JP2003222544A - Digital panel instrument - Google Patents

Digital panel instrument

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JP2003222544A
JP2003222544A JP2002021274A JP2002021274A JP2003222544A JP 2003222544 A JP2003222544 A JP 2003222544A JP 2002021274 A JP2002021274 A JP 2002021274A JP 2002021274 A JP2002021274 A JP 2002021274A JP 2003222544 A JP2003222544 A JP 2003222544A
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JP
Japan
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unit
display
digital
data
processing unit
Prior art date
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Application number
JP2002021274A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masao Takano
昌夫 高野
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ASAHI KEIKI CO Ltd
ASAHI KEIKI KK
Original Assignee
ASAHI KEIKI CO Ltd
ASAHI KEIKI KK
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Filing date
Publication date
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Priority to JP2002021274A priority Critical patent/JP2003222544A/en
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Pending legal-status Critical Current

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a cost by facilitating inventory control, when manufacturing many kinds of digital panel instruments. <P>SOLUTION: This digital panel instrument is constituted of units classified and divided into a plurality of function units. An EEPROM is provided in a unit including an electronic circuit requiring adjustment of a characteristic value, and a constitution test is performed in the unit step to determine a correction value. The correction value is recorded and set in the EEPROM, and, when measurement is performed by an instrument constituted by integrating the units selectively, correction operation is performed based on the correction value. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、検出器により電
気的に検出された例えば、電圧、電流をはじめとする各
種の物理量を示す電気信号を処理してディジタル表示す
る、制御盤等に取り付けて使用されるディジタルパネル
計器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is mounted on a control panel or the like for processing and digitally displaying electric signals indicating various physical quantities such as voltage and current which are electrically detected by a detector. It relates to a digital panel instrument used.

【0002】[0002]

【従来の技術】ディジタルパネル計器は、各種の物理量
を検出する検出器(センサ)と組み合わせて検出した物
理量の測定表示を行なう汎用的な計器であるが、個々の
計器は測定対象の種類およびその測定レンジの幅等にそ
れぞれ適合した構成となっている。したがって、ディジ
タルパネル計器を広範囲に適用するためには、多くの種
類の計器を用意する必要がある。このように多種類のデ
ィジタルパネル計器を用意することになると、製品の直
接的な製造コストだけでなく生産の工程管理や製品の在
庫管理等の生産管理上のコストも嵩むため、製品のコス
トが高くなり、好ましくない。
2. Description of the Related Art A digital panel instrument is a general-purpose instrument for measuring and displaying the detected physical quantity in combination with a detector (sensor) for detecting various physical quantities. The configuration is adapted to the width of the measurement range, etc. Therefore, in order to apply the digital panel instrument to a wide range, it is necessary to prepare many kinds of instruments. When a large number of types of digital panel instruments are prepared in this way, not only the direct manufacturing cost of the product but also the production management cost such as production process management and product inventory management will increase. It becomes high and is not preferable.

【0003】製品コストの低減のために、従来から、デ
ィジタルパネル計器を機能単位ごとに、例えば、データ
の表示を行なう表示部、検出信号をディジタル表示可能
な信号に変換処理を行なう信号処理部等に区分して機能
ユニットとして製造し、各機能ユニットをそれぞれ必要
な種類分に用意し、各機能ユニットを選択的に組み合わ
せて要求仕様の計器を組立てることが行なわれている。
この方法によれば、多くの部品がユニットとして標準化
されるため、量産が可能となり直接的な製造コストを低
減することができる。
In order to reduce the product cost, conventionally, for each functional unit of a digital panel instrument, for example, a display section for displaying data, a signal processing section for converting a detection signal into a digitally displayable signal, etc. It has been practiced to manufacture functional units by dividing them into two types, prepare each functional unit for each required type, and selectively assemble each functional unit to assemble a meter with required specifications.
According to this method, since many parts are standardized as a unit, mass production is possible and direct manufacturing cost can be reduced.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなディジタルパネル計器おいては、信号処理部等にお
ける電子回路を構成する電子部品の特性値のばらつき等
によって測定値に誤差が発生することがある。このよう
な誤差は、これまで、要求仕様に合わせて機能ユニット
を選択的に組み合わせ、組み立てを完成した製品につい
て校正試験によって補正するようにしていた。ディジタ
ルパネル計器を工場から出荷するためには、このような
校正試験をして各種の誤差を補正し、除いておかなけれ
ばならない。
However, in such a digital panel instrument, an error may occur in the measured value due to variations in the characteristic values of the electronic parts constituting the electronic circuit in the signal processing section or the like. . Until now, such an error has been corrected by a calibration test for a product whose assembly has been completed by selectively combining functional units according to required specifications. In order to ship the digital panel instrument from the factory, it is necessary to perform such a calibration test to correct and eliminate various errors.

【0005】したがって,従来のディジタルパネル計器
は、ユニット化されたものであっても、校正試験まで終
えた完成した製品で在庫が行なわれるため、在庫管理上
のコストの低減には効果がなかった。
Therefore, the conventional digital panel instrument, even if it is unitized, is not effective in reducing the cost for inventory control because the completed product which has undergone the calibration test is inventoried. .

【0006】そこで、この発明は、ディジタルパネル計
器としては未完の機能ユニット単位で在庫し、出荷の際
に在庫された機能ユニットを選択的に組み合わせて製品
に組立て直ちに出荷できるようにすることにより、在庫
管理上のコストを低減して、コストの安価なディジタル
パネル計器を提供することを目的とするものである。
In view of the above, according to the present invention, a digital panel instrument is stocked in units of incomplete functional units, and the functional units in stock at the time of shipping are selectively combined so that the product can be assembled and shipped immediately. It is an object of the present invention to reduce the cost of inventory management and to provide a low-cost digital panel instrument.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明は、前記の課題
を達成するために、少なくとも検出器から入力される検
出信号のレベル変換等の処理を行なう検出対象の種類別
に構成された入力信号処理ユニットとこの入力信号処理
ユニットに結合され、この入力信号処理ユニットからの
信号をディジタル表示信号に変換してディジタル表示器
により表示を行なう表示処理ユニットとを設け、要求さ
れる仕様に応じて選択された前記入力信号処理ユニット
と表示処理ユニットとを組み合わせて構成したディジタ
ルパネル計器において、前記各ユニットに書き換え可能
な読み出し専用メモリを設け、このメモリにそれぞれの
ユニットの固有のデータおよびユニットごとに実施した
校正試験によって得られた特性誤差を補正するデータを
記録しておき、測定時にこの補正データに基づいて表示
データの補正演算を行なうことを特徴とするものであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides an input signal processing configured according to the type of a detection target for performing processing such as level conversion of a detection signal input from at least a detector. A unit and a display processing unit which is coupled to the input signal processing unit and which converts a signal from the input signal processing unit into a digital display signal to display by a digital display and is selected according to required specifications. In a digital panel instrument configured by combining the input signal processing unit and the display processing unit, each unit is provided with a rewritable read-only memory, and the unique data of each unit and each unit are implemented. Record the data to correct the characteristic error obtained by the calibration test, and measure it. Sometimes it is characterized in that to perform the correction operation of the display data based on the correction data.

【0008】また、前記の発明において、表示処理ユニ
ットに表示されたデータおよびこのデータに基づく信号
を外部へ出力するための処理を行なう外部出力ユニット
を設け、このユニットを前記表示処理ユニットに選択的
に結合するようにすることができる。もちろん、この外
部出力ユニットに書き換え可能な読み出し専用メモリを
設け、これに他のユニットと同様に校正試験によって得
られた補正データを記録しておき、実際の使用時に出力
データの補正演算を行なうようにすることができる。
Further, in the above invention, an external output unit for performing processing for outputting the data displayed on the display processing unit and a signal based on this data to the outside is provided, and this unit is selectively used as the display processing unit. Can be combined with. Of course, this external output unit is equipped with a rewritable read-only memory in which the correction data obtained by the calibration test is recorded in the same way as other units, and the correction calculation of the output data is performed during actual use. Can be

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】この発明を図に示す実施例につい
て説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described with reference to the embodiments shown in the drawings.

【0010】図1はこの発明の実施例を示すブロック構
成図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【0011】この図において、1ないし4はディジタル
パネル計器を構成する機能ユニットである。1は、図示
しない検出器から入力される検出信号の種類に応じて信
号のレベルを変換して単位化したり、波形を整形したり
する等の処理を行なう入力信号処理ユニット(単に、入
力ユニットと呼ぶこともある)である。この入力信号処
理ユニット1は、検出対象の種類および測定レンジ等に
対応して複数種類用意される。ここでは、直流電圧を
1,10,100,600Vの4個の測定レンジを有す
る直流電圧用入力信号処理ユニットの例を示している。
In the figure, 1 to 4 are functional units constituting a digital panel instrument. Reference numeral 1 denotes an input signal processing unit (simply referred to as an input unit, which performs processing such as converting a signal level into a unit according to the type of a detection signal input from a detector (not shown), shaping the waveform, and the like. Sometimes called). Plural types of the input signal processing unit 1 are prepared corresponding to the type of the detection target, the measurement range, and the like. Here, an example of a DC voltage input signal processing unit having four measurement ranges of DC voltage of 1, 10, 100 and 600 V is shown.

【0012】この入力ユニット1は、測定レンジに応じ
て、選択的に直流電圧検出信号の入力される4個の入力
端子I1ないしI4、これらの入力端子のうちの1個を
選択するマルチプレクサ11、このマルチプレクサ11
を介して加わる検出信号のレベル変換を行なう演算増幅
器12および電気的に書き換え可能な読み出し専用メモ
リ(以下EEPROMという)13を備える。
The input unit 1 includes four input terminals I1 to I4 to which a DC voltage detection signal is selectively input according to a measurement range, a multiplexer 11 for selecting one of these input terminals, This multiplexer 11
A read-only memory (hereinafter referred to as an EEPROM) 13 that is electrically rewritable is provided with an operational amplifier 12 that performs level conversion of a detection signal applied via.

【0013】2は、入力ユニット1で処理された信号を
ディジタル表示信号に変換してディジタル表示器に表示
する表示処理ユニット(単に、表示ユニットと呼ぶこと
もある)である。この、表示処理ユニット2は、全体の
測定,表示のための演算および制御を行なうようにプロ
グラムされたマイクロコンピュータ21とディジタル表
示器22および各種の設定および操作を行なうための設
定操作キー23aないし23dを備えている。23aは
エンターキー、23bはモード選択キー、23cはシフ
トキー、23dはインクレメントキーである。
Reference numeral 2 denotes a display processing unit (which may be simply referred to as a display unit) which converts the signal processed by the input unit 1 into a digital display signal and displays it on a digital display. The display processing unit 2 includes a microcomputer 21 and a digital display 22 programmed to perform calculation and control for overall measurement and display, and setting operation keys 23a to 23d for performing various settings and operations. Is equipped with. Reference numeral 23a is an enter key, 23b is a mode selection key, 23c is a shift key, and 23d is an increment key.

【0014】3は、電源回路31、A/D変換器32お
よびEEPROM33を備えたメインユニットで、電源
回路31から全ユニットへ電源を供給するとともに、A
/D変換器32により、入力ユニット1で処理される信
号がアナログ信号の場合は、この入力ユニット1から出
力されるアナログ信号をディジタル信号に変換して表示
ユニット2へ出力する。このメインユニット3と前記表
示ユニット2はすべてのディジタルパネル計器に共通に
用意されるユニットであるので、両者を1つのユニット
にまとめることも可能であるが、ここでは設計、製造上
の便宜のために分けられている。
Reference numeral 3 denotes a main unit including a power supply circuit 31, an A / D converter 32 and an EEPROM 33, which supplies power from the power supply circuit 31 to all units, and
When the signal processed by the input unit 1 is an analog signal by the / D converter 32, the analog signal output from the input unit 1 is converted into a digital signal and output to the display unit 2. Since the main unit 3 and the display unit 2 are units commonly prepared for all digital panel instruments, it is possible to combine them into one unit, but here, for convenience of design and manufacture, It is divided into

【0015】4は、表示ユニット2に表示されたデータ
を外部へ出力するための外部出力ユニットであり、オプ
ション的に用意されている。この外部出力ユニット4
は、測定値を設定値と比較して比較結果を出力する(い
わゆるメータリレー機能)ための電子式リレー回路から
なる無接点出力回路41および電磁式リレーからなる接
点出力回路42、ディジタル表示器22の表示データを
外部へ出力するためあるいは、外部のコンピュータと接
続してデータの交換を行なうためのRS−232C形式
やRS−485形式のディジタル入出力回路43および
表示器22に表示されたディジタル信号をアナログ信号
に変換して出力するアナログ出力回路44ならびにEE
PROM45を備えている。
Reference numeral 4 denotes an external output unit for outputting the data displayed on the display unit 2 to the outside, which is optionally prepared. This external output unit 4
Is a non-contact output circuit 41 composed of an electronic relay circuit for comparing the measured value with a set value and outputting a comparison result (so-called meter relay function), a contact output circuit 42 composed of an electromagnetic relay, and a digital display 22. Digital output signal of the RS-232C format or RS-485 format for outputting the display data of the above to the outside or exchanging the data by connecting to the external computer and the digital signal displayed on the display 22. Analog output circuit 44 and EE for converting the analog signal into an analog signal for output
It has a PROM 45.

【0016】前記各ユニットにおけるTの記号の付され
た端子は、信号用の入力または出力端子、Pの付された
端子は、電源用の入力または出力端子である。
In each unit, the terminal with the symbol T is an input or output terminal for signal, and the terminal with P is an input or output terminal for power supply.

【0017】ユニット1,3および4におけるEEPR
OMは、それぞれが備えた、完成後に特性値の誤差を補
正するための校正試験を必要とする演算増幅器12、A
/D変換器32および図示しないD/A変換器を含むア
ナログ出力回路44等の電子回路の校正試験に基づく補
正値を記録、設定するために設けられている。
EEPR in units 1, 3 and 4
The OM includes operational amplifiers 12 and A, each of which requires a calibration test for correcting an error in a characteristic value after completion.
It is provided to record and set a correction value based on a calibration test of an electronic circuit such as the analog output circuit 44 including the / D converter 32 and a D / A converter (not shown).

【0018】これらのユニットは、工場においてユニッ
ト単位で製造し、在庫され、要求される仕様に合わせて
選択された各ユニットを組み合わせて所望のディジタル
パネル計器に組み立てて製品として出荷される。
These units are manufactured in units of factories at the factory, are in stock, and each unit selected in accordance with the required specifications is combined to be assembled into a desired digital panel instrument and shipped as a product.

【0019】このように構成された、ディジタルパネル
計器は、図示の実施例におけるように、複数の測定レン
ジを有するものの場合、実際の測定に使用する際に、適
用する測定レンジを設定操作キー等の操作によって設定
可能となっている。図示しない電圧検出器からの検出信
号を、入力ユニット1の例えば、選択した1Vレンジの
入力端子I1に加えると、あらかじめ設定された測定レ
ンジ設定データに基づきマイクロコンピュータ21から
の指令により、マルチプレクサ11がこの端子I1の検
出信号を選択して演算増幅器12の入力に伝達する。こ
の増幅器12でレベル変換された信号がメインユニット
3のA/D変換器32によりディジタル信号に変換され
て、表示ユニット2のマイクロコンピュータ21に入力
される。マイクロコンピュータ21はこのディジタル信
号を読み取りディジタル表示データに変換してディジタ
ル表示器22へ送り、ディジタル表示器22で表示す
る。また、この表示データは、必要な場合は、外部出力
ユニット4を付加することによって、このユニットの無
接点出力回路41、接点出力回路42、ディジタル入出
力回路43およびアナログ出力回路44から比較信号、
ディジタル信号あるいはアナログ信号として外部へ出力
することができる。
When the digital panel instrument having the above-mentioned configuration has a plurality of measurement ranges as in the illustrated embodiment, the measurement range to be applied is set when the actual measurement is used. It can be set by the operation of. When a detection signal from a voltage detector (not shown) is applied to, for example, the input terminal I1 of the selected 1V range of the input unit 1, the multiplexer 11 is activated by a command from the microcomputer 21 based on preset measurement range setting data. The detection signal at the terminal I1 is selected and transmitted to the input of the operational amplifier 12. The signal level-converted by the amplifier 12 is converted into a digital signal by the A / D converter 32 of the main unit 3 and input to the microcomputer 21 of the display unit 2. The microcomputer 21 reads this digital signal, converts it into digital display data, sends it to the digital display 22, and displays it on the digital display 22. If necessary, the display data is added to the external output unit 4 so that a comparison signal from the non-contact output circuit 41, the contact output circuit 42, the digital input / output circuit 43 and the analog output circuit 44 of this unit,
It can be output to the outside as a digital signal or an analog signal.

【0020】この発明においては、各ユニットが完成す
ると、そのユニットごとに校正試験を行い、そこで求め
られたユニットの特性値の誤差を補正するための補正値
をそれぞれのユニットのEEPROMに記録,設定して
おくことにより、各ユニットを組み合わせてディジタル
パネル計器の完成品に仕上げた後の校正試験を不要にし
ている。
In the present invention, when each unit is completed, a calibration test is performed for each unit, and a correction value for correcting the error of the characteristic value of the unit obtained there is recorded and set in the EEPROM of each unit. By doing so, it is not necessary to carry out a calibration test after combining each unit into a finished product of a digital panel instrument.

【0021】この発明における校正試験の手順を説明す
る。 (1)メインユニットの校正試験(図2参照) 試験するメインユニット3を入力信号処理ユニット1に
代えて校正用に用意した図示しない校正試験器および表
示処理ユニット2と組み合わせて校正試験を行なう。
The procedure of the calibration test according to the present invention will be described. (1) Calibration test of main unit (see FIG. 2) The main unit 3 to be tested is replaced with the input signal processing unit 1 and a calibration tester and a display processing unit 2 (not shown) prepared for calibration are combined to perform a calibration test.

【0022】電源投入の後(S1)、チェックモードに
して(S2)、操作設定キー(23a〜23d)あるい
は、外部出力ユニット4を付加し、そのディジタル入出
力回路43を介して接続した外部コンピュータを用い
て、メインユニットの校正モードを示すコマンド〔MA
IN〕を入力し(S3)、表示ユニット2の表示器22
に校正モーであることを示す“MEMo”を表示する
(S4)。
After the power is turned on (S1), the check mode is set (S2), the operation setting keys (23a to 23d) or the external output unit 4 is added, and the external computer is connected through the digital input / output circuit 43. Command to indicate the calibration mode of the main unit [MA
IN] is input (S3), and the display 22 of the display unit 2 is input.
"MEMo" indicating that it is a calibration mode is displayed on the screen (S4).

【0023】モードキー23bまたはコマンド〔J〕
(ジャンプ)を入力し(S5)すると、オフセット値測
定モードとなり、これを示すため、ディジタル表示器2
2が100桁の小数点セグメントを点滅表示するか、ま
たは“oFF”を表示する(S6)。
Mode key 23b or command [J]
When (jump) is input (S5), the offset value measurement mode is entered. To show this, the digital display 2
2 indicates whether to blink the decimal point segment of 10 0 digits, or "oFF" (S6).

【0024】ここで、メインユニット3の入力端子T3
1に校正試験器から0Vの直流の校正電圧を加えると
(S7)、そのときのメインユニット3のA/D変換器
32の出力がオフセット値(Mg)として読み取られ、
表示器22に表示される(S8)。
Here, the input terminal T3 of the main unit 3
When a DC calibration voltage of 0 V is applied to 1 from the calibration tester (S7), the output of the A / D converter 32 of the main unit 3 at that time is read as an offset value (Mg),
It is displayed on the display 22 (S8).

【0025】ステップを進めるシフトキー23cまたは
〔N〕(ネクスト)コマンドを入力すると(S9)、読
み取ったオフセット値Mgがあらかじめ設定された校正
判定値Mgsと比較され、MgがMgsの範囲にあるか
否かが判定される(S10)。MgがMgsの範囲にな
ければエラーとして、次のステップへの進行を停止し、
表示器22に“Err”(エラー)を表示する(S1
1)。このようにエラーが表示された場合、その後の動
作を進めることができないので、部品の交換を行なうな
どして、その原因を解消する処置を施した上で最初から
やり直す必要がある。
When the shift key 23c for advancing the step or the [N] (next) command is input (S9), the read offset value Mg is compared with the preset calibration judgment value Mgs and whether Mg is in the range of Mgs or not. It is determined whether or not (S10). If Mg is not within the range of Mgs, it is determined that an error has occurred, and the progress to the next step is stopped.
"Err" (error) is displayed on the display 22 (S1)
1). If an error is displayed in this way, it is not possible to proceed with the subsequent operation, so it is necessary to take measures to eliminate the cause, such as by replacing parts, and then start over.

【0026】比較の結果、MgがMgsの範囲内であれ
ば、正常であることを示すために、表示器22が103
桁の小数点セグメントを点滅表示させるか、または表示
器22に“FSC”と表示してフルスケール測定モード
へ移る(S12)。ここで、前記入力端子T31にフル
スケールの入力として校正試験器から1Vの直流の校正
電圧を加えると(S13)、メインユニット3のA/D
変換器32の出力のディジタル値がフルスケール値Mh
として読み取られ、その値が、表示器22に表示される
(S14)。
As a result of the comparison, if Mg is within the range of Mgs, the indicator 22 indicates 10 3 to indicate that it is normal.
The decimal point segment of the digit is displayed in a blinking manner, or "FSC" is displayed on the display 22 and the full scale measurement mode is set (S12). Here, when a DC calibration voltage of 1V is applied from the calibration tester to the input terminal T31 as a full-scale input (S13), the A / D of the main unit 3 is
The digital value of the output of the converter 32 is the full-scale value Mh
Is read, and the value is displayed on the display 22 (S14).

【0027】次にモードキー23bまたはコマンド
〔J〕を入力すると(S15)、読み取られたMhをあ
らかじめ設定した校正判定値Mhsと比較してA/D変
換器32の正否を判定する(S16)。
Next, when the mode key 23b or the command [J] is input (S15), the read Mh is compared with the preset calibration judgment value Mhs to judge the correctness of the A / D converter 32 (S16). .

【0028】MhがMhsの範囲外であれば、“Er
r”(エラー)の表示をして、次のステップへの進行を
停止する。このようなエラーが生じた場合、メインユニ
ット3のエラーの原因を解消する処置が施された後、最
初からやり直さなければならない(S17)。
If Mh is outside the range of Mhs, "Er
r ”(error) is displayed, and the process to the next step is stopped. If such an error occurs, a procedure for eliminating the cause of the error in the main unit 3 is performed, and then the process is restarted from the beginning. It must be (S17).

【0029】MhがMhsの範囲内であれば、その値を
フルスケール値として取り込み、内部で次の(1)式に
より補正値MLを求める演算を行ない、これにより求め
られたMLと前記のオフセット値Mg値を補正データと
してこのユニットのEEPROM33に書き込み(S1
8)、校正モードが終了したことを示すために、表示器
22に“MEMo”と表示する(S19)。
If Mh is within the range of Mhs, that value is taken in as a full-scale value, and internally a calculation for obtaining the correction value ML is performed by the following equation (1). The value Mg value is written in the EEPROM 33 of this unit as correction data (S1
8) Then, "MEMo" is displayed on the display unit 22 to indicate that the calibration mode has ended (S19).

【0030】 ML=Mj/(Mh−Mg) (1) ただし、Mjは、A/D変換器32の入力に1Vの信号
を加えたとき、出力される値の任意の設定値であり、た
とえば12000に設定される。すなわち、A/D変換
器32は、1Vの入力を加えたとき、12000のディ
ジタル値を出力するように設計、調整されている。
ML = Mj / (Mh−Mg) (1) However, Mj is an arbitrary set value of the value output when a signal of 1 V is applied to the input of the A / D converter 32, for example, It is set to 12000. That is, the A / D converter 32 is designed and adjusted to output a digital value of 12000 when an input of 1V is applied.

【0031】実際の測定の際にディジタル表示器22に
表示される表示値Yは、このようにEEPROM33に
記録設定された補正値MLとオフセット値Mgを用い
て、マイクロコンピュータ21によって次の(2)式の
ような演算を行なうことによって求められる。
The display value Y displayed on the digital display 22 at the time of actual measurement is calculated by the microcomputer 21 using the correction value ML and the offset value Mg thus recorded and set in the EEPROM 33. ) Is obtained by performing an operation such as the formula.

【0032】 Y=(M−Mg)×ML (2) ただし、Mは、その都度のA/D変換器32の出力値で
ある。 (2)入力信号処理ユニットの校正試験(図3参照) 入力信号ユニット1の校正は、あらかじめ校正されたメ
インユニット3と表示処理ユニット2とに組み合わせて
行なう。外部のコンピュータを用いて制御する場合は、
これに外部出力ユニット4を付加し、そのディジタル入
出力回路43を介して外部コンピュータを接続する。
Y = (M−Mg) × ML (2) where M is the output value of the A / D converter 32 at each time. (2) Calibration test of the input signal processing unit (see FIG. 3) The calibration of the input signal unit 1 is performed by combining the main unit 3 and the display processing unit 2 which are calibrated in advance. When controlling using an external computer,
An external output unit 4 is added to this, and an external computer is connected through the digital input / output circuit 43.

【0033】電源を投入すると(S31)、チェックモ
ードとなり、表示器22に“cHk”と表示されること
(S32)を確かめて、入力ユニットの校正試験を行な
うためのコマンド〔U−in〕を操作設定キー23a〜
23dあるいは外部コンピュータから入力する(S3
3)。これによって表示器22に入力ユニットの校正試
験モードであることを示す“U−in”が表示される
(S34)。
When the power is turned on (S31), the check mode is entered, and it is confirmed that "cHk" is displayed on the display 22 (S32), and the command [U-in] for performing the calibration test of the input unit is issued. Operation setting key 23a-
23d or input from an external computer (S3
3). As a result, "U-in" indicating the input unit calibration test mode is displayed on the display 22 (S34).

【0034】モードキー23bまたはコマンド〔J〕
(ジャンプ)を入力すると(S35)、表示器22に校
正試験する最初のレンジが、例えば“r−1”(レンジ
1)のように所定時間(およそ1秒程度)表示された
後、オフセット値測定モードとなってディジタル表示器
22が100桁の小数点セグメントを点滅表示するか、
または“oFF”を表示する(S36)。ここで、入力
ユニット1のレンジ1の入力端子I1に校正試験器から
0Vの直流の校正電圧を加えると(S37)、その時の
メインユニット3のA/D変換器32の出力が、オフセ
ット値gとして表示器22に表示される(S38)。
Mode key 23b or command [J]
When (jump) is input (S35), the first range to be calibrated and tested is displayed on the display 22 for a predetermined time (about 1 second), for example, "r-1" (range 1), and then the offset value is displayed. or digital display 22 is flashing decimal point segment of 10 0 digit is a measurement mode,
Alternatively, "oFF" is displayed (S36). Here, when a DC calibration voltage of 0 V is applied from the calibration tester to the input terminal I1 of the range 1 of the input unit 1 (S37), the output of the A / D converter 32 of the main unit 3 at that time is the offset value g. Is displayed on the display 22 (S38).

【0035】ステップを進めるシフトキー23cまたは
コマンド〔N〕(ネクスト)を入力すると(S39)、
このときのオフセット値gがマイクロコンピュータ21
に読み取られ、読み取ったオフセット値gがあらかじめ
設定された校正判定値gsと比較され、gがgsの範囲
にあるか否かを判定するステップ(S40)へ移行し、
この範囲になければエラーとして、次のステップへの進
行を停止し、表示器22に“Err”(エラー)を表示
する(S41)。このようにエラー表示された場合、部
品の交換を行なうなどして、その原因を解消する処置を
施した上で最初からやり直すことが必要となる。比較の
結果、gがgsの範囲内であれば、正常であることを示
すために、表示器22が103桁の小数点セグメントを
点滅表示するか、表示器22に“FSC”を表示して次
のフルスケール値測定モードへ移行する(S42)。
When the shift key 23c for advancing the step or the command [N] (next) is input (S39),
The offset value g at this time is the microcomputer 21.
And the read offset value g is compared with a preset calibration determination value gs, and the process proceeds to step (S40) for determining whether or not g is in the range of gs,
If it is not within this range, it is judged as an error, the process to the next step is stopped, and "Err" (error) is displayed on the display 22 (S41). When an error is displayed in this way, it is necessary to replace the part, take measures to eliminate the cause, and then start over from the beginning. As a result of the comparison, if g is within the range of gs, the display unit 22 blinks the decimal point segment of 10 3 digits or the display unit 22 displays “FSC” to indicate that it is normal. The process moves to the next full-scale value measurement mode (S42).

【0036】ここで、前記入力端子I1に当該レンジに
ついてあらかじめ決められたフルスケールの入力値とし
て、例えば1Vレンジの場合、校正試験器から0.98
Vの直流の校正電圧を加えると(S43)、メインユニ
ット3のA/D変換器32の出力のディジタル値をフル
スケール値hとして読み取り、その値を、表示器22に
表示する(S44)。そして、次のステップへ進めるモ
ードキー23bまたは〔J〕コマンドを入力すると(S
45)、このフルスケール値hをあらかじめ設定したフ
ルスケール値の校正判定値hsと比較して演算増幅器1
2の正否を判定する(S46)。
Here, in the case where the full-scale input value predetermined for the range is input terminal I1, for example, 1 V range, 0.98 from the calibration tester.
When a DC calibrating voltage of V is applied (S43), the digital value of the output of the A / D converter 32 of the main unit 3 is read as the full scale value h, and the value is displayed on the display 22 (S44). Then, when the mode key 23b or the [J] command for advancing to the next step is input (S
45), and compares the full scale value h with a preset calibration determination value hs of the full scale value to determine the operational amplifier 1
The correctness of 2 is determined (S46).

【0037】hがhsの範囲外であれば、“Err”
(エラー)の表示をして、次のステップへの進行を停止
する。このようなエラーが生じた場合、入力ユニット1
のエラーの原因を解消する処置が施された後、最初から
やり直さなければならない(S47)。
If h is outside the range of hs, "Err"
(Error) is displayed and the process to the next step is stopped. When such an error occurs, the input unit 1
After the action to eliminate the cause of the error is performed, the process must be started again from the beginning (S47).

【0038】hがhsの範囲内であれば、その値をフル
スケール値として取り込み、内部で次の(3)式および
(4)式に基づいて演算することにより、補正値aおよ
びbを求め、これをこのユニットのレンジ1の補正デー
タとしてこのユニットのEEPROM13に書き込み、
設定する(S48)。これが終了すると、試験をしてい
るレンジが最終のレンジであるか否かを判定して(S4
9)、最終レンジでなければステップS36に戻り、次
のレンジ2の校正モードへ移行し、以後同様の手順を繰
り返し、全レンジについての校正が終了したところで、
表示器22に“U−in”を表示して校正モードが終了
したことを示す(S50)。
If h is within the range of hs, the value is taken in as a full scale value and internally calculated based on the following equations (3) and (4) to obtain the correction values a and b. , Write this in the EEPROM 13 of this unit as the correction data of range 1 of this unit,
Set (S48). When this is finished, it is judged whether or not the range being tested is the final range (S4
9) If it is not the final range, return to step S36, shift to the calibration mode for the next range 2, repeat the same procedure thereafter, and complete calibration for all ranges.
"U-in" is displayed on the display unit 22 to indicate that the calibration mode has ended (S50).

【0039】 a=(j−i)/(h−g) (3) ただし、jは、あらかじめ決められた定数であり、例え
ば、1Vレンジの場合は、校正用のフルスケール値に決
められた0.98Vに対応して9800に設定される。
またiは、校正用に決められたオフセット値の定数であ
り、通常は0に設定されている。
A = (j−i) / (h−g) (3) Here, j is a predetermined constant, and for example, in the case of the 1V range, it is determined as a full-scale value for calibration. It is set to 9800 corresponding to 0.98V.
Further, i is a constant of an offset value determined for calibration, and is normally set to 0.

【0040】 b=i−(g×a) (4) 実際の測定の際に、入力端子I1に加わった検出信号に
対応するディジタル表示器22の表示値Y´は、前記の
EEPROM13に記録設定された補正値aおよびbを
用いて、マイクロコンピュータ21によって次の(5)
式のような演算を行なうことによって求められる。
B = i− (g × a) (4) At the time of actual measurement, the display value Y ′ of the digital display 22 corresponding to the detection signal applied to the input terminal I1 is recorded and set in the EEPROM 13 described above. Using the corrected values a and b, the following (5) is performed by the microcomputer 21.
It is obtained by performing an operation like an expression.

【0041】 Y´=a×Y+b (5) ただし、Yは、測定時のA/D変換器32の出力値であ
る。
Y ′ = a × Y + b (5) where Y is the output value of the A / D converter 32 at the time of measurement.

【0042】前記のとおり構成されたメインユニット3
および入力ユニット1とを組み合わせた際の測定時の総
合した補正演算は、EEPROM13および33に記録
設定された補正値a,b,ML,Mgを用いて、(5)
式に(2)式を代入した次の(6)式で行なわれること
になり、各ユニットの組み立て時の誤差がこれによって
補償される。
Main unit 3 constructed as described above
The total correction calculation at the time of measurement when combined with the input unit 1 is performed by using the correction values a, b, ML and Mg recorded and set in the EEPROMs 13 and 33, and (5)
The equation (6) is obtained by substituting the equation (2) into the equation, and the error in assembling each unit is compensated by this.

【0043】 Y´=a×〔(M−Mg)×ML〕+b (6) このようにこの発明においては、機能単位のユニットご
とに構成試験を行なって、そのとき求められた補正デー
タをそれぞれが備えてEEPROMに記録設定しておく
ことにより、各ユニットを組み合わせて、組み立てを完
成したディジタルパネル計器においては、内部でEEP
ROMに設定された補正データに基づいて表示値の補正
演算が行なわれるので、製品が完成した後の校正試験は
不要となり、組み立て後直ちに出荷することができる。
Y ′ = a × [(M−Mg) × ML] + b (6) As described above, in the present invention, the configuration test is performed for each functional unit, and the correction data obtained at that time are respectively obtained. In the digital panel instrument that is assembled by combining the units by recording and setting it in the EEPROM in advance,
Since the correction calculation of the display value is performed based on the correction data set in the ROM, the calibration test after the product is completed is unnecessary and the product can be shipped immediately after being assembled.

【0044】(3)外部出力ユニットの校正試験 外部出力ユニット4の校正試験は、前記校正試験された
入力ユニット1、表示ユニット2およびメインユニット
3と組み合わせて、前記の2つのユニットの校正試験と
同様な手順で行なわれ、この試験によって求められた補
正値がEEPROM45記録設定されるので、その具体
的な説明は省略する。
(3) Calibration test of the external output unit The calibration test of the external output unit 4 is combined with the calibration-tested input unit 1, display unit 2 and main unit 3 to perform the calibration test of the above two units. The same procedure is carried out, and the correction value obtained by this test is recorded and set in the EEPROM 45, so a detailed description thereof will be omitted.

【0045】各ユニットに設けられたEEPROM1
3、33、45には、前記の校正試験によって求められ
て補正値以外に、それぞれのユニットの形式および仕様
等を示すデータも記録される。このため、各ユニットが
表示ユニット2に結合されたとき、そのマイクロコンピ
ュータによって結合されたユニットの種類および補正値
が読み取られ、各ユニットの形式等に応じた自動調整が
行なわれるため、人手による調整は一切不要となる。
EEPROM 1 provided in each unit
In addition to the correction values obtained by the above-mentioned calibration test, data indicating the format and specifications of each unit are recorded in 3, 33, and 45. Therefore, when each unit is coupled to the display unit 2, the type and the correction value of the coupled unit are read by the microcomputer, and automatic adjustment is performed according to the type of each unit, etc. Is not needed at all.

【0046】[0046]

【発明の効果】この発明によれば、以上の説明から明ら
かなとおり、少なくとも検出器から入力される検出信号
のレベル変換等の処理を行なう検出対象の種類別に構成
された入力信号処理ユニットとこの入力信号処理ユニッ
トに結合され、この入力信号処理ユニットからの信号を
ディジタル表示信号に変換してディジタル表示器により
表示を行なう表示処理ユニットとを設け、要求される仕
様に応じて選択された前記入力信号処理ユニットと表示
処理ユニットとを組み合わせて構成したディジタルパネ
ル計器において、前記各ユニットに書き換え可能な読み
出し専用メモリを設け、このメモリにそれぞれのユニッ
トの固有のデータおよびユニットごとに実施した校正試
験によって得られた特性誤差を補正するデータを記録し
ておき、測定時にこの補正データに基づいて表示データ
の補正演算を行なうようにしたので、工場で製造する場
合に、機能ユニット単位で在庫し、要求される仕様に合
わせて、選択的に必要なユニットを組み合わせて組み立
て、完成品での校正試験をすることなく直ちに出荷する
ことができるので、完成した製品での在庫が不要となり
在庫の管理コストを大幅に低減できる効果を得ることが
できる。
According to the present invention, as is apparent from the above description, an input signal processing unit configured according to the type of a detection target for performing processing such as level conversion of a detection signal input from a detector, and an input signal processing unit A display processing unit which is coupled to an input signal processing unit, converts a signal from the input signal processing unit into a digital display signal and displays the digital display signal, and the input selected according to required specifications In a digital panel instrument configured by combining a signal processing unit and a display processing unit, each unit is provided with a rewritable read-only memory, and this memory is provided with unique data of each unit and a calibration test conducted for each unit. Record the data to correct the obtained characteristic error, and Since the correction calculation of the display data is performed based on the correction data of the above, in the case of manufacturing at the factory, it is stocked in functional unit units and assembled by selectively combining the necessary units according to the required specifications. Since the finished product can be shipped immediately without performing a calibration test, the finished product does not need to be in stock, and the effect of significantly reducing the inventory management cost can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施例を示すブロック構成図。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】この発明によるメインユニットの校正手順を示
すフローチャート。
FIG. 2 is a flowchart showing a calibration procedure of the main unit according to the present invention.

【図3】この発明による入力信号処理ユニットの校正手
順を示すフローチャート。
FIG. 3 is a flowchart showing a calibration procedure of the input signal processing unit according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 入力信号処理ユニット 11 マルチプレクサ 12 演算増幅器 13 EEPROM 2 表示処理ユニット 21 マイクロコンピュータ 22 ディジタル表示器 23a〜23d 操作設定キー 3 メインユニット 31 電源回路 32 A/D変換器 33 EEPROM 4 外部出力ユニット 41 無接点出力回路 42 接点出力回路 43 ディジタル入出力回路 44 アナログ出力回路 45 EEPROM 1 Input signal processing unit 11 multiplexer 12 Operational amplifier 13 EEPROM 2 Display processing unit 21 Microcomputer 22 Digital display 23a-23d operation setting key 3 main unit 31 power supply circuit 32 A / D converter 33 EEPROM 4 External output unit 41 Non-contact output circuit 42 contact output circuit 43 Digital I / O circuit 44 analog output circuit 45 EEPROM

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも検出器から入力される検出信
号のレベル変換等の処理を行なう検出対象の種類別に構
成された入力信号処理ユニットと、この入力信号処理ユ
ニットからの信号をディジタル表示信号に変換してディ
ジタル表示器により表示を行なう表示処理ユニットとを
設け、要求される仕様に応じて選択された前記入力信号
処理ユニットと表示処理ユニットとを組み合わせて構成
したディジタルパネル計器において、前記各ユニットに
書き換え可能な読み出し専用メモリを設け、このメモリ
にそれぞれのユニットの固有のデータおよびユニットご
とに実施した校正試験によって得られた特性誤差を補正
するデータを記録しておき、測定時にこの補正データに
基づいて表示データの補正演算を行なうことを特徴とす
るディジタルパネル計器。
1. An input signal processing unit configured according to a type of a detection target for performing processing such as level conversion of a detection signal input from a detector, and a signal from the input signal processing unit is converted into a digital display signal. And a display processing unit for displaying with a digital display is provided, and in each of the digital panel meters configured by combining the input signal processing unit and the display processing unit selected according to the required specifications, each unit is A rewritable read-only memory is provided, and the data unique to each unit and the data for correcting the characteristic error obtained by the calibration test conducted for each unit are recorded in this memory, and based on this correction data at the time of measurement. Digital panel characterized by performing correction calculation of display data Instrument.
【請求項2】 請求項1記載のディジタルパネル計器に
おいて、表示処理ユニットに表示されたデータおよびこ
のデータに基づく信号を外部へ出力するための処理を行
なう外部出力ユニットを設け、このユニットを前記表示
処理ユニットに選択的に結合可能としたことを特徴とす
るディジタルパネル計器。
2. The digital panel instrument according to claim 1, further comprising an external output unit for performing processing for outputting data displayed on the display processing unit and a signal based on the data to the outside, and displaying this unit on the display. A digital panel instrument characterized by being selectively connectable to a processing unit.
【請求項3】 請求項2記載のディジタルパネル計器に
おいて、前記外部出力ユニットに書き換え可能な読み出
し専用メモリを設け、このユニットの校正試験によって
得られた補正データを記録しておき、実際の使用時にこ
の補正データに基づき出力データの補正演算を行なうこ
とを特徴とするディジタルパネル計器。
3. The digital panel instrument according to claim 2, wherein the external output unit is provided with a rewritable read-only memory, and correction data obtained by a calibration test of this unit is recorded for actual use. A digital panel instrument characterized by performing correction calculation of output data based on this correction data.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005156509A (en) * 2003-11-28 2005-06-16 Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd Analog input data transmission device
JP2016540202A (en) * 2013-11-05 2016-12-22 レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company Position measurement encoder calibration

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