JP2003222505A - Displacement measuring method and displacement measuring device using the same - Google Patents
Displacement measuring method and displacement measuring device using the sameInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、振動、変位や速
度を光学的に測定する変位測定方法およびその装置に関
し、特に高分解能を達成できる変位測定方法およびそれ
を用いた変位測定装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a displacement measuring method and apparatus for optically measuring vibration, displacement and velocity, and more particularly to a displacement measuring method capable of achieving high resolution and a displacement measuring apparatus using the same. is there.
【0002】[0002]
【従来の技術】出願人は特願2000―055857号
明細書において、各種機器の微少な動きや振動などを光
学的に高精度で測定することができる変位測定装置の発
明を提案した。以下にこの発明の概要を説明する。2. Description of the Related Art In the specification of Japanese Patent Application No. 2000-055857, the applicant proposed an invention of a displacement measuring device capable of optically measuring minute movements and vibrations of various devices with high precision. The outline of the present invention will be described below.
【0003】図5は変位測定装置の構成図である。図5
において、測定対象物3には照明系4から赤外光などの
照明が照射される。測定対象物3からの反射光は結像光
学系5によって集められ、画像センサ部6に結像する。FIG. 5 is a block diagram of a displacement measuring device. Figure 5
At, the measurement object 3 is irradiated with illumination such as infrared light from the illumination system 4. The reflected light from the measuring object 3 is collected by the image forming optical system 5 and forms an image on the image sensor unit 6.
【0004】画像センサ部6には多数の画素(画像素
子)を1次元状に並べたCCDリニアイメージセンサを
用いる。この画像センサ部6にはクロック発生部7から
クロック信号が入力され、各画素の出力信号が順番に読
み出される。この出力信号はA/D変換器8でデジタル
信号に変換され、信号処理部9に出力される。The image sensor unit 6 uses a CCD linear image sensor in which a large number of pixels (image elements) are arranged one-dimensionally. A clock signal is input to the image sensor unit 6 from the clock generation unit 7, and the output signals of the pixels are sequentially read. This output signal is converted into a digital signal by the A / D converter 8 and output to the signal processing unit 9.
【0005】基準画像記憶部12には基準状態における
画像センサ部6の出力信号、すなわち画像データが格納
される。同様にして、測定画像記憶部13には測定状態
の画像データが格納される。The reference image storage unit 12 stores the output signal of the image sensor unit 6 in the reference state, that is, image data. Similarly, the measurement image storage unit 13 stores the image data of the measurement state.
【0006】信号処理部9は基準画像記憶部12と測定
画像記憶部13に格納された画像データを比較して変位
を演算し、表示器11に表示する。また、この変位デー
タをD/A変換器10でアナログ信号に変換し、外部に
出力する。The signal processing unit 9 compares the image data stored in the reference image storage unit 12 and the image data stored in the measurement image storage unit 13 to calculate the displacement and displays it on the display 11. Further, the displacement data is converted into an analog signal by the D / A converter 10 and output to the outside.
【0007】次に、図6に基づいて変位を求める手順を
説明する。なお、画像センサ部6はCCDリニアイメー
ジセンサであり、N個の画素が1次元状に並んでいるも
のとする。Next, the procedure for obtaining the displacement will be described with reference to FIG. The image sensor unit 6 is a CCD linear image sensor, and N pixels are arranged one-dimensionally.
【0008】図6上段は基準画像記憶部12に格納され
た基準画像の画像データ、下段は測定画像記憶部13に
格納された測定画像の画像データである。また、各々の
図において縦軸は各画素の出力値、横軸は各々の画素の
位置を表す。例えば位置mの出力値は(m+1)番目の
画素の出力である。The upper part of FIG. 6 is the image data of the reference image stored in the reference image storage unit 12, and the lower part is the image data of the measurement image stored in the measurement image storage unit 13. In each figure, the vertical axis represents the output value of each pixel and the horizontal axis represents the position of each pixel. For example, the output value at the position m is the output of the (m + 1) th pixel.
【0009】図6上段の図において、位置mから位置
(m+M−1)までの範囲は基準画像範囲である。この
範囲はM個の画素のデータで構成されてる。信号処理部
9はこの基準画像範囲の画像パターンと類似のパターン
を下段の測定波形の画像データから検索する。In the upper diagram of FIG. 6, the range from the position m to the position (m + M-1) is the reference image range. This range is composed of data of M pixels. The signal processing unit 9 searches the image data of the lower measurement waveform for a pattern similar to the image pattern in the reference image range.
【0010】図6では、測定波形上で基準画像からx画
素ずれた位置に基準画像範囲と類似の画像パターンが検
出されたことを表している。この画像のずれ量xから下
式(1)によって変位量Xを演算することができる。
X=A・x ・・・・・・・・・ (1)
Aは光学系の光学倍率などによって決まる比例定数であ
る。FIG. 6 shows that an image pattern similar to the reference image range is detected at a position shifted by x pixels from the reference image on the measurement waveform. The displacement amount X can be calculated from the image displacement amount x by the following equation (1). X = A · x (1) A is a proportional constant determined by the optical magnification of the optical system.
【0011】また、前回の変位量をX’、今回の変位量
をX、サンプリング周期をTとすると、下式(2)によ
って速度Vを演算することができる。
V=(X−X’)/T ・・・・・・・・・ (2)When the previous displacement amount is X ', the current displacement amount is X, and the sampling period is T, the velocity V can be calculated by the following equation (2). V = (X-X ') / T ... (2)
【0012】測定画像中から基準画像を検索する手段と
しては、最短距離法あるいは相互相関法などのパターン
マッチング演算を用いる。最短距離法は下記(3)式に
より誤差関数R(τ)を計算して、このR(τ)が最も
小さくなるτの値をずれ量とする方法である。A pattern matching operation such as the shortest distance method or the cross correlation method is used as a means for retrieving the reference image from the measured images. The shortest distance method is a method in which the error function R (τ) is calculated by the following equation (3) and the value of τ that minimizes this R (τ) is used as the deviation amount.
【数1】 [Equation 1]
【0013】なお、mは基準画像範囲の始点の位置、M
は基準画像範囲の画素数、S0(i)、S(i)はそれ
ぞれ基準画像、測定画像のi番目の画素の出力値であ
る。また、絶対値の代わりに2乗和を演算する方法もあ
る。Note that m is the position of the starting point of the reference image range, and M
Is the number of pixels in the reference image range, and S 0 (i) and S (i) are output values of the i-th pixel of the reference image and the measurement image, respectively. There is also a method of calculating the sum of squares instead of the absolute value.
【0014】また、相互相関法は下記(4)式によって
相互相関関数C(τ)を求め、このC(τ)が最も大き
くなるτの値をずれ量とするものである。In the cross-correlation method, the cross-correlation function C (τ) is calculated by the following equation (4), and the value of τ at which this C (τ) becomes the largest is taken as the deviation amount.
【数2】
mは基準画像範囲の始点の位置、Mは基準画像範囲の画
素数である。[Equation 2] m is the position of the starting point of the reference image range, and M is the number of pixels in the reference image range.
【0015】[0015]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな変位測定装置には次のような課題があった。However, such a displacement measuring device has the following problems.
【0016】前記(3)式または(4)式からわかるよ
うに、この変位測定装置の分解能は画像センサ部6の画
素の分解能で制限されてしまうという課題があった。例
えば、画像センサ部6として1024個の画素を有する
CCDイメージセンサを用いると、視野の1/1024
が分解能になる。従って、画素単位の演算では、最低で
も±0.5画素の誤差が生じてしまうという課題があっ
た。As can be seen from the equation (3) or the equation (4), the resolution of this displacement measuring device is limited by the resolution of the pixels of the image sensor section 6. For example, if a CCD image sensor having 1024 pixels is used as the image sensor unit 6, it is 1/1024 of the field of view.
Is the resolution. Therefore, there is a problem that an error of at least ± 0.5 pixel occurs in the calculation in pixel units.
【0017】従って本発明が解決しようとする課題は、
分解能および測定精度を向上することができる変位測定
方法およびそれを用いた変位測定装置を提供することに
ある。Therefore, the problem to be solved by the present invention is
An object of the present invention is to provide a displacement measuring method and a displacement measuring apparatus using the same, which can improve the resolution and the measuring accuracy.
【0018】[0018]
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために、本発明のうち請求項1記載の発明は、測定対
象物の測定画像と基準画像との誤差関数を求め、この誤
差関数から前記測定画像と基準画像のずれ量を演算し
て、このずれ量から変位量を算出する変位測定方法であ
って、前記基準画像の画像データから第1の誤差関数を
求めて、前記測定画像と前記基準画像の画像データから
第2の誤差関数を求め、この第1、第2の誤差関数の少
なくとも1つの誤差関数を補間演算によって高分解能化
して、これらの誤差関数から第3の誤差関数を求めてこ
の第3の誤差関数から前記基準画像と前記測定画像との
ずれ量を演算し、このずれ量から前記測定対象物の変位
を算出するようにしたものである。分解能を向上させる
ことができる。In order to solve such a problem, the invention according to claim 1 of the present invention obtains an error function between a measurement image of a measurement object and a reference image, and the error function is obtained. A displacement measuring method for calculating a displacement amount between the measurement image and the reference image from the above, and calculating a displacement amount from the displacement amount, wherein a first error function is obtained from image data of the reference image, And a second error function is obtained from the image data of the reference image, and at least one error function of the first and second error functions is increased in resolution by interpolation calculation, and a third error function is obtained from these error functions. Is calculated, the shift amount between the reference image and the measurement image is calculated from the third error function, and the displacement of the measurement object is calculated from the shift amount. The resolution can be improved.
【0019】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記誤差関数は最短距離法によって求める
ようにしたものである。簡単に誤差関数を求めることが
できる。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the error function is obtained by the shortest distance method. The error function can be easily obtained.
【0020】請求項3記載の発明は、請求項2記載の発
明において、前記最短距離法の演算は、前記画像データ
または誤差関数の差の絶対値を加算することによって行
うようにしたものである。簡単に計算することができ
る。According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the operation of the shortest distance method is performed by adding the absolute value of the difference between the image data or the error function. . It can be calculated easily.
【0021】請求項4記載の発明は、請求項2記載の発
明において、前記最短距離法の演算は、前記画像データ
または誤差関数の差の2乗を加算することによって行う
ようにしたものである。簡単に計算することができる。According to a fourth aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the calculation of the shortest distance method is performed by adding the square of the difference between the image data or the error function. . It can be calculated easily.
【0022】請求項5記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記誤差関数は相互相関関数によって求め
るようにしたものである。汎用的な手段を用いることが
できる。According to a fifth aspect of the invention, in the first aspect of the invention, the error function is obtained by a cross-correlation function. A general-purpose means can be used.
【0023】請求項6記載の発明は、請求項1ないし請
求項5記載の発明において、前記誤差関数の高分解能化
は、線形補間によって行うようにしたものである。簡単
に計算することができる。According to a sixth aspect of the invention, in the inventions of the first to fifth aspects, the resolution of the error function is increased by linear interpolation. It can be calculated easily.
【0024】請求項7記載の発明は、基準画像が格納さ
れる基準画像記憶部12と、測定対象物3の測定画像が
格納される測定画像記憶部13と、これら基準画像記憶
部12と測定画像記憶部13に格納された画像データを
用いて演算処理を施す信号処理部9とを有し、この信号
処理部9は基準画像記憶部12に格納されている画像デ
ータから第1の誤差関数を求め、基準画像記憶部12と
測定画像記憶部13に格納されている画像データから第
2の誤差関数を求め、これら第1および第2の誤差関数
の少なくとも1つを補間演算によって高分解能化し、こ
れらの誤差関数から第3の誤差関数を演算して、この第
3の誤差関数から基準画像と測定画像のずれ量を求め、
このずれ量から測定対象物3の変位を算出するようにし
たものである。分解能を高めることができる。According to the seventh aspect of the present invention, the reference image storage unit 12 in which the reference image is stored, the measurement image storage unit 13 in which the measurement image of the measurement object 3 is stored, and the reference image storage unit 12 and the measurement are performed. A signal processing unit 9 that performs arithmetic processing using the image data stored in the image storage unit 13. The signal processing unit 9 uses the first error function based on the image data stored in the reference image storage unit 12. And a second error function is obtained from the image data stored in the reference image storage unit 12 and the measurement image storage unit 13, and at least one of these first and second error functions is increased in resolution by interpolation calculation. , A third error function is calculated from these error functions, and the deviation amount between the reference image and the measurement image is obtained from the third error function,
The displacement of the measuring object 3 is calculated from this displacement amount. The resolution can be increased.
【0025】請求項8記載の発明は、請求項7記載の発
明において、信号処理部9は、誤差関数を最短距離法に
基づいて求めるようにしたものである。簡単に計算する
ことができる。According to an eighth aspect of the present invention, in the seventh aspect of the invention, the signal processing section 9 obtains the error function based on the shortest distance method. It can be calculated easily.
【0026】請求項9記載の発明は、請求項8記載の発
明において、最短距離法の演算は、画像データまたは誤
差関数の差の絶対値を加算することによって行うように
したものである。簡単に計算することができる。According to a ninth aspect of the invention, in the eighth aspect of the invention, the shortest distance method calculation is performed by adding the absolute values of the differences between the image data or the error function. It can be calculated easily.
【0027】請求項10記載の発明は、請求項8記載の
発明において、最短距離法の演算は、画像データまたは
誤差関数の差の2乗を加算することによって行うように
したものである。簡単に計算することができる。According to a tenth aspect of the present invention, in the eighth aspect of the invention, the shortest distance method is calculated by adding the square of the difference between the image data or the error function. It can be calculated easily.
【0028】請求項11記載の発明は、請求項7記載の
発明において、誤差関数は相互相関関数に基づいて求め
るようにしたものである。汎用的な手段を用いることが
できる。The invention described in claim 11 is the invention described in claim 7, wherein the error function is obtained based on a cross-correlation function. A general-purpose means can be used.
【0029】請求項12記載の発明は、請求項7ないし
請求項11記載の発明において、誤差関数の高分解能化
は、線形補間によって行うようにしたものである。簡単
に計算することができる。According to a twelfth aspect of the present invention, in the invention according to the seventh to eleventh aspects, the resolution of the error function is increased by linear interpolation. It can be calculated easily.
【0030】[0030]
【発明の実施の形態】以下に、図に基づいて本発明を詳
細に説明する。図1は本発明に係る変位測定方法の一実
施例を示すフローチャートである。なお、ハードウエア
構成は図5と同じであるので、その符号を引用する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is a flow chart showing an embodiment of the displacement measuring method according to the present invention. Note that the hardware configuration is the same as that in FIG.
【0031】図1において、最初に基準画像を基準画像
記憶部12に格納し、基準画像範囲を設定する。次に、
基準画像同士でマッチング演算を行い、誤差関数R0を
求める。この誤差関数R0は画素単位で値を持つ関数で
ある。この実施例では変位の測定時に誤差関数のマッチ
ング演算も行うので、予め基準画像の誤差関数R0を求
めておくようにする。In FIG. 1, the reference image is first stored in the reference image storage unit 12, and the reference image range is set. next,
A matching operation is performed between the reference images to obtain the error function R 0 . This error function R 0 is a function that has a value in pixel units. In this embodiment, since the error function matching calculation is also performed when the displacement is measured, the error function R 0 of the reference image is obtained in advance.
【0032】誤差関数R0は前述した最短距離法や相互
相関法などのパターンマッチング演算を用いて計算す
る。(5)式に最短距離法を用いた誤差関数R0を示
す。The error function R 0 is calculated by using the pattern matching calculation such as the shortest distance method or the cross correlation method described above. Equation (5) shows the error function R 0 using the shortest distance method.
【数3】
ここにおいて、S0(i)は基準画像のi番目の画素の
出力値、Mは基準画像の基準画像範囲の画素数、mは同
基準画像範囲の開始点である。[Equation 3] Here, S 0 (i) is the output value of the i-th pixel of the reference image, M is the number of pixels in the reference image range of the reference image, and m is the starting point of the same reference image range.
【0033】次に、求めた誤差関数R0に補間演算を施
して、高分解能化した誤差関数R0’を求める。この補
間演算は単純な線形補間であってもよく、もっと高次の
曲線による補間を用いてもよい。下記(6)に線形補間
を施した誤差関数R0’の例を示す。Next, the obtained error function R 0 is subjected to interpolation calculation to obtain a high resolution error function R 0 ′. This interpolation calculation may be simple linear interpolation, or may be interpolation using a higher-order curve. An example of the error function R 0 ′ subjected to the linear interpolation is shown in (6) below.
【数4】 [Equation 4]
【0034】ここにおいて、dは補間分割数、τ0は
τ’を越えない最大の整数すなわちτ0≦τ’≦τ0+
1を満たす整数、kは分割比(0,1,・・・d)であ
り、
k=d・(τ’−τ0)
を満たす整数である。例えば、d=10とすると0.1
ステップのτ’でR0’を計算し、0.1画素単位の誤
差関数R0’を求めることができる。Here, d is the number of interpolation divisions, and τ 0 is the maximum integer not exceeding τ ′, that is, τ 0 ≤τ '≤τ 0 +
An integer that satisfies 1, k is a division ratio (0, 1, ... D), and is an integer that satisfies k = d · (τ′−τ 0 ). For example, if d = 10, 0.1
The error function R 0 ′ can be calculated in 0.1 pixel units by calculating R 0 ′ with τ ′ of the step.
【0035】次に、測定画像を測定画像記憶部13に格
納して、この測定画像と基準画像の基準画像範囲部分と
の間でマッチング演算を行って誤差関数Rを求め、これ
らのずれ量を求める。誤差関数Rは、最短距離法による
と下記(7)式によって求めることができる。Next, the measurement image is stored in the measurement image storage unit 13, a matching operation is performed between this measurement image and the reference image range portion of the reference image to obtain an error function R, and the deviation amount between them is calculated. Ask. The error function R can be obtained by the following equation (7) according to the shortest distance method.
【数5】 [Equation 5]
【0036】ここでS(i)、S0(i)はそれぞれ測
定画像、基準画像のi番目の画素の出力値、Mは基準画
像範囲の画素数、mはその開始位置である。この誤差関
数Rが最小になるτがずれ量xであり、画像が類似して
いる位置になる。このずれ量xは画素単位の分解能を有
している。Here, S (i) and S 0 (i) are the measured image and the output value of the i-th pixel of the reference image, M is the number of pixels in the reference image range, and m is the start position thereof. Τ that minimizes the error function R is the shift amount x, and the positions are similar to each other. This shift amount x has a resolution in pixel units.
【0037】そして、前記(6)式で求めた基準画像に
おける誤差関数R0’と前記(7)式で求めた測定画像
の誤差関数Rを比較してマッチング演算を行う。このマ
ッチング演算は、例えば下記(8)式により誤差関数の
類似度を表す誤差関数RR(τ’)を計算することによ
り行う。この値が最小になるτ’が誤差関数が類似して
いる点になり、ずれ量x’になる。Then, the matching function is performed by comparing the error function R 0 'in the reference image obtained by the equation (6) with the error function R of the measurement image obtained by the equation (7). This matching operation is performed by calculating an error function RR (τ ′) representing the similarity of the error function by the following expression (8), for example. The value of τ ′ at which this value becomes the minimum is the point at which the error functions are similar, and becomes the shift amount x ′.
【0038】このずれ量x’は画素単位以下の分解能を
有している。例えば、前記(7)式で10分割演算を行
った場合では、0.1画素単位の分解能が得られる。This displacement amount x'has a resolution of less than a pixel unit. For example, when the 10-division operation is performed by the equation (7), a resolution of 0.1 pixel unit can be obtained.
【数6】
ここで、R(i)、R0’(i)はそれぞれ測定画像の
誤差関数および高分解能化した基準画像の誤差関数、h
は誤差関数の比較を行う範囲の中心からの幅である。比
較を行う範囲の画素数は(2h+1)になる。なお、j
の範囲は(x±h)のように中心に対して必ずしも対称
である必要はない。[Equation 6] Here, R (i) and R 0 ′ (i) are the error function of the measurement image and the error function of the reference image with high resolution, h
Is the width from the center of the range in which the error functions are compared. The number of pixels in the comparison range is (2h + 1). Note that j
The range of is not necessarily symmetric with respect to the center like (x ± h).
【0039】また、τ’の計算範囲は画素単位のずれ量
x±0.5の範囲で行えば十分である。例えば(6)式
で10分割の補間演算を行った場合は、τ’を0.1画
素単位のずれ量が得られる。It is sufficient that the calculation range of τ'is within the range of the deviation amount x ± 0.5 per pixel. For example, when the interpolation calculation of 10 divisions is performed by the equation (6), τ ′ can be obtained as a shift amount of 0.1 pixel unit.
【0040】次に、光学倍率Aから下記(9)式により
変位量Xを計算する。
X=A・x’+X0 ・・・・・・・・・・ (9)
なお、X0は基準画像の位置である。そして、前回の変
位量X前回とサンプリング周期Tおよび今回の変位量X
から下記(10)によって速度Vを求める。
V=(X−X前回)/T ・・・・・・・・ (10)Next, the displacement amount X is calculated from the optical magnification A by the following equation (9). X = A · x ′ + X 0 (9) Note that X 0 is the position of the reference image. Then, the previous displacement amount X, the previous sampling period T, and the current displacement amount X
Then, the speed V is obtained by the following (10). V = (X-X last time) / T ... (10)
【0041】そして前回の変位量X前回を今回の変位量
Xで更新して、計算結果を表示器11に表示すると共に
D/A変換器10でアナログ信号に変換して外部に出力
する。その後、測定終了かどうかをチェックして測定終
了なら終了し、そうでないなら新たな測定画像を測定画
像記憶部13に格納して同じ動作を繰り返す。Then, the previous displacement amount X is updated with the displacement amount X of this time, the calculation result is displayed on the display unit 11, and the D / A converter 10 converts it into an analog signal and outputs it to the outside. After that, it is checked whether or not the measurement is completed. If the measurement is completed, the measurement is ended. If not, a new measurement image is stored in the measurement image storage unit 13 and the same operation is repeated.
【0042】次に、図2に基づいて図1フローチャート
の動作を具体的に説明する。図2(A)は基準画像であ
り、横軸は画素の位置、縦軸は各画素の出力値である。
1は基準画像範囲を表し、太線の部分が基準となる画像
である。Next, the operation of the flowchart of FIG. 1 will be specifically described with reference to FIG. FIG. 2A is a reference image, where the horizontal axis is the pixel position and the vertical axis is the output value of each pixel.
Reference numeral 1 denotes the reference image range, and the thick line portion is the reference image.
【0043】同図(B)は前記(5)式により求めた基
準画像(A)の誤差関数R0である。横軸はずれ量τ、
縦軸は誤差関数R0の値であり、斜めの線は誤差関数R
0を表す。この誤差関数は黒丸で示すように、画素単位
の分解能を有している。FIG. 9B shows the error function R 0 of the reference image (A) obtained by the above equation (5). The horizontal axis is the amount of deviation τ,
The vertical axis is the value of the error function R 0 , and the diagonal line is the error function R 0.
Represents 0 . This error function has a resolution on a pixel-by-pixel basis as indicated by a black circle.
【0044】同図(C)は高分解能化した誤差関数
R0’であり、誤差関数R0を前記(6)式で補間した
ものである。図からわかるように、この誤差関数R0’
は画素より小さい分解能を有している。例えば、分割数
を10とすると、0.1画素の分解能を有している。FIG. 6C shows an error function R 0 ′ having a higher resolution, which is obtained by interpolating the error function R 0 by the equation (6). As can be seen from the figure, this error function R 0 '
Has a smaller resolution than a pixel. For example, if the number of divisions is 10, it has a resolution of 0.1 pixel.
【0045】同図(D)は測定画像であり、2は基準画
像の基準範囲と類似の部分である。(E)は前記(7)
式によって求めた測定画像の誤差関数R(τ)である。
この誤差関数R(τ)も、(B)と同様に画素単位の分
解能を有しており、ずれ量はxになる。FIG. 3D shows a measurement image, and 2 is a portion similar to the reference range of the reference image. (E) is the above (7)
It is the error function R (τ) of the measurement image obtained by the equation.
This error function R (τ) also has a resolution in pixel units as in (B), and the shift amount is x.
【0046】同図(F)は前記(8)式によって求めた
誤差関数R0’(τ)とR(τ)の誤差関数RR
(τ’)である。x−0.5とx+0.5との間が10
に分割され、ずれ量はx+0.3になり、10倍の精度
でずれ量をもとめることができる。FIG. 6F shows an error function RR of the error functions R 0 '(τ) and R (τ) obtained by the equation (8).
(Τ '). 10 between x-0.5 and x + 0.5
And the shift amount becomes x + 0.3, and the shift amount can be obtained with 10 times accuracy.
【0047】このように、基準画像の誤差関数R
0(τ)に補間演算を施して高分解能化した誤差関数R
0’(τ)を求め、この誤差関数R0’(τ)と測定画
像の誤差関数R(τ)の誤差関数RR(τ’)を求め
て、ずれ量を計算するようにする。Thus, the error function R of the reference image
Error function R with high resolution by performing interpolation calculation on 0 (τ)
0 ′ (τ) is calculated, the error function R 0 ′ (τ) and the error function RR (τ ′) of the error function R (τ) of the measurement image are calculated, and the shift amount is calculated.
【0048】場所によって画像の形に変化がないと誤差
関数はどこでも同じ形状になるはずであるが、実際には
図2(B)と(E)のように異なった形状を示す。その
ため、これらの誤差関数の誤差関数を計算することによ
り、画素単位以下のより実際に近いずれ量を求めること
ができる。If there is no change in the shape of the image depending on the location, the error function should have the same shape everywhere, but in reality, it shows different shapes as shown in FIGS. 2B and 2E. Therefore, by calculating the error function of these error functions, it is possible to actually obtain the near amount less than the pixel unit.
【0049】図3に本発明の他の実施例を示す。図3
(A)は基準画像、1はその基準範囲であり、図2の
(A)と同じものである。同様に、図3(B)は基準画
像の誤差関数R0(τ)であり、図2(B)と同じもの
である。FIG. 3 shows another embodiment of the present invention. Figure 3
(A) is a reference image, and 1 is its reference range, which is the same as (A) in FIG. Similarly, FIG. 3B shows the error function R 0 (τ) of the reference image, which is the same as FIG. 2B.
【0050】図3(C)は測定画像、2は基準画像の基
準画像範囲と類似する部分であり、図2(D)と同じも
のである。同様に、図3(D)は測定画像の誤差関数R
(τ)であり、図2(E)と同じものである。FIG. 3 (C) is a measurement image, 2 is a portion similar to the reference image range of the reference image, and is the same as FIG. 2 (D). Similarly, FIG. 3D shows the error function R of the measurement image.
(Τ), which is the same as that in FIG.
【0051】図3(E)は測定画像の誤差関数R(τ)
を前記(6)式と同様にして補間したものであり、1画
素以下の分解能を有している。図3(F)は(B)の基
準画像の誤差関数R0(τ)と(E)の高分解能化した
測定画像の誤差関数R’(τ)を前記(8)式と同様の
方法で計算した誤差関数RR(τ’)である。この場合
も図2と同様にずれ量τ’を1画素以下の分解能で求め
ることができる。FIG. 3E shows the error function R (τ) of the measurement image.
Is interpolated in the same manner as the equation (6), and has a resolution of 1 pixel or less. FIG. 3 (F) shows the error function R 0 (τ) of the reference image of (B) and the error function R ′ (τ) of the high-resolution measurement image of (E) by the same method as the above equation (8). It is the calculated error function RR (τ ′). Also in this case, the shift amount τ ′ can be obtained with a resolution of one pixel or less, as in FIG.
【0052】すなわち、図2実施例では基準画像の誤差
関数R0(τ)を補間して高分解能化したのに対して、
図3実施例では測定画像の誤差関数R(τ)を補間して
高分解能化するようにした。このようにしても同様の効
果が得られる。That is, in the embodiment shown in FIG. 2, while the error function R 0 (τ) of the reference image is interpolated to increase the resolution,
In the embodiment of FIG. 3, the error function R (τ) of the measurement image is interpolated to increase the resolution. Even in this case, the same effect can be obtained.
【0053】図4に信号処理部の構成を示す。なお、図
5と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。図
4において、90は信号処理部であり、誤差演算部90
1,902および904,補間演算部903、ずれ量演
算部905、変位量演算部906から構成されている。FIG. 4 shows the configuration of the signal processing section. The same elements as those in FIG. 5 will be assigned the same reference numerals and explanations thereof will be omitted. In FIG. 4, 90 is a signal processing unit,
1, 902 and 904, an interpolation calculation unit 903, a displacement amount calculation unit 905, and a displacement amount calculation unit 906.
【0054】誤差演算部901は基準画像記憶部12に
格納された基準画像データを入力し、前記(5)式に基
づいて誤差関数R0(τ)を演算する。補間演算部90
3は前記(6)式に基づいて誤差関数演算部901が演
算した誤差関数R0(τ)を高分解能化する。The error calculation unit 901 inputs the reference image data stored in the reference image storage unit 12, and calculates the error function R 0 (τ) based on the equation (5). Interpolation calculation unit 90
3 raises the resolution of the error function R 0 (τ) calculated by the error function calculation unit 901 based on the equation (6).
【0055】誤差関数演算部902は基準画像記憶部1
2に格納された基準画像および測定画像記憶部13に格
納された測定画像のデータを入力して、前記(7)式に
基づいて誤差関数R(τ)を演算する。誤差関数演算部
904は誤差関数R0’(τ)、R(τ)を入力してこ
れらの誤差関数から前記(8)式により誤差関数RR
(τ’)を演算する。The error function calculation unit 902 is the reference image storage unit 1.
The reference image stored in 2 and the data of the measurement image stored in the measurement image storage unit 13 are input, and the error function R (τ) is calculated based on the equation (7). The error function calculation unit 904 inputs the error functions R 0 ′ (τ) and R (τ), and from these error functions, the error function RR is calculated by the equation (8).
Calculate (τ ').
【0056】ずれ量演算部905は誤差関数RR
(τ’)から基準画像と測定画像のずれ量を演算する。
変位量演算部906はずれ量演算部905が演算したず
れ量を用いて、前記(9)式から測定対象物の変位量を
演算する。The deviation amount calculation unit 905 calculates the error function RR.
The shift amount between the reference image and the measurement image is calculated from (τ ′).
The displacement amount calculation unit 906 calculates the displacement amount of the measurement object from the equation (9) using the displacement amount calculated by the displacement amount calculation unit 905.
【0057】なお、これらの実施例では最短距離法によ
って誤差関数を求めるようにしたが、相互相関関数など
他の方法によって求めるようにしてもよい。また、最短
距離法でも前記(5)式、(7)式のように絶対値を求
める方法でなく、2乗和を求めるようにしてもよい。Although the error function is obtained by the shortest distance method in these embodiments, it may be obtained by another method such as a cross-correlation function. Also, the shortest distance method may be a method of obtaining the sum of squares instead of the method of obtaining the absolute value as in the equations (5) and (7).
【0058】また、これらの実施例ではアブソリュート
測定の場合を説明したが、基準画像を更新して積算する
インクリメンタル測定に用いることもできる。さらに、
変位測定だけでなく、速度測定に用いることもできる。Further, although the case of the absolute measurement has been described in these embodiments, it is also possible to use it for the incremental measurement in which the reference image is updated and integrated. further,
It can be used for velocity measurement as well as displacement measurement.
【0059】[0059]
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば、次の効果が期待できる。請求項1の発
明によれば、測定対象物の測定画像と基準画像との誤差
関数を求め、この誤差関数から前記測定画像と基準画像
のずれ量を演算して、このずれ量から変位量を算出する
変位測定方法であって、前記基準画像の画像データから
第1の誤差関数を求めて、前記測定画像と前記基準画像
の画像データから第2の誤差関数を求め、この第1、第
2の誤差関数の少なくとも1つの誤差関数を補間演算に
よって高分解能化して、これらの誤差関数から第3の誤
差関数を求めてこの第3の誤差関数から前記基準画像と
前記測定画像とのずれ量を演算し、このずれ量から前記
測定対象物の変位を算出するようにした。As is apparent from the above description,
According to the present invention, the following effects can be expected. According to the invention of claim 1, an error function between the measurement image of the measurement object and the reference image is obtained, a deviation amount between the measurement image and the reference image is calculated from the error function, and a displacement amount is calculated from the deviation amount. A displacement measuring method for calculating, wherein a first error function is obtained from image data of the reference image, and a second error function is obtained from image data of the measurement image and the reference image. At least one error function of the error functions is increased by interpolation calculation to obtain a third error function from these error functions, and the deviation amount between the reference image and the measurement image is calculated from the third error function. The calculation is performed, and the displacement of the measurement target is calculated from the displacement amount.
【0060】従来は1画素の分解能しかなかったので最
低でも±0.5画素の誤差が発生していた。例えば10
24個の画素を有するセンサを用いると、±0.05%
の分解能および精度が限度であった。Conventionally, since the resolution was only one pixel, an error of at least ± 0.5 pixel occurred. For example, 10
± 0.05% when using a sensor with 24 pixels
Was limited in resolution and accuracy.
【0061】それに対して本発明では0.1画素単位の
分解能を達成することができるので、変位測定の分解能
と精度を1桁向上させることができるという効果があ
る。補間演算の分割数を増やせば、さらに分解能と精度
を向上させることができる。On the other hand, according to the present invention, since resolution of 0.1 pixel unit can be achieved, there is an effect that the resolution and accuracy of displacement measurement can be improved by one digit. If the number of divisions of the interpolation calculation is increased, the resolution and accuracy can be further improved.
【0062】実際に本発明を用いて変位測定を行ったと
ころ、各サンプリング毎の瞬時値で±0.3画素程度の
誤差で測定が可能であった。さらに、変位演算結果を1
000回程度平均化することにより、±0.1画素程度
にまで誤差を減少させることができた。When displacement measurement was actually performed using the present invention, it was possible to measure with an error of about ± 0.3 pixel in the instantaneous value for each sampling. Furthermore, the displacement calculation result is 1
By averaging about 000 times, the error could be reduced to about ± 0.1 pixel.
【0063】また、本発明は全てソフトウエアで処理が
可能であり、ハードウエアの追加、変更は必要ないの
で、簡単に分解能や精度を向上させることが可能である
という効果もある。In addition, since the present invention can be entirely processed by software and does not require addition or modification of hardware, there is an effect that the resolution and accuracy can be easily improved.
【0064】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載の発明において、前記誤差関数は最短距離法によって
求めるようにした。簡単な計算で誤差関数を求めること
ができるという効果がある。According to the invention of claim 2, in the invention of claim 1, the error function is obtained by the shortest distance method. There is an effect that the error function can be obtained by a simple calculation.
【0065】請求項3記載の発明によれば、請求項2記
載の発明において、前記最短距離法の演算は、前記画像
データまたは誤差関数の差の絶対値を加算することによ
って行うようにした。加減算のみで計算することができ
るので、高速に計算することができるという効果があ
る。According to the invention of claim 3, in the invention of claim 2, the operation of the shortest distance method is performed by adding the absolute value of the difference between the image data or the error function. Since the calculation can be performed only by addition and subtraction, there is an effect that the calculation can be performed at high speed.
【0066】請求項4記載の発明によれば、請求項2記
載の発明において、前記最短距離法の演算は、前記画像
データまたは誤差関数の差の2乗を加算することによっ
て行うようにした。積和計算で求めることができるの
で、簡単に計算することができるという効果がある。According to the invention described in claim 4, in the invention described in claim 2, the operation of the shortest distance method is performed by adding the square of the difference between the image data or the error function. Since the sum of products can be obtained, there is an effect that it can be easily calculated.
【0067】請求項5記載の発明によれば、請求項1記
載の発明において、前記誤差関数は相互相関関数によっ
て求めるようにした。汎用的な手段を用いることができ
るという効果がある。According to the invention of claim 5, in the invention of claim 1, the error function is obtained by a cross-correlation function. There is an effect that a general-purpose means can be used.
【0068】請求項6記載の発明によれば、請求項1な
いし請求項5記載の発明において、前記誤差関数の高分
解能化は、線形補間によって行うようにした。計算が簡
単になり、かつ分割数を増やすことにより分解能を高め
ることができるという効果がある。According to the invention of claim 6, in the invention of claims 1 to 5, the resolution of the error function is increased by linear interpolation. This has the effects of simplifying the calculation and increasing the resolution by increasing the number of divisions.
【0069】請求項7記載の発明によれば、基準画像が
格納される基準画像記憶部12と、測定対象物3の測定
画像が格納される測定画像記憶部13と、これら基準画
像記憶部12と測定画像記憶部13に格納された画像デ
ータを用いて演算処理を施す信号処理部9とを有し、こ
の信号処理部9は基準画像記憶部12に格納されている
画像データから第1の誤差関数を求め、基準画像記憶部
12と測定画像記憶部13に格納されている画像データ
から第2の誤差関数を求め、これら第1および第2の誤
差関数の少なくとも1つを補間演算によって高分解能化
し、これらの誤差関数から第3の誤差関数を演算して、
この第3の誤差関数から基準画像と測定画像のずれ量を
求め、このずれ量から測定対象物3の変位を算出するよ
うにした。According to the seventh aspect of the present invention, the reference image storage unit 12 in which the reference image is stored, the measurement image storage unit 13 in which the measurement image of the measurement object 3 is stored, and the reference image storage unit 12 are stored. And a signal processing unit 9 that performs an arithmetic process using the image data stored in the measurement image storage unit 13. The signal processing unit 9 uses the image data stored in the reference image storage unit 12 as a first An error function is obtained, a second error function is obtained from the image data stored in the reference image storage unit 12 and the measurement image storage unit 13, and at least one of the first and second error functions is interpolated to obtain a high error function. The resolution is increased, and the third error function is calculated from these error functions,
The deviation amount between the reference image and the measurement image is obtained from the third error function, and the displacement of the measuring object 3 is calculated from the deviation amount.
【0070】従来は1画素の分解能しかなかったので最
低でも±0.5画素の誤差が発生していた。例えば10
24個の画素を有するセンサを用いると、±0.05%
の分解能および精度が限度であった。Conventionally, since the resolution was only one pixel, an error of at least ± 0.5 pixel occurred. For example, 10
± 0.05% when using a sensor with 24 pixels
Was limited in resolution and accuracy.
【0071】それに対して本発明では0.1画素単位の
分解能を達成することができるので、変位測定の分解能
と精度を1桁向上させることができるという効果があ
る。補間演算の分割数を増やせば、さらに分解能と精度
を向上させることができる。On the other hand, in the present invention, a resolution of 0.1 pixel unit can be achieved, so that there is an effect that the resolution and accuracy of displacement measurement can be improved by one digit. If the number of divisions of the interpolation calculation is increased, the resolution and accuracy can be further improved.
【0072】実際に本発明を用いて変位測定を行ったと
ころ、各サンプリング毎の瞬時値で±0.3画素程度の
誤差で測定が可能であった。さらに、変位演算結果を1
000回程度平均化することにより、±0.1画素程度
にまで誤差を減少させることができた。When displacement measurement was actually performed using the present invention, it was possible to measure with an error of about ± 0.3 pixel in the instantaneous value for each sampling. Furthermore, the displacement calculation result is 1
By averaging about 000 times, the error could be reduced to about ± 0.1 pixel.
【0073】また、本発明は全てソフトウエアで処理が
可能であり、ハードウエアの追加、変更は必要ないの
で、簡単に分解能や精度を向上させることが可能である
という効果もある。Further, the present invention can be entirely processed by software and does not require addition or modification of hardware, so that the resolution and accuracy can be easily improved.
【0074】請求項8記載の発明によれば、請求項7記
載の発明において、信号処理部9は、誤差関数を最短距
離法に基づいて求めるようにした。簡単な計算で誤差関
数を求めることができるという効果がある。According to the invention described in claim 8, in the invention described in claim 7, the signal processing section 9 obtains the error function based on the shortest distance method. There is an effect that the error function can be obtained by a simple calculation.
【0075】請求項9記載の発明によれば、請求項8記
載の発明において、最短距離法の演算は、画像データま
たは誤差関数の差の絶対値を加算することによって行う
ようにした。加減算のみで計算することができるので、
高速に計算することができるという効果がある。According to a ninth aspect of the invention, in the eighth aspect of the invention, the calculation by the shortest distance method is performed by adding the absolute value of the difference between the image data or the error function. Since it can be calculated only by addition and subtraction,
There is an effect that it can be calculated at high speed.
【0076】請求項10記載の発明によれば、請求項8
記載の発明において、最短距離法の演算は、画像データ
または誤差関数の差の2乗を加算することによって行う
ようにした。積和計算で求めることができるので、簡単
に計算することができるという効果がある。According to the invention of claim 10, claim 8 is provided.
In the described invention, the shortest distance method is calculated by adding the square of the difference between the image data or the error function. Since the sum of products can be obtained, there is an effect that it can be easily calculated.
【0077】請求項11記載の発明によれば、請求項7
記載の発明において、誤差関数は相互相関関数に基づい
て求めるようにした。汎用的な手段を用いることができ
るという効果がある。According to the invention of claim 11, claim 7 is provided.
In the described invention, the error function is obtained based on the cross-correlation function. There is an effect that a general-purpose means can be used.
【0078】請求項12記載の発明によれば、請求項7
ないし請求項11記載の発明において、誤差関数の高分
解能化は、線形補間によって行うようにした。計算が簡
単になり、かつ分割数を増やすことにより分解能を高め
ることができるという効果がある。According to the invention of claim 12, claim 7 is provided.
In the invention according to claim 11, the resolution of the error function is increased by linear interpolation. This has the effects of simplifying the calculation and increasing the resolution by increasing the number of divisions.
【図1】本発明の一実施例を示すフローチャートであ
る。FIG. 1 is a flowchart showing an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施例の動作を説明するための特性
図である。FIG. 2 is a characteristic diagram for explaining the operation of the embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施例の動作を説明するための特性
図である。FIG. 3 is a characteristic diagram for explaining the operation of the embodiment of the present invention.
【図4】信号処理部の構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram of a signal processing unit.
【図5】変位測定装置の構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of a displacement measuring device.
【図6】従来の変位測定装置の動作を説明するための特
性図である。FIG. 6 is a characteristic diagram for explaining the operation of a conventional displacement measuring device.
1 基準画像 12 基準画像記憶部 13 測定画像記憶部 2 測定画像中の基準画像と類似の部分 3 測定対象物 6 画像センサ部 9,90 信号処理部 901,902,904 誤差関数演算部 903 補間演算部 905 ずれ量演算部 906 変位量演算部 1 standard image 12 Reference image storage unit 13 Measurement image storage 2 Similar parts to the reference image in the measurement image 3 Object to be measured 6 Image sensor section 9,90 Signal processing unit 901, 902, 904 Error function calculator 903 Interpolation calculation unit 905 Deviation amount calculator 906 Displacement amount calculation unit
Claims (12)
関数を求め、この誤差関数から前記測定画像と基準画像
のずれ量を演算して、このずれ量から変位量を算出する
変位測定方法において、前記基準画像の画像データから
第1の誤差関数を求めると共に前記測定画像と前記基準
画像の画像データから第2の誤差関数を求め、この第
1、第2の誤差関数の少なくとも1つの誤差関数を補間
演算によって高分解能化し、これらの誤差関数から第3
の誤差関数を求めてこの第3の誤差関数から前記基準画
像と前記測定画像とのずれ量を演算して、このずれ量か
ら前記測定対象物の変位を算出するようにしたことを特
徴とする変位測定方法。1. Displacement measurement for obtaining an error function between a measurement image of a measuring object and a reference image, calculating a deviation amount between the measurement image and the reference image from the error function, and calculating a displacement amount from the deviation amount. In the method, a first error function is obtained from the image data of the reference image, a second error function is obtained from the image data of the measurement image and the reference image, and at least one of the first and second error functions is obtained. The resolution of the error function is increased by interpolation calculation, and the third function is obtained from these error functions.
Is calculated, the shift amount between the reference image and the measurement image is calculated from the third error function, and the displacement of the measurement object is calculated from the shift amount. Displacement measurement method.
ようにしたことを特徴とする請求項1記載の変位測定方
法。2. The displacement measuring method according to claim 1, wherein the error function is obtained by a shortest distance method.
または誤差関数の差の絶対値を加算することによって行
うようにしたことを特徴とする請求項2記載の変位測定
方法。3. The displacement measuring method according to claim 2, wherein the calculation by the shortest distance method is performed by adding the absolute values of the differences between the image data or the error function.
または誤差関数の差の2乗を加算することによって行う
ようにしたことを特徴とする請求項2記載の変位測定方
法。4. The displacement measuring method according to claim 2, wherein the calculation by the shortest distance method is performed by adding the square of the difference between the image data or the error function.
るようにしたことを特徴とする請求項1記載の変位測定
方法。5. The displacement measuring method according to claim 1, wherein the error function is obtained by a cross-correlation function.
よって行うようにしたことを特徴とする請求項1ないし
請求項5記載の変位測定方法。6. The displacement measuring method according to claim 1, wherein the resolution of the error function is increased by linear interpolation.
測定対象物の測定画像が格納される測定画像記憶部と、
これら基準画像記憶部と測定画像記憶部に格納された画
像データを用いて演算処理を施す信号処理部とを有し、
この信号処理部は前記基準画像記憶部に格納されている
画像データから第1の誤差関数を求め、前記基準画像記
憶部と前記測定画像記憶部に格納されている画像データ
から第2の誤差関数を求め、これら第1および第2の誤
差関数の少なくとも1つを補間演算によって高分解能化
し、これらの誤差関数から第3の誤差関数を演算して、
この第3の誤差関数から前記基準画像と前記測定画像の
ずれ量を求め、このずれ量から前記測定対象物の変位を
算出するようにしたことを特徴とする変位測定装置。7. A reference image storage unit for storing a reference image,
A measurement image storage unit that stores a measurement image of the measurement object;
It has a signal processing unit that performs arithmetic processing using the image data stored in the reference image storage unit and the measurement image storage unit,
The signal processing unit obtains a first error function from the image data stored in the reference image storage unit, and a second error function from the image data stored in the reference image storage unit and the measurement image storage unit. Is calculated, and at least one of the first and second error functions is increased in resolution by interpolation calculation, and a third error function is calculated from these error functions,
A displacement measuring apparatus, wherein a displacement amount between the reference image and the measurement image is obtained from the third error function, and the displacement of the measurement object is calculated from the displacement amount.
離法に基づいて求めるようにしたことを特徴とする請求
項7記載の変位測定装置。8. The displacement measuring device according to claim 7, wherein the signal processing unit obtains the error function based on a shortest distance method.
または誤差関数の差の絶対値を加算することによって行
うようにしたことを特徴とする請求項8記載の変位測定
装置。9. The displacement measuring device according to claim 8, wherein the calculation by the shortest distance method is performed by adding the absolute values of the differences between the image data or the error function.
タまたは誤差関数の差の2乗を加算することによって行
うようにしたことを特徴とする請求項8記載の変位測定
装置。10. The displacement measuring device according to claim 8, wherein the shortest distance method is calculated by adding the square of the difference between the image data or the error function.
求めるようにしたことを特徴とする請求項7記載の変位
測定装置。11. The displacement measuring device according to claim 7, wherein the error function is obtained based on a cross-correlation function.
によって行うようにしたことを特徴とする請求項7ない
し請求項11記載の変位測定装置。12. The displacement measuring device according to claim 7, wherein the resolution of the error function is increased by linear interpolation.
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---|---|---|---|
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7659996B2 (en) | 2006-11-08 | 2010-02-09 | Ricoh Company, Ltd. | Relative position detection device and detector for rotary body and image forming apparatus including the relative position detection device |
JP2011013417A (en) * | 2009-07-01 | 2011-01-20 | Canon Inc | Image forming apparatus and method for controlling density in the same |
US8027516B2 (en) | 2005-10-17 | 2011-09-27 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming apparatus including position detector |
JP2011227459A (en) * | 2010-03-31 | 2011-11-10 | Canon Inc | Image forming apparatus |
-
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8027516B2 (en) | 2005-10-17 | 2011-09-27 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming apparatus including position detector |
US7659996B2 (en) | 2006-11-08 | 2010-02-09 | Ricoh Company, Ltd. | Relative position detection device and detector for rotary body and image forming apparatus including the relative position detection device |
JP2011013417A (en) * | 2009-07-01 | 2011-01-20 | Canon Inc | Image forming apparatus and method for controlling density in the same |
JP2011227459A (en) * | 2010-03-31 | 2011-11-10 | Canon Inc | Image forming apparatus |
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