JP2004177129A - Apparatus for measuring image position deviation, method for measuring image position deviation, program for measuring image position deviation, and storage medium for storing the program - Google Patents

Apparatus for measuring image position deviation, method for measuring image position deviation, program for measuring image position deviation, and storage medium for storing the program Download PDF

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Mitsumasa Nomoto
光正 野本
Fumihiro Nakashige
文宏 中重
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an environment for precisely inspecting position deviations in the directions of main and sub scannings simultaneously, and especially inspecting the position deviation in the direction of the sub scanning without being affected by an image inputting apparatus. <P>SOLUTION: An image position deviation measuring instrument having an image inputting means for imaging an arbitrary subject two-dimensionally comprises an image storage means for storing image signals acquired from the image inputting means; an image signal computing means for acquiring image signals from the image storage means for computing; an image position deviation calculation means for calculating the position deviation of images to the image signal obtained by setting output images being outputted from the image outputting apparatus to the image inputting means; a means for acquiring the amount of position deviation of a reference pattern; and an image position deviation correction means for correcting the input error of the image inputting means. By measuring the position deviation of the output image of the image outputting apparatus to be inspected, a read error is calculated by the simultaneously measured reference pattern, and position deviation is corrected, thus performing precise judgement of conforming or nonconforming articles by a standard value. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査対象である画像出力装置の出力画像の位置ずれを計測することにより、同時に計測した基準パターンにより読取誤差を算出し、前記位置ずれを補正する画像位置ずれ計測装置、画像位置ずれ計測方法、画像位置ずれ計測プログラムおよび画像位置ずれ計測プログラムを格納した記憶媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種類の装置としては、例えば、特許文献1記載の「画素の位置誤差測定装置」がある。これは読取画像データにウィンドウを設定して、白地上に45〜の角度の多数の黒の斜線パターンが副走査方向に等ピッチに形成されている斜線パターンの存在を判別すると、ウィンドウを斜線の角度の方向に順次シフトし、各ウィンドウ内における斜線の位置変化に基づいて副走査方向の画素の位置誤差を測定する装置である。
【0003】
しかし、特許文献1記載の技術は、ウィンドウにおける各画素の読取値の重心を計算して位置誤差を測定しているので、原稿面のゴミなどによる読取画像データの雑音に弱く、測定精度が劣化しやすいという問題があった。また、ウィンドウ内の面積重心を計算して位置誤差を測定するので、撮像素子の分解能より細かい精度での位置ずれに関して述べられていなかった。
【0004】
また、特願2001−85450号記載の技術は、特許文献1記載の問題に鑑みて発明したもので、前記光学系の走査方向に水平かつ垂直方向ではない方向に均一な濃度で、かつその方向と垂直方向に均一でない濃度を有する原稿により、任意の列の画素と当該画素と隣接する画素の位置ずれを算出する機能と、対象データ列に対して各データをなめらかに結合する数値演算を施す事で、データ間を補間するデータ補間機能を備えた装置を用いる。その目的とするのは、副走査方向の位置ずれを迅速に高精度に検査することが可能な環境を提供することにある。
【0005】
【特許文献1】
特開平9−98255号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、特願2001−85450号記載の発明は、対象となる原稿をデジタルカメラまたはスキャナ等の画像入力装置を用いた副走査方向の位置ずれを評価する装置であるため、読取時に画像入力装置の読取誤差を含んでしまい、主走査方向の位置ずれを検査することについてふれていなかった。また、主・副走査方向の位置ずれを同時に検出することができなかった。また、いわゆる斜線パターンを用いているため、必ず主走査方向の位置ずれ成分(スキャナ内部に搭載されている折り返しミラーのたわみや撮像素子の振動など)が含まれるので、高精度に副走査方向のみの位置ずれを計測することができなかった。
【0007】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、計測可能な基準パターンを計測対象とともに配置し、画像出力装置から出力された原稿画像の位置ずれと基準パターン画像の位置ずれを算出する機能と、計測対象である出力原稿画像の位置ずれデータから基準パターン画像の位置ずれを引くことで読取誤差を補正する機能と斜線パターンから得られる副走査方向の位置ずれ結果から主走査方向の位置ずれ成分を除去する機能により、主・副走査方向の位置ずれを同時に、かつ特に副走査方向の位置ずれを、画像入力装置の影響を受けずに、高精度に検査することが可能な環境を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1記載の発明は、任意の被写体を2次元に撮像する画像入力手段を有する画像位置ずれ計測装置において、前記画像入力手段から取得される画像信号を記憶する画像記憶手段と、前記画像記憶手段から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算手段と、画像出力装置から出力された出力画像を前記画像入力手段にセットして得られた画像信号に対し、画像の位置ずれを計算する画像位置ずれ算出手段と、基準パターンの位置ずれ量を取得する基準パターン位置ずれ量取得手段と、前記画像入力手段の入力誤差を補正する画像位置ずれ補正手段とを有することを特徴としている。
【0009】
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記基準パターン位置ずれ量取得手段は、基準パターンの位置ずれを算出する基準パターン位置ずれ算出手段を有することを特徴としている。
【0010】
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明において、前記画像信号演算手段は、計測対象である画像出力装置から出力された出力画像が、前記画像出力装置の副走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、前記画像出力装置の副走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一な濃度を有する斜線パターンとが、前記画像出力装置の副走査方向と垂直方向に隣接して配置されたパターンであって、前記出力画像を前記画像入力手段にセットして得られた画像信号における前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域に対し、前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列のデータ列と、前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣のデータ列とを対象に、任意の相対位置にある前記データ列と、前記隣のデータ列とにおいて差分を取り、その絶対値の累積を算出する第1の累積値算出手段とを有し、前記第1の累積値算出手段は、前記相対位置を順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第1の累積値取得手段と、前記第1の累積値算出手段で得られたそれぞれの累積値を比較し、その最小値であるところの位置ずれを算出する第1の最小位置算出手段と、前記第1の最小位置算出手段を前記画像信号全域に順次実施し、各列ごとの相対位置を算出する第1の画像位置ずれ算出手段と、前記斜線パターンに隣接する前記万線パターンの位置ずれを記憶しておく第1の万線位置ずれ記憶手段と、前記斜線パターンの位置ずれと前記万パターンの線位置ずれとを用いて、副走査方向のみの最小位置ずれ量を算出する第1の副走査方向位置ずれ算出手段とを有することを特徴としている。
【0011】
請求項4記載の発明は、請求項1または2記載の発明において、前記基準パターン位置ずれ算出手段は、前記基準パターンが前記画像入力手段の副走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、前記画像入力手段の副走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一な濃度を有する斜線パターンとが、前記画像入力手段の副走査方向と垂直方向に隣接して配置されたパターンであって、前記出力画像を前記画像入力手段にセットして得られた画像信号における前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域に対し、前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列のデータ列と、前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣のデータ列とを対象に、任意の相対位置にある前記データ列と、前記隣のデータ列とにおいて差分を取り、その絶対値の累積を算出する第2の累積値算出手段と、前記第2の累積値算出手段は、前記相対位置を順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第2の累積値取得手段と、前記第2の累積値算出手段で得られたそれぞれの累積値を比較し、その最小値であるところの位置ずれを算出する第2の最小位置算出手段と、前記第2の最小位置算出手段を前記画像信号全域に順次実施し、各列ごとの相対位置を算出する第2の画像位置ずれ算出手段と、前記斜線パターンに隣接する前記万線パターンの位置ずれを記憶しておく第2の万線位置ずれ記憶手段と、前記斜線パターンの位置ずれと前記万パターンの線位置ずれとを用いて、副走査方向のみの最小位置ずれ量を算出する第2の副走査方向位置ずれ算出手段とを有することを特徴としている。
【0012】
請求項5記載の発明は、請求項2または3記載の発明において、前記画像出力装置から出力された出力画像もしくは基準パターンが、前記画像入力装置の解像度よりも大きい万線または斜線パターンであることを特徴としている。
【0013】
請求項6記載の発明は、請求項2または4記載の発明において、前記累積値算出手段または前記基準パターン位置ずれ算出手段は、前記画像信号のデータ列に対して、各データをなめらかに結合する数値演算を施すことで、データ間を補間するデータ補間手段を有し、前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列目のデータ列と、前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣接する画像信号2列目の隣接データ列にパターンに応じた演算処理を行った補正隣接データ列とを対象に、前記主走査方向に垂直な方向において相対位置にある前記データ列と、前記補正隣接データ列とにおいて、前記データ補間手段で算出された補間ピッチごとに差分を取り、その絶対値の累積値を算出し、前記相対位置を前記主走査方向に順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第3の累積値算出手段を有することを特徴としている。
【0014】
請求項7記載の発明は、請求項2記載の発明において、前記画像出力装置から出力された出力画像もしくは基準パターンが、光学系の副走査方向に水平かつ一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンか、または前記原稿の前記光学系の走査方向に水平かつ垂直ではない方向に一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンか、または前記原稿の前記光学系の副走査方向に水平かつ隣合う万線パターンが等ピッチで幅が異なる万線パターンか、または前記原稿の前記光学系の走査方向に水平かつ垂直ではない方向に隣接する万線パターンが等ピッチで幅の異なる斜線パターンか、であることを特徴としている。
【0015】
請求項8記載の発明は、請求項2記載の発明において、前記画像出力装置から出力された出力画像と基準パターンの線幅、線間ピッチが、同一または同等であることを特徴としている。
【0016】
請求項9記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記基準パターン位置ずれ量取得手段は、あらかじめ基準パターン原稿の位置ずれを記憶しておく基準パターン位置ずれ記憶手段を有することを特徴としている。
【0017】
請求項10記載の発明は、請求項1または9記載の発明において、前記画像信号演算手段は、計測対象である画像出力装置から出力された出力画像が、前記画像出力装置の副走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、前記画像出力装置の副走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一な濃度を有する斜線パターンとが、前記画像出力装置の副走査方向と垂直方向に隣接して配置されたパターンであって、前記出力画像を前記画像入力手段にセットして得られた画像信号における前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域に対し、前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列のデータ列と、前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣のデータ列とを対象に、任意の相対位置にある前記データ列と、前記隣のデータ列とにおいて差分を取り、その絶対値の累積を算出する第4の累積値算出手段と、前記第4の累積値算出手段において、前記相対位置を順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第3の累積値取得手段と、前記第4の累積値算出手段で得られたそれぞれの累積値を比較し、その最小値であるところの位置ずれを算出する第3の最小位置算出手段と、前記第3の最小位置算出手段を前記画像信号全域に順次実施し、各列ごとの相対位置を算出する第3の画像位置ずれ算出手段と、前記斜線パターンに隣接する前記万線パターンの位置ずれを記憶しておく第3の万線位置ずれ記憶手段と、前記斜線パターンの位置ずれと、前記万線の位置ずれとを用いて、副走査方向のみの最小位置ずれ量を算出する第3の副走査方向位置ずれ算出手段とを有することを特徴としている。
【0018】
請求項11記載の発明は、請求項9記載の発明において、前記基準パターン位置ずれ記憶手段は、前記基準パターン位置ずれが、前記画像入力手段の副走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンによる主走査方向位置ずれと、前記基準パターン位置ずれが、前記画像入力手段の副走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一な濃度を有する斜線パターンによる副走査方向位置ずれとを記憶することを特徴としている。
【0019】
請求項12記載の発明は、請求項9または10記載の発明において、前記画像出力装置から出力された出力画像もしくは基準パターン原稿が、前記画像入力装置の解像度よりも大きい万線または斜線パターンであることを特徴としている。
【0020】
請求項13記載の発明は、請求項9または11記載の発明において、前記第4の累積値算出手段は、前記画像信号のデータ列に対して、各データをなめらかに結合する数値演算を施すことで、データ間を補間するデータ補間手段を有し、前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列目のデータ列と、前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣接する画像信号2列目の隣接データ列にパターンに応じた演算処理を行った補正隣接データ列とを対象に、前記主走査方向に垂直な方向において相対位置にある前記データ列と、前記補正隣接データ列とにおいて、前記データ補間手段で算出された補間ピッチごとに差分を取り、その絶対値の累積値を算出し、前記相対位置を前記主走査方向に順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第5の累積値算出手段を有することを特徴としている。
【0021】
請求項14記載の発明は、請求項9記載の発明において、前記画像出力装置から出力された出力画像もしくは基準パターン原稿が、光学系の副走査方向に水平かつ一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンか、または前記原稿の前記光学系の走査方向に水平かつ垂直ではない方向に一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンか、または前記原稿の前記光学系の副走査方向に水平かつ隣合う万線パターンが等ピッチで幅が異なる万線パターンか、または前記原稿の前記光学系の走査方向に水平かつ垂直ではない方向に隣接する万線パターンが等ピッチで幅の異なる斜線パターンか、であることを特徴としている。
【0022】
請求項15記載の発明は、請求項9記載の発明において、前記画像出力装置から出力された出力画像と基準パターン原稿の線幅、線間ピッチなどが、同一または同等であることを特徴としている。
【0023】
請求項16記載の発明は、任意の被写体を2次元に撮像する画像入力工程と、前記画像入力工程から取得される画像信号を記憶する画像記憶工程と、前記画像記憶工程から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算工程と、前記画像入力工程から得られた、計測対象とする画像出力装置から出力された出力画像信号に対し、前記画像信号演算工程により画像の読取位置ずれを計算し、前記画像記憶工程に計算結果を格納し、前記画像信号演算工程により、基準パターンの位置ずれを算出し、基準パターンの位置ずれ量を取得する基準パターン位置ずれ量取得工程とを有することを特徴としている。
【0024】
請求項17記載の発明は、請求項16記載の発明において、前記基準パターン位置ずれ量取得工程は、前記画像信号演算工程により基準パターンの位置ずれを算出し、前記画像記憶工程に計算結果を格納し、前記画像記憶工程から前記位置ずれと前記基準パターン位置ずれを読み出して、前記画像信号演算工程により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで位置ずれの誤差を補正することを特徴としている。
【0025】
請求項18記載の発明は、請求項16記載の発明において、前記基準パターン位置ずれ量取得工程は、あらかじめ基準パターン原稿の位置ずれを記憶しておく基準パターン位置ずれ記憶工程と、前記画像記憶工程から位置ずれと、前記基準パターン位置ずれ記憶工程から基準パターン位置ずれとを読み出して、前記画像信号演算工程により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで、位置ずれの誤差を補正することを特徴としている。
【0026】
請求項19記載の発明は、任意の被写体を2次元に撮像する画像入力処理と、前記画像入力処理から取得される画像信号を記憶する画像記憶処理と、前記画像記憶処理から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算処理と、前記画像入力処理から得られた、計測対象とする画像出力装置から出力された出力画像信号に対し、前記画像信号演算処理により画像の読取位置ずれを計算し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、前記画像信号演算処理により、基準パターンの位置ずれを算出し、基準パターンの位置ずれ量を取得する基準パターン位置ずれ量取得処理とをコンピュータに実行させることを特徴としている。
【0027】
請求項20記載の発明は、請求項19記載の発明において、前記基準パターン位置ずれ量取得処理は、前記画像信号演算処理により基準パターンの位置ずれを算出し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、前記画像記憶処理から前記位置ずれと前記基準パターン位置ずれを読み出して、前記画像信号演算処理により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで位置ずれの誤差を補正することをコンピュータに実行させることを特徴としている。
【0028】
請求項21記載の発明は、請求項19記載の発明において、前記基準パターン位置ずれ量取得処理は、あらかじめ基準パターン原稿の位置ずれを記憶しておく基準パターン位置ずれ記憶処理を有し、前記画像記憶処理から前記位置ずれと、前記基準パターン位置ずれ記憶処理から基準パターン位置ずれとを読み出して、前記画像信号演算処理により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで、位置ずれの誤差を補正することをコンピュータに実行させることを特徴としている。
【0029】
請求項22記載の発明は、任意の被写体を2次元に撮像する画像入力処理と、前記画像処理入力手段から取得される画像信号を記憶する画像記憶処理と、前記画像記憶処理から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算処理と、前記画像入力処理から得られた、計測対象とする画像出力装置から出力された出力画像信号に対し、前記画像信号演算処理により画像の読取位置ずれを計算し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、前記画像信号演算処理により基準パターンの位置ずれを算出し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、前記画像記憶処理から前記位置ずれと、前記基準パターン位置ずれとを読み出して、前記画像信号演算処理により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで位置ずれの誤差を補正することをコンピュータに実行させることを特徴としている。
【0030】
請求項23記載の発明は、任意の被写体を2次元に撮像する画像入力処理と、前記画像処理入力手段から取得される画像信号を記憶する画像記憶処理と、前記画像記憶処理から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算処理と、前記画像入力処理から得られた、計測対象とする画像出力装置から出力された出力画像信号に対し、前記画像信号演算処理により画像の読取位置ずれを計算し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、あらじめ基準パターン原稿の位置ずれを記憶しておく基準パターン位置ずれ記憶処理とを有し、前記画像記憶処理から前記位置ずれと、前記基準パターン位置ずれ記憶処理から基準パターン位置ずれとを読み出して、前記画像信号演算処理により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで位置ずれの誤差を補正することをコンピュータに実行させることを特徴としている。
【0031】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面を参照しながら詳細に説明する。
【0032】
図1は、本発明の画像位置ずれ計測装置における全体システム構成を示す図である。このように構成された本発明の装置について以下に説明する。図1は、画像入力部1と、画像表示部2と、画像位置ずれ検査部3と、画像信号入力部4を有し構成されている。また、図2は本発明の画像位置ずれ計測装置のシステム概要を示す図であり、画像入力装置制御部5と、光電変換部6と、A/D変換部7と、シェーディング補正部8と、画像信号出力部9と、画像信号入力部10と、画像処理演算部11と、画像位置ずれ算出部12と、画像表示部13と、画像位置ずれ検査装置制御部14と、記憶メモリ15とを有し構成されている。図3は、本発明の画像入力装置内のレイアウトの一例である。図3は、チャート原稿設置位置16と、基準パターン1 17と、基準パターン2 18とを有し構成されている。
【0033】
本発明の装置は、検査対象である出力画像データを取得する画像入力部1と、例えば画像出力装置の出力画像を設置するチャート原稿設置位置16と、基準パターンが予め基準パターン1 17かつ、または基準パターン2 18と、画像入力部とつながる画像位置ずれ検査部3側の画像信号入力部4と、当該画像信号を記憶する記憶メモリ15と位置ずれなどを算出する画像処理演算12と、演算結果を格納する記憶メモリ15と、前記画像信号演算部で算出された結果を表示する画像表示部2とから構成される装置である。
【0034】
図4は、本発明の画像入力部1の外観を示す図である。図4は、2次元撮像素子19と、レンズ20と、画像信号出力ポート21とを有し構成されている。図5は、本発明の画像入力部1の構造を示す図である。図5は、原稿設置場所23と、走行体1 24と、走行体2 25と、レンズ26と、1次元撮像素子27と、モータ28と、駆動伝達手段29と、画像信号出力ポート30と有し構成されている。図6は、本発明の画像入力部1の構造図であり、ランプ31と、リフレクター32と、撮像領域33と、折り返しミラー34と、コンタクトガラス35と、出力画像36とを有し構成されている。
【0035】
例えば、画像入力部1そのものは、2次元撮像素子19、例えば光を受けると電子を放出する半導体を2次元配列したCCDと、前記CCD上に像を結合するレンズ20とで構成され、2次元的に画像を取り込み、当該画像信号を画像出力ポート23から信号を出力するデジタルカメラであり、また例えば、出力画像データを設置する原稿設置場所23と、当該設置場所を照明する照明を含む、前記原稿設置場所を走査する走行体1 24と、前記走行体と垂直方向に列を成す1次元撮像素子27、例えば、ラインCCDと、前記画像設置場所を前記ラインCCD上に像を結合するレンズ26とで構成され、前記走行体が前記画像設置場所を1方向に走査することで、ランプ31からでた光が前記画像設置場所に設置された画像を照明し、その反射光が折り返しミラー34とレンズ26を通って、線順次にCCDに結像することで2次元画像として読取り、当該画像信号を画像出力ポート33から信号を出力する縮小光学系を有するスキャナーであり、また例えば、走行体1にランプ31、レンズ26、1次元撮像素子27が一体になっている等倍結像素子が走行することで線順次に2次元画像として読取り、当該画像信号を画像出力ポート33から信号を出力する等倍結像光学系を有するスキャナである。
【0036】
画像位置ずれ算出部12そのものは、キーボード、マウス等を含むコンピュータを用いることにより、各種計算、通信、記憶手段としても使用できる。画像表示装置2は、CRTやLCDを用いる。
【0037】
次に、本発明の画像位置ずれ計測装置の作用について説明する。図7は、デジタルカメラにおける画像信号を取り込む処理を示す図である。前記デジタルカメラの場合、予め出力画像22を設置し、出力画像22からの反射光をレンズ20を通過して、2次元配列撮像素子21で光電変換され、さらに画像信号として取り込まれる。
【0038】
図8、図9は、スキャナにおける画像信号を取込む処理を示す図である。前記スキャナーの場合、コンタクトガラス35上に基準となる出力画像36を設置する(チャート原稿設置位置16)。例えば、基準パターンは、基準パターン1 17、かつ、または基準パターン2 18に配置されている。出力画像を照明する光源であるランプ31が撮像領域33に光を照射し、走行体2 25とそれを追従する走行体1 24が前記出力画像の先頭から終わりまで走査することで折り返しミラー34やレンズ26を反射光が通過して、1次元撮像素子27で光電変換され、さらに画像信号として取り込まれる。
【0039】
画像入力部により出力画像が例えば、CCDより取り込まれる。取り込まれた画像反射光は、CCDにより光電変換部6で光電変換されて、電気信号に変換される。これをA/D変換部7でA/D変換することにより、アナログからデジタルデータとなる。当該データにシェーディング補正部8においてシェーディング補正をかけて、画像信号は画像信号出力10のポートから出力される。画像データは制御部により出力される。
【0040】
当該画像信号は、画像位置ずれ検査部の画像信号入力部10で画像信号入力される。全画像データは、画像記憶メモリ15に格納され、画像位置ずれ検査装置制御部14で同一な走査方向に対して同一位置である副走査方向の画像データを2列ずつ順次出力され、画像処理演算部11でシフトと差分操作が行われる。最大ずらし量は予め与えられている。画像位置ずれ算出部12で注目する2列のより累積ずれ量を算出し、位置ずれの最小値がメモリに格納される。当該全画像位置ずれが、画像表示部13で画像表示され、検査結果が確認できる。
【0041】
<実施例1>
次に本実施例の画像位置ずれ算出手段について、説明する。図10は本実施例の位置ずれ計測フローチャートであり、図11は、本実施例の位置ずれ計測フローチャートであり、図12は、本実施例の主走査方向の位置ずれ計測フローチャートであり、図13は、本実施例の副走査方向の位置ずれ計測フローチャートである。
【0042】
図10に示すように、本実施例の画像位置ずれ補正手段は、画像位置ずれを計測し(ステップS101)、基準パターンの位置ずれを読み出し(ステップS102)、前記位置ずれ算出手段より算出した画像位置ずれデータと基準パターン位置ずれデータから、この読取誤差を差分により取り除き、画像位置ずれデータを補正する(ステップS103)。画像位置ずれ手段により、画像位置ずれを計測する計算は(ステップS101)、画像位置ずれ算出部12により行われる。まず記憶メモリ15から画像出力装置の出力画像である万線パターン或いは斜線パターンの画像データの1列目と(ステップS121、S131)、2列目を読出し(ステップS122、ステップS132)、斜線パターンであれば(図13)、2列目のデータ列にtanθ(θは斜線と副走査とがなす角度)、例えばθは45度、を除算して、原稿パターンの移動分を補正する(ステップS133)。これで得られた画素毎に1列目と2列目の画素データ、例えば、画素のモノクロ階調、8bitで0〜255までの値、の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲で加算し、累積値を算出する(ステップS123、S134)。当該累積値の算出が終了したら、2列目の画像データを例えば右に1画素分シフトし(ステップS124、S135)、1列目と2列目画素を差分した累積値を取得する。
【0043】
当該累積値算出を、例えば、予め設定された最大シフト8とすると、−4画素位置から+4画素位置まで累積値取得を繰り返す。これら最大シフト8回分の累積値の中から最小位置を算出する。位置ずれ算出手段でこれらの操作を画像の最終列まで順次実施し(ステップS125、S136)、各列毎の最小位置を算出する(ステップS126、S137)。これらは例えば、2列目の画素データが配列に入っていれば、1列目と差分を取る配列を順次ずらすことと同じ操作である。例えば、1列で2048画素あるとした時、8回累積値を計算するには、評価範囲を比較中心から2040画素とすれば、2列目を−4から+4まで8回シフトして、累積値算出を行い、それらの最小値を求める。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を取得する。なお、当該画素シフト位置により、最小位置の正負が決まる。算出された最小位置ずれデータを記憶メモリ15に格納する。
【0044】
図14は、本実施例の位置ずれ計測または、基準パターン位置ずれ計測フローチャートである。本発明の累積値算出手段は、記憶メモリ15から前記画像出力装置の出力画像である万線パターン或いは斜線パターンの画像データの1列目と2列目を読出し(ステップS141)、まず、主走査位置ずれを計測し(ステップS145)、次に、副走査位置ずれを計測する(ステップS144)。斜線パターンであれば(ステップS144から図13へ)、2列目のデータ列にtanθ(θは斜線と副走査とがなす角度)、例えばθは45度、を除算して(ステップS133)、原稿パターンの移動分を補正する。これで得られた画素毎に1列目と2列目の画素データ、例えば、画素のモノクロ階調、8bitで0〜255までの値、の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲で加算し、累積値を算出する(ステップS134)。当該累積値の算出が終了したら、2列目の画像データを例えば右に1画素分シフトし(ステップS135)、1列目と2列目画素を差分した累積値を取得する手段である。
【0045】
最小位置算出手段は、当該累積値算出を、例えば、予め設定された最大シフト8とすると、−4画素位置から+4画素位置まで累積値取得を繰り返す。これら最大シフト8回分の累積値の中から最小位置を算出する手段である。
【0046】
位置ずれ算出手段は、これらの操作を画像の最終列まで順次実施し(ステップS136)、各列毎の最小位置を算出する手段である(ステップS137)。これらは例えば、2列目の画素データが配列に入っていれば、1列目と差分を取る配列を順次ずらすことと同じ操作である。例えば、1列で2048画素あるとした時、8回累積値を計算するには、評価範囲を比較中心から2040画素とすれば、2列目を−4から+4まで8回シフトして、累積値算出を行い、それらの最小位置を求める。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を取得する。なお、当該画素シフト位置により、最小位置の正負が決まる。
【0047】
万線最小位置ずれ量記憶手段は、前記位置ずれ算出手段により算出された万線パターンの最小位置ずれデータを記憶しておく手段である(ステップS145)。
【0048】
副走査方向位置ずれ算出手段は、例えば、当該万線最小位置ずれ量記憶から万線最小位置ずれデータを読み出して、当該万線パターンと隣接する斜線パターンの最小位置ずれ量にtanθ乗算して、当該データを引き算する(ステップS146)。当該結果にさらにtanθを除算することで、主走査方向の位置ずれ成分が除去された副走査方向最小位置ずれ量が算出される手段である。結果を記憶メモリ15に格納する(ステップS147)。
【0049】
次に、本実施例の画像出力装置の副走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと前記画像出力装置の副走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一な濃度を有する斜線パターンとが前記画像出力装置の副走査方向と垂直方向に隣接して配置されたパターンの構成を説明する。図15は、本発明の実施例にかかわるチャート原稿の一例である。例えば、前記副走査方向に対して45°の角度をもって等間隔のピッチで白黒斜線パターンが並び、その両側か片側に主走査方向に対して、等間隔のピッチで白黒万線パターンが並ぶものである。
【0050】
万線パターン、斜線パターンの構成は、例えば、主走査方向に対して、等しい線幅でかつ等間隔ピッチで白黒線パターンが並ぶ原稿、例えば、前記副走査方向に対して45°の角度をもって等間隔のピッチで白黒斜線パターンが並ぶ原稿である。または万線パターンと斜線パターンが主走査方向に交互に配置された原稿とする。図16は本発明の実施例にかかわる基準パターンの3例である。
【0051】
次に、本発明の、万線パターンの主走査方向位置ずれと、斜線パターンの副走査方向位置ずれとについて説明する。基準パターン位置ずれ記憶手段から読み出した万線パターンの主走査方向位置ずれと斜線パターンの副走査方向位置ずれを差分することで画像位置ずれデータを補正する。または基準パターンを前記出力画像と同様に、前記万線パターンと前記斜線パターンが並んだパターンとすることで、前記出力画像の位置ずれを演算する請求項5の作用に記載された方法と同様な手順で、基準パターンの位置ずれ誤差を算出して記憶することができる。
【0052】
基準パターン位置ずれ算出手段は、画像記憶メモリから基準パターン部の画像データの1列を読出し、基準パターンに対応した画像位置演算手法により画像の位置ずれを算出する。基準パターン位置と、基準パターンを画像入力部より読み込み演算して求めた画像位置との差から、読取時の誤差を求める。図17は、本発明の実施例にかかわるフローチャートである。まず、データの1列を取り出し(ステップS171)、基準チャートの最初の位置ずれを算出する(ステップS172)。次の位置ずれを算出し(ステップS173)、次の位置ずれをメモリ2に格納する(ステップS174)。メモリ2とメモリ1の差分を取得し(ステップS175)、メモリ2にメモリ1を格納する(ステップS176)。基準チャートの最終列になれば(ステップS177でYes)、処理を終了する。
【0053】
画像位置ずれ補正手段は、前記画像位置ずれ算出手段より算出した画像位置ずれデータから、この読取誤差を差分により取り除き、画像位置ずれデータを補正する。また、基準パターンを前記出力画像と同様に、前記万線パターンと前記斜線パターンが並んだパターンとすることで、前記出力画像の位置ずれを演算する基準パターンの位置ずれ誤差を算出することができる。
【0054】
ここで、万線パターンについて、説明する。図18は、本発明の実施例にかかわる万線パターンと解像度の関係を示す図である。万線パターンとは、前記光学系が走査する方向に水平な方向に等間隔のピッチで、例えば、白黒パターンが並ぶものをいう。このパターンが前記画像入力手段の解像度より大きい万線パターンからなるパターンのことをいう。万線パターンは、パターン幅が前記画像入力手段の解像度より十分大きいことにより、パターンからなる画像の位置ずれ計算の精度が得ることができる。
【0055】
ここで、斜線パターンについて説明する。図19は、本発明の実施例にかかわる斜線パターンと解像度の関係を示す図である。斜線パターンとは、前記光学系の走査方向に水平かつ垂直でもない方向に等間隔のピッチで、例えば、白黒パターンが並ぶものをいう。このパターンが前記画像入力手段の解像度より大きい斜線パターンからなるパターンのことをいう。斜線パターン幅が前記画像入力手段の解像度より十分大きいことにより、パターンからなる画像の位置ずれ計算の精度が得ることができる。
【0056】
データ補間手段は、例えば、600dpiの解像度を持つ画像入力装置の場合、1画素は約42.3μmとなる。画素ピッチは同じく42.3μmとなる。これより高精度にするために、1画素ピッチ間(画素中心間)を、例えば、スプライン補間の手法を用いて補間する。図20は、本実施例の補間手法を示す図である。
【0057】
累積値取得手段は、例えば、区間を8分割するとすれば、補間式から5.2μmの精度で階調を算出することができる。当該補間ピッチすなわち基準ピッチを用いて2列目の画像データを主走査方向にずらすことで高精度な読取誤差の補正を画像位置ずれデータに対して行うことができる。
【0058】
図21は、位置ずれ計測ルーチンを示すフローチャートである。計測する万線領域と斜線領域から各々の画像データを取り込み(ステップS211)、列カウンタを1にセットする(ステップS212)。次に主走査位置ずれ計測ルーチンに入り(ステップS213から図22へ)、副走査位置ずれ計測ルーチンに入り(ステップS214から図23へ)、副走査位置ずれ計測結果データを主走査方向に写像し(ステップS215)、前記副走査位置ずれ計測結果データから主走査位置ずれ計測結果データを引き(ステップS216)、前記副走査位置ずれ計測結果データを逆写像して保存し(ステップS217)、画像信号列カウンタを一つ増やし(ステップS218)最終列であれば(ステップS219でYes)、位置ずれ計測ルーチンが終了する。
【0059】
図22は、主走査位置ずれ計測ルーチンを示すフローチャートである。主走査位置ずれ計測ルーチンは、まず、列カウンタの示す列を取り出し(ステップS221)、列カウンタ+1の示す列を取り出す(ステップS222)。スプラインで列の画素データを補間し、基準ピッチ位置データを算出する(ステップS223)。基準ピッチ毎に1列目と2列目の差分の絶対値を算出して累積合計する(ステップS224)。2列目を基準ピッチ分だけ右シフトして(ステップS225)、最大シフトであれば(ステップS226でYes)、累積合計の最小位置を算出し(ステップS227)、処理を終了する。
【0060】
図23は、副走査位置ずれ計測ルーチンを示すフローチャートである。副走査位置ずれ計測ルーチンは、まず、列カウンタの示す列を取り出し(ステップS231)、列カウンタ+1の示す列を取り出す(ステップS232)。列カウンタ+1の列データに1/tanθを乗じ(ステップS233)、スプラインで列の画素データを補間し、基準ピッチ位置データを算出する(ステップS234)。基準ピッチ毎に1列目と2列目の差分の絶対値を算出して累積合計する(ステップS235)。2列目を基準ピッチ分だけ右シフトして(ステップS236)、最大シフトであれば(ステップS237でYes)、累積合計の最小位置を算出し(ステップS238)、処理を終了する。
【0061】
ここで、濃度パターン構成について説明する。ここでいうパターンとは、前記光学系が走査する方向に水平な方向に、例えば、白黒パターンであり、同じ幅の黒パターンが等間隔でないピッチで、並ぶものをいう。図24は、本実施例の万線パターンの事例1を示す図である。この黒パターンの幅が前記画像入力手段、例えばCCDを備えたスキャナ装置の解像度より大きい万線パターンからなるパターンもしくは、前記光学系の走査方向と垂直な方向に対して角度θを持ち、等間隔のピッチで、例えば、白黒パターンであり、同じ幅の黒パターンが等間隔でないピッチで、並ぶものをいう。図25は本実施例の斜線パターンの事例2を示す図である。この黒パターンの幅が前記画像入力手段、例えばCCDを備えたスキャナ装置の解像度より大きい斜線パターンからなるパターンをいう。
【0062】
ここでいう万線パターンとは、前記光学系が走査する方向に水平な方向に、例えば、白黒濃度パターンであり、黒パターン幅の相異なるパターンが等間隔ピッチで、並ぶものをいう。図26は、本実施例の万線パターンの事例1を示す図である。この黒パターンの幅が前記画像入力手段、例えばCCDを備えたスキャナ装置の解像度より大きい万線パターンからなるパターンのことをいう。また、ここでいう斜線パターンとは、前記光学系が走査する方向に水平かつ垂直でない方向に、例えば、白黒濃度パターンであり、黒パターン幅の相異なるパターンが等間隔ピッチで、並ぶものをいう。図27は、本発明の実施例にかかわる斜線パターンの事例2を示す図である。この黒パターンの幅が前記画像入力手段、例えばCCDを備えたスキャナ機能の解像度より大きい斜線パターンからなるパターンのことをいう。
【0063】
すべてのパターンの線幅あるいはピッチが等しい場合、最小値が一意に計算できないことがあるが、パターンの線幅或いはピッチが等しくないことにより、一意に前記累積値の最小値を求めることができる。
【0064】
前記画像出力装置から出力された出力画像と基準パターンの線幅、線間ピッチなどが、同一または同等であるので、同じ精度なので精度補正することなく位置誤差を差分するだけで精度よく位置ずれを算出することができる。
【0065】
<実施例2>
本実施例の構成は、基本的に実施例1の構成と同様である。よって、異なる部分のみを説明する。本実施例のの画像位置ずれ計測手段について、説明する。以下の計算は画像位置ずれ算出部12により行われる。まず記憶メモリ15から画像出力装置の出力原稿画像である万線パターン或いは斜線パターンの画像データの1列目と2列目を読出し、斜線パターンであれば、2列目のデータ列にtanθ(θは斜線と副走査とがなす角度)、例えばθは45度、を除算して、原稿パターンの移動分を補正する。これで得られた画素毎に1列目と2列目の画素データ、例えば、画素のモノクロ階調、8bitで0〜255までの値、の差分を取り、符号が負であれば、符号反転させる。これを予め設定されている列の範囲で加算し、累積値を算出する。当該累積値の算出が終了したら、2列目の画像データを例えば右に1画素分シフトし、1列目と2列目画素を差分した累積値を取得する。当該累積値算出を、例えば、予め設定された最大シフト8とすると、−4画素位置から+4画素位置まで累積値取得を繰り返す。これら最大シフト8回分の累積値の中から最小位置を算出する。位置ずれ算出手段でこれらの操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を算出する。これらは例えば、2列目の画素データが配列に入っていれば、1列目と差分を取る配列を順次ずらすことと同じ操作である。例えば、1列で2048画素あるとした時、8回累積値を計算するには、評価範囲を比較中心から2040画素とすれば、2列目を−4から+4まで8回シフトして、累積値算出を行い、それらの最小値を求める。この操作を画像の最終列まで順次実施し、各列毎の最小位置を取得する。なお、当該画素シフト位置により、最小位置の正負が決まる。算出された最小位置ずれデータを1−16記憶メモリに格納する。
【0066】
図28は、本実施例の計測全体のフローチャートであり、図29は、本実施例の位置ずれ計測フローチャートである。まず、画像位置ずれを計測する(ステップS281か図29へ)。計測する万線領域と斜線領域から各々の画像データを取り込み(ステップS291)、列カウンタを1にセットする(ステップS292)。次に主走査位置ずれ計測ルーチンに入り(ステップS293から図12へ)、副走査位置ずれ計測ルーチンに入り(ステップS294から図13へ)、画像信号列カウンタを1つ増やし(ステップS295)最終列であれば(ステップS296でYes)、位置ずれ計測ルーチンが終了する。基準パターン位置ずれを読出し(ステップS292)、主・副走査方向の画像位置ずれから対応する主・副走査方向の基準パターン位置ずれを差分することで補正する(ステップS283)。
【0067】
基準パターン位置ずれ記憶手段は、例えば、上記の画像出力装置の出力原稿のかわりに基準パターン原稿に対し、画像位置ずれ算出手段を適用し、その結果を予め記憶メモリ15に格納してあるものである。
【0068】
画像位置ずれ補正手段は、図28に示すように前記位置ずれ算出手段より算出した画像位置ずれデータと基準パターン位置ずれ記憶手段より読み出した基準パターン位置ずれデータから、この読取誤差を差分により取り除き、画像位置ずれデータを補正する。
【0069】
次に、本実施例の累積値算出手段の作用について説明する。図30は、本実施例の位置ずれ計測フローチャートである。まず、計測する万線領域と斜線領域から各々の画像データを取り込み(ステップS301)、列カウンタを1にセットする(ステップS302)。次に主走査位置ずれ計測ルーチンに入り(ステップS293から図12へ)、副走査位置ずれ計測ルーチンに入り(ステップS294から図13へ)、副走査位置ずれ計測結果データを主走査方向に写像し(ステップS305)、前記副走査位置ずれ計測結果データから主走査位置ずれ計測結果データを引き(ステップS306)、前記副走査位置ずれ計測結果データを逆写像して保存し(ステップS307)、画像信号列カウンタを1つ増やし(ステップS308)最終列であれば(ステップS309でYes)、位置ずれ計測ルーチンが終了する。
【0070】
次に、万線パターンと斜線パターンの構成について説明する。例えば、主走査方向に対して、等しい線幅でかつ等間隔ピッチで白黒線パターンが並ぶ原稿、例えば、前記副走査方向に対して45°の角度をもって等間隔のピッチで白黒斜線パターンが並ぶ原稿である。または万線パターンと斜線パターンが主走査方向に交互に配置された原稿である。
【0071】
次に、万線パターンの主走査方向位置ずれと、斜線パターンの副走査方向位置ずれの作用について説明する。基準パターン位置ずれ記憶手段から読み出した万線パターンの主走査方向位置ずれと斜線パターンの副走査方向位置ずれを差分することで画像位置ずれデータを補正する。または基準パターンを前記出力画像と同様に、前記万線パターンと前記斜線パターンが並んだパターンとすることで、前記出力画像の位置ずれを演算する手順で、基準パターンの位置ずれ誤差を算出して記憶することができる。
【0072】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、検査対象である画像出力装置の出力画像の位置ずれを計測することにより、同時に計測した基準パターンにより読取誤差を算出し、当該位置ずれを補正することで、規格値による高精度な良品/不良品判定をすることができる。
【0073】
また、本発明によれば、検査対象である画像出力装置の出力画像の位置ずれを計測することにより、予め計測した既知の基準パターン位置ずれにより読取誤差を算出し、当該位置ずれを補正することで、規格値による高精度な良品/不良品判定をすることができる。
【0074】
また、本発明によれば、検査対象である画像出力装置の出力画像の位置ずれを計測することにより、同時に計測したの基準パターンにより読取誤差を算出し、当該位置ずれを補正することで、規格値による高精度な良品/不良品判定をすることができる。
【0075】
また、本発明によれば、検査対象である画像出力装置の出力画像の位置ずれを計測することにより、予め計測した既知の基準パターンの位置ずれにより、当該位置ずれの誤差を補正することで、規格値による高精度な良品/不良品判定をすることができる。
【0076】
また、本発明によれば、検査対象である画像出力装置の出力画像の位置ずれを計測することにより、同時に計測したの基準パターンにより読取誤差を算出し、当該位置ずれを補正することで、規格値による高精度な良品/不良品判定をすることができる。
【0077】
また、本発明によれば、検査対象である画像出力装置の出力画像の位置ずれを計測することにより、予め計測した既知の基準パターンの位置ずれにより、当該位置ずれの誤差を補正することで、規格値による高精度な良品/不良品判定をすることができる。
【0078】
また、本発明によれば、検査対象である画像出力装置の出力画像の位置ずれを計測することにより、同時に計測したの基準パターンにより読取誤差を算出し、当該位置ずれを補正することで、規格値による高精度な良品/不良品判定をすることができる。
【0079】
また、本発明によれば、検査対象である画像出力装置の出力画像の位置ずれを計測することにより、予め計測した既知の基準パターンの位置ずれにより、当該位置ずれの誤差を補正することで、規格値による高精度な良品/不良品判定をすることができる。
【0080】
また、本発明によれば、同時に万線パターンで主走査方向の位置ずれ計測、斜線パターンで副走査方向の位置ずれ計測ができ、かつ斜線パターンの位置ずれから主走査方向の成分を除去することで高精度な副走査方向位置ずれ計測をすることができる。
【0081】
また、本発明によれば、基準パターンを対象原稿と同様のパターンとし、対象原稿の位置ずれを演算する方法も同様な手順で、読取時の誤差を算出することができる。
【0082】
また、本発明によれば、基準パターンを対象原稿と同様のパターンとすることで、基準パターン位置ずれ記憶手段により、精度を補正することなく、計測対象の位置ずれ誤差を補正することができる。
【0083】
また、本発明によれば、補間手法を用いることにより、画素間の位置ずれにおいてサブピクセルの精度で高精度に計測することができる。
【0084】
また、本発明によれば、前記画像出力装置から出力された出力画像が、前記画像入力装置の解像度よりも大きい万線パターンまたは斜線パターンを用いることにより、パターンの読取誤差を高精度に計測することができる。
【0085】
また、本発明によれば、一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターン、または、パターン間が等ピッチでパターン幅が異なる万線パターンまたは斜線パターンを用いることにより、一意に最小位置を検出することで算出精度が向上し、高精度に位置ずれ補正をすることができる。
【0086】
また、本発明によれば、前記画像出力装置から出力された出力画像と基準パターンの線幅、線間ピッチなどが、同一または同等であるので、同じ分解能で位置ずれを算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の画像位置ずれ計測装置における全体システム構成を示す図である。
【図2】本発明の画像位置ずれ計測装置のシステム概要を示す図である。
【図3】本発明の画像入力装置内のレイアウトの一例である。
【図4】本発明の画像入力部1の外観を示す図である。
【図5】本発明の画像入力部1の構造を示す図である。
【図6】本発明の画像入力部1の構造図である。
【図7】デジタルカメラにおける画像信号を取り込む処理を示す図である。
【図8】スキャナにおける画像信号を取込む処理を示す第1の図である。
【図9】スキャナにおける画像信号を取込む処理を示す第2の図である。
【図10】実施例1の位置ずれ計測フローチャートである。
【図11】実施例1の位置ずれ計測フローチャートである。
【図12】実施例1の主走査方向の位置ずれ計測フローチャートである。
【図13】実施例1の副走査方向の位置ずれ計測フローチャートである。
【図14】実施例1の位置ずれ計測または、基準パターン位置ずれ計測フローチャートである。
【図15】実施例1のチャート原稿の一例である。
【図16】実施例1の基準パターンの3例である。
【図17】実施例1のフローチャートである。
【図18】実施例1の万線パターンと解像度の関係を示す図である。
【図19】実施例1の斜線パターンと解像度の関係を示す図である。
【図20】実施例1の補間手法を示す図である。
【図21】位置ずれ計測ルーチンを示すフローチャートである。
【図22】主走査位置ずれ計測ルーチンを示すフローチャートである。
【図23】副走査位置ずれ計測ルーチンを示すフローチャートである。
【図24】実施例1の万線パターンの事例1を示す図である。
【図25】実施例1の斜線パターンの事例2を示す図である。
【図26】実施例1の万線パターンの事例1を示す図である。
【図27】実施例1の斜線パターンの事例2を示す図である。
【図28】実施例2の計測全体のフローチャートである。
【図29】実施例2の位置ずれ計測フローチャートである。
【図30】実施例2の位置ずれ計測フローチャートである。
【図31】実施例2のチャート原稿の一例である。
【符号の説明】
1 画像入力部
2 画像表示部
3 画像位置ずれ検査部
4 画像信号入力部
5 画像入力装置制御部
9 画像信号出力部
10 画像信号入力部
11 画像処理演算部
12 画像位置ずれ算出部
13 画像表示部
14 画像位置ずれ検査装置制御部
15 記憶メモリ
16 チャート原稿設置位置
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention measures an image displacement of an output image of an image output device to be inspected, calculates a reading error based on a simultaneously measured reference pattern, and corrects the image displacement. The present invention relates to a measurement method, an image displacement measurement program, and a storage medium storing the image displacement measurement program.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, as an apparatus of this type, for example, there is a “pixel position error measuring apparatus” described in Patent Document 1. This is because a window is set in the read image data, and when it is determined that there are a large number of black diagonal patterns at an angle of 45 to 45 on the white background at equal pitches in the sub-scanning direction, the window is set to the diagonal lines. This device sequentially shifts in the direction of the angle and measures the position error of the pixel in the sub-scanning direction based on the change in the position of the oblique line in each window.
[0003]
However, the technique described in Patent Document 1 measures the position error by calculating the center of gravity of the read value of each pixel in the window, and is therefore susceptible to noise in the read image data due to dust on the original surface and the measurement accuracy is degraded. There was a problem that it was easy to do. In addition, since the position error is measured by calculating the area centroid in the window, there is no description about the positional deviation with an accuracy smaller than the resolution of the image sensor.
[0004]
The technique described in Japanese Patent Application No. 2001-85450 was invented in view of the problem described in Patent Document 1, and has a uniform density in a direction that is not horizontal and vertical to the scanning direction of the optical system, and that direction. With a document having a density that is not uniform in the vertical direction, a function of calculating a positional shift between a pixel in an arbitrary column and a pixel adjacent to the pixel and a numerical operation for smoothly combining each data with the target data column are performed. Therefore, an apparatus having a data interpolation function for interpolating between data is used. An object of the present invention is to provide an environment in which positional deviation in the sub-scanning direction can be quickly and accurately inspected.
[0005]
[Patent Document 1]
JP-A-9-98255
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, the invention described in Japanese Patent Application No. 2001-85450 is an apparatus for evaluating the positional deviation of a target document in the sub-scanning direction using an image input device such as a digital camera or a scanner. This method includes a reading error, and does not mention inspection for a positional deviation in the main scanning direction. In addition, it has not been possible to simultaneously detect positional deviations in the main and sub scanning directions. In addition, since a so-called oblique pattern is used, a misalignment component in the main scanning direction (such as deflection of a return mirror mounted inside the scanner or vibration of an image sensor) is always included. Could not be measured.
[0007]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has a function of arranging a measurable reference pattern together with an object to be measured, and calculating a displacement of a document image output from an image output device and a displacement of the reference pattern image. And a function to correct the reading error by subtracting the positional deviation of the reference pattern image from the positional deviation data of the output document image to be measured, and the positional deviation in the main scanning direction from the positional deviation result in the sub-scanning direction obtained from the oblique pattern. A function that removes components provides an environment that enables high-precision inspection of displacements in the main and sub-scanning directions at the same time, and in particular, displacements in the sub-scanning direction without being affected by the image input device. The purpose is to do.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, an invention according to claim 1 stores an image signal acquired from the image input means in an image displacement measurement apparatus having an image input means for two-dimensionally capturing an arbitrary subject. An image storage unit, an image signal operation unit that obtains an image signal from the image storage unit and performs an operation, and an image signal obtained by setting an output image output from an image output device in the image input unit. An image position shift calculating unit that calculates a position shift of an image, a reference pattern position shift amount obtaining unit that obtains a position shift amount of a reference pattern, and an image position shift correcting unit that corrects an input error of the image input unit. It is characterized by having.
[0009]
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the reference pattern position shift amount obtaining means includes a reference pattern position shift calculating means for calculating a position shift of the reference pattern.
[0010]
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, the image signal calculating means makes an output image output from an image output device to be measured uniform in a sub-scanning direction of the image output device. A line pattern having a density and a density that is not uniform in the main scanning direction, and a diagonal pattern having a density that is not horizontal and non-vertical in the sub-scanning direction of the image output device are different from those of the image output device. A pattern disposed adjacent to the sub-scanning direction and the vertical direction, and for an arbitrary area of the line pattern or the oblique line pattern in an image signal obtained by setting the output image to the image input unit. Any one of a data sequence of one image signal in the main scanning direction in the image input means and a data sequence adjacent to the data sequence in the vertical direction of the main scanning direction with respect to the data sequence. The data sequence at the paired position, and a difference between the adjacent data sequence, has a first cumulative value calculating means for calculating the accumulation of the absolute value, the first cumulative value calculating means, The relative positions are sequentially shifted, and the first cumulative value obtaining means for obtaining the respective cumulative values is compared with the respective cumulative values obtained by the first cumulative value calculating means. However, the first minimum position calculating means for calculating the position shift and the first minimum position calculating means are sequentially executed for the entire area of the image signal, and the first image position shift calculation for calculating the relative position for each column. Means, first line misalignment storage means for storing misalignment of the line pattern adjacent to the oblique line pattern, and using the misalignment of the oblique line pattern and the line misalignment of the 10,000 line pattern. No minimum position only in the sub-scanning direction It is characterized by having a first sub-scan direction position deviation calculating means for calculating the amount.
[0011]
According to a fourth aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, the reference pattern position shift calculating means is configured such that the reference pattern has a uniform density in the sub-scanning direction of the image input means and a uniform density in the main scanning direction. Line pattern having a non-density and a diagonal pattern having a uniform density in a direction that is not horizontal and non-vertical in the sub-scanning direction of the image input unit are adjacent to the image scanning unit in the sub-scanning direction and the vertical direction. In the main scanning direction in the image input means for an arbitrary area of the line pattern or the oblique line pattern in an image signal obtained by setting the output image in the image input means. A data sequence of one image signal and a data sequence adjacent to the data sequence in the vertical direction of the main scanning direction with respect to the data sequence. A second cumulative value calculating means for calculating a difference between a column and the adjacent data sequence and calculating the absolute value of the absolute value, and the second cumulative value calculating means sequentially shifts the relative position, A second cumulative value acquiring unit for acquiring each cumulative value is compared with each of the cumulative values obtained by the second cumulative value calculating unit, and a second position calculating unit that calculates a position shift that is the minimum value. A second image position shift calculating means for sequentially executing the minimum position calculating means and the second minimum position calculating means for the entire area of the image signal to calculate a relative position for each column; A second misalignment storage means for storing misalignment of the line pattern, and a minimum misalignment only in the sub-scanning direction using the misalignment of the oblique line pattern and the misalignment of the line pattern. Second sub-scan method for calculating the amount It is characterized by having a positional deviation calculation means.
[0012]
According to a fifth aspect of the present invention, in the second or third aspect, the output image or the reference pattern output from the image output device is a line pattern or a diagonal pattern that is larger than the resolution of the image input device. It is characterized by.
[0013]
According to a sixth aspect of the present invention, in the second or fourth aspect, the cumulative value calculating means or the reference pattern position shift calculating means smoothly combines each data with the data sequence of the image signal. A data interpolating unit for interpolating between data by performing a numerical operation, wherein a first data line of the image signal in the main scanning direction in the image input unit and a data line perpendicular to the main scanning direction with respect to the data line The data sequence at a relative position in a direction perpendicular to the main scanning direction, with respect to a corrected adjacent data sequence obtained by performing an arithmetic processing according to a pattern on a second data sequence of an image signal adjacent to the second direction, In the corrected adjacent data sequence, a difference is obtained for each interpolation pitch calculated by the data interpolation means, a cumulative value of its absolute value is calculated, and the relative position is not sequentially shifted in the main scanning direction. And it will, is characterized by having a third cumulative value calculating means for obtaining the respective accumulated value.
[0014]
According to a seventh aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the output image or the reference pattern output from the image output device is a density pattern in which a density pattern having a constant width and a uniform width in the sub scanning direction of the optical system is not equal pitch. A pattern, or a density pattern having a fixed width in a direction that is not horizontal and perpendicular to the scanning direction of the optical system of the document, or a density pattern that is not equal pitch, or horizontally and adjacent to a sub-scanning direction of the optical system of the document. Whether the line pattern is a line pattern having a uniform pitch and a different width, or a line pattern that is adjacent to the original in a direction that is not horizontal and perpendicular to the scanning direction of the optical system and is a diagonal line pattern having a uniform pitch and a different width. It is characterized by having.
[0015]
According to an eighth aspect of the present invention, in the second aspect of the invention, the output image output from the image output device and the reference pattern have the same or equal line width and line pitch.
[0016]
According to a ninth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the reference pattern position shift amount obtaining unit includes a reference pattern position shift storage unit that stores a position shift of a reference pattern document in advance. I have.
[0017]
According to a tenth aspect of the present invention, in the first or ninth aspect of the present invention, the image signal calculating means is configured such that an output image output from an image output device to be measured is uniform in a sub-scanning direction of the image output device. A line pattern having a density and a density that is not uniform in the main scanning direction, and a diagonal pattern having a density that is not horizontal and non-vertical in the sub-scanning direction of the image output device are different from those of the image output device. A pattern disposed adjacent to the sub-scanning direction and the vertical direction, and for an arbitrary area of the line pattern or the oblique line pattern in an image signal obtained by setting the output image to the image input unit. Any one of a data sequence of one image signal in the main scanning direction in the image input means and a data sequence adjacent to the data sequence in the vertical direction of the main scanning direction with respect to the data sequence A fourth cumulative value calculating means for calculating a difference between the data sequence at a relative position and the adjacent data sequence and calculating an absolute value thereof; Are sequentially shifted, the third cumulative value acquiring means for acquiring the respective cumulative values and the respective cumulative values obtained by the fourth cumulative value calculating means are compared, and the position where the minimum value is obtained is compared. A third minimum position calculating unit for calculating a shift, a third image position shift calculating unit for sequentially performing the third minimum position calculating unit on the entire image signal, and calculating a relative position for each column; Sub-scanning is performed by using a third line position shift storage unit that stores the position shift of the line pattern adjacent to the diagonal pattern, and the position shift of the diagonal pattern and the position shift of the line. Minimum displacement only in the direction It is characterized by a third sub-scanning-direction displacement calculation means for calculating.
[0018]
According to an eleventh aspect of the present invention, in the invention of the ninth aspect, the reference pattern position shift storage means has a function that the reference pattern position shift has a uniform density in a sub-scanning direction of the image input means and a main scanning direction. Sub-scanning in the main scanning direction due to a line pattern having a non-uniform density and sub-scanning due to a diagonal pattern having a uniform density in a non-horizontal and non-vertical direction in the sub-scanning direction of the image input means. It is characterized in that the direction displacement is stored.
[0019]
According to a twelfth aspect of the present invention, in the ninth or tenth aspect of the present invention, the output image or the reference pattern original output from the image output device is a line or oblique pattern that is larger than the resolution of the image input device. It is characterized by:
[0020]
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the ninth or eleventh aspect, the fourth cumulative value calculating means performs a numerical operation on the data sequence of the image signal to smoothly combine each data. A data interpolating means for interpolating between data, wherein a first data line of the image signal in the main scanning direction in the image input means and an image adjacent to the data line in the vertical direction of the main scanning direction The data sequence at a relative position in a direction perpendicular to the main scanning direction with respect to a corrected adjacent data sequence obtained by performing an arithmetic processing according to a pattern on a second data sequence of the adjacent data sequence; In the above, a difference is taken for each interpolation pitch calculated by the data interpolation means, a cumulative value of its absolute value is calculated, and the relative position is sequentially shifted in the main scanning direction. It is characterized by having a fifth cumulative value calculating means for obtaining.
[0021]
According to a fourteenth aspect, in the ninth aspect, the output image or the reference pattern document output from the image output device has a density pattern having a uniform width and a constant width in the sub-scanning direction of the optical system. A density pattern, or a density pattern having a fixed width in a direction that is not horizontal and perpendicular to the scanning direction of the optical system of the document, is not a uniform pitch, or a density pattern that is horizontal and adjacent to the sub-scanning direction of the optical system of the document. Whether the line pattern that matches is a line pattern having a uniform pitch and a different width, or a line pattern that is adjacent to the original in a direction that is not horizontal and perpendicular to the scanning direction of the optical system is a diagonal pattern that has a uniform pitch and a different width, It is characterized by being.
[0022]
According to a fifteenth aspect of the present invention, in the ninth aspect of the present invention, a line width, a line pitch, and the like of the output image output from the image output device and a reference pattern document are the same or equivalent. .
[0023]
According to a sixteenth aspect of the present invention, there is provided an image inputting step of two-dimensionally capturing an arbitrary subject, an image storing step of storing an image signal obtained from the image inputting step, and obtaining an image signal from the image storing step. Calculating an image reading position shift in the image signal calculating step with respect to an output image signal output from an image output device to be measured, obtained from the image signal calculating step, Storing a calculation result in the image storing step, calculating a position shift of the reference pattern by the image signal calculating step, and obtaining a position shift amount of the reference pattern. And
[0024]
According to a seventeenth aspect of the present invention, in the invention according to the sixteenth aspect, in the reference pattern position shift amount obtaining step, a position shift of the reference pattern is calculated by the image signal calculating step, and a calculation result is stored in the image storing step. The position shift and the reference pattern position shift are read from the image storage step, and the position shift error is corrected by subtracting the reference pattern position shift from the position shift in the image signal calculation step. .
[0025]
According to an eighteenth aspect of the present invention, in the invention according to the sixteenth aspect, the reference pattern positional shift amount obtaining step includes a reference pattern positional shift storing step of storing a positional shift of a reference pattern document in advance, and the image storing step. By reading the position shift and the reference pattern position shift from the reference pattern position shift storage step, and subtracting the reference pattern position shift from the position shift by the image signal calculation step, correcting the position shift error. Features.
[0026]
According to a nineteenth aspect of the present invention, an image input process for two-dimensionally capturing an arbitrary subject, an image storage process for storing an image signal obtained from the image input process, and an image signal obtained from the image storage process Calculating the image reading position shift by the image signal calculation process with respect to the output image signal output from the image output device to be measured, which is obtained from the image signal calculation process performing the calculation and the image input process. Storing the calculation result in the image storing process, calculating the positional shift of the reference pattern by the image signal calculating process, and causing the computer to execute a reference pattern positional shift amount obtaining process of obtaining the positional shift amount of the reference pattern. It is characterized by:
[0027]
According to a twentieth aspect, in the invention according to the nineteenth aspect, in the reference pattern positional deviation amount obtaining processing, the positional deviation of the reference pattern is calculated by the image signal arithmetic processing, and the calculation result is stored in the image storing processing. Then, the computer reads out the position shift and the reference pattern position shift from the image storage process and corrects the position shift error by subtracting the reference pattern position shift from the position shift by the image signal calculation process. It is characterized by having
[0028]
According to a twenty-first aspect of the present invention, in the nineteenth aspect, the reference pattern positional deviation amount acquiring processing includes a reference pattern positional deviation storing processing for storing a positional deviation of a reference pattern document in advance, and The position shift error is corrected by reading the position shift from the storage process and the reference pattern position shift from the reference pattern position shift storage process, and subtracting the reference pattern position shift from the position shift by the image signal calculation process. Is performed by a computer.
[0029]
According to a twenty-second aspect of the present invention, an image input process for two-dimensionally capturing an arbitrary subject, an image storage process for storing an image signal obtained from the image processing input unit, and an image signal obtained from the image storage process And calculating the image reading position shift by the image signal calculation process with respect to the image signal calculation process for performing the calculation and the output image signal output from the image output device to be measured obtained from the image input process. Then, storing the calculation result in the image storage process, calculating the displacement of the reference pattern by the image signal calculation process, storing the calculation result in the image storage process, and from the image storage process the displacement, The computer reads the reference pattern position shift and corrects the position shift error by subtracting the reference pattern position shift from the position shift by the image signal arithmetic processing. It is characterized in that to execute the over data.
[0030]
According to a twenty-third aspect of the present invention, an image input process for two-dimensionally capturing an arbitrary subject, an image storage process for storing an image signal obtained from the image processing input unit, and an image signal obtained from the image storage process And calculating the image reading position shift by the image signal calculation process with respect to the image signal calculation process for performing the calculation and the output image signal output from the image output device to be measured obtained from the image input process. And a reference pattern misregistration storage process for storing a calculation result in the image storage process and storing a misregistration of the reference pattern document in advance. The reference pattern position shift is read from the pattern position shift storage process, and the reference pattern position shift is subtracted from the position shift by the image signal calculation process, whereby the position shift error is detected. It is characterized in that to perform the correcting the computer.
[0031]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0032]
FIG. 1 is a diagram showing the overall system configuration of the image misalignment measuring device of the present invention. The device of the present invention thus configured will be described below. FIG. 1 includes an image input unit 1, an image display unit 2, an image position deviation inspection unit 3, and an image signal input unit 4. FIG. 2 is a diagram showing a system outline of the image misalignment measuring device of the present invention, and includes an image input device control unit 5, a photoelectric conversion unit 6, an A / D conversion unit 7, a shading correction unit 8, The image signal output unit 9, the image signal input unit 10, the image processing operation unit 11, the image displacement calculation unit 12, the image display unit 13, the image displacement inspection device control unit 14, and the storage memory 15 It is configured. FIG. 3 is an example of a layout in the image input device of the present invention. FIG. 3 includes a chart document setting position 16, a reference pattern 117, and a reference pattern 218.
[0033]
The apparatus according to the present invention includes an image input unit 1 for acquiring output image data to be inspected, a chart document installation position 16 for installing an output image of an image output device, for example, and a reference pattern 117 and / or a reference pattern. A reference pattern 218, an image signal input unit 4 on the side of the image position deviation inspection unit 3 connected to the image input unit, a storage memory 15 for storing the image signal, an image processing operation 12 for calculating position deviation and the like, and an operation result And an image display unit 2 for displaying a result calculated by the image signal calculation unit.
[0034]
FIG. 4 is a diagram showing the appearance of the image input unit 1 of the present invention. FIG. 4 includes a two-dimensional image sensor 19, a lens 20, and an image signal output port 21. FIG. 5 is a diagram showing the structure of the image input unit 1 of the present invention. FIG. 5 shows a document installation location 23, a traveling body 124, a traveling body 2 25, a lens 26, a one-dimensional image sensor 27, a motor 28, a drive transmission unit 29, and an image signal output port 30. It is configured. FIG. 6 is a structural diagram of the image input unit 1 of the present invention, which includes a lamp 31, a reflector 32, an imaging area 33, a folding mirror 34, a contact glass 35, and an output image 36. I have.
[0035]
For example, the image input unit 1 itself includes a two-dimensional image sensor 19, for example, a CCD in which semiconductors that emit electrons when receiving light are two-dimensionally arranged, and a lens 20 that couples an image on the CCD. A digital camera that captures an image and outputs the image signal from the image output port 23, and includes, for example, a document installation location 23 for installing output image data, and illumination for illuminating the installation location. A traveling body 124 that scans a document installation location, a one-dimensional image sensor 27 that forms a line in a direction perpendicular to the traveling body, for example, a line CCD, and a lens 26 that couples the image installation location to an image on the line CCD The traveling body scans the image installation location in one direction, so that the light emitted from the lamp 31 illuminates the image installed at the image installation location. A scanner having a reduction optical system that reads a two-dimensional image by forming reflected light on a CCD line-sequentially through a reflection mirror 34 and a lens 26 through a folding mirror 34 and a lens 26 and outputs the image signal from an image output port 33. In addition, for example, a lamp 31, a lens 26, and a one-dimensional imaging element 27 integrated with the traveling body 1 travel to read a two-dimensional image in a line-sequential manner, and output the image signal. This is a scanner having an equal-magnification imaging optical system that outputs a signal from the port 33.
[0036]
The image displacement calculator 12 itself can be used as various calculation, communication, and storage means by using a computer including a keyboard, a mouse, and the like. The image display device 2 uses a CRT or an LCD.
[0037]
Next, the operation of the image position deviation measuring device of the present invention will be described. FIG. 7 is a diagram illustrating a process of capturing an image signal in the digital camera. In the case of the digital camera, an output image 22 is set in advance, and the reflected light from the output image 22 passes through the lens 20, is photoelectrically converted by the two-dimensional array imaging device 21, and is captured as an image signal.
[0038]
FIG. 8 and FIG. 9 are diagrams showing a process of capturing an image signal in the scanner. In the case of the scanner, the reference output image 36 is set on the contact glass 35 (chart document setting position 16). For example, the reference patterns are arranged on the reference pattern 117 and / or the reference pattern 218. A lamp 31, which is a light source for illuminating the output image, irradiates the imaging area 33 with light, and the traveling body 225 and the traveling body 124 following the traveling body scan from the beginning to the end of the output image, thereby turning the mirror 34 and the like. The reflected light passes through the lens 26, is photoelectrically converted by the one-dimensional image pickup device 27, and is taken in as an image signal.
[0039]
An output image is taken in from the CCD by the image input unit, for example. The captured image reflected light is photoelectrically converted by the CCD in the photoelectric conversion unit 6 and is converted into an electric signal. This is converted from analog to digital data by A / D conversion by the A / D converter 7. The data is subjected to shading correction in a shading correction unit 8, and an image signal is output from a port of an image signal output 10. The image data is output by the control unit.
[0040]
The image signal is input to the image signal input unit 10 of the image misalignment inspection unit. All the image data is stored in the image storage memory 15, and the image data in the sub-scanning direction, which is the same position in the same scanning direction, is sequentially output in two columns by the image misalignment inspection device control unit 14, and the image processing operation is performed. The shift and the difference operation are performed in the unit 11. The maximum shift amount is given in advance. The image displacement calculating unit 12 calculates the cumulative displacement from the two columns of interest, and the minimum value of the displacement is stored in the memory. The entire image displacement is displayed as an image on the image display unit 13, and the inspection result can be confirmed.
[0041]
<Example 1>
Next, a description will be given of the image position deviation calculating means of the present embodiment. FIG. 10 is a flowchart for measuring the displacement in the present embodiment, FIG. 11 is a flowchart for measuring the displacement in the present embodiment, FIG. 12 is a flowchart for measuring the displacement in the main scanning direction in the present embodiment, and FIG. FIG. 5 is a flowchart of a displacement measurement in the sub-scanning direction according to the present embodiment.
[0042]
As shown in FIG. 10, the image position deviation correcting means of the present embodiment measures the image position deviation (step S101), reads out the position deviation of the reference pattern (step S102), and calculates the image calculated by the position deviation calculating means. This reading error is removed as a difference from the position shift data and the reference pattern position shift data, and the image position shift data is corrected (step S103). The calculation for measuring the image position shift by the image position shift unit (Step S101) is performed by the image position shift calculating unit 12. First, the first column and the second column (steps S121 and S131) of the image data of the parallel line pattern or the oblique line pattern, which is the output image of the image output device, are read from the storage memory 15 (steps S122 and S132). If there is (FIG. 13), the movement of the original pattern is corrected by dividing tan θ (θ is the angle between the oblique line and the sub-scan), for example, θ is 45 degrees, in the second data row (step S133). ). The difference between the pixel data of the first and second columns, for example, the monochrome gradation of the pixel, the value of 0 to 255 in 8 bits, is obtained for each pixel, and the sign is inverted if the sign is negative. Let it. This is added within a preset column range to calculate a cumulative value (steps S123 and S134). When the calculation of the cumulative value is completed, the image data in the second column is shifted right by, for example, one pixel (steps S124 and S135), and the cumulative value obtained by subtracting the pixels in the first and second columns is obtained.
[0043]
Assuming that the cumulative value calculation is, for example, a preset maximum shift of 8, the cumulative value acquisition is repeated from the −4 pixel position to the +4 pixel position. The minimum position is calculated from the accumulated values for the eight maximum shifts. These operations are sequentially performed by the displacement calculating means up to the last row of the image (steps S125 and S136), and the minimum position for each row is calculated (steps S126 and S137). These operations are the same as, for example, sequentially shifting the array that takes the difference from the first column if the pixel data of the second column is included in the array. For example, when there are 2048 pixels in one column, to calculate the cumulative value eight times, if the evaluation range is 2040 pixels from the comparison center, the second column is shifted eight times from -4 to +4, and the cumulative value is calculated eight times. Calculate the values and find their minimum. This operation is sequentially performed up to the last column of the image, and the minimum position for each column is obtained. In addition, the sign of the minimum position is determined by the pixel shift position. The calculated minimum displacement data is stored in the storage memory 15.
[0044]
FIG. 14 is a flowchart of the displacement measurement or the reference pattern displacement measurement of the present embodiment. The cumulative value calculating means of the present invention reads the first and second columns of the image data of the parallel line pattern or the oblique line pattern, which is the output image of the image output device, from the storage memory 15 (step S141). The displacement is measured (Step S145), and then the sub-scanning displacement is measured (Step S144). If the pattern is a diagonal pattern (from step S144 to FIG. 13), tan θ (θ is the angle between the diagonal line and the sub-scan), for example, θ is 45 degrees, is divided by the second data sequence (step S133). Correct the movement of the document pattern. The difference between the pixel data of the first and second columns, for example, the monochrome gradation of the pixel, the value of 0 to 255 in 8 bits, is obtained for each pixel. If the sign is negative, the sign is inverted. Let it. This is added in a preset range of the column to calculate a cumulative value (step S134). When the calculation of the cumulative value is completed, the image data of the second column is shifted, for example, to the right by one pixel (step S135), and a means for obtaining a cumulative value obtained by subtracting the pixels of the first and second columns.
[0045]
The minimum position calculating means repeats the acquisition of the cumulative value from the −4 pixel position to the +4 pixel position, assuming that the cumulative value calculation is, for example, a preset maximum shift of 8. This is a means for calculating the minimum position from the accumulated values of these eight maximum shifts.
[0046]
The displacement calculation means is a means for sequentially performing these operations up to the last row of the image (step S136) and calculating the minimum position for each row (step S137). These operations are the same as, for example, sequentially shifting the array that takes the difference from the first column if the pixel data of the second column is included in the array. For example, when there are 2048 pixels in one column, to calculate the cumulative value eight times, if the evaluation range is 2040 pixels from the comparison center, the second column is shifted eight times from -4 to +4, and the cumulative value is calculated eight times. The values are calculated and their minimum positions are determined. This operation is sequentially performed up to the last column of the image, and the minimum position for each column is obtained. In addition, the sign of the minimum position is determined by the pixel shift position.
[0047]
The line alignment minimum displacement amount storage unit is a unit that stores the minimum position offset data of the line pattern calculated by the position offset calculation unit (step S145).
[0048]
The sub-scanning direction position shift calculating means reads, for example, the line alignment minimum position shift data from the line alignment minimum position shift amount storage, multiplies the minimum position shift amount of the oblique line pattern adjacent to the line pattern by tan θ, The data is subtracted (step S146). By dividing tan θ to the result, the minimum displacement in the sub-scanning direction from which the displacement component in the main scanning direction has been removed is calculated. The result is stored in the storage memory 15 (step S147).
[0049]
Next, a line pattern having a uniform density in the sub-scanning direction of the image output device of the present embodiment and a density that is not uniform in the main scanning direction and a direction not horizontal and non-vertical in the sub-scanning direction of the image output device. A configuration of a pattern in which a diagonal pattern having a uniform density is arranged adjacent to the image output device in the vertical direction with respect to the sub-scanning direction will be described. FIG. 15 is an example of a chart document according to the embodiment of the present invention. For example, black-and-white diagonal patterns are arranged at regular intervals at an angle of 45 ° with respect to the sub-scanning direction, and black-and-white line patterns are arranged at regular intervals on both sides or one side of the main-scanning direction. is there.
[0050]
The configuration of the parallel line pattern and the oblique line pattern is, for example, a document in which black and white line patterns are arranged at an equal line width and an equal pitch in the main scanning direction, for example, at an angle of 45 ° with respect to the sub-scanning direction. This is a document in which black-and-white diagonal patterns are arranged at the pitch of the interval. Alternatively, the original is a document in which the line pattern and the oblique line pattern are alternately arranged in the main scanning direction. FIG. 16 shows three examples of reference patterns according to the embodiment of the present invention.
[0051]
Next, misalignment of the line pattern in the main scanning direction and misalignment of the oblique line pattern in the sub-scanning direction will be described. The image position shift data is corrected by subtracting the position shift in the main scanning direction of the line pattern read from the reference pattern position shift storage unit and the position shift in the sub-scanning direction of the oblique line pattern. 6. A method similar to the method according to claim 5, wherein the reference pattern is a pattern in which the line pattern and the oblique line pattern are arranged in the same manner as the output image, thereby calculating the positional shift of the output image. By the procedure, the displacement error of the reference pattern can be calculated and stored.
[0052]
The reference pattern position shift calculating means reads one column of the image data of the reference pattern portion from the image storage memory, and calculates the position shift of the image by an image position calculation method corresponding to the reference pattern. An error at the time of reading is obtained from the difference between the reference pattern position and the image position obtained by reading and calculating the reference pattern from the image input unit. FIG. 17 is a flowchart according to the embodiment of the present invention. First, one column of data is extracted (step S171), and the first positional deviation of the reference chart is calculated (step S172). The next displacement is calculated (step S173), and the next displacement is stored in the memory 2 (step S174). The difference between the memory 2 and the memory 1 is obtained (step S175), and the memory 1 is stored in the memory 2 (step S176). If the last row of the reference chart has been reached (Yes in step S177), the process ends.
[0053]
The image misregistration correcting means corrects the image misregistration data by removing the reading error from the image misregistration data calculated by the image misregistration calculating means by a difference. Further, by using the reference pattern as a pattern in which the line pattern and the oblique line pattern are arranged in the same manner as in the output image, it is possible to calculate the positional deviation error of the reference pattern for calculating the positional deviation of the output image. .
[0054]
Here, the line pattern will be described. FIG. 18 is a diagram showing the relationship between the line pattern and the resolution according to the embodiment of the present invention. The line pattern is a pattern in which, for example, black and white patterns are arranged at equal pitches in a direction horizontal to the scanning direction of the optical system. This pattern is a pattern composed of a line pattern larger than the resolution of the image input means. Since the pattern width of the line pattern is sufficiently larger than the resolution of the image input means, it is possible to obtain the accuracy of calculating the displacement of the image composed of the pattern.
[0055]
Here, the oblique line pattern will be described. FIG. 19 is a diagram showing the relationship between the oblique line pattern and the resolution according to the embodiment of the present invention. The oblique line pattern means a pattern in which black and white patterns are arranged at equal pitches in a direction that is neither horizontal nor perpendicular to the scanning direction of the optical system. This pattern is a pattern composed of a diagonal pattern larger than the resolution of the image input means. When the width of the oblique line pattern is sufficiently larger than the resolution of the image input means, it is possible to obtain the accuracy of calculating the displacement of the image composed of the pattern.
[0056]
For example, in the case of an image input device having a resolution of 600 dpi, one pixel is about 42.3 μm. The pixel pitch is also 42.3 μm. In order to achieve higher accuracy, interpolation is performed between one pixel pitch (between pixel centers) using, for example, a spline interpolation technique. FIG. 20 is a diagram illustrating the interpolation method according to the present embodiment.
[0057]
If, for example, the section is divided into eight, the cumulative value acquiring means can calculate the gradation with an accuracy of 5.2 μm from the interpolation formula. By shifting the image data in the second column in the main scanning direction using the interpolation pitch, that is, the reference pitch, highly accurate reading error correction can be performed on the image position shift data.
[0058]
FIG. 21 is a flowchart showing a displacement measurement routine. Each image data is fetched from the line area and the oblique line area to be measured (step S211), and the column counter is set to 1 (step S212). Next, a main scanning position deviation measuring routine is entered (from step S213 to FIG. 22), and a sub-scanning position deviation measuring routine is entered (from step S214 to FIG. 23), and the sub-scanning position deviation measurement result data is mapped in the main scanning direction. (Step S215), the main scanning position deviation measurement result data is subtracted from the sub-scanning position deviation measurement result data (Step S216), the sub-scanning position deviation measurement result data is inversely mapped and stored (Step S217), and the image signal is output. The column counter is incremented by one (step S218), and if it is the last column (Yes in step S219), the positional deviation measurement routine ends.
[0059]
FIG. 22 is a flowchart showing a main scanning position shift measurement routine. In the main scanning position deviation measurement routine, first, the column indicated by the column counter is extracted (step S221), and the column indicated by the column counter + 1 is extracted (step S222). The pixel data of the column is interpolated by the spline, and the reference pitch position data is calculated (step S223). The absolute value of the difference between the first column and the second column is calculated for each reference pitch, and the total is accumulated (step S224). The second column is shifted to the right by the reference pitch (step S225), and if it is the maximum shift (Yes in step S226), the minimum position of the cumulative total is calculated (step S227), and the process ends.
[0060]
FIG. 23 is a flowchart illustrating a sub-scanning position shift measurement routine. In the sub-scanning position deviation measurement routine, first, the column indicated by the column counter is extracted (step S231), and the column indicated by the column counter +1 is extracted (step S232). The column data of the column counter +1 is multiplied by 1 / tan θ (step S233), and the pixel data of the column is interpolated by a spline to calculate reference pitch position data (step S234). The absolute value of the difference between the first row and the second row is calculated for each reference pitch, and the sum is accumulated (step S235). The second column is shifted to the right by the reference pitch (step S236), and if it is the maximum shift (Yes in step S237), the minimum position of the cumulative total is calculated (step S238), and the process ends.
[0061]
Here, the density pattern configuration will be described. The pattern referred to here is, for example, a black-and-white pattern in which the black patterns having the same width are arranged at a non-equidistant pitch in a direction horizontal to the scanning direction of the optical system. FIG. 24 is a diagram illustrating a case 1 of the parallel line pattern according to the present embodiment. The width of this black pattern is a pattern consisting of a line pattern larger than the resolution of the image input means, for example, a scanner device having a CCD, or has an angle θ with respect to a direction perpendicular to the scanning direction of the optical system, and has an equal interval. Is a black-and-white pattern, and black patterns of the same width are arranged at a non-equidistant pitch. FIG. 25 is a diagram illustrating a second example of the oblique line pattern according to the present embodiment. The width of the black pattern is a pattern consisting of a diagonal pattern that is larger than the resolution of the image input means, for example, the scanner device having a CCD.
[0062]
Here, the line pattern is, for example, a black-and-white density pattern in which the patterns having different black pattern widths are arranged at equal pitches in a direction horizontal to the scanning direction of the optical system. FIG. 26 is a diagram illustrating a case 1 of the parallel line pattern according to the present embodiment. The width of the black pattern means a line pattern that is larger than the resolution of the image input means, for example, the scanner device having a CCD. Further, the oblique line pattern referred to here is, for example, a black-and-white density pattern, in which patterns having different black pattern widths are arranged at equal pitches in a direction that is not horizontal and perpendicular to the scanning direction of the optical system. . FIG. 27 is a diagram illustrating a second example of the oblique line pattern according to the embodiment of the present invention. The width of the black pattern refers to a pattern formed by a diagonal pattern that is larger than the resolution of the image input means, for example, a scanner function having a CCD.
[0063]
When the line widths or pitches of all patterns are equal, the minimum value may not be uniquely calculated in some cases. However, when the line widths or pitches of the patterns are not equal, the minimum value of the cumulative value can be uniquely obtained.
[0064]
The line width of the output image and the reference pattern output from the image output device, the line pitch, etc., are the same or equivalent, so the same accuracy, so only by subtracting the position error without accuracy correction, it is possible to accurately shift the position. Can be calculated.
[0065]
<Example 2>
The configuration of the present embodiment is basically the same as the configuration of the first embodiment. Therefore, only different parts will be described. The image position deviation measuring means of the present embodiment will be described. The following calculation is performed by the image displacement calculator 12. First, the first and second columns of line data or oblique pattern image data, which is an output original image of the image output device, are read from the storage memory 15. If the oblique pattern is used, tan θ (θ Is the angle between the oblique line and the sub-scan), for example, θ is 45 degrees to correct the movement of the original pattern. The difference between the pixel data of the first and second columns, for example, the monochrome gradation of the pixel, the value of 0 to 255 in 8 bits, is obtained for each pixel. If the sign is negative, the sign is inverted. Let it. This is added within a preset range of columns to calculate an accumulated value. When the calculation of the accumulated value is completed, the image data in the second column is shifted, for example, by one pixel to the right, and an accumulated value obtained by subtracting the pixels in the first and second columns is obtained. Assuming that the cumulative value calculation is, for example, a preset maximum shift of 8, the cumulative value acquisition is repeated from the −4 pixel position to the +4 pixel position. The minimum position is calculated from the accumulated values for the eight maximum shifts. These operations are sequentially performed by the displacement calculating means up to the last column of the image, and the minimum position of each column is calculated. These operations are the same as, for example, sequentially shifting the array that takes the difference from the first column if the pixel data of the second column is included in the array. For example, when there are 2048 pixels in one column, to calculate the cumulative value eight times, if the evaluation range is 2040 pixels from the comparison center, the second column is shifted eight times from -4 to +4, and the cumulative value is calculated eight times. Calculate the values and find their minimum. This operation is sequentially performed up to the last column of the image, and the minimum position for each column is obtained. In addition, the sign of the minimum position is determined by the pixel shift position. The calculated minimum displacement data is stored in the 1-16 storage memory.
[0066]
FIG. 28 is a flowchart of the entire measurement of the present embodiment, and FIG. 29 is a flowchart of the displacement measurement of the present embodiment. First, the image position shift is measured (step S281 or to FIG. 29). Each image data is fetched from the line area and the oblique line area to be measured (step S291), and the column counter is set to 1 (step S292). Next, the main scanning position deviation measuring routine is entered (from step S293 to FIG. 12), the sub-scanning position deviation measuring routine is entered (from step S294 to FIG. 13), and the image signal column counter is increased by one (step S295). If it is (Yes in step S296), the positional deviation measurement routine ends. The reference pattern position shift is read out (step S292), and the difference is corrected by subtracting the corresponding reference pattern position shift in the main / sub-scan direction from the image position shift in the main / sub-scan direction (step S283).
[0067]
The reference pattern misregistration storage unit applies, for example, an image misregistration calculation unit to the reference pattern original instead of the output original of the image output device, and stores the result in the storage memory 15 in advance. is there.
[0068]
As shown in FIG. 28, the image misregistration correcting unit removes this reading error by a difference from the image misalignment data calculated by the misalignment calculating unit and the reference pattern misalignment data read from the reference pattern misalignment storage unit. Correct the image position shift data.
[0069]
Next, the operation of the cumulative value calculating means of the present embodiment will be described. FIG. 30 is a flowchart of the displacement measurement according to the present embodiment. First, each image data is fetched from the line area and the oblique line area to be measured (step S301), and the column counter is set to 1 (step S302). Next, a main scanning position deviation measuring routine is entered (from step S293 to FIG. 12), and a sub-scanning position deviation measuring routine is entered (from step S294 to FIG. 13), and the sub-scanning position deviation measurement result data is mapped in the main scanning direction. (Step S305), the main scanning position deviation measurement result data is subtracted from the sub-scanning position deviation measurement result data (Step S306), the sub-scanning position deviation measurement result data is inversely mapped and stored (Step S307), and the image signal is output. The column counter is incremented by one (step S308), and if it is the last column (Yes in step S309), the positional deviation measurement routine ends.
[0070]
Next, the configurations of the line pattern and the oblique line pattern will be described. For example, a document in which black-and-white line patterns are arranged at an equal line width and an equal pitch in the main scanning direction, for example, a document in which black-and-white diagonal line patterns are arranged at an equal pitch at an angle of 45 ° to the sub-scanning direction It is. Alternatively, the original is a document in which the line pattern and the oblique line pattern are alternately arranged in the main scanning direction.
[0071]
Next, a description will be given of the effects of displacement of the line pattern in the main scanning direction and displacement of the oblique line pattern in the sub scanning direction. The image position shift data is corrected by subtracting the position shift in the main scanning direction of the line pattern read from the reference pattern position shift storage unit and the position shift in the sub-scanning direction of the oblique line pattern. Or, as in the case of the output image, the reference pattern is a pattern in which the line pattern and the oblique line pattern are arranged, and in the procedure of calculating the position shift of the output image, the position shift error of the reference pattern is calculated. Can be memorized.
[0072]
【The invention's effect】
As is apparent from the above description, according to the present invention, by measuring the displacement of the output image of the image output device to be inspected, a reading error is calculated based on the simultaneously measured reference pattern, and the displacement is calculated. By performing the correction, it is possible to perform a highly accurate non-defective / defective determination based on the standard value.
[0073]
Further, according to the present invention, by measuring the positional deviation of an output image of an image output device to be inspected, a reading error is calculated based on a positional deviation of a known reference pattern measured in advance, and the positional deviation is corrected. Thus, it is possible to perform high-accuracy non-defective / defective product determination based on the standard value.
[0074]
Further, according to the present invention, by measuring a position shift of an output image of an image output device to be inspected, a reading error is calculated based on a reference pattern measured at the same time, and the position shift is corrected. High-precision non-defective / defective products can be determined based on the values.
[0075]
Further, according to the present invention, by measuring the position shift of the output image of the image output device to be inspected, by correcting the position shift of the known reference pattern measured in advance, by correcting the position shift error, High-precision non-defective / defective products can be determined based on standard values.
[0076]
Further, according to the present invention, by measuring a position shift of an output image of an image output device to be inspected, a reading error is calculated based on a reference pattern measured at the same time, and the position shift is corrected. High-precision non-defective / defective products can be determined based on the values.
[0077]
Further, according to the present invention, by measuring the position shift of the output image of the image output device to be inspected, by correcting the position shift of the known reference pattern measured in advance, by correcting the position shift error, High-precision non-defective / defective products can be determined based on standard values.
[0078]
Further, according to the present invention, by measuring a position shift of an output image of an image output device to be inspected, a reading error is calculated based on a reference pattern measured at the same time, and the position shift is corrected. High-precision non-defective / defective products can be determined based on the values.
[0079]
Further, according to the present invention, by measuring the position shift of the output image of the image output device to be inspected, by correcting the position shift of the known reference pattern measured in advance, by correcting the position shift error, High-precision non-defective / defective products can be determined based on standard values.
[0080]
Further, according to the present invention, it is possible to simultaneously measure the displacement in the main scanning direction with the line pattern, measure the displacement in the sub-scanning direction with the diagonal pattern, and remove the component in the main scanning direction from the displacement of the diagonal pattern. Thus, it is possible to perform highly accurate positional deviation measurement in the sub-scanning direction.
[0081]
Further, according to the present invention, an error during reading can be calculated in the same procedure as the method of calculating the positional shift of the target document by using the reference pattern as the same pattern as the target document.
[0082]
Further, according to the present invention, by setting the reference pattern to be the same as that of the target document, it is possible to correct the displacement error of the measurement target without correcting the accuracy by the reference pattern displacement storage unit.
[0083]
Further, according to the present invention, by using the interpolation method, it is possible to measure the positional deviation between pixels with high accuracy with sub-pixel accuracy.
[0084]
Further, according to the present invention, the output image output from the image output device uses a line pattern or a diagonal pattern that is larger than the resolution of the image input device, so that a pattern reading error can be measured with high accuracy. be able to.
[0085]
Further, according to the present invention, the minimum position is uniquely detected by using a density pattern in which the density patterns having a constant width are not equal pitches, or a line pattern or a diagonal line pattern in which the pattern widths are equal pitches between patterns and have different pattern widths. As a result, the calculation accuracy is improved, and the displacement can be corrected with high accuracy.
[0086]
Further, according to the present invention, since the line width and the line pitch of the output image and the reference pattern output from the image output device are the same or equivalent, it is possible to calculate the displacement with the same resolution.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an overall system configuration in an image misalignment measuring apparatus of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing an outline of a system of an image misalignment measuring apparatus according to the present invention.
FIG. 3 is an example of a layout in the image input device of the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing an appearance of an image input unit 1 of the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing a structure of an image input unit 1 of the present invention.
FIG. 6 is a structural diagram of the image input unit 1 of the present invention.
FIG. 7 is a diagram illustrating a process of capturing an image signal in the digital camera.
FIG. 8 is a first diagram illustrating a process of capturing an image signal in the scanner.
FIG. 9 is a second diagram illustrating a process of capturing an image signal in the scanner.
FIG. 10 is a flowchart illustrating a misalignment measurement according to the first embodiment.
FIG. 11 is a flowchart illustrating a misalignment measurement according to the first embodiment.
FIG. 12 is a flowchart for measuring a position shift in the main scanning direction according to the first embodiment.
FIG. 13 is a flowchart illustrating a misregistration measurement in the sub-scanning direction according to the first exemplary embodiment.
FIG. 14 is a flowchart of position shift measurement or reference pattern position shift measurement according to the first embodiment.
FIG. 15 is an example of a chart document according to the first embodiment.
FIG. 16 shows three examples of a reference pattern according to the first embodiment.
FIG. 17 is a flowchart of the first embodiment.
FIG. 18 is a diagram illustrating a relationship between a line pattern and a resolution according to the first embodiment.
FIG. 19 is a diagram illustrating a relationship between a diagonal line pattern and a resolution according to the first embodiment.
FIG. 20 is a diagram illustrating an interpolation method according to the first embodiment.
FIG. 21 is a flowchart illustrating a positional deviation measurement routine.
FIG. 22 is a flowchart showing a main scanning position shift measurement routine.
FIG. 23 is a flowchart illustrating a sub-scanning position shift measurement routine.
FIG. 24 is a diagram illustrating a case 1 of a parallel line pattern according to the first embodiment.
FIG. 25 is a diagram illustrating a second example of the oblique line pattern according to the first embodiment.
FIG. 26 is a diagram illustrating a case 1 of a parallel line pattern according to the first embodiment;
FIG. 27 is a diagram illustrating a second example of the oblique line pattern according to the first embodiment.
FIG. 28 is a flowchart of the entire measurement according to the second embodiment.
FIG. 29 is a flowchart illustrating a misalignment measurement according to the second embodiment.
FIG. 30 is a flowchart illustrating a misalignment measurement according to the second embodiment.
FIG. 31 is an example of a chart document according to the second embodiment.
[Explanation of symbols]
1 Image input section
2 Image display section
3 Image misalignment inspection unit
4 Image signal input section
5 Image input device controller
9 Image signal output section
10 Image signal input section
11 Image processing operation unit
12 Image displacement calculator
13 Image display
14 Image misalignment inspection device controller
15 Storage memory
16 Chart Document Position

Claims (23)

任意の被写体を2次元に撮像する画像入力手段を有する画像位置ずれ計測装置において、
前記画像入力手段から取得される画像信号を記憶する画像記憶手段と、
前記画像記憶手段から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算手段と、
画像出力装置から出力された出力画像を前記画像入力手段にセットして得られた画像信号に対し、画像の位置ずれを計算する画像位置ずれ算出手段と、
基準パターンの位置ずれ量を取得する基準パターン位置ずれ量取得手段と、
前記画像入力手段の入力誤差を補正する画像位置ずれ補正手段とを有することを特徴とする画像位置ずれ計測装置。
In an image position deviation measuring device having an image input means for two-dimensionally capturing an arbitrary subject,
Image storage means for storing an image signal obtained from the image input means,
An image signal calculating unit that obtains an image signal from the image storage unit and performs a calculation;
An image position shift calculation unit that calculates a position shift of an image with respect to an image signal obtained by setting an output image output from an image output device in the image input unit,
A reference pattern position shift amount acquiring means for obtaining a position shift amount of the reference pattern,
An image position deviation measuring device comprising: an image position deviation correction unit that corrects an input error of the image input unit.
前記基準パターン位置ずれ量取得手段は、基準パターンの位置ずれを算出する基準パターン位置ずれ算出手段を有することを特徴とする請求項1記載の画像位置ずれ計測装置。The apparatus according to claim 1, wherein the reference pattern position shift amount obtaining unit includes a reference pattern position shift calculating unit that calculates a position shift of the reference pattern. 前記画像信号演算手段は、計測対象である画像出力装置から出力された出力画像が、前記画像出力装置の副走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、
前記画像出力装置の副走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一な濃度を有する斜線パターンとが、前記画像出力装置の副走査方向と垂直方向に隣接して配置されたパターンであって、
前記出力画像を前記画像入力手段にセットして得られた画像信号における前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域に対し、前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列のデータ列と、
前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣のデータ列とを対象に、任意の相対位置にある前記データ列と、前記隣のデータ列とにおいて差分を取り、その絶対値の累積を算出する第1の累積値算出手段とを有し、
前記第1の累積値算出手段は、前記相対位置を順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第1の累積値取得手段と、
前記第1の累積値算出手段で得られたそれぞれの累積値を比較し、その最小値であるところの位置ずれを算出する第1の最小位置算出手段と、
前記第1の最小位置算出手段を前記画像信号全域に順次実施し、各列ごとの相対位置を算出する第1の画像位置ずれ算出手段と、
前記斜線パターンに隣接する前記万線パターンの位置ずれを記憶しておく第1の万線位置ずれ記憶手段と、
前記斜線パターンの位置ずれと前記万線パターンの位置ずれとを用いて、副走査方向のみの最小位置ずれ量を算出する第1の副走査方向位置ずれ算出手段とを有することを特徴とする請求項1または2記載の画像位置ずれ計測装置。
The image signal calculating means, the output image output from the image output device to be measured, a line pattern having a uniform density in the sub-scanning direction of the image output device, and a density that is not uniform in the main scanning direction,
A diagonal pattern having a uniform density in a direction that is not horizontal and not perpendicular to the sub-scanning direction of the image output device is a pattern that is arranged adjacent to the sub-scanning direction of the image output device in the vertical direction,
For an arbitrary region of the line pattern or the oblique line pattern in the image signal obtained by setting the output image in the image input means, a data string of one row of image signals in the main scanning direction in the image input means is provided. ,
A difference is obtained between the data sequence at an arbitrary relative position and the adjacent data sequence with respect to the data sequence adjacent to the data sequence in the vertical direction in the main scanning direction, and the absolute value is accumulated. And a first cumulative value calculating means for calculating
A first cumulative value acquiring unit that sequentially shifts the relative position and acquires each cumulative value;
A first minimum position calculating unit that compares the respective cumulative values obtained by the first cumulative value calculating unit and calculates a position shift that is the minimum value;
A first image position shift calculating unit that sequentially executes the first minimum position calculating unit on the entire area of the image signal and calculates a relative position for each column;
A first parallel line position shift storage unit that stores a positional shift of the line pattern adjacent to the oblique line pattern;
A first sub-scanning direction position shift calculating means for calculating a minimum position shift amount only in the sub-scanning direction using the position shift of the oblique line pattern and the position shift of the line pattern. Item 3. The image position deviation measuring device according to Item 1 or 2.
前記基準パターン位置ずれ算出手段は、前記基準パターンが前記画像入力手段の副走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、
前記画像入力手段の副走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一な濃度を有する斜線パターンとが、前記画像入力手段の副走査方向と垂直方向に隣接して配置されたパターンであって、
前記出力画像を前記画像入力手段にセットして得られた画像信号における前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域に対し、前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列のデータ列と、
前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣のデータ列とを対象に、任意の相対位置にある前記データ列と、前記隣のデータ列とにおいて差分を取り、その絶対値の累積を算出する第2の累積値算出手段と、
前記第2の累積値算出手段は、前記相対位置を順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第2の累積値取得手段と、
前記第2の累積値算出手段で得られたそれぞれの累積値を比較し、その最小値であるところの位置ずれを算出する第2の最小位置算出手段と、
前記第2の最小位置算出手段を前記画像信号全域に順次実施し、各列ごとの相対位置を算出する第2の画像位置ずれ算出手段と、
前記斜線パターンに隣接する前記万線パターンの位置ずれを記憶しておく第2の万線位置ずれ記憶手段と、
前記斜線パターンの位置ずれと前記万線パターンの位置ずれとを用いて、副走査方向のみの最小位置ずれ量を算出する第2の副走査方向位置ずれ算出手段とを有することを特徴とする請求項1または2記載の画像位置ずれ計測装置。
The reference pattern position shift calculating unit, the reference pattern is a line pattern having a uniform density in the sub-scanning direction of the image input unit, and a non-uniform density in the main scanning direction,
A diagonal pattern having a uniform density in a direction that is not horizontal and not perpendicular to the sub-scanning direction of the image input unit is a pattern that is disposed adjacent to the sub-scanning direction of the image input unit in the vertical direction,
For an arbitrary region of the line pattern or the oblique line pattern in the image signal obtained by setting the output image in the image input means, a data string of one row of image signals in the main scanning direction in the image input means is provided. ,
A difference is obtained between the data sequence at an arbitrary relative position and the adjacent data sequence with respect to the data sequence adjacent to the data sequence in the vertical direction in the main scanning direction, and the absolute value is accumulated. Second cumulative value calculating means for calculating
The second cumulative value calculating means sequentially shifts the relative position and obtains each cumulative value,
A second minimum position calculating unit that compares the respective cumulative values obtained by the second cumulative value calculating unit and calculates a position shift that is the minimum value;
A second image position shift calculating unit that sequentially performs the second minimum position calculating unit on the entire area of the image signal and calculates a relative position for each column;
Second line misalignment storage means for storing misalignment of the line pattern adjacent to the oblique line pattern,
And a second sub-scanning direction displacement calculating means for calculating a minimum displacement in the sub-scanning direction only by using the displacement of the oblique line pattern and the displacement of the line pattern. Item 3. The image position deviation measuring device according to Item 1 or 2.
前記画像出力装置から出力された出力画像もしくは基準パターンが、前記画像入力装置の解像度よりも大きい万線または斜線パターンであることを特徴とする請求項2または3記載の画像位置ずれ計測装置。4. The apparatus according to claim 2, wherein the output image or the reference pattern output from the image output device is a line pattern or a diagonal line pattern that is larger than the resolution of the image input device. 前記累積値算出手段または前記基準パターン位置ずれ算出手段は、前記画像信号のデータ列に対して、各データをなめらかに結合する数値演算を施すことで、データ間を補間するデータ補間手段を有し、
前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列目のデータ列と、
前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣接する画像信号2列目の隣接データ列にパターンに応じた演算処理を行った補正隣接データ列とを対象に、前記主走査方向に垂直な方向において相対位置にある前記データ列と、
前記補正隣接データ列とにおいて、
前記データ補間手段で算出された補間ピッチごとに差分を取り、その絶対値の累積値を算出し、前記相対位置を前記主走査方向に順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第3の累積値算出手段を有することを特徴とする請求項2または4記載の画像位置ずれ計測装置。
The cumulative value calculating unit or the reference pattern position shift calculating unit has a data interpolation unit that interpolates between data by performing a numerical operation on the data sequence of the image signal to smoothly combine each data. ,
A first data line in the main scanning direction in the image input means;
A vertical line in the main scanning direction with respect to a corrected adjacent data line obtained by performing an arithmetic processing according to a pattern on an adjacent data line of an image signal second column adjacent to the data line in the main scanning direction in the vertical direction. The data sequence at relative positions in different directions;
In the corrected adjacent data string,
A third method is to take a difference for each interpolation pitch calculated by the data interpolation means, calculate a cumulative value of its absolute value, sequentially shift the relative position in the main scanning direction, and obtain each cumulative value. 5. The image position deviation measuring device according to claim 2, further comprising a cumulative value calculating unit.
前記画像出力装置から出力された出力画像もしくは基準パターンが、光学系の副走査方向に水平かつ一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンか、
または前記原稿の前記光学系の走査方向に水平かつ垂直ではない方向に一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンか、
または前記原稿の前記光学系の副走査方向に水平かつ隣合う万線パターンが等ピッチで幅が異なる万線パターンか、
または前記原稿の前記光学系の走査方向に水平かつ垂直ではない方向に隣接する万線パターンが等ピッチで幅の異なる斜線パターンか、であることを特徴とする請求項2記載の画像位置ずれ計測装置。
Whether the output image or the reference pattern output from the image output device is a density pattern in which the density pattern having a constant width and horizontal in the sub-scanning direction of the optical system is not equal pitch,
Or the density pattern of a fixed width in a direction that is not horizontal and vertical to the scanning direction of the optical system of the document, or a density pattern that is not equal pitch,
Or, the line pattern that is horizontal and adjacent to the original in the sub-scanning direction of the optical system is a line pattern having a uniform pitch and a different width,
3. The image misalignment measurement according to claim 2, wherein the line pattern adjacent to the original in a direction that is not horizontal and perpendicular to the scanning direction of the optical system is a diagonal pattern having a uniform pitch and a different width. apparatus.
前記画像出力装置から出力された出力画像と基準パターンの線幅、線間ピッチが、同一または同等であることを特徴とする請求項2記載の画像位置ずれ計測装置。3. The apparatus according to claim 2, wherein the output image output from the image output device and the reference pattern have the same or the same line width and line pitch. 前記基準パターン位置ずれ量取得手段は、あらかじめ基準パターン原稿の位置ずれを記憶しておく基準パターン位置ずれ記憶手段を有することを特徴とする請求項1記載の画像位置ずれ計測装置。The apparatus according to claim 1, wherein the reference pattern position shift amount obtaining unit includes a reference pattern position shift storage unit that stores a position shift of the reference pattern document in advance. 前記画像信号演算手段は、計測対象である画像出力装置から出力された出力画像が、前記画像出力装置の副走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンと、
前記画像出力装置の副走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一な濃度を有する斜線パターンとが、前記画像出力装置の副走査方向と垂直方向に隣接して配置されたパターンであって、
前記出力画像を前記画像入力手段にセットして得られた画像信号における前記万線パターンあるいは前記斜線パターンの任意の領域に対し、前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列のデータ列と、
前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣のデータ列とを対象に、任意の相対位置にある前記データ列と、前記隣のデータ列とにおいて差分を取り、その絶対値の累積を算出する第4の累積値算出手段と、
前記第4の累積値算出手段において、
前記相対位置を順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第3の累積値取得手段と、
前記第4の累積値算出手段で得られたそれぞれの累積値を比較し、その最小値であるところの位置ずれを算出する第3の最小位置算出手段と、
前記第3の最小位置算出手段を前記画像信号全域に順次実施し、各列ごとの相対位置を算出する第3の画像位置ずれ算出手段と、
前記斜線パターンに隣接する前記万線パターンの位置ずれを記憶しておく第3の万線位置ずれ記憶手段と、
前記斜線パターンの位置ずれと、前記万線の位置ずれとを用いて、副走査方向のみの最小位置ずれ量を算出する第3の副走査方向位置ずれ算出手段とを有することを特徴とする請求項1または9記載の画像位置ずれ計測装置。
The image signal calculating means, the output image output from the image output device to be measured, a line pattern having a uniform density in the sub-scanning direction of the image output device, and a density that is not uniform in the main scanning direction,
A diagonal pattern having a uniform density in a direction that is not horizontal and not perpendicular to the sub-scanning direction of the image output device is a pattern that is arranged adjacent to the sub-scanning direction of the image output device in the vertical direction,
For an arbitrary region of the line pattern or the oblique line pattern in the image signal obtained by setting the output image in the image input means, a data string of one row of image signals in the main scanning direction in the image input means is provided. ,
A difference is obtained between the data sequence at an arbitrary relative position and the adjacent data sequence with respect to the data sequence adjacent to the data sequence in the vertical direction in the main scanning direction, and the absolute value is accumulated. A fourth cumulative value calculating means for calculating
In the fourth cumulative value calculating means,
Third cumulative value acquiring means for sequentially shifting the relative position and acquiring respective cumulative values;
A third minimum position calculating unit that compares the respective cumulative values obtained by the fourth cumulative value calculating unit and calculates a displacement that is the minimum value;
A third image position shift calculating unit that sequentially performs the third minimum position calculating unit on the entire area of the image signal and calculates a relative position for each column;
A third parallel line misalignment storage unit for storing misalignment of the parallel line pattern adjacent to the oblique line pattern,
A third sub-scanning direction positional deviation calculating means for calculating a minimum positional deviation amount only in the sub-scanning direction by using the positional deviation of the oblique line pattern and the positional deviation of the line pattern. Item 10. The image position deviation measuring device according to Item 1 or 9.
前記基準パターン位置ずれ記憶手段は、前記基準パターン位置ずれが、前記画像入力手段の副走査方向に均一濃度で、かつ主走査方向に均一でない濃度を有する万線パターンによる主走査方向位置ずれと、
前記基準パターン位置ずれが、前記画像入力手段の副走査方向に水平でなくかつ垂直でない方向に均一な濃度を有する斜線パターンによる副走査方向位置ずれとを記憶することを特徴とする請求項9記載の画像位置ずれ計測装置。
The reference pattern position shift storage means, the reference pattern position shift is a uniform density in the sub-scanning direction of the image input means, and a main scanning direction position shift by a line pattern having a density that is not uniform in the main scanning direction,
10. The reference pattern position shift stores a position shift in the sub-scanning direction by a diagonal pattern having a uniform density in a direction that is not horizontal and not vertical in the sub-scanning direction of the image input unit. Image displacement measurement device.
前記画像出力装置から出力された出力画像もしくは基準パターン原稿が、前記画像入力装置の解像度よりも大きい万線または斜線パターンであることを特徴とする請求項9または10記載の画像位置ずれ計測装置。11. The apparatus according to claim 9, wherein the output image output from the image output device or the reference pattern original is a line pattern or a diagonal line pattern that is larger than the resolution of the image input device. 前記第4の累積値算出手段は、前記画像信号のデータ列に対して、各データをなめらかに結合する数値演算を施すことで、データ間を補間するデータ補間手段を有し、
前記画像入力手段における主走査方向の画像信号1列目のデータ列と、
前記データ列に対して前記主走査方向の垂直方向に隣接する画像信号2列目の隣接データ列にパターンに応じた演算処理を行った補正隣接データ列とを対象に、前記主走査方向に垂直な方向において相対位置にある前記データ列と、
前記補正隣接データ列とにおいて、
前記データ補間手段で算出された補間ピッチごとに差分を取り、その絶対値の累積値を算出し、前記相対位置を前記主走査方向に順次ずらしていき、それぞれの累積値を取得する第5の累積値算出手段を有することを特徴とする請求項9または11記載の画像位置ずれ計測装置。
The fourth cumulative value calculating means has a data interpolating means for interpolating between data by performing a numerical operation on the data sequence of the image signal to smoothly combine each data,
A first data line in the main scanning direction in the image input means;
A vertical line in the main scanning direction with respect to a corrected adjacent data line obtained by performing an arithmetic processing according to a pattern on an adjacent data line of an image signal second column adjacent to the data line in the main scanning direction in the vertical direction. The data sequence at relative positions in different directions;
In the corrected adjacent data string,
A fifth step is to take a difference for each interpolation pitch calculated by the data interpolation means, calculate a cumulative value of its absolute value, sequentially shift the relative position in the main scanning direction, and obtain a respective cumulative value. The image position deviation measuring device according to claim 9, further comprising a cumulative value calculating unit.
前記画像出力装置から出力された出力画像もしくは基準パターン原稿が、光学系の副走査方向に水平かつ一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンか、
または前記原稿の前記光学系の走査方向に水平かつ垂直ではない方向に一定幅の濃度パターンが等ピッチでない濃度パターンか、
または前記原稿の前記光学系の副走査方向に水平かつ隣合う万線パターンが等ピッチで幅が異なる万線パターンか、
または前記原稿の前記光学系の走査方向に水平かつ垂直ではない方向に隣接する万線パターンが等ピッチで幅の異なる斜線パターンか、であることを特徴とする請求項9記載の画像位置ずれ計測装置。
Whether the output image or the reference pattern document output from the image output device is a density pattern in which the density pattern having a constant width and horizontal in the sub-scanning direction of the optical system is not equal pitch,
Or the density pattern of a fixed width in a direction that is not horizontal and vertical to the scanning direction of the optical system of the document, or a density pattern that is not equal pitch,
Or, the line pattern that is horizontal and adjacent to the original in the sub-scanning direction of the optical system is a line pattern having a uniform pitch and a different width,
10. The image position misalignment measurement according to claim 9, wherein the line pattern adjacent to the original in a direction that is not horizontal and perpendicular to the scanning direction of the optical system is a diagonal pattern having a uniform pitch and a different width. apparatus.
前記画像出力装置から出力された出力画像と基準パターン原稿の線幅、線間ピッチなどが、同一または同等であることを特徴とする請求項9記載の画像位置ずれ計測装置。10. The apparatus according to claim 9, wherein a line width, a line pitch, and the like of the output image output from the image output device and a reference pattern document are the same or equivalent. 任意の被写体を2次元に撮像する画像入力工程と、
前記画像入力工程から取得される画像信号を記憶する画像記憶工程と、
前記画像記憶工程から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算工程と、
前記画像入力工程から得られた、計測対象とする画像出力装置から出力された出力画像信号に対し、前記画像信号演算工程により画像の読取位置ずれを計算し、前記画像記憶工程に計算結果を格納し、
前記画像信号演算工程により、基準パターンの位置ずれを算出し、基準パターンの位置ずれ量を取得する基準パターン位置ずれ量取得工程とを有することを特徴とする画像位置ずれ計測方法。
An image inputting step of two-dimensionally capturing an arbitrary subject;
An image storage step of storing an image signal obtained from the image input step,
Obtaining an image signal from the image storage step, an image signal calculation step of performing a calculation,
For the output image signal obtained from the image input step and output from the image output device to be measured, the image reading position shift is calculated by the image signal calculation step, and the calculation result is stored in the image storage step. And
An image signal calculation step of calculating a position shift of the reference pattern by the image signal calculating step and obtaining a position shift amount of the reference pattern.
前記基準パターン位置ずれ量取得工程は、前記画像信号演算工程により基準パターンの位置ずれを算出し、前記画像記憶工程に計算結果を格納し、
前記画像記憶工程から前記位置ずれと前記基準パターン位置ずれを読み出して、前記画像信号演算工程により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで位置ずれの誤差を補正することを特徴とする請求項16記載の画像位置ずれ計測方法。
The reference pattern position shift amount obtaining step calculates a position shift of the reference pattern by the image signal calculating step, and stores a calculation result in the image storing step.
The method according to claim 1, wherein the position shift and the reference pattern position shift are read out from the image storing step, and the position shift error is corrected by subtracting the reference pattern position shift from the position shift in the image signal calculating step. 16. The method for measuring an image position shift according to item 16.
前記基準パターン位置ずれ量取得工程は、あらかじめ基準パターン原稿の位置ずれを記憶しておく基準パターン位置ずれ記憶工程と、
前記画像記憶工程から位置ずれと、
前記基準パターン位置ずれ記憶工程から基準パターン位置ずれとを読み出して、前記画像信号演算工程により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで、位置ずれの誤差を補正することを特徴とする請求項16記載の画像位置ずれ計測方法。
The reference pattern position shift amount obtaining step includes a reference pattern position shift storing step of storing a position shift of the reference pattern document in advance,
Displacement from the image storage step,
The method according to claim 1, further comprising: reading out a reference pattern position shift from the reference pattern position shift storage step and subtracting the reference pattern position shift from the position shift in the image signal calculation step to correct the position shift error. 16. The method for measuring an image position shift according to item 16.
任意の被写体を2次元に撮像する画像入力処理と、
前記画像入力処理から取得される画像信号を記憶する画像記憶処理と、
前記画像記憶処理から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算処理と、
前記画像入力処理から得られた、計測対象とする画像出力装置から出力された出力画像信号に対し、前記画像信号演算処理により画像の読取位置ずれを計算し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、
前記画像信号演算処理により、基準パターンの位置ずれを算出し、基準パターンの位置ずれ量を取得する基準パターン位置ずれ量取得処理とをコンピュータに実行させるための画像位置ずれ計測プログラム。
Image input processing for two-dimensionally capturing an arbitrary subject;
An image storage process for storing an image signal obtained from the image input process,
An image signal calculation process of acquiring an image signal from the image storage process and performing a calculation;
For the output image signal output from the image output device to be measured, which is obtained from the image input processing, calculates the image reading position shift by the image signal calculation processing and stores the calculation result in the image storage processing And
An image misalignment measurement program for causing a computer to execute a reference pattern misalignment amount acquiring process of calculating a misalignment of a reference pattern by the image signal computing process and acquiring the misalignment amount of the reference pattern.
前記基準パターン位置ずれ量取得処理は、前記画像信号演算処理により基準パターンの位置ずれを算出し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、
前記画像記憶処理から前記位置ずれと前記基準パターン位置ずれを読み出して、前記画像信号演算処理により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで位置ずれの誤差を補正することをコンピュータに実行させるための請求項19記載の画像位置ずれ計測プログラム。
The reference pattern position shift amount obtaining process calculates a position shift of the reference pattern by the image signal calculation process, and stores a calculation result in the image storage process.
The computer reads out the position shift and the reference pattern position shift from the image storage process, and corrects the position shift error by subtracting the reference pattern position shift from the position shift by the image signal calculation process. 20. The computer program product according to claim 19, wherein:
前記基準パターン位置ずれ量取得処理は、あらかじめ基準パターン原稿の位置ずれを記憶しておく基準パターン位置ずれ記憶処理を有し、
前記画像記憶処理から前記位置ずれと、
前記基準パターン位置ずれ記憶処理から基準パターン位置ずれとを読み出して、前記画像信号演算処理により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで、位置ずれの誤差を補正することをコンピュータに実行させるための請求項19記載の画像位置ずれ計測プログラム。
The reference pattern position shift amount obtaining process includes a reference pattern position shift storage process of storing a position shift of a reference pattern document in advance,
The displacement from the image storage process,
The computer reads out the reference pattern position shift from the reference pattern position shift storage process and corrects the position shift error by subtracting the reference pattern position shift from the position shift by the image signal calculation process. 20. The computer program product according to claim 19, wherein:
任意の被写体を2次元に撮像する画像入力処理と、
前記画像処理入力手段から取得される画像信号を記憶する画像記憶処理と、
前記画像記憶処理から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算処理と、
前記画像入力処理から得られた、計測対象とする画像出力装置から出力された出力画像信号に対し、前記画像信号演算処理により画像の読取位置ずれを計算し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、前記画像信号演算処理により基準パターンの位置ずれを算出し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、
前記画像記憶処理から前記位置ずれと、
前記基準パターン位置ずれとを読み出して、前記画像信号演算処理により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで位置ずれの誤差を補正することをコンピュータに実行させるための画像位置ずれ計測プログラムを格納した記憶媒体。
Image input processing for two-dimensionally capturing an arbitrary subject;
Image storage processing for storing an image signal obtained from the image processing input means,
An image signal calculation process of acquiring an image signal from the image storage process and performing a calculation;
For the output image signal output from the image output device to be measured, which is obtained from the image input processing, calculates the image reading position shift by the image signal calculation processing and stores the calculation result in the image storage processing Then, the position shift of the reference pattern is calculated by the image signal calculation process, and the calculation result is stored in the image storage process.
The displacement from the image storage process,
Reads the reference pattern position shift and stores an image position shift measurement program for causing a computer to correct the position shift error by subtracting the reference pattern position shift from the position shift by the image signal arithmetic processing. Storage media.
任意の被写体を2次元に撮像する画像入力処理と、
前記画像処理入力手段から取得される画像信号を記憶する画像記憶処理と、
前記画像記憶処理から画像信号を取得し、演算を行う画像信号演算処理と、
前記画像入力処理から得られた、計測対象とする画像出力装置から出力された出力画像信号に対し、前記画像信号演算処理により画像の読取位置ずれを計算し、前記画像記憶処理に計算結果を格納し、あらじめ基準パターン原稿の位置ずれを記憶しておく基準パターン位置ずれ記憶処理とを有し、
前記画像記憶処理から前記位置ずれと、
前記基準パターン位置ずれ記憶処理から基準パターン位置ずれとを読み出して、前記画像信号演算処理により前記位置ずれから基準パターン位置ずれを引くことで位置ずれの誤差を補正することをコンピュータに実行させるための画像位置ずれ計測プログラムを格納した記憶媒体。
Image input processing for two-dimensionally capturing an arbitrary subject;
Image storage processing for storing an image signal obtained from the image processing input means,
An image signal calculation process of acquiring an image signal from the image storage process and performing a calculation;
For the output image signal output from the image output device to be measured, which is obtained from the image input processing, calculates the image reading position shift by the image signal calculation processing and stores the calculation result in the image storage processing And a reference pattern misregistration storing process for preliminarily storing misregistration of the reference pattern document,
The displacement from the image storage process,
A computer reads out the reference pattern position shift from the reference pattern position shift storage process and corrects the position shift error by subtracting the reference pattern position shift from the position shift by the image signal calculation process. A storage medium that stores an image displacement measurement program.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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