JP2003214945A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2003214945A5 JP2003214945A5 JP2002015940A JP2002015940A JP2003214945A5 JP 2003214945 A5 JP2003214945 A5 JP 2003214945A5 JP 2002015940 A JP2002015940 A JP 2002015940A JP 2002015940 A JP2002015940 A JP 2002015940A JP 2003214945 A5 JP2003214945 A5 JP 2003214945A5
- Authority
- JP
- Japan
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002015940A JP2003214945A (ja) | 2002-01-24 | 2002-01-24 | 発光素子の外部量子効率測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002015940A JP2003214945A (ja) | 2002-01-24 | 2002-01-24 | 発光素子の外部量子効率測定方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003214945A JP2003214945A (ja) | 2003-07-30 |
| JP2003214945A5 true JP2003214945A5 (ja) | 2004-07-15 |
Family
ID=27652154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002015940A Pending JP2003214945A (ja) | 2002-01-24 | 2002-01-24 | 発光素子の外部量子効率測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003214945A (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009008509A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-01-15 | Shinshu Univ | 発光量子効率測定装置 |
| KR101108604B1 (ko) * | 2010-03-02 | 2012-01-31 | 한국표준과학연구원 | 적분구 광도계 및 그 측정 방법 |
| KR101144653B1 (ko) * | 2010-08-02 | 2012-05-11 | 한국표준과학연구원 | 적분구 광도계 및 그 측정 방법 |
| CN103308280A (zh) * | 2013-05-24 | 2013-09-18 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种ccd器件量子效率校准装置及校准方法 |
| CN103808497A (zh) * | 2014-03-05 | 2014-05-21 | 中国科学院半导体研究所 | 一种测量led内量子效率的方法 |
| CN104142226B (zh) * | 2014-08-12 | 2017-02-01 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种ccd器件量子效率测量装置及方法 |
| CN105277340A (zh) * | 2015-11-17 | 2016-01-27 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 采用光谱分解技术识别白光led光源组件的方法 |
| JP6967835B2 (ja) * | 2015-12-28 | 2021-11-17 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 分光放射測定装置 |
| CN105738339B (zh) * | 2016-03-30 | 2018-09-21 | 东南大学 | 一种荧光粉量子效率测量装置 |
| CN107228710B (zh) * | 2017-05-26 | 2018-08-07 | 厦门大学 | 一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法 |
| CN109211524A (zh) * | 2018-12-10 | 2019-01-15 | 中国人民解放军国防科技大学 | 大功率光纤激光器参数一体化同步测试装置 |
| CN112539831B (zh) * | 2020-12-11 | 2021-10-12 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 面阵探测器的标定方法、系统及积分球均匀性标定方法 |
| CN117411546B (zh) * | 2023-12-11 | 2024-02-09 | 南昌大学 | 一种led通信能力评价方法及系统 |
-
2002
- 2002-01-24 JP JP2002015940A patent/JP2003214945A/ja active Pending