JP2003194514A - Displacement measuring instrument - Google Patents

Displacement measuring instrument

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JP2003194514A
JP2003194514A JP2001398748A JP2001398748A JP2003194514A JP 2003194514 A JP2003194514 A JP 2003194514A JP 2001398748 A JP2001398748 A JP 2001398748A JP 2001398748 A JP2001398748 A JP 2001398748A JP 2003194514 A JP2003194514 A JP 2003194514A
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main scanning
displacement
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data
bit width
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To minimize the size of an unused area in a storage section storing displacement data and to shorten transferring time. <P>SOLUTION: A displacement calculating means 12 calculates the displacement data of an object W to be measured from measured signals. A main scanning counter 13 repeatedly counts the main scanning time (t) of laser light of one main scanning amount. An auxiliary scanning counter 15 counts the number of main scanning times of the laser light. An address generating means 19 generates an address composed of a low-order bit showing the count value (a) of the main scanning counter 13, and a high-order bit representing the count value (b) of the auxiliary scanning counter 15. A main scanning speed changing means 18 can change the main scanning speed S of the laser light, and the maximum count value P of the main scanning counter 13 is set based on the main scanning speed S and the main scanning time 5. A bit width changing means 19 changes the bit width allocation between the high- and low-order bits in accordance with the change of the main scanning speed of the laser light. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象に対して
所定の主走査幅でレーザ光を主走査方向に主走査すると
ともに、主走査方向に直交する副走査方向に走査し、測
定対象で反射されたレーザ光を受光して得られる測定信
号から、測定対象位置における変位を三角測量により測
定する変位測定装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is designed to perform a main scanning with a laser beam in a main scanning direction with a predetermined main scanning width, and also to scan in a sub scanning direction orthogonal to the main scanning direction. The present invention relates to a displacement measuring device that measures a displacement at a measurement target position by triangulation from a measurement signal obtained by receiving a reflected laser beam.

【0002】[0002]

【従来の技術】変位測定装置の測定センサは、測定対象
に対して所定の主走査幅でレーザ光を主走査方向に主走
査する走査投光部と、測定対象で反射されたレーザ光を
受光する受光素子を有する。測定対象の変位測定に際し
ては、測定センサは、測定対象に対し主走査方向にレー
ザ光を走査しつつ、測定対象が載置されている不図示の
搬送部が主走査方向に直交する副走査方向へ移動する。
そして、受光素子から得られる測定信号により、測定対
象の変位を非接触で測定する。
2. Description of the Related Art A measuring sensor of a displacement measuring device includes a scanning light-projecting unit for main-scanning a laser beam in a main-scanning direction with a predetermined main-scanning width, and a laser beam reflected by the target. It has a light receiving element that operates. When measuring the displacement of the measurement object, the measurement sensor scans the laser light in the main scanning direction with respect to the measurement object, and the transport unit (not shown) on which the measurement object is placed is orthogonal to the main scanning direction in the sub-scanning direction. Move to.
Then, the displacement of the measurement target is measured in a non-contact manner by the measurement signal obtained from the light receiving element.

【0003】図13は、従来の変位測定装置50の信号
処理系統を示す概略ブロック図である。受光素子51に
レーザ光が結像されると、その結像位置に基づく一対の
電流信号が変位演算手段52に出力される。変位演算手
段52は、この電流信号により変位演算処理を実行し、
測定対象の変位及び輝度からなる変位データを算出す
る。
FIG. 13 is a schematic block diagram showing a signal processing system of a conventional displacement measuring device 50. When the laser light is imaged on the light receiving element 51, a pair of current signals based on the imaged position is output to the displacement calculation means 52. The displacement calculation means 52 executes displacement calculation processing by this current signal,
Displacement data including displacement and brightness of the measurement target is calculated.

【0004】変位演算手段52に並列して、主走査カウ
ンタ53と副走査カウンタ54とアドレス生成部55
と、が設けられている。三角測量を用いたレーザ変位計
では、測定対象の高さの変位により、測定ポイントにず
れが生じる。このずれを補正するために、副走査方向の
アドレスを補正することを前提とすると、アドレス生成
部55にて生成されるアドレスは、主走査方向の計数値
が下位ビットと、副走査方向の計数値が上位ビットと、
に分けて構成される。したがって、主走査方向及び副走
査方向の最大計数値は2のべき乗となる。
In parallel with the displacement calculation means 52, a main scanning counter 53, a sub-scanning counter 54 and an address generating section 55.
And are provided. In the laser displacement meter using triangulation, the displacement of the height of the measurement target causes a shift in the measurement point. In order to correct this shift, assuming that the address in the sub-scanning direction is corrected, the address generated by the address generation unit 55 has a count value in the main-scanning direction of the lower bit and a count in the sub-scanning direction. The numerical value is the high-order bit,
It is divided into two parts. Therefore, the maximum count value in the main scanning direction and the sub scanning direction is a power of 2.

【0005】主走査カウンタ53は、レーザ光の走査幅
分の主走査時間を繰り返し計数する。副走査カウンタ5
4は、主走査カウンタ53の計数値がレーザ光の一主走
査幅の主走査時間(例えば計数値3000)に達する
と、不図示の搬送部の搬送により相対的に測定対象が副
走査方向に移動するとともに、副走査カウンタ54で計
数され、上位ビットがキャリーアップする。主走査カウ
ンタ53の計数値と副走査カウンタ54の計数値は、ア
ドレス生成部55へ出力される。
The main scanning counter 53 repeatedly counts the main scanning time corresponding to the scanning width of the laser light. Sub-scanning counter 5
4 indicates that when the count value of the main scanning counter 53 reaches the main scanning time of one main scanning width of the laser light (for example, the count value 3000), the measurement target is relatively moved in the sub-scanning direction by the conveyance of the conveyance unit (not shown) As it moves, the sub-scanning counter 54 counts and the upper bits carry up. The count value of the main scanning counter 53 and the count value of the sub-scanning counter 54 are output to the address generator 55.

【0006】変位データはアドレス生成部55で生成さ
れたアドレス順に小容量メモリである記憶部56に格納
される。図14(a)は、記憶部56内の変位データの
格納状態を示す図である。図14(a)において、一主
走査分の最大計数値は2のべき乗(12ビット;409
6)であるのに対し、一主走査分の変位データ数は30
00データである。ここで、このデータ数は、測定セン
サの光学系の性能,レーザ光の主走査幅,受光素子の応
答性,後段の画像処理における分解能により決定される
値であるため、主走査方向の下位ビットの最大計数値で
ある2のべき乗と一致しない。これにより記億部56内
に変位データが格納されていない未使用領域が生じる。
The displacement data are stored in the memory 56, which is a small capacity memory, in the order of addresses generated by the address generator 55. FIG. 14A is a diagram showing a storage state of displacement data in the storage unit 56. In FIG. 14A, the maximum count value for one main scanning is a power of 2 (12 bits; 409).
6), the number of displacement data for one main scan is 30
00 data. Here, this number of data is a value determined by the performance of the optical system of the measurement sensor, the main scanning width of the laser light, the response of the light receiving element, and the resolution in the image processing in the subsequent stage, and therefore the lower bit in the main scanning direction Does not match the power of 2 which is the maximum count value of. As a result, an unused area in which the displacement data is not stored is generated in the storage unit 56.

【0007】なお、格納されたデータが所定量に達する
と、大容量メモリ57へ一括転送する。
When the stored data reaches a predetermined amount, it is collectively transferred to the large capacity memory 57.

【0008】変位測定装置50には、後段の画像処理に
おける分解能に応じて測定センサの主走査速度を調整す
る機能を有している。例えば主走査速度を2倍にする
と、レーザ光の一主走査幅の主走査時間が1/2とな
り、そのときの主走査カウンタにおける一主走査分の計
数値は1500となる。したがって、分解能も半分にな
る。
The displacement measuring device 50 has a function of adjusting the main scanning speed of the measuring sensor according to the resolution in the image processing in the subsequent stage. For example, if the main scanning speed is doubled, the main scanning time of one main scanning width of the laser light becomes 1/2, and the count value for one main scanning in the main scanning counter at that time becomes 1500. Therefore, the resolution is also halved.

【0009】しかしながら、主走査速度を2倍にして主
走査カウンタ53の計数値が1500となると、下位ビ
ットの最大値との差が拡大する。したがって、記憶部5
6内の変位データの格納状態は、図14(b)に示すよ
うに、変位データが格納されない未使用領域が増加した
状態となり、記憶部の格納領域を有効利用することがで
きないこととなる。また、これにより、記憶部56から
データ転送を実行する場合、未使用領域内の未使用領域
データの転送量が多くなるとともに、変位データの転送
量が減少し、全体的に変位データのテータ転送時間が増
大することとなる。すなわち、一主走査分の変位データ
のデータ数が半減しているにもかかわらず、データ転送
回数が変わらないので、変位データに対するデータ転送
効率が悪化することとなる。またこれにより、転送時間
が増大すると、後段での画像処理も遅延することとな
る。
However, when the main scanning speed is doubled and the count value of the main scanning counter 53 becomes 1500, the difference from the maximum value of the lower bits increases. Therefore, the storage unit 5
As shown in FIG. 14B, the storage state of the displacement data in 6 is such that the unused area where the displacement data is not stored is increased, and the storage area of the storage unit cannot be effectively used. Further, as a result, when data transfer is executed from the storage unit 56, the transfer amount of the unused area data in the unused area increases and the transfer amount of the displacement data decreases, and the data transfer of the displacement data as a whole is performed. Time will increase. That is, although the number of pieces of displacement data for one main scan is halved, the number of times of data transfer does not change, so that the data transfer efficiency for displacement data deteriorates. Further, as a result, if the transfer time increases, the image processing in the subsequent stage will also be delayed.

【0010】一方、主走査速度を例えば1/2にする
と、レーザ光の一主走査幅の主走査時間が2倍となり、
そのときの主走査カウンタにおける一主走査分の計数値
は6000となる。これにより、下位ビットの最大計数
値である2のべき乗(4096)を超えてしまうことと
なり、超えた部分のアドレスが生成されず、そのアドレ
スに対応する変位データが格納できないこととなる。す
なわち、測定センサで測定可能であっても、変位データ
の格納場所がないため、変位データが無駄になることと
なる。
On the other hand, if the main scanning speed is halved, for example, the main scanning time of one main scanning width of the laser beam is doubled,
The count value for one main scan in the main scan counter at that time is 6000. As a result, the maximum count value of the lower bits exceeds the power of 2 (4096), the address of the excess part is not generated, and the displacement data corresponding to the address cannot be stored. That is, even if the measurement can be performed by the measurement sensor, there is no storage place for the displacement data, so the displacement data is wasted.

【0011】これらのことから、アドレスの下位ビット
のビット幅を固定しておくと、測定センサの主走査速度
の調整に対応できないこととなり、測定された測定対象
の変位を画像処理する場合において、その分解能を段階
的に設定することができないこととなる。
From these things, if the bit width of the lower bits of the address is fixed, it cannot cope with the adjustment of the main scanning speed of the measuring sensor, and when the measured displacement of the measuring object is image-processed, The resolution cannot be set stepwise.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記従来技
術の問題点を解消するためになされたものであって、そ
の目的とするところは、レーザ光の主走査速度の変化に
応じてアドレスのビット幅を調整することにより、変位
データが格納される記憶部内の未使用領域の最小化を図
ることにある。またこれにより、記憶部内への変位デー
タの格納領域の効率化を図ることにある。更に、効率的
に記憶部内に格納されたデータを一括転送することによ
り、転送時間の短縮化を図ることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and its purpose is to address an address in accordance with a change in the main scanning speed of laser light. It is intended to minimize the unused area in the storage unit in which the displacement data is stored by adjusting the bit width of. Further, by doing so, the efficiency of the storage area of the displacement data in the storage unit can be improved. Furthermore, the transfer time can be shortened by efficiently transferring the data stored in the storage unit collectively.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ための手段を添付した図を用いて説明する。本発明の請
求項1記載の変位測定装置は、測定対象Wに対して所定
の主走査幅dでレーザ光を主走査方向Xに主走査すると
ともに、前記主走査方向に直交する副走査方向Yに走査
し、前記測定対象で反射された前記レーザ光を受光して
得られる測定信号から、測定対象位置における変位を三
角測量により測定する変位測定装置であって、前記測定
信号から前記測定対象の変位データを演算処理する変位
演算手段12と、前記レーザ光の前記一主走査中の主走
査時間tを計数する主走査カウンタ13と、前記レーザ
光の主走査回数を計数する副走査カウンタ15と、前記
レーザ光の主走査速度Sを制御し、該主走査速度に基づ
いて前記主走査カウンタの最大計数値を設定する主走査
速度制御手段18と、前記主走査カウンタの計数値aを
表す下位ビットと前記副走査カウンタの計数値bを表す
上位ビットとからなるアドレスデータを生成するアドレ
ス生成手段16と、前記レーザ光の主走査速度の変化に
従って、前記上位ビットと前記下位ビットとのビット幅
配分を調整するビット幅調整手段19と、を具備するこ
とを特徴とする。
A means for solving the above-mentioned problems will be described with reference to the accompanying drawings. The displacement measuring apparatus according to claim 1 of the present invention main-scans a laser beam with a predetermined main-scanning width d in the main-scanning direction X with respect to the measurement target W, and also sub-scanning direction Y orthogonal to the main-scanning direction. Scanning, from the measurement signal obtained by receiving the laser light reflected by the measurement target, a displacement measuring device for measuring the displacement at the measurement target position by triangulation, of the measurement signal from the measurement signal A displacement calculator 12 for calculating displacement data, a main scanning counter 13 for counting a main scanning time t of the laser beam during the one main scanning, and a sub-scanning counter 15 for counting the number of main scannings of the laser beam. , A main scanning speed control means 18 for controlling a main scanning speed S of the laser light and setting a maximum count value of the main scanning counter on the basis of the main scanning speed; Address generating means 16 for generating address data consisting of bits and upper bits representing the count value b of the sub-scanning counter, and the bit width of the upper bits and the lower bits in accordance with the change in the main scanning speed of the laser light. And a bit width adjusting means 19 for adjusting distribution.

【0014】また請求項2記載の変位測定装置は、請求
項1記載の変位測定装置において、前記ビット幅調整手
段は、一の主走査で得られた変位データが格納される最
後のアドレスから、次の主走査で得られる変位データが
格納される最初のアドレスまでのアドレス間隔Gが、前
記一主走査分の変位データのデータ長未満となるよう
に、前記上位ビットと前記下位ビットとのビット幅配分
を調整することを特徴とする。
A displacement measuring device according to a second aspect is the displacement measuring device according to the first aspect, wherein the bit width adjusting means starts from a last address where displacement data obtained by one main scan is stored. Bits of the high-order bit and the low-order bit so that an address interval G to the first address where displacement data obtained in the next main scan is stored is less than the data length of the displacement data for one main scan. It is characterized by adjusting the width distribution.

【0015】更に請求項3記載の変位測定装置は、請求
項1記載の変位測定装置において、前記ビット幅調整手
段は、前記上位ビットと前記下位ビットとのビット幅配
分を、数式U−P<U/Kを満たすように調整すること
を特徴とする。ただし、Uはビット幅調整後の下位ビッ
トの最大計数値。Pは変速された主走査速度に応じて設
定された主走査カウンタの最大計数値。Kは下位ビット
の基数。
Further, in the displacement measuring device according to claim 3, in the displacement measuring device according to claim 1, the bit width adjusting means calculates a bit width distribution between the upper bits and the lower bits by a mathematical expression UP−P < It is characterized in that it is adjusted so as to satisfy U / K. However, U is the maximum count value of lower bits after bit width adjustment. P is the maximum count value of the main scanning counter set according to the changed main scanning speed. K is the radix of the lower bits.

【0016】また請求項4記載の変位測定装置は、請求
項1〜3のいずれかに記載の変位測定装置において、前
記アドレスデータに従って前記変位データが格納される
記憶手段20と、前記記憶手段内に格納された前記変位
データを前記記憶手段内の未使用領域内データとともに
転送する転送手段17と、を具備することを特徴とす
る。
A displacement measuring device according to a fourth aspect is the displacement measuring device according to any one of the first to third aspects, in which the displacement data is stored in accordance with the address data, and the storage means And a transfer unit 17 for transferring the displacement data stored in the storage unit together with the data in the unused area in the storage unit.

【0017】測定対象Wに向けてレーザ光が所定の主走
査幅d分主走査方向Xに走査する。一主走査分主走査さ
れる都度、主走査方向Xに直交する副走査方向Yに走査
する。走査されたレーザ光は測定対象Wから反射され受
光素子9に受光される。受光素子9上の受光位置に基づ
く測定信号が出力される。変位演算手段12は、出力さ
れた測定信号に基づき測定対象Wの変位データを算出す
る。
Laser light is scanned toward the object W to be measured in the main scanning direction X by a predetermined main scanning width d. Each time main scanning is performed by one main scanning, scanning is performed in the sub-scanning direction Y orthogonal to the main scanning direction X. The scanned laser light is reflected from the measuring object W and received by the light receiving element 9. A measurement signal based on the light receiving position on the light receiving element 9 is output. The displacement calculator 12 calculates the displacement data of the measurement target W based on the output measurement signal.

【0018】一方、主走査カウンタ13では一主走査分
のレーザ光の主走査時間tが繰り返し計数される。ま
た、副走査カウンタ15では主走査分主走査したレーザ
光の主走査回数も計数される。主走査カウンタ13の計
数値aはアドレスの下位ビットへ出力され、副走査カウ
ンタ15の計数値bはアドレスの上位ビットへ出力され
て、記憶手段20へのアドレスとなる。
On the other hand, the main scanning counter 13 repeatedly counts the main scanning time t of the laser light for one main scanning. Further, the sub-scanning counter 15 also counts the number of main scans of the laser beam that has been main-scanned for the main scan. The count value a of the main scanning counter 13 is output to the lower bits of the address, and the count value b of the sub-scanning counter 15 is output to the upper bits of the address to be the address to the storage means 20.

【0019】生成された各アドレスは記憶手段20に出
力される。各変位データはアドレスごとに格納され、後
段の画像処理手段に対する位置情報となる。
Each generated address is output to the storage means 20. Each displacement data is stored for each address and serves as position information for the image processing unit in the subsequent stage.

【0020】次に、主走査速度Sを変速する。変速後の
主走査速度Sと一主走査分の主走査時間tに基づいて主
走査カウンタ13の最大計数値Pが設定される。そし
て、上位ビットと下位ビットとのビット幅配分が調整さ
れる。これにより、ビット幅を固定した場合と比較し
て、測定センサ1の主走査速度Sの変化に対応でき、測
定された測定対象Wの変位を画像処理する場合におい
て、その分解能を段階的に設定することが可能となる。
Next, the main scanning speed S is changed. The maximum count value P of the main scanning counter 13 is set based on the main scanning speed S after the shift and the main scanning time t for one main scanning. Then, the bit width distribution between the upper bits and the lower bits is adjusted. As a result, compared with the case where the bit width is fixed, it is possible to cope with the change in the main scanning speed S of the measurement sensor 1, and when the measured displacement of the measurement target W is subjected to image processing, the resolution is set stepwise. It becomes possible to do.

【0021】ビット幅調整後、測定対象Wを搬送する
と、変位データが算出されるとともにアドレスが生成さ
れる。変位データはアドレスに従って記憶手段20に格
納される。
When the measuring object W is conveyed after the bit width adjustment, displacement data is calculated and an address is generated. The displacement data is stored in the storage means 20 according to the address.

【0022】記憶手段20の格納状態は、一の主走査で
得られた変位データの最後のアドレスから、次の主走査
で得られる変位データの最初のアドレスまでのアドレス
間隔Gが、一主走査分の変位データのデータ長未満とな
る。
The storage state of the storage means 20 is such that the address interval G from the last address of the displacement data obtained in one main scan to the first address of the displacement data obtained in the next main scan is one main scan. It is less than the data length of minute displacement data.

【0023】換言すれば、下位ビットの最大計数値U
と、変速された主走査速度Sに応じて設定された主走査
カウンタ13の最大計数値Pとの差は、ビット幅の調整
後において、下位ビットの最大計数値Uの1/K未満と
なる。この差分がアドレス間隔Gとなり、一主走査分の
未使用領域データ数となる。
In other words, the maximum count value U of the lower bits
And the maximum count value P of the main scan counter 13 set according to the changed main scan speed S is less than 1 / K of the maximum count value U of the lower bits after the adjustment of the bit width. . This difference becomes the address interval G, which is the number of unused area data for one main scan.

【0024】格納された変位データを未使用領域データ
とともに転送する。ビット幅調整により未使用領域デー
タ数が少なくなるため、未使用領域データの転送量が減
少できるとともに、変位データの転送量を増大すること
ができる。またこれにより、全体の変位データの転送時
間を短縮化できる。
The stored displacement data is transferred together with the unused area data. Since the number of unused area data is reduced by adjusting the bit width, the transfer amount of unused area data can be reduced and the transfer amount of displacement data can be increased. Further, this makes it possible to shorten the transfer time of the entire displacement data.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】図1は変位測定装置による測定状
態を示す図である。図1(a)及び図1(b)に示すよ
うに、測定センサ1を測定対象W(例えば電子部品)に
向けてレーザ光を主走査方向Xに走査するとともに、測
定対象Wを主走査方向Xと直交する副走査方向Yに搬送
する。変位測定装置10では、測定対象Wから反射され
たレーザ光により、図1(c)に示す距離画像が生成さ
れる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a diagram showing a measurement state by a displacement measuring device. As shown in FIGS. 1A and 1B, the measurement sensor 1 is scanned toward the measurement target W (for example, an electronic component) with laser light in the main scanning direction X, and the measurement target W is scanned in the main scanning direction. The sheet is conveyed in the sub-scanning direction Y orthogonal to X. In the displacement measuring device 10, the distance image shown in FIG. 1C is generated by the laser light reflected from the measuring object W.

【0026】図2は、測定センサ1を示す概略図であ
る。測定センサ1は、投光部2と受光部6とで略構成さ
れる。投光部2は、レーザ光源3とポリゴンミラーが内
蔵された走査手段4と投光レンズ5からなる走査型投光
部である。走査部は、図3に示すように、レーザ光を走
査する走査器4aと、走査器4aを所定速度で回転させ
る駆動部4bと、主走査開始手段4cと、で構成され
る。走査器4aは、例えばポリゴンミラーやガルバノミ
ラー等とされている。レーザ光源3から出射されたレー
ザ光は、ポリゴンミラー4aの回転により、測定対象W
に対して所定の主走査幅d分主走査するようになってい
る。
FIG. 2 is a schematic diagram showing the measurement sensor 1. The measurement sensor 1 is substantially composed of a light projecting section 2 and a light receiving section 6. The light projecting unit 2 is a scanning type light projecting unit including a laser light source 3, a scanning unit 4 having a polygon mirror built therein, and a light projecting lens 5. As shown in FIG. 3, the scanning unit is composed of a scanner 4a for scanning the laser light, a drive unit 4b for rotating the scanner 4a at a predetermined speed, and a main scanning start means 4c. The scanner 4a is, for example, a polygon mirror or a galvanometer mirror. The laser light emitted from the laser light source 3 is measured by the rotation of the polygon mirror 4a.
On the other hand, the main scanning is performed by a predetermined main scanning width d.

【0027】また、主走査開始手段4cは、例えば投光
部2に設けられた光検出器であり、ポリゴンミラーの回
転により走査されたレーザ光が遮蔽物により遮断された
ことを検出し、主走査開始信号を主走査カウンタ28に
出力する。
The main scanning starting means 4c is, for example, a photodetector provided in the light projecting section 2 and detects that the laser beam scanned by the rotation of the polygon mirror is blocked by a shield. The scanning start signal is output to the main scanning counter 28.

【0028】受光部6は、受光レンズ7と結像レンズ8
と受光素子9で構成され、測定対象Wから反射されたレ
ーザ光を受光レンズ7で平行光にし、結像レンズ8にて
受光素子9上に一点の光スポットとして結像させる。光
スポットは投光部2のレーザ光の走査に追従して受光素
子9上を移動する。
The light receiving section 6 includes a light receiving lens 7 and an image forming lens 8.
The laser light reflected from the measuring object W is collimated by the light receiving lens 7 and is imaged as a single light spot on the light receiving element 9 by the imaging lens 8. The light spot moves on the light receiving element 9 following the scanning of the laser light of the light projecting unit 2.

【0029】測定対象Wは、不図示の搬送部に載置され
ている。搬送部には駆動機構が備えられており、主走査
方向Xに直交する副走査方向Yに等速度移動する。
The object W to be measured is placed on a transport unit (not shown). The transport unit is provided with a drive mechanism and moves at a constant speed in the sub-scanning direction Y orthogonal to the main scanning direction X.

【0030】図3は、変位測定装置の信号処理系統を示
す概略ブロック図である。信号処理ボードには、CPU
11と記憶手段20が搭載されており、入力側は測定セ
ンサ1と接続可能であり、出力側は汎用バスを介してパ
ソコン30と接続される。
FIG. 3 is a schematic block diagram showing a signal processing system of the displacement measuring device. The signal processing board has a CPU
11 and storage means 20 are mounted, the input side can be connected to the measurement sensor 1, and the output side is connected to the personal computer 30 via a general-purpose bus.

【0031】CPU11は、例えばプログラムを書き込
み可能な高集積ロジック回路からなり、変位演算手段1
2と主走査カウンタ13とCLK14と副走査カウンタ
15とアドレス生成手段16と転送手段17と主走査速
度制御手段18とビット幅調整手段19とで機能的に表
現される。
The CPU 11 is composed of, for example, a highly integrated logic circuit capable of writing a program, and the displacement calculating means 1
2, the main scanning counter 13, the CLK 14, the sub scanning counter 15, the address generating means 16, the transfer means 17, the main scanning speed control means 18, and the bit width adjusting means 19.

【0032】受光素子9にレーザ光が結像されると、そ
の結像位置に基づく増幅された一対の測定信号が変位演
算手段12に出力される。変位演算手段12は、この測
定信号により変位演算処理を実行し、測定対象Wの変位
及び輝度からなる変位データを算出する。
When the laser light is imaged on the light receiving element 9, a pair of amplified measurement signals based on the imaged position is output to the displacement calculating means 12. The displacement calculation means 12 executes displacement calculation processing based on this measurement signal, and calculates displacement data including the displacement and brightness of the measurement target W.

【0033】主走査カウンタ13は、レーザ光の一主走
査分の主走査時間を繰り返し計数する。主走査カウンタ
13には主走査開始信号とクロックパルスが入力され
る。そして、主走査開始信号が入力されてからクロック
パルスのパルス数を計数する。計数されたクロックパル
ス数が後述する主走査カウンタ13の最大計数値に達す
ると、副走査カウンタ15にキャリーアップ信号を出力
するとともに、主走査カウンタ13の計数値aをリセッ
トする。なお、主走査カウンタ13の最大計数値は、後
述する主走査速度制御手段18における変速により増減
された最大計数値に更新される。副走査カウンタ15
は、主走査カウンタ13からのキャリーアップ信号を入
力する都度、計数する。
The main scanning counter 13 repeatedly counts the main scanning time for one main scanning of the laser light. A main scan start signal and a clock pulse are input to the main scan counter 13. Then, the number of clock pulses is counted after the main scanning start signal is input. When the number of counted clock pulses reaches the maximum count value of the main scanning counter 13 described later, a carry-up signal is output to the sub-scanning counter 15 and the count value a of the main scanning counter 13 is reset. The maximum count value of the main scanning counter 13 is updated to the maximum count value that is increased / decreased by the shift in the main scanning speed control means 18 described later. Sub-scanning counter 15
Counts each time the carry-up signal from the main scanning counter 13 is input.

【0034】アドレス生成手段16は、変位データを記
憶手段20に格納するため、記憶手段20のアドレスデ
ータを生成する。アドレスデータは、主走査カウンタ1
3の計数値aを表す下位ビットと、副走査カウンタ15
の計数値bを表す上位ビットと、で構成される。上位ビ
ット及び下位ビットは同一の基数Kである。例えば、K
=2であれば2進数、K=8であれば8進数、K=10
であれば10進数、K=16であれば16進数で表され
る。アドレスデータのアドレス長は、下位ビットのビッ
ト幅uと上位ビットのビット幅hを合計したものであ
る。したがって、下位ビットの最大計数値Uは、Kのu
乗となる。また、上位ビットの最大計数値HはKのh乗
となる。
The address generation means 16 generates the address data of the storage means 20 in order to store the displacement data in the storage means 20. Address data is the main scan counter 1
Lower bit representing the count value a of 3 and the sub-scanning counter 15
And a high-order bit representing the count value b of. The high-order bit and the low-order bit have the same radix K. For example, K
= 2 is a binary number, K = 8 is an octal number, K = 10
If it is, it is expressed in decimal, and if K = 16, it is expressed in hexadecimal. The address length of the address data is the sum of the bit width u of the lower bits and the bit width h of the upper bits. Therefore, the maximum count value U of the lower bits is u of K.
It becomes a square. Also, the maximum count value H of the upper bits is K to the h-th power.

【0035】アドレスデータの下位ビットには、主走査
カウンタ13の計数値aが順次書き込まれ、アドレスデ
ータの上位ビットには、副走査カウンタ15の計数値b
が順次書き込まれる。生成されたアドレスデータは、順
次、記憶手段20に出力される。
The count value a of the main scanning counter 13 is sequentially written in the lower bits of the address data, and the count value b of the sub-scanning counter 15 is written in the upper bits of the address data.
Are sequentially written. The generated address data is sequentially output to the storage means 20.

【0036】主走査速度制御手段18は、レーザ光の主
走査速度を変速自在である。すなわち、一主走査(1ラ
イン)の主走査時間をt,主走査幅をdとすると、主走
査速度S(S=ns)はns=d/tである。nは主走
査速度sの速度増減値である。また、主走査時間tはク
ロックパルス数pに対応する。したがって、主走査速度
nsは、ns=nd/p=d/(p/n)となる。(p
/n)は主走査カウンタ13の最大計数値Pである。n
=1のときは通常の主走査速度とすると、0<n<1の
ときは主走査カウンタ13の最大計数値Pが増加し、1
<nのときは主走査カウンタ13の最大計数値Pが減少
する。
The main scanning speed control means 18 can change the main scanning speed of the laser beam. That is, when the main scanning time for one main scanning (one line) is t and the main scanning width is d, the main scanning speed S (S = ns) is ns = d / t. n is a speed increase / decrease value of the main scanning speed s. The main scanning time t corresponds to the clock pulse number p. Therefore, the main scanning speed ns is ns = nd / p = d / (p / n). (P
/ N) is the maximum count value P of the main scanning counter 13. n
When the main scanning speed is normal when = 1, the maximum count value P of the main scanning counter 13 increases when 0 <n <1, and 1
When <n, the maximum count value P of the main scanning counter 13 decreases.

【0037】主走査速度制御手段18で設定された主走
査速度nsは、走査手段4の駆動部4bに出力される。
駆動部4bでは入力された主走査速度nsに応じて走査
器4aを回転させる。また、主走査速度制御手段18で
設定された主走査速度nsに対応する主走査カウンタ1
3の最大計数値p/nは、ビット幅調整手段19に出力
されるとともに、主走査カウンタ13に出力される。
The main scanning speed ns set by the main scanning speed control means 18 is output to the drive section 4b of the scanning means 4.
The driving unit 4b rotates the scanner 4a according to the input main scanning speed ns. Further, the main scanning counter 1 corresponding to the main scanning speed ns set by the main scanning speed control means 18.
The maximum count value p / n of 3 is output to the bit width adjusting means 19 and the main scanning counter 13.

【0038】ビット幅調整手段19は、入力された主走
査カウンタ13の最大計数値p/nに基づいてアドレス
の上位ビットのビット幅hと下位ビットのビット幅uの
配分を調整する。調整後においては、調整後の下位ビッ
トの最大計数値Uと、変速された主走査速度に応じて設
定された主走査カウンタ13の最大計数値P(P=p/
n)との差G(G=U−P)が、調整後における下位ビ
ットの最大計数値Uの1/K未満(G<U/K)とす
る。なお、この差分Gは、一の主走査で得られた変位デ
ータが格納される最後のアドレスから、次の主走査で得
られる変位データが格納される最初のアドレスまでのア
ドレス間隔であり、1回の主走査により発生する未使用
領域データ数となる。
The bit width adjusting means 19 adjusts the distribution of the bit width h of the high-order bits and the bit width u of the low-order bits of the address based on the maximum count value p / n of the input main scanning counter 13. After the adjustment, the adjusted maximum count value U of the lower-order bits and the maximum count value P of the main scanning counter 13 set according to the changed main scanning speed (P = p /
n), the difference G (G = UP) is less than 1 / K (G <U / K) of the maximum count value U of the lower bits after adjustment. The difference G is an address interval from the last address where the displacement data obtained in one main scan is stored to the first address where the displacement data obtained in the next main scan is stored. It is the number of unused area data generated by one main scan.

【0039】記憶手段20は、小容量メモリで構成さ
れ、アドレス生成手段16から出力された各アドレスに
従って変位データが格納される。転送手段17は、記憶
手段20内の残存容量又は格納されたデータの容量を検
知して、パソコン30側の大容量メモリ31に、記憶手
段20内に格納された変位データを、記憶手段20内の
未使用領域データとともに転送する。これを繰り返すこ
とで測定画像を得る。すなわち、記憶手段20と転送手
段17とでリングバッファを構成する。
The storage means 20 is composed of a small capacity memory and stores displacement data in accordance with each address output from the address generation means 16. The transfer means 17 detects the remaining capacity in the storage means 20 or the capacity of the stored data, and stores the displacement data stored in the storage means 20 in the large capacity memory 31 of the personal computer 30 side. Transfer with unused area data. A measurement image is obtained by repeating this. That is, the storage unit 20 and the transfer unit 17 form a ring buffer.

【0040】信号処理ボードが接続されるパソコン30
には、画像処理手段32と大容量メモリ31が設けられ
ている。画像処理手段32は、パソコン30にインスト
ールされた画像処理プログラムである。画像処理プログ
ラムはパソコン30のCPUにより実行可能とされてい
る。大容量メモリ31は、例えばパソコン30のHDD
等の大容量メモリであり、複数回のデータ転送により転
送されるデータが充分に格納可能な格納領域を有する。
表示手段33は、例えば液晶ディスプレイ等で構成され
る。そして、信号処理ボードの記憶手段20に一時的に
保持された変位データZ及び輝度データGが、汎用バス
を介して随時大容量メモリ31に転送されると、画像処
理手段32により、例えば測定対象Wの姿勢認識や形状
測定が行われる。また、測定画像は表示手段33によっ
てモニタ表示が可能である。
Personal computer 30 to which the signal processing board is connected
An image processing means 32 and a large capacity memory 31 are provided in the. The image processing means 32 is an image processing program installed in the personal computer 30. The image processing program can be executed by the CPU of the personal computer 30. The large-capacity memory 31 is, for example, the HDD of the personal computer 30.
Etc., and has a storage area in which data transferred by a plurality of data transfers can be sufficiently stored.
The display unit 33 is composed of, for example, a liquid crystal display or the like. Then, when the displacement data Z and the brightness data G temporarily stored in the storage means 20 of the signal processing board are transferred to the large-capacity memory 31 via the general-purpose bus at any time, the image processing means 32 causes, for example, a measurement target. Posture recognition and shape measurement of W are performed. The measurement image can be displayed on the monitor by the display unit 33.

【0041】図6(a)は、記憶手段20内の変位デー
タの格納状態を示す図である。アドレスは、各主走査で
は、主走査カウンタ13の最大計数値と同じP個のアド
レスが連続して生成される。主走査カウンタ13が最大
計数値Pに達すると副走査カウンタ15が計数されてア
ドレスがUに遷移するため、主走査カウンタ13の最大
計数値Pから下位ビットの最大計数値U(Kのu乗)ま
でのアドレスに変位データは書き込まれず、未使用領域
データとなる。したがって、変位データが格納されてい
るアドレスは、1〜P,U〜P+U,2U〜P+2U,
3U〜P+3U,…,bU〜P+bUとなる(bは副走
査カウンタ15の計数値)。
FIG. 6A is a diagram showing the storage state of the displacement data in the storage means 20. In each main scan, P addresses, which are the same as the maximum count value of the main scan counter 13, are continuously generated. When the main scanning counter 13 reaches the maximum count value P, the sub-scanning counter 15 is counted and the address transits to U. Therefore, from the maximum count value P of the main scan counter 13 to the maximum count value U of lower bits (K to the u-th power). The displacement data is not written to the addresses up to () and becomes unused area data. Therefore, the addresses where the displacement data are stored are 1 to P, U to P + U, 2U to P + 2U,
3U to P + 3U, ..., bU to P + bU (b is the count value of the sub-scanning counter 15).

【0042】次に本実施の形態の作用について説明す
る。まず、測定対象Wに対して測定センサ1からレーザ
光を主走査方向Xに主走査するとともに、測定対象Wを
副走査方向Yに移動してレーザ光を副走査する。
Next, the operation of this embodiment will be described. First, the measurement sensor 1 performs main scanning in the main scanning direction X on the measurement target W, and moves the measurement target W in the sub scanning direction Y to perform sub scanning with the laser light.

【0043】測定対象Wから反射されたレーザ光は受光
素子9に結像され、結像位置に応じた測定信号が出力さ
れる。出力された測定信号は、変位演算手段12に入力
され、変位データを出力する。
The laser beam reflected from the measuring object W is imaged on the light receiving element 9, and a measurement signal corresponding to the image forming position is output. The output measurement signal is input to the displacement calculator 12 and outputs displacement data.

【0044】一方、走査手段4から主走査開始信号が出
力されると(ST1)、主走査カウンタ13はクロック
パルス数aを計数を開始する(ST2)。主走査カウン
タ13の計数値aが主走査カウンタ13の最大計数値P
以下であるとき(ST2−NO)、主走査カウンタ13
の計数値aは1つ上昇し(ST3)、順次アドレス生成
手段16へ出力されて、アドレスを生成する(ST
4)。生成されたアドレスは記憶手段20に出力され、
生成されたアドレスに変位データが格納される(ST
5)。主走査カウンタ13の計数値aが主走査カウンタ
13の最大計数値Pを超えたとき(ST2−YES)、
主走査カウンタ13の計数値は0にリセットされ、副走
査カウンタ15の計数値bが1つ上昇し(ST6)、副
走査カウンタ15の計数値bは上位ビットの1桁目のビ
ット、すなわち、アドレス全体ではu+1桁目に出力さ
れる。
On the other hand, when the main scanning start signal is output from the scanning means 4 (ST1), the main scanning counter 13 starts counting the clock pulse number a (ST2). The count value a of the main scanning counter 13 is the maximum count value P of the main scanning counter 13.
When it is below (ST2-NO), the main scanning counter 13
1 is incremented by 1 (ST3) and sequentially output to the address generation means 16 to generate an address (ST).
4). The generated address is output to the storage means 20,
The displacement data is stored in the generated address (ST
5). When the count value a of the main scanning counter 13 exceeds the maximum count value P of the main scanning counter 13 (ST2-YES),
The count value of the main scanning counter 13 is reset to 0, the count value b of the sub-scanning counter 15 is increased by 1 (ST6), and the count value b of the sub-scanning counter 15 is the first digit bit of the upper bits, that is, The entire address is output at the u + 1th digit.

【0045】記憶手段20内の残存容量が下位ビットの
最大計数値U以上であるとき(ST7−NO)、ST2
に移行する。そして、ST3において副走査カウンタ1
5が計数されてから最初に計数され、ST4において主
走査カウンタ13の計数値aにより生成されたアドレス
は、直前に生成されたアドレスとは連続しておらず、そ
の間のアドレスが生成されていないため、記憶手段20
内に未使用領域が存在することとなる。
When the remaining capacity in the storage means 20 is equal to or larger than the maximum count value U of the lower bits (ST7-NO), ST2
Move to. Then, in ST3, the sub-scanning counter 1
5 is counted first, then the address generated by the count value a of the main scanning counter 13 in ST4 is not continuous with the address generated immediately before, and the address between them is not generated. Therefore, the storage means 20
There will be an unused area inside.

【0046】そして、記憶手段20内の残存容量が下位
ビットの最大計数値U未満であるとき(ST7−YE
S)、アドレス(P+bU)まで変位データが格納され
たこととなり、変位データの格納数がbP個となる。そ
して、転送手段17により、変位データが未使用領域デ
ータとともに大容量メモリへ転送される(ST8)。そ
して、副走査カウンタ15が0にリセットされる(ST
9)。
When the remaining capacity in the storage means 20 is less than the maximum count value U of the lower bits (ST7-YE)
S), the displacement data is stored up to the address (P + bU), and the number of stored displacement data is bP. Then, the transfer means 17 transfers the displacement data to the large capacity memory together with the unused area data (ST8). Then, the sub-scanning counter 15 is reset to 0 (ST
9).

【0047】測定を継続するときは(ST10−N
O)、ST2に移行する。測定を終了するときは(ST
10−YES)、終了する。
To continue the measurement (ST10-N
O), transition to ST2. To end the measurement (ST
10-YES), and ends.

【0048】次に、主走査速度を変更した場合について
説明する。変更後の主走査速度に対して変更前の主走査
速度Sを相対的にS=s(n=1)とする。不図示の操
作部により主走査速度を変更する(ST11)。変更前
と変更後の主走査速度が同一(n=1)であるとき(S
T12−YES)、上位ビット幅と下位ビット幅の配分
は不変である(ST13)。
Next, the case where the main scanning speed is changed will be described. The main scanning speed S before the change is relatively set to S = s (n = 1) with respect to the main scanning speed after the change. The main scanning speed is changed by an operation unit (not shown) (ST11). When the main scanning speed before and after the change is the same (n = 1) (S
(T12-YES), the distribution of the upper bit width and the lower bit width is unchanged (ST13).

【0049】変更前に対して変更後の主走査速度が加速
(1<n)、又は、減速(0<n<1)であるとき(S
T12−NO)、主走査カウンタ13の最大計数値が初
期値pパルスからp/nパルスに調整される。調整され
たp/nパルスは主走査カウンタ13へ出力され、主走
査カウンタ13の最大計数値Pがpからp/nに更新さ
れる(ST14)。
When the main scanning speed after the change is acceleration (1 <n) or decelerated (0 <n <1) before the change (S
T12-NO), the maximum count value of the main scanning counter 13 is adjusted from the initial value p pulse to p / n pulse. The adjusted p / n pulse is output to the main scanning counter 13, and the maximum count value P of the main scanning counter 13 is updated from p to p / n (ST14).

【0050】ここで、ビット幅調整手段19では、ビッ
ト幅調整前の下位ビットの最大計数値U(Kのu乗)
と、更新された主走査カウンタ13の最大計数値P(p
/n)と、の差Gを算出する(ST15)。差分G(G
=U−P)が、下位ビットの最大計数値Uの1/K未満
(G<U/K)であるとき(ST16−YES)、ビッ
ト幅を変更する必要はない(ST13)。一方、下位ビ
ットの最大計数値Uの1/2以上(G≧U/K)である
とき(ST16−NO)、上位ビット幅と下位ビット幅
とのビット幅配分を変更する(ST17)。ビット幅調
整手段19では、ビット幅変更後の下位ビットの最大計
数値U(Kのu乗)と、更新された主走査カウンタ13
の最大計数値P(p/n)と、の差Gを算出する(ST
18)。差分G(G=U−P)が、下位ビットの最大計
数値Uの1/K以上(G≧U/K)であるとき(ST1
9−NO)、上位ビット幅と下位ビット幅とのビット幅
配分を再度変更する(ST17)。一方、差分G(G=
U−P)が、下位ビットの最大計数値Uの1/K未満
(G<U/K)であるとき(ST19−YES)、これ
以上ビット幅を変更する必要はなく、ビット幅調整は終
了する。
Here, in the bit width adjusting means 19, the maximum count value U (K power of K) of the lower bits before the bit width adjustment is performed.
And the updated maximum count value P (p of the main scanning counter 13
/ N) is calculated (ST15). Difference G (G
= UP) is less than 1 / K of the maximum count value U of lower bits (G <U / K) (ST16-YES), it is not necessary to change the bit width (ST13). On the other hand, when it is 1/2 or more of the maximum count value U of the lower bits (G ≧ U / K) (ST16-NO), the bit width distribution between the upper bit width and the lower bit width is changed (ST17). In the bit width adjusting means 19, the maximum count value U (K power of K) of the lower bits after the bit width is changed and the updated main scanning counter 13
The difference G between the maximum count value P (p / n) of
18). When the difference G (G = UP) is 1 / K or more of the maximum count value U of the lower bits (G ≧ U / K) (ST1
9-NO), the bit width distribution between the upper bit width and the lower bit width is changed again (ST17). On the other hand, the difference G (G =
UP-P) is less than 1 / K of the maximum count value U of the lower bits (G <U / K) (ST19-YES), it is not necessary to change the bit width any more, and the bit width adjustment is completed. To do.

【0051】このように調整された下位ビット幅によ
り、再度変位データの格納及び転送(ST1〜ST1
0)を行う。ここで、図6に示すビット幅調整手段19
が設けられていない変位測定装置の記憶手段20の格納
状態と、図7に示すビット幅調整手段19が設けられて
おり、主走査速度を調整して、差分GがG<U/Kとな
った場合の記憶手段20の格納状態と、を比較する。と
もに、調整前に対して相対的に主走査速度をn倍にした
ものとする。なお、図6(a)及び図7(a)は、通常
のデータ格納状態を示す。
The displacement data is again stored and transferred (ST1 to ST1) according to the lower bit width thus adjusted.
0) is performed. Here, the bit width adjusting means 19 shown in FIG.
The storage state of the storage means 20 of the displacement measuring device not provided with and the bit width adjusting means 19 shown in FIG. 7 are provided, and the main scanning speed is adjusted so that the difference G becomes G <U / K. The storage state of the storage means 20 in the case of In both cases, the main scanning speed is set to be n times higher than that before the adjustment. 6A and 7A show a normal data storage state.

【0052】図6(b)の場合、主走査速度を加速(1
<n)とすると、主走査カウンタ13の最大計数値Pが
減少するが、下位ビット幅uは不変なので、変位データ
列との間における記憶手段20の各アドレス間隔G’と
なる未使用領域データ数(未使用領域)は、nを大きく
すればするほど増大する。
In the case of FIG. 6B, the main scanning speed is accelerated (1
If <n), the maximum count value P of the main scanning counter 13 decreases, but since the lower bit width u does not change, unused area data that is the address interval G ′ of the storage means 20 with the displacement data string. The number (unused area) increases as n increases.

【0053】一方、図7(b)の場合、各アドレス間隔
となる差分GがG<U/Kとなるようにビット幅が調整
されている。差分Gは、一主走査あたりの記憶手段20
の未使用領域のデータ数である。すなわち、一主走査に
おいて、ビット幅調整後の変位データ数Pは、ビット幅
調整後の下位ビットの最大計数値Uの1/Kより大き
く、ビット幅調整後の下位ビットの最大計数値U未満で
ある(U/K<P<U)。したがって、ビット幅調整後
の変位データ数Pは、未使用領域データ数以上となるこ
とはない。これにより、未使用領域データ数を減少で
き、より多くの変位データを記憶手段20に格納するこ
とができる。
On the other hand, in the case of FIG. 7B, the bit width is adjusted so that the difference G at each address interval is G <U / K. The difference G is stored in the storage unit 20 per main scanning.
Is the number of data in the unused area. That is, in one main scan, the displacement data number P after the bit width adjustment is larger than 1 / K of the maximum count value U of the lower bits after the bit width adjustment and less than the maximum count value U of the lower bits after the bit width adjustment. (U / K <P <U). Therefore, the displacement data number P after the bit width adjustment does not exceed the unused region data number. As a result, the number of unused area data can be reduced, and more displacement data can be stored in the storage unit 20.

【0054】また、図6(b)の格納状態からデータ転
送すると、転送先の大容量メモリでは、図6(c)のよ
うに格納される。一方、図7(b)の格納状態からデー
タ転送すると、転送先の大容量メモリでは、図7(c)
のように格納される。転送されたデータを比較すると、
主走査方向Xの変位データ数はともにPとなって同一で
あるが、副走査カウンタの計数値は、図7(c)のKb
に対して、図6(c)はbとなる。したがって、ビット
幅を調整すると、一回の転送につきK倍のデータ転送が
できる。また、図7(c)のアドレス間隔Gは、図6
(c)のアドレス間隔G’よりも格段に小さいため、図
7(c)の未使用領域データ量KbGは、図6(c)の
未使用領域データ量bG’よりも格段に小さくなり、無
駄なデータ転送を最小限に抑制することができる。
When data is transferred from the storage state shown in FIG. 6B, the data is stored in the transfer destination large capacity memory as shown in FIG. 6C. On the other hand, when data is transferred from the storage state shown in FIG. 7B, in the large capacity memory of the transfer destination, FIG.
Is stored as. Comparing the transferred data,
The number of displacement data in the main scanning direction X is both P and the same, but the count value of the sub-scanning counter is Kb in FIG. 7C.
On the other hand, FIG. 6 (c) becomes b. Therefore, if the bit width is adjusted, K times of data transfer can be performed per transfer. Further, the address interval G in FIG.
Since it is significantly smaller than the address interval G ′ in (c), the unused area data amount KbG in FIG. 7C is significantly smaller than the unused area data amount bG ′ in FIG. Data transfer can be minimized.

【0055】ここで、図8を用いて同一容量の記憶手段
20からデータ転送する場合のデータ転送時間の比較を
する。図8(a)は、図6の格納状態からデータ転送し
たときの転送時間を示したタイムチャートであり、図8
(b)は、図7の格納状態からデータ転送したときの転
送時間を示したタイムチャートである。図6の場合で
は、一回のデータ測定時間はtmである。一方、図7の
場合では、―回のデータ測定時間はK・tmである。K
倍とされているのは、図6に比べて変位データがK倍格
納されているからである。したがって、図6の場合は、
データ転送回数はT回である。一方、図7の場合は、主
走査速度を調整して差分GをG<U/Kとした場合で
は、T/K回データ転送すれば足りる。なお、記憶手段
20の容量は同一であるので、データ転送時間tf は同
一である。
Here, the data transfer time when data is transferred from the storage means 20 having the same capacity will be compared with reference to FIG. FIG. 8A is a time chart showing a transfer time when data is transferred from the storage state of FIG.
7B is a time chart showing a transfer time when data is transferred from the storage state of FIG. 7. In the case of FIG. 6, one data measurement time is tm. On the other hand, in the case of FIG. 7, the data measurement time of-is K · tm. K
The reason for being doubled is that the displacement data is stored K times that in FIG. Therefore, in the case of FIG.
The data transfer count is T times. On the other hand, in the case of FIG. 7, when the main scanning speed is adjusted and the difference G is G <U / K, it is sufficient to transfer the data T / K times. Since the storage means 20 have the same capacity, the data transfer time tf is the same.

【0056】図8(a)では、データ転送時間は、T
(tm+tf )である。一方、図8(b)では、データ
転送時間は、T/K・(K・tm+tf )である。この
差を求めると、T・tf (1−1/K)となる。したが
って、本実施の形態では、ビット幅調整手段19が設け
られていない従来の変位測定装置と比較して、T・tf
(1−1/K)時間短縮化される。
In FIG. 8A, the data transfer time is T
(Tm + tf). On the other hand, in FIG. 8B, the data transfer time is T / K · (K · tm + tf). When this difference is obtained, it becomes T · tf (1-1 / K). Therefore, in the present embodiment, as compared with the conventional displacement measuring device in which the bit width adjusting means 19 is not provided, T · tf.
(1-1 / K) time is shortened.

【0057】また、図9(b)のように、図9(a)に
示す通常の状態から、主走査速度を減速(0<n<1)
とすると、主走査カウンタ13の最大計数値Pが増加す
るが、下位ビット幅は固定されているため、主走査速度
の最低速度も固定されてしまうこととなる。すなわち、
主走査カウンタ13の最大計数値Pが下位ビットの最大
計数値Uまでしか上昇させることができない。したがっ
て、より高度な分解能を得ようとしても限界がある。
Further, as shown in FIG. 9B, the main scanning speed is decelerated (0 <n <1) from the normal state shown in FIG. 9A.
Then, the maximum count value P of the main scanning counter 13 increases, but since the lower bit width is fixed, the minimum main scanning speed is also fixed. That is,
The maximum count value P of the main scanning counter 13 can be increased only up to the maximum count value U of the lower bits. Therefore, there is a limit in trying to obtain a higher resolution.

【0058】一方、図10(b)の場合、図7(b)の
場合と同様に、図10(a)に示す通常の状態から、ビ
ット幅が調整されるので、調整前の下位ビットの最大計
数値Uを超えて、主走査カウンタ13の最大計数値Pを
上昇させることができる。したがって、より高度な分解
能を得ることができ、測定精度の向上を図るころができ
る。
On the other hand, in the case of FIG. 10B, as in the case of FIG. 7B, the bit width is adjusted from the normal state shown in FIG. The maximum count value P of the main scanning counter 13 can be increased beyond the maximum count value U. Therefore, a higher resolution can be obtained and the measurement accuracy can be improved.

【0059】[0059]

【実施例】例として、図11を用いて主走査速度加速前
と加速後を比較する。基数KはK=2とする。また、図
11(a)に示すように、主走査速度加速前では、変速
値n=1,主走査カウンタ13の最大計数値P=p/n
=3000,下位ビットのビット幅u=12,下位ビッ
トの最大計数値U=212=4096とする。
EXAMPLE As an example, FIG. 11 is used to compare before and after main scanning speed acceleration. The radix K is K = 2. Further, as shown in FIG. 11A, before the main scanning speed acceleration, the shift value n = 1 and the maximum count value P = p / n of the main scanning counter 13.
= 3000, the bit width u of the lower bits u = 12, and the maximum count value U of the lower bits U = 2 12 = 4096.

【0060】図11(b)に示すように、主走査速度を
2倍に加速する(n=2)と、主走査カウンタ13の最
大計数値PはP=1500となる。下位ビットのビット
幅を変更しない場合、ビット幅変更前の差分G(G=U
−P)は、4096−1500=2596となる。25
96は調整前の下位ビットの最大計数値Uの1/2であ
るU/2=2048よりも大きいので、下位ビットを1
ビット減らして上位ビットを1ビット増やす。下位ビッ
トのビット幅uはu=11となり、その最大計数値U=
11=2048となる。ビット幅変更後の差分G(G=
U−P)は、2048−1500=548となる。54
8は、調整後の下位ビットの最大計数値Uの1/2であ
るU/2=1024よりも小さい。これにより、未使用
領域を減少することができる。
As shown in FIG. 11B, when the main scanning speed is doubled (n = 2), the maximum count value P of the main scanning counter 13 becomes P = 1500. When the bit width of the lower bit is not changed, the difference G (G = U
-P) becomes 4096-1500 = 2596. 25
Since 96 is larger than U / 2 = 2048 which is 1/2 of the maximum count value U of the lower bits before adjustment, the lower bits are set to 1
Decrease the bit and increase the upper bit by 1 bit. The bit width u of the lower bits is u = 11, and the maximum count value U =
2 11 = 2048. Difference G after bit width change (G =
UP-P) becomes 2048-1500 = 548. 54
8 is smaller than U / 2 = 1024 which is 1/2 of the maximum count value U of the adjusted lower bits. As a result, the unused area can be reduced.

【0061】また、図12(a)において、ビット幅調
整手段19が設けられていない構成では、データ転送回
数T=6回で全測定領域を画像展開可能とする。一方、
図12(b)では、データ転送回数はT/K=3回でよ
く、また、図12(a)との時間差は3tf となり、こ
の時間分データ転送のタクトタイムが向上する。
Further, in FIG. 12A, in the configuration in which the bit width adjusting means 19 is not provided, it is possible to expand the image in the entire measurement area by the number of data transfers T = 6 times. on the other hand,
In FIG. 12B, the number of times of data transfer may be T / K = 3, and the time difference from FIG. 12A is 3tf, and the tact time of data transfer is improved by this time.

【0062】[0062]

【発明の効果】本発明の変位測定装置では、レーザ光の
主走査速度の変化に応じてアドレスデータのビット幅を
調整できるため、ビット幅が固定された場合と比較し
て、より高い分解能の変位データを得ることができる。
In the displacement measuring apparatus of the present invention, the bit width of the address data can be adjusted according to the change in the main scanning speed of the laser beam, so that the resolution is higher than that when the bit width is fixed. Displacement data can be obtained.

【0063】また、レーザ光の主走査速度の変化に応じ
てアドレスデータのビット幅を調整することにより、変
位データが格納される記憶手段内の未使用領域の最小化
を図ることが可能となる。したがって、限られた記憶手
段の格納領域を有効に活用することができ、データ格納
の効率化を図ることができる。
Further, by adjusting the bit width of the address data in accordance with the change in the main scanning speed of the laser light, it is possible to minimize the unused area in the storage means in which the displacement data is stored. . Therefore, the limited storage area of the storage means can be effectively utilized, and the efficiency of data storage can be improved.

【0064】更に、ビット幅調整により効率的に記憶手
段に格納されたデータを一括転送することにより、転送
時間の短縮化を図ることができる。
Furthermore, the transfer time can be shortened by collectively transferring the data stored in the storage means efficiently by adjusting the bit width.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】変位測定装置による変位測定状態を示す概略図
である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a displacement measurement state by a displacement measurement device.

【図2】測定センサを示す概略斜視図である。FIG. 2 is a schematic perspective view showing a measurement sensor.

【図3】本発明の変位測定装置の概略ブロック構成図で
ある。
FIG. 3 is a schematic block configuration diagram of a displacement measuring device of the present invention.

【図4】本発明の変位測定装置の変位データの格納及び
転送を示すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing storage and transfer of displacement data of the displacement measuring device of the present invention.

【図5】本発明の変位測定装置のビット幅調整フローチ
ャートである。
FIG. 5 is a bit width adjustment flowchart of the displacement measuring device of the present invention.

【図6】(a)主走査速度加速前における変位データの
記憶手段内の格納状態を示す図である。 (b)ビット幅調整手段が設けられていない場合の主走
査速度加速後における変位データの記憶手段内の格納状
態を示す図である。 (c)大容量メモリへデータ転送されたデータを示す図
である。
FIG. 6A is a diagram showing a storage state of displacement data in a storage unit before acceleration of a main scanning speed. FIG. 7B is a diagram showing a storage state of displacement data in the storage unit after the main scanning speed acceleration in the case where the bit width adjusting unit is not provided. FIG. 7C is a diagram showing data transferred to a large capacity memory.

【図7】(a)主走査速度加速前における変位データの
記憶手段内の格納状態を示す図である。 (b)ビット幅調整手段が設けられている場合の主走査
速度加速後における変位データの記憶手段内の格納状態
を示す図である。 (c)大容量メモリへデータ転送されたデータを示す図
である。
FIG. 7A is a diagram showing a storage state of displacement data in a storage unit before acceleration of a main scanning speed. FIG. 7B is a diagram showing a storage state of displacement data in the storage unit after the main scanning speed acceleration when the bit width adjusting unit is provided. FIG. 7C is a diagram showing data transferred to a large capacity memory.

【図8】(a)ビット幅調整手段が設けられていない場
合のデータ転送を示すタイミングチャートである。 (b)ビット幅調整手段が設けられている場合のデータ
転送を示すタイミングチャートである。
FIG. 8A is a timing chart showing data transfer when a bit width adjusting unit is not provided. (B) is a timing chart showing data transfer when a bit width adjusting means is provided.

【図9】(a)主走査速度減速前における変位データの
記憶手段内の格納状態を示す図である。 (b)ビット幅調整手段が設けられていない場合の主走
査速度減速後における変位データの記憶手段内の格納状
態を示す図である。
FIG. 9A is a diagram showing a storage state of displacement data in a storage unit before deceleration of a main scanning speed. FIG. 6B is a diagram showing a storage state of the displacement data in the storage unit after deceleration of the main scanning speed when the bit width adjusting unit is not provided.

【図10】(a)主走査速度減速前における変位データ
の記憶手段内の格納状態を示す図である。 (b)ビット幅調整手段が設けられている場合の主走査
速度減速後における変位データの記憶手段内の格納状態
を示す図である。
FIG. 10A is a diagram showing a storage state of displacement data in a storage unit before deceleration of a main scanning speed. FIG. 7B is a diagram showing a storage state of displacement data in the storage unit after deceleration of the main scanning speed when the bit width adjusting unit is provided.

【図11】(a)実施例における、主走査速度加速前の
変位データの記憶手段内の格納状態を示す図である。 (b)実施例における、ビット幅調整手段が設けられて
いる場合の主走査速度加速後における変位データの記憶
手段内の格納状態を示す図である。 (c)実施例における、大容量メモリへデータ転送され
たデータを示す図である。
FIG. 11A is a diagram showing a storage state of displacement data before acceleration in a main scanning speed in a storage unit in the embodiment (a). FIG. 7B is a diagram showing a storage state of the displacement data in the storage unit after the main scanning speed acceleration when the bit width adjusting unit is provided in the example (b). FIG. 6C is a diagram showing data transferred to a large capacity memory in the embodiment.

【図12】(a)実施例における、ビット幅調整手段が
設けられていない場合のデータ転送を示すタイミングチ
ャートである。 (b)実施例における、ビット幅調整手段が設けられて
いる場合のデータ転送を示すタイミングチャートであ
る。
FIG. 12A is a timing chart showing data transfer when the bit width adjusting means is not provided in the embodiment (a). (B) is a timing chart showing data transfer in the case where the bit width adjusting means is provided in the embodiment.

【図13】従来の変位測定装置を示す概略ブロック図で
ある。
FIG. 13 is a schematic block diagram showing a conventional displacement measuring device.

【図14】(a)従来の主走査速度加速前の変位データ
の記憶手段内の格納状態を示す図である。 (b)従来の主走査速度加速後における変位データの記
憶手段内の格納状態を示す図である。
FIG. 14A is a diagram showing a conventional storage state of displacement data in a storage unit before acceleration in a main scanning speed. FIG. 6B is a diagram showing a storage state of displacement data in a storage unit after the conventional main scanning speed acceleration.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12…変位演算手段 13…主走査カウンタ 15…副走査カウンタ 16…アドレス生成手段 17…転送手段 18…主走査速度制御手段 19…ビット幅調整手段 20…記憶手段 a…主走査カウンタの計数値 b…副走査カウンタの計数値 d…主走査幅 t…主走査時間 G…アドレス間隔 P…主走査カウンタの最大計数値 S…レーザ光の主走査速度 W…測定対象 X…主走査方向 Y…副走査方向 12 ... Displacement calculation means 13 ... Main scanning counter 15 ... Sub-scanning counter 16 ... Address generating means 17 ... Transferring means 18 ... Main scanning speed control means 19: Bit width adjusting means 20 ... Storage means a ... Count value of main scanning counter b ... Count value of sub-scanning counter d ... Main scanning width t ... Main scanning time G: Address interval P ... Maximum count value of main scanning counter S ... Main scanning speed of laser light W ... Measurement target X ... Main scanning direction Y ... Sub scanning direction

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 測定対象(W)に対して所定の主走査幅
(d)でレーザ光を主走査方向(X)に主走査するとと
もに、前記主走査方向に直交する副走査方向(Y)に走
査し、前記測定対象で反射された前記レーザ光を受光し
て得られる測定信号から、測定対象位置における変位を
三角測量により測定する変位測定装置であって、 前記測定信号から前記測定対象の変位データを演算処理
する変位演算手段(12)と、 前記レーザ光の前記一主走査中の主走査時間(t)を計
数する主走査カウンタ(13)と、 前記レーザ光の主走査回数を計数する副走査カウンタ
(15)と、 前記レーザ光の主走査速度(S)を制御し、該主走査速
度に基づいて前記主走査カウンタの最大計数値を設定す
る主走査速度制御手段(18)と、 前記主走査カウンタの計数値(a)を表す下位ビットと
前記副走査カウンタの計数値(b)を表す上位ビットと
からなるアドレスデータを生成するアドレス生成手段
(16)と、 前記レーザ光の主走査速度の変化に従って、前記上位ビ
ットと前記下位ビットとのビット幅配分を調整するビッ
ト幅調整手段(19)と、を具備することを特徴とする
変位測定装置。
1. A main scanning direction (X) of a laser beam with a predetermined main scanning width (d) with respect to an object to be measured (W) and a sub-scanning direction (Y) orthogonal to the main scanning direction. Scanning, from the measurement signal obtained by receiving the laser light reflected by the measurement target, a displacement measuring device for measuring the displacement at the measurement target position by triangulation, of the measurement signal from the measurement signal Displacement computing means (12) for computing displacement data, a main scanning counter (13) for counting a main scanning time (t) during the one main scanning of the laser beam, and a main scanning number of the laser beam. A sub-scanning counter (15) for controlling the main scanning speed (S) of the laser beam, and a main scanning speed control means (18) for setting a maximum count value of the main scanning counter based on the main scanning speed. , The main scanning counter Address generating means (16) for generating address data consisting of a lower bit representing a count value (a) and an upper bit representing a count value (b) of the sub-scanning counter; And a bit width adjusting means (19) for adjusting a bit width distribution between the upper bit and the lower bit.
【請求項2】 前記ビット幅調整手段は、一の主走査で
得られた変位データが格納される最後のアドレスから、
次の主走査で得られる変位データが格納される最初のア
ドレスまでのアドレス間隔(G)が、前記一主走査分の
変位データのデータ長未満となるように、前記上位ビッ
トと前記下位ビットとのビット幅配分を調整することを
特徴とする請求項1記載の変位測定装置。
2. The bit width adjusting means starts from the last address where displacement data obtained in one main scan is stored.
The upper bit and the lower bit are set such that the address interval (G) to the first address where the displacement data obtained in the next main scan is stored is less than the data length of the displacement data for one main scan. 2. The displacement measuring device according to claim 1, wherein the bit width allocation of the displacement measuring device is adjusted.
【請求項3】 前記ビット幅調整手段は、前記上位ビッ
トと前記下位ビットとのビット幅配分を、数式U−P<
U/Kを満たすように調整することを特徴とする請求項
1記載の変位測定装置。ただし、Uはビット幅調整後の
下位ビットの最大計数値。Pは変速された主走査速度に
応じて設定された主走査カウンタの最大計数値。Kは下
位ビットの基数。
3. The bit width adjusting means calculates a bit width distribution between the upper bits and the lower bits by a mathematical expression UP−P <
The displacement measuring device according to claim 1, wherein the displacement measuring device is adjusted so as to satisfy U / K. However, U is the maximum count value of lower bits after bit width adjustment. P is the maximum count value of the main scanning counter set according to the changed main scanning speed. K is the radix of the lower bits.
【請求項4】 前記アドレスデータに従って前記変位デ
ータが格納される記憶手段(20)と、 前記記憶手段内に格納された前記変位データを転送する
転送手段(17)と、を具備することを特徴とする請求
項1〜3のいずれかに記載の変位測定装置。
4. A storage means (20) for storing the displacement data according to the address data, and a transfer means (17) for transferring the displacement data stored in the storage means. The displacement measuring device according to any one of claims 1 to 3.
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