【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はレーザプリンタ等に用いられる光走査装置に係る。
【０００２】
【従来の技術】
図１１、図１２は、従来の半導体レーザ等の光源ホルダの一例を示す。図１１において、半導体レーザ２５が固定され、コリメートレンズ４１は半導体レーザ２５から射出されるレーザビームを通過させる筒状のレンズ保持体６５内に進退自在に配置されている。半導体レーザ２５に対するコリメートレンズ４１の位置決めを行ったら、接着剤流動溝６６から接着剤を注入しレンズ保持体６５内でコリメートレンズ４１を固定することで、半導体レーザ２５に対するコリメートレンズ４１の位置決めが完了する（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
図１２において、半導体レーザから出力されるレーザビームをコリメートレンズの光軸と一致させる調整と半導体レーザとコリメートレンズの間隔の調整とを簡単に行うものである。構成はコリメートレンズユニット９１にコリメートレンズ４１が固定されており、半導体レーザ２５を光軸方向に調整自在に配置されたＬＤ取付部材８１が、光軸と垂直な平面内で調整自在な状態でこのコリメートレンズユニット９１に取りつけている。この調整でレーザビームを光軸と一致させ、半導体レーザ２５とコリメートレンズ４１の間隔調整は、半導体レーザ２５と間隔部材９６を介して接触する調整ネジ８６を進退させることによって行うようになっている。
【０００４】
図３はさらに他の例を示す。図３において、半導体レーザなどの光源１は、半導体レーザ固定ネジ４によって半導体レーザホルダ３へ固定される。半導体レーザホルダ３には、通すネジの軸より十分大きい穴２があけてある。
【０００５】
図４は、従来の半導体レーザホルダとコリメータレンズホルダを示す図である。半導体レーザホルダ固定ネジ７は半導体レーザホルダ３の穴２をとおりコリメータレンズ１０を固定しているコリメータレンズホルダ５のねじ穴６へ入り、半導体レーザホルダ３とコリメータレンズホルダ５を一体化させる。この時半導体レーザホルダ３の穴２は大きいので光軸に垂直な平面内で自由にコリメータレンズホルダ５と半導体レーザホルダ３の位置を変化させ固定することができる。
【０００６】
図５は、走査光学系の走査方向のレンズ構成例を示す図である。半導体レーザなどの光源１から光束は発生し、コリメータレンズ１０で平行光にされる。このあと光束はシリンドリカルレンズ１１、球面レンズ１２を通って光偏向手段１３上へ導かれる。光偏向手段１３で偏向走査された光束はＦθレンズ１４を通って被走査媒体１５へ結像する。なお、シリンドリカルレンズ１１へ入る光束はシリンドリカルレンズ１１と球面レンズ１２によって、平行なビームを、幅の異なる平行なビームに変化させられる。そのため、コリメータレンズ１０の焦点距離をａ、シリンドリカルレンズ１１の焦点距離をｂ、球面レンズ１２の焦点距離をｃとしたときに、半導体レーザなどの光源１とコリメータレンズ１０の距離をａ、シリンドリカルレンズ１１と球面レンズ１２の距離をｂ＋ｃ、球面レンズ１２と光偏向手段１３の距離をｃとしている。
【０００７】
図６は走査光学系の副走査方向の構成例を示す図である。半導体レーザなどの光源１から光束は発生し、コリメータレンズ１０を通り、シリンドリカルレンズ１１を通過し、球面レンズ１２で光偏向手段１３に絞り込まれる。その後偏向走査された光束は、Ｆθレンズ１４によって、被走査媒体１５へ結像される。Ｆθレンズ１４は、光偏向手段１３の所定の場所へ所定の入射角度で導かれた場合に、走査全域にわたり小さなスポット径で走査できるような特性になっている。よって、半導体レーザなどの光源１から発生し、コリメータレンズ１０、シリンドリカルレンズ１１、球面レンズ１２を通ってくる光束を正確に目標の位置へ所定の入射角度で導く必要がある。図７はこれを示した図である。図７の直線１７と直線１８の交点へ所定の入射角度で到達させることが、Ｆθレンズ１４で、走査全域にわたり小さなスポット径で走査できるために必要なことである。所定の入射角度とは、Ｆθレンズによる走査の中央の光束と半導体レーザから光偏向手段の並びのなす角度である。
【０００８】
従来は、光偏向手段１３の所定の場所へ所定の入射角度で導くように、図３、図４のような構造で半導体レーザなどの光源１とコリメータレンズ１０の走査方向、副走査方向の位置を調整していた。
【特許文献１】
実開昭５９−１５１２０７号公報
【特許文献２】
特開平５−２９７３０３号公報
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
コリメータレンズ１０の焦点距離をａ、シリンドリカルレンズ１１の焦点距離をｂ、球面レンズ１２の焦点距離をｃ、光偏向手段１３の所定の場所の許容範囲を±ｄ、所定の入射角度とのずれの許容範囲を±θとする。このとき、半導体レーザなどの光源１の走査方向の許容範囲は（ａ＊ｃ＊ｔａｎθ）／ｂ、副走査方向の許容範囲はａｄ／ｃとなる。
【００１０】
例えばａ＝５ｍｍ、ｂ＝３０ｍｍ、ｃ＝１２０ｍｍ、ｄ＝±０．２ｍｍ、θ＝±０．０９５４９度とすると、半導体レーザなどの光源１の走査方向の許容調整範囲は±０．０３３ｍｍ、副走査方向の許容調整範囲は±０．００８３ｍｍとなる。この場合、特に副走査方向の調整範囲が小さいため調整が困難である。この調整が適正にできない場合、Ｆθレンズ１４で走査全域にわたり、小さなスポット径で走査できなくなってしまうので問題であった。また、半導体レーザなどの光源１とコリメータレンズ１０を保持、調整するための部品点数が多いため、調整後の温度変化や振動などで、半導体レーザなどの光源１とコリメータレンズ１０の位置関係がずれてしまう問題もあった。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記の課題は、光源と、前記光源からの光束をコリメートする結像レンズ系と、前記結像レンズ系から出射した光束の幅を変化させる機能を有しかつ少なくとも１枚の球面レンズを含む、もしくは、走査方向に曲率を有するレンズと、副走査方向に曲率を有するレンズを含む整形レンズ系と、前記整形レンズ系から出射した光束を偏向走査する光偏向手段と、前記光偏向手段によって偏向された光束を被走査媒体に結像させる走査レンズ系とを備えた光走査装置において、
前記光源と結像レンズ系は、光束の進行方向に調整可能とし、かつ整形レンズ系に含まれる少なくとも１つの球面レンズを、走査方向と副走査方向の２つの方向へ、もしくは、整形レンズ系に含まれる少なくとも１つの走査方向に曲率を有するレンズを走査方向へ、少なくとも１つの副走査方向に曲率を有するレンズを副走査方向へ調整可能にすることによって解決される。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下本発明を、実施例によって説明する。図１は本発明の全体図を示す。半導体レーザなどの光源１から発生した光束は、結像レンズ系であるコリメータレンズ１０で光束を平行光にされ、光束を整形し、かつ、光偏向手段１３へ導くための整形レンズ系であるシリンドリカルレンズ１１、球面レンズ１２をとおり、光偏向手段１３へ導かれる。このあと光偏向手段１３で偏向された光束は、被走査媒体１５の上に結像させる走査レンズ系であるＦθレンズ１４で、被走査媒体１５の上に結像される。このとき、整形レンズのひとつである球面レンズ１２を図２に示すような、走査方向、副走査方向へ調整できるレンズホルダ２２に実装する。レンズホルダ２２の内側には２つの押し付けバネ２１があり、これで球面レンズ１２を押し付け、また、ネジ２０でバネの反対方向から球面レンズ１２を押し付ける量を変化させることで走査方向、副走査方向への調整が可能である。コリメータレンズ１０の焦点距離をａ、シリンドリカルレンズ１１の焦点距離をｂ、球面レンズ１２の焦点距離をｃ光偏向手段１３の所定の場所の許容範囲を±ｄ、所定の入射角度とのずれの許容範囲を±θとする。このとき、球面レンズ１２の走査方向の許容範囲は±ｃ＊ｔａｎθ、副走査方向の許容範囲は±ｄとなる。例えばａ＝５ｍｍ、ｂ＝３０ｍｍ、ｃ＝１２０ｍｍ、ｄ＝±０．２ｍｍ、θ＝±０．０９５４９度とすると、球面レンズ１２の許容範囲は走査方向、副走査方向とも±０．２ｍｍとなる。走査方向は従来の６倍、副走査方向は従来の２４倍の許容範囲となる。よって、従来よりも許容調整範囲が広くなるため調整しやすい光走査装置となるので好ましい。
【００１３】
走査方向、副走査方向の位置を調整しない場合、半導体レーザなどの光源１とコリメータレンズ１０のずれは機械精度と半導体レーザ等の光源の外形と発光点との位置精度で決定する。機械精度の限界、および半導体レーザ等の光源の外形と発光点の位置精度はそれぞれ約±０．０５ｍｍである。前記のａ＝５ｍｍ、ｂ＝３０ｍｍ、ｃ＝１２０ｍｍ、の光学系の場合、走査方向は０．１＊３０／５から０．６ｍｍ、副走査方向は０．１＊１２０／５から２．４ｍｍ、光偏向手段１３の位置でずれてしまうことになる。この場合、許容量ｄおよびｃ＊ｔａｎθは±０．２ｍｍなので、スポット径が絞れないなどの影響が出る見込みである。本発明によれば、球面レンズ１２を走査方向に０．６ｍｍ、副走査方向に２．４ｍｍ調整すれば良いので、光束は光偏向手段１３の位置の最適な範囲に移動させることができる。
【００１４】
また本発明では、半導体レーザなどの光源１と、コリメータレンズ１０の走査方向、副走査方向の調整が不要となるため、光源部の部品点数を少なくできる。図８にその実施例を示す。従来は半導体レーザなどの光源ホルダ３とコリメータレンズホルダ５は２つの部品からなっていたが、本発明の場合光源ユニット２３として一体化できる。半導体レーザなどの光源１はネジ２０で、光源ユニット２３へ固定され、また、コリメータレンズ１０は光束の進行方向へ調整可能であり、ネジ２０で固定できる構造としている。これにより、従来問題となっていた、調整後の温度変化や振動などで、半導体レーザなどの光源１とコリメータレンズ１０の位置関係がずれてしまうという現象も小さくすることができる。
【００１５】
図９、図１０は、本発明の他の構成の光学系他への実施例を示す。図９が走査方向の図で、図１０が副走査方向の図である。この場合、３つのシリンドリカルレンズ３０、３１、３２からなる整形レンズ系を用いている。この場合、まず、走査方向に曲率を有する、シリンドリカルレンズ３０もしくはシリンドリカルレンズ３１の少なくとも１つを走査方向に調整、固定可能な構成とすれば良い。具体的には図２のような構成で、副走査方向調整機構を取り除いたもので良い。その他、副走査方向に曲率を有する、シリンドリカルレンズ３２を副走査方向に調整、固定可能な構成とすれば良い。具体的には図２のような構成で、走査方向調整機構を取り除いたもので良い。
【００１６】
【発明の効果】
以上説明した様に、本発明によれば、従来と異なり光軸調整感度の高いコリメータレンズを用いずに別の光軸調整感度の低いレンズを用いて光軸を調整するため、従来よりも短時間で高精度に光学系の調整を済ませることができる。また、半導体レーザなどの光源の光軸調整機構が不要であり、部品点数を減らすことができる。これによって、従来問題となっていた調整後の温度変化や振動などで、半導体レーザなどの光源とコリメータレンズの位置関係がずれるという現象も小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態にかかる光走査装置の全体図である。
【図２】レンズの調整機構を示す図である。
【図３】従来の半導体レーザ等の光源のホルダを示す図である。
【図４】従来の半導体レーザ等の光源のホルダとコリメータレンズホルダを示す図である。
【図５】走査方向の光学系構成の例を示す図である。
【図６】副走査方向の光学系構成の例を示す図である。
【図７】光偏向手段の所定の場所を示す図である。
【図８】本発明の光源とコリメータレンズの固定方法を示す図である。
【図９】走査方向の光学系構成の他の例を示す図である。
【図１０】副走査方向の光学系構成の他の例を示す図である。
【図１１】従来の半導体レーザ等の光源のホルダを示す図である。
【図１２】従来の半導体レーザ等の光源のホルダを示す図である。
【符号の説明】
１ 半導体レーザなどの光源
２ 穴
３ 半導体レーザなどの光源ホルダ
４ 半導体レーザなどの光源を固定するネジ
５ コリメータレンズホルダ
６ ネジ穴
７ 半導体レーザホルダ固定ネジ
１０ コリメータレンズ
１１，３０，３１，３２ シリンドリカルレンズ
１２ 球面レンズ
１３ 光偏向手段
１４ Ｆθレンズ
１５ 被走査媒体
１６ 調整機構
１７，１８ 直線
２０ ネジ
２１ おしつけバネ
２２ レンズホルダ
２３ 光源ユニット[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical scanning device used for a laser printer or the like.
[0002]
[Prior art]
11 and 12 show an example of a conventional light source holder for a semiconductor laser or the like. In FIG. 11, the semiconductor laser 25 is fixed, and the collimator lens 41 is disposed movably in a cylindrical lens holder 65 that allows a laser beam emitted from the semiconductor laser 25 to pass therethrough. After the positioning of the collimator lens 41 with respect to the semiconductor laser 25, the adhesive is injected from the adhesive flow groove 66 and the collimator lens 41 is fixed in the lens holder 65, whereby the positioning of the collimator lens 41 with respect to the semiconductor laser 25 is completed. (For example, see Patent Document 1).
[0003]
In FIG. 12, the adjustment for making the laser beam output from the semiconductor laser coincide with the optical axis of the collimator lens and the adjustment of the interval between the semiconductor laser and the collimator lens are simply performed. The configuration is such that the collimating lens 41 is fixed to the collimating lens unit 91, and the LD mounting member 81 in which the semiconductor laser 25 is adjustable in the optical axis direction is adjustable in a plane perpendicular to the optical axis. It is attached to the collimating lens unit 91. With this adjustment, the laser beam is made to coincide with the optical axis, and the distance between the semiconductor laser 25 and the collimating lens 41 is adjusted by moving the adjusting screw 86 that comes into contact with the semiconductor laser 25 via the distance member 96. .
[0004]
FIG. 3 shows still another example. In FIG. 3, a light source 1 such as a semiconductor laser is fixed to a semiconductor laser holder 3 by a semiconductor laser fixing screw 4. The semiconductor laser holder 3 has a hole 2 that is sufficiently larger than the axis of the screw to be passed.
[0005]
FIG. 4 is a diagram showing a conventional semiconductor laser holder and a collimator lens holder. The semiconductor laser holder fixing screw 7 passes through the hole 2 of the semiconductor laser holder 3 and enters the screw hole 6 of the collimator lens holder 5 that fixes the collimator lens 10, and integrates the semiconductor laser holder 3 and the collimator lens holder 5. At this time, since the hole 2 of the semiconductor laser holder 3 is large, the positions of the collimator lens holder 5 and the semiconductor laser holder 3 can be freely changed and fixed in a plane perpendicular to the optical axis.
[0006]
FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a lens configuration in the scanning direction of the scanning optical system. A light beam is generated from a light source 1 such as a semiconductor laser, and is collimated by a collimator lens 10. Thereafter, the light beam is guided to the light deflecting means 13 through the cylindrical lens 11 and the spherical lens 12. The light beam deflected and scanned by the light deflecting means 13 forms an image on the medium to be scanned 15 through the Fθ lens 14. The light beam entering the cylindrical lens 11 is changed from parallel beams into parallel beams having different widths by the cylindrical lens 11 and the spherical lens 12. Therefore, when the focal length of the collimator lens 10 is a, the focal length of the cylindrical lens 11 is b, and the focal length of the spherical lens 12 is c, the distance between the light source 1 such as a semiconductor laser and the collimator lens 10 is a, and the cylindrical lens The distance between 11 and the spherical lens 12 is b + c, and the distance between the spherical lens 12 and the light deflecting means 13 is c.
[0007]
FIG. 6 is a diagram showing a configuration example of the scanning optical system in the sub-scanning direction. A light beam is generated from a light source 1 such as a semiconductor laser, passes through a collimator lens 10, passes through a cylindrical lens 11, and is narrowed down to a light deflecting unit 13 by a spherical lens 12. Thereafter, the light beam deflected and scanned is imaged on the medium to be scanned 15 by the Fθ lens 14. Lens has such characteristics that it can scan with a small spot diameter over the entire scanning area when guided to a predetermined place of the light deflecting means 13 at a predetermined incident angle. Therefore, it is necessary to accurately guide a light beam generated from the light source 1 such as a semiconductor laser and passing through the collimator lens 10, the cylindrical lens 11, and the spherical lens 12 to a target position at a predetermined incident angle. FIG. 7 shows this. It is necessary to reach the intersection of the straight line 17 and the straight line 18 in FIG. 7 at a predetermined incident angle so that the Fθ lens 14 can scan with a small spot diameter over the entire scanning area. The predetermined incident angle is an angle formed by a light beam at the center of scanning by the Fθ lens and an arrangement of light deflecting means from the semiconductor laser.
[0008]
Conventionally, the light source 1 such as a semiconductor laser and the collimator lens 10 in the scanning direction and the sub-scanning direction have a structure as shown in FIGS. Had been adjusted.
[Patent Document 1]
JP-A-59-151207 [Patent Document 2]
JP-A-5-297303
[Problems to be solved by the invention]
The focal length of the collimator lens 10 is a, the focal length of the cylindrical lens 11 is b, the focal length of the spherical lens 12 is c, the allowable range of the predetermined position of the light deflecting means 13 is ± d, and the deviation from the predetermined incident angle is The allowable range is ± θ. At this time, the allowable range in the scanning direction of the light source 1 such as a semiconductor laser is (a * c * tan θ) / b, and the allowable range in the sub-scanning direction is ad / c.
[0010]
For example, if a = 5 mm, b = 30 mm, c = 120 mm, d = ± 0.2 mm, and θ = ± 0.09549 degrees, the allowable adjustment range in the scanning direction of the light source 1 such as a semiconductor laser is ± 0.033 mm, The allowable adjustment range in the scanning direction is ± 0.0083 mm. In this case, adjustment is particularly difficult because the adjustment range in the sub-scanning direction is small. If this adjustment cannot be performed properly, there is a problem in that the Fθ lens 14 cannot scan with a small spot diameter over the entire scanning area. Further, since the number of components for holding and adjusting the light source 1 such as a semiconductor laser and the collimator lens 10 is large, the positional relationship between the light source 1 such as a semiconductor laser and the collimator lens 10 is shifted due to a temperature change or vibration after the adjustment. There was also a problem.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The above problems include a light source, an imaging lens system for collimating a light beam from the light source, and at least one spherical lens having a function of changing a width of a light beam emitted from the imaging lens system, Alternatively, a shaping lens system including a lens having a curvature in the scanning direction, a lens having a curvature in the sub-scanning direction, light deflecting means for deflecting and scanning a light beam emitted from the shaping lens system, and light deflected by the light deflecting means. A scanning lens system for forming an image of the light beam on the medium to be scanned,
The light source and the imaging lens system can be adjusted in a traveling direction of a light beam, and at least one spherical lens included in the shaping lens system can be adjusted in two directions, a scanning direction and a sub-scanning direction, or the shaping lens system. The problem is solved by allowing the included lens having the curvature in the at least one scanning direction to be adjustable in the scanning direction and the lens having the curvature in the at least one sub-scanning direction to be adjustable in the sub-scanning direction.
[0012]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described with reference to examples. FIG. 1 shows an overall view of the present invention. A light beam generated from a light source 1 such as a semiconductor laser is converted into a parallel light by a collimator lens 10 which is an image forming lens system, and a cylindrical lens which is a shaping lens system for shaping the light beam and guiding the light beam to a light deflecting unit 13. The light passes through the lens 11 and the spherical lens 12 and is guided to the light deflecting unit 13. Thereafter, the light beam deflected by the light deflecting means 13 is imaged on the medium to be scanned 15 by an Fθ lens 14 which is a scanning lens system that forms an image on the medium to be scanned 15. At this time, the spherical lens 12, which is one of the shaping lenses, is mounted on a lens holder 22 that can be adjusted in the scanning direction and the sub-scanning direction as shown in FIG. There are two pressing springs 21 inside the lens holder 22, which press the spherical lens 12, and change the amount of pressing the spherical lens 12 from the opposite direction of the spring with the screw 20 to change the scanning direction and the sub-scanning direction. Adjustment to is possible. The focal length of the collimator lens 10 is a, the focal length of the cylindrical lens 11 is b, the focal length of the spherical lens 12 is c, the permissible range of a predetermined location of the light deflecting means 13 is ± d, and the deviation from a predetermined incident angle is permissible. The range is ± θ. At this time, the allowable range of the spherical lens 12 in the scanning direction is ± c * tan θ, and the allowable range in the sub-scanning direction is ± d. For example, if a = 5 mm, b = 30 mm, c = 120 mm, d = ± 0.2 mm, and θ = ± 0.09549 degrees, the allowable range of the spherical lens 12 is ± 0.2 mm in both the scanning direction and the sub-scanning direction. . The scanning direction has an allowable range of 6 times that of the related art, and the sub-scanning direction has an allowable range of 24 times of the existing range. Therefore, the allowable adjustment range is wider than before, and the optical scanning device is easy to adjust, which is preferable.
[0013]
When the positions in the scanning direction and the sub-scanning direction are not adjusted, the displacement between the light source 1 such as a semiconductor laser and the collimator lens 10 is determined by the mechanical accuracy and the positional accuracy between the outer shape of the light source such as the semiconductor laser and the light emitting point. The limit of the mechanical accuracy and the positional accuracy of the outer shape of the light source such as a semiconductor laser and the light emitting point are each approximately ± 0.05 mm. In the case of the optical system of a = 5 mm, b = 30 mm, and c = 120 mm, the scanning direction is 0.1 * 30/5 to 0.6 mm, and the sub-scanning direction is 0.1 * 120/5 to 2.4 mm. Will be shifted at the position of the light deflecting means 13. In this case, since the allowable amounts d and c * tan θ are ± 0.2 mm, it is expected that the spot diameter may not be narrowed. According to the present invention, since the spherical lens 12 may be adjusted by 0.6 mm in the scanning direction and 2.4 mm in the sub-scanning direction, the light beam can be moved to an optimal range of the position of the light deflecting unit 13.
[0014]
Further, according to the present invention, it is not necessary to adjust the light source 1 such as a semiconductor laser and the scanning direction and the sub-scanning direction of the collimator lens 10, so that the number of components of the light source unit can be reduced. FIG. 8 shows the embodiment. Conventionally, the light source holder 3 such as a semiconductor laser and the collimator lens holder 5 are composed of two parts, but in the present invention, they can be integrated as the light source unit 23. The light source 1 such as a semiconductor laser is fixed to the light source unit 23 with a screw 20, and the collimator lens 10 can be adjusted in the traveling direction of the light flux and can be fixed with the screw 20. Thereby, the phenomenon that the positional relationship between the light source 1 such as a semiconductor laser and the collimator lens 10 is shifted due to the temperature change or vibration after the adjustment, which has conventionally been a problem, can be reduced.
[0015]
FIG. 9 and FIG. 10 show an embodiment of the present invention for an optical system having another configuration. FIG. 9 is a diagram in the scanning direction, and FIG. 10 is a diagram in the sub-scanning direction. In this case, a shaping lens system including three cylindrical lenses 30, 31, 32 is used. In this case, first, at least one of the cylindrical lens 30 and the cylindrical lens 31 having a curvature in the scanning direction may be adjusted and fixed in the scanning direction. Specifically, the configuration shown in FIG. 2 may be obtained by removing the sub-scanning direction adjusting mechanism. In addition, the cylindrical lens 32 having a curvature in the sub-scanning direction may be adjusted and fixed in the sub-scanning direction. Specifically, the configuration shown in FIG. 2 may be obtained by removing the scanning direction adjusting mechanism.
[0016]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, unlike the related art, the optical axis is adjusted by using another lens with low optical axis adjustment sensitivity without using a collimator lens with high optical axis adjustment sensitivity. The adjustment of the optical system can be completed with high accuracy in a short time. Further, an optical axis adjusting mechanism of a light source such as a semiconductor laser is not required, and the number of components can be reduced. As a result, it is possible to reduce the problem that the positional relationship between the light source such as the semiconductor laser and the collimator lens is shifted due to the temperature change or the vibration after the adjustment, which has conventionally been a problem.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an overall view of an optical scanning device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a view showing a lens adjustment mechanism.
FIG. 3 is a view showing a conventional holder for a light source such as a semiconductor laser.
FIG. 4 is a diagram showing a conventional holder for a light source such as a semiconductor laser and a collimator lens holder.
FIG. 5 is a diagram illustrating an example of an optical system configuration in a scanning direction.
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of an optical system configuration in a sub-scanning direction.
FIG. 7 is a diagram showing a predetermined position of the light deflecting means.
FIG. 8 is a diagram illustrating a method of fixing a light source and a collimator lens according to the present invention.
FIG. 9 is a diagram illustrating another example of the optical system configuration in the scanning direction.
FIG. 10 is a diagram illustrating another example of the optical system configuration in the sub-scanning direction.
FIG. 11 is a view showing a conventional holder for a light source such as a semiconductor laser.
FIG. 12 is a view showing a conventional holder for a light source such as a semiconductor laser.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light source such as semiconductor laser 2 Hole 3 Light source holder such as semiconductor laser 4 Screw for fixing light source such as semiconductor laser 5 Collimator lens holder 6 Screw hole 7 Semiconductor laser holder fixing screw 10 Collimator lens 11, 30, 31, 32 Cylindrical lens DESCRIPTION OF SYMBOLS 12 Spherical lens 13 Optical deflecting means 14 Fθ lens 15 Scanned medium 16 Adjustment mechanism 17, 18 Straight line 20 Screw 21 Press spring 22 Lens holder 23 Light source unit
