JP2003322610A - Optical device, specimen mounting component, light- emission-position controller, analytical system, person collation method and allergy and side-effect inspection method - Google Patents

Optical device, specimen mounting component, light- emission-position controller, analytical system, person collation method and allergy and side-effect inspection method

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JP2003322610A
JP2003322610A JP2002128552A JP2002128552A JP2003322610A JP 2003322610 A JP2003322610 A JP 2003322610A JP 2002128552 A JP2002128552 A JP 2002128552A JP 2002128552 A JP2002128552 A JP 2002128552A JP 2003322610 A JP2003322610 A JP 2003322610A
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liquid crystal
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茂 青山
Tomohiko Matsushita
智彦 松下
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical device which is miniaturized and which is made high-speed and low-cost and to provide a specimen mounting component, a light-emission-position controller, an analytical system, a person collation method and an allergy and side-effect inspection method. <P>SOLUTION: When light emitted from a light source 201a is guided to the y-direction, a polarization state of the light is modulated by a modulation part 201d using a liquid crystal so as to be emitted in a prescribed position in the y-direction, the light guided to the x-direction is modulated by a modulation part 202 using a liquid crystal so as to be emitted in a prescribed position in the x-direction, a specimen in a prescribed position on a specimen mounting part 204 is irradiated with the light, and signal light from the specimen is detected by a photodetector 206. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定体を測定す
る際に適用して好適な光学装置、被測定体載置部品、光
出射位置制御装置、分析システム、本人照合方法及びア
レルギー・副作用検査方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical device suitable for measuring an object to be measured, an object-to-be-measured object placement component, a light emission position control device, an analysis system, a person verification method, and allergy / side effects. It relates to the inspection method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、被測定体に光を照射した際に発光
される信号光を検出し、該被測定体の性質を測定する装
置が種々提案されてきた。
2. Description of the Related Art Heretofore, various devices have been proposed for detecting the signal light emitted when a measured object is irradiated with light and measuring the property of the measured object.

【0003】このような装置により測定される被測定体
として例えばDNAが挙げられる。DNAを測定する技
術は遺伝子工学の一部をなし、この遺伝子工学は、遺伝
子組み替え食品やクローン畜産などの農業畜産分野や、
バイオ技術を利用した環境修復・ゴミ処理、バイオ技術
を利用したCO2処理システム等の環境分野や、バイオ
マスを利用したエネルギー生産などのエネルギー分野な
どにおいて利用されるる。もちろん、遺伝子工学は上記
以外の分野においても利用される。
As an object to be measured by such a device, for example, DNA can be mentioned. The technology for measuring DNA is part of genetic engineering, and this genetic engineering is used in the fields of agricultural and livestock such as genetically modified foods and cloned livestock,
It is used in environmental fields such as environmental restoration and waste processing using biotechnology, CO 2 processing systems using biotechnology, and energy fields such as energy production using biomass. Of course, genetic engineering is used in fields other than the above.

【0004】例えば、従来のDNAチップの分析方法と
して、特開2000−131237号公報に記載の「マ
イクロアレイチップの読取方法および読取装置」や、特
表平9−504910号公報に記載の「分子生物学的分
析および診断用の自己アドレス可能、自己組立て小型電
子システムおよびデバイス」や、特表平10−5127
45号公報に記載された「DNA塩基配列決定およびD
NA同定の方法および装置」などがある。
For example, as a conventional method for analyzing a DNA chip, "a reading method and a reading device for a microarray chip" described in JP-A-2000-131237 and "Molecular organisms" described in JP-A-9-504910. Self-addressable, self-assembling small electronic systems and devices for biological analysis and diagnostics "and Tokkaihei 10-5127.
45, "DNA sequencing and D
NA identification method and apparatus ”.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来技術の場合には、被測定体のスキャンを機械
的に行っているため、スキャン用の駆動部が大きく、装
置全体が大型化してしまうという問題点を有している。
However, in the case of the prior art as described above, since the object to be measured is mechanically scanned, the driving unit for scanning is large and the entire apparatus becomes large. There is a problem that it ends up.

【0006】また、従来技術では、被測定体のスキャン
が機械的なスキャンであるためスキャン時間の短縮が困
難であるという問題点を有している。
In addition, the conventional technique has a problem that it is difficult to reduce the scan time because the scan of the object to be measured is a mechanical scan.

【0007】さらに、従来技術では、装置の大型化、部
品点数の増大により高コストとなるという問題点を有し
ている。
Further, the conventional technique has a problem that the cost is increased due to the enlargement of the device and the increase in the number of parts.

【0008】本発明は上記の従来技術の課題を解決する
ためになされたもので、その目的とするところは、小型
化、高速化及び低コスト化を図ることが可能な光学装
置、被測定体載置部品、光出射位置制御装置、分析シス
テム、本人照合方法及びアレルギー・副作用検査方法を
提供することにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art. The object of the present invention is to reduce the size, increase the speed, and reduce the cost of an optical device and an object to be measured. An object of the present invention is to provide a mounting component, a light emission position control device, an analysis system, a personal identification method, and an allergy / side effect inspection method.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る光学装置は、光を発する光源手段と、
前記光源手段からの光の偏光状態を変換する偏光変換手
段と、前記偏光変換手段から出射された光を第1の方向
に導光する第1の導光手段と、前記第1の導光手段を導
光している光の偏光状態を、前記第1の方向の所定の位
置において変調させる第1の変調手段と、前記第1の導
光手段の表面に形成された、光の偏光状態に応じて光の
透過及び反射を制御する第1の透過反射制御手段と、前
記第1の反射透過制御手段を透過した光を第2の方向に
導光する第2の導光手段と、前記第2の導光手段を導光
している光の偏光状態を、前記第2の方向の所定の位置
において変調させる第2の変調手段と、前記第2の導光
手段の表面に形成された、光の偏光状態に応じて光の透
過及び反射を制御する第2の透過反射制御手段と、前記
第2の反射透過制御手段を透過した光が照射される被測
定体を載置する被測定体載置手段と、前記被測定体から
発せられた光を受光する受光手段とを備えることを特徴
とする。
In order to achieve the above object, an optical device according to the present invention comprises a light source means for emitting light,
Polarization conversion means for converting the polarization state of the light from the light source means, first light guide means for guiding the light emitted from the polarization conversion means in a first direction, and the first light guide means. A first modulation means for modulating the polarization state of the light guiding the light at a predetermined position in the first direction, and a polarization state of the light formed on the surface of the first light guiding means. First transmission / reflection control means for controlling transmission and reflection of light according to the first transmission means; second light guide means for guiding the light transmitted through the first reflection / transmission control means in a second direction; Second modulation means for modulating the polarization state of the light guided through the second light guiding means at a predetermined position in the second direction, and formed on the surface of the second light guiding means. Second transmission / reflection control means for controlling transmission and reflection of light according to the polarization state of the light; and the second reflection / transmission control means. And the measured body mounting means for mounting the object to be measured to light transmitted through the device is irradiated, characterized in that it comprises a light receiving means for receiving light emitted from said object to be measured.

【0010】また、本発明に係る光学装置は、前記第1
の変調手段が、前記第1の方向に複数配置された液晶セ
ルからなる第1の液晶層と、前記第1の液晶層の面であ
って、前記第1の導光手段が形成されている側の面とは
逆側の面に形成された第1の反射手段とを備え、前記第
1の方向の所定の位置における液晶セルに対する電圧の
印加によって、前記光の偏光状態を前記第1の方向の所
定の位置において変調させることを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention comprises the first
Of the first liquid crystal layer and a surface of the first liquid crystal layer, wherein the first light guide means is formed. A first reflecting means formed on a surface opposite to the side surface, and by applying a voltage to the liquid crystal cell at a predetermined position in the first direction, the polarization state of the light is changed to the first surface. It is characterized by modulating at a predetermined position in the direction.

【0011】また、本発明に係る光学装置は、前記第2
の変調手段が、前記第2の方向に複数配置された液晶セ
ルからなる第2の液晶層と、前記第2の液晶層の面であ
って、前記第2の導光手段が形成されている側の面とは
逆側の面に形成された第2の反射手段とを備え、前記第
2の方向の所定の位置における液晶セルに対する電圧の
印加によって、前記光の偏光状態を前記第2の方向の所
定の位置において変調させることを特徴とする。
The optical device according to the present invention is the optical device according to the second aspect.
Is a second liquid crystal layer formed of liquid crystal cells arranged in the second direction, and the surface of the second liquid crystal layer, and the second light guide means is formed. A second reflection means formed on a surface opposite to the side surface, and applying a voltage to the liquid crystal cell at a predetermined position in the second direction changes the polarization state of the light to the second surface. It is characterized by modulating at a predetermined position in the direction.

【0012】また、本発明に係る光学装置は、前記第1
の変調手段を構成する第1の液晶層の液晶、又は、前記
第2の変調手段を構成する第2の液晶層の液晶の少なく
とも一方は、第1の配向膜と第2の配向膜とに挟まれ、
第1の配向膜と第2の配向膜との捩れ角が45°である
ことを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention comprises the first
At least one of the liquid crystal of the first liquid crystal layer forming the modulating means or the liquid crystal of the second liquid crystal layer forming the second modulating means is formed into a first alignment film and a second alignment film. Sandwiched between
The twist angle between the first alignment film and the second alignment film is 45 °.

【0013】また、本発明に係る光学装置は、光を発す
る光源手段と、前記光源手段から出射された光を第1の
方向に導光する第1の導光手段と、前記第1の方向の所
定の位置において屈折率を変調させることにより、前記
第1の導光手段を導光している光を入射させる第1の変
調手段と、前記第1の変調手段の面であって、前記第1
の導光手段の形成される側とは逆側の面に形成された、
前記第1の変調手段に入射した光を前記第1の導光手段
側に反射する第1の反射手段と、前記第1の導光手段か
ら出射された光を第2の方向に導光する第2の導光手段
と、前記第2の方向の所定の位置において屈折率を変調
させることにより、前記第2の導光手段を導光している
光を入射させる第2の変調手段と、前記第2の変調手段
の面であって、前記第2の導光手段の形成される側とは
逆側の面に形成された、前記第2の変調手段に入射した
光を前記第2の導光手段側に反射する第2の反射手段
と、前記第2の導光手段を出射した光が照射される被測
定体を載置する被測定体載置手段と、前記被測定体から
発せられた光を受光する受光手段とを備えることを特徴
とする。
The optical device according to the present invention includes a light source means for emitting light, a first light guide means for guiding the light emitted from the light source means in a first direction, and the first direction. A surface of the first modulating means for allowing the light guided through the first light guiding means to enter by modulating the refractive index at a predetermined position of First
Formed on the surface opposite to the side on which the light guide means is formed,
First reflecting means for reflecting the light incident on the first modulating means to the first light guiding means side, and guiding the light emitted from the first light guiding means in the second direction. A second light guide means, and a second modulator means for allowing the light guided through the second light guide means to enter by modulating the refractive index at a predetermined position in the second direction. The light incident on the second modulation means, which is formed on the surface of the second modulation means opposite to the side on which the second light guide means is formed, receives the light incident on the second modulation means. Second reflecting means for reflecting to the light guide means side, object-to-be-measured placing means for placing the object to be measured irradiated with the light emitted from the second light guide means, and emitting from the object to be measured. And a light receiving means for receiving the received light.

【0014】また、本発明に係る光学装置は、前記第1
の変調手段が、前記第1の方向に複数配置された液晶セ
ルからなる第1の液晶層を備え、前記第1の方向の所定
の位置における液晶セルに対する電圧の印加によって、
該液晶セルの前記屈折率を前記第1の方向の所定の位置
において変調させることを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention comprises the first
The modulating means includes a first liquid crystal layer composed of a plurality of liquid crystal cells arranged in the first direction, and by applying a voltage to the liquid crystal cells at a predetermined position in the first direction,
The refractive index of the liquid crystal cell is modulated at a predetermined position in the first direction.

【0015】また、本発明に係る光学装置は、前記第2
の変調手段が、前記第2の方向に複数配置された液晶セ
ルからなる第2の液晶層を備え、前記第2の方向の所定
の位置における液晶セルに対する電圧の印加によって、
該液晶セルの前記屈折率を前記第2の方向の所定の位置
において変調させることを特徴とする。
The optical device according to the present invention is the optical device according to the second aspect.
The modulating means includes a second liquid crystal layer composed of a plurality of liquid crystal cells arranged in the second direction, and by applying a voltage to the liquid crystal cells at a predetermined position in the second direction,
It is characterized in that the refractive index of the liquid crystal cell is modulated at a predetermined position in the second direction.

【0016】また、本発明に係る光学装置は、光を発す
る光源手段と、前記光源手段からの光の偏光状態を変換
する偏光変換手段と、前記偏光変換手段から出射された
光を第1の方向に導光する第1の導光手段と、前記第1
の導光手段を導光している光の偏光状態を、前記第1の
方向の所定の位置において変調させる第1の変調手段
と、前記第1の導光手段の表面に形成された、光の偏光
状態に応じて光の透過及び反射を制御する第1の透過反
射制御手段と、前記第1の反射透過制御手段を透過した
光を第2の方向に導光する第2の導光手段と、前記第2
の方向の所定の位置において屈折率を変調させることに
より、前記第2の導光手段を導光している光を入射させ
る第2の変調手段と、前記第2の変調手段の面であっ
て、前記第2の導光手段の形成される側とは逆側の面に
形成された、前記第2の変調手段に入射した光を前記第
2の導光手段側に反射する第2の反射手段と、前記第2
の導光手段を出射した光が照射される被測定体を載置す
る被測定体載置手段と、前記被測定体から発せられた光
を受光する受光手段とを備えることを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention is characterized in that the light source means for emitting light, the polarization conversion means for converting the polarization state of the light from the light source means, and the light emitted from the polarization conversion means are the first. First light guiding means for guiding light in a direction, and the first
First modulating means for modulating the polarization state of light guided through the light guiding means at a predetermined position in the first direction, and light formed on the surface of the first light guiding means. First transmission / reflection control means for controlling the transmission and reflection of light in accordance with the polarization state of the second light guide means, and second light guiding means for guiding the light transmitted through the first reflection / transmission control means in the second direction. And the second
Planes of the second modulating means and the second modulating means for allowing the light guided through the second light guiding means to enter by modulating the refractive index at a predetermined position in the direction of. , A second reflection formed on a surface opposite to the side where the second light guide means is formed, for reflecting the light incident on the second modulator means to the second light guide means side. Means and said second
The object-to-be-measured mounting means for mounting the object-to-be-measured on which the light emitted from the light guide means is irradiated, and the light-receiving means for receiving the light emitted from the object-to-be-measured.

【0017】また、本発明に係る光学装置は、光を発す
る光源手段と、前記光源手段から出射された光を第1の
方向に導光する第1の導光手段と、前記第1の方向の所
定の位置において屈折率を変調させることにより、前記
第1の導光手段を導光している光を入射させる第1の変
調手段と、前記第1の変調手段の面であって、前記第1
の導光手段の形成される側とは逆側の面に形成された、
前記第1の変調手段に入射した光を前記第1の導光手段
側に反射する第1の反射手段と、前記第1の導光手段か
ら出射された光を第2の方向に導光する第2の導光手段
と、前記光源手段から前記第2の導光手段に至る光の経
路のいずれかの位置に配置された光の偏光状態を変換す
る偏光変換手段と、前記第2の導光手段を導光している
光の偏光状態を、前記第2の方向の所定の位置において
変調させる第2の変調手段と、前記第2の導光手段の表
面に形成された、光の偏光状態に応じて光の透過及び反
射を制御する第2の透過反射制御手段と、前記第2の反
射透過制御手段を透過した光が照射される被測定体を載
置する被測定体載置手段と、前記被測定体から発せられ
た光を受光する受光手段とを備えることを特徴とする。
The optical device according to the present invention includes a light source means for emitting light, a first light guide means for guiding the light emitted from the light source means in a first direction, and the first direction. A surface of the first modulating means for allowing the light guided through the first light guiding means to enter by modulating the refractive index at a predetermined position of First
Formed on the surface opposite to the side on which the light guide means is formed,
First reflecting means for reflecting the light incident on the first modulating means to the first light guiding means side, and guiding the light emitted from the first light guiding means in the second direction. A second light guide means, a polarization conversion means for converting a polarization state of light arranged at any position of a light path from the light source means to the second light guide means, and the second light guide means. Second modulation means for modulating the polarization state of the light guided through the light means at a predetermined position in the second direction, and polarization of the light formed on the surface of the second light guide means. Second transmission / reflection control means for controlling transmission and reflection of light in accordance with the state, and measurement object mounting means for mounting the measurement object irradiated with the light transmitted through the second reflection / transmission control means. And a light receiving means for receiving the light emitted from the object to be measured.

【0018】また、本発明に係る光学装置は、被測定体
載置手段の第1の方向における被測定体載置部分の数と
同数の、前記第1の方向に配置された光源手段と、前記
光源手段からの光の偏光状態を変換する偏光変換手段
と、前記偏光変換手段からの光を第2の方向に導光する
第2の導光手段と、前記第2の導光手段を導光している
光の偏光状態を、前記第2の方向の所定の位置において
変調させる第2の変調手段と、前記第2の導光手段の表
面に形成された、光の偏光状態に応じて光の透過及び反
射を制御する第2の透過反射制御手段と、前記第2の反
射透過制御手段を透過した光が照射される被測定体を載
置する被測定体載置手段と、前記被測定体から発せられ
た光を受光する受光手段とを備えることを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention comprises the same number of light source means arranged in the first direction as the number of the measured object placement portions in the first direction of the measured object placement means. A polarization conversion unit that converts the polarization state of light from the light source unit, a second light guide unit that guides the light from the polarization conversion unit in a second direction, and a second light guide unit. Depending on the polarization state of light formed on the surface of the second modulation means and the second light guide means for modulating the polarization state of the radiated light at a predetermined position in the second direction. Second transmission / reflection control means for controlling the transmission and reflection of light; and an object-to-be-measured mounting means for mounting an object to be measured irradiated with the light transmitted through the second reflection / transmission control means; And a light receiving means for receiving the light emitted from the measuring object.

【0019】また、本発明に係る光学装置は、前記第2
の変調手段が、前記第2の方向に複数配置された液晶セ
ルからなる第2の液晶層と、前記第2の液晶層の面であ
って、前記第2の導光手段が形成されている側の面とは
逆側の面に形成された第2の反射手段とを備え、前記第
2の方向の所定の位置における液晶セルに対する電圧の
印加によって、前記光の偏光状態を前記第2の方向の所
定の位置において変調させることを特徴とする。
The optical device according to the present invention is the optical device according to the second aspect.
Is a second liquid crystal layer formed of liquid crystal cells arranged in the second direction, and the surface of the second liquid crystal layer, and the second light guide means is formed. A second reflection means formed on a surface opposite to the side surface, and applying a voltage to the liquid crystal cell at a predetermined position in the second direction changes the polarization state of the light to the second surface. It is characterized by modulating at a predetermined position in the direction.

【0020】また、本発明に係る光学装置は、前記第2
の変調手段を構成する第2の液晶層の液晶は、第1の配
向膜と第2の配向膜とに挟まれ、第1の配向膜と第2の
配向膜との捩れ角が45°であることを特徴とする。
The optical device according to the present invention is the optical device according to the second aspect.
The liquid crystal of the second liquid crystal layer constituting the modulation means is sandwiched between the first alignment film and the second alignment film, and the twist angle between the first alignment film and the second alignment film is 45 °. It is characterized by being.

【0021】また、本発明に係る光学装置は、被測定体
載置手段の第1の方向における被測定体載置部分の数と
同数の、前記第1の方向に配置された光源手段と、前記
光源手段から出射された光を第2の方向に導光する第2
の導光手段と、前記第2の方向の所定の位置において屈
折率を変調させることにより、前記第2の導光手段を導
光している光を入射させる第2の変調手段と、前記第2
の変調手段の面であって、前記第2の導光手段の形成さ
れる側とは逆側の面に形成された、入射した光を前記第
2の導光手段側に反射する第2の反射手段と、前記第2
の導光手段を出射した光が照射される被測定体を載置す
る被測定体載置手段と、前記被測定体から発せられた光
を受光する受光手段とを備えることを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention comprises light source means arranged in the first direction, the number of which is the same as the number of the measured object placement portions in the first direction of the measured object placing means. A second light guide for guiding light emitted from the light source means in a second direction;
Light guide means, a second modulator means for causing the light guided through the second light guide means to enter by modulating the refractive index at a predetermined position in the second direction, and Two
The second light guide means formed on the surface of the modulation means of the second light guide means opposite to the side on which the second light guide means is formed and which reflects the incident light toward the second light guide means. Reflection means and the second
The object-to-be-measured mounting means for mounting the object-to-be-measured on which the light emitted from the light guide means is irradiated, and the light-receiving means for receiving the light emitted from the object-to-be-measured.

【0022】また、本発明に係る光学装置は、前記第2
の変調手段が、前記第2の方向に複数配置された液晶セ
ルからなる第2の液晶層を備え、前記第2の方向の所定
の位置における液晶セルに対する電圧の印加によって、
該液晶セルの前記屈折率を前記第2の方向の所定の位置
において変調させることを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention comprises the second
The modulating means includes a second liquid crystal layer composed of a plurality of liquid crystal cells arranged in the second direction, and by applying a voltage to the liquid crystal cells at a predetermined position in the second direction,
It is characterized in that the refractive index of the liquid crystal cell is modulated at a predetermined position in the second direction.

【0023】また、本発明に係る光学装置は、前記受光
手段が、前記被測定体から発せられた光を導光する第3
の導光手段と、該第3の導光手段を導光した光を検出す
る光検出手段とを備えることを特徴とする。
Further, in the optical device according to the present invention, the light receiving means may guide the light emitted from the object to be measured.
The light guide means and the light detection means for detecting the light guided through the third light guide means.

【0024】また、本発明に係る光学装置は、前記受光
手段が、前記被測定体載置手段上の複数の被測定体から
発せられた光を独立に測定することのできる複数のCC
D(charge-coupled device)により構成されているこ
とを特徴とする。
Further, in the optical device according to the present invention, the light receiving means can independently measure light emitted from a plurality of measured objects on the measured object placing means.
It is characterized by being configured by a D (charge-coupled device).

【0025】また、本発明に係る光学装置は、前記被測
定体載置手段の下部に、該被測定体載置手段上の被測定
体に照射される光を集光するための第1の集光手段を備
えることを特徴とする。
In the optical device according to the present invention, the first device for condensing the light irradiated to the object to be measured on the object to be measured placing means is provided below the object to be measured placing means. It is characterized in that it is provided with a light collecting means.

【0026】また、本発明に係る光学装置は、前記被測
定体載置手段の上部に、該被測定体載置手段上の被測定
体から発せられた光を集光するための第2の集光手段を
備えることを特徴とする。
In the optical device according to the present invention, the second device for condensing the light emitted from the object to be measured on the object to be measured placing means on the upper part of the object to be measured placing means. It is characterized in that it is provided with a light collecting means.

【0027】また、本発明に係る光学装置は、前記被測
定体載置手段における前記被測定体が載置されている面
とは逆側の面に、前記被測定体に照射される光を集光す
るための第3の集光手段が形成されていることを特徴と
する。
Further, in the optical device according to the present invention, the surface of the object-to-be-measured mounting means opposite to the surface on which the object-to-be-measured is placed is irradiated with the light irradiated to the object-to-be-measured. It is characterized in that a third light collecting means for collecting light is formed.

【0028】また、本発明に係る光学装置は、前記被測
定体載置手段における前記被測定体が載置されている面
とは逆側の面を覆うカバー部を備え、該カバー部の材料
の屈折率と前記第3の集光手段が形成されている部分の
材料の屈折率とが異なることを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention is provided with a cover portion for covering the surface of the object-to-be-measured mounting means opposite to the surface on which the object to be measured is mounted, and the material of the cover part. Is different from the refractive index of the material of the portion where the third condensing means is formed.

【0029】また、本発明に係る光学装置は、前記被測
定体載置手段と、前記第2の導光手段及び前記第2の変
調手段との少なくとも一方とに、該被測定体載置手段の
面方向における位置決めのための第1の位置決め手段を
形成したことを特徴とする。
Further, in the optical device according to the present invention, the measured object placing means is provided in at least one of the measured object placing means and the second light guiding means and the second modulating means. A first positioning means for positioning in the plane direction of is formed.

【0030】また、本発明に係る光学装置は、前記被測
定体載置手段と前記第2の導光手段との間に、該被測定
体載置手段の面に垂直な方向における位置決めのための
第2の位置決め手段を形成したことを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention is for positioning between the measured object placing means and the second light guide means in a direction perpendicular to the surface of the measured object placing means. The second positioning means is formed.

【0031】また、本発明に係る光学装置は、前記第2
の導光手段、前記第2の変調手段及び前記被測定体載置
手段とが、それぞれの間に形成された固定手段により互
いに固定されていることを特徴とする。
Further, the optical device according to the present invention comprises the second
The light guiding means, the second modulating means, and the object-to-be-measured placing means are fixed to each other by fixing means formed between them.

【0032】また、本発明に係る光学装置は、前記第2
の導光手段と前記第2の変調手段との間に形成された固
定手段及び前記第2の導光手段と前記被測定体載置手段
との間に形成された固定手段との少なくとも一方が、熱
を加えられることにより上下の各部品の固定を解除する
材料により形成されていることを特徴とする。
The optical device according to the present invention is the optical device according to the second aspect.
At least one of a fixing means formed between the light guiding means and the second modulating means and a fixing means formed between the second light guiding means and the measured object placing means. It is characterized by being formed of a material that releases the fixation of the upper and lower parts when heat is applied.

【0033】また、本発明に係る光学装置は、前記被測
定体載置手段がガラス基板であり、前記被測定体がDN
Aプローブであることを特徴とする。
Further, in the optical device according to the present invention, the measuring object placing means is a glass substrate, and the measuring object is DN.
It is characterized by being an A probe.

【0034】さらに、本発明に係る被測定体載置部品
は、被測定体を載置した被測定体載置手段として機能す
る、上記に記載の光学装置に使用されることを特徴とす
る。
Furthermore, the object-to-be-measured mounting part according to the present invention is characterized in that it is used in the above-described optical device which functions as a device-to-be-measured object mounting means on which a material to be measured is mounted.

【0035】さらに、本発明に係る光出射位置制御装置
は、光源手段からの光の偏光状態を変換する偏光変換手
段と、前記偏光変換手段から出射された光を所定の方向
に導光する導光手段と、前記導光手段を導光している光
の偏光状態を前記所定の方向の所定の位置において変調
させる変調手段と、前記導光手段の表面に形成された、
光の偏光状態に応じて光の透過及び反射を制御する透過
反射制御手段とを備え、前記変調手段が、前記所定の方
向に複数配置された液晶セルからなる液晶層と、該液晶
層の面であって、前記導光手段が形成されている側の面
とは逆側の面に形成された反射手段とを備え、前記所定
の位置における液晶セルに対する電圧の印加によって、
前記光の偏光状態を前記所定の方向の所定の位置におい
て変調させることを特徴とする。
Further, the light emission position control device according to the present invention includes a polarization conversion means for converting the polarization state of the light from the light source means, and a guide for guiding the light emitted from the polarization conversion means in a predetermined direction. Formed on the surface of the light guide means, a modulator for modulating the polarization state of the light guided through the light guide means at a predetermined position in the predetermined direction,
A transmission / reflection control unit that controls transmission and reflection of light according to a polarization state of light, wherein the modulation unit includes a liquid crystal layer including a plurality of liquid crystal cells arranged in the predetermined direction, and a surface of the liquid crystal layer. And a reflection means formed on a surface opposite to the surface on which the light guide means is formed, and by applying a voltage to the liquid crystal cell at the predetermined position,
The polarization state of the light is modulated at a predetermined position in the predetermined direction.

【0036】また、本発明に係る光出射位置制御装置
は、光源手段から出射された光を所定の方向に導光する
導光手段と、前記所定の方向の所定の位置において屈折
率を変調させることにより、前記導光手段を導光してい
る光を入射させる変調手段と、前記変調手段の面であっ
て、前記導光手段の形成される側とは逆側の面に形成さ
れた、前記変調手段に入射した光を前記導光手段側に反
射する反射手段とを備え、前記変調手段が、前記所定の
方向に複数配置された液晶セルからなる液晶層を備え、
前記所定の方向の所定の位置における液晶セルに対する
電圧の印加によって、該液晶セルの前記屈折率を前記所
定の方向の所定の位置において変調させることを特徴と
する。
Further, the light emission position control device according to the present invention, the light guide means for guiding the light emitted from the light source means in a predetermined direction, and the refractive index is modulated at a predetermined position in the predetermined direction. Thereby, the modulation means for allowing the light guiding the light guiding means to enter, and the surface of the modulation means, which is formed on the surface opposite to the side on which the light guiding means is formed, A reflecting means for reflecting the light incident on the modulating means to the light guide means side, wherein the modulating means comprises a liquid crystal layer composed of a plurality of liquid crystal cells arranged in the predetermined direction,
The refractive index of the liquid crystal cell is modulated at a predetermined position in the predetermined direction by applying a voltage to the liquid crystal cell at a predetermined position in the predetermined direction.

【0037】さらに、本発明に係る分析システムは、上
記に記載の光学装置と、該光学装置から出力された測定
情報と比較するための比較情報を格納した格納手段と、
前記光学装置から出力された測定情報と、前記格納手段
に格納されている比較情報とに基づいて被測定体の分析
を行う分析装置とを備えることを特徴とする。
Furthermore, the analysis system according to the present invention comprises the above-mentioned optical device, and storage means for storing comparison information for comparison with the measurement information output from the optical device.
It is characterized by comprising an analysis device for analyzing the object to be measured based on the measurement information output from the optical device and the comparison information stored in the storage means.

【0038】さらに、本発明に係る本人照合方法は、上
記の分析システムを用いた本人照合方法であって、前記
光学装置がユーザの遺伝子情報を測定して測定情報と
し、前記格納手段には本人を示す遺伝子情報が比較情報
として格納され、前記分析装置は、前記光学装置により
測定された遺伝子情報と前記格納手段に格納されている
本人を示す遺伝子情報とに基づいて本人の照合を行うこ
とを特徴とする。
Further, the personal identification method according to the present invention is the personal identification method using the above-mentioned analysis system, wherein the optical device measures the gene information of the user to obtain measurement information, and the storage means stores the personal information. Is stored as comparison information, the analysis device performs matching of the person based on the gene information measured by the optical device and the gene information indicating the person stored in the storage means. Characterize.

【0039】さらに、本発明に係るアレルギー・副作用
検査方法は、上記の分析システムを用いたアレルギー・
副作用検査方法であって、前記光学装置がユーザの遺伝
子情報を測定して測定情報とし、前記格納手段にはアレ
ルギー・副作用を発生するグループ情報が比較情報とし
て格納され、前記分析装置は、前記光学装置により測定
された遺伝子情報と前記格納手段に格納されているアレ
ルギー・副作用を発生するグループ情報とに基づいてア
レルギー・副作用を検査することを特徴とする。
Furthermore, the allergy / side effect test method according to the present invention uses the above-mentioned analysis system.
A side effect inspection method, wherein the optical device measures genetic information of a user to obtain measurement information, and group information that causes allergies / side effects is stored as comparison information in the storage means, It is characterized in that the allergy / side effect is tested based on the gene information measured by the device and the group information storing the allergy / side effect stored in the storage means.

【0040】[0040]

【発明の実施の形態】以下に図面を参照して、この発明
の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。ただ
し、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、
材質、形状、その相対配置などは、特に特定的な記載が
ない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣
旨のものではない。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Preferred embodiments of the present invention will be illustratively described in detail below with reference to the drawings. However, the dimensions of the components described in this embodiment,
Unless otherwise specified, the material, the shape, the relative arrangement, and the like are not intended to limit the scope of the present invention thereto.

【0041】また、以下の図面において既述の図面に記
載された部品と同様の部品には同じ番号を付す。
Further, in the following drawings, the same parts as those described in the above drawings are designated by the same reference numerals.

【0042】(本発明に係る光学装置の実施形態の概
要)本発明に係る光学装置の各実施形態の説明をする前
に、本発明に係る光学装置の実施形態の概要について図
1を参照して説明する。図1は、本発明に係る光学装置
の実施形態の概要を説明するための概略図である。
(Outline of Embodiment of Optical Device According to the Present Invention) Before explaining each embodiment of the optical device according to the present invention, an outline of the embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIG. Explain. FIG. 1 is a schematic diagram for explaining an outline of an embodiment of an optical device according to the present invention.

【0043】図1に示されるように、本発明に係る光学
装置は、入射部101、変調部102、導光部103、
被測定体載置部104及び受光部105を主な部品とし
て構成されている。もちろん、各実施形態において、図
1に示される部品以外の部品が付加されることもある。
As shown in FIG. 1, the optical device according to the present invention includes an incident section 101, a modulation section 102, a light guide section 103,
The measured object placement unit 104 and the light receiving unit 105 are configured as main components. Of course, in each embodiment, parts other than the parts shown in FIG. 1 may be added.

【0044】また、図1に示される例では各部品が大き
く離間している状態が示されているが、これは説明の便
宜のためであり、本発明に係る光学装置は各部品が大き
く離間している必要は無く、各部品が上下の部品にそれ
ぞれ、完全に密着している状態又は適度な距離を保って
配置されていれば良い。この点については以下に説明す
る各実施形態において同様である。
Further, in the example shown in FIG. 1, a state in which the respective parts are widely separated is shown, but this is for convenience of description, and in the optical device according to the present invention, the respective parts are widely separated. It is not necessary that each component be in close contact with the upper and lower components or be arranged with a proper distance. This point is the same in each embodiment described below.

【0045】入射部101は、導光部103に入射され
る光を発する部品であり、LEDや、方向2において光
が出射される位置を選択するための変調部等により構成
される。
The incident section 101 is a component that emits light incident on the light guide section 103, and is composed of an LED, a modulation section for selecting a position where the light is emitted in the direction 2, and the like.

【0046】変調部102は、導光部103を導光して
いる光の方向1の出射位置を選択する部品である。
The modulator 102 is a component for selecting the emission position of the light guided in the light guide 103 in the direction 1.

【0047】導光部103は、入射部101から出射さ
れた光を方向1に平行な方向に導光させる部品である。
The light guide section 103 is a component for guiding the light emitted from the incident section 101 in a direction parallel to the direction 1.

【0048】被測定体載置部104は、導光部103か
ら出射された光により照射される被測定体を載置するた
めの部品である。
The object-to-be-measured mounting portion 104 is a component for mounting the object-to-be-measured, which is irradiated with the light emitted from the light guide portion 103.

【0049】受光部105は、光が照射された被測定体
から発せられた光を受光するための部品であり、例えば
導光部と光検出器とを組み合わせた部品やCCD(char
ge-coupled device)などにより構成される。
The light receiving section 105 is a part for receiving the light emitted from the object to be measured which is irradiated with light. For example, a part combining a light guide part and a photodetector or a CCD (char
ge-coupled device).

【0050】また、図1においては方向1及び方向2を
定義している。以下の実施形態では、この方向1、方向
2はそれぞれ直行するx方向、y方向に対応していると
して良いが、これらの方向は被測定体載置部104上の
被測定体の位置を2次元的に特定するための方向である
ため、この方向1、方向2は直行するx方向、y方向に
対応している場合に限定されるものではなく、互いに非
平行な方向であれば良い。
In FIG. 1, direction 1 and direction 2 are defined. In the following embodiments, the direction 1 and the direction 2 may correspond to the orthogonal x direction and y direction, respectively. However, these directions correspond to the position of the measured object on the measured object placing portion 104 by two. Since it is a direction for dimensionally specifying, the directions 1 and 2 are not limited to the cases corresponding to the orthogonal x direction and y direction, and may be directions non-parallel to each other.

【0051】そして、以下の実施形態は、上述の各部を
変形したものを組み合わせた実施形態や、上述の各部に
さらに他の部品を組み合わせた実施形態である。
Further, the following embodiments are embodiments in which the above-mentioned respective parts are modified and combined, and embodiments in which the above-mentioned respective parts are further combined with other parts.

【0052】例えば、以下に説明する本発明に係る光学
装置の第1の実施形態は、入射部101及び変調部10
2に液晶層を用いて光の偏光状態を変調して、被測定体
に照射される光の出射位置を制御し、本発明に係る光学
装置の第2の実施形態は、入射部101及び変調部10
2に液晶層を用いて、導光部103を導光する光の反射
(屈折)状態を変調して、被測定体に照射される光の出
射位置を制御している。
For example, in the first embodiment of the optical device according to the present invention described below, the incident section 101 and the modulation section 10 are provided.
In the second embodiment of the optical device according to the present invention, the polarization state of light is modulated by using a liquid crystal layer 2 to control the emission position of the light irradiated to the measured object. Part 10
The liquid crystal layer 2 is used to modulate the reflection (refraction) state of the light guided through the light guide unit 103 to control the emission position of the light with which the measured object is irradiated.

【0053】しかし、本発明ではこのような第1の実施
形態や第2の実施形態のような光学装置に限定されるも
のでなく、例えば、入射部101の部分では液晶により
光の偏光状態を変化させて光の出射位置を制御し、変調
部102の部分では液晶により導光部103を導光する
光の反射(屈折)状態を変調して被測定体に照射される
光の出射位置を制御する場合、あるいはその逆の場合と
いうように、光の出射位置を制御するために、光の偏光
状態の変調と、光の反射(屈折)状態の変調との双方を
任意に組み合わせて用いても良い。
However, the present invention is not limited to the optical device as in the first and second embodiments, and for example, the polarization state of light is changed by the liquid crystal in the incident section 101. The light emission position is controlled by changing the light emission position of the light to be measured by modulating the reflection (refraction) state of the light guided through the light guide unit 103 by the liquid crystal in the modulation unit 102. When controlling, or vice versa, both the modulation of the polarization state of light and the modulation of the reflection (refraction) state of light are used in an arbitrary combination to control the emission position of light. Is also good.

【0054】また、以下に説明する、本発明に係る光学
装置の各実施形態の説明において、入射部101、又
は、変調部102及び導光部103に該当する部分の説
明は、本発明に係る光出射位置制御装置の各実施形態の
説明を兼ねる。
In the following description of each embodiment of the optical device according to the present invention, the description of the incident portion 101 or the portion corresponding to the modulation portion 102 and the light guide portion 103 is related to the present invention. It also serves as a description of each embodiment of the light emission position control device.

【0055】また、以下に説明する、本発明に係る光学
装置の各実施形態の説明において、被測定体載置部10
4に対応する部分の説明は、本発明に係る被測定体載置
部品の各実施形態の説明を兼ねる。
In the description of each embodiment of the optical device according to the present invention, which will be described below, the object-to-be-measured part 10 is placed.
The description of the part corresponding to 4 also serves as the description of each embodiment of the measured object placement component according to the present invention.

【0056】(光学装置の第1の実施形態)次に、本発
明に係る光学装置の第1の実施形態について図2から図
5を参照して説明する。図2は、本発明に係る光学装置
の第1の実施形態の全体概略図である。
(First Embodiment of Optical Device) Next, a first embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is an overall schematic view of the first embodiment of the optical device according to the present invention.

【0057】図2に示されるように、本発明に係る光学
装置の第1の実施形態は、光を発する光源201aと、
光源201aから発せられた光の偏光状態を変換する偏
光変換素子201bとを備える。
As shown in FIG. 2, the first embodiment of the optical device according to the present invention comprises a light source 201a which emits light,
A polarization conversion element 201b that converts the polarization state of the light emitted from the light source 201a.

【0058】また、本発明に係る光学装置の第1の実施
形態は、偏光変換素子201bから出射された光を導光
する導光部201cと、導光部201cを導光している
光の偏光状態を変調するための変調部201dとを備え
る。
In the first embodiment of the optical device according to the present invention, the light guide section 201c for guiding the light emitted from the polarization conversion element 201b and the light guide section 201c for guiding the light. And a modulator 201d for modulating the polarization state.

【0059】また、図2に示される本発明に係る光学装
置の第1の実施形態は、導光部203を導光している光
の偏光状態を変調するための変調部202と、導光部2
01cから出射された光を導光するための導光部203
とを備える。
The first embodiment of the optical device according to the present invention shown in FIG. 2 includes a modulator 202 for modulating the polarization state of light guided through the light guide 203, and a light guide. Part 2
Light guide part 203 for guiding the light emitted from 01c.
With.

【0060】また、図2に示される本発明に係る光学装
置の第1の実施形態は、導光部203から出射された光
が照射される被測定体を載置した被測定体載置部204
を備える。
In the first embodiment of the optical device according to the present invention shown in FIG. 2, the measured object placing portion on which the measured object irradiated with the light emitted from the light guide section 203 is placed. 204
Equipped with.

【0061】また、図2に示される本発明に係る光学装
置の第1の実施形態は、被測定体から発せられた光を導
光するための導光部205と、導光部205を導光され
た光を受光するための光検出器206とを備える。
In the first embodiment of the optical device according to the present invention shown in FIG. 2, the light guide section 205 for guiding the light emitted from the object to be measured and the light guide section 205 are guided. And a photodetector 206 for receiving the emitted light.

【0062】光源201aは、例えは半導体レーザ、L
EDなどにより構成され、所定の光を出射する。
The light source 201a is, for example, a semiconductor laser, L
It is composed of an ED or the like and emits predetermined light.

【0063】偏光変換素子201bは、光源201aか
ら出射された光の偏光状態を、例えばP波又はS波とい
うように変換する。
The polarization conversion element 201b converts the polarization state of the light emitted from the light source 201a into, for example, P wave or S wave.

【0064】導光部201c及び変調部201dは、y
方向に向かう光のy方向の出射位置を制御する。この制
御動作については後述する。
The light guide portion 201c and the modulation portion 201d are y
The emission position in the y direction of the light directed in the direction is controlled. This control operation will be described later.

【0065】なお、導光部201cには、導光部201
c内部を導光する光に角度をつけるための、角度付与部
201c−1が形成されている。
The light guide section 201c includes the light guide section 201c.
An angle imparting portion 201c-1 for forming an angle on the light guided inside the c is formed.

【0066】光源201aを出射した光はこの角度付与
部201c−1により、例えば図3に示されるような反
射パターンをもって導光部201c内部を導光する。
The light emitted from the light source 201a is guided inside the light guide portion 201c by the angle imparting portion 201c-1 with a reflection pattern as shown in FIG. 3, for example.

【0067】したがって、導光部201c内部の光の反
射パターンは、この角度付与部201c−1により制御
することができる。
Therefore, the reflection pattern of light inside the light guide portion 201c can be controlled by the angle imparting portion 201c-1.

【0068】もちろん、角度付与部201c−1を形成
せずに、光源201aを傾けることにより導光部201
c内部の光の反射パターンを制御するとしても良い。
Of course, the light guide portion 201 is formed by inclining the light source 201a without forming the angle imparting portion 201c-1.
You may control the reflection pattern of the light inside c.

【0069】変調部202及び導光部203は、x方向
に向かう光のx方向の出射位置を制御する。この制御動
作については後述する。
The modulator 202 and the light guide 203 control the emission position in the x direction of the light traveling in the x direction. This control operation will be described later.

【0070】なお、導光部203には、導光部203内
部を導光する光に角度をつけるための、角度付与部20
3−1が形成されている。
The light guide section 203 has an angle giving section 20 for making an angle to the light guided inside the light guide section 203.
3-1 is formed.

【0071】導光部201cを出射した光はこの角度付
与部203−1により、例えば図4に示されるような反
射パターンをもって導光部203内部を導光する。
The light emitted from the light guide portion 201c is guided by the angle imparting portion 203-1 through the inside of the light guide portion 203 with a reflection pattern as shown in FIG.

【0072】したがって、導光部203内部の光の反射
パターンは、この角度付与部203−1により制御する
ことができる。
Therefore, the reflection pattern of light inside the light guide portion 203 can be controlled by the angle imparting portion 203-1.

【0073】もちろん、角度付与部203−1を形成せ
ずに、導光部201cを傾けることにより導光部203
内部の光の反射パターンを制御するとしても良い。
Of course, the light guide portion 203c is formed by inclining the light guide portion 201c without forming the angle imparting portion 203-1.
You may control the reflection pattern of the light inside.

【0074】被測定体載置部104は被測定体を載置す
る。
The object-to-be-measured mounting portion 104 mounts the object-to-be-measured.

【0075】導光部205は、被測定体から出射した光
をフォトダイオードなどにより構成される光検出器20
6へと導光する。図2に示される例では、導光部205
は、2つのくさび型の導光部を組み合わせた導光部とな
っているが、本実施形態に適用される導光部としてはこ
のようなくさび型の導光部に限定されるものではなく、
例えば表面に導光するためのパターンが形成された導光
部その他の適宜な導光部を用いることができる。
The light guide section 205 is a photodetector 20 configured by a photodiode or the like for the light emitted from the object to be measured.
Guide light to 6. In the example shown in FIG. 2, the light guide unit 205
Is a light guide section in which two wedge-shaped light guide sections are combined, but the light guide section applied to the present embodiment is not limited to such a wedge-shaped light guide section. ,
For example, it is possible to use a suitable light guide part such as a light guide part in which a pattern for guiding light is formed on the surface.

【0076】(出射位置の制御動作)次に、図3及び図
4を参照して、導光部201c及び変調部201dにお
ける光の出射位置の制御動作、変調部202及び導光部
203における光の出射位置の制御動作のそれぞれにつ
いて説明する。
(Ejection Position Control Operation) Next, with reference to FIGS. 3 and 4, the light emission position control operation in the light guide section 201c and the modulation section 201d, and the light in the modulation section 202 and the light guide section 203 will be described. Each of the control operations of the emission position of is described.

【0077】図3は、図2に示される部分Aの拡大断面
図であり、図4は、図2に示される部分Bの拡大断面図
である。
FIG. 3 is an enlarged sectional view of the portion A shown in FIG. 2, and FIG. 4 is an enlarged sectional view of the portion B shown in FIG.

【0078】まず、図2に示される部分Aについて図3
を参照して説明する。図3に示されるように、導光部2
01c及び変調部201dからなる部分は、ミラーなど
により形成される反射板301、液晶層302、導光部
303、導光部303の表面に形成されたブラッググレ
ーティングパターン304とから構成される。
First, the portion A shown in FIG. 2 is shown in FIG.
Will be described with reference to. As shown in FIG. 3, the light guide unit 2
01c and the modulation unit 201d are composed of a reflection plate 301 formed of a mirror, a liquid crystal layer 302, a light guide unit 303, and a Bragg grating pattern 304 formed on the surface of the light guide unit 303.

【0079】液晶層302は、y方向の方向で分割され
た複数の液晶セル305を備え、この液晶セル305の
ON、OFFはそれぞれ独立に制御することが可能であ
る。
The liquid crystal layer 302 has a plurality of liquid crystal cells 305 divided in the y direction, and ON / OFF of the liquid crystal cells 305 can be controlled independently.

【0080】ここで、液晶セルをON、OFFすると
は、液晶セルに電圧を印加することにより、分子配列を
変化させ、光の配向面を変化させることをいう。
Here, turning on and off the liquid crystal cell means changing the molecular alignment and changing the light alignment surface by applying a voltage to the liquid crystal cell.

【0081】また、ブラッググレーティングパターン3
04は、S波又はP波の偏光の一方のみを透過させ、他
方を反射させるという性質を有する。本実施形態の場合
には、P波を透過するブラッググレーティングパターン
304とした。しかし、本実施形態全体で整合性をとる
ならば、S波を透過するブラッググレーティングパター
ンとしても良い。
Bragg grating pattern 3
04 has a property of transmitting only one of S-wave and P-wave polarization and reflecting the other. In the case of this embodiment, the Bragg grating pattern 304 that transmits P waves is used. However, if matching is achieved in the entire embodiment, a Bragg grating pattern that transmits S waves may be used.

【0082】なお、図3に示される積層構造において、
ブラッググレーティングパターン304が形成されてい
る方向が、図2において導光部203に向かう方向であ
る。
In the laminated structure shown in FIG. 3,
The direction in which the Bragg grating pattern 304 is formed is the direction toward the light guide portion 203 in FIG.

【0083】次に、光源201aから出射された光が図
3に示されるブラッググレーティングパターン304か
ら出射されるまでの動作について図2及び図3を参照し
て説明する。
Next, the operation until the light emitted from the light source 201a is emitted from the Bragg grating pattern 304 shown in FIG. 3 will be described with reference to FIGS.

【0084】まず、光源201aから光が出射される。
この場合、出射された光の偏光方向は揃っていない状態
である。
First, light is emitted from the light source 201a.
In this case, the polarization directions of the emitted light are not uniform.

【0085】次に、偏光変換素子201bにより光源2
01aから出射された光の偏光方向が揃えられる(ここ
ではS波に揃えられたとする)。
Next, the light source 2 is converted by the polarization conversion element 201b.
The polarization directions of the light emitted from 01a are aligned (here, they are aligned with the S wave).

【0086】次に、偏光変換素子201bを通過した光
はそのまま導光部201cに入射する。
Next, the light that has passed through the polarization conversion element 201b enters the light guide portion 201c as it is.

【0087】図3に示されるように、導光部303に入
射した光は反射板301と導光部303の反対面に形成
されたブラッググレーティングパターン304との間で
反射を繰り返しながら導光していく。
As shown in FIG. 3, the light incident on the light guide portion 303 is guided while being repeatedly reflected between the reflection plate 301 and the Bragg grating pattern 304 formed on the opposite surface of the light guide portion 303. To go.

【0088】具体的には、液晶セルがON状態の場合、
液晶層302を通過しても偏光方向は変わらず、S波の
ままである。
Specifically, when the liquid crystal cell is in the ON state,
The polarization direction does not change even after passing through the liquid crystal layer 302, and the S wave remains.

【0089】そのため、導光部303を進行する光は、
反射板301で反射されて導光部303に戻り、ブラッ
ググレーティングパターン304に到達する。
Therefore, the light traveling through the light guide section 303 is
The light is reflected by the reflection plate 301, returns to the light guide portion 303, and reaches the Bragg grating pattern 304.

【0090】一方、液晶セルがOFF状態の場合、導光
部303から液晶セルに入射し、反射板301で反射さ
れ、再び導光部303に出射された光の偏光状態は、液
晶層302の偏光作用によってP波に変換されている。
On the other hand, when the liquid crystal cell is in the OFF state, the polarization state of the light that has entered the liquid crystal cell from the light guide section 303, is reflected by the reflection plate 301, and is emitted to the light guide section 303 again is determined by the liquid crystal layer 302. It is converted into P waves by the polarization effect.

【0091】したがって、ブラッググレーティングパタ
ーン304をS波の場合は反射、P波の場合には透過す
るように形成しておけば、偏光状態がS波の光はそのま
ま反射を繰り返しながら導光するとし、所望の位置の液
晶セルをON状態とすることにより、P波の光をブラッ
ググレーティングパターン304のy方向における所望
の位置から出射させることができる。
Therefore, if the Bragg grating pattern 304 is formed so as to reflect in the case of the S wave and transmit in the case of the P wave, the light having the polarization state of the S wave is guided while being repeatedly reflected as it is. The P-wave light can be emitted from a desired position in the y direction of the Bragg grating pattern 304 by turning on the liquid crystal cell at the desired position.

【0092】さらに、導光部303と液晶層302の屈
折率が同じになるようにしておけば、フレネル損等を低
減することも可能である。
Further, if the light guide section 303 and the liquid crystal layer 302 have the same refractive index, Fresnel loss and the like can be reduced.

【0093】ここで、上記液晶層302は、第1の配向
膜と第2の配向膜とに挟まれ、第1の配向膜と第2の配
向膜との捩れ角が45°であることが望ましい。
Here, the liquid crystal layer 302 is sandwiched between the first alignment film and the second alignment film, and the twist angle between the first alignment film and the second alignment film is 45 °. desirable.

【0094】次に、図2に示される部分Bについて図4
を参照して説明する。図4に示されるように、変調部2
02及び導光部203からなる部分は、ミラーなどによ
り形成される反射板401、液晶セル405からなる液
晶層402、導光部403、導光部403の表面に形成
されたブラッググレーティングパターン404とから構
成される。また、ブラッググレーティングパターン40
4上には、被測定体407を載置した被測定体載置部4
06が設けられている。
Next, regarding the part B shown in FIG.
Will be described with reference to. As shown in FIG. 4, the modulator 2
02 and the light guide portion 203 are a reflection plate 401 formed of a mirror or the like, a liquid crystal layer 402 formed of liquid crystal cells 405, a light guide portion 403, and a Bragg grating pattern 404 formed on the surface of the light guide portion 403. Composed of. Also, the Bragg grating pattern 40
4, the object-to-be-measured placement part 4 on which the object-to-be-measured 407 is placed.
06 is provided.

【0095】すなわち、部分Bの構成は、前述の図3を
参照して説明した部分Aの構成と略同様であり、その動
作も略同様である。従って、以下の説明では、前述の図
3の説明と異なる部分について主に説明する。
That is, the structure of the part B is substantially the same as the structure of the part A described with reference to FIG. 3, and the operation thereof is also substantially the same. Therefore, in the following description, a part different from the above description of FIG. 3 will be mainly described.

【0096】部分Bでは、前述の図3に示されるブラッ
ググレーティングパターン304から出射される光がP
波に偏光している光であるため、ブラッググレーティン
グパターン404が、S波を透過し、P波を反射するブ
ラッググレーティングパターン404としている。しか
し、本実施形態全体で整合性をとるならば、P波を透過
するブラッググレーティングパターンとしても良い。
In the portion B, the light emitted from the Bragg grating pattern 304 shown in FIG.
Since the light is polarized into waves, the Bragg grating pattern 404 is a Bragg grating pattern 404 that transmits S waves and reflects P waves. However, if matching is achieved in the entire embodiment, a Bragg grating pattern that transmits P waves may be used.

【0097】そして、部分Bの動作も部分Aの動作と同
様に、液晶層402のON、OFFを切り替えることに
より、x方向において出射される光の位置を制御する。
Then, similarly to the operation of the portion A, the operation of the portion B controls ON / OFF of the liquid crystal layer 402 to control the position of the light emitted in the x direction.

【0098】また、上記液晶層402は、第1の配向膜
と第2の配向膜とに挟まれ、第1の配向膜と第2の配向
膜との捩れ角が45°であることが望ましい。
Further, the liquid crystal layer 402 is sandwiched between the first alignment film and the second alignment film, and the twist angle between the first alignment film and the second alignment film is preferably 45 °. .

【0099】そして、ブラッググレーティングパターン
404から出射された光は、被測定体載置部406上の
被測定体407に照射される。
Then, the light emitted from the Bragg grating pattern 404 is applied to the measured object 407 on the measured object placing portion 406.

【0100】ここで、変調部により選択される光の出射
位置と、被測定体載置部上の被測定体の位置との関係に
ついて図5を参照して説明する。図5は、図2に示され
る光学装置において、変調部により選択される光の出射
位置と、被測定体載置部上の被測定体の位置との関係の
概略図である。
Here, the relationship between the emission position of the light selected by the modulator and the position of the measured object on the measured object placing section will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a schematic diagram of the relationship between the emission position of the light selected by the modulator and the position of the measured object on the measured object placing section in the optical device shown in FIG.

【0101】図5に示されるように、被測定体載置板部
505は、被測定体を載置するための複数の被測定セル
503に分割されている。この被測定セル503の位置
は、x方向及びy方向のそれぞれの位置を指定すること
により一意に特定できる。
As shown in FIG. 5, the object mounting plate portion 505 is divided into a plurality of measured cells 503 for mounting the object to be measured. The position of the measured cell 503 can be uniquely specified by designating the respective positions in the x direction and the y direction.

【0102】また、変調部501及び変調部502はそ
れぞれ複数の位置に分割され、この位置に対応した位置
を光の出射位置とすることができる。
The modulation section 501 and the modulation section 502 are each divided into a plurality of positions, and the position corresponding to this position can be the light emission position.

【0103】したがって、図3及び図4に示される構造
を例に説明すると、図5に示すように(m,n)の位置
にある被測定体に光を照射したい場合、まずy方向に配
列された液晶層のn番目の液晶セル501aのみをOF
Fとする。
Therefore, when the structure shown in FIGS. 3 and 4 is taken as an example, when it is desired to irradiate light to the object to be measured at the position (m, n) as shown in FIG. Of only the n-th liquid crystal cell 501a of the liquid crystal layer
Let it be F.

【0104】また、x方向についても同様にm番目の液
晶セル502aのみをOFFとする。
Also in the x direction, similarly, only the m-th liquid crystal cell 502a is turned off.

【0105】したがって、(m,n)の位置にある被測
定セルにある被測定体にのみ光が照射されるように動作
する。
Therefore, the light is emitted only to the object to be measured in the cell to be measured at the position (m, n).

【0106】次に、照射された被測定体はその照射光を
参照光として信号光を放射する。このような被測定体と
して例えば、DNAチップにおける蛍光分子等を挙げる
ことができる。
Next, the irradiated object to be measured emits signal light with the irradiation light as reference light. Examples of such an object to be measured include fluorescent molecules in a DNA chip.

【0107】そして、図2に示されるうように、放射さ
れた信号光は被測定体の上部に設けられた導光部205
の中を導光し、最終的にフォトダイオード等の光検出器
206に到達する。
Then, as shown in FIG. 2, the radiated signal light is transmitted through the light guide section 205 provided on the upper part of the object to be measured.
The light is guided through the inside and finally reaches the photodetector 206 such as a photodiode.

【0108】このように、従来は機械的に走査を行って
いたため駆動用の各部品が必要となって装置全体が大き
くなってしまっていたが、本実施形態では走査を電気的
に行うので大幅な小型化が実現できる。
As described above, since mechanical scanning has been conventionally performed, each component for driving is required and the entire apparatus is enlarged. However, in the present embodiment, since the scanning is electrically performed, it is significantly large. It is possible to realize compact size.

【0109】また、本実施形態では、部品数減、小型化
に伴いコスト低減も可能となる。
Further, in this embodiment, the cost can be reduced as the number of parts is reduced and the size is reduced.

【0110】さらに、本実施形態では、機械的な走査を
電気的な走査にすることで測定にかかる時間を大幅に短
縮することが可能となる。
Further, in the present embodiment, the mechanical scanning is changed to the electrical scanning, so that the time required for the measurement can be significantly reduced.

【0111】(光学装置の第2の実施形態)次に、本発
明に係る光学装置の第2の実施形態について図6〜図1
2を参照して説明する。
(Second Embodiment of Optical Device) Next, a second embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIGS.
2 will be described.

【0112】図6は、本発明に係る光学装置の第2の実
施形態の全体概略図である。図6に示されるように、本
発明に係る光学装置の第2の実施形態は、光を発する光
源601aを備える。なお、本実施形態では、前述の第
1の実施形態のように、偏光変換素子201bは不要で
ある。
FIG. 6 is an overall schematic view of a second embodiment of the optical device according to the present invention. As shown in FIG. 6, the second embodiment of the optical device according to the present invention includes a light source 601a that emits light. In addition, in this embodiment, the polarization conversion element 201b is not required as in the above-described first embodiment.

【0113】また、本発明に係る光学装置の第2の実施
形態は、光源601aから出射された光を導光する導光
部601cと、屈折率を変調することにより導光部60
1cを導光している光の出射位置を制御するための変調
部601bとを備える。
In the second embodiment of the optical device according to the present invention, the light guide section 601c for guiding the light emitted from the light source 601a and the light guide section 60 by modulating the refractive index.
And a modulator 601b for controlling the emission position of the light guided through 1c.

【0114】また、図6に示される本発明に係る光学装
置の第2の実施形態は、導光部201cから出射された
光を導光するための導光部603と、屈折率を変調する
ことにより導光部603を導光している光の出射位置を
制御するための変調部602とを備える。
In the second embodiment of the optical device according to the present invention shown in FIG. 6, the light guide section 603 for guiding the light emitted from the light guide section 201c and the refractive index are modulated. Accordingly, a modulator 602 for controlling the emission position of the light guided through the light guide 603 is provided.

【0115】また、図6に示される本発明に係る光学装
置の第2の実施形態は、導光部603から出射された光
が照射される被測定体を載置した被測定体載置部604
を備える。
In the second embodiment of the optical device according to the present invention shown in FIG. 6, the measured object placing part on which the measured object irradiated with the light emitted from the light guide section 603 is placed. 604
Equipped with.

【0116】また、図6に示される本発明に係る光学装
置の第2の実施形態は、被測定体から発せられた光を導
光するための導光部605と、導光部605を導光され
た光を受光するためのフォトダイオード等により構成さ
れる光検出器606とを備える。
In the second embodiment of the optical device according to the present invention shown in FIG. 6, the light guide section 605 for guiding the light emitted from the object to be measured and the light guide section 605 are guided. And a photodetector 606 including a photodiode or the like for receiving the emitted light.

【0117】光源601aは、例えは半導体レーザ、L
EDなどにより構成され、所定の光を出射する。
The light source 601a is, for example, a semiconductor laser, L
It is composed of an ED or the like and emits predetermined light.

【0118】導光部601c及び変調部601bは、y
方向に向かう光のy方向の出射位置を制御する。この制
御動作については後述する。
The light guide 601c and the modulator 601b are y
The emission position in the y direction of the light directed in the direction is controlled. This control operation will be described later.

【0119】なお、導光部601cには、導光部601
c内部を導光する光に角度をつけるための、角度付与部
601c−1が形成されている。
The light guide section 601c includes a light guide section 601.
An angle imparting portion 601c-1 for forming an angle on the light guided inside the c is formed.

【0120】光源601aを出射した光はこの角度付与
部601c−1により、例えば図7に示されるような反
射パターンをもって導光部601c内部を導光する。
The light emitted from the light source 601a is guided by the angle imparting section 601c-1 inside the light guide section 601c with a reflection pattern as shown in FIG. 7, for example.

【0121】したがって、導光部601c内部の光の反
射パターンは、この角度付与部601c−1により制御
することができる。
Therefore, the reflection pattern of light inside the light guide section 601c can be controlled by the angle giving section 601c-1.

【0122】もちろん、角度付与部601c−1を形成
せずに、光源601aを傾けることにより導光部601
c内部の光の反射パターンを制御するとしても良い。
Of course, the light guide section 601 can be formed by tilting the light source 601a without forming the angle imparting section 601c-1.
You may control the reflection pattern of the light inside c.

【0123】変調部602及び導光部603は、x方向
に向かう光のx方向の出射位置を制御する。この制御動
作については後述する。
The modulation section 602 and the light guide section 603 control the emission position in the x direction of light traveling in the x direction. This control operation will be described later.

【0124】なお、導光部603には、導光部603内
部を導光する光に角度をつけるための、角度付与部60
3−1が形成されている。
The light guide section 603 has an angle imparting section 60 for making an angle to the light guided inside the light guide section 603.
3-1 is formed.

【0125】導光部601cを出射した光はこの角度付
与部603−1により、例えば図9に示されるような反
射パターンをもって導光部603内部を導光する。
The light emitted from the light guide portion 601c is guided by the angle imparting portion 603-1 through the light guide portion 603 with a reflection pattern as shown in FIG. 9, for example.

【0126】したがって、導光部603内部の光の反射
パターンは、この角度付与部603−1により制御する
ことができる。
Therefore, the reflection pattern of light inside the light guide portion 603 can be controlled by the angle imparting portion 603-1.

【0127】もちろん、角度付与部603−1を形成せ
ずに、導光部601cを傾けることにより導光部603
内部の光の反射パターンを制御するとしても良い。
Of course, the light guide portion 603 is formed by inclining the light guide portion 601c without forming the angle imparting portion 603-1.
You may control the reflection pattern of the light inside.

【0128】被測定体載置部604は被測定体を載置す
る。
The object-to-be-measured mounting portion 604 mounts the object-to-be-measured.

【0129】導光部605は、被測定体から出射した光
を光検出器606へと導光する。図6に示される例で
は、導光部605は、2つのくさび型の導光部を組み合
わせた導光部となっているが、本実施形態に適用される
導光部としてはこのようなくさび型の導光部に限定され
るものではなく、その他の適宜な導光部を用いることが
てきる。
The light guide section 605 guides the light emitted from the object to be measured to the photodetector 606. In the example shown in FIG. 6, the light guide section 605 is a light guide section in which two wedge-shaped light guide sections are combined, but such a wedge shape is used as the light guide section applied to the present embodiment. The light guide unit is not limited to the mold, and other suitable light guide units may be used.

【0130】(出射位置の制御動作)次に、図7、図8
及び図9を参照して、変調部601b及び導光部601
cにおける光の出射位置の制御動作、変調部602及び
導光部603における光の出射位置の制御動作のそれぞ
れについて説明する。
(Exiting Position Control Operation) Next, FIGS.
9 and FIG. 9, the modulation unit 601b and the light guide unit 601.
Each of the control operation of the light emission position in c and the control operation of the light emission position in the modulation unit 602 and the light guide unit 603 will be described.

【0131】図7は、図6に示される部分Cの拡大断面
図であり、図8は、本実施形態の液晶層に利用される液
晶分子の複屈折率構造の概略図であり、図9は、図6に
示される部分Dの拡大断面図である。
FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view of the portion C shown in FIG. 6, FIG. 8 is a schematic view of a birefringence structure of liquid crystal molecules used for the liquid crystal layer of this embodiment, and FIG. [Fig. 7] is an enlarged cross-sectional view of a portion D shown in Fig. 6.

【0132】まず、図6に示される部分Cについて図7
を参照して説明する。図7に示されるように、変調部6
01b及び導光部601cからなる部分は、ミラーなど
により形成される反射膜701、液晶層702、導光部
703とから構成される。
First, the portion C shown in FIG. 6 is shown in FIG.
Will be described with reference to. As shown in FIG. 7, the modulator 6
01 b and the light guide portion 601 c are composed of a reflection film 701 formed by a mirror or the like, a liquid crystal layer 702, and a light guide portion 703.

【0133】液晶層702は、y方向に向かって分割さ
れた複数の液晶セル705を備え、この液晶セル705
のON、OFFはそれぞれ独立に制御することが可能で
ある。
The liquid crystal layer 702 has a plurality of liquid crystal cells 705 divided in the y direction.
ON and OFF can be controlled independently.

【0134】ここで、液晶セルのON、OFFについて
は前述の本発明に係る光学装置の第1の実施形態の場合
の説明と同様である。
Here, turning on and off of the liquid crystal cell is the same as in the case of the first embodiment of the optical device according to the present invention described above.

【0135】なお、図7に示される積層構造において、
導光部703が形成されている方向が、図6において導
光部603に向かう方向である。
In the laminated structure shown in FIG. 7,
The direction in which the light guide portion 703 is formed is the direction toward the light guide portion 603 in FIG.

【0136】次に、光源601aから出射された光が図
7に示される導光部703から出射されるまでの動作に
ついて図6及び図7を参照して説明する。
Next, the operation until the light emitted from the light source 601a is emitted from the light guide portion 703 shown in FIG. 7 will be described with reference to FIGS. 6 and 7.

【0137】まず、光源601aから光が出射される。
この場合、出射された光の偏光方向は揃っていない状態
である。光源601a光はそのまま導光部601cに入
射する。
First, light is emitted from the light source 601a.
In this case, the polarization directions of the emitted light are not uniform. The light from the light source 601a directly enters the light guide unit 601c.

【0138】図7に示されるように、導光部703に入
射した光は液晶層702の表面と導光部703の導光部
603側の面との間で反射を繰り返しながら導光してい
く。
As shown in FIG. 7, the light incident on the light guide portion 703 is guided while being repeatedly reflected between the surface of the liquid crystal layer 702 and the surface of the light guide portion 703 on the light guide portion 603 side. Go.

【0139】一方、液晶層702を構成する液晶分子は
複屈折率構造を有しており、液晶をONにすることによ
ってその部分の液晶セル705の屈折率はOFFの場合
に比べて大きくすることができる。
On the other hand, the liquid crystal molecules constituting the liquid crystal layer 702 have a birefringence structure, and by turning on the liquid crystal, the refractive index of the liquid crystal cell 705 at that portion should be made larger than that when it is off. You can

【0140】図8に示されるように、例えば液晶分子の
屈折率にneとnoとがあるとして、Δn=ne−no
≒0.13となる場合がある。もちろん、Δnは一例で
ありその他の値をとることもできる。
As shown in FIG. 8, assuming that the refractive index of liquid crystal molecules is ne and no, Δn = ne-no.
In some cases, ≈0.13. Of course, Δn is an example, and other values can be taken.

【0141】したがって、屈折率の変化によって導光部
703と液晶層702の境界で光が反射から透過になる
ように、導光部703の屈折率と導光する光の入射角度
を決定しておけば、液晶セルをONにした部分でのみ光
が透過して液晶層702に入射する。
Therefore, the refractive index of the light guide portion 703 and the incident angle of the light to be guided are determined so that the light is changed from reflected to transmitted at the boundary between the light guide portion 703 and the liquid crystal layer 702 due to the change of the refractive index. In other words, light is transmitted through only the portion where the liquid crystal cell is turned on and enters the liquid crystal layer 702.

【0142】液晶層702に入射した光は液晶層702
の基板に形成された反射膜701に入射する。
The light incident on the liquid crystal layer 702 is converted into the liquid crystal layer 702.
It is incident on the reflection film 701 formed on the substrate.

【0143】この反射膜701には、凹凸パターンが形
成されている。
An uneven pattern is formed on the reflection film 701.

【0144】次に、反射膜701で反射された光は導光
部703に再び入射されるが、導光部703の導光部6
03側の面で反射されずに透過する。
Next, the light reflected by the reflection film 701 is re-incident on the light guide portion 703, and the light guide portion 6 of the light guide portion 703.
It is transmitted without being reflected by the surface on the 03 side.

【0145】これは、上記反射膜701の凹凸パターン
により、反射されないように光の導光部703の導光部
603側の面への入射角を制限するためである。
This is because the concave-convex pattern of the reflection film 701 limits the angle of incidence of light on the surface of the light guide portion 703 on the light guide portion 603 side so as not to be reflected.

【0146】したがって、液晶層702の所望の液晶セ
ル705のON、OFFを制御することにより、y方向
における光の出射位置を制御することができる。
Therefore, by controlling ON / OFF of the desired liquid crystal cell 705 of the liquid crystal layer 702, the light emission position in the y direction can be controlled.

【0147】次に、図6に示される部分Dについて図9
を参照して説明する。図9に示されるように、液晶層7
02及び導光部703からなる部分は、反射膜901
と、液晶セル905からなる液晶層902と、導光部9
03とから構成される。また、導光部903上には、被
測定体906を載置した被測定体載置部904が設けら
れている。
Next, regarding the part D shown in FIG. 6, FIG.
Will be described with reference to. As shown in FIG. 9, the liquid crystal layer 7
02 and the light guide portion 703 are the reflection film 901.
And a liquid crystal layer 902 including a liquid crystal cell 905, and a light guide section 9
And 03. Further, on the light guide section 903, a measured object placement section 904 on which the measured object 906 is placed is provided.

【0148】すなわち、部分Dの構成は、前述の図7を
参照して説明した部分Cの構成と略同様であり、その動
作も略同様である。
That is, the structure of the portion D is substantially the same as the structure of the portion C described with reference to FIG. 7, and the operation thereof is also substantially the same.

【0149】また、部分Dの動作も部分Cの動作と同様
に、液晶層902のON、OFFを切り替えることによ
り、x方向において出射される光の位置を制御する。
Similarly to the operation of the portion C, the operation of the portion D controls ON / OFF of the liquid crystal layer 902 to control the position of the light emitted in the x direction.

【0150】そして、導光部903から出射された光
は、被測定体載置部904上の被測定体906に照射さ
れる。
Then, the light emitted from the light guide section 903 is applied to the measured object 906 on the measured object placing section 904.

【0151】そして、被測定体から発せられた光は、図
6に示されるように、導光部605を導光し、その後、
光検出器606により検出される。
Then, the light emitted from the object to be measured is guided through the light guide section 605 as shown in FIG.
It is detected by the photodetector 606.

【0152】したがって、本実施形態においても、前述
の本発明に係る光学装置の第1の実施形態のように、被
測定体載置部上の(m,n)にある被測定体に容易に光
を照射させ、その検出を行うことができる。
Therefore, also in this embodiment, as in the first embodiment of the optical device according to the present invention, the object to be measured located at (m, n) on the object mounting portion can be easily measured. Light can be emitted and the detection can be performed.

【0153】次に、図7や図9に示される反射膜701
又は反射膜901の凹凸形状の製造方法について図10
から図12を参照して説明する。
Next, the reflection film 701 shown in FIG. 7 and FIG.
Alternatively, the manufacturing method of the uneven shape of the reflection film 901 will be described with reference to FIG.
From now on, description will be made with reference to FIG.

【0154】図7や図9に示される反射膜701又は反
射膜901は、反射板上の膜として形成されるため、以
下では反射板の製造方法について説明する。
Since the reflection film 701 or the reflection film 901 shown in FIGS. 7 and 9 is formed as a film on the reflection plate, a method for manufacturing the reflection plate will be described below.

【0155】反射板の凹凸形状はスタンパと呼ばれる金
型によって、大量に複製することができる。その製造方
法である2P法を図10及び図11を用いて説明する。
図10及び図11は、本発明に係る光学装置の第2の実
施形態に用いられる反射膜を備える反射板の凹凸形状の
2P法による製造方法の工程図である。
The uneven shape of the reflection plate can be reproduced in a large amount by using a die called a stamper. The 2P method, which is the manufacturing method thereof, will be described with reference to FIGS. 10 and 11.
10 and 11 are process diagrams of a method for manufacturing the uneven shape of the reflection plate including the reflection film used in the second embodiment of the optical device according to the present invention by the 2P method.

【0156】反射板を製造する場合、図10に示される
ように、(a)基板1001を用意し、その上に電子ビ
ームのレジスト1002を塗布する。
In the case of manufacturing a reflection plate, as shown in FIG. 10, (a) a substrate 1001 is prepared, and an electron beam resist 1002 is applied thereon.

【0157】次に、(b)凸型の形状にするため、電子
ビームによってレジスト1002を徹細加工し、凹凸形
状の原盤1003を作製する。
Next, (b) in order to form a convex shape, the resist 1002 is finely processed by an electron beam to manufacture an uneven master disk 1003.

【0158】次に、(c)電鋳法によってニッケル等の
スタンパ材料を原盤1003の上に推積し、スタンパ1
004を作製する。
Next, (c) a stamper material such as nickel is deposited on the master 1003 by the electroforming method to form the stamper 1
004 is produced.

【0159】次に、(d)スタンパ1004と原盤10
03とを分離する。スタンパ1004は凸型の形状に対
応して凹型の形状となり、凹凸形状の金型となる。
Next, (d) stamper 1004 and master 10
Separate from 03. The stamper 1004 has a concave shape corresponding to the convex shape, and is a concave-convex mold.

【0160】次に、図11の(e)に示されるように、
反射板の模型である原盤1003を作成した後、電鋳法
によりスタンパ1004が作製され、該スタンパ100
4には反射板表面形状の反転パターン1004aが形成
されている。
Next, as shown in FIG. 11E,
After the master 1003, which is a model of the reflector, is created, the stamper 1004 is manufactured by the electroforming method.
4 has an inverted pattern 1004a of the surface shape of the reflector.

【0161】そして、ガラス基板や透明樹脂フィルム等
の透明な基板1001(ただし、スタンパが紫外線を透
過する場合には、基板1001は透明である必要はな
い。)の上に紫外線硬化樹脂1005を滴下した後、紫
外線硬化樹脂1005の上から基板1001上にスタン
パ1004を降下させ、基板1001とスタンパ100
4との間に紫外線硬化樹脂1005を押し広げて基板1
001とスタンパ1004との間に紫外線硬化樹脂10
05を充填させる。
Then, an ultraviolet curable resin 1005 is dropped on a transparent substrate 1001 such as a glass substrate or a transparent resin film (however, the substrate 1001 need not be transparent when the stamper transmits ultraviolet rays). After that, the stamper 1004 is lowered onto the substrate 1001 from above the ultraviolet curable resin 1005, and the substrate 1001 and the stamper 100
Substrate 1
Between the 001 and the stamper 1004, the UV curable resin 10
Fill with 05.

【0162】ついで、(f)に示すように、基板100
1側から紫外線硬化樹脂1005に紫外線を照射し、紫
外線硬化樹脂1005を光硬化反応により硬化させる。
紫外線硬化樹脂1005が硬化したら、紫外線硬化樹脂
1005からスタンパ1004を剥離させると、(g)
のように紫外線硬化樹脂1005の表面にはスタンパ1
004の反転パターン1004aが反転してパターン1
005aとして転写される。
Then, as shown in FIG.
The ultraviolet curable resin 1005 is irradiated with ultraviolet rays from one side, and the ultraviolet curable resin 1005 is cured by a photocuring reaction.
After the UV curable resin 1005 is cured, the stamper 1004 is peeled off from the UV curable resin 1005.
The surface of the UV curable resin 1005 is
Inversion pattern 1004a of 004 is inverted to form pattern 1
It is transferred as 005a.

【0163】この後、紫外線硬化樹脂1005のパター
ン1005a上にAg、Alなどの金属薄膜をスパッタ
形成などにより推積させ、(h)に示すように反射膜1
006を形成し、これによって反射板1008が完成さ
れる。
Thereafter, a metal thin film of Ag, Al or the like is deposited on the pattern 1005a of the ultraviolet curable resin 1005 by sputtering or the like, and as shown in FIG.
006 is formed, and thereby the reflector 1008 is completed.

【0164】次に、上記反射板の他の製造方法としてエ
ンボス法による製造方法について図12を参照して説明
する。図12は、本発明に係る光学装置の第2の実施形
態に用いられる反射膜を備える反射板の凹凸形状のエン
ボス法による製造方法の工程図である。
Next, as another method for manufacturing the above-mentioned reflector, a manufacturing method by the embossing method will be described with reference to FIG. FIG. 12 is a process diagram of a method for manufacturing an uneven shape of a reflection plate including a reflection film used in the second embodiment of the optical device according to the present invention by an embossing method.

【0165】図10の(d)の説明のように、反射板の
模型である原盤1003を作成した後、電鋳法によりス
タンパ1004が作製され、該スタンパ1004には反
射板表面形状の反転パターン1004aが形成されてい
As shown in FIG. 10D, a master 1003, which is a model of a reflector, is prepared, and then a stamper 1004 is prepared by electroforming. The stamper 1004 has an inverted pattern of the reflector surface shape. 1004a is formed

【0166】そして、図12の(i)に示される、基板
1001の上にアクリルなどの樹脂1009をスピンコ
ートした後、(j)に記載するように、該樹脂1009
の上からスタンパ1004を降下させ、樹脂1009を
押圧させる。
Then, after resin 1009 such as acrylic resin is spin-coated on the substrate 1001 shown in FIG. 12 (i), the resin 1009 is formed as described in (j).
The stamper 1004 is lowered from above and the resin 1009 is pressed.

【0167】この押圧により、(k)のように樹脂10
09の表面にはスタンパ1004の反転パターン100
4aが反転してパターン1009aとして転写される。
By this pressing, the resin 10 as shown in FIG.
The reverse pattern 100 of the stamper 1004 on the surface of 09
4a is inverted and transferred as a pattern 1009a.

【0168】この後、樹脂1009のパターン1009
a上にAg、Alなどの金属薄膜をスパッタ形成により
堆積させ、(l)に示すように反射膜1006を形成
し、これによって反射板1008が完成される。
Thereafter, the pattern 1009 of the resin 1009 is formed.
A thin metal film of Ag, Al, or the like is deposited on a by sputtering, and a reflection film 1006 is formed as shown in (l), whereby the reflection plate 1008 is completed.

【0169】以上が、本発明に係る光学装置の第2の実
施形態における反射膜の製造方法の説明である。ただ
し、本発明に係る光学装置の反射膜は、上述のような製
造方法により製造される場合に限定されるものではな
く、その他の適宜な方法によって製造することができ
る。
The above is the description of the method of manufacturing the reflective film in the second embodiment of the optical device according to the present invention. However, the reflective film of the optical device according to the present invention is not limited to the case of being manufactured by the manufacturing method as described above, and can be manufactured by other appropriate methods.

【0170】このように、本発明に係る光学装置の第2
の実施形態では、前述の本発明に係る光学装置の第1の
実施形態と同様の効果を得ることができると共に、光の
偏光方向は不問であるため、変更変換素子やブラッググ
レーティングといった光学素子が不要となり、さらに低
コスト化が可能となる。
Thus, the second optical device according to the present invention is
In the embodiment, the same effects as those of the first embodiment of the optical device according to the present invention described above can be obtained, and since the polarization direction of light does not matter, an optical element such as a change conversion element or a Bragg grating is used. It becomes unnecessary and further cost reduction is possible.

【0171】ここで、前述のように、本発明に係る光学
装置では、第1の実施形態で用いた光の偏光状態の変調
を利用して出射位置を制御する方法と、第2の実施形態
で用いた光の反射(屈折)状態の変調を利用して出射位
置を制御する方法とを、x方向、y方向のいずれかにそ
れぞれ組み合わせて実施することも可能である。
Here, as described above, in the optical device according to the present invention, the method for controlling the emission position by utilizing the modulation of the polarization state of the light used in the first embodiment, and the second embodiment. It is also possible to combine the method of controlling the emission position using the modulation of the reflection (refraction) state of the light used in (3) with each of the x direction and the y direction.

【0172】例えば光の反射(屈折)状態の変調を利用
した出射位置の制御をy方向の出射位置の制御に用い、
光の偏光状態の変調を利用した出射位置の制御をx方向
の出射位置の制御に用いた場合、偏光変換素子は、例え
ば図6の場合、光源601aから導光部603に至る光
の経路のいずれかの位置に配置されることとなる。
For example, the control of the emission position using the modulation of the reflection (refraction) state of light is used for the control of the emission position in the y direction,
When the control of the emission position using the modulation of the polarization state of light is used for the control of the emission position in the x direction, the polarization conversion element may change the path of the light from the light source 601a to the light guide unit 603 in the case of FIG. 6, for example. It will be arranged at any position.

【0173】この場合であっても、前述の本発明に係る
光学装置の第1の実施形態及び第2の実施形態の効果を
得ることができる。
Even in this case, the effects of the above-described first and second embodiments of the optical device according to the present invention can be obtained.

【0174】(光学装置の第3の実施形態)次に、本発
明に係る光学装置の第3の実施形態について図13を参
照して説明する。図13は、本発明に係る光学装置の第
3の実施形態の全体概略図である。
(Third Embodiment of Optical Device) Next, a third embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 13 is an overall schematic view of a third embodiment of the optical device according to the present invention.

【0175】本実施形態は、前述の第1の実施形態の構
造の光学装置において、光源201a、偏光変換素子2
01b、導光部201c及び変調部201dの代わり
に、複数の発光素子1301−1、1301−2、・
・、1301−nを設け、導光部1303の光入射面と
平行な方向に複数の発光素子を配置したことを特徴とす
る。
In this embodiment, the light source 201a and the polarization conversion element 2 are added to the optical device having the structure of the first embodiment.
01b, the light guide section 201c and the modulation section 201d, a plurality of light emitting elements 1301-1, 1301-2 ,.
, 1301-n are provided, and a plurality of light emitting elements are arranged in a direction parallel to the light incident surface of the light guide section 1303.

【0176】発光素子の数は、図13に示される例では
10個であるが、本実施形態では発光素子の数は10個
に限定されるものではなく、y方向における被測定体載
置部1304のセルの分割数に応じて発光素子の数が定
まる。
Although the number of light emitting elements is 10 in the example shown in FIG. 13, the number of light emitting elements is not limited to 10 in the present embodiment, and the object mounting portion in the y direction is not limited. The number of light emitting elements is determined according to the number of divided cells of 1304.

【0177】次に、本実施形態の構成について説明す
る。本実施形態は、図13に示されるように、複数の発
光素子1301−1、1301−2、・・、1301−
nと、これらの発光素子から発せられた光の偏光状態を
変換する偏光変換素子1301bとを備える。この偏光
変換素子1301bは、前述の第1の実施形態における
偏光変換素子201bと同様の機能を果たす。
Next, the configuration of this embodiment will be described. In the present embodiment, as shown in FIG. 13, a plurality of light emitting elements 1301-1, 1301-2, ..., 1301-
n, and a polarization conversion element 1301b for converting the polarization state of light emitted from these light emitting elements. The polarization conversion element 1301b has the same function as that of the polarization conversion element 201b in the first embodiment described above.

【0178】また、本実施形態の光学装置は、変調部1
302と、導光部1303と、被測定体載置部1304
と、導光部1305と、光検出器1306とを備える。
In addition, the optical device of this embodiment has the modulator 1
302, a light guide section 1303, and a measured object placing section 1304
And a light guide portion 1305 and a photodetector 1306.

【0179】ここで、変調部1302、導光部130
3、被測定体載置部1304、導光部1305及び光検
出器1306の構造及び動作は、それぞれ前述の第1の
実施形態で説明した、変調部202、導光部203、被
測定体載置部204、導光部205及び光検出器206
の構造及び動作と同じであるためその詳細な説明を省略
する。
Here, the modulation section 1302 and the light guide section 130.
3, the structure and operation of the measured object placement unit 1304, the light guide unit 1305, and the photodetector 1306 are the same as those of the modulation unit 202, the light guide unit 203, and the measured object mount described in the first embodiment. Table 204, light guide 205, and photodetector 206
Since the structure and the operation are the same, detailed description thereof will be omitted.

【0180】本実施形態の光学装置では、被測定体載置
部1304のy方向の部分に対応したそれぞれの発光素
子1301−1、1301−2、・・、1301−nか
ら発せられた光が偏光変換素子1301bに入射する。
In the optical device of this embodiment, the light emitted from each of the light emitting elements 1301-1, 1301-2, ..., 1301-n corresponding to the portion in the y direction of the object mounting portion 1304 is emitted. It is incident on the polarization conversion element 1301b.

【0181】偏光変換素子1301bは、入射した光を
S波又はP波のいずれかの偏光に変換し、導光部130
3に出射する。
The polarization conversion element 1301b converts the incident light into either S-wave or P-wave polarization, and guides the light.
Emit to 3.

【0182】なお、導光部1303には、前述の第1の
実施形態と同様に角度付与部1303−1が設けられて
いる。そして、この角度付与部1303−1の機能は、
前述の第1の実施形態において説明した角度付与部20
3−1と同様の機能を果たすためその詳細な説明を省略
する。
The light guide section 1303 is provided with the angle imparting section 1303-1 as in the first embodiment. Then, the function of the angle imparting unit 1303-1 is
The angle imparting unit 20 described in the first embodiment.
Since the same function as that of 3-1 is performed, detailed description thereof will be omitted.

【0183】変調部1302及び導光部1303は、入
射した光のうち、前述の第1の実施形態に説明した動作
によって、x方向及びy方向の所定の位置から光を被測
定体載置部1304に出射する。
The modulating section 1302 and the light guiding section 1303 allow the light to be measured from a predetermined position in the x-direction and the y-direction among the incident light by the operation described in the first embodiment. It is emitted to 1304.

【0184】被測定体載置部1304上の被測定体は、
導光部1303から出射された光が照射されることによ
り信号光を発する。
The object to be measured on the object mounting portion 1304 is
The signal light is emitted by being irradiated with the light emitted from the light guide section 1303.

【0185】この信号光は、導光部1305に入射し、
導光部1305内を導光し、光検出器1306に入射す
る。
This signal light enters the light guide portion 1305,
The light is guided inside the light guide portion 1305 and is incident on the photodetector 1306.

【0186】なお、本実施形態において、発光素子13
01−1、1301−2、・・、1301−nは、それ
ぞれ同時に発光しても良いし、バラバラに発光しても良
いし、何らかの規則に従って順次発光するとしても良
い。
In the present embodiment, the light emitting element 13
Each of 01-1, 1301-2, ..., 1301-n may emit light simultaneously, may emit light separately, or may emit light sequentially according to some rule.

【0187】このように、本実施形態によれば、前述の
第1の実施形態と同様の効果を得ることができると共
に、y方向における導光部と変調部が不要となり、コス
トを低下させ、導光と変調でのロスとノイズを低減する
ことができる。
As described above, according to this embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained, and the light guide section and the modulation section in the y direction are unnecessary, which reduces the cost. It is possible to reduce loss and noise due to light guiding and modulation.

【0188】(光学装置の第4の実施形態)次に、本発
明に係る光学装置の第4の実施形態について図14を参
照して説明する。図14は、本発明に係る光学装置の第
4の実施形態の全体概略図である。
(Fourth Embodiment of Optical Device) Next, a fourth embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 14 is an overall schematic view of a fourth embodiment of the optical device according to the present invention.

【0189】本実施形態は、前述の第2の実施形態の構
造の光学装置において、光源601a、導光部601c
及び変調部601bの代わりに、複数の発光素子140
1−1、1401−2、・・、1401−nを設け、導
光部1403の光入射面と平行な方向に複数の発光素子
を配置したことを特徴とする。
In this embodiment, the light source 601a and the light guide portion 601c are included in the optical device having the structure of the second embodiment.
And a plurality of light emitting elements 140 instead of the modulator 601b.
, 1401-n, and plural light emitting elements are arranged in a direction parallel to the light incident surface of the light guide section 1403.

【0190】発光素子の数は、図14に示される例では
10個であるが、本実施形態では発光素子の数は10個
に限定されるものではなく、y方向における被測定体載
置部1404のセルの分割数に応じて発光素子の数が定
まる。
The number of light emitting elements is 10 in the example shown in FIG. 14, but the number of light emitting elements is not limited to 10 in the present embodiment, and the object mount portion in the y direction is not limited. The number of light emitting elements is determined according to the number of divided cells of 1404.

【0191】次に、本実施形態の構成について説明す
る。本実施形態は、図14に示されるように、複数の発
光素子1401−1、1401−2、・・、1401−
nを備える。
Next, the configuration of this embodiment will be described. In the present embodiment, as shown in FIG. 14, a plurality of light emitting elements 1401-1, 1401-2, ..., 1401-
n.

【0192】また、本実施形態の光学装置は、変調部1
402と、導光部1403と、被測定体載置部1404
と、導光部1405と、光検出器1406とを備える。
Further, the optical device of this embodiment has the modulator 1
402, a light guide section 1403, and an object mounting section 1404.
And a light guide unit 1405 and a photodetector 1406.

【0193】ここで、変調部1402、導光部140
3、被測定体載置部1404、導光部1405及び光検
出器1406の構造及び動作は、それぞれ前述の第2の
実施形態で説明した、変調部602、導光部603、被
測定体載置部604、導光部605及び光検出器606
の構造及び動作と同じであるためその詳細な説明を省略
する。
Here, the modulation section 1402 and the light guide section 140
3. The structure and operation of the measurement object placement unit 1404, the light guide unit 1405, and the photodetector 1406 are the modulation unit 602, the light guide unit 603, and the measurement object placement unit described in the second embodiment, respectively. Table 604, light guide 605, and photodetector 606
Since the structure and the operation are the same, detailed description thereof will be omitted.

【0194】本実施形態の光学装置では、被測定体載置
部1404のy方向の部分に対応したそれぞれの発光素
子1401−1、1401−2、・・、1401−nか
ら発せられた光が導光部1403の角度付与部1403
−1に入射する。
In the optical device of this embodiment, the light emitted from each of the light emitting elements 1401-1, 1401-2, ..., 1401-n corresponding to the y-direction portion of the object mounting portion 1404 is emitted. Angle imparting section 1403 of light guide section 1403
Incident on -1.

【0195】導光部1403には、前述の第2の実施形
態と同様に角度付与部1403−1が設けられている。
そして、この角度付与部1403−1の機能は、前述の
第2の実施形態において説明した角度付与部603−1
と同様の機能を果たすためその詳細な説明を省略する。
The light guide section 1403 is provided with the angle imparting section 1403-1 as in the second embodiment.
The function of the angle imparting unit 1403-1 is the same as that of the angle imparting unit 603-1 described in the second embodiment.
Since the same function as is performed, the detailed description thereof will be omitted.

【0196】変調部1402及び導光部1403は、入
射した光のうち、前述の第2の実施形態に説明した動作
によって、x方向及びy方向の所定の位置から光を被測
定体載置部1404に出射する。
The modulating section 1402 and the light guiding section 1403 allow the light to be measured from a predetermined position in the x and y directions among the incident light by the operation described in the second embodiment. It is emitted to 1404.

【0197】被測定体載置部1404上の被測定体は、
導光部1403から出射された光が照射されることによ
り信号光を発する。
The object to be measured on the object placing portion 1404 is
The signal light is emitted by being irradiated with the light emitted from the light guide 1403.

【0198】この信号光は、導光部1405に入射し、
導光部1405内を導光し、光検出器1406に入射す
る。
This signal light enters the light guide portion 1405,
The light is guided inside the light guide portion 1405 and is incident on the photodetector 1406.

【0199】なお、本実施形態において、発光素子14
01−1、1401−2、・・、1401−nは、それ
ぞれ同時に発光しても良いし、バラバラに発光しても良
いし、何らかの規則に従って順次発光するとしても良
い。
In the present embodiment, the light emitting element 14
Each of 01-1, 1401-2, ..., 1401-n may emit light at the same time, may emit light separately, or may emit light sequentially according to some rule.

【0200】このように、本実施形態によれば、前述の
第2の実施形態と同様の効果を得ることができると共
に、y方向の方向における導光部と変調部が不要とな
り、コストを低下させ、導光と変調でのロスとノイズを
低減することができる。
As described above, according to this embodiment, the same effect as that of the second embodiment can be obtained, and the light guide section and the modulation section in the y direction are not required, and the cost is reduced. Therefore, it is possible to reduce the loss and noise in light guiding and modulation.

【0201】(光学装置の第5の実施形態)次に、本発
明に係る光学装置の第5の実施形態について図15を参
照して説明する。図15は、本発明に係る光学装置の第
5の実施形態の全体概略図である。
(Fifth Embodiment of Optical Device) Next, a fifth embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 15 is an overall schematic view of a fifth embodiment of the optical device according to the present invention.

【0202】本実施形態は、前述の第4の実施形態にお
いて、図14に示される導光部1405の代わりに、C
CD(charge-coupled device)1505を受光部とし
て用いた実施形態である。
In this embodiment, in place of the light guide portion 1405 shown in FIG. 14 in the above-described fourth embodiment, C is used.
This is an embodiment in which a CD (charge-coupled device) 1505 is used as a light receiving unit.

【0203】すなわち、本実施形態の構成は図14に示
される導光部1405の代わりに、CCD1505を受
光部として用いた点以外は前述の第4の実施形態と同様
である。
That is, the configuration of this embodiment is the same as that of the above-described fourth embodiment except that a CCD 1505 is used as a light receiving section instead of the light guide section 1405 shown in FIG.

【0204】本実施形態では、変調部1402及び導光
部1403は、発光素子1401−1、1401−2、
・・、1401−nからの光をそれぞれ独立にx方向の
所定の位置で選択し、被測定体載置部1404に出射す
る。
In the present embodiment, the modulator 1402 and the light guide 1403 are composed of the light emitting elements 1401-1, 1401-2,
.., 1401-n are individually selected at predetermined positions in the x direction and emitted to the measured object placement unit 1404.

【0205】この場合、発光素子1401−1、140
1−2、・・、1401−nは全てが同時に発光すると
しても良いし、1つ又は同時に複数の発光素子が発光す
るとしても良い。
In this case, the light emitting elements 1401-1 and 140
All of 1-2, ..., 1401-n may emit light at the same time, or one or a plurality of light emitting elements may emit light at the same time.

【0206】例えば、被測定体載置部1404上の複数
の被測定体に同時に光が照射された場合、それぞれの被
測定体から同時に信号光が発せられるが、これらの信号
光は、CCD1505により測定される。
For example, when a plurality of objects to be measured on the object mounting portion 1404 are simultaneously irradiated with light, signal light is emitted from each of the objects to be measured at the same time. To be measured.

【0207】CCD1505は、被測定体載置部140
4上のそれぞれの被測定体に一対一に対応した独立の光
測定部を備え、入射した光を測定することが可能であ
る。
The CCD 1505 is the object mounting unit 140.
It is possible to measure the incident light by providing an independent light measuring section corresponding to each one of the objects to be measured on the one-to-one basis.

【0208】このように、本発明に係る光学装置の第5
の実施形態によれば、前述の本発明に係る光学装置の第
4の実施形態と同様の効果を得ることができると共に、
同時に複数の被測定体からの信号光の読み取りが可能と
なり、測定時間を短縮することができる。
Thus, the fifth optical device according to the present invention is
According to this embodiment, the same effects as those of the above-described optical device according to the fourth embodiment of the present invention can be obtained, and
At the same time, the signal light can be read from a plurality of measured objects, and the measurement time can be shortened.

【0209】ここで、上記第5の実施形態では、第4の
実施形態の構造において受光部にCCDを用いた場合を
例に挙げたが、図13に示される前述の第3の実施形態
の構造において、導光部1305及び光検出器1306
に代えてCCDを用いるとしても良い。
Here, in the above fifth embodiment, the case where the CCD is used for the light receiving portion in the structure of the fourth embodiment has been taken as an example, but in the above-described third embodiment shown in FIG. In the structure, the light guide portion 1305 and the photodetector 1306
Instead of this, a CCD may be used.

【0210】この場合であっても、前述の第3の実施形
態と同様の効果を得ることができると共に、測定時間を
短縮することができる。
Even in this case, it is possible to obtain the same effect as that of the above-described third embodiment and shorten the measurement time.

【0211】また、図2に示される前述の第1の実施形
態の構造において、導光部205及び光検出器206に
代えてCCDを用いる、又は、図6に示される前述の第
2の実施形態の構造において、導光部605及び光検出
器606に代えてCCDを用いるとしても良い。
Further, in the structure of the first embodiment shown in FIG. 2, a CCD is used instead of the light guide section 205 and the photodetector 206, or the second embodiment shown in FIG. 6 is used. In the structure of the embodiment, a CCD may be used instead of the light guide portion 605 and the photodetector 606.

【0212】(光学装置の第6の実施形態)次に、本発
明に係る光学装置の第6の実施形態について図16を参
照して説明する。図16は、(a)が従来の光学装置の
一部断面図及び(b)が本発明に係る光学装置の第6の
実施形態の一部断面図である。
(Sixth Embodiment of Optical Device) Next, a sixth embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIG. 16A is a partial sectional view of a conventional optical device, and FIG. 16B is a partial sectional view of a sixth embodiment of the optical device according to the present invention.

【0213】本実施形態は、前述の第1の実施形態から
第5の実施形態のいずれかにおいて、被測定体載置部の
上下の少なくともいずれか一方にマイクロレンズアレイ
を配置した実施形態である。本実施形態は、マイクロレ
ンズアレイを配置した点以外は前述の第1の実施形態か
ら第5の実施形態のいずれかとその構造は同様であるた
め、その同様の部分の詳細な説明は省略する。
The present embodiment is an embodiment in which the microlens array is arranged on at least one of the upper and lower sides of the object mounting portion in the above-described first to fifth embodiments. . The structure of this embodiment is the same as that of any of the first to fifth embodiments described above except that a microlens array is arranged. Therefore, detailed description of the same portions is omitted.

【0214】本実施形態は、光学装置の検出制度を向上
させるための実施形態である。
This embodiment is an embodiment for improving the detection accuracy of the optical device.

【0215】すなわち、図16の(a)に示されるよう
に、マイクロレンズアレイ無しの場合、被測定体160
2に照射される参照光1605は広がりが大きく、狙い
のセル以外の部分に光が当たったりして、参照光のロス
1606になって効率が下がったり、ノイズの発生原因
となる可能性がある。
That is, as shown in FIG. 16 (a), in the case of no microlens array, the object 160 to be measured is
The reference light 1605 radiated to No. 2 has a large spread, and light may hit the portion other than the target cell, resulting in loss of the reference light 1606, which may reduce efficiency and cause noise. .

【0216】また、被測定体1602から放射される信
号光1606もさまざまな方向成分を持っているため、
その一部は導光部からはずれたりして信号光のロス16
07となり効率低下の原因となる。
Since the signal light 1606 emitted from the device under test 1602 also has various directional components,
A part of it goes out of the light guide section, and the loss of signal light 16
It becomes 07, which causes a decrease in efficiency.

【0217】そこで、本実施形態では、図16の(b)
に示されるように、被測定体載置部1601の下部にマ
イクロレンズアレイ1608を設け、さらに、被測定体
載置部1601の上部にマイクロレンズアレイ1609
を設けた。
Therefore, in the present embodiment, (b) of FIG.
As shown in FIG. 7, a microlens array 1608 is provided below the object-to-be-measured mounting portion 1601, and a microlens array 1609 is provided above the object-to-be-measured mounting portion 1601.
Was set up.

【0218】したがって、本実施形態では、図16の
(b)に示されるように、被測定体1602に入射する
光はマイクロレンズアレイ1608によって集光作用を
受け、狙いのセルの被測定体1602に照射される光の
強度が増加する。
Therefore, in the present embodiment, as shown in FIG. 16B, the light incident on the object 1602 to be measured is subjected to the condensing action by the microlens array 1608, and the object 1602 to be measured of the target cell is. The intensity of the light radiated on the object increases.

【0219】また、被測定体1602から放射する光も
マイクロレンズアレイ1609を通過することで、散乱
成分が低減されることにより、光検出部まで導光する信
号光強度が増加する。
Further, the light emitted from the object 1602 to be measured also passes through the microlens array 1609, so that the scattered component is reduced and the intensity of the signal light guided to the photodetection section is increased.

【0220】よって、本実施形態では、前述の本発明に
係る光学装置の第1の実施形態から第5の実施形態のい
ずれかと同様の効果を得ることができると共に、被測定
体1602に照射される光強度が増加することで、被測
定体から放射される信号光強度も増加して、検出感度が
向上する。
Therefore, in this embodiment, the same effect as that of any one of the first to fifth embodiments of the optical device according to the present invention described above can be obtained, and the measured object 1602 is irradiated. As the light intensity of the light increases, the intensity of the signal light emitted from the measured object also increases and the detection sensitivity improves.

【0221】また、本実施形態では、不要な部分への照
射も抑えることができるので、ノイズを低減することが
可能となり、検出感度が上がる。
Further, in the present embodiment, it is possible to suppress irradiation to unnecessary portions, so that noise can be reduced and detection sensitivity is improved.

【0222】さらに、本実施形態では、被測定体160
2から放射される信号光もマイクロレンズアレイ160
9によって制御されるので、結果として光検出部での信
号光強度が増加して、検出感度が向上する。
Furthermore, in the present embodiment, the device under test 160
The signal light emitted from the microlens array 160
As a result, the signal light intensity at the photodetector is increased and the detection sensitivity is improved.

【0223】なお、本実施形態では、図16の(b)に
示されるように、被測定体載置部1601の上下の双方
にマイクロレンズアレイを設けているが、被測定体載置
部1601の上下のいずれか一方にマイクロレンズアレ
イを設けるとしても良い。
In this embodiment, as shown in FIG. 16B, the microlens arrays are provided both above and below the object-to-be-measured mounting portion 1601, but the object-to-be-measured mounting portion 1601 is provided. The microlens array may be provided on either the upper side or the lower side.

【0224】(光学装置の第7の実施形態)次に、本発
明に係る光学装置の第7の実施形態について図17を参
照して説明する。図17は、本発明に係る光学装置の第
7の実施形態の一部断面図であり、図17の(a)は、
本発明に係る光学装置の第7の実施形態の第1例の一部
断面図、図17の(b)は、本発明に係る光学装置の第
7の実施形態の第2例の一部断面図である。
(Seventh Embodiment of Optical Device) Next, a seventh embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 17 is a partial cross-sectional view of a seventh embodiment of the optical device according to the present invention, and FIG.
17B is a partial sectional view of a first example of the seventh embodiment of the optical device according to the present invention. FIG. 17B is a partial sectional view of the second example of the seventh embodiment of the optical device according to the present invention. It is a figure.

【0225】本実施形態は、前述の第1の実施形態から
第6の実施形態のいずれかにおいて、被測定体載置部の
下部、又は被測定体載置部の内部にレンズ部を形成した
実施形態である。
In this embodiment, in any one of the first to sixth embodiments described above, the lens portion is formed under the measured object placing portion or inside the measured object placing portion. It is an embodiment.

【0226】本実施形態は、被測定体載置部の下部、又
は被測定体載置部の内部にレンズ部を形成した点以外は
前述の第1の実施形態から第6の実施形態のいずれかと
その構造は同様であるため、その同様の部分の詳細な説
明は省略する。
This embodiment is one of the first to sixth embodiments described above except that the lens portion is formed in the lower portion of the measured object placing portion or inside the measured object placing portion. Since the heels have the same structure, detailed description of the similar parts will be omitted.

【0227】本実施形態は、前述の第6の実施形態と同
様、光学装置の検出制度を向上させるための実施形態で
ある。
This embodiment is, like the sixth embodiment, an embodiment for improving the detection accuracy of the optical device.

【0228】すなわち、前述の第6の実施形態では、光
の強度を向上させるためにマイクロレンズアレイを用い
たが、本実施形態では、光の強度を向上させるために、
被測定体載置部にレンズ部を設けた。
That is, in the sixth embodiment described above, the microlens array is used to improve the light intensity, but in the present embodiment, in order to improve the light intensity,
A lens portion was provided on the object mounting portion.

【0229】すなわち、例えば図17の(a)に示され
るように、被測定体載置部1701上には被測定体17
02が載置されている。
That is, for example, as shown in FIG. 17A, the object 17 to be measured is placed on the object mounting portion 1701.
02 is placed.

【0230】そして、本実施形態では、被測定体載置部
1701の下部、すなわち、被測定体1702を照射す
るための参照光が入射する面側の部分に、それぞれの被
測定体の載置部分に対応したレンズ部1703を形成す
る。
In this embodiment, each of the objects to be measured is placed on the lower part of the object to be measured placing portion 1701, that is, on the surface side where the reference light for irradiating the object to be measured 1702 is incident. A lens portion 1703 corresponding to the portion is formed.

【0231】そのため、本実施形態では、被測定体17
02に照射される参照光の強度を向上させることができ
る。
Therefore, in the present embodiment, the device under test 17
The intensity of the reference light with which the light beam 02 is irradiated can be improved.

【0232】なお、図17の(b)に示されるように、
被測定体載置部1701の構造として、レンズ部170
3を有する部分と、この部分を覆う部分1704とに分
け、それぞれの部分を屈折率の異なる部分として形成し
ても良い。
As shown in FIG. 17B,
As the structure of the object mounting portion 1701, the lens portion 170
3 may be divided into a portion having 3 and a portion 1704 covering this portion, and each portion may be formed as a portion having a different refractive index.

【0233】図17の(b)に示される実施形態は、図
17の(a)に示される実施形態に、レンズ部1703
を有する部分とは異なる屈折率の材料で覆ったものと同
様の構造となっている。
The embodiment shown in FIG. 17B is different from the embodiment shown in FIG.
It has the same structure as that covered with a material having a different refractive index from the portion having.

【0234】これら屈折率の異なる部分の少なくとも一
方が樹脂で形成されるとしても良い。この図17の
(b)に示されるようにしても、図17の(a)に示さ
れる被測定体載置部1701と同様の効果を得ることが
できる。
At least one of these portions having different refractive indexes may be made of resin. Even with the configuration shown in FIG. 17B, the same effect as that of the measured object placement portion 1701 shown in FIG. 17A can be obtained.

【0235】したがって、本実施形態では、被測定体1
702に入射する光はレンズ部1703によって集光作
用を受け、狙いのセルの被測定体1702に照射される
光の強度が増加する。
Therefore, in the present embodiment, the device under test 1
The light incident on 702 is condensed by the lens portion 1703, and the intensity of the light radiated to the measured object 1702 of the target cell increases.

【0236】よって、本実施形態では、前述の本発明に
係る光学装置の第1の実施形態から第6の実施形態のい
ずれかと同様の効果を得ることができると共に、被測定
体1702に照射される光強度が増加することで、被測
定体から放射される信号光強度も増加して、さらに検出
感度が向上する。
Therefore, in this embodiment, the same effect as that of any one of the first to sixth embodiments of the optical device according to the present invention described above can be obtained, and the measured object 1702 is irradiated. The increase in the light intensity of the signal increases the intensity of the signal light emitted from the measured object and further improves the detection sensitivity.

【0237】また、本実施形態では、不要な部分への照
射も抑えることができるので、ノイズを低減することが
可能となり、検出感度が上がる。
Further, in the present embodiment, it is possible to suppress irradiation to unnecessary portions, so that noise can be reduced and detection sensitivity is improved.

【0238】(レンズ部の構造)ここで、前述の第6の
実施形態及び第7の実施形態において用いられたレンズ
部の構造について図18を参照して説明する。図18
は、第6の実施形態及び第7の実施形態において用いら
れるレンズ部の構造の一部拡大図である。
(Structure of Lens Section) Here, the structure of the lens section used in the above-described sixth and seventh embodiments will be described with reference to FIG. FIG.
[Fig. 6] is a partially enlarged view of the structure of a lens unit used in the sixth embodiment and the seventh embodiment.

【0239】本発明に係る光学装置の実施形態に用いら
れるレンズ部は、図18の(a)に示されるようなレン
ズ形状だけではなく、図18の(b)に示されるような
プリズム形状であってもよい。
The lens portion used in the embodiment of the optical device according to the present invention has not only the lens shape as shown in FIG. 18A, but also the prism shape as shown in FIG. 18B. It may be.

【0240】また、本発明に係る光学装置の実施形態に
用いられるレンズ部は、凸でも凹でもよい。また、レン
ズ部の屈折率は基板の材料などにより適宜選択すること
が可能である。
Moreover, the lens portion used in the embodiment of the optical device according to the present invention may be convex or concave. Further, the refractive index of the lens portion can be appropriately selected depending on the material of the substrate and the like.

【0241】(光学装置の第8の実施形態)次に、本発
明に係る光学装置の第8の実施形態について図19を参
照して説明する。図19は、本発明に係る光学装置の第
8の実施形態の全体概略図である。
(Eighth Embodiment of Optical Device) Next, an eighth embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 19 is an overall schematic view of an eighth embodiment of the optical device according to the present invention.

【0242】本実施形態は、前述の本発明に係る光学装
置の第1の実施形態から第7の実施形態のいずれかにお
いて、被測定体の測定位置の位置決めのための機能を付
加した実施形態である。
This embodiment is the same as any one of the first to seventh embodiments of the optical device according to the present invention described above, but with a function for positioning the measurement position of the object to be measured. Is.

【0243】すなわち、本実施形態では、入射部190
1から光が入射される導光部1903及び変調部190
2の少なくとも一方と、被測定体載置部1904とに、
被測定体載置部1904のx,y方向の位置決めのため
のアライメントマーク1905を形成する。
That is, in the present embodiment, the incident section 190
1, the light guide section 1903 and the modulation section 190 to which light is incident
2 and at least one of the measurement object mounting portions 1904,
An alignment mark 1905 is formed for positioning the measured object placement portion 1904 in the x and y directions.

【0244】ここで、本実施形態において入射部190
1は、図2に示される第1の実施形態では光源201
a、偏光変換素子201b、導光部201c、変調部2
01dに対応する。
Here, in the present embodiment, the incident section 190 is used.
1 is a light source 201 in the first embodiment shown in FIG.
a, polarization conversion element 201b, light guide section 201c, modulation section 2
It corresponds to 01d.

【0245】また、変調部1902は図1に示される変
調部102に対応し、導光部1903は図1に示される
導光部103に対応し、被測定体載置部1904は図1
に示される被測定体載置部104に対応する。
The modulating unit 1902 corresponds to the modulating unit 102 shown in FIG. 1, the light guiding unit 1903 corresponds to the light guiding unit 103 shown in FIG. 1, and the measured object placing unit 1904 is shown in FIG.
Corresponds to the measured object placement unit 104 shown in FIG.

【0246】さらに、本実施形態では、導光部1903
と被測定体載置部1904との間に、被測定体載置部1
904のz方向の位置決めのためのスペーサ1906を
設けている。
Further, in the present embodiment, the light guide section 1903.
Between the object-to-be-measured object mounting portion 1904 and the object-to-be-measured object mounting part 1
A spacer 1906 for positioning the 904 in the z direction is provided.

【0247】なお、本実施形態において、被測定体載置
部1904は交換可能な構造となっていても良い。例え
ば、被測定体載置部としてのDNAチップ等は使い捨て
が現在のところ基本である。
In the present embodiment, the object mounting portion 1904 may have a replaceable structure. For example, the DNA chip or the like as the object mounting part is basically disposable at present.

【0248】本実施形態では、測定前に、本発明に係る
光学装置を用いた分析装置に被測定体を設置する必要が
あるので、導光部や変調部にアライメントマークを形成
しておき、被測定体にもそれに対応するようなマークを
あらかじめ形成しておくことで設置時にそのマークを使
用してx、y方向の設置アライメントを行う。
In this embodiment, since it is necessary to install the object to be measured in the analyzer using the optical device according to the present invention before the measurement, the alignment marks are formed in the light guide section and the modulation section. A mark corresponding to the mark is formed in advance on the object to be measured so that the mark can be used for installation alignment in the x and y directions during installation.

【0249】そして、本実施形態においては、上記アラ
イメントマーク使い、画像処理によってアライメントを
行うような構成でも良いし、マーク自体を対応する凹凸
パターンにしておいて物理的にアライメントを行うよう
な構成でも良い。
In the present embodiment, the alignment mark may be used to perform alignment by image processing, or the mark itself may be formed into a corresponding uneven pattern for physical alignment. good.

【0250】さらに、導光部1903と被測定体載置部
1904との間に、被測定体載置部1904のz方向の
位置決めのためのスペーサ1906を配置することで、
z方向にも任意の距離に高さ制御することができる。
Furthermore, by disposing a spacer 1906 for positioning the measured object placing section 1904 in the z direction between the light guide section 1903 and the measured object placing section 1904,
The height can be controlled to an arbitrary distance also in the z direction.

【0251】なお、本実施形態では、アライメントマー
クを用いたx,y方向の位置決めと、スペーサを用いた
z方向の位置決めとの双方を同時に実施した実施形態と
したが、アライメントマークを用いたx,y方向の位置
決めと、スペーサを用いたz方向の位置決めとのいずれ
か一方を実施した実施形態であっても良い。
In the present embodiment, the positioning in the x and y directions using the alignment marks and the positioning in the z direction using the spacers are both performed at the same time. , Y direction or z direction using a spacer may be performed.

【0252】このように、本実施形態によれば、前述の
本発明に係る光学装置の第1の実施形態から第7の実施
形態のいずれかの効果を得ることができると共に、被測
定体の分析の精度を確保するためには、狙いの被測定体
のセルに正確に光を照射することが必要となるが、アラ
イメントマーク1905とスペーサ1906を設けるこ
とによって被測定体設置時の位置ズレによるノイズ、ロ
スが低減して分析の精度を向上させることができる。
As described above, according to this embodiment, it is possible to obtain the effect of any one of the first to seventh embodiments of the optical device according to the present invention described above, and to measure the object to be measured. In order to ensure the accuracy of analysis, it is necessary to accurately irradiate the cell of the target measured object with light, but by providing the alignment mark 1905 and the spacer 1906, there is a positional shift when the measured object is installed. Noise and loss can be reduced and analysis accuracy can be improved.

【0253】(光学装置の第9の実施形態)次に、本発
明に係る光学装置の第9の実施形態について図20を参
照して説明する。図20は、本発明に係る光学装置の第
9の実施形態の概略構成図である。
(Ninth Embodiment of Optical Device) Next, a ninth embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 20 is a schematic configuration diagram of the ninth embodiment of the optical device according to the present invention.

【0254】本実施形態は、前述の本発明に係る光学装
置の第1の実施形態から第7の実施形態のいずれかの構
造に加えて、図1に示される構造の光学装置において、
変調部102、導光部103及び被測定体載置部104
が一体となって互いに位置的に固定されていることを特
徴とする。
In addition to the structure of any one of the first to seventh embodiments of the optical device according to the present invention described above, this embodiment is the same as the optical device of the structure shown in FIG.
Modulation section 102, light guide section 103, and measured object placement section 104
Are integrally fixed to each other in position.

【0255】すなわち、本発明に係る光学装置の第9の
実施形態は、変調部2002と導光部2003との間に
樹脂2010が挿入され、さらに、導光部2003と被
測定体載置部2004との間に樹脂2011が挿入され
ている構成となっている。
That is, in the ninth embodiment of the optical device according to the present invention, the resin 2010 is inserted between the modulation section 2002 and the light guide section 2003, and further, the light guide section 2003 and the object mount section. Resin 2011 is inserted between 2004 and 2004.

【0256】ここで、変調部2002は、図1に示され
る変調部102に対応し、導光部2003は、図1に示
される導光部103に対応し、被測定体載置部2004
は、図1に示される被測定体載置部104に対応する。
Here, the modulation unit 2002 corresponds to the modulation unit 102 shown in FIG. 1, the light guide unit 2003 corresponds to the light guide unit 103 shown in FIG.
Corresponds to the measured object placement unit 104 shown in FIG.

【0257】本実施形態では、変調部2002と導光部
2003との間に樹脂2010が挿入され、導光部20
03と被測定体載置部2004との間の樹脂2011が
挿入されているため、変調部2002、導光部2003
及び被測定体載置部2004が互いに位置的に固定され
一体となっている。
In this embodiment, the resin 2010 is inserted between the modulation section 2002 and the light guide section 2003,
No. 03 and the object to be measured 2004 are inserted into the resin 2011, the modulator 2002 and the light guide 2003
Also, the measured object placement portion 2004 is positionally fixed and integrated with each other.

【0258】ここで、樹脂2010及び樹脂2011
は、熱等のエネルギーをかけられることで上下の部品間
の固定を解除するようにしておくことが好ましい。
Here, the resin 2010 and the resin 2011
It is preferable to release the fixation between the upper and lower parts by applying energy such as heat.

【0259】このように、本実施形態では、前述の本発
明に係る光学装置の第1の実施形態から第7の実施形態
のいずれかの効果を得ることができると共に、あらかじ
め、変調部2002と導光部2003、導光部2003
と被測定体載置部2004とを一体化し、互いに位置的
に固定しておくことで、解析の際の位置合わせが不要と
なり、装置の簡便化に伴う低価格化、解析の高精度化、
高速化が可能となる。
As described above, in this embodiment, it is possible to obtain the effect of any one of the first to seventh embodiments of the above-described optical device according to the present invention, and in addition to the modulation unit 2002 in advance. Light guide section 2003, light guide section 2003
By integrating the measurement target placement unit 2004 and the object-to-be-measured portion 2004 and fixing them in position relative to each other, alignment at the time of analysis becomes unnecessary, cost reduction due to simplification of the device, improvement of analysis accuracy,
Higher speed is possible.

【0260】また、変調部2002と導光部2003、
導光部2003と被測定体載置部2004との一体化、
互いの位置的な固定は分離することが可能であるように
しておくことで、被測定体載置部2004だけを使い捨
てにして、変調部2002と導光部2003は簡単にリ
サイクルすることができる。それによって低コスト化、
廃棄物の低減の効果が得られる。
In addition, the modulation section 2002 and the light guide section 2003,
Integration of the light guide unit 2003 and the object placement unit 2004,
By making it possible to separate the positional fixations from each other, it is possible to dispose only the measured object placing portion 2004, and the modulating portion 2002 and the light guide portion 2003 can be easily recycled. . Cost reduction,
The effect of reducing waste is obtained.

【0261】ただし、本実施形態において、変調部20
02と導光部2003との間、導光部2003と被測定
体載置部2004との間に挿入され、それぞれの上下の
部品間を固定するものは樹脂に限定されるものではな
い。
However, in the present embodiment, the modulator 20
02 and the light guide portion 2003, and between the light guide portion 2003 and the measured object placement portion 2004 and fixing the upper and lower parts thereof are not limited to the resin.

【0262】すなわち、本実施形態において、変調部2
002と導光部2003との間、導光部2003と被測
定体載置部2004との間に挿入され、それぞれの上下
の部品間を固定するものは、上下の部品間を固定するの
に適したものであれば良く、さらに前述の低コスト化、
廃棄物の低減の効果を得る場合には、熱エネルギー等に
より上下の部品間の固定を解除することが容易なもので
あれば良い。
That is, in this embodiment, the modulator 2
002 and the light guide part 2003, and between the light guide part 2003 and the to-be-measured object mounting part 2004, and what fixes the upper and lower parts of each are fixing the upper and lower parts. If it is suitable, further cost reduction,
In order to obtain the effect of reducing the amount of waste, it suffices that it is easy to release the fixation between the upper and lower parts by thermal energy or the like.

【0263】(被測定体載置部及び被測定体の例)ここ
で、上記本発明に係る光学装置の各実施形態に用いられ
る被測定体載置部及び被測定体の例について説明する。
(Example of Measured Object Placement Part and Measured Object) Here, an example of the measured object mount and the measured object used in each embodiment of the optical apparatus according to the present invention will be described.

【0264】被測定体載置部及び被測定体としては種々
のものが考えられるが、例えば第1例として、DNAチ
ップを挙げることができる。
Various objects can be considered as the object mounting part and the object to be measured. As a first example, a DNA chip can be mentioned.

【0265】DNAチップは、多数の異なったDNAプ
ローブをガラス基板上に高密度に固定し、そのDNAプ
ローブをハイブリダイズさせ、その蛍光等の信号を検出
してコンピューターで大量解析するためのものである。
A DNA chip is for immobilizing a large number of different DNA probes on a glass substrate at a high density, hybridizing the DNA probes, detecting signals such as fluorescence, and performing a large-scale analysis by a computer. is there.

【0266】したがって、DNAチップでは、ガラス基
板が被測定体載置部を構成し、DNAプローブが被測定
体を構成する。
Therefore, in the DNA chip, the glass substrate constitutes the subject mounting portion, and the DNA probe constitutes the subject.

【0267】また、被測定体載置部及び被測定体の第2
例として、DNAマイクロアレイを挙げることができ
る。
Further, the second part of the object mounting portion and the second object of the object is measured.
As an example, a DNA microarray can be mentioned.

【0268】DNAマイクロアレイとは、DNAチップ
と構成・機能は同じであるが、作製方法がDNAチップ
は半導体工程を利用するのに対し、DNAマイクロアレ
イはスポッターと呼ばれるものでプローブを滴下して作
製する。DNAチップの方が高密度にDNAプローブが
配列されている。
A DNA microarray has the same structure and function as a DNA chip, but the manufacturing method uses a semiconductor process for a DNA chip, whereas a DNA microarray is a spotter that is manufactured by dropping a probe. To do. DNA probes are arranged at a higher density on the DNA chip.

【0269】したがって、DNAマイクロアレイにおい
ては、ガラス基板が被測定体載置部を構成し、DNAプ
ローブが被測定体を構成する。
Therefore, in the DNA microarray, the glass substrate constitutes the subject mounting portion and the DNA probe constitutes the subject.

【0270】また、被測定体載置部及び被測定体の第3
例として、ECAチップを挙げることができる。
[0270] Further, the measured object placing portion and the third object of the measured object
An example is an ECA chip.

【0271】ECAチップは、DNAチップと構成・機
能は同じであるが、検出に電気を用いるものである。電
気と光の両方を用いる場合もある。
The ECA chip has the same structure and function as the DNA chip, but uses electricity for detection. In some cases, both electricity and light are used.

【0272】したがって、ECAチップでは、ガラス基
板が被測定体載置部を構成し、DNAプローブが被測定
体を構成する。
Therefore, in the ECA chip, the glass substrate constitutes the subject mounting portion and the DNA probe constitutes the subject.

【0273】また、被測定体載置部及び被測定体の第4
例として、プロテインチップを挙げることができる。
Also, the measured object placing portion and the fourth object of the measured object
A protein chip can be mentioned as an example.

【0274】プロテインチップは、DNAチップが遺伝
子を解析するのに対し、プロテインチップはたんぱく質
を解析するのに用いられる。
The protein chip is used for analyzing a gene, whereas the DNA chip is used for analyzing a gene.

【0275】したがって、ECAチップでは、ガラス基
板が被測定体載置部を構成し、DNAプローブが被測定
体を構成する。
Therefore, in the ECA chip, the glass substrate constitutes the subject mounting portion and the DNA probe constitutes the subject.

【0276】ただし、本発明に係る光学装置の実施形態
に用いられる被測定体載置部及び被測定体としては上記
の例に限定されるものではなく、その他種々のものを用
いることができる。
However, the measurement object placing portion and the measurement object used in the embodiment of the optical device according to the present invention are not limited to the above examples, and various other things can be used.

【0277】(分析システムの実施形態)次に、本発明
に係る分析システムについて図21、図22及び図23
を参照して説明する。図21は、本発明に係る分析シス
テムの一実施形態の全体構成図、図22は、図21に示
される分析装置の内部ブロック図、図23は、図21に
示される分析システムの一実施形態の動作のフローチャ
ートである。
(Embodiment of Analysis System) Next, an analysis system according to the present invention will be described with reference to FIGS. 21, 22 and 23.
Will be described with reference to. 21 is an overall configuration diagram of an embodiment of the analysis system according to the present invention, FIG. 22 is an internal block diagram of the analysis apparatus shown in FIG. 21, and FIG. 23 is an embodiment of the analysis system shown in FIG. 3 is a flowchart of the operation of FIG.

【0278】図21に示されるように、本発明に係る分
析システムは、光学装置2101と、分析装置2102
と、情報データベース2103とから構成される。
As shown in FIG. 21, the analysis system according to the present invention comprises an optical device 2101 and an analysis device 2102.
And an information database 2103.

【0279】光学装置2101は、前述の本発明に係る
光学装置の第1の実施形態から第9の実施形態のうちの
いずれかを用いる。
As the optical device 2101, any one of the above-described first to ninth embodiments of the optical device according to the present invention is used.

【0280】分析装置2102は、光学装置2101及
び情報データベース2103から入力した情報に基づい
て比較、判定を行う装置である。
The analysis device 2102 is a device for making comparison and determination based on the information input from the optical device 2101 and the information database 2103.

【0281】情報データベース2103は、分析装置2
102により分析を行う際に必要となる基準データが格
納されている。この情報データベース2103は、例え
ばハードディスク等を有するサーバにより構成される。
後述するようにこの情報データベース2103は、例え
ばカード等の情報を格納した記録媒体に変える又はこの
ようなカードと共に用いられることができる。
The information database 2103 is used by the analyzer 2.
Reference data necessary for analysis by 102 is stored. The information database 2103 is composed of a server having, for example, a hard disk.
As will be described later, this information database 2103 can be changed to a recording medium storing information such as a card or used together with such a card.

【0282】光学装置2101と、分析装置2102
と、情報データベース2103とはそれぞれネットワー
クにより接続されるとしても良いし、各装置が1つの装
置(筐体)に収納されていても良いし、分析装置210
2内部に光学装置2101及び情報データベース210
3の一方が格納されているとしても良い。
Optical device 2101 and analysis device 2102
And the information database 2103 may be connected to each other via a network, each device may be housed in one device (housing), or the analysis device 210.
Optical device 2101 and information database 210 inside
One of 3 may be stored.

【0283】次に、図21に示される分析装置2102
の内部構成について図22を参照して説明する。
Next, the analyzer 2102 shown in FIG.
The internal configuration of will be described with reference to FIG.

【0284】図21に示される分析装置2102は、制
御部2201と、送受信部2202と、比較判定部22
03と、記憶部2204とを備え、それぞれはバス22
05により接続されている。
The analyzer 2102 shown in FIG. 21 includes a control unit 2201, a transmission / reception unit 2202, and a comparison / determination unit 22.
03 and a storage unit 2204, each of which is a bus 22.
It is connected by 05.

【0285】制御部2201は、それぞれの部の動作を
制御する。送受信部2202は、外部との情報のやりと
りを行う。比較判定部2203は、入力した情報に基づ
いて比較、判定を行う。
The control unit 2201 controls the operation of each unit. The transmission / reception unit 2202 exchanges information with the outside. The comparison / determination unit 2203 performs comparison and determination based on the input information.

【0286】記憶部2204は、処理に必要なプログラ
ムを記録したり、比較判定結果や入力した情報などを記
憶する。
The storage unit 2204 stores a program necessary for processing, and stores a comparison / determination result and input information.

【0287】図22に示される各部の機能は、分析装置
が備えるCPUが、単体で、その他の部材と共に又は主
記憶装置や補助記憶装置に記憶されているプログラムと
協働することにより実現される。
The functions of the respective units shown in FIG. 22 are realized by the CPU provided in the analyzer alone or in cooperation with other members or with a program stored in the main memory or the auxiliary memory. .

【0288】また、記憶部2204は、例えば、RA
M、ROM、ハードディスク等により構成される。
Also, the storage unit 2204 stores, for example, RA
It is composed of an M, a ROM, a hard disk, and the like.

【0289】次に、図21に示される分析システムの動
作について図23参照して説明する。
Next, the operation of the analysis system shown in FIG. 21 will be described with reference to FIG.

【0290】まず、光学装置2101が測定を行い(ス
テップ2301)、この測定情報が分析装置2102に
送信される。
First, the optical device 2101 performs measurement (step 2301), and this measurement information is transmitted to the analysis device 2102.

【0291】このステップ2301における光学装置の
測定動作は前述の本発明に係る光学装置の第1の実施形
態から第9の実施形態における測定動作と同様である。
The measuring operation of the optical device in step 2301 is the same as the measuring operation in the first to ninth embodiments of the optical device according to the present invention described above.

【0292】測定情報が送信された分析装置2102
は、情報データベース2103から比較情報を受信し、
測定情報と比較情報との比較を行う(ステップ230
2)。
Analyzing device 2102 to which the measurement information is transmitted
Receives comparison information from the information database 2103,
The measurement information and the comparison information are compared (step 230).
2).

【0293】そして、分析装置2102は比較結果に基
づいて判定を行う(ステップ2303)。この判定は、
例えば比較した結果、測定情報と比較情報とが一致し
た、あるいは一致しなかったなどがある。
Then, the analyzer 2102 makes a determination based on the comparison result (step 2303). This decision is
For example, as a result of comparison, the measurement information and the comparison information may or may not match.

【0294】次に、分析装置2102は判定結果を出力
し(ステップ2304)、動作を終える。
Next, the analyzer 2102 outputs the judgment result (step 2304) and ends the operation.

【0295】以上のように、本発明に係る分析システム
の一実施形態では、分析装置2102の分析により光学
装置2101が測定した結果に基づいて判定結果を出力
することが可能となる。
As described above, in the embodiment of the analysis system according to the present invention, it is possible to output the determination result based on the result measured by the optical device 2101 by the analysis of the analysis device 2102.

【0296】ここで、上記実施形態では、分析装置21
02が利用する情報として情報データベース2103に
格納されている比較情報を用いるとしているが、分析装
置2102が利用する情報としてカード等の記録媒体に
格納される比較情報であるとしても良い。
Here, in the above embodiment, the analyzer 21 is used.
Although the comparison information stored in the information database 2103 is used as the information used by 02, the comparison information stored in a recording medium such as a card may be used as the information used by the analysis device 2102.

【0297】この場合、カード等の記録媒体内部の情報
は、例えば分析装置に接続されたカードリーダ等の読み
取り装置により読み取られて分析装置に送信されるとし
て良い。
In this case, the information inside the recording medium such as a card may be read by a reading device such as a card reader connected to the analyzer and transmitted to the analyzer.

【0298】(分析システムを用いた本人照合方法)次
に、上記本発明に係る分析システムの一実施形態を本人
照合方法に適用した場合について図24を参照して説明
する。この本人照合方法は本発明に係る本人照合方法の
一実施形態となる。図24は、本発明に係る本人照合方
法の一実施形態のフローチャートである。
(Personal collation method using analysis system) Next, a case where one embodiment of the analysis system according to the present invention is applied to the principal collation method will be described with reference to FIG. This personal identification method is an embodiment of the personal identification method according to the present invention. FIG. 24 is a flowchart of an embodiment of the personal identification method according to the present invention.

【0299】本発明に係る本人照合方法の一実施形態
は、前述の本発明に係る分析システムの一実施形態を用
いて本人照合を行う方法である。
An embodiment of the personal identification method according to the present invention is a method for personal identification using the embodiment of the analysis system according to the present invention described above.

【0300】そして、本発明に係る本人照合方法の一実
施形態を用いることにより、例えば、ある部屋に入室を
許可するかしないかを照合結果に基づいて判定すること
によるセキュリティシステムを構築したり、クレジット
カード等のカードの不正利用を防止する。
By using an embodiment of the person verification method according to the present invention, for example, a security system is constructed by judging whether or not to allow a room to enter a room based on the verification result, Prevent unauthorized use of credit cards and other cards.

【0301】本実施形態の本人照合方法では、図21に
示される分析装置2102が、光学装置2101から得
られる情報(ステップ2401)と、データベースやカ
ードに格納された情報などの既知の情報(ステップ24
02)に基づいて、本人の同一性を判断する(ステップ
2403)。
In the personal identification method of this embodiment, the analyzing apparatus 2102 shown in FIG. 21 uses the information obtained from the optical apparatus 2101 (step 2401) and known information such as information stored in a database or a card (step 24
02) to determine the identity of the person (step 2403).

【0302】これらステップ2401からステップ24
03までの動作は、前述の図23に示されるフローチャ
ートのステップ2301からステップ2303までの動
作に対応する。
These steps 2401 to 24
The operation up to 03 corresponds to the operation from step 2301 to step 2303 of the flowchart shown in FIG.

【0303】そして、分析装置により同一性が判断され
た後、その判断結果に基づいて、分析装置は、入室許可
やカードの使用許可をしたり(ステップ2404)、入
室の不許可やカードの使用の不許可を行う(ステップ2
405)。
After the analyzer determines the identity, the analyzer permits the entry or the use of the card based on the determination result (step 2404), or the entry is not permitted or the card is not used. Is not permitted (Step 2
405).

【0304】したがって、本発明に係る本人照合方法の
一実施形態を、遺伝子情報を用いたセキュリティシステ
ムに適用した場合は以下のような動作となる。
Therefore, when an embodiment of the personal identification method according to the present invention is applied to a security system using genetic information, the following operation is performed.

【0305】(1)部屋の入り口等に上記実施形態の分
析システムを設置しておき、本発明に係る分析システム
の実施形態は、入室しようとする人物の遺伝子情報を読
み取る。
(1) The analysis system of the above embodiment is installed at the entrance of a room or the like, and the embodiment of the analysis system according to the present invention reads the genetic information of the person who is about to enter the room.

【0306】(2)あらかじめ、入室を許可する人物の
遺伝子情報をシステムにデータベースとして保存してお
き、本発明に係る分析システムの一実施形態は、入室し
ようとする人物が許可されているかどうかをこのデータ
ベースに格納された情報に基づいて比較判断する。
(2) Gene information of a person who is allowed to enter the room is stored in advance as a database in the system, and one embodiment of the analysis system according to the present invention is to determine whether the person who wants to enter the room is permitted. A comparison judgment is made based on the information stored in this database.

【0307】(3)本発明に係る分析システムの一実施
形態は、入室許可の人物であれば扉を開錠し、入室を許
可していない人物の場合は開錠しない。
(3) In one embodiment of the analysis system according to the present invention, the door is unlocked by a person who is permitted to enter the room, and is not unlocked by a person who is not permitted to enter the room.

【0308】また、本発明に係る本人照合方法の一実施
形態を、遺伝子情報を用いたカード使用の許可方法に適
用した場合は以下のような動作となる。
When an embodiment of the personal identification method according to the present invention is applied to a card use permission method using genetic information, the following operation is performed.

【0309】(1)クレジットカード等に正規利用者の
遺伝子情報を記録しておく。
(1) Record genetic information of a regular user in a credit card or the like.

【0310】(2)本発明に係る分析システムの一実施
形態は、クレジットカードを使用する際に、利用者の遺
伝子情報を分析する。
(2) One embodiment of the analysis system according to the present invention analyzes a user's genetic information when using a credit card.

【0311】(3)本発明に係る分析システムの一実施
形態は、カードの保存情報と解析結果を照合して、正規
の利用者かどうかを判定する。
(3) In one embodiment of the analysis system according to the present invention, the stored information on the card is compared with the analysis result to determine whether the user is an authorized user.

【0312】(4)本発明に係る分析システムの一実施
形態は、正規利用者の場合はカードの使用を許可し、正
規利用者でない場合はカードの使用を認めない。
(4) One embodiment of the analysis system according to the present invention permits the use of the card when the user is a regular user, and does not allow the use of the card when the user is not a regular user.

【0313】以上のような本発明に係る本人照合方法の
一実施形態により、指紋照合、顔認識などに比べて、よ
り確度の高い本人照合方法とすることができる。
By the embodiment of the personal identification method according to the present invention as described above, the personal identification method with higher accuracy can be obtained as compared with the fingerprint identification, face recognition and the like.

【0314】(アレルギー・副作用検査方法)次に、本
発明に係る分析システムの一実施形態を用いたアレルギ
ー・副作用検査方法について図25を参照して説明す
る。この本発明に係る分析システムの一実施形態を用い
たアレルギー・副作用検査方法は、本発明に係るアレル
ギー・副作用検査方法の一実施形態となる。よって、図
25は、本発明に係るアレルギー・副作用検査方法の一
実施形態のフローチャートである。
(Allergy / side effect test method) Next, an allergy / side effect test method using an embodiment of the analysis system according to the present invention will be described with reference to FIG. An allergy / side effect inspection method using this embodiment of the analysis system according to the present invention is an embodiment of the allergy / side effect inspection method according to the present invention. Therefore, FIG. 25 is a flowchart of one embodiment of the allergy / side effect inspection method according to the present invention.

【0315】本実施形態のアレルギー・副作用検査方法
では、図21に示される分析装置が、光学装置から得ら
れる情報(ステップ2501)と、データベースに格納
された、アレルギー・副作用などを発生するグループ情
報(ステップ2502)とに基づいて、利用者の遺伝子
の属性を判断する(ステップ2503)。
In the allergy / side effect test method of this embodiment, the analyzer shown in FIG. 21 uses the information obtained from the optical device (step 2501) and the group information stored in the database for generating allergies / side effects. The attribute of the gene of the user is determined based on (step 2502) (step 2503).

【0316】これらステップ2501からステップ25
03までの動作は、前述の図23に示されるフローチャ
ートのステップ2301からステップ2303までの動
作に対応する。
These steps 2501 to 25
The operation up to 03 corresponds to the operation from step 2301 to step 2303 of the flowchart shown in FIG.

【0317】そして、分析装置により属性が判断された
後、その判断結果に基づいて分析装置は、食品、薬の使
用を停止を指示したり(ステップ2504)、食品、薬
の使用の許可を行う(ステップ2505)。
After the attribute is judged by the analyzer, the analyzer gives an instruction to stop the use of food or medicine based on the judgment result (step 2504) or permits the use of food or medicine. (Step 2505).

【0318】このように、本発明に係る分析システムの
一実施形態を用いた、本実施形態のアレルギー・副作用
検査方法では例えば遺伝子情報を用いて判断する場合、
以下のような動作となる。
As described above, in the allergy / side effect test method of this embodiment using one embodiment of the analysis system of the present invention, for example, in the case of making a judgment using genetic information,
The operation is as follows.

【0319】(1)開示された食品、薬を提供する際に
アレルギー、副作用を発生するグループの遺伝子情報を
データベースに格納する。
(1) The gene information of the group that causes allergies and side effects when providing the disclosed foods and medicines is stored in the database.

【0320】(2)本発明に係る分析システムの一実施
形態は、利用者がその食品や薬等を利用する前に利用者
自身の遺伝子情報を解析する。
(2) One embodiment of the analysis system according to the present invention analyzes the genetic information of the user before the user uses the food or medicine.

【0321】(3)本発明に係る分析システムの一実施
形態は、利用者の遺伝子が提供されたグループ情報に属
するか否かを判定する。この判定は、その食品、薬を利
用してもアレルギー、副作用が発生しないかどうかを判
定する。
(3) One embodiment of the analysis system according to the present invention determines whether or not the gene of the user belongs to the provided group information. In this determination, it is determined whether allergies or side effects do not occur even if the food or drug is used.

【0322】(4)本発明に係る分析システムの一実施
形態は、グループに属さない場合は食品、薬の使用を許
可し、属する場合はアレルギー等が発生する可能性があ
るので使用しないように指示する。
(4) One embodiment of the analysis system according to the present invention permits the use of foods and medicines when they do not belong to the group, and if they do belong, allergies and the like may occur, so do not use them. Give instructions.

【0323】したがって、本実施形態によるアレルギー
・副作用検査方法では、従来アレルギーや副作用は摂取
するまで分からない場合が多かったが、本システムを利
用することで、あらかじめその判断をすることができ、
危険性を回避することができる。
Therefore, in the allergy / side effect inspection method according to the present embodiment, it was often impossible to know allergies or side effects until ingestion, but by using this system, the judgment can be made in advance.
The danger can be avoided.

【0324】[0324]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、光の偏
光状態又は反射(屈折)状態を変調することにより光の
出射位置を制御して被測定体の測定を行っているため、
小型化、高速化及び低コスト化を図ることができる。
As described above, the present invention controls the emission position of light by modulating the polarization state or reflection (refraction) state of light to measure the object to be measured.
It is possible to reduce the size, increase the speed, and reduce the cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る光学装置の実施形態の概要を説明
するための概略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining an outline of an embodiment of an optical device according to the present invention.

【図2】本発明に係る光学装置の第1の実施形態の全体
概略図である。
FIG. 2 is an overall schematic diagram of a first embodiment of an optical device according to the present invention.

【図3】図2に示される部分Aの拡大断面図である。FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view of a portion A shown in FIG.

【図4】図2に示される部分Bの拡大断面図である。4 is an enlarged cross-sectional view of a portion B shown in FIG.

【図5】図2に示される光学装置において、変調部によ
り選択される光の出射位置と、被測定体載置部上の被測
定体の位置との関係の概略図である。
5 is a schematic diagram of the relationship between the emission position of the light selected by the modulator and the position of the measured object on the measured object mounting section in the optical device shown in FIG.

【図6】本発明に係る光学装置の第2の実施形態の全体
概略図である。
FIG. 6 is an overall schematic diagram of a second embodiment of an optical device according to the present invention.

【図7】図6に示される部分Cの拡大断面図である。7 is an enlarged cross-sectional view of a portion C shown in FIG.

【図8】本発明に係る光学装置の第2の実施形態の液晶
層に利用される液晶分子の複屈折率構造の概略図であ
る。
FIG. 8 is a schematic view of a birefringence structure of liquid crystal molecules used in a liquid crystal layer of a second embodiment of an optical device according to the present invention.

【図9】図6に示される部分Dの拡大断面図である。9 is an enlarged cross-sectional view of a portion D shown in FIG.

【図10】本発明に係る光学装置の第2の実施形態に用
いられる反射膜を備える反射板の凹凸形状の2P法によ
る製造方法の工程図である。
FIG. 10 is a process drawing of the method of manufacturing the uneven shape of the reflection plate including the reflection film used in the second embodiment of the optical device according to the present invention by the 2P method.

【図11】本発明に係る光学装置の第2の実施形態に用
いられる反射膜を備える反射板の凹凸形状の2P法によ
る製造方法の工程図である。
FIG. 11 is a process drawing of the manufacturing method of the uneven shape of the reflection plate including the reflection film used in the second embodiment of the optical device according to the present invention by the 2P method.

【図12】本発明に係る光学装置の第2の実施形態に用
いられる反射膜を備える反射板の凹凸形状のエンボス法
による製造方法の工程図である。
FIG. 12 is a process drawing of a method for manufacturing an uneven shape of a reflection plate including a reflection film used in the second embodiment of the optical device according to the present invention by an embossing method.

【図13】本発明に係る光学装置の第3の実施形態の全
体概略図である。
FIG. 13 is an overall schematic diagram of a third embodiment of an optical device according to the present invention.

【図14】本発明に係る光学装置の第4の実施形態の全
体概略図である。
FIG. 14 is an overall schematic view of a fourth embodiment of the optical device according to the present invention.

【図15】本発明に係る光学装置の第5の実施形態の全
体概略図である。
FIG. 15 is an overall schematic view of a fifth embodiment of an optical device according to the present invention.

【図16】(a)が従来の光学装置の一部断面図及び
(b)が本発明に係る光学装置の第6の実施形態の一部
断面図である。
16A is a partial cross-sectional view of a conventional optical device, and FIG. 16B is a partial cross-sectional view of a sixth embodiment of the optical device according to the present invention.

【図17】本発明に係る光学装置の第7の実施形態の一
部断面図である。
FIG. 17 is a partial cross-sectional view of a seventh embodiment of the optical device according to the present invention.

【図18】第6の実施形態及び第7の実施形態において
用いられるレンズ部の構造の一部拡大図である。
FIG. 18 is a partially enlarged view of the structure of a lens unit used in the sixth embodiment and the seventh embodiment.

【図19】本発明に係る光学装置の第8の実施形態の全
体概略図である。
FIG. 19 is an overall schematic view of an eighth embodiment of an optical device according to the present invention.

【図20】本発明に係る光学装置の第9の実施形態の概
略構成図である。
FIG. 20 is a schematic configuration diagram of a ninth embodiment of an optical device according to the present invention.

【図21】本発明に係る分析システムの一実施形態の全
体構成図である。
FIG. 21 is an overall configuration diagram of an embodiment of an analysis system according to the present invention.

【図22】図21に示される分析装置の内部ブロック図
である。
22 is an internal block diagram of the analyzer shown in FIG. 21. FIG.

【図23】図21に示される分析システムの一実施形態
の動作のフローチャートである。
FIG. 23 is a flowchart of the operation of the embodiment of the analysis system shown in FIG. 21.

【図24】本発明に係る本人照合方法の一実施形態のフ
ローチャートである。
FIG. 24 is a flowchart of an embodiment of the personal identification method according to the present invention.

【図25】本発明に係るアレルギー・副作用検査方法の
一実施形態のフローチャートである。
FIG. 25 is a flowchart of one embodiment of the allergy / side effect test method according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 入射部 102 変調部 103 導光部 104 被測定体載置部 105 受光部 201a 光源(光源手段) 201b 偏光変換素子(偏光変換手段) 201c 導光部(第1の導光手段) 201c−1 角度付与部 201d 変調部(第1の変調手段) 202 変調部(第2の変調手段) 203 導光部(第2の導光手段) 203−1 角度付与部 204 被測定体載置部(被測定体載置手段) 205 導光部(受光手段、第3の導光手段) 206 光検出器(受光手段、光検出手段) 301 反射板(第1の反射手段) 302 液晶層(第1の液晶層) 303 導光部 304 ブラッググレーティングパターン(第1の透過
反射制御手段) 305 液晶セル 401 反射板(第2の反射手段) 402 液晶層(第2の液晶層) 403 導光部 404 ブラッググレーティングパターン(第2の透過
反射制御手段) 405 液晶セル 406 被測定体載置部 407 被測定体 501 変調部 501a 液晶セル 502 変調部 502a 液晶セル 503 被測定セル 504 被測定体 505 被測定体載置板部 601a 光源(光源手段) 601b 変調部(第1の変調手段) 601c 導光部(第1の導光手段) 601c−1 角度付与部 602 変調部(第2の変調手段) 603 導光部(第2の導光手段) 603−1 角度付与部 604 被測定体載置部(被測定体載置手段) 605 導光部(受光手段、第3の導光手段) 606 光検出器(受光手段、光検出手段) 701 反射膜(第1の反射手段) 702 液晶層(第1の液晶層) 703 導光部 705 液晶セル 901 反射膜(第2の反射手段) 902 液晶層(第2の液晶層) 903 導光部 904 被測定体載置部 905 液晶セル 906 被測定体 1001 基板 1002 レジスト 1003 原盤 1004 スタンパ 1004a 反転パターン 1005 紫外線硬化樹脂 1005a パターン 1006 反射膜 1008 反射板 1009 樹脂 1009a パターン 1301−1,1301−2,1301−n 発光素子
(光源手段) 1301b 偏光変換素子(偏光変換手段) 1302 変調部(第2の変調手段) 1303 導光部(第2の導光手段) 1303−1 角度付与部 1304 被測定体載置部(被測定体載置手段) 1305 導光部(受光手段、第3の導光手段) 1306 光検出器(受光手段、光検出手段) 1401−1,1401−2,1401−n 発光素子
(光源手段) 1402 変調部(第2の変調手段) 1403 導光部(第2の導光手段) 1403−1 角度付与部 1404 被測定体載置部(被測定体載置手段) 1405 導光部(受光手段、第3の導光手段) 1406 光検出器(受光手段、光検出手段) 1505 CCD 1601 被測定体載置部 1602 被測定体 1605 参照光 1606 参照光のロス 1606 信号光 1607 信号光のロス 1608 マイクロレンズアレイ(第1の集光手段) 1609 マイクロレンズアレイ(第2の集光手段) 1701 被測定体載置部 1702 被測定体 1703 レンズ部(第3の集光手段) 1704 覆う部分(カバー部) 1901 入射部 1902 変調部 1903 導光部 1904 被測定体載置部 1905 アライメントマーク(第1の位置決め手段) 1906 スペーサ(第2の位置決め手段) 2002 変調部 2003 導光部 2004 被測定体載置部 2010,2011 樹脂(固定手段) 2101 光学装置 2102 分析装置 2103 情報データベース(格納手段) 2201 制御部 2202 送受信部 2203 比較判定部 2204 記憶部 2205 バス
101 incident part 102 modulation part 103 light guide part 104 to-be-measured body mounting part 105 light receiving part 201a light source (light source means) 201b polarization conversion element (polarization conversion means) 201c light guide part (first light guide means) 201c-1 Angle imparting unit 201d Modulating unit (first modulating unit) 202 Modulating unit (second modulating unit) 203 Light guiding unit (second light guiding unit) 203-1 Angle imparting unit 204 Measured object placement unit (measured object) Measuring object mounting means) 205 Light guide part (light receiving means, third light guiding means) 206 Photodetector (light receiving means, light detecting means) 301 Reflecting plate (first reflecting means) 302 Liquid crystal layer (first Liquid crystal layer) 303 Light guide portion 304 Bragg grating pattern (first transmission / reflection control means) 305 Liquid crystal cell 401 Reflector plate (second reflection means) 402 Liquid crystal layer (second liquid crystal layer) 403 Light guide portion 404 Black Grating pattern (second transmission / reflection control means) 405 Liquid crystal cell 406 Measured object placement part 407 Measured object 501 Modulation part 501a Liquid crystal cell 502 Modulation part 502a Liquid crystal cell 503 Measured cell 504 Measured object 505 Measured object mount Mounting plate part 601a Light source (light source means) 601b Modulation part (first modulation means) 601c Light guide part (first light guide means) 601c-1 Angle imparting part 602 Modulation part (second modulation means) 603 Light guide Part (second light guide means) 603-1 Angle imparting part 604 Measured object placing part (measured object placing means) 605 Light guiding part (light receiving means, third light guiding means) 606 Photodetector ( (Light receiving means, light detecting means) 701 reflection film (first reflection means) 702 liquid crystal layer (first liquid crystal layer) 703 light guide 705 liquid crystal cell 901 reflection film (second reflection means) 902 liquid crystal layer ( Second liquid crystal layer) 903 Light guide part 904 Measured object mounting part 905 Liquid crystal cell 906 Measured object 1001 Substrate 1002 Resist 1003 Master 1004 Stamper 1004a Inversion pattern 1005 UV curable resin 1005a Pattern 1006 Reflective film 1008 Reflective plate 1009 Resin 1009a Patterns 1301-1, 1301-2, 1301-n Light emitting element (light source means) 1301b Polarization conversion element (polarization conversion means) 1302 Modulation section (second modulation means) 1303 Light guide section (second light guide means) 1303 -1 Angle imparting section 1304 Measured object placing section (measured object placing means) 1305 Light guide section (light receiving means, third light guiding means) 1306 Photodetector (light receiving means, light detecting means) 1401-1 , 1401-2, 1401-n light emitting element (light source means) 1402 modulator (second modulation) Means) 1403 Light guide unit (second light guide unit) 1403-1 Angle imparting unit 1404 Measured object placement unit (measured object placement unit) 1405 Light guide unit (light receiving unit, third light guide unit) 1406 Photodetector (light receiving means, photodetecting means) 1505 CCD 1601 Object to be measured placing section 1602 Object to be measured 1605 Reference light 1606 Reference light loss 1606 Signal light 1607 Loss of signal light 1608 Microlens array (first collection Light means) 1609 Microlens array (second light collecting means) 1701 Measured object placing part 1702 Measured object 1703 Lens part (third light collecting means) 1704 Covering part (cover part) 1901 Incident part 1902 Modulating part 1903 Light guide part 1904 Measured object mounting part 1905 Alignment mark (first positioning means) 1906 Spacer (second positioning hand) ) 2002 modulation unit 2003 light guide unit 2004 measured object placement unit 2010, 2011 resin (fixing unit) 2101 optical device 2102 analysis device 2103 information database (storage unit) 2201 control unit 2202 transmission / reception unit 2203 comparison determination unit 2204 storage unit 2205 bus

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // G01N 33/483 G01N 33/53 M 4C038 33/53 37/00 102 37/00 102 A61B 5/10 320Z (72)発明者 松下 智彦 京都府京都市下京区塩小路通堀川東入南不 動堂町801番地 オムロン株式会社内 Fターム(参考) 2G043 AA03 BA16 DA06 EA01 FA01 GA06 GA07 GB01 GB18 GB21 HA01 HA05 HA07 JA04 KA09 LA01 LA03 2G045 AA35 DA13 FA11 FB02 GC15 JA07 2G059 AA05 AA06 BB12 DD13 EE01 EE02 EE07 GG01 GG02 GG03 GG04 GG06 JJ05 JJ11 JJ12 JJ13 JJ18 KK01 KK04 MM05 MM10 4B029 AA07 FA12 GA08 4B063 QA19 QQ42 QR55 QS34 QX01 4C038 VA07 VB40 VC01 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) // G01N 33/483 G01N 33/53 M 4C038 33/53 37/00 102 37/00 102 A61B 5/10 320Z (72) Tomohiko Matsushita Tomohiko Matsushita, No. 801, Fudogawa-cho, Horikawa Higashiiriminami Fudodo-cho, Shiojiji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto Omron Co., Ltd. F-term (reference) 2G043 AA03 BA16 DA06 EA01 FA01 GA06 GA07 GB01 GB18 GB21 HA01 HA05 HA07 JA04 KA09 LA01 LA03 2G045 AA35 DA13 FA11 FB02 GC15 JA07 2G059 AA05 AA06 BB12 DD13 EE01 EE02 EE07 GG01 GG02 GG03 GG04 GG06 JJ05 JJ11 JJ12 JJ13 JJ18 JJ18 QC01 QC01 QC01 KK04 QC05 BBQ29 QAQQA QAQQA QAQA

Claims (31)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光を発する光源手段と、 前記光源手段からの光の偏光状態を変換する偏光変換手
段と、 前記偏光変換手段から出射された光を第1の方向に導光
する第1の導光手段と、 前記第1の導光手段を導光している光の偏光状態を、前
記第1の方向の所定の位置において変調させる第1の変
調手段と、 前記第1の導光手段の表面に形成された、光の偏光状態
に応じて光の透過及び反射を制御する第1の透過反射制
御手段と、 前記第1の反射透過制御手段を透過した光を第2の方向
に導光する第2の導光手段と、 前記第2の導光手段を導光している光の偏光状態を、前
記第2の方向の所定の位置において変調させる第2の変
調手段と、 前記第2の導光手段の表面に形成された、光の偏光状態
に応じて光の透過及び反射を制御する第2の透過反射制
御手段と、 前記第2の反射透過制御手段を透過した光が照射される
被測定体を載置する被測定体載置手段と、 前記被測定体から発せられた光を受光する受光手段とを
備えることを特徴とする光学装置。
1. A light source unit that emits light, a polarization conversion unit that converts the polarization state of the light from the light source unit, and a first light guide unit that guides the light emitted from the polarization conversion unit in a first direction. A light guide means, a first modulator means for modulating a polarization state of light guided through the first light guide means at a predetermined position in the first direction, and the first light guide means A first transmission / reflection control unit formed on the surface of the control unit for controlling transmission and reflection of light according to a polarization state of the light; and guiding light transmitted through the first reflection / transmission control unit in a second direction. Second light guide means for emitting light; second modulator means for modulating the polarization state of the light guided through the second light guide means at a predetermined position in the second direction; A second light guide formed on the surface of the second light guide means for controlling transmission and reflection of light according to the polarization state of light. Hyper-reflection control means, measurement object mounting means for mounting a measurement object irradiated with light transmitted through the second reflection / transmission control means, and light reception for receiving light emitted from the measurement object An optical device comprising:
【請求項2】 前記第1の変調手段が、 前記第1の方向に複数配置された液晶セルからなる第1
の液晶層と、 前記第1の液晶層の面であって、前記第1の導光手段が
形成されている側の面とは逆側の面に形成された第1の
反射手段とを備え、 前記第1の方向の所定の位置における液晶セルに対する
電圧の印加によって、前記光の偏光状態を前記第1の方
向の所定の位置において変調させることを特徴とする請
求項1に記載の光学装置。
2. The first modulation means comprises a plurality of liquid crystal cells arranged in the first direction.
And a first reflection means formed on the surface of the first liquid crystal layer, the surface being opposite to the surface on which the first light guide means is formed. 2. The optical device according to claim 1, wherein the polarization state of the light is modulated at a predetermined position in the first direction by applying a voltage to the liquid crystal cell at the predetermined position in the first direction. .
【請求項3】 前記第2の変調手段が、 前記第2の方向に複数配置された液晶セルからなる第2
の液晶層と、 前記第2の液晶層の面であって、前記第2の導光手段が
形成されている側の面とは逆側の面に形成された第2の
反射手段とを備え、 前記第2の方向の所定の位置における液晶セルに対する
電圧の印加によって、前記光の偏光状態を前記第2の方
向の所定の位置において変調させることを特徴とする請
求項1又は2に記載の光学装置。
3. The second modulation means comprises a plurality of liquid crystal cells arranged in the second direction.
Liquid crystal layer and a second reflecting means formed on the surface of the second liquid crystal layer opposite to the surface on which the second light guide means is formed. 3. The polarization state of the light is modulated at a predetermined position in the second direction by applying a voltage to the liquid crystal cell at the predetermined position in the second direction. Optical device.
【請求項4】 前記第1の変調手段を構成する第1の液
晶層の液晶、又は、前記第2の変調手段を構成する第2
の液晶層の液晶の少なくとも一方は、 第1の配向膜と第2の配向膜とに挟まれ、第1の配向膜
と第2の配向膜との捩れ角が45°であることを特徴と
する請求項3に記載の光学装置。
4. A liquid crystal of a first liquid crystal layer which constitutes the first modulating means, or a second liquid crystal which constitutes the second modulating means.
At least one of the liquid crystals of the liquid crystal layer is sandwiched between the first alignment film and the second alignment film, and the twist angle between the first alignment film and the second alignment film is 45 °. The optical device according to claim 3.
【請求項5】 光を発する光源手段と、 前記光源手段から出射された光を第1の方向に導光する
第1の導光手段と、 前記第1の方向の所定の位置において屈折率を変調させ
ることにより、前記第1の導光手段を導光している光を
入射させる第1の変調手段と、 前記第1の変調手段の面であって、前記第1の導光手段
の形成される側とは逆側の面に形成された、前記第1の
変調手段に入射した光を前記第1の導光手段側に反射す
る第1の反射手段と、 前記第1の導光手段から出射された光を第2の方向に導
光する第2の導光手段と、 前記第2の方向の所定の位置において屈折率を変調させ
ることにより、前記第2の導光手段を導光している光を
入射させる第2の変調手段と、 前記第2の変調手段の面であって、前記第2の導光手段
の形成される側とは逆側の面に形成された、前記第2の
変調手段に入射した光を前記第2の導光手段側に反射す
る第2の反射手段と、 前記第2の導光手段を出射した光が照射される被測定体
を載置する被測定体載置手段と、 前記被測定体から発せられた光を受光する受光手段とを
備えることを特徴とする光学装置。
5. A light source unit that emits light, a first light guide unit that guides the light emitted from the light source unit in a first direction, and a refractive index at a predetermined position in the first direction. First modulation means for allowing the light guided through the first light guide means to enter by being modulated, and the surface of the first modulation means, which is the formation of the first light guide means. And a first light guide means formed on a surface opposite to a side where the light is incident, the first light guide means reflecting the light entering the first modulator to the first light guide means. Second light guiding means for guiding the light emitted from the second direction in the second direction, and guiding the second light guiding means by modulating the refractive index at a predetermined position in the second direction. Second modulating means for allowing incident light to enter, and a surface of the second modulating means, wherein the second light guiding means is formed. A second reflecting means for reflecting the light incident on the second modulating means to the second light guiding means side, the second reflecting means being formed on a surface opposite to the second light guiding means. An optical device comprising: an object-to-be-measured mounting means for mounting an object-to-be-measured on which the emitted light is irradiated; and a light-receiving means for receiving light emitted from the object-to-be-measured.
【請求項6】 前記第1の変調手段が、 前記第1の方向に複数配置された液晶セルからなる第1
の液晶層を備え、 前記第1の方向の所定の位置における液晶セルに対する
電圧の印加によって、該液晶セルの前記屈折率を前記第
1の方向の所定の位置において変調させることを特徴と
する請求項5に記載の光学装置。
6. The first modulation means comprises a plurality of liquid crystal cells arranged in the first direction.
The liquid crystal layer is provided, and the refractive index of the liquid crystal cell is modulated at a predetermined position in the first direction by applying a voltage to the liquid crystal cell at the predetermined position in the first direction. Item 5. The optical device according to item 5.
【請求項7】 前記第2の変調手段が、 前記第2の方向に複数配置された液晶セルからなる第2
の液晶層を備え、 前記第2の方向の所定の位置における液晶セルに対する
電圧の印加によって、該液晶セルの前記屈折率を前記第
2の方向の所定の位置において変調させることを特徴と
する請求項5又は6に記載の光学装置。
7. The second modulation means comprises a plurality of liquid crystal cells arranged in the second direction.
The liquid crystal layer is provided, and the refractive index of the liquid crystal cell is modulated at a predetermined position in the second direction by applying a voltage to the liquid crystal cell at the predetermined position in the second direction. Item 7. The optical device according to Item 5 or 6.
【請求項8】 光を発する光源手段と、 前記光源手段からの光の偏光状態を変換する偏光変換手
段と、 前記偏光変換手段から出射された光を第1の方向に導光
する第1の導光手段と、 前記第1の導光手段を導光している光の偏光状態を、前
記第1の方向の所定の位置において変調させる第1の変
調手段と、 前記第1の導光手段の表面に形成された、光の偏光状態
に応じて光の透過及び反射を制御する第1の透過反射制
御手段と、 前記第1の反射透過制御手段を透過した光を第2の方向
に導光する第2の導光手段と、 前記第2の方向の所定の位置において屈折率を変調させ
ることにより、前記第2の導光手段を導光している光を
入射させる第2の変調手段と、 前記第2の変調手段の面であって、前記第2の導光手段
の形成される側とは逆側の面に形成された、前記第2の
変調手段に入射した光を前記第2の導光手段側に反射す
る第2の反射手段と、 前記第2の導光手段を出射した光が照射される被測定体
を載置する被測定体載置手段と、 前記被測定体から発せられた光を受光する受光手段とを
備えることを特徴とする光学装置。
8. A light source unit that emits light, a polarization conversion unit that converts the polarization state of the light from the light source unit, and a first light guide unit that guides the light emitted from the polarization conversion unit in a first direction. A light guide means, a first modulator means for modulating a polarization state of light guided through the first light guide means at a predetermined position in the first direction, and the first light guide means A first transmission / reflection control unit formed on the surface of the control unit for controlling transmission and reflection of light according to a polarization state of the light; and guiding light transmitted through the first reflection / transmission control unit in a second direction. Second light guide means for illuminating light, and second modulator means for making light guided through the second light guide means incident by modulating the refractive index at a predetermined position in the second direction. And a surface of the second modulation means, which is opposite to the side on which the second light guide means is formed. Second reflecting means formed on a surface for reflecting the light incident on the second modulating means to the second light guiding means side, and light emitted from the second light guiding means are irradiated. An optical device comprising: a measured object placing means for placing an measured object; and a light receiving means for receiving light emitted from the measured object.
【請求項9】 光を発する光源手段と、 前記光源手段から出射された光を第1の方向に導光する
第1の導光手段と、 前記第1の方向の所定の位置において屈折率を変調させ
ることにより、前記第1の導光手段を導光している光を
入射させる第1の変調手段と、 前記第1の変調手段の面であって、前記第1の導光手段
の形成される側とは逆側の面に形成された、前記第1の
変調手段に入射した光を前記第1の導光手段側に反射す
る第1の反射手段と、 前記第1の導光手段から出射された光を第2の方向に導
光する第2の導光手段と、 前記光源手段から前記第2の導光手段に至る光の経路の
いずれかの位置に配置された光の偏光状態を変換する偏
光変換手段と、 前記第2の導光手段を導光している光の偏光状態を、前
記第2の方向の所定の位置において変調させる第2の変
調手段と、 前記第2の導光手段の表面に形成された、光の偏光状態
に応じて光の透過及び反射を制御する第2の透過反射制
御手段と、 前記第2の反射透過制御手段を透過した光が照射される
被測定体を載置する被測定体載置手段と、 前記被測定体から発せられた光を受光する受光手段とを
備えることを特徴とする光学装置。
9. A light source means for emitting light, a first light guide means for guiding the light emitted from the light source means in a first direction, and a refractive index at a predetermined position in the first direction. First modulation means for allowing the light guided through the first light guide means to enter by being modulated, and the surface of the first modulation means, which is the formation of the first light guide means. And a first light guide means formed on a surface opposite to a side where the light is incident, the first light guide means reflecting the light entering the first modulator to the first light guide means. Second light guide means for guiding the light emitted from the light source in the second direction, and polarization of the light arranged at any position of the light path from the light source means to the second light guide means. A polarization conversion means for converting the state, and a polarization state of light guided through the second light guide means at a predetermined position in the second direction. A second modulation means for modulating the light in the second light guide means, a second transmission / reflection control means formed on the surface of the second light guide means for controlling light transmission and reflection according to a polarization state of the light, 2. The object-to-be-measured mounting means for mounting the object-to-be-measured on which the light transmitted through the reflection / transmission control means 2 is irradiated, and the light-receiving means for receiving the light emitted from the object-to-be-measured. Optical device.
【請求項10】 被測定体載置手段の第1の方向におけ
る被測定体載置部分の数と同数の、前記第1の方向に配
置された光源手段と、 前記光源手段からの光の偏光状態を変換する偏光変換手
段と、 前記偏光変換手段からの光を第2の方向に導光する第2
の導光手段と、 前記第2の導光手段を導光している光の偏光状態を、前
記第2の方向の所定の位置において変調させる第2の変
調手段と、 前記第2の導光手段の表面に形成された、光の偏光状態
に応じて光の透過及び反射を制御する第2の透過反射制
御手段と、 前記第2の反射透過制御手段を透過した光が照射される
被測定体を載置する被測定体載置手段と、 前記被測定体から発せられた光を受光する受光手段とを
備えることを特徴とする光学装置。
10. Light source means arranged in the first direction, the number of which is the same as the number of the measured object mounting portions in the first direction of the measured object mounting means, and polarization of light from the light source means. A polarization conversion means for converting the state, and a second light guide for guiding the light from the polarization conversion means in a second direction.
The second light guiding means, the second light guiding means for modulating the polarization state of the light guided through the second light guiding means at a predetermined position in the second direction, and the second light guiding means. Second transmission / reflection control means formed on the surface of the means for controlling the transmission and reflection of the light according to the polarization state of the light, and the light under measurement irradiated with the light transmitted through the second reflection / transmission control means. An optical device comprising: a measured object placing means for placing a body; and a light receiving means for receiving light emitted from the measured object.
【請求項11】 前記第2の変調手段が、 前記第2の方向に複数配置された液晶セルからなる第2
の液晶層と、 前記第2の液晶層の面であって、前記第2の導光手段が
形成されている側の面とは逆側の面に形成された第2の
反射手段とを備え、 前記第2の方向の所定の位置における液晶セルに対する
電圧の印加によって、前記光の偏光状態を前記第2の方
向の所定の位置において変調させることを特徴とする請
求項10に記載の光学装置。
11. The second modulation means comprises a plurality of liquid crystal cells arranged in the second direction.
Liquid crystal layer and a second reflecting means formed on the surface of the second liquid crystal layer opposite to the surface on which the second light guide means is formed. 11. The optical device according to claim 10, wherein the polarization state of the light is modulated at a predetermined position in the second direction by applying a voltage to the liquid crystal cell at the predetermined position in the second direction. .
【請求項12】 前記第2の変調手段を構成する第2の
液晶層の液晶は、 第1の配向膜と第2の配向膜とに挟まれ、第1の配向膜
と第2の配向膜との捩れ角が45°であることを特徴と
する請求項11に記載の光学装置。
12. The liquid crystal of the second liquid crystal layer which constitutes the second modulation means is sandwiched between a first alignment film and a second alignment film, and the first alignment film and the second alignment film. The optical device according to claim 11, wherein a twist angle with respect to is 45 °.
【請求項13】 被測定体載置手段の第1の方向におけ
る被測定体載置部分の数と同数の、前記第1の方向に配
置された光源手段と、 前記光源手段から出射された光を第2の方向に導光する
第2の導光手段と、 前記第2の方向の所定の位置において屈折率を変調させ
ることにより、前記第2の導光手段を導光している光を
入射させる第2の変調手段と、 前記第2の変調手段の面であって、前記第2の導光手段
の形成される側とは逆側の面に形成された、入射した光
を前記第2の導光手段側に反射する第2の反射手段と、 前記第2の導光手段を出射した光が照射される被測定体
を載置する被測定体載置手段と、 前記被測定体から発せられた光を受光する受光手段とを
備えることを特徴とする光学装置。
13. Light source means arranged in the first direction, the light source means being arranged in the first direction by the same number as the number of parts to be measured placed in the first direction of the means to be measured means, and the light emitted from the light source means. And a second light guide means for guiding the light in a second direction, and a light guided through the second light guide means by modulating a refractive index at a predetermined position in the second direction. The second modulating means for making incident light, and the incident light formed on the surface of the second modulating means opposite to the side on which the second light guiding means is formed, Second reflection means for reflecting the light to the light guide means side of the second object; object-to-be-measured means for mounting the object to be measured irradiated with the light emitted from the second light guide means; and the object to be measured. An optical device comprising: a light receiving unit that receives the light emitted from the optical device.
【請求項14】 前記第2の変調手段が、 前記第2の方向に複数配置された液晶セルからなる第2
の液晶層を備え、 前記第2の方向の所定の位置における液晶セルに対する
電圧の印加によって、該液晶セルの前記屈折率を前記第
2の方向の所定の位置において変調させることを特徴と
する請求項13に記載の光学装置。
14. The second modulation means comprises a plurality of liquid crystal cells arranged in the second direction.
The liquid crystal layer is provided, and the refractive index of the liquid crystal cell is modulated at a predetermined position in the second direction by applying a voltage to the liquid crystal cell at the predetermined position in the second direction. Item 14. The optical device according to item 13.
【請求項15】 前記受光手段が、 前記被測定体から発せられた光を導光する第3の導光手
段と、 該第3の導光手段を導光した光を検出する光検出手段と
を備えることを特徴とする請求項1から14のいずれか
1項に記載の光学装置。
15. The light receiving means comprises: a third light guiding means for guiding the light emitted from the object to be measured; and a light detecting means for detecting the light guided by the third light guiding means. The optical device according to any one of claims 1 to 14, further comprising:
【請求項16】 前記受光手段が、 前記被測定体載置手段上の複数の被測定体から発せられ
た光を独立に測定することのできる複数のCCD(char
ge-coupled device)により構成されていることを特徴
とする請求項1から14のいずれか1項に記載の光学装
置。
16. The plurality of CCDs (char) capable of independently measuring the light emitted from the plurality of measured objects on the measured object placing means by the light receiving means.
15. The optical device according to claim 1, which is configured by a ge-coupled device.
【請求項17】 前記被測定体載置手段の下部に、 該被測定体載置手段上の被測定体に照射される光を集光
するための第1の集光手段を備えることを特徴とする請
求項1から16のいずれか1項に記載の光学装置。
17. The first condensing means for condensing light to be radiated to the object to be measured on the object to be measured placing means is provided below the object to be measured placing means. The optical device according to any one of claims 1 to 16.
【請求項18】 前記被測定体載置手段の上部に、 該被測定体載置手段上の被測定体から発せられた光を集
光するための第2の集光手段を備えることを特徴とする
請求項1から17のいずれか1項に記載の光学装置。
18. A second condensing means for condensing light emitted from the measured object on the measured object mounting means is provided above the measured object mounting means. The optical device according to any one of claims 1 to 17.
【請求項19】 前記被測定体載置手段における前記被
測定体が載置されている面とは逆側の面に、 前記被測定体に照射される光を集光するための第3の集
光手段が形成されていることを特徴とする請求項1から
18のいずれか1項に記載の光学装置。
19. A third surface for condensing the light radiated to the object to be measured, on a surface of the object to be measured placing means opposite to a surface on which the object to be measured is placed. The optical device according to any one of claims 1 to 18, wherein a condensing unit is formed.
【請求項20】 前記被測定体載置手段における前記被
測定体が載置されている面とは逆側の面を覆うカバー部
を備え、 該カバー部の材料の屈折率と前記第3の集光手段が形成
されている部分の材料の屈折率とが異なることを特徴と
する請求項19に記載の光学装置。
20. A cover part is provided for covering a surface of the measured object mounting means opposite to a surface on which the measured object is mounted, the refractive index of a material of the cover part and the third part. 20. The optical device according to claim 19, wherein the material of the portion where the light collecting means is formed has a different refractive index.
【請求項21】 前記被測定体載置手段と、 前記第2の導光手段及び前記第2の変調手段との少なく
とも一方とに、 該被測定体載置手段の面方向における位置決めのための
第1の位置決め手段を形成したことを特徴とする請求項
1から20のいずれか1項に記載の光学装置。
21. Positioning of the measured object placing means in the plane direction of the measured object placing means and at least one of the second light guide means and the second modulating means. The optical device according to any one of claims 1 to 20, wherein the first positioning means is formed.
【請求項22】 前記被測定体載置手段と前記第2の導
光手段との間に、 該被測定体載置手段の面に垂直な方向における位置決め
のための第2の位置決め手段を形成したことを特徴とす
る請求項1から21のいずれか1項に記載の光学装置。
22. Second positioning means for positioning in the direction perpendicular to the surface of the measured object placing means is formed between the measured object placing means and the second light guide means. The optical device according to any one of claims 1 to 21, characterized in that.
【請求項23】 前記第2の導光手段、前記第2の変調
手段及び前記被測定体載置手段とが、 それぞれの間に形成された固定手段により互いに固定さ
れていることを特徴とする請求項1から20のいずれか
1項に記載の光学装置。
23. The second light guiding means, the second modulating means, and the measured object placing means are fixed to each other by fixing means formed between them. The optical device according to any one of claims 1 to 20.
【請求項24】 前記第2の導光手段と前記第2の変調
手段との間に形成された固定手段及び前記第2の導光手
段と前記被測定体載置手段との間に形成された固定手段
との少なくとも一方が、 熱を加えられることにより上下の各部品の固定を解除す
る材料により形成されていることを特徴とする請求項2
3に記載の光学装置。
24. A fixing means formed between the second light guiding means and the second modulating means, and a fixing means formed between the second light guiding means and the object mounting means. At least one of the fixing means is formed of a material that releases the fixation of the upper and lower parts when heat is applied.
The optical device according to item 3.
【請求項25】 前記被測定体載置手段がガラス基板で
あり、 前記被測定体がDNAプローブであることを特徴とする
請求項1から24のいずれか1項に記載の光学装置。
25. The optical device according to claim 1, wherein the measured object placing means is a glass substrate, and the measured object is a DNA probe.
【請求項26】 被測定体を載置した被測定体載置手段
として機能する、上記請求項1から25のいずれか1項
に記載の光学装置に使用されることを特徴とする被測定
体載置部品。
26. The object to be measured, which is used in the optical device according to any one of claims 1 to 25, which functions as an object-to-be-measured mounting means for mounting the object to be measured. Placed parts.
【請求項27】 光源手段からの光の偏光状態を変換す
る偏光変換手段と、 前記偏光変換手段から出射された光を所定の方向に導光
する導光手段と、 前記導光手段を導光している光の偏光状態を前記所定の
方向の所定の位置において変調させる変調手段と、 前記導光手段の表面に形成された、光の偏光状態に応じ
て光の透過及び反射を制御する透過反射制御手段とを備
え、 前記変調手段が、 前記所定の方向に複数配置された液晶セルからなる液晶
層と、 該液晶層の面であって、前記導光手段が形成されている
側の面とは逆側の面に形成された反射手段とを備え、 前記所定の位置における液晶セルに対する電圧の印加に
よって、前記光の偏光状態を前記所定の方向の所定の位
置において変調させることを特徴とする光出射位置制御
装置。
27. A polarization converting means for converting the polarization state of light from the light source means, a light guiding means for guiding the light emitted from the polarization converting means in a predetermined direction, and a light guiding means for guiding the light. Modulation means for modulating the polarization state of the light being emitted at a predetermined position in the predetermined direction, and transmission for controlling the transmission and reflection of the light formed on the surface of the light guide means according to the polarization state of the light. A reflection control means, wherein the modulation means includes a liquid crystal layer composed of a plurality of liquid crystal cells arranged in the predetermined direction, and a surface of the liquid crystal layer on a side on which the light guide means is formed. And a reflection means formed on a surface opposite to the surface, and the polarization state of the light is modulated at a predetermined position in the predetermined direction by applying a voltage to the liquid crystal cell at the predetermined position. A light emission position control device.
【請求項28】 光源手段から出射された光を所定の方
向に導光する導光手段と、 前記所定の方向の所定の位置において屈折率を変調させ
ることにより、前記導光手段を導光している光を入射さ
せる変調手段と、 前記変調手段の面であって、前記導光手段の形成される
側とは逆側の面に形成された、前記変調手段に入射した
光を前記導光手段側に反射する反射手段とを備え、 前記変調手段が、 前記所定の方向に複数配置された液晶セルからなる液晶
層を備え、 前記所定の方向の所定の位置における液晶セルに対する
電圧の印加によって、該液晶セルの前記屈折率を前記所
定の方向の所定の位置において変調させることを特徴と
する光出射位置制御装置。
28. Light guiding means for guiding light emitted from a light source means in a predetermined direction, and guiding the light guiding means by modulating a refractive index at a predetermined position in the predetermined direction. The light that enters the modulator, and the light that guides the light incident on the modulator formed on the surface of the modulator that is opposite to the side on which the light guide is formed. And a reflecting means for reflecting to the means side, wherein the modulating means comprises a liquid crystal layer composed of a plurality of liquid crystal cells arranged in the predetermined direction, by applying a voltage to the liquid crystal cell at a predetermined position in the predetermined direction. A light emission position control device, wherein the refractive index of the liquid crystal cell is modulated at a predetermined position in the predetermined direction.
【請求項29】 上記請求項1から請求項25のいずれ
か1項に記載の光学装置と、 該光学装置から出力された測定情報と比較するための比
較情報を格納した格納手段と、 前記光学装置から出力された測定情報と、前記格納手段
に格納されている比較情報とに基づいて被測定体の分析
を行う分析装置とを備えることを特徴とする分析システ
ム。
29. The optical device according to claim 1, storage means for storing comparison information for comparison with measurement information output from the optical device, and the optical device. An analysis system, comprising: an analysis device for analyzing an object to be measured based on measurement information output from the device and comparison information stored in the storage means.
【請求項30】 上記請求項29に記載の分析システム
を用いた本人照合方法であって、 前記光学装置がユーザの遺伝子情報を測定して測定情報
とし、 前記格納手段には本人を示す遺伝子情報が比較情報とし
て格納され、 前記分析装置は、前記光学装置により測定された遺伝子
情報と前記格納手段に格納されている本人を示す遺伝子
情報とに基づいて本人の照合を行うことを特徴とする本
人照合方法。
30. A personal identification method using the analysis system according to claim 29, wherein the optical device measures genetic information of a user to obtain measurement information, and the storage unit stores genetic information indicating an identity of the user. Is stored as comparison information, and the analysis device collates the person based on the gene information measured by the optical device and the gene information indicating the person stored in the storage means. Matching method.
【請求項31】 上記請求項29に記載の分析システム
を用いたアレルギー・副作用検査方法であって、 前記光学装置がユーザの遺伝子情報を測定して測定情報
とし、 前記格納手段にはアレルギー・副作用を発生するグルー
プ情報が比較情報として格納され、 前記分析装置は、前記光学装置により測定された遺伝子
情報と前記格納手段に格納されているアレルギー・副作
用を発生するグループ情報とに基づいてアレルギー・副
作用を検査することを特徴とするアレルギー・副作用検
査方法。
31. An allergy / side effect inspection method using the analysis system according to claim 29, wherein the optical device measures genetic information of a user to obtain measurement information, and the storage means stores allergy / side effects. Is stored as comparison information, the analysis device is based on the gene information measured by the optical device and the allergy / side effect-generating group information stored in the storage means. A method for testing allergies and side effects, which comprises testing
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