JP2003240667A - Leakage test method and device - Google Patents

Leakage test method and device

Info

Publication number
JP2003240667A
JP2003240667A JP2002038512A JP2002038512A JP2003240667A JP 2003240667 A JP2003240667 A JP 2003240667A JP 2002038512 A JP2002038512 A JP 2002038512A JP 2002038512 A JP2002038512 A JP 2002038512A JP 2003240667 A JP2003240667 A JP 2003240667A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
helium
inspection
leak
chamber
leakage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002038512A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2003240667A5 (en
Inventor
Hiroaki Sasaki
宏明 佐々木
Koji Shioya
浩司 塩屋
Atsushi Otani
篤史 大谷
Yoshikatsu Sekiai
良勝 堰合
Hironori Iwama
広則 岩間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2002038512A priority Critical patent/JP2003240667A/en
Publication of JP2003240667A publication Critical patent/JP2003240667A/en
Publication of JP2003240667A5 publication Critical patent/JP2003240667A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a leakage test method and a leakage inspection device improving increase in costs and problems in a vacuum form by changing to an atmospheric form and preventing drop in throughput of the device. <P>SOLUTION: This leakage test device 10 has structure in which a plurality of chambers 11 circulate required processes for the leakage test. The test device has upper and lower conveying passages 12 such as a conveyer and elevating machines 13 installed at both ends of the conveying passages 12 to form a closed conveying passage of the chambers. Instruments executing required processes of the leakage test of test target 20 housed in the chambers along the conveying passages are installed to inspect leakage during moving of the chambers. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばヘリウムガ
ス等の漏洩検査媒体(トレーサガス)を用いて、検査対
象物である各種テストワークの気密漏れを検査する漏れ
検査方法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a leakage inspection method and apparatus for inspecting airtight leakage of various test works which are inspection objects by using a leakage inspection medium (tracer gas) such as helium gas.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に漏れ検査には、漏れによって発生
した圧力変化によって検査を行う方法と、漏れ出たトレ
ーサガスの量によって検査を行う方法とがある。この圧
力変化による方法は、温度等の影響を受け易いため、微
少な漏れの検査にはトレーサガスによる方法が用いられ
ている。
2. Description of the Related Art Generally, there are two types of leak inspections, one is to inspect by a pressure change caused by leakage and the other is to inspect by the amount of leaked tracer gas. Since the method based on this pressure change is easily affected by temperature and the like, a method using tracer gas is used for inspecting for minute leaks.

【0003】この場合、図2に示すように真空チャンバ
1内に置いた検査対象物2に、ヘリウム充填器3からト
レーサガスとしてヘリウムを充填し、真空である真空チ
ャンバ1内に漏れ出たヘリウムを、質量分析を用いガス
検出器(ヘリウムリークディテクタ)4に導いて漏れ検
査を行う真空法によることが多い。なお、符号5は、真
空チャンバ1の排気ポンプであり、符号6は、検査対象
物2の排気ポンプである。しかしながら、この真空チャ
ンバ1を用いる場合、チャンバ内を真空引きする真空ポ
ンプ(排気ポンプ)5はチャンバ容積に応じて大型とな
り、排気時間も長くなる。また、真空チャンバ1も真空
に耐え、内面が汚染されにくいものが必要である。この
ため、検査対象物が大きくなるに従って、コスト、時間
とも多大にかかることとなる。更には、真空系を維持す
るためのメンテナンスも面倒である。
In this case, as shown in FIG. 2, the inspection object 2 placed in the vacuum chamber 1 is filled with helium as a tracer gas from the helium filling device 3, and helium leaks into the vacuum chamber 1 which is a vacuum. Is often conducted by a vacuum method in which a gas detector (helium leak detector) 4 is guided by mass spectrometry to perform a leak test. Reference numeral 5 is an exhaust pump of the vacuum chamber 1, and reference numeral 6 is an exhaust pump of the inspection object 2. However, when this vacuum chamber 1 is used, the vacuum pump (exhaust pump) 5 for evacuating the inside of the chamber becomes large according to the chamber volume, and the exhaust time also becomes long. Further, the vacuum chamber 1 also needs to be capable of withstanding a vacuum and having its inner surface not easily contaminated. For this reason, as the inspection object becomes larger, the cost and time will increase significantly. Furthermore, maintenance for maintaining the vacuum system is troublesome.

【0004】この問題を改善するものとして、チャンバ
内を大気圧とした気密検査方法が、特許第320352
8号公報により知られている。この気密検査方法は、検
査対象物を収容するチャンバ内を大気圧状態にして、検
査対象物からこの大気圧中に漏れ出たヘリウムを一定時
間拡散・撹拌したのちに、ヘリウムリークディテクタに
導く大気圧方式である。しかしながら、この大気圧方式
は真空方式と比べて検出力が劣る(高精度に検出するこ
とが不可能である)ため、検査する漏れ量が微少となる
に従って漏れ出たヘリウムをチャンバ内に蓄積し、濃度
を高めるための時間が長くなってしまう。このため、真
空方式に比べて検査装置のスループット(一定時間内の
検査数)が低くなり、装置の台数が増えるという問題が
ある。
As an improvement of this problem, an airtightness inspection method in which the inside of the chamber is at atmospheric pressure is disclosed in Japanese Patent No. 320352.
No. 8 publication. In this airtightness inspection method, the inside of the chamber containing the inspection object is set to the atmospheric pressure state, the helium leaked from the inspection object to the atmospheric pressure is diffused and stirred for a certain period of time, and then introduced into the helium leak detector. Atmospheric pressure method. However, this atmospheric pressure method is inferior in detection power to the vacuum method (it is impossible to detect with high accuracy), and therefore the leaked helium accumulates in the chamber as the leak amount to be inspected becomes minute. However, it takes a long time to increase the concentration. Therefore, the throughput of the inspection device (the number of inspections within a fixed time) becomes lower than that of the vacuum system, and there is a problem that the number of devices increases.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題に
鑑みなされたもので、その目的は、漏れ検査として大気
圧方式とすることで、真空方式に起因するコストアップ
やメンテナンスの問題の改善を図ると同時に、漏れ出た
ガスを蓄積することによる検査装置のスループットの低
下を防止することができる漏れ検査方法及び装置を提供
することである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems. An object of the present invention is to improve the cost and maintenance problems caused by the vacuum system by using an atmospheric pressure system as a leak test. At the same time, it is an object of the present invention to provide a leakage inspection method and device capable of preventing a decrease in throughput of the inspection device due to accumulation of leaked gas.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するための手段として、特許請求の範囲の各請求項に
記載の漏れ検査方法及び装置を提供する。請求項1に記
載の漏れ検査方法は、閉移送路内を循環する複数のチャ
ンバに検査対象物を収容し、閉移送路内を移動中に所要
の工程で検査対象物の漏れ検査を行うようにしたもので
あり、これによって、検査装置のスループットの改善が
図れる。
The present invention provides, as a means for solving the above-mentioned problems, a leak inspection method and apparatus according to each of the claims. The leak inspection method according to claim 1, wherein the inspection target is housed in a plurality of chambers circulating in the closed transfer path, and the leakage inspection of the inspection target is performed in a required process while moving in the closed transfer path. This makes it possible to improve the throughput of the inspection apparatus.

【0007】請求項2の漏れ検査方法は、漏れ検査の所
要の工程が、チャンバの排気及びヘリウムのゼロ点チェ
ック工程、ヘリウム封入工程、漏れヘリウムの蓄積工
程、チャンバ内の撹拌工程及びリークテスト工程である
ことを規定したものである。請求項3の漏れ検査方法
は、漏れヘリウムの蓄積時間を管理するようにしたもの
であり、これにより、正確な漏れを検出できる。請求項
3は、請求項1,2又は3の方法の発明を装置発明にし
たものであり、その作用効果は、請求項1〜3と同様で
ある。
According to a second aspect of the leak inspection method, the steps required for the leak inspection are the exhaust of the chamber and the zero point check of helium, the helium filling step, the leak helium accumulation step, the stirring step in the chamber, and the leak test step. Is specified. According to the leak inspection method of the third aspect, the leak helium accumulation time is managed, whereby the leak can be accurately detected. A third aspect of the invention is an apparatus invention of the method of the first, second or third aspect, and the operation and effect thereof are the same as those of the first to third aspects.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施の形態の漏れ検査方法及び装置について説明する。図
1は、本発明の漏れ検査装置の全体構成を概略で説明す
る。本発明の漏れ検査装置10は、検査対象物20を収
容する複数のチャンバ11が漏れ検査の所要の各工程を
循環する構造になっている。即ち、検査装置10内に
は、例えばコンベア等よりなる上下の移送路12と、こ
の上下の移送路12の両端に設けられた昇降機13とを
備えていて、チャンバ11の閉移送路が形成されてい
る。閉移送路の上部及び下部には、ファン14が設けら
れ、検査装置の周囲を排気して、周辺にヘリウムが漂う
のを防いでいる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A leak inspection method and apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 schematically illustrates the overall configuration of the leak inspection device of the present invention. The leak inspection apparatus 10 of the present invention has a structure in which a plurality of chambers 11 containing the inspection object 20 circulate through each required process of the leak inspection. That is, the inspection apparatus 10 is provided with upper and lower transfer paths 12 made of, for example, a conveyor and elevators 13 provided at both ends of the upper and lower transfer paths 12 to form a closed transfer path for the chamber 11. ing. Fans 14 are provided above and below the closed transfer path to exhaust air around the inspection device and prevent helium from drifting around.

【0009】この閉移送路に沿って、漏れ検査の所要の
工程を実施するための機器が設けられている。即ち、検
査対象物20内の排気を行う真空ポンプ15、大気中の
ヘリウムを検出する第1検出器(ヘリウムリークディテ
クタ)16、検査対象物20にヘリウムを封入するヘリ
ウム封入器17、検査対象物20からのヘリウムの漏れ
を検出する第2検出器(ヘリウムリークディテクタ)1
8及びヘリウムを回収する回収器19とが設けられてい
る。
Along this closed transfer path, equipment is provided for carrying out the required steps of the leak test. That is, a vacuum pump 15 for exhausting the inspection object 20, a first detector (helium leak detector) 16 for detecting helium in the atmosphere, a helium encapsulator 17 for enclosing helium in the inspection object 20, an inspection object Second detector (helium leak detector) 1 for detecting the leak of helium from 20
8 and a collector 19 for collecting helium.

【0010】上記のように構成された検査装置10の作
動について説明する。まず投入工程において、閉移送路
の所定位置で検査対象物20をチャンバ11内に投入し
て、チャンバ11の蓋11aを閉める。次いで排気・ゼ
ロ点チェック工程において、検査対象物20を真空ポン
プ15に接続し、検査対象物20内の排気を行い、その
後、検査対象物20を密栓する。同時にチャンバ11は
第1検出器16に接続され、チャンバ11内の気体を第
1検出器16に導いて大気中のヘリウムによる出力Iを
得る。
The operation of the inspection apparatus 10 configured as described above will be described. First, in the loading step, the inspection target 20 is loaded into the chamber 11 at a predetermined position of the closed transfer path, and the lid 11a of the chamber 11 is closed. Next, in the exhaust / zero point check process, the inspection target 20 is connected to the vacuum pump 15, the inside of the inspection target 20 is evacuated, and then the inspection target 20 is sealed. At the same time, the chamber 11 is connected to the first detector 16, and the gas in the chamber 11 is guided to the first detector 16 to obtain an output I by helium in the atmosphere.

【0011】内圧チェック・ヘリウム封入工程では、前
の工程で排気・密栓された検査対象物20に圧力計Pと
ヘリウム封入器17を接続したのち、真空度チェックと
ヘリウムの正圧での封入・密栓を行う。この真空度チェ
ックは検査対象物20の漏れの大きいものをヘリウム封
入前に見つけるために実施される。封入するヘリウム濃
度は、高い検出力(高精度の検出)を得るためには、濃
いものを使うのが望ましい。封入圧は、検査対象物20
の仕様に応じて決められるが、高い方が単位時間当りの
漏れ量が多くなり検出力を高くできる。
In the internal pressure check and helium filling process, after connecting the pressure gauge P and the helium filling device 17 to the inspection object 20 that has been exhausted and sealed in the previous process, the vacuum degree check and the filling of helium with a positive pressure are performed. Stopper tightly. This vacuum degree check is performed in order to find a large leak of the inspection object 20 before the helium is filled. It is desirable to use a dense helium concentration in order to obtain high detection power (high-precision detection). The filling pressure is 20
However, the higher the value, the greater the amount of leakage per unit time and the higher the detection power.

【0012】次いで検査対象物20を収容したチャンバ
11は昇降機13に上段から下段の移送路に移され、蓄
積工程が行われる。蓄積工程では、検査対象物20から
漏れ出したヘリウムのチャンバ11内での蓄積を行う。
蓄積時間を長く取ることで検出力を確保するために、必
要な工程数を設ける。何らかの故障によって検査装置1
0が停止すると蓄積時間が延びてしまう。この場合、蓄
積が増えるので漏れを大きめに検出するため、漏れを見
逃すことはないが、無視してよいものまで検出すること
になる。これを防ぐため、各チャンバ11に蓄積時間管
理用記録器21を取り付け、記録機能を持たせ管理す
る。即ち、ヘリウム封入時に封入時刻を記録し、後の工
程のリークテスト工程で蓄積時間を確認する。予定の蓄
積時間より長い場合、再検査をするか緩めの規格で検査
する。
Next, the chamber 11 containing the inspection object 20 is moved to the transfer path from the upper stage to the lower stage by the elevator 13, and the accumulation process is performed. In the accumulation step, helium leaking from the inspection object 20 is accumulated in the chamber 11.
The necessary number of steps is provided to secure detection power by taking a long accumulation time. Inspection device 1 due to some failure
When 0 stops, the accumulation time increases. In this case, since the amount of accumulation increases, the leak is detected in a large amount, so that the leak is not overlooked, but even the negligible one is detected. In order to prevent this, a storage time management recorder 21 is attached to each chamber 11 to have a recording function for management. That is, the sealing time is recorded when the helium is sealed, and the accumulation time is confirmed in the leak test process which is a subsequent process. If it is longer than the planned storage time, retest or loosen the standard.

【0013】撹拌工程では、検査対象物20から漏れ出
たヘリウムを均一な濃度になるようにチャンバ11内の
撹拌装置(図示せず)で撹拌する。この撹拌装置はファ
ン等によって実現できる。例えば、各チャンバ11内に
電動ファンを設置しておき、撹拌工程で電力を供給する
か、又は各チャンバ11内に設置したファンのシャフト
をチャンバ11外に延ばしておき、外部から機械駆動す
ることで撹拌が行われる。
In the stirring step, the helium leaked from the inspection object 20 is stirred by a stirring device (not shown) in the chamber 11 so as to have a uniform concentration. This stirring device can be realized by a fan or the like. For example, an electric fan may be installed in each chamber 11 to supply electric power in a stirring process, or a shaft of a fan installed in each chamber 11 may be extended outside the chamber 11 and mechanically driven from the outside. Stirring is carried out.

【0014】次のリークテスト工程では、検査対象物2
0からチャンバ11内に漏れ出たヘリウムを含有する気
体を第2検出器(ヘリウムリークディテクタ)18に導
いて、チャンバ11内のヘリウム濃度に応じた出力IIを
得る。この出力IIからゼロ点チェックで得られた出力I
を引いてヘリウムの漏れ量に対応した測定値とする。こ
こで出力Iを引き算するのは大気中のヘリウム濃度変動
の影響を除くためである。即ち、検査装置10周辺には
漏れ検査に使用したヘリウムが漂い、大気中のヘリウム
濃度が変化する恐れがあるからである。検査する漏れ量
が微少でない場合は、出力IIを測定値としてもよい。
In the next leak test process, the inspection object 2
The gas containing helium leaked from 0 to the chamber 11 is guided to the second detector (helium leak detector) 18 to obtain an output II according to the helium concentration in the chamber 11. Output I obtained from this output II by zero check
To obtain a measured value corresponding to the leak amount of helium. Here, the output I is subtracted in order to remove the influence of the fluctuation of the helium concentration in the atmosphere. That is, the helium used for the leak test floats around the inspection device 10, and the helium concentration in the atmosphere may change. If the amount of leakage to be inspected is not very small, output II may be used as the measured value.

【0015】出力Iと出力IIの差をとるにあたっては、
第1及び第2検出器(ヘリウムリークディテクタ)16
と18の感度を一致させておく必要がある。そのため適
当な管理間隔を決め、濃度のわかったヘリウムガスや漏
れ量のわかったマスターリークを用いて校正するものと
する。また、検出器16,18へのチャンバ11内の気
体を導くにあたっては、検出器側の配管内を負圧にして
おくと、測定の高速化が図れる。
In taking the difference between the output I and the output II,
First and second detectors (helium leak detector) 16
It is necessary to match the sensitivities of 18 and 18. Therefore, an appropriate control interval should be determined and calibration should be performed using helium gas with a known concentration or master leak with a known leak amount. Further, when introducing the gas in the chamber 11 to the detectors 16 and 18, it is possible to speed up the measurement by setting a negative pressure in the pipe on the detector side.

【0016】このリークテスト工程において、チャンバ
11からのヘリウム含有気体の導入を最初から継続して
行わずに、短時間導入して大きな漏れをチェックしたの
ちに継続して導入するとヘリウムの大漏れによる第2検
出器18の汚染が防止できる。上述した説明において
は、漏洩検査ガス(トレーサガス)としてヘリウムを使
用することで説明しているが、漏洩検査ガスはこれに限
定されるものではない。また、検出器もヘリウムリーク
ディテクタのような質量分析を使ったものに限られな
い。即ち、炭酸ガスやメタン等をトレーサガスに使い、
レーザ光の吸収を検出するなど他のガスと検出法との組
み合わせによることも可能である。
In this leak test process, if the helium-containing gas is not continuously introduced from the chamber 11 from the beginning, but it is introduced for a short time and checked for a large leak, and then continuously introduced, a large helium leak occurs. Contamination of the second detector 18 can be prevented. In the above description, helium is used as the leakage inspection gas (tracer gas), but the leakage inspection gas is not limited to this. Further, the detector is not limited to one using mass spectrometry such as a helium leak detector. That is, using carbon dioxide, methane, etc. as tracer gas,
It is also possible to use a combination of another gas and a detection method such as detecting absorption of laser light.

【0017】次のヘリウム回収工程では、検査対象物2
0と回収器19とを接続し、検査対象物20内に封入し
たヘリウムの回収を行う。濃度の高いヘリウムを使用す
る場合においては、使用済みのヘリウムをその場に放出
するのは経済的でないことと、大気レベルでのヘリウム
濃度の変動を招くので、ヘリウムを回収することが望ま
しい。100%ヘリウムを使用している場合でも、回収
して再利用することで濃度が低下するので、交換期間を
定めるか、濃度をチェックして新しいものに取り替え
る。
In the next helium recovery step, the inspection object 2
0 and the recovery device 19 are connected to recover the helium sealed in the inspection object 20. When using a high concentration of helium, it is desirable to recover the helium because it is not economical to release the used helium in-situ and causes fluctuation of the helium concentration at the atmospheric level. Even if 100% helium is used, the concentration will drop by collecting and reusing it. Therefore, set a replacement period or check the concentration and replace it with a new one.

【0018】ヘリウムの回収を終えた検査対象物20
は、昇降機13によって下段から上段の移送路12に移
される。取り出し工程では、チャンバ11の蓋11aを
開けて、検査対象物20をチャンバ11から取り出す。
Inspection object 20 for which helium has been recovered
Is transferred from the lower stage to the upper transfer route 12 by the elevator 13. In the taking-out step, the lid 11 a of the chamber 11 is opened and the inspection target 20 is taken out of the chamber 11.

【0019】次いで洗浄(クリーニング)工程で、漏れ
によってチャンバ11内に残留しているヘリウムを取り
除き、検査装置10の設置場所から排除する。図1にお
いては、プッシュエア22を吹き付け、フード14aと
ファン14とで排気している。なお、この洗浄は、チャ
ンバ11を空ける前、又は検査対象物20をチャンバ1
1に入れて蓋11aを閉めたのちにエアでフラッシング
してもよい。検査対象物20内に正圧のヘリウムが封入
されている工程の周囲は、ファン14で排気するのが望
ましい。これは、密栓の不良等で過大なヘリウムが雰囲
気に流れ出て、検査装置10周辺に漂うのを防ぐためで
ある。
Then, in a cleaning process, helium remaining in the chamber 11 due to leakage is removed and removed from the installation place of the inspection apparatus 10. In FIG. 1, push air 22 is blown and exhausted by the hood 14 a and the fan 14. It should be noted that this cleaning is performed before the chamber 11 is emptied or the inspection target 20 is removed from the chamber 1.
It may be flushed with air after the lid 11a is closed by putting it in the No. 1 unit. It is desirable to exhaust the periphery of the process in which the positive pressure helium is enclosed in the inspection object 20 by the fan 14. This is to prevent excessive helium from flowing into the atmosphere and drifting around the inspection device 10 due to a defective stopper or the like.

【0020】なお、図1には示されていないが、チャン
バ11には検出器16,18の吸引口と反対側に逆止弁
(図示せず)を設けるのが望ましい。この逆止弁は、チ
ャンバ11内が負圧となったときに開き、外部のエアを
チャンバ11内に進入可能とする。これによって、耐圧
を要しない簡易なチャンバ11で密閉性が悪くても、検
出器へのガスの導入で負圧となったチャンバ11が変形
するのを防止できる。またチャンバ11内を大気圧に保
つように働くので、検出器へのガスの導入が妨げられな
い。なお、この逆止弁はチャンバ11を検査装置の他の
構成要素から切り離さない構成でも採用できる。また、
上記で説明した各工程は、図1の配置に限らず、適宜変
更可能である。
Although not shown in FIG. 1, it is desirable that the chamber 11 be provided with a check valve (not shown) on the side opposite to the suction ports of the detectors 16 and 18. The check valve opens when the pressure in the chamber 11 becomes negative, and allows outside air to enter the chamber 11. As a result, even if the airtightness is poor in the simple chamber 11 that does not require a pressure resistance, it is possible to prevent the chamber 11 that has become negative pressure due to the introduction of gas into the detector from being deformed. Further, since it works to keep the inside of the chamber 11 at the atmospheric pressure, the introduction of gas into the detector is not hindered. The check valve can also be adopted in a configuration in which the chamber 11 is not separated from other components of the inspection device. Also,
The steps described above are not limited to the arrangement shown in FIG. 1 and can be changed as appropriate.

【0021】以上の説明から分るように、本発明におい
ては、チャンバを検査装置の他の構成要素から切り離す
ことで、一台の検査装置にチャンバを複数持つことがで
き、漏れヘリウムの蓄積時間を長くしても装置の一定時
間での処理数を減らさずに済む。即ち、複数のチャンバ
内のガスを順に検出することで検査装置のスループット
を低下させることがない。また、チャンバを検査装置の
上下を使って循環する構造であり、その面積効率がよい
(装置面積を小さくできる)。更にチャンバに逆止弁を
付けることで、検出時にチャンバ内の圧力を大気圧に保
持できるので、チャンバは、真空耐圧を必要としない簡
易なものでよい。例えば板金ものやアクリルケースでも
採用可能である。またチャンバ内を真空排気する必要が
ないのでコストダウンと時間短縮が図れると共に、チャ
ンバ内壁の汚れ等による真空系のメンテナンスの負担も
減少する。更には、チャンバに漏れの蓄積時間を管理す
るための記録機能を持たせるようにすることにより、漏
れの誤判定が防止できる。
As can be seen from the above description, in the present invention, by separating the chamber from the other components of the inspection device, one inspection device can have a plurality of chambers, and the accumulation time of leaked helium can be increased. Even if the length is increased, it is not necessary to reduce the number of processes in the device for a certain period of time. That is, by sequentially detecting the gas in the plurality of chambers, the throughput of the inspection device is not reduced. In addition, the structure is such that the chamber is circulated using the upper and lower sides of the inspection device, and its area efficiency is good (the device area can be reduced). Further, by attaching a check valve to the chamber, the pressure in the chamber can be maintained at the atmospheric pressure at the time of detection, so that the chamber may be a simple one that does not require a vacuum pressure resistance. For example, a sheet metal product or an acrylic case can also be used. Further, since it is not necessary to evacuate the inside of the chamber, the cost and time can be reduced, and the burden of maintenance of the vacuum system due to dirt on the inner wall of the chamber is also reduced. Further, by making the chamber have a recording function for managing the accumulation time of leakage, it is possible to prevent erroneous determination of leakage.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態の漏れ検査装置の概略の全
体構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic overall configuration of a leak inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】真空法による従来のヘリウムリーク検査装置の
全体構成を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an overall configuration of a conventional helium leak inspection device using a vacuum method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…(漏れ)検査装置 11…チャンバ 12…移送路 13…昇降機 14…ファン 15…真空ポンプ 16,18…(第1、第2)検出器 17…ヘリウム封入器 19…回収器 20…検査対象物 21…蓄積時間管理用記録器 22…プッシュエア 10 ... (Leakage) inspection device 11 ... Chamber 12 ... Transport path 13 ... Elevator 14 ... fan 15 ... Vacuum pump 16, 18 ... (First and second) detectors 17 ... Helium enclosure 19 ... collector 20 ... Inspection object 21 ... Recorder for storage time management 22 ... Push air

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大谷 篤史 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 (72)発明者 堰合 良勝 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 (72)発明者 岩間 広則 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 Fターム(参考) 2G067 BB02 BB03 BB04 BB12 BB25 CC13 DD17 DD18 EE11    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Atsushi Otani             1-1, Showa-cho, Kariya city, Aichi stock market             Inside the company DENSO (72) Inventor Yoshikatsu Yagoi             1-1, Showa-cho, Kariya city, Aichi stock market             Inside the company DENSO (72) Inventor Hironori Iwama             1-1, Showa-cho, Kariya city, Aichi stock market             Inside the company DENSO F term (reference) 2G067 BB02 BB03 BB04 BB12 BB25                       CC13 DD17 DD18 EE11

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ヘリウム等の漏洩検査媒体を検査対象物
内に封入して漏れを検査する漏れ検査方法において、循
環する閉移送路内の複数のチャンバに、所定の位置で検
査対象物を収容し、前記閉移送路内を移動中に、前記チ
ャンバ内に収容された前記検査対象物に対して所要の工
程で漏れ検査が行われ、検査終了後に前記チャンバ内か
ら前記検査対象物が取り出されることを特徴とする漏れ
検査方法。
1. In a leak inspection method for inspecting a leak by enclosing a leak inspection medium such as helium in an inspection object, the inspection object is accommodated at a predetermined position in a plurality of chambers in a circulating closed transfer path. Then, during the movement in the closed transfer path, a leak test is performed on the inspection target housed in the chamber in a required process, and the inspection target is taken out of the chamber after the inspection is completed. A leak inspection method characterized by the above.
【請求項2】 前記所要の工程が、前記検査対象物内の
排気及びヘリウムのゼロ点チェック工程、前記検査対象
物へのヘリウム封入工程、前記チャンバ内への漏れヘリ
ウムの蓄積工程、前記チャンバ内の撹拌工程及びヘリウ
ムのリークテスト工程を含むことを特徴とする請求項1
に記載の漏れ検査方法。
2. The required steps include exhausting the inside of the inspection object and a zero-point check of helium, enclosing the helium in the inspection object, accumulating leaked helium in the chamber, and inside the chamber. 2. The method according to claim 1, further comprising a stirring step of 1 and a leak test step of helium.
Leak inspection method described in.
【請求項3】 前記漏れヘリウムの蓄積時間を管理する
ことを特徴とする請求項2に記載の漏れ検査方法。
3. The leak inspection method according to claim 2, wherein the storage time of the leaked helium is managed.
【請求項4】 請求項1,2又は3に記載の漏れ検査方
法を実施するための漏れ検査装置。
4. A leak inspection apparatus for performing the leak inspection method according to claim 1, 2.
JP2002038512A 2002-02-15 2002-02-15 Leakage test method and device Pending JP2003240667A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002038512A JP2003240667A (en) 2002-02-15 2002-02-15 Leakage test method and device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002038512A JP2003240667A (en) 2002-02-15 2002-02-15 Leakage test method and device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003240667A true JP2003240667A (en) 2003-08-27
JP2003240667A5 JP2003240667A5 (en) 2005-03-17

Family

ID=27779802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002038512A Pending JP2003240667A (en) 2002-02-15 2002-02-15 Leakage test method and device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003240667A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007271558A (en) * 2006-03-31 2007-10-18 Denso Corp Leakage testing apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007271558A (en) * 2006-03-31 2007-10-18 Denso Corp Leakage testing apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101501817B (en) Method and device for removing pollution from a confined environment
US3888111A (en) Sealed beam headlamp unit leak detection system
US9857264B2 (en) Leak testing apparatus and method
US8893543B2 (en) Leak detection method
US10578513B2 (en) Method for controlling the leaktightness of sealed products and installation for the detection of leaks
KR20110055335A (en) Leak detection system
JP2009244284A (en) Method for inspecting and localizing leaks and suitable device for carrying out the method
JP3698108B2 (en) Airtight leak inspection method and apparatus
JP2008209220A (en) Leak inspection method and device
ITPD20110150A1 (en) APPARATUS FOR THE DETECTION OF LOSSES OF A HOLDING COMPONENT AND A RELATED DETECTION PROCESS
US20150226629A1 (en) System and method for leak inspection
US4427893A (en) Apparatus and method for storing spent fuel assemblies
JP2003240667A (en) Leakage test method and device
JP4277351B2 (en) Leak inspection apparatus and leak inspection apparatus calibration method
JP2013015349A (en) Radioactive gas leakage amount measuring apparatus and radioactive gas leakage amount measuring method
JP3817916B2 (en) Leak test equipment
JP4091367B2 (en) Leak inspection method
JP5098732B2 (en) Airtight leakage inspection method and airtight leakage inspection device
JP4026579B2 (en) Airtight leak inspection method and apparatus
JP2001033343A (en) Method and device for leak test
US20210396622A1 (en) Apparatus and method for automatic leak detection
JP2004212373A (en) Apparatus and method for leakage test
JP2007095728A (en) Device manufacturing apparatus and leak check method
JP4002148B2 (en) Heat pipe leak inspection method and inspection apparatus therefor
JP2005114611A (en) Gas tightness leak inspection method and device

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040423

A621 Written request for application examination

Effective date: 20040423

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050711

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20060411

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20060530

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20070612

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071016