JP2003242184A - Analysis model optimizing device and optimizing method - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、計測器による測
定データと解析データとを照合して解析モデルを最適化
する最適化装置および最適化方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optimizing apparatus and an optimizing method for optimizing an analysis model by comparing measurement data obtained by a measuring instrument with analysis data.
【０００２】[0002]
【従来の技術】例えば、製品構造の構造解析では、設計
変数や制約条件を加味した上で３次元シミュレーション
によって解析モデルを得ているが、この場合得られた解
析モデルの精度が従来から問題となっている。2. Description of the Related Art For example, in structural analysis of a product structure, an analysis model is obtained by three-dimensional simulation after considering design variables and constraints. In this case, the accuracy of the obtained analysis model has been a problem. Has become.
【０００３】従来、解析モデルの精度を検証する一手法
として、例えば特開平３−１８９５１７号公報に開示さ
れるような実測による測定値と構造解析による解析結果
との双方を表示するという技術がある。すなわち、図３
に示すように、例えば変位・歪ゲージなどの計測装置８
により測定された測定値は、ＣＰＵ１０を介して計測結
果記憶装置９に入力され、一方この測定値を入力データ
として解析プログラム記憶装置６内の解析プログラムを
用いてＣＰＵ１０で演算された解析結果は、解析結果記
憶装置７に入力される。そして、計測結果記憶装置９に
入力された測定値と解析結果記憶装置７の解析結果は、
表示制御装置２０を介して表示装置２１に入力される。
表示装置２１では、この測定値と解析結果とを同時に表
示して比較することができる。Conventionally, as one method for verifying the accuracy of an analytical model, there is a technique of displaying both measured values by actual measurement and analytical results by structural analysis, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 3-189517, for example. . That is, FIG.
As shown in, for example, a measuring device 8 such as a displacement / strain gauge
The measurement value measured by is input to the measurement result storage device 9 via the CPU 10, and the analysis result calculated by the CPU 10 using the analysis program in the analysis program storage device 6 with this measurement value as input data is It is input to the analysis result storage device 7. Then, the measurement value input to the measurement result storage device 9 and the analysis result of the analysis result storage device 7 are:
It is input to the display device 21 via the display control device 20.
The display device 21 can simultaneously display and compare the measured value and the analysis result.
【０００４】このような、測定値と解析結果言い換えれ
ば計測システムと解析システム、を統合した従来の比較
装置おいては、表示装置２１にて測定値と解析結果との
比較結果を図表で視覚的に確認することができ、しかも
測定値と解析結果との比較結果が、予め設定した許容範
囲内にないときには再び測定装置８により実測を行うこ
とで計測の信頼性を上げることができるという長所があ
る。In the conventional comparison device in which the measurement value and the analysis result, in other words, the measurement system and the analysis system are integrated, the comparison result of the measurement value and the analysis result is visually displayed on the display device 21 in the form of a chart. In addition, when the comparison result between the measurement value and the analysis result is not within the preset allowable range, the measurement device 8 can perform the actual measurement again to improve the reliability of the measurement. is there.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述したよ
うな従来の比較装置では、解析結果と測定値の誤差が生
じたとしても、その誤差は表示装置２１に表示されるだ
けに過ぎず、誤差を解析モデルに反映することができな
い。つまり、上記先行技術においては、解析結果と測定
値の誤差が最小となるように解析モデルを修正すること
は行われていない。However, in the conventional comparison device as described above, even if an error occurs between the analysis result and the measured value, the error is merely displayed on the display device 21, and the error is displayed. Cannot be reflected in the analytical model. That is, in the above-mentioned prior art, the analysis model is not modified so that the error between the analysis result and the measured value is minimized.
【０００６】また、解析結果すなわち解析モデルの精度
が、入力データあるいは作成アルゴリズムによって異な
ってくるということについては、一般に知られるところ
である。そして、仮にこの解析モデルの精度向上を図ろ
うとした場合、入力データや作成アルゴリズムの修正に
人員を費やし、多くの時間とコストがかかるということ
が問題視されている。It is generally known that the analysis result, that is, the accuracy of the analysis model varies depending on the input data or the creation algorithm. Then, if it is attempted to improve the accuracy of this analysis model, it takes a lot of time and cost to correct the input data and the creation algorithm, which is regarded as a problem.
【０００７】この発明は、上記に鑑みてなされたもの
で、解析モデルの精度を向上させるために時間とコスト
を要する人員をかけることなく、解析システム、計測シ
ステム、最適化システムを一つに統合することで、測定
値と解析結果の誤差を最小とする解析モデル最適化装置
および最適化方法を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above, and integrates an analysis system, a measurement system, and an optimization system into one without spending time and cost to improve the accuracy of the analysis model. By doing so, it is an object of the present invention to provide an analytical model optimizing apparatus and an optimizing method that minimize the error between the measured value and the analytical result.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明にかかる解析モデル最適化装置は、測定値
を得る測定システムと、解析用入力データを踏まえて解
析結果を得る解析システムと、目的値に照らし測定値と
解析結果との誤差を最小とする変数の探索をする最適化
システムとを有し、かつこれら各システムを統合する制
御プログラムを実行する中央処理装置を有することを特
徴とする。In order to achieve the above object, an analysis model optimizing apparatus according to the present invention comprises a measurement system for obtaining a measurement value, an analysis system for obtaining an analysis result based on analysis input data, An optimization system for searching for a variable that minimizes an error between a measurement value and an analysis result in light of an objective value, and a central processing unit for executing a control program that integrates each of these systems, To do.
【０００９】この発明によれば、測定システムおよび解
析システムに最適化システムを統合して、測定値と解析
結果との誤差を最小とするように最適化システムにて解
析用入力データ更には解析結果を最適化できることによ
り、時間とコストを要する人員をかけることなく解析モ
デルの精度を向上することができる。According to the present invention, the optimization system is integrated with the measurement system and the analysis system, and the optimization input system further analyzes the analysis input data and the analysis result so as to minimize the error between the measured value and the analysis result. By being able to optimize, the accuracy of the analysis model can be improved without spending time and cost of personnel.
【００１０】つぎの発明にかかる解析モデル最適化装置
は、上記の発明において、中央処理装置は、測定値と解
析結果とを比較してその誤差を検出する手段と、この誤
差が目的値の範囲内にあるか否かを判定する手段と、誤
差が目的値の範囲内にない場合最適化プログラムを用い
て解析用入力データに関する変数を探索して最適化する
手段と、を有することを特徴とする。The analysis model optimizing apparatus according to the next invention is the above invention, wherein the central processing unit compares the measured value with the analysis result to detect the error, and the error is within the range of the target value. And a means for determining whether or not the error is not within the range of the target value and a means for searching and optimizing a variable related to the input data for analysis by using an optimizing program. To do.
【００１１】この発明によれば、測定値と解析結果との
誤差を最小とするように中央処理装置にて最適化プログ
ラムを用いて解析用入力データを最適化したことによ
り、時間とコストを要する人員をかけることなく解析モ
デルの精度を向上することができる。According to the present invention, the central processing unit optimizes the analysis input data by using the optimization program so as to minimize the error between the measured value and the analysis result, which requires time and cost. The accuracy of the analysis model can be improved without manpower.
【００１２】つぎの発明にかかる解析モデル最適化方法
は、測定システムにて測定値を求め、解析システムにて
解析用入力データを踏まえて解析結果を求め、最適化シ
ステムにて目的値に照らし測定値と解析結果との誤差を
最小とする変数の探索をして最適化し、かつこれら各シ
ステムを統合する制御プログラムを実行することを特徴
とする。In the analysis model optimizing method according to the next invention, the measurement value is obtained by the measurement system, the analysis result is obtained by the analysis system in consideration of the input data for analysis, and the measurement is performed by the optimization system against the target value. It is characterized by executing a control program for searching and optimizing a variable that minimizes an error between a value and an analysis result and integrating these systems.
【００１３】この発明によれば、測定システムおよび解
析システムに最適化システムを統合して、測定値と解析
結果との誤差を最小とするように解析用入力データ更に
は解析結果を最適化できたことにより、時間とコストを
要する人員をかけることなく解析モデルの精度を向上す
ることができる。According to the present invention, the optimization system is integrated with the measurement system and the analysis system, and the analysis input data and the analysis result can be optimized so as to minimize the error between the measured value and the analysis result. As a result, the accuracy of the analysis model can be improved without spending time and cost of personnel.
【００１４】つぎの発明にかかる解析モデル最適化方法
は、上記の発明において、制御プログラムは、測定値と
解析結果とを比較してその誤差を検出し、この誤差が目
的値の範囲内にあるか否かを判定し、誤差が目的値の範
囲内にない場合最適化プログラムを用いて解析用入力デ
ータに関する変数を探索して最適化する、ことを実行す
ることを特徴とする。In the analytical model optimizing method according to the next invention, in the above invention, the control program detects the error by comparing the measured value with the analysis result, and the error is within the range of the target value. Whether or not the error is not within the range of the target value is determined, a variable related to the analysis input data is searched for and optimized using an optimization program.
【００１５】この発明によれば、制御プログラムの実行
をすることで測定値と解析結果との誤差を最小とするよ
うに最適化プログラムにて解析用入力データを最適化し
たことにより、時間とコストを要する人員をかけること
なく解析モデルの精度を向上することができる。According to the present invention, by executing the control program, the optimization input program optimizes the analysis input data so as to minimize the error between the measured value and the analysis result. It is possible to improve the accuracy of the analysis model without requiring personnel.
【００１６】[0016]
【発明の実施の形態】以下に添付図面の図１および図２
を参照して、この発明にかかる好適な実施の形態を詳細
に説明する。1 and 2 of the accompanying drawings.
Preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to.
【００１７】図１は、この発明の実施の形態である最適
化装置の構成を示すブロック図、図２は、処理手順を示
すフローチャートである。なお、図１にて、図３に示さ
れる同一部分には同符号を付す。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an optimizing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart showing a processing procedure. In FIG. 1, the same parts as those shown in FIG. 3 are designated by the same reference numerals.
【００１８】図１に示す最適化装置においては、中央処
理装置１０を中心として、計測システムＭ、解析システ
ムＡ、および最適化システムＯを有し、この各システム
Ｍ、Ａ、Ｏを統合する統合システム制御プログラムの記
憶装置１１、最適化済み解析用入力データ記憶装置１２
および最適化済み解析結果記憶装置１３を有する。The optimization apparatus shown in FIG. 1 has a measurement system M, an analysis system A, and an optimization system O centering on a central processing unit 10, and an integration system for integrating the respective systems M, A, O. Storage device 11 for system control program, input data storage device 12 for optimized analysis
And an optimized analysis result storage device 13.
【００１９】このうち、計測システムＭでは、3次元測
定器（ディジタイザ）、歪ゲージ、熱電対等にて構造
物、機械部品の変位、応力、温度等の物理量を測定する
測定装置８と、この測定装置８にて測定された測定値を
記憶する計測結果記憶装置９とを有する。この場合、測
定装置８の測定値は、中央処理装置（ＣＰＵ）１０を介
して三次元モデルとして計測結果記憶装置９に入力され
る。Among them, in the measuring system M, a three-dimensional measuring device (digitizer), a strain gauge, a thermocouple, etc., and a measuring device 8 for measuring physical quantities such as displacement, stress, temperature of structures, mechanical parts, etc. The measurement result storage device 9 stores the measurement values measured by the device 8. In this case, the measurement value of the measurement device 8 is input to the measurement result storage device 9 as a three-dimensional model via the central processing unit (CPU) 10.
【００２０】また、解析システムＡでは、自動メッシュ
作成プログラム等の解析用入力データ作成プログラムが
内蔵された解析用入力データ作成プログラム記憶装置４
と、この解析用入力データ作成プログラムを用いて作成
された解析用入力データを記憶する解析用入力データ記
憶装置５とを有し、解析用入力データは中央処理装置
（ＣＰＵ）１０を介して解析用入力データ記憶装置５に
入力される。更に、解析システムＡでは、有限要素法
（ＦＥＭと称する）、差分法（ＦＤＭと称する）等の解
析プログラムを記憶した解析プログラム記憶装置６と、
この解析プログラムを用いて得られた解析結果を記憶す
る解析結果記憶装置７とを有し、解析結果は中央処理装
置（ＣＰＵ）１０にて解析用入力データを解析プログラ
ムで演算処理することにより解析モデルである三次元デ
ータとして解析結果記憶装置７に入力される。Further, in the analysis system A, the analysis input data creation program storage device 4 in which the analysis input data creation program such as the automatic mesh creation program is built-in.
And an analysis input data storage device 5 for storing the analysis input data created by using this analysis input data creation program, and the analysis input data is analyzed via a central processing unit (CPU) 10. Input data storage device 5. Further, in the analysis system A, an analysis program storage device 6 that stores an analysis program such as a finite element method (referred to as FEM) or a difference method (referred to as FDM),
It has an analysis result storage device 7 for storing the analysis result obtained by using this analysis program, and the analysis result is analyzed by the arithmetic processing of the input data for analysis by the central processing unit (CPU) 10. It is input to the analysis result storage device 7 as three-dimensional data that is a model.
【００２１】また、統合システム制御プログラム記憶装
置１１に内蔵された統合システム制御プログラムによっ
て、中央処理装置（ＣＰＵ）１０では、計測結果記憶装
置９の測定値と解析結果記憶装置７の解析結果との比較
演算が実行され、この測定値と解析結果の誤差を得る。The integrated system control program stored in the integrated system control program storage device 11 causes the central processing unit (CPU) 10 to combine the measured value of the measurement result storage device 9 with the analysis result of the analysis result storage device 7. A comparison operation is executed to obtain the error between this measurement value and the analysis result.
【００２２】最適化システムＯでは、例えば前述の測定
値と解析結果との比較演算による誤差における許容範囲
あるいは最小範囲を目的値あるいは目的関数として記憶
する目的値記憶装置１と、メッシュ分割サイズ、境界条
件等の値や関数を変数として記憶する変数記憶装置３
と、応答曲面法、遺伝的アルゴリズム（ＧＡ）、もしく
はこれら双方等を用いた最適化プログラムを内蔵する最
適化プログラム記憶装置２とを有する。最適化にあたっ
ては、解析用入力データ記憶装置５内の解析用入力デー
タ、および解析プログラム記憶装置６内の解析プログラ
ムを用い、最適化プログラム記憶装置２内の最適化プロ
グラムによって目的値記憶装置１内の目的値である誤差
が最小となる変数記憶装置３内の変数を探索する。解析
用入力データの最適化演算は、中央処理装置（ＣＰＵ）
１０によって実行され、誤差を最小とする最適化済み解
析用入力データと最適化済み解析結果をそれぞれ最適化
済み解析用入力データ記憶装置１２と最適化済み解析結
果記憶装置１３とに出力する。統合システム制御プログ
ラム記憶装置１１内の統合システム制御プログラムは、
前述した誤差の検出、最適化演算等を統合して制御する
プログラムとなっており、中央処理装置（ＣＰＵ）１０
によって実行される。In the optimization system O, for example, a target value storage device 1 for storing an allowable range or a minimum range of an error due to a comparison calculation between the measured value and the analysis result as a target value or a target function, a mesh division size, and a boundary. Variable storage device 3 for storing values such as conditions and functions as variables
And an optimization program storage device 2 that incorporates an optimization program using a response surface method, a genetic algorithm (GA), or both of them. In the optimization, the analysis input data in the analysis input data storage device 5 and the analysis program in the analysis program storage device 6 are used, and the optimization program in the optimization program storage device 2 is used in the target value storage device 1. The variable in the variable storage device 3 having the minimum error, which is the target value of, is searched. The central processing unit (CPU) performs the optimization calculation of the input data for analysis.
10 and outputs the optimized analysis input data and the optimized analysis result that minimize the error to the optimized analysis input data storage device 12 and the optimized analysis result storage device 13, respectively. The integrated system control program in the integrated system control program storage device 11 is
It is a program that controls the above-mentioned error detection, optimization calculation, etc. by integrating them, and a central processing unit (CPU) 10
Executed by
【００２３】このようにして、計測システムＭ、解析シ
ステムＡ、最適化システムＯをひとつに統合することに
より測定値と解析結果の誤差を最小にする最適化が行わ
れ、解析モデルの精度を向上することができる。In this way, by integrating the measurement system M, the analysis system A, and the optimization system O into one, optimization is performed to minimize the error between the measurement value and the analysis result, and the accuracy of the analysis model is improved. can do.
【００２４】次に、図２に従って処理手順を説明する。Next, the processing procedure will be described with reference to FIG.
【００２５】ステップ１４にて作業を開始した後、ステ
ップ１６では、３次元測定器、歪ゲージ、熱電対等の計
測装置８により構造物、機械部品の変位、応力、温度等
の物理量を計測する。また、ステップ１５にて、解析プ
ログラム記憶装置６内のＦＥＭ、ＦＤＭ等の解析プログ
ラムを用いて、計測対象をモデル化した解析用入力デー
タの解析を実行する。この後、ステップ１７にて測定値
と解析結果とを比較し、統合システム制御プログラムに
て誤差チェックをする。ついで、ステップ１８にて、応
答曲面法、ＧＡ等の最適化プログラムを用いて誤差が最
小となるメッシュの分割サイズ、境界条件等の変数を探
索する。誤差によっては、このステップ１５，１７，１
８を繰り返す。誤差が最小となる最適化済み解析用入力
データと最適化済み解析結果は、統合システム制御プロ
グラム記憶装置１１内の統合システム制御プログラムを
用い中央処理装置（ＣＰＵ）１０を介して最適化済み解
析用入力データ記憶装置１２と最適化済み解析結果記憶
装置１３に入力する。After starting the work in step 14, in step 16, physical quantities such as displacement, stress and temperature of structures and mechanical parts are measured by a measuring device 8 such as a three-dimensional measuring instrument, a strain gauge, a thermocouple and the like. In step 15, an analysis program such as FEM or FDM in the analysis program storage device 6 is used to analyze the analysis input data that models the measurement target. Then, in step 17, the measured value and the analysis result are compared, and the integrated system control program checks the error. Next, in step 18, variables such as the mesh division size and the boundary condition that minimize the error are searched for using an optimization program such as a response surface method or GA. Depending on the error, this step 15, 17, 1
Repeat 8. The optimized analysis input data and the optimized analysis result that minimize the error are used for the optimized analysis via the central processing unit (CPU) 10 using the integrated system control program in the integrated system control program storage device 11. Input to the input data storage device 12 and the optimized analysis result storage device 13.
【００２６】上記により、変位、応力、温度等の測定値
と解析結果の誤差が最小となる解析用入力データを容易
に作成することができる。As described above, it is possible to easily create the analysis input data in which the error between the measured value of displacement, stress, temperature, etc. and the analysis result is minimized.
【００２７】なお、上述の説明では、構造解析に利用す
る場合について述べたが、本発明はその他多くの解析手
法にも利用できる。In the above description, the case where the present invention is used for structural analysis has been described, but the present invention can also be used for many other analysis methods.
【００２８】[0028]
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、測定システムおよび解析システムに最適化システム
を統合して、測定値と解析結果との誤差を最小とするよ
うに最適化システムにて解析用入力データ更には解析結
果を最適化できることにより、時間とコストを要する人
員をかけることなく解析モデルの精度を向上することが
できる。As described above, according to the present invention, the optimizing system is integrated with the measuring system and the analyzing system so that the error between the measurement value and the analysis result is minimized. Since the input data for analysis and further the analysis result can be optimized, the accuracy of the analysis model can be improved without spending time-consuming and costly personnel.
【００２９】つぎの発明によれば、測定値と解析結果と
の誤差を最小とするように中央処理装置にて最適化プロ
グラムを用いて解析用入力データを最適化したことによ
り、時間とコストを要する人員をかけることなく解析モ
デルの精度を向上することができる。According to the next invention, the central processing unit optimizes the analysis input data by using the optimization program so as to minimize the error between the measured value and the analysis result, thereby saving time and cost. The accuracy of the analysis model can be improved without spending the required personnel.
【００３０】つぎの方法の発明によれば、測定システム
および解析システムに最適化システムを統合して、測定
値と解析結果との誤差を最小とするように解析用入力デ
ータ更には解析結果を最適化できたことにより、時間と
コストを要する人員をかけることなく解析モデルの精度
を向上することができる。According to the invention of the following method, the optimization system is integrated with the measurement system and the analysis system, and the input data for analysis and the analysis result are optimized so as to minimize the error between the measured value and the analysis result. As a result, the accuracy of the analysis model can be improved without spending time and cost for personnel.
【００３１】つぎの方法の発明によれば、制御プログラ
ムの実行をすることで測定値と解析結果との誤差を最小
とするように最適化プログラムにて解析用入力データを
最適化したことにより、時間とコストを要する人員をか
けることなく解析モデルの精度を向上することができ
る。According to the invention of the following method, the analysis input data is optimized by the optimization program so that the error between the measured value and the analysis result is minimized by executing the control program. The accuracy of the analysis model can be improved without spending time and cost.
【図１】 この発明の実施の形態である解析モデル最適
化装置の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an analysis model optimizing apparatus that is an embodiment of the present invention.
【図２】 図１に示した解析モデル最適化装置の処理手
順を示すフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart showing a processing procedure of the analysis model optimizing device shown in FIG.
【図３】 従来例のブロック図である。FIG. 3 is a block diagram of a conventional example.
１ 目的値記憶装置、２ 最適化プログラム記憶装置、
３ 変数記憶装置、４解析用入力データ作成プログラム
記憶装置、５ 解析用入力データ記憶装置、６ 解析プ
ログラム記憶装置、７ 解析結果記憶装置、８ 測定装
置、９ 計測結果記憶装置、１０ 中央処理装置（ＣＰ
Ｕ）、１１ 統合システム制御プログラム記憶装置、１
２ 最適化済み解析用入力データ記憶装置、１３ 最適
化済み解析結果記憶装置、２０ 表示制御装置、２１
表示装置。1 target value storage device, 2 optimization program storage device,
3 variable storage device, 4 analysis input data creation program storage device, 5 analysis input data storage device, 6 analysis program storage device, 7 analysis result storage device, 8 measuring device, 9 measurement result storage device, 10 central processing unit ( CP
U), 11 integrated system control program storage device, 1
2 Optimized analysis input data storage device, 13 Optimized analysis result storage device, 20 Display control device, 21
Display device.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中島 靖 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 西村 浩之 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内 Ｆターム(参考） 5B046 JA07 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page (72) Inventor Yasushi Nakajima 2-3 2-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Inside Ryo Electric Co., Ltd. (72) Inventor Hiroyuki Nishimura 2-3 2-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Inside Ryo Electric Co., Ltd. F-term (reference) 5B046 JA07
Claims (4)
力データを踏まえて解析結果を得る解析システムと、目
的値に照らし測定値と解析結果との誤差を最小とする変
数の探索をする最適化システムとを有し、かつこれら各
システムを統合する制御プログラムを実行する中央処理
装置を有することを特徴とする解析モデル最適化装置。1. A measurement system for obtaining a measurement value, an analysis system for obtaining an analysis result based on input data for analysis, and an optimum method for searching for a variable that minimizes an error between the measurement value and the analysis result in light of a target value. And a central processing unit that executes a control program that integrates each of these systems.
比較してその誤差を検出する手段と、この誤差が目的値
の範囲内にあるか否かを判定する手段と、誤差が目的値
の範囲内にない場合最適化プログラムを用いて解析用入
力データに関する変数を探索して最適化する手段と、を
有することを特徴とする請求項１に記載の解析モデル最
適化装置。2. The central processing unit comprises means for comparing the measured value and the analysis result to detect an error thereof, means for judging whether or not the error is within a range of the target value, and the error being the object. The analysis model optimizing apparatus according to claim 1, further comprising means for searching for and optimizing a variable relating to the input data for analysis using an optimization program when the value is not within the range of values.
ステムにて解析用入力データを踏まえて解析結果を求
め、最適化システムにて目的値に照らし測定値と解析結
果との誤差を最小とする変数の探索をして最適化し、か
つこれら各システムを統合する制御プログラムを実行す
ることを特徴とする解析モデル最適化方法。3. The measurement value is obtained by the measurement system, the analysis result is obtained based on the input data for analysis by the analysis system, and the error between the measurement value and the analysis result is minimized by the optimization system. A method for optimizing an analytical model, characterized by executing a control program that searches for a variable to be optimized, and integrates these systems.
を比較してその誤差を検出し、この誤差が目的値の範囲
内にあるか否かを判定し、誤差が目的値の範囲内にない
場合最適化プログラムを用いて解析用入力データに関す
る変数を探索して最適化する、ことを実行することを特
徴とする請求項３に記載の解析モデル最適化方法。4. The control program compares the measured value with the analysis result to detect the error, determines whether or not the error is within the range of the target value, and the error is within the range of the target value. The analysis model optimizing method according to claim 3, further comprising: executing a step of searching for and optimizing a variable relating to the input data for analysis using an optimizing program if there is no such program.
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|---|---|---|---|
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