JP2003229069A - Panel pin and glass panel for cathode-ray tube using this panel pin and cathode-ray tube - Google Patents

Panel pin and glass panel for cathode-ray tube using this panel pin and cathode-ray tube

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JP2003229069A
JP2003229069A JP2002027735A JP2002027735A JP2003229069A JP 2003229069 A JP2003229069 A JP 2003229069A JP 2002027735 A JP2002027735 A JP 2002027735A JP 2002027735 A JP2002027735 A JP 2002027735A JP 2003229069 A JP2003229069 A JP 2003229069A
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panel
panel pin
glass
pin
ray tube
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JP2002027735A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Shimozawa
澤 宏 下
Takashi Rokutanda
貴 史 六反田
Kiyoshi Nagasaki
崎 潔 長
Mitsuhiro Matsunaga
永 充 弘 松
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Toshiba Corp
Toshiba Development and Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Engineering Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve glass wettability and adhesion of an oxide film, to enhance sealing performance of a panel pin, to prevent the occurrence of a glass crack, to restrain mislanding of an electron beam caused by a shortage of sealing strength of the panel pin, and to improve a manufacturing yield. <P>SOLUTION: The oxide film is formed in at least a glass sealing part of the panel pin 1 for holding a shadow mask or an aperture grill. (1) The panel pin is 10 μm or less in a waviness component Wt in surface roughness measurement on the oxide film. (2) The panel pin is 0.1 to 3 μm in arithmetic means roughness Ra, and is 2 to 14 μm in ten-point average roughness Rz in the surface roughness measurement on the oxide film. (3) The panel pin is 0.1 to 3 μm in the Ra in the surface roughness measurement on the oxide film, and is larger in the arithmetic means roughness (the Ra outside) of a sealing part outside surface of the panel pin than the Ra inside of a sealing part inside surface of the panel pin. (4) This glass panel for a cathode-ray tube has the panel pin. (5) The cathode-ray tube is provided. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パネルピンおよび
それを用いた陰極線管用ガラスパネルと陰極線管に係
り、特にガラス封着強度が優れかつガラスクラックの発
生が防止されたパネルピン、それを用いた陰極線管用ガ
ラスパネルおよび陰極線管に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a panel pin, a glass panel for a cathode ray tube using the same, and a cathode ray tube, and more particularly to a panel pin having excellent glass sealing strength and preventing the generation of glass cracks, and a cathode ray using the same. The present invention relates to a glass panel for a tube and a cathode ray tube.

【0002】[0002]

【従来の技術】カラーテレビジョンやコンピュータ端末
ディスプレイとして使用される陰極線管(CRT)は、
一般に、図3に示されるような構造を有している。すな
わち、カラーテレビジョン用陰極線管は、短冊状のパネ
ル(フェースプレート)32と漏斗状のファンネル33
とネック34とからなる真空外囲器を有している。
2. Description of the Related Art A cathode ray tube (CRT) used as a color television or a computer terminal display is
Generally, it has a structure as shown in FIG. That is, the cathode ray tube for a color television includes a strip-shaped panel (face plate) 32 and a funnel-shaped funnel 33.
And a vacuum envelope consisting of a neck 34.

【0003】パネル(フェースプレート)32内面に
は、三原色となる赤色(R)、緑色(G)、青色(B)
の発光蛍光体層35がストライプ状またはドット状に形
成されており、赤、緑、青に対応する電子ビーム36を
射出する電子銃37がネック34に内設されている。ま
た、蛍光体層35に近接対向した位置には、多数の微細
な開孔を有するシャドウマスク38がパネルピン30を
介してパネル32の内面に支持固定されている。
On the inner surface of the panel (face plate) 32, the three primary colors of red (R), green (G) and blue (B).
The light emitting phosphor layer 35 is formed in a stripe shape or a dot shape, and an electron gun 37 for emitting an electron beam 36 corresponding to red, green, and blue is provided inside the neck 34. A shadow mask 38 having a large number of fine holes is supported and fixed to the inner surface of the panel 32 via panel pins 30 at a position close to and facing the phosphor layer 35.

【0004】各発光色(B、G、R)の蛍光体に対応し
た3本の電子銃37内で一定の電圧で加速された電子ビ
ームは36は、電子レンズ40により収束され、さらに
偏向ヨーク41によって進路を曲げられる。そして、シ
ャドウマスク38を通過した3本の電子ビームは選択的
に蛍光体層35に照射されて励起発光されて、その各発
光の加法混色によってあらゆる色からなるカラー映像が
再生される。
The electron beam 36 accelerated by a constant voltage in the three electron guns 37 corresponding to the phosphors of each emission color (B, G, R) is converged by the electron lens 40, and further, the deflection yoke. The course is bent by 41. Then, the three electron beams that have passed through the shadow mask 38 are selectively applied to the phosphor layer 35 to be excited and emitted, and a color image of any color is reproduced by additive color mixture of the respective emitted lights.

【0005】上記のような陰極線管において、シャドウ
マスク38は、図4に示すような支持構造により保持固
定されている。すなわち、略円筒状のパネルピン30
を、例えば900℃以上の高温度に加熱してパネルピン
表面に酸化膜を形成した後、ガラスパネルの作業温度を
超える高温度に加熱されたパネルピン30の基端部を、
図4に示すようにガラス製のパネル32の側壁32a内
面の所定位置に押し込み、溶融したガラスによって、パ
ネルピン30をパネル32の側壁32aに封着固定する
よう構成されている。
In the cathode ray tube as described above, the shadow mask 38 is held and fixed by a supporting structure as shown in FIG. That is, the panel pin 30 having a substantially cylindrical shape
Is heated to a high temperature of 900 ° C. or higher to form an oxide film on the surface of the panel pin, and then the base end portion of the panel pin 30 heated to a high temperature exceeding the working temperature of the glass panel,
As shown in FIG. 4, the panel pin 30 is pushed into a predetermined position on the inner surface of the side wall 32a of the glass panel 32, and the panel pin 30 is sealed and fixed to the side wall 32a of the panel 32 by the molten glass.

【0006】また、シャドウマスク38はその本体の周
辺部に取りつけられた短形形状のマスクフレーム38a
を備えており、シャドウマスク本体が蛍光体層35から
所定間隔離れて対向するように、このマスクフレーム3
8aは少なくともその側壁部が弾性ホルダ39を介して
パネル側壁32aに支持されている。各ホルダ39は、
マスクフレーム38aに固定された一端部と、パネル3
2の側壁32a内面に設けられたパネルピン30と係止
された他端部とを有している。
The shadow mask 38 has a rectangular mask frame 38a attached to the periphery of its main body.
The mask frame 3 is provided so that the shadow mask body faces the phosphor layer 35 at a predetermined distance.
At least the side wall of 8a is supported by the panel side wall 32a via the elastic holder 39. Each holder 39 is
One end fixed to the mask frame 38a and the panel 3
The second side wall 32 a has the panel pin 30 provided on the inner surface of the second side wall 32 a and the other end portion engaged with the panel pin 30.

【0007】パネルピンには、陰極線管用特殊ガラスに
対して熱膨張係数が近似する18重量%Cr−Fe合金
などのフェライト系ステンレスが広く使用されている。
このようなフェライト系ステンレスをパネルピンとして
用いる場合には、通常、フェライト系ステンレス素材を
パネルピン形状に加工した後、これを例えば湿式水素雰
囲気中で熱処理して、その表面にガラスとの濡れ性に優
れる酸化膜を形成し、この状態で陰極管のガラスパネル
に封着している。
For panel pins, ferritic stainless steel such as 18 wt% Cr-Fe alloy, which has a thermal expansion coefficient similar to that of special glass for cathode ray tubes, is widely used.
When such a ferritic stainless steel is used as a panel pin, it is usually processed into a panel pin shape from a ferritic stainless material and then heat-treated in, for example, a wet hydrogen atmosphere, and its surface has excellent wettability with glass. An oxide film is formed and, in this state, it is sealed to the glass panel of the cathode tube.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】近年、陰極線管の大型
化により、シャドウマスクの重量も増加しているため、
パネルピンにかかる負荷が大きくなっておりパネルピン
での支持固定の精度維持が重要になっており、高精細化
の要求に伴ってその精度維持が更に重要になっている。
特に陰極線管の大型化や高精細化の要求に伴って、色ず
れを起こすミスランディングの問題に対する要求が厳し
くなっている。
In recent years, the weight of shadow masks has increased due to the increase in size of cathode ray tubes.
Since the load applied to the panel pins is increasing, it is important to maintain the precision of supporting and fixing with the panel pins, and the maintenance of the precision is becoming more important with the demand for higher definition.
In particular, with the demand for larger size and higher definition of the cathode ray tube, the demand for the problem of mislanding that causes color misregistration has become stricter.

【0009】前記のようなフェライト系ステンレスから
なるパネルピンは、ガラスと熱膨張係数が近似してお
り、そしてその表面に形成された酸化皮膜によってガラ
スとの濡れ性が向上しているとはいえ、上述したような
陰極線管の大型化による重量増加や高精細化の要求に応
えるために、ガラス濡れ性を向上させてその封着強度を
更に向上させることが求められている。また、パネルピ
ンをガラスに封着したあとの除冷工程や陰極線管の組み
立て工程等での熱処理工程において、更には陰極線管に
使用された際の繰り返しの温度変化において、ガラスク
ラックの発生を防止し、精密な位置決めを行うことも、
シャドウマスクの大型化、重量化によってますます重要
になってきている。
The above-mentioned panel pin made of ferritic stainless steel has a thermal expansion coefficient close to that of glass, and the oxide film formed on the surface of the panel pin improves the wettability with glass. In order to meet the demand for weight increase and high definition due to the size increase of the cathode ray tube as described above, it is required to improve the glass wettability and further improve the sealing strength thereof. Further, in the heat treatment step in the cooling step or the assembling step of the cathode ray tube after sealing the panel pin to the glass, and further in the repeated temperature change when used in the cathode ray tube, the occurrence of glass cracks is prevented. , Precise positioning is also possible,
It is becoming more and more important as the shadow mask becomes larger and heavier.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は、以上のような
課題を解決するためになされたものであって、パネルピ
ンのガラス封着部の表面性状を特定することによって、
加工が容易で強度に優れ、ガラス封着性が良好でありか
つガラスクラックの発生が有効に防止されたパネルピン
を提供することを目的としている。また、本発明は、前
記パネルピンを用いることによって、初期不良やシャド
ウマスクの位置ずれ不良などの発生を抑制した陰極線管
用ガラスパネルおよび陰極線管を提供することを目的と
している。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and by specifying the surface texture of the glass sealing portion of the panel pin,
It is an object of the present invention to provide a panel pin that is easy to process, has excellent strength, has good glass sealing properties, and effectively prevents the occurrence of glass cracks. Another object of the present invention is to provide a glass panel for a cathode ray tube and a cathode ray tube in which the use of the panel pins suppresses the occurrence of initial defects, defective displacement of the shadow mask, and the like.

【0011】従って、請求項1の本発明によるパネルピ
ンは、陰極線管用パネルに封着された、シャドウマスク
またはアパチャーグリルを保持するためのパネルピンで
あって、このパネルピンの少なくともガラス封着部に酸
化皮膜が形成されてなり、この酸化皮膜上の表面粗さ測
定におけるうねり成分(Wt)が10μm以下であるこ
と、を特徴とするものである。
Therefore, the panel pin according to the present invention of claim 1 is a panel pin for holding a shadow mask or an aperture grill, which is sealed to a cathode ray tube panel, and an oxide film is formed on at least the glass sealing portion of the panel pin. Is formed, and the waviness component (Wt) in the surface roughness measurement on the oxide film is 10 μm or less.

【0012】請求項2の本発明によるパネルピンは、陰
極線管用パネルに封着された、シャドウマスクまたはア
パチャーグリルを保持するためのパネルピンであって、
このパネルピンの少なくともガラス封着部に酸化皮膜が
形成されてなり、この酸化皮膜上の表面粗さ測定におけ
る算術平均粗さ(Ra)が0.1〜3μmでありかつ十
点平均粗さ(Rz)が2〜14μmであること、を特徴
とするものである。
A panel pin according to a second aspect of the present invention is a panel pin for holding a shadow mask or an aperture grill, which is sealed to a panel for a cathode ray tube.
An oxide film is formed on at least the glass sealing portion of the panel pin, and the arithmetic average roughness (Ra) in the surface roughness measurement on the oxide film is 0.1 to 3 μm and the ten-point average roughness (Rz). 2) is 2 to 14 μm.

【0013】請求項3の本発明によるパネルピンは、陰
極線管用パネルに封着された、シャドウマスクまたはア
パチャーグリルを保持するためのパネルピンであって、
このパネルピンの少なくともガラス封着部に酸化皮膜が
形成されてなり、この酸化皮膜上の表面粗さ測定におけ
る算術平均粗さ(Ra)が0.1〜3μmであり、パネ
ルピンの封着部外側表面の算術平均粗さ(Ra外)がパ
ネルピンの封着部内側表面の算術平均粗さ(Ra内)よ
り大きいこと、を特徴とするものである。
A panel pin according to a third aspect of the present invention is a panel pin for holding a shadow mask or an aperture grill, which is sealed to a panel for a cathode ray tube.
An oxide film is formed on at least the glass sealing part of the panel pin, and the arithmetic mean roughness (Ra) in the surface roughness measurement on the oxide film is 0.1 to 3 μm. Is larger than the arithmetic average roughness (inside Ra) of the inner surface of the sealing portion of the panel pin.

【0014】請求項4の本発明によるパネルピンは、パ
ネルピンの封着部外側表面の算術平均粗さ(Ra外)と
パネルピンの封着部内側表面の算術平均粗さ(Ra内)
の比(Ra外)/(Ra内)が、1.1〜2であること
を特徴とする、前記請求項3のパネルピンである。
In the panel pin according to the present invention of claim 4, the arithmetic mean roughness of the outer surface of the sealing portion of the panel pin (outside Ra) and the arithmetic mean roughness of the inner surface of the sealing portion of the panel pin (inside Ra).
The panel pin according to claim 3, wherein the ratio (outside Ra) / (inside Ra) is 1.1 to 2.

【0015】請求項5の本発明によるパネルピンは、ク
ロム15〜30重量%、アルミニウム0.01〜1重量
%、ケイ素0.1〜1重量%、チタン0.1〜1重量%
および残部が実質的に鉄よりなる封着合金から形成され
てなる、請求項1〜4のいずれかのパネルピンである。
According to the fifth aspect of the present invention, the panel pin comprises 15 to 30% by weight of chromium, 0.01 to 1% by weight of aluminum, 0.1 to 1% by weight of silicon, and 0.1 to 1% by weight of titanium.
The panel pin according to any one of claims 1 to 4, wherein the balance and the balance are formed of a sealing alloy consisting essentially of iron.

【0016】請求項6の本発明による陰極線管用ガラス
パネルは、陰極線管用ガラスパネルにおいて、封着部が
陰極線管のパネル内面に融接されるとともに、ホルダー
支持部がシャドウマスクまたはアパチャーグリルの周縁
部と接合させて前記シャドウマスクまたはアパチャーグ
リルの周縁部を所定の位置に固定するパネルピンを備
え、前記パネルピンが請求項1〜5のいずれかのもので
あること、を特徴とするものである。
A glass panel for a cathode ray tube according to a sixth aspect of the present invention is the glass panel for a cathode ray tube, wherein the sealing portion is fusion-welded to the inner surface of the panel of the cathode ray tube and the holder supporting portion is the peripheral portion of the shadow mask or the aperture grill. And a panel pin for fixing the peripheral edge portion of the shadow mask or the aperture grill to a predetermined position by joining the panel pin to the shadow mask or the aperture grill, the panel pin according to any one of claims 1 to 5.

【0017】請求項7の本発明による陰極線管は、パネ
ルを有する真空外囲器と、前記パネル内面に設けられた
蛍光体層と、前記真空外囲器のパネルに対向する位置に
配置された電子銃と、前記蛍光体層と前記電子銃との間
に配置されたシャドウマスクまたはアパチャーグリル
と、封着部が陰極線管のパネル内面に融接されるととも
に、ホルダー支持部がシャドウマスクまたはアパチャー
グリルの周縁部と接合させて前記シャドウマスクまたは
アパチャーグリルの周縁部を所定の位置に固定するパネ
ルピンを備え、前記パネルピンが、請求項1〜5のいず
れかのものであること、を特徴とするものである。
The cathode ray tube according to the present invention of claim 7 is arranged such that a vacuum envelope having a panel, a phosphor layer provided on the inner surface of the panel, and a position facing the panel of the vacuum envelope. An electron gun, a shadow mask or aperture grill disposed between the phosphor layer and the electron gun, a sealing portion is fused to the inner surface of the panel of the cathode ray tube, and a holder supporting portion is a shadow mask or aperture. A panel pin for fixing the peripheral edge portion of the shadow mask or the aperture grill to a predetermined position by being joined to the peripheral edge portion of the grill, wherein the panel pin is any one of claims 1 to 5. It is a thing.

【0018】[0018]

【発明の実施形態】以下、本発明の実施の形態について
図面を参照して説明する。図1は、本発明のパネルピン
の形状を示した外観図である。図2は、図1に示したパ
ネルピンの断面形状を示す断面図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is an external view showing the shape of the panel pin of the present invention. FIG. 2 is a sectional view showing a sectional shape of the panel pin shown in FIG.

【0019】本発明によるパネルピンは、陰極線管用パ
ネルに封着されたシャドウマスクまたはアパチャーグリ
ルを保持するためのパネルピンに関するものである。こ
のような本発明のパネルピン1は、図1に示すように略
円筒状の形状を有している。ここで、2はホルダー支持
部であり、3はガラス封着部である。このガラス封着部
3は、図2に示すように、パネルピンの外側表面(3
外)とパネルピンの内側表面(3内)に分類することが
できる。
The panel pin according to the present invention relates to a panel pin for holding a shadow mask or an aperture grill sealed to a cathode ray tube panel. Such a panel pin 1 of the present invention has a substantially cylindrical shape as shown in FIG. Here, 2 is a holder support part, and 3 is a glass sealing part. As shown in FIG. 2, the glass sealing portion 3 has an outer surface (3
It can be classified into the outer) and the inner surface of the panel pin (inside 3).

【0020】このパネルピン1の少なくともガラス封着
部3には、酸化皮膜4が形成されている。なお、酸化皮
膜4は、ガラス封着部3のみに形成されている必要はな
く、ガラス封着部分以外の部分(例えば、ホルダー支持
部2およびパネルピン内側の非ガラス封着部5)にも形
成されていてもよい。酸化皮膜の形成は通常熱処理によ
って行われるが、そのような通常の熱処理において酸化
皮膜をパネルピンのガラス封着部3のみに形成させるこ
とは操作上困難である場合があり、一方ホルダー支持部
2等に酸化皮膜が形成されてしてもパネルピンとしての
機能に実質的に悪影響を与えることがないので、酸化皮
膜は、図2に示すように、パネルピンのガラス封着部3
以外の部分、例えばホルダー支持部2およびパネルピン
内側の非ガラス封着部5、にも形成されているのが一般
的である。
An oxide film 4 is formed on at least the glass sealing portion 3 of the panel pin 1. The oxide film 4 does not need to be formed only on the glass sealing portion 3, and is also formed on portions other than the glass sealing portion (for example, the holder supporting portion 2 and the non-glass sealing portion 5 inside the panel pin). It may have been done. The formation of the oxide film is usually carried out by heat treatment, but it may be difficult in operation to form the oxide film only on the glass sealing portion 3 of the panel pin by such normal heat treatment, while the holder support portion 2 and the like are provided. Even if the oxide film is formed on the panel pin, the function as the panel pin is not substantially adversely affected. Therefore, as shown in FIG.
Generally, it is also formed in other portions, for example, the holder supporting portion 2 and the non-glass sealing portion 5 inside the panel pin.

【0021】本発明による第一のパネルピンは、前記の
通り、陰極線管用パネルに封着されたシャドウマスクま
たはアパチャーグリルを保持するためのパネルピンであ
って、このパネルピンの少なくともガラス封着部に酸化
皮膜が形成されてなり、この酸化皮膜上の表面粗さ測定
におけるうねり成分(Wt)が10μm以下であるこ
と、を特徴とするものである。
As described above, the first panel pin according to the present invention is a panel pin for holding the shadow mask or the aperture grill sealed to the cathode ray tube panel, and at least the glass sealing portion of the panel pin has an oxide film. Is formed, and the waviness component (Wt) in the surface roughness measurement on the oxide film is 10 μm or less.

【0022】ここで、「うねり成分(Wt)」は、JI
S B0601−2001によって定義されるものであ
って、具体的には下記の測定法によって求められたもの
である。
Here, "waviness component (Wt)" means JI
It is defined by SB0601-2001, and is specifically determined by the following measuring method.

【0023】パネルピンの周方向に酸化被膜上の均等な
4箇所のうねり曲線を測定し、このうねり曲線から得ら
れた最大山高さと最大谷高さの和によって得られた(上
記定義によって得られた)Wtの平均を本発明の値とす
る。Wtの平均値を本発明の値とする。
The undulation curve was measured at four points evenly on the oxide film in the circumferential direction of the panel pin, and was obtained by the sum of the maximum peak height and the maximum valley height obtained from this undulation curve (obtained by the above definition. ) Let the average of Wt be the value of the present invention. The average value of Wt is the value of the present invention.

【0024】うねり成分(Wt)が上記範囲を超える場
合には、パネルピンの封着後の熱歪みによる応力集中が
大きくなるためにガラスクラックが発生しやすくなる。
本発明ではうねり成分(Wt)が8μm以下、特に5μ
m以下、であることが好ましい。
When the waviness component (Wt) exceeds the above range, stress concentration due to thermal strain after sealing the panel pins becomes large, and glass cracks are likely to occur.
In the present invention, the waviness component (Wt) is 8 μm or less, especially 5 μm.
It is preferably m or less.

【0025】本発明で特に好ましいパネルピンはガラス
封着部の実質的全範囲が上記規定を満たしているもので
あるが、ガラス封着部の酸化皮膜のいずれかの部分にお
けるうねり成分(Wt)が上記規定を満たしていれば本
願発明の効果を期待することができる。また、うねり成
分(Wt)の値は、ガラス封着部の酸化皮膜の全ての部
分において同一である必要はない。例えば、パネルピン
の外側の封着部と内側の封着部とで異なっていてもよ
い。
Particularly preferable panel pins in the present invention are those in which substantially the entire range of the glass-sealed portion satisfies the above-mentioned requirements, but the waviness component (Wt) in any part of the oxide film of the glass-sealed portion is If the above requirements are satisfied, the effect of the present invention can be expected. The value of the waviness component (Wt) does not have to be the same in all parts of the oxide film of the glass-sealed part. For example, the outer sealing portion and the inner sealing portion of the panel pin may be different.

【0026】本発明による第二のパネルピンは、前記の
通り、陰極線管用パネルに封着されたシャドウマスクま
たはアパチャーグリルを保持するためのパネルピンであ
って、このパネルピンの少なくともガラス封着部に酸化
皮膜が形成されてなり、この酸化皮膜上の表面粗さ測定
における算術平均粗さ(Ra)が0.1〜3μmであり
かつ十点平均粗さ(Rz)が2〜14μmであること、
を特徴とするものである。
As described above, the second panel pin according to the present invention is a panel pin for holding the shadow mask or the aperture grill sealed to the cathode ray tube panel, and at least the glass sealing portion of the panel pin has an oxide film. And the arithmetic mean roughness (Ra) in the surface roughness measurement on the oxide film is 0.1 to 3 μm and the ten-point mean roughness (Rz) is 2 to 14 μm.
It is characterized by.

【0027】ここで、「算術平均粗さ(Ra)」および
「十点平均粗さ(Rz)」は、それぞれ、JIS B0
601−1994によって定義されるものであって、具
体的には、以下の測定法によって求められたものであ
る。
The "arithmetic mean roughness (Ra)" and the "ten-point mean roughness (Rz)" are JIS B0, respectively.
It is defined by 601-1994, and is specifically obtained by the following measuring method.

【0028】パネルピンの周方向に酸化被膜上の均等な
4箇所の粗さ曲線を測定する。そして、Raは、その粗
さ曲線からその平均線の方向に基準長さLだけ抜き取
り、この抜き取り部分の平均線から測定曲線までの偏差
の絶対値を平均して得られた(上記定義によって得られ
た)Raの平均を本発明の値とする。また、Rzは、そ
の粗さ曲線からその平均線の方向に基準長さLだけ抜き
取り、この抜き取り部分の平均線から最も高い山頂から
5番目までの山頂の標高(Yp)の絶対値の平均値と、
最も低い谷底から5番目までの谷底の標高(Yv)の絶
対値の平均値との和から得られた(上記定義によって得
られた)Rzの平均を本発明の値とする。
Roughness curves are measured at four uniform locations on the oxide film in the circumferential direction of the panel pin. Then, Ra was obtained by extracting the reference length L from the roughness curve in the direction of the average line and averaging the absolute values of the deviations from the average line of the extracted portion to the measurement curve (obtained by the above definition. The average of Ra) is taken as the value of the present invention. Further, Rz is the average value of the absolute values of the elevations (Yp) of the peaks from the highest peak to the fifth peak from the average line of this extracted portion, extracted from the roughness curve in the direction of the average line. When,
The average value of Rz (obtained by the above definition) obtained from the sum of the absolute values of the altitudes (Yv) of the fifth to the lowest valley bottoms and the average value thereof is taken as the value of the present invention.

【0029】この本発明のパネルピンにおける「算術平
均粗さ(Ra)」は、0.1〜3.0μm、好ましくは
0.3〜1.5μm、更に好ましくは0.5〜1.2μ
m、である。算術平均粗さ(Ra)が、上記範囲を超え
る場合には、ガラス封着強度は良好であるもののガラス
クラックが発生しやすくなり、一方、上記範囲未満であ
る場合にはガラスクラックの発生が有効に防止されるも
のの十分な封着強度が得られにくくなる。
The "arithmetic mean roughness (Ra)" of the panel pin of the present invention is 0.1 to 3.0 μm, preferably 0.3 to 1.5 μm, more preferably 0.5 to 1.2 μm.
m. If the arithmetic average roughness (Ra) exceeds the above range, the glass sealing strength is good, but glass cracks easily occur, while if it is less than the above range, the occurrence of glass cracks is effective. However, it is difficult to obtain sufficient sealing strength.

【0030】また、「十点平均粗さ(Rz)」は、2〜
14μm、好ましくは3〜10μm、更に好ましくは4
〜8μm、である。十点平均粗さ(Rz)が、上記範囲
を超える場合には、ガラスとの封着強度は良好であるも
ののガラスクラックが発生しやすくなり、一方、上記範
囲未満である場合にはガラスクラックは有効に防止され
るものの十分な封着強度が得られにくくなる。
The "ten-point average roughness (Rz)" is 2 to
14 μm, preferably 3 to 10 μm, more preferably 4
˜8 μm. When the ten-point average roughness (Rz) exceeds the above range, glass cracks are likely to occur although the sealing strength with glass is good, while when it is less than the above range, glass cracks are generated. Although effectively prevented, it becomes difficult to obtain sufficient sealing strength.

【0031】本発明で特に好ましいパネルピンはガラス
封着部の実質的全範囲が上記規定を満たしているもので
あるが、ガラス封着部の酸化皮膜のいずれかの部分にお
いて算術平均粗さ(Ra)および十点平均粗さ(Rz)
が上記規定を満たしていれば本願発明の効果を期待する
ことができる。また、算術平均粗さ(Ra)および十点
平均粗さ(Rz)の値は、ガラス封着部の酸化皮膜の全
ての部分において同一である必要はない。例えば、パネ
ルピンの外側の封着部と内側の封着部とで異なっていて
もよい。
Particularly preferable panel pins in the present invention are those in which substantially the entire range of the glass-sealed portion satisfies the above-mentioned requirements, but the arithmetic mean roughness (Ra) is measured in any part of the oxide film of the glass-sealed portion. ) And ten-point average roughness (Rz)
If the above condition is satisfied, the effect of the present invention can be expected. Moreover, the values of the arithmetic average roughness (Ra) and the ten-point average roughness (Rz) do not have to be the same in all parts of the oxide film of the glass sealing part. For example, the outer sealing portion and the inner sealing portion of the panel pin may be different.

【0032】本発明による第三のパネルピンは、前記の
通り、陰極線管用パネルに封着されたシャドウマスクま
たはアパチャーグリルを保持するためのパネルピンであ
って、このパネルピンの少なくともガラス封着部に酸化
皮膜が形成されてなり、この酸化皮膜上の表面粗さ測定
における算術平均粗さ(Ra)が0.1〜3μmであ
り、パネルピンの封着部外側表面の算術平均粗さ(Ra
外)がパネルピンの封着部内側表面の算術平均粗さ(R
a内)より大きいこと、を特徴とするものである。
As described above, the third panel pin according to the present invention is a panel pin for holding the shadow mask or aperture grill sealed to the cathode ray tube panel, and at least the glass sealing portion of the panel pin has an oxide film. Is formed, the arithmetic mean roughness (Ra) in the surface roughness measurement on the oxide film is 0.1 to 3 μm, and the arithmetic mean roughness (Ra) of the outer surface of the sealing portion of the panel pin (Ra) is
Outside) is the arithmetic average roughness (R
It is larger than (in a).

【0033】ここで、「算術平均粗さ(Ra)」は、上
記と同様にJIS B0601−1994によって定義
されるものであって、上記測定法によって求められたも
のである。
Here, the "arithmetic mean roughness (Ra)" is defined by JIS B0601-1994 similarly to the above, and is obtained by the above measuring method.

【0034】そして、「算術平均粗さ(Ra)」は、上
記と同様に、0.1〜3.0μm、好ましくは0.3〜
1.5μm、更に好ましくは0.5〜1.2μm、であ
る。算術平均粗さ(Ra)が、上記範囲を超える場合に
は、ガラスとの封着強度は良好であるもののガラスクラ
ックが発生しやすくなり、一方、上記範囲未満である場
合にはガラスクラックの発生が有効に防止されるものの
十分な封着強度が得られにくくなる。
The "arithmetic mean roughness (Ra)" is 0.1 to 3.0 μm, preferably 0.3 to 3.0, as in the above.
The thickness is 1.5 μm, more preferably 0.5 to 1.2 μm. If the arithmetic mean roughness (Ra) exceeds the above range, glass cracks are likely to occur although the sealing strength with glass is good, while if less than the above range, glass cracks occur. However, it is difficult to obtain sufficient sealing strength.

【0035】パネルピンの封着部外側表面の算術平均粗
さ(Ra外)とパネルピンの封着部内側表面の算術平均
粗さ(Ra内)との比(Ra外)/(Ra内)は、1.
1〜2が好ましく、さらに好ましくは1.2〜1.9、
特に好ましくは1.3〜1.7、である。1.1未満で
ある場合には、本願発明の効果、目的を十分達成するこ
とができず、一方2超過であると相対的に封着部外側表
面の粗さが粗くなるためシャドウマスク(アパチャーグ
リル)の脱着がスムーズでなくなるためである。
The ratio (outside Ra) / (inside Ra) of the arithmetic mean roughness (outside Ra) of the outer surface of the sealing portion of the panel pin and the arithmetic average roughness (inside Ra) of the inner surface of the sealing portion of the panel pin is: 1.
1-2 is preferable, and more preferably 1.2-1.9,
Particularly preferably, it is 1.3 to 1.7. When it is less than 1.1, the effect and object of the present invention cannot be sufficiently achieved, while when it is more than 2, the roughness of the outer surface of the sealing portion becomes relatively rough so that the shadow mask (aperture) This is because the desorption of the grill is not smooth.

【0036】本発明のように、パネルピンの封着部外側
表面(3内)と内側表面(3外)とで算術平均粗さを異
ならせ、外側表面の算術平均粗さ(Ra外)を封着部内
側表面の算術平均粗さ(Ra内)より大きくすることに
よってガラスクラックの発生が有効に防止される理由
は、酸化皮膜のガラス濡れ性が向上してその接合面積が
増大し、酸化皮膜とガラスとの接合強度および酸化皮膜
とガラスとの接合強度がより向上したこと、そして、パ
ネルピン融着部付近の応力集中が緩和されたことによる
ものと考えられている。
As in the present invention, the arithmetic mean roughness is made different between the outer surface (inside 3) and the inner surface (outside 3) of the sealing portion of the panel pin to seal the arithmetic mean roughness (outside Ra) of the outer surface. The reason why the generation of glass cracks is effectively prevented by increasing the arithmetic mean roughness (in Ra) of the inner surface of the welded part is that the glass wettability of the oxide film is improved and the bonding area thereof is increased. It is considered that this is because the joint strength between the glass and the glass and the joint strength between the oxide film and the glass were further improved, and the stress concentration near the panel pin fused portion was relaxed.

【0037】なお、パネルピン融着部付近に応力が生じ
る理由としては、パネルピンの内側と外側とでは封着工
程および除冷工程あるいはその後の熱処理工程における
温度変化条件等が異なっていること、それに伴ってガラ
スの熱膨張特性および熱収縮特性がパネルピンの内側と
外側とで異なってくること、パネルピンの形状等によっ
てガラスにかかる応力の大きさないしその方向性がパネ
ルピンの外側と内側で異なっていること等を挙げること
ができる。すなわち、封着合金材料から形成されるパネ
ルピンはガラスに比べ熱伝導性が高いことが多いからガ
ラスより早期に熱収縮すること、パネルピン内部のガラ
スにはガラスピンの収縮によって圧縮方向に応力がかか
る一方パネルピン外部のガラスは反対に引っ張りの応力
がかかること、またパネルピン外部のガラスは外部雰囲
気によって冷却が進む一方パネルピン内部のガラスは密
閉環境にあることから冷却が遅いこと等が考えられる。
応力の発生およびその集中が大きい場合には、封着工程
およびその後の熱処理工程等においてガラスクラックが
発生し、パネルピンの封着強度の低下が避けられない。
また、パネルピンをガラスに封着する際に、その内部に
気体が封入されて内部圧力が高まり、これによってパネ
ルピンの内側表面でのガラス濡れが低下して、ガラスと
の密着性および接合強度の低下があったようである。
The reason why the stress is generated in the vicinity of the fused portion of the panel pin is that the temperature change conditions in the sealing step and the cooling step or the subsequent heat treatment step are different between the inside and the outside of the panel pin. The thermal expansion and contraction characteristics of the glass differ between the inside and outside of the panel pin, and the stress applied to the glass is not large due to the shape of the panel pin, and the direction of the stress is different between the outside and inside of the panel pin. Etc. can be mentioned. That is, since the panel pin formed from the sealing alloy material often has higher thermal conductivity than glass, heat shrinks earlier than glass, and the glass inside the panel pin is stressed in the compression direction due to the shrinkage of the glass pin. On the other hand, it is conceivable that the glass outside the panel pin will be subjected to tensile stress, and the glass outside the panel pin will be cooled by the external atmosphere while the glass inside the panel pin will be in a closed environment and thus will be cooled slowly.
When the stress is generated and its concentration is large, glass cracks are generated in the sealing step and the subsequent heat treatment step and the sealing strength of the panel pin is unavoidably lowered.
In addition, when the panel pin is sealed to the glass, gas is enclosed inside the glass and the internal pressure rises, which reduces the wetting of the glass on the inner surface of the panel pin and reduces the adhesion and bonding strength with the glass. It seems that there was.

【0038】本発明では、パネルピンの酸化皮膜上の表
面粗さ測定における算術平均粗さ(Ra)が0.1〜3
μmである範囲内では、算術平均粗さの値が大きくなる
とパネルピンと酸化皮膜との密着強度が向上すること、
および算術平均粗さの値が小さくなると酸化皮膜とガラ
スとの濡れ性が向上することが確認されている。本発明
によるこのパネルピンは、パネルピンの封着部外側表面
の算術平均粗さ(Ra外)がパネルピンの封着部内側表
面の算術平均粗さ(Ra内)よりも大きくすることによ
り、パネルピンの外側表面および内側表面の双方を最適
な表面特性のものとすることによって、パネルピンの融
着強度を向上させ、ガラスクラックの発生を防止するも
のである。
In the present invention, the arithmetic mean roughness (Ra) in the surface roughness measurement on the oxide film of the panel pin is 0.1 to 3
Within the range of μm, the adhesion strength between the panel pin and the oxide film improves as the value of the arithmetic mean roughness increases,
It has been confirmed that the wettability between the oxide film and the glass is improved when the value of the arithmetic mean roughness becomes small. In the panel pin according to the present invention, the outer surface of the sealing portion of the panel pin has an arithmetic mean roughness (outside Ra) larger than an arithmetic mean roughness of the inner surface of the sealing portion of the panel pin (inside Ra) so that the outside surface of the panel pin is outside. By making both the surface and the inner surface have optimum surface characteristics, the fusion strength of the panel pin is improved and the occurrence of glass cracks is prevented.

【0039】上記の第一〜第三の各パネルピンは、この
種のパネルピンにおいて従来から用いられていた封着合
金材料から形成することができる。本発明において好ま
しい封着合金としては、鉄(Fe)−クロム(Cr)系
合金を例示することができ、特にクロム(Cr)15〜
30重量%、アルミニウム(Al)0.01〜1重量
%、ケイ素(Si)0.1〜1重量%、チタン(Ti)
0.1〜1重量%および残部が実質的にFeからなるも
のを好ましいものとして例示することができる。
The first to third panel pins described above can be formed from a sealing alloy material which has been conventionally used in this type of panel pin. Examples of preferable sealing alloys in the present invention include iron (Fe) -chromium (Cr) based alloys, and particularly chromium (Cr) 15 to
30% by weight, 0.01 to 1% by weight of aluminum (Al), 0.1 to 1% by weight of silicon (Si), titanium (Ti)
A preferable example is 0.1 to 1% by weight and the balance substantially Fe.

【0040】ここで、CrはFe基合金を低熱膨張化
し、その熱膨張率をパネルを構成する特殊ガラスの熱膨
張率に近似させる成分であり、Crの含有量が上記した
範囲外であると、いずれの場合にもパネルピンを構成す
る特殊ガラスとの熱膨張率の差が大きくなりすぎて、特
殊ガラスに対する封着部品としての特性が低下する。ま
た、Crの含有量が30重量%を超えると伸びなどの機
械的特性も低下する。Crはさらに表面酸化膜の主要な
成分となるものであり、これによりガラスに対して濡れ
性に優れる表面酸化膜が得られる。
Here, Cr is a component that lowers the thermal expansion coefficient of the Fe-based alloy and approximates the thermal expansion coefficient to the thermal expansion coefficient of the special glass constituting the panel, and if the content of Cr is outside the above range. In any of these cases, the difference in the coefficient of thermal expansion from the special glass forming the panel pin becomes too large, and the characteristics of the special glass as a sealing component deteriorate. Further, if the Cr content exceeds 30% by weight, mechanical properties such as elongation also deteriorate. Cr is also a main component of the surface oxide film, whereby a surface oxide film having excellent wettability with respect to glass can be obtained.

【0041】Alは表面酸化膜とパネルピンの封着部と
の密着性を向上させる成分であり、そのAlの含有量が
あまり少ないと表面酸化膜の密着性を向上させる効果が
低く、逆にAlの含有量があまり多いと熱膨張率を変化
させて、封着時に歪みなどを増大させるおそれがあるた
め、上記範囲が好ましい。このAlの含有量は0.2〜
0.5重量%の範囲とすることがさらに好ましい。
Al is a component that improves the adhesion between the surface oxide film and the sealing portion of the panel pin. If the content of Al is too small, the effect of improving the adhesion of the surface oxide film is low. If the content of is too large, the coefficient of thermal expansion may be changed, and the strain or the like may increase during sealing, so the above range is preferred. The content of this Al is 0.2-
It is more preferable to set it in the range of 0.5% by weight.

【0042】Siは酸化処理において、表面酸化膜の下
層側に主としてSiOからなる酸化物層を形成し、表
面酸化膜とパネルピンの封着部との密着性を高める成分
であり、そのSiの含有量があまり少ないと、表面酸化
膜の密着性を向上させる効果が低く、逆にその量があま
り多いと熱膨張率を変化させて、封着部に歪みなどを増
大させるおそれがある。
Si is a component which forms an oxide layer mainly composed of SiO 2 on the lower side of the surface oxide film in the oxidation treatment to enhance the adhesion between the surface oxide film and the sealing portion of the panel pin. If the content is too small, the effect of improving the adhesiveness of the surface oxide film is low. On the contrary, if the content is too large, the coefficient of thermal expansion may be changed to increase the strain or the like in the sealed portion.

【0043】また、TiはAlと同様に、表面酸化膜と
パネルピンの封着部との密着性を向上させると共に、有
害なCやNを固定する機能を有し、また内部酸化物を主
として構成する成分であり、Tiの含有量があまり少な
いと、表面酸化膜の密着性を向上させる効果が低く、逆
にTiの含有量があまり多いと加工性を低下させるおそ
れがある。このTiの含有量は0.15〜0.5重量%
の範囲とすることがさらに好ましい。
Further, like Al, Ti has a function of improving the adhesion between the surface oxide film and the sealing portion of the panel pin and fixing harmful C and N, and mainly comprises an internal oxide. If the Ti content is too low, the effect of improving the adhesion of the surface oxide film is low, and if the Ti content is too high, the workability may be reduced. The content of Ti is 0.15 to 0.5% by weight
It is more preferable to set the range to.

【0044】なお、本発明においては必要に応じてMn
やNiなどを微量含有していてもよい。これらの元素は
封着部の加工性の向上、熱膨張特性の調整などに寄与す
るものである。また、Cおよび窒素(N)はFe−Cr
系合金の加工性を低下させるおそれがあるため、これら
の含有量はいずれも0.01重量%未満とすることが好
ましい。
In the present invention, if necessary, Mn
A small amount of Ni, Ni, etc. may be contained. These elements contribute to improving the workability of the sealed portion and adjusting the thermal expansion characteristics. C and nitrogen (N) are Fe-Cr.
Since the workability of the base alloy may be deteriorated, the content of each of them is preferably less than 0.01% by weight.

【0045】このような材料から成形されたパネルピン
を、(1)酸化皮膜上の表面粗さ測定におけるうねり成
分(Wt)が10μm以下とする方法、(2)酸化皮膜
上の表面粗さ測定における算術平均粗さ(Ra)が0.
1〜3μmでありかつ十点平均粗さ(Rz)が2〜14
μmとする方法、(3)前記第三のパネルピンのよう
に、酸化皮膜上の表面粗さ測定における算術平均粗さ
(Ra)が0.1〜3μmであり、パネルピンの封着部
外側表面の算術平均粗さ(Ra外)がパネルピンの封着
部内側表面の算術平均粗さ(Ra内)より大きいように
する方法は、一般的な任意の方法によって行うことがで
きる。なお、必要に応じ、酸化皮膜形成後にその表面特
性が上記好ましいものとなるような後処理を施すことも
できる。
For a panel pin molded from such a material, (1) a method of setting the waviness component (Wt) in the surface roughness measurement on the oxide film to 10 μm or less, (2) a surface roughness measurement on the oxide film The arithmetic mean roughness (Ra) is 0.
1-3 μm and ten-point average roughness (Rz) of 2-14
(3) Like the third panel pin, the arithmetic mean roughness (Ra) in the surface roughness measurement on the oxide film is 0.1 to 3 μm, and the outer surface of the sealing portion of the panel pin is A method of making the arithmetic average roughness (outside Ra) larger than the arithmetic average roughness (inside Ra) of the inner surface of the sealing portion of the panel pin can be performed by any general method. If necessary, after the oxide film is formed, a post-treatment may be performed so that the surface characteristics thereof become the above-mentioned preferable ones.

【0046】酸化皮膜は、例えば上記のような適当な処
理に付したパネルピンを例えば湿式水素雰囲気中にてパ
ネルピンを例えば900〜1400℃の温度で熱処理、
すなわち酸化処理を施すことによって形成させることが
できる。このような酸化処理により、少なくともパネル
ピンの封着部3の表面にCrの酸化物を主要な成分とし
て含み、ガラスに対して濡れ性に優れる表面酸化膜が得
られる。
The oxide film is formed by subjecting the panel pin, which has been subjected to the above-mentioned appropriate treatment, to a heat treatment at a temperature of 900 to 1400 ° C., for example, in a wet hydrogen atmosphere.
That is, it can be formed by performing an oxidation treatment. By such an oxidation treatment, a surface oxide film containing Cr oxide as a main component at least on the surface of the sealing portion 3 of the panel pin and having excellent wettability with respect to glass can be obtained.

【0047】次に、本発明による陰極線管について説明
する。本発明による陰極線管の実施形態の一例を図3お
よび図4に示す。本発明による陰極線管11は、短形状
のガラスパネル(フェースプレート)12と、漏斗状の
ファンネル13とネック14とからなる真空外囲器を有
している。パネル(フェースプレート)12の内面に
は、三原色となる赤色(R)、緑色(G)、青色(B)
の発光蛍光体層15がストライプ状またはドット状に形
成されており、赤、緑、青に対応する電子ビーム16を
射出する電子銃17がネック14に内設されている。
Next, the cathode ray tube according to the present invention will be described. An example of an embodiment of the cathode ray tube according to the present invention is shown in FIGS. 3 and 4. The cathode ray tube 11 according to the present invention has a vacuum envelope including a short glass panel (face plate) 12, a funnel-shaped funnel 13 and a neck 14. The inner surface of the panel (face plate) 12 has three primary colors of red (R), green (G), and blue (B).
The light emitting phosphor layer 15 is formed in a stripe shape or a dot shape, and an electron gun 17 for emitting an electron beam 16 corresponding to red, green, and blue is provided inside the neck 14.

【0048】また、蛍光体層15に近接対向した位置に
は多数の微細な開孔を有するシャドウマスク18が配置
され、その周辺部には短形形状のマスクフレーム18a
が取り付けられ、さらにマスクフレーム18aには弾性
ホルダ19が取りつけられている。シャドウマスク18
は、パネル12の側壁12aの内面に設けられた本発明
のパネルピン1に弾性ホルダ19の他端部を係止するこ
とにより固定されている。前記電子銃17内で一定の電
圧で加速された電子ビーム16は、電子レンズ20によ
り収束され、さらに偏向ヨーク21によって進路曲げら
れ、そしてシャドウマスク18を通過した電子ビームは
選択的に蛍光体層15に照射されて励起発光されて、各
色の加法色によりあらゆる色からなるカラー映像が再生
される。
Further, a shadow mask 18 having a large number of fine apertures is arranged at a position close to and facing the phosphor layer 15, and a rectangular mask frame 18a is provided around the shadow mask 18.
And an elastic holder 19 is attached to the mask frame 18a. Shadow mask 18
Is fixed by locking the other end of the elastic holder 19 to the panel pin 1 of the present invention provided on the inner surface of the side wall 12a of the panel 12. The electron beam 16 accelerated in the electron gun 17 at a constant voltage is converged by an electron lens 20, further bent by a deflection yoke 21, and the electron beam passing through the shadow mask 18 is selectively phosphor layer. The image is irradiated with 15 and excited to emit light, and a color image of all colors is reproduced by the additive color of each color.

【0049】本発明によるパネルピン1は、パネルに用
いられるガラスの作業温度を超える高温度に加熱された
パネルピン1の封着部をガラス製のパネルの定位置に押
し込むことにより、図4に示すように、ガラスパネルの
側壁内面12aに封着固定することができる。
The panel pin 1 according to the present invention, as shown in FIG. 4, is obtained by pushing the sealing portion of the panel pin 1 heated to a high temperature exceeding the working temperature of the glass used for the panel into a fixed position of the glass panel. In addition, it can be sealed and fixed to the inner surface 12a of the side wall of the glass panel.

【0050】上述した陰極線管は、所定のパネルピン、
即ちガラス濡れ性および酸化皮膜の密着性が向上してお
り、封着性が高くかつガラスクラックの発生が有効に防
止されたパネルピン、を使用したものであることから、
フレームホルダを介してシャドウマスクを固定する際
に、更には使用時に繰り返し温度変化を受けた際にも、
パネルピンの封着強度が極めて高く保持されたものであ
って、ガラスクラックの発生が防止されたものである。
よって、パネルピンの融着強度不足などに起因する電子
ビームのミスランディングなどの発生を抑制することが
でき、これによりカラーブラウン管などの陰極線管の品
質や製造歩留まりを高めることができ、高寿命化をはか
ることできる。
The above-mentioned cathode ray tube has a predetermined panel pin,
That is, the glass wettability and the adhesiveness of the oxide film are improved, since the panel pin having high sealing property and effectively preventing the occurrence of glass cracks is used,
When fixing the shadow mask via the frame holder, and also when repeatedly subjected to temperature changes during use,
The sealing strength of the panel pin is kept extremely high, and the occurrence of glass cracks is prevented.
Therefore, it is possible to suppress the occurrence of electron beam mislanding due to insufficient fusion strength of panel pins, etc., which can improve the quality and manufacturing yield of cathode ray tubes such as color cathode ray tubes and increase the service life. Can be measured.

【0051】[0051]

【実施例】次に、本発明の具体的な実施例およびその評
価結果を示す。 <実施例A1〜A3、比較例A1〜A2> パネルピン
の構成材料として、18重量%Cr−0.3重量%Ti
−Fe系合金を使用し、これを下記表1に示すバレル処
理、ブラスト処理および酸化処理を行って、裾部から肩
部までの長さが6mm、外径13mm、内径11.2m
mのパネルピンを製造した。
EXAMPLES Next, specific examples of the present invention and evaluation results thereof will be shown. <Examples A1 to A3, Comparative Examples A1 to A2> As a constituent material of the panel pin, 18 wt% Cr-0.3 wt% Ti
A Fe-based alloy was used, which was subjected to barrel treatment, blast treatment and oxidation treatment shown in Table 1 below, and the length from the hem to the shoulder was 6 mm, the outer diameter was 13 mm, and the inner diameter was 11.2 m.
m panel pins were manufactured.

【表1】 [Table 1]

【0052】上記で製造した各パネルピンの表面粗さを
JIS B0601−1994に従って測定し、これか
らうねり成分(Wt)を求めた。表面粗さの測定は、表
面粗さ測定器((株)テーラーホブソン社製「フォーム
タリサーフS4C」)により、スタイラス形状(60℃
円錐で先端部の曲率半径(R)2μm)のダイヤモンド
接触子を使用して、パネルピン外表面を裾部から肩部に
向けて直線状に連続的に計測することによって求めた。
The surface roughness of each panel pin produced above was measured according to JIS B0601-1994, and the waviness component (Wt) was determined from this. The surface roughness is measured by a surface roughness measuring device (“Form Talysurf S4C” manufactured by Taylor Hobson Co., Ltd.) with a stylus shape (60 ° C.).
It was determined by continuously measuring the outer surface of the panel pin linearly from the hem toward the shoulder using a diamond contactor having a conical radius of curvature (R) of 2 μm at the tip.

【0053】上記の各パネルピンを、高周波加熱により
1200℃×45秒の条件で、ブラウン管用ガラスパネ
ル(ガラス組成:軟質ガラス)に、それぞれ100個封
着した。
100 pieces of each of the above-mentioned panel pins were sealed on a glass panel for a cathode ray tube (glass composition: soft glass) by high frequency heating at 1200 ° C. for 45 seconds.

【0054】次いで、これを30℃の温度から500℃
に加熱し(このときの加熱速度は200℃/hr)、次
いで30℃迄冷却(このときの冷却速度は200℃/h
r)することからなるヒートサイクル試験を10サイク
ル行った。試験後、周囲にガラスクラックが発生したパ
ネルピンの数を調べ、ガラスクラック防止効果を評価し
た。結果は、下記の表2に示される通りである。
Then, this is heated from 30 ° C. to 500 ° C.
(The heating rate at this time is 200 ° C / hr) and then cooled to 30 ° C (the cooling rate at this time is 200 ° C / h)
The heat cycle test consisting of r) was performed for 10 cycles. After the test, the number of panel pins around which glass cracks were generated was examined to evaluate the glass crack prevention effect. The results are as shown in Table 2 below.

【表2】 [Table 2]

【0055】上記の結果より、本発明によるパネルピン
は、加熱および冷却を繰り返し受けてもガラスクラック
を発生させることがない。
From the above results, the panel pin according to the present invention does not cause glass cracks even if it is repeatedly heated and cooled.

【0056】<実施例B1〜B3、比較例B1〜B2>
パネルピンの構成材料として、18重量%Cr−0.3
重量%Ti−Fe系合金を使用し、これを下記表3に示
すバレル処理、ブラスト処理および酸化処理を行って、
裾部から肩部までの長さが6mm、外径13mm、内径
11.2mmのパネルピンを製造した。
<Examples B1 to B3, Comparative Examples B1 to B2>
As a constituent material of the panel pin, 18 wt% Cr-0.3
A weight% Ti-Fe alloy was used, which was subjected to barrel treatment, blast treatment and oxidation treatment shown in Table 3 below,
A panel pin having a length from the hem to the shoulder of 6 mm, an outer diameter of 13 mm and an inner diameter of 11.2 mm was manufactured.

【表3】 [Table 3]

【0057】上記で製造した各パネルピンの表面粗さを
JIS B0601−1994に従って測定し、これか
ら算術平均粗さ(Ra)および十点平均粗さ(Rz)を
求めた。表面粗さの測定は、表面粗さ測定器((株)テ
ーラーホブソン社製「フォームタリサーフS4C」)に
より、スタイラス形状(60℃円錐で先端部の曲率半径
(R)2μm)のダイヤモンド接触子を使用して、パネ
ルピン外表面を裾部から肩部に向けて直線状に連続的に
計測することによって行った。
The surface roughness of each panel pin manufactured as described above was measured according to JIS B0601-1994, and the arithmetic mean roughness (Ra) and ten-point mean roughness (Rz) were determined from this. The surface roughness is measured by a surface roughness measuring instrument (“Form Talysurf S4C” manufactured by Taylor Hobson Co., Ltd.) and a stylus-shaped (60 ° conical tip radius of curvature (R) 2 μm) diamond contactor. Using, the outer surface of the panel pin was linearly measured continuously from the hem toward the shoulder.

【0058】上記の各パネルピンについて、ガラスとの
密着性およびガラスクラック発生数を下記方法により評
価した。ガラスとの密着性 :上記で製造した酸化皮膜が形成され
たパネルピンを、1200℃の温度で45秒間高周波加
熱し、直径10mm、高さ8mm、厚さ1mmのブラウ
ン管用軟質ガラスリングを封着した後、室温にて5分間
冷却した後、重さ0.5kgの球形の鉄製錘を10cm
の高さから落下させて、ガラスを破壊した。破壊後の酸
化皮膜上のガラス残存率を測定することによって、パネ
ルピンとガラスとの密着性を下記表4に示すグレート評
価にて判定した。
With respect to each of the above panel pins, the adhesion to glass and the number of glass cracks generated were evaluated by the following methods. Adhesion to glass : The panel pin having the oxide film formed above was heated at a temperature of 1200 ° C. for 45 seconds with high frequency to seal a soft glass ring for a cathode ray tube having a diameter of 10 mm, a height of 8 mm and a thickness of 1 mm. Then, after cooling at room temperature for 5 minutes, a spherical iron weight with a weight of 0.5 kg was added to 10 cm.
The glass was broken by dropping it from the height of. By measuring the glass residual rate on the oxide film after the breakage, the adhesion between the panel pin and the glass was judged by the great evaluation shown in Table 4 below.

【表4】 [Table 4]

【0059】ガラスクラックの発生数:前記と同様の方
法により測定した。結果は、下記の表5に示される通り
である。
Number of glass cracks : Measured by the same method as described above. The results are as shown in Table 5 below.

【表5】 [Table 5]

【0060】上記の結果から、本発明によるパネルピン
は酸化皮膜とガラスとの密着強度が高く、そして加熱お
よび冷却を繰り返し受けてもガラスクラックの発生がな
いことが明らかである。
From the above results, it is clear that the panel pin according to the present invention has a high adhesion strength between the oxide film and the glass, and that glass cracks do not occur even when repeatedly subjected to heating and cooling.

【0061】<実施例C1〜C6、比較例C1〜C5>
パネルピンの構成材料として、18重量%Cr−0.3
重量%Ti−Fe系合金材料を使用し、これをバレル処
理、ブラスト処理および酸化処理の各条件を変化させて
表6に示すRaが異なる、裾部から肩部までの長さが6
mm、外径13mm、内径11.2mmのパネルピンを
製造した。
<Examples C1 to C6, Comparative Examples C1 to C5>
As a constituent material of the panel pin, 18 wt% Cr-0.3
A weight% Ti—Fe alloy material is used, and Ra shown in Table 6 is different by changing each condition of barrel treatment, blast treatment and oxidation treatment, and the length from the hem to the shoulder is 6
mm, an outer diameter of 13 mm, and an inner diameter of 11.2 mm were manufactured.

【0062】上記の各パネルピンの酸化皮膜密着性、ガ
ラス濡れ性および封着不良率を下記方法によって評価し
た。酸化皮膜密着性 :パネルピン頭部を圧縮プレスにて肩部
まで潰した後、外側は肩部外側を麻地の布で擦り内側は
ピン首部を同様に擦ることにより酸化被膜の剥がれ程度
を目視観察した。この場合、 ◎:酸化被膜の剥がれが全く認められないもの。 ○:円周上のごく一部(円周方向で30%未満)の酸化
被膜が剥がれて地金が露出するもの。 △:円周上の30%以上、60%未満の酸化被膜が剥が
れて地金が露出するもの。 ×:円周上の60%以上の酸化被膜が剥がれて地金が露
出するもの。 とした。
The oxide film adhesion, glass wettability, and sealing failure rate of each panel pin were evaluated by the following methods. Oxide film adhesion : After crushing the panel pin head to the shoulder with a compression press, rub the outside of the shoulder with a linen cloth and rub the inside of the pin neck in the same way to visually observe the degree of peeling of the oxide film. . In this case, ⊚: No peeling of the oxide film was observed. ◯: A part of the oxide film on the circumference (less than 30% in the circumferential direction) is peeled off to expose the bare metal. Δ: 30% or more and less than 60% of the oxide film on the circumference is peeled off to expose the bare metal. ×: 60% or more of the oxide film on the circumference is peeled off to expose the bare metal. And

【0063】ガラス濡れ性:上記のパネルピン構成材料
を使用し、上記実験例と同様の条件にてバレル処理、ホ
ーニング処理および酸化処理を行って、縦40mm×横
40mm×厚さ0.5mmの板状サンプルを製造する。
一実験例当たり10サンプル用意し、このサンプルに外
径8mm、厚み2mm、高さ8mmの円筒状ガラスを載
せ、高温電気炉にて大気加熱で、1200℃の封着温度
にて5分間加熱して、加熱後のガラスの径(r)および
高さ(h)をノギスで測定する。この場合、 ◎:r/hの平均が8以上のもの。 ○:r/hの平均が7以上8未満のもの。 △:r/hの平均が6以上7未満のもの。 ×:r/hの平均が6未満のもの。 とした。
Glass wettability : A plate having a length of 40 mm × width of 40 mm × thickness of 0.5 mm was obtained by using the above-mentioned panel pin constituent materials and performing barrel treatment, honing treatment and oxidation treatment under the same conditions as in the above-mentioned experimental example. Produce a sample.
Ten samples were prepared for each experimental example, and a cylindrical glass having an outer diameter of 8 mm, a thickness of 2 mm, and a height of 8 mm was placed on this sample, and heated at atmospheric temperature in a high-temperature electric furnace for 5 minutes at a sealing temperature of 1200 ° C. Then, the diameter (r) and the height (h) of the glass after heating are measured with a caliper. In this case, ⊚: The average r / h is 8 or more. ◯: The average r / h is 7 or more and less than 8. Δ: The average r / h is 6 or more and less than 7. X: The average of r / h is less than 6. And

【0064】封着不良率:パネルピンを16インチのブ
ラウン管用パネルガラスに1200℃×45秒の条件で
封着したのち、500℃×30分のアニール処理を行
い、ガラス封着後の封着部のクラック発生率を調査し
た。結果は、下記表6に示される通りである。
Poor sealing rate : Panel pins were sealed to a 16-inch CRT panel glass at 1200 ° C. for 45 seconds and then annealed at 500 ° C. for 30 minutes to seal the glass after sealing. The crack occurrence rate was investigated. The results are as shown in Table 6 below.

【表6】 [Table 6]

【0065】上記の結果より、本発明によるパネルピン
は、パネルピンの外側表面、内側表面のいずれも酸化皮
膜密着性、ガラス濡れ性が良好で、封着不良率が少ない
ものとなっている。
From the above results, the panel pin according to the present invention has good oxide film adhesion and glass wettability on both the outer surface and the inner surface of the panel pin, and has a low sealing failure rate.

【0066】[0066]

【発明の効果】本発明によるパネルピンは、ガラス濡れ
性および酸化皮膜の密着性が向上しており、封着性が高
くかつガラスクラックの発生が有効に防止されたもので
ある。このことから、フレームホルダを介してシャドウ
マスクを固定する際に、更には使用時に繰り返し温度変
化を受けた際にも、パネルピンの封着強度が極めて高く
保持されたものであって、ガラスクラックの発生が防止
されたものである。
EFFECT OF THE INVENTION The panel pin according to the present invention has improved glass wettability and adhesion of an oxide film, has high sealing property, and effectively prevents the generation of glass cracks. From this, when fixing the shadow mask through the frame holder, and even when subjected to repeated temperature changes during use, the sealing strength of the panel pin was kept extremely high, and The occurrence has been prevented.

【0067】よって、本発明によれば、パネルピンの封
着位置や封着角度ずれが少なくて、大型で重量があるシ
ャドウマスクを高精度で固定することが可能となって、
カラーブラウン管などの陰極線管の品質や製造歩留まり
を高めることができ、かつ高寿命化をはかることでき
る。
Therefore, according to the present invention, it is possible to fix a large and heavy shadow mask with high accuracy, with a small sealing position and sealing angle deviation of the panel pin,
It is possible to improve the quality and manufacturing yield of a cathode ray tube such as a color cathode ray tube, and to extend the service life.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のパネルピンを示した外観図。FIG. 1 is an external view showing a panel pin of the present invention.

【図2】本発明のパネルピンを示した断面図。FIG. 2 is a sectional view showing a panel pin of the present invention.

【図3】本発明の陰極線管および従来例を示した断面
図。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a cathode ray tube of the present invention and a conventional example.

【図4】図4におけるマスクフレーム固定周辺を示した
拡大断面図。
FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing the periphery of a mask frame fixed in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 パネルピン 2 ホルダー支持部 3、3内、3外 封着部 4 酸化皮膜 11 陰極線管 12 陰極線管用ガラスパネル 18 シャドウマスク 1 panel pin 2 Holder support 3, 3 inside, 3 outside Sealing part 4 oxide film 11 cathode ray tube 12 Glass panel for cathode ray tube 18 shadow mask

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 六反田 貴 史 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝横浜事業所内 (72)発明者 長 崎 潔 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝横浜事業所内 (72)発明者 松 永 充 弘 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 東 芝電子エンジニアリング株式会社内 Fターム(参考) 5C031 BB03 5C032 AA02 BB02    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Takashi Rutanda             8th Shinsugita Town, Isogo Ward, Yokohama City, Kanagawa Prefecture             Ceremony company Toshiba Yokohama office (72) Inventor Kiyoshi Nagasaki             8th Shinsugita Town, Isogo Ward, Yokohama City, Kanagawa Prefecture             Ceremony company Toshiba Yokohama office (72) Inventor Matsunaga Mitsuhiro             8 East Shinsugita-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa             Shiba Electronics Engineering Co., Ltd. F term (reference) 5C031 BB03                 5C032 AA02 BB02

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】陰極線管用パネルに封着された、シャドウ
マスクまたはアパチャーグリルを保持するためのパネル
ピンであって、このパネルピンの少なくともガラス封着
部に酸化皮膜が形成されてなり、この酸化皮膜上の表面
粗さ測定におけるうねり成分(Wt)が10μm以下で
あることを特徴とする、パネルピン。
Claim: What is claimed is: 1. A panel pin for holding a shadow mask or an aperture grill, which is sealed to a panel for a cathode ray tube, wherein an oxide film is formed on at least the glass sealing part of the panel pin. A panel pin having a waviness component (Wt) of 10 μm or less in the surface roughness measurement.
【請求項2】陰極線管用パネルに封着された、シャドウ
マスクまたはアパチャーグリルを保持するためのパネル
ピンであって、このパネルピンの少なくともガラス封着
部に酸化皮膜が形成されてなり、この酸化皮膜上の表面
粗さ測定における算術平均粗さ(Ra)が0.1〜3μ
mでありかつ十点平均粗さ(Rz)が2〜14μmであ
ることを特徴とする、パネルピン。
2. A panel pin for holding a shadow mask or an aperture grill, which is sealed to a panel for a cathode ray tube, wherein an oxide film is formed on at least the glass sealing part of the panel pin. Has an arithmetic average roughness (Ra) of 0.1 to 3 μm in the surface roughness measurement.
and a ten-point average roughness (Rz) of 2 to 14 μm.
【請求項3】陰極線管用パネルに封着された、シャドウ
マスクまたはアパチャーグリルを保持するためのパネル
ピンであって、このパネルピンの少なくともガラス封着
部に酸化皮膜が形成されてなり、この酸化皮膜上の表面
粗さ測定における算術平均粗さ(Ra)が0.1〜3μ
mであり、パネルピンの封着部外側表面の算術平均粗さ
(Ra外)がパネルピンの封着部内側表面の算術平均粗
さ(Ra内)より大きいことを特徴とする、パネルピ
ン。
3. A panel pin for holding a shadow mask or an aperture grill, which is sealed to a panel for a cathode ray tube, wherein an oxide film is formed on at least the glass sealing part of the panel pin. Has an arithmetic average roughness (Ra) of 0.1 to 3 μm in the surface roughness measurement.
The panel pin is characterized in that the arithmetic mean roughness (outside Ra) of the outer surface of the sealing portion of the panel pin is larger than the arithmetic mean roughness (inside Ra) of the inner surface of the sealing portion of the panel pin.
【請求項4】パネルピンの封着部外側表面の算術平均粗
さ(Ra外)とパネルピンの封着部内側表面の算術平均
粗さ(Ra内)の比(Ra外)/(Ra内)が、1.1
〜2であることを特徴とする、請求項3に記載のパネル
ピン。
4. The ratio (outside Ra) / (inside Ra) of the arithmetic average roughness (outside Ra) of the outer surface of the sealing portion of the panel pin and the arithmetic average roughness (inside Ra) of the inner surface of the sealing portion of the panel pin is set. , 1.1
The panel pin according to claim 3, characterized in that
【請求項5】クロム15〜30重量%、アルミニウム
0.01〜1重量%、ケイ素0.1〜1重量%、チタン
0.1〜1重量%および残部が実質的に鉄よりなる封着
合金から形成されてなる、請求項1〜4のいずれか1項
に記載のパネルピン。
5. A sealing alloy comprising 15 to 30% by weight of chromium, 0.01 to 1% by weight of aluminum, 0.1 to 1% by weight of silicon, 0.1 to 1% by weight of titanium, and the balance being substantially iron. The panel pin according to any one of claims 1 to 4, which is formed of
【請求項6】陰極線管用ガラスパネルにおいて、封着部
が陰極線管のパネル内面に融接されるとともに、ホルダ
ー支持部がシャドウマスクまたはアパチャーグリルの周
縁部と接合させて前記シャドウマスクまたはアパチャー
グリルの周縁部を所定の位置に固定するパネルピンを備
え、前記パネルピンが、請求項1〜5のいずれか1項に
記載のものであることを特徴とする、陰極線管用ガラス
パネル。
6. A glass panel for a cathode ray tube, wherein a sealing portion is fusion-welded to an inner surface of the panel of the cathode ray tube, and a holder supporting portion is joined to a peripheral portion of the shadow mask or aperture grill to form a shadow mask or aperture grill. A glass panel for a cathode ray tube, comprising a panel pin for fixing a peripheral portion to a predetermined position, wherein the panel pin is the one according to any one of claims 1 to 5.
【請求項7】パネルを有する真空外囲器と、前記パネル
内面に設けられた蛍光体層と、前記真空外囲器のパネル
に対向する位置に配置された電子銃と、前記蛍光体層と
前記電子銃との間に配置されたシャドウマスクまたはア
パチャーグリルと、封着部が陰極線管のパネル内面に融
接されるとともに、ホルダー支持部がシャドウマスクま
たはアパチャーグリルの周縁部と接合させて前記シャド
ウマスクまたはアパチャーグリルの周縁部を所定の位置
に固定するパネルピンを備え、前記パネルピンが、請求
項1〜5のいずれか1項に記載のものであることを特徴
とする、陰極線管。
7. A vacuum envelope having a panel, a phosphor layer provided on the inner surface of the panel, an electron gun arranged at a position facing the panel of the vacuum envelope, and the phosphor layer. The shadow mask or aperture grill disposed between the electron gun and the sealing portion is fused to the inner surface of the panel of the cathode ray tube, and the holder supporting portion is joined to the peripheral portion of the shadow mask or aperture grill. A cathode ray tube comprising a panel pin for fixing a peripheral portion of the shadow mask or the aperture grill to a predetermined position, wherein the panel pin is the one according to any one of claims 1 to 5.
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