JP2003515152A - センサ - Google Patents

センサ

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JP2003515152A
JP2003515152A JP2001540327A JP2001540327A JP2003515152A JP 2003515152 A JP2003515152 A JP 2003515152A JP 2001540327 A JP2001540327 A JP 2001540327A JP 2001540327 A JP2001540327 A JP 2001540327A JP 2003515152 A JP2003515152 A JP 2003515152A
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bragg grating
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sensor
grating
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JP2001540327A
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ディー カージー、アラン
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ウェザーフォード/ラム インコーポレーテッド
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    • G01L1/24Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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Abstract

(57)【要約】 温度またはひずみを含むパラメータを感知するためのファイバ・ブラッグ回折格子センサシステムであって、構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子からなり、広帯域光源、結合器、読出し回折格子混合およびスペクトル分析システムと組み合わされる。前記構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子の組合せが、光信号に反応し、さらに、感知したパラメータに関する情報を含んだ構造ファイバ・ブラッグ回折格子センサ信号を供給するべく、感知したパラメータに反応する。前記広帯域光源、結合器、読出し回折格子混合およびスペクトル分析システムは、感知するパラメータを決定するために使用する、混合およびスペクトル分析された構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号に関する情報を含んだ広帯域源、結合器、読出し回折格子混合およびスペクトル分析システム信号を供給するべく、光信号を供給し、構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号に反応し、前記構造ファイバ・ブラッグ回折格子信号を基準回折格子スペクトルと混合する。構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号は、構造読出しファイバ・ブラッグ回折格子で反射され、組合せ構造センサおよび読出しファイバブラッグ回折格子信号が、スペクトル分析される。構造センサファイバブラッグ回折格子信号は、光学スペクトルセンサでを用いて分析され、ついで、スペクトル計量装置において、シミュレートされた基準グレーティングスペクトルと電子的に混合されて掛け合わされてもよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 [発明の属する技術分野] 本発明は、ひずみまたは温度のようなパラメータを感知するセンサに関する。
さらに詳しくは、類似のスペクトル特徴をもった構造的「受信機」または「読出
し」ファイバ・ブラッグ回折格子と組み合わせた構造化センサ・ファイバ・ブラ
ッグ回折格子(すなわち、マルチラインスペクトル反応)を備えるセンサシステ
ムに関する。構造化センサ回折格子のマルチライン構成要素の間隔は、構造化読
出し回折格子の構成要素の間隔とは異なるため、この2つは「ビート」を生じ、
ひずみ/温度または他のパラメータへの増幅された反応を所望の通りに生成する
ことができる。この概念は、時間多重化または何らかの形式の周波数多重化を用
いた多重化に相当する。「混合」または「ビート」も、構造センサ回折格子信号
を、シミュレートした基準回折格子信号で電子的に多重化して同じ結果を得るこ
とで達成できる。
【0002】 [関連技術の説明] 図1Aは、ファイバにひずみまたは温度変化(または適当な変換機構を介した
他のパラメータ)が加えられたときにそれに追従する、一般に単一の鋭い共鳴特
徴を呈するブラッグ回折格子のようなファイバ回折格子に基づいたセンサを示し
ている。通常、ひずみと温度を伴った波長シフトは、以下の正規化した反応式に
よって表わされる。すなわち、
【数1】
【0003】 たとえば、1.3マイクロメートルの公称波長におけるファイバ回折格子は、
約1ナノメートル波長シフト/1000マイクロストレイン(0.1%)の反応
、または約100℃の温度を有する。この固有反応(intrinsic responsivity)
は石英ガラスおよび導波管パラメータの関数であるため、その量は固定している
。(ホストガラスを根本的に変更したり、ファイバをドーピングしたり、特定の
導波管形状を使用することにより、若干の変更をもたらすことが可能である)。
そのため、ひずみ(または他のパラメータ)の最小変化は、この反応要素によっ
て大部分を検出および求めることが可能である。以上において引用したばあいに
おいて、1ピコメートル(すなわち10-12メートル)の回折格子波長シフトを
検出できれば、1ナノメートル/1000マイクロストレインの感度が約1マイ
クロストレインの最小検出可能ひずみに相当する。この反応、または「計測要素
」は、スペクトルビート効果を利用して拡張することができる。
【0004】 図1Bは、正規回折格子を用い、これに「振幅」変調をその長さ方向に沿って
ほどこすことにより生成したマルチスペクトルライン構成要素を伴う回折格子を
示す。その長さに沿った回折格子強度の変調により、装置のスペクトル反応に「
側波帯」が生じる。これらの側波帯は、ほどこされた「超構造」回折格子振幅変
調関数の周期性により決定された波長空間内におけるある間隔で離間している。
図1Bは、一般的に観察される反応を示している。
【0005】 [発明の開示] 本発明は、広帯域光源、結合器、読出し回折格子混合およびスペクトル分析シ
ステムと組み合わせた構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子を備える、温度
またはひずみを含むパラメータを感知するための、新規および独特なファイバ・
ブラグ・センサシステムを提供する。
【0006】 構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子は、光信号に反応し、さらに、感知
したパラメータに関する情報を含んだ構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子
信号を提供するために、感知したパラメータにも反応する。
【0007】 広帯域源、結合器、読出し回折格子混合、スペクトル分析システムは、光信号を
供給し、構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号に反応し、構造ファイバ
・ブラッグ回折格子センサ信号を基準回折格子スペクトルと混合し、感知したパ
ラメータを決定するために使用された構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子
信号の混合したスペクトル分析に関する情報を含んだスペクトル分析システム信
号、広帯域源、結合器、および読出し回折格子混合を提供する。
【0008】 一実施の形態では、スペクトル分析システムに組合せ構造センサと読出しファ
イバ・ブラッグ回折格子信号を提供するために、前記構造センサ・ファイバ・ブ
ラッグ回折格子信号が、これを構造読出しファイバ・ブラッグ回折格子で反射す
ることにより、前記基準回折格子スペクトルと混合される。
【0009】 実際には、本発明は、ひずみのような特定のパラメータに対する波長反応また
はシフトが、各々がマルチスペクトルライン構成要素を備える「センサ」回折格
子と「読出し」回折格子の組合せを使用して正規に得られる以上に増幅される、
回折格子に基づいたセンサを提供する。これら構成要素のあいだの間隔は、セン
サ回折格子と読出し回折格子について異なり、そのため、拡大した全体反応を生
じさせる2つの要素間のビートが発生する。
【0010】 これらの構造回折格子の2つを組合せて使用したばあい、2つの回折格子間に
ビート効果が観察され、その結果、システムの有効な計測要素が拡張され、最小
検出可能ひずみが向上する。
【0011】 他の実施の形態では、構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号が光スペ
クトル分析装置で分析され、つぎに、スペクトル計量装置内で、これにシミュレ
ートした基準回折格子スペクトル信号を掛ける(計量する)ことにより、読出し
基準回折格子スペクトルと電子的に混合される。このばあい、「混合」または「
ビート」処理は、第1実施の形態と同じ結果を得る目的で電子的に実施される。
【0012】 本発明の前述した、またはその他の目的、特徴、利点は、添付の図面に図示す
るように、以下の例示的な実施の形態の詳細な説明によってより明白になるであ
ろう。
【0013】 [発明の実施の形態] 図2:基本的な本発明。 図2は、参照符号10を付した、温度またはひずみを含むパラメータを感知す
るために、新規の、および独特なファイバ・ブラッグ・回折格子センサシステム
を示し、このシステムは、構造化センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子14と組
み合わせた、広帯域光源、結合器、読出し回折格子混合およびスペクトル分析シ
ステム12を備えている。
【0014】 構造化センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子14は、感知されるパラメータに
関する情報を含んだ構造化センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給する
ために、広帯域光信号に反応し、さらに、感知するパラメータに反応する。
【0015】 広帯域光源、結合器、読出し回折格子混合およびスペクトル分析システム12
は、広帯域な光信号を構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子14に送信する
。さらに広帯域光源、結合器、読出し回折格子混合およびスペクトル分析システ
ム12は、構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号にも反応し、構造ファ
イバ・ブラッグ回折格子センサ信号を基準回折格子スペクトルと混合する。そし
て、感知されるパラメータを決定するために使用する構造センサ・ファイバ・ブ
ラッグ回折格子信号のファイバ・ブラッグ回折格子信号に関する情報を含んだ広
帯域光源、結合器、読出し回折格子混合、およびスペクトル分析システム信号を
供給する。
【0016】 図2〜5に関連して説明する一実施の形態では、構造化センサおよび読出しフ
ァイバ・ブラッグ回折格子信号を組合わせてスペクトル分析システムに供給する
ために、構造化センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を構造化読み出しファ
イバ・ブラッグ回折格子で反射することによって混合する。
【0017】 図6に関連して説明するさらに他の実施の形態では、構造センサ・ファイバ・
ブラッグ回折格子信号を光スペクトル分析器で分析し、さらにスペクトル計量装
置内で、シミュレートした基準回折格子スペクトルをこれに掛けることにより基
準回折格子スペクトルと電子的に混合する。
【0018】 図3:反射による混合 図3は、図2のセンサシステム10と一致する、参照符号100で示すセンサ
システムの動作原理を示している。センサシステム100は広帯域源102、第
1結合器104、構造センサ回折格子106、第2結合器108、構造読出しフ
ァイバ・ブラッグ回折格子110、およびスペクトル分析システム112を備え
る。
【0019】 広帯域源102は、構造回折格子センサ106を照射する。構造回折格子セン
サ106から反射された光は多数のスペクトル構成要素を有し、これらのスペク
トル構成要素はすべて、前述したスケールファクタで反応する固有の回折格子に
おいてシフトする。構造センサ回折格子106のマルチスペクトル構成要素は、
構造読出し回折格子110から反射され、つぎに、走査フィルタまたはその他の
分析システム(たとえば他形式のスペクトロメータ)を備えたスペクトル分析シ
ステム112へ送られる。スペクトル分析システム112は、従来より公知であ
り、本発明の範囲は、いずれの特定の実例にも限定されるものではない。構造セ
ンサ回折格子106および読出し回折格子110のマルチスペクトル構成要素間
の間隔は、若干異なるため、出力ではすべてのスペクトルラインが整列すること
はない。しかし、いくつかのスペクトル構成要素が整列し、スペクトル分析シス
テム112に設けられた走査フィルタ波長検出システムにより、この波長におい
て有効な共鳴が観測される。
【0020】 図4、図5:センサ、読出しおよびビートスペクトル特性 図4は、スキームの動作原理を示している。構造センサ回折格子106および
読出しファイバ・ブラッグ回折格子110からの信号が、波長λoにおいてスペ
クトル的に重なる構成要素を有する。構造センサ回折格子106および読出し回
折格子110からの信号は、2つの回折格子の構成要素間の相対間隔によって求
められた波長において再び重なり合う。Δλsが構造センサ回折格子106のス
ペクトル構成要素間の間隔であるばあい、Δλrは構造読出し回折格子110の
あいだの構成要素であり、回折格子共鳴が、ΔλsとΔλrの最小公倍数により
決定された波長の後に再び整列する。たとえば、Δλs=1.1ナノメートル、
Δλr=1.0ナノメートルのばあい、回折格子共鳴は各10ナノメートル毎に
再度整列する。したがって、検出システム112がこれらの波長の各々において
共鳴を「観測」する。(一例として)構造センサ・回折格子106のスペクトル
が付加されたひずみでシフトすると、共鳴整列の位置が実際の回折格子シフト自
体に比べて誇張されてシフトする。これを理解するために、前述した状況すなわ
ち、Δλs=1.1ナノメートル、Δλr=1.0での2つの回折格子を考慮す
ると、整列した対の上にあたる、つぎの共鳴の対のあいだのオフセットは0.1
ナノメートルになる。そのため、センサ・回折格子において0.1ナノメートル
シフトした結果、検出システムで見たところの有効な共鳴位置におけるシフトと
して1.0ナノメートルが得られる。センサ・回折格子における0.2ナノメー
トルのシフトにより、2.0ナノメートルのシフトが生じる。有効な波長シフト
は、次式により実際のシフトと関連させることができる。
【数2】
【0021】 このスキームの動作は、多くの精密測定システムで使用されるバーニヤ効果と
類似している。共鳴は、ある特定の離散的な波長のみにおいて真に「整列」され
るが、整列の度合いは、波長検出システムが確認した応答からの重心補間によっ
て評価することができる。
【0022】 図5は、センサ回折格子ひずみが変化した際の、検出システムと結合した有効
な波長スペクトルの進行を示す。図示されているように、システム反応は、1ナ
ノメートルの構造センサ構成要素間隔と、1.1ナノメートルの構造読出し回折
格子間隔を備えたセンサ・回折格子用にモデリングされている。ビートスペクト
ルシフト利得要素ξは10である。その結果、0.1ナノメートルのセンサスペ
クトルシフトでは、ビートスペクトルは1.0ナノメートルシフトする。反応の
向上におけるこの10の利得要素は、より高い解像センサシステムを達成する上
での有用な方法となり得る。この概念は、10より大きな利得に当てはめること
ができ、たとえば、20または多分50の利得が原則として達成可能である。シ
ステムは、センサおよび読出し回折格子共鳴が完全に整列した際に、強力なスペ
クトルピークを呈するが、そのあいだにおいてピークが依然として観察され、整
列の度合いは重心補間方法により決定することができる。
【0023】 超構造回折格子の代替として、ファイバ内の同じ空間位置に、または直列形式
で相互に極めて隣接して書き込まれた短い個々の要素を使用して回折格子装置を
製造することができる。
【0024】 図6:電子的混合 図2〜5に関連して示し、説明した実施の形態において、戻りのマルチライン
回折格子信号が、周波数が若干異なる第2基準マルチライン回折格子と「混合」
または「ビート」され、「バーニア」効果を与える。これは、センサ信号を基準
特性を備えた基準回折格子で実際に反射することにより行われる。
【0025】 図6は、本発明の代わりの実施の形態を示す。図3のマルチラインセンサFB
G106と基準スペクトル読出し回折格子110とのあいだでスペクトルビーテ
ィングを監視する代わりに、「読出し」回折格子の使用の代替として、マルチラ
インセンサ回折格子のスペクトル反応を監視し、また、たとえば、基準ファイバ
・ブラッグ回折格子で電子計量したスペクトルデータポイントのような基準回折
格子スペクトルを受信信号に電子的に付加することができる。
【0026】 たとえば、図6は、参照符号200を付したファイバ・ブラッグ回折格子セン
サシステムを示しており、このシステムは、スペクトルビートに基づくバーニア
効果の使用による向上したひずみ−波長反応を有し、広帯域源202、光結合器
204、構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子206、光スペクトル分析器
208およびスペクトル計量装置210を備えている。広帯域源202は、広帯
域光信号を供給する。光結合器204は、結合した広帯域光信号を供給するため
に、広帯域光信号に反応する。構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子206
は、結合した広帯域光信号に反応し、さらに、感知されたパラメータに関する情
報を含んだ構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給するために、感
知されたパラメータに反応する。光結合器204はさらに、結合した構造センサ
・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給するために、構造センサ・ファイバ・
ブラッグ回折格子信号に反応する。光スペクトル分析装置208は、スペクトル
分析された結合した構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号に関する情報
を含んだ光スペクトル分析装置信号を供給するべく、結合した構造センサ・ファ
イバ・ブラッグ回折格子信号に反応する。光スペクトル分析装置208は従来よ
り公知のものである。スペクトル計量装置210は、感知するパラメータを決定
するために使用される基準回折格子スペクトル信号を付加したのちに、混合およ
びスペクトル分析された、結合した構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信
号に関する情報を含んだスペクトル計量装置信号を供給するために、光スペクト
ル分析装置信号に反応し、光スペクトル分析装置信号をシミュレートした基準回
折格子スペクトル信号と電子的に混合する。スペクトル計量装置210は、典型
的なマイクロプロセッサに基づいた構成を使用したソフトウェアを用いて実現す
ることができ、この構成はマイクロプロセッサ、ランダムアクセスメモリ(RA
M)、読出し専用メモリ(ROM)、入力/出力装置、これら装置を結合するた
めのアドレスおよびデータバスを備えている。
【0027】 図6の実施の形態において、「混合」または「ビート」処理は電子的に実施さ
れる。実際において、図2〜5に関連して図示および説明したものと同じ結果を
得るために、完全なセンサスペクトルの検出したときに、これに、シミュレート
した「基準」回折格子スペクトルを電子的に掛ける(計量する)。このシミュレ
ートした回折格子の「周波数」は、ハードウェア構成要素/装置のみを使用した
ばあいと比較してより優れた柔軟性が得られるソフトウェアによって設定する。
【0028】 この実施の形態の利点には、バーニア乗法要素を所望の通りに選択することが
できることが含まれる。これはすなわち、「ズーム」機能を提供する役割をする
ということである。正確に維持した基準装置は不要である。複数のセンサは、異
なる波長「帯域」を占めるかどうかについて質問を受けることが可能である。
【0029】 [発明の範囲] 本発明の例示的な実施の形態に関連して本発明を説明してきたが、本発明の精
神と範囲を逸脱しない限り、前述の、およびそれ以外の様々な追加、省略を行な
うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1A】 図1Aは、均一な回折格子、入力スペクトル、単一成分出力スペクトルを含む
、均一な回折スペクトル応答の説明図である。
【図1B】 図1Bは、構造回折格子、入力スペクトル、複数構成要素出力スペクトルを含
む、構造回折格子スペクトル反応の線図である。
【図2】 本発明の主要部であるファイバ・ブラッグ回折格子センサシステムのブロック
線図である。
【図3】 図2に示したファイバ・ブラッグ回折格子センサシステムの一実施の形態の概
略的な線図である。
【図4A】 センサ回折格子スペクトル特性を示す。
【図4B】 読出し回折格子スペクトル特性を示す。
【図4C】 ビート回折格子スペクトル特性を示す。
【図5A】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5B】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5C】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5D】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5E】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5F】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5G】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5H】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5I】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5J】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図5K】 センサ/読出し回折格子ビートスペクトル特性を示す。
【図6】 図2に示したファイバ・ブラッグ回折格子センサシステムの他の実施の形態を
示す概略的な線図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE,TR),OA(BF ,BJ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW, ML,MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,G M,KE,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ ,UG,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ, MD,RU,TJ,TM),AE,AL,AM,AT, AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,CA,C H,CN,CU,CZ,DE,DK,EE,ES,FI ,GB,GD,GE,GH,GM,HR,HU,ID, IL,IN,IS,JP,KE,KG,KP,KR,K Z,LC,LK,LR,LS,LT,LU,LV,MD ,MG,MK,MN,MW,MX,NO,NZ,PL, PT,RO,RU,SD,SE,SG,SI,SK,S L,TJ,TM,TR,TT,UA,UG,UZ,VN ,YU,ZA,ZW Fターム(参考) 2F056 VF02 VF11 2F065 AA65 FF48 FF61 GG21 LL02 LL21 LL42 LL67 QQ00 QQ23 QQ32 QQ44 2F103 BA37 CA04 CA06 EC09 EC10 2G059 AA05 CC20 EE02 EE12 GG10 JJ05 JJ17 JJ22 KK01 MM05 MM10 2H050 AC82 AC84 【要約の続き】 格子で反射され、組合せ構造センサおよび読出しファイ バブラッグ回折格子信号が、スペクトル分析される。構 造センサファイバブラッグ回折格子信号は、光学スペク トルセンサでを用いて分析され、ついで、スペクトル計 量装置において、シミュレートされた基準グレーティン グスペクトルと電子的に混合されて掛け合わされてもよ い。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 温度またはひずみを含むパラメータを感知するためのファイ
    バ・ブラッグ回折格子センサシステムであって、 構造化センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子と、光信号を供給するための広帯域
    源、結合器、読出し回折格子混合およびスペクトル分析システムとを有し、 前記回折格子が光信号に反応し、さらに、感知したパラメータに関する情報を含
    んだ構造ファイバ・ブラッグ回折格子センサ信号を供給するべく、感知したパラ
    メータに反応し、 感知するパラメータを決定するために使用する構造センサ・ファイバ・ブラッグ
    回折格子信号の混合スペクトル分析に関する情報を含んだ広帯域源、結合器、読
    出し回折格子混合およびスペクトル分析システム信号を供給するべく、前記構造
    センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号に反応し、前記構造ファイバ・ブラッ
    グ回折格子信号を基準回折格子スペクトルと混合する、ファイバ・ブラッグ回折
    格子センサシステム。
  2. 【請求項2】 構造センサと読出しファイバ・ブラッグ回折格子信号を組合
    わせてスペクトル分析システムに提供するために、前記構造センサ・ファイバ・
    ブラッグ回折格子信号が、構造読出しファイバ・ブラッグ回折格子で反射するこ
    とにより前記基準回折格子スペクトルと混合される請求項1記載のファイバ・ブ
    ラッグ回折格子センサシステム。
  3. 【請求項3】 前記構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号が、光ス
    ペクトル分析装置で分析され、ついで、スペクトル計量装置において、当該信号
    に、シミュレートした基準グレーティングスペクトル信号を掛けることで前記基
    準回折格子スペクトルと電子的に混合される請求項1記載のファイバ・ブラッグ
    回折格子センサシステム。
  4. 【請求項4】 前記広帯域光源、結合器、読出し混合およびスペクトル分析
    システムが、広帯域光源、第1光連結器、第2光連結器、構造読出しファイバ・
    ブラッグ回折格子およびスペクトル分析システムを有し、 前記第1光結合器が、前記広帯域光源から構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折
    格子へ光信号を供給し、 前記第1結合器および前記第2結合器が、前記構造読出しファイバ・ブラッグ回
    折格子に構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給し、 前記第2光結合器が、スペクトル分析システムに組合せ構造センサと読出しファ
    イバ・ブラッグ回折格子信号を提供する請求項1記載のファイバ・ブラッグ回折
    格子センサシステム。
  5. 【請求項5】 前記広帯域光源、結合器、読出し混合およびスペクトル分析
    システムが、広帯域光源、第1光結合器、光スペクトル分析装置およびスペクト
    ル計量装置を有し、 前記第1光結合器が、前記広帯域光源から、前記構造センサ・ファイバ・ブラッ
    グ回折格子へ前記光信号を供給し、 前記第1結合器が、前記光スペクトル分析装置に前記構造センサ・ファイバ・ブ
    ラッグ回折格子信号を供給し、 前記光スペクトル分析装置が、前記スペクトル計量装置に光スペクトル分析装置
    信号を供給する請求項1記載のファイバ・ブラッグ回折格子センサシステム。
  6. 【請求項6】 スペクトルビートに基づくバーニア効果の使用により、向上
    したひずみ−波長反応を備えるファイバ・ブラッグ回折格子センサシステムであ
    って、 広帯域光信号を供給する広帯域源を有し、 結合した広帯域光信号を供給するために前記広帯域光信号に反応し、さらに、第
    1結合構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給するために、感知し
    たパラメータに関する情報を含んだ構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信
    号に反応する第1光結合器を有し、 前記構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給するために、前記結合
    した広帯域光信号に反応する構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子を有し、
    結合した構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給するために、前記
    構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号に反応するとともに、結合した構
    造読出しファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給するために、感知したパラメー
    タへの増幅した反応に関する情報を含んだ構造読出しファイバ・ブラッグ回折格
    子信号に反応する、ある波長間隔をもった第2光結合器を有し 前記構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子の前記波長間隔とは異なる波長間
    隔を備え、前記構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号と基準回折格子ス
    ペクトルとの混合に関する情報を含んだ前記構造読出しファイバ・ブラッグ回折
    格子信号を供給するために、前記結合した構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折
    格子信号に反応する構造読出しファイバ・ブラッグ回折格子を有し、 前記感知したパラメータに関する情報を含んだスペクトル分析システムを供給す
    るために、前記結合した構造読出しファイバ・ブラッグ回折格子信号に反応する
    スペクトル分析システムをさらに有する、ファイバ・ブラッグ回折格子センサシ
    ステム。
  7. 【請求項7】 スペクトルビートに基づくバーニア効果の使用により、向上
    したひずみ−波長反応を備えるファイバ・ブラッグ回折格子センサシステムであ
    って、 広帯域光信号を供給するための広帯域源を有し、 結合した広帯域光信号を供給するために前記広帯域光信号に反応し、さらに、結
    合した構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給するために、感知し
    たパラメータに関する情報を含んだ構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信
    号に反応する光結合器を有し、 前記結合した広帯域光信号に反応し、さらに前記感知したパラメータに関する情
    報を含んだ前記構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号を供給するために
    、感知したパラメータに反応する構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子を有
    し、 スペクトル分析された、結合した構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子信号
    に関する情報を含んだ光スペクトル分析装置信号を供給するために、前記結合し
    た構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折信号に反応する光スペクトル分析装置を
    有し、 前記スペクトル分析された、結合した構造センサ・ファイバ・ブラッグ回折格子
    信号と、感知したパラメータの決定に使用する基準回折格子スペクトルとの混合
    に関する情報を含んだスペクトル計量装置信号を供給するために、前記スペクト
    ル分析装置信号に反応するスペクトル計量装置をさらに有する、ファイバ・ブラ
    ッグ回折格子システム。
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