JP2003510595A - 作像システム - Google Patents

作像システム

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Abstract

(57)【要約】 作像装置として、オブジェクト空間（２）からの放射が干渉計３を経由して検出器素子８のアレイに入るものが示されており、この干渉計（３）は走査されて、各ピクセルからの出力がオブジェクト空間（２）の対応する領域から受領した放射から生成された干渉模様Ｂを構成するようにして、画像データがピクセルの出力に依存して生成できるようにし、この画像データが各ピクセルと関係している空間放射輝度（ラジアンス）から得られている。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】 発明の属する技術分野 この発明は作像システム（イメージングシステム）に係り、とくにスペクトル
ラジアンス（放射輝度）を用いた、オブジェクトもしくは気体の検出と分類に適
した作像システムに関する。
【０００２】 従来の技術 通常のＴＶ形式のカメラであれ、赤外カメラであれ、カメラは一般に受領した
放射の強度に依存した画像を生成する。しかしながら、強度に加えて、オブジェ
クト空間内の点もまたその空間放射輝度と偏光ともまた特徴づけすることができ
る。
【０００３】 スペクトル放射輝度を検出できるようにすることができる多数のデバイスがあ
り、その一形式は選択的に（プレファレンシャルに）ドープされた大規模（ラー
ジスケール）焦点面アレイ（フォーカルプレーンアレイ、ＦＰＡ）である。ＦＰ
Ａはある種のピクセルのスペクトル応答を強調し、しかも製造中に固定されるや
り方でドープできる。検出器素子の典型的な列（コラム）がドープされて同一か
つ規定された狭いスペクトル応答をもつようにされている。このアレイの全幅に
わたって、コラムのいくつかの組が関心のある波長帯をカバーするように作られ
て、このようなデバイスが３ないし５と８ないし１２ミクロン帯をカバーするよ
うに製造されている。この検出器アレイは１組の長い線形アレイとして動作し、
画像をまたいで走査されてすべての関連のサブバンドでデータを蒐集して完全な
画像を形成するようにしている。これが出力を作り、実効的にはサブバンドの各
波長で画像の組となる出力となっている。
【０００４】 発明が解決しようとする課題 上述のシステムの不利な点は、機械的な走査用デバイスで高価なものを必要と
し、かなりの電源を必要とし、信頼性上の問題を生じさせ、また走査用機構に対
する十分な大きさのハウジングを必要とすることであり、こういったすべてが、
ある種の応用、とくに軍需応用では好ましくないことになることである。
【０００５】 スペクトル放射輝度に基づいて画像が生成されるようにする作像器の第２の形
式は焦点面アレイが広帯域カメラかの直接前面に置かれたフィルタホイール（車
輪）を採用している。このフィルタホイールは多数のフィルタを含んでいて、そ
の各々が狭いサブバンドの透過を有し、これらのフィルタが検出器の前方にシー
ケンスとなって置かれて、各サブバンドについて１つの別個の一連の画像を生成
する。ここでもまた、回転するフィルタホイールの使用は好ましくなく、またこ
のシステムでは画像はフィルタホイールについて数サイクルを、統合が行なわれ
るために、必要とすることになり、その理由として、各サブバンドについての統
合時間が、ＣＣＩＲのＴＶ形式（フレームレート２５Ｈｚ）と両立性がある（コ
ンパチブルな）短時間でサブバンドの完全な組をサンプルすることを確保するに
は短かくなってしまうことがあげられる。１０もしくは１２のサブバンドとする
と、別個のサブバンドサンプル間の時間間隔は１秒の０．５のオーダーとなり、
しかも固定されるのが一般的である。サブバンドの中での別個のサンプル間の時
間間隔もまた長く、しかも固定されており、この不利な点は、“コントラスト”
もしくはターゲットの弁別手段がその中で検出されたサブバンドがもっと頻繁に
再訪されることにフレキシビリティの欠如が妨害を与えていることである。
【０００６】 衛星応用で使用されている第３の作像器の形式は、干渉計技術を採用しており
、この技術は特定波長について最適化され、スペース（宇宙）での動作と関係し
た独特な（ユニークな）拘束条件の組に影響をされており、スペースでは発射の
場合を除いて、不整列（ミスアライメント）を生じさせる振動環境はなく、機器
内部での大気による減衰はなく、また干渉計は波長範囲が調べられるところであ
るときだけ走査がされ、それ以外では固定すなわち同調されているようにできる
。
【０００７】 課題を解決するための手段 この発明によると作像システムが提供されていて、その構成は、オブジェクト
空間から放射を受領するための開口と；該開口を通って受領された放射がそこに
入射するようにされた干渉計と；該干渉計からの出力放射を受領するための検出
器素子アレイと；ある範囲の異なる経路長を介して該干渉計を走査するようにさ
れた制御器と；該アレイの複数の素子から信号を受領し、アレイの各素子に各々
が対応している複数のピクセルの各々についてスペクトル放射輝度を判断して、
各ピクセルのスペクトル放射輝度によって決まるグレイスケールをもつ画像デー
タを生成するためのプロセッサと；を備えている。
【０００８】 この発明を採用することにより、スペクトルラジアンス（放射輝度）、すなわ
ちこの作像システムにより受領されたフォトンの波長は干渉計アームの長さで決
まる分解能に対して正確に判断できるが、航空機搭載の軍用装置に適した一般的
な大きさの拘束条件によって合理的な値にまで強制されてしまう。これが従来形
式の広帯域技術を用いては可能でなかったオブジェクト間の境界が検出できるよ
うにしている。得られたデータは同定識別されることになる物質もしくは気体が
その独自のスペクトル放射輝度特性から可能とするために使用できて、観測者に
とって特別に関心のある物質が後の処理技術によって特別なフラグアップ（付箋
付け）がされるようにする。
【０００９】 好ましいのは、プロセッサがフーリエ変換を実行して各ピクセルのスペクトル
放射輝度を確定するようにすることであり、複数のピクセルのスペクトル輝度は
同時に判断されるのが好都合である。これが実時間画像が生成できるようにする
のに使用できて、また好ましいのは、このシステムさらに画像を生成する画像生
成器を備えていて、この画像ではグレイスケールが各ピクセルのスペクトル放射
輝度に依存していることである。グレイスケール画像は既知の技術によりカラー
画像として表示されるのに先立って強調することができる。
【００１０】 オブジェクト空間から受領した信号が弱い場合には、そのピクセルのスペクト
ル放射強度を確定できるようにするために、干渉計は複数回走査されるのがよい
。
【００１１】 また応用に依存して、干渉計とともに時間ドメイン内で不均一の走査を実行し
て、特別に関心のあるサブバンド（一部帯域）の部分を強調し、併せて関心の少
い特性をもつ部分を抑圧するのが望ましい。
【００１２】 不均一走査は干渉計の可変アーム長が非線形のやり方で増大されるときに発生
し、例えば位置のステップファンクション（関数）状の変化をもたらすことによ
って行なわれる。
【００１３】 ある応用では固体デバイスである干渉計を採用することが好く、その理由は、
これが干渉計と関係している可動部分の必要性を回避し、完全な作像器（イメー
ジャ）を固体デバイスとすることが可能にできて、固体デバイスはより信頼性が
あるようになる傾向にあり、しかも機械的な対抗品よりも丈夫であることにある
。干渉計の光学素子は不整列に確実に対処するために反射器としてコーナーキュ
ーブを採用してもよい。
【００１４】 干渉計が固体デバイスであるときには、材料としてそこに印加した電界を制御
することによって屈折率が変化できるような材料を含んでいるのがよく、電子光
学変調器として知られている。例えばリチウムナイオベートとかガリウムアーセ
ナイド（ヒ素）のような材料である。干渉計の一方の脚（レッグ）の光路長は何
らかの外部手段によりこの材料の屈折率を変えることによって変化できる。
【００１５】 オブジェクトの検出を支援するためには、プロセッサがスペクトル放射輝度で
あるフーリエ変換ではなく、インターフェログラム（干渉図形）と、データベー
ス内に記憶された標準インターフェログラムの組とで一番うまく実行されるアレ
イ内比較（イントラアレイ比較）を標準実時間相関器により実施するのがよい。
【００１６】 これは各ピクセルに対して特殊のスペクトルコンテンツを他のピクセルのスペ
クトル放射輝度に一部依存して割当てることである。プロセッサは標準技術によ
りヒストグラム操作をスペクトル放射輝度に対して実行することができて、グレ
イスケールを各ピクセルに対してある範囲内の値をもつピクセルの数に依存して
割当てて、グレイスケールコントラストを最大となるようにする。このような技
法の結果は、同じようなスペクトル放射輝度をもつすべてのピクセルがあるグレ
イレベル目盛値に指定されて、これらのピクセルを含んでいる何らかの形が結果
の画像を識別するのにより容易となるようにする。これに代って、等価な技法は
カラー範囲をヒストグラムと関係付けて、偽の（フォールス）カラー画像を作り
出すことである。
【００１７】 好都合なのは、このシステムがさらに干渉計によって放射が受領されるのと、
同じオブジェクト空間から放射を受領するための偏光計を備え、この偏光計から
受領したデータを検出器素子のアレイから受領したデータと組合せて各ピクセル
についての得点（スコア）を得るようにすることである。同じように、あるいは
それに加えて、このシステムはさらに、前記干渉計によって放射が受領されるの
と同じオブジェクト空間から関心のある波長範囲にわたり放射を受領するための
カメラを備える。このカメラの出力は次に、強度データであってプロセッサによ
り検出器素子のアレイから受領したデータと組合されて各ピクセルについての得
点を得るようにする強度データを与える。異なる発生源（ソース）からのデータ
が前記プロセッサ内の標準的統計技法に基づいた融合（フュージョン）アルゴリ
ズムにより組合されるのがよい。例えば特定のピクセルもしくはピクセル群は高
い得点を得ることになるのがスペクトル放射輝度及び／又は偏光及び／又は強度
が実質的に隣接するピクセルのものとは異なっていることを条件としており、そ
の理由はこのような事象がさらに考慮／調査に値することになるターゲット空間
内の異常（特異性）を示唆することになるからである。
【００１８】 実施例 この発明の一実施形態を添付の図面を参照して例として記述して行く。
【００１９】 図１を見ると、この発明による作像システムは、グリッド２で表わしてある、
オブジェクト空間から画像を受領するための開口（アパーチャ）１を備えている
。開口１を通って受領した放射はマイケルソン干渉計３に入り、そこで２つの光
路に半分銀を付けた（半透過半反射の）光学系４によって分けられる。第１の光
路は補償素子５を通ってミラー６に進み、そこで反射して戻って補償素子５を通
り、半分銀を付けたミラー４の表面を離れてコリメータ７を通ってフォーカルプ
レーン（焦点面）で検出器素子８のアレイ上に入射することになる。
【００２０】 第２の光路は半分銀を付けた光学系４の後面で反射して光学素子９に向う。こ
れが印加電界で制御される屈折率をもつ材料を備えている。この材料を通過した
光は銀を付けた後面で反射してこの材料を通って戻り、光路長での変化が印加電
圧を前進的に変えることにより導入される。これはミラーを距離Δｘにわたって
走査することと等価である。第２の光路はそこで半分銀を付けた光学系４を通っ
て進み、第１の光路は再結合されて構築的と破壊的との干渉を２つの光路内での
光の相対的位相に依存して生じさせる。
【００２１】 焦点面アレイは検出器素子の２次元アレイを備えていて、各検出器素子（ｍ，
ｎ）は、グリッド２の１つ正方形によって表わされるオブジェクト区間の領域に
対応してピクセル（ｍ，ｎ）を定義している。干渉計の一方の脚の光路長はΔｘ
によって変るので、空間的な放射輝度でオブジェクト空間の各領域と関係してい
るものが干渉パターンを発生させることにして、それによってアレイの検出器素
子（ｍ，ｎ）がそこをまたいで通る一連のフリンジ（縞）を検出している。フリ
ンジはマイケルソン干渉計３内部の２つの光路の構築的及び破壊的干渉から結果
している。このようにして、ピクセル（ｍ，ｎ）に対応しているオブジェクト空
間からのスペクトル放射輝度はグラフＡによって表現されており、これがピクセ
ル（ｍ，ｎ）に対する光インターフェログラムを生成し、ここでは検出器素子に
より検出された強度はΔｘの関数であって、グラフＢで表現されているようにな
る。各ピクセルに対するこの出力は図２の破線１０によって概要を示したプロセ
ッサの入力Ｘで受領される。
【００２２】 ここで図２を参照すると、プロセッサの機能が破線１０の内部に含まれている
部品によって模式的に示されている。実用上はプロセッサは何らかの適切な処理
手段によって実現できるし、一般にはいくつかのマイクロプロセッサであって別
の位置に置くことができるものである。また処理は実時間でされてもよいし、さ
れなくともよい。入力Ｘで受領したデータは記憶媒体から受領してもよいし、焦
点面アレイ８から直接受領してもよいことは示した通りである。
【００２３】 図２のプロセッサはミラー９の変位Δｘを制御する。Ｘで受領した信号は表示
（ディスプレイ）の各要素（ｍ，ｎ）からのデータを含んでいて、先ず増幅器１
１で増幅されて、次にアナログ対ディジタル変換器１２によりディジタル信号に
変化される。フーリエ変換１３が実行されて、各ピクセル（ｍ，ｎ）についての
スペクトル輝度放射をΔｘの関数としてグラフＣに示すように与えるようにする
。要素（ｍ，ｎ）についての一般的なスペクトル放射輝度は図３に示されている
。もう一度図２を参照すると、ピクセルスペクトル放射輝度で各要素（ｍ，ｎ）
に対するものがデータファイル１４内に記憶されている。データファィル１４内
部でデータについてアレイ内比較１５がされて、同じような値をもつピクセルを
識別するようにし、また同じスペクトルコンテンツを異なるピクセルとを関係付
けするために制限を設定し、この制限がデータの雑音レベルとデータの範囲との
関数であり、適応性コンボリューション（畳み込み積分）フィルタのような標準
の画像処理技術に従うものとしている。このようにして、各ピクセルはデータフ
ァイル１６内に記憶されているスペクトルデータ形式を割当てられ、その値は例
えば２５６といった通常のグレイスケール表示を整合するものを越えないもので
成る組の１つから選ばれている。これらの値はそこでグレイスケール１７に変換
されて、このスケール上ではヒストグラム最適化が実行されてグレイレベル間で
のコントラストを最大としてから表示２０上で表示する前にフレームメモリ１９
へ転送される。
【００２４】 入力Ｘからデータを受領するのに加えて、プロセッサ１０はまた広帯域カメラ
２１と偏光計２２とからも入力を受領する。両者２１，２２は正確に整列がとれ
ていて、同じオブジェクト空間をレンズ開口２３，２４を介してそれぞれ眺める
ようにされ、それによってカメラと偏光計との両方のピクセル出力が図１の焦点
面アレイ８のものと対応するようにしている。
【００２５】 偏光計２２の出力からピクセル偏光状態ファイル２５が生成され、このデータ
上ではアレイ間比較２６が実行されて、ピクセル偏光形式が各ピクセルに指定さ
れ、その形式がデータファイル２７内に記憶される。これがグレイスケール２８
に変換されて、その上でヒストグラム最適化２９が実行されて、結果のデータが
ディスプレイ２０上での表示のためにフレームメモリ３０内に記憶される。これ
がオペレータに対して、情景（シーン）のスペクトル放射輝度から生成された画
像と、同じ画像について偏光データから生成された画像との間で切換えができる
ようにしている。オペレータは手操作の介入により画像間での切換えをしてよい
し、あるいは各画像の主たる特徴に基づいて複合画像を作るように融合（フュー
ズ）されるようにしてもよい。
【００２６】 カメラ２１の出力はブロック３１についての強度データを用意する。強度しき
い値３１が加えられて、ピクセル強度がデータファイル３２内に記憶される。
【００２７】 ブロック３１の出力から広帯域ピクセル強度データファイル３２が生成される
。このデータファイル３２のコンテンツはピクセル偏光形式データファイル２７
とピクセルスペクトル形式データファイル１６との両方のコンテンツと一緒に融
合（フュージョン）アルゴリズム３３によって組合される。このアルゴリズムは
またスペクトル異常（特異性）データファイル３４から入力を受け、このコンテ
ンツ（内容）はアレイ内比較器兼リミッタ１５の出力から得られたものであり、
この比較器兼リミッタにより所定のしきい値３５を超えるものとして識別された
いずれかの異常はスペクトル異常データファイル３４内に記憶されていて、この
ファイル３４は背景及び近隣ピクセルからはしきい値３５により設定されたもの
と異なるスペクトル放射輝度を有するすべてのピクセルのリストを含んでいる。
【００２８】 融合アルゴリズム３３は受領したデータをユーザの応用に依存してユーザによ
り設定されたパラメータに従って処理する。融合アルゴリズム３３は各ピクセル
に対してデータファイル３６内で得点（スコア）を作ることになり、しきい値３
７を越えるすべての得点は判断ブロック３８により識別され、このブロックの出
力は表示２０上で関心のあるフラグ領域に対して使用できるか、さらに調査を保
証している画像領域を識別することができる。融合アルゴリズムは３つの入力の
各々についての相対的な大きさに依存した得点を作ることになる。高得点は同時
測定したスペクトル異常、偏光異常及び強度異常からもたらされることになる。
【００２９】 図４を参照すると、図２のピクセルスペクトル放射輝度データファイル１４内
部に含まれているデータから作られた３次元ハイパーキューブを示している。こ
のハイパーキューブのｘとｙの軸はオブジェクト空間内のピクセル位置を表わし
、また波長はＺ軸に沿って与えられる。いずれかの１つのピクセルに対して、ス
ペクトル放射輝度は波長に関して求められて、示した例ではハイパーキューブを
介して採られた３つのセクション４０，４１，４２があって、各々に対して平均
スペクトル放射輝度をもつように示されている。このような比較プロセスは画像
内部の特定ピクセルが関心の対象であると判断した判断ブロック３８の出力の結
果として実行されてよい。
【００３０】 典型的なシナリオのスペクトル放射輝度は一日のうちの時間と機器の視野を埋
めている地面の性質とかそこを覆っている植生に依存する。この情報はスペクト
ル計（分光計）分解能と他の動作パラメータを設定するために使用される。これ
はプロセッサ内で実行される。平均のスペクトル放射輝度は計算されて、最良整
合を設定するために小さなデータ組と比較される。
【００３１】 使用されて動作パラメータを設定するのに使用され、そのやり方は異常の検出
における機器の感度を最適とするようにしている。
【００３２】 ３次元ハイパーキューブは偏光状態もしくは強度に対して、またスペクトル放
射強度に対しても同様に作られてよい。５次元のハイパーキューブが適切な数学
的形式で作ることができるが、容易に理解できるやり方で表現することはできな
い。
【００３３】 この発明の一実施例が例としての目的に限って上述されてきた。しかし、図１
の焦点面アレイから得られるデータは別のやり方でも処理できるし、これが依然
としてこの発明について添付の特許請求の範囲の範疇にあるものとなっている。
【図面の簡単な説明】
【図１】 この発明による作像システムを示す図。
【図２】 この発明による作像システムを示す図。
【図３】 １つの特定のピクセルについての例示的なスペクトル放射輝度（ラジアンス）
のグラフ。
【図４】 図１及び２の作像システムにより生成されるデータを模式的に表わしたグラフ
。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０６Ｔ 1/00 ４６０ Ｇ０６Ｔ 1/00 ４６０Ｌ (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＭＺ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ，ＵＧ ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ， ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＧ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ， ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＢＺ，Ｃ Ａ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＲ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＤＭ ，ＤＺ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ，ＧＨ， ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ，ＪＰ，Ｋ Ｅ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＡ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ， ＭＷ，ＭＸ，ＭＺ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，Ｒ Ｕ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ ，ＴＲ，ＴＴ，ＴＺ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ， ＹＵ，ＺＡ，ＺＷ Ｆターム(参考） 2G020 BA12 BA19 CA12 CC22 CC63 CD03 CD16 CD24 CD34 CD35 CD37 CD51 2G059 AA05 BB01 BB02 EE10 EE12 FF01 FF02 FF09 GG04 JJ18 JJ19 KK04 MM01 PP04 5B047 AA07 AB02 BB04 BC05 BC09 BC14 BC23 BC30 DC04 5B057 AA14 AA20 BA02 BA15 BA19 BA30 CA02 CA08 CA12 CA16 CB02 CB08 CB12 CB16 CE08 CE11 CE20 DA12 DA16 DB02 DB05 DB09 DC22 DC23 DC32 DC36

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 オブジェクト空間から放射を受領するための開口と； 該開口を通って受領された放射がそこに入射するようにされた干渉計と； 該干渉計からの出力放射を受領するための検出器素子アレイと； ある範囲の異なる経路長を介して該干渉計を走査するようにされた制御器と； 該アレイの複数の素子から信号を受領し、アレイの各素子に各々が対応してい
    る複数のピクセルの各々についてスペクトル放射輝度を判断して、各ピクセルの
    スペクトル放射輝度によって決まるグレイスケールをもつ画像を生成するための
    プロセッサと；を備えている作像システム。
  2. 【請求項２】 前記検出器素子のアレイには２次元の焦点面アレイがある請
    求項１記載のシステム。
  3. 【請求項３】 前記プロセッサは各ピクセルの空間放射輝度を得るためにフ
    ーリエ変換を実行する請求項１または２記載のシステム。
  4. 【請求項４】 複数のピクセルに対するスペクトル放射輝度が同時に判断さ
    れる請求項２または３記載のシステム。
  5. 【請求項５】 さらに画像を生成するための画像生成器があって、この画像
    ではグレイスケールが各ピクセルのスペクトル放射輝度に依存している請求項１
    ないし４のいずれか１項記載のシステム。
  6. 【請求項６】 前記干渉計はピクセルのスペクトル放射輝度を得るために複
    数回走査される請求項１ないし５のいずれか１項記載のシステム。
  7. 【請求項７】 前記干渉計走査が均一でない請求項１ないし６のいずれか１
    項記載のシステム。
  8. 【請求項８】 前記干渉計は固体デバイスである請求項１ないし７のいずれ
    か１項記載のシステム。
  9. 【請求項９】 前記干渉計は印加された電界を制御することにより屈折率が
    変えられる材料を含み、干渉計の一方の脚の光路長がこの材料の屈折率を変える
    ことにより変更される請求項８記載のシステム。
  10. 【請求項１０】 ディスプレイを備え、かつ前記スペクトル放射輝度データ
    が該ディスプレイ上に擬似３次元立方体であって２つの直交軸が画像の座標に対
    応し、かつ第３の互に直交する軸が受領した放射の波長に対応している立方体を
    表示する請求項１ないし９のいずれか１項記載のシステム。
  11. 【請求項１１】 前記プロセッサがアレイ内比較を実行し、各ピクセルに特
    定のスペクトルコンテンツを他のピクセルのスペクトル放射輝度に一部依存して
    割当てるようにした請求項１ないし１０のいずれか１項記載のシステム。
  12. 【請求項１２】 前記プロセッサはスペクトル放射輝度値に対してヒストグ
    ラム処理を実行し、グレイスケールコントラストを最大とするためにいずれか１
    つの範囲内で値をもつピクセルの数に依存して、各ピクセルに対してグレイスケ
    ールを割当てるようにした請求項１ないし１１のいずれか１項記載のシステム。
  13. 【請求項１３】 さらに前記干渉計によって放射が受領されるのと、同じオ
    ブジェクト空間から放射を受領するための偏光計を備え、この偏光計から受領し
    たデータを前記検出器素子のアレイから受領したデータと組合せて各ピクセルに
    ついての得点を得るようにした請求項１ないし１２のいずれか１項記載のシステ
    ム。
  14. 【請求項１４】 さらに、前記干渉計によって放射が受領されるのと同じオ
    ブジェクト空間から関心のある波長範囲にわたり放射を受領するためのカメラを
    備え、このカメラの出力は強度データであって前記プロセッサにより前記検出器
    素子のアレイから受領したデータと組合されて各ピクセルについての得点を得る
    ようにする強度データを与える請求項１ないし１３のいずれか１項記載のシステ
    ム。
  15. 【請求項１５】 異なる発生源からのデータが前記プロセッサ内部に含まれ
    た融合アルゴリズムにより組合される請求項１３または１４記載のシステム。
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