JP2004064625A - ループバック試験回路 - Google Patents

Abstract

【課題】ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。
【解決手段】本発明では、信号源を兼ねた測定器を接続する測定器接続端子１０３と、被試験素子を接続するＤＵＴ接続端子１１５と、測定器接続端子とＤＵＴ接続端子の間に設けられ、信号を上りの経路と下りの経路に分ける第１と第２の方向性結合器（１０６、１１４）とを備え、上りの経路１２２には、第１の方向性結合器からの信号を増幅する増幅器１１０と、第２の方向性結合器からの信号を減衰させる第１のアイソレータ１１２とを備え、下りの経路１２６には、第１の方向性結合器からの信号を減衰させる第２のアイソレータ１１８を備えたことを特徴とするループバック試験回路を提供する。
【選択図】図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
【産業上の利用分野】
本発明は通信素子の試験装置に関する。より詳細には、通信素子のループバック試験において、信号源を兼ねる測定器が被測定素子すなわち通信素子に十分な強さの信号出力を供給できない場合に、単一方向のみ信号増幅を行う双方向回路を備えた試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
昨今の発達が著しい通信素子、例えばブルートゥース規格に基づく通信素子などに対してループバック試験を行う場合、信号源を兼ねる測定器が被試験素子に対して十分な強さの信号を供給できない場合がある。
【０００３】
そのような場合、ループバック試験装置中に、単一方向のみ信号増幅を行う増幅回路を設けて出力信号を適正な値になるように調整していた。例えば、特開２０００−１７４６５６号公報の図２の回路に類似したループバック試験装置３００を図３に示す。
【０００４】
図３に示される従来技術によるループバック試験装置３００は、信号源を兼ねる測定器１０２と通信素子である被試験素子ＤＵＴ１１６の間に、２つのサーキュレータ３０２及び３０６で分けられた送信信号専用経路（以下、上りの経路と記す）３１０と受信信号専用経路（以下、下りの経路と記す）３１２を設け、上りの経路３１０に増幅器３０４を設け、下りの経路３１２に減衰器３０８を設けている。すなわち測定器１０２からの出力信号は、サーキュレータ３０２を通って上りの経路３１０に設けられた増幅器３０４で増幅され、サーキュレータ３０６を介してＤＵＴ１１６に供給される。これに対しＤＵＴ１１６からの出力信号は、サーキュレータ３０６を介して下りの経路３１２上に設けられた減衰器３０８で減衰され、サーキュレータ３０２を介して測定器１０２に達し、測定される。このように、測定器からの信号は上りの経路を通り、増幅されて、測定器の最大出力より大きな出力レベルでＤＵＴに供給するよう実現される。一方、ＤＵＴからの応答信号は下りの経路を通って測定器で測定される。このとき、ＤＵＴ１１６からの下りの経路を通った信号は、減衰器３０８で減衰されるが、そのうち幾分かがサーキュレータ３０２を介して上りの経路３１０に混入して増幅される。減衰器３０８の減衰量と増幅器３０４の利得を適切に選んで設計することである程度は試験回路の発振を抑えることができるが、後述するような問題点が存在する。
【０００５】
上述の試験回路において、例えば、測定器１０２はアジレント・テクノロジー社のＥ１８５２Ａ　Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ　Ｔｅｓｔ　Ｓｅｔ測定器（ＤＵＴへ供給するための信号レベルが−９５ｄＢｍないし−３５ｄＢｍ、ＤＵＴからのループバック信号の測定可能範囲が−５５ｄＢｍないし＋２３ｄＢｍ）（ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｂｒｉｔａｉｎ．ａｇｉｌｅｎｔ．ｃｏｍ／ＱＭＤ＿Ｍｋｔｇ／ｓｕｐｐｏｒｔ／ｉｎｓｔｒ／Ｅ１８５２Ａで参照可能）であり、減衰器３０８には減衰量が４０ｄＢ、増幅器には増幅利得が３５ｄＢ、サーキュレータには逆方向の減衰量が２０ｄＢのものが使用される。
【０００６】
ＤＵＴ１１６がブルートゥース規格に準じた素子であれば、ループバック試験でＤＵＴ１１６に供給されるべき信号レベルは、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ　Ｔｅｓｔ　Ｓｐｅｃ　Ｒｅｖ．０．９１２００１，　Ｊｕｌｙ　２のｐｐ．５９−６０の５．１．１８．３の記載により−２０ｄＢｍである。ただし一般にループバック試験では、経路損失などのマージンを考慮してＤＵＴに対して０ｄＢｍ程度の信号を供給できることが望ましい。そこで、経路損失などを考慮しなければ、測定器１０２の出力レベルを−３５ｄＢｍとすればこれが満足される。このとき、増幅器３０４の入力での測定器１０２からの信号レベルは、サーキュレータ３０２の順方向の伝送損失を１ｄＢとすると、−３６ｄＢｍとなる。この入力信号が増幅器３０４及びサーキュレータ３０６及び減衰器３０８及びサーキュレータ３０２を介して増幅器３０４の入力端子に再び回り込む信号レベルは−８１ｄＢｍとなり、発振を回避できる。また、ＤＵＴ１１６の出力を＋２０ｄＢｍとすると、サーキュレータ３０６を介して減衰器３０８へ入力される信号電力は＋１９ｄＢｍとなる。上記と同様にこの信号が減衰器３０８及びサーキュレータ３０２及び増幅器３０４及びサーキュレータ３０６を介して再び減衰器３０８の入力端子に回り込む信号レベルは−２６ｄＢｍとなり、発振を回避できる。しかし、ＤＵＴ１１６からの信号は、サーキュレータ３０６及び減衰器３０８及びサーキュレータ３０２により４２ｄＢ減衰され、−２２ｄＢｍの信号が測定器１０２へ供給されている。
【０００７】
しかしながら、図３に示されるようなループバック試験装置では、受信信号専用経路での減衰量を大きくとると、測定器１０２で測定できる下限に近づくため、正確な測定の実現が難しくなるという問題点があった。逆に減衰器の減衰量を小さくとると、送信信号専用経路への混入を十分に防ぐことができず、発振を回避するのが難しくなるという問題点もあった。同様に、増幅器の増幅利得を大きくとることも、発振を回避することが難しくなる。また、ＤＵＴ１１６からの信号は最大で＋２０ｄＢｍであるため、これより小さい信号出力となった場合、減衰器３０８での減衰量が大きいため、測定器１０２への信号供給が十分でないという問題点もあった。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、上述の問題点を解決し、２．４ＧＨｚ帯のブルートゥース素子のループバック試験に適した十分小さい減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供することである。
本発明の別の目的は、測定精度を上げるため、被測定素子よりも広い帯域を持つループバック試験装置を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明による第１の実施態様では、信号源を兼ねた測定器を接続する測定器接続端子と、被試験素子を接続するＤＵＴ接続端子と、測定器接続端子とＤＵＴ接続端子の間に設けられ、信号を上りの経路と下りの経路に分ける第１と第２の方向性結合器とを備え、上りの経路には、第１の方向性結合器からの信号を増幅する増幅器と、第２の方向性結合器からの信号を減衰させる第１のアイソレータとを備え、下りの経路には、第１の方向性結合器からの信号を減衰させる第２のアイソレータを備えたことを特徴とするループバック試験回路を提供する。
ここで、測定器接続端子と第１の方向性結合器間に、測定器接続端子からの信号を減衰させる減衰器を備えた態様や、上りの経路は、前記第１の方向性結合器の結合端子に接続されていることを特徴とする態様も含む。
【００１０】
本発明による第２の実施態様では、信号源を兼ねた測定器を接続する測定器接続端子と、被試験素子を接続するＤＵＴ接続端子と、測定器接続端子に接続された方向性結合器と、ＤＵＴ接続端子に接続されたサーキュレータと、方向性結合器の結合端子とサーキュレータ間に設けられた上りの経路と、サーキュレータと方向性結合器の出力端子間に設けられた下りの経路とを備え、上りの経路には、方向性結合器からの信号を増幅する増幅器と、サーキュレータからの信号を減衰させる第１のアイソレータとを備え、下りの経路には方向性結合器からの信号を減衰させる第２のアイソレータと、サーキュレータからの信号を減衰させる減衰器を備えたことを特徴とするループバック試験回路を提供する。
ここで、測定器接続端子と方向性結合器間に、測定器接続端子からの信号を減衰させる減衰器を備えた態様も含む。
【００１１】
【発明の実施の形態】
図１は本発明による第１の実施形態に係るループバック試験装置を表すブロック図である。図１において、ループバック試験装置１００は、信号源を兼ねた測定器１０２と、本発明による第１の実施形態のループバック試験回路１０１と、被試験素子であるＤＵＴ１１６を備える。ループバック試験回路１０１は、測定器接続端子１０３と、ＤＵＴ接続端子１１６と方向性結合器１０６および１１４と、増幅器１１０と、アイソレータ１１２および１１８と、減衰器１０４とを備えている。なお、図面において、同じ構成要素には同じ参照番号が付けられている。
【００１２】
方向性結合器１０６は３つの入出力端子を備えている。入力端子１３０は送受信信号経路１２０に接続されて減衰器１０４と測定器接続端子１０３とを介して測定器１０２に接続される。結合端子１３２は送信信号専用経路（以下、上りの経路と称する）１２２に接続されて、増幅器１１０及びアイソレータ１１２を介して方向性結合器１１４の出力端子１３４に接続される。出力端子１４０は受信信号専用経路（以下、下りの経路と称する）１２６に接続されて、アイソレータ１１８を介して方向性結合器１１４の結合端子１３８に接続されている。方向性結合器１１４は３つの入出力端子を備えている。出力端子１３４は上りの経路１２２に接続されてアイソレータ１１２及び増幅器１１０を介して方向性結合器１０６の結合端子１３２に接続される。入力端子１３６は送受信信号経路１２４に接続され、ＤＵＴ接続端子１１５を介してＤＵＴ１１６に接続され、結合端子１３８は下りの経路１２６に接続されてアイソレータ１１８を介して方向性結合器の出力端子１４０に接続される。増幅器１１０及びアイソレータ１１２は、上りの経路１２２上に配置され、アイソレータ１１８は下りの経路１２６上に配置されている。
【００１３】
図１を参照して、まず、測定器１０２からの信号の送信時におけるループバック試験回路１０１の動作について説明する。一例として、減衰器１０４の減衰量を３ｄＢ、方向性結合器１０６の端子１３０から端子１３２への結合係数を１６ｄＢ、増幅器１１０で構成される可変利得増幅器の増幅利得を６０ｄＢ、上りの経路１２２の伝送損失を２ｄＢ、アイソレータ１１２の順方向の伝送損失を２ｄＢとする。信号源を兼ねる測定器１０２の送信信号レベルを−３７ｄＢｍとすれば被測定素子ＤＵＴ１１６の入力に０ｄＢｍを供給することができる。この送信信号レベルは、前出のＥ１８５２Ａ　Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ　Ｔｅｓｔ　Ｓｅｔ測定器の許容出力範囲内である。
【００１４】
一方、方向性結合器１０６の端子１４０から出力された送信信号は、アイソレータ１１８の逆方向損失を２４ｄＢ、方向性結合器１１４の端子１３８と端子１３６との間の結合係数を１６ｄＢ、下りの経路１２６全体の伝送損失を２ｄＢとする。ＤＵＴ１１６の入力端においては−８２ｄＢｍとなり、送信信号専用経路１２２による信号の到達レベル０ｄＢｍと比べて十分減衰されている。
【００１５】
次に、被測定素子ＤＵＴ１１６からの信号の受信時におけるループバック試験回路１０１の動作について説明する。ループバック試験時において、被測定素子ＤＵＴ１１６から出力される信号が、＋２０ｄＢｍであるとする。方向性結合器１１４の端子１３６と端子１３８との間の結合係数を１６ｄＢ、アイソレータ１１８の伝送損失を１ｄＢ、下りの経路１２６全体の伝送損失を２ｄＢ、減衰器１０４の減衰量を３ｄＢとすると、測定器１０２の受信電力は、−２ｄＢｍとなる。この受電電力は前出のＥ１８５２Ａ　Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ　Ｔｅｓｔ　Ｓｅｔ測定器の測定可能入力レベルの範囲内である。
【００１６】
ここで、上りの経路１２２から下りの経路１２６に回り込む信号の強度について検討する。測定器１０２の出力が−３７ｄＢｍのとき、先の仮定では、方向性結合器１０６の端子１３２には−５６ｄＢｍの送信信号が現れる。方向性結合器１１４の端子１３４と結合端子１３８間の減衰量及び方向性結合器１０６の端子１４０と端子１３２との間の減衰量をともに５２ｄＢとすると、増幅器１１０及びアイソレータ１１２及び方向性結合器１１４及びアイソレータ１１８及び方向性結合器１０６を介して再び端子１３２に現れる信号強度は−１０７ｄＢｍとなり、上りの経路１２２から下りの経路１２６に信号が回り込んだとしても、従来技術と比べて十分減衰されるので、発振などの悪影響を回避することができる。
【００１７】
ＤＵＴ１１６からの出力信号を＋２０ｄＢｍとすると、方向性結合器１１４の端子１３６を介して端子１３８に現れる信号強度は＋４ｄＢｍとなる。前記と同様に、この信号が下りの経路１２６から上りの経路１２２を通って方向性結合器１１４の端子１３８に再び現れる信号強度は−４７ｄＢｍとなる。したがって、回路の発振を十分に抑制することができる。
【００１８】
送信時と同様に、受信時に経路１２２へ回り込む信号強度について説明する。ＤＵＴ１１６から送信された信号は、端子１１５及び方向性結合器の端子１３６及び端子１３４およびアイソレータ１１２を介して増幅器１１０の出力端子へ現れる。この際、増幅器１１０の出力端子に現れる信号は、増幅器１１０の損傷を防ぐため、十分減衰されなくてはならない。このため、アイソレータ１１２の逆方向減衰量は十分大きくとり、４８ｄＢとする。ＤＵＴ１１６から出力された２０ｄＢｍの信号が上述の経路を通過して増幅器１１０の入力端子へ現れるが、この電力は−３０ｄＢｍとなり、十分減衰される。
【００１９】
なお、上記の説明で、アイソレータ１１２は、アイソレータ１１８より大きな順方向の減衰量及び逆方向の減衰量を備えていることに注意されたい。これは、測定器１０２からの出力に対する増幅器１１０の出力での信号強度が＋５ｄＢｍであるのに対して、ＤＵＴ１１６からの出力による方向性結合器１１４の端子１３４での信号強度が＋２０ｄＢｍと勝っているためである。このアイソレータ１１２は複数のアイソレータを組み合わせて構成しても良い。
【００２０】
さらに、上記の説明で、増幅器１１０は所望の利得を達成するために、減衰器と増幅器を組み合わせたものとして構成することもできる。
【００２１】
また、減衰器１０４は、単に測定器１０２と方向性結合器１０６間の減衰量の整合を取る他に、測定器１０２がその動作中に、ループバック試験回路１０１から外れてしまったときに、測定器接続端子１０３で全反射が起こり、系が発振してＤＵＴ１１６を破壊するのを防ぐために設けている。しかしながら、測定器１０２から方向性結合器１０６の入力端子１３０までの経路が、確実に切断されないとわかっている場合には、省略することもできる。
【００２２】
なお、上記の数値例は、一般に市販されている方向性結合器及びアイソレータ及び減衰器及び増幅器の利得から鑑みて、十分に実現できる値である。例えば、方向性結合器には、例えばＫＲＹＴＡＲ社製ｍｏｄｅｌ　１８５０　（帯域０．５ＧＨｚないし１８．５ＧＨｚ）などを使用することができる。
【００２３】
以上のように、図１に示すループバック試験装置では、方向性結合器及びアイソレータを用い、かつ、方向性結合器を使用することで上り経路から下りの経路への減衰量が増えたために、より発振しにくい試験装置を実現することができた。また、ＤＵＴ１１６からの信号も前述の試験装置３００に示す回路と比べ、減衰量は２２ｄＢ減少し、被測定信号を必要以上に減衰させることなく測定器１０２へ伝送することが可能となる。さらに、サーキュレータの代わりに方向性結合器を用いたため、従来よりも広帯域の試験装置を実現することができた。
【００２４】
図２は本発明による第２の実施形態に係るループバック試験装置を表すブロック図である。図２において、ループバック試験装置２００は、信号源を兼ねた測定器１０２と、本発明による第２の実施形態のループバック試験回路２０１と、被試験素子であるＤＵＴ１１６を備える。ループバック試験回路２０１は、測定器接続端子２０３と、ＤＵＴ接続端子２１５と方向性結合器１０６と、サーキュレータ２０２と、増幅器１１０と、アイソレータ１１２および１１８と、減衰器１０４及び２０４とを備えている。
【００２５】
方向性結合器１０６は３つの入出力端子を備えている。入力端子１３０は送受信信号経路２２０に接続されて減衰器１０４を介して測定器１０２に接続される。結合端子１３２は送信信号専用経路（以下、上りの経路と称する）２２２に接続されて増幅器１１０及びアイソレータ１１２を介してサーキュレータ２０２の端子２３４に接続される。出力端子１４０は受信信号専用（以下、下りの経路と称する）経路２２６に接続されてアイソレータ１１８及び減衰器２０４とを介してサーキュレータ２０２の端子２３８に接続されている。サーキュレータ２０２は３つの入出力端子を備えている。端子２３４は上りの経路２２２に接続されてアイソレータ１１２及び増幅器１１０を介して方向性結合器１０６の結合端子１３２に接続される。端子２３６は送受信信号経路２２４に接続されてＤＵＴ１１６に接続される。端子２３８は下りの経路２２６に接続されてアイソレータ１１８を介して方向性結合器の出力端子１４０に接続されている。増幅器１１０及びアイソレータ１１２は、上りの経路２２２上に配置され、アイソレータ１１８及び減衰器２０４は下りの経路２２６上に配置されている。
【００２６】
図２のループバック試験回路２０１の動作において、図１との違いについて説明する。サーキュレータ２０２における順方向の信号の流れ、すなわち端子２３４から端子２３６、あるいは端子２３６から端子２３８、あるいは端子２３８から端子２３６に対しては減衰がほとんど起こらないのに対し、逆方向の信号の流れ、すなわち端子２３６から端子２３４、あるいは端子２３４から端子２３８、あるいは端子２３８から端子２３４に対しては減衰量が２４ｄＢである。また、サーキュレータ２０２の端子２３８とアイソレータ１１８の間には減衰量６ｄＢの減衰器２０４が設けられている。その他についての動作は図１と同様なので説明を省略する。
【００２７】
図２のサーキュレータ２０２及び減衰器２０４を除く他の回路構成要素の性能は、図１のループバック試験回路の同一の参照番号の回路構成要素と同じである。減衰器２０４の減衰量を６ｄＢ、サーキュレータ２０２の順方向伝送損失を１ｄＢ、逆方向減衰量を２４ｄＢとすると、測定器１０２の出力レベルを−３６Ｂｍとした場合、方向性結合器１０６の端子１３２に現れる信号は−５５ｄＢｍとなる。また、ＤＵＴ１１６へ伝送される信号電力は、０ｄＢｍとなる。測定器１０２からの信号が経路２２２及び経路２２６を介して、再び端子１３２に現れるとすると、その信号電力は−８４ｄＢｍとなるため、発振は抑制される。
これに対し、測定器１０２の出力が、減衰器１０４及び方向性結合器１０６の端子１３０及び端子１４０及び経路２２６を介してサーキュレータ２０２の端子２３６を経てＤＵＴ１１６へ伝送される信号電力は、−９５ｄＢｍとなる。
【００２８】
一方、受信時においては、ＤＵＴ１１６の出力信号電力を＋２０ｄＢｍとすると、サーキュレータ２０２及び経路２２６を経て測定器１０２へ供給される信号電力は、サーキュレータの伝送損失を１ｄＢ，経路２２６の経路損失を２ｄＢ、アイソレータ１１８の伝送損失を１ｄＢとすると、＋７ｄＢｍとなる。また、増幅器１１０の出力端子に現れる電力は−４２ｄＢｍとなり、十分減衰される。
さらに、ＤＵＴ１１６からの出力がサーキュレータ２０２の端子２３６を介して端子２３８に現れる信号電力は＋１９ｄＢｍとなる。この信号電力が経路２２６及び方向性結合器１０６の端子１４０及び端子１３２及び経路２２２を介して再びサーキュレータ２０２の端子２３８に現れるとすると、その信号電力は−１０ｄＢｍとなるため、発振は抑制される。
【００２９】
以上のように、第２の実施態様では、第１の実施態様と比べてサーキュレータ２０２を備えているため使用周波数帯域は従来の技術を用いた試験回路と同等になるが、従来技術よりもＤＵＴ１１６から測定器１０２への下り経路の減衰量が小さく、発振しにくいループバック試験回路を提供できる。
【００３０】
なお、上記の説明で、アイソレータ１１２は、アイソレータ１１８より大きな順方向及び逆方向減衰量を備えていることに注意されたい。この目的は、図１の場合と同様、ＤＵＴ１１６から増幅器１１０の出力端子への信号強度を十分減衰させることにある。
【００３１】
なお、第２の実施態様に関する増幅器、アイソレータ、サーキュレータ等の数値例の実現性や素子の例については、第１の実施態様と同様である。
【００３２】
【発明の効果】
以上のように、本発明を用いると、ループバック試験に十分な信号出力を供給できない測定器を用い場合にも、発振しにくく、かつ、ＤＵＴからの信号を必要以上に減衰させることなく試験できるループバック試験回路を提供することができる。
また、請求項１ないし３によれば、上記に加えて、広帯域の発振しにくいループバック試験回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施態様を用いたループバック試験装置を示すブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施態様を用いたループバック試験装置を示すブロック図である。
【図３】従来技術によるループバック試験装置を説明するブロック図である。
【符号の説明】
１００：ループバック測定装置
１０１：ループバック測定回路
１０２：測定器
１０３：測定器接続端子
１０４：減衰器
１０６、１１４：方向性結合器
１１０：増幅器
１１２，１１８：アイソレータ
１１５：ＤＵＴ接続端子
１１６：被測定素子（ＤＵＴ）
１２２：送信側専用経路（上りの経路）
１２６：受信側専用経路（下りの経路）

Claims (5)

1. 信号源を兼ねた測定器を接続する測定器接続端子と、
   被試験素子を接続するＤＵＴ接続端子と、
   前記測定器接続端子と前記ＤＵＴ接続端子の間に設けられ、信号を上りの経路と下りの経路に分ける第１と第２の方向性結合器とを有し、
   前記上りの経路には、前記第１の方向性結合器からの信号を増幅する増幅器と、前記第２の方向性結合器からの信号を減衰させる第１のアイソレータとを備え、
   前記下りの経路には、前記第１の方向性結合器からの信号を減衰させる第２のアイソレータを備えたことを特徴とするループバック試験回路。
2. 前記測定器接続端子と前記第１の方向性結合器間に、前記測定器接続端子からの信号を減衰させる減衰器を備えたことを特徴とする請求項１に記載の試験回路。
3. 前記上りの経路は、前記第１の方向性結合器の結合端子に接続されていることを特徴とする請求項１または２に記載の試験回路。
4. 信号源を兼ねた測定器を接続する測定器接続端子と、
   被試験素子を接続するＤＵＴ接続端子と、
   前記測定器接続端子に接続された方向性結合器と、
   前記ＤＵＴ接続端子に接続されたサーキュレータと、
   前記方向性結合器の結合端子と前記サーキュレータ間に設けられた上りの経路と、
   前記サーキュレータと前記方向性結合器の出力端子間に設けられた下りの経路とを有し、
   前記上りの経路には、前記方向性結合器からの信号を増幅する増幅器と、前記サーキュレータからの信号を減衰させる第１のアイソレータとを備え、
   前記下りの経路には、前記方向性結合器からの信号を減衰させる第２のアイソレータと、前記サーキュレータからの信号を減衰させる減衰器を備えたことを特徴とするループバック試験回路。
5. 前記測定器接続端子と前記方向性結合器間に、前記測定器接続端子からの信号を減衰させる減衰器を備えたことを特徴とする請求項４に記載の試験回路。

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