JP2004179278A - Semiconductor laser module - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体レーザモジュールに関し、特に光波長多重通信の光源等として用いられる半導体レーザダイオードの波長を制御するために、エタロンフィルタを内蔵した半導体レーザモジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】
インターネットの急激な普及に伴い、画像等の大容量データの転送が頻繁に行われるようになってきた。そのため、伝送路の大容量化が急務となり、既存の一本の光ファイバーケーブルに多数の波長の光信号を多重して伝送する高密度波長多重(以降、DWDMと称す)方式による通信が実用化され、年々、その高密度化が図られている。一本の光ファイバーに多数の波長の光信号を多重するためには、光信号を一定の波長に保つことが必要で、その光源となる半導体レーザダイオードは、高い精度で安定に動作することが求められる。半導体レーザダイオードは、温度等の要因により出射するレーザ光の波長が変化する性質を持っているため、一般的にレーザ光の波長の変動を検出して制御し、波長を一定に保つ機能を備えた半導体レーザモジュールが用いられている。
【0003】
図8は、特許第2835068号で提案されている従来の半導体レーザモジュールの例を示す機能図である。半導体レーザモジュールは、半導体レーザダイオード1と、レーザ光を集光するレンズ2と、光ファイバー3と、半導体レーザダイオード1が出射するモニタ光を平行ビーム化するレンズ4と、モニタ光を分岐する分岐素子5と、分岐された第一のモニタ光を所定の波長選択特性でフィルタリングするエタロンフィルタ6と、波長選択された第一のモニタ光の強度を検出するフォトダイオード7と、分岐された第二のモニタ光の強度を検出するフォトダイオード8とにより構成する。
【0004】
次に、半導体レーザモジュールの動作を説明すると、半導体レーザダイオード1が出射するレーザ光は、レンズ2により集光され光ファイバー3へと出力される。一方、半導体レーザダイオード1が出射するモニタ光は、レンズ4により平行ビーム化されて分岐素子5に入射する。分岐素子5は、第一のモニタ光と第二のモニタ光とを出射し、第一のモニタ光は、エタロンフィルタ6において波長の選択が行われる。
【0005】
図9は、エタロンフィルタの波長選択特性の一例である。図9に示すように、エタロンフィルタの波長選択特性は、横軸に波長、縦軸に光の出力強度を割り当て、波長λのレーザ光を入力した際の出力強度をP0とすると、入力波長が−Δλ変動すると、出力強度はP+に増加する。一方、入力波長が+Δλ変動すると、出力強度はP−に低下する。従って、エタロンフィルタが出力する第一のモニタ光の強度は、レーザ光の波長の変動に伴って変動するので、この第一のモニタ光の変動量を検出すれば、レーザ光の波長の変動を認識することが出来る。
【0006】
一方、フォトダイオード7により検出される第一のモニタ光は、半導体レーザダイオード1の波長変動の他、レーザ光の強度が変動しても変化する。そこで、半導体レーザダイオード1のレーザ光の強度変化を検出するため、分岐素子5が出射する第二のモニタ光を、フォトダイオード8により直接検出し、半導体レーザモジュールに外付けする制御部(図示していない)において、前記フォトダイオード7が出力する電気信号とフォトダイオード8が出力する電気信号とを比較することにより、フォトダイオード7による検出出力の変化が、波長変動によるものか、或いは強度変動によるものかを識別する。そこで、フォトダイオード7とフォトダイオード8の検出結果により、前記制御部は、半導体レーザダイオード1の駆動部(図示していない)を制御し、所定の動作を行ってレーザ光を安定化させる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、半導体レーザモジュールにはエタロンフィルタが用いられており、エタロンフィルタの材質には、従来、石英、或いは水晶からなる基板が使用されていた。
しかしながら、従来の石英、或いは水晶からなる基板を用いたエタロンフィルタは、温度特性が、石英エタロンフィルタであれば約10pm/℃、水晶エタロンフィルタであれば約5.3pm/℃を有しており、DWDM通信に代表される半導体レーザモジュールに要求される温度特性としては対応が困難となっている。一般的に、近年の半導体レーザモジュールに要求される温度特性は、3pm/℃程度である。
そこで本発明は、上述したような問題を解決するためになされたものであって、エタロンフィルタの温度特性を改良することにより、温度特性3pm/℃以下を満足する半導体レーザモジュールを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明に係わる半導体レーザモジュールは、以下の構成をとる。
請求項1記載の半導体レーザモジュールは、所定の波長のレーザ光を出射する半導体レーザダイオードと、該半導体レーザダイオードが出射するレーザ光を集光する第一のレンズと、該第一のレンズが集光したレーザ光を入射して外部に出力する光ファイバーと、前記半導体レーザダイオードが出射するモニタ光を平行ビーム化する第二のレンズと、該第二のレンズが出射するモニタ光を二つのレーザ光に分岐する分岐素子と、該分岐素子が出射する第一のモニタ光を入射して波長選択するエタロンフィルタと、該エタロンフィルタが出射する第一のモニタ光を電気信号に変換する第一のフォトダイオードと、前記分岐素子が出射する第二のモニタ光を電気信号に変換する第二のフォトダイオードとにより構成する半導体レーザモジュールにおいて、前記エタロンフィルタが、LiTaO3からなる基板を用いるよう構成する。
【0009】
請求項2記載の半導体レーザモジュールは、前記分岐素子が、ビームスプリッタであるよう構成する。
【0010】
請求項3記載の半導体レーザモジュールは、前記分岐素子が、分岐プリズムであるよう構成する。
【0011】
請求項4記載の半導体レーザモジュールは、所定の波長のレーザ光を出射する半導体レーザダイオードと、該半導体レーザダイオードが出射するレーザ光を平行ビーム化する第一のレンズと、該第一のレンズが出射する平行ビームを分岐する反射型分岐素子と、該反射型分岐素子が透過して出射するレーザ光を集光する第二のレンズと、該第二のレンズが集光したレーザ光を入射して外部に出力する光ファイバーと、前記反射型分岐素子が反射する第一のモニタ光を入射して波長選択するエタロンフィルタと、該エタロンフィルタが出射する第一のモニタ光を電気信号に変換する第一のフォトダイオードと、前記反射型分岐素子が反射する第二のモニタ光を電気信号に変換する第二のフォトダイオードとにより構成する半導体レーザモジュールにおいて、前記エタロンフィルタが、LiTaO3からなる基板を用いるよう構成する。
【0012】
請求項5記載の半導体レーザモジュールは、所定の波長のレーザ光を出射する半導体レーザダイオードと、該半導体レーザダイオードが出射するレーザ光を平行ビーム化する第一のレンズと、該第一のレンズが出射する平行ビームを入射して波長選択するエタロンフィルタと、該エタロンフィルタが出射するレーザ光を入射すると共に後段より反射する反射光を遮断するアイソレータと、該アイソレータが出射するレーザ光を集光する第二のレンズと、該第二のレンズが集光したレーザ光を入射して外部に出力する光ファイバーとにより構成する半導体レーザモジュールにおいて、前記エタロンフィルタが、LiTaO3からなる基板を用いるよう構成する。
【0013】
請求項6記載の半導体レーザモジュールは、前記エタロンフィルタが、LiTaO3からなる基板に導電性膜を施し、該導電性膜を電気的接地するよう構成する。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、図示した実施例に基づいて本発明を詳細に説明する。
本実施例においては、従来から使用されている石英、或いは水晶からなる基板を用いたソリッドエタロンフィルタに代えて、温度特性が約3pm/℃以下を実現可能なLiTaO3(タンタル酸リチウム)からなる基板を用いたソリッドエタロンフィルタを半導体レーザモジュールに内蔵した。
【0015】
図1は、本発明に係る半導体レーザモジュールの第一の実施例を示す機能図である。図1は、本実施例の説明に必要な機能について記載しており、半導体レーザモジュールは、半導体レーザダイオード1と、レーザ光を集光するレンズ2と、光ファイバー3と、半導体レーザダイオード1が出射するモニタ光を平行ビーム化するレンズ4と、モニタ光を分岐する分岐素子5と、分岐された第一のモニタ光を所定の波長選択特性でフィルタリングするソリッドエタロンフィルタ9と、波長選択された第一のモニタ光の強度を検出するフォトダイオード7と、分岐された第二のモニタ光の強度を検出するフォトダイオード8とにより構成する。又、ソリッドエタロンフィルタ9は、LiTaO3からなる基板を使用すると共に、基板に導電性膜を施した後電気的に接地しており、その温度特性は、3pm/℃以下の性能を有している。
【0016】
次に、半導体レーザモジュールの動作を説明すると、半導体レーザダイオード1が出射するレーザ光は、レンズ2により集光され光ファイバー3より出力される。一方、半導体レーザダイオード1が出射するモニタ光は、レンズ4により平行ビーム化されて分岐素子5に入力する。分岐素子5は、この例では分岐プリズムを用いており、入射光を分岐して第一のモニタ光と第二のモニタ光とを出射し、第一のモニタ光は、ソリッドエタロンフィルタ9において波長の選択が行われる。エタロンフィルタ9が出射する第一のモニタ光は、フォトダイオード7に入力して光信号を電気信号に変換する。フォトダイオード7が出力する電気信号は、半導体レーザダイオード1の波長の変動に対応した電気信号となり、該電気信号を半導体レーザモジュールに外付けする半導体レーザダイオード1の駆動部(図示していない)にフィードバックし、波長のコントロールを行う。
【0017】
一方、フォトダイオード7により検出される光信号は、半導体レーザダイオード1の波長変動の他、レーザ光の強度が変動しても変化する。そこで、半導体レーザダイオード1が出射するレーザ光の強度変化を検出するため、分岐素子5が出射する第二のモニタ光を、フォトダイオード8により直接検出し、半導体レーザモジュールに外付けする制御部(図示していない)において、前記フォトダイオード7が出力する電気信号とフォトダイオード8が出力する電気信号とを比較することにより、フォトダイオード7による検出出力の変化が、波長変動によるものか、或いは強度変動によるものかを識別する。そこで、フォトダイオード7とフォトダイオード8の検出結果により、前記制御部は、半導体レーザダイオード1の駆動部を制御し、所定の動作を行ってレーザ光の温度特性を安定化させる。
【0018】
図2は、本発明に係わる半導体レーザモジュールに内蔵するソリッドエタロンフィルタの構成図であり、図2(a)は、ソリッドエタロンフィルタの構造を示し、図2(b)は、ソリッドエタロンフィルタを電気的に接地した図を示す。本ソリッドエタロンフィルタ9は、基板10としてLiTaO3を用い、温度特性を安定化すると共に基板10の強度を強化するため、基板10の表面に導電性膜を施したことが特徴である。そこで、基板10の入出射面には、透明導電性膜11を成膜し、基板10の周囲側面には導電性膜12を成膜している。
【0019】
LiTaO3は、焦電効果により入出射面に電荷が発生して分極することにより屈折率が変化し、温度特性が劣化する性質があり、基板10の入出射面に透明導電性膜11を施し、更に基板10の周囲側面にも導電性膜12を施して入出射面の透明導電性膜11を短絡し、電気的に接地することにより温度特性を安定化させた。
一方、基板10の入出射面には、透明導電性膜11の表面に、反射膜13を所定の方法で成膜しており、基板10は、ソリッドエタロンフィルタとして機能する。
【0020】
尚、第一の実施例においては、基板の表面に導電性膜を施した後、入出射面に反射膜を成膜したが、変形例として、基板の入出射面に反射膜を施した後、基板の表面に導電性膜を成膜する方法、或いは、入出射面に施す反射膜を導電性のものにする方法等を採用しても良い。
【0021】
図3に、本発明に係わる半導体レーザモジュールに内蔵するソリッドエタロンフィルタの温度特性の一例を示す。図3に示す如く、基板材料としてLiTaO3を用い、基板の表面に導電性膜を施して電気的に接地することにより所望の3pm/℃以下の温度特性が実現可能である。
【0022】
図4は、本発明に係わる半導体モジュールの第一の実施例に対する変形例を示す機能図である。図4は、本実施例の説明に必要な機能について記載しており、半導体レーザモジュールは、半導体レーザダイオード1と、レーザ光を集光するレンズ2と、光ファイバー3と、半導体レーザダイオード1が出射するモニタ光を平行ビーム化するレンズ4と、モニタ光を二方向に分岐するビームスプリッタ14と、分岐された第一のモニタ光を所定の波長選択特性でフィルタリングするソリッドエタロンフィルタ9と、波長選択された第一のモニタ光の強度を検出するフォトダイオード7と、分岐された第二のモニタ光の強度を検出するフォトダイオード8とにより構成する。又、ソリッドエタロンフィルタ9は、LiTaO3からなる基板を使用しており、その温度特性は、3pm/℃以下の性能を有している。
図4は、図1に示した第一の実施例と比べ、分岐素子としてモニタ光を二方向に分岐するビームスプリッタ14を使用したことのみが異なる例であり、他の動作は、第一の実施例と同一である。
【0023】
図5は、本発明に係わる半導体モジュールの第二の実施例を示す機能図である。図5は、本実施例の説明に必要な機能について記載しており、半導体レーザモジュールは、半導体レーザダイオード1と、レーザ光を平行ビーム化するレンズ4と、レーザ光を二方向に分岐する反射型分岐素子15と、反射型分岐素子15を透過したレーザ光を集光するレンズ2と、レンズ2が出射するレーザ光を外部に出力する光ファイバー3と、反射型分岐素子15が反射した第一のモニタ光を所定の波長選択特性でフィルタリングするソリッドエタロンフィルタ9と、波長選択された第一のモニタ光と、反射型分岐素子15が反射した第二のモニタ光の強度を検出する二連型のフォトダイオード16とにより構成する。又、ソリッドエタロンフィルタ9は、LiTaO3からなる基板を使用すると共に、基板に導電性膜を施した後電気的に接地しており、その温度特性は、3pm/℃以下の性能を有している。
【0024】
図5の動作を説明すると、半導体レーザダイオード1が出射するレーザ光は、レンズ4により平行ビーム化された後、反射型分岐素子15に入力され、光信号となるレーザ光は、反射型分岐素子15を透過してレンズ2により集光され、光ファイバー3に入射して外部に出力される。一方、反射型分岐素子15により反射されたレーザ光はモニタ光となり、第一のモニタ光は、ソリッドエタロンフィルタ9に入射し、波長の選択を行う。波長選択された第一のモニタ光は、二連フォトダイオード16の片側に入力し、光信号を電気信号に変換すると共に、反射型分岐素子15により反射された第二のモニタ光は、直接二連フォトダイオード16のもう一方の片側に入力し、光信号を電気信号に変換する。そこで、前記二連フォトダイオード16が出力する二つの電気信号を比較することにより、電気信号の変化が、レーザ光の波長変動によるものか、或いは強度変動によるものかを識別し、識別結果により、半導体レーザモジュールに外付けする制御部(図示していない)が、同じく半導体レーザモジュールに外付けする半導体レーザダイオード1の駆動部(図示していない)を制御し、所定の動作を行ってレーザ光の温度特性を安定化させる。
【0025】
図6は、本発明に係わる半導体モジュールの第三の実施例を示す機能図である。図6は、本実施例の説明に必要な機能について記載しており、半導体レーザモジュールは、半導体レーザダイオード1と、レーザ光を平行ビーム化するレンズ4と、平行ビーム化したレーザ光を所定の波長選択特性でフィルタリングするソリッドエタロンフィルタ9と、波長選択したレーザ光を通過すると共に後段から反射する反射光を遮断するアイソレータ17と、アイソレータ17が出射するレーザ光を集光するレンズ2と、レンズ2が出射するレーザ光を入射し外部に出力する光ファイバー3とにより構成する。又、ソリッドエタロンフィルタ9は、LiTaO3からなる基板を使用すると共に、基板に導電性膜を施した後電気的に接地しており、その温度特性は、3pm/℃以下の性能を有している。
【0026】
図6の動作を説明すると、半導体レーザダイオード1が出射するレーザ光は、レンズ4により平行ビーム化された後、エタロンフィルタ9に入射され、透過特性が波長に依存する特性を有したエタロンフィルタ9により、半導体レーザダイオード1が出射するレーザ光の変調歪を低減する。次に、エタロンフィルタ9が出射するレーザ光をアイソレータ17に入射し、光ファイバー等、アイソレータ17の後段から反射する反射光を遮断する。アイソレータ17から出射するレーザ光は、レンズ2に入射して集光し、更に、光ファイバー3に入射して外部に出力する。従って、本実施例によれば、エタロンフィルタ9の温度特性は、3pm/℃以下の性能を有しており、周囲温度の変動に対して安定した半導体レーザダイオードの変調歪の補償が可能となる。
【0027】
【発明の効果】
上述したように請求項1乃至4記載の発明は、ソリッドエタロンフィルタの基板材料として、LiTaO3を用いたために、ソリッドエタロンフィルタの温度特性は、DWDM通信に代表される半導体レーザモジュールに要求される3pm/℃以下を満たしており、半導体レーザモジュールの温度特性を向上する上で著しい効果を発揮する。
【0028】
請求項5記載の発明は、ソリッドエタロンフィルタの基板材料として、LiTaO3を用いたために、ソリッドエタロンフィルタの温度特性は、3pm/℃以下を満たしており、温度変動に対する半導体レーザダイオードの変調歪の補償を行う上で著しい効果を発揮する。
【0029】
請求項6記載の発明は、ソリッドエタロンフィルタを構成するLiTaO3基板に導電性膜を施し、この導電性膜を電気的に接地したため、ソリッドエタロンフィルタの温度特性を安定化すると共に基板構造が強化され、半導体レーザモジュールの性能を向上する上で著しい効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体レーザモジュールの第一の実施例を示す機能図である。
【図2】本発明に係わる半導体レーザモジュールに内蔵するソリッドエタロンフィルタの構成図である。
【図3】本発明に係わる半導体レーザモジュールに内蔵するソリッドエタロンフィルタの温度特性の一例である。
【図4】本発明に係わる半導体モジュールの第一の実施例に対する変形例を示す機能図である。
【図5】本発明に係わる半導体モジュールの第二の実施例を示す機能図である。
【図6】本発明に係わる半導体モジュールの第三の実施例を示す機能図である。
【図7】従来の半導体レーザモジュールの例を示す機能図である。
【図8】エタロンフィルタの波長選択特性の一例である。
【符号の説明】
1・・半導体レーザダイオード、 2・・レンズ、
3・・光ファイバー、 4・・レンズ、
5・・分岐素子、 6・・エタロンフィルタ、
7・・フォトダイオード、 8・・フォトダイオード、
9・・ソリッドエタロンフィルタ、10・・基板、
11・・透明導電性膜、 12・・導電性膜、
13・・反射膜、 14・・ビームスプリッタ、
15・・反射型分岐素子、 16・・二連フォトダイオード、
17・・アイソレータ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a semiconductor laser module, and more particularly to a semiconductor laser module having a built-in etalon filter for controlling the wavelength of a semiconductor laser diode used as a light source for WDM communication.
[0002]
[Prior art]
With the rapid spread of the Internet, large volumes of data such as images have been frequently transferred. For this reason, there is an urgent need to increase the capacity of the transmission path, and communication by the high-density wavelength division multiplexing (hereinafter, referred to as DWDM) system for multiplexing and transmitting optical signals of many wavelengths onto one existing optical fiber cable has been commercialized. Every year, the density is being increased. In order to multiplex optical signals of many wavelengths on one optical fiber, it is necessary to keep the optical signals at a constant wavelength, and the semiconductor laser diode as the light source must operate stably with high accuracy. Can be Since a semiconductor laser diode has the property that the wavelength of the emitted laser light changes due to factors such as temperature, it generally has the function of detecting and controlling the fluctuation of the wavelength of the laser light to keep the wavelength constant. Semiconductor laser module is used.
[0003]
FIG. 8 is a functional diagram showing an example of a conventional semiconductor laser module proposed in Japanese Patent No. 2835068. The semiconductor laser module includes a semiconductor laser diode 1, a
[0004]
Next, the operation of the semiconductor laser module will be described. Laser light emitted from the semiconductor laser diode 1 is condensed by the
[0005]
FIG. 9 shows an example of the wavelength selection characteristics of the etalon filter. As shown in FIG. 9, the wavelength selection characteristic of the etalon filter is such that the wavelength is assigned to the horizontal axis and the output intensity of light is assigned to the vertical axis, and the output intensity when laser light of wavelength λ is input is P0. With -Δλ variation, the output intensity increases to P +. On the other hand, when the input wavelength fluctuates by + Δλ, the output intensity decreases to P−. Therefore, since the intensity of the first monitor light output from the etalon filter fluctuates with the fluctuation of the wavelength of the laser light, the fluctuation of the wavelength of the laser light is detected by detecting the fluctuation amount of the first monitor light. You can recognize.
[0006]
On the other hand, the first monitor light detected by the
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, the etalon filter is used in the semiconductor laser module, and a substrate made of quartz or quartz has been conventionally used as a material of the etalon filter.
However, a conventional etalon filter using a substrate made of quartz or quartz has a temperature characteristic of about 10 pm / ° C. for a quartz etalon filter and about 5.3 pm / ° C. for a quartz etalon filter. However, it is difficult to cope with the temperature characteristics required for a semiconductor laser module represented by DWDM communication. Generally, a temperature characteristic required for a recent semiconductor laser module is about 3 pm / ° C.
Accordingly, the present invention has been made to solve the above-described problem, and an object of the present invention is to provide a semiconductor laser module satisfying a temperature characteristic of 3 pm / ° C. or less by improving a temperature characteristic of an etalon filter. Aim.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a semiconductor laser module according to the present invention has the following configuration.
A semiconductor laser module according to claim 1, wherein the semiconductor laser diode emits laser light of a predetermined wavelength, the first lens collects laser light emitted by the semiconductor laser diode, and the first lens collects. An optical fiber that receives the emitted laser light and outputs the same to the outside; a second lens that converts the monitor light emitted by the semiconductor laser diode into a parallel beam; and a monitor light emitted by the second lens is two laser lights. , An etalon filter that receives the first monitor light emitted by the branch element and selects a wavelength, and a first photo that converts the first monitor light emitted by the etalon filter into an electric signal A semiconductor laser module including a diode and a second photodiode that converts a second monitor light emitted by the branch element into an electric signal. There are, the etalon filter is configured to use a substrate made of LiTaO 3.
[0009]
According to a second aspect of the present invention, in the semiconductor laser module, the branch element is a beam splitter.
[0010]
The semiconductor laser module according to
[0011]
The semiconductor laser module according to
[0012]
The semiconductor laser module according to
[0013]
According to a sixth aspect of the present invention, in the semiconductor laser module, the etalon filter is configured such that a conductive film is applied to a substrate made of LiTaO 3 and the conductive film is electrically grounded.
[0014]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiments.
In the present embodiment, instead of a solid etalon filter using a substrate made of quartz or quartz conventionally used, it is made of LiTaO 3 (lithium tantalate) capable of realizing a temperature characteristic of about 3 pm / ° C. or less. A solid etalon filter using a substrate was built in the semiconductor laser module.
[0015]
FIG. 1 is a functional diagram showing a first embodiment of a semiconductor laser module according to the present invention. FIG. 1 illustrates functions necessary for the description of the present embodiment. In the semiconductor laser module, a semiconductor laser diode 1, a
[0016]
Next, the operation of the semiconductor laser module will be described. Laser light emitted from the semiconductor laser diode 1 is condensed by the
[0017]
On the other hand, the optical signal detected by the
[0018]
FIG. 2 is a configuration diagram of a solid etalon filter incorporated in a semiconductor laser module according to the present invention. FIG. 2A shows a structure of the solid etalon filter, and FIG. FIG. The solid etalon filter 9 is characterized in that LiTaO 3 is used as the
[0019]
LiTaO 3 has a property that a charge is generated on the input / output surface due to the pyroelectric effect and polarized, thereby changing the refractive index and deteriorating the temperature characteristics, and the transparent
On the other hand, on the input / output surface of the
[0020]
In the first embodiment, after the conductive film is formed on the surface of the substrate, the reflective film is formed on the incident / exit surface, but as a modified example, after the reflective film is formed on the incident / exit surface of the substrate. Alternatively, a method of forming a conductive film on the surface of the substrate, or a method of making the reflective film applied to the input / output surface conductive, may be employed.
[0021]
FIG. 3 shows an example of a temperature characteristic of a solid etalon filter incorporated in the semiconductor laser module according to the present invention. As shown in FIG. 3, a desired temperature characteristic of 3 pm / ° C. or less can be realized by using LiTaO 3 as a substrate material, applying a conductive film on the surface of the substrate, and electrically grounding the substrate.
[0022]
FIG. 4 is a functional diagram showing a modification of the first embodiment of the semiconductor module according to the present invention. FIG. 4 illustrates functions necessary for the description of the present embodiment. The semiconductor laser module includes a semiconductor laser diode 1, a
FIG. 4 is an example that differs from the first embodiment shown in FIG. 1 only in that the
[0023]
FIG. 5 is a functional diagram showing a second embodiment of the semiconductor module according to the present invention. FIG. 5 illustrates functions necessary for the description of the present embodiment. The semiconductor laser module includes a semiconductor laser diode 1, a
[0024]
5, the laser beam emitted from the semiconductor laser diode 1 is converted into a parallel beam by the
[0025]
FIG. 6 is a functional diagram showing a third embodiment of the semiconductor module according to the present invention. FIG. 6 illustrates functions necessary for the description of the present embodiment. The semiconductor laser module includes a semiconductor laser diode 1, a
[0026]
6, the laser beam emitted from the semiconductor laser diode 1 is converted into a parallel beam by the
[0027]
【The invention's effect】
As described above, in the inventions according to claims 1 to 4, since LiTaO 3 is used as the substrate material of the solid etalon filter, the temperature characteristics of the solid etalon filter are required for a semiconductor laser module represented by DWDM communication. Since it satisfies 3 pm / ° C. or less, it has a remarkable effect in improving the temperature characteristics of the semiconductor laser module.
[0028]
In the invention according to
[0029]
According to the sixth aspect of the present invention, since a conductive film is formed on the LiTaO 3 substrate constituting the solid etalon filter and the conductive film is electrically grounded, the temperature characteristics of the solid etalon filter are stabilized and the substrate structure is strengthened. Thus, it has a remarkable effect in improving the performance of the semiconductor laser module.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a functional diagram showing a first embodiment of a semiconductor laser module according to the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram of a solid etalon filter incorporated in a semiconductor laser module according to the present invention.
FIG. 3 is an example of a temperature characteristic of a solid etalon filter incorporated in a semiconductor laser module according to the present invention.
FIG. 4 is a functional diagram showing a modification of the first embodiment of the semiconductor module according to the present invention.
FIG. 5 is a functional diagram showing a second embodiment of the semiconductor module according to the present invention.
FIG. 6 is a functional diagram showing a third embodiment of the semiconductor module according to the present invention.
FIG. 7 is a functional diagram showing an example of a conventional semiconductor laser module.
FIG. 8 is an example of a wavelength selection characteristic of an etalon filter.
[Explanation of symbols]
1. Semiconductor laser diode, 2. Lens,
3. optical fiber, 4. lens,
5 ··· branch element, 6 ··· etalon filter,
7. Photodiode, 8. Photodiode,
9. Solid etalon filter, 10. Board,
11 ··· Transparent conductive film, 12 ··· Conductive film,
13 .... reflection film, 14 .... beam splitter,
15 ・ ・ Reflection type branch element 、 16 ・ ・ Duplex photodiode,
17. Isolator
Claims (6)
該半導体レーザダイオードが出射するレーザ光を集光する第一のレンズと、
該第一のレンズが集光したレーザ光を入射して外部に出力する光ファイバーと、
前記半導体レーザダイオードが出射するモニタ光を平行ビーム化する第二のレンズと、
該第二のレンズが出射するモニタ光を二つのレーザ光に分岐する分岐素子と、
該分岐素子が出射する第一のモニタ光を入射して波長選択するエタロンフィルタと、
該エタロンフィルタが出射する第一のモニタ光を電気信号に変換する第一のフォトダイオードと、
前記分岐素子が出射する第二のモニタ光を電気信号に変換する第二のフォトダイオードとにより構成する半導体レーザモジュールにおいて、
前記エタロンフィルタが、LiTaO3からなる基板を用いたものであることを特徴とする半導体レーザモジュール。A semiconductor laser diode that emits laser light of a predetermined wavelength,
A first lens for condensing the laser light emitted by the semiconductor laser diode,
An optical fiber for entering the laser light focused by the first lens and outputting the laser light to the outside,
A second lens that converts the monitor light emitted by the semiconductor laser diode into a parallel beam,
A branch element that branches the monitor light emitted by the second lens into two laser lights,
An etalon filter for selecting the wavelength by entering the first monitor light emitted by the branch element,
A first photodiode that converts the first monitor light emitted by the etalon filter into an electric signal,
In a semiconductor laser module configured by a second photodiode that converts the second monitor light emitted by the branch element into an electric signal,
A semiconductor laser module, wherein the etalon filter uses a substrate made of LiTaO 3 .
該半導体レーザダイオードが出射するレーザ光を平行ビーム化する第一のレンズと、
該第一のレンズが出射する平行ビームを分岐する反射型分岐素子と、
該反射型分岐素子が透過して出射するレーザ光を集光する第二のレンズと、
該第二のレンズが集光したレーザ光を入射して外部に出力する光ファイバーと、
前記反射型分岐素子が反射する第一のモニタ光を入射して波長選択するエタロンフィルタと、
該エタロンフィルタが出射する第一のモニタ光を電気信号に変換する第一のフォトダイオードと、
前記反射型分岐素子が反射する第二のモニタ光を電気信号に変換する第二のフォトダイオードとにより構成する半導体レーザモジュールにおいて、
前記エタロンフィルタが、LiTaO3からなる基板を用いたものであることを特徴とする半導体レーザモジュール。A semiconductor laser diode that emits laser light of a predetermined wavelength,
A first lens that converts the laser light emitted by the semiconductor laser diode into a parallel beam,
A reflective splitting element for splitting a parallel beam emitted by the first lens,
A second lens that condenses the laser light transmitted and emitted by the reflective branch element,
An optical fiber for emitting the laser light collected by the second lens and outputting the laser light to the outside,
An etalon filter that selects the wavelength by entering the first monitor light reflected by the reflective branch element,
A first photodiode that converts the first monitor light emitted by the etalon filter into an electric signal,
In a semiconductor laser module configured by a second photodiode that converts the second monitor light reflected by the reflective branch element into an electric signal,
A semiconductor laser module, wherein the etalon filter uses a substrate made of LiTaO 3 .
該半導体レーザダイオードが出射するレーザ光を平行ビーム化する第一のレンズと、
該第一のレンズが出射する平行ビームを入射して波長選択するエタロンフィルタと、
該エタロンフィルタが出射するレーザ光を入射すると共に後段より反射する反射光を遮断するアイソレータと、
該アイソレータが出射するレーザ光を集光する第二のレンズと、
該第二のレンズが集光したレーザ光を入射して外部に出力する光ファイバーとにより構成する半導体レーザモジュールにおいて、
前記エタロンフィルタが、LiTaO3からなる基板を用いたものであることを特徴とする半導体レーザモジュール。A semiconductor laser diode that emits laser light of a predetermined wavelength,
A first lens that converts the laser light emitted by the semiconductor laser diode into a parallel beam,
An etalon filter for selecting a wavelength by entering a parallel beam emitted by the first lens,
An isolator that receives the laser beam emitted by the etalon filter and blocks reflected light reflected from a subsequent stage;
A second lens for condensing the laser light emitted by the isolator,
A semiconductor laser module comprising: an optical fiber that receives the laser light focused by the second lens and outputs the laser light to the outside;
A semiconductor laser module, wherein the etalon filter uses a substrate made of LiTaO 3 .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002341845A JP2004179278A (en) | 2002-11-26 | 2002-11-26 | Semiconductor laser module |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2002341845A JP2004179278A (en) | 2002-11-26 | 2002-11-26 | Semiconductor laser module |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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ID=32704057
Family Applications (1)
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Country Status (1)
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