JP2003204302A - Wdm signal monitor - Google Patents

Wdm signal monitor

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JP2003204302A
JP2003204302A JP2002001410A JP2002001410A JP2003204302A JP 2003204302 A JP2003204302 A JP 2003204302A JP 2002001410 A JP2002001410 A JP 2002001410A JP 2002001410 A JP2002001410 A JP 2002001410A JP 2003204302 A JP2003204302 A JP 2003204302A
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JP
Japan
Prior art keywords
wdm signal
response characteristic
characteristic data
correction data
spectroscope
Prior art date
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Pending
Application number
JP2002001410A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiro Sanpei
義広 三瓶
Makoto Komiyama
誠 小宮山
Kenji Ogino
賢治 荻野
Yasuyuki Suzuki
泰幸 鈴木
Yoriki Okada
頼樹 岡田
Shuhei Okada
修平 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve a WDM signal monitor capable of accurately measuring a modulated WDM signal. <P>SOLUTION: The monitor comprises a spectrophotometer for measuring the spectrum of a WDM signal, a response characteristic data memory for storing response characteristic data for the line spectrum of an optical signal from the spectrophotometer, a corrector for obtaining correction data upon input of properties of the WDM signal inputted to the spectrophotometer, based on the properties of the WDM signal and the response characteristic data in the response characteristic data memory, a correction data memory for storing correction data obtained by the corrector, and an arithmetic unit for computing at least the optical signal level of the WDM signal, based on the spectrum measured by the spectrophotometer and the correction data in the correction data memory. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、WDM(waveleng
th division multiplexing:波長分割多重)信号の光信
号レベルや光SNR(signal to noise ratio:信号対
雑音比)等の測定を行うWDMモニタに関し、詳しく
は、変調されたWDM信号の測定を、精度良く行えるW
DM信号モニタに関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a WDM (waveleng).
th division multiplexing: A WDM monitor that measures an optical signal level of a signal, an optical SNR (signal to noise ratio), and the like, and more specifically, accurately measures a modulated WDM signal. W that can be done
The present invention relates to a DM signal monitor.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ファイバによって光信号を伝送する光
通信方式の一種に、WDM通信がある。このWDM通信
とは、波長の異なる複数の光信号を1本の光ファイバに
よって伝送する通信方式である。また、波長の異なる複
数の光信号のことをWDM信号とも呼ぶ。そして、WD
M信号のそれぞれの光信号は、例えば短波側から1チャ
ネル、2チャネルと数えられることが多い。
2. Description of the Related Art WDM communication is one type of optical communication system for transmitting an optical signal through an optical fiber. This WDM communication is a communication system in which a plurality of optical signals having different wavelengths are transmitted by one optical fiber. Further, a plurality of optical signals having different wavelengths are also called WDM signals. And WD
Each optical signal of the M signal is often counted as one channel or two channels from the short wave side, for example.

【0003】近年、伝送容量の拡大に伴ってWDM信号
の高密度な多重化が進み、各チャネルの光信号レベル、
ピーク波長、光SNR等が重要な測定パラメータになっ
ている。そして、これらのパラメータを監視すること
は、WDM信号の品質を維持する上で不可欠である。W
DM信号モニタは、波長分散素子を用いてWDM信号で
ある被測定光を波長ごとに分光し、任意の波長幅に存在
する光パワーを求め、この求めた光パワーから、これら
のパラメータの測定を行う装置である。また、WDM信
号モニタには、光通信システムの一部にインライン形式
で組み込み常時監視できるように、例えば小型の分光器
を用いて構成されるものがある。
In recent years, high-density multiplexing of WDM signals has progressed as the transmission capacity has expanded, and the optical signal level of each channel
Peak wavelength, optical SNR, etc. are important measurement parameters. And monitoring these parameters is essential to maintain the quality of the WDM signal. W
The DM signal monitor uses a wavelength dispersion element to disperse the measured light that is a WDM signal for each wavelength, obtains the optical power existing in an arbitrary wavelength width, and measures these parameters from the obtained optical power. It is a device to perform. Some WDM signal monitors are configured using, for example, a small spectroscope so that they can be incorporated in a part of an optical communication system in an in-line format and constantly monitored.

【0004】図7は、このようなWDM信号を測定する
WDM信号モニタの一実施例を示すブロック構成図であ
る。図7において、分光器10は被測定光であるWDM
信号が入力され、このWDM信号のスペクトルを測定し
てサンプリングデータである測定データPo(i)(た
だし、i=1〜mでi、mとも整数)を出力する。応答
特性データ格納部20は、線スペクトルに対する分光器
10の応答特性データが格納されている。
FIG. 7 is a block diagram showing an embodiment of a WDM signal monitor for measuring such a WDM signal. In FIG. 7, the spectroscope 10 is a WDM that is the measured light.
A signal is input, the spectrum of this WDM signal is measured, and measurement data Po (i) that is sampling data (where i = 1 to m, both i and m are integers) is output. The response characteristic data storage unit 20 stores the response characteristic data of the spectroscope 10 for the line spectrum.

【0005】演算部30は、分光器10から出力された
測定データPo(i)が入力される。また、演算部30
は、応答特性データ格納部20の応答特性データを読み
出す。そして、演算部30は、測定データと応答特性デ
ータに基づき、各チャネルの光信号レベル、ピーク波長
を演算し、これらの演算結果を出力する。
The measurement data Po (i) output from the spectroscope 10 is input to the arithmetic unit 30. In addition, the calculation unit 30
Reads the response characteristic data from the response characteristic data storage unit 20. Then, the calculation unit 30 calculates the optical signal level and the peak wavelength of each channel based on the measurement data and the response characteristic data, and outputs the calculation results.

【0006】図8は、図7における応答特性データ格納
部20に格納されている応答特性データf(Δλ)の応
答特性例を示す図である。図8において、分光器10に
線スペクトルが入力されると、この入力に対する応答特
性は、ピーク近傍はガウシアン分布のような広がりをも
つ応答スペクトルになる。この応答スペクトルを正規化
したものが応答特性データf(Δλ)であり、波長と光
パワーの出力値で表される関数f(Δλ)になる。ここ
で、Δλはピーク波長からの波長差を示し、波長差Δλ
=0のときのf(0)がこの関数の最大値となる。この
応答特性データf(Δλ)は、オフラインにて求めてお
き、応答特性データ格納部20に格納する。
FIG. 8 is a diagram showing an example of response characteristics of the response characteristic data f (Δλ) stored in the response characteristic data storage section 20 in FIG. In FIG. 8, when a line spectrum is input to the spectroscope 10, the response characteristic to this input is a response spectrum having a spread like a Gaussian distribution near the peak. Response characteristic data f (Δλ) is obtained by normalizing this response spectrum, and becomes a function f (Δλ) represented by the output values of wavelength and optical power. Here, Δλ indicates the wavelength difference from the peak wavelength, and the wavelength difference Δλ
F (0) when = 0 is the maximum value of this function. The response characteristic data f (Δλ) is obtained off-line and stored in the response characteristic data storage unit 20.

【0007】図9は、分光器10の具体例を示す構成図
である。ここでは、分光器10の方式として、小型化が
容易なポリクロメータ方式をあげている。図9におい
て、分光器10は、光ファイバ11、コリメーティング
レンズ12、波長分散素子である回折格子13、フォー
カシングレンズ14、フォトダイオードアレイモジュー
ル(以下PDMと略す)15、光シャッター16、偏光
解消素子17から構成される。
FIG. 9 is a block diagram showing a concrete example of the spectroscope 10. Here, as the method of the spectroscope 10, a polychromator method, which can be easily downsized, is mentioned. In FIG. 9, a spectroscope 10 includes an optical fiber 11, a collimating lens 12, a diffraction grating 13 which is a wavelength dispersion element, a focusing lens 14, a photodiode array module (hereinafter abbreviated as PDM) 15, an optical shutter 16, and depolarization. It is composed of the element 17.

【0008】光ファイバ11は、被測定光100を分光
器10に入射する伝送路である。コリメーティングレン
ズ12は、光ファイバ11の出射口に対向して設置さ
れ、光ファイバ11から出射された被測定光100を平
行光にして出射する。
The optical fiber 11 is a transmission line through which the measured light 100 is incident on the spectroscope 10. The collimating lens 12 is installed so as to face the emission port of the optical fiber 11 and collimates the measured light 100 emitted from the optical fiber 11 and emits it.

【0009】回折格子13は、コリメーティングレンズ
12からの出射光を所望の角度に回折するため、コリメ
ーティングレンズ12に対して傾けて設置してある。ま
た、回折格子13は被測定光100を波長ごと異なる角
度に分光して出射する。フォーカシングレンズ14は、
回折格子13からの出射光の光路上に設置され、出射光
を収束させる。
The diffraction grating 13 is installed so as to be tilted with respect to the collimating lens 12 in order to diffract the light emitted from the collimating lens 12 to a desired angle. Further, the diffraction grating 13 disperses the measured light 100 at different angles for each wavelength and emits the light. The focusing lens 14 is
It is installed on the optical path of the emitted light from the diffraction grating 13 and converges the emitted light.

【0010】PDM15は、被測定光100が収束する
位置に設置される。PDM15は、短冊状または点状の
受光素子であるフォトダイオード(以下PDと略す)が
複数個配列されたPDアレイが設けられている。このP
Dは、入射した被測定光100の光パワーに応じた電流
(光電流)が生ずる。PDM15は、PDの光電流を順
番に、例えば短波長側のPDから出力する。
The PDM 15 is installed at a position where the measured light 100 converges. The PDM 15 is provided with a PD array in which a plurality of photodiodes (hereinafter abbreviated as PD), which are strip-shaped or dot-shaped light receiving elements, are arranged. This P
At D, a current (photocurrent) corresponding to the optical power of the incident measured light 100 is generated. The PDM 15 sequentially outputs the photocurrent of the PD from the PD on the short wavelength side, for example.

【0011】また、各PDには、あらかじめ波長が割り
付けられている。波長の割り付けは、被測定光100が
回折格子13によって波長ごとに分光されて、PDアレ
イにて収束する位置と対応している。
A wavelength is assigned to each PD in advance. The wavelength allocation corresponds to the position where the measured light 100 is spectrally separated by the diffraction grating 13 for each wavelength and converges in the PD array.

【0012】光シャッター16は、光ファイバ11とコ
リメーティングレンズ12の間に設けられ、被測定光1
00を遮断することができる。光シャッター16は被測
定光100を遮り、そのときのPDの暗電流レベルを測
定し、この値を被測定光100の測定データから減算す
ることで、暗電流のドリフトの影響も除去でき、高精度
な測定が実現できる。
The optical shutter 16 is provided between the optical fiber 11 and the collimating lens 12, and the measured light 1
00 can be blocked. The optical shutter 16 blocks the light to be measured 100, measures the dark current level of the PD at that time, and subtracts this value from the measurement data of the light to be measured 100, so that the influence of the dark current drift can be eliminated, and the high Accurate measurement can be realized.

【0013】偏光解消素子17は、コリメーティングレ
ンズ12と回折格子13の間に設けられ、被測定光10
0が透過することにより、特に回折格子13での偏光依
存性を除去することができる。
The depolarizing element 17 is provided between the collimating lens 12 and the diffraction grating 13 and is provided with the measured light 10
By transmitting 0, it is possible to remove the polarization dependence particularly in the diffraction grating 13.

【0014】このような分光器10の動作を説明する。
被測定光100は、波長λAと波長λBの異なる波長が
多重されているとする。光ファイバ11から出射された
被測定光100は、コリメーティングレンズ12で平行
光となる。コリメーティングレンズ12を透過した被測
定光100は、偏光解消素子17を透過し回折格子13
に入射する。被測定光100は回折格子13によって、
波長λA、λBごとに被測定光100A、100Bに分
光される。回折格子13によって分光された被測定光1
00A、100Bは、フォーカシングレンズ14によっ
てPDM15のPDアレイに収束するが、収束する位置
は被測定光100A、100Bの波長λA、λBに対応
してずれる。
The operation of such a spectroscope 10 will be described.
It is assumed that the measured light 100 has wavelengths λA and λB different from each other. The light under measurement 100 emitted from the optical fiber 11 is collimated by the collimating lens 12. The measured light 100 that has passed through the collimating lens 12 passes through the depolarizer 17 and the diffraction grating 13
Incident on. The measured light 100 is reflected by the diffraction grating 13.
The wavelengths λA and λB are split into measured lights 100A and 100B. Light under measurement 1 split by the diffraction grating 13
00A and 100B are converged on the PD array of the PDM 15 by the focusing lens 14, but the converged positions are shifted corresponding to the wavelengths λA and λB of the measured lights 100A and 100B.

【0015】そして、各PDで生じた光電流は、短波長
側のPDから順に出力される。図示しない変換部は、P
Dから出力された光電流を電圧に変換する。またこの電
圧に変換された信号はアナログ信号なので、変換部はこ
のアナログ信号をデジタル信号に変換し、測定データP
o(i)として演算部30に出力する。このように、測
定データPo(i)はPDによってサンプリングされた
サンプリングデータとなっている。
The photocurrent generated in each PD is sequentially output from the PD on the short wavelength side. The conversion unit not shown is P
The photocurrent output from D is converted into a voltage. Further, since the signal converted into this voltage is an analog signal, the conversion unit converts this analog signal into a digital signal, and the measured data P
It is output to the arithmetic unit 30 as o (i). In this way, the measurement data Po (i) is sampling data sampled by the PD.

【0016】続いて、演算部30が各チャネルの光信号
レベル、ピーク波長を求める動作を詳細に説明する。図
10は、図9に示すPDM15のPDが短冊状の場合を
例に取り、PDアレイの一部に、被測定光100Aが照
射されているのを模式的に示した図である。図10にお
いて、PD15a〜15eは、回折格子13によって被
測定光100が波長λA、λBごとに分光される方向に
沿って配列される。また各PD15a〜15eには、そ
れぞれ波長λ〜λ(λ<λ<・・・<λ)が
割り付けられている。
Next, the operation of the arithmetic unit 30 for obtaining the optical signal level and peak wavelength of each channel will be described in detail. FIG. 10 is a diagram schematically showing an example in which the PD of the PDM 15 shown in FIG. 9 has a strip shape, and a part of the PD array is irradiated with the measured light 100A. In FIG. 10, the PDs 15a to 15e are arranged along the direction in which the measured light 100 is separated into wavelengths λA and λB by the diffraction grating 13. Further, wavelengths λ a to λ eab <... <λ e ) are assigned to the PDs 15 a to 15 e , respectively.

【0017】PDアレイは、光電流が生ずるPD15a
〜15eが隙間無く配列方向に並んでいるのではなく、
配列方向には、幅ΔpのPD15a、幅Δqの不感帯、
幅ΔpのPD15b…というように形成されていて、1
ピッチの幅は、PD15a〜15eごとの幅Δpと不感
帯の幅Δqを加算したものとなる。また、PD15a〜
15eはそれぞれ幅Δpを有しているが、一般的にPD
15a〜15eの配列方向に対して中心の位置を、割り
付けられた波長λ〜λそれぞれと対応させる。そし
て、PDアレイ上における距離(例えば幅Δp、幅Δq
等)は、各PD15a〜15eに割り付けられた波長λ
〜λによって、波長に換算できる。
The PD array is a PD 15a in which a photocurrent is generated.
~ 15e are not lined up in the arrangement direction without a gap,
In the arrangement direction, the PD 15a having the width Δp, the dead zone having the width Δq,
PD15b having a width Δp is formed as
The width of the pitch is the sum of the width Δp of each PD 15a to 15e and the dead zone width Δq. In addition, PD15a ~
15e each have a width Δp, but generally PD
The central position of the arrangement direction of 15a to 15e is made to correspond to each of the allocated wavelengths λ a to λ e . Then, the distance on the PD array (for example, width Δp, width Δq
Etc.) is the wavelength λ assigned to each PD 15a to 15e.
The wavelength can be converted by a to λ e .

【0018】また、PD15a〜15eの片側または両
側からは図示しない信号線によって光電流が出力され
る。
A photocurrent is output from one or both sides of the PDs 15a to 15e by a signal line (not shown).

【0019】被測定光100Aがレーザ光のような線ス
ペクトルの場合、PDアレイ上に形成される被測定光1
00Aの光スポットは、光パワーがガウシアン分布とな
る楕円状または円形状になる。光スポットとは、光ピー
クパワーに対して、1/e倍の光パワーとなる部分の
ことであり、光スポットの中心から円周までの距離が、
ビーム半径ωになる。そして、この光スポットは、PD
アレイのピッチと同等かまたは広く設定される。つま
り、被測定光100Aは、波長軸上の光スポットの広が
りよりも狭い波長幅のPD15a〜15eによってサン
プリングされる。
When the measured light 100A has a line spectrum such as a laser beam, the measured light 1 formed on the PD array 1
The 00A light spot has an elliptical or circular shape in which the optical power has a Gaussian distribution. The light spot is a portion where the light power is 1 / e 2 times the light peak power, and the distance from the center of the light spot to the circumference is
The beam radius becomes ω. And this light spot is PD
It is set equal to or wider than the pitch of the array. That is, the measured light 100A is sampled by the PDs 15a to 15e having a wavelength width narrower than the spread of the light spot on the wavelength axis.

【0020】ここで被測定光100Aの中心は、PD1
5c近傍にあるとする。図11は、PDM15から出力
される測定データPo(i)の一部(PD15a〜15
e)を表した図である。横軸は、各PD15a〜15e
に割り付けられた波長λ〜λであり、縦軸はPD1
5a〜15eの出力を相対的に表している。ここで各P
D15a〜15eそれぞれの出力をP〜Pとする。
被測定光100Aの中心はPD15c近傍にあるので、
PD15cの出力Pが他の出力P、P、P、P
よりも大きいのは明らかである。また、隣合うPDと
の波長差Δλ は、PDアレイ1ピッチの幅を波長に
換算したものである。
The center of the measured light 100A is PD1.
It is assumed to be near 5c. FIG. 11 shows a part of the measurement data Po (i) output from the PDM 15 (PD 15a to 15a).
It is a figure showing e). The horizontal axis represents each PD 15a to 15e
Of wavelengths λ a to λ e assigned to
The outputs of 5a to 15e are relatively represented. Where each P
The D15a~15e respective outputs and P a to P e.
Since the center of the measured light 100A is near the PD 15c,
The output P c of the PD 15c is the other outputs P a , P b , P d , P
Obviously, it is larger than e . Further, the wavelength difference [Delta] [lambda] P D between adjacent PD, is obtained by converting the width of the PD array one pitch to the wavelength.

【0021】分光器10に入力された線スペクトルに対
する分光器10の応答はガウス分布で近似され、被測定
光100Aのピーク波長λpeakは、式(1)によっ
て表すことができる。 λpeak=λ+δλ (1) ここで、λは光ピークパワーに最も近いPD15cに
割り付けられた波長λであり、δλはピーク波長λ
peakと光ピークパワーに最も近いPD15cに割り
付けられた波長λとの波長差を表している。また波長
差δλは、図10においてPD15cの中心と被測定光
100Aの光スポットの中心とのずれを示す相対ずれ量
δxを波長に換算したものである。
The response of the spectroscope 10 to the line spectrum input to the spectroscope 10 is approximated by a Gaussian distribution, and the peak wavelength λ peak of the measured light 100A can be expressed by the equation (1). λ peak = λ 0 + δλ (1) where λ 0 is the wavelength λ c assigned to the PD 15c closest to the optical peak power, and δλ is the peak wavelength λ
It shows the wavelength difference between the peak and the wavelength λ c assigned to the PD 15c closest to the optical peak power. Further, the wavelength difference δλ is obtained by converting the relative shift amount δx, which indicates the shift between the center of the PD 15c and the center of the light spot of the measured light 100A in FIG. 10, into a wavelength.

【0022】相対ずれ量δxは、被測定光100Aの光
スポットの中心に最も近いPD15cと両隣のPD15
b、15dとの出力比から式(2)によって表すことが
できる。
The relative shift amount δx is determined by the PD 15c closest to the center of the light spot of the measured light 100A and the PDs 15 on both sides thereof.
It can be expressed by the equation (2) from the output ratio of b and 15d.

【0023】[0023]

【数1】 ここで、Pは、光ピークパワー最も近いPD15cの
出力Pに対応し、P 、P+1は、それぞれP
に対応する。
[Equation 1] Here, P 0 corresponds to the output P c of the optical peak power closest PD15c, P - 1, P +1, respectively P b,
Corresponds to P d .

【0024】そして、波長差Δλは式(3)によって表
すことができる。
The wavelength difference Δλ can be expressed by the equation (3).

【数2】 [Equation 2]

【0025】被測定光100Aの光信号レベルPsig
は、PDアレイ上に広がったスペクトルの積分あるいは
光ピークパワー近傍、例えばピーク近傍3個のPD15
b〜15dの出力値P〜Pの和から求めることがで
きる。しかし、PDアレイには不感帯があるため、同一
の光信号レベルであっても、相対ずれ量δxによってP
D15b〜15dの加算値は同一とならない。
Optical signal level P sig of measured light 100A
Is the integral of the spectrum spread on the PD array or near the optical peak power, for example, three PD15 near the peak.
It can be obtained from the sum of the output values P b to P d of b to 15 d . However, since the PD array has a dead zone, even if the optical signal level is the same, P is determined by the relative shift amount δx.
The added values of D15b to 15d are not the same.

【0026】図12は、相対ずれ量δxとピーク近傍の
PD15b〜15dの加算値の関係をグラフで表した図
である。図12において、横軸は相対ずれ量δxで、縦
軸は相対パワー変動である。単位はそれぞれPDアレイ
のピッチと対数(dB)であり、グラフの曲線は応答特
性データf(Δλ)から求められる。このグラフから相
対パワー変動を補正する補正関数α(δx)を求めれ
ば、被測定光100Aの光信号レベルPSigは、式
(4)によって正確に演算できる。 Psig=α(δx)・(P−1+P+P+1) (4)
FIG. 12 is a graph showing the relationship between the relative shift amount δx and the added values of the PDs 15b to 15d near the peak. In FIG. 12, the horizontal axis represents the relative shift amount δx and the vertical axis represents the relative power fluctuation. The unit is the pitch of the PD array and the logarithm (dB), and the curve of the graph is obtained from the response characteristic data f (Δλ). If the correction function α (δx) that corrects the relative power fluctuation is obtained from this graph, the optical signal level P Sig of the measured light 100A can be accurately calculated by the equation (4). P sig = α (δx) · (P −1 + P 0 + P +1 ) (4)

【0027】従って、演算部30は、測定データPo
(i)と各PD15a〜15eに割り付けられた波長λ
〜λから、式(1)〜(3)によって被測定光10
0Aのピーク波長を求める。また、演算部30は、測定
データPo(i)とPDアレイのピッチ幅から式(2)
によって相対ずれ量δxを演算し、この相対ずれ量を光
パワーを補正する補正関数α(δx)に代入し、式
(4)によって被測定光100Aの光信号レベルを求め
る。
Therefore, the calculation unit 30 determines the measurement data Po.
(I) and the wavelength λ assigned to each PD 15a to 15e
From a to λ e , the measured light 10 is calculated by the equations (1) to (3).
Determine the peak wavelength of 0A. Further, the calculation unit 30 calculates the equation (2) from the measured data Po (i) and the pitch width of the PD array.
The relative shift amount δx is calculated by the following formula, this relative shift amount is substituted into the correction function α (δx) for correcting the optical power, and the optical signal level of the measured light 100A is obtained by the formula (4).

【0028】また、演算部30が、他のチャネルである
被測定光100Bの光信号レベル、ピーク波長を求める
動作も同様なので説明を省略する。そして、演算部30
は、これらの演算結果を図示しない出力部に出力し、こ
の出力部は、演算結果を、例えば表示部の画面に表示し
たり、図示しない外部装置に出力する。
The operation of the arithmetic unit 30 to obtain the optical signal level and the peak wavelength of the measured light 100B which is the other channel is also the same, and the description thereof will be omitted. Then, the arithmetic unit 30
Outputs the calculation result to an output unit (not shown), and the output unit displays the calculation result on the screen of the display unit or outputs it to an external device (not shown).

【0029】[0029]

【発明が解決しようとする課題】WDM信号は、各チャ
ネルごとに変調が行われ伝送されるが、近年通信システ
ムにおける伝送距離の遠距離化や伝送速度の高速化に伴
い、様々な変調方式が検討されている。変調方式の例と
して、光ファイバの波長分散や非線形効果を避けるため
に、光キャリア周波数成分を抑圧し、かつ占有波長域を
狭くしたCS−RZ(carrier suppressed return to z
ero)変調、片側のみのサイドバンドを用いるSSB−
RZ(signale side band return to zero)変調等があ
る。また、変調速度も、10Gbps超で行われるのが
一般的になっている。
The WDM signal is modulated and transmitted for each channel. In recent years, various modulation methods have been adopted with the increase of transmission distance and transmission speed in communication systems. Is being considered. As an example of a modulation method, in order to avoid chromatic dispersion and non-linear effects of an optical fiber, an optical carrier frequency component is suppressed and an occupied wavelength range is narrowed.
ero) modulation, SSB using only one sideband
There are RZ (signale side band return to zero) modulation and the like. In addition, the modulation speed is generally set to exceed 10 Gbps.

【0030】このような変調が行われると、各チャネル
のスペクトルは、キャリアに対して複数のサイドバンド
が生じ、複数の線スペクトルとなる。この変調された光
信号における分光器10の応答スペクトルの形状は、キ
ャリアおよびサイドバンドの線スペクトルごとの応答ス
ペクトルを重ね合わせたものになる。これにより、応答
特性データ格納部20の応答特性データf(Δλ)の形
状と、変調が行われた光信号に対する分光器10の応答
スペクトルの形状は著しく異なる。そのため応答特性デ
ータf(Δλ)から求めた補正関数α(δx)では、相
対ずれ量δxに対する光パワーの補正効果が減少する。
When such modulation is carried out, the spectrum of each channel becomes a plurality of line spectra due to the generation of a plurality of sidebands with respect to the carrier. The shape of the response spectrum of the spectroscope 10 in this modulated optical signal is a superposition of the response spectra of the carrier and sideband line spectra. As a result, the shape of the response characteristic data f (Δλ) in the response characteristic data storage unit 20 is significantly different from the shape of the response spectrum of the spectroscope 10 for the modulated optical signal. Therefore, in the correction function α (δx) obtained from the response characteristic data f (Δλ), the effect of correcting the optical power with respect to the relative shift amount δx decreases.

【0031】本発明の目的は、変調されたWDM信号の
測定を、精度良く行えるWDM信号モニタを実現するこ
とを目的にする。
An object of the present invention is to realize a WDM signal monitor capable of accurately measuring a modulated WDM signal.

【0032】[0032]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
WDM信号のスペクトルを測定する分光器と、この分光
器の光信号の線スペクトルに対する応答特性データを格
納する応答特性データ格納部と、前記分光器に入力され
るWDM信号の特性が入力され、このWDM信号の特性
と前記応答特性データ格納部の応答特性データとに基づ
き、補正データを求める調整部と、この調整部によって
求められた補正データを格納する補正データ格納部と、
前記分光器によって測定されたスペクトルと前記補正デ
ータ格納部の補正データに基づいて、前記WDM信号の
少なくとも光信号レベルを演算する演算部とを有するこ
とを特徴とするものである。
The invention according to claim 1 is
The spectroscope for measuring the spectrum of the WDM signal, the response characteristic data storage section for storing the response characteristic data for the line spectrum of the optical signal of the spectroscope, and the characteristic of the WDM signal input to the spectroscope are input. An adjustment unit for obtaining correction data based on the characteristics of the WDM signal and the response characteristic data in the response characteristic data storage unit; and a correction data storage unit for storing the correction data obtained by the adjustment unit,
It has a calculating part which calculates at least the optical signal level of the WDM signal based on the spectrum measured by the spectroscope and the correction data of the correction data storage part.

【0033】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、分光器は、波長軸上で、線スペクトルに対
する応答スペクトルの広がりに比べて、狭い波長幅でサ
ンプリングデータを測定することを特徴とするものであ
る。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the spectroscope measures the sampling data on the wavelength axis with a narrower wavelength width than the spread of the response spectrum with respect to the line spectrum. It is a feature.

【0034】請求項3記載の発明は、請求項1または2
記載の発明において、分光器は、WDM信号を分光する
波長分散素子と、この分光された光を受ける複数のフォ
トダイオードからなるフォトダイオードアレイとを有す
ることを特徴とするものである。
The invention according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2.
In the invention described above, the spectroscope is characterized by having a wavelength dispersion element that disperses a WDM signal and a photodiode array including a plurality of photodiodes that receive the dispersed light.

【0035】請求項4記載の発明は、請求項1〜3のい
ずれかに記載の発明において、調整部は、WDM信号を
変調する変調方式と、WDM信号を合波または分波する
合波分波器の光フィルタ特性の少なくとも一方であるW
DM信号の特性により補正データを求めることを特徴と
するものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to third aspects, the adjusting section includes a modulation system for modulating the WDM signal and a multiplexing component for multiplexing or demultiplexing the WDM signal. W which is at least one of the optical filter characteristics of the wave filter
It is characterized in that the correction data is obtained from the characteristics of the DM signal.

【0036】請求項5記載の発明は、請求項1〜4のい
ずれかに記載の発明において、調整部は、応答特性デー
タ格納部の応答特性データとWDM信号の特性とに基づ
いて補正された応答特性データと、この補正された応答
特性データから求めた光パワーを補正する光パワー補正
データの少なくとも一方である補正データを求めること
を特徴とするものである。
According to a fifth aspect of the invention, in the invention according to any one of the first to fourth aspects, the adjusting section is corrected based on the response characteristic data in the response characteristic data storage section and the characteristic of the WDM signal. It is characterized in that correction data which is at least one of the response characteristic data and the optical power correction data for correcting the optical power obtained from the corrected response characteristic data is obtained.

【0037】請求項6記載の発明は、請求項1〜5のい
ずれかに記載の発明において、応答特性データ格納部と
調整部の少なくとも一方は、調整時に接続されることを
特徴とするものである。
According to a sixth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to fifth aspects, at least one of the response characteristic data storage section and the adjusting section is connected during adjustment. is there.

【0038】[0038]

【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明の実施の
形態を説明する。図1は本発明の第1の実施例を示すブ
ロック構成図である。ここで、図7と同一のものは同一
符号を付し、説明を省略する。図1において、調整部4
0は、応答特性データ格納部20と演算部30の間に設
けられ、入力手段41と補正手段42を有する。調整部
40は、応答特性データ格納部20からの応答特性デー
タと、外部からのWDM信号の特性に基づいて補正デー
タを作成し、出力する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the first embodiment of the present invention. Here, the same parts as those in FIG. 7 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. In FIG. 1, the adjustment unit 4
0 is provided between the response characteristic data storage unit 20 and the calculation unit 30, and has an input unit 41 and a correction unit 42. The adjustment unit 40 creates and outputs correction data based on the response characteristic data from the response characteristic data storage unit 20 and the characteristic of the WDM signal from the outside.

【0039】入力手段41は、分光器10に入力される
WDM信号の特性が外部から入力される。WDM信号の
特性とは、例えば、WDM信号を変調する変調方式(変
調速度も含む)や、WDM信号を合波または分波する合
波分波器の光フィルタ特性等である。補正手段42は、
応答特性データ格納部20の応答特性データf(Δλ)
の読み出し、入力手段41によって入力されたWDM信
号の特性を読み出す。そして、読み出したWDM信号の
特性と応答特性データf(Δλ)に基づいて、補正デー
タを作成し、出力する。
The input means 41 receives the characteristics of the WDM signal input to the spectroscope 10 from the outside. The characteristics of the WDM signal are, for example, a modulation method (including a modulation speed) for modulating the WDM signal, an optical filter characteristic of a multiplexer / demultiplexer for multiplexing or demultiplexing the WDM signal, and the like. The correction means 42 is
Response characteristic data f (Δλ) of the response characteristic data storage unit 20
Of the WDM signal input by the input means 41. Then, based on the characteristics of the read WDM signal and the response characteristic data f (Δλ), correction data is created and output.

【0040】補正データ格納部50は、応答特性データ
格納部20と演算部30の間に設けられ、調整部40の
補正データが入力され、格納し、演算部30に補正デー
タを出力する。
The correction data storage unit 50 is provided between the response characteristic data storage unit 20 and the calculation unit 30, receives and stores the correction data of the adjustment unit 40, and outputs the correction data to the calculation unit 30.

【0041】図2のフローチャートを用いて、図1に示
す装置の動作を説明する。入力手段41によって、WD
M信号の特性が入力される。この入力が行われるのは調
整時であり、例えば、図1に示す装置が通信システムで
稼動する前、または通信システムから分光器10に入力
されるWDM信号の特性に変更が行われた場合等である
(S11)。
The operation of the apparatus shown in FIG. 1 will be described with reference to the flowchart of FIG. WD by input means 41
The characteristics of the M signal are input. This input is performed at the time of adjustment, for example, before the device shown in FIG. 1 operates in the communication system, or when the characteristics of the WDM signal input to the spectrometer 10 from the communication system are changed. (S11).

【0042】補正手段42は、応答特性データ格納部2
0の応答特性データf(Δλ)を読み出すと共に、入力
手段41によって入力されたWDM信号の特性を読み出
し(S12)、このWDM信号の特性と応答特性データ
f(Δλ)に基づき補正データを作成する(S13)。
The correction means 42 comprises the response characteristic data storage unit 2
The response characteristic data f (Δλ) of 0 is read, the characteristic of the WDM signal input by the input means 41 is read (S12), and the correction data is created based on the characteristic of the WDM signal and the response characteristic data f (Δλ). (S13).

【0043】ここで、入力手段41によって入力された
WDM信号の特性と、応答特性データ格納部20の応答
特性データf(Δλ)に基づき、補正手段42が分光器
10の補正データを求める具体的一例を、図3を用いて
説明する。ここでは、WDM信号にSSB−RZ変調が
行われ、光フィルタ特性は無視できるものとする。補正
手段42は、被測定光100にSSB−RZ変調が行わ
れていることから、単一の線スペクトルからなるキャリ
ア200に対して、変調により生じる複数の線スペクト
ルからなるサイドバンド201を推測し、分光器10へ
の入力スペクトルを求める。
Here, based on the characteristics of the WDM signal input by the input means 41 and the response characteristic data f (Δλ) of the response characteristic data storage section 20, the correcting means 42 specifically obtains the correction data of the spectroscope 10. An example will be described with reference to FIG. Here, it is assumed that the WDM signal is subjected to SSB-RZ modulation and the optical filter characteristic can be ignored. Since the SBS-RZ modulation is performed on the measured light 100, the correction unit 42 estimates the sideband 201 composed of a plurality of line spectra generated by the modulation with respect to the carrier 200 composed of a single line spectrum. , The input spectrum to the spectroscope 10 is obtained.

【0044】そして、入力スペクトル200、201に
対する分光器10の応答スペクトル(補正された応答特
性データ)202は、線スペクトルごとに応答特性デー
タf(Δλ)と相似形の応答スペクトル(図3において
破線)が重ね合わされた形状となる。つまり、いかに複
雑な変調が行われたとしても、変調された入力スペクト
ル200、201は、複数の線スペクトルで近似でき、
さらに入力スペクトル200、201に対する応答スペ
クトルは、応答特性データf(Δλ)によって波長Δλ
をパラメータとする関数g(Δλ)で表すことができ
る。
The response spectrum (corrected response characteristic data) 202 of the spectroscope 10 with respect to the input spectra 200 and 201 is a response spectrum similar to the response characteristic data f (Δλ) (broken line in FIG. 3) for each line spectrum. ) Is a shape that is superimposed. That is, no matter how complicated modulation is performed, the modulated input spectra 200 and 201 can be approximated by a plurality of line spectra,
Furthermore, the response spectrum for the input spectra 200 and 201 is wavelength Δλ based on the response characteristic data f (Δλ).
It can be represented by a function g (Δλ) having as a parameter.

【0045】また、補正手段42によって補正された応
答特性データg(Δλ)から、相対ずれ量δxとピーク
近傍のPDの加算値の関係を求めることができる。図4
は、変調の行われた信号における相対ずれ量δxと、P
Dの加算値の関係の一例を表した図である。図4におい
て、縦軸および横軸は図12と同様である。このグラフ
より、変調の行われた信号に対する光パワーの補正を行
う補正関数G(δx)を求めることができる。
Further, from the response characteristic data g (Δλ) corrected by the correction means 42, the relation between the relative deviation amount δx and the added value of PD near the peak can be obtained. Figure 4
Is the relative shift amount δx in the modulated signal, and P
It is a figure showing an example of the relation of the added value of D. In FIG. 4, the vertical axis and the horizontal axis are the same as in FIG. From this graph, the correction function G (δx) for correcting the optical power of the modulated signal can be obtained.

【0046】そして図2において、補正手段42は、求
めた補正関数G(δx)を補正データとして、補正デー
タ格納部50に格納する(S14)。因みに、補正手段
42が、補正データを作成し、この補正データを補正デ
ータ格納部50に格納するまでの動作(S12〜S1
4)は、入力手段41によってWDM信号の特性が入力
される調整時ごとに行われる。
In FIG. 2, the correction means 42 stores the obtained correction function G (δx) in the correction data storage section 50 as correction data (S14). Incidentally, the operation of the correction means 42 creating the correction data and storing the correction data in the correction data storage unit 50 (S12 to S1).
4) is performed every time adjustment is made when the characteristic of the WDM signal is input by the input means 41.

【0047】分光器10は、WDM信号のスペクトル測
定を行い、測定データPo(i)を、演算部30に出力
する(S15)。演算部30は、測定データPo(i)
から各チャネルのピークを検出し、各チャネルごとに相
対ずれ量δxを求める(S16)。演算部30は、補正
データ格納部50から補正データG(δx)を読み出し
(S17)、式(4)において補正関数α(δx)の代
わりに補正データG(δx)を用いて、各チャネルごと
の光信号レベルを演算し、演算結果を出力する(S1
8)。
The spectroscope 10 measures the spectrum of the WDM signal and outputs the measurement data Po (i) to the arithmetic unit 30 (S15). The calculation unit 30 calculates the measurement data Po (i).
Then, the peak of each channel is detected and the relative shift amount δx is obtained for each channel (S16). The calculation unit 30 reads the correction data G (δx) from the correction data storage unit 50 (S17), and uses the correction data G (δx) instead of the correction function α (δx) in the equation (4) for each channel. The optical signal level of is calculated and the calculation result is output (S1
8).

【0048】このように、入力手段41によって入力さ
れたWDM信号の特性から、補正手段42は、分光器1
0に入力される入力スペクトルを求める。そして、応答
特性データ格納部20の応答特性データf(Δλ)と求
めた入力スペクトルから、応答特性データf(Δλ)を
補正し、この補正された応答特性データg(Δλ)か
ら、相対ずれ量δxによる光パワー変動を補正する補正
データG(δx)を求める。演算部30は、この補正デ
ータG(δx)を用いて光信号レベルの演算を行う。こ
れにより被測定光100A、100Bが変調等の行われ
た光信号だとしても、光信号レベルの演算を精度良く行
うことができる。
As described above, based on the characteristics of the WDM signal input by the input means 41, the correction means 42 causes the spectroscope 1
The input spectrum input to 0 is obtained. Then, the response characteristic data f (Δλ) is corrected from the response characteristic data f (Δλ) of the response characteristic data storage unit 20 and the obtained input spectrum, and the relative deviation amount is calculated from the corrected response characteristic data g (Δλ). The correction data G (δx) for correcting the fluctuation of the optical power due to δx is obtained. The calculation unit 30 calculates the optical signal level using the correction data G (δx). As a result, even if the measured lights 100A and 100B are optical signals that have been modulated, the optical signal level can be accurately calculated.

【0049】図5は、本発明の第2の実施例を示す構成
図である。図1と同一のものは同一符号を付すと共に、
説明も省略する。図5において、補正データ格納部60
は、補正データ格納部50の代わりに設けられ、調整部
40から出力された補正データを格納する。
FIG. 5 is a block diagram showing the second embodiment of the present invention. The same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals,
The description is also omitted. In FIG. 5, the correction data storage unit 60
Is provided in place of the correction data storage unit 50 and stores the correction data output from the adjustment unit 40.

【0050】演算部70は、演算部30の代わりに設け
られ、分光器10から出力された測定データPo(i)
が入力される。演算部70は、補正データ格納部70の
補正データを読み出す。そして、演算部70は、SNR
演算手段71を有し、このSNR演算手段71において
各チャネルごとの光信号レベルおよび光SNRを求め
る。そして、演算部70は、これらの演算結果を出力す
る。ここで、光SNRは、式(5)で定義される。 光SNR=10・log(光信号レベル/光ノイズレベル) (5)
The calculation unit 70 is provided in place of the calculation unit 30, and the measurement data Po (i) output from the spectroscope 10 is provided.
Is entered. The calculation unit 70 reads the correction data from the correction data storage unit 70. Then, the calculation unit 70 determines the SNR
It has a calculating means 71, and the SNR calculating means 71 obtains an optical signal level and an optical SNR for each channel. Then, the calculation unit 70 outputs these calculation results. Here, the optical SNR is defined by the equation (5). Optical SNR = 10 · log (optical signal level / optical noise level) (5)

【0051】図6のフローチャートを用いて、図5に示
す装置の動作を説明する。入力手段41によって、WD
M信号の特性が入力される。この入力が行われるのは調
整時であり、例えば、図5に示す装置が通信システムで
稼動する前、または通信システムから分光器10に入力
されるWDM信号の特性に変更が行われた場合等である
(S21)。
The operation of the apparatus shown in FIG. 5 will be described with reference to the flowchart of FIG. WD by input means 41
The characteristics of the M signal are input. This input is performed at the time of adjustment, for example, before the device shown in FIG. 5 operates in the communication system, or when the characteristics of the WDM signal input to the spectrometer 10 from the communication system are changed. (S21).

【0052】補正手段42は、応答特性データ格納部2
0の応答特性データf(Δλ)を読み出すと共に、入力
手段41によって入力されたWDM信号の特性を読み出
し(S22)、このWDM信号の特性と応答特性データ
f(Δλ)に基づき補正データを作成する(S23)。
ただし、補正データは、図1の装置において補正手段4
2が求めた補正された応答特性データg(Δλ)とな
る。そして、補正手段42は、補正データを補正データ
格納部60に格納する(S24)。因みに、補正手段4
2が、補正データを作成し、この補正データを補正デー
タ格納部60に格納するまでの動作(S22〜S24)
は、入力手段41によってWDM信号の特性が入力され
る調整時ごとに行われる。
The correction means 42 comprises the response characteristic data storage unit 2
The response characteristic data f (Δλ) of 0 is read out, the characteristic of the WDM signal input by the input means 41 is read out (S22), and the correction data is created based on the characteristic of the WDM signal and the response characteristic data f (Δλ). (S23).
However, the correction data is corrected by the correction means 4 in the apparatus of FIG.
2 becomes the corrected response characteristic data g (Δλ). Then, the correction unit 42 stores the correction data in the correction data storage unit 60 (S24). Incidentally, the correction means 4
2 creates the correction data and stores the correction data in the correction data storage unit 60 (S22 to S24)
Is performed every time the characteristic of the WDM signal is input by the input unit 41.

【0053】分光器10は、WDM信号のスペクトル測
定を行い、測定データPo(i)を、演算部70に出力
する(S25)。演算部70は、測定データPo(i)
から各チャネルのピークN個(ただし、N<mでNは整
数)を検出し、(S26)、補正データ格納部60の補
正データg(Δλ)を読み出す(S27)。SNR演算
手段71は、各チャネルの光信号レベルPs(k)(た
だし、k=1〜Nでkは整数)と光ノイズレベルPn
(k)を未知数として、補正データg(Δλ)、測定デ
ータPo(i)によって式(6)に示す連立方程式から
これらの未知数を求める(S28)。
The spectroscope 10 measures the spectrum of the WDM signal and outputs the measurement data Po (i) to the arithmetic unit 70 (S25). The calculation unit 70 measures the measurement data Po (i).
Then, N peaks of each channel (where N <m and N is an integer) are detected (S26), and the correction data g (Δλ) of the correction data storage unit 60 is read (S27). The SNR calculation means 71 uses the optical signal level Ps (k) of each channel (where k = 1 to N and k is an integer) and the optical noise level Pn.
With (k) as an unknown number, these unknown numbers are obtained from the simultaneous equations shown in equation (6) using the correction data g (Δλ) and the measurement data Po (i) (S28).

【0054】[0054]

【数3】 ここで、Fs、Fnは、測定データPo(k)から
光信号レベルPs(k)、光ノイズレベルPn(k)に
対応したパラメータを求める近似式であり、行列Mは、
Fs、Fnおよび補正データg(Δλ)で決まる行
列である。
[Equation 3] Here, Fs k and Fn k are approximate expressions for obtaining parameters corresponding to the optical signal level Ps (k) and the optical noise level Pn (k) from the measurement data Po (k), and the matrix M is
This is a matrix determined by Fs k , Fn k, and correction data g (Δλ).

【0055】そして、SNR演算手段71は、光信号レ
ベルPs(k)、光ノイズレベルPn(k)から、式
(5)によって光SNRを演算し、光信号レベルPs
(k)、光SNR等の演算結果を出力する(S29)。
Then, the SNR calculating means 71 calculates the optical SNR from the optical signal level Ps (k) and the optical noise level Pn (k) by the equation (5), and outputs the optical signal level Ps.
(K), the calculation result of the optical SNR or the like is output (S29).

【0056】このように、入力手段41によって入力さ
れたWDM信号の特性から、補正手段42は、分光器1
0に入力される入力スペクトルを求める。そして、応答
特性データ格納部20の応答特性データf(Δλ)と求
めた入力スペクトルから、応答特性データf(Δλ)を
補正する。演算部30は、この補正された応答特性デー
タg(Δλ)を用いて光信号レベルPs(k)、光SN
Rの演算を行う。これにより被測定光100A、100
Bが変調等の行われた光信号だとしても、光信号レベル
Ps(k)、光SNRの演算を精度良く行うことができ
る。
As described above, based on the characteristics of the WDM signal input by the input unit 41, the correction unit 42 determines that the spectroscope 1
The input spectrum input to 0 is obtained. Then, the response characteristic data f (Δλ) is corrected from the response characteristic data f (Δλ) of the response characteristic data storage unit 20 and the obtained input spectrum. The calculation unit 30 uses the corrected response characteristic data g (Δλ) to determine the optical signal level Ps (k) and the optical SN.
Calculate R. As a result, the measured lights 100A, 100
Even if B is a modulated optical signal, the optical signal level Ps (k) and the optical SNR can be accurately calculated.

【0057】なお、本発明はこれに限定されるものでは
なく、以下のようなものでもよい。分光器10は、固定
された回折格子13、PDM15を用いて、被測定光1
00のスペクトルのサンプリングを行う構成を示した
が、回折格子13を波長分散方向に正逆回転させ、PD
M15の代わりにスリットと、このスリットを透過した
透過光を受光するPDを設ける構成としてもよい。ただ
し、スリットの幅は、波長軸上で、線スペクトルに対す
る応答スペクトルの広がりに比べて、狭い波長幅となる
ように設定される。そしてこの構成においては、波長分
散素子が正逆回転することにより、被測定光100が波
長掃引され、スリットを透過した波長の光を時系列でサ
ンプリングを行い、測定データPo(i)が出力され
る。
The present invention is not limited to this, and may be as follows. The spectroscope 10 uses the fixed diffraction grating 13 and PDM 15 to measure the light 1 to be measured.
Although the configuration for sampling the spectrum of 00 is shown, the diffraction grating 13 is rotated forward and backward in the wavelength dispersion direction, and
Instead of M15, a slit and a PD for receiving the transmitted light transmitted through this slit may be provided. However, the width of the slit is set to be narrower on the wavelength axis than the spread of the response spectrum with respect to the line spectrum. In this configuration, the wavelength dispersion element rotates in the forward and reverse directions to sweep the wavelength of the measured light 100, sample the light having the wavelength transmitted through the slit in time series, and output the measurement data Po (i). It

【0058】また、ポリクロメータ方式の分光器をあげ
たが、被測定光100を分光し、分光したスペクトルを
サンプリングする構成の分光器は全て本発明に含まれ
る。
Although the polychromator type spectroscope has been described, all spectroscopes configured to disperse the measured light 100 and sample the spectroscopic spectrum are included in the present invention.

【0059】また、被測定光100は、波長λA、λB
の2チャネルが多重化される例を示したが、多重化は何
チャネルでもよい。
The measured light 100 has wavelengths λA and λB.
Although the example in which the two channels are multiplexed is shown, any number of channels may be multiplexed.

【0060】また、波長分散素子に回折格子13を用い
る例を示したがプリズム等を用いてもよい。
Further, although the example in which the diffraction grating 13 is used as the wavelength dispersion element is shown, a prism or the like may be used.

【0061】また、分光器10は、レンズ12、14を
用いる透過型光学系を示したが、放物面鏡等を用いた反
射型光学系としてもよい。
Although the spectroscope 10 is a transmission type optical system using the lenses 12 and 14, it may be a reflection type optical system using a parabolic mirror or the like.

【0062】また、図5に示す装置は、補正データ格納
部60に補正データとして、補正された応答特性データ
g(Δλ)を格納する構成としたが、補正された応答特
性データg(Δλ)、補正関数G(δx)の両方を格納
するようにしてもよい。具体的には、各チャネルの光信
号レベルPs(k)を補正関数G(δx)によって先に
演算し、未知数を光ノイズレベルPn(k)のみとし
て、連立方程式を解くようにしてもよい。これにより、
連立方程式の未知数を減少させ、演算時間を短縮するこ
とができる。
Further, the apparatus shown in FIG. 5 is configured to store the corrected response characteristic data g (Δλ) as the correction data in the correction data storage unit 60, but the corrected response characteristic data g (Δλ) is stored. , The correction function G (δx) may be stored. Specifically, the optical signal level Ps (k) of each channel may be previously calculated by the correction function G (δx), and the unknowns may be the optical noise level Pn (k) alone to solve the simultaneous equations. This allows
The unknown number of simultaneous equations can be reduced and the calculation time can be shortened.

【0063】さらに、応答特性データ格納部20と調整
部40の少なくとも一方は、調整を行う調整時のみに図
1または図5に示す装置に接続するようにしてもよい。
これにより、図1、図5に示す装置ごとに応答特性デー
タ格納部20、調整部40を用意する必要がない。従っ
て、コストを下げることができると共に、システムに搭
載するときに設置スペースを少なくできる。
Further, at least one of the response characteristic data storage section 20 and the adjusting section 40 may be connected to the apparatus shown in FIG. 1 or 5 only at the time of adjustment.
As a result, it is not necessary to prepare the response characteristic data storage unit 20 and the adjusting unit 40 for each device shown in FIGS. Therefore, the cost can be reduced, and the installation space can be reduced when the system is installed.

【0064】[0064]

【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。請求項1〜6によれば、WDM信号の特性から調整
部は、分光器に入力される入力スペクトルを求め、応答
特性データ格納部の応答特性データと求めた入力スペク
トルに基づき補正データを求める。演算部は、分光器に
よって測定されたスペクトルと補正データによって、少
なくとも光信号レベルを演算し測定を行う。これによ
り、変調されたWDM信号の測定を、精度良く行える。
The present invention has the following effects. According to the first to sixth aspects, the adjusting unit obtains the input spectrum input to the spectroscope from the characteristic of the WDM signal, and obtains the correction data based on the response characteristic data of the response characteristic data storage unit and the obtained input spectrum. The calculation unit calculates at least the optical signal level based on the spectrum measured by the spectroscope and the correction data, and performs measurement. Thereby, the modulated WDM signal can be accurately measured.

【0065】請求項6によれば、応答特性データ格納部
と調整部の少なくとも一方は、調整時にのみ本装置に接
続されるので、装置ごとに応答特性データ格納部、調整
部を用意する必要がない。従って、コストを下げること
ができると共に、システムに搭載するときに設置スペー
スを少なくできる。
According to the sixth aspect, since at least one of the response characteristic data storage section and the adjusting section is connected to the apparatus only at the time of adjustment, it is necessary to prepare the response characteristic data storage section and the adjusting section for each apparatus. Absent. Therefore, the cost can be reduced, and the installation space can be reduced when the system is installed.

【0066】[0066]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例を示したブロック構成図
である。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す装置における光信号レベル演算動作
を示すフローチャートである。
2 is a flowchart showing an optical signal level calculation operation in the device shown in FIG.

【図3】図1に示す装置における補正手段42が、補正
された応答特性データg(Δλ)を求める一例を示す図
である。
FIG. 3 is a diagram showing an example in which a correction unit 42 in the apparatus shown in FIG. 1 obtains corrected response characteristic data g (Δλ).

【図4】補正された応答特性データg(Δλ)から求め
た、相対ずれ量δxとPDの加算値の相対パワー変動の
関係を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a relationship between relative deviation amount δx and relative power fluctuation of an added value of PD, which is obtained from corrected response characteristic data g (Δλ).

【図5】本発明の第2の実施例を示したブロック構成図
である。
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図6】図4に示す装置における光信号レベルおよび光
SNR演算動作を示すフローチャートである。
6 is a flowchart showing an optical signal level and optical SNR calculation operation in the device shown in FIG.

【図7】従来のWDM信号モニタの実施例を示すブロッ
ク構成図である。
FIG. 7 is a block diagram showing an embodiment of a conventional WDM signal monitor.

【図8】分光器の線スペクトルに対する応答特性例を示
す図である。
FIG. 8 is a diagram showing an example of response characteristics of a spectroscope to a line spectrum.

【図9】図7に示す装置における分光器の構成図であ
る。
9 is a block diagram of a spectroscope in the apparatus shown in FIG. 7. FIG.

【図10】フォトダイオードアレイの一部を示す模式図
である。
FIG. 10 is a schematic view showing a part of a photodiode array.

【図11】フォトダイオードアレイとフォトダイオード
の出力の関係の一例を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing an example of the relationship between the photodiode array and the output of the photodiode.

【図12】応答特性データf(Δλ)から求めた、相対
ずれ量δxとPDの加算値の相対パワー変動の関係を示
す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a relationship between relative deviation amount δx and relative power fluctuation of an added value of PD, which is obtained from response characteristic data f (Δλ).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 分光器 13 回折格子 15 フォトダイオードモジュール 15a〜15e フォトダイオード 20 応答特性データ格納部 30、70 演算部 40 調整部 41 入力手段 42 補正手段 50、60 補正データ格納部 71 SNR演算手段 100、100A、100B 被測定光 10 Spectrometer 13 diffraction grating 15 Photodiode module 15a to 15e Photodiode 20 Response characteristic data storage 30, 70 Operation part 40 Adjuster 41 Input means 42 Correction means 50, 60 Correction data storage section 71 SNR calculation means 100, 100A, 100B Measured light

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04J 14/02 (72)発明者 鈴木 泰幸 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 岡田 頼樹 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 岡田 修平 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 Fターム(参考) 2G020 BA20 CB04 CC02 CC13 CC48 CC63 CD03 CD24 CD36 CD37 5K002 BA05 CA14 DA02 EA05 FA01─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H04J 14/02 (72) Inventor Yasuyuki Suzuki 2-932 Nakamachi, Musashino City, Tokyo Yokogawa Electric Co., Ltd. (72) Inventor Yoruki Okada 2-932 Nakamachi, Musashino City, Tokyo Yokogawa Electric Co., Ltd. (72) Inventor Shuhei Okada 2-932 Nakamachi, Musashino City, Tokyo Yokogawa Electric Co., Ltd. F Term (reference) 2G020 BA20 CB04 CC02 CC13 CC48 CC63 CD03 CD24 CD36 CD37 5K002 BA05 CA14 DA02 EA05 FA01

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 WDM信号のスペクトルを測定する分光
器と、 この分光器の光信号の線スペクトルに対する応答特性デ
ータを格納する応答特性データ格納部と、 前記分光器に入力されるWDM信号の特性が入力され、
このWDM信号の特性と前記応答特性データ格納部の応
答特性データとに基づき、補正データを求める調整部
と、 この調整部によって求められた補正データを格納する補
正データ格納部と、 前記分光器によって測定されたスペクトルと前記補正デ
ータ格納部の補正データに基づいて、前記WDM信号の
少なくとも光信号レベルを演算する演算部とを有するこ
とを特徴とするWDM信号モニタ。
1. A spectroscope for measuring a spectrum of a WDM signal, a response characteristic data storage section for storing response characteristic data for a line spectrum of an optical signal of the spectroscope, and a characteristic of a WDM signal input to the spectroscope. Is entered,
An adjusting unit that obtains correction data based on the characteristic of the WDM signal and the response characteristic data of the response characteristic data storage unit, a correction data storage unit that stores the correction data obtained by the adjusting unit, and the spectroscope. A WDM signal monitor comprising: a calculation unit that calculates at least an optical signal level of the WDM signal based on the measured spectrum and the correction data of the correction data storage unit.
【請求項2】 分光器は、波長軸上で、線スペクトルに
対する応答スペクトルの広がりに比べて、狭い波長幅で
サンプリングデータを測定することを特徴とする請求項
1記載のWDM信号モニタ。
2. The WDM signal monitor according to claim 1, wherein the spectroscope measures sampling data on the wavelength axis with a wavelength width narrower than the spread of the response spectrum with respect to the line spectrum.
【請求項3】 分光器は、 WDM信号を分光する波長分散素子と、 この分光された光を受ける複数のフォトダイオードから
なるフォトダイオードアレイとを有することを特徴とす
る請求項1または2記載のWDM信号モニタ。
3. The spectroscope has a wavelength dispersive element that disperses a WDM signal, and a photodiode array that includes a plurality of photodiodes that receive the dispersed light. WDM signal monitor.
【請求項4】 調整部は、WDM信号を変調する変調方
式と、WDM信号を合波または分波する合波分波器の光
フィルタ特性の少なくとも一方であるWDM信号の特性
により補正データを求めることを特徴とする請求項1〜
3のいずれかに記載のWDM信号モニタ。
4. The adjusting unit obtains correction data based on a WDM signal characteristic that is at least one of a modulation method for modulating a WDM signal and an optical filter characteristic of a multiplexing / demultiplexing apparatus that multiplexes or demultiplexes the WDM signal. Claims 1 to 1 characterized in that
The WDM signal monitor according to any one of 3 above.
【請求項5】 調整部は、応答特性データ格納部の応答
特性データとWDM信号の特性とに基づいて補正された
応答特性データと、この補正された応答特性データから
求めた光パワーを補正する光パワー補正データの少なく
とも一方である補正データを求めることを特徴とする請
求項1〜4のいずれかに記載のWDM信号モニタ。
5. The adjusting section corrects the response characteristic data corrected based on the response characteristic data of the response characteristic data storage section and the characteristic of the WDM signal, and the optical power obtained from the corrected response characteristic data. The WDM signal monitor according to claim 1, wherein correction data that is at least one of optical power correction data is obtained.
【請求項6】 応答特性データ格納部と調整部の少なく
とも一方は、調整時に接続されることを特徴とする請求
項1〜5のいずれかに記載のWDM信号モニタ。
6. The WDM signal monitor according to claim 1, wherein at least one of the response characteristic data storage unit and the adjustment unit is connected at the time of adjustment.
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