JP2004245767A

JP2004245767A - Optical path testing system

Info

Publication number: JP2004245767A
Application number: JP2003037911A
Authority: JP
Inventors: Nagetsu Honda; 奈月本田; Noriyuki Araki; 則幸荒木; Yoshitaka Enomoto; 圭高榎本; Chikashi Izumida; 史泉田
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date: 2003-02-17
Filing date: 2003-02-17
Publication date: 2004-09-02

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical path testing system capable of an in-service test in L-band communication of 10 Gbit/s. <P>SOLUTION: A dielectric multilayer film type filter (band-pass filter) 22 for transmitting test light and suppressing a side mode of the test light is installed on a test light output route of a test light source 20. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、光線路試験システムに関するものであり、光通信設備の信頼性を向上させ、効率よく保守・運用を行うことができる。
【０００２】
【従来の技術】
光線路試験監視システムは、光通信サービスに影響を与えることなく光ファイバケーブルを試験及び監視するシステムである。図９は、従来の光線路試験監視システムの一例の概略構成図である（下記、特許文献１参照。）。同図に基づいて従来の光線路試験監視システムを説明する。
【０００３】
同図に示すように、光線路試験監視システム１は、通信設備ビル２と、他の通信設備ビル３と、設備管理センタ４とからなり、通信設備ビル２と他の通信設備ビル３とは光ファイバ５により結ばれ、通信設備ビル２と設備管理センタ４とは通信網６により結ばれている。なお、通信設備ビル３は、光信号の送受信を望むユーザ宅である場合もある。
【０００４】
通信設備ビル２は電気通信設備が設置されるビルであり、通信設備ビル２には光伝送装置７と、光試験装置８と、光カプラモジュール９とが設置される。通信設備ビル３には、光伝送装置１０が設置され、光伝送装置７と光伝送装置１０とが光ファイバ５により接続されることで、光信号の送受信が行われる。
【０００５】
設備管理センタ４は、設備情報を管理する機能を有し、光線路設備のデータベース１１と、通信設備ビル２に設置された光試験装置８を遠隔で操作する操作端末１２とが設置される。なお、光線路試験監視システム１は、設備管理センタ４がなくとも、通信設備ビル２と他の通信設備ビル３とから構成される光線路試験システムのみで光ファイバの試験・検査を行うことができるが、設備管理センタを設置し、情報管理を行うことで、大規模な光通信網の保守に有利となる等の効果がある。
【０００６】
通信設備ビル２に設置された光試験装置８は、試験制御装置１３と、光測定器１４と、心線選択装置１５と、光測定器・試験架選択装置（ＦＴＥＳ）１６とから構成される。
【０００７】
試験制御装置１３は、設備管理センタ４の操作端末１２と通信網６で接続されることにより、操作端末１２から試験指示を受信すると共に操作端末１２へ試験結果を送信する。光測定器１４は、損失試験光源、心線対照光源、パワーメータ等の機能を有し、例えば光パルス試験器（ＯＴＤＲ）などが用いられる。心線選択装置１５は、光カプラモジュール９への試験光入出力ポートＣ’又はＤ’を有すると共に光試験を施す光ファイバ心線を選択する機能を有する。光測定器・試験架選択装置（ＦＴＥＳ）１６は、光測定器１４と心線選択装置１５とを選択する機能を有する。
【０００８】
光伝送装置７と１０とを結ぶ光ファイバ５上に設けられ、光試験装置８に接続された光カプラモジュール９は、光ファイバ５に対して試験光を合分波すると共に、光伝送装置７への通信光を透過し、試験光を遮断する機能を有する。また、ターミネーションフィルタ１７は、光伝送装置１０の入出力ポートに設置され、光伝送装置１０への通信光を透過すると共に試験光を遮断し、開放端でのフレネル反射よりも大きな試験光の反射を発生させる機能を有する。
【０００９】
図１０は、図９に示した光カプラモジュール９の構成を示す概略拡大図である。同図に示すように、光カプラモジュール９は、光カプラ１８と、フィルタ１９と、通信光用のポートＡ，Ｂと、試験光用のポートＣ，Ｄとから構成される。光カプラ１８は、試験光と通信光とを合分波して光ファイバ５に結合させる機能を有し、フィルタ１９は、光伝送装置７への通信光を透過すると共に試験光を遮断する機能を有する。
【００１０】
ポートＡは光伝送装置７へ接続されるポートであり、ポートＢは光ファイバ５を介して光伝送装置１０へ接続されるポートである。また、ポートＣ，Ｄは、それぞれ、光ファイバ５及び光伝送装置１０側と光伝送装置７側を試験するためのポートである。
【００１１】
次に、図９及び図１０に示した光線路試験監視システムによる光ファイバケーブルの障害検知方法を説明する。まず、設備管理センタ４に設置されたデータベース１１に基づいて、試験命令を操作端末１２から光試験装置８に出力する。この試験命令に従い、光試験装置８の試験制御装置１３は、ＦＴＥＳ１６により光測定器１４を選択すると共に、心線選択装置１５により、光試験を施す光ファイバが接続された試験光入カポートＣ’（ポートＣに対応）又はＤ’（ポートＤに対応）を選択する。
【００１２】
光伝送装置７及び光伝送装置１０の前には、それぞれ試験光のみを遮断するフィルタ１９及びターミネーションフィルタ１７が設置されているため、光測定器１４からの試験光が光通信サービスに影響を与えないようになっている。この結果、光試験装置８による、所望の光ファイバのインサービス試験が可能となる。
【００１３】
ターミネーションフィルタ１７としては、例えば、ファイバブラックグレーティング（以下ＦＢＧと称する）が用いられる。ＦＢＧ型光フィルタは、光ファイバに紫外線を照射して、光ファイバのコアまたはコアとクラッドの長手方向に、数百ｎｍ程度の周期で数万本の屈折率の異なる格子を形成して作製される。この屈折率変調の周期条件がブラッグの反射条件を満たすことにより、特定波長のみを反射させ、それ以外の波長は透過させる。
【００１４】
図１１は、ＦＢＧ型光フィルタを用いたターミネーションフィルタ１７の光学特性を示すグラフである。同図に示すように、ターミネーションフィルタ１７は、１２６０〜１６２５ｎｍ帯の光を０．８ｄＢ以下で透過すると共に、１６２５ｎｍから１６４５ｎｍで急激に透過損失が上昇し、１６５０ｎｍの光を遮断量２０ｄＢで遮断する。また、ターミネーションフィルタ１７は、試験光のみをほぼ０ｄＢで反射する。
【００１５】
【特許文献１】
特開平２−１６３２号公報
【非特許文献１】
Ｎ．Ａｒａｋｉ他、Ｌ／Ｕ−ｂａｎｄ交差導波路型光カプラを適用した光試験システムを用いた１０Ｇｂｉｔ／ｓＬ−ｂａｎｄ通信のインサービス試験、「第２８回ＥＣＯＣ‘０２予稿集」、２００２年、第１巻、ｐａｐｅｒ１．２．３
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
近年、通信波長として１２６０〜１６２５ｎｍを用いるＤＷＤＭ（高密度波長分割多重）光通信が商用化されている。これに伴い、試験光としては、通信光波長帯域を避けた１６５０ｎｍ帯を使用している。
【００１７】
ＦＢＧ型光フィルタを用いたターミネーションフィルタは、試験光とＬ−ｂａｎｄ光、すなわちＩＴＵ−Ｔで規定されている波長範囲１５６５〜１６２５ｎｍの光との分離に優れている。しかしながら、ターミネーションフィルタの遮断帯域は広くて２０ｎｍであるため、１６５０ｎｍの試験光源のサイドモードを遮断することは困難である。
【００１８】
ここで、試験光源からの出力光（波長λ）のパワースペクトルをｆ（λ）、ターミネーションフィルタの透過率をｇ（λ）とすると、サイドモードを含めた試験光全体の平均パワーＦと、ターミネーションフィルタ透過後の試験光パワーＦ’は、下記式（１）及び（２）で表される。
【数１】

【数２】

【００１９】
したがって、試験光源からの出力光がターミネーションフィルタで減衰される実効遮断量Ｌ_ｅｆｆは上記式（１）及び（２）より、下記式（３）で表される。
【数３】

【００２０】
図１２（ａ）は、試験光全体のスペクトル波形を示すグラフであり、光スペクトルアナライザにより測定した。同図に示すように、ＦＢＧ外部共振型ＬＤを用いた試験光源の中心波長は１６５０ｎｍであり、そのサイドモード抑圧比（発光ピークと二次サイドモードの差であり、以下ＳＢＳＲと称する）は約４０ｄＢであることがわかる。
【００２１】
図１２（ｂ）は、図１２（ａ）に示した試験光がＦＢＧ型ターミネーションフィルタを透過した後のスペクトル波形を示すグラフである。同図に示すように、ＦＢＧ型ターミネーションフィルタは波長帯域１６５０±５ｎｍで４５ｄＢの遮断量を有する一方、ＦＢＧ型ターミネーションフィルタから漏洩した試験光のサイドモードのパワーは、４５ｄＢ遮断された試験光（１６５０ｎｍ）の中心スペクトルよりも相対的に強くなっていることがわかる。このときの式（３）より計算される実効遮断量は２３ｄＢであった。
【００２２】
これに対し、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信において、インサービス試験を行うためには、４０ｄＢ以上の試験光遮断特性が必要である（上記非特許文献１参照。）。
【００２３】
本発明は、上記状況に鑑みてなされたもので、試験光源のサイドモードを抑制することにより４０ｄＢ以上の試験光遮断特性を実現し、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信等、試験光の遮断量が４０ｄＢ以上必要な通信システムにおいて、インサービス試験を行うことを可能にした光線路試験システムを提供することを目的とする。
【００２４】
【課題解決するための手段】
上記課題を解決する第１の発明は、光伝送装置間に接続された光ファイバと、前記光ファイバを試験光により試験する光試験手段とを有する光線路試験システムにおいて、
前記試験光を透過すると共に、前記試験光のサイドモードを抑制するフィルタリング手段を設けたことを特徴とする光線路試験システムである。
【００２５】
上記課題を解決する第２の発明は、第１の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記光試験手段を構成する試験光源の試験光出力経路に設けられることを特徴とする光線路試験システムである。
【００２６】
フィルタリング手段は、試験光源のＳＢＳＲを抑制することができる場所であればどこに設置されていてもよいが、例えば、光試験装置内、試験光源の試験光出力部、試験光源の近傍に設置される。
【００２７】
上記課題を解決する第３の発明は、第２の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を透過すると共に前記試験光のサイドモードを抑制するバンドパスフィルタであることを特徴とする光線路試験システムである。
【００２８】
上記課題を解決する第４の発明は、第２の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、光カプラとから構成されることを特徴とする光線路試験システムである。
【００２９】
ＦＢＧ型光フィルタと光カプラの設置方法としては、例えば、試験光源から出力された試験光が光カプラを透過した後、ＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が再び光カプラを透過し光ファイバの試験に供されるように設置するなどが考えられる。
【００３０】
上記課題を解決する第５の発明は、第２の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、３ポート光サーキュレータとから構成されることを特徴とする光線路試験システムである。
【００３１】
ＦＢＧ型光フィルタと３ポート光サーキュレータの設置方法としては、例えば、試験光源から出力された試験光が３ポート光サーキュレータを透過した後、ＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が再び３ポート光サーキュレータを透過し光ファイバの試験に供されるように設置するなどが考えられる。
【００３２】
上記課題を解決する第６の発明は、第２の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、４ポート光サーキュレータとから構成されることを特徴とする光線路試験システムである。
【００３３】
ＦＢＧ型光フィルタと４ポート光サーキュレータの設置方法としては、例えば、試験光源から出力された試験光が４ポート光サーキュレータを透過した後、ＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が再び４ポート光サーキュレータを透過し光ファイバの試験に供されるように設置するなどが考えられる。
【００３４】
上記課題を解決する第７の発明は、第６の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記４ポート光サーキュレータのポートに、前記光試験手段を構成する光検出手段を設置したことを特徴とする光線路試験システムである。
【００３５】
光検出手段とは、光ファイバから戻ってきた試験光を受信する装置（光検出器）である。
【００３６】
上記課題を解決する第８の発明は、第１の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記光試験手段を構成し、かつ前記試験光を前記光ファイバに誘導すると共に前記光ファイバから戻ってくる試験光を前記光試験手段内に誘導する光分岐手段の中に、前記フィルタリング手段を設置したことを特徴とする光線路試験システムである。
【００３７】
光分岐手段としては、例えば、光伝送装置間を結ぶ光ファイバ上に設置され、光試験手段と光ファイバケーブルとを光接続する光カプラ（光カプラモジュール）等が考えられる。
【００３８】
上記課題を解決する第９の発明は、第８の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、４ポート光サーキュレータとから構成されることを特徴とする光線路試験システムである。
【００３９】
ＦＢＧ型光フィルタと４ポート光サーキュレータの設置方法としては、例えば、試験光源から出力された試験光が、光分岐手段により光ファイバに誘導される際に、４ポート光サーキュレータを透過した後、ＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が４ポート光サーキュレータを透過し光ファイバの試験に供されるように設置するなどが考えられる。
【００４０】
また、例えば、２つの４ポート光サーキュレータ（第１と第２のサーキュレータ）を同方向に直列接続する際に、２つの４ポート光サーキュレータを接続する２本の光ファイバにそれぞれＦＢＧ型光フィルタ（第１と第２のフィルタ）を挿入して構成してもよい。
【００４１】
この場合には、試験光源から出力された試験光が、光分岐手段により光ファイバに誘導される際に、第１の４ポート光サーキュレータを透過した後、第１のＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が再び４ポート光サーキュレータを透過し、一方の光伝送装置側の光ファイバ試験に供される。
【００４２】
同様にして、第２の４ポート光サーキュレータと第２のＦＢＧ型光フィルタを試験光が透過・反射することにより、他方の光伝送装置側の光ファイバ試験に供される。
【００４３】
上記課題を解決する第１０の発明は、第４ないし第７及び第９のいずれかの発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記ＦＢＧ型光フィルタが有する遮断波長帯域と、
前記光試験手段を構成し、前記光伝送装置へ通信光を透過させると共に前記試験光が侵入することを遮断するフィルタが有する遮断波長帯域とが、
略同じであることを特徴とする光線路試験システムである。
【００４４】
【発明の実施の形態】
＜第１の実施形態（第１〜第３の発明の説明）＞
図１は、第１の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光測定器の概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００４５】
図１に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光測定器１４−１は、１６５０ｎｍの試験光を発生させる試験光源２０と、光検出器（ＰＤ）２１と、誘電体多層膜型フィルタ（狭帯域バンドパスフィルタ）２２と、光カプラ２３とから構成される。
【００４６】
試験光源２０としては、図１２に示した光特性を有する試験光源を用い、ＳＢＳＲは４０ｄＢである。また、誘電体多層膜型フィルタ２２を、試験光源２０と光カプラ２３との間における試験光源２０の直近に設置した。誘電体多層膜型フィルタ２２は、１６５０±５ｎｍの試験光を０ｄＢで透過すると共に、１６５０±１２．５ｎｍ以外の領域において一定量減衰（例えば、１０ｄＢ，２０ｄＢ，３０ｄＢ）させる機能を有する。
【００４７】
例えば、１６５０±１２．５ｎｍ以外の領域において１０ｄＢ減衰させる誘電体多層膜型フィルタを設置すると、ＦＴＥＳ１６へ出力される試験光のＳＢＳＲは、５０ｄＢとなる。同様に、２０ｄＢ，３０ｄＢ減衰させる誘電体多層膜型フィルタを設置すると、出力される試験光のＳＢＳＲはそれぞれ６０ｄＢ，７０ｄＢとなる。
【００４８】
図２は、遮断特性４５ｄＢのＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７の実効遮断量をＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７の遮断帯域に対して示したグラフである。誘電体多層膜型フィルタ２２の設置により、ＳＢＳＲが５０，６０，７０ｄＢの試験光を、また誘電体多層膜型フィルタ２２の取り外しにより、ＳＢＳＲが４０ｄＢの試験光を出力し、ＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７の実効遮断量を測定した。なお、光スペクトラムアナライザの波長分解能は０．１ｎｍであった。
【００４９】
同図に示すように、ＳＢＳＲが４０ｄＢ，５０ｄＢのとき、ターミネーションフィルタの実効遮断量は、それぞれ約２２ｄＢ、約３１ｄＢであり、目標とする４０ｄＢ以上とはならない。一方、ＳＢＳＲが６０ｄＢかつフィルタ遮断帯域が１７ｎｍ以上のとき、約４０ｄＢの実効遮断量を得ることができ、ＳＢＳＲが７０ｄＢかつフィルタ遮断帯域が１４ｎｍ以上ではほぼ目標の実効遮断領を得ることができる。
【００５０】
図３（ａ）は、ＳＢＳＲを７０ｄＢに抑制した試験光全体のスペクトル波形を示すグラフである。すなわち、１６５０±１２．５ｎｍ以外の領域における減衰量が３０ｄＢの誘電体多層膜型フィルタ２２を設置し、試験光源２０から出力した試験光のスペクトルである。また、図３（ｂ）は、図３（ａ）に示す光特性を有する試験光が、ＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７を透過した後のスペクトル波形を示すグラフであり、遮断帯域１４ｎｍ以上、遮断量４５ｄＢのＦＢＧ型ターミネーションフィルタを用いた。
【００５１】
図３（ａ），（ｂ）に示すように、サイドモードのパワーは試験光の中心スペクトルよりも十分に小さくなっており、このときの実効遮断量は４２ｄＢであった。この結果、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信におけるインサービス試験に必要な実効遮断量である４０ｄＢ以上を達成することができた。
【００５２】
誘電体多層膜型フィルタ２２の位置については、試験光源のＳＢＳＲを抑制することができる場所に設置されていればよい。すなわち、光測定器１４−１内のほかに、例えば、光測定器１４−１とＦＴＥＳ１６との間、ＦＴＥＳ１６と心線選択装置１５との間、心線選択装置１５と光カプラモジュール９との間、または光カプラモジュール９のＣポート、Ｄポートに設置してもよい。
【００５３】
＜第２の実施形態（第１，２，４，１０の発明の説明）＞
図４は、第２の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光測定器の概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００５４】
図４に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光測定器１４−２は、１６５０ｎｍの試験光を発生させる試験光源２０と、光検出器（ＰＤ）２１と、光アイソレータ２５と、光カプラ２３−１，２３−２と、ＦＢＧ型光フィルタ２６とから構成される。
【００５５】
光測定器１４−２において、試験光源２０からの出力光は、光アイソレータ２５及び光カプラ２３−１を通過した後、３ｄＢ光カプラ２３−１の先に設置されたＦＢＧ型光フィルタ２６により反射される。
【００５６】
ＦＢＧ型光フィルタ２６は、ターミネーションフィルタ１７とほぼ同じ遮断波長帯域を有する。このＦＢＧ型光フィルタ２６は、試験光の波長帯１６５０ｎｍ±５ｎｍで約０ｄＢ、試験光の波長帯域外では−３０ｄＢ以下の反射量を有している。
【００５７】
ＦＢＧ型光フィルタ２６により反射された試験光は、光カプラ２３−１及び光カプラ２３−２を通過した後、ＦＴＥＳ１６へ出力される。試験光源２０への戻り光は光アイソレータ２５によって遮断される。
【００５８】
ＦＴＥＳ１６へ出力された試験光のＳＢＳＲは７０ｄＢとなり、試験光の波長帯域で４５ｄＢを遮断するＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７を透過したときの実効遮断量は４２ｄＢであった。
【００５９】
＜第３の実施形態（第１，２，５，１０の発明の説明）＞
図５は、第３の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光測定器の概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００６０】
図５に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光測定器１４−３は、１６５０ｎｍの試験光を発生させる試験光源２０と、光検出器（ＰＤ）２１と、３ポート光サーキュレータ３０と、光カプラ２３と、ＦＢＧ型光フィルタ２６とから構成される。
【００６１】
光測定器１４−３において、試験光源２０からの出力光は、３ポート光サーキュレータ３０のポートＡからポートＢへ透過した後、３ポート光サーキュレータ３０におけるポートＢの先に設置されたＦＢＧ型光フィルタ２６により反射される。
【００６２】
ＦＢＧ型光フィルタ２６は、ターミネーションフィルタ１７とほぼ同じ遮断波長帯域を有する。このＦＢＧ型光フィルタ２６は、試験光の波長帯１６５０ｎｍ±５ｎｍで約０ｄＢ、試験光の波長帯域外では−３０ｄＢ以下の反射量を有している。
【００６３】
ＦＢＧ型光フィルタ２６により反射された試験光は、３ポート光サーキュレータ３０のポートＢに戻りポートＣから出力され、光カプラ２３を通過した後、ＦＴＥＳ１６へ出力される。
【００６４】
ＦＴＥＳ１６へ出力された試験光のＳＢＳＲは７０ｄＢとなり、試験光の波長帯域で４５ｄＢを遮断するＦＢＧ型ターミーネーションフィルタ１７を透過したときの実効遮断量は４２ｄＢであった。
【００６５】
また、第２の実施形態においては、光カプラ２３−１での試験光の損失が７ｄＢであったのに対し、第３の実施形態においては、３ポート光サーキュレータ３０での透過損失は２．５ｄＢであり、光測定器１４−３のダイナミックレンジを４．５ｄＢ拡大することができた。
【００６６】
＜第４の実施形態（第１，２，６，７，１０の発明の説明）＞
図６は、第４の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光測定器の概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００６７】
図６に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光測定器１４−４は、１６５０ｎｍの試験光を発生させる試験光源２０と、光検出器（ＰＤ）２１と、４ポート光サーキュレータ３５と、ＦＢＧ型光フィルタ２６とから構成される。
【００６８】
また、図７は、４ポート光サーキュレータ３５の概略構成図である。同図に示すように、４ポート光サーキュレータ３５には４つのポート、すなわちポート３５−１、ポート３５−２、ポート３５−３、ポート３５−４が設置されており、４ポート光サーキュレータは光の進行方向によって透過可能なポートを制御する機能を有する。同図には、４ポート光サーキュレータ３５内を進行する光を模式的に矢印で示しており、矢の指す方向は光が透過する方向を示している。
【００６９】
例えば、ポート３５−１からの入射光はポート３５−２から出力され、ポート３５−２からの入射光はポート３５−３から出力され、ポート３５−３からの入射光はポート３５−４から出力され、ポート３５−４からの入射光はポート３５−１から出力されるようになっている。このときの透過損失は約１ｄＢである。
【００７０】
光測定器１４−４において、試験光源２０からの出力光は、４ポート光サーキュレータ３５のポート３５−１から入射すると共にポート３５−２へ透過し、４ポート光サーキュレータ３５におけるポート３５−２の先に設置されたＦＢＧ型光フィルタ２６により反射される。
【００７１】
ＦＢＧ型光フィルタ２６は、ターミネーションフィルタ１７とほぼ同じ遮断波長帯域を有する。このＦＢＧ型光フィルタ２６は、試験光の波長帯１６５０ｎｍ±５ｎｍで約０ｄＢ、試験光の波長帯域外では−３０ｄＢ以下の反射量を有している。
【００７２】
ＦＢＧ型光フィルタ２６により反射された試験光は、４ポート光サーキュレータ３５のポート３５−２に戻りポート３５−３から出力された後、ＦＴＥＳ１６へ出力される。
【００７３】
ＦＴＥＳ１６へ出力された試験光のＳＢＳＲは７０ｄＢとなり、試験光の波長帯域で４５ｄＢを遮断するＦＢＧ型ターミーネーションフィルタ１７を透過したときの実効遮断量は４２ｄＢであった。
【００７４】
また、第３の実施形態においては、被測定ファイバ（障害検査の対象となる光ファイバ）から戻る光をモニタリングするために、光カプラ２３を設置し、被測定ファイバからの光を光検出器２１へ導いている。これに対し、第４の実施形態では、４ポート光サーキュレータ３５におけるポート３５−４の先に光検出器２１を設置することにより、同様のモニタリングが可能であり、光カプラが不要となる。
【００７５】
第３の実施形態における光カプラ２３では７ｄＢの試験光の損失が生じていた。一方、第４の実施形態においては、光カプラ２３の役割を果たす４ポート光サーキュレータ３５のポート３５−３からポート３５−４への試験光の透過の損失を１．２ｄＢに抑えることができる。この結果、光測定器１４−４のダイナミックレンジを５．８ｄＢ拡大することができた。
【００７６】
＜第５の実施形態（第１，８，９，１０の発明の説明）＞
図８は、第５の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光カプラモジュールの概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００７７】
図８に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光カプラモジュール９−１は、２つの４ポート光サーキュレータ３５ａ，ｂと、２つのＦＢＧ型光フィルタ２６ａ，ｂと、通信光用のポートＡ，Ｂと、試験光用のポートＣ，Ｄとから構成される。
【００７８】
４ポート光サーキュレータ３５ａ，ｂは、図７を用いて説明した４ポート光サーキュレータ３５と同様の機能を有する。また、ＦＢＧ型光フィルタ２６ａ，ｂは、試験光を反射すると共に、通信光を透過する機能を有する。
【００７９】
ポートＡは光伝送装置７へ接続されるポートであり、ポートＢは光ファイバ５を介して光伝送装置１０へ接続されるポートである。また、ポートＣ，Ｄは、それぞれ、光ファイバ５及び光伝送装置１０側と光伝送装置７側を試験するためのポートである。
【００８０】
本実施形態に係る光カプラモジュール９−１における通信光と試験光の入出力フローを図８及び図９に基づいて説明する。
【００８１】
光伝送装置７から送信された通信光は、ポートＡから光カプラモジュール９−１内において順次、ポート３５ａ−１、ポート３５ａ−２、ＦＢＧ型光フィルタ２６ａ、ポート３５ｂ−１、ポート３５ｂ−２、ポートＢを通過し、光ファイバ５を介して光伝送装置１０により受信される。一方、光伝送装置１０から送信された通信光は、ポートＢから光カプラモジュール９−１内において順次、ポート３５ｂ−２、ポート３５ｂ−４、ＦＢＧ型光フィルタ２６ｂ、ポート３５ａ−３、ポート３５ａ−１、ポートＡを通過し、光伝送装置７により受信される。
【００８２】
光ファイバ５及び光伝送装置１０側をインサービスで光試験する場合には、光試験装置８からポートＣへ試験光を出力する。ポートＣに入力された試験光は、光カプラモジュール９−１内において順次、ポート３５ｂ−３、ポート３５ｂ−１を通過し、ＦＢＧ型光フィルタ２６ａにおいて反射された後、順次、ポート３５ｂ−１、ポート３５ｂ−２を通過し、ポートＢから被測定光ファイバである光ファイバ５へ導かれる。
【００８３】
また、光ファイバ５側から反射されてきた試験光（戻り光）は、順次、ポートＢ、ポート３５ｂ−２、ポート３５ｂ−４を通過し、ＦＢＧ型光フィルタ２６ａで反射された後、ポート３５ｂ−４、ポート３５ｂ−３、ポートＣを通過し、光試験装置８へ入力される。
【００８４】
光測定器１４が光パルス試験器（ＯＴＤＲ）である場合には、試験光のレイリー散乱光や反射光などが戻り光となる。
【００８５】
ＦＢＧ型光フィルタ２６ａ，ｂにおいて、試験光の反射量は波長領域１６５０±５ｎｍでは０ｄＢであり、１６５０±１２．５ｎｍでは−３０ｄＢであった。このとき、１６５０±７．５ｎｍの波長領域に対して遮断量４５ｄＢのＦＢＧ型光フィルタをターミネーションフィルタ１７として設置したところ、ターミネーションフィルタ１７を透過したときの実効遮断量として４２ｄＢを得ることができた。
【００８６】
従来の光線路試験監視システム（図９，１０参照）では、光カプラモジュール９における光カプラ１８は通信用ポートＡ−Ｂ間の損失を抑えるため、光カプラの分岐比を８：２としていた。この結果、従来の光カプラモジュール９では、ポートＣ−Ｂ（又はポートＤ−Ａ）間の透過損失は７．３ｄＢであった。
【００８７】
しかしながら、本実施形態に係る光カプラモジュール９−１を用いることにより、ポートＣ−Ｂ（又はポートＤ−Ａ）間の透過損失を２．５ｄＢに抑えることができた。この結果、光カプラ往復での損失差の計算から、光測定器１８のダイナミックレンジを９．６ｄＢ広げることができた。
【００８８】
本実施形態では、４ポート光サーキュレータを用い、光伝送装置７と光伝送装置１０との間において双方向通信ができるように構成されているが、３ポート光サーキュレータを用いて片方向通信用に構成を簡易化することも可能である。
【００８９】
【発明の効果】
本発明によれば、試験光源のサイドモードを抑制することにより４０ｄＢ以上の試験光遮断特性を実現することができたので、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信等、試験光の遮断量が４０ｄＢ以上必要な通信システムにおいて、インサービス試験の適応可能な光線路試験システムを提供することができる。
【００９０】
更に、ＦＢＧ型光フィルタと、光カプラ、光サーキュレータ等とを適宜組み合わせることでフィルタリング手段を構成することにより、これらの光デバイスにおける試験光損失を減少させ、装置全体のダイナミックレンジを拡大することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施形態に係る光測定器の概略構成図である。
【図２】ＦＢＧ型ターミネーションフィルタの実効遮断量を示すグラフである。
【図３】ＳＢＳＲ７０ｄＢの試験光全体のスペクトル波形を示すグラフ（ａ）と、ターミネーションフィルタ透過後の試験光を示すグラフ（ｂ）である。
【図４】第２の実施形態に係る光測定器の概略構成図である。
【図５】第３の実施形態に係る光測定器の概略構成図である。
【図６】第４の実施形態に係る光測定器の概略構成図である。
【図７】４ポート光サーキュレータの概略構成図である。
【図８】第５の実施形態に係る光カプラモジュールの概略構成図である。
【図９】従来の光線路試験監視システムの一例の概略構成図である。
【図１０】従来の光カプラモジュールの構成を示す概略拡大図である。
【図１１】ＦＢＧ型光ターミネーションフィルタの光学特性を示すグラフである。
【図１２】試験光全体のスペクトル波形を示すグラフ（ａ）と、ターミネーションフィルタ透過後の試験光を示すグラフ（ｂ）である。
【符号の説明】
１光線路試験監視システム
２通信設備ビル
３通信設備ビル
４設備管理センタ
５光ファイバ
６通信網
７光伝送装置
８光試験装置
９光カプラモジュール
９−１光カプラモジュール
１０光伝送装置
１１データベース
１２操作端末
１３試験制御装置
１４光測定器
１４−１〜４光測定器
１５心線選択装置
１６ＦＴＥＳ
１７ターミネーションフィルタ
１８光カプラ
１９フィルタ
２０試験光源
２１光検出器
２２誘電体多層膜型フィルタ
２３光カプラ
２３−１，２光フィルタ
２５光アイソレータ
２６ＦＢＧ型光フィルタ
２６ａ，ｂＦＢＧ型光フィルタ
３０３ポート光サーキュレータ
３５４ポート光サーキュレータ
３５−１〜４ポート
３５ａ，ｂ４ポート光サーキュレータ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical line test system, which can improve the reliability of optical communication equipment and can efficiently perform maintenance and operation.
[0002]
[Prior art]
An optical line test monitoring system is a system for testing and monitoring an optical fiber cable without affecting optical communication services. FIG. 9 is a schematic configuration diagram of an example of a conventional optical line test monitoring system (see Patent Document 1 below). A conventional optical line test monitoring system will be described with reference to FIG.
[0003]
As shown in FIG. 1, the optical line test monitoring system 1 includes a communication facility building 2, another communication facility building 3, and a facility management center 4, and the communication facility building 2 and the other communication facility building 3 The communication facility building 2 and the facility management center 4 are connected by a communication network 6 by an optical fiber 5. Note that the communication facility building 3 may be a user's home that desires transmission and reception of an optical signal.
[0004]
The communication facility building 2 is a building in which telecommunications facilities are installed. In the communication facility building 2, an optical transmission device 7, an optical test device 8, and an optical coupler module 9 are installed. The optical transmission device 10 is installed in the communication facility building 3, and the optical transmission device 7 and the optical transmission device 10 are connected by the optical fiber 5 to transmit and receive an optical signal.
[0005]
The equipment management center 4 has a function of managing equipment information, and is provided with a database 11 of optical line equipment and an operation terminal 12 for remotely operating the optical test equipment 8 installed in the communication equipment building 2. In addition, the optical line test monitoring system 1 can perform the test and inspection of the optical fiber only with the optical line test system including the communication facility building 2 and the other communication facility building 3 without the facility management center 4. Although it is possible, by installing a facility management center and performing information management, there are effects such as being advantageous for maintenance of a large-scale optical communication network.
[0006]
The optical test device 8 installed in the communication facility building 2 includes a test control device 13, an optical measuring device 14, a core wire selecting device 15, and an optical measuring device / test rack selecting device (FTES) 16. .
[0007]
The test control device 13 receives a test instruction from the operation terminal 12 and transmits a test result to the operation terminal 12 by being connected to the operation terminal 12 of the facility management center 4 via the communication network 6. The optical measuring device 14 has functions such as a loss test light source, a fiber optic light source, and a power meter. For example, an optical pulse tester (OTDR) is used. The core selection device 15 has a test light input / output port C ′ or D ′ to the optical coupler module 9 and has a function of selecting an optical fiber core to be subjected to an optical test. The optical measurement device / test rack selection device (FTES) 16 has a function of selecting the optical measurement device 14 and the core wire selection device 15.
[0008]
The optical coupler module 9 provided on the optical fiber 5 connecting the

optical transmission devices

7 and 10 and connected to the optical test device 8 multiplexes and demultiplexes the test light with the optical fiber 5 and also transmits the optical transmission device 7. It has the function of transmitting the communication light to the device and blocking the test light. The termination filter 17 is provided at an input / output port of the optical transmission device 10 to transmit communication light to the optical transmission device 10 and block test light, and to reflect test light larger than Fresnel reflection at the open end. Has the function of generating
[0009]
FIG. 10 is a schematic enlarged view showing the configuration of the optical coupler module 9 shown in FIG. As shown in the figure, the optical coupler module 9 includes an optical coupler 18, a filter 19, ports A and B for communication light, and ports C and D for test light. The optical coupler 18 has a function of multiplexing / demultiplexing the test light and the communication light and coupling them to the optical fiber 5, and the filter 19 has a function of transmitting the communication light to the optical transmission device 7 and blocking the test light. Having.
[0010]
Port A is a port connected to the optical transmission device 7, and port B is a port connected to the optical transmission device 10 via the optical fiber 5. The ports C and D are ports for testing the optical fiber 5 and the optical transmission device 10 and the optical transmission device 7, respectively.
[0011]
Next, a method of detecting a fault in an optical fiber cable by the optical line test monitoring system shown in FIGS. 9 and 10 will be described. First, a test command is output from the operation terminal 12 to the optical test device 8 based on the database 11 installed in the facility management center 4. In accordance with the test command, the test control device 13 of the optical test device 8 selects the optical measuring device 14 by the FTES 16 and the test optical input port C ′ to which the optical fiber to be subjected to the optical test is connected by the core selection device 15. (Corresponding to port C) or D '(corresponding to port D).
[0012]
In front of the optical transmission device 7 and the optical transmission device 10, a filter 19 and a termination filter 17 that respectively block only the test light are installed, so that the test light from the optical measuring device 14 affects the optical communication service. Not to be. As a result, an in-service test of a desired optical fiber can be performed by the optical test device 8.
[0013]
As the termination filter 17, for example, a fiber black grating (hereinafter, referred to as FBG) is used. The FBG-type optical filter is manufactured by irradiating an optical fiber with ultraviolet rays to form tens of thousands of gratings having different refractive indexes in the longitudinal direction of the core of the optical fiber or the core and the cladding at a period of about several hundred nm. You. When the period condition of the refractive index modulation satisfies the Bragg reflection condition, only a specific wavelength is reflected, and other wavelengths are transmitted.
[0014]
FIG. 11 is a graph showing the optical characteristics of the termination filter 17 using the FBG type optical filter. As shown in the figure, the termination filter 17 transmits light in the band of 1260 to 1625 nm at 0.8 dB or less, and the transmission loss sharply increases from 1625 nm to 1645 nm, and blocks light at 1650 nm with a cutoff amount of 20 dB. . In addition, the termination filter 17 reflects only the test light at approximately 0 dB.
[0015]
[Patent Document 1]
JP-A-2-1632
[Non-patent document 1]
N. Araki et al., In-service test of 10 Gbit / s L-band communication using an optical test system to which an L / U-band crossed waveguide optical coupler is applied, "28th ECOC'02 Proceedings", 2002, No. 1 volume, paper 1.2.3
[0016]
[Problems to be solved by the invention]
In recent years, DWDM (Dense Wavelength Division Multiplexing) optical communication using communication wavelengths of 1260 to 1625 nm has been commercialized. Along with this, a 1650 nm band that avoids the communication light wavelength band is used as the test light.
[0017]
A termination filter using an FBG type optical filter is excellent in separating test light and L-band light, that is, light in a wavelength range of 1565 to 1625 nm specified by ITU-T. However, since the cutoff band of the termination filter is as wide as 20 nm, it is difficult to cut off the side mode of the test light source of 1650 nm.
[0018]
Here, assuming that the power spectrum of the output light (wavelength λ) from the test light source is f (λ) and the transmittance of the termination filter is g (λ), the average power F of the entire test light including the side mode and the termination The test light power F ′ after passing through the filter is expressed by the following equations (1) and (2).
(Equation 1)

(Equation 2)

[0019]
Therefore, the effective cutoff amount L at which the output light from the test light source is attenuated by the termination filter. _eff Is represented by the following formula (3) from the above formulas (1) and (2).
[Equation 3]

[0020]
FIG. 12A is a graph showing the spectrum waveform of the entire test light, which was measured by an optical spectrum analyzer. As shown in the figure, the center wavelength of the test light source using the FBG external resonance type LD is 1650 nm, and its side mode suppression ratio (the difference between the emission peak and the secondary side mode, hereinafter referred to as SBSR) is about It turns out that it is 40 dB.
[0021]
FIG. 12B is a graph showing a spectrum waveform after the test light shown in FIG. 12A has passed through the FBG-type termination filter. As shown in the figure, the FBG-type termination filter has a cutoff amount of 45 dB in a wavelength band of 1650 ± 5 nm, while the side-mode power of the test light leaked from the FBG-type termination filter is 45 dB blocked test light (1650 nm). It can be seen that the intensity is relatively stronger than the central spectrum of ()). At this time, the effective cutoff amount calculated from Expression (3) was 23 dB.
[0022]
On the other hand, in order to perform an in-service test in L-band communication at 10 Gbit / s, a test light blocking characteristic of 40 dB or more is required (see Non-Patent Document 1).
[0023]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and realizes a test light blocking characteristic of 40 dB or more by suppressing a side mode of a test light source, and blocks a test light blocking amount such as 10 Gbit / s L-band communication. It is an object of the present invention to provide an optical line test system that enables an in-service test to be performed in a communication system requiring 40 dB or more.
[0024]
[Means for Solving the Problems]
According to a first aspect of the present invention, there is provided an optical line test system including: an optical fiber connected between optical transmission devices; and an optical test unit configured to test the optical fiber with test light.
An optical line test system, characterized in that filtering means for transmitting the test light and suppressing side modes of the test light is provided.
[0025]
According to a second aspect of the present invention, there is provided an optical line test system according to the first aspect,
The optical path test system is characterized in that the filtering means is provided in a test light output path of a test light source constituting the light test means.
[0026]
The filtering unit may be installed anywhere as long as the SBSR of the test light source can be suppressed. For example, the filtering unit is installed in the optical test apparatus, the test light output unit of the test light source, and the vicinity of the test light source. .
[0027]
A third invention for solving the above-mentioned problem is an optical line test system according to the second invention, wherein:
The optical path test system is characterized in that the filtering means is a bandpass filter that transmits the test light and suppresses a side mode of the test light.
[0028]
A fourth invention for solving the above-mentioned problems is an optical line test system according to the second invention, wherein:
The optical path test system is characterized in that the filtering means comprises an FBG type optical filter that reflects the test light and transmits a side mode of the test light, and an optical coupler.
[0029]
As an installation method of the FBG type optical filter and the optical coupler, for example, after the test light output from the test light source passes through the optical coupler, the test light is reflected and the side mode is transmitted through the FBG type optical filter. It is conceivable to install the reflected test light so that it passes through the optical coupler again and is used for an optical fiber test.
[0030]
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an optical line test system according to the second aspect,
The optical line test system is characterized in that the filtering means comprises an FBG type optical filter that reflects the test light and transmits a side mode of the test light, and a three-port optical circulator.
[0031]
As an installation method of the FBG optical filter and the 3-port optical circulator, for example, after the test light output from the test light source passes through the 3-port optical circulator, the test light is reflected by the FBG optical filter and the side mode is set. It is conceivable that the test light is transmitted and reflected so that the test light passes through the three-port optical circulator again and is used for an optical fiber test.
[0032]
A sixth invention for solving the above problems is an optical line test system according to the second invention, wherein:
The optical line test system is characterized in that the filtering means comprises an FBG type optical filter that reflects the test light and transmits a side mode of the test light, and a 4-port optical circulator.
[0033]
As an installation method of the FBG optical filter and the 4-port optical circulator, for example, after the test light output from the test light source passes through the 4-port optical circulator, the test light is reflected by the FBG optical filter and the side mode is set. It is conceivable to set the test light transmitted and reflected so as to pass through the four-port optical circulator again to be used for the test of the optical fiber.
[0034]
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an optical line test system according to the sixth aspect,
An optical line test system, wherein a light detecting means constituting the light testing means is installed at a port of the four-port optical circulator.
[0035]
The light detecting means is a device (light detector) for receiving the test light returned from the optical fiber.
[0036]
An eighth invention for solving the above problems is the optical line test system according to the first invention, wherein:
The filtering means is provided in an optical branching means which constitutes the optical test means and guides the test light to the optical fiber and guides the test light returning from the optical fiber into the optical test means. An optical line test system characterized by the following.
[0037]
As an optical branching unit, for example, an optical coupler (optical coupler module) installed on an optical fiber connecting optical transmission devices and optically connecting an optical testing unit and an optical fiber cable can be considered.
[0038]
A ninth invention for solving the above problems is the optical line test system according to the eighth invention, wherein:
The optical line test system is characterized in that the filtering means comprises an FBG type optical filter that reflects the test light and transmits a side mode of the test light, and a 4-port optical circulator.
[0039]
As an installation method of the FBG type optical filter and the 4-port optical circulator, for example, when the test light output from the test light source is guided to the optical fiber by the optical branching unit, the test light passes through the 4-port optical circulator, It is conceivable to set up such that the test light is reflected and the side mode is transmitted through the type optical filter, and the reflected test light passes through the 4-port optical circulator and is used for the test of the optical fiber.
[0040]
Further, for example, when two four-port optical circulators (first and second circulators) are connected in series in the same direction, an FBG type optical filter (FBG type optical filter) is connected to each of two optical fibers connecting the two four-port optical circulators. (First and second filters) may be inserted.
[0041]
In this case, when the test light output from the test light source is guided to the optical fiber by the optical branching unit, the test light passes through the first 4-port optical circulator and then passes through the first FBG type optical filter. Is reflected and the side mode is transmitted, and the reflected test light again passes through the four-port optical circulator and is subjected to an optical fiber test on one of the optical transmission devices.
[0042]
Similarly, by transmitting and reflecting the test light through the second 4-port optical circulator and the second FBG type optical filter, the optical fiber test is performed on the other optical transmission device side.
[0043]
A tenth invention for solving the above problems is the optical line test system according to any one of the fourth to seventh and ninth inventions,
A cutoff wavelength band of the FBG type optical filter;
A cutoff wavelength band of a filter that constitutes the optical test unit and has a filter that transmits communication light to the optical transmission device and blocks entry of the test light,
An optical line test system characterized by being substantially the same.
[0044]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
<First Embodiment (Description of First to Third Inventions)>
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an optical measurement device in the optical line test monitoring system according to the first embodiment. The configuration of the optical line test monitoring system according to this embodiment is the same as that of the optical line test monitoring system shown in FIG.
[0045]
As shown in FIG. 1, the optical measuring device 14-1 of the optical line test monitoring system according to the present embodiment includes a test light source 20 that generates test light of 1650 nm, a photodetector (PD) 21, a dielectric multilayer It comprises a film type filter (narrow bandpass filter) 22 and an optical coupler 23.
[0046]
As the test light source 20, a test light source having the optical characteristics shown in FIG. 12 is used, and the SBSR is 40 dB. In addition, the dielectric multilayer film type filter 22 was installed between the test light source 20 and the optical coupler 23 and immediately near the test light source 20. The dielectric multilayer filter 22 has a function of transmitting the test light of 1650 ± 5 nm at 0 dB and attenuating a fixed amount (for example, 10 dB, 20 dB, 30 dB) in a region other than 1650 ± 12.5 nm.
[0047]
For example, if a dielectric multilayer filter that attenuates 10 dB in a region other than 1650 ± 12.5 nm is installed, the SBSR of the test light output to the FTES 16 becomes 50 dB. Similarly, when a dielectric multilayer filter that attenuates 20 dB and 30 dB is installed, the SBSR of the output test light is 60 dB and 70 dB, respectively.
[0048]
FIG. 2 is a graph showing the effective cutoff amount of the FBG termination filter 17 having the cutoff characteristic of 45 dB with respect to the cutoff band of the FBG termination filter 17. The installation of the dielectric multilayer filter 22 outputs a test light with an SBSR of 50, 60, and 70 dB, and the removal of the dielectric multilayer filter 22 outputs a test light with an SBSR of 40 dB. Was measured. The wavelength resolution of the optical spectrum analyzer was 0.1 nm.
[0049]
As shown in the figure, when the SBSR is 40 dB and 50 dB, the effective cutoff amounts of the termination filters are about 22 dB and about 31 dB, respectively, and do not exceed the target of 40 dB. On the other hand, when the SBSR is 60 dB and the filter cutoff band is 17 nm or more, an effective cutoff amount of about 40 dB can be obtained. When the SBSR is 70 dB and the filter cutoff band is 14 nm or more, almost the target effective cutoff region can be obtained.
[0050]
FIG. 3A is a graph showing a spectrum waveform of the entire test light in which the SBSR is suppressed to 70 dB. That is, the spectrum of the test light output from the test light source 20 when the dielectric multilayer filter 22 having the attenuation of 30 dB in the region other than 1650 ± 12.5 nm is installed. FIG. 3B is a graph showing a spectrum waveform after the test light having the optical characteristics shown in FIG. 3A has passed through the FBG-type termination filter 17, and has a cutoff band of 14 nm or more and a cutoff amount of 45 dB. Was used.
[0051]
As shown in FIGS. 3A and 3B, the power in the side mode was sufficiently smaller than the center spectrum of the test light, and the effective cutoff amount at this time was 42 dB. As a result, it was possible to achieve an effective cutoff amount of 40 dB or more required for the in-service test in the L-band communication of 10 Gbit / s.
[0052]
The position of the dielectric multilayer film type filter 22 may be any place as long as it is installed in a place where the SBSR of the test light source can be suppressed. That is, in addition to the inside of the optical measurement device 14-1, for example, between the optical measurement device 14-1 and the FTES 16, between the FTES 16 and the core selection device 15, and between the core selection device 15 and the optical coupler module 9. It may be installed at the C port or the D port of the optical coupler module 9 between them.
[0053]
<Second Embodiment (Description of First, Second, Fourth, and Tenth Inventions)>
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of an optical measurement device in the optical line test monitoring system according to the second embodiment. The configuration of the optical line test monitoring system according to this embodiment is the same as that of the optical line test monitoring system shown in FIG.
[0054]
As shown in FIG. 4, the optical measuring device 14-2 of the optical line test monitoring system according to the present embodiment includes a test light source 20 that generates test light of 1650 nm, a photodetector (PD) 21, and an optical isolator 25. , Optical couplers 23-1 and 23-2, and an FBG type optical filter 26.
[0055]
In the optical measuring device 14-2, the output light from the test light source 20 passes through the optical isolator 25 and the optical coupler 23-1, and then is reflected by the FBG type optical filter 26 installed before the 3dB optical coupler 23-1. Is done.
[0056]
The FBG type optical filter 26 has substantially the same cutoff wavelength band as the termination filter 17. The FBG type optical filter 26 has a reflection amount of about 0 dB in a test light wavelength band of 1650 nm ± 5 nm, and -30 dB or less outside the test light wavelength band.
[0057]
The test light reflected by the FBG type optical filter 26 is output to the FTES 16 after passing through the optical couplers 23-1 and 23-2. The return light to the test light source 20 is blocked by the optical isolator 25.
[0058]
The SBSR of the test light output to the FTES 16 was 70 dB, and the effective cutoff amount when transmitted through the FBG-type termination filter 17 that cuts off 45 dB in the test light wavelength band was 42 dB.
[0059]
<Third Embodiment (Description of Inventions of First, Second, Five, Tenth)>
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of an optical measurement device in the optical line test monitoring system according to the third embodiment. The configuration of the optical line test monitoring system according to this embodiment is the same as that of the optical line test monitoring system shown in FIG.
[0060]
As shown in FIG. 5, the optical measurement device 14-3 of the optical line test monitoring system according to the present embodiment includes a test light source 20 that generates test light of 1650 nm, a photodetector (PD) 21, and a three-port light. It comprises a circulator 30, an optical coupler 23, and an FBG type optical filter 26.
[0061]
In the optical measuring device 14-3, the output light from the test light source 20 is transmitted from the port A of the three-port optical circulator 30 to the port B, and then the FBG type light installed before the port B of the three-port optical circulator 30. The light is reflected by the filter 26.
[0062]
The FBG type optical filter 26 has substantially the same cutoff wavelength band as the termination filter 17. The FBG type optical filter 26 has a reflection amount of about 0 dB in a test light wavelength band of 1650 nm ± 5 nm, and -30 dB or less outside the test light wavelength band.
[0063]
The test light reflected by the FBG type optical filter 26 returns to the port B of the three-port optical circulator 30 and is output from the port C. After passing through the optical coupler 23, the test light is output to the FTES 16.
[0064]
The SBSR of the test light output to the FTES 16 was 70 dB, and the effective cutoff amount when transmitted through the FBG-type termination filter 17 that cuts off 45 dB in the wavelength band of the test light was 42 dB.
[0065]
Further, in the second embodiment, the loss of the test light in the optical coupler 23-1 is 7 dB, whereas in the third embodiment, the transmission loss in the three-port optical circulator 30 is 2. 5 dB, and the dynamic range of the photometer 14-3 could be expanded by 4.5 dB.
[0066]
<Fourth Embodiment (Description of First, Second, Sixth, Seventh, and Tenth Inventions)>
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of an optical measurement device in the optical line test monitoring system according to the fourth embodiment. The configuration of the optical line test monitoring system according to this embodiment is the same as that of the optical line test monitoring system shown in FIG.
[0067]
As shown in FIG. 6, the optical measuring device 14-4 of the optical line test monitoring system according to the present embodiment includes a test light source 20 that generates test light of 1650 nm, a photodetector (PD) 21, and a four-port light. It is composed of a circulator 35 and an FBG type optical filter 26.
[0068]
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of the 4-port optical circulator 35. As shown in the figure, the four-port optical circulator 35 is provided with four ports, that is, a port 35-1, a port 35-2, a port 35-3, and a port 35-4. Has the function of controlling the port that can be transmitted according to the traveling direction of the device. In the drawing, light traveling in the four-port optical circulator 35 is schematically indicated by an arrow, and the direction indicated by the arrow indicates the direction in which the light is transmitted.
[0069]
For example, incident light from port 35-1 is output from port 35-2, incident light from port 35-2 is output from port 35-3, and incident light from port 35-3 is output from port 35-4. The light is output, and the incident light from the port 35-4 is output from the port 35-1. The transmission loss at this time is about 1 dB.
[0070]
In the optical measurement device 14-4, the output light from the test light source 20 enters from the port 35-1 of the 4-port optical circulator 35 and passes through the port 35-2, and is transmitted to the port 35-2 of the 4-port optical circulator 35. The light is reflected by the FBG type optical filter 26 installed earlier.
[0071]
The FBG type optical filter 26 has substantially the same cutoff wavelength band as the termination filter 17. The FBG type optical filter 26 has a reflection amount of about 0 dB in a test light wavelength band of 1650 nm ± 5 nm, and -30 dB or less outside the test light wavelength band.
[0072]
The test light reflected by the FBG type optical filter 26 returns to the port 35-2 of the four-port optical circulator 35, is output from the port 35-3, and is output to the FTES 16.
[0073]
The SBSR of the test light output to the FTES 16 was 70 dB, and the effective cutoff amount when transmitted through the FBG-type termination filter 17 that cuts off 45 dB in the wavelength band of the test light was 42 dB.
[0074]
In the third embodiment, an optical coupler 23 is installed to monitor the light returning from the fiber under measurement (the optical fiber to be subjected to the fault inspection), and the light from the fiber under measurement is detected by the photodetector 21. Leading to. On the other hand, in the fourth embodiment, the same monitoring is possible by installing the photodetector 21 at the end of the port 35-4 in the four-port optical circulator 35, and the optical coupler is not required.
[0075]
In the optical coupler 23 according to the third embodiment, a loss of 7 dB of test light occurred. On the other hand, in the fourth embodiment, the loss of the transmission of the test light from the port 35-3 to the port 35-4 of the four-port optical circulator 35 serving as the optical coupler 23 can be suppressed to 1.2 dB. As a result, the dynamic range of the optical measurement device 14-4 could be expanded by 5.8 dB.
[0076]
<Fifth Embodiment (Description of First, Eighth, Ninth, and Tenth Inventions)>
FIG. 8 is a schematic configuration diagram of an optical coupler module in the optical line test monitoring system according to the fifth embodiment. The configuration of the optical line test monitoring system according to this embodiment is the same as that of the optical line test monitoring system shown in FIG.
[0077]
As shown in FIG. 8, the optical coupler module 9-1 of the optical line test monitoring system according to the present embodiment includes two 4-port optical circulators 35a and 35b, two FBG type optical filters 26a and 26b, and communication light. Ports A and B for test and ports C and D for test light.
[0078]
The four-port optical circulators 35a and 35b have the same functions as the four-port optical circulator 35 described with reference to FIG. Further, the FBG type optical filters 26a and 26b have a function of reflecting test light and transmitting communication light.
[0079]
Port A is a port connected to the optical transmission device 7, and port B is a port connected to the optical transmission device 10 via the optical fiber 5. The ports C and D are ports for testing the optical fiber 5 and the optical transmission device 10 and the optical transmission device 7, respectively.
[0080]
An input / output flow of communication light and test light in the optical coupler module 9-1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.
[0081]
The communication light transmitted from the optical transmission device 7 is sequentially transmitted from the port A to the port 35a-1, the port 35a-2, the FBG optical filter 26a, the port 35b-1, and the port 35b-2 in the optical coupler module 9-1. , Port B and received by the optical transmission device 10 via the optical fiber 5. On the other hand, the communication light transmitted from the optical transmission device 10 is sequentially transmitted from the port B to the port 35b-2, the port 35b-4, the FBG optical filter 26b, the port 35a-3, and the port 35a in the optical coupler module 9-1. -1, passing through port A and received by optical transmission device 7;
[0082]
When an optical test is performed on the optical fiber 5 and the optical transmission apparatus 10 in service, a test light is output from the optical test apparatus 8 to the port C. The test light input to the port C sequentially passes through the ports 35b-3 and 35b-1 in the optical coupler module 9-1, is reflected by the FBG type optical filter 26a, and then sequentially passes through the port 35b-1. , Port 35b-2, and is guided from port B to the optical fiber 5, which is the optical fiber to be measured.
[0083]
The test light (return light) reflected from the optical fiber 5 side sequentially passes through the port B, the port 35b-2, and the port 35b-4, and after being reflected by the FBG type optical filter 26a, the port 35b. -4, port 35b-3, and port C, and are input to the optical test apparatus 8.
[0084]
When the optical measuring device 14 is an optical pulse tester (OTDR), Rayleigh scattered light, reflected light, or the like of the test light is returned light.
[0085]
In the FBG type optical filters 26a and 26b, the reflection amount of the test light was 0 dB in the wavelength region of 1650 ± 5 nm, and was -30 dB in the wavelength region of 1650 ± 12.5 nm. At this time, when an FBG type optical filter having a cutoff amount of 45 dB for the wavelength region of 1650 ± 7.5 nm was installed as the termination filter 17, an effective cutoff amount of 42 dB when transmitted through the termination filter 17 was obtained. .
[0086]
In the conventional optical line test monitoring system (see FIGS. 9 and 10), the optical coupler 18 in the optical coupler module 9 has a branching ratio of the optical coupler of 8: 2 in order to suppress the loss between the communication ports AB. As a result, in the conventional optical coupler module 9, the transmission loss between the ports CB (or the ports DA) was 7.3 dB.
[0087]
However, by using the optical coupler module 9-1 according to the present embodiment, the transmission loss between the ports CB (or the ports DA) could be suppressed to 2.5 dB. As a result, the dynamic range of the optical measuring device 18 could be extended by 9.6 dB from the calculation of the loss difference between the optical coupler and the optical coupler.
[0088]
In this embodiment, a four-port optical circulator is used to enable bidirectional communication between the optical transmission device 7 and the optical transmission device 10. However, a three-port optical circulator is used for one-way communication. The configuration can be simplified.
[0089]
【The invention's effect】
According to the present invention, since the test light cutoff characteristic of 40 dB or more can be realized by suppressing the side mode of the test light source, the cutoff amount of test light such as 10 Gbit / s L-band communication is 40 dB or more. In a required communication system, an optical line test system applicable to an in-service test can be provided.
[0090]
Furthermore, by configuring the filtering means by appropriately combining an FBG type optical filter, an optical coupler, an optical circulator, and the like, it is possible to reduce test light loss in these optical devices and expand the dynamic range of the entire apparatus. It becomes possible.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an optical measurement device according to a first embodiment.
FIG. 2 is a graph showing an effective cutoff amount of an FBG type termination filter.
FIGS. 3A and 3B are a graph (a) showing a spectrum waveform of the entire test light of SBSR 70 dB and a graph (b) showing the test light after passing through a termination filter.
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of an optical measurement device according to a second embodiment.
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of an optical measurement device according to a third embodiment.
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of an optical measurement device according to a fourth embodiment.
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a four-port optical circulator.
FIG. 8 is a schematic configuration diagram of an optical coupler module according to a fifth embodiment.
FIG. 9 is a schematic configuration diagram of an example of a conventional optical line test monitoring system.
FIG. 10 is a schematic enlarged view showing a configuration of a conventional optical coupler module.
FIG. 11 is a graph showing optical characteristics of an FBG-type optical termination filter.
12A is a graph showing a spectrum waveform of the entire test light, and FIG. 12B is a graph showing the test light after passing through a termination filter.
[Explanation of symbols]
1 Optical line test monitoring system
2 Communication equipment building
3 communication facilities building
4 Facilities Management Center
5 Optical fiber
6 Communication network
7 Optical transmission equipment
8 Optical test equipment
9 Optical coupler module
9-1 Optical coupler module
10 Optical transmission equipment
11 Database
12 Operation terminal
13 Test control device
14 Optical measuring instrument
14-1-4 Optical measuring instrument
15 core wire selection device
16 FTES
17 Termination filter
18 Optical coupler
19 Filter
20 Test light source
21 Photodetector
22 Dielectric multilayer filter
23 Optical coupler
23-2, Optical Filter
25 Optical isolator
26 FBG type optical filter
26a, b FBG type optical filter
30 3-port optical circulator
35 4-port optical circulator
35-1 to 4 ports
35a, b 4-port optical circulator

Claims

In an optical line test system having an optical fiber connected between optical transmission devices and optical test means for testing the optical fiber with test light,
An optical line test system, further comprising filtering means for transmitting the test light and suppressing a side mode of the test light.

The optical line test system according to claim 1,
The optical line test system according to claim 1, wherein the filtering unit is provided in a test light output path of a test light source constituting the light test unit.

The optical line test system according to claim 2,
The optical line test system according to claim 1, wherein the filtering unit is a bandpass filter that transmits the test light and suppresses a side mode of the test light.

The optical line test system according to claim 2,
The optical line test system according to claim 1, wherein the filtering unit includes an FBG type optical filter that reflects the test light and transmits a side mode of the test light, and an optical coupler.

The optical line test system according to claim 2,
The optical line test system according to claim 1, wherein the filtering unit includes an FBG type optical filter that reflects the test light and transmits a side mode of the test light, and a three-port optical circulator.

The optical line test system according to claim 2,
The optical line test system according to claim 1, wherein the filtering means includes an FBG type optical filter that reflects the test light and transmits a side mode of the test light, and a 4-port optical circulator.

The optical line test system according to claim 6,
An optical line test system, wherein a light detection means constituting the light test means is installed at a port of the four-port optical circulator.

The optical line test system according to claim 1,
The filtering unit is provided in an optical branching unit that constitutes the optical test unit and guides the test light to the optical fiber and guides the test light returning from the optical fiber into the optical test unit. An optical line test system characterized in that:

The optical line test system according to claim 8,
The optical line test system according to claim 1, wherein the filtering means includes an FBG type optical filter that reflects the test light and transmits a side mode of the test light, and a 4-port optical circulator.

In the optical line test system according to any one of claims 4 to 7 and 9,
A cutoff wavelength band of the FBG type optical filter;
A cutoff wavelength band of a filter that constitutes the optical test unit and has a filter that transmits communication light to the optical transmission device and blocks entry of the test light,
An optical line test system characterized by being substantially the same.