JP2004239879A - Waveform storage and method of setting waveform determination area - Google Patents

Waveform storage and method of setting waveform determination area Download PDF

Info

Publication number
JP2004239879A
JP2004239879A JP2003032246A JP2003032246A JP2004239879A JP 2004239879 A JP2004239879 A JP 2004239879A JP 2003032246 A JP2003032246 A JP 2003032246A JP 2003032246 A JP2003032246 A JP 2003032246A JP 2004239879 A JP2004239879 A JP 2004239879A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
waveform
closed space
data storage
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003032246A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4104468B2 (en
Inventor
Shuichi Takahashi
修一 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
Priority to JP2003032246A priority Critical patent/JP4104468B2/en
Publication of JP2004239879A publication Critical patent/JP2004239879A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4104468B2 publication Critical patent/JP4104468B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To simply and accurately set a waveform determination area. <P>SOLUTION: This waveform storage is equipped with an input part 12, a data storage memory 13 to be stored with waveform data taken in from the input part 12, a program memory 14 for holding a program, a central processing means 15, and an input-output means 16. The storage memory 13 is equipped with a waveform storage area to be stored with a plurality of good-item waveform data, and a memory area for holding data the same as the stored data as backup data. The storage area is demarcated in a closed space where the good-item waveform data are parallelized to a display screen of the input-output means 16, and stored data can be held in a state where stored data deviating from the closed space are marked out. The stored data are converted into image data wherein exclusive ORs are individually found between respective corresponding data of the backup data to make the closed space an inside-bored closed space, and an waveform determination area can be displayed on the display screen. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、簡易な操作で実測波形の適否を高精度に判定することができる波形記憶装置および波形判定エリアの設定方法に関する技術である。
【0002】
【従来の技術】
製造ラインにおいては、製品の良否を判別するために波形の歪率や波高率などを測定する特性試験が従来から行われてきている。この際に行われる実測波形の判定には、サンプリング毎に、予め定めてある上限データと下限データとの間の領域を波形判定エリアとして設定し、該波形判定エリア内に実測波形の全てが位置している場合を適(OK)とし、一部でも外れている場合を否(NG)とすることでその適否の判定が行われていた(例えば、特許文献1参照。)。
【0003】
【特許文献1】
特公平5−39490号公報(第1頁右欄、第17図)
【0004】
図7は、例えば特許文献1の第17図に示されているような波形判定エリアの設定手順の従来手法を例示した説明図であり、良品波形として測定された1つのアナログ波形をディジタル化して取り込んでメモリに保持させた後、キー操作により「波形取込み」コマンドを実行してエディタ画面1上に図7(a)に示すように波形2として取り込む。
【0005】
しかる後、キー操作により「平行移動」コマンドを実行し、波形2に対し図7(a)にて矢印で示す上下左右方向にエリアを拡大して図7(b)に示すように波形判定エリア3を作成し、各チャンネルから各別に取り込まれる実測波形が波形判定エリア3との関係で比較され、その適否の判定を行うことができるようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、図7に示す波形判定エリアの設定手法による場合には、良品波形として1つの波形2しか取り込むことができないので、基準となるもとの良品波形がどの程度の良品レベルにあるかを判断することが難しかった。このため、場合によっては境界ぎりぎりの良品レベルにある波形2を基準にしてマージンの偏った波形判定エリアを作成してしまい、個々の実測波形の適否を判定する際の判定精度に対する信頼性を損なわせてしまう不都合があった。
【0007】
本発明は、従来技術にみられた上記課題に鑑み、取り込んだ複数の良品波形データを用いてより精度の高い波形判定エリアを簡易に作成することができる波形記憶装置および波形判定エリアの設定方法を提供することに目的がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、そのうちの第1の発明(装置)は、波形信号をディジタル化された波形データとして取り込む入力部と、取り込まれた波形データを格納するデータ格納メモリと、必要なプログラムを読み出し自在に保持するプログラムメモリと、演算制御用の中央処理手段(CPU)と、ディスプレイや外部記憶装置を含む入出力手段とを少なくとも備えてなる波形記憶装置において、前記データ格納メモリは、複数の良品波形データを格納する波形データ格納領域と、該波形データ格納領域の格納データと同一のデータを裏データとして保持するメモリ領域とを備え、前記波形データ格納領域は、良品波形データを前記入出力手段を構成する表示画面に対応させた閉空間に画成し、かつ、該閉空間を外れるその余の格納データを塗りつぶした状態とした格納データの保持を自在とし、該格納データは、前記中央処理手段(CPU)を介して前記裏データのそれぞれの対応データとの間で個別に排他論理和をとることで、前記閉空間を中抜け閉空間とする画像データに変換して前記表示画面に波形判定エリアとしての表示を自在としたことに特徴がある。
【0009】
また、第2の発明(方法)は、装置本体側にディジタル化して取り込まれた複数の良品波形データをその裏データとともにデータ格納メモリに格納するプロセスと、該データ格納メモリの波形データ格納領域に格納した複数の良品波形データを境界線を介して入出力手段を構成する表示画面に対応させた閉空間に画成するプロセスと、前記波形データ格納領域における前記閉空間を外れる部位を塗りつぶすプロセスと、前記波形データ格納領域内の現在の格納データと前記裏データとのそれぞれの対応データの間で個別に排他論理和をとって、前記閉空間を波形判定エリアとして用いるための中抜け閉空間の画像データとするプロセスとを少なくとも含むことことに特徴がある。この場合、中抜け閉空間を含む前記波形データ格納領域内の画像データの全体を白黒反転するプロセスを含むものであってもよい。
【0010】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明のうちの第1の発明(装置)の概略構成例を示すブロック図であり、波形記憶装置11の全体は、信号をディジタル化された波形データとして取り込む入力部12と、取り込まれた波形データを格納するデータ格納メモリ13と、必要なプログラムを読み出し自在に保持するプログラムメモリ14と、演算制御用の中央処理手段(CPU)15と、ディスプレイや外部記憶装置を含む入出力手段16とを少なくとも備えて構成されている。
【0011】
入力部12は、基準となるべき良品からアナログデータとして実測された信号(電圧)をディジタル変換して、時系列の電圧変化である例えば図3(a)に示されているような良品波形データW(W〜W)として装置本体側に取り込むことができるようになっている。
【0012】
ビデオメモリ(VRAM)などからなるデータ格納メモリ13は、取り込まれた良品波形データW(W〜W)を読み出し自在に格納する例えば縦方向が400ドットで横方向が500ドットのマトリックス状となった波形データ格納領域23を有している。また、該波形データ格納領域23は、図3(a)に示すように格納された良品波形データW(W〜W)と同一の波形データを裏データとして待避させてこれを読み出し自在に保持しておくことができるメモリ領域も別途に備えている。
【0013】
プログラムメモリ14は、中央処理手段(CPU)14に対し必要な演算・制御処理を行わせるためのプログラムを読み出し自在に保持させておくことができるROMにより形成されている。
【0014】
中央処理手段(CPU)15は、図示しない操作部からのキー操作入力などの操作入力状況に応じてその全体を統括制御することができるほか、データ格納メモリ13に格納されている波形データを解析して、入出力手段16の側に出力したり、該出力手段16の側から必要データを受け取ったりすることもできるようになっている。
【0015】
入出力手段16は、LCDなどからなるディスプレイや、波形判定エリアの作成処理を行うプログラムなどがファイルとして格納されているHDDなどからなる外部記憶装置を含んで構成されている。この場合、入出力手段16がディスプレイであれば、信号(電圧)の時間的な変化である波形(電圧)は、例えば図5や図6に示されているように、縦軸を電圧軸(V)とし、横軸を時間軸(Sec)としてその表示画面26に表示されることになる。
【0016】
また、入出力手段16としてのディスプレイが備える表示画面26(図5,図6参照)上には、複数の良品波形データW(W〜W)における上限値の連続である最大値ラインlと、下限値の連続である最小値ラインlとで区画される所定幅の帯状領域からなる波形判定エリアEを適宜設定表示することができるようになっている。
【0017】
図2は、このような構成からなる第1の発明に(装置)に適用して実施される第2の発明(方法)の処理手順を示すフローチャートであり、図3(a)〜(d)として示す波形データ格納領域23の対応模式図を参酌しながら以下にその詳細を説明する。
【0018】
図3(a)は、データ格納メモリ13における波形データ格納領域23への波形データの格納状況を例示したものであり、該波形データ格納領域23として用意される全メモリ容量のうち、破線による囲繞部分がディスプレイが備える表示画面26との関係での表示画面対応領域33として確保され、該表示画面対応領域33内に3個の良品波形から入力部12を介して取り込まれた良品波形データW(W〜W)がそれぞれ格納されている。
【0019】
まず、波形判定エリアの設定処理が開始されると、波形データ格納領域23内にて表示画面対応領域33を区画している縦方向での各破線位置が表示画面26の左右方向での表示境界であることから、これに合わせた境界線L,Lを黒ドットで1ライン分それぞれ引き並べる処理が行われる。なお、これらの境界線L,Lは、表示画面26自体の左右方向での最大幅を示すものであり、表示画面26に目視可能に表示されることはない。
【0020】
これにより、図3(b)に示すように、良品波形データW(W〜W)は、その始端側が境界線Lで、終端側が境界線Lでそれぞれ仕切られる結果、表示範囲としての閉空間43が区画形成されることになる。
【0021】
このように良品波形データW(W〜W)と境界線L,Lとで閉空間43を区画形成した後は、該閉空間43の上下方向での最大幅から外れるその余の波形データ格納領域23を図3(c)に示すようにすべて公知の塗りつぶし機能を用いて塗りつぶす。
【0022】
データ格納メモリ13中の波形データ格納領域23における閉空間43以外の部位を塗りつぶした後は、波形データ格納領域23における図3(c)に示す状態にある格納データと、図3(a)に示す状態の格納データと同一パターンのもとで別途待避させておいた裏データとの間で、相互の対応データのそれぞれにつき排他論理和をとることで、良品波形データW(W〜W)として閉空間43内に位置している全ての波形線を消し去る。
【0023】
これにより、波形データ格納領域23の格納データは、閉空間43が図3(d)に示すように中抜け閉空間53となるデータに変換され、周囲が塗りつぶされて中抜け閉空間53のみが白地となった画像データ63とすることができることになる。
【0024】
このようにして図3(d)に示す画像データ63を得た後は、その全体を白黒反転させて図4に示す反転画像データ73に変換してその処理を終了する。
【0025】
図5は、図4に示す反転画像データ73をディスプレイが備える表示画面26に表示させた際の波形判定エリアEの設定例を示すものであり、図5の設定例は、所望により図6に示すようにさらに再反転させて表示することもできる。
【0026】
このため、本発明によれば、データ格納メモリ13の波形データ格納領域23に複数の良品波形データW(W〜W)を重ね描きすることで相互が交差して多数の小閉空間が区画形成されても、これら小閉空間の全てを個別に塗りつぶして波形判定エリアを設定するといったような煩雑な作業を強いられることなく、排他論理和を用いる簡易な操作で波形判定エリアEを容易に設定することができる。
【0027】
また、波形判定エリアEを設定した後の波形データ格納領域23の格納データは、図3(d)の格納パターのほか、これを単に反転させることにより図4に示す格納パターンとすることもできるので、これに対応して表示画面26への波形判定エリアEの表示パターンも図5に示すパターンや図6に示すパターンを適宜選択することができることになる。
【0028】
このようにして波形判定エリアEを設定した後は、個々の実製品から取り込まれた波形データの全てが波形判定エリアE内に位置していれば適(OK)とし、一部でも外れていればを否(NG)とすることで、その適否判定を精度高く行うことができる。
【0029】
以上は、本発明の実施形態を図示例に即して説明したものであり、その具体的な実施の形態例はこれに限定されるものではない。例えば、波形判定エリアを設定するために取り込まれる良品波形データの数は、2以上の多数にわたるものであってもよい。また、波形判定エリアを利用しての適否判定は、波形判定エリア内に実製品から取り込まれた波形データの一部でも入っている場合には否(NG)とし、その全てが外れている場合には適(OK)と判定するようにしてもよい。さらに、表示画面に表示される波形判定エリアとその余の部位とは、相互を容易に視別することができるものでさえあれば、所望に応じ適宜の色を用いて表示することができる。さらにまた、表示画面に表示される波形判定エリアは、図5と図6とに示されている時系列データとしての表示に限られるものではなく、例えばXとYとの2系統の入力に対し、X軸をCH1とし、Y軸をCH2とし、2つのチャンネルの相関を観測するするため、つまり、XY表示についてもそのまま適用することができる。
【0030】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、波形判定エリアの設定を1つの良品波形データに基づいて行うことなく、複数の良品波形データを利用して設定することができるので、より精度の高い波形判定エリアを利用して信頼性の高い判定を行うことができる。
【0031】
また、データ格納メモリの波形データ格納領域に複数の良品波形データを重ね描きすることで相互が交差して多数の小閉空間が区画形成されても、排他論理和を用いる簡易な操作で高精度の波形判定エリアを容易に設定することができるので、それだけ波形判定作業を円滑に遂行することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の発明(装置)の構成例を示すブロック図。
【図2】第2の発明(方法)の処理手順の概要を例示したフローチャート。
【図3】図2のフローチャートとの対応関係のもとでデータ格納メモリにおける波形データ格納領域内のデータ処理の変遷を(a)〜(d)として示す対応模式図。
【図4】図3(d)の状態にある波形データ格納領域内の格納データを白黒反転させた際の状態を模式的に示す説明図。
【図5】図4との対応関係のもとで表示画面に波形判定エリアを設定した際の状態説明図。
【図6】図5の状態を再反転した際の状態説明図。
【図7】従来からある波形記憶装置における表示画面に対する波形判定エリアの設定手順を(a),(b)として例示した説明図。
【符号の説明】
11 波形記憶装置
12 入力部
13 データ格納メモリ
14 プログラムメモリ
15 中央処理手段(CPU)
16 入出力手段
23 波形データ格納領域
26 表示画面
33 表示画面対応領域
43 閉空間
53 中抜け閉空間
63 画像データ
73 反転画像データ
W(W〜W ) 良品波形データ
最大値ライン
最小値ライン
,L境界線
E 波形判定エリア
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a technique relating to a waveform storage device and a method of setting a waveform determination area, which can determine the suitability of an actually measured waveform with high accuracy by a simple operation.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In a production line, a characteristic test for measuring a waveform distortion factor, a crest factor, and the like has been conventionally performed in order to determine the quality of a product. In the determination of the actually measured waveform performed at this time, an area between predetermined upper limit data and lower limit data is set as a waveform determination area for each sampling, and all of the actually measured waveforms are positioned within the waveform determination area. The appropriateness (OK) is judged as being true, and the unsatisfactory judgment is made (NG) if any part is out of alignment (for example, see Patent Document 1).
[0003]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Publication No. 5-39490 (page 1, right column, FIG. 17)
[0004]
FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating a conventional method of setting a waveform determination area as shown in FIG. 17 of Patent Document 1, for example, by digitizing one analog waveform measured as a good waveform. After the data is captured and stored in the memory, a “waveform capture” command is executed by a key operation to capture the waveform 2 on the editor screen 1 as shown in FIG.
[0005]
Thereafter, a "parallel movement" command is executed by a key operation, and the area of the waveform 2 is enlarged in the up, down, left, and right directions indicated by arrows in FIG. 7 (a) to expand the waveform determination area as shown in FIG. 7 (b). 3, the actually measured waveforms respectively taken from each channel are compared in relation to the waveform determination area 3 to determine whether or not the waveform is appropriate.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the case of using the waveform determination area setting method shown in FIG. 7, since only one waveform 2 can be captured as a non-defective waveform, it is determined how good the non-defective level of the reference non-defective waveform is. It was difficult to do. For this reason, in some cases, a waveform determination area with a biased margin is created based on the waveform 2 at the non-defective level just before the boundary, and the reliability of the determination accuracy when determining the suitability of each actually measured waveform is impaired. There was an inconvenience.
[0007]
The present invention has been made in view of the above problems in the prior art, and provides a waveform storage device and a waveform determination area setting method capable of easily creating a more accurate waveform determination area using a plurality of acquired non-defective waveform data. The purpose is to provide.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The present invention has been made to achieve the above object, and a first invention (apparatus) of the present invention stores an input unit for capturing a waveform signal as digitized waveform data, and stores the captured waveform data. A waveform storage device including at least a data storage memory, a program memory for holding necessary programs in a readable manner, a central processing unit (CPU) for arithmetic control, and an input / output unit including a display and an external storage device. The data storage memory includes a waveform data storage area for storing a plurality of non-defective waveform data, and a memory area for holding the same data as the storage data of the waveform data storage area as back data; Defines non-defective waveform data in a closed space corresponding to a display screen constituting the input / output means, and defines the closed space as The stored data in which the remaining stored data is filled out can be freely held, and the stored data is individually exclusive with the corresponding data of the back data via the central processing means (CPU). It is characterized in that by taking a logical sum, the closed space is converted into image data that is a hollow closed space and can be freely displayed on the display screen as a waveform determination area.
[0009]
Further, the second invention (method) is a process of storing a plurality of non-defective waveform data digitized and taken into the apparatus main body together with the back data in a data storage memory, and a process of storing the data in a waveform data storage area of the data storage memory. A process of defining a plurality of stored non-defective waveform data in a closed space corresponding to a display screen constituting an input / output means via a boundary line, and a process of painting a portion of the waveform data storage area that is outside the closed space. The exclusive OR of each of the corresponding data of the current storage data and the back data in the waveform data storage area is individually calculated, and a hollow closed space for using the closed space as a waveform determination area. It is characterized by including at least a process of converting image data. In this case, the process may include a process of inverting the entirety of the image data in the waveform data storage area including the hollow space.
[0010]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration example of a first invention (apparatus) of the present invention. An entire waveform storage device 11 includes an input unit 12 for capturing a signal as digitized waveform data, A data storage memory 13 for storing fetched waveform data, a program memory 14 for reading and storing necessary programs, a central processing unit (CPU) 15 for arithmetic control, and an input / output including a display and an external storage device And means 16.
[0011]
The input unit 12 converts a signal (voltage) actually measured as analog data from a non-defective product serving as a reference into a digital signal, and obtains a non-defective waveform data as shown in FIG. W (W 1 to W 3 ) can be taken into the apparatus main body side.
[0012]
The data storage memory 13 composed of a video memory (VRAM) or the like stores the captured non-defective waveform data W (W 1 to W 3 ) in a readable manner, for example, in a matrix of 400 dots in the vertical direction and 500 dots in the horizontal direction. Has a changed waveform data storage area 23. The waveform data storage area 23 saves the same waveform data as the non-defective waveform data W (W 1 to W 3 ) stored as shown in FIG. There is also a separate memory area that can be held.
[0013]
The program memory 14 is formed of a ROM that can readably store a program for causing the central processing unit (CPU) 14 to perform necessary arithmetic and control processing.
[0014]
The central processing means (CPU) 15 can control the whole operation in accordance with the operation input status such as a key operation input from an operation unit (not shown), and analyzes the waveform data stored in the data storage memory 13. Then, the data can be output to the input / output means 16 or necessary data can be received from the output means 16.
[0015]
The input / output means 16 is configured to include a display such as an LCD, and an external storage device such as an HDD in which a program for creating a waveform determination area is stored as a file. In this case, if the input / output means 16 is a display, the waveform (voltage) which is a temporal change of the signal (voltage) has a vertical axis representing a voltage axis (voltage) as shown in FIGS. V), and the horizontal axis is displayed on the display screen 26 as the time axis (Sec).
[0016]
The display screen 26 (see FIGS. 5 and 6) provided on the display serving as the input / output means 16 has a maximum value line 1 which is a continuation of the upper limit value of the plurality of non-defective waveform data W (W 1 to W 3 ). 1, so that it is possible to appropriately set displays the waveform judgment area E made of a strip-shaped region of a predetermined width which is defined by the minimum line l 2 is a continuous lower limit.
[0017]
FIG. 2 is a flowchart showing a processing procedure of a second invention (method) applied to the (device) of the first invention having such a configuration, and is shown in FIGS. 3 (a) to 3 (d). The details will be described below with reference to a corresponding schematic diagram of the waveform data storage area 23 shown as.
[0018]
FIG. 3A exemplifies a storage state of the waveform data in the waveform data storage area 23 in the data storage memory 13. Of the total memory capacity prepared as the waveform data storage area 23, the area surrounded by a broken line is illustrated. The portion is secured as a display screen corresponding area 33 in relation to the display screen 26 provided in the display, and the non-defective waveform data W ( W 1 to W-3) are stored, respectively.
[0019]
First, when the setting process of the waveform determination area is started, each broken line position in the vertical direction that divides the display screen corresponding area 33 in the waveform data storage area 23 is displayed on the display screen 26 in the horizontal direction. Therefore, a process is performed in which the boundary lines L 1 and L 2 corresponding to this are drawn and arranged for one line with black dots. Note that these boundaries L 1 and L 2 indicate the maximum width of the display screen 26 in the left-right direction, and are not displayed on the display screen 26 so as to be visible.
[0020]
Thus, as shown in FIG. 3 (b), good waveform data W (W 1 ~W 3), in its starting end side boundary L 1, a result of the termination side are partitioned respectively by the boundary line L 2, as a display range Is formed.
[0021]
After the closed space 43 is defined by the non-defective waveform data W (W 1 to W 3 ) and the boundary lines L 1 and L 2 , the remaining space deviates from the maximum width of the closed space 43 in the vertical direction. As shown in FIG. 3 (c), the entire waveform data storage area 23 is painted using a known painting function.
[0022]
After the portions other than the closed space 43 in the waveform data storage area 23 in the data storage memory 13 are painted out, the stored data in the waveform data storage area 23 in the state shown in FIG. By performing an exclusive OR operation on each of the corresponding data between the stored data in the state shown and the back data separately saved under the same pattern, the non-defective waveform data W (W 1 to W 3 ), All the waveform lines located in the closed space 43 are erased.
[0023]
As a result, the data stored in the waveform data storage area 23 is converted into data in which the closed space 43 becomes a hollow closed space 53 as shown in FIG. The image data 63 on a white background can be obtained.
[0024]
After the image data 63 shown in FIG. 3D is obtained in this way, the whole is inverted to black and white to convert it into inverted image data 73 shown in FIG. 4, and the process is terminated.
[0025]
FIG. 5 shows a setting example of the waveform determination area E when the inverted image data 73 shown in FIG. 4 is displayed on the display screen 26 provided on the display. The setting example of FIG. As shown, the image can be further inverted and displayed.
[0026]
For this reason, according to the present invention, a plurality of non-defective waveform data W (W 1 to W 3 ) are overlaid on the waveform data storage area 23 of the data storage memory 13, so that a large number of small closed spaces intersect with each other. Even if a partition is formed, the waveform determination area E can be easily formed by a simple operation using exclusive OR without having to perform a complicated operation such as individually filling all the small closed spaces and setting the waveform determination area. Can be set to
[0027]
The storage data in the waveform data storage area 23 after the setting of the waveform determination area E can be changed to the storage pattern shown in FIG. 4 by simply inverting the storage pattern shown in FIG. Accordingly, the display pattern of the waveform determination area E on the display screen 26 can be appropriately selected from the pattern shown in FIG. 5 and the pattern shown in FIG.
[0028]
After setting the waveform determination area E in this way, if all of the waveform data taken in from each actual product is located in the waveform determination area E, it is determined that the waveform data is appropriate (OK), and any part of the waveform data is deviated. By setting the case as “NG” (NG), it is possible to accurately determine whether or not it is appropriate.
[0029]
The embodiments of the present invention have been described with reference to the illustrated examples, and specific embodiments thereof are not limited thereto. For example, the number of non-defective waveform data taken in to set the waveform determination area may be two or more. In addition, the propriety judgment using the waveform judgment area is determined to be negative (NG) when even part of the waveform data taken from the actual product is included in the waveform judgment area, and when all of them are out of the range. May be determined to be appropriate (OK). Further, the waveform determination area displayed on the display screen and the remaining portion can be displayed using an appropriate color as desired as long as they can be easily distinguished from each other. Furthermore, the waveform determination area displayed on the display screen is not limited to the display as the time-series data shown in FIGS. The X-axis is set to CH1 and the Y-axis is set to CH2 to observe the correlation between the two channels, that is, the XY display can be applied as it is.
[0030]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the waveform determination area can be set using a plurality of non-defective waveform data without setting based on one non-defective waveform data. A highly reliable determination can be made using the determination area.
[0031]
Also, by overlaying a plurality of non-defective waveform data on the waveform data storage area of the data storage memory, even if a large number of small closed spaces intersect with each other and are formed, a simple operation using exclusive OR can be performed with high accuracy. Can be easily set, so that the waveform determination operation can be performed smoothly.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a first invention (apparatus).
FIG. 2 is a flowchart illustrating an outline of a processing procedure of a second invention (method).
FIGS. 3A and 3B are schematic diagrams showing transitions of data processing in a waveform data storage area in a data storage memory as (a) to (d) in correspondence with the flowchart of FIG. 2;
FIG. 4 is an explanatory view schematically showing a state when storage data in a waveform data storage area in the state of FIG.
FIG. 5 is an explanatory diagram of a state when a waveform determination area is set on a display screen based on a correspondence relationship with FIG. 4;
FIG. 6 is a state explanatory view when the state of FIG. 5 is inverted again.
FIGS. 7A and 7B are explanatory diagrams illustrating a procedure for setting a waveform determination area for a display screen in a conventional waveform storage device as (a) and (b).
[Explanation of symbols]
11 Waveform storage device 12 Input unit 13 Data storage memory 14 Program memory 15 Central processing means (CPU)
16 input / output means 23 waveform data storage area 26 display screen 33 display screen corresponding area 43 closed space 53 hollow closed space 63 image data 73 inverted image data W (W 1 to W 3 ) non-defective waveform data l 1 maximum value line l 2 Minimum value lines L 1 , L 2 Boundary line E Waveform determination area

Claims (3)

波形信号をディジタル化された波形データとして取り込む入力部と、取り込まれた波形データを格納するデータ格納メモリと、必要なプログラムを読み出し自在に保持するプログラムメモリと、演算制御用の中央処理手段(CPU)と、ディスプレイや外部記憶装置を含む入出力手段とを少なくとも備えてなる波形記憶装置において、
前記データ格納メモリは、複数の良品波形データを格納する波形データ格納領域と、該波形データ格納領域の格納データと同一のデータを裏データとして保持するメモリ領域とを備え、
前記波形データ格納領域は、良品波形データを前記入出力手段を構成する表示画面に対応させた閉空間に画成し、かつ、該閉空間を外れるその余の格納データを塗りつぶした状態とした格納データの保持を自在とし、
該格納データは、前記中央処理手段(CPU)を介して前記裏データのそれぞれの対応データとの間で個別に排他論理和をとることで、前記閉空間を中抜け閉空間とする画像データに変換して前記表示画面に波形判定エリアとしての表示を自在としたことを特徴とする波形記憶装置。
An input unit for receiving a waveform signal as digitized waveform data, a data storage memory for storing the captured waveform data, a program memory for holding necessary programs in a readable manner, and a central processing unit (CPU for arithmetic control) ) And a input / output means including a display and an external storage device.
The data storage memory includes a waveform data storage area for storing a plurality of non-defective waveform data, and a memory area for holding the same data as the storage data of the waveform data storage area as back data,
The waveform data storage area defines non-defective waveform data in a closed space corresponding to a display screen constituting the input / output means, and stores remaining data outside the closed space in a filled state. Data can be retained freely,
The stored data is individually exclusive-ORed with the corresponding data of the back data via the central processing unit (CPU) to convert the closed space into image data that is a hollow closed space. A waveform storage device, wherein the waveform is converted and displayed as a waveform determination area on the display screen.
装置本体側にディジタル化して取り込まれた複数の良品波形データをその裏データとともにデータ格納メモリに格納するプロセスと、
該データ格納メモリの波形データ格納領域に格納した複数の良品波形データを境界線を介して入出力手段を構成する表示画面に対応させた閉空間に画成するプロセスと、
前記波形データ格納領域における前記閉空間を外れる部位を塗りつぶすプロセスと、
前記波形データ格納領域内の現在の格納データと前記裏データとのそれぞれの対応データの間で個別に排他論理和をとって、前記閉空間を波形判定エリアとして用いるための中抜け閉空間の画像データとするプロセスとを少なくとも含むことを特徴とする波形判定エリアの設定方法。
A process of storing a plurality of non-defective waveform data digitized and taken into the device body together with the back data in a data storage memory;
A process of defining a plurality of non-defective waveform data stored in the waveform data storage area of the data storage memory in a closed space corresponding to a display screen constituting input / output means via a boundary line;
A process of filling a portion of the waveform data storage area that deviates from the closed space,
An exclusive OR operation is separately performed between the corresponding data of the current data stored in the waveform data storage area and the corresponding data of the back data, and an image of a hollow closed space for using the closed space as a waveform determination area. A method for setting a waveform determination area, comprising at least a process for converting data.
中抜け閉空間を含む前記波形データ格納領域内の画像データの全体を白黒反転するプロセスを含む請求項2に記載の波形判定エリアの設定方法。3. The method for setting a waveform determination area according to claim 2, further comprising a process of inverting black and white of the entire image data in the waveform data storage area including the hollow closed space.
JP2003032246A 2003-02-10 2003-02-10 Waveform storage device and waveform determination area setting method Expired - Lifetime JP4104468B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003032246A JP4104468B2 (en) 2003-02-10 2003-02-10 Waveform storage device and waveform determination area setting method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003032246A JP4104468B2 (en) 2003-02-10 2003-02-10 Waveform storage device and waveform determination area setting method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004239879A true JP2004239879A (en) 2004-08-26
JP4104468B2 JP4104468B2 (en) 2008-06-18

Family

ID=32958547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003032246A Expired - Lifetime JP4104468B2 (en) 2003-02-10 2003-02-10 Waveform storage device and waveform determination area setting method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4104468B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105022371A (en) * 2014-05-01 2015-11-04 三菱电机株式会社 threshold value waveform generation apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105022371A (en) * 2014-05-01 2015-11-04 三菱电机株式会社 threshold value waveform generation apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP4104468B2 (en) 2008-06-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2363759T3 (en) METHODS TO TAKE IMAGES OF THE SKIN AND ANALYZE THE SKIN.
US20130187954A1 (en) Image data generation apparatus and image data generation method
US6965383B2 (en) Scaling persistence data with interpolation
US11700450B2 (en) Motion analysis device, motion analysis method for improving motions of operator
JPWO2015056471A1 (en) Endoscope apparatus and inspection method using endoscope
US20060176321A1 (en) Endoscope apparatus
US9436996B2 (en) Recording medium storing image processing program and image processing apparatus
US20060178561A1 (en) Endoscope apparatus
KR20030088862A (en) Apparatus for producing sewing data and program for producing sewing data
JP6102526B2 (en) Moving image generation device for brain function measurement and moving image generation system for brain function measurement
JP2004239879A (en) Waveform storage and method of setting waveform determination area
JPH04156212A (en) Automatic inspection of aerial wire
JPH1114553A (en) Method and apparatus for output of defect sample data in visual defect inspection device
JP7194348B2 (en) Image processing device, image processing method and image processing program
JP4544578B2 (en) Defect inspection method and defect inspection apparatus using computer
TW200931989A (en) Method to measure the gray scale-brightness characteristics and the uniformity of display, and structure of the system thereof
JP2007267284A (en) Apparatus and method for generating test pattern
JP2006121481A (en) Image display method, image display program and editing device
JP4603143B2 (en) Interpolation display method of multiple waveforms
JP2000105167A (en) Address calibration method of image quality inspection device
JP7096228B2 (en) Information processing equipment, information processing methods, and programs
JP3120469B2 (en) Image display method and apparatus
JP4089953B2 (en) Waveform judgment determination device and waveform judgment area setting method
JP2008035370A (en) False color evaluating method of digital camera, false color evaluating device of digital camera and false color evaluation program of digital camera
JP2006020276A (en) Endoscope for measurement

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060206

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071212

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080305

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080325

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110404

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130404

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130404

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150404

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250