【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば光ディスク装置等のサーボ制御などの制御時に温度ドリフトにより発生する制御オフセットを補正する技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、内蔵素子を駆動制御する機器においては、駆動制御時に内蔵素子から得られた信号を制御用ＩＣの入力信号として、その制御用ＩＣから入力信号に基づいて出力される制御信号を用いて、内蔵素子を駆動制御する際には、制御用ＩＣやその他の素子からの発熱による温度ドリフトによって制御オフセットが発生するため、これらの機器に組み込まれる制御装置としては、その制御オフセットを補正する温度補正機能付き制御装置が広く使用されている。
【０００３】
このような、従来の温度補正機能付き制御装置の一例としては、例えば光ディスク装置において、サーボ制御などの制御時に発生する温度ドリフトに対して温度補正を行うために、この温度補正制御の際に用いるデータとして必要な庫内温度を検出する温度検出手段となる庫内温度センサを備え、例えばサーボ制御の際に温度ドリフトにより発生する制御オフセットを、庫内温度センサにより検出した庫内温度を基に補正する方式の制御装置（例えば、特許文献１を参照）がある。
【０００４】
以上のような温度補正機能付き制御装置を有する従来の光ディスク装置を以下に説明する。
図２は従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。この光ディスク装置では、光ピックアップ２１７内に設けられた信号増幅のためのヘッドアンプＩＣ（以下、ＨＡＩＣと称す）２０１と、ＨＡＩＣ２０１に内蔵された各チャネルのアンプｐｄＡ（Ｖａ）２０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）２０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）２０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）２０５と、サーボ信号を生成するためのサーボ信号生成ＩＣ２０６と、サーボ信号生成ＩＣ２０６に内蔵の演算処理回路２０７と、オフセット補正回路２０８と、光ピックアップ２１７のサーボ制御を行うデジタルシグナルプロセッサ（以下、ＤＳＰと称す）２０９と、サーボ信号生成ＩＣ２０６からのエラー信号をＡ／Ｄ変換して取り込むＤＳＰ２０９に内蔵のＡ／Ｄ変換器２１０と、光ディスク装置の庫内温度検出信号をＡ／Ｄ変換して取り込むＤＳＰ２０９に内蔵のＡ／Ｄ変換器２１１と、サーボ制御を行うためのサーボコア２１２と、オフセット検出を行うためのオフセット検出部２１３と、光ディスク装置の検出温度を保持するためのメモリ２１４と、光ディスク装置の筐体２１５と、光ディスク装置の筐体２１５内の温度を検出するための庫内温度センサ２１６と、情報担体である光ディスクからの反射光を検出する光検出器（図示せず）を備えた光ピックアップ２１７とを有している。
【０００５】
以上のように構成された光ディスク装置について、その動作を以下に説明する。
通常、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６では基準電圧に基づいて出力を後段へ伝送するが、各ＩＣの回路で発生するオフセットにより、光ピックアップ２１７の制御目標がずれ、制御が不安定となる。
【０００６】
そこで、まず初期に、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６の電気的なオフセットを検出してオフセット補正すると共に、オフセット検出時の庫内温度をＤＳＰ２０９のメモリ２１４に保持しておく。
【０００７】
一般的に、半導体デバイスであるＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６には電力損失と熱抵抗があるため、それらの動作時には多量の熱を発生する。このように各ＩＣで発生する熱のために、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６では、各ＩＣで発生したオフセットが、各ＩＣ自体から発生する熱により変動する。このため、ＤＳＰ２０９からのサーボ制御信号により光ピックアップ２１７を制御目標に対して安定に制御するには、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６で発生したオフセットの温度変動分（以下、温度ドリフトと称す）を補正する必要がある。
【０００８】
光ピックアップ２１７で光ディスク等の情報担体からの反射光より検出した信号は、ＨＡＩＣ２０１のアンプｐｄＡ（Ｖａ）２０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）２０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）２０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）２０５のいずれかを経由して、サーボ信号生成ＩＣ２０６の演算処理回路２０７で演算処理した後、ＤＳＰ２０９に内蔵のＡ／Ｄ変換器２１０によりＡ／Ｄ変換してＤＳＰ２０９に取り込む。
【０００９】
この際に、ＨＡＩＣ２０１に内蔵の各アンプ２０２、２０３、２０４、２０５からの出力信号、及びサーボ信号生成ＩＣ２０６に内蔵の演算処理回路２０７からの出力信号に含まれるオフセットが、温度ドリフトにより変動するが、このオフセット変動に対して、光ディスク装置筐体２１５内の庫内温度センサ２１６より得た庫内温度検出信号を、ＤＳＰ２０９に内蔵のＡ／Ｄ変換器２１１によりＡ／Ｄ変換して取り込み、メモリ２１４内に保持している初期にオフセット検出した時の温度との相違を演算して、温度変化が生じた場合は、再びオフセット検出を行うと共に、オフセット補正を行う。
【００１０】
このオフセット補正は、ＤＳＰ２０９によってサーボ信号生成ＩＣ２０６のオフセット補正回路２０８に対して行っているが、庫内温度が変化した場合、その都度、再生または記録制御中に、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生ＩＣ２０６全体のオフセット検出を行う必要がある。
【００１１】
以上のような従来の光ディスク装置の制御方式について、特性図を用いてさらに説明する。
図３は一般的な光ディスク装置に内蔵の駆動制御用ＩＣにおける温度変化と装置の庫内温度変化の関係を示す特性図であり、この特性図により、従来の光ディスク装置における庫内温度変化と各ＩＣの温度変化を示す。なお、図３は、横軸に時間、縦軸に温度を示し、横軸の時間変化に対するＨＡＩＣの温度、サーボ信号生成ＩＣの温度、光ディスク装置庫内の温度変化を示すグラフである。
【００１２】
また、図４は一般的な光ディスク装置に内蔵の駆動制御用ＩＣにおけるオフセットの温度ドリフト特性図であり、この特性図により、従来の光ディスク装置における各ＩＣの温度変化に対するオフセットの温度ドリフトを示す。なお、図４は、横軸に温度、縦軸にオフセットを示し、横軸の温度変化に対するＨＡＩＣのオフセット、サーボ信号生成ＩＣのオフセットの変化を示すグラフである。
【００１３】
図３のグラフが示すように、光ディスク装置庫内温度３０４は、実際にオフセットの温度ドリフトが発生するＨＡＩＣ温度３０２、サーボ信号生成ＩＣ温度３０３と温度が異なる。また図４のグラフに示すように、温度ドリフトに対するＨＡＩＣのオフセット４０２と、温度ドリフトに対するサーボ信号生成ＩＣのオフセット４０３の特性が異なる。
【００１４】
図３及び図４のグラフに示すように、各ＩＣの温度及び各ＩＣのオフセットの温度ドリフトが異なるために、庫内温度センサ２１６で検出した温度だけでオフセット補正を行なおうとした場合、各ＩＣでオフセット補正するためのオフセットの値が求められない。
【００１５】
この問題を解決するために、従来の方式では、光ディスク装置の庫内温度が変化すると、前述のように、再生または記録制御中に、その都度、ＨＡＩＣ２０１及びサーボ信号生成ＩＣ２０６全体のオフセット検出を行い、オフセット補正を行う必要がある。
【００１６】
【特許文献１】
特開平５−６２２２０号（第１頁の請求項１）
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上記のような従来の光ディスク装置では、各ＩＣごとの温度検出を行ってないために、各ＩＣごとの温度が不明であることから、温度変化によるオフセット変動を補正するためには、庫内温度変化を検出して、その都度、各ＩＣ内の回路における全てのオフセット検出を行う必要があり、そのために、温度変化によりオフセットが変動した場合には、そのオフセットを簡易に補正することができないという問題点を有していた。
【００１８】
さらに、装置のスリム化及び高倍速化が進むとレーザ出力の増加、及び温度上昇物の密度が高くなり、庫内温度変化が大きくなることが予測され、このような光ディスク装置では、特に再生から記録への切替え時に頻繁にオフセット検出を繰返して行うようになり、ＤＳＰのサーボ制御上での負荷の増加だけでなく、光ディスク装置のシステム制御上での再生及び記録動作が中断に至る可能性が考えられる。
【００１９】
特に、記録が中断した場合、光ディスクとしてＣＤ−Ｒのライトワンスのメディアでは、ディスクアットワンス（ｄｉｓｃ ａｔ ｏｎｃｅ）やトラックアットワンス（ｔｒａｃｋ ａｔ ｏｎｃｅ）のように、あらかじめ書き込むファイル群を指定する場合は、その記録メディアが使用できなくなってしまうという問題点をも有していた。
【００２０】
この問題の解決のために、温度変化が生じた場合には、その都度、オフセット測定を行わなくても、オフセット補正することができる光ディスク装置が望まれている。
【００２１】
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、温度変化が生じた場合にも、検出温度に応じて容易にオフセットを補正することができる制御装置および光ディスク装置を提供する。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために本発明の請求項１に記載の制御装置は、内蔵素子の駆動制御時に前記内蔵素子から出力される複数の信号を入力信号として、その入力信号に基づいて得られる制御信号により、前記内蔵素子を駆動制御する制御装置において、前記複数の入力信号に基づいて前記制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号生成手段の複数部分の温度を検出する温度検出手段と、前記制御信号生成手段で前記制御信号の生成動作上に発生するオフセットを検出するオフセット検出手段と、前記温度検出手段により検出した各部の温度と前記オフセット検出手段により検出したオフセットとを保持する保持手段と、前記温度検出手段で検出した各部の温度に応じて、前記保持手段で保持したオフセットに基づき、前記制御信号生成手段のオフセットを補正する温度補正機能を有するオフセット補正手段とを備えた構成としたことを特徴とする。
【００２３】
また、本発明の請求項２に記載の制御装置は、請求項１記載の制御装置であって、前記オフセット検出手段によるオフセットの検出時には、前記制御信号生成手段への各入力信号による電位をそれぞれ基準電圧に切替える切替手段を設けた構成としたことを特徴とする。
【００２４】
また、本発明の請求項３に記載の制御装置は、請求項２記載の制御装置であって、前記オフセット検出手段は、そのオフセット検出時に、前記切替手段を前記制御信号生成手段に基準電圧が入力されるように切替えて、前記制御信号生成手段の各部のオフセットを検出するよう構成したことを特徴とする。
【００２５】
また、本発明の請求項４に記載の制御装置は、請求項１から請求項３のいずれかに記載の制御装置であって、前記オフセット補正手段は、前記温度検出手段の検出温度が所定量変化した場合に前記オフセット補正を行うよう構成したことを特徴とする。
【００２６】
また、本発明の請求項５に記載の制御装置は、請求項１から請求項４のいずれかに記載の制御装置であって、内蔵素子は、情報担体に対して光学的に情報を記録再生するために、前記情報担体からの反射光を検出する光検出器を備えた光ピックアップとし、前記制御信号生成手段は、前記光検出器の出力を基に前記光ピックアップを駆動制御するための制御信号を生成するよう構成したことを特徴とする。
【００２７】
また、本発明の請求項６に記載の光ディスク装置は、情報担体に光ビームを照射する光ピックアップの駆動制御時に、前記光ピックアップに設けられた光検出器により前記情報担体からの反射光を検出し、その反射光を基に前記光ピックアップから出力される複数の信号を入力信号として、その入力信号に基づいて得られる制御信号により、前記光ピックアップを駆動制御しつつ、情報担体に対して、光学的に情報を記録再生する光ディスク装置であって、前記複数の入力信号に基づいて前記光ピックアップを駆動制御するための制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号生成手段の複数部分の温度を検出する温度検出手段と、前記制御信号生成手段で前記制御信号の生成動作上に発生するオフセットを検出するオフセット検出手段と、前記温度検出手段により検出した各部の温度と前記オフセット検出手段により検出したオフセットとを保持する保持手段と、前記温度検出手段で検出した各部の温度に応じて、前記保持手段で保持したオフセットに基づき、前記制御信号生成手段のオフセットを補正する温度補正機能を有するオフセット補正手段とを備えた構成としたことを特徴とする。
【００２８】
また、本発明の請求項７に記載の光ディスク装置は、請求項６記載の光ディスク装置であって、前記オフセット検出手段によるオフセットの検出時には、前記制御信号生成手段への各入力信号による電位をそれぞれ基準電圧に切替える切替手段を設けた構成としたことを特徴とする。
【００２９】
また、本発明の請求項８に記載の光ディスク装置は、請求項７記載の光ディスク装置であって、前記オフセット検出手段は、そのオフセット検出時に、前記切替手段を前記制御信号生成手段に基準電圧が入力されるように切替えて、前記制御信号生成手段の各部のオフセットを検出するよう構成したことを特徴とする。
【００３０】
また、本発明の請求項９に記載の光ディスク装置は、請求項６から請求項８のいずれかに記載の光ディスク装置であって、前記オフセット補正手段は、前記温度検出手段の検出温度が所定量変化した場合に前記オフセット補正を行うよう構成したことを特徴とする。
【００３１】
以上により、各ＩＣに配設した温度センサにより各ＩＣの温度変化を常時検出し、各ＩＣの各温度によるオフセット値を保持手段に保持することにより、各ＩＣの温度検出結果に含まれる各ＩＣのオフセットの温度ドリフト分を、保持手段に保持したオフセット値で補正することができる。
【００３２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を示す制御装置および光ディスク装置について、図面を参照しながら具体的に説明する。
（実施の形態１）
本発明の実施の形態１の制御装置および光ディスク装置を説明する。
【００３３】
図１は本実施の形態１の制御装置により駆動制御される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。この光ディスク装置では、光ピックアップ１２２内に設けられた信号増幅のためのＨＡＩＣ１０１と、ＨＡＩＣ１０１に内蔵された各チャネルのアンプｐｄＡ（Ｖａ）１０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）１０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）１０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）１０５と、ＨＡＩＣ１０１内の温度検出を行うための温度センサ１０６と、サーボ信号を生成するためのサーボ信号生成ＩＣ１０７と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵され各入力信号を基準電圧に切替え可能な各スイッチ１０８〜１１１と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵の基準電圧（Ｖｒｅｆ）１１２と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵の演算処理回路１１３と、サーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出を行うための温度センサ１１４と、光ピックアップ１２２のサーボ制御を行うＤＳＰ１１５と、サーボ信号生成ＩＣ１０７からのエラー信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１６と、温度センサ１１４からのサーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１７と、温度センサ１０６からのＨＡＩＣ１０１内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１８と、Ａ／Ｄ変換した各ＩＣの検出温度及びオフセット値を保持するためのメモリ１１９と、サーボ制御を行うためのサーボコア１２０と、オフセット検出及び補正を行うためのオフセット検出・補正部１２１とを有している。
【００３４】
以上のように構成された光ディスク装置において、ＨＡＩＣ１０１及びサーボ信号生成ＩＣ１０７の各温度で変動する既知のオフセットの代表値を、ＤＳＰ１１５内のメモリ１１９にデジタル値として扱えるように、オフセット値のテーブル（以下、単に「テーブル」と記す）として保持している。このテーブルは、各ＩＣ１０１、１０７の温度とオフセット値をマトリックス状でメモリ１１９に保持しており、各ＩＣ１０１、１０７の温度検出結果からテーブルのオフセット値を用いて、ＤＳＰ１１５にてオフセット補正を行う。
【００３５】
図３はＩＣの温度変化と庫内温度変化の関係を示す特性図であり、図４はオフセットと温度ドリフトの関係を示す特性図であり、図３のグラフに示すような各ＩＣの異なる温度上昇特性と、図４のグラフに示すような各ＩＣ毎のオフセットの温度ドリフトとが存在する。
【００３６】
ＤＳＰ１１５では、各ＩＣ１０１、１０７内の各温度センサ１０６、１１４で常に各ＩＣ１０１、１０７の温度検出を行い、得られた各温度検出値に対応してメモリ１１９内のテーブルの各オフセット値を用いて、ＤＳＰ１１５内で一括して制御オフセットを補正する構成とする。ここで検出した各ＩＣ１０１、１０７の温度と初期にオフセット検出した時の各ＩＣ１０１、１０７の温度が異なる場合、メモリ１１９内のテーブルから各ＩＣ１０１、１０７の温度に応じた各オフセット値を読み出して、これらのオフセット値を用いて制御オフセットを補正するための演算処理を実行する。
【００３７】
以上のようにして、各ＩＣの温度とオフセット値をメモリに保持することにより、各ＩＣの温度検出結果から各ＩＣのオフセットの温度ドリフト分をメモリに保持した値で補正可能となり、温度変化が生じた場合に、その都度再生または記録制御中にオフセット検出することなく各ＩＣの温度検出を行うだけで、演算したテーブルからのオフセット値を用い、温度検出結果のみからＤＳＰのオフセット補正部でオフセット補正が可能な光ディスク装置を実現することができる。
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２の制御装置および光ディスク装置を説明する。
【００３８】
本実施の形態２の制御装置により駆動制御される光ディスク装置では、図１に示す実施の形態１の光ディスク装置と同様に、光ピックアップ１２２内に設けられた信号増幅のためのＨＡＩＣ１０１と、ＨＡＩＣ１０１に内蔵された各チャネルのアンプｐｄＡ（Ｖａ）１０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）１０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）１０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）１０５と、ＨＡＩＣ１０１内の温度検出を行うための温度センサ１０６と、サーボ信号を生成するためのサーボ信号生成ＩＣ１０７と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵され各入力信号を基準電圧に切替え可能な各スイッチ１０８〜１１１と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵の基準電圧（Ｖｒｅｆ）１１２と、サーボ信号生成ＩＣ１０７に内蔵の演算処理回路１１３と、サーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出を行うための温度センサ１１４と、光ピックアップ１２２のサーボ制御を行うＤＳＰ１１５と、サーボ信号生成ＩＣ１０７からのエラー信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１６と、温度センサ１１４からのサーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１７と、温度センサ１０６からのＨＡＩＣ１０１内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５に取り込むＤＳＰ内蔵のＡ／Ｄ変換器１１８と、Ａ／Ｄ変換した各ＩＣの検出温度及びオフセット値を保持するためのメモリ１１９と、サーボ制御を行うためのサーボコア１２０と、オフセット検出及び補正を行うためのオフセット検出・補正部１２１とを有している。
【００３９】
以上のように構成された光ディスク装置において、ＨＡＩＣ１０１及びサーボ信号生成ＩＣ１０７の各温度で変動する既知のオフセット値を、デジタル値として扱えるように、ＤＳＰ１１５内のメモリ１１９にオフセット値のテーブルとして保持しているが、本実施の形態２においては、まず、初期にＨＡＩＣ１０１及びサーボ信号生成ＩＣ１０７全体のオフセット検出を行い得られたオフセット値と、各ＩＣの温度をＡ／Ｄ変換した値とを、ＤＳＰ１１５のメモリ１１９に保持する。この時のオフセット値をＡ、ＨＡＩＣ１０１の温度をＢ、サーボ信号生成ＩＣ１０７の温度をＣとする。
【００４０】
次に、サーボ信号生成ＩＣ１０７内のスイッチ１０８〜１１１を基準電圧１１２側に切替え、サーボ信号生成ＩＣ１０７のみのオフセットを検出してＡ／Ｄ変換してＤＳＰ１１５のメモリ１１９に保持して、このオフセット値をＤとする。また、初期のオフセット検出で保持したオフセット値Ａからオフセット値Ｄを差し引いたオフセット値をＥとして、各ＩＣのオフセットの求め方を以下に示す。
Ｅ＝Ａ−Ｄ
ただし
Ａ＝（ＨＡＩＣのオフセット）＋（サーボ信号生成ＩＣのオフセット）
Ｄ＝（サーボ信号生成ＩＣのオフセット）
であるので、
Ｅ＝（ＨＡＩＣのオフセット）
Ｂ＝ＨＡＩＣの温度
Ｃ＝サーボ信号生成ＩＣの温度
ＢとＥを一対でメモリ１１９に保持する。また、ＣとＤを一対でメモリ１１９に保持する。
【００４１】
以上の演算結果で得られたオフセット値ＥがＨＡＩＣ１０１のみのオフセット値となり、ＨＡＩＣ１０１の温度Ｂと一対でＤＳＰ１１５のメモリ１１９に保持する。同様に、オフセット値Ｄがサーボ生成信号ＩＣ１０７のみのオフセット値であり、オフセット値Ｄとオフセット検出時に得られたサーボ信号生成ＩＣ１０７の温度Ｃと一対でＤＳＰ１１５のメモリ１１９に保持する。
【００４２】
メモリ１１９に保持するデータは、オフセット検出時の各ＩＣの温度とオフセット値を一対で保持していくために、実施の形態１の場合に対してはメモリ容量を削減することが可能である。
【００４３】
実施の形態１の場合においては、メモリ１１９に保持したデータは、温度とオフセット値をマトリックス状に保持しているために、次に示すようなデータ量となる。オフセットの温度範囲を０度〜１００度までとして、温度１度毎にメモリにオフセット値を保持した場合、ＨＡＩＣ１０１のメモリ１１９に保持するデータ量は、０度〜１００度＝１００となる。ＨＡＩＣ１０１のメモリ１１９に保持した１００のデータに対して、サーボ信号生成ＩＣ１０７の０度〜１００度までのオフセット値のデータをメモリ１１９に保持するために、２つのＩＣの総データ量は、１００×１００＝１００００となる。
【００４４】
このデータ量に対して、本実施の形態２の場合では、各ＩＣのメモリ１１９に保持するデータ量は、実施の形態１の場合と同じ温度範囲を考えれば、１００＋１００＝２００のデータ量とすることができる。
【００４５】
また、図３はＩＣの温度変化と庫内温度変化の関係を示す特性図であり、図４はオフセットと温度ドリフトの関係を示す特性図であり、図３のグラフに示すような各ＩＣの異なる温度上昇特性と、図４のグラフに示すような各ＩＣ毎のオフセットの温度ドリフトとが存在する。
【００４６】
ＤＳＰ１１５では、各ＩＣ１０１、１０７内の各温度センサ１０６、１１４で常に各ＩＣ１０１、１０７の温度検出を行い、得られた各温度検出値に対応してメモリ１１９内のテーブルの各オフセット値を用いて、ＤＳＰ１１５内で一括して制御オフセットを補正する構成とする。
【００４７】
以上のようにして、実際に光ディスク装置毎にオフセット検出を複数回行い、代表値のテーブルを使用するだけでなく、実際に各ＩＣの温度とオフセットを検出して、各ＩＣの温度とオフセットを補正値のテーブルとしてメモリに保持し、このテーブルを使用してオフセットを補正することにより、実施の形態１の場合のように、代表値である既知のオフセット補正のテーブルを使用したオフセット補正に比べて、各ＩＣで異なるオフセットの温度ドリフトのバラツキを吸収する精度の高いオフセット補正が可能な光ディスク装置が実現できると共に、ＤＳＰのメモリ容量を大幅に削減することが可能である。
【００４８】
また、本実施の形態２においては、実施の形態１の場合に対して、ＤＳＰのメモリに保持した各ＩＣの代表値として、既知の各ＩＣの温度とオフセット値のテーブルを保持して使うのではなく、各ＩＣの温度検出及び各ＩＣのオフセット検出が可能なことから、オフセット検出を複数回行い、このオフセット検出で得られた温度とオフセット値を、順次メモリに保持する。これににより、実際の各ＩＣの温度ドリフト特性に応じた精度の高いオフセット補正が可能である。
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３の制御装置および光ディスク装置を説明する。
【００４９】
本実施の形態３の制御装置により駆動制御される光ディスク装置においては、実施の形態１及び実施の形態２の場合のように、常時温度検出した結果から、常にその都度オフセット補正を行うのではなく、オフセット補正が必要なオフセット変動レベルに達した場合に限り、オフセット補正を実行する。
【００５０】
これにより、各ＩＣにおけるオフセット補正制御時のＤＳＰ１１５に対する負荷を低減することができ、この一例を、図５にオフセットキャンセル制御特性として示す。なお、図５は、横軸に温度、縦軸にオフセットを示しており、横軸の温度変化に対するＨＡＩＣ１０１のオフセット補正ステップ５０２、サーボ信号生成ＩＣ１０７のオフセット補正ステップ５０３を示すグラフである。
【００５１】
図５に示すオフセットキャンセル制御特性のように、各ＩＣの温度により変動するオフセットの補正を段階的行うことにより、オフセット補正制御によるＤＳＰ１１５に対する負荷の低減を図ることができる。
【００５２】
また、ＨＡＩＣ１０１のオフセット補正ステップ５０２は、サーボ信号生成ＩＣ１０７のオフセット補正ステップ５０３に比較して、当該ＩＣの温度変化に対するオフセットレベルの変動幅が狭いために、常に各ＩＣのオフセット補正を行う必要がない。
【００５３】
この理由により、図５のオフセットキャンセル制御特性に示すように、階段状の一定範囲では、温度検出の都度、常にオフセット補正を行う必要がなく、ステップ毎にオフセット補正を行えばよいため、温度検出の都度にオフセット補正を実行する場合に比較して、ＤＳＰ１１５の処理負担の低減を図ることが可能である。
【００５４】
また、サーボ信号生成ＩＣ１０７においても、オフセットの温度ドリフトの傾きにより、一定レベルの変動が発生した場合に限りオフセット補正を行うことによって、ＨＡＩＣ１０１と同様に、一定の温度変化が生じた場合に、段階的にオフセット補正を実行することも可能であり、温度検出のタイミングに合わせて常時オフセット補正する場合に比較して、ＤＳＰ１１５の処理負担を低減した光ディスク装置が実現可能である。
【００５５】
具体的には、図５のオフセットキャンセル制御特性に示すように、グラフの範囲をオフセット補正の温度範囲とした場合、ＨＡＩＣ１０１に対しては４回、サーボ信号生成ＩＣ１０７に対しては１１回だけオフセット補正すればよく、検出温度が異なる都度オフセット補正する場合に比べて、オフセット補正回数を大幅に削減することが可能となる。
【００５６】
以上のようにして、庫内温度を検出して初期のオフセット検出時の温度と比較して温度変化が生じた場合、その都度オフセット検出してオフセット補正する従来の方式に比較して、本実施の形態３の場合、各ＩＣの検出温度が所定量変化した場合にのみオフセット補正を行うように選択することが可能なために、実施の形態１のように、温度検出の都度オフセット補正する場合に比べて、更にＤＳＰの処理能力の負担を低減した光ディスク装置が実現可能である。
【００５７】
以上の各実施の形態によれば、各ＩＣに専用の温度センサを有し各ＩＣの温度変化が常時検出可能であるために、各ＩＣの各温度によるオフセット値をＤＳＰのメモリに保持することが可能となる。
【００５８】
以上により、再生または記録制御中にオフセット検出する必要がなく、ＤＳＰのサーボ制御上で負荷の大幅な低減が可能となり、システム制御上で再生及び記録動作が中断に至らない光ディスク装置を実現することができる。
【００５９】
その結果、光ディスク装置として、ＣＤ−Ｒの記録メディアに記録する場合にも、その記録が中断することがなくなり、それらの記録メディアが使用できなくなる等の心配が解消された光ディスク装置を実現することができる。
【００６０】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、各ＩＣに配設した温度センサにより各ＩＣの温度変化を常時検出し、各ＩＣの各温度によるオフセット値を保持手段に保持することにより、各ＩＣの温度検出結果に含まれる各ＩＣのオフセットの温度ドリフト分を、保持手段に保持したオフセット値で補正することができる。
【００６１】
そのため、内蔵素子の駆動制御としてＤＳＰのサーボ制御による再生または記録制御中に温度変化が生じた場合にも、その都度オフセットを検出する必要がなく温度検出結果のみからオフセット補正ができ、ＤＳＰのサーボ制御上で負荷の大幅な低減が可能となり、システム制御上で再生及び記録動作が中断に至らないようにすることができる。
【００６２】
また、光ディスク装置として、ＣＤ−Ｒの記録メディアに記録する場合にも、その記録が中断することがなくなり、それらの記録メディアが使用できなくなる等の心配が解消された光ディスク装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図３】光ディスク装置におけるＩＣ温度変化と庫内温度変化の関係を示す特性説明図
【図４】光ディスク装置におけるＩＣ温度変化とオフセット温度ドリフトの関係を示す特性説明図
【図５】本発明の実施の形態の光ディスク装置におけるオフセット補正制御の特性説明図
【符号の説明】
１０１ ＨＡＩＣ（ヘッドアンプＩＣ）
１０２ アンプｐｄＡ（Ｖａ）
１０３ アンプｐｄＢ（Ｖｂ）
１０４ アンプｐｄＣ（Ｖｃ）
１０５ アンプｐｄＤ（Ｖｄ）
１０６ 温度センサ
１０７ サーボ信号生成ＩＣ
１０８、１０９、１１０、１１１ 基準電圧切替えスイッチ
１１２ 基準電圧（Ｖｒｅｆ）
１１３ 演算処理回路
１１４ 温度センサ
１１５ ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）
１１６、１１７、１１８ Ａ／Ｄ変換器
１１９ メモリ
１２０ サーボコア
１２１ オフセット検出・補正部
１２２ 光ピックアップ
２０１ ＨＡＩＣ（ヘッドアンプＩＣ）
２０２ アンプｐｄＡ（Ｖａ）
２０３ アンプｐｄＢ（Ｖｂ）
２０４ アンプｐｄＣ（Ｖｃ）
２０５ アンプｐｄＤ（Ｖｄ）
２０６ サーボ信号生成ＩＣ
２０７ 演算処理回路
２０８ オフセット補正回路
２０９ ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）
２１０、２１１ Ａ／Ｄ変換器
２１２ サーボコア
２１３ オフセット検出部
２１４ メモリ
２１５ 筐体
２１６ 庫内温度センサ
３０２ ＨＡＩＣ温度
３０３ サーボ信号生成ＩＣ温度
３０４ 光ディスク装置庫内温度
４０２ ＨＡＩＣのオフセット
４０３ サーボ信号生成ＩＣのオフセット
５０２ ＨＡＩＣのオフセット補正ステップ
５０３ サーボ信号生成ＩＣのオフセット補正ステップ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a technique for correcting a control offset generated due to a temperature drift during control such as servo control of an optical disk device or the like.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art Conventionally, in a device that drives and controls a built-in element, a signal obtained from the built-in element during drive control is used as an input signal of a control IC, and a control signal output from the control IC based on the input signal is used. When driving and controlling the built-in elements, a control offset is generated due to temperature drift due to heat generated from the control IC and other elements. Therefore, a control device incorporated in these devices includes a temperature for correcting the control offset. Control devices with a correction function are widely used.
[0003]
As an example of such a conventional control device having a temperature correction function, for example, in an optical disk device, the temperature control device is used in this temperature correction control in order to perform temperature correction for a temperature drift generated during control such as servo control. Equipped with an internal temperature sensor serving as temperature detecting means for detecting the internal temperature required as data, for example, a control offset generated by temperature drift during servo control, based on the internal temperature detected by the internal temperature sensor There is a control device of the type for correcting (for example, see Patent Document 1).
[0004]
A conventional optical disk device having the above-described control device with a temperature correction function will be described below.
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a conventional optical disk device. In this optical disk device, a head amplifier IC (hereinafter, referred to as HAIC) 201 provided in an optical pickup 217 for signal amplification, and amplifiers pdA (Va) 202 and pdB (Vb) of each channel built in the HAIC 201 203, pdC (Vc) 204, pdD (Vd) 205, a servo signal generation IC 206 for generating a servo signal, an arithmetic processing circuit 207 built in the servo signal generation IC 206, an offset correction circuit 208, and an optical pickup 217 A digital signal processor (hereinafter referred to as DSP) 209 for performing servo control, an A / D converter 210 built in the DSP 209 for A / D converting and taking in an error signal from the servo signal generation IC 206, and a storage of the optical disk device. A / D conversion of the internal temperature detection signal into the DSP 209 A / D converter 211, a servo core 212 for performing servo control, an offset detection unit 213 for performing offset detection, a memory 214 for holding a detected temperature of the optical disk device, and a housing of the optical disk device. An optical pickup including a body 215, an internal temperature sensor 216 for detecting the temperature inside the housing 215 of the optical disk device, and a photodetector (not shown) for detecting reflected light from the optical disk as an information carrier. 217.
[0005]
The operation of the optical disk device configured as described above will be described below.
Normally, the output of the HAIC 201 and the servo signal generation IC 206 is transmitted to the subsequent stage based on the reference voltage. However, the control target of the optical pickup 217 shifts due to the offset generated in the circuit of each IC, and the control becomes unstable.
[0006]
Therefore, first, the electrical offset between the HAIC 201 and the servo signal generation IC 206 is detected and offset correction is performed, and the internal temperature at the time of the offset detection is stored in the memory 214 of the DSP 209.
[0007]
Generally, since the HAIC 201 and the servo signal generation IC 206, which are semiconductor devices, have power loss and thermal resistance, they generate a large amount of heat during operation. Thus, in the HAIC 201 and the servo signal generation IC 206, the offset generated in each IC fluctuates due to the heat generated from each IC due to the heat generated in each IC. Therefore, in order to stably control the optical pickup 217 with respect to the control target by the servo control signal from the DSP 209, the temperature fluctuation of the offset (hereinafter, referred to as temperature drift) generated by the HAIC 201 and the servo signal generation IC 206 is corrected. There is a need to.
[0008]
A signal detected by the optical pickup 217 from light reflected from an information carrier such as an optical disk passes through any of the amplifiers pdA (Va) 202, pdB (Vb) 203, pdC (Vc) 204, and pdD (Vd) 205 of the HAIC 201. Then, after performing arithmetic processing in the arithmetic processing circuit 207 of the servo signal generation IC 206, the digital signal is A / D-converted by an A / D converter 210 built in the DSP 209 and is taken into the DSP 209.
[0009]
At this time, the offset included in the output signal from each of the amplifiers 202, 203, 204, and 205 built in the HAIC 201 and the output signal from the arithmetic processing circuit 207 built in the servo signal generation IC 206 fluctuate due to the temperature drift. In response to the offset fluctuation, the internal temperature detection signal obtained from the internal temperature sensor 216 in the optical disk device housing 215 is A / D converted by an A / D converter 211 built in the DSP 209 and is taken in. The difference from the temperature at the time of initial offset detection held in 214 is calculated, and if a temperature change occurs, offset detection is performed again and offset correction is performed.
[0010]
This offset correction is performed by the DSP 209 on the offset correction circuit 208 of the servo signal generation IC 206. However, whenever the internal temperature changes, the reproduction of the HAIC 201 and the entire servo signal generation IC 206 is performed during the reproduction or recording control. Offset detection needs to be performed.
[0011]
The control method of the above-described conventional optical disk device will be further described with reference to characteristic diagrams.
FIG. 3 is a characteristic diagram showing a relationship between a temperature change in a drive control IC built in a general optical disk device and a temperature change in a refrigerator of the device. 3 shows a change in temperature of an IC. FIG. 3 is a graph showing time on the horizontal axis and temperature on the vertical axis, showing the temperature of the HAIC, the temperature of the servo signal generation IC, and the temperature change in the optical disk device storage with respect to the time change on the horizontal axis.
[0012]
FIG. 4 is a graph showing a temperature drift characteristic of an offset in a drive control IC built in a general optical disk device. This characteristic diagram shows a temperature drift of an offset with respect to a temperature change of each IC in a conventional optical disk device. FIG. 4 is a graph showing the temperature on the horizontal axis, the offset on the vertical axis, and the change of the offset of the HAIC and the offset of the servo signal generation IC with respect to the temperature change on the horizontal axis.
[0013]
As shown in the graph of FIG. 3, the temperature 304 in the optical disk device storage differs from the HAIC temperature 302 and the servo signal generation IC temperature 303 at which the offset temperature drift actually occurs. Also, as shown in the graph of FIG. 4, the characteristics of the offset 402 of the HAIC with respect to the temperature drift and the characteristic of the offset 403 of the servo signal generation IC with respect to the temperature drift are different.
[0014]
As shown in the graphs of FIGS. 3 and 4, since the temperature drift of each IC and the temperature drift of the offset of each IC are different, when it is attempted to perform offset correction only with the temperature detected by the internal temperature sensor 216, An offset value for offset correction by the IC cannot be obtained.
[0015]
In order to solve this problem, in the conventional method, when the internal temperature of the optical disk device changes, the offset of the entire HAIC 201 and the servo signal generation IC 206 is detected each time during the reproduction or recording control as described above. , It is necessary to perform offset correction.
[0016]
[Patent Document 1]
JP-A-5-62220 (Claim 1 of the first page)
[0017]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above-described conventional optical disk device, the temperature of each IC is unknown because the temperature of each IC is not detected. It is necessary to detect the temperature change and to detect all the offsets in the circuits in each IC each time. Therefore, when the offset fluctuates due to the temperature change, the offset cannot be easily corrected. There was a problem that.
[0018]
Further, as the device becomes slim and has a higher speed, it is expected that the laser output will increase, the density of the temperature rise will increase, and the temperature change in the refrigerator will increase. When switching to recording, offset detection is frequently performed repeatedly, which not only increases the load on the servo control of the DSP, but also may cause interruption of the reproduction and recording operations on the system control of the optical disk device. Conceivable.
[0019]
In particular, when recording is interrupted, in the case of a CD-R write-once medium as an optical disk, when a group of files to be written in advance, such as a disc-at-once or a track-at-once, is specified. However, there is also a problem that the recording medium cannot be used.
[0020]
In order to solve this problem, there is a demand for an optical disc device that can perform offset correction without performing offset measurement each time a temperature change occurs.
[0021]
The present invention solves the above-described conventional problems, and provides a control device and an optical disk device that can easily correct an offset according to a detected temperature even when a temperature change occurs.
[0022]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-described problem, a control device according to claim 1 of the present invention is obtained based on the plurality of signals output from the built-in element as input signals during drive control of the built-in element. In a control device for controlling the driving of the built-in element by a control signal, a control signal generating means for generating the control signal based on the plurality of input signals, and a temperature detecting means for detecting a temperature of a plurality of portions of the control signal generating means Means, an offset detecting means for detecting an offset generated in the control signal generating operation by the control signal generating means, and a temperature of each part detected by the temperature detecting means and an offset detected by the offset detecting means. The control means based on the offset held by the holding means in accordance with the temperature of each part detected by the temperature detecting means. Characterized by being configured to include an offset correction means having a temperature compensation function for correcting the offset of No. generation means.
[0023]
A control device according to a second aspect of the present invention is the control device according to the first aspect, wherein when the offset detection unit detects an offset, the potential of each input signal to the control signal generation unit is set to be different from each other. A switching means for switching to a reference voltage is provided.
[0024]
A control device according to a third aspect of the present invention is the control device according to the second aspect, wherein the offset detection means controls the switching means to output a reference voltage to the control signal generation means when the offset is detected. The input signal is switched so as to detect the offset of each part of the control signal generating means.
[0025]
A control device according to a fourth aspect of the present invention is the control device according to any one of the first to third aspects, wherein the offset correction unit detects that the temperature detected by the temperature detection unit is a predetermined amount. It is characterized in that the offset correction is performed when it changes.
[0026]
A control device according to a fifth aspect of the present invention is the control device according to any one of the first to fourth aspects, wherein the built-in element optically records and reproduces information on an information carrier. An optical pickup including a photodetector for detecting reflected light from the information carrier, wherein the control signal generating means controls the drive of the optical pickup based on an output of the photodetector. It is characterized in that it is configured to generate a signal.
[0027]
The optical disk device according to claim 6 of the present invention detects the reflected light from the information carrier by a photodetector provided in the optical pickup during drive control of the optical pickup that irradiates the information carrier with a light beam. Then, a plurality of signals output from the optical pickup based on the reflected light as an input signal, by a control signal obtained based on the input signal, while controlling the drive of the optical pickup, for the information carrier, An optical disc device for optically recording and reproducing information, comprising: a control signal generating unit for generating a control signal for driving and controlling the optical pickup based on the plurality of input signals; and a plurality of portions of the control signal generating unit. Temperature detecting means for detecting the temperature of the control signal, and offset detection for detecting an offset generated on the control signal generating operation by the control signal generating means. Step, holding means for holding the temperature of each part detected by the temperature detecting means and the offset detected by the offset detecting means, and holding by the holding means according to the temperature of each part detected by the temperature detecting means An offset correction unit having a temperature correction function for correcting the offset of the control signal generation unit based on the offset is provided.
[0028]
An optical disk device according to a seventh aspect of the present invention is the optical disk device according to the sixth aspect, wherein when the offset is detected by the offset detecting means, the potentials of the respective input signals to the control signal generating means are respectively adjusted. A switching means for switching to a reference voltage is provided.
[0029]
An optical disk device according to an eighth aspect of the present invention is the optical disk device according to the seventh aspect, wherein the offset detecting means sets the switching means to the control signal generating means when the offset is detected. The input signal is switched so as to detect the offset of each part of the control signal generating means.
[0030]
An optical disk device according to a ninth aspect of the present invention is the optical disk device according to any one of the sixth to eighth aspects, wherein the offset correction unit detects that the temperature detected by the temperature detection unit is a predetermined amount. It is characterized in that the offset correction is performed when it changes.
[0031]
As described above, the temperature change of each IC is always detected by the temperature sensor disposed in each IC, and the offset value of each IC according to each temperature is held in the holding means. The temperature drift of the offset can be corrected by the offset value held in the holding means.
[0032]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, a control device and an optical disk device according to an embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.
(Embodiment 1)
A control device and an optical disk device according to the first embodiment of the present invention will be described.
[0033]
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of an optical disk device that is driven and controlled by the control device according to the first embodiment. In this optical disk device, the HAIC 101 provided in the optical pickup 122 for signal amplification, and the amplifiers pdA (Va) 102, pdB (Vb) 103, pdC (Vc) 104, and pdD (channel) built in the HAIC 101 for each channel. Vd) 105, a temperature sensor 106 for detecting the temperature in the HAIC 101, a servo signal generation IC 107 for generating a servo signal, and each of the built-in servo signal generation ICs 107 capable of switching each input signal to a reference voltage. Switches 108 to 111, a reference voltage (Vref) 112 built in the servo signal generation IC 107, an arithmetic processing circuit 113 built in the servo signal generation IC 107, and a temperature sensor 114 for detecting a temperature in the servo signal generation IC 107. For performing servo control of optical pickup 122 And an A / D converter 116 with a built-in DSP for A / D converting an error signal from the servo signal generation IC 107 into the DSP 115, and A / D conversion of a temperature detection signal in the servo signal generation IC 107 from the temperature sensor 114. An A / D converter 117 with a built-in DSP that takes in the DSP 115, an A / D converter 118 with a built-in DSP that A / D converts a temperature detection signal in the HAIC 101 from the temperature sensor 106 and takes in the DSP 115, It has a memory 119 for holding the detected temperature and offset value of each D-converted IC, a servo core 120 for performing servo control, and an offset detection / correction unit 121 for performing offset detection and correction. .
[0034]
In the optical disk device configured as described above, the offset value table (hereinafter, referred to as the following) is stored in the memory 119 in the DSP 115 so that the representative value of the known offset that fluctuates at each temperature of the HAIC 101 and the servo signal generation IC 107 can be handled as a digital value. , Simply referred to as “table”). In this table, the temperature and the offset value of each of the ICs 101 and 107 are held in a memory 119 in a matrix form, and the DSP 115 performs offset correction using the offset value of the table from the temperature detection result of each of the ICs 101 and 107.
[0035]
FIG. 3 is a characteristic diagram showing the relationship between the temperature change of the IC and the internal temperature change, and FIG. 4 is a characteristic diagram showing the relationship between the offset and the temperature drift. The different temperature of each IC as shown in the graph of FIG. There is a rising characteristic and a temperature drift of the offset for each IC as shown in the graph of FIG.
[0036]
In the DSP 115, the temperature sensors 106 and 114 in the ICs 101 and 107 always detect the temperatures of the ICs 101 and 107, respectively, and use the offset values of the table in the memory 119 in correspondence with the obtained temperature detection values. , The control offset is collectively corrected in the DSP 115. When the temperature of each of the ICs 101 and 107 detected here is different from the temperature of each of the ICs 101 and 107 when the offset is initially detected, each offset value corresponding to the temperature of each of the ICs 101 and 107 is read from the table in the memory 119, and The arithmetic processing for correcting the control offset is executed using these offset values.
[0037]
As described above, by storing the temperature and the offset value of each IC in the memory, the temperature drift of the offset of each IC can be corrected from the temperature detection result of each IC with the value held in the memory, and the temperature change can be corrected. When this occurs, the temperature of each IC is detected without detecting the offset during the reproduction or recording control each time, and the offset value from the calculated table is used. An optical disk device capable of correction can be realized.
(Embodiment 2)
A control device and an optical disk device according to a second embodiment of the present invention will be described.
[0038]
In the optical disk device driven and controlled by the control device of the second embodiment, similarly to the optical disk device of the first embodiment shown in FIG. 1, the HAIC 101 provided in the optical pickup 122 for signal amplification and the HAIC 101 A built-in amplifier pdA (Va) 102, pdB (Vb) 103, pdC (Vc) 104, pdD (Vd) 105 of each channel, a temperature sensor 106 for detecting a temperature in the HAIC 101, and a servo signal are generated. A servo signal generation IC 107 for performing the operation, switches 108 to 111 built in the servo signal generation IC 107 and capable of switching each input signal to a reference voltage, a reference voltage (Vref) 112 built in the servo signal generation IC 107, and a servo signal. The arithmetic processing circuit 113 built in the generation IC 107 and the servo signal generation IC 107 A temperature sensor 114 for detecting the temperature, a DSP 115 for performing servo control of the optical pickup 122, an A / D converter 116 with a built-in DSP for A / D converting an error signal from the servo signal generation IC 107 and taking it into the DSP 115. The A / D converter 117 with a built-in DSP which A / D converts the temperature detection signal in the servo signal generation IC 107 from the temperature sensor 114 and takes in the DSP 115, and the A / D converter 117 converts the temperature detection signal in the HAIC 101 from the temperature sensor 106 into An A / D converter 118 with a built-in DSP for D-converted and taken into the DSP 115, a memory 119 for holding a detected temperature and an offset value of each A / D-converted IC, a servo core 120 for performing servo control; An offset detection / correction unit 121 for performing offset detection and correction is provided.
[0039]
In the optical disk device configured as described above, known offset values that fluctuate at each temperature of the HAIC 101 and the servo signal generation IC 107 are held as a table of offset values in the memory 119 in the DSP 115 so that they can be handled as digital values. However, in the second embodiment, first, the offset value obtained by initially detecting the offset of the entire HAIC 101 and the servo signal generation IC 107 and the value obtained by A / D converting the temperature of each IC are used by the DSP 115. Stored in the memory 119. At this time, the offset value is A, the temperature of the HAIC 101 is B, and the temperature of the servo signal generation IC 107 is C.
[0040]
Next, the switches 108 to 111 in the servo signal generation IC 107 are switched to the reference voltage 112 side, the offset of only the servo signal generation IC 107 is detected, A / D-converted, and stored in the memory 119 of the DSP 115. Is D. In addition, a method of obtaining the offset of each IC is described below, where E is an offset value obtained by subtracting the offset value D from the offset value A held in the initial offset detection.
E = A-D
However
A = (offset of HAIC) + (offset of servo signal generation IC)
D = (offset of servo signal generation IC)
So
E = (offset of HAIC)
B = HAIC temperature
C = temperature of the servo signal generation IC
B and E are stored in the memory 119 as a pair. Also, C and D are stored in the memory 119 as a pair.
[0041]
The offset value E obtained as a result of the above calculation becomes the offset value of only the HAIC 101, and is stored in the memory 119 of the DSP 115 in pairs with the temperature B of the HAIC 101. Similarly, the offset value D is an offset value of only the servo generation signal IC 107, and is stored in the memory 119 of the DSP 115 as a pair with the offset value D and the temperature C of the servo signal generation IC 107 obtained at the time of offset detection.
[0042]
Since the data held in the memory 119 holds a pair of the temperature and the offset value of each IC at the time of offset detection, the memory capacity can be reduced as compared with the case of the first embodiment.
[0043]
In the case of the first embodiment, the data held in the memory 119 has the following data amount because the temperature and the offset value are held in a matrix. When the temperature range of the offset is 0 to 100 degrees and the offset value is stored in the memory for each temperature of 1 degree, the amount of data stored in the memory 119 of the HAIC 101 is 0 to 100 degrees = 100. Since the data of the offset value from 0 degree to 100 degree of the servo signal generation IC 107 is stored in the memory 119 with respect to the 100 data stored in the memory 119 of the HAIC 101, the total data amount of the two ICs is 100 × 100 = 10000.
[0044]
With respect to this data amount, in the second embodiment, the data amount held in the memory 119 of each IC is 100 + 100 = 200 in consideration of the same temperature range as that in the first embodiment. be able to.
[0045]
FIG. 3 is a characteristic diagram showing a relationship between a temperature change of the IC and a temperature change in the refrigerator, and FIG. 4 is a characteristic diagram showing a relationship between the offset and the temperature drift. As shown in FIG. There are different temperature rise characteristics and offset temperature drift of each IC as shown in the graph of FIG.
[0046]
In the DSP 115, the temperature sensors 106 and 114 in the ICs 101 and 107 always detect the temperatures of the ICs 101 and 107, respectively, and use the offset values of the table in the memory 119 in correspondence with the obtained temperature detection values. , The control offset is collectively corrected in the DSP 115.
[0047]
As described above, the offset detection is actually performed a plurality of times for each optical disk device, and not only the table of the representative values is used, but also the temperature and offset of each IC are actually detected, and the temperature and offset of each IC are detected. By holding the correction value in a memory as a table and correcting the offset using this table, compared with the offset correction using a known offset correction table which is a representative value as in the first embodiment, Thus, it is possible to realize an optical disk device capable of performing offset correction with high accuracy that absorbs variations in temperature drift of different offsets in each IC, and to significantly reduce the memory capacity of the DSP.
[0048]
Also, in the second embodiment, a table of known temperature and offset value of each IC is held and used as a representative value of each IC held in the memory of the DSP as compared with the case of the first embodiment. Instead, since the temperature of each IC and the offset of each IC can be detected, the offset detection is performed a plurality of times, and the temperature and the offset value obtained by the offset detection are sequentially stored in the memory. Thereby, highly accurate offset correction according to the actual temperature drift characteristics of each IC can be performed.
(Embodiment 3)
A control device and an optical disk device according to a third embodiment of the present invention will be described.
[0049]
In the optical disk device driven and controlled by the control device of the third embodiment, the offset correction is not always performed every time from the result of the temperature detection as in the first and second embodiments. The offset correction is executed only when the offset variation level required for the offset correction has been reached.
[0050]
As a result, the load on the DSP 115 during the offset correction control in each IC can be reduced. An example of this is shown in FIG. 5 as the offset cancellation control characteristic. FIG. 5 is a graph showing the temperature on the horizontal axis and the offset on the vertical axis, showing the offset correction step 502 of the HAIC 101 and the offset correction step 503 of the servo signal generation IC 107 with respect to the temperature change on the horizontal axis.
[0051]
As in the offset canceling control characteristic shown in FIG. 5, by correcting the offset that fluctuates according to the temperature of each IC stepwise, the load on the DSP 115 can be reduced by the offset correction control.
[0052]
Further, in the offset correction step 502 of the HAIC 101, the offset level variation with respect to the temperature change of the IC is narrower than the offset correction step 503 of the servo signal generation IC 107. Therefore, it is necessary to always perform the offset correction of each IC. Absent.
[0053]
For this reason, as shown in the offset cancellation control characteristic of FIG. 5, it is not necessary to always perform the offset correction every time the temperature is detected in the fixed stepwise range, and the offset correction may be performed for each step. The processing load on the DSP 115 can be reduced as compared with the case where the offset correction is performed every time.
[0054]
Also, the servo signal generation IC 107 performs the offset correction only when a certain level of fluctuation occurs due to the slope of the temperature drift of the offset, so that a constant temperature change occurs as in the case of the HAIC 101. It is also possible to execute offset correction in an appropriate manner, and it is possible to realize an optical disk apparatus in which the processing load on the DSP 115 is reduced as compared with the case where offset correction is always performed in accordance with the temperature detection timing.
[0055]
Specifically, as shown in the offset cancellation control characteristic of FIG. 5, when the range of the graph is the temperature range of the offset correction, the offset is performed four times for the HAIC 101 and 11 times for the servo signal generation IC 107. Correction may be performed, and the number of times of offset correction can be significantly reduced as compared with the case where offset correction is performed each time the detected temperature is different.
[0056]
As described above, when the temperature inside the refrigerator is detected and compared with the temperature at the time of the initial offset detection, a temperature change occurs. In the case of the third embodiment, since it is possible to select to perform the offset correction only when the detected temperature of each IC changes by a predetermined amount, the offset correction is performed every time the temperature is detected as in the first embodiment. As compared with the above, an optical disk device in which the load on the processing capability of the DSP is further reduced can be realized.
[0057]
According to the above embodiments, since each IC has a dedicated temperature sensor and the temperature change of each IC can be always detected, the offset value of each IC due to each temperature is held in the memory of the DSP. Becomes possible.
[0058]
As described above, it is not necessary to detect an offset during the reproduction or recording control, the load can be significantly reduced in the servo control of the DSP, and an optical disc apparatus in which the reproduction and recording operations are not interrupted in the system control can be realized. Can be.
[0059]
As a result, it is possible to realize an optical disk device in which, even when recording is performed on a CD-R recording medium, the recording is not interrupted, and there is no worry that the recording medium cannot be used. Can be.
[0060]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the temperature change of each IC is always detected by the temperature sensor disposed on each IC, and the offset value of each IC by each temperature is held in the holding means, thereby the temperature of each IC is maintained. The temperature drift of the offset of each IC included in the detection result can be corrected by the offset value held in the holding unit.
[0061]
Therefore, even when a temperature change occurs during the reproduction or recording control by the servo control of the DSP as the drive control of the built-in element, it is not necessary to detect the offset each time, and the offset can be corrected only from the temperature detection result. The load can be significantly reduced in control, and the reproduction and recording operations can be prevented from being interrupted in system control.
[0062]
Also, as an optical disk device, it is possible to realize an optical disk device in which even when recording on a CD-R recording medium, the recording is not interrupted, and there is no worry that the recording medium cannot be used. it can.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an optical disk device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a conventional optical disk device.
FIG. 3 is a characteristic explanatory diagram showing a relationship between a change in IC temperature and a change in internal temperature in the optical disk device.
FIG. 4 is a characteristic explanatory diagram showing a relationship between an IC temperature change and an offset temperature drift in the optical disc device.
FIG. 5 is an explanatory diagram of characteristics of offset correction control in the optical disc device according to the embodiment of the present invention;
[Explanation of symbols]
101 HAIC (head amplifier IC)
102 amplifier pdA (Va)
103 amplifier pdB (Vb)
104 amplifier pdC (Vc)
105 amplifier pdD (Vd)
106 temperature sensor
107 Servo signal generation IC
108, 109, 110, 111 Reference voltage switch
112 Reference voltage (Vref)
113 arithmetic processing circuit
114 temperature sensor
115 DSP (Digital Signal Processor)
116, 117, 118 A / D converter
119 memory
120 servo core
121 Offset detection / correction unit
122 Optical Pickup
201 HAIC (head amplifier IC)
202 amplifier pdA (Va)
203 amplifier pdB (Vb)
204 amplifier pdC (Vc)
205 amplifier pdD (Vd)
206 Servo signal generation IC
207 arithmetic processing circuit
208 Offset correction circuit
209 DSP (Digital Signal Processor)
210, 211 A / D converter
212 Servo core
213 Offset detector
214 memory
215 enclosure
216 Internal temperature sensor
302 HAIC temperature
303 Servo signal generation IC temperature
304 Internal temperature of optical disk drive
402 HAIC offset
403 Offset of servo signal generation IC
502 HAIC offset correction step
503 Servo signal generation IC offset correction step
