JP2003307689A - Optical scanner - Google Patents

Optical scanner

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JP2003307689A
JP2003307689A JP2002114252A JP2002114252A JP2003307689A JP 2003307689 A JP2003307689 A JP 2003307689A JP 2002114252 A JP2002114252 A JP 2002114252A JP 2002114252 A JP2002114252 A JP 2002114252A JP 2003307689 A JP2003307689 A JP 2003307689A
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JP
Japan
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laser
semiconductor lasers
pitch
scanning device
optical scanning
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2002114252A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yuichi Seki
雄一 関
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a pitch interval control method in synthesizing the beams of a plurality of semiconductor lasers. <P>SOLUTION: The optical scanner is constituted of a plurality of semiconductor lasers, a plurality of collimating lenses, a laser synthesizing unit consisting of a prism and a laser driving device, a cylindrical lens, a polygon motor, an f-θ lens, a reflection mirror for a light receiving sensor, the light receiving sensor, and a beam pitch interval control circuit (including a beam position detection circuit and a laser rotating and driving circuit). <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、画像信号によって
変調された複数のレーザビームを感光体上に走査させ潜
像形成を行う光学走査装置に関し、複数の半導体レーザ
の副走査ピッチ間隔制御を行うための光学走査装置及び
その画像形成装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical scanning device for forming a latent image by scanning a plurality of laser beams modulated by image signals on a photoconductor, and performing sub-scanning pitch interval control of a plurality of semiconductor lasers. And an image forming apparatus therefor.

【0002】[0002]

【従来の技術】複数の半導体レーザのレーザビーム駆動
回路により発光するレーザビームを画像信号によって変
調し、レーザビームをスキャナモータによって感光ドラ
ム上にラスタスキャンすることにより潜像形成を行う光
学走査装置で、複数のレーザビームのピッチ間隔を検出
するセンサは感光ドラム近傍に配置される。
2. Description of the Related Art An optical scanning device for forming a latent image by modulating a laser beam emitted by a laser beam driving circuit of a plurality of semiconductor lasers with an image signal and raster-scanning the laser beam onto a photosensitive drum by a scanner motor. A sensor that detects the pitch intervals of the plurality of laser beams is arranged near the photosensitive drum.

【0003】一方、ピッチ間を検出する方法として受光
センサにて検出した出力信号の時間長を計測する方法あ
るいは電圧レベルのピークを検出する方法等がある。
On the other hand, as a method for detecting the pitch interval, there are a method of measuring the time length of the output signal detected by the light receiving sensor, a method of detecting the peak of the voltage level, and the like.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来例にあっては、受光センサと光学走査装置が別棟
成となるため、光学装置を交換する際には画像形成装着
が設置されている場所で調整することを余儀なくされ
る。また、ピッチ間検出方法においては精度向上のため
に時間長計測における計測クロック周波数あるいは、電
圧レベル検出回路の規模が増加する。
However, in the above-described conventional example, since the light receiving sensor and the optical scanning device are separately constructed, when the optical device is replaced, the place where the image forming mounting is installed. Will be forced to adjust in. Further, in the inter-pitch detection method, the measurement clock frequency in the time length measurement or the scale of the voltage level detection circuit increases in order to improve accuracy.

【0005】本発明は、上記の問題点を解消するために
なされたもので、本発明にかかる第1の目的は、受光セ
ンサを光学走査装置内に配置することにより光学走査装
置で走査ピッチ間調整が完了し、光学走査装置交換の際
の調整を必要とせず、かつピッチ間検出回路を省力化に
て実現可能な光学走査装置を提供することである。
The present invention has been made to solve the above problems, and a first object of the present invention is to dispose a light receiving sensor in an optical scanning device so that the scanning pitch between the optical scanning device is increased. It is an object of the present invention to provide an optical scanning device which has been adjusted, does not require adjustment when exchanging the optical scanning device, and can realize an inter-pitch detection circuit with labor saving.

【0006】本発明にかかる第2の目的は、複数の半導
体レーザのピッチ間を計測することにより精度良くピッ
チ間検出を実現できる光学走査装置を提供することであ
る。
A second object of the present invention is to provide an optical scanning device capable of accurately detecting pitch intervals by measuring the pitch intervals of a plurality of semiconductor lasers.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】第1の発明は、かかる問
題点に鑑みなされたものであり、走査ビーム間隔検出を
省力化した構成にて実現するものである。この問題を解
決するため、本発明の光学走査装置は以下に示す横成を
備える。
The first invention has been made in view of the above problems, and realizes the scanning beam interval detection with a labor-saving structure. In order to solve this problem, the optical scanning device of the present invention is provided with the lateral structure shown below.

【0008】すなわち、複数の半導体レーザを有し、該
複数の半導体レーザを光源として像担持体上に潜像を生
成する光学走査装置であって、前記複数の半導体レーザ
の光軸に平行な回転軸を以って回転駆動するレーザ回転
駆動手段、前記複数の半導体レーザの走査位置を検出す
るビーム走査位置検出手段、該ビーム位置検出手段の結
果に応じて前記レーザ回転駆動手段を制御する走査位置
制御手段とを有し、前記光走査装置にあって、前記複数
の半導体レーザの発光点から像担持休までの距離と同じ
くし非画像領域に相当する位置に前記ビーム位置検出手
段を有し、前記ビーム走査位置検出手段は光電変換素子
で構成し、前記複数の半導体レーザの各ビームに対し少
なくとも2個以上具備し、光変換素子各々の間隔が主走
査方向と略直角に該半導体レーザのビームスポット径よ
り広くを開けて配置し、かつ前記複数の半導体レーザの
うち任意のレーザビームに対する光電変換素子間の間隔
の中心軸と他方のレーザビームに対する光電変換素子間
の間隔の中心軸とが副走査方向のピッチ間隔相当に配置
し、前記複数の半導体レーザを全点灯あるいは順次点灯
させ、前記ビーム位置検出手段によって該複数の半導体
レーザの全てのビームあるいは1ビーム毎に走査位置を
検出し、前記光電変換素子の出力が無くなるよう前記レ
ーザ回転駆動手段を以ってビームピッチ間を調整するこ
とを特徴とする。
That is, an optical scanning device having a plurality of semiconductor lasers and using the plurality of semiconductor lasers as a light source to generate a latent image on an image carrier, the optical scanning device rotating parallel to the optical axes of the plurality of semiconductor lasers. A laser rotation driving means for rotationally driving an axis, a beam scanning position detecting means for detecting scanning positions of the plurality of semiconductor lasers, and a scanning position for controlling the laser rotation driving means according to the result of the beam position detecting means. And a beam position detecting means at a position corresponding to a non-image area, which is the same as the distance from the light emitting points of the plurality of semiconductor lasers to the image bearing rest in the optical scanning device. The beam scanning position detecting means is composed of a photoelectric conversion element, and at least two or more are provided for each beam of the plurality of semiconductor lasers, and the intervals between the light conversion elements are substantially perpendicular to the main scanning direction. The semiconductor laser is arranged so as to be wider than the beam spot diameter of the semiconductor laser, and the center axis of the interval between the photoelectric conversion elements for an arbitrary laser beam among the plurality of semiconductor lasers and the center of the interval between the photoelectric conversion elements for the other laser beam. The axes are arranged at a pitch interval in the sub-scanning direction, the plurality of semiconductor lasers are all turned on or sequentially turned on, and the beam position detection means determines all beams of the plurality of semiconductor lasers or scanning positions for each beam. It is characterized in that the beam pitch is adjusted by the laser rotation driving means so that the output of the photoelectric conversion element is detected.

【0009】第2の発明は、かかる問題点に鑑みなされ
たものであり、走査ビーム間隔検出を精度の向上化を実
現するものである。この問題を解決するため、本発明の
レーザ駆動装置は以下に示す構成を備える。
A second aspect of the present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to improve the accuracy of scanning beam interval detection. In order to solve this problem, the laser driving device of the present invention has the following structure.

【0010】すなわち、前記複数の半導体レーザを全点
灯あるいは順次点灯させ、前記ビーム位置検出手段によ
って該複数の半導体レーザの全てのビームあるいは1ビ
ーム毎に走査位置を検出し、前記光電変換素子の出力が
されていない時の前記レーザ回転駆動手段の角度を計測
するレーザ回転角計測手段、該レーザ回転角計測手段の
結果を記憶する回転角記憶手段、該回転角記憶手段の結
果の中から予め設定した任意の角度を選択するビーム間
隔設定手段を有し、該ビーム間隔設定手段にて選択され
た値を持ってビームピッチ間を調整することを特徴とす
る。
That is, the plurality of semiconductor lasers are all turned on or sequentially turned on, and the beam position detecting means detects the scanning positions of all the beams or each beam of the plurality of semiconductor lasers, and outputs the photoelectric conversion elements. Laser rotation angle measuring means for measuring the angle of the laser rotation driving means when the rotation is not performed, rotation angle storing means for storing the result of the laser rotation angle measuring means, and preset from among the results of the rotation angle storing means It is characterized in that it has a beam interval setting means for selecting any of the above angles, and adjusts the beam pitches with the value selected by the beam interval setting means.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】(第1の実施形態)本発明の実施
形態を図面にて参照して以下に説明する。図1は実施形
態における光学走査装置の構成を示すブロック図であ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (First Embodiment) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the optical scanning device according to the embodiment.

【0012】本実施形態の光学走査ユニット1は、半導
体レーザa3及び半導体レーザb5を有している。
The optical scanning unit 1 of this embodiment has a semiconductor laser a3 and a semiconductor laser b5.

【0013】2はレーザ合成ユニットで、半導体レーザ
a3及び半導体レーザb5、コリメートレンズa7及び
コリメートレンズb8、プリズム9、不示図のユニット
回転駆動部から構成される。回転駆動部の回転軸は半導
体レーザa3と半導体レーザb5の光軸と平行かつ中心
部にある。
Reference numeral 2 denotes a laser synthesizing unit, which comprises a semiconductor laser a3 and a semiconductor laser b5, a collimating lens a7 and a collimating lens b8, a prism 9, and a unit rotation driving section (not shown). The rotation axis of the rotation drive unit is parallel to the optical axes of the semiconductor laser a3 and the semiconductor laser b5 and is at the center.

【0014】非画像領域において、半導体レーザa3か
ら出射したレーザビームa4はコリメートレンズa7、
プリズム9及びシリンドリカルレンズ10を入射しポリ
ゴンミラー11に到達する。ポリゴンミラー11は、不
示図のスキャナモータによって等角速度で回転してい
る。ポリゴンミラー11に到達したレーザビームa4は
ポリゴンミラー11によって偏光され、f−θレンズ1
2によって感光ドラム17の回転方向と直角方向に等速
走査となるように変換され、反射ミラーa13にて反射
し、受光センサ14に受光させる。画像領域ではレーザ
ビームc15はレーザビームa4同様にf−θレンズ1
2を出射した後、反射ミラーb16を経由して感光ドラ
ム17上を照射する。
In the non-image area, the laser beam a4 emitted from the semiconductor laser a3 has a collimating lens a7,
The light enters the prism 9 and the cylindrical lens 10 and reaches the polygon mirror 11. The polygon mirror 11 is rotated at a constant angular velocity by a scanner motor (not shown). The laser beam a4 reaching the polygon mirror 11 is polarized by the polygon mirror 11, and the f-θ lens 1
The light is converted by 2 to be scanned at a constant speed in the direction perpendicular to the rotation direction of the photosensitive drum 17, reflected by the reflection mirror a13, and received by the light receiving sensor 14. In the image area, the laser beam c15 is similar to the laser beam a4 in the f-θ lens 1.
After 2 is emitted, the photosensitive drum 17 is irradiated with light via the reflection mirror b16.

【0015】一方、半導体レーザb5から出射したレー
ザビームb6はコリメートレンズb8、プリズム9に入
射する。プリズム9において偏光されたレーザビームb
6はレーザビームa4に対し予め設定されたビーム間隔
に合成される。非画像領域においてはシリンドリカルレ
ンズ10を入射しポリゴンミラー11にて偏光され、f
−θレンズ12に入射し、反射ミラーa13によって受
光センサ14に受光させる。画像領域においては半導体
レーザa3と同様なので省略する。
On the other hand, the laser beam b6 emitted from the semiconductor laser b5 enters the collimator lens b8 and the prism 9. Laser beam b polarized in prism 9
6 is combined with the laser beam a4 at a preset beam interval. In the non-image area, the light enters the cylindrical lens 10 and is polarized by the polygon mirror 11, f
The light enters the −θ lens 12, and the reflection mirror a13 causes the light receiving sensor 14 to receive the light. The image region is similar to that of the semiconductor laser a3 and will not be described.

【0016】受光センサ14は、光学走査ユニット1内
にあり、半導体レーザa3に関し、レーザビームa4と
レーザビームc15の走査長と同じとなるような位置に
配置される。
The light receiving sensor 14 is located in the optical scanning unit 1 and is arranged at a position where the scanning lengths of the laser beam a4 and the laser beam c15 are the same with respect to the semiconductor laser a3.

【0017】図2は光学走査装置内にある受光センサの
センサ構成を示す構成図、及び図3はビームピッチ間制
御回路の動作を説明するフローチャートである。
FIG. 2 is a block diagram showing the sensor configuration of a light receiving sensor in the optical scanning device, and FIG. 3 is a flow chart for explaining the operation of the beam pitch control circuit.

【0018】図2において、21はビーム位置基準セン
サで、画像書き出し位置を決定する。22aは半導体レ
ーザa(以下LDlと略す)ピッチ間センサa、22b
はLDlピッチ間センサbで、互いにレーザビームの走
査方向に対し直角かつLDlのスポット径に対し垂直方
向の長さより広い間隔に配置されている。同じく23a
は半導体レーザb(以下LD2と略す)ピッチ間センサ
a、23bはLD2ピッチ間センサbで、互いにレーザ
ビームの走査方向に対し直角かつLD2のスポット径に
対し垂直方向の長さより広い間隔に配置されている。L
Dlピッチ間センサとLD2ピッチ間センサ間の距離は
問わない。
In FIG. 2, reference numeral 21 denotes a beam position reference sensor, which determines an image writing position. Reference numeral 22a denotes a semiconductor laser a (hereinafter abbreviated as LD1) pitch sensor a, 22b.
Is an LDl pitch sensor b, which are arranged at right angles to the scanning direction of the laser beam and at intervals wider than the length in the direction perpendicular to the spot diameter of LDl. Also 23a
Is a semiconductor laser b (hereinafter abbreviated as LD2) pitch sensor a, and 23b is an LD2 pitch sensor b, which are arranged at intervals perpendicular to the scanning direction of the laser beam and wider than the length in the direction perpendicular to the spot diameter of LD2. ing. L
The distance between the Dl pitch sensor and the LD2 pitch sensor does not matter.

【0019】次にビームピッチ間制御回路18の動作に
ついて説明する。まず、LDlを点灯させ、受光センサ
14上を走査する。LDlピッチ間センサa22aにて
ビームを検出する。検出された場合はレーザ回転駆動回
路20にて、例えば時計回り(+方向)にレーザ合成ユ
ニットを回転させる。再度LDlピッチ間センサa22
aにてビームを検出し、出力信号が検出されなくなった
場合、LDlピッチ間センサb22bにて同様の検出を
行う。LDlピッチ間センサa22a及びLDlピッチ
間センサb22bで信号が検出されなくなった時、LD
lスポット24aがLDlピッチ間センサa22a及び
LDlピッチ間センサb22bに位置することになる。
Next, the operation of the beam pitch control circuit 18 will be described. First, the LDl is turned on and the light receiving sensor 14 is scanned. The beam is detected by the LDl pitch sensor a22a. If detected, the laser rotation drive circuit 20 rotates the laser synthesizing unit, for example, in the clockwise direction (+ direction). LDl pitch sensor a22 again
When the beam is detected at a and the output signal is no longer detected, the LDb pitch sensor b22b performs the same detection. When the LD1 pitch sensor a22a and the LD1 pitch sensor b22b stop detecting signals, LD
The l spot 24a is located at the LDl pitch sensor a22a and the LDl pitch sensor b22b.

【0020】次にLDlを消灯し、LD2を点灯させ受
光センサ14上を走査する。LD2ピッチ間センサa2
3aにてビームを検出する。検出された場合はレーザ回
転駆動回路20にて、反時計回り(一方向)にレーザ合
成ユニットを回転させる。再度LD2ピッチ間センサa
23aにてビームを検出し、出力信号が検出されなくな
った場合、LD2ピッチ間センサb23bにて同様の検
出を行う。LD2ピッチ間センサa23a及びLD2ピ
ッチ間センサb23bで信号が検出されなくなった時、
LD2スポット24bがLD2ピッチ間センサa23a
及びLD2ピッチ間センサb23bに位置することにな
る。
Then, LD1 is turned off, LD2 is turned on, and the light receiving sensor 14 is scanned. LD2 pitch sensor a2
The beam is detected at 3a. When detected, the laser rotation drive circuit 20 rotates the laser synthesizing unit counterclockwise (one direction). LD2 pitch sensor a again
When the beam is detected by 23a and the output signal is no longer detected, the same detection is performed by the LD2 pitch sensor b23b. When no signal is detected by the LD2 pitch sensor a23a and the LD2 pitch sensor b23b,
The LD2 spot 24b is the LD2 pitch sensor a23a.
And LD2 pitch sensor b23b.

【0021】(第2の実施形態)図4は本発明の第2の
実施形態におけるビームピッチ間制御回路の構成を示す
ブロック図である。
(Second Embodiment) FIG. 4 is a block diagram showing the arrangement of a beam pitch control circuit according to the second embodiment of the present invention.

【0022】25aはLDlピッチ間センサa出力信号
で、波形成形回路a28で波形成形しリセット信号とし
て、ステップカウンタa29へ入力する。25bはLD
lピッチ間センサb出力信号で、波形成形回路b30で
波形成形しホールド信号として、ステップカウンタa2
9へ入力する。ステップカウンタa29は、LDlピッ
チ間センサa出力信号25aが出力されている間はリセ
ット信号を出力しつづけ、LDlピッチ間センサb出力
信号25bが出力されると同時にホールド信号を出力
し、ステップカウンタa29のカウント値をホールドす
る。ステップカウンタa29の出力信号はカウントUP
信号としてピッチ間カウンタ34へ入力する。
Reference numeral 25a denotes an output signal of the LDl pitch sensor a, which is waveform-shaped by the waveform shaping circuit a28 and inputted as a reset signal to the step counter a29. 25b is LD
The output signal of the sensor b between l pitches is waveform-shaped by the waveform shaping circuit b30 and is used as a hold signal, and the
Input to 9. The step counter a29 continues to output the reset signal while the LDl pitch sensor a output signal 25a is output, and simultaneously outputs the hold signal while the LDl pitch sensor b output signal 25b is output. Holds the count value of. The output signal of the step counter a29 is the count UP
The signal is input to the pitch counter 34.

【0023】同様に26aはLD2ピッチ間センサa出
力信号で、波形成形回路c31で波形成形しリセット信
号として、ステップカウンタb32へ入力する。26b
はLD2ピッチ間センサb出力信号で、波形成形回路d
33で波形成形しホールド信号として、ステップカウン
タb32へ入力する。ステップカウンタb32は、LD
2ピッチ間センサa出力信号26aが出力されている間
はリセット信号を出力しつづけ、LD2ピッチ間センサ
b出力信号26bが出力されると同時にホールド信号を
出力し、ステップカウンタb32のカウント値をホール
ドする。ステップカウンタb32の出力信号はカウント
DOWN信号としてピッチ間カウンタ34へ入力する。
Similarly, 26a is an output signal of the LD2 pitch sensor a, which is waveform-shaped by the waveform shaping circuit c31 and is inputted to the step counter b32 as a reset signal. 26b
Is the output signal of the LD2 pitch sensor b, and the waveform shaping circuit d
The waveform is shaped at 33 and is input to the step counter b32 as a hold signal. The step counter b32 is an LD
While the 2-pitch sensor a output signal 26a is being output, the reset signal is continuously output, and at the same time the LD 2-pitch sensor b output signal 26b is output, a hold signal is output and the count value of the step counter b32 is held. To do. The output signal of the step counter b32 is input to the pitch counter 34 as a count DOWN signal.

【0024】ピッチ間カウンタ34は半導体レーザa
(以下LDlと略す)3と半導体レーザb(以下LD2
と略す)5のピッチ間隔を計測するカウンタでLDlの
調整角とLD2の調整角の差分値を計測する。ピッチ間
カウンタ34の出力信号はモータ制御信号発生回路35
にてレーザ合成ユニット2の回転方向を制御するDIR
信号と回転数を制御するSTEP信号を生成する。レー
ザ回転駆動回路20では、DIR信号とSTEP信号に
よりKビットのモータ駆動信号を生成する。
The pitch counter 34 is a semiconductor laser a.
(Hereinafter abbreviated as LD1) 3 and a semiconductor laser b (hereinafter referred to as LD2
A counter for measuring the pitch interval of 5 measures the difference value between the adjustment angle of LD1 and the adjustment angle of LD2. The output signal of the pitch counter 34 is a motor control signal generation circuit 35.
For controlling the rotation direction of the laser synthesizing unit 2
A signal and a STEP signal for controlling the rotation speed are generated. The laser rotation drive circuit 20 generates a K-bit motor drive signal based on the DIR signal and the STEP signal.

【0025】図5は受光センサ14の動作を説明する構
成図及びビームピッチ間制御回路18の動作を説明する
フローチャートである。
FIG. 5 is a block diagram for explaining the operation of the light receiving sensor 14 and a flow chart for explaining the operation of the beam pitch control circuit 18.

【0026】LDlを点灯させ、受光センサ14上を走
査させる。LDlピッチ間センサa22aにてビームを
検出する。検出された場合はレーザ回転駆動回路20に
て、例えば時計回り(+方向)にレーザ合成ユニット2
を回転させる。再度LDlピッチ間センサa22aにて
ビームを検出し、検出されなくなった場合はステップカ
ウンタa29をカウントアップし、更にレーザ回転駆動
回路20にて、時計回り(+方向)にレーザ合成ユニッ
ト2を回転させる。LDlピッチ間センサa22aにて
検出されなくなると、次にLDlピッチ間センサb22
bにて検出を開始し、検出されるまでステップカウンタ
a29をカウントアップし、かつレーザ回転駆動回路2
0にて、時計回り(+方向)にレーザ合成ユニットを回
転させる。LDlピッチ間センサb22bにて検出信号
が検出されると、LDlを消灯したの後、ステップカウ
ンタa29をホールドしカウントUP値を生成する。
The LDl is turned on and the light receiving sensor 14 is scanned. The beam is detected by the LDl pitch sensor a22a. If detected, the laser rotation drive circuit 20 causes the laser synthesizing unit 2 to rotate clockwise (+ direction), for example.
To rotate. The beam is detected again by the LDl pitch sensor a22a, and when the beam is no longer detected, the step counter a29 is counted up, and the laser rotation drive circuit 20 further rotates the laser synthesizing unit 2 clockwise (+ direction). . When it is no longer detected by the LDl pitch sensor a22a, then the LDl pitch sensor b22 is detected.
The detection is started at step b, the step counter a29 is counted up until it is detected, and the laser rotation drive circuit 2
At 0, the laser synthesizing unit is rotated clockwise (+ direction). When the detection signal is detected by the LDl pitch sensor b22b, the LDl is turned off, and then the step counter a29 is held and the count UP value is generated.

【0027】次に、LD2を点灯させ、受光センサ14
上を走査させる。LD2ピッチ間センサa23aにてビ
ームを検出する。検出された場合はレーザ回転駆動回路
20にて、反時計回り(一方向)にレーザ合成ユニット
2を回転させる。再度LD2ピッチ間センサa23aに
てビームを検出し、検出されなくなった場合はステップ
カウンタb32をカウントアップし、更にレーザ回転駆
動回路20にて、反時計回り(一方向)にレーザ合成ユ
ニット2を回転させる。LD2ピッチ間センサa23a
にて検出されなくなると、次にLD2ピッチ間センサb
23bにて検出を開始し、検出されるまでステップカウ
ンタb32をカウントアップし、かつレーザ回転駆動回
路20にて、反時計回り(一方向)にレーザ合成ユニッ
ト2を回転させる。LD2ピッチ間センサb23bにて
検出信号が検出されると、LD2を消灯したの後、ステ
ップカウンタb32をホールドしカウントDOWN値を
生成する。
Next, the LD 2 is turned on, and the light receiving sensor 14
Scan the top. The beam is detected by the LD2 pitch sensor a23a. When detected, the laser rotation drive circuit 20 rotates the laser synthesizing unit 2 counterclockwise (one direction). The beam is detected again by the LD2 pitch sensor a23a, and when the beam is no longer detected, the step counter b32 is counted up, and the laser rotation driving circuit 20 further rotates the laser synthesizing unit 2 counterclockwise (one direction). Let LD2 pitch sensor a23a
If it is no longer detected by, the LD2 pitch sensor b
The detection is started at 23b, the step counter b32 is counted up until it is detected, and the laser rotation driving circuit 20 rotates the laser synthesizing unit 2 counterclockwise (one direction). When the detection signal is detected by the LD2 pitch sensor b23b, the LD2 is turned off, the step counter b32 is held, and the count DOWN value is generated.

【0028】カウントUP値とカウントDOWN値を比
較しその結果によりレーザの回転方向を決定し、差分値
により回転STEP数を決定する。
The count UP value and the count DOWN value are compared, the rotation direction of the laser is determined by the result, and the rotation STEP number is determined by the difference value.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上説明したように、第1の実施形態に
よれば受光センサを光学走査装置内に配置することによ
り光学走査装置で走査ピッチ間調整が完了し、光学走査
装置交換の際の調整を必要とせず、かつピッチ間検出回
路を省力化にて実現可能いう効果を奏する。
As described above, according to the first embodiment, by arranging the light receiving sensor in the optical scanning device, the adjustment between the scanning pitches is completed in the optical scanning device, and when the optical scanning device is replaced. The effect that no adjustment is necessary and the inter-pitch detection circuit can be realized with labor saving is achieved.

【0030】第2の実施形態によれば複数の半導体レー
ザのピッチ間を計測することにより精度良くピッチ間検
出を実現するという効果を奏する。
According to the second embodiment, there is an effect that the pitch intervals of a plurality of semiconductor lasers are measured to accurately detect the pitch intervals.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1の実施形態における光学走査装置の構成を
示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an optical scanning device according to a first embodiment.

【図2】第1の実施形態における受光センサのセンサ構
成を示す構成図。
FIG. 2 is a configuration diagram showing a sensor configuration of a light receiving sensor according to the first embodiment.

【図3】第1の実施形態におけるビームピッチ間制御回
路の動作を示すフローチャート。
FIG. 3 is a flowchart showing an operation of a beam pitch control circuit according to the first embodiment.

【図4】第2の実施形態におけるビームピッチ間制御回
路の構成を示すブロック図。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a beam pitch control circuit according to a second embodiment.

【図5】第2の実施形態における受光センサの動作を説
明する構成図及びビームピッチ間制御回路の動作を示す
フローチャート。
FIG. 5 is a configuration diagram illustrating an operation of a light receiving sensor according to the second embodiment and a flowchart illustrating an operation of a beam pitch control circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光学走査ユニット 2 レーザ合成ユニット 3 半導体レーザa 4 レーザビームa 5 半導体レーザb 6 レーザビームb 7 コリメートレンズa 8 コリメートレンズb 9 プリズム 10 シリンドリカルレンズ 11 ポリゴンミラー 12 f−θレンズ 13 反射ミラーa 14 受光センサ 15 レーザビームc 16 反射ミラーb 17 感光ドラム 18 ビームピッチ間制御回路 19 ビーム位置検出回路 20 レーザ回転駆動回路 21 ビーム位置基準センサ 22a LDlピッチ間センサa 22b LDlピッチ間センサb 23a LD2ピッチ間センサa 23b LD2ピッチ間センサb 24a LDlスポット 24b LD2スポット 25a LDlピッチ間センサa出力信号 25b LDlピッチ間センサb出力信号 26a LD2ピッチ間センサa出力信号 26b LD2ピッチ間センサb出力信号 27 ステップクロック信号 28 波形成形回路a 29 ステップカウンタa 30 波形成形回路b 31 波形成形回路c 32 ステップカウンタb 33 波形成形回路d 34 ピッチ間カウンタ 35 モータ制御信号発生回路 1 Optical scanning unit 2 Laser synthesis unit 3 Semiconductor laser a 4 Laser beam a 5 Semiconductor laser b 6 laser beam b 7 Collimating lens a 8 Collimating lens b 9 prism 10 Cylindrical lens 11 polygon mirror 12 f-θ lens 13 Reflecting mirror a 14 Light receiving sensor 15 laser beam c 16 reflection mirror b 17 Photosensitive drum 18 Beam pitch control circuit 19 Beam position detection circuit 20 Laser rotation drive circuit 21 Beam position reference sensor 22a LDl pitch sensor a 22b LDl pitch sensor b 23a LD2 pitch sensor a 23b LD2 pitch sensor b 24a LDl spot 24b LD2 spot 25a LDl pitch sensor output signal 25b LDl Pitch sensor output signal 26a LD2 pitch sensor output signal 26b LD2 pitch sensor b output signal 27 step clock signal 28 Waveform shaping circuit a 29 step counter a 30 Waveform shaping circuit b 31 Waveform shaping circuit c 32 step counter b 33 Waveform shaping circuit d 34 Pitch counter 35 Motor control signal generation circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 1/113 H04N 1/04 104A Fターム(参考) 2C362 AA10 AA48 BA61 BA69 BA71 BB30 BB32 BB33 BB46 2H045 BA22 BA33 CA23 CA88 CA95 2H076 AB06 AB12 AB18 AB22 AB33 5C051 AA02 CA07 DB22 DB24 DB30 DB35 DC04 DE02 5C072 AA03 DA02 DA04 DA21 HA02 HA06 HA09 HA13 HB08 XA05─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H04N 1/113 H04N 1/04 104A F term (reference) 2C362 AA10 AA48 BA61 BA69 BA71 BB30 BB32 BB33 BB46 2H045 BA22 BA33 CA23 CA88 CA95 2H076 AB06 AB12 AB18 AB22 AB33 5C051 AA02 CA07 DB22 DB24 DB30 DB35 DC04 DE02 5C072 AA03 DA02 DA04 DA21 HA02 HA06 HA09 HA13 HB08 XA05

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の半導体レーザを有し、該複数の半
導体レーザを光源として像担持体上に潜像を生成する光
学走査装置であって、 前記複数の半導体レーザの光軸に平行な回転軸を以って
回転駆動するレーザ回転駆動手段前記複数の半導体レー
ザの走査位置を検出するビーム走査位置検出手段、該ビ
ーム位置検出手段の結果に応じて前記レーザ回転駆動手
段を制御する走査位置制御手段とを有し、前記光走査装
置にあって、前記複数の半導体レーザの発光点から像担
持休までの距離と同じくし非画像領域に相当する位置に
前記ビーム位置検出手段を配置することを特徴とする光
学走査装置。
1. An optical scanning device having a plurality of semiconductor lasers, wherein the plurality of semiconductor lasers are used as a light source to generate a latent image on an image carrier. The optical scanning device comprises rotations parallel to the optical axes of the plurality of semiconductor lasers. Laser rotation driving means for rotationally driving about a shaft Beam scanning position detecting means for detecting scanning positions of the plurality of semiconductor lasers, and scanning position control for controlling the laser rotation driving means according to the result of the beam position detecting means. And a means for arranging the beam position detecting means at a position corresponding to a non-image area, which is the same as the distance from the light emitting points of the plurality of semiconductor lasers to the image carrying rest. Characteristic optical scanning device.
【請求項2】 請求項1に記載の光学走査装置であっ
て、前記ビーム走査位置検出手段は光電変換素子で構成
し、前記複数の半導体レーザの各ビームに対し少なくと
も2個以上具備し、光変換素子各々の間隔が主走査方向
と略直角に該半導体レーザのビームスポット径より広く
開けて配置し、かつ前記複数の半導体レーザのうち任意
のレーザビームに対する光電変換素子間の間隔の中心軸
と他方のレーザビームに対する光電変換素子間の間隔の
中心軸とが副走査方向のピッチ間隔相当に配置すること
を特徴とする光学走査装置。
2. The optical scanning device according to claim 1, wherein the beam scanning position detecting means comprises a photoelectric conversion element, and at least two or more are provided for each beam of the plurality of semiconductor lasers. The conversion elements are arranged such that the distance between them is wider than the beam spot diameter of the semiconductor laser substantially at right angles to the main scanning direction, and the center axis of the distance between the photoelectric conversion elements for any laser beam of the plurality of semiconductor lasers is set. An optical scanning device, characterized in that the center axis of the interval between the photoelectric conversion elements for the other laser beam is arranged at a pitch interval in the sub-scanning direction.
【請求項3】 請求項2に記載の光学走査装置であっ
て、前記複数の半導体レーザを全点灯あるいは順次点灯
させ、前記ビーム位置検出手段によって該複数の半導体
レーザの全てのビームあるいは1ビーム毎に走査位置を
検出し、前記光電変換素子の出力が無くなるよう前記レ
ーザ回転駆動手段を以ってビームピッチ間を調整するこ
とを特徴とする光学走査装置。
3. The optical scanning device according to claim 2, wherein the plurality of semiconductor lasers are all turned on or sequentially turned on, and all the beams or each beam of the plurality of semiconductor lasers are turned on by the beam position detecting means. An optical scanning device, wherein the scanning position is detected, and the beam pitch is adjusted by the laser rotation driving means so that the output of the photoelectric conversion element disappears.
【請求項4】 請求項1及び2に記載の光学走査装置で
あって、前記複数の半導体レーザを全点灯あるいは順次
点灯させ、前記ビーム位置検出手段によって該複数の半
導体レーザの全てのビームあるいは1ビーム毎に走査位
置を検出し、前記光電変換素子の出力がされていない時
の前記レーザ回転駆動手段の角度を計測するレーザ回転
角計測手段、該レーザ回転角計測手段の結果を記憶する
回転角記憶手段、該回転角記憶手段の結果の中から予め
設定した任意の角度を選択するビーム間隔設定手段を有
し、該ビーム間隔設定手段にて選択された値を持ってビ
ームピッチ間を調整することを特徴とする光学走査装
置。
4. The optical scanning device according to claim 1, wherein the plurality of semiconductor lasers are all turned on or sequentially turned on, and the beam position detection means outputs all the beams or one of the plurality of semiconductor lasers. Laser rotation angle measuring means for detecting the scanning position for each beam and measuring the angle of the laser rotation driving means when the photoelectric conversion element is not output, and a rotation angle for storing the result of the laser rotation angle measuring means. And a beam interval setting unit for selecting an arbitrary angle preset from the results of the storage unit and the rotation angle storage unit, and adjusting the beam pitch between the beam pitches with the value selected by the beam interval setting unit. An optical scanning device characterized by the above.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7247841B2 (en) 2004-10-07 2007-07-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Light scanning apparatus
KR101043391B1 (en) * 2004-09-22 2011-06-22 삼성전자주식회사 Laser scanning unit for image forming apparatus
KR102240887B1 (en) * 2019-11-13 2021-04-15 엘브이아이테크놀러지(주) LiDAR System

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101043391B1 (en) * 2004-09-22 2011-06-22 삼성전자주식회사 Laser scanning unit for image forming apparatus
US7247841B2 (en) 2004-10-07 2007-07-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Light scanning apparatus
US7348549B2 (en) 2004-10-07 2008-03-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Light scanning apparatus
KR102240887B1 (en) * 2019-11-13 2021-04-15 엘브이아이테크놀러지(주) LiDAR System
WO2021096095A1 (en) * 2019-11-13 2021-05-20 엘브이아이테크놀러지(주) Lidar system
US11237255B2 (en) 2019-11-13 2022-02-01 LVI Technologies Inc. CO., Ltd LiDAR system

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