JP2004264270A - 平板測量装置 - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は平板測量装置に係り、一般測量とくに遺跡測量において好適な測量方法、測量装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般的な平板測量及び遺跡平板測量においては、平板上に置いたアリダードで測量地点の方位角を測定しなおかつ平板下部の基準点から測定点までの距離をメジャーで測定し、その数値を図化縮尺の数値に変換して平板上のアリダードの角度に合わせた定規で平板上に図示する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
平板測量を行う場合、地上や遺跡部分には必ず高低があり、旧来の方法では人間がメジャーを持って高低のある所を移動しながら平板下部の基準点と測定点の距離を測定する必要があり、またその距離の数値を必要縮尺に換算して平板上に図示しなければならない。また地上に高低があるにも関らず距離測定用のメジャーは必ず基準点と測定点上で水平かつ直線に保持しなければならない。
【0004】
本発明は、上記した従来の問題を鑑み、地上の輪郭や起伏の測定をメジャーを使用せず任意の縮尺の図面を自由に作成出来る平板測量装置を提供する事をその目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、平板測量装置下部にレーザー式水準装置を置きレーザー光線による水平面を作成し、高低のある現地測定点を垂直にレーザー面上に変換し、その交点を平板上の照準装置で測定する事により平板上に任意の縮尺の図面が描ける様にした事を特徴としている。
【0006】
【発明の実施の例】
図1は本発明の平板測量装置の一実施例を示す外観斜図である。図2は側面図である。1は平板である。7は平板上に置かれた紙。のぞき穴を有した照準装置2を通して平板上を自由に移動できる。照準装置3の目盛P4を現地測定点Pをレーザー水平面9上に垂直に移動した交点P1に合わせて測定する事により図2の三角形(LS)と三角形L 1l1(S2)は相似三角形になる。これにより照準装置上の点P3を垂直に平板上に変換する事により
に示した望遠鏡式スコープ等に置き換えた装置も含む。
【0007】
【発明の効果】
本発明の測定方法によれば、平板下部基準点と測定点間をメジャー等で測定せずに済み、その2点間の距離を平板上で縮尺に換算して図示する手間が省けるので作業能率が飛躍的に向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の平板装置を具現した一実施例を示す外観斜視図である。
【図2】同平板装置の側面図である。
【図3】本発明の平板装置を具現した一実施例を示す外観斜視図である。
【符号の説明】
1 平板装置
2 照準装置
3 照準装置
4 ポール
8 レーザー式水準装置
P 現地測定点
【産業上の利用分野】
本発明は平板測量装置に係り、一般測量とくに遺跡測量において好適な測量方法、測量装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般的な平板測量及び遺跡平板測量においては、平板上に置いたアリダードで測量地点の方位角を測定しなおかつ平板下部の基準点から測定点までの距離をメジャーで測定し、その数値を図化縮尺の数値に変換して平板上のアリダードの角度に合わせた定規で平板上に図示する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
平板測量を行う場合、地上や遺跡部分には必ず高低があり、旧来の方法では人間がメジャーを持って高低のある所を移動しながら平板下部の基準点と測定点の距離を測定する必要があり、またその距離の数値を必要縮尺に換算して平板上に図示しなければならない。また地上に高低があるにも関らず距離測定用のメジャーは必ず基準点と測定点上で水平かつ直線に保持しなければならない。
【0004】
本発明は、上記した従来の問題を鑑み、地上の輪郭や起伏の測定をメジャーを使用せず任意の縮尺の図面を自由に作成出来る平板測量装置を提供する事をその目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、平板測量装置下部にレーザー式水準装置を置きレーザー光線による水平面を作成し、高低のある現地測定点を垂直にレーザー面上に変換し、その交点を平板上の照準装置で測定する事により平板上に任意の縮尺の図面が描ける様にした事を特徴としている。
【0006】
【発明の実施の例】
図1は本発明の平板測量装置の一実施例を示す外観斜図である。図2は側面図である。1は平板である。7は平板上に置かれた紙。のぞき穴を有した照準装置2を通して平板上を自由に移動できる。照準装置3の目盛P4を現地測定点Pをレーザー水平面9上に垂直に移動した交点P1に合わせて測定する事により図2の三角形(LS)と三角形L 1l1(S2)は相似三角形になる。これにより照準装置上の点P3を垂直に平板上に変換する事により
に示した望遠鏡式スコープ等に置き換えた装置も含む。
【0007】
【発明の効果】
本発明の測定方法によれば、平板下部基準点と測定点間をメジャー等で測定せずに済み、その2点間の距離を平板上で縮尺に換算して図示する手間が省けるので作業能率が飛躍的に向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の平板装置を具現した一実施例を示す外観斜視図である。
【図2】同平板装置の側面図である。
【図3】本発明の平板装置を具現した一実施例を示す外観斜視図である。
【符号の説明】
1 平板装置
2 照準装置
3 照準装置
4 ポール
8 レーザー式水準装置
P 現地測定点
Claims (3)
- レーザー式水準装置と平板装置とその平板上に照準装置を有し、その照準装置で表示された現場真上の点を測定する事により平板上に現地の縮尺図面が図化出来る様にした事を特徴とする測量方法。
- レーザー式水準装置と平板装置とその平板上に照準装置を有し、その照準装置でレーザー式水準装置で表示された現場真上の点を測定する事により平板上に現地の縮尺図面が図化出来る様にした事を特徴とする平板測量装置。
- レーザー水平面に表示された現地測点を平板上で測定する照準装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003100896A JP2004264270A (ja) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | 平板測量装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003100896A JP2004264270A (ja) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | 平板測量装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004264270A true JP2004264270A (ja) | 2004-09-24 |
Family
ID=33127642
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003100896A Pending JP2004264270A (ja) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | 平板測量装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004264270A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101291451B1 (ko) * | 2012-02-24 | 2013-07-30 | (주)한미글로벌건축사사무소 | 반사장치를 구비한 수준측량용 스타프 |
CN117329946A (zh) * | 2023-11-28 | 2024-01-02 | 中建八局第一建设有限公司 | 一种适用于房屋建筑工程的板件尺寸计量装置 |
-
2003
- 2003-02-28 JP JP2003100896A patent/JP2004264270A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101291451B1 (ko) * | 2012-02-24 | 2013-07-30 | (주)한미글로벌건축사사무소 | 반사장치를 구비한 수준측량용 스타프 |
CN117329946A (zh) * | 2023-11-28 | 2024-01-02 | 中建八局第一建设有限公司 | 一种适用于房屋建筑工程的板件尺寸计量装置 |
CN117329946B (zh) * | 2023-11-28 | 2024-02-09 | 中建八局第一建设有限公司 | 一种适用于房屋建筑工程的板件尺寸计量装置 |
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