are input to a microprocessor 46 in parallel via respective 50 comparators 44. The received signals, having a signal level higher than the decision threshold are input to the microprocessor 46 as H-level signals. The microprocessor 46 calculates a photodetector position as the center of a beam Bc, which represents the middle of element numbers corresponding to the upper and the lower ends of the input signals. When the laser beam is to be received by all the photodetectors on the photodetector section 31, the microprocessor 46 changes the decision threshold of the comparators 44 so as to be raised by each prescribed value X. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、照射された光ビームの中心を検出する検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
測量分野では、走査レーザ光を受光し、その走査位置を検出するレベル検出装置が知られている(特許文献1参照)。レベル検出装置は、回転するレーザビームを射出する回転レーザレベルからの光(走査レーザ光)を受光し、レーザビームが形成する平面と略直角方向におけるレベル(水準高)を検出するものである。具体的には、レーザビームを受光し、受光ビームの中心位置を検出し、これに基づいてレーザビームの軌跡が生成する光の面のレベルを得る。レーザビームは通常、ビーム広がりを有するので、ビーム軌跡が生成する面の厚さ方向の中心を検出する。特許文献1の装置では、レーザビームが当たっている受光素子の面積に比例した信号が受光ユニットから出力され、この信号を処理することによってレーザビームの中心位置を算出する。
【0003】
【特許文献1】
特開平7−270160号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
一般に、回転レーザレベルから射出されるレーザビームは、レーザレベルからの距離が離れるほどビーム広がりが大きくなる。したがって、回転レーザレベルとレベル検出装置との距離が長くなる(たとえば、数100m)と、レベル検出装置の受光素子の全てがレーザビーム幅に含まれてしまう。特許文献1の装置は、受光素子上にレーザビームが当たる領域と当たらない領域とを有することを前提に中心位置を求めるので、受光素子の全てがレーザビーム幅に含まれると、レベル検出することができない。
【0005】
本発明は、光(レーザ)ビームに広がりが生じている場合でも光ビームの中心を正しく検出するようにしたビーム中心検出装置を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、光ビームの中心を検出するビーム中心検出装置に適用される。そして、一方向に複数のセンサが配列されたセンサ列を有する受光手段と、複数のセンサに対応して受光手段からそれぞれ出力される受光信号が判定閾値以上か否かを判定する判定手段と、少なくともセンサ列の両端に位置する2つのセンサに対応する2つの受光信号が判定閾値未満に、両端に位置する2つのセンサを除く他のセンサに対応する受光信号の少なくとも1つが判定閾値以上に、それぞれ判定手段で判定されるように判定閾値を変更する閾値変更手段と、判定手段によって判定閾値以上が判定された受光信号に対応するセンサの配列位置に基づいて中心を検出する中心検出手段とを備えることを特徴とする。
判定手段を比較回路で構成してもよく、この場合の閾値変更手段は、比較回路の比較基準信号レベルを変えるように構成するとよい。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を測量に使用される回転レーザレベルとレベル検出器を使用する変位測量システムを例に説明する。
図1は、本発明の一実施の形態によるビーム中心検出装置を用いた変位測量システムの全体構成図である。図1において、変位測量システムは、回転レーザレベル1と、ビーム中心検出装置3とを含む。回転レーザレベル1は、レーザビームを水平方向に発するレーザ光源部を備える。レーザ光源部は、鉛直方向の軸を回転軸として回転可能に構成され、その回転速度はたとえば、600rpm(=10rps)である。レーザ光源部或いはレーザを投光する光学系の一部が回転しながらレーザビームを射出することにより、回転レーザレベル1からのレーザビームの軌跡11が光の平面2を形成する。
【0008】
ビーム中心検出装置3は、回転レーザレベル1からのレーザビームを受光して当該ビームにおける鉛直方向の中心を検出する。回転レーザレベル1が10rpsで回転しながらレーザビームを射出するので、ビーム中心検出装置3は0.1secごとにレーザビームを受光する。ビーム中心検出装置3は、光の平面2に対して垂直方向に配設され、光の平面2の鉛直方向のレベル(水準高)を計測する。図1においてレベル測定方向4は、鉛直方向に対応する。
【0009】
図2は、回転レーザレベル1とビーム中心検出装置3との距離が近距離(たとえば、10m)で、ビーム中心検出装置3の位置におけるビーム広がりが大きくない場合のビーム中心検出装置3の拡大図である。図2において、ビーム中心検出装置3は、受光素子部31と、測定結果表示部32と、各種スイッチ33とを有する。受光素子部31は、図1のレベル測定方向4に対応して、図2の横方向より縦方向に長い受光面を有するように構成されている。ビーム広がりが大きくないので、回転レーザビームの軌跡11Aの幅は受光素子部31の縦方向の受光範囲より狭い。したがって、軌跡11Aの上端および下端のそれぞれが、受光素子部31の受光範囲内に存在する。
【0010】
測定結果表示部32は、受光素子部31で受光されるレーザビームの中心位置などの計測結果を表示する。各種スイッチ33は、ビーム中心検出装置3の電源ON/OFFや、測定精度設定操作などを行うための操作部材である。
【0011】
レーザビームの中心位置を検出する動作について、ビーム中心検出装置3のブロック図(図3)を参照して説明する。受光素子部31は、フォトダイオードなどのN個の受光素子が所定間隔(たとえば、1mmピッチ)で並べて配列された受光素子群によって構成される。受光素子の配列方向は、レベル測定方向4(図1)に対応する。図3において、上から受光素子No.1、受光素子No.2、…の順に受光素子No.Nまで配列されている。受光素子部31の各受光素子は、レーザビームを受光すると個別に受光信号(光電流)を出力するように構成されている。
【0012】
各受光素子からの受光信号は、それぞれ負荷抵抗41により電圧信号に変換される。この電圧信号は、コンデンサ42で直流成分が除去されてアンプ43へ入力される。コンデンサ42の容量は、上述した0.1secごと(すなわち、周波数10Hz)の受光信号を通過し、周波数10Hz未満の低周波成分を遮断するようにあらかじめ設定されている。アンプ43は、入力された受光信号を増幅してコンパレータ44へ出力する。
【0013】
コンパレータ44は、入力された信号電圧が判定閾値より高い場合にHレベルの信号を出力し、入力された信号電圧が判定閾値以下の場合にLレベルの信号を出力する。判定閾値は、マイクロプロセッサ46によって設定されている。すなわち、マイクロプロセッサ46が判定閾値を示すデータを設定し、D/Aコンバータ51が設定データに応じた電圧信号を生成する。コンパレータ44は、D/Aコンバータ51で生成された電圧信号を比較信号(判定閾値)とする。コンパレータ44を設けることで、外乱光やノイズなどによる誤検出を回避できる。
【0014】
なお、図3において図示を省略したが、上述した負荷抵抗41、コンデンサ42、アンプ43、およびコンパレータ44は、それぞれ各受光素子に対応してN個ずつ設けられている。各受光素子に同じ強さの光が入射されたとき、各アンプから出力される信号レベルが合致するように、N個のアンプ43の増幅率がそれぞれ調節されている。D/Aコンバータ51による比較信号は、N個のコンパレータ44に共通に与えられている。
【0015】
N個のコンパレータ44の出力信号(受光信号)は、それぞれマイクロプロセッサ46へ並列に入力される。マイクロプロセッサ46は、ビーム中心検出装置3の電源スイッチがONされている間、常に受光信号をモニタする。マイクロプロセッサ46は、Hレベルの信号を出力する複数のコンパレータ44に対応する複数の受光素子のうち、配列の中央に位置する受光素子の位置を受光素子部31で受光されるレーザビームの中心位置とする。
【0016】
上述した判定閾値は、たとえば、回転レーザレベル1とビーム中心検出装置3との距離が10m、受光素子部31の受光素子数Nが50個の場合に、レーザビームの受光によりHレベルの信号を出力するコンパレータ44の数が10個程度となるように設定するのが好ましい。つまり、レーザビームの軌跡11Aの幅が、受光素子10個分に対応する。
【0017】
図4は、受光素子部31の受光素子群と、アンプ43の出力信号分布曲線61と、コンパレータ44の判定閾値(基準レベル62A)との関係を示す図である。一般に、回転レーザレベル1から射出されるレーザビームは、ビームの中心で光パワーが最大となり、ビームの周辺に近づくにつれて光パワーが低下する。したがって、アンプ43の出力信号分布曲線61は、レーザビームの中心Bcに対応する点Pにおいて最大となり、ビーム中心Bcから上下に離れるにつれてそれぞれ低下する。マイクロプロセッサ46にHレベルが入力される信号は、出力信号分布曲線61のうち基準レベル62Aを超える部分に相当する受光信号である。図4では、マイクロプロセッサ46にHレベルが入力される受光信号に対応する受光素子を黒で示している。マイクロプロセッサ46は、受光素子部31の黒色の部分をレーザビーム幅とみなし、その上端位置および下端位置からレーザビームの中心位置を演算する。
【0018】
マイクロプロセッサ46が液晶表示部47に演算結果を表示する指示を出力することにより、測定結果表示部32(図2)に計測結果が表示される。計測結果は、たとえば、ビームの中心が位置する方向を示す矢印マークなどを表示させる。矢印マークの他に、表示色や点滅速度を変えたりする表示を行ってもよい。外部出力用通信ライン48は、計測結果を示す信号を外部機器へ送出するために使用される。
【0019】
図5は、回転レーザレベル1とビーム中心検出装置3との距離が遠距離(たとえば、500m)で、ビーム中心検出装置3の位置におけるビーム広がりが大きい場合のビーム中心検出装置3の拡大図である。図5において、ビーム広がりが大きいので、回転レーザビームの軌跡11Bの幅は受光素子部31の縦方向の受光範囲より広い。したがって、軌跡11Bの上端および下端のそれぞれが、受光素子部31の受光範囲外に存在し、受光素子部31の全受光素子でレーザビームが受光される。
【0020】
従来は、このようにレーザビームの広がりが受光素子部31より大きい場合にはビーム中心を検出することができなかった。本発明は、このようにビーム広がりが生じている場合の動作に特徴を有する。
【0021】
図6は、ビーム広がりが大きい場合の受光素子部31の受光素子群と、アンプ43の出力信号分布曲線66と、コンパレータ44の判定閾値(基準レベル62A)との関係を示す図である。受光素子部31の受光素子の全てでレーザビームが受光されるので、出力信号分布曲線66の全体が基準レベル62Aを超える。マイクロプロセッサ46は、このような場合にコンパレータ44の判定閾値を高く変更する。
【0022】
図7は、判定閾値変更後の受光素子部31の受光素子群と、アンプ43の出力信号分布曲線66と、コンパレータ44の判定閾値(基準レベル62B)との関係を示す図である。出力信号分布曲線66のうち基準レベル62Bを超える部分に相当する受光信号が、Hレベルとしてマイクロプロセッサ46に入力される。マイクロプロセッサ46は、受光素子部31の黒色の部分をレーザビーム幅とみなし、その上端位置および下端位置からレーザビームの中心位置を演算する。
【0023】
以上説明したビーム中心検出装置3でビーム中心を演算する処理の流れについて、図8のフローチャートを参照して説明する。図8による処理は、ビーム中心検出装置3が電源ONされている間、マイクロプロセッサ46が繰り返し行う。
【0024】
図8のステップS11において、マイクロプロセッサ46は、コンパレータ44に対する判定閾値を設定してステップS12へ進む。マイクロプロセッサ46がD/Aコンバータ51に対して判定閾値を示すデータを出力すると、D/Aコンバータ51がデータに応じた比較信号を出力する。判定閾値は、マイクロプロセッサ46内に前回の判定閾値が格納されている場合は、格納されている判定閾値が用いられる。電源ON直後で前回の判定閾値がマイクロプロセッサ46に格納されていない場合は、あらかじめ定められている初期値を用いる。初期値は、基準レベル62Aに相当する値である。
【0025】
ステップS12において、マイクロプロセッサ46は、N個のコンパレータ44から入力される受光信号の中にHレベルの信号があるか否かを判定する。マイクロプロセッサ46は、Hレベルの信号が含まれている場合にステップS12を肯定判定してステップS13へ進み、Hレベルの信号が含まれていない場合にステップS12を否定判定し、図8による処理を終了する。ステップS12を否定判定する場合は、ビーム中心検出装置3の受光素子部31に回転レーザレベル1からのレーザビームが当たっていない場合である。
【0026】
ステップS13において、マイクロプロセッサ46は、N個のコンパレータ44から入力される受光信号の全てがHレベルか否かを判定する。マイクロプロセッサ46は、全てがHレベルの信号である場合にステップS13を肯定判定してステップS18へ進み、Lレベルの信号が含まれている場合にステップS13を否定判定し、ステップS14へ進む。ステップS18へ進む場合は、図6に示した状態である。
【0027】
ステップS14において、マイクロプロセッサ46は、受光素子No.1に対応するコンパレータ44から入力される受光信号がHレベルか否かを判定する。マイクロプロセッサ46は、Hレベルの信号が入力されている場合にステップS14を肯定判定してステップS19へ進み、Lレベルの信号が入力されている場合にステップS14を否定判定し、ステップS15へ進む。ステップS19へ進む場合は、回転レーザレベル1からのレーザビームが受光素子部31の上側に偏って当たる場合である。
【0028】
ステップS15において、マイクロプロセッサ46は、受光素子No.50に対応するコンパレータ44から入力される受光信号がHレベルか否かを判定する。マイクロプロセッサ46は、Hレベルの信号が入力されている場合にステップS15を肯定判定してステップS19へ進み、Lレベルの信号が入力されている場合にステップS15を否定判定し、ステップS16へ進む。ステップS19へ進む場合は、回転レーザレベル1からのレーザビームが受光素子部31の下側に偏って当たる場合である。
【0029】
ステップS16において、マイクロプロセッサ46は、中心C=(D+U)/2を算出する。ここで、Dは、Hレベルの信号が入力されている下端の受光素子番号である。Uは、Hレベルの信号が入力されている上端の受光素子番号である。マイクロプロセッサ46は、素子番号Cに対応する受光素子の配列位置をレーザビーム中心Bcとする。マイクロプロセッサ46は、レーザビーム中心Bcを算出すると、液晶表示部47に演算結果の表示を指示してステップS17へ進む。
【0030】
ステップS17において、マイクロプロセッサ46は、設定されている判定閾値をマイクロプロセッサ46内のメモリに記憶し、図8による処理を終了する。
【0031】
ステップS18において、マイクロプロセッサ46は、コンパレータ44に対し、現在の判定閾値を所定値Xだけ高めるように設定してステップS13へ戻る。これにより、判定閾値を基準レベル62Bに相当する値に近づけるように、判定閾値が高められる。所定値Xは、1回の判定閾値変更処理で判定閾値を基準レベル62Aから基準レベル62Bまで高めるような値でなくてもよい。すなわち、ステップS13およびステップS18の処理を繰り返しながら、判定閾値を徐々に高めるように所定値Xを設定してよい。
【0032】
ステップS19において、マイクロプロセッサ46は、コンパレータ44に対し、現在の判定閾値を所定値X/2だけ高めるように設定してステップS14へ戻る。これにより、判定閾値を基準レベル62Bに相当する値に近づけるように、判定閾値が高められる。ステップS19では、受光素子部31の上端(素子番号1)および下端(素子番号50)のうち一方からの信号がLレベルであるので、ステップS18に比べて半分の変更幅(X/2)で判定閾値を少しずつ高めるようにする。
【0033】
ステップS16においてマイクロプロセッサ46がレーザビーム中心Bcを算出する場合、複数の検出結果の平均値を算出するとよい。上述したように、レーザビームは0.1sec間隔(10Hz)で受光素子部31に入力される。そこで、たとえば、5回分の検出結果の平均値をとってレーザビーム中心Bcを得るようにすれば、0.5secごとに液晶表示部47の表示を更新することができる。
【0034】
以上説明した実施の形態によるビーム中心検出装置についてまとめる。
(1)コンパレータ44の判定閾値を可変に構成し、受光素子部31上の受光素子の全てでレーザビームが受光される場合(ステップS13を肯定判定)に、コンパレータ44の判定閾値を所定値Xずつ高く変更する(ステップS18)ようにした。これにより、受光素子部31の受光範囲をレベル測定方向4に広げる(すなわち、受光素子数を増やす)ことなく、回転レーザレベル1からのレーザビームに広がりが生じた場合でも、正確にビーム中心Bcを算出することができる。とくに、回転レーザレベル1とビーム中心検出装置3との距離が数百m以上離れている場合に有効である。
【0035】
(2)上記(1)に加えて、受光素子部31の上端(素子番号1)および下端(素子番号50)のうち一方からの受光信号がマイクロプロセッサ46に入力されない場合、上記(1)に比べて半分の変更幅(X/2)で少しずつ判定閾値を高めるようにした。これにより、判定閾値変更後にマイクロプロセッサ46に入力される受光信号の数が急激に減少することが防止される。
【0036】
(3)レベル測定方向4(図1)に沿って受光素子がN個(上記の例では50個)並べて配列される受光素子部31で回転レーザレベル1からのレーザビームを受光し、N個の受光信号をそれぞれN個のコンパレータ44を介してマイクロプロセッサ46へ並列に入力する。受光信号は、判定閾値より高い信号レベルのものがHレベルの信号としてマイクロプロセッサ46へ入力される。マイクロプロセッサ46は、入力された信号の上下端に対応する素子番号(UおよびD)の中央に位置する受光素子位置をビーム中心Bcとして算出する。これにより、デジタルピークホールド回路や高速A/D変換回路を用いることなく、簡単な構成でビーム中心検出装置3を得ることができる。この結果、ビーム中心検出装置3のコスト低減および消費電力を削減する効果が得られる。消費電力を低減すると、ビーム中心検出装置3を電池駆動の場合に連続使用時間を長くすることができる。
【0037】
(4)受光信号をコンパレータ44を介してマイクロプロセッサ46へ入力するようにしたので、回転レーザレベル1からのレーザビーム以外の外乱光による受光信号より高い判定閾値をコンパレータ44に設定することにより、外乱光およびノイズによる信号がマイクロプロセッサ46に入力されることを防止できる。この結果、正確にビーム中心Bcを算出することができる。
【0038】
上記説明において、マイクロプロセッサ46がステップS12を否定判定した場合に図8による処理を終了する例を説明したが、ステップS11へ戻るようにしてもよい。
【0039】
ステップS19において、コンパレータ44の判定閾値をX/2変化させるようにしたが、判定閾値の変更幅はX/2に限定されるものではなく、たとえば、X/4としてもよい。
【0040】
上述したD/Aコンバータ51は、マイクロプロセッサ46と別に構成される例を説明したが、マイクロプロセッサ46がD/A変換回路を内蔵している場合には、内蔵されるD/AコンバータをD/Aコンバータ51の代わりに使用してもよい。
【0041】
上述した実施の形態では、複数の受光素子の数と同数のアンプおよびコンパレータをそれぞれ設ける構成を説明した。この代わりに、複数の受光素子に対してアンプおよびコンパレータを1つずつ設け、このアンプで複数の受光素子からの信号をそれぞれ増幅し、増幅後の信号をコンパレータでレベル判定するように構成してもよい。複数の受光素子からの信号の切り換えは、たとえば、リレー回路などを用いて順次切り換えるようにする。
【0042】
また、複数の受光素子および複数のアンプに対してコンパレータを1つ設け、各アンプからの信号をコンパレータでそれぞれレベル判定するように構成してもよい。複数のアンプからの信号の切り換えは、たとえば、リレー回路などを用いて順次切り換えるようにする。
【0043】
以上の説明では、コンパレータ44を用いる例を説明したが、コンパレータ44の代わりにA/D変換回路を使用する場合にも本発明を適用することができる。この場合には、A/D変換後の受光信号(デジタル値)をマイクロプロセッサ46に入力する。マイクロプロセッサ46は、入力されるデジタル値が有効閾値より高い場合に受光信号とみなし、有効閾値より低い場合は受光信号とみなさない。この有効閾値は、上述したコンパレータ44の判定閾値に対応する。
【0044】
上述した説明では、レーザビームの中心で光パワーが最大となり、ビームの周辺に近づくにつれて光パワーが低下するガウス分布を例に説明した。本発明は、このような分布の他に、たとえば、TEM10モードの分布を有するビームの中心の検出にも適用できる。
【0045】
特許請求の範囲における各構成要素と、発明の実施の形態における各構成要素との対応について説明する。一方向は、たとえば、レベル測定方向4が対応する。受光手段は、たとえば、受光素子部31によって構成される。センサ列は、受光素子群が対応する。判定手段は、たとえば、コンパレータ44によって構成される。閾値変更手段は、たとえば、マイクロプロセッサ46およびD/Aコンバータ51によって構成される。中心検出手段は、たとえば、マイクロプロセッサ46によって構成される。なお、本発明の特徴的な機能を損なわない限り、各構成要素は上記構成に限定されるものではない。
【0046】
【発明の効果】
本発明によるビーム中心検出装置は、光(レーザ)ビームに広がりが生じている場合でもビームの中心を正しく検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態によるビーム中心検出装置を用いた変位測量システムの全体構成図である。
【図2】ビーム広がりが大きくない場合のビーム中心検出装置の拡大図である。
【図3】ビーム中心検出装置のブロック図である。
【図4】受光素子部の受光素子群と、アンプの出力信号分布曲線と、コンパレータの判定閾値との関係を示す図である。
【図5】ビーム広がりが大きい場合のビーム中心検出装置の拡大図である。
【図6】受光素子部の受光素子群と、アンプの出力信号分布曲線と、コンパレータの判定閾値との関係を示す図である。
【図7】受光素子部の受光素子群と、アンプの出力信号分布曲線と、コンパレータの判定閾値との関係を示す図である。
【図8】ビーム中心を演算する処理の流れを説明するフローチャートである。
【符号の説明】
1…回転レーザレベル、 2…光の平面、
3…ビーム中心検出装置、 4…レベル測定方向、
11(11A、11B)…ビームの軌跡、
31…受光素子部、 32…測定結果表示部、
44…コンパレータ、 46…マイクロプロセッサ、
51…D/Aコンバータ
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a detection device that detects the center of an emitted light beam.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In the field of surveying, a level detecting device that receives a scanning laser beam and detects a scanning position thereof is known (see Patent Document 1). The level detection device receives light (scanning laser light) from a rotating laser level that emits a rotating laser beam, and detects a level (high level) in a direction substantially perpendicular to a plane formed by the laser beam. Specifically, the laser beam is received, the center position of the received beam is detected, and the level of the light surface generated by the trajectory of the laser beam is obtained based on the detected position. Since the laser beam usually has a beam spread, the center in the thickness direction of the surface generated by the beam trajectory is detected. In the device of Patent Document 1, a signal proportional to the area of the light receiving element hit by the laser beam is output from the light receiving unit, and the center position of the laser beam is calculated by processing this signal.
[0003]
[Patent Document 1]
JP-A-7-270160
[Problems to be solved by the invention]
Generally, a laser beam emitted from a rotating laser level has a larger beam spread as the distance from the laser level increases. Therefore, when the distance between the rotating laser level and the level detecting device is long (for example, several hundred meters), all of the light receiving elements of the level detecting device are included in the laser beam width. The apparatus disclosed in Patent Document 1 determines the center position on the assumption that there is an area where the laser beam hits the light receiving element and an area where the laser beam does not hit the light receiving element. Can not.
[0005]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a beam center detecting device that correctly detects the center of a light (laser) beam even when the light beam spreads.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The present invention is applied to a beam center detection device that detects the center of a light beam. A light receiving unit having a sensor array in which a plurality of sensors are arranged in one direction; and a determining unit for determining whether a light receiving signal output from the light receiving unit corresponding to the plurality of sensors is equal to or greater than a determination threshold, At least two light reception signals corresponding to the two sensors located at both ends of the sensor row are less than the determination threshold, and at least one of the light reception signals corresponding to other sensors except the two sensors located at both ends is equal to or greater than the determination threshold, Threshold changing means for changing the determination threshold so as to be determined by the determination means, and center detection means for detecting the center based on the array position of the sensor corresponding to the light receiving signal determined to be equal to or greater than the determination threshold by the determination means. It is characterized by having.
The determination means may be constituted by a comparison circuit, and in this case, the threshold value changing means may be constituted so as to change the comparison reference signal level of the comparison circuit.
[0007]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings by taking as an example a displacement surveying system using a rotating laser level and a level detector used for surveying.
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a displacement measurement system using a beam center detection device according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the displacement measurement system includes a rotating laser level 1 and a beam center detecting device 3. The rotating laser level 1 includes a laser light source unit that emits a laser beam in a horizontal direction. The laser light source unit is configured to be rotatable about a vertical axis as a rotation axis, and its rotation speed is, for example, 600 rpm (= 10 rpm). A laser light source or a part of an optical system for projecting a laser emits a laser beam while rotating, so that the trajectory 11 of the laser beam from the rotating laser level 1 forms a light plane 2.
[0008]
The beam center detecting device 3 receives a laser beam from the rotating laser level 1 and detects the center of the beam in the vertical direction. Since the laser beam is emitted while the rotating laser level 1 is rotating at 10 rps, the beam center detecting device 3 receives the laser beam every 0.1 sec. The beam center detecting device 3 is arranged in a direction perpendicular to the light plane 2 and measures the level (level height) of the light plane 2 in the vertical direction. In FIG. 1, the level measurement direction 4 corresponds to the vertical direction.
[0009]
FIG. 2 is an enlarged view of the beam center detecting device 3 when the distance between the rotating laser level 1 and the beam center detecting device 3 is short (for example, 10 m) and the beam spread at the position of the beam center detecting device 3 is not large. It is. 2, the beam center detecting device 3 includes a light receiving element unit 31, a measurement result display unit 32, and various switches 33. The light receiving element unit 31 is configured to have a light receiving surface that is longer in the vertical direction than in the horizontal direction in FIG. 2, corresponding to the level measurement direction 4 in FIG. Since the beam spread is not large, the width of the trajectory 11A of the rotating laser beam is narrower than the vertical light receiving range of the light receiving element unit 31. Therefore, each of the upper end and the lower end of the trajectory 11A exists within the light receiving range of the light receiving element unit 31.
[0010]
The measurement result display unit 32 displays a measurement result such as the center position of the laser beam received by the light receiving element unit 31. The various switches 33 are operation members for performing power ON / OFF of the beam center detection device 3, measurement accuracy setting operation, and the like.
[0011]
The operation of detecting the center position of the laser beam will be described with reference to the block diagram of the beam center detecting device 3 (FIG. 3). The light receiving element section 31 is configured by a light receiving element group in which N light receiving elements such as photodiodes are arranged at predetermined intervals (for example, at a pitch of 1 mm). The arrangement direction of the light receiving elements corresponds to the level measurement direction 4 (FIG. 1). In FIG. 1, light receiving element No. The light receiving element Nos. N are arranged. Each light receiving element of the light receiving element section 31 is configured to individually output a light receiving signal (photocurrent) when receiving a laser beam.
[0012]
The light receiving signal from each light receiving element is converted into a voltage signal by the load resistor 41. This voltage signal is input to the amplifier 43 after the DC component is removed by the capacitor 42. The capacitance of the capacitor 42 is set in advance so as to pass the above-described light receiving signal at intervals of 0.1 sec (that is, a frequency of 10 Hz) and block low-frequency components having a frequency of less than 10 Hz. The amplifier 43 amplifies the input light receiving signal and outputs the amplified light receiving signal to the comparator 44.
[0013]
The comparator 44 outputs an H level signal when the input signal voltage is higher than the determination threshold, and outputs an L level signal when the input signal voltage is equal to or lower than the determination threshold. The determination threshold is set by the microprocessor 46. That is, the microprocessor 46 sets data indicating the determination threshold, and the D / A converter 51 generates a voltage signal according to the set data. The comparator 44 uses the voltage signal generated by the D / A converter 51 as a comparison signal (determination threshold). By providing the comparator 44, erroneous detection due to disturbance light, noise, or the like can be avoided.
[0014]
Although not shown in FIG. 3, N load resistors 41, capacitors 42, amplifiers 43, and comparators 44 are provided for each light receiving element. The amplification factors of the N amplifiers 43 are respectively adjusted such that when the light of the same intensity is incident on each light receiving element, the signal level output from each amplifier matches. The comparison signal from the D / A converter 51 is commonly provided to the N comparators 44.
[0015]
Output signals (light receiving signals) of the N comparators 44 are input to the microprocessor 46 in parallel. The microprocessor 46 constantly monitors the light receiving signal while the power switch of the beam center detecting device 3 is ON. The microprocessor 46 determines the position of the light receiving element located at the center of the array among the plurality of light receiving elements corresponding to the plurality of comparators 44 that output the H-level signal as the center position of the laser beam received by the light receiving element unit 31. And
[0016]
For example, when the distance between the rotating laser level 1 and the beam center detecting device 3 is 10 m and the number N of light receiving elements of the light receiving element unit 31 is 50, the above-described determination threshold is set to a high level signal by receiving a laser beam. It is preferable that the number of comparators 44 to be output is set to be about ten. That is, the width of the trajectory 11A of the laser beam corresponds to 10 light receiving elements.
[0017]
FIG. 4 is a diagram illustrating a relationship between the light receiving element group of the light receiving element unit 31, the output signal distribution curve 61 of the amplifier 43, and the determination threshold (reference level 62A) of the comparator 44. Generally, the laser beam emitted from the rotating laser level 1 has the maximum optical power at the center of the beam, and the optical power decreases as approaching the periphery of the beam. Accordingly, the output signal distribution curve 61 of the amplifier 43 becomes maximum at the point P corresponding to the center Bc of the laser beam, and decreases as the distance from the beam center Bc increases and decreases. The signal whose H level is input to the microprocessor 46 is a light receiving signal corresponding to a portion of the output signal distribution curve 61 that exceeds the reference level 62A. In FIG. 4, the light receiving element corresponding to the light receiving signal whose H level is input to the microprocessor 46 is shown in black. The microprocessor 46 regards the black portion of the light receiving element 31 as the laser beam width, and calculates the center position of the laser beam from the upper end position and the lower end position.
[0018]
When the microprocessor 46 outputs an instruction to display the calculation result on the liquid crystal display unit 47, the measurement result is displayed on the measurement result display unit 32 (FIG. 2). As the measurement result, for example, an arrow mark indicating the direction in which the center of the beam is located is displayed. In addition to the arrow mark, a display for changing a display color or a blinking speed may be performed. The external output communication line 48 is used to send a signal indicating a measurement result to an external device.
[0019]
FIG. 5 is an enlarged view of the beam center detecting device 3 when the distance between the rotating laser level 1 and the beam center detecting device 3 is long (for example, 500 m) and the beam spread at the position of the beam center detecting device 3 is large. is there. In FIG. 5, since the beam spread is large, the width of the trajectory 11B of the rotating laser beam is wider than the vertical light receiving range of the light receiving element unit 31. Therefore, each of the upper end and the lower end of the trajectory 11B is outside the light receiving range of the light receiving element unit 31, and the laser beam is received by all the light receiving elements of the light receiving element unit 31.
[0020]
Conventionally, when the spread of the laser beam is larger than the light receiving element portion 31, the beam center cannot be detected. The present invention is characterized by the operation when the beam spread occurs as described above.
[0021]
FIG. 6 is a diagram illustrating a relationship between the light receiving element group of the light receiving element unit 31 when the beam spread is large, the output signal distribution curve 66 of the amplifier 43, and the determination threshold (reference level 62A) of the comparator 44. Since the laser beam is received by all of the light receiving elements of the light receiving element section 31, the entire output signal distribution curve 66 exceeds the reference level 62A. In such a case, the microprocessor 46 changes the determination threshold of the comparator 44 to a higher value.
[0022]
FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the light receiving element group of the light receiving element unit 31 after the change of the determination threshold, the output signal distribution curve 66 of the amplifier 43, and the determination threshold (reference level 62B) of the comparator 44. A light receiving signal corresponding to a portion exceeding the reference level 62B in the output signal distribution curve 66 is input to the microprocessor 46 as an H level. The microprocessor 46 regards the black portion of the light receiving element 31 as the laser beam width, and calculates the center position of the laser beam from the upper end position and the lower end position.
[0023]
The flow of the process of calculating the beam center in the beam center detecting device 3 described above will be described with reference to the flowchart of FIG. The processing shown in FIG. 8 is repeatedly performed by the microprocessor 46 while the power of the beam center detecting device 3 is ON.
[0024]
In step S11 of FIG. 8, the microprocessor 46 sets a determination threshold value for the comparator 44, and proceeds to step S12. When the microprocessor 46 outputs data indicating the determination threshold to the D / A converter 51, the D / A converter 51 outputs a comparison signal corresponding to the data. When the previous determination threshold value is stored in the microprocessor 46, the stored determination threshold value is used. If the previous determination threshold value is not stored in the microprocessor 46 immediately after the power is turned on, a predetermined initial value is used. The initial value is a value corresponding to the reference level 62A.
[0025]
In step S12, the microprocessor 46 determines whether or not the light receiving signals input from the N comparators 44 include an H level signal. The microprocessor 46 makes an affirmative decision in step S12 when an H-level signal is included and proceeds to step S13, and makes a negative decision in step S12 when an H-level signal is not included, and performs the processing shown in FIG. To end. The case where the determination in step S12 is negative is a case where the laser beam from the rotating laser level 1 does not hit the light receiving element unit 31 of the beam center detecting device 3.
[0026]
In step S13, the microprocessor 46 determines whether all of the light receiving signals input from the N comparators 44 are at the H level. The microprocessor 46 makes an affirmative decision in step S13 when all are H-level signals and proceeds to step S18, and makes a negative decision in step S13 when an L-level signal is included and proceeds to step S14. When the process proceeds to step S18, the state is as shown in FIG.
[0027]
In step S14, the microprocessor 46 sets the light receiving element No. It is determined whether the light receiving signal input from the comparator 44 corresponding to 1 is at the H level. The microprocessor 46 makes an affirmative decision in step S14 when an H-level signal is input, and proceeds to step S19, and makes a negative decision in step S14 when an L-level signal is input, and proceeds to step S15. . The case of proceeding to step S19 is a case where the laser beam from the rotating laser level 1 is deflected toward the upper side of the light receiving element unit 31.
[0028]
In step S15, the microprocessor 46 sets the light receiving element No. It is determined whether the light receiving signal input from the comparator 44 corresponding to 50 is at the H level. The microprocessor 46 makes an affirmative determination in step S15 when an H-level signal is input and proceeds to step S19, and makes a negative determination in step S15 when an L-level signal is input and proceeds to step S16. . The case of proceeding to step S19 is a case where the laser beam from the rotating laser level 1 is deflected to the lower side of the light receiving element unit 31.
[0029]
In step S16, the microprocessor 46 calculates the center C = (D + U) / 2. Here, D is the light receiving element number at the lower end where the H level signal is input. U is the upper end light receiving element number to which the H level signal is input. The microprocessor 46 sets the array position of the light receiving elements corresponding to the element number C as the laser beam center Bc. After calculating the laser beam center Bc, the microprocessor 46 instructs the liquid crystal display unit 47 to display the calculation result, and proceeds to step S17.
[0030]
In step S17, the microprocessor 46 stores the set determination threshold value in the memory in the microprocessor 46, and ends the processing in FIG.
[0031]
In step S18, the microprocessor 46 sets the comparator 44 to increase the current determination threshold by a predetermined value X, and returns to step S13. Thereby, the determination threshold is increased so that the determination threshold approaches a value corresponding to the reference level 62B. The predetermined value X may not be a value that increases the determination threshold from the reference level 62A to the reference level 62B in one determination threshold change process. That is, the predetermined value X may be set so as to gradually increase the determination threshold while repeating the processing of step S13 and step S18.
[0032]
In step S19, the microprocessor 46 sets the comparator 44 to increase the current determination threshold by a predetermined value X / 2, and returns to step S14. Thereby, the determination threshold is increased so that the determination threshold approaches a value corresponding to the reference level 62B. In step S19, since the signal from one of the upper end (element number 1) and the lower end (element number 50) of the light receiving element unit 31 is at the L level, the change width (X / 2) is half that of step S18. The determination threshold is gradually increased.
[0033]
When the microprocessor 46 calculates the laser beam center Bc in step S16, an average value of a plurality of detection results may be calculated. As described above, the laser beam is input to the light receiving element unit 31 at intervals of 0.1 sec (10 Hz). Therefore, for example, if the average value of the detection results of five times is obtained to obtain the laser beam center Bc, the display of the liquid crystal display unit 47 can be updated every 0.5 seconds.
[0034]
The beam center detecting device according to the embodiment described above will be summarized.
(1) The determination threshold of the comparator 44 is configured to be variable, and when the laser beam is received by all of the light receiving elements on the light receiving element unit 31 (Yes in step S13), the determination threshold of the comparator 44 is set to a predetermined value X The value is changed to be higher at a time (step S18). Accordingly, even if the laser beam from the rotating laser level 1 spreads, the beam center Bc can be accurately measured without expanding the light receiving range of the light receiving element unit 31 in the level measurement direction 4 (that is, increasing the number of light receiving elements). Can be calculated. This is particularly effective when the distance between the rotating laser level 1 and the beam center detecting device 3 is several hundred meters or more.
[0035]
(2) In addition to the above (1), if a light receiving signal from one of the upper end (element number 1) and the lower end (element number 50) of the light receiving element unit 31 is not input to the microprocessor 46, The judgment threshold value is increased little by little in a half change width (X / 2). This prevents the number of light receiving signals input to the microprocessor 46 after the change of the determination threshold value from suddenly decreasing.
[0036]
(3) The light receiving element section 31 in which N (50 in the above example) light receiving elements are arranged side by side along the level measurement direction 4 (FIG. 1) receives a laser beam from the rotating laser level 1 and outputs N light. Are input in parallel to the microprocessor 46 via the N comparators 44, respectively. The light receiving signal having a signal level higher than the determination threshold is input to the microprocessor 46 as an H level signal. The microprocessor 46 calculates the light receiving element position located at the center of the element numbers (U and D) corresponding to the upper and lower ends of the input signal as the beam center Bc. Thus, the beam center detection device 3 can be obtained with a simple configuration without using a digital peak hold circuit or a high-speed A / D conversion circuit. As a result, the effect of reducing the cost and power consumption of the beam center detecting device 3 can be obtained. When the power consumption is reduced, the continuous use time can be extended when the beam center detection device 3 is driven by a battery.
[0037]
(4) Since the light receiving signal is input to the microprocessor 46 via the comparator 44, a higher judgment threshold value than the light receiving signal due to disturbance light other than the laser beam from the rotating laser level 1 is set in the comparator 44, Signals due to disturbance light and noise can be prevented from being input to the microprocessor 46. As a result, the beam center Bc can be accurately calculated.
[0038]
In the above description, the example in which the process according to FIG. 8 ends when the microprocessor 46 makes a negative determination in step S12 has been described. However, the process may return to step S11.
[0039]
In step S19, the determination threshold value of the comparator 44 is changed by X / 2. However, the change width of the determination threshold value is not limited to X / 2, and may be, for example, X / 4.
[0040]
The above-described D / A converter 51 has been described as an example configured separately from the microprocessor 46. However, when the microprocessor 46 has a built-in D / A conversion circuit, the built-in D / A converter is a D / A converter. It may be used in place of the / A converter 51.
[0041]
In the above-described embodiment, the configuration in which the same number of amplifiers and comparators as the number of the plurality of light receiving elements are provided has been described. Instead, one amplifier and one comparator are provided for each of the plurality of light receiving elements, signals from the plurality of light receiving elements are respectively amplified by the amplifier, and the level of the amplified signal is determined by the comparator. Is also good. The signals from the plurality of light receiving elements are sequentially switched using, for example, a relay circuit or the like.
[0042]
Further, one comparator may be provided for the plurality of light receiving elements and the plurality of amplifiers, and the level of the signal from each amplifier may be determined by the comparator. Switching of signals from a plurality of amplifiers is performed sequentially using, for example, a relay circuit.
[0043]
In the above description, an example in which the comparator 44 is used has been described. However, the present invention can be applied to a case where an A / D conversion circuit is used instead of the comparator 44. In this case, the light receiving signal (digital value) after the A / D conversion is input to the microprocessor 46. The microprocessor 46 regards the input digital value as being a light receiving signal when it is higher than the valid threshold, and does not regard it as a light receiving signal when the input digital value is lower than the valid threshold. This effective threshold value corresponds to the determination threshold value of the comparator 44 described above.
[0044]
In the above description, the Gaussian distribution in which the optical power is maximum at the center of the laser beam and decreases as approaching the periphery of the beam has been described as an example. The present invention can be applied to detection of the center of a beam having a TEM10 mode distribution, for example, in addition to such a distribution.
[0045]
Correspondence between each component in the claims and each component in the embodiment of the invention will be described. For example, the level measurement direction 4 corresponds to one direction. The light receiving means is constituted by, for example, the light receiving element unit 31. The sensor array corresponds to a light receiving element group. The determining means is constituted by, for example, the comparator 44. The threshold changing means is constituted by, for example, the microprocessor 46 and the D / A converter 51. The center detecting means is constituted by, for example, a microprocessor 46. Note that each component is not limited to the above configuration as long as the characteristic functions of the present invention are not impaired.
[0046]
【The invention's effect】
The beam center detecting device according to the present invention can correctly detect the center of a light (laser) beam even when the beam spreads.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a displacement measurement system using a beam center detection device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an enlarged view of the beam center detecting device when the beam spread is not large.
FIG. 3 is a block diagram of a beam center detection device.
FIG. 4 is a diagram illustrating a relationship between a light receiving element group of a light receiving element unit, an output signal distribution curve of an amplifier, and a determination threshold of a comparator.
FIG. 5 is an enlarged view of the beam center detecting device when the beam spread is large.
FIG. 6 is a diagram illustrating a relationship between a light receiving element group of a light receiving element unit, an output signal distribution curve of an amplifier, and a determination threshold of a comparator.
FIG. 7 is a diagram illustrating a relationship between a light receiving element group of a light receiving element unit, an output signal distribution curve of an amplifier, and a determination threshold of a comparator.
FIG. 8 is a flowchart illustrating a flow of a process of calculating a beam center.
[Explanation of symbols]
1 ... rotating laser level, 2 ... plane of light,
3 ... beam center detection device 4 ... level measurement direction
11 (11A, 11B): trajectory of the beam,
31 ... light receiving element part 32 ... measurement result display part
44: comparator, 46: microprocessor,
51 ... D / A converter

Claims (2)

光ビームの中心を検出するビーム中心検出装置において、
一方向に複数のセンサが配列されたセンサ列を有する受光手段と、
前記複数のセンサに対応して前記受光手段からそれぞれ出力される受光信号が判定閾値以上か否かを判定する判定手段と、
少なくとも前記センサ列の両端に位置する2つのセンサに対応する2つの受光信号が前記判定閾値未満に、前記両端に位置する2つのセンサを除く他のセンサに対応する受光信号の少なくとも1つが前記判定閾値以上に、それぞれ前記判定手段で判定されるように前記判定閾値を変更する閾値変更手段と、
前記判定手段によって前記判定閾値以上が判定された受光信号に対応するセンサの配列位置に基づいて前記中心を検出する中心検出手段とを備えることを特徴とするビーム中心検出装置。
In a beam center detection device that detects the center of a light beam,
Light receiving means having a sensor row in which a plurality of sensors are arranged in one direction,
Determining means for determining whether or not the light receiving signals respectively output from the light receiving means corresponding to the plurality of sensors are equal to or greater than a determination threshold;
At least two light receiving signals corresponding to two sensors located at both ends of the sensor array are less than the determination threshold, and at least one of light receiving signals corresponding to other sensors except the two sensors located at the both ends is determined. A threshold changing unit that changes the determination threshold so as to be determined by the determination unit,
A beam center detection device, comprising: a center detection unit that detects the center based on an arrangement position of a sensor corresponding to a light reception signal for which a value equal to or greater than the determination threshold is determined by the determination unit.
請求項1に記載のビーム中心検出装置において、
前記判定手段は、比較回路で構成され、
前記閾値変更手段は、前記比較回路の比較基準信号レベルを変えることを特徴とするビーム中心検出装置。
The beam center detection device according to claim 1,
The determination means includes a comparison circuit,
The beam center detecting device, wherein the threshold value changing means changes a comparison reference signal level of the comparison circuit.
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