JP2004226100A - Observation system - Google Patents

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JP2004226100A JP2003011013A JP2003011013A JP2004226100A JP 2004226100 A JP2004226100 A JP 2004226100A JP 2003011013 A JP2003011013 A JP 2003011013A JP 2003011013 A JP2003011013 A JP 2003011013A JP 2004226100 A JP2004226100 A JP 2004226100A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an observation system which can cover the whole body of the incident opened surface of an observing optical system and to which the function of discovering an optical path having a possibility of becoming a harmful flare at observing time can be give by securing sufficient corrected luminance with a low power consumption. <P>SOLUTION: A radiometric correcting device 1A has many fine light sources 11 which are bundled in a planar state to constitute a light emitting surface. The area surrounded by a circumscribed circle 12 circumscribing the fine light sources 11 has an area including the incident opened surface 5a of the observing optical system 4. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、地球観測もしくは惑星探査をミッションとする衛星に搭載された光学センサーの感度をラジオメトリック校正装置により監視する観測システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来の観測システムにおいては、検出器の全画素を均一に照射する校正光を出射することにより、1次元アレイ検出器の全画素を同時に校正できるとともに、ポインティングミラーの振動によるずれや、真空中における脱ガス付着の影響を少なくできる(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
【特許文献1】
特許第2660364号公報(第4頁、図1)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
従来の観測システムでは、観測光学系の入射開口面の全面に一様に光りが当たっていないため、観測時に有害なフレアとなる可能性のある光路を発見できる機能などを持たせることができないという問題点があった。
【0005】
この発明は、前述した問題点を解決するためになされたもので、観測光学系の入射開口面の全体をカバーすることができ、かつ少ない消費電力で十分な校正輝度を有する観測システムを得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る観測システムは、校正光束を出力するラジオメトリック校正装置と、校正時に前記校正光束を導入する折り曲げミラーと、前記折り曲げミラーにより導入された前記校正光束を通過させる観測光学系と、前記観測光学系から出射される前記校正光束を検出するCCD検出器とを備えたものである。さらに、前記ラジオメトリック校正装置は、平面状に束ねられて発光面を構成する多数の微小光源を有し、これら多数の微小光源に外接する外接円で囲まれた領域が前記観測光学系の入射開口面を包含する面積を有するものである。
【0007】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
まず、この発明に関連する観測システムについて図面を参照しながら説明する。図9は、この発明に関連する観測システムの構成を示す図である。この図9は、煩雑さを避けるために、一部破断面を設け、構成要素を見やすくしたものである。
【0008】
図9において、ラジオメトリック校正装置1は、ベースプレート8上に載置され、少なくとも一個のランプを構成要素とする装置である。ポインティングミラー2は、観測時に、さまざまな観測方向を設定するためポインティングミラー回転軸3の回りに回転できる機能が主たるものであるが、観測の合間に、ラジオメトリック校正装置1から観測光学系4に校正光束7を導入する角度に設定できるようにしたものである。
【0009】
また、同図において、ラジオメトリック校正装置1は、地上から軌道上までに遭遇する環境において安定した放射強度の校正光束7を供給できるよう設計されており、この校正光束7を、適時、観測光学系4に入射し、その出力を収集することにより、観測光学系4の光学面での汚染や透過もしくは反射の劣化、あるいは検出器感度の低下等を監視することができるものである。前記ランプを有するラジオメトリック校正装置1は、通常、図に示す通り、出射口径が小さく、このため校正光束7は観測光学系4の入射開口面5a及び出射開口面5bの全面をカバーできるものではなかった。
【0010】
図10は、図9で示す観測システムの作用を説明するための図である。
【0011】
この図10では、ポインティングミラー2はトンネルダイヤグラムにより省略している。ラジオメトリック校正装置1から射出した校正光束7は、ポインティングミラー2、観測光学系4の入射開口面5a、観測光学系4の出射開口面5bを経て、CCD検出器6に到る。
【0012】
校正光束7でCCD検出器6により取り込まれる光束が観測光学系4の光学面上を通過する領域サイズは、CCD検出器6の一画素に向かうラジオメトリック校正装置1の出射口径全面を出た光束が、観測光学系4の光学面上を通過する領域サイズと、CCD検出器6の全画素に向かうラジオメトリック校正装置1の中心点から出た光束が、観測光学系4の光学面上を通過する領域サイズとのコンボルーションとして求まる。
【0013】
この結果、観測光学系4の入射開口面5aでは、ラジオメトリック校正装置1の出射口径の影響を大きく受け、観測光学系4の出射開口面5bでは、CCD検出器6のサイズの影響を大きく受ける。図10ではCCD検出器6を長方形に描いているが、実際は直線に近い形状を有するため、観測光学系4の入射開口面5a上の領域サイズは、概ねラジオメトリック校正装置1に一致し、観測光学系4の出射開口面5b上の領域サイズは、短辺方向に少し太くなったCCD検出器6サイズに一致する。
【0014】
このため、校正光束7が通過しない観測光学系4の光学面に汚染が付着するとCCD検出器6には出力変化として現れない。しかし、観測光は、観測光学系4の光学面のほぼ全域を通過してCCD検出器6に到るため、観測時のデータには前記汚染の影響が現れる。つまり,前述のごとき装置による校正データでは観測時のデータのラジオメトリック補正が完全にはなしえなかった。この欠点を解決するため、拡散板や複数のランプを用いることで、校正時の光束径を、観測光学系4の入射開口面5aまで拡大する方式が提案されているが、前者の方式では校正光の輝度が著しく低下する。また、後者の方式では膨大な電力消費と発熱を伴うため、衛星搭載用としては不適とされてきた。
【0015】
一方、このラジオメトリック校正装置1では、校正光束7が通過する領域に汚染が付着した場合には、特定の条件下であれば付着場所を特定できるメリットがある。例えば、観測光学系4の入射開口面5aに点状もしくは微小領域の汚染が付着した場合は、CCD検出器6の多くの画素に出力変化となって現れるが、観測光学系4の出射開口面5bに同じ汚染が付着した場合は、CCD検出器6の一部の画素にしか出力変化は現れない特性がある。従って、この出力変化からどの光学面が汚染されているかを推定することが可能で、同時に、その光学面のどの辺りが汚染されているかも判断できるのである。しかし、この特性も、観測光学系4の入射開口面5a全面に校正光束7が当たっていないため、十分に機能を果たしてはいなかった。
【0016】
次に、観測光学系4内部に屈折光学系が存在すると、観測時のデータには、光学面相互の反射によるフレアが必ず重畳する。正常に伝播する光束により生じるフレアであれば解析的に求めることが可能であるが、異常な伝播、例えば、観測光学系4内部にプリズム等がある場合、そのプリズムの側面で反射した光束は複雑な三次元的反射を起こすため、解析的に求めることが極めて困難となる。
【0017】
そのため、この異常な伝播によるフレア量はラジオメトリック補正では見積もることができなかった。もし、観測時に有害なフレアとなる可能性のある光路を事前に把握できれば、より精度の高い校正が可能となるのである。観測時に有害なフレアとなる現象も、その原因の大多数は、CCD検出器6と共役なゴースト源が観測光学系4の近傍に存在していることによる。つまり、観測光学系4の近傍に置かれるラジオメトリック校正装置1であれば、事前にそのゴースト、更に言えば観測時に有害なフレアとなる可能性のある光路を発見できる機能を付加させることが可能である。しかし、このラジオメトリック校正装置1では、観測光学系4の入射開口面5a全面に一様に光りが当たっていなかったため、その機能を持たせることができなかった。
【0018】
そして、ポインティングミラー2と観測光学系4を結合した光学系全体の視線(Line of Sight)の軌道上での計測という課題については、これまでも望まれてはいたが実現されていなかった。光学系全体の視線は、光学系を保持する金枠取付部が環境要因によって歪むとその方向が変化する。この歪みは、軌道上に投入された衛星が遭遇する温度環境によっても発生する。しかし、軌道上で歪みが発生した場合、その歪みを測定することは、全く不可能であった。このため、熱構造解析によって予測し、設計段階で確認するというのが主流であった。こうした変形を検出するには、光束をアクティブに入射するシステムが必要であるが、消費電力に制約のある衛星では、積極的な導入はなされていなかった。しかし、ラジオメトリック校正装置1であれば光源を内蔵しているので、前記歪みを計測する機能を付加できる可能性があるが、このラジオメトリック校正装置1では、その機能を付加することに成功していない。
【0019】
つづいて、この発明の実施の形態1に係る観測システムについて図面を参照しながら説明する。図1は、この発明の実施の形態1に係る観測システムの構成を示す図である。なお、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
【0020】
図1において、関連技術のポインティングミラー2は折り曲げミラー9に替わっているが、ポインティング機能は、この発明の必須要件ではなく、観測時と校正時の2モードに切り替える機能があれば十分である。このため、ポインティングミラー2に替え折り曲げミラー9としたものである。ラジオメトリック校正装置1Aは、平面的な発光面を有し、ベースプレート8上、もしくはその中に設置される。
【0021】
図2は、この発明の実施の形態1に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の構造及び作用を示す図である。
【0022】
図2(a)において、ラジオメトリック校正装置1Aは、外接円12の中に多数の微小光源(直径が5mm程度)11を配置している。微小光源11は、発光効率が良く複数の光源を一度に点灯しても電力消費や発熱が少ない光源、例えば白色LEDが最適である。また、微小光源11は、互いの発熱で破壊されるのを防ぐため、間隔を空けて平面状に配置されている。この外接円(直径が200mm程度)12は、全ての微小光源11に外接する仮想的な円である。
【0023】
図2(b)は、この実施の形態1に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の作用を説明するための図である。同図は、観測光学系の入射開口面5a上にラジオメトリック校正装置1Aの外接円12を投影し、この外接円12の投影像に囲まれた領域が観測光学系の入射開口面5aで囲まれた領域を包含する様子を示している。図2(a)における、ラジオメトリック校正装置1Aの微小光源11の全部もしくは一部を除く全てを点灯することで、観測光学系の入射開口面5aの全面を校正光束7が照射できるものとなっている。なお、点線は折り曲げミラー9を表す。
【0024】
これにより、ラジオメトリック校正装置1Aが観測光学系の入射開口面5a全体をカバーする発光面からなり、かつ少ない消費電力で十分な校正輝度を有することになる。微小光源11の点消灯は、微小光源11の全部にスイッチを介して電源を接続し、CPU等により予めプログラムされた微小光源11に対応するスイッチを開閉制御するものであり、以下に説明する各実施の形態も同様である。
【0025】
実施の形態2.
この発明の実施の形態2に係る観測システムについて図面を参照しながら説明する。図3は、この発明の実施の形態2に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の構成を示す図である。
【0026】
図3(a)において、全体的な構成は、上記の実施の形態1と同じであるが、ラジオメトリック校正装置1Aの機能が上記実施の形態1と異なることから、ラジオメトリック校正装置1Aの構成のみを示す。
【0027】
同図において、ラジオメトリック校正装置1Aの多数の微小光源11を囲む外接円12を断面とする図示しない半球を想定した時、CCD検出器6の画素並びと光軸13を含む第一の平面14に含まれる外接円12の直径15の両端を極16とした複数の子午線17を描く。図の煩雑さを避けるため、子午線17は第一の平面14を境に片側のみを図示している。
【0028】
図3(b)は、図3(a)を光軸方向から見た図である。
【0029】
同図において、図3(a)の複数の子午線17の中から選ばれた子午線を、前記断面に投影して得られる選ばれた子午線投影曲線18に沿って微小光源群19が確定する。図では微小光源群19が塗り潰した丸(黒丸)で示されている。この微小光源群19の全微小光源11を点灯する。その他の子午線17についても同様にグループ化が行え、微小光源群(グループ)毎に個別に点灯できるように構成することが出来る。
【0030】
選ばれた子午線投影曲線18に沿って微小光源群19を点灯すると、校正光束7は、選ばれた子午線投影曲線18を含んだ曲面に沿って観測光学系4に入射するため、その曲面と観測光学系4の光学面との交線は概ね光学面の子午線を描く。しかも、その光学面の子午線上の点はCCD検出器6の画素と一対一に対応するため、観測光学系4の光学面の子午線上に付着した汚染の領域が特定できる機能を持つことになる。これにより、上記実施の形態1と同じ効果を奏すると同時に、観測光学系内にある光学面上の汚染もしくは劣化の領域を特定することができるという効果を奏する。
【0031】
実施の形態3.
この発明の実施の形態3に係る観測システムについて図面を参照しながら説明する。図4は、この発明の実施の形態3に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の構成を示す図である。
【0032】
図4において、この実施の形態3は、観測システムの全体的な構成は、上記実施の形態1と同じであるが、ラジオメトリック校正装置1Aの構成が上記実施の形態2と異なることから、ラジオメトリック校正装置1Aの構成のみを示す。
【0033】
この実施の形態3は、観測光学系4内で発生するフレアの原因となる異常な伝播光路を特定する機能を付加したものである。
【0034】
正常に伝播する光束により生じるフレアの原因となるゴーストは、観測光学系4が回転対称であれば、回転対称軸近辺から入射する光束が支配的に関与するが、プリズム等の側面反射が関与する異常な伝播によるフレアの原因となるゴーストは、観測光学系4の回転対称軸から遠く離れた場所に存在することが多い。
【0035】
このようなゴーストを見出すためには、幅の狭い光束で観測光学系4の入射開口面5a前面を走査する必要がある。例えば、図4のように、外接円12で囲まれた面を格子状に縦横分割する方法がある。横、右斜め、及び左斜めの各方向の分割格子20に六角形状に囲まれた微小光源11をまとめたグループを微小光源群21とする。図では塗り潰した丸(黒丸)で示されている。
【0036】
微小光源群21の近傍に異常な伝播によるフレアの原因となるゴーストが存在すれば、この微小光源群21の全微小光源を点灯すると、CCD検出器6の特定画素に異常に大きな出力が出現し、異常な伝播光路を直ちに特定することができる。微小光源11全てを点灯すると、平均的な出力が増加してしまうため、相対的にゴーストが小さくなり判別が不可能となっていたが、これにより上記実施の形態1と同じ効果を奏すると同時に、観測光学系内で発生するフレアの原因となる異常な伝播光路を特定することができるという効果を奏する。
【0037】
実施の形態4.
この発明の実施の形態4に係る観測システムについて図面を参照しながら説明する。図5は、この発明の実施の形態4に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の構成を示す図である。
【0038】
図5(a)において、この実施の形態4に係る観測システムの全体的な構成は、上記実施の形態1と同じであるが、ラジオメトリック校正装置1Aの構成が他の実施の形態と異なる。
【0039】
同図において、斜線で示された第一微小光源グループ22a、第二微小光源グループ22bは、発光面上の仮想線分23の両端を中心として選ばれたグループで、この二グループを同時に点灯できるようにしたものである。なお、24はCCD検出器6の画素並び方向を示す仮想線である。
【0040】
図5(b)は、この実施の形態4に係る観測システムのラジオメトリック校正装置1Aの配置を説明するための図である。
【0041】
同図において、弦をなす線分25は、観測光学系4の入射開口面5aに張られた直径以外の弦であって、その弦はCCD検出器6の画素並び方向と平行である。そして、発光面上の仮想線分23と弦をなす線分25とは、折り曲げミラー9を介して光軸13に平行な平面を構成している。そして、第一微小光源グループ22a、第二微小光源グループ22bは、発光面上の仮想線分23の両端に中心をおく微小光源グループである。通常、観測光学系4の入射開口面5aは円形をなし、弦をなす線分25の両端での接線は互いに角度θをもつ。
【0042】
図6(a)は、この実施の形態4における第一微小光源グループ22aと第二微小光源グループ22bを同時に点灯した時にCCD検出器6に出現する全画素の出力プロファイルを示したグラフである。
【0043】
同図において、画素の両端近辺で出力が急激に落ち台形状の出力プロファイルとなる。これは観測光学系4の入射開口面5aの縁で光束がけられるために生じるものである。
【0044】
そこで、折り曲げミラー9からCCD検出器6までに存在する光学系が偏心/チルトすることで光軸13の方向も変化し、その変化がCCD検出器6の画素並び方向である場合には、出力プロファイルは図6(b)の実線に示すように台形の幅が変化せず左右にシフトする。
【0045】
一方、変化が画素並びと直交した方向である場合には、出力プロファイルは図6(c)の実線に示すように台形の幅が変化する。なお、いずれにおいても点線は、変化前のプロファイルを示す。この特性を利用して光軸13の変化を求めることで観測光学系4の視線方向の変化を捕らえ、軌道上で発生する歪みを計測することができる。
【0046】
図7は、実施の形態4の別な構成例を示した図である。
【0047】
図7において、弦をなす線分25と、発光面上の仮想線分23との関係は図5と同じである。ただし、第一微小光源グループ22aと第二微小光源グループ22bは、観測光学系4の有効径内に入り込むように光学系内部に、例えばアルミ板のΛ(ラムダ)型構造体26を設けているため、発光面上の仮想線分23の両端にその中心を置く必要はない。
【0048】
このΛ型構造体26は、CCD検出器6の画素並び方向を示す仮想線24とA字型をなすよう設けられている。このような構成にすることで、より確実に、図6で示された出力プロファイルを得ることが可能となる。
【0049】
図8は、Λ型構造体26を、鏡筒の一部をなし、例えば樹脂製のパイプからなるトラス27で構成したものである。
【0050】
観測光学系4としてエネルギーロスが生じるΛ型構造体26を単独で追加するより、補強構造として必要となるトラス構造を利用することでエネルギーロスを最小限に抑え、かつ課題解決をなしうると言うメリットある。上記構成により、上記実施の形態1と同じ効果を奏すると同時に、軌道上で遭遇する環境下での視線の変化を計測することができるという効果を奏する。
【0051】
【発明の効果】
この発明に係る観測システムは、以上説明したとおり、ラジオメトリック校正装置が、平面状に束ねられて発光面を構成する多数の微小光源を有し、これら多数の微小光源に外接する外接円で囲まれた領域が観測光学系の入射開口面を包含する面積を有するものである。従って、観測光学系の入射開口面の全体をカバーすることができ、かつ少ない消費電力で十分な校正輝度を確保することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態1に係る観測システムの構成を示す図である。
【図2】この発明の実施の形態1に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の構造及び作用を示す図である。
【図3】この発明の実施の形態2に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の構成を示す図である。
【図4】この発明の実施の形態3に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の構成を示す図である。
【図5】この発明の実施の形態4に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の構成及び配置を説明するための図である。
【図6】この発明の実施の形態4に係る観測システムのラジオメトリック校正装置の出力プロファイルを示す図である。
【図7】この発明の実施の形態4に係る観測システムの別の構成例を示す図である。
【図8】図7のΛ型構造体をトラスで構成した図である。
【図9】関連技術の観測システムによる校正方式を示した図である。
【図10】関連技術の観測システムの作用を示した図である。
【符号の説明】
1A ラジオメトリック校正装置、4 観測光学系、5a 入射開口面、5b出射開口面、6 CCD検出器、7 校正光束、8 ベースプレート、9 折り曲げミラー、10 折り曲げミラー回転軸、11 微小光源、12 外接円、13 光軸、14 第一の平面、15 直径、16 極、17 子午線、18 子午線投影曲線、19 微小光源群、20 分割格子、21 微小光源群、22a 第一微小光源群、22b 第二微小光源群、23 仮想線分、24 CCD検出器の画素並び方向を示す仮想線、25 弦をなす線分、26 Λ型構造体、27 トラス。
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an observation system for monitoring the sensitivity of an optical sensor mounted on a satellite whose mission is to perform earth observation or planetary exploration by using a radiometric calibration device.
[0002]
[Prior art]
In a conventional observation system, by emitting calibration light that uniformly illuminates all pixels of the detector, all pixels of the one-dimensional array detector can be calibrated at the same time. The effect of degassing can be reduced (for example, see Patent Document 1).
[0003]
[Patent Document 1]
Japanese Patent No. 2660364 (page 4, FIG. 1)
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Conventional observation systems do not have the ability to find light paths that can cause harmful flares during observation because the light does not uniformly illuminate the entire entrance aperture of the observation optical system. There was a problem.
[0005]
The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to obtain an observation system that can cover the entire entrance aperture of an observation optical system and has sufficient calibration luminance with low power consumption. With the goal.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The observation system according to the present invention is a radiometric calibration device that outputs a calibration light beam, a bending mirror that introduces the calibration light beam during calibration, an observation optical system that passes the calibration light beam that is introduced by the bending mirror, A CCD detector for detecting the calibration light flux emitted from the observation optical system. Further, the radiometric calibration device has a large number of minute light sources that are bundled in a planar shape to form a light emitting surface, and a region surrounded by a circumscribed circle circumscribing the large number of minute light sources is an incident light of the observation optical system. It has an area including the opening surface.
[0007]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Embodiment 1 FIG.
First, an observation system related to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 9 is a diagram showing a configuration of an observation system related to the present invention. In FIG. 9, in order to avoid complication, a partly broken surface is provided to make the components easy to see.
[0008]
In FIG. 9, the radiometric calibration device 1 is a device mounted on a base plate 8 and including at least one lamp as a component. The pointing mirror 2 mainly has a function of rotating around a pointing mirror rotation axis 3 in order to set various observation directions at the time of observation, but between the observation, the radiometric calibration device 1 transmits the observation optical system 4 to the observation optical system 4. The angle at which the calibration light beam 7 is introduced can be set.
[0009]
In FIG. 1, the radiometric calibration device 1 is designed to supply a calibration beam 7 having a stable radiation intensity in an environment where the calibration beam 7 is encountered from the ground to on-orbit. By being incident on the system 4 and collecting its output, it is possible to monitor contamination on the optical surface of the observation optical system 4, deterioration of transmission or reflection, deterioration of the detector sensitivity, and the like. The radiometric calibrator 1 having the lamp usually has a small exit aperture as shown in the figure, so that the calibration beam 7 cannot cover the entire entrance aperture 5a and exit aperture 5b of the observation optical system 4. Did not.
[0010]
FIG. 10 is a diagram for explaining the operation of the observation system shown in FIG.
[0011]
In FIG. 10, the pointing mirror 2 is omitted from the tunnel diagram. The calibration light beam 7 emitted from the radiometric calibration device 1 reaches the CCD detector 6 via the pointing mirror 2, the entrance aperture 5a of the observation optical system 4, and the exit aperture 5b of the observation optical system 4.
[0012]
The size of the area through which the light beam captured by the CCD detector 6 with the calibration light beam 7 passes on the optical surface of the observation optical system 4 is the light beam exiting the entire exit aperture of the radiometric calibration device 1 heading for one pixel of the CCD detector 6. However, the size of the area passing on the optical surface of the observation optical system 4 and the light flux emitted from the center point of the radiometric calibration device 1 toward all the pixels of the CCD detector 6 pass on the optical surface of the observation optical system 4. Is obtained as a convolution with the size of the region to be processed.
[0013]
As a result, the entrance aperture 5a of the observation optical system 4 is greatly affected by the exit aperture of the radiometric calibration device 1, and the exit aperture 5b of the observation optical system 4 is greatly affected by the size of the CCD detector 6. . Although the CCD detector 6 is drawn in a rectangular shape in FIG. 10, since the CCD detector 6 actually has a shape close to a straight line, the area size on the entrance aperture 5a of the observation optical system 4 substantially matches the radiometric calibration device 1, and The size of the area on the exit aperture surface 5b of the optical system 4 matches the size of the CCD detector 6 which is slightly thicker in the short side direction.
[0014]
For this reason, if contamination adheres to the optical surface of the observation optical system 4 through which the calibration light beam 7 does not pass, it does not appear as a change in output on the CCD detector 6. However, since the observation light passes through almost the entire optical surface of the observation optical system 4 and reaches the CCD detector 6, the influence of the contamination appears on the data at the time of observation. That is, the radiometric correction of the data at the time of observation could not be completed completely by the calibration data by the apparatus as described above. In order to solve this drawback, a method has been proposed in which the luminous flux diameter at the time of calibration is extended to the entrance aperture surface 5a of the observation optical system 4 by using a diffusion plate or a plurality of lamps. The brightness of the light is significantly reduced. In addition, the latter method involves an enormous amount of power consumption and heat generation, and thus has been unsuitable for use on a satellite.
[0015]
On the other hand, the radiometric calibration device 1 has an advantage that when contamination is attached to a region through which the calibration light beam 7 passes, the attachment location can be specified under specific conditions. For example, when a spot or minute area of contamination adheres to the entrance aperture 5 a of the observation optical system 4, it appears as an output change in many pixels of the CCD detector 6. When the same contamination adheres to 5b, there is a characteristic that an output change appears only in some pixels of the CCD detector 6. Therefore, it is possible to estimate which optical surface is contaminated from this output change, and at the same time, it is possible to determine which part of the optical surface is contaminated. However, this characteristic also did not function sufficiently because the calibration light flux 7 did not impinge on the entire entrance aperture surface 5a of the observation optical system 4.
[0016]
Next, if a refracting optical system exists inside the observation optical system 4, flare due to reflection between optical surfaces is always superimposed on data at the time of observation. A flare caused by a normally propagating light beam can be obtained analytically. However, when an abnormal propagation, such as a prism inside the observation optical system 4, the light beam reflected on the side surface of the prism is complicated. Since three-dimensional reflection occurs, it is extremely difficult to analytically obtain the three-dimensional reflection.
[0017]
Therefore, the amount of flare due to this abnormal propagation could not be estimated by radiometric correction. If the optical path that could cause harmful flare at the time of observation can be grasped in advance, more accurate calibration will be possible. The phenomenon that causes harmful flare at the time of observation is mostly caused by the fact that a ghost source conjugate with the CCD detector 6 is present near the observation optical system 4. In other words, if the radiometric calibration device 1 is placed near the observation optical system 4, it is possible to add a function that can detect in advance the ghost, that is, an optical path that may cause harmful flare at the time of observation. It is. However, the radiometric calibration device 1 could not have the function because the entire surface of the entrance aperture 5a of the observation optical system 4 was not uniformly illuminated.
[0018]
The problem of measuring the line of sight of the entire optical system in which the pointing mirror 2 and the observation optical system 4 are coupled on the trajectory has been desired, but not realized. The line of sight of the entire optical system changes its direction when the metal frame mounting portion holding the optical system is distorted due to environmental factors. This distortion is also caused by the temperature environment encountered by the orbited satellite. However, when distortion occurs on the orbit, it has been impossible at all to measure the distortion. For this reason, it has been the mainstream to make predictions through thermal structure analysis and confirm them at the design stage. In order to detect such deformation, a system that actively emits a light beam is required, but a satellite with limited power consumption has not been actively introduced. However, since the radiometric calibration device 1 has a built-in light source, there is a possibility that a function of measuring the distortion can be added. However, the radiometric calibration device 1 succeeds in adding the function. Not.
[0019]
Next, an observation system according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an observation system according to Embodiment 1 of the present invention. In the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.
[0020]
In FIG. 1, the pointing mirror 2 of the related art is replaced with a bending mirror 9, but the pointing function is not an essential requirement of the present invention, and it is sufficient if there is a function of switching between two modes during observation and calibration. Therefore, the bending mirror 9 is used instead of the pointing mirror 2. The radiometric calibration device 1A has a planar light emitting surface, and is installed on or in the base plate 8.
[0021]
FIG. 2 is a diagram showing the structure and operation of the radiometric calibration device of the observation system according to the first embodiment of the present invention.
[0022]
In FIG. 2A, the radiometric calibration device 1A has a large number of minute light sources (having a diameter of about 5 mm) 11 arranged in a circumscribed circle 12. As the minute light source 11, a light source with good power efficiency and low power consumption or heat generation even when a plurality of light sources are turned on at once, for example, a white LED is optimal. Further, the minute light sources 11 are arranged in a plane at intervals so as to prevent the minute light sources 11 from being destroyed by mutual heat generation. This circumscribed circle (having a diameter of about 200 mm) 12 is a virtual circle circumscribing all the minute light sources 11.
[0023]
FIG. 2B is a diagram for explaining the operation of the radiometric calibration device of the observation system according to the first embodiment. In the figure, the circumcircle 12 of the radiometric calibration device 1A is projected onto the entrance aperture 5a of the observation optical system, and the area surrounded by the projected image of the circumcircle 12 is surrounded by the entrance aperture 5a of the observation optical system. FIG. By turning on all but a part of the minute light source 11 of the radiometric calibration apparatus 1A in FIG. 2A, the calibration light beam 7 can irradiate the entire surface of the entrance aperture 5a of the observation optical system. ing. Note that the dotted line represents the folding mirror 9.
[0024]
As a result, the radiometric calibration device 1A has a light-emitting surface that covers the entire entrance aperture surface 5a of the observation optical system, and has sufficient calibration luminance with low power consumption. The turning on and off of the minute light source 11 is to connect a power source to all of the minute light sources 11 via a switch, and to open and close a switch corresponding to the minute light source 11 programmed in advance by a CPU or the like. The same applies to the embodiments.
[0025]
Embodiment 2 FIG.
An observation system according to Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a radiometric calibration device of an observation system according to Embodiment 2 of the present invention.
[0026]
In FIG. 3A, the overall configuration is the same as that of the first embodiment, but since the function of the radiometric calibration device 1A is different from that of the first embodiment, the configuration of the radiometric calibration device 1A is different. Only shown.
[0027]
In the figure, assuming a hemisphere (not shown) having a section of a circumscribed circle 12 surrounding a large number of minute light sources 11 of the radiometric calibration apparatus 1A, a first plane 14 including a pixel array of the CCD detector 6 and an optical axis 13 is illustrated. Are drawn with a plurality of meridians 17 having both ends of the diameter 15 of the circumscribed circle 12 included in the circle as poles 16. In order to avoid complication of the drawing, the meridian 17 is shown only on one side with the first plane 14 as a boundary.
[0028]
FIG. 3B is a diagram of FIG. 3A viewed from the optical axis direction.
[0029]
In the figure, a small light source group 19 is determined along a selected meridian projection curve 18 obtained by projecting a meridian selected from a plurality of meridians 17 in FIG. In the figure, the minute light source group 19 is indicated by a filled circle (black circle). All the minute light sources 11 in the minute light source group 19 are turned on. The other meridians 17 can be similarly grouped, and can be configured to be individually lit for each minute light source group (group).
[0030]
When the minute light source group 19 is turned on along the selected meridian projection curve 18, the calibration light beam 7 enters the observation optical system 4 along the curved surface including the selected meridian projection curve 18, so that the curved surface and the observation surface are observed. The line of intersection with the optical surface of the optical system 4 substantially describes the meridian of the optical surface. In addition, since the points on the meridian of the optical surface correspond one-to-one with the pixels of the CCD detector 6, a function of specifying a region of contamination attached on the meridian of the optical surface of the observation optical system 4 is provided. . Accordingly, the same effect as that of the first embodiment can be obtained, and at the same time, the contamination or deterioration area on the optical surface in the observation optical system can be specified.
[0031]
Embodiment 3 FIG.
An observation system according to Embodiment 3 of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a radiometric calibration device of an observation system according to Embodiment 3 of the present invention.
[0032]
In FIG. 4, the overall configuration of the observation system of the third embodiment is the same as that of the first embodiment, but the configuration of the radiometric calibration device 1A is different from that of the second embodiment. Only the configuration of the metric calibration device 1A is shown.
[0033]
In the third embodiment, a function of specifying an abnormal propagation light path which causes a flare generated in the observation optical system 4 is added.
[0034]
When the observation optical system 4 is rotationally symmetric, a ghost that causes a flare caused by a normally propagating light beam is dominated by a light beam incident from the vicinity of the rotational symmetry axis, but involves side reflection of a prism or the like. Ghosts that cause flare due to abnormal propagation often exist far away from the rotational symmetry axis of the observation optical system 4.
[0035]
In order to find such a ghost, it is necessary to scan the front surface of the entrance aperture surface 5a of the observation optical system 4 with a narrow light beam. For example, as shown in FIG. 4, there is a method in which a surface surrounded by a circumscribed circle 12 is vertically and horizontally divided into a grid. A small light source group 21 is a group in which the small light sources 11 surrounded by the hexagonal shape are divided by the divided gratings 20 in the horizontal, right diagonal, and left diagonal directions. In the figure, they are indicated by solid circles (black circles).
[0036]
If there is a ghost causing flare due to abnormal propagation near the minute light source group 21, turning on all minute light sources of the minute light source group 21 causes an abnormally large output to appear at a specific pixel of the CCD detector 6. The abnormal propagation light path can be immediately identified. When all of the small light sources 11 are turned on, the average output is increased, so that the ghost becomes relatively small and it is impossible to make a distinction. This has the effect that an abnormal propagation light path that causes flare occurring in the observation optical system can be specified.
[0037]
Embodiment 4 FIG.
An observation system according to Embodiment 4 of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a radiometric calibration device of an observation system according to Embodiment 4 of the present invention.
[0038]
In FIG. 5A, the overall configuration of the observation system according to the fourth embodiment is the same as that of the first embodiment, but the configuration of the radiometric calibration device 1A is different from the other embodiments.
[0039]
In the figure, a first minute light source group 22a and a second minute light source group 22b indicated by oblique lines are groups selected centering on both ends of the virtual line segment 23 on the light emitting surface, and these two groups can be turned on at the same time. It is like that. Incidentally, reference numeral 24 denotes a virtual line indicating the pixel arrangement direction of the CCD detector 6.
[0040]
FIG. 5B is a diagram for explaining the arrangement of the radiometric calibration device 1A of the observation system according to the fourth embodiment.
[0041]
In the figure, a line segment 25 forming a chord is a chord other than the diameter stretched on the entrance aperture surface 5 a of the observation optical system 4, and the chord is parallel to the pixel arrangement direction of the CCD detector 6. The virtual line segment 23 and the chord line segment 25 on the light emitting surface constitute a plane parallel to the optical axis 13 via the bending mirror 9. The first minute light source group 22a and the second minute light source group 22b are minute light source groups whose centers are located at both ends of the virtual line segment 23 on the light emitting surface. Normally, the entrance aperture surface 5a of the observation optical system 4 has a circular shape, and tangent lines at both ends of the line segment 25 forming a chord have an angle θ with each other.
[0042]
FIG. 6A is a graph showing an output profile of all pixels appearing on the CCD detector 6 when the first minute light source group 22a and the second minute light source group 22b in the fourth embodiment are simultaneously turned on.
[0043]
In the figure, the output sharply drops near the both ends of the pixel to form a trapezoidal output profile. This occurs because a light beam is cut off at the edge of the entrance aperture surface 5a of the observation optical system 4.
[0044]
Therefore, the direction of the optical axis 13 changes due to the eccentricity / tilt of the optical system existing from the bending mirror 9 to the CCD detector 6, and when the change is in the pixel arrangement direction of the CCD detector 6, the output is changed. The profile shifts left and right without changing the width of the trapezoid as shown by the solid line in FIG.
[0045]
On the other hand, when the change is in the direction orthogonal to the pixel arrangement, the trapezoidal width of the output profile changes as shown by the solid line in FIG. In each case, the dotted line indicates the profile before the change. By using this characteristic to determine a change in the optical axis 13, a change in the line of sight of the observation optical system 4 can be captured, and distortion generated on the orbit can be measured.
[0046]
FIG. 7 is a diagram showing another configuration example of the fourth embodiment.
[0047]
In FIG. 7, the relationship between the line segment 25 forming the chord and the virtual line segment 23 on the light emitting surface is the same as in FIG. However, the first minute light source group 22a and the second minute light source group 22b are provided with a Λ (lambda) type structure 26 made of, for example, an aluminum plate inside the optical system so as to enter the effective diameter of the observation optical system 4. Therefore, it is not necessary to set the centers of the virtual line segments 23 on both ends on the light emitting surface.
[0048]
The Λ-shaped structure 26 is provided so as to form an A-shape with the virtual line 24 indicating the pixel arrangement direction of the CCD detector 6. With this configuration, the output profile shown in FIG. 6 can be obtained more reliably.
[0049]
FIG. 8 shows a Λ-shaped structure 26 which is a truss 27 which forms a part of a lens barrel and is made of, for example, a resin pipe.
[0050]
It is said that energy loss can be minimized and the problem can be solved by using a truss structure required as a reinforcing structure, rather than adding the Λ-shaped structure 26 that causes energy loss as the observation optical system 4 alone. There are benefits. According to the above configuration, the same effect as that of the first embodiment can be obtained, and at the same time, it is possible to measure the change of the line of sight under the environment encountered on the orbit.
[0051]
【The invention's effect】
As described above, in the observation system according to the present invention, the radiometric calibration device has a large number of minute light sources that are bundled in a plane and forms a light emitting surface, and is surrounded by a circumscribed circle circumscribing these minute light sources. The region indicated has an area including the entrance aperture of the observation optical system. Therefore, it is possible to cover the entire entrance aperture surface of the observation optical system, and it is possible to secure sufficient calibration luminance with low power consumption.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an observation system according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a structure and an operation of a radiometric calibration device of the observation system according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a radiometric calibration device of an observation system according to Embodiment 2 of the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a radiometric calibration device of an observation system according to Embodiment 3 of the present invention.
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration and an arrangement of a radiometric calibration device of an observation system according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing an output profile of a radiometric calibration device of an observation system according to Embodiment 4 of the present invention.
FIG. 7 is a diagram showing another configuration example of the observation system according to the fourth embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a diagram in which the Λ-shaped structure of FIG. 7 is configured by a truss.
FIG. 9 is a diagram showing a calibration method by an observation system of a related technique.
FIG. 10 is a diagram showing an operation of the observation system of the related art.
[Explanation of symbols]
1A radiometric calibration device, 4 observation optical system, 5a entrance aperture, 5b exit aperture, 6 CCD detector, 7 calibration beam, 8 base plate, 9 folding mirror, 10 folding mirror rotation axis, 11 micro light source, 12 circumscribed circle , 13 optical axis, 14 first plane, 15 diameter, 16 poles, 17 meridian, 18 meridian projection curve, 19 minute light source group, 20 division grating, 21 minute light source group, 22a first minute light source group, 22b second minute Light source group, 23 virtual line segments, 24 virtual line indicating the pixel arrangement direction of the CCD detector, 25 string line segments, 26 ° structure, 27 truss.

Claims (7)

校正光束を出力するラジオメトリック校正装置と、
校正時に前記校正光束を導入する折り曲げミラーと、
前記折り曲げミラーにより導入された前記校正光束を通過させる観測光学系と、
前記観測光学系から出射される前記校正光束を検出するCCD検出器と
を備え、
前記ラジオメトリック校正装置は、平面状に束ねられて発光面を構成する多数の微小光源を有し、これら多数の微小光源に外接する外接円で囲まれた領域が前記観測光学系の入射開口面を包含する面積を有する
ことを特徴とする観測システム。
A radiometric calibration device that outputs a calibration beam,
A bending mirror for introducing the calibration light beam during calibration,
An observation optical system that passes the calibration light beam introduced by the bending mirror,
A CCD detector that detects the calibration light flux emitted from the observation optical system,
The radiometric calibration device has a large number of minute light sources that are bundled in a planar shape to form a light emitting surface, and a region surrounded by a circumscribed circle circumscribing the large number of minute light sources is an entrance aperture surface of the observation optical system. An observation system having an area including:
前記ラジオメトリック校正装置は、前記多数の微小光源を、前記外接円を断面とする半球を想定した場合に、前記CCD検出器の画素並びと光軸を含む平面に含まれる前記外接円の直径の両端を極とした複数の子午線を描き、前記複数の子午線を前記断面に投影して得られる複数の子午線投影曲線に沿った複数の微小光源毎にグループにまとめ、前記グループ毎に個別に点灯される
ことを特徴とする請求項1記載の観測システム。
The radiometric calibration device, when assuming a hemisphere having a cross section of the circumscribed circle as the plurality of minute light sources, the diameter of the circumscribed circle included in a plane including the pixel array and the optical axis of the CCD detector. Draw a plurality of meridians with both ends as poles, group the plurality of small light sources along a plurality of meridian projection curves obtained by projecting the plurality of meridians on the cross section, and individually light up each group. The observation system according to claim 1, wherein:
前記ラジオメトリック校正装置は、前記多数の微小光源を、前記外接円で囲まれた面において複数の分割格子に囲まれた領域にある複数の微小光源毎にグループにまとめ、前記グループ毎に個別に点灯される
ことを特徴とする請求項1記載の観測システム。
The radiometric calibration device, the plurality of minute light sources are grouped into groups for each of a plurality of minute light sources in a region surrounded by a plurality of division grids on a surface surrounded by the circumscribed circle, and individually for each group. The observation system according to claim 1, wherein the observation system is turned on.
前記ラジオメトリック校正装置は、前記多数の微小光源を、前記CCD検出器の画素並びと光軸を含む平面に平行で前記観測光学系の入射開口面に張られる直径以外の弦を含む、前記平面に平行な第二の平面と前記発光面が交叉して形成される線分の両端に中心を置き、前記外接円に接する複数の微小光源毎に二グループにまとめ、前記二グループが同時に点灯される
ことを特徴とする請求項1記載の観測システム。
The radiometric calibration device includes a plurality of minute light sources, each of which includes a chord other than a diameter that is parallel to a plane including a pixel array and an optical axis of the CCD detector and is stretched on an entrance aperture of the observation optical system. The center is located at both ends of a line segment formed by intersecting a second plane parallel to the light-emitting surface and the light-emitting surface is grouped into two groups for each of a plurality of small light sources that are in contact with the circumscribed circle, and the two groups are simultaneously turned on. The observation system according to claim 1, wherein:
前記観測光学系の内部に開口の外辺を遮るようにΛ型構造体をさらに備え、
前記Λ型構造体が前記CCD検出器の画素並びと光軸を含む平面とA字型をなすように交叉して配置されている
ことを特徴とする請求項4記載の観測システム。
Further comprising a Λ-shaped structure to block the outer edge of the aperture inside the observation optical system,
The observation system according to claim 4, wherein the Λ-shaped structure is arranged so as to intersect with a plane including an optical axis and a pixel array of the CCD detector so as to form an A-shape.
前記Λ型構造体を、鏡筒の一部をなすトラスで構成した
ことを特徴とする請求項5記載の観測システム。
The observation system according to claim 5, wherein the Λ-shaped structure is constituted by a truss forming a part of a lens barrel.
前記微小光源を、白色LEDで構成した
ことを特徴とする請求項1から請求項6までのいずれかに記載の観測システム。
The observation system according to any one of claims 1 to 6, wherein the minute light source is configured by a white LED.
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