JP2004207234A - Preparation process and device of light emitting device - Google Patents

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純矢 丸山
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徹 高山
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light emitting device configured to prevent oxygen or water from reaching a light emitting element, and its preparation process, and to seal the light emitting element with a plastic substrate through a small number of steps without insertion of any drying material. <P>SOLUTION: The present invention is configured so that, when a flexible substrate 11 provided with an light emitting element and a flexible substrate 12 are adhered to each other, a pixel region 13 is surrounded by a first seal material 16 (having a higher viscosity than a second seal material) including a gap material (e.g., filler or fine particles) holding a gap between the two substrates, and then that some droplets of the second seal material 17a are dropped and scattered over for filling to make a seal by both the first and second seal materials 16 and 17. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

本発明は素子(代表的には、薄膜トランジスタ(以下、TFTという)で構成された回路を有する半導体素子、発光素子、メモリー素子、センサ素子、または光電変換素子)を封止するための封止用基板を貼りあわせる貼り合わせ機構を備えた製造装置に関する。特に、有機化合物を含む層を発光層とする発光装置を作製する際、発光素子を封止するための封止用基板の貼り合わせ装置に関する。   The present invention is used for sealing an element (typically, a semiconductor element having a circuit including a thin film transistor (hereinafter, referred to as a TFT), a light-emitting element, a memory element, a sensor element, or a photoelectric conversion element). The present invention relates to a manufacturing apparatus provided with a bonding mechanism for bonding substrates. In particular, the present invention relates to a device for bonding a sealing substrate for sealing a light-emitting element when a light-emitting device including a layer containing an organic compound as a light-emitting layer is manufactured.

近年、自発光型の発光素子としてEL素子を有した発光装置の研究が活発化している。この発光装置は有機ELディスプレイ、又は有機発光ダイオードとも呼ばれている。これらの発光装置は、動画表示に適した速い応答速度、低電圧、低消費電力駆動などの特徴を有しているため、新世代の携帯電話や携帯情報端末(PDA)をはじめ、次世代ディスプレイとして大きく注目されている。   In recent years, research on a light emitting device having an EL element as a self light emitting type light emitting element has been activated. This light emitting device is also called an organic EL display or an organic light emitting diode. These light-emitting devices have characteristics such as fast response speed, low voltage, and low power consumption driving suitable for displaying moving images. Therefore, next-generation displays such as a new generation of mobile phones and personal digital assistants (PDAs) are available. As a big attention.

発光装置は、液晶表示装置と異なり自発光型であるため視野角の問題がないという特徴がある。即ち、屋外に用いられるディスプレイとしては、液晶ディスプレイよりも適しており、様々な形での使用が提案されている。   Unlike a liquid crystal display device, a light emitting device is of a self-luminous type and has a feature that there is no problem of a viewing angle. That is, as a display used outdoors, it is more suitable than a liquid crystal display, and its use in various forms has been proposed.

また、本明細書中では、陰極、EL層及び陽極で形成される発光素子をEL素子といい、これには、互いに直交するように設けられた2種類のストライプ状電極の間にEL層を形成する方式(単純マトリクス方式)、又はTFTに接続されマトリクス状に配列された画素電極と対向電極との間にEL層を形成する方式(アクティブマトリクス方式)の2種類がある。画素密度が増えた場合には、画素(又は1ドット)毎にスイッチが設けられているアクティブマトリクス型の方が低電圧駆動できるので有利であると考えられている。   In this specification, a light-emitting element formed of a cathode, an EL layer, and an anode is referred to as an EL element, and includes an EL layer between two types of stripe-shaped electrodes provided to be orthogonal to each other. There are two types: a formation method (simple matrix method), and a method of forming an EL layer between a pixel electrode connected to a TFT and arranged in a matrix and an opposing electrode (active matrix method). When the pixel density increases, it is considered that an active matrix type in which a switch is provided for each pixel (or one dot) is advantageous because it can be driven at a low voltage.

また、EL層を形成するEL材料は極めて劣化しやすく、酸素もしくは水の存在により容易に酸化もしくは吸湿して劣化するため、発光素子における発光輝度の低下や寿命が短くなる問題がある。   In addition, the EL material forming the EL layer is extremely susceptible to deterioration, and is easily oxidized or absorbed by the presence of oxygen or water to deteriorate.

そこで、従来では、発光素子に封止缶を被せて内部にドライエアを封入し、さらに乾燥剤を貼り付けることによって、発光素子への酸素の到達、もしくは水分の到達を防止している。   Therefore, conventionally, the arrival of oxygen or the arrival of moisture to the light emitting element is prevented by covering the light emitting element with a sealing can, sealing dry air inside, and further attaching a desiccant.

また、本出願人は、特許文献1にシール材で囲まれた部分を密封可能な空間とし、その空間を樹脂または液体で充填する封止方法を記載している。
特開2001−203076
In addition, the present applicant describes in Patent Document 1 a sealing method in which a portion surrounded by a sealing material is a sealable space, and the space is filled with a resin or a liquid.
JP-A-2001-203076

本発明は、発光素子への酸素の到達、もしくは水分の到達を防止する構造とした発光装置およびその作製方法を提供することを課題とする。また、乾燥材を封入することなく、少ない工程数で発光素子を封止することも課題とする。 An object of the present invention is to provide a light-emitting device having a structure for preventing oxygen or moisture from reaching a light-emitting element and a method for manufacturing the light-emitting device. Another object is to seal a light-emitting element with a small number of steps without enclosing a drying agent.

また、本発明は、凹凸を有する基板もしくはフレキシブル基板を貼り合わせることが可能な貼り合わせ装置をも提供する。   The present invention also provides a bonding apparatus capable of bonding a substrate having irregularities or a flexible substrate.

そこで、本発明は、発光素子の設けられた基板と透明な封止基板とを貼りあわせる構造とし、2枚の基板を貼りあわせる際、画素領域は透明な第2のシール材で全面覆い、2枚の基板間隔を保持するギャップ材(フィラー、微粒子など)を含む第1のシール材(第2のシール材よりも粘度が高い)で囲み、第1のシール材と第2のシール材とで封止する構造とする。   Therefore, the present invention provides a structure in which a substrate provided with a light-emitting element and a transparent sealing substrate are bonded to each other, and when the two substrates are bonded to each other, the pixel region is entirely covered with a transparent second sealing material. Surrounded by a first sealing material (having a higher viscosity than the second sealing material) including a gap material (filler, fine particles, or the like) for maintaining a distance between two substrates, and surrounded by a first sealing material and a second sealing material. A structure for sealing is adopted.

上記第1のシール材のシールパターン形状をロの字状、コの字状、あるいはU字状に形成し、粘度の低い第2のシール材を滴下して2枚の基板を貼りあわせた場合、角に気泡が残る恐れがある。   When the seal pattern shape of the first seal material is formed in a square shape, a U shape, or a U shape, and the second seal material having a low viscosity is dropped and the two substrates are bonded to each other. There is a risk that bubbles will remain at the corners.

特に、基板がプラスチックのように柔らかくフィルム状のものは、気泡が生じやすい傾向がある。   In particular, when the substrate is a soft and film-like substrate such as plastic, air bubbles tend to be easily generated.

また、第2のシール材1滴を中央部に滴下して2枚のフィルム基板を貼り合わせた場合、同心円状に広がり、四隅にまで行き渡らせることが困難である。   When one film of the second sealing material is dropped at the center and two film substrates are bonded to each other, it spreads concentrically and it is difficult to spread to the four corners.

そこで、本発明は、第1のシール材のパターン形状をロの字状、コの字状、あるいはU字状にすることなく、折り曲げ部のないパターン(ライン状)とし、角には気泡を逃がすための開口部(4箇所)を設け、第1のシール材に囲まれた中央部に多目の第2のシール材1滴を滴下し、その周りに少な目の第2のシール材を数滴滴下する。   In view of the above, the present invention provides a pattern (line shape) having no bent portion without changing the pattern shape of the first sealing material into a square shape, a U shape, or a U shape, and forming bubbles at corners. An opening (four places) for escape is provided, and one drop of the second sealing material is dropped at the center portion surrounded by the first sealing material, and a few second sealing materials are dropped around the second sealing material. Add drops.

開口部を設けることによって、粘度の低い第2のシール材を用いて2枚の基板を貼りあわせる際、角の開口部の方向に粘度の低い第2のシール材が押し出され、画素領域上に気泡が混入することなく封止することができる。また、気泡が混入しないように封止側の基板の表面は平坦性の優れた滑らかなものとすることが好ましい。   By providing the opening, when the two substrates are bonded to each other using the low-viscosity second sealing material, the low-viscosity second sealing material is extruded in the direction of the corner opening, and is placed on the pixel region. Sealing can be performed without bubbles. Further, it is preferable that the surface of the substrate on the sealing side be smooth with excellent flatness so that air bubbles are not mixed.

特に、フィルム基板のように厚さの薄い基板を貼り付ける際に有用である。また、ガラス基板から剥離した厚さの薄い被剥離層(基板のない状態)とフィルム基板との貼り合わせにも有用である。   In particular, it is useful when attaching a thin substrate such as a film substrate. It is also useful for bonding a thin layer to be peeled off from a glass substrate (without a substrate) to a film substrate.

それぞれ同じ滴下量とし、複数滴の第2のシール材を滴下した実験では、中央部に滴下した量が足りずに全面には広がらなかったり、周縁部に滴下した第2のシール材が広がりすぎて基板の端面(または裏面)にまで達したりしていた。   In an experiment in which a plurality of second sealing materials were dropped at the same dropping amount, the amount dropped at the central portion was not enough to spread over the entire surface, or the second sealing material dropped at the peripheral portion was too wide. To reach the end surface (or the back surface) of the substrate.

そこで、本発明は、第2のシール材が広がりすぎて基板の端面(または裏面)にまで達してもよいように基板トレーまたは基板ステージの表面をテフロン(登録商標)やDLCでコートして第2のシール材と接着しにくくする製造装置を提供する。或いは、基板トレーまたは基板ステージそのものの材質を第2のシール材と接着しにくい材料で構成してもよい。本発明の製造装置によって、第2のシール材の滴下量、滴下する位置、貼り合わせ圧力などの貼り合わせ時の条件マージンが広がる。   Accordingly, the present invention provides a method of coating the surface of a substrate tray or a substrate stage with Teflon (registered trademark) or DLC so that the second sealant may spread too much to reach the end surface (or the back surface) of the substrate. And a manufacturing apparatus for making the bonding material difficult to adhere to the sealing material. Alternatively, the material of the substrate tray or the substrate stage itself may be made of a material that is difficult to adhere to the second sealant. According to the manufacturing apparatus of the present invention, the margins for conditions such as the amount of the second sealing material to be dropped, the dropping position, and the bonding pressure are increased.

また、粘度の高い第1のシール材は、基板間隔をギャップ材で維持するとともに、粘度の低い第2のシール材の平面形状を整える機能を果たしている。また、第1のシール材は、基板を分断する際に目印にもなりうる。例えば、一枚の基板に複数のパネルを作製する、いわゆる多面取りとする場合、この第1のシール材に沿って基板を分断すればよい。   Further, the first sealing material having a high viscosity has a function of maintaining the substrate interval with the gap material and adjusting the planar shape of the second sealing material having a low viscosity. In addition, the first sealant can be a mark when the substrate is divided. For example, in the case of forming a plurality of panels on one substrate, that is, in the case of so-called multi-paneling, the substrate may be divided along the first sealant.

また、外部からの衝撃を受けた場合、一番負荷が掛かるのは、画素領域以外に配置された第1のシール材(第1のシール材のみにギャップ材を有している)の箇所とすることができ、画素領域には負荷が掛からないようにすることができる。即ち、本発明の構成とすることによって、より一層、発光装置の機械的強度を丈夫なものとすることができる。   Also, when an external impact is applied, the load is applied most to the first seal material (having a gap material only in the first seal material) disposed outside the pixel area. And load is not applied to the pixel region. That is, with the structure of the present invention, the mechanical strength of the light emitting device can be further enhanced.

また、発光素子は、第1のシール材と、第2のシール材と、基板とで封止されるため、水分や酸素を効果的にブロッキングすることができる。なお、一対の基板を貼りあわせる際、減圧または窒素雰囲気で行うことが望ましい。   In addition, since the light-emitting element is sealed with the first sealant, the second sealant, and the substrate, moisture and oxygen can be effectively blocked. Note that the bonding of the pair of substrates is preferably performed in a reduced pressure or nitrogen atmosphere.

本明細書で開示する発明の構成は、
少なくとも一方が透光性である一対の基板間に、第1の電極と、該第1の電極上に接する有機化合物層と、該有機化合物層上に接する第2の電極とを有する発光素子を複数有する画素部を備えた発光装置の作製方法であって、
一方の基板上に画素部を形成する工程と、
もう一方の基板上に線形状の第1のシール材を描画する工程と、
前記第1のシール材よりも粘度の低い第2のシール材を第1のシール材で囲まれた領域内へ異なる滴下量で複数滴滴下する工程と、
前記第1のシール材が前記画素部を囲むように配置され、且つ、少なくとも一対の前記第1のシール材の間は、前記第2のシール材で充填されるように前記一対の基板を貼り合わせる工程とを有することを特徴とする発光装置の作製方法である。
The configuration of the invention disclosed in this specification is:
A light-emitting element including a first electrode, an organic compound layer in contact with the first electrode, and a second electrode in contact with the organic compound layer is provided between a pair of substrates, at least one of which is light-transmitting. A method for manufacturing a light-emitting device including a plurality of pixel portions,
Forming a pixel portion on one of the substrates;
Drawing a linear first sealing material on the other substrate;
A step of dropping a plurality of drops of a second sealant having a lower viscosity than the first sealant in different drop amounts into a region surrounded by the first sealant;
The first sealant is disposed so as to surround the pixel portion, and the pair of substrates is attached to at least a pair of the first sealants so as to be filled with the second sealant. And a method of manufacturing a light-emitting device.

また、上記構成において、前記第2のシール材は、少なくとも画素部の中央と、該中央と一定の間隔を有して取り囲む位置とに滴下され、中央に滴下される滴下量は取り囲む位置に滴下する滴下量より多いことを特徴としている。   Further, in the above structure, the second sealant is dropped at least at the center of the pixel portion and at a position surrounding the pixel portion at a certain interval from the center, and the amount of drop dropped at the center is dropped at the surrounding position. It is characterized in that it is larger than the amount of dripping.

また、上記各構成において、前記第1のシール材は、少なくとも四隅に開口を有していることを特徴としている。   Further, in each of the above structures, the first sealant has openings at at least four corners.

また、上記各構成において、前記第1のシール材は、一対の基板間隔を保持するギャップ材を含むことを特徴としている。 Further, in each of the above structures, the first sealing material includes a gap material for maintaining a distance between the pair of substrates.

また、上記各構成において、前記第2のシール材は、前記開口で露出しており、露出している前記第2のシール材の周縁は湾曲していることを特徴としている。 Further, in each of the above structures, the second seal member is exposed at the opening, and a periphery of the exposed second seal member is curved.

また、上記各構成において、前記第2のシール材は、前記開口で露出しており、露出している前記第2のシール材の周縁は前記開口から突出していることを特徴としている。 In each of the above structures, the second sealant is exposed at the opening, and a peripheral edge of the exposed second sealant protrudes from the opening.

また、他の発明の構成は、
少なくとも一方が透光性である一対の基板間に、第1の電極と、該第1の電極上に接する有機化合物層と、該有機化合物層上に接する第2の電極とを有する発光素子を複数有する画素部を備えた発光装置の作製方法であって、
一方の基板上に画素部を形成する工程と、
もう一方の基板上に線形状の第1のシール材を描画する工程と、
前記第1のシール材よりも粘度の低い第2のシール材を第1のシール材で囲まれた領域内へ異なる滴下量で複数滴滴下する工程と、
前記第1のシール材が前記画素部を囲むように一対の基板を貼り合わせる際、加圧により前記第2のシール材を広げて互いに対向する前記第1のシール材の間に充填させる工程と、
前記第1のシール材と前記第2のシール材を硬化させる工程と、を有することを特徴とする発光装置の作製方法である。
Further, the configuration of another invention is as follows.
A light-emitting element including a first electrode, an organic compound layer in contact with the first electrode, and a second electrode in contact with the organic compound layer is provided between a pair of substrates, at least one of which is light-transmitting. A method for manufacturing a light-emitting device including a plurality of pixel portions,
Forming a pixel portion on one of the substrates;
Drawing a linear first sealing material on the other substrate;
A step of dropping a plurality of drops of a second sealant having a lower viscosity than the first sealant in different drop amounts into a region surrounded by the first sealant;
A step of spreading the second sealant by applying pressure and filling between the first sealants facing each other when the pair of substrates is bonded so that the first sealant surrounds the pixel portion; ,
And a step of curing the first sealing material and the second sealing material.

また、上記構成において、前記第1のシール材と前記第2のシール材を硬化させる工程は、紫外線を照射する工程、または加熱する工程であることを特徴としている。   Further, in the above structure, the step of curing the first sealant and the second sealant is a step of irradiating ultraviolet rays or a step of heating.

また、上記構成において、前記第1のシール材と前記第2のシール材を硬化させる工程の後、前記第1のシール材に沿って一対の基板を分断する工程を有することを特徴としている。   Further, in the above structure, after the step of curing the first sealant and the second sealant, a step of dividing the pair of substrates along the first sealant is provided.

また、上記作製方法を実行する貼り合わせ装置も本発明の一つであり、本発明の製造装置は、
一対の基板を所定の間隔でシール材を間に挟んで貼り合わせる基板貼りあわせ装置を備えた製造装置であって、
対向して配置された2つの基板支持台と、
前記2つの支持台間を押圧してシール材を押しつぶす手段とを有し、
前記基板支持台は、フッ素系樹脂を含む膜で覆われていることを特徴とする製造装置である。
In addition, a bonding apparatus that performs the above manufacturing method is also one of the present invention, and the manufacturing apparatus of the present invention includes
A manufacturing apparatus provided with a substrate bonding apparatus that bonds a pair of substrates with a sealing material interposed therebetween at a predetermined interval,
Two substrate support bases arranged facing each other,
Means for pressing between the two support bases to crush the sealing material,
The substrate support is covered with a film containing a fluorine-based resin.

また、上記構成において、前記フッ素系樹脂を含む膜は、ポリテトラフルオロエチレン、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、ポリクロロトリフルオロエチレン、テトラフルオロエチレン−エチレン共重合体、ポリビニルフルオライド、ポリビニリデンフルオライドから選ばれた一種であることを特徴としている。   In the above structure, the film containing the fluororesin is polytetrafluoroethylene, tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer, polychlorotrifluoroethylene, tetrafluoroethylene-ethylene copolymer, polyvinyl fluoride, It is characterized by being a kind selected from polyvinylidene fluoride.

また、本発明の製造装置の他の構成は、一対の基板を所定の間隔でシール材を間に挟んで貼り合わせる基板貼りあわせ装置を備えた製造装置であって、
対向して配置された2つの基板支持台と、
前記2つの支持台間を押圧してシール材を押しつぶす手段とを有し、
両面テープで前記2つの基板支持台に前記基板がそれぞれ固定されていることを特徴とする製造装置である。
Another configuration of the manufacturing apparatus of the present invention is a manufacturing apparatus including a substrate bonding apparatus that bonds a pair of substrates with a sealing material interposed therebetween at a predetermined interval,
Two substrate support bases arranged facing each other,
Means for pressing between the two support bases to crush the sealing material,
The manufacturing apparatus is characterized in that the substrates are respectively fixed to the two substrate supports with double-sided tape.

また、上記構成において、光源を設けた基板貼りあわせ装置とし、前記2つの基板支持台の少なくとも一方を光が透過する材料で構成して、一対の基板を貼り合わせた後、光源から基板支持台を通過する光を照射してシール材を硬化させることを特徴としている。さらに、光の照射により接着力が低下する両面テープを用いて基板を固定した場合には、光の照射によってシール材を硬化させると同時に基板支持台から両面テープを剥がすことができる。   Further, in the above structure, a substrate bonding apparatus provided with a light source, wherein at least one of the two substrate supports is formed of a light transmitting material, and after bonding a pair of substrates, The sealing material is cured by irradiating light passing through the sealing material. Furthermore, when the substrate is fixed using a double-sided tape whose adhesive strength is reduced by light irradiation, the double-sided tape can be peeled off from the substrate support base at the same time as the sealing material is cured by the light irradiation.

また、上記構成において、光源を設けた基板貼りあわせ装置とし、前記2つの基板支持台の少なくとも一方を光が透過する材料で構成して、もう一方の基板支持台表面を光を反射する鏡面とした構成としてもよい。こうすることによって、一方の基板支持台を通過し、一対の基板を通過した光を反射させて再度シール材に照射することができる。   Further, in the above structure, a substrate bonding apparatus provided with a light source, at least one of the two substrate supports is made of a light transmitting material, and the other substrate support surface has a mirror surface that reflects light. A configuration may be adopted. In this manner, light that has passed through one of the substrate supports and has passed through the pair of substrates can be reflected and irradiated on the sealant again.

また、上記構成において、前記2つの基板支持台の少なくとも一方は加熱手段を備えており、一対の基板を貼り合わせた後、加熱によりシール材を硬化させることを特徴としている。さらに、加熱により接着力が低下する両面テープを用いて基板を固定した場合には、加熱によってシール材を硬化させると同時に基板支持台から両面テープを剥がすことができる。   In the above structure, at least one of the two substrate supports is provided with a heating means, and after a pair of substrates is bonded, the sealing material is cured by heating. Further, when the substrate is fixed using a double-sided tape whose adhesive strength is reduced by heating, the double-sided tape can be peeled off from the substrate support at the same time as the sealing material is cured by the heating.

なお、発光素子(EL素子)は、電場を加えることで発生するルミネッセンス(Electro Luminescence)が得られる有機化合物を含む層(以下、EL層と記す)と、陽極と、陰極とを有する。有機化合物におけるルミネッセンスには、一重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(蛍光)と三重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(リン光)とがあるが、本発明により作製される発光装置は、どちらの発光を用いた場合にも適用可能である。 Note that the light-emitting element (EL element) includes a layer containing an organic compound that can obtain luminescence (Electro Luminescence) generated by application of an electric field (hereinafter, referred to as an EL layer), an anode, and a cathode. Luminescence of an organic compound includes light emission when returning from a singlet excited state to a ground state (fluorescence) and light emission when returning from a triplet excited state to a ground state (phosphorescence), which are produced by the present invention. The light emitting device can be applied to the case of using either light emission.

EL層を有する発光素子(EL素子)は一対の電極間にEL層が挟まれた構造となっているが、EL層は通常、積層構造となっている。代表的には、「正孔輸送層/発光層/電子輸送層」という積層構造が挙げられる。この構造は非常に発光効率が高く、現在、研究開発が進められている発光装置は殆どこの構造を採用している。 A light-emitting element (EL element) including an EL layer has a structure in which an EL layer is sandwiched between a pair of electrodes. The EL layer usually has a stacked structure. Typically, a laminated structure of “hole transport layer / light-emitting layer / electron transport layer” is given. This structure has a very high luminous efficiency, and most light-emitting devices currently under research and development adopt this structure.

また、他にも陽極上に正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子輸送層、または正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子輸送層/電子注入層の順に積層する構造も良い。発光層に対して蛍光性色素等をドーピングしても良い。また、これらの層は、全て低分子系の材料を用いて形成しても良いし、全て高分子系の材料を用いて形成しても良い。また、無機材料を含む層を用いてもよい。なお、本明細書において、陰極と陽極との間に設けられる全ての層を総称してEL層という。したがって、上記正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層及び電子注入層は、全てEL層に含まれる。   In addition, a hole injection layer / a hole transport layer / a light emitting layer / an electron transport layer, or a hole injection layer / a hole transport layer / a light emitting layer / an electron transport layer / an electron injection layer are stacked in this order on the anode. The structure is also good. The light emitting layer may be doped with a fluorescent dye or the like. Further, these layers may be formed entirely using a low molecular material, or may be formed entirely using a high molecular material. Further, a layer containing an inorganic material may be used. In this specification, all layers provided between a cathode and an anode are collectively referred to as an EL layer. Therefore, the hole injection layer, the hole transport layer, the light emitting layer, the electron transport layer, and the electron injection layer are all included in the EL layer.

また、本発明の発光装置において、画面表示の駆動方法は特に限定されず、例えば、点順次駆動方法や線順次駆動方法や面順次駆動方法などを用いればよい。代表的には、線順次駆動方法とし、時分割階調駆動方法や面積階調駆動方法を適宜用いればよい。また、発光装置のソース線に入力する映像信号は、アナログ信号であってもよいし、デジタル信号であってもよく、適宜、映像信号に合わせて駆動回路などを設計すればよい。   In the light emitting device of the present invention, a driving method for screen display is not particularly limited, and for example, a dot sequential driving method, a line sequential driving method, a plane sequential driving method, or the like may be used. Typically, a line-sequential driving method is used, and a time-division grayscale driving method or an area grayscale driving method may be used as appropriate. Further, the video signal input to the source line of the light emitting device may be an analog signal or a digital signal, and a drive circuit or the like may be appropriately designed in accordance with the video signal.

また、本発明は、アクティブマトリクス型の発光装置に限らず、パッシブマトリクス型の発光装置にも適用できる。   Further, the present invention is not limited to an active matrix light emitting device, and can be applied to a passive matrix light emitting device.

本発明により、一対の基板(特にフレキシブルなプラスチック基板)を貼り合せる際、気泡を含むことなく、透明なシール材を充填することができる。従って、信頼性の高い発光装置を得ることができる。   According to the present invention, when a pair of substrates (particularly, a flexible plastic substrate) is attached to each other, a transparent sealing material can be filled without containing air bubbles. Therefore, a highly reliable light-emitting device can be obtained.

本発明の実施形態について、以下に説明する。   An embodiment of the present invention will be described below.

(実施の形態1)
図1(A)には、貼りあわせる前の封止基板(第2の基板12)の上面図の一例を示している。図1(A)では一枚の基板から1つの画素部を有する発光装置を形成する例を示している。
(Embodiment 1)
FIG. 1A illustrates an example of a top view of a sealing substrate (a second substrate 12) before bonding. FIG. 1A illustrates an example in which a light-emitting device having one pixel portion is formed from one substrate.

まず、第2の基板12上にディスペンサーを用いて8本の第1シール材16を形成した後、第1シール材よりも粘度の低い第2シール材を複数滴滴下する。なお、滴下した状態での上面図が図1(A)に相当する。 First, after forming eight first sealing members 16 on the second substrate 12 using a dispenser, a plurality of second sealing members having a viscosity lower than that of the first sealing members are dropped. Note that a top view in a dropped state corresponds to FIG.

次いで、発光素子が画素部13、または駆動回路部14、端子部15が設けられた第1の基板11と貼りあわせる。一対の基板を貼り合せた直後の上面図を図1(B)に示す。第1シール材の粘度は高いため、貼り合せた際には若干広がるが、第2シール材の粘度は低いため、貼り合せた際、図1(B)に示すように、第2シール材は平面的に広がることとなる。第2シール材が、第1のシール材16の間、即ち開口部に向かって図1(B)中の矢印の方向に押し出されることによって、第1シール材16の間に充填される領域に気泡が存在しないようにすることができる。第1シール材16は第2シール材17bと接しても混ざることはなく、第1シール材16は第2シール材17bによって形成位置は変化しない粘度を有している。   Next, the light emitting element is attached to the first substrate 11 provided with the pixel portion 13 or the driver circuit portion 14 and the terminal portion 15. FIG. 1B illustrates a top view immediately after the pair of substrates is attached to each other. Since the viscosity of the first sealing material is high, it spreads slightly when they are bonded together, but because the viscosity of the second sealing material is low, when they are bonded, as shown in FIG. It will spread in a plane. By extruding the second sealing material between the first sealing materials 16, that is, in the direction of the arrow in FIG. 1B toward the opening, an area filled between the first sealing materials 16 is formed. Bubbles can be eliminated. The first sealing material 16 does not mix even when in contact with the second sealing material 17b, and the first sealing material 16 has a viscosity that does not change its formation position due to the second sealing material 17b.

また、第1シール材16には、2枚の基板間隔を保持するギャップ材(フィラー、微粒子など)を含ませている。また、第1のシール材16は、それぞれ対称的に配置され、それぞれ均一にバランスよく負荷がかかる構造となっているため、外部からの衝撃を均一に拡散することができる。また、第1のシール材16は、対称的な形状であり、且つ、それぞれ対称的に配置されているため、基板間隔をより一定に保つことができる。また、第1のシール材16は、基板平面におけるX方向またはY方向と平行に配置されている。 Further, the first sealing material 16 contains a gap material (filler, fine particles, or the like) for maintaining the interval between the two substrates. In addition, the first seal members 16 are arranged symmetrically, and have a structure in which loads are applied uniformly in a well-balanced manner, so that external shocks can be uniformly diffused. Further, since the first seal members 16 have a symmetrical shape and are arranged symmetrically, the distance between the substrates can be kept more constant. Further, the first sealing material 16 is arranged in parallel with the X direction or the Y direction on the substrate plane.

また、貼りあわせる際、第2のシール材17aが押し出されて端子部の接続端子を覆わないように、端子部において第1のシール材86の間隔が狭い図13(A)に示すパターンとしてもよい。一対の基板を貼り合せた直後の上面図を図13(B)に示す。さらに、貼りあわせる際、第2のシール材17aが押し出されて基板端面からはみでないように第1のシール材96を基板端面に対して斜めに配置した図14(A)に示すパターンとしてもよい。一対の基板を貼り合せた直後の上面図を図14(B)に示す。なお、図13、および図14においては、図1と第1のシール材パターンが異なるだけであるので、他の同一である部分は図1と同一の符号を用いている。   In addition, when bonding, the pattern shown in FIG. 13A in which the distance between the first seal members 86 is small in the terminal portion is employed so that the second seal member 17a is not pushed out to cover the connection terminal of the terminal portion. Good. FIG. 13B shows a top view immediately after the pair of substrates is attached to each other. Further, at the time of bonding, the pattern shown in FIG. 14A in which the first sealing material 96 is arranged obliquely with respect to the substrate end surface so that the second sealing material 17a is extruded and does not protrude from the substrate end surface may be used. Good. FIG. 14B illustrates a top view immediately after the pair of substrates is attached to each other. In FIGS. 13 and 14, only the first sealing material pattern is different from that in FIG. 1, and the other same parts are denoted by the same reference numerals as those in FIG.

また、貼り合わせ時のマージンを広げるため、第2のシール材が基板の端部まで広がってもよいように図2に示す貼り合わせ装置で貼り合わせを行うことが好ましい。   In addition, in order to widen a margin at the time of bonding, it is preferable to perform bonding with a bonding device shown in FIG. 2 so that the second sealant may spread to an end of the substrate.

図2(A)は一対の基板を貼り合わせる前の断面図、図2(B)は貼り合わせ直後の断面図、図2(C)は貼り合わせ後の断面図をそれぞれ示している。図2(A)〜図2(C)中、21は第1基板支持台、22は第2基板支持台、23はフッ素系樹脂膜、24は上昇ピンである。なお、図2において、図1と対応する部分は同一の符号を用いている。 2A is a cross-sectional view before bonding a pair of substrates, FIG. 2B is a cross-sectional view immediately after bonding, and FIG. 2C is a cross-sectional view after bonding. 2A to 2C, 21 is a first substrate support, 22 is a second substrate support, 23 is a fluorine-based resin film, and 24 is a lift pin. In FIG. 2, the same reference numerals are used for the portions corresponding to FIG.

図2に示した貼り合わせ装置は、テフロン(登録商標)で代表されるフッ素系樹脂膜がコーティングされた第2基板支持台を用いている。第2のシール材との密着性がほとんどないフッ素系樹脂膜を第2基板支持台にコーティングすることで粘性の低い第2のシール材が基板端面または基板裏面にまで達した場合でも第2基板支持台と第2の基板とが接着して剥がれなくなるということをなくすことができる。 The bonding apparatus shown in FIG. 2 uses a second substrate support base coated with a fluorine-based resin film represented by Teflon (registered trademark). Even if the low-viscosity second seal material reaches the substrate end surface or the substrate back surface by coating the second substrate support with a fluorine-based resin film having little adhesion to the second seal material, the second substrate It is possible to eliminate the situation where the support and the second substrate are adhered and cannot be separated.

なお、第2基板支持台22は、第2基板12が固定できるように凹部が設けてあり、はめ込むことによって固定し、さらに、貼り付け後には取り出せるように上昇ピン24が設けてある。また、第1基板支持台21は、第1基板が固定できるように固定手段(固定ピンや真空チャック等)を備えている。また、第1基板支持台21または第2基板支持台22には、硬化させるための加熱手段が備えられていてもよい。   The second substrate support base 22 is provided with a concave portion so that the second substrate 12 can be fixed, fixed by fitting, and further provided with a rising pin 24 so that it can be taken out after pasting. The first substrate support 21 has fixing means (fixing pins, vacuum chucks, etc.) so that the first substrate can be fixed. Further, the first substrate support 21 or the second substrate support 22 may be provided with a heating unit for curing.

(実施の形態2)
実施の形態1では1枚の基板から1パネルを作製する例を示したが、ここでは、1枚の基板から複数パネルを作製する多面取りを行う例を図3に示す。
(Embodiment 2)
In Embodiment 1, an example in which one panel is manufactured from one substrate is described. Here, an example in which multiple panels are manufactured in which a plurality of panels are manufactured from one substrate is illustrated in FIG.

まず、不活性気体雰囲気で第2基板31上にディスペンサ装置で第1シール材31を所定の位置に形成する。(図3(A))半透明な第1シール材31としてはフィラー(直径6μm〜24μm)を含み、且つ、粘度370Pa・sのものを用いる。また、簡単なシールパターンであるので第1シール材31は、印刷法で形成することもできる。   First, the first sealant 31 is formed at a predetermined position on the second substrate 31 in an inert gas atmosphere by a dispenser device. (FIG. 3 (A)) As the translucent first sealing material 31, one having a filler (diameter of 6 μm to 24 μm) and a viscosity of 370 Pa · s is used. Further, since the seal pattern is simple, the first seal material 31 can be formed by a printing method.

次いで、第1シール材31に囲まれた領域(ただし、少なくとも四隅が開口している)に透明な第2シール材33を滴下する。(図3(B))ここでは屈折率1.50、粘度500cpsである高耐熱のUVエポキシ樹脂(エレクトロライト社製:2500Clear)を用いる。   Next, a transparent second sealing material 33 is dropped on a region surrounded by the first sealing material 31 (however, at least four corners are open). (FIG. 3B) Here, a high heat-resistant UV epoxy resin having a refractive index of 1.50 and a viscosity of 500 cps (manufactured by Electrolight, 2500 Clear) is used.

次いで、画素部34が設けられた第1基板35と、シール材が設けられた基板とを貼りあわせる。(図3(C))なお、シール材によって一対の基板を貼りつける直前には真空でアニールを行って脱気を行うことが好ましい。ここでは、第2のシール材33を広げて第1のシール材32の間を充填させる。第1のシール材32の形状および配置により気泡が入ることなく第2のシール材33を充填することができる。次いで、紫外線照射を行って、第1のシール材32および第2のシール材33を硬化させる。なお、紫外線照射に加えて、熱処理を行ってもよい。   Next, the first substrate 35 provided with the pixel portion 34 and the substrate provided with the sealant are attached to each other. (FIG. 3C) Immediately before the pair of substrates are attached with the sealing material, it is preferable to perform annealing in a vacuum to perform degassing. Here, the space between the first seal materials 32 is filled by spreading the second seal material 33. Depending on the shape and arrangement of the first sealant 32, the second sealant 33 can be filled without bubbles. Next, the first sealing material 32 and the second sealing material 33 are cured by irradiating ultraviolet rays. Note that heat treatment may be performed in addition to ultraviolet irradiation.

なお、第1基板35は、プラスチック基板であり、プラスチック基板上には複数種類のTFTがマトリクス状に形成され画素部を形成している。また、第2基板31は、プラスチック基板である。   Note that the first substrate 35 is a plastic substrate, and a plurality of types of TFTs are formed in a matrix on the plastic substrate to form a pixel portion. The second substrate 31 is a plastic substrate.

次いで、ロールカッターなどの切断装置を用いて第1基板35を切断する。(図3(D))こうして、1枚の基板から4つのパネルを作製することができる。   Next, the first substrate 35 is cut using a cutting device such as a roll cutter. (FIG. 3D) Thus, four panels can be manufactured from one substrate.

また、図4に実施の形態1とは異なる貼り合わせ装置の例を示す。   FIG. 4 shows an example of a bonding apparatus different from that of Embodiment 1.

図4中、41は第1基板支持台、42は第2基板支持台、43はフッ素系樹脂膜、44は台、48は下側定盤、49は光源である。なお、図4において、図3と対応する部分は同一の符号を用いている。   4, reference numeral 41 denotes a first substrate support, 42 denotes a second substrate support, 43 denotes a fluororesin film, 44 denotes a base, 48 denotes a lower surface plate, and 49 denotes a light source. In FIG. 4, the same reference numerals are used for the portions corresponding to FIG.

下側定盤48は透光性を有する材料で構成されており、光源49からの紫外光などを通過させて第1シール材32や第2シール材33を硬化させる。また、効率よく光を照射できるように第1基板支持台の表面を鏡面として下側定盤48を透過した光を反射させて再度シール材に照射する構成としてもよい。また、封止基板となる第2の基板31は予め、所望のサイズに切断しておき、台44上に並べる。なお、台44として、ここではフッ素系樹脂膜43がコーティングされたガラス基板を用いる。貼り合わせ時には、第1基板支持台と第2基板支持台とを下降させた後、圧力をかけて第1基板35と第2基板31を貼り合わせ、図4(B)に示すようにそのまま紫外光を照射することによって硬化させる。   The lower platen 48 is made of a light-transmitting material, and cures the first seal material 32 and the second seal material 33 by passing ultraviolet light from a light source 49 or the like. Further, in order to efficiently irradiate the light, the surface of the first substrate support base may be a mirror surface, and the light transmitted through the lower surface plate 48 may be reflected to irradiate the sealing material again. In addition, the second substrate 31 serving as a sealing substrate is cut into a desired size in advance and arranged on the table 44. Note that a glass substrate coated with a fluorine-based resin film 43 is used here as the base 44. At the time of bonding, after lowering the first substrate support and the second substrate support, pressure is applied to bond the first substrate 35 and the second substrate 31 together, and as shown in FIG. It is cured by irradiating light.

図4に示す貼り合わせ装置においても、第2シール材33が第2基板の端面、または裏面にまで広がって硬化してもフッ素系樹脂膜43がコーティングされているため、台44とは接着しない。   Also in the bonding apparatus shown in FIG. 4, even if the second sealing material 33 spreads to the end face or the back face of the second substrate and is cured, the second sealing material 33 is coated with the fluorine-based resin film 43 and does not adhere to the base 44. .

また、図15に図4とは異なる貼り合わせ装置の例を示す。   FIG. 15 shows an example of a bonding apparatus different from FIG.

図15中、41は第1基板支持台、42は第2基板支持台、44は台、48は下側定盤、49は光源、60、61は両面テープである。図15において、図4と同一の部分には同一の符号を用いている。なお、図15において、図3と対応する部分は同一の符号を用いている。   15, 41 is a first substrate support, 42 is a second substrate support, 44 is a base, 48 is a lower surface plate, 49 is a light source, and 60 and 61 are double-sided tapes. 15, the same parts as those in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals. Note that, in FIG. 15, the same reference numerals are used for portions corresponding to FIG.

図15において、第1の基板35は両面テープ60で第1基板支持台41と固定し、第2の基板31は、両面テープ61で台44とそれぞれ固定している。両面テープ60,61は、紫外光などの光の照射によって接着力が低下するものを用いてもよいし、加熱によって接着力が低下するものを用いてもよい。 In FIG. 15, the first substrate 35 is fixed to the first substrate support table 41 with a double-sided tape 60, and the second substrate 31 is fixed to the table 44 with a double-sided tape 61. As the double-sided tapes 60 and 61, those whose adhesive strength is reduced by irradiation with light such as ultraviolet light or those whose adhesive strength is reduced by heating may be used.

貼り合わせ時には、第1基板支持台と第2基板支持台とを下降させた後、圧力をかけて第1基板35と第2基板31を貼り合わせ、図15(B)に示すようにそのまま紫外光を照射することによってシール材を硬化させる。紫外光を照射してシール材を硬化させる時、紫外光の照射によって接着力が低下する両面テープを用いていれば同時に接着力を低下することができ、貼りあわせ工程が終了した後、支持台から簡単にパネルを取り外すことができ、さらにパネルから両面テープを剥がすことができる。   At the time of bonding, after lowering the first substrate support and the second substrate support, pressure is applied to bond the first substrate 35 and the second substrate 31 together, and as shown in FIG. The sealing material is cured by irradiating light. When irradiating ultraviolet light to cure the sealing material, the adhesive force can be reduced at the same time if a double-sided tape whose adhesive force is reduced by irradiating ultraviolet light can be used. The panel can be easily removed from, and the double-sided tape can be peeled off from the panel.

また、本実施の形態は、実施の形態1と自由に組み合わせることができる。   This embodiment can be freely combined with Embodiment 1.

以上の構成でなる本発明について、以下に示す実施例でもってさらに詳細な説明を行うこととする。   The present invention having the above configuration will be described in more detail with reference to the following embodiments.

本実施例では、転写技術を用いてガラス基板上に形成した被剥離層をプラスチック基板に貼り合わせる例を図5に示す。     In this embodiment, FIG. 5 shows an example in which a layer to be separated formed over a glass substrate by using a transfer technique is attached to a plastic substrate.

ここでは、金属膜と酸化珪素膜を用いた剥離方法を用いる。 Here, a separation method using a metal film and a silicon oxide film is used.

まず、ガラス基板(第1の基板300)上に素子を形成する。本実施例ではガラス基板としてAN100を用いる。このガラス基板上にスパッタ法で金属膜301a、ここではタングステン膜(膜厚10nm〜200nm、好ましくは50nm〜75nm)を形成し、さらに大気にふれることなく、酸化物膜302、ここでは酸化シリコン膜(膜厚150nm〜200nm)を積層形成する。酸化物膜302の膜厚は、金属膜の膜厚の2倍以上とすることが望ましい。なお、積層形成の際、金属膜301aと酸化シリコン膜302との間にアモルファス状態の酸化金属膜(酸化タングステン膜)が2nm〜5nm程度形成される。後の工程で剥離する際、酸化タングステン膜中、または酸化タングステン膜と酸化シリコン膜との界面、または酸化タングステン膜とタングステン膜との界面で分離が生じる。   First, an element is formed over a glass substrate (first substrate 300). In this embodiment, AN100 is used as a glass substrate. A metal film 301a, here a tungsten film (thickness: 10 nm to 200 nm, preferably 50 nm to 75 nm) is formed on this glass substrate by a sputtering method, and further, without being exposed to the air, an oxide film 302, here, a silicon oxide film (Thickness: 150 nm to 200 nm). It is preferable that the thickness of the oxide film 302 be twice or more the thickness of the metal film. Note that during the formation of the stack, an amorphous metal oxide film (tungsten oxide film) is formed between the metal film 301a and the silicon oxide film 302 to a thickness of about 2 nm to 5 nm. When separation is performed in a later step, separation occurs in the tungsten oxide film, at the interface between the tungsten oxide film and the silicon oxide film, or at the interface between the tungsten oxide film and the tungsten film.

また、タングステン(W)に代えて、モリブデン(Mo)、WN、TiN、TiWから選ばれた元素、または前記元素を主成分とする合金材料若しくは化合物材料からなる単層、またはこれらの積層を用いてもよい。   Instead of tungsten (W), a single layer made of an element selected from molybdenum (Mo), WN, TiN, and TiW, an alloy material or a compound material containing the element as a main component, or a stacked layer thereof is used. You may.

なお、スパッタ法では基板端面に成膜されるため、基板端面に成膜されたタングステン膜と酸化タングステン膜と酸化シリコン膜とをO2アッシングなどで選択的に除去することが好ましい。 Note that since a film is formed on the end face of the substrate by the sputtering method, it is preferable to selectively remove the tungsten film, the tungsten oxide film, and the silicon oxide film formed on the end face of the substrate by O 2 ashing or the like.

次いで、PCVD法で下地絶縁膜となる酸化窒化シリコン膜(膜厚100nm)を形成し、さらに大気にふれることなく、水素を含むアモルファスシリコン膜(膜厚54nm)を積層形成する。なお、酸化窒化シリコン膜は、ガラス基板からのアルカリ金属などの不純物拡散を防止するブロッキング層である。 Next, a silicon oxynitride film (thickness: 100 nm) serving as a base insulating film is formed by a PCVD method, and an amorphous silicon film containing hydrogen (thickness: 54 nm) is stacked without being exposed to the air. Note that the silicon oxynitride film is a blocking layer for preventing diffusion of impurities such as alkali metals from a glass substrate.

また、FT−IRを用いて上記水素を含むアモルファスシリコン膜の水素濃度を測定したところ、Si−Hは、1.06×1022(atoms/cm3)、Si−H2は8.34×1019(atoms/cm3)であり、組成比における水素濃度を算出すると21.5%であった。また、PCVD法の成膜条件を変えて同様に水素濃度を算出したところ、組成比における水素濃度は16.4%、17.1%、19.0%が得られた。 When the hydrogen concentration of the above-mentioned amorphous silicon film containing hydrogen was measured by FT-IR, Si-H was 1.06 × 10 22 (atoms / cm 3 ), and Si-H 2 was 8.34 × 10 19 (atoms / cm 3 ), and the hydrogen concentration in the composition ratio was calculated to be 21.5%. Further, when the hydrogen concentration was similarly calculated by changing the film forming conditions of the PCVD method, the hydrogen concentrations in the composition ratio were 16.4%, 17.1%, and 19.0%.

次いで、上記アモルファスシリコン膜を公知の技術(固相成長法、レーザー結晶化方法、触媒金属を用いた結晶化方法など)により結晶化させて、ポリシリコン膜を活性層とするTFTを用いる素子を形成する。本実施例では、触媒金属を用いた結晶化方法を用いてポリシリコン膜を得る。重量換算で10ppmのニッケルを含む酢酸ニッケル塩溶液をスピナーで塗布する。なお、塗布に代えてスパッタ法でニッケル元素を全面に散布する方法を用いてもよい。次いで、加熱処理を行い結晶化させて結晶構造を有する半導体膜(ここではポリシリコン層)を形成する。本実施例では熱処理(500℃、1時間)の後、結晶化のための熱処理(550℃、4時間)を行って結晶構造を有するシリコン膜を得る。   Next, the amorphous silicon film is crystallized by a known technique (solid phase growth method, laser crystallization method, crystallization method using a catalyst metal, etc.), and an element using a TFT having a polysilicon film as an active layer is formed. Form. In this embodiment, a polysilicon film is obtained by using a crystallization method using a catalyst metal. A nickel acetate salt solution containing 10 ppm by weight of nickel is applied by a spinner. Instead of coating, a method of spraying a nickel element over the entire surface by a sputtering method may be used. Next, a semiconductor film (here, a polysilicon layer) having a crystal structure is formed by heat treatment and crystallization. In this embodiment, after a heat treatment (500 ° C., 1 hour), a heat treatment for crystallization (550 ° C., 4 hours) is performed to obtain a silicon film having a crystal structure.

アモルファスシリコン膜は水素を含んでおり、加熱してポリシリコン膜を形成する場合、結晶化させるため410℃以上の熱処理を行えば、ポリシリコン膜を形成すると同時に水素の拡散を行うことができる。また、400℃以上の熱処理を行うことで、アモルファス状態の酸化金属膜が結晶化し、結晶構造を有する酸化金属膜301bが得られる。図6に断面TEM写真を示す。従って、410℃以上の加熱処理を行うことによって結晶構造を有する酸化金属膜が形成され、水素の拡散が行われる。この410℃以上の熱処理が終了した段階で、比較的小さな力(例えば、人間の手、ノズルから吹付けられるガスの風圧、超音波等)を加えることによって、酸化タングステン膜中、または酸化タングステン膜と酸化シリコン膜との界面、または酸化タングステン膜とタングステン膜との界面で分離を生じさせることができる。なお、結晶構造を有する酸化金属膜が得られる温度の熱処理を行うと酸化金属膜の膜厚は若干薄くなる。 The amorphous silicon film contains hydrogen, and when a polysilicon film is formed by heating, if a heat treatment of 410 ° C. or more is performed for crystallization, hydrogen can be diffused simultaneously with the formation of the polysilicon film. Further, by performing the heat treatment at 400 ° C. or higher, the amorphous metal oxide film is crystallized, and the metal oxide film 301b having a crystal structure is obtained. FIG. 6 shows a cross-sectional TEM photograph. Therefore, a metal oxide film having a crystal structure is formed by performing heat treatment at 410 ° C. or higher, and hydrogen is diffused. At the stage where the heat treatment at 410 ° C. or higher is completed, a relatively small force (for example, a human hand, wind pressure of a gas blown from a nozzle, ultrasonic waves, or the like) is applied to the inside of the tungsten oxide film or the tungsten oxide film. Separation can occur at the interface between the silicon oxide film and the tungsten oxide film or at the interface between the tungsten oxide film and the tungsten film. Note that when heat treatment is performed at a temperature at which a metal oxide film having a crystal structure is obtained, the thickness of the metal oxide film is slightly reduced.

また、得られたポリシリコン膜を用いて、TFTを代表とする様々な素子(薄膜ダイオード、シリコンのPIN接合からなる光電変換素子やシリコン抵抗素子やセンサ素子(代表的にはポリシリコンを用いた感圧式指紋センサー)を形成することができる。また、結晶化させずに410℃以上の熱処理を行った場合には、アモルファスシリコン膜を活性層とするTFTを用いる素子にも適用することができる。   In addition, using the obtained polysilicon film, various elements typified by TFTs (thin film diodes, photoelectric conversion elements formed of a PIN junction of silicon, silicon resistance elements, and sensor elements (typically, polysilicon When a heat treatment at 410 ° C. or higher is performed without crystallization, the invention can be applied to a device using a TFT having an amorphous silicon film as an active layer. .

次いで、結晶構造を有するシリコン膜表面の酸化膜を希フッ酸等で除去した後、結晶化率を高め、結晶粒内に残される欠陥を補修するためのレーザー光(XeCl:波長308nm)の照射を大気中、または酸素雰囲気中で行う。レーザー光には波長400nm以下のエキシマレーザ光や、YAGレーザの第2高調波、第3高調波を用いる。ここでは、繰り返し周波数10〜1000Hz程度のパルスレーザー光を用い、当該レーザー光を光学系にて100〜500mJ/cm2に集光し、90〜95%のオーバーラップ率をもって照射し、シリコン膜表面を走査させればよい。ここでは、繰り返し周波数30Hz、エネルギー密度470mJ/cm2でレーザー光の照射を大気中で行なった。なお、大気中、または酸素雰囲気中で行うため、レーザー光の照射により表面に酸化膜が形成される。なお、ここではパルスレーザーを用いた例を示したが、連続発振のレーザーを用いてもよく、非晶質半導体膜の結晶化に際し、大粒径に結晶を得るためには、連続発振が可能な固体レーザを用い、基本波の第2高調波〜第4高調波を適用するのが好ましい。代表的には、Nd:YVO4レーザー(基本波1064nm)の第2高調波(532nm)や第3高調波(355nm)を適用すればよい。連続発振のレーザーを用いる場合には、出力10Wの連続発振のYVO4レーザから射出されたレーザ光を非線形光学素子により高調波に変換する。また、共振器の中にYVO4結晶と非線形光学素子を入れて、高調波を射出する方法もある。そして、好ましくは光学系により照射面にて矩形状または楕円形状のレーザ光に成形して、被処理体に照射する。このときのエネルギー密度は0.01〜100MW/cm2程度(好ましくは0.1〜10MW/cm2)が必要である。そして、10〜2000cm/s程度の速度でレーザ光に対して相対的に半導体膜を移動させて照射すればよい。 Next, after removing the oxide film on the surface of the silicon film having a crystal structure with diluted hydrofluoric acid or the like, irradiation with laser light (XeCl: wavelength 308 nm) for increasing the crystallization rate and repairing defects remaining in the crystal grains is performed. Is performed in the air or an oxygen atmosphere. Excimer laser light having a wavelength of 400 nm or less, or the second and third harmonics of a YAG laser is used as the laser light. Here, a pulse laser beam having a repetition frequency of about 10 to 1000 Hz is used, the laser beam is condensed to 100 to 500 mJ / cm 2 by an optical system, and irradiated with an overlap ratio of 90 to 95%, and the silicon film surface May be scanned. Here, laser light irradiation was performed in the atmosphere at a repetition frequency of 30 Hz and an energy density of 470 mJ / cm 2 . Note that an oxide film is formed on the surface by laser light irradiation because the irradiation is performed in the air or in an oxygen atmosphere. Although an example using a pulsed laser is shown here, a continuous wave laser may be used. In order to obtain a crystal with a large grain size during crystallization of an amorphous semiconductor film, continuous oscillation is possible. It is preferable to use a simple solid-state laser and apply the second to fourth harmonics of the fundamental wave. Typically, Nd: YVO 4 may be applied laser (fundamental wave 1064 nm) second harmonic (532 nm) or the third harmonic (355 nm). When a continuous wave laser is used, laser light emitted from a continuous wave YVO 4 laser having an output of 10 W is converted into a harmonic by a nonlinear optical element. There is also a method in which a YVO 4 crystal and a nonlinear optical element are put in a resonator to emit a harmonic. Then, the laser light is preferably shaped into a rectangular or elliptical laser beam on the irradiation surface by an optical system, and the laser beam is irradiated on the object to be processed. At this time, the energy density of approximately 0.01 to 100 MW / cm 2 (preferably 0.1 to 10 MW / cm 2) is required. Then, irradiation may be performed by moving the semiconductor film relatively to the laser light at a speed of about 10 to 2000 cm / s.

次いで、上記レーザー光の照射により形成された酸化膜に加え、オゾン水で表面を120秒処理して合計1〜5nmの酸化膜からなるバリア層を形成する。このバリア層は、結晶化させるために添加したニッケルを膜中から除去するために形成する。本実施例ではオゾン水を用いてバリア層を形成したが、酸素雰囲気下の紫外線の照射で結晶構造を有する半導体膜の表面を酸化する方法や酸素プラズマ処理により結晶構造を有する半導体膜の表面を酸化する方法やプラズマCVD法やスパッタ法や蒸着法などで1〜10nm程度の酸化膜を堆積してバリア層を形成してもよい。また、バリア層を形成する前にレーザー光の照射により形成された酸化膜を除去してもよい。 Next, in addition to the oxide film formed by the irradiation with the laser light, the surface is treated with ozone water for 120 seconds to form a barrier layer made of an oxide film having a total thickness of 1 to 5 nm. This barrier layer is formed to remove nickel added for crystallization from the film. In this embodiment, the barrier layer is formed using ozone water. However, the surface of the semiconductor film having a crystal structure is oxidized by irradiation with ultraviolet light in an oxygen atmosphere or the surface of the semiconductor film having a crystal structure is formed by oxygen plasma treatment. The barrier layer may be formed by depositing an oxide film of about 1 to 10 nm by an oxidation method, a plasma CVD method, a sputtering method, an evaporation method, or the like. Further, before forming the barrier layer, an oxide film formed by laser light irradiation may be removed.

次いで、バリア層上にスパッタ法にてゲッタリングサイトとなるアルゴン元素を含む非晶質シリコン膜を10nm〜400nm、ここでは膜厚100nmで成膜する。本実施例では、アルゴン元素を含む非晶質シリコン膜は、シリコンターゲットを用いてアルゴンを含む雰囲気下で形成する。プラズマCVD法を用いてアルゴン元素を含む非晶質シリコン膜を形成する場合、成膜条件は、モノシランとアルゴンの流量比(SiH4:Ar)を1:99とし、成膜圧力を6.665Pa(0.05Torr)とし、RFパワー密度を0.087W/cm2とし、成膜温度を350℃とする。 Next, an amorphous silicon film containing an argon element to be a gettering site is formed to a thickness of 10 nm to 400 nm, here 100 nm, over the barrier layer by a sputtering method. In this embodiment, the amorphous silicon film containing an argon element is formed in an atmosphere containing argon using a silicon target. When an amorphous silicon film containing an argon element is formed by a plasma CVD method, the film forming conditions are as follows: the flow rate ratio of monosilane and argon (SiH 4 : Ar) is 1:99, and the film forming pressure is 6.665 Pa. (0.05 Torr), the RF power density is 0.087 W / cm 2 , and the film formation temperature is 350 ° C.

その後、650℃に加熱された炉に入れて3分の熱処理を行いゲッタリングして、結晶構造を有する半導体膜中のニッケル濃度を低減する。炉に代えてランプアニール装置を用いてもよい。 After that, heat treatment is performed in a furnace heated to 650 ° C. for 3 minutes to perform gettering to reduce the nickel concentration in the semiconductor film having a crystal structure. A lamp annealing device may be used instead of the furnace.

次いで、バリア層をエッチングストッパーとして、ゲッタリングサイトであるアルゴン元素を含む非晶質シリコン膜を選択的に除去した後、バリア層を希フッ酸で選択的に除去する。なお、ゲッタリングの際、ニッケルは酸素濃度の高い領域に移動しやすい傾向があるため、酸化膜からなるバリア層をゲッタリング後に除去することが望ましい。 Next, after the amorphous silicon film containing an argon element, which is a gettering site, is selectively removed using the barrier layer as an etching stopper, the barrier layer is selectively removed with dilute hydrofluoric acid. Note that at the time of gettering, since nickel tends to move to a region having a high oxygen concentration, it is desirable to remove the barrier layer made of an oxide film after gettering.

なお、触媒元素を用いて結晶化を行わない場合には、上述したバリア層の形成、ゲッタリングサイトの形成、ゲッタリングのための熱処理、ゲッタリングサイトの除去、バリア層の除去などの工程は不要である。   In the case where crystallization is not performed using a catalytic element, the steps of forming the barrier layer, forming the gettering site, heat treatment for gettering, removing the gettering site, and removing the barrier layer are not described above. Not required.

次いで、得られた結晶構造を有するシリコン膜(ポリシリコン膜とも呼ばれる)の表面にオゾン水で薄い酸化膜を形成した後、レジストからなるマスクを形成し、所望の形状にエッチング処理して島状に分離された半導体層を形成する。半導体層を形成した後、レジストからなるマスクを除去する。   Next, after forming a thin oxide film with ozone water on the surface of the obtained silicon film having a crystal structure (also called a polysilicon film), a mask made of a resist is formed, and an etching process is performed into a desired shape to form an island shape. To form a separated semiconductor layer. After the formation of the semiconductor layer, the resist mask is removed.

次いで、フッ酸を含むエッチャントで酸化膜を除去すると同時にシリコン膜の表面を洗浄した後、ゲート絶縁膜となる珪素を主成分とする絶縁膜を形成する。本実施例では、プラズマCVD法により115nmの厚さで酸化窒化シリコン膜(組成比Si=32%、O=59%、N=7%、H=2%)で形成する。   Next, after removing the oxide film with an etchant containing hydrofluoric acid and cleaning the surface of the silicon film at the same time, an insulating film containing silicon as a main component and serving as a gate insulating film is formed. In this embodiment, a silicon oxynitride film (composition ratio: Si = 32%, O = 59%, N = 7%, H = 2%) is formed with a thickness of 115 nm by a plasma CVD method.

次いで、ゲート絶縁膜上にゲート電極を形成し、活性層へのドーピングによるソース領域またはドレイン領域の形成、層間絶縁膜の形成、ソース電極またはドレイン電極の形成、活性化処理などを適宜行ってポリシリコン膜を活性層とするトップゲート型TFT303を作製する。なお、図5では画素部における電流制御用TFTのみを図示したが、スイッチング用TFTや、画素部を駆動する駆動回路も同一基板上に形成する。   Next, a gate electrode is formed over the gate insulating film, and a source region or a drain region is formed by doping an active layer, an interlayer insulating film is formed, a source electrode or a drain electrode is formed, an activation process, and the like are performed as appropriate. A top gate type TFT 303 using a silicon film as an active layer is manufactured. Although FIG. 5 shows only the current control TFT in the pixel portion, a switching TFT and a driving circuit for driving the pixel portion are also formed on the same substrate.

次いで、一対の電極(陽極、陰極)間に有機化合物を含む膜(以下、「有機化合物層」と記す)を設け、一対の電極間に電界を加えることで、蛍光又は燐光が得られる発光素子を形成するための第1の電極を形成する。まず、陽極または陰極となる第1の電極304を形成する。ここでは第1の電極304として仕事関数の大きい金属膜(Cr、Pt、Wなど)、または透明導電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In23―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)を用い、陽極として機能させる例を示す。 Next, a film containing an organic compound (hereinafter, referred to as an “organic compound layer”) is provided between a pair of electrodes (anode and cathode), and an electric field is applied between the pair of electrodes, so that a light-emitting element capable of obtaining fluorescence or phosphorescence is obtained. Is formed to form a first electrode. First, a first electrode 304 serving as an anode or a cathode is formed. Here, as the first electrode 304, a metal film having a large work function (Cr, Pt, W, or the like) or a transparent conductive film (ITO (indium tin oxide alloy), indium zinc oxide alloy (In 2 O 3 —ZnO)) , Zinc oxide (ZnO), etc., and functioning as an anode.

なお、TFTのソース電極またはドレイン電極をそのまま第1電極とする場合、またはソース領域またはドレイン領域に接して第1電極を別途形成する場合には、TFTとは第1電極を含める。 Note that in the case where the source electrode or the drain electrode of the TFT is used as the first electrode as it is, or when the first electrode is separately formed in contact with the source or drain region, the TFT includes the first electrode.

次いで、第1電極(陽極)の両端には、第1電極の周縁を囲むように隔壁(バンク、障壁、土手などと呼ばれる)305aを形成する。カバレッジを良好なものとするため、隔壁の上端部または下端部に曲率を有する曲面が形成されるようにする。例えば、隔壁の材料としてポジ型の感光性アクリルを用いた場合、隔壁の上端部のみに曲率半径(0.2μm〜3μm)を有する曲面を持たせることが好ましい。また、隔壁305aとして、感光性の光によってエッチャントに不溶解性となるネガ型、或いは光によってエッチャントに溶解性となるポジ型のいずれも使用することができる。 Next, partition walls (called banks, barriers, banks, etc.) 305a are formed at both ends of the first electrode (anode) so as to surround the periphery of the first electrode. In order to improve coverage, a curved surface having a curvature is formed at the upper end or the lower end of the partition. For example, when a positive photosensitive acrylic is used as the material of the partition, it is preferable that only the upper end portion of the partition has a curved surface having a radius of curvature (0.2 μm to 3 μm). As the partition 305a, either a negative type which becomes insoluble in an etchant by photosensitive light or a positive type which becomes soluble in an etchant by light can be used.

また、複数の有機樹脂を積層する場合、有機樹脂同士では使用している溶媒によって塗布または焼成時に一部溶解したり、密着性が高くなりすぎる恐れがある。従って、隔壁の材料として有機樹脂を用いた場合、後の工程で水溶性樹脂を塗布した後に除去しやすくなるように隔壁305aを無機絶縁膜(SiNX膜、SiNXY膜、AlNX膜、またはAlNXY膜)で覆うことが好ましい。この無機絶縁膜は、隔壁の一部305bとして機能する。(図5(A)) In the case where a plurality of organic resins are laminated, there is a possibility that the organic resins may partially dissolve during application or firing depending on the solvent used, or the adhesion may become too high. Therefore, when an organic resin is used as the material of the partition, the partition 305a is formed of an inorganic insulating film (SiN x film, SiN x O y film, AlN x film) so as to be easily removed after applying a water-soluble resin in a later step. Or an AlN X O Y film). This inorganic insulating film functions as a part 305b of the partition. (FIG. 5 (A))

次いで、水またはアルコール類に可溶な接着材を全面に塗布、焼成する。この接着材の組成としては、例えば、エポキシ系、アクリレート系、シリコーン系等いかなるものでもよい。ここではスピンコートで水溶性樹脂(東亜合成製:VL−WSHL10)からなる膜(膜厚30μm)306を塗布し、仮硬化させるために2分間の露光を行ったあと、UV光を裏面から2.5分、表面から10分、合計12.5分の露光を行って本硬化させる。(図5(B))この水溶性樹脂膜は平坦化膜として機能し、後の基板貼り合わせの際、平坦化膜表面と基板面がほぼ平行になるように接着させることができる。この水溶性樹脂膜を用いない場合、圧着した時に電極やTFTによる凸凹が生じる恐れがある。   Next, an adhesive soluble in water or alcohols is applied to the entire surface and fired. The composition of the adhesive may be, for example, any of epoxy, acrylate, and silicone. Here, a film (thickness: 30 μm) 306 made of a water-soluble resin (manufactured by Toagosei Co., Ltd .: VL-WSHL10) is applied by spin coating, and is exposed for 2 minutes for temporary curing, and then UV light is applied from the back side for 2 minutes. Exposure is performed for 5 minutes and for 10 minutes from the surface, for a total of 12.5 minutes, to perform full curing. (FIG. 5B) This water-soluble resin film functions as a flattening film, and can be adhered so that the surface of the flattening film and the substrate surface are substantially parallel at the time of subsequent substrate bonding. When this water-soluble resin film is not used, there is a possibility that unevenness due to electrodes and TFTs may occur when pressure-bonded.

次いで、後の剥離を行いやすくするために、金属膜301aと金属酸化膜301bとの密着性、或いは金属酸化膜301bと酸化物膜302との密着性を部分的に低下させる処理を行う。密着性を部分的に低下させる処理は、剥離しようとする領域の周縁に沿って金属酸化膜301bにレーザー光を部分的に照射する処理、或いは、剥離しようとする領域の周縁に沿って外部から局所的に圧力を加えて金属酸化膜301bの層内または界面の一部分に損傷を与える処理である。具体的にはダイヤモンドペンなどで硬い針を垂直に押しつけて荷重をかけて動かせばよい。好ましくは、スクライバー装置を用い、押し込み量を0.1mm〜2mmとし、圧力をかけて動かせばよい。このように、剥離を行う前に剥離現象が生じやすくなるような部分、即ち、きっかけをつくることが重要であり、密着性を選択的(部分的)に低下させる前処理を行うことで、剥離不良がなくなり、さらに歩留まりも向上する。   Next, in order to facilitate subsequent peeling, treatment for partially reducing the adhesion between the metal film 301a and the metal oxide film 301b or the adhesion between the metal oxide film 301b and the oxide film 302 is performed. The treatment for partially reducing the adhesion may be performed by partially irradiating the metal oxide film 301b with a laser beam along the periphery of the region to be separated, or from the outside along the periphery of the region to be separated. This is a process of applying pressure locally to damage the inside of the metal oxide film 301b or a part of the interface. Specifically, a hard needle may be pressed vertically with a diamond pen or the like and moved with a load. Preferably, a scriber device is used, the pressing amount is set to 0.1 mm to 2 mm, and the pressing may be performed by applying pressure. As described above, it is important to create a portion where the peeling phenomenon is likely to occur before performing the peeling, that is, to create a trigger, and by performing a pretreatment for selectively (partially) reducing the adhesion, the peeling is performed. Defects are eliminated, and the yield is further improved.

次いで、両面テープ307を用い、水溶性樹脂からなる膜306に第2の基板308を貼り付ける。さらに、両面テープ309を用い、第1の基板300に第3の基板310を貼り付ける。(図5(C))第3の基板310は、後の剥離工程で第1の基板300が破損することを防ぐ。第2の基板308および第3の基板310としては、第1の基板300よりも剛性の高い基板、例えば石英基板、半導体基板を用いることが好ましい。なお、両面テープではなく、接着材を用いてもよく、例えば紫外線照射によって剥離する接着材を用いればよい。   Next, the second substrate 308 is attached to the film 306 made of a water-soluble resin using a double-sided tape 307. Further, a third substrate 310 is attached to the first substrate 300 using a double-sided tape 309. (FIG. 5C) The third substrate 310 prevents the first substrate 300 from being damaged in a later peeling step. As the second substrate 308 and the third substrate 310, a substrate having higher rigidity than the first substrate 300, for example, a quartz substrate or a semiconductor substrate is preferably used. Note that an adhesive may be used instead of the double-sided tape, for example, an adhesive that is peeled off by irradiation with ultraviolet light may be used.

次いで、上記密着性を部分的に低下させた領域側から剥離させ、金属膜301aが設けられている第1の基板300を物理的手段により引き剥がす。比較的小さな力(例えば、人間の手、ノズルから吹付けられるガスの風圧、超音波等)で引き剥がすことができる。こうして、酸化シリコン層302上に形成された被剥離層を第1の基板300から分離することができる。剥離後の状態を図5(D)に示す。なお、剥離後の第1の基板300の断面TEM写真を図7に示す。なお、図7は、図6とは異なる箇所のTEM写真であり対応していない。図7に示すように部分的に酸化タングステン膜が薄い部分や、完全にない部分がある。被剥離層に酸化タングステン膜が部分的に残るが透明であるため、除去しなくてもよいし、除去してもよい。本実施例では除去する。   Next, the first substrate 300 provided with the metal film 301a is peeled off by physical means from the region where the adhesion is partially reduced. It can be peeled off with a relatively small force (for example, human hand, wind pressure of gas blown from a nozzle, ultrasonic waves, etc.). Thus, the layer to be separated formed over the silicon oxide layer 302 can be separated from the first substrate 300. FIG. 5D shows the state after peeling. Note that FIG. 7 shows a cross-sectional TEM photograph of the first substrate 300 after peeling. Note that FIG. 7 is a TEM photograph of a portion different from FIG. 6 and does not correspond. As shown in FIG. 7, there are a portion where the tungsten oxide film is partially thin and a portion where the tungsten oxide film is not completely present. Although the tungsten oxide film partially remains in the layer to be peeled, it is not necessary to remove the tungsten oxide film because it is transparent. In this embodiment, it is removed.

また、上述した剥離方法を用いれば、ガラス基板上でなければ得られないような電気特性(代表的には電界効果移動度)の高いTFTをそのままプラスチック基板上に転写することができる。   In addition, by using the above-described peeling method, a TFT having high electric characteristics (typically, field-effect mobility) which cannot be obtained unless a glass substrate is used can be directly transferred to a plastic substrate.

次いで、接着材311で第4の基板312と酸化物層302(及び被剥離層)とを接着する。(図5(E))接着材311は、両面テープ307による第2の基板308と被剥離層との密着性よりも酸化物層302(及び被剥離層)と第4の基板との密着性のほうが高いことが重要である。   Next, the fourth substrate 312 and the oxide layer 302 (and the layer to be separated) are bonded with the adhesive 311. (FIG. 5E) The adhesive 311 is more adhesive between the oxide layer 302 (and the layer to be peeled) and the fourth substrate than the adhesive between the second substrate 308 and the layer to be peeled by the double-sided tape 307. It is important that they are higher.

第4の基板312としては、プラスチック基板(極性基のついたノルボルネン樹脂からなるARTON:JSR製)を用いる。また、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリカーボネート(PC)、ナイロン、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリスルホン(PSF)、ポリエーテルイミド(PEI)、ポリアリレート(PAR)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリイミドなどのプラスチック基板を用いることができる。   As the fourth substrate 312, a plastic substrate (ARTON made of norbornene resin having a polar group: manufactured by JSR) is used. In addition, polyethylene terephthalate (PET), polyether sulfone (PES), polyethylene naphthalate (PEN), polycarbonate (PC), nylon, polyether ether ketone (PEEK), polysulfone (PSF), polyetherimide (PEI), polyether A plastic substrate such as arylate (PAR), polybutylene terephthalate (PBT), or polyimide can be used.

接着材311としては、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤等の光硬化型接着剤、嫌気型接着剤などの各種硬化型接着剤が挙げられる。 Examples of the adhesive 311 include various curable adhesives such as a reactive curable adhesive, a thermosetting adhesive, a photocurable adhesive such as an ultraviolet curable adhesive, and an anaerobic adhesive.

次いで、両面テープ307から第2の基板308を分離させる。(図5(F))   Next, the second substrate 308 is separated from the double-sided tape 307. (FIG. 5 (F))

次いで、両面テープ307を剥がす。(図5(G))   Next, the double-sided tape 307 is peeled off. (Fig. 5 (G))

次いで、水を用いて水溶性樹脂306を溶かして除去する。(図5(H))ここで水溶性樹脂が残っていると不良の原因となるため、第1の電極304の表面を洗浄処理やO2プラズマ処理で清浄な表面とすることが好ましい。 Next, the water-soluble resin 306 is dissolved and removed using water. (FIG. 5 (H)) Here, the remaining water-soluble resin causes a defect. Therefore, it is preferable that the surface of the first electrode 304 be cleaned by a cleaning treatment or an O 2 plasma treatment.

次いで、必要であれば、多孔質なスポンジ(代表的にはPVA(ポリビニルアルコール)製、ナイロン製)に界面活性剤(弱アルカリ性)を含ませ、第1の電極304表面を擦って洗浄する。   Next, if necessary, a surface active agent (weakly alkaline) is added to a porous sponge (typically made of PVA (polyvinyl alcohol) or nylon), and the surface of the first electrode 304 is rubbed and washed.

次いで、有機化合物を含む層313を形成する直前に、TFT及び隔壁が設けられた基板全体の吸着水分を除去するための真空加熱を行う。さらに有機化合物を含む層を形成する直前に、第1電極に対して紫外線照射を行ってもよい。   Next, immediately before forming the layer 313 containing an organic compound, vacuum heating is performed to remove adsorbed moisture on the entire substrate provided with the TFT and the partition. Immediately before forming the layer containing an organic compound, the first electrode may be irradiated with ultraviolet rays.

次いで、第1電極(陽極)上に、蒸着マスクを用いた蒸着法、またはインクジェット法によって有機化合物を含む層313を選択的に形成する。有機化合物を含む層313としては、高分子材料、低分子材料、無機材料、またはこれらを混合させた層、またはこれらを分散させた層、またはこれらの層を適宜組み合わせた積層とすればよい。   Next, a layer 313 containing an organic compound is selectively formed over the first electrode (anode) by an evaporation method using an evaporation mask or an inkjet method. As the layer 313 containing an organic compound, a high molecular material, a low molecular material, an inorganic material, a layer in which these are mixed, a layer in which these are dispersed, or a layer in which these layers are combined as appropriate may be used.

さらに、有機化合物を含む層上には第2電極(陰極)314を形成する。(図5(I))陰極314としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、またはCaN)の薄膜(発光を透過する膜厚)と透明導電膜との積層を用いればよい。また、必要であれば、第2電極を覆ってスパッタ法または蒸着法により形成する保護層を形成する。保護層としてはスパッタ法またはCVD法により得られる窒化珪素膜、酸化珪素膜、酸化窒化珪素膜(SiNO膜(組成比N>O)またはSiON膜(組成比N<O))、炭素を主成分とする薄膜(例えばDLC膜、CN膜)を用いることができる。 Further, a second electrode (cathode) 314 is formed over the layer containing the organic compound. (FIG. 5 (I)) As the cathode 314, a thin film (a film which transmits light emission) of a material having a small work function (Al, Ag, Li, Ca, or an alloy thereof MgAg, MgIn, AlLi, CaF 2 , or CaN) ) And a transparent conductive film. If necessary, a protective layer formed by a sputtering method or an evaporation method is formed to cover the second electrode. As a protective layer, a silicon nitride film, a silicon oxide film, a silicon oxynitride film (SiNO film (composition ratio N> O) or SiON film (composition ratio N <O)) obtained by a sputtering method or a CVD method, and carbon as a main component (For example, a DLC film and a CN film) can be used.

次いで、封止材となる第5の基板314に一対の基板間隔を保持するギャップ材が含まれたシール材(図示しない)を図1に示した第1のシール材のパターンに描画する。本実施例は発光素子の発光を第5の基板314に透過させる例であるので、第5の基板314としては透光性を有する基板であればよい。ここでは熱膨張係数を同じにして反りを防ぐため、第4の基板と同じプラスチック基板(ARTON:JSR製)を用いる。ARTON基板は複屈折しにくく、吸水性が低い基板であり、第5の基板として適している。プラスチック基板を用いる場合、第1のシール材のパターンに描画する前にプラスチック基板とシール材の密着性を上げる前処理(エタノール拭き、UV照射、O2プラズマ処理など)を行うことが好ましい。   Then, a sealing material (not shown) including a gap material for keeping a pair of substrates between the fifth substrate 314 serving as a sealing material is drawn in the pattern of the first sealing material shown in FIG. This embodiment is an example in which light emitted from a light-emitting element is transmitted to the fifth substrate 314; therefore, the fifth substrate 314 may be a light-transmitting substrate. Here, the same plastic substrate (ARTON: manufactured by JSR) as the fourth substrate is used in order to prevent the warpage with the same thermal expansion coefficient. The ARTON substrate has low birefringence and low water absorption, and is suitable as the fifth substrate. In the case where a plastic substrate is used, it is preferable to perform pretreatment (such as ethanol wiping, UV irradiation, or O2 plasma treatment) for increasing the adhesion between the plastic substrate and the sealant before drawing the first sealant pattern.

次いで、実施の形態1に従って粘性の低いシール材を数滴滴下し、図2または図4の貼り合わせ装置を用いて気泡を発生させることなく、封止基板とアクティブマトリクス基板とを貼り合わせる。図2または図4の貼り合わせ装置は、特に柔らかいプラスチック基板同士を貼り合わせる際に有用である。また、粘性の低いシール材を数滴滴下する方法も柔らかいプラスチック基板同士を貼り合わせる際に有用である。この貼り合わせ工程により、封止基板に設けられたシールパターンがアクティブマトリクス基板に設けられた発光領域を囲む位置になるように封止される。また、シール材に囲まれた空間には透明な有機樹脂からなる接着材315が充填されるように封止される。(図5(J)) Next, several drops of a low-viscosity sealing material are dropped according to Embodiment 1, and the sealing substrate and the active matrix substrate are bonded to each other using the bonding device in FIG. 2 or 4 without generating bubbles. The bonding apparatus shown in FIG. 2 or 4 is particularly useful when bonding soft plastic substrates to each other. A method of dropping a few drops of a low-viscosity sealant is also useful when bonding soft plastic substrates together. By this bonding step, sealing is performed such that the seal pattern provided on the sealing substrate is located at a position surrounding the light emitting region provided on the active matrix substrate. The space surrounded by the sealing material is sealed so as to be filled with an adhesive 315 made of a transparent organic resin. (Fig. 5 (J))

以上の工程でプラスチック基板312と、プラスチック基板314とを支持体とし、TFTと発光素子とを備えた発光装置を作製することができる。支持体をプラスチック基板としているため薄く、軽量、且つ、フレキシブルなものとすることができる。図8に指で曲げながら画面を表示させたアクティブマトリクス型の発光装置を示す。図8で示した発光装置は、本実施例の作製方法に従って得られたものである。   Through the above steps, a light-emitting device including a TFT and a light-emitting element using the plastic substrate 312 and the plastic substrate 314 as supports can be manufactured. Since the support is made of a plastic substrate, it can be made thin, lightweight, and flexible. FIG. 8 illustrates an active matrix light emitting device in which a screen is displayed while bending with a finger. The light-emitting device shown in FIG. 8 is obtained according to the manufacturing method of this embodiment.

ここで、下面出射構造の発光装置の一例を図9に示す。   Here, an example of a light emitting device having a bottom emission structure is shown in FIG.

なお、図9(A)は、発光装置を示す上面図、図9(B)は図9(A)をA−A’で切断した断面図である。点線で示された1201はソース信号線駆動回路、1202は画素部、1203はゲート信号線駆動回路である。また、1204はプラスチック基板(ARTON)、1205は一対の基板間隔を保持するためのギャップ材が含有されているシール材であり、シール材1205で囲まれた内側は、シール材1207で充填されている。 Note that FIG. 9A is a top view illustrating the light-emitting device, and FIG. 9B is a cross-sectional view of FIG. 9A taken along A-A ′. Reference numeral 1201 shown by a dotted line denotes a source signal line driving circuit, 1202 denotes a pixel portion, and 1203 denotes a gate signal line driving circuit. Reference numeral 1204 denotes a plastic substrate (ARTON); and 1205, a sealing material containing a gap material for maintaining a distance between a pair of substrates. The inside surrounded by the sealing material 1205 is filled with a sealing material 1207. I have.

なお、1208はソース信号線駆動回路1201及びゲート信号線駆動回路1203に入力される信号を伝送するための配線であり、外部入力端子となるFPC(フレキシブルプリントサーキット)1209からビデオ信号やクロック信号を受け取る。   Reference numeral 1208 denotes a wiring for transmitting a signal input to the source signal line driver circuit 1201 and the gate signal line driver circuit 1203, and a video signal or a clock signal from an FPC (flexible printed circuit) 1209 serving as an external input terminal. receive.

次に、断面構造について図9(B)を用いて説明する。透光性を有する基板1210上には接着材1240を介して駆動回路及び画素部が形成されているが、ここでは、駆動回路としてソース信号線駆動回路1201と画素部1202が示されている。なお、ソース信号線駆動回路1201はnチャネル型TFT1223とpチャネル型TFT1224とを組み合わせたCMOS回路が形成される。   Next, a cross-sectional structure is described with reference to FIG. A driver circuit and a pixel portion are formed over a light-transmitting substrate 1210 with an adhesive 1240 interposed therebetween. Here, a source signal line driver circuit 1201 and a pixel portion 1202 are illustrated as the driver circuits. Note that as the source signal line driver circuit 1201, a CMOS circuit in which an n-channel TFT 1223 and a p-channel TFT 1224 are combined is formed.

また、画素部1202はスイッチング用TFT1211と、電流制御用TFT1212とそのドレインに電気的に接続された透明な導電膜からなる第1の電極(陽極)1213を含む複数の画素により形成される。   The pixel portion 1202 is formed by a plurality of pixels including a switching TFT 1211, a current control TFT 1212, and a first electrode (anode) 1213 made of a transparent conductive film electrically connected to a drain of the TFT 1212.

ここでは第1の電極1213が接続電極と一部重なるように形成され、第1の電極1213はTFTのドレイン領域と接続電極を介して電気的に接続している構成となっている。第1の電極1213は透明性を有し、且つ、仕事関数の大きい導電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In23―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)を用いることが望ましい。 Here, the first electrode 1213 is formed so as to partially overlap with the connection electrode, and the first electrode 1213 is electrically connected to the drain region of the TFT via the connection electrode. The first electrode 1213 is a conductive film having transparency and a large work function (ITO (indium oxide-tin oxide alloy), indium oxide-zinc oxide alloy (In 2 O 3 —ZnO), zinc oxide (ZnO), or the like). ) Is preferably used.

また、第1の電極(陽極)1213の両端には絶縁物(バンク、隔壁、障壁、土手などと呼ばれる)1214が形成される。カバレッジを良好なものとするため、絶縁物1214の上端部または下端部に曲率を有する曲面が形成されるようにする。また、絶縁物1214を窒化アルミニウム膜、窒化酸化アルミニウム膜、炭素を主成分とする薄膜、または窒化珪素膜からなる保護膜で覆ってもよい。 In addition, an insulator (referred to as a bank, a partition, a barrier, a bank, etc.) 1214 is formed at both ends of the first electrode (anode) 1213. In order to improve coverage, a curved surface having a curvature is formed at an upper end or a lower end of the insulator 1214. Alternatively, the insulator 1214 may be covered with a protective film formed using an aluminum nitride film, an aluminum nitride oxide film, a thin film containing carbon as a main component, or a silicon nitride film.

また、第1の電極(陽極)1213上には、蒸着マスクを用いた蒸着法、またはインクジェット法によって有機化合物を含む層1215を選択的に形成する。さらに、有機化合物を含む層1215上には第2の電極(陰極)1216が形成される。陰極としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、またはCaN)を用いればよい。こうして、第1の電極(陽極)1213、有機化合物を含む層1215、及び第2の電極(陰極)1216からなる発光素子1218が形成される。発光素子1218は、図9中に示した矢印方向に発光する。ここでは発光素子1218はR、G、或いはBの単色発光が得られる発光素子の一つであり、R、G、Bの発光が得られる有機化合物を含む層をそれぞれ選択的に形成した3つの発光素子でフルカラーとする。 Further, a layer 1215 containing an organic compound is selectively formed over the first electrode (anode) 1213 by an evaporation method using an evaporation mask or an inkjet method. Further, a second electrode (cathode) 1216 is formed over the layer 1215 containing an organic compound. As the cathode, a material having a small work function (Al, Ag, Li, Ca, or an alloy thereof MgAg, MgIn, AlLi, CaF 2 , or CaN) may be used. In this manner, a light-emitting element 1218 including the first electrode (anode) 1213, the layer 1215 containing an organic compound, and the second electrode (cathode) 1216 is formed. The light emitting element 1218 emits light in the direction of the arrow shown in FIG. Here, the light-emitting element 1218 is one of light-emitting elements that can emit monochromatic light of R, G, or B. Three light-emitting elements each including a layer containing an organic compound that can emit light of R, G, or B are selectively formed. Light emitting elements are used in full color.

また、発光素子1218を封止するために保護層1217を形成する。この透明保護層1217としてはスパッタ法(DC方式やRF方式)やPCVD法により得られる窒化珪素または窒化酸化珪素を主成分とする絶縁膜、または炭素を主成分とする薄膜(DLC膜、CN膜など)、またはこれらの積層を用いることが好ましい。シリコンターゲットを用い、窒素とアルゴンを含む雰囲気で形成すれば、水分やアルカリ金属などの不純物に対してブロッキング効果の高い窒化珪素膜が得られる。また、窒化シリコンターゲットを用いてもよい。また、保護層は、リモートプラズマを用いた成膜装置を用いて形成してもよい。 Further, a protective layer 1217 is formed to seal the light-emitting element 1218. As the transparent protective layer 1217, an insulating film containing silicon nitride or silicon nitride oxide as a main component obtained by a sputtering method (DC method or RF method) or a PCVD method, or a thin film containing carbon as a main component (DLC film, CN film) Or the like, or a laminate thereof is preferably used. When a silicon target is formed in an atmosphere containing nitrogen and argon, a silicon nitride film having a high blocking effect against impurities such as moisture and alkali metal can be obtained. Further, a silicon nitride target may be used. Further, the protective layer may be formed using a film forming apparatus using remote plasma.

また、発光素子1218を封止するために不活性気体雰囲気下で第1シール材1205、第2シール材1207でプラスチック基板1204を貼り合わせる。なお、第1シール材1205としてはフィラーを含む粘性の高いエポキシ系樹脂を用いるのが好ましい。また、第2シール材1207としては透光性が高く、且つ、粘性の低いエポキシ系樹脂を用いるのが好ましい。また、シール材1205、1207はできるだけ水分や酸素を透過しない材料であることが望ましい。   Further, a plastic substrate 1204 is attached to the light-emitting element 1218 with a first sealant 1205 and a second sealant 1207 under an inert gas atmosphere. Note that it is preferable to use a highly viscous epoxy resin containing a filler as the first sealant 1205. Further, as the second sealant 1207, an epoxy resin having high translucency and low viscosity is preferably used. In addition, it is preferable that the sealing materials 1205 and 1207 be a material that does not transmit moisture or oxygen as much as possible.

また、基板1210は、TFTを形成した後に貼り付けたプラスチック基板(ARTON)である。なお、基板1210を貼り付ける前の基板は、上述した剥離法で剥離されている。   The substrate 1210 is a plastic substrate (ARTON) attached after forming a TFT. Note that the substrate before the substrate 1210 is attached is separated by the above-described separation method.

なお、ここでは酸化タングステン膜の界面付近で剥離する方法を用いたが、特に限定されず、例えば、第1の基板に水素を含むアモルファスシリコン膜を成膜した後にレーザー光を照射して分離する方法を用いてもよいし、第1の基板を溶液やガスを用いてエッチングまたは機械的に削る方法を用いてもよい。 Note that a method in which separation is performed in the vicinity of the interface of the tungsten oxide film is used here; however, there is no particular limitation. For example, an amorphous silicon film containing hydrogen is formed on the first substrate and then separated by laser light irradiation. A method may be used, or a method in which the first substrate is etched or mechanically cut using a solution or a gas may be used.

また、本実施例は実施の形態1または実施の形態2と自由に組み合わせることができる。   This embodiment can be freely combined with Embodiment Mode 1 or Embodiment Mode 2.

実施例1ではプラスチック基板を貼り合わせる例を示したが、他の基板の貼り合わせにも本発明は適用できる。本実施例では、ガラス基板上に、有機化合物層を発光層とする発光素子を備えた発光装置(上面出射構造)を作製する例を図10に示す。   In the first embodiment, an example in which a plastic substrate is bonded is shown. However, the present invention can be applied to bonding of other substrates. In this embodiment, an example of manufacturing a light-emitting device (a top emission structure) including a light-emitting element in which an organic compound layer is used as a light-emitting layer over a glass substrate is illustrated in FIGS.

従来の発光装置において、基板上の電極が陽極として形成され、陽極上に有機化合物層が形成され、有機化合物層上に陰極が形成される発光素子を有し、有機化合物層において生じた光を透明電極である陽極からTFTの方へ取り出す(以下、下面出射構造とよぶ)という構造であった。   In a conventional light-emitting device, an electrode on a substrate is formed as an anode, an organic compound layer is formed on the anode, and the light-emitting element has a cathode formed on the organic compound layer. The structure was such that the TFT was taken out from the anode as a transparent electrode toward the TFT (hereinafter, referred to as a bottom emission structure).

上記下面出射構造では、発光素子に封止缶を被せることが可能であるが、基板上電極を陽極として形成し、陽極上に有機化合物を含む層を形成し、有機化合物を含む層上に透明電極である陰極を形成するという構造(以下、上面出射構造とよぶ)とする場合には、光を遮断する材料で形成された封止缶を適用することができない。また、上面出射構造では、画素部上に乾燥剤を配置すると、表示の邪魔になる。また、吸湿しないようにするため、乾燥剤の取り扱いに細心の注意が必要であり、封入する際には素早く作業をする必要があった。   In the above bottom emission structure, it is possible to cover the light emitting element with a sealing can, but the electrode on the substrate is formed as an anode, a layer containing an organic compound is formed on the anode, and a transparent layer is formed on the layer containing the organic compound. In the case where a structure in which a cathode serving as an electrode is formed (hereinafter, referred to as a top emission structure), a sealing can made of a material that blocks light cannot be used. In the top emission structure, disposing a desiccant on the pixel portion hinders display. Further, in order to prevent moisture absorption, careful handling of the desiccant was required, and it was necessary to work quickly when enclosing the desiccant.

下面出射構造に比べて、上面出射構造は、有機化合物を含む層から発光する光が通過する材料層を少なくでき、屈折率の異なる材料層間での迷光を抑えることができる。   Compared with the bottom emission structure, the top emission structure can reduce the number of material layers through which light emitted from the layer containing an organic compound passes, and can suppress stray light between material layers having different refractive indexes.

本実施例では、ガラス基板1104とガラス基板1110とを貼り合わせる際に実施の形態1または実施の形態2の貼り合わせ方法および貼り合わせ装置を用いる。   In this example, the bonding method and the bonding apparatus in Embodiment 1 or 2 are used when bonding the glass substrate 1104 and the glass substrate 1110.

なお、図10(A)は、発光装置を示す上面図、図10(B)は図10(A)をA−A’で切断した断面図である。点線で示された1101はソース信号線駆動回路、1102は画素部、1103はゲート信号線駆動回路である。また、1104は透明な封止基板、1105は第1のシール材であり、第1のシール材1105で囲まれた内側は、透明な第2のシール材1107で充填されている。なお、第1のシール材1105には基板間隔を保持するためのギャップ材が含有されている。 Note that FIG. 10A is a top view illustrating the light-emitting device, and FIG. 10B is a cross-sectional view of FIG. 10A taken along a line A-A ′. Reference numeral 1101 indicated by a dotted line denotes a source signal line driver circuit, 1102 denotes a pixel portion, and 1103 denotes a gate signal line driver circuit. Reference numeral 1104 denotes a transparent sealing substrate, 1105 denotes a first sealing material, and the inside surrounded by the first sealing material 1105 is filled with a transparent second sealing material 1107. Note that the first sealant 1105 contains a gap material for keeping a distance between the substrates.

なお、1108はソース信号線駆動回路1101及びゲート信号線駆動回路1103に入力される信号を伝送するための配線であり、外部入力端子となるFPC(フレキシブルプリントサーキット)1109からビデオ信号やクロック信号を受け取る。なお、ここではFPCしか図示されていないが、このFPCにはプリント配線基盤(PWB)が取り付けられていても良い。   Reference numeral 1108 denotes a wiring for transmitting a signal input to the source signal line driver circuit 1101 and the gate signal line driver circuit 1103, and receives a video signal or a clock signal from an FPC (flexible printed circuit) 1109 serving as an external input terminal. receive. Although only the FPC is shown here, a printed wiring board (PWB) may be attached to the FPC.

次に、断面構造について図10(B)を用いて説明する。ガラス基板1110上には積層膜1150、接着材1140を介して駆動回路及び画素部が形成されているが、ここでは、駆動回路としてソース信号線駆動回路1101と画素部1102が示されている。   Next, a cross-sectional structure is described with reference to FIG. A driver circuit and a pixel portion are formed over the glass substrate 1110 with a stacked film 1150 and an adhesive 1140 interposed therebetween. Here, a source signal line driver circuit 1101 and a pixel portion 1102 are illustrated as the driver circuits.

なお、ソース信号線駆動回路1101はnチャネル型TFT1123とpチャネル型TFT1124とを組み合わせたCMOS回路が形成される。なお、実施例1に従って、これらのTFTを得ることもできる。また、駆動回路を形成するTFTは、公知のCMOS回路、PMOS回路もしくはNMOS回路で形成しても良い。また、本実施例では、基板上に駆動回路を形成したドライバー一体型を示すが、必ずしもその必要はなく、基板上ではなく外部に形成することもできる。また、ポリシリコン膜を活性層とするTFTの構造は特に限定されず、トップゲート型TFTであってもよいし、ボトムゲート型TFTであってもよい。   Note that as the source signal line driver circuit 1101, a CMOS circuit in which an n-channel TFT 1123 and a p-channel TFT 1124 are combined is formed. These TFTs can be obtained according to the first embodiment. Further, the TFT forming the driving circuit may be formed by a known CMOS circuit, PMOS circuit, or NMOS circuit. Further, in this embodiment, a driver integrated type in which a drive circuit is formed on a substrate is shown; however, this is not always necessary, and the driver circuit can be formed outside instead of on the substrate. The structure of the TFT using a polysilicon film as an active layer is not particularly limited, and may be a top-gate TFT or a bottom-gate TFT.

また、画素部1102はスイッチング用TFT1111と、電流制御用TFT1112とそのドレインに電気的に接続された第1の電極(陽極)1113を含む複数の画素により形成される。電流制御用TFT1112としてはnチャネル型TFTであってもよいし、pチャネル型TFTであってもよいが、陽極と接続させる場合、pチャネル型TFTとすることが好ましい。また、保持容量(図示しない)を適宜設けることが好ましい。なお、ここでは無数に配置された画素のうち、一つの画素の断面構造のみを示し、その一つの画素に2つのTFTを用いた例を示したが、3つ、またはそれ以上のTFTを適宜、用いてもよい。   The pixel portion 1102 is formed by a plurality of pixels including a switching TFT 1111, a current control TFT 1112, and a first electrode (anode) 1113 electrically connected to a drain thereof. The current controlling TFT 1112 may be an n-channel TFT or a p-channel TFT, but when connected to an anode, it is preferably a p-channel TFT. Further, it is preferable to appropriately provide a storage capacitor (not shown). Here, among the countless arranged pixels, only the cross-sectional structure of one pixel is shown, and an example in which two TFTs are used for one pixel is shown. However, three or more TFTs are appropriately used. , May be used.

ここでは第1の電極1113がTFTのドレインと直接接している構成となっているため、第1の電極1113の下層はシリコンからなるドレインとオーミックコンタクトのとれる材料層とし、有機化合物を含む層と接する最上層を仕事関数の大きい材料層とすることが望ましい。例えば、窒化チタン膜とアルミニウムを主成分とする膜と窒化チタン膜との3層構造とすると、配線としての抵抗も低く、且つ、良好なオーミックコンタクトがとれ、且つ、陽極として機能させることができる。また、第1の電極1113は、窒化チタン膜、クロム膜、タングステン膜、Zn膜、Pt膜などの単層としてもよいし、3層以上の積層を用いてもよい。   Here, since the first electrode 1113 is configured to be in direct contact with the drain of the TFT, the lower layer of the first electrode 1113 is a material layer capable of forming an ohmic contact with the drain made of silicon, and a layer containing an organic compound. It is desirable that the uppermost layer in contact is a material layer having a large work function. For example, when a three-layer structure of a titanium nitride film, a film containing aluminum as a main component, and a titanium nitride film is used, the resistance as a wiring is low, a good ohmic contact can be obtained, and the wiring can function as an anode. . The first electrode 1113 may be a single layer such as a titanium nitride film, a chromium film, a tungsten film, a Zn film, a Pt film, or a stack of three or more layers.

また、第1の電極(陽極)1113の両端には絶縁物(バンク、隔壁、障壁、土手などと呼ばれる)1114が形成される。絶縁物1114は有機樹脂膜もしくは珪素を含む絶縁膜で形成すれば良い。ここでは、絶縁物1114として、ポジ型の感光性アクリル樹脂膜を用いて図10に示す形状の絶縁物を形成する。 In addition, an insulator (referred to as a bank, a partition, a barrier, a bank, etc.) 1114 is formed at both ends of the first electrode (anode) 1113. The insulator 1114 may be formed using an organic resin film or an insulating film containing silicon. Here, as the insulator 1114, an insulator having a shape illustrated in FIG. 10 is formed using a positive photosensitive acrylic resin film.

カバレッジを良好なものとするため、絶縁物1114の上端部または下端部に曲率を有する曲面が形成されるようにする。例えば、絶縁物1114の材料としてポジ型の感光性アクリルを用いた場合、絶縁物1114の上端部のみに曲率半径(0.2μm〜3μm)を有する曲面を持たせることが好ましい。また、絶縁物1114として、感光性の光によってエッチャントに不溶解性となるネガ型、或いは光によってエッチャントに溶解性となるポジ型のいずれも使用することができる。 In order to improve coverage, a curved surface having a curvature is formed at an upper end or a lower end of the insulator 1114. For example, when a positive photosensitive acrylic is used as the material of the insulator 1114, it is preferable that only the upper end of the insulator 1114 have a curved surface having a radius of curvature (0.2 μm to 3 μm). As the insulator 1114, any of a negative type which becomes insoluble in an etchant by photosensitive light and a positive type which becomes soluble in an etchant by light can be used.

また、絶縁物1114を窒化アルミニウム膜、窒化酸化アルミニウム膜、炭素を主成分とする薄膜、または窒化珪素膜からなる保護膜で覆ってもよい。   Alternatively, the insulator 1114 may be covered with a protective film formed using an aluminum nitride film, an aluminum nitride oxide film, a thin film containing carbon as a main component, or a silicon nitride film.

また、第1の電極(陽極)1113上には、蒸着マスクを用いた蒸着法、またはインクジェット法によって有機化合物を含む層1115を選択的に形成する。さらに、有機化合物を含む層1115上には第2の電極(陰極)1116が形成される。陰極としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、またはCaN)を用いればよい。ここでは、発光が透過するように、第2の電極(陰極)1116として、膜厚を薄くした金属薄膜を形成し、その上に透明導電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In23―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)などを積層する。なお、この透明導電膜は電気抵抗を下げるために形成している。こうして、第1の電極(陽極)1113、有機化合物を含む層1115、及び第2の電極(陰極)1116からなる発光素子1118が形成される。ここでは発光素子1118は白色発光とする例であるので着色層1131と遮光層(BM)1132からなるカラーフィルター(簡略化のため、ここではオーバーコート層は図示しない)を設けている。 Further, a layer 1115 containing an organic compound is selectively formed over the first electrode (anode) 1113 by an evaporation method using an evaporation mask or an inkjet method. Further, a second electrode (cathode) 1116 is formed over the layer 1115 containing an organic compound. As the cathode, a material having a small work function (Al, Ag, Li, Ca, or an alloy thereof MgAg, MgIn, AlLi, CaF 2 , or CaN) may be used. Here, a thin metal film is formed as the second electrode (cathode) 1116 so that light is transmitted, and a transparent conductive film (ITO (indium oxide tin oxide alloy), indium oxide oxide) is formed thereon. A zinc alloy (In 2 O 3 —ZnO), zinc oxide (ZnO), or the like is stacked. Note that this transparent conductive film is formed to reduce electric resistance. Thus, a light-emitting element 1118 including the first electrode (anode) 1113, the layer 1115 containing an organic compound, and the second electrode (cathode) 1116 is formed. Here, since the light-emitting element 1118 is an example of emitting white light, a color filter including a coloring layer 1131 and a light-blocking layer (BM) 1132 (an overcoat layer is not illustrated here for simplicity) is provided.

また、R、G、Bの発光が得られる有機化合物を含む層をそれぞれ選択的に形成すれば、カラーフィルターを用いなくともフルカラーの表示を得ることができる。   In addition, by selectively forming a layer containing an organic compound capable of emitting R, G, and B light, full-color display can be obtained without using a color filter.

また、発光素子1118を封止するために透明保護層1117を形成する。この透明保護層1117としてはスパッタ法(DC方式やRF方式)やPCVD法により得られる窒化珪素または窒化酸化珪素を主成分とする絶縁膜、炭素を主成分とする薄膜(DLC膜、CN膜など)、またはこれらの積層を用いることが好ましい。シリコンターゲットを用い、窒素とアルゴンを含む雰囲気で形成すれば、水分やアルカリ金属などの不純物に対してブロッキング効果の高い窒化珪素膜が得られる。また、窒化シリコンターゲットを用いてもよい。また、透明保護層は、リモートプラズマを用いた成膜装置を用いて形成してもよい。また、透明保護層に発光を通過させるため、透明保護層の膜厚は、可能な限り薄くすることが好ましい。 Further, a transparent protective layer 1117 is formed to seal the light-emitting element 1118. As the transparent protective layer 1117, an insulating film mainly containing silicon nitride or silicon nitride oxide obtained by a sputtering method (DC method or RF method) or a PCVD method, a thin film mainly containing carbon (a DLC film, a CN film, or the like) ) Or a laminate thereof is preferably used. When a silicon target is formed in an atmosphere containing nitrogen and argon, a silicon nitride film having a high blocking effect against impurities such as moisture and alkali metal can be obtained. Further, a silicon nitride target may be used. Further, the transparent protective layer may be formed using a film forming apparatus using remote plasma. Further, in order to allow light to pass through the transparent protective layer, it is preferable that the thickness of the transparent protective layer be as small as possible.

また、発光素子1118を封止するために不活性気体雰囲気下で第1シール材1105、第2シール材1107により封止基板1104を貼り合わせる。なお、第1シール材1105、第2シール材1107としてはエポキシ系樹脂を用いるのが好ましい。また、第1シール材1105、第2シール材1107はできるだけ水分や酸素を透過しない材料であることが望ましい。   In addition, a sealing substrate 1104 is attached to the light-emitting element 1118 with the first sealant 1105 and the second sealant 1107 in an inert gas atmosphere. Note that an epoxy resin is preferably used for the first sealant 1105 and the second sealant 1107. Further, it is desirable that the first sealing material 1105 and the second sealing material 1107 are materials that do not transmit moisture and oxygen as much as possible.

以上のようにして発光素子を第1シール材1105、第2シール材1107に封入することにより、発光素子を外部から完全に遮断することができ、外部から水分や酸素といった有機化合物層の劣化を促す物質が侵入することを防ぐことができる。   By enclosing the light-emitting element in the first sealant 1105 and the second sealant 1107 as described above, the light-emitting element can be completely shut off from the outside, and the deterioration of the organic compound layer such as moisture and oxygen can be prevented from the outside. It is possible to prevent entry of a stimulating substance.

また、本実施例は、実施の形態1、実施の形態2、または実施例1のいずれか一と自由に組み合わせることができる。   This embodiment can be freely combined with any one of Embodiment Mode 1, Embodiment Mode 2, and Embodiment 1.

本実施例では、実施の形態1とは異なるシールパターンとした例を図11に示す。 In this embodiment, an example in which a seal pattern different from that in Embodiment 1 is used is shown in FIG.

図11(A)には、貼りあわせる前の封止基板(第2の基板72)の上面図の一例を示している。図11(A)では一枚の基板から1つの画素部を有する発光装置を形成する例を示している。   FIG. 11A illustrates an example of a top view of a sealing substrate (a second substrate 72) before bonding. FIG. 11A illustrates an example in which a light-emitting device including one pixel portion is formed from one substrate.

まず、プラスチック基板である第2の基板72上にディスペンサーを用いて6本の第1シール材76を形成した後、第1シール材よりも粘度の低い第2シール材を複数滴滴下する。端子部には広がらないように第1シール材76を配置する。なお、滴下した状態での上面図が図11(A)に相当する。なお、予めプラスチック基板である第2の基板72は所望のサイズにしておく。 First, after forming six first sealing members 76 on a second substrate 72 which is a plastic substrate using a dispenser, a plurality of second sealing members having a lower viscosity than the first sealing members are dropped. The first seal member 76 is arranged so as not to spread to the terminal portion. Note that a top view in a dropped state corresponds to FIG. The second substrate 72, which is a plastic substrate, has a desired size in advance.

次いで、発光素子が画素部73、または駆動回路部74、端子部75が設けられた第1の基板71と貼りあわせる。第1の基板71はガラス基板であってもよいし、プラスチック基板であってもよい。ただし、熱膨張係数が異なると反りが生じる恐れがあるため、第1の基板71は第2の基板と同じ熱膨張率の材料からなる基板を用いればよい。一対の基板を貼り合せた直後の上面図を図11(B)に示す。第1シール材の粘度は高いため、貼り合せた際には若干広がるが、第2シール材の粘度は低いため、貼り合せた際、図11(B)に示すように、第2シール材は平面的に広がることとなる。第2シール材が、第1のシール材76の間、即ち開口部に向かって図11(B)中の矢印の方向に押し出されることによって、第1シール材76の間に充填される領域に気泡が存在しないようにすることができる。第1シール材76は第2シール材77bと接しても混ざることはなく、第1シール材76は第2シール材77bによって形成位置は変化しない粘度を有している。なお、第1シール材76には、2枚の基板間隔を保持するギャップ材(フィラー、微粒子など)を含ませている。   Next, the light emitting element is bonded to the first substrate 71 provided with the pixel portion 73 or the driver circuit portion 74 and the terminal portion 75. The first substrate 71 may be a glass substrate or a plastic substrate. However, if the coefficients of thermal expansion are different, warpage may occur. Therefore, the first substrate 71 may be a substrate made of a material having the same coefficient of thermal expansion as the second substrate. FIG. 11B illustrates a top view immediately after the pair of substrates is attached to each other. Since the viscosity of the first sealant is high, it spreads slightly when bonded, but the viscosity of the second sealant is low, so that when bonded, as shown in FIG. It will spread in a plane. By extruding the second seal material between the first seal materials 76, that is, in the direction of the arrow in FIG. 11B toward the opening, the second seal material is filled in the region filled between the first seal materials 76. Bubbles can be eliminated. The first sealing material 76 does not mix even when in contact with the second sealing material 77b, and the first sealing material 76 has a viscosity that does not change its formation position due to the second sealing material 77b. Note that the first sealing material 76 contains a gap material (filler, fine particles, or the like) that keeps the space between the two substrates.

また、本実施例は、実施の形態1、実施の形態2、実施例1、または実施例2のいずれか一と自由に組み合わせることができる。   This embodiment can be freely combined with any one of Embodiment Mode 1, Embodiment 2, Embodiment 1, and Embodiment 2.

本発明を実施して得た発光装置を表示部に組み込むことによって電子機器を作製することができる。電子機器としては、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプレイ)、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カーオーディオ、オーディオコンポ等)、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはDigital Versatile Disc(DVD)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうるディスプレイを備えた装置)などが挙げられる。それらの電子機器の具体例を図12に示す。 An electronic device can be manufactured by incorporating a light-emitting device obtained by implementing the present invention into a display portion. Electronic devices include video cameras, digital cameras, goggle-type displays (head-mounted displays), navigation systems, sound reproducers (car audio, audio components, etc.), notebook personal computers, game devices, portable information terminals (mobile computers, An image reproducing apparatus provided with a recording medium (specifically, a mobile phone, a portable game machine or an electronic book, etc.), and a display capable of reproducing a recording medium such as a Digital Versatile Disc (DVD) and displaying the image. Device). FIG. 12 shows specific examples of these electronic devices.

図12(A)はテレビであり、筐体2001、支持台2002、表示部2003、スピーカー部2004、ビデオ入力端子2005等を含む。本発明は表示部2003に適用することができ、テレビの信頼性を向上することができる。なお、パソコン用、TV放送受信用、広告表示用などの全ての情報表示用のテレビが含まれる。   FIG. 12A illustrates a television, which includes a housing 2001, a support base 2002, a display portion 2003, a speaker portion 2004, a video input terminal 2005, and the like. The present invention can be applied to the display portion 2003, so that the reliability of the television can be improved. In addition, all televisions for displaying information such as for personal computers, for receiving TV broadcasts, and for displaying advertisements are included.

図12(B)はデジタルカメラであり、本体2101、表示部2102、受像部2103、操作キー2104、外部接続ポート2105、シャッター2106等を含む。本発明は、表示部2102に適用することができ、デジタルカメラの信頼性を向上することができる。また、本発明によりフレキシブル基板で封止すれば、デジタルカメラの軽量化が図れる。   FIG. 12B illustrates a digital camera, which includes a main body 2101, a display portion 2102, an image receiving portion 2103, operation keys 2104, an external connection port 2105, a shutter 2106, and the like. The present invention can be applied to the display portion 2102 and can improve the reliability of a digital camera. Further, if the digital camera is sealed with a flexible substrate according to the present invention, the weight of the digital camera can be reduced.

図12(C)はノート型パーソナルコンピュータであり、本体2201、筐体2202、表示部2203、キーボード2204、外部接続ポート2205、ポインティングマウス2206等を含む。本発明は、表示部2203に適用することができ、ノート型パーソナルコンピュータの信頼性を向上することができる。   FIG. 12C illustrates a laptop personal computer, which includes a main body 2201, a housing 2202, a display portion 2203, a keyboard 2204, an external connection port 2205, a pointing mouse 2206, and the like. The present invention can be applied to the display portion 2203 and can improve the reliability of a notebook personal computer.

図12(D)はモバイルコンピュータであり、本体2301、表示部2302、スイッチ2303、操作キー2304、赤外線ポート2305等を含む。本発明は、表示部2302に適用することができ、モバイルコンピュータの信頼性を向上することができる。   FIG. 12D illustrates a mobile computer, which includes a main body 2301, a display portion 2302, a switch 2303, operation keys 2304, an infrared port 2305, and the like. The present invention can be applied to the display portion 2302, and can improve reliability of a mobile computer.

図12(E)は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本体2401、筐体2402、表示部A2403、表示部B2404、記録媒体(DVD等)読み込み部2405、操作キー2406、スピーカー部2407等を含む。表示部A2403は主として画像情報を表示し、表示部B2404は主として文字情報を表示するが、本発明は表示部A、B2403、2404に適用することができ、画像再生装置の信頼性を向上することができる。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には家庭用ゲーム機器なども含まれる。   FIG. 12E illustrates a portable image reproducing device (specifically, a DVD reproducing device) including a recording medium, which includes a main body 2401, a housing 2402, a display portion A 2403, a display portion B 2404, and a recording medium (eg, a DVD). A reading unit 2405, operation keys 2406, a speaker unit 2407, and the like are included. Although the display portion A 2403 mainly displays image information and the display portion B 2404 mainly displays text information, the present invention can be applied to the display portions A, B 2403 and 2404 to improve the reliability of the image reproducing device. Can be. Note that the image reproducing device provided with the recording medium includes a home game machine and the like.

図12(F)は携帯型のゲーム機器であり、本体2501、表示部2505、操作スイッチ2504等を含む。本発明は表示部2505に適用することができ、ゲーム機器の信頼性を向上することができる。また、本発明によりフレキシブル基板で封止すれば、携帯型のゲーム機器の軽量化が図れる。   FIG. 12F illustrates a portable game device including a main body 2501, a display portion 2505, operation switches 2504, and the like. The present invention can be applied to the display portion 2505, so that the reliability of the game device can be improved. Further, by sealing with a flexible substrate according to the present invention, the weight of a portable game device can be reduced.

図12(G)はビデオカメラであり、本体2601、表示部2602、筐体2603、外部接続ポート2604、リモコン受信部2605、受像部2606、バッテリー2607、音声入力部2608、操作キー2609等を含む。本発明は、表示部2602に適用することができ、ビデオカメラの信頼性を向上することができる。また、本発明によりフレキシブル基板で封止すれば、ビデオカメラの軽量化が図れる。   FIG. 12G illustrates a video camera, which includes a main body 2601, a display portion 2602, a housing 2603, an external connection port 2604, a remote control receiving portion 2605, an image receiving portion 2606, a battery 2607, an audio input portion 2608, operation keys 2609, and the like. . The present invention can be applied to the display portion 2602 and can improve the reliability of a video camera. In addition, if the video camera is sealed with a flexible substrate according to the present invention, the weight of the video camera can be reduced.

図12(H)は携帯電話であり、本体2701、筐体2702、表示部2703、音声入力部2704、音声出力部2705、操作キー2706、外部接続ポート2707、アンテナ2708等を含む。本発明は、表示部2703に適用することができ、携帯電話の信頼性を向上することができる。また、本発明によりフレキシブル基板で封止すれば、携帯電話の軽量化が図れる。なお、表示部2703は黒色の背景に白色の文字を表示することで携帯電話の消費電流を抑えることができる。   FIG. 12H illustrates a mobile phone, which includes a main body 2701, a housing 2702, a display portion 2703, a sound input portion 2704, a sound output portion 2705, operation keys 2706, an external connection port 2707, an antenna 2708, and the like. The present invention can be applied to the display portion 2703, and can improve the reliability of a mobile phone. In addition, if the mobile phone is sealed with a flexible substrate according to the present invention, the weight of the mobile phone can be reduced. Note that the display portion 2703 displays white characters on a black background, so that current consumption of the mobile phone can be suppressed.

以上の様に、本発明を実施して得た表示装置は、あらゆる電子機器の表示部として用いても良い。なお、本実施の形態の電子機器には、実施の形態1、実施の形態2、または実施例1乃至3のいずれの構成を用いて作製された発光装置を用いても良い。   As described above, the display device obtained by implementing the present invention may be used as a display unit of any electronic device. Note that a light-emitting device manufactured using any of the structures of Embodiment 1, Embodiment 2, and Embodiments 1 and 3 may be used for the electronic device of this embodiment.

本発明により、発光装置の信頼性を向上することができ、さらにフレキシブル基板での封止が可能となるため、電子機器の軽量化が図れる。 According to the present invention, the reliability of a light-emitting device can be improved and sealing with a flexible substrate can be performed, so that the weight of an electronic device can be reduced.

貼り合わせ前後の基板上面図。(実施の形態1)FIG. 4 is a top view of a substrate before and after bonding. (Embodiment 1) 製造装置の断面図を示す図。(実施の形態1)The figure which shows the cross section of a manufacturing apparatus. (Embodiment 1) 貼り合わせ前後の基板上面図。(実施の形態2)FIG. 4 is a top view of a substrate before and after bonding. (Embodiment 2) 製造装置の断面図を示す図。(実施の形態2)The figure which shows the cross section of a manufacturing apparatus. (Embodiment 2) 作製工程を示す図。(実施例1)4A to 4C illustrate a manufacturing process. (Example 1) 剥離前の断面TEM写真を示す図。(実施例1)The figure which shows the cross section TEM photograph before peeling. (Example 1) 剥離後の断面TEM写真を示す図。(実施例1)The figure which shows the cross section TEM photograph after peeling. (Example 1) 表示しているパネル写真を示す図。(実施例1)The figure which shows the displayed panel photograph. (Example 1) アクティブマトリクス型EL表示装置の構成を示す図。(実施例1)FIG. 2 illustrates a structure of an active matrix EL display device. (Example 1) アクティブマトリクス型EL表示装置の構成を示す図。(実施例2)FIG. 2 illustrates a structure of an active matrix EL display device. (Example 2) 貼り合わせ前後の基板上面図。(実施例3)FIG. 4 is a top view of a substrate before and after bonding. (Example 3) 電子機器の一例を示す図。(実施例4)FIG. 13 illustrates an example of an electronic device. (Example 4) 貼り合わせ前後の基板上面図。(実施の形態1)FIG. 4 is a top view of a substrate before and after bonding. (Embodiment 1) 貼り合わせ前後の基板上面図。(実施の形態1)FIG. 4 is a top view of a substrate before and after bonding. (Embodiment 1) 製造装置の断面図を示す図。(実施の形態2)The figure which shows the cross section of a manufacturing apparatus. (Embodiment 2)

Claims (16)

少なくとも一方が透光性である一対の基板間に、第1の電極と、該第1の電極上に接する有機化合物層と、該有機化合物層上に接する第2の電極とを有する発光素子を複数有する画素部を備えた発光装置の作製方法であって、
一方の基板上に画素部を形成する工程と、
もう一方の基板上に線形状の第1のシール材を描画する工程と、
前記第1のシール材よりも粘度の低い第2のシール材を第1のシール材で囲まれた領域内へ異なる滴下量で複数滴滴下する工程と、
前記第1のシール材が前記画素部を囲むように配置され、且つ、少なくとも一対の前記第1のシール材の間は、前記第2のシール材で充填されるように前記一対の基板を貼り合わせる工程とを有することを特徴とする発光装置の作製方法。
A light-emitting element including a first electrode, an organic compound layer in contact with the first electrode, and a second electrode in contact with the organic compound layer is provided between a pair of substrates, at least one of which is light-transmitting. A method for manufacturing a light-emitting device including a plurality of pixel portions,
Forming a pixel portion on one of the substrates;
Drawing a linear first sealing material on the other substrate;
A step of dropping a plurality of drops of a second sealant having a lower viscosity than the first sealant in different drop amounts into a region surrounded by the first sealant;
The first sealant is disposed so as to surround the pixel portion, and the pair of substrates is attached to at least a pair of the first sealants so as to be filled with the second sealant. A method for manufacturing a light-emitting device, comprising the steps of:
請求項1において、前記第2のシール材は、少なくとも画素部の中央と、該中央と一定の間隔を有して取り囲む位置とに滴下され、中央に滴下される滴下量は取り囲む位置に滴下する滴下量より多いことを特徴とする発光装置の作製方法。   2. The liquid crystal display according to claim 1, wherein the second sealing material is dropped at least at a center of the pixel portion and at a position surrounding the pixel portion at a certain interval from the center, and a drop amount dropped at the center is dropped at the surrounding position. A method for manufacturing a light-emitting device, wherein the amount is larger than the drop amount. 請求項1または請求項2において、前記第1のシール材は、少なくとも四隅に開口を有していることを特徴とする発光装置の作製方法。   3. The method for manufacturing a light-emitting device according to claim 1, wherein the first sealant has openings at at least four corners. 請求項1乃至3のいずれか一において、前記第1のシール材は、一対の基板間隔を保持するギャップ材を含むことを特徴とする発光装置の作製方法。   4. The method for manufacturing a light-emitting device according to claim 1, wherein the first sealing material includes a gap material for maintaining a distance between a pair of substrates. 5. 請求項1乃至4のいずれか一において、前記第2のシール材は、前記開口で露出しており、露出している前記第2のシール材の周縁は湾曲していることを特徴とする発光装置の作製方法。   5. The light emitting device according to claim 1, wherein the second sealing material is exposed at the opening, and a peripheral edge of the exposed second sealing material is curved. Method for manufacturing the device. 請求項1乃至5のいずれか一において、前記第2のシール材は、前記開口で露出しており、露出している前記第2のシール材の周縁は前記開口から突出していることを特徴とする発光装置の作製方法。   6. The device according to claim 1, wherein the second sealing material is exposed at the opening, and a peripheral edge of the exposed second sealing material protrudes from the opening. 7. For manufacturing a light emitting device. 少なくとも一方が透光性である一対の基板間に、第1の電極と、該第1の電極上に接する有機化合物層と、該有機化合物層上に接する第2の電極とを有する発光素子を複数有する画素部を備えた発光装置の作製方法であって、
一方の基板上に画素部を形成する工程と、
もう一方の基板上に線形状の第1のシール材を描画する工程と、
前記第1のシール材よりも粘度の低い第2のシール材を第1のシール材で囲まれた領域内へ異なる滴下量で複数滴滴下する工程と、
前記第1のシール材が前記画素部を囲むように一対の基板を貼り合わせる際、加圧により前記第2のシール材を広げて互いに対向する前記第1のシール材の間に充填させる工程と、
前記第1のシール材と前記第2のシール材を硬化させる工程と、を有することを特徴とする発光装置の作製方法。
A light-emitting element including a first electrode, an organic compound layer in contact with the first electrode, and a second electrode in contact with the organic compound layer is provided between a pair of substrates, at least one of which is light-transmitting. A method for manufacturing a light-emitting device including a plurality of pixel portions,
Forming a pixel portion on one of the substrates;
Drawing a linear first sealing material on the other substrate;
A step of dropping a plurality of drops of a second sealant having a lower viscosity than the first sealant in different drop amounts into a region surrounded by the first sealant;
A step of spreading the second sealant by applying pressure and filling between the first sealants facing each other when the pair of substrates is bonded so that the first sealant surrounds the pixel portion; ,
Curing the first sealant and the second sealant. A method for manufacturing a light-emitting device, comprising:
請求項7において、前記第1のシール材と前記第2のシール材を硬化させる工程は、紫外線を照射する工程、または加熱する工程であることを特徴とする発光装置の作製方法。   The method for manufacturing a light-emitting device according to claim 7, wherein the step of curing the first sealant and the second sealant is a step of irradiating ultraviolet rays or a step of heating. 請求項7または請求項8において、前記第1のシール材と前記第2のシール材を硬化させる工程の後、前記第1のシール材に沿って一対の基板を分断する工程を有することを特徴とする発光装置の作製方法。   9. The method according to claim 7, further comprising, after the step of curing the first sealant and the second sealant, a step of dividing the pair of substrates along the first sealant. Method for manufacturing a light emitting device. 一対の基板を所定の間隔でシール材を間に挟んで貼り合わせる基板貼りあわせ装置を備えた製造装置であって、
対向して配置された2つの基板支持台と、
前記2つの支持台間を押圧してシール材を押しつぶす手段とを有し、
前記基板支持台は、フッ素系樹脂を含む膜で覆われていることを特徴とする製造装置。
A manufacturing apparatus provided with a substrate bonding apparatus that bonds a pair of substrates with a sealing material interposed therebetween at a predetermined interval,
Two substrate support bases arranged facing each other,
Means for pressing between the two support bases to crush the sealing material,
The manufacturing apparatus, wherein the substrate support is covered with a film containing a fluorine-based resin.
請求項10において、前記フッ素系樹脂を含む膜は、ポリテトラフルオロエチレン、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、ポリクロロトリフルオロエチレン、テトラフルオロエチレン−エチレン共重合体、ポリビニルフルオライド、ポリビニリデンフルオライドから選ばれた一種であることを特徴とする製造装置。   In Claim 10, the film containing the fluororesin is made of polytetrafluoroethylene, tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer, polychlorotrifluoroethylene, tetrafluoroethylene-ethylene copolymer, polyvinyl fluoride, A manufacturing apparatus characterized in that it is a kind selected from vinylidene fluoride. 一対の基板を所定の間隔でシール材を間に挟んで貼り合わせる基板貼りあわせ装置を備えた製造装置であって、
対向して配置された2つの基板支持台と、
前記2つの支持台間を押圧してシール材を押しつぶす手段とを有し、
両面テープで前記2つの基板支持台に前記基板がそれぞれ固定されていることを特徴とする製造装置。
A manufacturing apparatus provided with a substrate bonding apparatus that bonds a pair of substrates with a sealing material interposed therebetween at a predetermined interval,
Two substrate support bases arranged facing each other,
Means for pressing between the two support bases to crush the sealing material,
The manufacturing apparatus, wherein the substrates are respectively fixed to the two substrate supports with double-sided tape.
請求項10乃至12のいずれか一において、前記2つの基板支持台の少なくとも一方は光を透過する材料からなっており、一対の基板を貼り合わせた後、一方の基板支持台を通過する光を照射してシール材を硬化させることを特徴とする製造装置。 13. The device according to claim 10, wherein at least one of the two substrate supports is made of a light-transmitting material, and after passing a pair of substrates together, light passing through one of the substrate supports is provided. A manufacturing apparatus characterized in that the sealing material is cured by irradiation. 請求項12または請求項13において、前記両面テープは光の照射により接着力が低下するテープであり、一対の基板を貼り合わせた後、基板支持台を通過する光を照射してシール材を硬化させると同時に、前記両面テープの接着力を低下させることを特徴とする製造装置。 The double-sided tape according to claim 12 or 13, wherein the double-sided tape is a tape whose adhesive strength is reduced by light irradiation, and after bonding a pair of substrates, irradiates light passing through the substrate support to cure the sealing material. A manufacturing apparatus for reducing the adhesive strength of the double-sided tape at the same time. 請求項10乃至14のいずれか一において、前記2つの基板支持台の少なくとも一方は光を透過する材料からなっており、光源から照射されて一方の基板支持台を通過した光は、もう一方の基板支持台の表面で反射させることを特徴とする製造装置。 At least one of the two substrate supports according to claim 10, wherein at least one of the two substrate supports is made of a material that transmits light, and light emitted from a light source and passed through one substrate support is the other. A manufacturing apparatus for reflecting light on the surface of a substrate support. 請求項10乃至15のいずれか一において、前記2つの基板支持台の少なくとも一方は加熱手段を備えており、一対の基板を貼り合わせた後、加熱によりシール材を硬化させることを特徴とする製造装置。
The manufacturing method according to any one of claims 10 to 15, wherein at least one of the two substrate supports is provided with a heating means, and after the pair of substrates are bonded, the sealing material is cured by heating. apparatus.
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006196429A (en) * 2004-12-13 2006-07-27 Sanyo Electric Co Ltd Method of sealing organic electro-luminescence device
JP2006236726A (en) * 2005-02-24 2006-09-07 Sony Corp Manufacturing method of display device, and display device
JP2006286266A (en) * 2005-03-31 2006-10-19 Sanyo Electric Co Ltd Manufacturing method of luminescent panel, manufacturing method of display panel and display panel
JP2008525855A (en) * 2004-12-27 2008-07-17 オーテーベー、グループ、ベスローテン、フェンノートシャップ Method of manufacturing a blank for forming an OLED or OLED and such a blank or OLED
JP2010205550A (en) * 2009-03-03 2010-09-16 Rohm Co Ltd Organic light emitting element, and manufacturing method thereof
JP2011040383A (en) * 2009-08-07 2011-02-24 Samsung Mobile Display Co Ltd Sealing substrate, organic electroluminescent display device using the same, and method of manufacturing the same
JP2014049441A (en) * 2012-08-31 2014-03-17 Samsung Display Co Ltd Organic light-emitting device and manufacturing method therefor
JP2015524146A (en) * 2012-05-31 2015-08-20 エルジー・ケム・リミテッド Method for manufacturing organic electronic device
WO2015162893A1 (en) * 2014-04-22 2015-10-29 株式会社Joled Organic el panel production method
JP2017037857A (en) * 2004-09-29 2017-02-16 株式会社半導体エネルギー研究所 Display device
WO2019021370A1 (en) * 2017-07-25 2019-01-31 シャープ株式会社 Coating device, el device manufacturing apparatus, and el device
JP2022043160A (en) * 2013-09-06 2022-03-15 株式会社半導体エネルギー研究所 Light-emitting device

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6454420A (en) * 1987-08-25 1989-03-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display element
JPH055890A (en) * 1991-06-27 1993-01-14 Sanyo Electric Co Ltd Liquid crystal display panel and production thereof
JPH10202153A (en) * 1997-01-20 1998-08-04 Agency Of Ind Science & Technol Method and device for producing thin film
JP2000036384A (en) * 1998-07-17 2000-02-02 Nec Corp Manufacture of organic thin film el device
JP2000068050A (en) * 1998-08-24 2000-03-03 Casio Comput Co Ltd Electroluminescent element and its manufacture
JP2000133445A (en) * 1998-10-28 2000-05-12 Shinetsu Engineering Kk Sealing method for electroluminescent element and its device
JP2000150145A (en) * 1998-11-02 2000-05-30 Toyota Motor Corp Sealing method for el element
JP2001126866A (en) * 1999-10-22 2001-05-11 Stanley Electric Co Ltd Method of manufacturing organic el display and el display manufactured by said method
JP2001297878A (en) * 2000-04-13 2001-10-26 Nippon Seiki Co Ltd Manufacturing method of organic el panel
JP2002317263A (en) * 2001-04-18 2002-10-31 Tokki Corp Vacuum deposition system

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6454420A (en) * 1987-08-25 1989-03-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display element
JPH055890A (en) * 1991-06-27 1993-01-14 Sanyo Electric Co Ltd Liquid crystal display panel and production thereof
JPH10202153A (en) * 1997-01-20 1998-08-04 Agency Of Ind Science & Technol Method and device for producing thin film
JP2000036384A (en) * 1998-07-17 2000-02-02 Nec Corp Manufacture of organic thin film el device
JP2000068050A (en) * 1998-08-24 2000-03-03 Casio Comput Co Ltd Electroluminescent element and its manufacture
JP2000133445A (en) * 1998-10-28 2000-05-12 Shinetsu Engineering Kk Sealing method for electroluminescent element and its device
JP2000150145A (en) * 1998-11-02 2000-05-30 Toyota Motor Corp Sealing method for el element
JP2001126866A (en) * 1999-10-22 2001-05-11 Stanley Electric Co Ltd Method of manufacturing organic el display and el display manufactured by said method
JP2001297878A (en) * 2000-04-13 2001-10-26 Nippon Seiki Co Ltd Manufacturing method of organic el panel
JP2002317263A (en) * 2001-04-18 2002-10-31 Tokki Corp Vacuum deposition system

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10403697B2 (en) 2004-09-29 2019-09-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device
US10038040B2 (en) 2004-09-29 2018-07-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device
US9893130B2 (en) 2004-09-29 2018-02-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device
US11552145B2 (en) 2004-09-29 2023-01-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device
JP2021022567A (en) * 2004-09-29 2021-02-18 株式会社半導体エネルギー研究所 Light-emitting device
JP2017037857A (en) * 2004-09-29 2017-02-16 株式会社半導体エネルギー研究所 Display device
US10937847B2 (en) 2004-09-29 2021-03-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device
US11233105B2 (en) 2004-09-29 2022-01-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device
US11778870B2 (en) 2004-09-29 2023-10-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device
JP7117353B2 (en) 2004-09-29 2022-08-12 株式会社半導体エネルギー研究所 light emitting device
JP4651429B2 (en) * 2004-12-13 2011-03-16 三洋電機株式会社 Method for sealing organic electroluminescence element
JP2006196429A (en) * 2004-12-13 2006-07-27 Sanyo Electric Co Ltd Method of sealing organic electro-luminescence device
JP2008525855A (en) * 2004-12-27 2008-07-17 オーテーベー、グループ、ベスローテン、フェンノートシャップ Method of manufacturing a blank for forming an OLED or OLED and such a blank or OLED
US8319412B2 (en) 2005-02-24 2012-11-27 Sony Corporation Display device and method for manufacturing the same
US8680765B2 (en) 2005-02-24 2014-03-25 Sony Corporation Display device and method for manufacturing the same
US7806743B2 (en) 2005-02-24 2010-10-05 Sony Corporation Method for manufacturing a display device
JP4539368B2 (en) * 2005-02-24 2010-09-08 ソニー株式会社 Manufacturing method of display device
JP2006236726A (en) * 2005-02-24 2006-09-07 Sony Corp Manufacturing method of display device, and display device
JP4592473B2 (en) * 2005-03-31 2010-12-01 三洋電機株式会社 LIGHT EMITTING PANEL MANUFACTURING METHOD, DISPLAY PANEL MANUFACTURING METHOD, AND DISPLAY PANEL
JP2006286266A (en) * 2005-03-31 2006-10-19 Sanyo Electric Co Ltd Manufacturing method of luminescent panel, manufacturing method of display panel and display panel
JP2010205550A (en) * 2009-03-03 2010-09-16 Rohm Co Ltd Organic light emitting element, and manufacturing method thereof
JP2011040383A (en) * 2009-08-07 2011-02-24 Samsung Mobile Display Co Ltd Sealing substrate, organic electroluminescent display device using the same, and method of manufacturing the same
US8518727B2 (en) 2009-08-07 2013-08-27 Samsung Display Co., Ltd. Method of forming encapsulation substrate for an organic light emitting diode display device
US8405094B2 (en) 2009-08-07 2013-03-26 Samsung Display Co., Ltd. Encapsulation substrate for an organic light emitting diode display device
JP2015524146A (en) * 2012-05-31 2015-08-20 エルジー・ケム・リミテッド Method for manufacturing organic electronic device
US10658626B2 (en) 2012-08-31 2020-05-19 Samsung Display Co., Ltd. Organic light emitting device and manufacturing method thereof
US11111347B2 (en) 2012-08-31 2021-09-07 Samsung Display Co., Ltd. Organic light emitting device and manufacturing method thereof
JP2014049441A (en) * 2012-08-31 2014-03-17 Samsung Display Co Ltd Organic light-emitting device and manufacturing method therefor
JP2022043160A (en) * 2013-09-06 2022-03-15 株式会社半導体エネルギー研究所 Light-emitting device
US9627617B2 (en) 2014-04-22 2017-04-18 Joled Inc. Method for manufacturing organic EL panel
WO2015162893A1 (en) * 2014-04-22 2015-10-29 株式会社Joled Organic el panel production method
WO2019021370A1 (en) * 2017-07-25 2019-01-31 シャープ株式会社 Coating device, el device manufacturing apparatus, and el device

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