JP2003232337A - Method of manufacturing rod for painting device - Google Patents

Method of manufacturing rod for painting device

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JP2003232337A
JP2003232337A JP2002031697A JP2002031697A JP2003232337A JP 2003232337 A JP2003232337 A JP 2003232337A JP 2002031697 A JP2002031697 A JP 2002031697A JP 2002031697 A JP2002031697 A JP 2002031697A JP 2003232337 A JP2003232337 A JP 2003232337A
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Japan
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film
base material
rod
coating
chamber
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JP2002031697A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Oshima
篤 大島
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a rod for painting device where a wear-resistant film is uniformly formed on a base material. <P>SOLUTION: This method comprises: an arranging process for arranging the base material at a setting position in a chamber 18 of an ion plating device 16; a first depositing process for depositing a film 14A by vapor-depositing a depositing material from a vapor-depositing source 20 from an end 12L of the base material 12 to a central part 12M; a replacing process for replacing the replacing position of the end 12L with the other end 12R of the base material 12; and a second depositing process for depositing a film 14B by vapor- depositing a film material from the vapor-depositing source 20 from the other end 12R to the central part 12M of the base material 12M. Therefore, a film of uniform thickness can be obtained as a whole, even if the base material 12 is a long one. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、耐磨耗性の皮膜が
表面に形成されている塗工装置用ロッドの製造方法に関
し、更に詳細には、連続走行するウエブ等の被塗布体に
塗布液を塗布するのに最適な塗工装置用ロッドの製造方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a rod for a coating apparatus, the surface of which is provided with a wear-resistant coating, and more specifically, it is applied to an object to be coated such as a continuously running web. The present invention relates to a method of manufacturing a rod for a coating device, which is most suitable for applying a liquid.

【0002】[0002]

【従来の技術】感光材料、写真製版材料、磁気記録材
料、記録紙材料、感光性平板印刷版などを製造する際、
薄い金属板、紙、フィルム等からなるシート状或いはウ
エブ状の被塗布体(被塗工基材)を長手方向に連続走行
させつつ片面側に塗布液(感光液)を塗布することが広
く行われている。
2. Description of the Related Art When manufacturing photosensitive materials, photolithographic materials, magnetic recording materials, recording paper materials, photosensitive lithographic printing plates, etc.
It is widely practiced to apply a coating liquid (photosensitive liquid) to one side while continuously running a sheet-shaped or web-shaped substrate (substrate to be coated) made of a thin metal plate, paper, film, etc. in the longitudinal direction. It is being appreciated.

【0003】この塗布を行う際、被塗布体の塗布面に塗
工装置用ロッド(バー)を当接させ、ロッド表面に塗布
液を供給しつつ塗工装置用ロッドを回転させて塗布して
いることが多い。なお、この塗布方法はバー塗布法と呼
ばれている。
When performing this coating, a coating device rod (bar) is brought into contact with the coated surface of the object to be coated, and the coating liquid is supplied to the surface of the rod while the coating device rod is rotated to apply the coating liquid. Often This coating method is called a bar coating method.

【0004】この塗工装置用ロッドの表面には、一般
に、耐磨耗性の皮膜が形成されている。皮膜の形成は、
メッキ、物理蒸着、化学蒸着等、様々な手法で行われ得
るが、真空炉(チャンバ)を用い、イオンプレーティン
グ等の物理蒸着法で成膜することが多い。耐磨耗性の観
点上、皮膜は均一に形成されていることが好ましく、こ
のため、イオンプレーティングで成膜する際、この皮膜
を均一に形成できるように種々の工夫がされている。
A wear-resistant film is generally formed on the surface of the coating apparatus rod. The film formation is
Although various methods such as plating, physical vapor deposition, and chemical vapor deposition can be used, a vacuum furnace (chamber) is often used to form a film by a physical vapor deposition method such as ion plating. From the viewpoint of abrasion resistance, it is preferable that the film is uniformly formed. Therefore, when forming the film by ion plating, various measures have been taken so that the film can be uniformly formed.

【0005】例えば、特開昭63−192855号で
は、大面積に均一な膜をコーティングするために、イオ
ン化率を向上させている。また、特開平01−2406
46号や特開平01−252764号では、大面積に均
一な膜をコーティングするために、イオン化率を向上さ
せ、成膜速度を高速にしている。
For example, in JP-A-63-192855, the ionization rate is improved in order to coat a large area with a uniform film. In addition, JP-A-01-2406
No. 46 and Japanese Patent Laid-Open No. 01-252764, in order to coat a large area with a uniform film, the ionization rate is improved and the film formation speed is increased.

【0006】しかし、被成膜体である円柱状の母材があ
る程度長くなると、一般的なチャンバではこの母材を収
容しきれない。また、収容できても、このような長い被
成膜体を収容するような大型のチャンバでは、チャンバ
の中心から離れた位置に蒸着源が設けられていることが
多く、この場合、チャンバの寸法に制約され、母材を蒸
着源の真上に配置できないことが多い。このため、蒸着
源に近い母材部位では皮膜が厚く成膜され、蒸着源から
遠い母材部位では皮膜が薄く成膜されるという問題が生
じていた。また、蒸着源の真上に母材の中心を配置でき
る場合であっても、母材が長い場合、両端部では、中央
部に比べ、成膜される皮膜の厚さが薄いという問題が生
じていた。
However, if the columnar base material that is the film-forming target becomes long to a certain extent, this base material cannot be accommodated in a general chamber. Further, in a large-sized chamber that can accommodate such a long film-forming target even if it can be accommodated, a vapor deposition source is often provided at a position away from the center of the chamber. In many cases, the base material cannot be placed directly above the vapor deposition source. For this reason, there has been a problem that a thick film is formed on the base material portion near the vapor deposition source and a thin film is formed on the base material portion far from the vapor deposition source. Even if the center of the base material can be placed directly above the vapor deposition source, if the base material is long, there is a problem that the thickness of the film formed at both ends is smaller than that at the center. Was there.

【0007】なお、特開平02−077573号や特開
平02−079764号では、被成膜体である長尺物を
連続して走行させつつ、イオンプレーティングにより皮
膜を均一に形成している例が挙げられているが、塗工装
置用ロッドの母材のように非連続なものに成膜する場合
には適用できない。
In Japanese Patent Laid-Open Nos. 02-077753 and 02-079764, an example in which a film is uniformly formed by ion plating while a long object as a film-forming object is continuously run However, it cannot be applied when a film is formed on a discontinuous material such as a base material of a rod for a coating device.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記事実を
考慮して、耐磨耗性の皮膜が均一な膜厚で母材に形成さ
れている塗工装置用ロッドの製造方法を提供することを
課題とする。
In consideration of the above facts, the present invention provides a method for manufacturing a rod for a coating apparatus, in which a wear resistant film is formed on a base material with a uniform film thickness. This is an issue.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明で
は、円柱状の母材の表面に耐磨耗性の皮膜が成膜された
塗工装置用ロッドの製造方法であって、蒸着装置のチャ
ンバ内に前記母材を配置する配置工程と、前記母材の一
端部から中央部にわたって蒸着源からの皮膜物質を蒸着
させる第1成膜工程と、前記母材の一端部と他端部との
配置位置を入れ替えた状態に再配置する入替工程と、前
記母材の他端部から中央部にわたって前記蒸着源からの
皮膜物質を蒸着させる第2成膜工程と、を行うことを特
徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a rod for a coating apparatus, comprising a cylindrical base material and a wear-resistant coating film formed on the surface of the base material. A disposing step of disposing the base material in a chamber of the apparatus, a first film forming step of evaporating a coating material from an evaporation source from one end to a central portion of the base material, and one end and the other end of the base material And a second film forming step of depositing a coating material from the vapor deposition source from the other end to the central portion of the base material. And

【0010】蒸着装置としては、通常、チャンバ内での
成膜可能範囲が予め判っている物理蒸着装置を用いる。
As the vapor deposition apparatus, a physical vapor deposition apparatus whose deposition range within the chamber is known in advance is usually used.

【0011】請求項1に記載の発明により、第1成膜工
程での成膜可能範囲を超えた母材部分に、第2成膜工程
で成膜することができる。また、2回に分けて成膜する
ので、従来に比べて膜厚を更に厚くすることが可能にな
る。また、母材長さが成膜可能範囲長さの2倍以下であ
れば、母材全体にわたって皮膜を成膜することができ
る。
According to the first aspect of the present invention, it is possible to form a film in the second film forming step on a base material portion that exceeds the film forming possible range in the first film forming step. Further, since the film formation is performed twice, it is possible to further increase the film thickness as compared with the conventional case. If the length of the base material is not more than twice the length of the film forming range, the film can be formed over the entire base material.

【0012】入替工程では、例えば、母材をチャンバか
ら取り出し、配置工程でチャンバに挿入した方向とは逆
向きに母材を挿入して再配置する。これにより、特別な
機構を設けることなく入替工程を容易に行うことができ
る。
In the replacement step, for example, the base material is taken out of the chamber, and the base material is inserted and rearranged in the direction opposite to the direction in which the base material is inserted in the chamber in the arrangement step. Thereby, the replacement process can be easily performed without providing a special mechanism.

【0013】請求項2に記載の発明では、前記第1成膜
工程では、前記母材の一端部側から中央部側に向けてな
だらかに薄くなった第1皮膜漸減部が形成されるように
成膜し、前記第2成膜工程では、前記母材の他端部側か
ら中央部側に向けてなだらかに薄くなった第2皮膜漸減
部が、前記第1皮膜漸減部の上に形成されるように成膜
することを特徴とする。
According to the second aspect of the present invention, in the first film forming step, the first film tapering portion is formed which is gradually thinned from the one end side of the base material toward the central part side. A film is formed, and in the second film forming step, a second film taper portion which is gradually thinned from the other end portion side to the central portion side of the base material is formed on the first film taper portion. The film is formed as described above.

【0014】これにより、母材が長くても、全体として
均一な膜厚の皮膜を得ることが可能になる。
As a result, even if the base material is long, it is possible to obtain a film having a uniform film thickness as a whole.

【0015】請求項3に記載の発明では、前記配置工程
では、成膜可能範囲の境を基準にして前記母材の位置設
定を行うことを特徴とする。
According to a third aspect of the invention, in the arranging step, the position of the base material is set on the basis of the boundary of the film-forming range.

【0016】これにより、母材の位置設定を行い易く、
また、皮膜が均一な膜厚で形成される母材の設定位置を
見い出し易い。
This makes it easy to set the position of the base material,
Further, it is easy to find the set position of the base material where the film is formed with a uniform film thickness.

【0017】なお、蒸着装置毎に母材の適切な配置位置
が異なるので、皮膜を均一な膜厚で形成する観点では、
位置設定を蒸着装置毎に行うことが好ましい。
Since the appropriate arrangement position of the base material is different for each vapor deposition apparatus, from the viewpoint of forming a film with a uniform thickness,
Position setting is preferably performed for each vapor deposition device.

【0018】請求項4に記載の発明では、前記蒸着装置
としてイオンプレーティング装置を用いることを特徴と
する。
According to a fourth aspect of the invention, an ion plating device is used as the vapor deposition device.

【0019】これにより、付着力が強くて膜厚が均一で
ある皮膜を形成し易い。
This makes it easy to form a film having a strong adhesive force and a uniform film thickness.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下、実施形態を挙げ、本発明の
実施の形態について説明する。なお、本発明の実施の形
態では、簡略のため、塗工装置用ロッドを単にロッドと
いう。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to embodiments. In the embodiment of the present invention, the coating device rod is simply referred to as a rod for simplification.

【0021】本発明の一実施形態に係るロッドの製造方
法は、図1に示すように、走行するウエブWに塗布液L
を塗布するのに用いるロッドの製造方法である。
In the method of manufacturing a rod according to the embodiment of the present invention, as shown in FIG.
It is a method of manufacturing a rod used for applying.

【0022】ロッド10は、母材12の表面に耐磨耗性
の皮膜14が成膜されたロッドである。母材12は、ス
テンレス鋼製であることが多い。皮膜14はイオンプレ
ーティング装置で成膜することにより形成する。
The rod 10 is a rod in which a wear resistant coating 14 is formed on the surface of a base material 12. The base material 12 is often made of stainless steel. The film 14 is formed by using an ion plating device.

【0023】[イオンプレーティング装置の構成]図2
に示すように、皮膜をコーティングするイオンプレーテ
ィング装置16は、チャンバ18と、チャンバの中に設
置された蒸着源20と、を有する。
[Structure of Ion Plating Device] FIG. 2
As shown in FIG. 3, the ion plating apparatus 16 for coating a film has a chamber 18 and a vapor deposition source 20 installed in the chamber.

【0024】チャンバ18は、ロッド10を収容できる
細長い寸法で形成されており、チャンバ18の出入口2
2の近くから中間位置(すなわちチャンバ18の長手方
向の中間位置)にかけて、複数個の蒸着源20が並べて
設けられている。
The chamber 18 is formed to have an elongated size capable of accommodating the rod 10.
A plurality of vapor deposition sources 20 are arranged side by side from the vicinity of 2 to an intermediate position (that is, an intermediate position in the longitudinal direction of the chamber 18).

【0025】[母材への成膜による製品の製造]上記の
イオンプレーティング装置16を用いて、耐磨耗性の皮
膜を成膜した製品(ロッド)の製造を行う。まず、チャ
ンバ18内の設定位置に、円柱状の未使用の母材12を
設置する。母材の設置位置は、例えば、チャンバ18内
の基準位置Sと、母材12の一端部12Lとの距離で決
める(配置工程。図2(A)参照)。なお、本実施形態
では、母材12の一端部12Lの位置が基準位置Sであ
る場合を説明する。
[Production of Product by Forming Film on Base Material] Using the ion plating device 16 described above, a product (rod) having an abrasion resistant film formed thereon is produced. First, the columnar unused base material 12 is installed at a set position in the chamber 18. The installation position of the base material is determined by, for example, the distance between the reference position S in the chamber 18 and the one end 12L of the base material 12 (arrangement step, see FIG. 2A). In this embodiment, the case where the position of the one end portion 12L of the base material 12 is the reference position S will be described.

【0026】そして、チャンバ18内を真空吸引した
後、母材12を軸回りに回転させながらイオンプレーテ
ィングにより耐磨耗性の皮膜14を成膜する(第1成膜
工程。図2(B)参照)。その際、所望の厚さに皮膜1
4が形成される成膜条件(主として、成膜時間及びイオ
ンプレーティング装置出力)を設定し、成膜する。
Then, after vacuuming the inside of the chamber 18, the abrasion-resistant film 14 is formed by ion plating while rotating the base material 12 around its axis (first film forming step. FIG. 2B. )reference). At that time, the film 1 to the desired thickness
The film forming conditions for forming No. 4 (mainly the film forming time and the output of the ion plating apparatus) are set and the film is formed.

【0027】この結果、図2(C)に示すように、母材
12のうち蒸着源20に近い約半部である一端部12L
から中央部12Mにかけて、耐磨耗性の皮膜14Aが成
膜される。中央部12Mでは、皮膜端部14Tは膜厚が
なだらかに薄くなっている。
As a result, as shown in FIG. 2C, one end portion 12L of the base material 12 which is a half portion close to the vapor deposition source 20.
The wear-resistant coating 14A is formed from the center portion 12M to the center portion 12M. At the central portion 12M, the film end portion 14T has a gradually thin film thickness.

【0028】次に、チャンバ18内の圧力を大気圧に戻
し、チャンバ18から母材12を引出して、チャンバ1
8の奥に近い他端部12Rが基準位置Sに配置されるよ
うに、向きを入れ替えて、すなわち180°反転させた
状態に配置し直す(入替工程。図3(A)参照)。
Next, the pressure in the chamber 18 is returned to the atmospheric pressure, the base material 12 is pulled out from the chamber 18, and the chamber 1
The other end portion 12R close to the back of 8 is rearranged so that the other end portion 12R is disposed at the reference position S, that is, the orientation is reversed by 180 ° (replacement step, see FIG. 3A).

【0029】そして、チャンバ18内を真空吸引した
後、第1成膜工程を行ったときと同じ成膜条件で皮膜を
成膜する(第2成膜工程。図3(B)参照)。
Then, after vacuuming the inside of the chamber 18, a film is formed under the same film forming conditions as in the first film forming step (second film forming step; see FIG. 3B).

【0030】この結果、図3(C)に示すように、母材
12のうち蒸着源20に近い約半部である他端部12R
から中央部12Mにかけて、耐磨耗性の皮膜14Bが成
膜される。中央部12Mでは、皮膜14Bの皮膜端部1
4Uはなだらかに薄くなっており、この皮膜端部14U
は皮膜端部14Tの上に重なっている。
As a result, as shown in FIG. 3 (C), the other end portion 12R of the base material 12 which is a half portion close to the vapor deposition source 20 is formed.
The wear-resistant coating 14B is formed from the center portion 12M to the center portion 12M. At the central portion 12M, the coating end portion 1 of the coating 14B
4U is gently thinned, and this film end 14U
Overlaps the film edge 14T.

【0031】この結果、皮膜14Aと皮膜14Bとの繋
ぎ部14Vの厚み、すなわち皮膜端部14Tと皮膜端部
14Uとが重なった部分の厚みは、ロッド両端部の皮膜
厚さと同じ程度になっている。また、繋ぎ部14Vに段
差が形成されることはない。
As a result, the thickness of the connecting portion 14V between the coating film 14A and the coating film 14B, that is, the thickness of the portion where the coating end portion 14T and the coating end portion 14U overlap is about the same as the coating thickness at both ends of the rod. There is. Further, no step is formed on the connecting portion 14V.

【0032】これにより、皮膜14の厚さを所望の厚さ
にすることができると共に、耐磨耗性の皮膜14の厚さ
が均一なロッド10が製造される。従って、このロッド
10を用い、走行するウエブWに塗布液を塗布すると、
ロッド10とウエブWとの接触面積が増大し、ロッド1
0が部分的に磨耗することを回避できる。
As a result, the thickness of the coating 14 can be set to a desired value, and the rod 10 having a uniform thickness of the wear-resistant coating 14 can be manufactured. Therefore, when the coating liquid is applied to the traveling web W using this rod 10,
The contact area between the rod 10 and the web W increases, and the rod 1
It is possible to avoid partial wear of 0.

【0033】よって、高速で塗布しても塗布精度が低下
したり塗布スジが生じたりするなどの塗布不良が発生す
ることを防止できる。また、ロッド10の使用時におい
て、走行するウエブWから加えられる力により、ロッド
10の表面にせん断力や垂直応力が加えられても、皮膜
14にクラックや剥離が生じ難い。更に、ロッド10の
寿命が長くなるので、ロッド10の使用本数が低減して
コストダウンに大きく寄与すると共に、ロッド使用中
(すなわちロッド10が設けられている塗布ラインの運
転中)にロッド10を交換する回数が低減し、ウエブW
の生産ラインの稼動率が大幅に向上する。
Therefore, it is possible to prevent the occurrence of coating defects such as a decrease in coating accuracy and a coating stripe even when coating is performed at a high speed. Further, when the rod 10 is used, even if a shearing force or a vertical stress is applied to the surface of the rod 10 by the force applied from the traveling web W, the coating 14 is unlikely to be cracked or peeled. Furthermore, since the life of the rod 10 is extended, the number of rods 10 used is reduced, which greatly contributes to cost reduction. Web W
The operating rate of the production line will be significantly improved.

【0034】皮膜14としては、ダイヤモンドライクカ
ーボン膜や窒化チタン膜が好ましい。その他、好ましい
材質としては、TiCN、CrN、TiC、Al23
Cr 23、SiO3、Ti23、AlN、ZrN、Si
Cなどである。
The coating 14 is diamond-like
Carbon film and titanium nitride film are preferred. Other preferred
As the material, TiCN, CrN, TiC, Al2O3,
Cr 2O3, SiO3, Ti2O3, AlN, ZrN, Si
For example, C.

【0035】なお、チャンバ18内の設定位置が予め判
っていない場合には、製品を製造する前に、後述の実施
例で行う[母材の設定位置の選定のための実験]を行う
ことが好ましい。この実験は、例えば、母材12の一端
部12Lの配置位置と、チャンバ18内の基準位置S
と、の距離を、図2(A)のd1、d2、などのようにパ
ラメータとして変化させ、膜厚が均一となる配置位置を
探索することにより行う。これにより、好ましい設定位
置を見出すことができる。また、同機種のイオンプレー
ティング装置を用いる場合には、1台のイオンプレーテ
ィング装置で上記の設定位置が判れば、他の装置で同じ
位置を設定位置とすることが可能である。
If the set position in the chamber 18 is not known in advance, the [Experiment for selecting the set position of the base material] to be performed in the embodiment described below can be performed before manufacturing the product. preferable. In this experiment, for example, the arrangement position of the one end portion 12L of the base material 12 and the reference position S in the chamber 18
The distances of and are changed as parameters such as d 1 and d 2 in FIG. 2A, and the arrangement position where the film thickness is uniform is searched for. This makes it possible to find a preferable setting position. When the same type of ion plating device is used, if one ion plating device knows the set position, the other device can set the same position as the set position.

【0036】[実施例]本実施例では、イオンプレーテ
ィング装置を用い、耐磨耗性の皮膜が表面に均一に成膜
されたロッドを、以下のようにして製造した。なお、図
4に示すように、本実施例で用いたイオンプレーティン
グ装置36のコーティング可能範囲は水平方向にL1=
900mmの範囲内である。また、本実施例で用いる母
材の長さは、L2=1600mmである。
[Example] In this example, an ion plating apparatus was used to manufacture a rod having a wear-resistant film evenly formed on its surface as follows. As shown in FIG. 4, the coatable range of the ion plating device 36 used in this embodiment is L1 = horizontal direction.
It is within the range of 900 mm. The length of the base material used in this example is L2 = 1600 mm.

【0037】[母材の設定位置の選定のための実験]母
材に皮膜を形成した製品(ロッド)を製造する前に、チ
ャンバ38の中のどの位置に母材42を配置すると膜厚
の均一性の観点上で好ましいかを求める設定位置選定工
程(いわゆる条件出しの実験)を、図4に示すNo.1
からNo.4までの4条件について行ったまず、図5
(A)に示すように、母材42の一端部42Lをチャン
バ38内の基準位置Sに合わせて、すなわち一端部42
Lを基準位置Sからチャンバ38の奥側へX=0mmの
位置にして、配置した(配置工程)。一端部42Lとし
ては、チャンバ38の出入口32に近い端部とした。母
材42は、ステンレス鋼製で径10mmφのものを用い
た。
[Experiment for selecting the set position of the base material] Before manufacturing the product (rod) in which the film is formed on the base material, the position of the base material 42 in the chamber 38 causes the film thickness to change. The setting position selection process (so-called condition setting experiment) for determining whether or not it is preferable from the viewpoint of uniformity is shown in FIG. 1
To No. First, as shown in FIG.
As shown in (A), one end portion 42L of the base material 42 is aligned with the reference position S in the chamber 38, that is, one end portion 42L.
L was arranged from the reference position S to the inner side of the chamber 38 at a position of X = 0 mm (arrangement step). The one end portion 42L is an end portion near the inlet / outlet port 32 of the chamber 38. The base material 42 was made of stainless steel and had a diameter of 10 mmφ.

【0038】チャンバ38を真空吸引した後、母材42
を軸回りに回転させながらイオンプレーティングにより
皮膜44Aを成膜した(条件出しの第1成膜工程。図5
(B)及び(C)参照)。皮膜44Aの成分はTiNと
し(後述の皮膜44Bの成分もTiNである)、成膜時
間は短時間にした。
After vacuum suction of the chamber 38, the base material 42
The film 44A was formed by ion plating while rotating the shaft around the axis (first film forming step of condition setting. FIG. 5).
(See (B) and (C)). The film 44A was made of TiN (the film 44B described later was also made of TiN), and the film formation time was short.

【0039】次に、チャンバ38内の圧力を大気圧に戻
し、母材42をチャンバ38から引出し、母材42の他
端部42Rが基準位置Sに配置されるように向きを入れ
替え、チャンバ38内に配置し直した(条件出しの入替
工程。図6(A)参照)。
Next, the pressure in the chamber 38 is returned to the atmospheric pressure, the base material 42 is pulled out from the chamber 38, and the other end portion 42R of the base material 42 is switched so that the other end portion 42R is located at the reference position S. It was placed again inside (replacement step for condition setting, see FIG. 6 (A)).

【0040】そして、チャンバ38内を真空吸引した
後、条件出しの第1成膜工程を行ったときと同じ条件で
皮膜44Bを成膜した(条件出しの第2成膜工程。図6
(B)及び(C)参照)。
After vacuuming the inside of the chamber 38, a film 44B is formed under the same conditions as when the first film forming step of condition setting is performed (second film forming step of condition setting. FIG. 6).
(See (B) and (C)).

【0041】条件出しの第2成膜工程の終了後、母材4
2をチャンバ38から取り出し、膜厚分布を調べた(図
7参照)。なお、図7の縦軸である膜厚分布は、「皮膜
の膜厚」を「意図した膜厚」で除算した値である。
After the completion of the second film forming step of condition setting, the base material 4
2 was taken out from the chamber 38 and the film thickness distribution was examined (see FIG. 7). The film thickness distribution on the vertical axis in FIG. 7 is a value obtained by dividing the “film thickness” by the “intended film thickness”.

【0042】更に、未使用の母材52(図4参照)を用
い、チャンバ38内の基準位置Sから奥方向に10mm
移動した位置(X=10mm)に母材52の一端部52
Lを合わせ、条件出しの第1成膜工程と同じ成膜条件で
成膜した。母材52の寸法、材質等は母材42と同じで
ある。
Furthermore, an unused base material 52 (see FIG. 4) is used, and it is 10 mm in the depth direction from the reference position S in the chamber 38.
One end portion 52 of the base material 52 is moved to the moved position (X = 10 mm).
L was combined, and film formation was performed under the same film formation conditions as in the first film formation step of condition setting. The dimensions and material of the base material 52 are the same as those of the base material 42.

【0043】次に、条件出しの入替工程と同様にして、
母材52の向きを入れ替えた。その際、母材52の他端
部52RをX=10mmの位置に合わせた状態にした。
Next, in the same manner as the condition replacement process,
The orientation of the base material 52 was changed. At that time, the other end 52R of the base material 52 was brought into a state of being aligned with the position of X = 10 mm.

【0044】更に、条件出しの第2成膜工程と同様にし
て成膜し、皮膜の膜厚分布を調べた(図7参照)。
Further, a film was formed in the same manner as in the second film forming step under conditions, and the film thickness distribution of the film was examined (see FIG. 7).

【0045】以下、同様にして、X=15mmの場合、
X=20mmの場合について、皮膜を成膜し、膜厚分布
を調べた(図7参照)。
Similarly, when X = 15 mm,
When X = 20 mm, a film was formed and the film thickness distribution was examined (see FIG. 7).

【0046】以上の実験の結果、図7から判るように、
X=15mmとした場合が最も好ましいことが、すなわ
ち膜厚が最も均一になることが、判った。
As a result of the above experiment, as can be seen from FIG.
It has been found that the case where X = 15 mm is most preferable, that is, the film thickness is most uniform.

【0047】[母材への成膜による製品の製造]次に、
耐磨耗性の皮膜64を成膜したロッド60(図9(C)
参照)、すなわち製品を製造した。
[Production of Product by Forming Film on Base Material] Next,
A rod 60 on which a wear resistant film 64 is formed (FIG. 9C).
Reference), ie the product was manufactured.

【0048】まず、図8(A)に示すように、未使用の
母材62を用い、この母材62の左側の端部位置がX=
15mmとなるように、母材62をチャンバ38内に配
置した(配置工程)。母材62の寸法、材質等は、母材
42と同じである。
First, as shown in FIG. 8A, an unused base material 62 is used, and the left end position of the base material 62 is X =
The base material 62 was arranged in the chamber 38 so as to be 15 mm (arrangement step). The dimensions and material of the base material 62 are the same as those of the base material 42.

【0049】そして、チャンバ38内を真空吸引した
後、母材62を軸回りに回転させながらイオンプレーテ
ィングにより耐磨耗性の皮膜64Aを成膜した(第1成
膜工程。図8(B)及び(C)参照)。
After vacuuming the inside of the chamber 38, the abrasion-resistant film 64A is formed by ion plating while rotating the base material 62 around its axis (first film forming step. FIG. 8B. ) And (C)).

【0050】この結果、母材62のうち蒸着源40に近
い約半部である一端部62Lから中央部62Mにかけ
て、耐磨耗性の皮膜64Aが成膜された。中央部62M
では、皮膜端部64Tは膜厚がなだらかに薄くなってい
た。
As a result, a wear resistant film 64A was formed from one end portion 62L of the base material 62, which is a half portion close to the vapor deposition source 40, to the central portion 62M. Central part 62M
Then, the film edge portion 64T had a gently thin film thickness.

【0051】成膜する際、[母材の設定位置の選定のた
めの実験]で成膜された皮膜厚さ、成膜時間等に基づい
て、厚さ2μmの皮膜(TiN膜)が形成されることを
意図して、成膜時間、装置出力等を設定した。
At the time of film formation, a film (TiN film) having a thickness of 2 μm is formed based on the film thickness formed in [Experiment for selecting the set position of the base material], the film formation time, and the like. With that in mind, the film formation time, device output, etc. were set.

【0052】次に、チャンバ38内の圧力を大気圧に戻
し、母材62をチャンバ38から引出して向きを入れ替
え、母材62のもう一方の端部、すなわち他端部62R
の位置がX=15mmとなるようにチャンバ38内に再
配置した(入替工程。図9(A)参照)。
Next, the pressure in the chamber 38 is returned to the atmospheric pressure, the base material 62 is pulled out from the chamber 38 and the orientation is reversed, and the other end portion of the base material 62, that is, the other end portion 62R.
Was re-arranged in the chamber 38 so that the position X was 15 mm (replacement step; see FIG. 9A).

【0053】そして、チャンバ38内を真空吸引した
後、第1成膜工程を行ったときと同じ条件で皮膜を成膜
した(第2成膜工程。図9(B)及び(C)参照)。
Then, after vacuuming the inside of the chamber 38, a film is formed under the same conditions as when the first film forming step was performed (second film forming step; see FIGS. 9B and 9C). .

【0054】この結果、母材62のうち蒸着源40に近
い約半部である他端部62Rから中央部62Mにかけ
て、耐磨耗性の皮膜64Bが成膜された。中央部62M
では、皮膜64Bの皮膜端部64Uはなだらかに薄くな
っており、この皮膜端部64Uは皮膜端部64Tの上に
重なっていた。
As a result, a wear-resistant coating 64B was formed on the base material 62 from the other end 62R, which is a half portion near the vapor deposition source 40, to the central portion 62M. Central part 62M
Then, the film end 64U of the film 64B was gently thinned, and the film end 64U overlapped with the film end 64T.

【0055】このロッド60の皮膜64の膜厚分布を調
べたところ、図10の白三角印で示すように、(皮膜の
膜厚)/(意図した膜厚すなわち2μm)の値は、0.
8〜1.1の範囲内に抑えられていた。
When the film thickness distribution of the film 64 of the rod 60 was examined, the value of (film thickness of film) / (intended film thickness, ie, 2 μm) was 0.
It was suppressed within the range of 8 to 1.1.

【0056】また、未使用の母材72(寸法、材質等は
母材62と同じ)を用い、厚さ3μmの皮膜を成膜する
ことを意図して、ロッド60を製造したのと同様にし
て、配置工程、第1成膜工程、入替工程、第2成膜工程
を順次行った。この結果、第1成膜工程で成膜された皮
膜と、第2成膜工程で成膜された皮膜との繋ぎ部はなだ
らかであった。
Further, in the same manner as the rod 60 is manufactured, an unused base material 72 (the size, the material and the like are the same as the base material 62) is used and a film having a thickness of 3 μm is formed. Then, the arranging step, the first film forming step, the replacing step, and the second film forming step were sequentially performed. As a result, the joint between the film formed in the first film forming step and the film formed in the second film forming step was gentle.

【0057】そして、皮膜の膜厚分布を調べたところ、
図10の×印で示すように、(皮膜の膜厚)/(意図し
た膜厚すなわち2μm)の値は、0.85〜1.1の範
囲内に抑えられていた。
When the film thickness distribution of the film was examined,
As indicated by the mark X in FIG. 10, the value of (film thickness of coating) / (intended film thickness, that is, 2 μm) was suppressed within the range of 0.85 to 1.1.

【0058】これにより、全長が1600mmの母材6
2(72)の表面に、厚さ2μm又は3μmの皮膜(T
iN膜)をイオンプレーティング装置36でコーティン
グする場合、母材を引くっリ返す入替工程(いわゆるト
ンボ処理)を行うと、(皮膜の膜厚)/(意図した膜
厚)は0.8〜1.2の範囲内に抑えられ、良好な膜厚
分布になることが判った。
As a result, the base material 6 having a total length of 1600 mm
2 (72) surface with a thickness of 2 μm or 3 μm (T
When the iN film) is coated by the ion plating device 36, if the replacement step of pulling back the base material (so-called register mark processing) is performed, (film thickness of film) / (intended film thickness) is 0.8 to It was found that the thickness was suppressed to within the range of 1.2, and the film thickness distribution was excellent.

【0059】[比較のために行った製品の製造]本実施
例では、比較のために、入替工程を行わずに皮膜を成膜
してロッドを製造することを行った。
[Production of Products Performed for Comparison] In this example, for comparison, rods were produced by forming a film without performing a replacement process.

【0060】まず、未使用の母材を用い、この母材の一
端部の位置がX=15mmとなるように、母材をチャン
バ38内に配置した。そして、チャンバ38内を真空吸
引した後、イオンプレーティングにより耐磨耗性の皮膜
を成膜した(第1成膜工程)。
First, an unused base material was used, and the base material was placed in the chamber 38 so that the position of one end of the base material was X = 15 mm. Then, after vacuuming the inside of the chamber 38, a wear resistant film was formed by ion plating (first film forming step).

【0061】成膜する際、[母材の設定位置の選定のた
めの実験]で成膜された皮膜厚さ、成膜時間等に基づい
て、上記の入替工程を行わなくても厚さ2μmの皮膜
(TiN膜)が形成されることを意図して、成膜時間、
装置出力等を設定した。
When the film is formed, the thickness of 2 μm is obtained based on the film thickness, the film forming time, and the like formed in [Experiment for selecting the set position of the base material] without performing the above replacement process. Film formation time, with the intention of forming a film (TiN film) of
The device output etc. were set.

【0062】そして、母材の表面に皮膜がコーティング
されてなるロッドの膜厚分布を調べたところ、図10の
黒四角印で示すように、(皮膜の膜厚)/(意図した膜
厚すなわち2μm)の値は、0.8〜1.15の範囲内
に抑えられていた。
When the film thickness distribution of the rod formed by coating the surface of the base material with the film was examined, as shown by the black square marks in FIG. 10, (film thickness of film) / (intended film thickness, The value of 2 μm) was suppressed within the range of 0.8 to 1.15.

【0063】更に、未使用の母材を用い、厚さ1μmの
皮膜を成膜することを意図し、同様にして成膜した。
Further, a film having a thickness of 1 μm was intended to be formed by using an unused base material, and the film was similarly formed.

【0064】そして、膜厚分布を調べたところ、図10
の黒菱形印で示すように、(皮膜の膜厚)/(意図した
膜厚すなわち2μm)の値は、0.6〜1.6の範囲内
になり、入替工程を行った場合に比べてばらついてい
た。
Then, when the film thickness distribution was examined, FIG.
As indicated by the black diamond mark, the value of (film thickness of film) / (intended film thickness, ie, 2 μm) is in the range of 0.6 to 1.6, which is larger than that in the case of performing the replacement process. It was scattered.

【0065】従って、全長が1600mmの母材の表面
に皮膜(TiN膜)をイオンプレーティング装置36で
コーティングする場合、母材をひっくり返す入替工程
(いわゆるトンボ処理)を行わないと、意図した膜厚が
1μm以下では膜厚分布がばらつくことが判った。
Therefore, when a film (TiN film) is coated on the surface of the base material having a total length of 1600 mm by the ion plating device 36, the intended film thickness is obtained unless the replacement step of flipping the base material (so-called register mark processing) is performed. It was found that the film thickness distribution fluctuates when is less than 1 μm.

【0066】上記の4本のロッドについて、摩擦係数及
び皮膜硬度を測定した。また、これらの4本のロッドを
用い、走行速度60m/分で走行するウエブに塗布液を
塗布し、その塗布面状について調べた。これらの結果を
表1に示す。
The friction coefficient and the film hardness of the above four rods were measured. Further, using these four rods, the coating liquid was applied to a web traveling at a traveling speed of 60 m / min, and the state of the coated surface was examined. The results are shown in Table 1.

【0067】[0067]

【表1】 表1から判るように、摩擦係数、皮膜の硬度は何れも同
じであり、また、塗布面状は何れも良好であることが判
った。従って、入替工程により2段階に分けて皮膜を形
成したロッドを用いても、ウエブの塗布面には何ら悪影
響が及ぼされず、従って、繋ぎ部がなだらかであること
が確認された。
[Table 1] As can be seen from Table 1, it was found that the coefficient of friction and the hardness of the coating were the same, and the coating surface conditions were good. Therefore, it was confirmed that even if the rod in which the film was formed in two steps by the replacement step was used, the coated surface of the web was not adversely affected, and therefore the joint was gentle.

【0068】以上、実施形態及び実施例を挙げて本発明
の実施の形態を説明したが、上記実施形態は一例であ
り、要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施でき
る。例えば、ウエブWに塗布された塗布液の過剰分を掻
き落とすタイプ(図11参照)のロッド80の製造方法
としても適用可能である。また、本発明の権利範囲が上
記実施形態に限定されないことは言うまでもない。
Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the embodiments and examples, the above embodiments are merely examples, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. For example, it can be applied as a method of manufacturing a rod 80 of a type (see FIG. 11) in which an excessive amount of the coating liquid applied to the web W is scraped off. Further, it goes without saying that the scope of rights of the present invention is not limited to the above embodiment.

【0069】[0069]

【発明の効果】本発明は上記構成としたので、以下の効
果を奏することができる。
Since the present invention has the above-mentioned structure, the following effects can be obtained.

【0070】請求項1に記載の発明によれば、第1成膜
工程での成膜可能範囲を超えた母材部分に、第2成膜工
程で成膜することができる。
According to the first aspect of the invention, it is possible to form a film in the second film forming step on the base material portion which exceeds the film forming possible range in the first film forming step.

【0071】請求項2に記載の発明によれば、母材が長
くても、全体として均一な膜厚の皮膜を得ることが可能
になる。
According to the invention described in claim 2, even if the base material is long, it is possible to obtain a film having a uniform film thickness as a whole.

【0072】請求項3に記載の発明によれば、母材の位
置設定を行い易く、また、皮膜が均一な膜厚で形成され
る母材の設定位置を見い出し易い。
According to the third aspect of the present invention, it is easy to set the position of the base material, and it is easy to find the set position of the base material where the film is formed with a uniform film thickness.

【0073】請求項4に記載の発明によれば、付着力が
強くて膜厚が均一である皮膜を形成し易い。
According to the invention described in claim 4, it is easy to form a film having a strong adhesive force and a uniform film thickness.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施形態で製造された塗工装置用ロ
ッドが使用されていることを示す側面断面図である。
FIG. 1 is a side sectional view showing that a rod for a coating apparatus manufactured according to an embodiment of the present invention is used.

【図2】図2(A)から(C)は、それぞれ、本発明の
一実施形態で、母材の配置工程を行ったこと、第1成膜
工程を行っていること、及び、第1成膜工程により皮膜
が成膜されたこと、を示す側面断面図である。
FIGS. 2A to 2C respectively show that a base material disposing step is performed, a first film forming step is performed, and a first film forming step is performed in an embodiment of the present invention. It is a side surface sectional view showing that a film was formed by a film forming process.

【図3】図3(A)から(C)は、それぞれ、本発明の
一実施形態で、入替工程により母材の配置位置が入れ替
えられたこと、第2成膜工程を行っていること、及び、
第2成膜工程により皮膜が成膜されたこと、を示す側面
断面図である。
3 (A) to 3 (C) are, respectively, one embodiment of the present invention, in which the arrangement position of the base material has been replaced by the replacement process, and the second film formation process has been performed. as well as,
It is a side surface sectional view showing that a film was formed by the 2nd film formation process.

【図4】実施例で、チャンバ内での母材の配置位置をパ
ラメータとして変更することを示す側面図である。
FIG. 4 is a side view showing that the arrangement position of the base material in the chamber is changed as a parameter in the embodiment.

【図5】図5(A)から(C)は、それぞれ、実施例の
[母材の設定位置の選定のための実験]で、母材の配置
工程を行ったこと、第1成膜工程を行っていること、及
び、第1成膜工程により皮膜が成膜されたこと、を示す
側面断面図である。
5 (A) to 5 (C) show that a base material arranging step was performed and a first film forming step was performed in [Experiment for selecting a set position of a base material] of Example. FIG. 3 is a side cross-sectional view showing that the above is performed and that a film is formed by the first film forming step.

【図6】図6(A)から(C)は、それぞれ、実施例の
[母材の設定位置の選定のための実験]で、入替工程を
行ったこと、第2成膜工程を行っていること、及び、第
2成膜工程により皮膜が成膜されたこと、を示す側面断
面図である。
6 (A) to 6 (C) are, respectively, in the [Experiment for selecting the set position of the base material] of the example, the replacement step was performed, and the second film formation step was performed. It is a side sectional view showing that a film is formed by the second film forming step.

【図7】実施例で[母材の設定位置の選定のための実
験]を行った際に得られた皮膜の膜厚分布を示すグラフ
図である。
FIG. 7 is a graph showing a film thickness distribution of a film obtained when [Experiment for selecting a set position of a base material] was performed in an example.

【図8】図8(A)から(C)は、それぞれ、実施例で
製品を製造するにあたり、配置工程を行ったこと、第1
成膜工程を行っていること、及び、第1成膜工程により
皮膜が成膜されたこと、を示す側面断面図である。
8 (A) to 8 (C) respectively show that an arrangement step is performed in manufacturing a product in the example, and FIG.
It is a side surface sectional view showing that a film is formed and a film is formed by the 1st film forming process.

【図9】図9(A)から(C)は、それぞれ、実施例
で、入替工程を行ったこと、第2成膜工程を行っている
こと、及び、第2成膜工程により皮膜が成膜されたこ
と、を示す側面断面図である。
9 (A) to 9 (C) are, respectively, in the Examples, a replacement process was performed, a second film formation process was performed, and a film was formed by the second film formation process. It is a side sectional view showing that it was filmed.

【図10】実施例で得られた塗工装置用ロッドの皮膜の
膜厚分布を示すグラフ図である。
FIG. 10 is a graph showing a film thickness distribution of a film of a coating device rod obtained in an example.

【図11】塗工装置用ロッドが、ウエブに塗布された塗
布液の過剰分を掻き落とすタイプのロッドとして適用さ
れた例を示す側面断面図である。
FIG. 11 is a side cross-sectional view showing an example in which the coating device rod is applied as a rod of a type that scrapes off an excessive amount of the coating liquid applied to the web.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ロッド(塗工装置用ロッド) 12 母材 12L 一端部 12M 中央部 12R 他端部 14 皮膜 14A 皮膜 14B 皮膜 14T 皮膜端部(第1皮膜漸減部) 14U 皮膜端部(第2皮膜漸減部) 16 イオンプレーティング装置 18 チャンバ 20 蒸着源 36 イオンプレーティング装置 38 チャンバ 40 蒸着源 42 母材 42L 一端部 42R 他端部 44 皮膜 44A 皮膜 44B 皮膜 52 母材 52L 一端部 52R 他端部 60 ロッド(塗工装置用ロッド) 62 母材 62L 一端部 62M 中央部 62R 一端部 64 皮膜 64A 皮膜 64B 皮膜 64T 皮膜端部(第1皮膜漸減部) 64U 皮膜端部(第2皮膜漸減部) 72 母材 80 ロッド(塗工装置用ロッド) 10 Rod (Coating device rod) 12 Base material 12L One end 12M central part 12R The other end 14 film 14A film 14B film 14T film edge (first film taper) 14U film end (second film tapering part) 16 Ion plating device 18 chambers 20 evaporation source 36 Ion plating device 38 chambers 40 evaporation source 42 Base material 42L One end 42R The other end 44 film 44A film 44B film 52 Base material 52L One end 52R The other end 60 Rod (Coating Equipment Rod) 62 Base material 62L One end 62M central part 62R One end 64 film 64A film 64B film 64T film edge (first film taper) 64U coating edge (second coating tapering portion) 72 Base material 80 Rod (Coating Equipment Rod)

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 円柱状の母材の表面に耐磨耗性の皮膜が
成膜された塗工装置用ロッドの製造方法であって、 蒸着装置のチャンバ内に前記母材を配置する配置工程
と、 前記母材の一端部から中央部にわたって蒸着源からの皮
膜物質を蒸着させる第1成膜工程と、 前記母材の一端部と他端部との配置位置を入れ替えた状
態に再配置する入替工程と、 前記母材の他端部から中央部にわたって前記蒸着源から
の皮膜物質を蒸着させる第2成膜工程と、 を行うことを特徴とする塗工装置用ロッドの製造方法。
1. A method of manufacturing a rod for a coating apparatus, in which a wear-resistant film is formed on the surface of a cylindrical base material, the disposing step of disposing the base material in a chamber of a vapor deposition apparatus. And a first film forming step of depositing a coating material from an evaporation source from one end to the center of the base material, and rearranging the base material so that the positions of the one end and the other end of the base material are interchanged. A method for manufacturing a rod for a coating apparatus, comprising: a replacement step; and a second film forming step of depositing a coating material from the vapor deposition source from the other end portion of the base material to a central portion thereof.
【請求項2】 前記第1成膜工程では、前記母材の一端
部側から中央部側に向けてなだらかに薄くなった第1皮
膜漸減部が形成されるように成膜し、 前記第2成膜工程では、前記母材の他端部側から中央部
側に向けてなだらかに薄くなった第2皮膜漸減部が、前
記第1皮膜漸減部の上に形成されるように成膜すること
を特徴とする請求項1に記載の塗工装置用ロッドの製造
方法。
2. In the first film forming step, film formation is performed so that a first film tapering portion that is gently thinned from one end side of the base material toward the central part side is formed. In the film forming step, the film is formed so that the second film gradually decreasing portion, which is gradually thinned from the other end side of the base material toward the central portion side, is formed on the first film gradually decreasing portion. The method for manufacturing a rod for a coating apparatus according to claim 1, wherein
【請求項3】 前記配置工程では、成膜可能範囲の境を
基準にして前記母材の位置設定を行うことを特徴とする
請求項1又は2に記載の塗工装置用ロッドの製造方法。
3. The method for manufacturing a rod for a coating apparatus according to claim 1, wherein in the arranging step, the position of the base material is set on the basis of a boundary of a film-forming range.
【請求項4】 前記蒸着装置としてイオンプレーティン
グ装置を用いることを特徴とする請求項1〜請求項3の
うち何れか1項に記載の塗工装置用ロッドの製造方法。
4. The method for manufacturing a rod for a coating apparatus according to claim 1, wherein an ion plating apparatus is used as the vapor deposition apparatus.
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