JP2003219030A - Misconnection monitoring system - Google Patents

Misconnection monitoring system

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JP2003219030A
JP2003219030A JP2002011083A JP2002011083A JP2003219030A JP 2003219030 A JP2003219030 A JP 2003219030A JP 2002011083 A JP2002011083 A JP 2002011083A JP 2002011083 A JP2002011083 A JP 2002011083A JP 2003219030 A JP2003219030 A JP 2003219030A
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tsw
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switch
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正純 橘
Katsunori Yokochi
克謙 横地
Masamitsu Furumi
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Fujitsu Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a misconnection monitoring system that a primary time switch of a main signal control signal inserts a test pattern, a monitor function is provided to each switch panel so as to monitor the test pattern between the switch panels, and each switch panel monitors the test pattern among them to particularize the position at which misconnection takes place. <P>SOLUTION: The system of multi-stage connection configuration where a transmission apparatus, a time switch 10 in a cross connect section of an exchange, and a spatial switch 11 are connected in series is configured such that a host apparatus designates a connection destination/source package to select a FTS (Free Time Slot) pattern from a fixed position of the connection source and the time switch is used to replace the pattern with that of a fixed position of the connection destination. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は伝送装置又は交換機
のパッケージ(以下、PKGと略す)間接続における誤
接続監視システムに関し、更に詳しくは伝送装置又は交
換機のPKG間接続の監視を行なうためのファームウエ
アによるFTS(ここで、FTSはFree Time
Slotの略である)パターン設定方式に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an erroneous connection monitoring system for connection between packages (hereinafter abbreviated as PKG) of a transmission device or exchange, and more specifically, a firmware for monitoring connection between PKGs of the transmission device or exchange. FTS by wear (here, FTS is Free Time
A pattern setting method (abbreviation of Slot).

【0002】近年、通信サービスの多様化、回線利用者
の増加に伴い、1装置で様々なインタフェースを効率よ
く収容することが要求されており、装置内に収容される
PKG種別、PKG実装数は増加する傾向にある。この
ため、接続構成が一意ではない不定のPKG間接続の場
合、伝送路の正常性はもちろん、ケーブル等を用いてP
KGを接続する際の誤接続を監視することが必要であ
る。
In recent years, with the diversification of communication services and the increase in the number of line users, it is required to efficiently accommodate various interfaces in one device. The PKG type and the number of PKG implementations accommodated in the device are It tends to increase. For this reason, in the case of an undefined PKG-to-PKG connection in which the connection configuration is not unique, not only the normality of the transmission line but also P
It is necessary to monitor erroneous connections when connecting the KG.

【0003】[0003]

【従来の技術】従来のこの種のFTSパターンによる瞬
断制御方式では、例えば特開平11−355390号公
報に示すものがある。この方式では、1区間のケーブル
接続を監視するために、1組のFTSパターン挿入回路
とFTSパターン取出し回路を必要としている。図6は
従来システムの概念図である。図において、1はPK
G、2は該PKG1とケーブル3を介して接続されてい
るPKGである。PKG1において、1aはFTSをテ
ストパターンとして挿入するFTSパターン挿入回路で
ある。PKG2において、2aはケーブル3を介して送
られてくるFTSパターン(テストパターン)を取り出
して、その正常性を判断するFTSパターン取出し回路
である。
2. Description of the Related Art A conventional instantaneous interruption control system using this kind of FTS pattern is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-355390. This system requires one set of FTS pattern insertion circuit and FTS pattern extraction circuit to monitor the cable connection in one section. FIG. 6 is a conceptual diagram of a conventional system. In the figure, 1 is PK
G and 2 are PKGs connected to the PKG 1 via a cable 3. In PKG1, 1a is an FTS pattern insertion circuit for inserting FTS as a test pattern. In the PKG 2, 2a is an FTS pattern extraction circuit that extracts the FTS pattern (test pattern) sent via the cable 3 and determines the normality thereof.

【0004】このように構成されたシステムにおいて、
PKG1からはFTSパターン挿入回路1aにより挿入
されたFTSパターンがケーブル3を介して、次のPK
G2に送出される。PKG2においては、PKG1から
送られてくるFTSパターンを取り出して、その正常性
を確認する。取り出されたFTSパターンが予め記憶さ
れている基準のパターンと比較して不一致の場合には、
PKG1とPKG2の間に誤接続があったと判定する。
In the system thus constructed,
From the PKG 1, the FTS pattern inserted by the FTS pattern insertion circuit 1a is transferred to the next PK via the cable 3.
It is sent to G2. In PKG2, the FTS pattern sent from PKG1 is taken out and its normality is confirmed. If the extracted FTS pattern does not match the pre-stored reference pattern,
It is determined that there is an erroneous connection between PKG1 and PKG2.

【0005】図7はデータフォーマットの説明図であ
る。図において、4はフレームを示す。フレーム4にお
いて、5はセクションオーバヘッド、6はデータ領域を
示す。7はセクションオーバヘッド5の中の所定の位置
に入れられたFTSパターン(テストパターン)であ
る。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a data format. In the figure, 4 indicates a frame. In the frame 4, 5 indicates a section overhead and 6 indicates a data area. Reference numeral 7 is an FTS pattern (test pattern) placed at a predetermined position in the section overhead 5.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】前述した従来のFTS
パターンによる診断制御方式では、PKG間の接続構成
がn段(nは2以上の整数)になった場合には、n組の
FTSパターン挿入回路とn組のパターン取出し回路が
必要となる。図8は従来の多段接続構成の説明図であ
る。図において、1はTSW(時間スイッチ)又はSS
W(空間スイッチ)が含まれるPKGで、#1〜#nま
でのn個のPKGが接続されている。#1のPKG1に
おいて、1aはFTSパターンを挿入するFTSパター
ン挿入回路である。#2〜#nまでのPKGにおいて、
1bは前段のPKG1からのFTSパターンを取り出し
その正常性をチェックする取出し回路、1aは次の段の
PKG1に向けてFTSパターンを挿入するFTSパタ
ーン挿入回路である。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The conventional FTS described above
In the pattern-based diagnostic control system, when the connection configuration between PKGs has n stages (n is an integer of 2 or more), n sets of FTS pattern insertion circuits and n sets of pattern extraction circuits are required. FIG. 8 is an explanatory diagram of a conventional multistage connection configuration. In the figure, 1 is TSW (time switch) or SS
A PKG including W (space switch) is connected to n PKGs # 1 to #n. In the # 1 PKG1, 1a is an FTS pattern insertion circuit for inserting an FTS pattern. In PKGs # 2 to #n,
Reference numeral 1b is an extraction circuit for extracting the FTS pattern from the PKG1 in the previous stage and checking its normality, and 1a is an FTS pattern insertion circuit for inserting the FTS pattern toward the PKG1 in the next stage.

【0007】このように構成された回路において、#1
のFTSパターン挿入回路1aはFTSパターンを挿入
する。このFTSパターンが挿入されたフレーム信号
は、#2のPKG1に送出される。#2のPKG1で
は、取出し回路1bが#1のPKG1から送られてきた
FTSパターンを参照し、予め定められた基準パターン
と一致しているかどうかチェックする。このチェック動
作により、#1のPKG1と#2のPKG1とが誤接続
されていないかどうかが判定される。次に、#2のPK
G1のパターン挿入回路1aは、#3のPKG1に向け
てFTSパターンを挿入する。そして、#3のPKG1
では、取出し回路1bが#2のPKG1からのFTSパ
ターンを受けて、#2と#3のPKG間の誤接続の有無
を判定する。以下、#nのPKG1まで同様の動作が繰
り返される。
In the circuit thus constructed, # 1
The FTS pattern insertion circuit 1a inserts the FTS pattern. The frame signal in which this FTS pattern is inserted is sent to PKG1 of # 2. In the # 2 PKG1, the take-out circuit 1b refers to the FTS pattern sent from the # 1 PKG1 and checks whether or not it matches a predetermined reference pattern. By this checking operation, it is determined whether or not the # 1 PKG1 and the # 2 PKG1 are erroneously connected. Next, PK of # 2
The G1 pattern insertion circuit 1a inserts the FTS pattern toward the # 3 PKG1. And # 3 PKG1
Then, the take-out circuit 1b receives the FTS pattern from the # 2 PKG1 and determines whether or not there is an erroneous connection between the # 2 and # 3 PKGs. Thereafter, the same operation is repeated until PKG1 of #n.

【0008】以上、説明したように、従来のシステムで
は、図に示すFTSパターン挿入回路1aと取出し回路
1bが入ったPKG1が(n−1)組用意される必要が
あり、回路規模の増大化/複雑化につながることにな
る。また、ケーブル接続の中継区間にクロスコネクト
(パターン乗せ変え)等、T−S−T部を含む場合(こ
こで、Tはタイムスイッチ、Sは空間スイッチを示す)
には、セクションオーバヘッドの所定位置にFTSパタ
ーンを挿入し、取り出す診断制御方式では、実現が不可
能であるという問題があった。
As described above, in the conventional system, it is necessary to prepare (n-1) sets of PKG1 including the FTS pattern insertion circuit 1a and the extraction circuit 1b shown in the figure, which increases the circuit scale. / It will lead to complication. In addition, when a T-S-T part such as a cross-connect (changing patterns) is included in the relay section of the cable connection (where T is a time switch and S is a space switch).
However, there is a problem that the diagnostic control method in which the FTS pattern is inserted and extracted at a predetermined position of the section overhead cannot be realized.

【0009】本発明は、このような課題に鑑みてなされ
たものであって、主信号制御信号の1次側時間スイッチ
からテストパターンの挿入を行ない、各スイッチ盤に監
視機能を持たせることで、一連の接続の正常性を確認す
ると同時に、各スイッチ盤間でテストパターンを監視す
ることで誤接続の発生した箇所を特定することができる
誤接続監視システムを提供することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above problems, and a test pattern is inserted from the primary side time switch of the main signal control signal so that each switch board has a monitoring function. An object of the present invention is to provide an erroneous connection monitoring system that can confirm the normality of a series of connections and at the same time identify the location of the erroneous connection by monitoring the test pattern between the switch boards.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】(1)図1は本発明の原
理ブロック図である。図の横方向において、10はTS
W、11はTSWの間に挟まれた空間スイッチ(SS
W)である。この実施の形態例では、横方向には1次の
TSW#1から(m+2)次までのTSW#1が設けら
れている。縦方向には、#1〜#nまでのTSWが設け
られている。各TSW間はケーブルを介して接続されて
いる。そして、各TSW間は1対1の任意のケーブル接
続である。
(1) FIG. 1 is a block diagram showing the principle of the present invention. In the horizontal direction of the figure, 10 is TS
W and 11 are space switches (SS
W). In this embodiment, first-order TSW # 1 to (m + 2) -th order TSW # 1 are provided in the lateral direction. TSWs # 1 to #n are provided in the vertical direction. Each TSW is connected via a cable. And, each TSW is an arbitrary one-to-one cable connection.

【0011】各TSW10において、10aは1次のT
SWのみに用いられるFTS(テスト)パターンを挿入
するFTSパターン挿入回路である。2次以降のTSW
10において、10bはFTSパターンを取り出して解
析する取出し回路である。11はTSWの間に設けられ
た空間スイッチ(SSW)、11bはSSW11内に設
けられた取出し回路である。SSW11は、タイムスロ
ット(TS)を時間軸上で乗せ変えを行なう。11aは
SSW11に設けられたFTSを取り出すための取出し
回路である。
In each TSW 10, 10a is a primary T
It is an FTS pattern insertion circuit for inserting an FTS (test) pattern used only for SW. Secondary and subsequent TSW
In FIG. 10, 10b is a take-out circuit for taking out and analyzing the FTS pattern. Reference numeral 11 is a space switch (SSW) provided between the TSWs, and 11b is an extraction circuit provided in the SSW 11. The SSW 11 switches time slots (TS) on the time axis. Reference numeral 11a is a take-out circuit provided in the SSW 11 for taking out the FTS.

【0012】1次のTSWと、(m−1)次のTSW間
は、それぞれ1対1の任意のケーブル接続である。ま
た、(m−1)次のTSWとm次のTSWとは1対1の
任意のケーブル接続である。また、(m+1)次のTS
Wと(m+2)のTSWとは1対1の任意のケーブル接
続である。
An arbitrary one-to-one cable connection is provided between the primary TSW and the (m-1) th TSW. The (m-1) th order TSW and the mth order TSW are arbitrary one-to-one cable connections. Also, the (m + 1) th TS
W and (m + 2) TSW are one-to-one arbitrary cable connections.

【0013】このように構成すれば、接続元の1次のT
SWのパターン挿入回路10aで挿入されたFTSパタ
ーンを次の2次のTSW10の固定位置に入れ替えるよ
うにすることで、2次のTSW10の固定位置に挿入さ
れているFTSパターンを取出し回路10bで取り出す
ことができ、1次のTSWから2次のTSWまでの接続
の正常性を確認することができる。
According to this structure, the primary T of the connection source is
By replacing the FTS pattern inserted by the SW pattern insertion circuit 10a with the fixed position of the next secondary TSW 10, the FTS pattern inserted at the fixed position of the secondary TSW 10 is extracted by the extraction circuit 10b. Therefore, the normality of the connection from the primary TSW to the secondary TSW can be confirmed.

【0014】(2)請求項2記載の発明は、接続構成が
n段(nは1以上の整数)の場合に、請求項1記載の動
作を連続的に用いることにより、誤接続箇所を特定する
ことを特徴とする。
(2) The invention according to claim 2 specifies an erroneous connection location by continuously using the operation according to claim 1 when the connection configuration is n stages (n is an integer of 1 or more). It is characterized by doing.

【0015】このように構成すれば、各段のTSW間で
請求項1の動作を行ない、2次以降のTSWの予め決め
られた固定位置に挿入されているFTSパターンを取り
出すことにより、1次のTSWからn次のTSWまでの
誤接続箇所を特定することができる。
According to this structure, the operation according to claim 1 is performed between the TSWs of the respective stages, and the FTS pattern inserted in the predetermined fixed position of the second and subsequent TSWs is taken out to make the first order. It is possible to specify the erroneous connection location from the TSW of the TSW to the nth-order TSW.

【0016】(3)請求項3記載の発明は、接続構成が
n段(nは2以上の整数)の場合に、1つのFTSパタ
ーン挿入回路と、(n−1)個のパターン取出し回路を
設置することで、誤接続箇所を特定することを特徴とす
る。
(3) When the connection configuration is n stages (n is an integer of 2 or more), one FTS pattern insertion circuit and (n-1) pattern extraction circuits are provided. The feature is that the location of the incorrect connection can be identified by installing it.

【0017】このように構成すれば、初段のTSWのF
TSパターン挿入回路から挿入されたテストパターン
を、後段の(n−1)個のTSWに設けられたパターン
取出し回路でテストパターンを取り出すことで、誤接続
箇所を特定することができる。
With this configuration, the F of the first stage TSW is
The test pattern inserted from the TS pattern insertion circuit is extracted by the pattern extraction circuit provided in the (n-1) TSWs in the subsequent stage, whereby the erroneous connection location can be specified.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態例を詳細に説明する。図2は本発明の一実施の
形態例を示すシステム構成図である。図1と同一のもの
は、同一の符号を付して示す。図において、20は(m
−1)次のTSW10を含むPKG(パッケージ)であ
る。ここで、mは任意の正の整数である。PKG20に
おいて、20aはパターン挿入と主信号制御を行なう制
御部である。ここで、主信号とはセクションオーバヘッ
ドとデータを含むフレーム構成をいう。ここで、主信号
制御とは、フレーム上のタイムスロット(TS)を同じ
時間軸上に乗せ変える制御をいう。該制御部20aに
は、図1のFTSパターン挿入回路10aが含まれる。
m次のPKG20において、20bはパターンチェック
と主信号制御を行なう制御部である。該制御部20bに
は、図1の取出し回路10bが含まれる。21はSSW
11を含むPKGである。該SSW21において、21
aは主信号制御を行なう制御部であり、FTSパターン
の確認を行なっている。それと同時に、SSW11と接
続される複数のTSWからのフレーム信号を入力して、
時間軸上でタイムスロットの乗せ替えを行なう。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 2 is a system configuration diagram showing an embodiment of the present invention. The same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. In the figure, 20 is (m
-1) A PKG (package) including the following TSW 10. Here, m is an arbitrary positive integer. In the PKG 20, reference numeral 20a is a control unit that performs pattern insertion and main signal control. Here, the main signal refers to a frame structure including section overhead and data. Here, the main signal control is control in which time slots (TS) on a frame are placed on the same time axis. The control unit 20a includes the FTS pattern insertion circuit 10a shown in FIG.
In the m-th order PKG 20, 20b is a control unit for performing pattern check and main signal control. The control unit 20b includes the take-out circuit 10b shown in FIG. 21 is SSW
PKGs containing 11. In the SSW21, 21
Reference numeral a is a control unit for controlling the main signal, and confirms the FTS pattern. At the same time, input frame signals from a plurality of TSWs connected to SSW11,
Change time slots on the time axis.

【0019】(m+1)次のPKG20において、20
cはパターン入れ換えと主信号制御を行なう制御部であ
る。ここで、パターン入れ換えとは、((m+1)T
S)がSSW21の後に接続されるものであるので、パ
ターンをチェックする時に、FTSパターンが必ずフレ
ームの中に含まれるように、乗せ替えの後のFTSパタ
ーンを配置するものである。それと同時に、FTSパタ
ーンをそれに合った主信号に乗せ替えている。(m+
2)次のPKGの構成は、m次のPKG20と同じであ
る。
In the (m + 1) th order PKG20, 20
Reference numeral c is a control unit that performs pattern replacement and main signal control. Here, the pattern replacement means ((m + 1) T
Since S) is connected after the SSW 21, the FTS pattern after the replacement is arranged so that the FTS pattern is always included in the frame when the pattern is checked. At the same time, the FTS pattern is transferred to the main signal that matches it. (M +
2) The configuration of the next PKG is the same as that of the mth PKG 20.

【0020】30は、各TSW又はSSWのタイムスロ
ット位置を設定するための主制御装置である。該主制御
装置30は、図に示すように、CPU31とこれに接続
されるファームウェア32から構成されている。ファー
ムウェア32は、各TSW10又はSSW11にタイム
スロットの設定を行なうようになっている。各TSW1
0又はSSW11のタイムスロットの設定信号をファー
ムウェア32から与えるようになっているので、前述し
た従来のシステムのように、対峙するTSW間にFTS
パターン挿入回路と取出し回路を設ける必要がなくな
り、回路が大幅に削減されることになる。33はCPU
31とファームウェア32が接続されるプロセッサバス
である。このように構成されたシステムの動作を説明す
れば、以下の通りである。
Reference numeral 30 is a main controller for setting the time slot position of each TSW or SSW. As shown in the figure, the main control device 30 comprises a CPU 31 and firmware 32 connected thereto. The firmware 32 sets a time slot for each TSW 10 or SSW 11. Each TSW1
Since the firmware 32 gives the setting signal of the time slot of 0 or SSW11, the FTS is provided between the facing TSWs like the conventional system described above.
Since it is not necessary to provide the pattern insertion circuit and the extraction circuit, the number of circuits can be greatly reduced. 33 is a CPU
31 is a processor bus to which the firmware 32 is connected. The operation of the system configured as described above will be described below.

【0021】先ず、(m−1)次のPKG20におい
て、制御部20aは(m−1)次のTSWに外部から与
えられるFTSパターンを挿入する。この時のFTSパ
ターンの挿入位置は、ファームウェア32からの設定信
号により予め定められたセクションオーバヘッドの特定
位置である。
First, in the (m-1) th order PKG 20, the control section 20a inserts an FTS pattern given from the outside into the (m-1) th order TSW. The insertion position of the FTS pattern at this time is a specific position of the section overhead predetermined by the setting signal from the firmware 32.

【0022】次に、m次のTSW10には、(m−1)
次で送出されたFTSパターンが入力される。制御部2
0bは、FTSパターンを予め決められている基準パタ
ーンと比較し、誤接続がないかどうかチェックする。こ
の制御部20bの動作は、FTSパターンを抜き出して
確認することと、確認が終了したFTSパターンをフレ
ームの所定位置に戻す動作である。そして、制御部20
bは、パターンチェックが終了した後、当該FTSパタ
ーンを時間軸上でファームウェア32から指定されるタ
イムスロット位置に乗せ替える。m次のTSW10は、
SSW11を含むPKG21に主信号を送出する。
Next, the m-th order TSW 10 has (m-1)
The FTS pattern transmitted next is input. Control unit 2
0b compares the FTS pattern with a predetermined reference pattern to check if there is any misconnection. The operation of the control unit 20b is an operation of extracting and confirming the FTS pattern and returning the confirmed FTS pattern to a predetermined position of the frame. Then, the control unit 20
After the pattern check is completed, b shifts the FTS pattern to the time slot position designated by the firmware 32 on the time axis. m-order TSW10 is
The main signal is sent to the PKG 21 including the SSW 11.

【0023】このように、本発明の実施の形態例によれ
ば、接続元のTSWのパターン挿入回路で挿入されたF
TSパターンを次のTSWの固定位置に入れ替えるよう
にすることで、2次のTSWの固定位置に挿入されてい
るFTSパターンを取出し回路で取り出すことができ、
1次のTSWから2次のTSWまでの接続の正常性を確
認することができる。
As described above, according to the embodiment of the present invention, the F inserted by the pattern inserting circuit of the connection source TSW is used.
By replacing the TS pattern with the fixed position of the next TSW, the FTS pattern inserted in the fixed position of the secondary TSW can be taken out by the extraction circuit.
The normality of the connection from the primary TSW to the secondary TSW can be confirmed.

【0024】PKG21では、制御部21aがファーム
ウェア32から与えられる制御信号に基づいてクロスコ
ネクト接続制御を行ない、入力されたFTSパターンを
ファームウェア32から指定されたスロット位置に乗せ
替えする。ここで、PKG21では、FTSパターンが
書き込まれているフレームの確認を行なう。そして、P
KG21のSSW11から送出された主信号は、(m+
1)次のTSW10に入る。ここでは、制御部20c
は、SSW11で主信号の乗せ替えが行われた後である
ので、確実にFTSパターンが検出できるように、パタ
ーン入れ替えと主信号制御を行なう。また、制御部20
cの取出し回路は、送られてきたFTSパターンをチェ
ックする。その後、制御部20cでは主信号制御を行な
った後、フレームパターンを(m+2)次のTSW10
に送出する。(m+2)次のTSW10では、制御部2
0bの取出し回路がFTSパターンのチェックを行な
い、また制御部20bは主信号制御を行う。
In the PKG 21, the control unit 21a performs cross-connect connection control based on the control signal given from the firmware 32, and transfers the input FTS pattern to the slot position designated by the firmware 32. Here, the PKG 21 confirms the frame in which the FTS pattern is written. And P
The main signal sent from SSW11 of KG21 is (m +
1) Enter the next TSW 10. Here, the control unit 20c
Is after the main signal has been replaced by the SSW 11, the pattern replacement and the main signal control are performed so that the FTS pattern can be reliably detected. In addition, the control unit 20
The fetch circuit of c checks the FTS pattern sent. After that, the control unit 20c performs main signal control and then sets the frame pattern to the (m + 2) th TSW10.
Send to. (M + 2) In the next TSW10, the control unit 2
The fetch circuit of 0b checks the FTS pattern, and the control unit 20b controls the main signal.

【0025】このような一連の流れにおいて、各TSW
の取出し回路10b(図1参照)は、FTSパターンを
チェックして誤接続がないかどうかチェックする。(m
+2)次のTSWには、(m−1)次のTSWから(m
+1)次までのFTSパターンのチェック結果が含まれ
るので、この(m+2)次のFTSパターンをチェック
することにより、誤接続の有無を判定することができ
る。若し、FTSパターンに異常が見つかった場合、T
SWを逆方向にたどっていくことで、どのTSW又はS
SWで誤接続が発生したかをチェックすることができ
る。
In such a series of flows, each TSW is
The take-out circuit 10b (see FIG. 1) checks the FTS pattern to see if there is any misconnection. (M
+2) The next TSW is (m-1) th TSW to (m
Since the FTS pattern check results up to +1) th order are included, it is possible to determine whether or not there is an erroneous connection by checking the (m + 2) th order FTS pattern. If an abnormality is found in the FTS pattern, T
By tracing the SW in the opposite direction, which TSW or S
It is possible to check whether a wrong connection has occurred in SW.

【0026】このように、本発明の実施の形態例によれ
ば、各段のTSW間でパターン挿入とパターン取り出し
操作を行ない、2段目(2次)以降のTSWの予め決め
られた固定位置に挿入されているFTSパターンを取り
出すことにより、1次のTSWからn次のTSWまでの
誤接続箇所を特定することができる。
As described above, according to the embodiment of the present invention, the pattern insertion and the pattern extraction operation are performed between the TSWs of each stage, and the predetermined fixed positions of the TSWs of the second stage (secondary) and thereafter are fixed. By taking out the FTS pattern inserted in, the erroneous connection location from the primary TSW to the nth TSW can be specified.

【0027】また、本発明では、このような一連の動作
を行なうための制御を、CPU31と接続されたファー
ムウェア32が行なっているので、各TSW10毎にF
TSパターン挿入処理が必要でなくなり、回路規模の大
幅な削減が可能となる。
Further, in the present invention, since the firmware 32 connected to the CPU 31 performs control for performing such a series of operations, the FSW for each TSW 10 is performed.
TS pattern insertion processing is not required, and the circuit scale can be significantly reduced.

【0028】図3は1次のタイムスイッチ(TSW)の
動作説明図である。図2と同一のものは、同一の符号を
付して示す。1次のTSW10では、制御部20aがF
TSパターンの挿入と主信号制御を行なう。この時、制
御部20aはファームウェア32からの指示により、例
えばTS(タイムスロット)2を4分割したそれぞれの
領域に2次のTSW#1〜TSW#4までのFTSパタ
ーンを割り当てる。
FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the primary time switch (TSW). The same parts as those in FIG. 2 are designated by the same reference numerals. In the primary TSW10, the control unit 20a
TS pattern insertion and main signal control are performed. At this time, the control unit 20a allocates the secondary FTS patterns of TSW # 1 to TSW # 4 to respective areas obtained by dividing the TS (time slot) 2 into four, according to an instruction from the firmware 32.

【0029】TSW10からは、例えば図に示すように
TS1〜TS3が送出される。この時、制御部20a
は、TS2を用いてFTSパターンの割り当て領域を定
める。図の例の場合には、aの位置に2次TSW#4で
監視するFTSパターンのアドレスを、bの位置に2次
TSW#3で監視するFTSパターンのアドレスを、c
の位置に2次TSW#2で監視するFTSパターンのア
ドレスを、dの位置に2次TSW#1で監視するFTS
パターンのアドレスをそれぞれ割り当てる。
From the TSW 10, for example, TS1 to TS3 are transmitted as shown in the figure. At this time, the control unit 20a
Defines the FTS pattern allocation area using TS2. In the example of the figure, the address of the FTS pattern monitored by the secondary TSW # 4 is located at the position a, and the address of the FTS pattern monitored by the secondary TSW # 3 is located at the position b, c
Address of the FTS pattern monitored by the secondary TSW # 2 at the position of, and FTS monitored by the secondary TSW # 1 at the position of d
Assign each pattern address.

【0030】このように各TSWで使用するFTSパタ
ーンのアドレスが書き込まれたフレームは、2次のTS
W10に送出される。2次のTSW10では、1次のT
SW10から送られてきたTS2を参照する。そして、
例えば2次のTSW#1はTS2の領域dを参照して自
己宛のFTSパターンが挿入されたセクションオーバヘ
ッド内の位置を確認し、自己宛のFTSパターンを参照
する。そして、接続の正常性を確認する。この動作は、
残りのTSW#2〜TSW#4についても同様である。
The frame in which the address of the FTS pattern used in each TSW is written in this way is the secondary TS.
It is sent to W10. In the secondary TSW10, the primary T
Refer to TS2 sent from SW10. And
For example, the secondary TSW # 1 refers to the area d of TS2 to confirm the position in the section overhead in which the FTS pattern addressed to itself is inserted, and refers to the FTS pattern addressed to itself. Then, confirm the normality of the connection. This behavior is
The same applies to the remaining TSW # 2 to TSW # 4.

【0031】図4はタイムスイッチの他の動作説明図で
あり、(m+2)次のタイムスイッチの動作を示してい
る。この例では、空間スイッチ(SSW)を通過した後
のTSWの動作を示している。SSWでは、フレームの
乗せ替えを行なっているため、SSWの後段のTSWで
は、確実にFTSパターンを確認することができるよう
にパターン入れ替えを行なっている。
FIG. 4 is another operation explanatory view of the time switch, showing the operation of the (m + 2) -th time switch. In this example, the operation of the TSW after passing through the space switch (SSW) is shown. Since the frames are switched in the SSW, the patterns are switched in the TSW in the subsequent stage of the SSW so that the FTS pattern can be surely confirmed.

【0032】(m+2)次のTSWにその前段のSSW
からフレームが送られてくると、制御部20cは、パタ
ーンの入れ替え処理と、主信号制御を行なう。そして、
次の(m+3)次のTSWでFTSパターンを確認する
ことができるように、(m+3)次のTSW#1〜TS
W#4に共通に例えばTSの4番目にFTSパターンの
挿入アドレスが記憶されている。そこで、(m+3)次
のTSWでは、TSW#1〜TSW#4は共通のFTS
パターンを参照することになる。この場合、FTSパタ
ーンは、全ての#1〜#4のTSWに共通のパターンと
なる。
(M + 2) SSW of the preceding stage to the next TSW
When a frame is sent from, the control unit 20c performs pattern replacement processing and main signal control. And
In order that the FTS pattern can be confirmed by the next (m + 3) th TSW, the (m + 3) th TSW # 1 to TS
For example, the insertion address of the FTS pattern is stored in the fourth position of the TS commonly in W # 4. Therefore, in the (m + 3) th TSW, TSW # 1 to TSW # 4 are common FTSs.
You will refer to the pattern. In this case, the FTS pattern is a pattern common to all TSWs # 1 to # 4.

【0033】(m+2)次のTSW10において、AC
M制御(TSの挿入先の始点と終点の位置を計算により
求める制御)にて、(m+2)次TSWでは、FTSパ
ターンを(m+3)次TSW固有に割り当てたタイムス
ロットに入れ替えることで、(m+3)次TSWにおい
て、接続の正常性を監視している。(m+4)次TSW
以降についても、同様に(m+3)次TSW10にて検
出したFTSパターンを再度検出することで、接続の正
常性を監視している。1次TSW10から(m+3)次
TSW((m+4)次以降を含む)10の判定結果によ
り、一連の接続の正常性を確認でき、誤接続箇所を特定
することができる。
(M + 2) In the next TSW10, AC
In the M control (control for calculating the positions of the start point and the end point of the TS insertion destination), in the (m + 2) th TSW, by replacing the FTS pattern with the time slot uniquely assigned to the (m + 3) th TSW, (m + 3) ) The next TSW monitors the normality of the connection. (M + 4) Next TSW
Similarly thereafter, the normality of the connection is monitored by detecting the FTS pattern detected by the (m + 3) th TSW 10 again. The normality of a series of connections can be confirmed and the erroneous connection location can be identified from the determination results of the primary TSW 10 to the (m + 3) th TSW (including (m + 4) th and subsequent).

【0034】図5は本発明の第2の実施の形態例を示す
ブロック図である。図に示すシステムは、1次TSW1
0から途中SSW11を経て4次TSW10までの5段
の接続を示している。図1と同一のものは、同一の符号
を付して示す。図5に示すシステムは、図1のシステム
におけるm=2の場合を示している。各次におけるTS
Wは、#1〜#3でTSW10の構成になっている。S
SW11は、2次TSW10と3次TSW10までの間
に接続されている。
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention. The system shown is the primary TSW1
A five-stage connection from 0 to the fourth-order TSW10 via the SSW11 on the way is shown. The same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. The system shown in FIG. 5 shows the case where m = 2 in the system of FIG. TS in each order
W is # 1 to # 3 and has the configuration of the TSW 10. S
SW11 is connected between the secondary TSW10 and the tertiary TSW10.

【0035】1次TSW10と2次TSW10間は1対
1の任意のケーブル接続がされている。また、3次TS
W10と4次TSW10間も1対1の任意のケーブルが
接続されている。このように構成されたシステムの動作
を説明すれば、以下の通りである。
An arbitrary one-to-one cable connection is made between the primary TSW 10 and the secondary TSW 10. Also, the third TS
An arbitrary one-to-one cable is also connected between W10 and the fourth-order TSW10. The operation of the system configured as described above will be described below.

【0036】1次のTSW10では、FTSパターンの
挿入が行なわれる。2次TSW10では、1次TSW1
0から挿入されたFTSパターンが取り出され、FTS
パターンの取り出しが行なわれる。判定が終了したFT
Sは、再びフレームの所定位置に戻され、2次TSW1
0から出力されたFTSパターンを含む主信号は、SS
W11によりクロスコネクトされ、パターンの入れ替え
が行なわれる。
In the primary TSW 10, the FTS pattern is inserted. In the secondary TSW10, the primary TSW1
FTS pattern inserted from 0 is taken out and FTS pattern is extracted.
The pattern is taken out. FT which judgment was completed
S is returned to the predetermined position of the frame again, and the secondary TSW1
The main signal including the FTS pattern output from 0 is SS
Cross-connection is performed by W11, and patterns are exchanged.

【0037】3次のTSW10では、SSW11を通っ
たパターンが入力されるので、FTSパターンの取り出
しと入れ替えを行なう。即ち、誤接続があるかどうかの
判断とFTSパターンを検出することができるようにす
るため、パターンの入れ替えを行なう。3次のTSWで
入れ替えが行われたFTSパターンは、4次のTSWに
入り、FTSパターンの取り出しが行なわれる。
In the third-order TSW 10, since the pattern that has passed through the SSW 11 is input, the FTS pattern is taken out and replaced. That is, in order to determine whether there is an erroneous connection and detect the FTS pattern, the patterns are exchanged. The FTS pattern replaced by the third-order TSW enters the fourth-order TSW, and the FTS pattern is extracted.

【0038】以上説明した本発明の実施の形態例によれ
ば、初段のTSWのFTSパターン挿入回路から挿入さ
れたテストパターンを、後段の(n−1)個のTSWに
設けられたパターン取出し回路でテストパターンを取り
出すことで、誤接続箇所を特定することができる。
According to the embodiment of the present invention described above, the test pattern inserted from the FTS pattern insertion circuit of the TSW in the first stage is used as the pattern extracting circuit provided in the (n-1) TSWs in the latter stage. By taking out the test pattern with, the erroneous connection location can be specified.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば以
下の効果が得られる。 (1)請求項1記載の発明によれば、接続元の1次のT
SWの挿入回路で挿入されたFTSパターンを次の2次
のTSWの固定位置に入れ替えるようにすることで、2
次のTSWの固定位置に挿入されているFTSパターン
をパターン取出し回路で取り出すことができ、1次のT
SWから2次のTSWまでの接続の正常性を確認するこ
とができる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained. (1) According to the invention of claim 1, the primary T of the connection source is
By replacing the FTS pattern inserted by the SW insertion circuit with the fixed position of the next secondary TSW, 2
The FTS pattern inserted at the fixed position of the next TSW can be taken out by the pattern take-out circuit, and the first T
The normality of the connection from SW to the secondary TSW can be confirmed.

【0040】(2)請求項2記載の発明によれば、各段
のTSW間で請求項1の動作を行ない、2段目以降のT
SWの予め決められた固定位置に挿入されているFTS
パターンを取り出すことにより、1次のTSWからn次
のTSWまでの誤接続箇所を特定することができる。
(2) According to the invention of claim 2, the operation of claim 1 is performed between the TSWs of the respective stages, and the Ts of the second and subsequent stages are performed.
FTS inserted in a predetermined fixed position of SW
By taking out the pattern, it is possible to identify the erroneous connection location from the primary TSW to the nth TSW.

【0041】(3)請求項3記載の発明によれば、初段
のTSWのFTSパターン挿入回路から挿入されたテス
トパターンを、後段の(n−1)個のTSWに設けられ
たパターン取出し回路でテストパターンを取り出すこと
で、誤接続箇所を特定することができる。
(3) According to the third aspect of the invention, the test pattern inserted from the FTS pattern insertion circuit of the TSW in the first stage is extracted by the pattern extracting circuit provided in the (n-1) TSWs in the second stage. By taking out the test pattern, it is possible to identify the incorrect connection location.

【0042】このように、本発明によれば、主信号制御
信号の1次側時間スイッチからテストパターンの挿入を
行ない、各スイッチ盤(PKG)に監視機能を持たせる
ことで、一連の接続の正常性を確認すると同時に、各ス
イッチ盤間でテストパターンを監視することで誤接続の
発生した箇所を特定することができる誤接続監視システ
ムを提供することができる。
As described above, according to the present invention, a test pattern is inserted from the primary side time switch of the main signal control signal, and each switch panel (PKG) is provided with a monitoring function, so that a series of connection can be achieved. It is possible to provide an erroneous connection monitoring system capable of identifying a location where an erroneous connection has occurred by simultaneously checking the normality and monitoring the test pattern between the switch boards.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の原理ブロック図である。FIG. 1 is a principle block diagram of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施の形態例を示すブロック図
である。
FIG. 2 is a block diagram showing a first exemplary embodiment of the present invention.

【図3】1次のタイムスイッチの動作説明図である。FIG. 3 is an operation explanatory diagram of a primary time switch.

【図4】タイムスイッチの他の動作説明図である。FIG. 4 is a diagram illustrating another operation of the time switch.

【図5】本発明の第2の実施の形態例を示すブロック図
である。
FIG. 5 is a block diagram showing a second exemplary embodiment of the present invention.

【図6】従来システムの概念図である。FIG. 6 is a conceptual diagram of a conventional system.

【図7】データフォーマットを示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a data format.

【図8】従来の多段接続構成の説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram of a conventional multistage connection configuration.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 TSW(タイムスイッチ) 10a パターン挿入回路 10b 取出し回路 11 SSW(空間スイッチ) 11a 取出し回路 10 TSW (time switch) 10a pattern insertion circuit 10b Extraction circuit 11 SSW (Space switch) 11a Extraction circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 横地 克謙 神奈川県横浜市港北区新横浜2丁目3番9 号 富士通ディジタル・テクノロジ株式会 社内 (72)発明者 古味 正光 神奈川県横浜市港北区新横浜2丁目3番9 号 富士通ディジタル・テクノロジ株式会 社内 Fターム(参考) 5K019 AA07 AB05 BA02 BA57 BB55 CD11    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Katsumi Yokochi             2-3-9 Shin-Yokohama, Kohoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa             Issue Fujitsu Digital Technology Stock Association             In-house (72) Inventor Masamitsu Komi             2-3-9 Shin-Yokohama, Kohoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa             Issue Fujitsu Digital Technology Stock Association             In-house F term (reference) 5K019 AA07 AB05 BA02 BA57 BB55                       CD11

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 伝送装置、交換機のクロスコネクト部に
おける時間スイッチと空間スイッチとが直列に接続され
た多段接続構成のシステムにおいて、 上位装置から接続先/元パッケージを指定することによ
り、接続元の固定位置からのFTSパターンを選択し、
時間スイッチを用いて接続先の固定位置に入れ替えする
ことを特徴とする誤接続監視システム。
1. In a system having a multi-stage connection configuration in which a time switch and a space switch in a cross-connect section of a transmission device and a switching device are connected in series, a connection source / source package is designated by a host device, Select the FTS pattern from a fixed position,
An erroneous connection monitoring system that uses a time switch to switch to a fixed position at the connection destination.
【請求項2】 接続構成がn段(nは1以上の整数)の
場合に、請求項1記載の動作を連続的に用いることによ
り、誤接続箇所を特定することを特徴とする誤接続監視
システム。
2. An erroneous connection monitor characterized by specifying an erroneous connection point by continuously using the operation according to claim 1 when the connection configuration has n stages (n is an integer of 1 or more). system.
【請求項3】 接続構成がn段(nは2以上の整数)の
場合に、1つのFTSパターン挿入回路と、(n−1)
個のパターン取出し回路を設置することで、誤接続箇所
を特定することを特徴とする請求項1記載の誤接続監視
システム。
3. An FTS pattern insertion circuit and (n-1) when the connection configuration has n stages (n is an integer of 2 or more).
The incorrect connection monitoring system according to claim 1, wherein the incorrect connection location is specified by installing a pattern extraction circuit.
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