JP2003262464A - Method and apparatus for drying thin film, and method for manufacturing device - Google Patents

Method and apparatus for drying thin film, and method for manufacturing device

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JP2003262464A
JP2003262464A JP2002059121A JP2002059121A JP2003262464A JP 2003262464 A JP2003262464 A JP 2003262464A JP 2002059121 A JP2002059121 A JP 2002059121A JP 2002059121 A JP2002059121 A JP 2002059121A JP 2003262464 A JP2003262464 A JP 2003262464A
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JP
Japan
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drying
thin film
substrate
stage
cover
Prior art date
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JP2002059121A
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Japanese (ja)
Inventor
Shintaro Asuke
慎太郎 足助
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and an apparatus for drying a thin film, making the obtained thin film uniform and fine by preventing the thin film before a drying process from being unevenly dried, and to provide a method for manufacturing a device. <P>SOLUTION: This apparatus for drying the thin film 11 formed by applying a liquid material to a substrate 8 is provided with a stage 7 for holding the substrate 8; a drying cover 2 forming a storage space 12 for storing the substrate 8 between the stage 7 and the cover 2; and a pressure reducing means 5 connected to the drying cover 2 to reduce pressure in the storage space 12. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液体材料塗布後の
薄膜が不均一に乾燥することなく、良好に乾燥するよう
にした、薄膜の乾燥方法及び乾燥装置、デバイスの製造
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of drying a thin film, a drying apparatus, and a device manufacturing method, which allow a thin film applied with a liquid material to be dried well without being unevenly dried.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体素子、液晶素子、有機EL素子、
撮像素子(CCD)などの各種の電子素子や光学素子で
は、その製造に際して、構成要素となる膜やプロセス上
使用される膜など、種々の膜が形成される。このような
膜の中には、液体材料がスプレー法やスピンコート法、
インクジェット法などで塗布されて薄膜とされ、さらに
これが加熱乾燥されて固化され、形成されるものが多く
ある。具体的には、レジスト膜、カラーフィルタ、層間
絶縁膜、保護膜、さらには液晶素子における配向膜やパ
ッシベーション膜など、主に有機溶剤を使用する液体材
料によって形成される膜である。
2. Description of the Related Art Semiconductor elements, liquid crystal elements, organic EL elements,
In various electronic devices such as image pickup devices (CCD) and optical devices, various films such as films that are constituent elements and films used in processes are formed during manufacturing. In such a film, the liquid material is sprayed or spin coated,
In many cases, it is applied by an inkjet method or the like to form a thin film, which is further dried by heating and solidifying to be formed. Specifically, it is a film formed of a liquid material mainly using an organic solvent, such as a resist film, a color filter, an interlayer insulating film, a protective film, an alignment film in a liquid crystal element, and a passivation film.

【0003】このような膜は、通常、液体材料が基板上
に塗布されて薄膜とされた後、基板ごと次工程である乾
燥(または焼成)工程に搬送され、そこで加熱(または
減圧)乾燥させられ、所望の膜とされる。また、薄膜の
形成、すなわち液体材料の塗布は、通常は基板の上面に
対して行うものの、形成材料の種類や基板表面の状態に
よっては、基板の下面に対して液体材料を塗布する場合
もある。例えば、基板表面にすでに各種の構成要素が設
けられており、これによって凹凸が形成されている場合
などでは、この面を下側に向けて下面とし、塗布する方
が、表面張力などによって凹凸に対する埋め込み性が良
くなることがある。また、膜厚の均一性を図るうえで
も、下面に対して液体材料を塗布する方が有利になる材
料がある。
Such a film is usually formed by applying a liquid material onto a substrate to form a thin film, and then the film is conveyed to the next process of drying (or baking) together with the substrate, where it is heated (or reduced pressure) to be dried. To obtain a desired film. Further, although the thin film formation, that is, the application of the liquid material is usually performed on the upper surface of the substrate, the liquid material may be applied on the lower surface of the substrate depending on the type of the forming material and the state of the substrate surface. . For example, when various components are already provided on the surface of the substrate and unevenness is formed by this, it is better to apply this surface to the lower surface and apply it to the unevenness due to surface tension. The embeddability may be improved. In addition, in order to make the film thickness uniform, it is advantageous to apply the liquid material to the lower surface.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、形成する膜
の種類によっては、液体材料として特に揮発性が高い有
機溶剤を使用するものもあり、このような液体材料を塗
布する場合には、基板への塗布後、乾燥を行うまでの間
に薄膜が不均一に乾いてしまい、その後乾燥工程で乾燥
しても、得られる膜がその膜厚等に関して不均一になっ
てしまうことがある。乾燥工程前に薄膜が不均一に乾い
てしまうのは、塗布後、基板を乾燥工程に搬送して乾燥
するまでの間、搬送や待機、さらには乾燥炉への搬入な
どに時間がかかることが大きな原因と考えられる。
By the way, depending on the kind of film to be formed, there is a case where an organic solvent having a particularly high volatility is used as a liquid material. When applying such a liquid material, it is necessary to apply it to the substrate. In some cases, the thin film may be nonuniformly dried after the application of the coating and before the drying, and even if the thin film is dried in the subsequent drying step, the obtained film may be nonuniform in thickness and the like. The non-uniform drying of the thin film before the drying process may be because it takes time for the substrate to be transported to the drying process, dried, and then waited for the substrate to be dried and transferred to the drying furnace. It is considered to be a major cause.

【0005】また、特に基板の下面に対して液体材料を
塗布する場合には、塗布後乾燥工程に搬送する際、通常
はまず基板を旋回させて薄膜形成面を上にし、その状態
で乾燥工程にまで移送する。しかしながら、このような
旋回を行うと、特に基板が400mm〜500mmと比
較的長い寸法を有していたり、さらには1mを越えるよ
うな長い寸法を有する大型のものである場合、薄膜は旋
回軸近傍では旋回によって生じる気流や遠心力の影響が
少ないものの、旋回軸から遠ざかるに連れその影響が大
となり、結果として薄膜が不均一に乾いてしまい、膜厚
ムラが生じてしまう。また、塗布により形成した薄膜の
膜厚が比較的厚い場合などでは、旋回時、基板が垂直に
立った際に液が垂れて偏りが生じ、得られる薄膜の膜厚
が不均一になってしまうといった問題もある。
In particular, when the liquid material is applied to the lower surface of the substrate, when the liquid material is conveyed to the drying step after application, the substrate is first swirled so that the thin film forming surface faces up, and the drying step is performed in that state. Transfer to. However, when such a rotation is performed, the thin film is near the rotation axis especially when the substrate has a relatively long dimension of 400 mm to 500 mm or a large dimension having a long dimension exceeding 1 m. However, the influence of the air flow and centrifugal force generated by the swirl is small, but the influence becomes large as the distance from the swirl axis increases, and as a result, the thin film dries unevenly and uneven film thickness occurs. In addition, when the thickness of the thin film formed by coating is comparatively large, when the substrate stands vertically when swirling, the liquid drips and becomes uneven, and the resulting thin film becomes uneven in thickness. There is also a problem.

【0006】本発明は前記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、乾燥工程前の薄膜が不均
一に乾くことを防止し、これにより得られる膜が均一で
良好なものとなるようにした、薄膜の乾燥方法及び乾燥
装置、さらにはデバイスの製造方法を提供することにあ
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to prevent uneven drying of a thin film before a drying step, and to obtain a uniform and good film obtained by this. Another object of the present invention is to provide a thin film drying method and a drying apparatus, and a device manufacturing method.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明の薄膜の乾燥方法では、基板に液体材料が塗
布されて形成された薄膜を乾燥する薄膜の乾燥方法であ
って、ステージに前記基板を保持して前記液体材料を塗
布し、前記ステージによる前記基板の保持を維持したま
ま乾燥用カバーを前記ステージに被せて該乾燥用カバー
と前記ステージとの空間に基板を収容し、前記乾燥用カ
バーとステージとの空間を減圧して、前記薄膜を乾燥す
ることを特徴としている。この薄膜の乾燥方法によれ
ば、乾燥用カバーとステージとの空間を減圧して、前記
薄膜を乾燥するので、塗布工程から乾燥工程に至るまで
の間の時間を従来に比べ格段に短縮することができ、こ
れにより乾燥工程前に薄膜が不均一に乾いてしまうのを
防止することができる。
In order to achieve the above object, the thin film drying method of the present invention is a thin film drying method for drying a thin film formed by applying a liquid material to a substrate. The substrate is held and the liquid material is applied, and while the holding of the substrate by the stage is maintained, the drying cover is covered on the stage to accommodate the substrate in the space between the drying cover and the stage. The thin film is dried by reducing the pressure in the space between the drying cover and the stage. According to this thin film drying method, the space between the drying cover and the stage is depressurized to dry the thin film, so that the time from the coating process to the drying process can be significantly shortened compared to the conventional case. This makes it possible to prevent the thin film from drying unevenly before the drying step.

【0008】また、この薄膜の乾燥方法においては、液
体材料の塗布が、基板下面に対して液体材料を塗布する
方法でなされた場合に、前記乾燥用カバーを、ステージ
の下側に被せて基板を収容するのが好ましい。このよう
にすれば、薄膜を塗布した基板を旋回させて薄膜を上側
にする前に減圧乾燥をするので、旋回により生じる気流
や遠心力、さらには旋回時の垂れに起因して、薄膜が不
均一に乾き、あるいは膜厚ムラが生じてしまうことを防
止することができる。
Further, in this thin film drying method, when the liquid material is applied by a method of applying the liquid material to the lower surface of the substrate, the drying cover is placed on the lower side of the stage to cover the substrate. Is preferably housed. In this way, the substrate coated with the thin film is dried under reduced pressure before the thin film is turned to the upper side. It is possible to prevent the film from being evenly dried or having uneven film thickness.

【0009】また、この薄膜の乾燥方法においては、乾
燥用カバーとステージとの間を減圧するとともに、薄膜
の加熱をも行うようにするのが好ましい。このようにす
れば、減圧と加熱とを併用して行うので、より速くかつ
確実に薄膜を乾燥することができ、これにより良好な薄
膜を形成することができる。
Further, in this thin film drying method, it is preferable that the pressure between the drying cover and the stage is reduced and the thin film is also heated. In this way, since the pressure reduction and the heating are performed in combination, the thin film can be dried more quickly and surely, and thereby a good thin film can be formed.

【0010】本発明の薄膜の乾燥装置では、基板に液体
材料が塗布されて形成された薄膜を乾燥する乾燥装置で
あって、前記基板を保持するステージと、該ステージと
の間で前記基板を収容する収容空間を形成する乾燥用カ
バーと、該乾燥用カバーに接続されて前記収容空間内を
減圧する減圧手段とを備えたことを特徴としている。こ
の薄膜の乾燥装置によれば、減圧手段によって基板を収
容する収容空間を減圧することにより、塗布工程から乾
燥工程に至るまでの間の時間を従来に比べ格段に短縮す
ることができ、これにより乾燥工程前に薄膜が不均一に
乾いてしまうのを防止することができる。
The thin film drying apparatus of the present invention is a drying apparatus for drying a thin film formed by applying a liquid material to a substrate, wherein the substrate is held between a stage holding the substrate and the stage. It is characterized in that it is provided with a drying cover forming an accommodation space for accommodating and a decompression means connected to the drying cover to decompress the inside of the accommodation space. According to this thin film drying apparatus, by depressurizing the accommodating space for accommodating the substrate by the depressurizing means, the time from the coating step to the drying step can be remarkably shortened as compared with the conventional case. It is possible to prevent the thin film from drying unevenly before the drying step.

【0011】また、この薄膜の乾燥装置においては、前
記ステージが、前記基板を吸着する吸着手段を備えてい
るのが好ましい。このようにすれば、ステージに基板を
確実に保持固定することができ、したがって、例えば基
板を下に向けた状態で吸着保持することもできる。
Further, in this thin film drying apparatus, it is preferable that the stage is provided with an adsorption means for adsorbing the substrate. With this configuration, the substrate can be securely held and fixed on the stage, and thus, for example, the substrate can be sucked and held with the substrate facing downward.

【0012】また、この薄膜の乾燥装置においては、乾
燥用カバーまたはステージに、前記薄膜を加熱する加熱
手段が設けられているのが好ましい。このようにすれ
ば、減圧と加熱とを併用して行うことができ、したがっ
てより速くかつ確実に薄膜を乾燥することができ、これ
により良好な薄膜を形成することができる。
Further, in this thin film drying apparatus, it is preferable that the drying cover or the stage is provided with heating means for heating the thin film. By doing so, decompression and heating can be performed in combination, and therefore, the thin film can be dried more quickly and reliably, whereby a good thin film can be formed.

【0013】本発明のデバイスの製造方法では、基板に
塗布された薄膜を乾燥させて製造されるデバイスの製造
方法であって、前記基板をステージに載置する載置工程
と、前記ステージに載置された前記基板に前記薄膜を塗
布する塗布工程と、前記塗布膜を乾燥する乾燥工程を有
し、前記乾燥工程は、前記塗布工程後に行われ、前記ス
テージに前記基板が載置された状態で乾燥用カバーを被
せ、減圧手段により減圧することによって行われること
を特徴としている。このデバイスの製造方法によれば、
乾燥用カバー内を減圧して、前記薄膜を乾燥するので、
塗布工程から乾燥工程に至るまでの間の時間を従来に比
べ格段に短縮することができ、これにより乾燥工程前に
薄膜が不均一に乾いてしまうのを防止することができ
る。
The device manufacturing method of the present invention is a device manufacturing method manufactured by drying a thin film applied to a substrate, which comprises a mounting step of mounting the substrate on a stage, and a mounting step on the stage. A coating step of coating the thin film on the placed substrate, and a drying step of drying the coating film, the drying step being performed after the coating step, and the state where the substrate is placed on the stage. Is covered with a drying cover, and the pressure is reduced by a pressure reducing means. According to the method of manufacturing this device,
Since the pressure inside the drying cover is reduced to dry the thin film,
The time from the coating process to the drying process can be significantly shortened as compared with the conventional case, and thus it is possible to prevent the thin film from being unevenly dried before the drying process.

【0014】本発明の別のデバイスの製造方法では、基
板に塗布された薄膜を乾燥させて製造されるデバイスの
製造方法であって、前記基板をステージに載置する載置
工程と、前記ステージに載置された前記基板に前記薄膜
を塗布する塗布工程と、前記塗布膜を乾燥する乾燥工程
を有し、前記乾燥工程は、前記塗布工程後に行われ、前
記ステージに前記基板が載置された状態で乾燥用カバー
を被せ、加熱手段により加熱することによって行われる
ことを特徴としている。このデバイスの製造方法によれ
ば、乾燥用カバー内を加熱して、前記薄膜を乾燥するの
で、塗布工程から乾燥工程に至るまでの間の時間を従来
に比べ格段に短縮することができ、これにより乾燥工程
前に薄膜が不均一に乾いてしまうのを防止することがで
きる。
Another method of manufacturing a device according to the present invention is a method of manufacturing a device, which is manufactured by drying a thin film applied to a substrate, which comprises a mounting step of mounting the substrate on a stage, and the stage. A coating step of coating the thin film on the substrate placed on the substrate, and a drying step of drying the coating film, the drying step is performed after the coating step, and the substrate is placed on the stage. It is characterized in that it is carried out by covering the drying cover in this state and heating by a heating means. According to this device manufacturing method, since the inside of the drying cover is heated to dry the thin film, the time from the coating process to the drying process can be significantly shortened compared to the conventional case. Thereby, it is possible to prevent the thin film from being unevenly dried before the drying step.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明を詳しく説明する。
図1(a)〜(c)は、本発明の薄膜の乾燥装置の一実
施形態例を説明するための図である。なお、本実施例で
は、乾燥工程の前工程である塗布工程において、液体材
料の塗布方法として液体材料を基板の下面に対し塗布す
る方法を採用している。なお、本実施の形態で説明する
液体材料は、特に液体に限られず、金属等の微粒子を含
む液状材料も含まれる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention is described in detail below.
1 (a) to 1 (c) are views for explaining an embodiment of a thin film drying apparatus of the present invention. In this embodiment, a method of applying the liquid material to the lower surface of the substrate is adopted as the method of applying the liquid material in the applying step which is a step before the drying step. The liquid material described in the present embodiment is not particularly limited to a liquid, and includes a liquid material containing fine particles such as metal.

【0016】図1(a)〜(c)において符号1は乾燥
装置であり、この乾燥装置1は、乾燥用カバー2と、こ
の乾燥用カバー2を昇降させるための昇降機構3と、乾
燥用カバー2に接続し、かつその内側に連通するフレキ
シブル配管4を介して設けられた真空ポンプ等からなる
減圧手段5と、乾燥用カバー2の内側に設けられた加熱
手段6とを備えて構成されたものである。
In FIGS. 1A to 1C, reference numeral 1 is a drying device, and the drying device 1 includes a drying cover 2, an elevating mechanism 3 for elevating the drying cover 2, and a drying device. A pressure reducing means 5 such as a vacuum pump provided via a flexible pipe 4 connected to the cover 2 and communicating with the inside thereof, and a heating means 6 provided inside the drying cover 2 are configured. It is a thing.

【0017】乾燥用カバー2は、図1(a)に示す吸着
ステージ7に保持された基板8を覆い、その状態で吸着
ステージ7に被せられるよう構成されたもので、矩形板
状のカバー本体2aと、このカバー本体2aの四辺から
カバー本体2aに対し直交して設けられた側板2b…と
からなるものである。この乾燥用カバー2は、その側板
2b側が上方に向き、カバー本体2aが下側となる姿勢
に配置されたもので、このように配置されたことによ
り、吸着ステージ7の下面側に側板2b…が容易に突き
当たるようになっている。また、この乾燥用カバー2
は、金属や硬質樹脂などによって形成されたものであ
り、側板2bの端面、すなわち吸着ステージ7への突き
当て面には、ゴムや軟質樹脂等によるパッキン材9が貼
設されている。このような構成のもとに乾燥用カバー2
は、後述するようにその側板2b…が吸着ステージ7の
基板保持面に突き当てられて吸着ステージ7に被せられ
ると、該乾燥用カバー2と吸着ステージ7との間に気密
な収容空間を形成するものとなる。
The drying cover 2 covers the substrate 8 held by the suction stage 7 shown in FIG. 1A, and is constructed so as to cover the suction stage 7 in this state. The cover 2 has a rectangular plate shape. 2a and side plates 2b ... Which are provided orthogonally to the cover body 2a from the four sides of the cover body 2a. The drying cover 2 is arranged such that the side plate 2b side thereof faces upward and the cover body 2a faces downward. By being arranged in this manner, the side plate 2b on the lower surface side of the suction stage 7 ... Is easy to hit. Also, this drying cover 2
Is formed of metal, hard resin, or the like, and a packing material 9 made of rubber, soft resin, or the like is attached to the end surface of the side plate 2b, that is, the contact surface with the suction stage 7. Based on this structure, the drying cover 2
As will be described later, when the side plates 2b ... Abut against the substrate holding surface of the suction stage 7 and cover the suction stage 7, an airtight accommodation space is formed between the drying cover 2 and the suction stage 7. It will be done.

【0018】昇降機構3は、乾燥用カバー2を支持する
複数のアーム3aと、これらアーム3aに連結するエア
シリンダなどの昇降装置3bとからなるもので、昇降装
置3bの作動により、アーム3aを介して乾燥用カバー
2を昇降させるよう構成されたものである。フレキシブ
ル配管4は、乾燥用カバー2のカバー本体2aの中央部
に形成された貫通孔2cに連通したもので、これにより
減圧手段5が作動して減圧を行った際、部分的に偏るこ
となく、カバー本体2a内をほぼ均一に吸引して減圧す
るようになっている。
The lifting mechanism 3 comprises a plurality of arms 3a for supporting the drying cover 2 and a lifting device 3b such as an air cylinder connected to the arms 3a. The lifting device 3b operates to lift the arms 3a. The drying cover 2 is configured to be raised and lowered via the above. The flexible pipe 4 communicates with the through hole 2c formed in the central portion of the cover body 2a of the drying cover 2, and when the pressure reducing means 5 is operated to reduce the pressure, the flexible pipe 4 is not partially biased. The inside of the cover body 2a is sucked almost uniformly to reduce the pressure.

【0019】加熱手段6は、乾燥用カバー2のカバー本
体2aの内面に、前記貫通孔2cを避けて配置されたも
ので、従来より一般的に用いられる電気ヒータや、赤外
線ヒータなどによって構成されるものである。乾燥用カ
バー1の内面には熱電対等の温度検知手段(図示せず)
が設けられており、この温度検知手段で検知された乾燥
用カバー2内の温度に基づき、加熱手段6による加熱が
制御されるようになっている。なお、このような構成か
らなる乾燥装置1は、後述する塗布工程がなされる位置
の近傍に、配置されたものとなっている。
The heating means 6 is arranged on the inner surface of the cover body 2a of the drying cover 2 so as to avoid the through holes 2c, and is constituted by an electric heater or an infrared heater generally used conventionally. It is something. A temperature detecting means (not shown) such as a thermocouple is provided on the inner surface of the drying cover 1.
Is provided, and heating by the heating means 6 is controlled based on the temperature inside the drying cover 2 detected by the temperature detecting means. The drying device 1 having such a configuration is arranged near a position where a coating process described later is performed.

【0020】次に、このような構成の乾燥装置1による
乾燥方法に基づき、本発明の薄膜の乾燥方法の一例を説
明する。まず、乾燥工程の前工程として、吸着ステージ
7に基板8を載せてこれを保持固定させ、さらに吸着ス
テージ7ごと旋回させて上下を逆にし、図1(a)に示
したように基板8を下にした状態でこれを吸着ステージ
7に保持させる。なお、吸着ステージ7を旋回するため
の機構としては、例えば、吸着ステージに連結する保持
アーム(図示せず)と、この保持アームにボールネジ
(図示せず)を介して連結されたモータ(図示せず)と
からなる旋回装置(図示せず)が用いられる。このよう
な構成の旋回装置によれば、モータを作動させることに
よってボールネジを介して保持アームを回動させ、これ
により吸着ステージ7を旋回させることができる。
Next, an example of the drying method of the thin film of the present invention will be described based on the drying method by the drying apparatus 1 having such a configuration. First, as a pre-process of the drying process, the substrate 8 is placed on the adsorption stage 7 and held and fixed, and then the adsorption stage 7 is swiveled to turn the substrate 8 upside down, as shown in FIG. This is held on the suction stage 7 in the state of being lowered. As a mechanism for rotating the suction stage 7, for example, a holding arm (not shown) connected to the suction stage and a motor (not shown) connected to the holding arm via a ball screw (not shown). A swivel device (not shown) is used. According to the turning device having such a configuration, the holding arm can be turned via the ball screw by operating the motor, whereby the suction stage 7 can be turned.

【0021】このような旋回手段によって吸着ステージ
7を旋回させ、基板8を下向きにしたら、予め下側に配
置されている塗布ヘッド10によって液体材料を基板1
の下面に塗布し、薄膜11を形成する。続いて、この塗
布位置の近傍に配置された乾燥装置1に向け、基板8を
保持させたまま吸着ステージ7を移動させ、図1(b)
に示すように乾燥用カバー2の直上に基板8を位置させ
る。
When the suction stage 7 is swung by such a swiveling means and the substrate 8 is directed downward, the liquid material is applied to the substrate 1 by the coating head 10 arranged in advance on the lower side.
To form a thin film 11. Then, the suction stage 7 is moved toward the drying device 1 arranged near this coating position while the substrate 8 is being held, and FIG.
The substrate 8 is positioned immediately above the drying cover 2 as shown in FIG.

【0022】次いで、乾燥装置1の昇降機構3を作動さ
せて乾燥用カバー2を上昇させ、図1(c)に示すよう
に乾燥用カバー2の側板2bに設けたパッキン材9を吸
着ステージ7の基板8保持面に突き当てる。すると、乾
燥用カバー2は吸着ステージ7に被せられることによ
り、吸着ステージ7との間に気密な収容空間12を形成
し、この収容空間12内に基板8を収容したものとな
る。
Next, the elevating mechanism 3 of the drying device 1 is operated to raise the drying cover 2, and the packing material 9 provided on the side plate 2b of the drying cover 2 is sucked by the suction stage 7 as shown in FIG. 1 (c). It abuts against the substrate 8 holding surface. Then, the drying cover 2 is covered with the suction stage 7 to form an airtight housing space 12 between the drying cover 2 and the suction stage 7, and the substrate 8 is housed in the housing space 12.

【0023】このようにして乾燥用カバー2を吸着ステ
ージ7に被せたら、減圧手段5を作動させて前記収容空
間12を例えば100Torr〜1Torr程度に減圧
する。すると、この減圧処理により、薄膜11中の有機
溶剤等の液体成分はその揮発が促進されて強制的に除去
され、薄膜11は乾燥される。なお、このように減圧処
理を行っていて収容空間12が減圧されているときに
は、乾燥用カバー2のパッキン材9が吸着ステージ7に
密着した状態を保持して収容空間12の気密性が保持さ
れているので、昇降機構3による乾燥用カバー2の上昇
は停止し、停止した上昇位置に乾燥用カバー2を固定す
るようにしておけばよい。
After covering the drying stage 2 on the adsorption stage 7 in this manner, the decompression means 5 is operated to decompress the accommodation space 12 to, for example, about 100 Torr to 1 Torr. Then, the decompression treatment accelerates the volatilization of the liquid component such as the organic solvent in the thin film 11 and forcibly removes it, and the thin film 11 is dried. When the accommodation space 12 is decompressed as described above, the packing material 9 of the drying cover 2 is kept in close contact with the suction stage 7 to maintain the airtightness of the accommodation space 12. Therefore, the raising of the drying cover 2 by the elevating mechanism 3 is stopped, and the drying cover 2 may be fixed to the stopped raised position.

【0024】このようにして減圧処理を予め設定した所
定時間行ったら、あるいは収容空間12を所定圧力にま
で減圧したら、加熱手段6によって加熱を行い、薄膜1
1の乾燥をより促進して乾燥固化した薄膜11を形成す
る。次いで、加熱手段6による加熱を停止するととも
に、減圧手段5による減圧を停止して収容空間12を常
圧に戻す。そして、昇降機構3を作動させて今度は乾燥
用カバー2を下降させる。さらに、吸着ステージ7ごと
基板8を移動するとともに、前記旋回装置によって基板
8を再度旋回させ、乾燥固化した薄膜11を上側に向け
る。その後、この薄膜11を形成した基板8を適宜な搬
送手段によって乾燥工程の次の工程に搬送する。
When the depressurizing process is performed for a preset time as described above, or when the housing space 12 is depressurized to a predetermined pressure, the heating means 6 heats the thin film 1
The drying of 1 is further promoted to form the dried and solidified thin film 11. Next, the heating by the heating means 6 is stopped, the decompression by the decompression means 5 is stopped, and the accommodation space 12 is returned to normal pressure. Then, the elevating mechanism 3 is activated to lower the drying cover 2 this time. Further, the substrate 8 is moved together with the adsorption stage 7, and the substrate 8 is swung again by the swiveling device so that the dried and solidified thin film 11 faces upward. After that, the substrate 8 on which the thin film 11 is formed is carried to the next step after the drying step by a suitable carrying means.

【0025】このような乾燥方法にあっては、基板8を
覆った状態で乾燥用カバー2を吸着ステージ7に被せ、
その後乾燥用カバー2と吸着ステージ7との間を減圧す
るので、塗布工程において液体材料を塗布した直後に乾
燥用カバー2を吸着ステージ7に被せ、減圧乾燥するこ
とができる。したがって、塗布工程から乾燥工程に至る
までの間の時間を従来に比べ格段に短縮することがで
き、これにより乾燥工程前に薄膜11が不均一に乾いて
しまうのを防止し、良好な薄膜を形成することができ
る。
In such a drying method, the suction cover 7 is covered with the drying cover 2 while covering the substrate 8.
After that, since the pressure between the drying cover 2 and the suction stage 7 is reduced, it is possible to cover the drying cover 2 on the suction stage 7 immediately after applying the liquid material in the coating step and perform vacuum drying. Therefore, the time from the coating process to the drying process can be remarkably shortened as compared with the conventional case, whereby the thin film 11 can be prevented from being unevenly dried before the drying process, and a good thin film can be obtained. Can be formed.

【0026】また、液体材料の塗布を、基板8の下面に
対して液体材料を塗布する方法で行っているものの、薄
膜11を塗布した基板8を旋回させて薄膜11を上側に
する前に減圧乾燥処理を行っているので、旋回により生
じる気流や遠心力、さらには旋回時の垂れに起因して、
薄膜11が不均一に乾き、あるいは膜厚ムラが生じてし
まうことを確実に防止することができる。よって、この
ような旋回に起因する不都合を防止することができるこ
とから、塗布によって形成する薄膜11の状態やその性
状を過度に留意する必要がなくなり、これにより薄膜1
1の設計自由度を高めることができる。また、減圧処理
と加熱処理とを併用して行っているので、より速くかつ
確実に薄膜11を乾燥することができ、これにより良好
な薄膜11を形成することができる。
Although the liquid material is applied by the method of applying the liquid material to the lower surface of the substrate 8, the substrate 8 coated with the thin film 11 is swung to reduce the pressure before the thin film 11 is placed on the upper side. Since the drying process is performed, due to the air flow and centrifugal force generated by the turning, and further due to the sagging at the time of turning,
It is possible to reliably prevent the thin film 11 from being unevenly dried or from having uneven film thickness. Therefore, since it is possible to prevent such an inconvenience due to the swirling, it is not necessary to pay attention to the state and properties of the thin film 11 formed by coating, and thus the thin film 1
The degree of freedom in designing 1 can be increased. Further, since the depressurization treatment and the heat treatment are performed in combination, the thin film 11 can be dried more quickly and surely, and thus the good thin film 11 can be formed.

【0027】なお、本発明は前記例に限定されることな
く、本発明の要旨を逸脱しない限り種々の変更が可能で
ある。例えば、乾燥工程の前工程である塗布工程が、液
体材料を上側から基板8の上面に塗布する場合において
も、本発明を適用することができる。その場合には、図
1(a)〜(c)に示した乾燥用カバー2の姿勢を予め
逆にし、側板2b側が下方に向き、カバー本体2aが上
側となるように配置しておく。そして、上側に基板8を
保持固定した吸着ステージ7に対し昇降機構3で下降さ
せ、この吸着ステージ7の上面側に側板2b…を突き当
てさせ、これにより収容空間12を形成する。以下、図
1(a)〜(c)に示した場合と同様にして減圧、さら
には加熱を行い、乾燥処理を行う。
The present invention is not limited to the above examples, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example, the present invention can be applied even in the case where the liquid material is applied from the upper side to the upper surface of the substrate 8 in the applying step which is a step before the drying step. In that case, the posture of the drying cover 2 shown in FIGS. 1A to 1C is reversed in advance, and the side plate 2b side faces downward and the cover body 2a faces upward. Then, the suction stage 7 holding and fixing the substrate 8 on the upper side is lowered by the elevating mechanism 3, and the side plates 2b ... Are made to abut against the upper surface side of the suction stage 7, thereby forming the accommodation space 12. Thereafter, in the same manner as in the case shown in FIGS. 1A to 1C, decompression and further heating are performed to perform a drying process.

【0028】このようにして乾燥処理を行った場合に
も、塗布工程の直後に乾燥用カバー2を吸着ステージ7
に被せ、減圧乾燥することができ、したがって塗布工程
から乾燥工程に至るまでの間の時間を従来に比べ格段に
短縮することができ、これにより乾燥工程前に薄膜11
が不均一に乾いてしまうのを防止し、良好な薄膜を形成
することができる。なお、このように液体材料を上側か
ら基板8の上面に塗布する場合には、基板8を保持する
ステージとして、吸着ステージ7に代えて単に基板8を
載置されるだけの、台としての機能しか持たないステー
ジを用いてもよい。
Even when the drying process is performed in this manner, the drying cover 2 is attached to the suction stage 7 immediately after the coating process.
Then, the time from the coating process to the drying process can be significantly shortened as compared with the conventional case, and the thin film 11 can be dried before the drying process.
Can be prevented from drying unevenly and a good thin film can be formed. When the liquid material is applied to the upper surface of the substrate 8 from the upper side as described above, the stage 8 holds the substrate 8 in place of the suction stage 7 and simply functions as a table. You may use the stage which has only.

【0029】また、前記例では、加熱手段6を乾燥用カ
バー2に設けたが、他に例えば、吸着ステージ(あるい
は前述した単なるステージ)にホットプレートの機能も
付加し、これによって基板8上の薄膜11を加熱乾燥す
るようにしてもよい。さらに、加熱手段6を設けること
なく、減圧処理のみで乾燥を行うようにしてもよい。ま
た、乾燥装置1に昇降機構3を設けず、吸着ステージ7
を搬送する側に昇降機能を付加し、これによって吸着ス
テージ7に乾燥用カバー2を突き当てさせるようにして
もよい。なお、本発明の乾燥方法により製造されるデバ
イスの例として、半導体素子、液晶素子、有機EL素
子、撮像素子(CCD)などの各種の電子素子や光学素
子が挙げられる。これらのデバイスの製造に際して、構
成要素となる膜やプロセス上使用される膜など種々の膜
は、その乾燥工程において本発明の乾燥方法が適用され
る。
Further, in the above example, the heating means 6 is provided on the drying cover 2, but, for example, a function of a hot plate is added to the adsorption stage (or the above-mentioned simple stage), so that the substrate 8 is provided. The thin film 11 may be heated and dried. Further, the heating means 6 may not be provided, and the drying may be performed only by the depressurization process. Further, the elevating mechanism 3 is not provided in the drying device 1, and the suction stage 7
It is also possible to add an elevating function to the side that conveys the so that the drying cover 2 abuts against the suction stage 7. Examples of devices manufactured by the drying method of the present invention include various electronic elements such as semiconductor elements, liquid crystal elements, organic EL elements, and image pickup elements (CCD), and optical elements. When manufacturing these devices, the drying method of the present invention is applied to various films such as a film used as a constituent element and a film used in a process.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように本発明の薄膜の乾燥
方法及び乾燥装置によれば、基板を覆った状態で乾燥用
カバーを前記ステージに被せ、その後乾燥用カバーとス
テージとの間を減圧するので、液体材料塗布直後に乾燥
用カバーをステージに被せ、減圧乾燥することができ、
したがって塗布工程から乾燥工程に至るまでの間の時間
を従来に比べ格段に短縮することができ、これにより乾
燥工程前に薄膜が不均一に乾いてしまうのを防止し、良
好な薄膜を形成することができる。
As described above, according to the thin film drying method and the drying apparatus of the present invention, the drying cover is covered on the stage while the substrate is covered, and then the pressure between the drying cover and the stage is reduced. As a result, it is possible to cover the stage with a drying cover immediately after applying the liquid material and dry under reduced pressure.
Therefore, the time from the coating process to the drying process can be significantly shortened compared to the conventional case, which prevents the thin film from drying unevenly before the drying process and forms a good thin film. be able to.

【0031】本発明のデバイスの製造方法によれば、乾
燥用カバー内を減圧しあるいは加熱して、薄膜を乾燥す
るので、塗布工程から乾燥工程に至るまでの間の時間を
従来に比べ格段に短縮することができ、これにより乾燥
工程前に薄膜が不均一に乾いてしまうのを防止すること
ができる。
According to the device manufacturing method of the present invention, the inside of the drying cover is depressurized or heated to dry the thin film, so that the time from the coating step to the drying step is significantly longer than in the past. It can be shortened, which can prevent the thin film from drying unevenly before the drying process.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 (a)〜(c)は、本発明の薄膜の乾燥装置
の一実施形態例を示すとともに、この乾燥装置による乾
燥方法を工程順に説明するための要部側断面図である。
FIG. 1A to FIG. 1C are side cross-sectional views of an essential part for explaining an embodiment of an apparatus for drying a thin film of the present invention and for explaining a drying method by this drying apparatus in the order of steps.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…乾燥装置、2…乾燥用カバー、5…減圧手段、6…
加熱手段、7…吸着ステージ、8…基板、11…薄膜、
12…収容空間
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Drying device, 2 ... Drying cover, 5 ... Decompression means, 6 ...
Heating means, 7 ... adsorption stage, 8 ... substrate, 11 ... thin film,
12 ... accommodation space

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に液体材料が塗布されて形成された
薄膜を乾燥する薄膜の乾燥方法であって、 ステージに前記基板を保持して前記液体材料を塗布し、
前記ステージによる前記基板の保持を維持したまま乾燥
用カバーを前記ステージに被せて該乾燥用カバーと前記
ステージとの空間に基板を収容し、 前記乾燥用カバーとステージとの空間を減圧して、前記
薄膜を乾燥することを特徴とする薄膜の乾燥方法。
1. A method of drying a thin film, which comprises drying a thin film formed by applying a liquid material to a substrate, comprising: holding the substrate on a stage to apply the liquid material;
While maintaining the holding of the substrate by the stage, the drying cover is covered on the stage to accommodate the substrate in the space between the drying cover and the stage, and the space between the drying cover and the stage is depressurized, A method for drying a thin film, which comprises drying the thin film.
【請求項2】 前記液体材料の塗布が、基板下面に対し
て液体材料を塗布する方法でなされ、前記乾燥用カバー
を、前記ステージの下側に被せて前記基板を収容するこ
とを特徴とする請求項1記載の薄膜の乾燥方法。
2. The liquid material is applied by a method of applying the liquid material to the lower surface of the substrate, and the drying cover is placed under the stage to accommodate the substrate. The method for drying a thin film according to claim 1.
【請求項3】 乾燥用カバーと前記ステージとの空間を
減圧するとともに、前記薄膜の加熱を行うことを特徴と
する請求項1又は2記載の薄膜の乾燥方法。
3. The method for drying a thin film according to claim 1, wherein the space between the drying cover and the stage is decompressed and the thin film is heated.
【請求項4】 基板に液体材料が塗布されて形成された
薄膜を乾燥する乾燥装置であって、 前記基板を保持するステージと、該ステージとの間で前
記基板を収容する収容空間を形成する乾燥用カバーと、
該乾燥用カバーに接続されて前記収容空間内を減圧する
減圧手段とを備えたことを特徴とする薄膜の乾燥装置。
4. A drying device for drying a thin film formed by applying a liquid material to a substrate, wherein a stage for holding the substrate and an accommodation space for accommodating the substrate are formed between the stage and the stage. A drying cover,
A thin film drying apparatus comprising: a decompression unit connected to the drying cover to decompress the inside of the accommodation space.
【請求項5】 前記ステージは、前記基板を吸着する吸
着手段を備えてなることを特徴とする請求項4記載の薄
膜の乾燥装置。
5. The thin film drying apparatus according to claim 4, wherein the stage is provided with a suction means for sucking the substrate.
【請求項6】 前記乾燥用カバーまたは前記ステージ
に、前記薄膜を加熱する加熱手段が設けられていること
を特徴とする請求項4又は5に記載の薄膜の乾燥装置。
6. The thin film drying apparatus according to claim 4, wherein the drying cover or the stage is provided with heating means for heating the thin film.
【請求項7】 基板に塗布された薄膜を乾燥させて製造
されるデバイスの製造方法であって、 前記基板をステージに載置する載置工程と、 前記ステージに載置された前記基板に前記薄膜を塗布す
る塗布工程と、 前記塗布膜を乾燥する乾燥工程を有し、 前記乾燥工程は、前記塗布工程後に行われ、前記ステー
ジに前記基板が載置された状態で乾燥用カバーを被せ、
減圧手段により減圧することによって行われることを特
徴とするデバイスの製造方法。
7. A method of manufacturing a device, which is manufactured by drying a thin film applied to a substrate, comprising: a mounting step of mounting the substrate on a stage; and a step of mounting the substrate on the stage on the substrate. There is a coating step of coating a thin film, and a drying step of drying the coating film, the drying step is performed after the coating step, and covers the drying cover in a state where the substrate is placed on the stage,
A method for manufacturing a device, which is performed by reducing the pressure by a pressure reducing means.
【請求項8】 基板に塗布された薄膜を乾燥させて製造
されるデバイスの製造方法であって、 前記基板をステージに載置する載置工程と、 前記ステージに載置された前記基板に前記薄膜を塗布す
る塗布工程と、 前記塗布膜を乾燥する乾燥工程を有し、 前記乾燥工程は、前記塗布工程後に行われ、前記ステー
ジに前記基板が載置された状態で乾燥用カバーを被せ、
加熱手段により加熱することによって行われることを特
徴とするデバイスの製造方法。
8. A method of manufacturing a device, which is manufactured by drying a thin film applied to a substrate, comprising: a mounting step of mounting the substrate on a stage; and a step of mounting the substrate on the stage on the substrate. There is a coating step of coating a thin film, and a drying step of drying the coating film, the drying step is performed after the coating step, and covers the drying cover in a state where the substrate is placed on the stage,
A method for manufacturing a device, which is performed by heating by a heating means.
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