JP2003188450A - Cover glass for optical semiconductor - Google Patents

Cover glass for optical semiconductor

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JP2003188450A
JP2003188450A JP2001383238A JP2001383238A JP2003188450A JP 2003188450 A JP2003188450 A JP 2003188450A JP 2001383238 A JP2001383238 A JP 2001383238A JP 2001383238 A JP2001383238 A JP 2001383238A JP 2003188450 A JP2003188450 A JP 2003188450A
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glass
cover glass
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optical semiconductor
wavelength
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Japanese (ja)
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Takeshi Inui
武志 乾
Shinkichi Miwa
晋吉 三和
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Nippon Electric Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Electric Glass Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cover glass for optical semiconductor which allows the sufficient transmission of a semiconductor laser beam of wider wavelength up to a near infrared beam from a short wavelength such as blue and does not deteriorates a material such as coloration or the like. <P>SOLUTION: The cover glass for optical semiconductor is composed of a multiple element system oxide glass substantially not including alkali metal oxide. The content of Fe<SP>3+</SP>is 0.03 mass% or less with a conversion value of Fe<SB>2</SB>O<SB>3</SB>, a wavelength is 320 nm in a thickness of 0.3 mm or less and the light transmitting coefficient of wavelength 400 nm is 70% or more but 90% or less. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光半導体を収納す
るパッケージに使用される光半導体用カバーガラスに関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cover glass for an optical semiconductor used in a package containing an optical semiconductor.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、光半導体、例えば、半導体レー
ザー等の発光素子やフォトダイオード等の受光素子等に
使用されるカバーガラスは、大容量の光信号を所定のエ
ラーレート以下又はSN比以下で高速に通過させるため
に、高い光透過特性が要求されている。近年、光半導体
装置、例えば、DVD(デジタル多用途ディスク)装置
において、映像信号等の大容量のデータを高速で処理で
きる高密度化の技術が要求されている。このような光半
導体装置は、図1に示すように、発光デバイス1の金属
キャップ2の中に半導体レーザー3が位置し、その金属
キャップ2は、コバール等の金属からなり、その透光孔
2aに光を通過させるカバーガラス4が封着材料5を介
して固着されている。このように使用されるカバーガラ
ス4は、一般に使用されているホウケイ酸ガラス等が用
いられている。
2. Description of the Related Art In general, a cover glass used for an optical semiconductor, for example, a light emitting element such as a semiconductor laser or a light receiving element such as a photodiode, transmits a large-capacity optical signal at a predetermined error rate or less or an SN ratio or less. High light transmission characteristics are required for high-speed passage. In recent years, in optical semiconductor devices such as DVD (digital versatile disc) devices, there has been a demand for a high-density technique capable of processing large-capacity data such as video signals at high speed. In such an optical semiconductor device, as shown in FIG. 1, a semiconductor laser 3 is located in a metal cap 2 of a light emitting device 1, and the metal cap 2 is made of a metal such as Kovar and has a light transmitting hole 2a. A cover glass 4 that allows light to pass therethrough is fixed via a sealing material 5. As the cover glass 4 used in this way, a commonly used borosilicate glass or the like is used.

【0003】また、大容量の情報を高密度に記録する光
ディスクを読み書きするために、使用されている半導体
レーザー3の発振波長は、短波長へ移行している。具体
的には、光ディスクシステムとして実用化されているD
VDでは、現在、波長650nmの赤色半導体レーザー
が用いられているが、次世代DVDではさらに大容量化
に向けて、波長が350〜460nmである青紫色半導
体レーザーを用いた光半導体装置が実用化されつつあ
る。このような青紫色半導体レーザーを使用すると、同
じ面積の光ディスクに赤色半導体レーザーを使用する場
合に比べて4倍の量のデータを読み書きすることが可能
となる。
Further, the oscillation wavelength of the semiconductor laser 3 used for reading and writing an optical disc for recording a large amount of information at a high density has shifted to a short wavelength. Specifically, D which has been put to practical use as an optical disc system
In VD, a red semiconductor laser having a wavelength of 650 nm is currently used, but in the next-generation DVD, an optical semiconductor device using a blue-violet semiconductor laser having a wavelength of 350 to 460 nm is put to practical use in order to further increase the capacity. Is being done. When such a blue-violet semiconductor laser is used, it is possible to read and write four times as much data as in the case where a red semiconductor laser is used for an optical disk having the same area.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、発振波長が
短波長化するにしたがって、前記従来のホウケイ酸ガラ
スからなるカバーガラス4では300〜400nmの短
波長の光に対する光透過率が低いという問題が生じてき
た。また、このような短波長のレーザーはエネルギーが
強いため、ガラスが着色して時間経過と共に光透過率が
低下するという材質劣化の問題も生じている。
However, as the oscillation wavelength becomes shorter, the cover glass 4 made of the conventional borosilicate glass has a problem that the light transmittance for light having a short wavelength of 300 to 400 nm is low. Has occurred. Further, since such a short-wavelength laser has high energy, there is a problem of material deterioration in that the glass is colored and the light transmittance is lowered with the passage of time.

【0005】一方、光半導体を収納するパッケージとし
て、金属、セラミック及び樹脂が使用されているので、
光半導体用カバーガラスは、強度面からガラス側に圧縮
歪が入るようにパッケージよりも熱膨張係数が小さいガ
ラスが望まれる。
On the other hand, since metal, ceramics and resin are used as a package for accommodating an optical semiconductor,
The cover glass for optical semiconductors is desired to have a smaller coefficient of thermal expansion than that of the package so that compressive strain may be applied to the glass side from the viewpoint of strength.

【0006】また、このようなカバーガラスの表面が長
期の使用の間に浸食、劣化し、透明性を失うと、光の透
過を妨げ、光半導体の特性を損なう。そこでこれらのカ
バーガラスには優れた耐候性が要求される。ガラス中に
アルカリ金属酸化物成分を含有すると、ガラス表面でこ
れらの成分が溶出したり、その溶出成分が結晶化するこ
とでいわゆる青やけ、あるいは白やけと呼ばれるガラス
表面の劣化が起こる恐れがある。このようなガラスの劣
化が起こるとガラスの透過率が低下するため、光半導体
用のカバーガラスとしては好ましくない。従って、ガラ
ス中のアルカリ酸化物成分はできるだけ少ない方がよ
い。
Further, if the surface of such a cover glass is eroded and deteriorated during long-term use and loses transparency, it impedes the transmission of light and impairs the characteristics of the optical semiconductor. Therefore, these cover glasses are required to have excellent weather resistance. When an alkali metal oxide component is contained in the glass, these components may elute on the glass surface, or the elution component may crystallize, causing deterioration of the glass surface called so-called bluish or white burnt. . If such deterioration of the glass occurs, the transmittance of the glass decreases, which is not preferable as a cover glass for an optical semiconductor. Therefore, it is preferable that the glass contains as little alkali oxide component as possible.

【0007】さらに、光半導体用のカバーガラスはパッ
ケージに封着後、めっき処理等の化学薬品処理を施され
る場合があり、薬品処理によりカバーガラスが浸食さ
れ、透光性を失うと光半導体デバイスとして問題とな
る。そこでめっき液などに用いられる濃硫酸などに対す
る耐酸性が重要になるとともに、これらのガラスを製
造、使用する過程において用いられるアルカリ溶液など
種々の洗浄液に対するガラスの耐薬品性が重要になる。
Further, a cover glass for an optical semiconductor may be subjected to chemical treatment such as plating after being sealed in a package, and if the cover glass is eroded by the chemical treatment and loses its light transmitting property, the optical semiconductor is removed. It becomes a problem as a device. Therefore, the acid resistance to concentrated sulfuric acid used in the plating solution and the like becomes important, and the chemical resistance of the glass to various cleaning solutions such as alkaline solutions used in the process of manufacturing and using these glasses becomes important.

【0008】本発明の目的は、青色等の短波長の半導体
レーザー光を十分に透過し、しかも着色等の材質劣化が
なく、信頼性が高い光半導体用パッケージを実現する光
半導体用カバーガラスを提供することである。
An object of the present invention is to provide a cover glass for optical semiconductors which realizes a highly reliable package for optical semiconductors, which is capable of sufficiently transmitting a semiconductor laser light having a short wavelength such as blue color and which is free from material deterioration such as coloring. Is to provide.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の光半導体用カバ
ーガラスは、実質的にアルカリ金属酸化物を含まない多
成分系の酸化物ガラスからなり、Fe3+の含有量がFe
23換算値で0.03質量%以下であり、厚さが0.3
mm以下での波長320nmおよび400nmの光透過
率がそれぞれ70%以上、90%以上であることを特徴
とする。
The cover glass for optical semiconductors of the present invention comprises a multi-component oxide glass which is substantially free of alkali metal oxides and has a Fe 3+ content of Fe.
2 O 3 conversion value is 0.03 mass% or less, and the thickness is 0.3
The light transmittance at wavelengths of 320 nm and 400 nm at 70 mm or less is 70% or more and 90% or more, respectively.

【0010】また、本発明の光半導体用カバーガラス
は、総Fe含有量がFe23換算値で0.03質量%以
下であり、厚さが0.5mm以下での波長320nmお
よび400nmの光透過率がそれぞれ70%以上、90
%以上であることを特徴とする。
The cover glass for optical semiconductors of the present invention has a total Fe content of 0.03 mass% or less in terms of Fe 2 O 3 and a thickness of 0.5 mm or less and wavelengths of 320 nm and 400 nm. Light transmittance of 70% or more, 90
% Or more.

【0011】また、本発明の光半導体用カバーガラス
は、30〜380℃の温度範囲における熱膨張係数が2
0〜50×10-7/Kであることを特徴とする。
The cover glass for optical semiconductors of the present invention has a coefficient of thermal expansion of 2 in the temperature range of 30 to 380 ° C.
It is characterized in that it is 0 to 50 × 10 −7 / K.

【0012】また、本発明の光半導体用カバーガラス
は、質量%で、SiO2 50〜70%、Al23
〜25%、B23 3〜25%、MgO 0〜5%、C
aO0〜12%、BaO 0〜15%、SrO 0〜1
2%、ZnO 0〜5%、ZrO2 0〜5%、TiO2
0〜2%、P25 0〜5% のガラス組成を有する
ことを特徴とする。
The cover glass for optical semiconductors of the present invention has a mass% of SiO 2 of 50 to 70% and an Al 2 O 3 9 content.
~25%, B 2 O 3 3~25 %, 0~5% MgO, C
aO 0-12%, BaO 0-15%, SrO 0-1
2%, ZnO 0-5%, ZrO 2 0-5%, TiO 2
It is characterized by having a glass composition of 0 to 2% and P 2 O 5 0 to 5%.

【0013】さらに、本発明の光半導体用カバーガラス
は、光半導体が波長300〜460nmの光を発光また
は受光するものであることを特徴とする。
Furthermore, the cover glass for optical semiconductors of the present invention is characterized in that the optical semiconductor emits or receives light having a wavelength of 300 to 460 nm.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明の光半導体用カバーガラス
は、波長が320nmで光透過率が70%以上、波長が
400nmで光透過率が90%以上にするため、最も紫
外域の透過率を下げる成分であるFe3+をFe23換算
で0.03質量%以下に抑えることが重要である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Since the cover glass for optical semiconductors of the present invention has a light transmittance of 70% or more at a wavelength of 320 nm and a light transmittance of 90% or more at a wavelength of 400 nm, it has the highest transmittance in the ultraviolet region. It is important to suppress Fe 3+ , which is a component that lowers the Fe content, to 0.03 mass% or less in terms of Fe 2 O 3 .

【0015】また、ガラスの紫外線透過率を決定する要
因は単にFe3+(Fe23)含有量だけでは決まらな
い。ガラス中のアルカリ金属酸化物はガラス中に修飾酸
化物として存在し、ガラス中で網目を形成している酸素
の結合を切ってこれと結びつき、いわゆる非架橋酸素を
形成する。このような非架橋酸素の存在はガラスの紫外
線透過率を下げる働きがあるため、できるだけこのよう
な元素を含まないことが望ましい。
Further, the factor that determines the ultraviolet transmittance of glass is not simply determined by the Fe 3+ (Fe 2 O 3 ) content. The alkali metal oxide in the glass exists as a modified oxide in the glass and cuts the bonds of oxygen forming a network in the glass to be bonded to the oxygen, forming so-called non-crosslinked oxygen. Since the presence of such non-crosslinked oxygen has a function of lowering the ultraviolet transmittance of glass, it is desirable that such an element is not included as much as possible.

【0016】また、本発明のような多成分系の酸化物ガ
ラスからなる無アルカリガラスでは、アルカリ金属酸化
物を含まないかわりにアルカリ土類金属酸化物を含有さ
せ、更にAl23およびB23を適切な量、共存して含
有させることで、耐環境性、耐薬品性、耐熱性、熱膨張
係数などの製品の性能として必要な特性、および耐失透
性、熔融性などの基板ガラス製造に必要な特性を望まし
い値に調整することができる。また、このAl23およ
びB23を共存して含有させることは、無アルカリガラ
スの紫外域の透過率を高める効果もあるため、これらの
成分を必須で含有することが望ましい。
In the non-alkali glass made of a multi-component oxide glass as in the present invention, an alkaline earth metal oxide is contained instead of an alkali metal oxide, and Al 2 O 3 and B are added. By including 2 O 3 in an appropriate amount in a coexisting manner, properties required for product performance such as environment resistance, chemical resistance, heat resistance, and thermal expansion coefficient, and devitrification resistance, meltability, etc. The properties required for substrate glass production can be adjusted to desired values. Further, the coexistence of Al 2 O 3 and B 2 O 3 also has the effect of increasing the transmittance of the alkali-free glass in the ultraviolet region, so that it is desirable to essentially contain these components.

【0017】紫外線によるガラスの着色(紫外線ソラリ
ゼーション)は、Fe3+イオンの含有量に大きく左右さ
れる。ガラス中のFeはFe2+とFe3+の2つの状態が
ある割合で共存しているが、紫外線の影響でガラス中の
Fe2+がFe3+に価数変化を起こすことにより、ガラス
が着色される。従って、ガラスの紫外線による着色を防
ぐためには、Fe3+だけでなく、総Fe含有量を規制す
る必要がある。通常のガラス中のFe2+とFe3+の比率
はある一定の割合にあるから、Fe3+の含有量をFe2
3換算で0.03質量%以下に抑えることにより、総
Fe含有量も着色を生じない程度の含有量に抑えられる
が、総Fe含有量をFe23換算で0.03質量%以下
に抑えることがより望ましい。また、ガラス中のアルカ
リ成分は、紫外線の照射により着色中心を形成するの
で、紫外線ソラリゼーションを引き起こす。アルカリ金
属酸化物を含有させないことで、紫外線ソラリゼーショ
ンを抑えることができるため、本発明のガラスには無ア
ルカリガラスが望ましい。
The coloring of glass by ultraviolet rays (ultraviolet ray solarization) depends largely on the content of Fe 3+ ions. Fe in glass coexists in two proportions, Fe 2+ and Fe 3+ , but when Fe 2+ in glass causes a valence change to Fe 3+ due to the influence of ultraviolet rays, Is colored. Therefore, in order to prevent the coloring of the glass by ultraviolet rays, it is necessary to regulate not only Fe 3+ but also the total Fe content. Since the ratio of Fe 2+ and Fe 3+ of ordinary glass in certain percentage of the content of Fe 3+ Fe 2
By controlling the content of O 3 to 0.03% by mass or less, the total Fe content can be suppressed to such an amount that coloring does not occur, but the total Fe content is 0.03% by mass or less in terms of Fe 2 O 3. It is more desirable to keep Further, the alkali component in the glass forms a coloring center by irradiation with ultraviolet rays, and thus causes ultraviolet solarization. Since the ultraviolet solarization can be suppressed by not containing the alkali metal oxide, non-alkali glass is desirable for the glass of the present invention.

【0018】光半導体を収納するパッケージは、金属と
してコバール(熱膨張係数 45〜55×10-7
K)、42鉄ニッケル合金(65×10-7/K)等、セ
ラミックスとしてアルミナ(約80×10-7/K)等が
用いられるため、カバーガラスとして、ガラスの強度面
からパッケージの熱膨張係数よりも小さいガラスが用い
られる。
The package for accommodating the optical semiconductor is made of metal such as Kovar (coefficient of thermal expansion: 45 to 55 × 10 -7 /
K), 42 iron nickel alloy (65 × 10 -7 / K), etc., and alumina (about 80 × 10 -7 / K), etc. are used as ceramics. Glass smaller than the coefficient is used.

【0019】また、光半導体装置は、短波長を用いて高
精度・高密度化の記録ができるようになっているため、
カバーガラスの光学的欠陥は致命的な欠陥になり、泡、
ブツ、脈理等がほとんどない均質性の高いガラスが要求
されている。
Further, since the optical semiconductor device can record with high precision and high density by using a short wavelength,
Optical defects in the cover glass become fatal defects, bubbles,
There is a demand for highly homogenous glass with almost no scratches or striae.

【0020】このようなガラスを熔融、成形するために
はガラスの熔融性が高く、かつ、耐失透性に優れている
必要がある。
In order to melt and mold such glass, it is necessary that the glass has high meltability and excellent devitrification resistance.

【0021】更にガラス表面の平滑性が損なわれると、
ガラスの光透過率が低下することから、カバーガラスの
表面は光学研磨面のように平滑、かつ透明でなければな
らない。このようなガラスは、ブロック状のガラスから
の切断、研磨加工によっても得られるが、コストが非常
に高くなる上、ガラス表面に研磨剤等、汚れが付着する
恐れを避けられない。従って、これらのカバーガラスは
ガラス熔融炉よりガラス基板に引いたそのままの状態、
いわゆるアズドローで、研磨加工なしに製品になるほど
の平滑な表面が得られることが、コスト面でも表面品位
の点でも最も望ましい。本発明のカバーガラスに必要な
平滑な表面を得るための成形法としては例えばダウンド
ロー法やフロート法が考えられる。0.3mm厚といっ
た薄い板厚において、特に平滑な表面を得られるのは、
オーバーフロー法などのダウンドロー法である。例えば
オーバーフロー法では、1200℃以下の比較的低温の
成形温度域までガラスがゆっくり冷却されるため、基板
に失透性の異物を生じやすい。従って、ガラスの耐失透
性は非常に重要な特性である。また、フロート法やその
他のダウンドロー法においても、オーバーフロー法ほど
ではないがガラスの耐失透性が非常に重要である。
Further, if the smoothness of the glass surface is impaired,
Since the light transmittance of the glass decreases, the surface of the cover glass must be smooth and transparent like an optically polished surface. Such glass can be obtained by cutting from a block-shaped glass and polishing, but the cost is very high, and there is an unavoidable possibility that dirt such as an abrasive will adhere to the glass surface. Therefore, these cover glasses are as they are drawn on the glass substrate from the glass melting furnace,
It is most desirable in terms of cost and surface quality that a so-called as-drawn surface can be obtained so that a smooth surface can be obtained without polishing. As a molding method for obtaining a smooth surface required for the cover glass of the present invention, for example, a downdraw method or a float method can be considered. It is possible to obtain a particularly smooth surface at a thin plate thickness of 0.3 mm.
Downdraw methods such as the overflow method. For example, in the overflow method, the glass is slowly cooled to a relatively low molding temperature range of 1200 ° C. or less, and thus devitrifying foreign matter is likely to occur on the substrate. Therefore, the devitrification resistance of glass is a very important property. Further, in the float method and other downdraw methods, the devitrification resistance of glass is very important, though not so much as the overflow method.

【0022】次に本発明の光半導体用カバーガラスの組
成を上記のように限定した理由を以下に説明する。
The reason why the composition of the cover glass for optical semiconductors of the present invention is limited as described above will be described below.

【0023】まずSiO2は、ガラスの主成分で、耐候
性、耐薬品性を向上させる作用を有するが、その含有量
が50質量%より少ないと、その効果が小さく、一方、
70%を超えるとガラスの溶融が困難になるとともに耐
失透性が悪化する。
First, SiO 2 is a main component of glass and has an effect of improving weather resistance and chemical resistance. If its content is less than 50% by mass, its effect is small.
If it exceeds 70%, it becomes difficult to melt the glass and the devitrification resistance deteriorates.

【0024】Al23は、B23と共存して紫外線吸収
を抑える働きがある。また、ガラスの耐候性、耐薬品性
を向上させる作用を有するが、その含有量が9質量%よ
り少ないと、その効果が小さい。一方、25質量%を超
えて含有するとガラスの溶融性、耐失透性が悪化する。
より好ましいAl23の範囲は10〜20質量%、最も
好ましい範囲は10〜18質量%である。
Al 2 O 3 coexists with B 2 O 3 to suppress the absorption of ultraviolet rays. Further, it has an effect of improving the weather resistance and chemical resistance of glass, but if the content is less than 9% by mass, the effect is small. On the other hand, if the content exceeds 25% by mass, the meltability and devitrification resistance of the glass deteriorate.
A more preferable range of Al 2 O 3 is 10 to 20% by mass, and a most preferable range is 10 to 18% by mass.

【0025】B23は、ガラスの粘度を下げて熔融性を
向上させる。本発明のような無アルカリガラスにおいて
は、ガラスの熔融性を高めるアルカリ成分が含まれてい
ないため、B23などの成分を融剤として含有させ、熔
融性を向上させる必要がある。ガラスの熔融性が高くな
ると、製造されるガラス生地の均質性が高くなり、脈理
の少ない、好ましいガラスを得ることができる。また、
23はガラス構造を構成する網目形成酸化物として働
くため、特に本発明のような組成系ではガラスの失透性
を向上する作用も有する。B23含有量が3質量%より
少ないと、上記の効果が小さく、一方、25質量%を超
えるとガラスの耐薬品性、耐候性が著しく悪化するとと
もに、ガラスが分相しやすくなるため好ましくない。ま
た、溶融時の揮発量が増えて均質なガラスが得られ難く
なる。より好ましいB23の範囲は3〜20質量%、最
も好ましい範囲は5〜15質量%である。
B 2 O 3 lowers the viscosity of the glass and improves the meltability. Since the alkali-free glass as in the present invention does not contain an alkali component that enhances the meltability of the glass, it is necessary to add a component such as B 2 O 3 as a flux to improve the meltability. When the meltability of the glass becomes high, the homogeneity of the glass material to be produced becomes high, and a preferable glass having less striae can be obtained. Also,
Since B 2 O 3 acts as a network-forming oxide that constitutes the glass structure, it also has the function of improving the devitrification property of the glass, particularly in the composition system of the present invention. If the B 2 O 3 content is less than 3% by mass, the above effect is small, while if it exceeds 25% by mass, the chemical resistance and weather resistance of the glass are significantly deteriorated and the glass tends to undergo phase separation. Not preferable. Further, the amount of volatilization at the time of melting increases, and it becomes difficult to obtain a homogeneous glass. The more preferable range of B 2 O 3 is 3 to 20% by mass, and the most preferable range is 5 to 15% by mass.

【0026】MgOは高温粘度を下げ、ガラスの溶融性
を改善する働きがあるが、その含有量が5%を超えると
液相温度が上昇する。
MgO has the function of lowering the viscosity at high temperature and improving the meltability of glass, but if its content exceeds 5%, the liquidus temperature rises.

【0027】CaOは高温粘度を下げ、ガラスの溶融性
を改善する働きがあるが、その含有量が12%を超える
とガラスの耐候性が低下し、さらに熱膨張係数が高くな
り過ぎる。
CaO has the function of lowering the viscosity at high temperature and improving the meltability of glass, but if its content exceeds 12%, the weather resistance of the glass decreases and the coefficient of thermal expansion becomes too high.

【0028】BaOおよびSrOは、いずれもガラスの
耐失透性、耐薬品性を向上させる成分であるが、多量に
含有するとガラスの熱膨張係数が上昇するため、各々の
含有量を15質量%以下および12質量%以下に規制す
ることが望ましい。
BaO and SrO are both components that improve the devitrification resistance and chemical resistance of the glass, but when contained in large amounts, the thermal expansion coefficient of the glass increases, so each content is 15% by mass. It is desirable to control the content to be not more than 12 mass%.

【0029】ZnOは、熱膨張係数を変えずに粘度を下
げる作用を有するが、その含有量が5質量%より多い
と、ガラスの耐候性が低下するとともに耐失透性が悪化
する。
ZnO has the effect of lowering the viscosity without changing the coefficient of thermal expansion, but if its content is more than 5% by mass, the weather resistance of the glass decreases and the devitrification resistance deteriorates.

【0030】ZrO2は、ガラスの耐薬品性、特に耐酸
性を改善すると共に、高温粘性を下げて溶融性を向上さ
せる成分であるが、5質量%より多いとジルコン、ある
いはジルコニアの失透が発生し易くなる。
ZrO 2 is a component that improves the chemical resistance, particularly acid resistance, of the glass and lowers the viscosity at high temperature to improve the meltability, but when it is more than 5% by mass, the devitrification of zircon or zirconia is caused. It tends to occur.

【0031】TiO2は、耐薬品性、特に耐酸性を改善
すると共に、高温粘度を低下し、溶融性を向上させる
が、2質量%より多くなると紫外線透過率が低下する。
TiO 2 improves chemical resistance, particularly acid resistance, and also lowers high temperature viscosity and meltability, but if it is more than 2% by mass, ultraviolet transmittance decreases.

【0032】P25は、本発明の組成系においてはガラ
スの耐失透性を改善する働きがあるが、その含有量が5
質量%を超えるとガラスが分相しやすくなるとともに、
耐酸性が著しく悪化する。
P 2 O 5 has a function of improving the devitrification resistance of the glass in the composition system of the present invention, but its content is 5
When the content exceeds 100% by mass, the glass tends to undergo phase separation,
Acid resistance is significantly deteriorated.

【0033】尚、本発明においては、上記の成分以外に
も、紫外線着色等、ガラスの特性を劣化させることが起
こらない範囲で、As23、Sb23、SnO2、塩化
物、弗化物、硫酸塩、などの清澄剤および熔融促進剤を
含有させることが可能である。また、Y23、La
23、Nb25等の成分についても少量含有させること
が可能である。これらの成分を少量づつ添加することに
より、更にガラスの耐失透性を高められる可能性があ
る。また、Al、Siなどの還元剤は本発明のガラスの
Fe3+をFe2+に変化させる働きがあるため、紫外線透
過率を高めることができ、必要に応じて適宜含有させる
ことが可能である。しかし、還元剤成分の使用はガラス
の清澄性に影響を及ぼし、製品の泡品位が悪化する恐れ
があるため、慎重を要する。
In the present invention, in addition to the above components, As 2 O 3 , Sb 2 O 3 , SnO 2 , chloride, Clarifying agents such as fluorides and sulfates and melting accelerators can be included. In addition, Y 2 O 3 and La
Components such as 2 O 3 and Nb 2 O 5 can be contained in small amounts. By adding these components little by little, the devitrification resistance of the glass may be further enhanced. Further, since a reducing agent such as Al or Si has a function of changing Fe 3+ in the glass of the present invention to Fe 2+ , it is possible to enhance the ultraviolet transmittance and, if necessary, can be appropriately contained. is there. However, the use of the reducing agent component affects the clarity of the glass, and the foam quality of the product may be deteriorated.

【0034】上記の組成を有するガラスは、厚さが0.
3mmでの波長320および400nmの光透過率がそ
れぞれ70%以上、90%以上であるため、波長300
〜460nmの光を発光、受光する青色等の短波長半導
体レーザーのカバーガラスとして使用するには好適であ
る。
The glass having the above composition has a thickness of 0.
Since the light transmittances at wavelengths 320 and 400 nm at 3 mm are 70% or more and 90% or more, respectively,
It is suitable for use as a cover glass for a short-wavelength semiconductor laser such as blue that emits and receives light of 460 nm.

【0035】[0035]

【実施例】以下、本発明の光半導体用カバーガラスを実
施例に基づいて詳細に説明する。
EXAMPLES The cover glass for an optical semiconductor of the present invention will be described in detail below based on examples.

【0036】表1は実施例(試料No.1〜11)の光
半導体用カバーガラス(以降カバーガラスと称す)を、
表2は比較例(試料No.12〜17)のカバーガラス
を示すものである。
Table 1 shows cover glasses for optical semiconductors (hereinafter referred to as cover glasses) of Examples (Sample Nos. 1 to 11).
Table 2 shows the cover glasses of Comparative Examples (Sample Nos. 12 to 17).

【0037】[0037]

【表1】 [Table 1]

【0038】[0038]

【表2】 [Table 2]

【0039】表中のカバーガラスは、次のようにして作
製した。
The cover glass in the table was prepared as follows.

【0040】まず表の組成となるようにガラス原料を調
合したバッチを白金坩堝に入れ、電気炉中で1580
℃、24時間溶融した後、カーボン板上に流し出して板
状に成形し、次いで徐冷炉で除歪した。こうして得られ
たガラス試料について、密度、熱膨張係数、粘度、耐硫
酸(H2SO4)性、液相温度、波長320nm、400
nm、550nm、および700nmにおける光透過率
を測定し表に示した。また耐紫外線ソラリゼーション性
についても同様に評価し、表に記載した。
First, a batch prepared by mixing glass raw materials so as to have the composition shown in the table was put in a platinum crucible and placed in an electric furnace at 1580.
After melting at ℃ for 24 hours, it was cast on a carbon plate to form a plate, and then strained in a slow cooling furnace. The density, thermal expansion coefficient, viscosity, sulfuric acid (H 2 SO 4 ) resistance, liquidus temperature, wavelength 320 nm, 400
The light transmittances in nm, 550 nm and 700 nm were measured and shown in the table. In addition, the UV solarization resistance was evaluated in the same manner and is shown in the table.

【0041】表1から、実施例のカバーガラスである試
料No.1〜11は、熱膨張係数が32〜45×10-7
/Kと好適な値を示し、光透過率は波長320nmで7
5〜90%、波長400nmで90〜92%、550n
mおよび700nmの透過率についても91〜92%と
優れていた。また、実施例No.1〜11の試料は、耐
紫外線ソラリゼーション性が1%以下と良好であった。
またその液相温度も1103℃以下と低く、102.5
Pa・s温度も1610℃以下であり、十分な熔融性、
成形性を兼ね備えている。また耐硫酸性の浸食量も0.
1mg/cm2未満と優れていた。
From Table 1, Sample No. which is the cover glass of the example. 1 to 11 have a thermal expansion coefficient of 32 to 45 × 10 −7
/ K shows a suitable value, and the light transmittance is 7 at a wavelength of 320 nm.
5 to 90%, 90 to 92% at a wavelength of 400 nm, 550n
The transmittances at m and 700 nm were also excellent at 91 to 92%. In addition, Example No. The samples Nos. 1 to 11 had good resistance to UV solarization of 1% or less.
Also, its liquidus temperature is as low as 1103 ° C or lower, 10 2.5 d
The Pa · s temperature is also 1610 ° C. or lower, which is sufficient meltability,
Combines moldability. Also, the erosion amount of sulfuric acid resistance is 0.
It was excellent at less than 1 mg / cm 2 .

【0042】また、試料No.3および7のガラスを使
用して厚さが0.5mmのカバーガラスを作製し、波長
320nmおよび波長400nmの光透過率を測定し
た。光透過率は波長320nmで89〜90%、波長4
00nmで91〜92%と優れていた。
Sample No. A cover glass having a thickness of 0.5 mm was prepared using the glasses 3 and 7 and the light transmittances at wavelengths of 320 nm and 400 nm were measured. Light transmittance is 89-90% at wavelength 320nm, wavelength 4
It was excellent at 91 to 92% at 00 nm.

【0043】一方、比較例のカバーガラスである12、
13はFe23含有量が高く、320nmにおける光透
過率が65%および59%と低く、400nmにおける
光透過率も85%および83%と低かった。また、耐紫
外線ソラリゼーション性についても3.2%、4%と悪
い結果を示した。また比較例13は熱膨張係数が65×
10-7/Kと高かった。比較例14については耐紫外線
ソラリゼーション性が悪く、比較例15は320nm、
400nmの透過率が低いとともに耐硫酸性が劣ってい
た。比較例16は液相温度、102.5dPa・s温度がい
ずれも高く熔融性、成形性に劣るとともに耐紫外線ソラ
リゼーション性にも劣っていた。比較例17は耐硫酸性
に劣っていた。
On the other hand, the cover glass of the comparative example 12,
In No. 13, the Fe 2 O 3 content was high, the light transmittance at 320 nm was low at 65% and 59%, and the light transmittance at 400 nm was low at 85% and 83%. In addition, the UV solarization resistance was a bad result of 3.2% and 4%. Further, Comparative Example 13 has a coefficient of thermal expansion of 65 ×
It was as high as 10 -7 / K. Comparative Example 14 was poor in UV solarization resistance, and Comparative Example 15 was 320 nm.
The transmittance at 400 nm was low and the sulfuric acid resistance was poor. Comparative Example 16 had a high liquidus temperature and a high temperature of 10 2.5 dPa · s, was inferior in meltability and moldability, and was also inferior in ultraviolet solarization resistance. Comparative Example 17 was inferior in sulfuric acid resistance.

【0044】尚、表中の密度は、周知のアルキメデス法
によって測定した。
The densities in the table were measured by the well-known Archimedes method.

【0045】熱膨張係数は、ディラトメーターを用い
て、30〜380℃の温度範囲における平均熱膨張係数
を測定した。
As for the thermal expansion coefficient, the average thermal expansion coefficient in the temperature range of 30 to 380 ° C. was measured using a dilatometer.

【0046】歪点、徐冷点は、ASTM C336−7
1の方法に基づいて測定した。これらの値が高いほど、
ガラスの耐熱性が高いということになる。また高温粘度
10 2.5dPa・sの温度は、白金球引き上げ法で測定し
た。高温粘度である102.5dPa・sに相当する温度
は、溶融温度を示しており、この温度が低いほど、溶融
性に優れていることになる。
The strain point and annealing point are ASTM C336-7.
It measured based on the method of 1. The higher these values,
This means that the heat resistance of glass is high. Also high temperature viscosity
10 2.5The temperature of dPa · s is measured by the platinum ball lifting method.
It was High temperature viscosity 102.5Temperature equivalent to dPa · s
Indicates the melting temperature, and the lower this temperature is, the melting
It is excellent in sex.

【0047】耐硫酸性については、次の方法で評価し
た。まず各ガラスを、10×50×0.3mmのサイズ
に加工し両面を光学研磨して、評価用の試料とした。薬
品処理前のサンプル重量をあらかじめ化学天秤で精密に
測定し、その後、50体積%の濃度に調合した濃硫酸薬
液中に、80℃、1時間浸漬した。薬液処理後、再びサ
ンプル重量を精密に測定し処理前後での重量差(mg)
を求めた。これをサンプルの表面積(10.36c
2)で除して浸食量(mg/cm2)とした。
The sulfuric acid resistance was evaluated by the following method. First, each glass was processed into a size of 10 × 50 × 0.3 mm, and both surfaces were optically polished to prepare a sample for evaluation. The sample weight before chemical treatment was precisely measured in advance by an analytical balance, and then immersed in a concentrated sulfuric acid chemical solution prepared to have a concentration of 50% by volume at 80 ° C. for 1 hour. After the chemical treatment, the sample weight is precisely measured again, and the weight difference before and after the treatment (mg)
I asked. This is the surface area of the sample (10.36c
It was divided by m 2 ) to obtain the erosion amount (mg / cm 2 ).

【0048】液相温度は、各ガラス試料を粉砕し、標準
篩30メッシュ(500μm)を通過し、50メッシュ
(300μm)に残るガラス粉末を白金ボートに入れ、
温度勾配炉中に24時間保持して、結晶の析出する温度
を測定したものである。
The liquidus temperature was such that each glass sample was crushed and passed through a standard sieve 30 mesh (500 μm), and the glass powder remaining on 50 mesh (300 μm) was put into a platinum boat.
The temperature at which crystals are precipitated is measured by holding the sample in a temperature gradient furnace for 24 hours.

【0049】光透過率は、各ガラスを短辺20×長辺3
0×厚さ0.3mmの大きさに加工して両面を鏡面研磨
したものを試料とし、分光光度計で300〜600nm
の範囲の透過率を測定して、波長320nmおよび40
0nmでの光透過率の値で評価を行った。
The light transmittance of each glass is 20 short sides × 3 long sides.
300 × 600 nm with a spectrophotometer, which is processed into a size of 0 × 0.3 mm and mirror-polished on both sides.
Of the wavelengths of 320 nm and 40
The evaluation was performed by the value of light transmittance at 0 nm.

【0050】耐紫外線ソラリゼーション性は次のように
して評価した。まず厚さ0.3mmの板状ガラスの表面
を光学研磨して得た試料の波長400nmにおける光透
過率を測定した。更にその試料に40Wの低圧水銀ラン
プによって、主波長253.7nmの紫外線を60分間
照射した後、波長400nmの光透過率を改めて測定し
た。初期透過率と紫外線照射後の光透過率との差を求め
ることにより、紫外線による光透過率の低下を求めた。
このとき、耐紫外線ソラリゼーション性に劣るガラスほ
ど、この光透過率低下が大きくなる。本発明の用途であ
る光半導体用カバーガラスにおいては、上記試験による
耐紫外線ソラリゼーション性が1%以下とほとんど変化
しないことが求められる。
UV solarization resistance was evaluated as follows. First, the light transmittance at a wavelength of 400 nm of a sample obtained by optically polishing the surface of a plate glass having a thickness of 0.3 mm was measured. Further, the sample was irradiated with ultraviolet rays having a main wavelength of 253.7 nm for 60 minutes by a 40 W low-pressure mercury lamp, and then the light transmittance at a wavelength of 400 nm was measured again. By determining the difference between the initial transmittance and the light transmittance after irradiation with ultraviolet rays, the decrease in light transmittance due to ultraviolet rays was determined.
At this time, the lower the UV solarization resistance of the glass, the greater the decrease in the light transmittance. In the cover glass for optical semiconductors, which is an application of the present invention, it is required that the resistance to UV solarization by the above test is almost unchanged to 1% or less.

【0051】[0051]

【発明の効果】本発明の光半導体用カバーガラスは、実
質的にアルカリ金属酸化物を含まない多成分系の酸化物
ガラスからなり、Fe3+の含有量がFe23換算値で
0.03質量%以下であり、厚さが0.3mm以下での
波長320nmおよび400nmの光透過率がそれぞれ
70%以上、90%以上であるので、青色等の短波長の
半導体レーザー光を用いる次世代DVD等の大容量メデ
ィアの読み書き装置に使用することができる。
The cover glass for optical semiconductors of the present invention is composed of a multi-component oxide glass substantially containing no alkali metal oxide, and has a Fe 3+ content of 0 in terms of Fe 2 O 3. Since it is 0.03 mass% or less and the light transmittances of wavelengths 320 nm and 400 nm at a thickness of 0.3 mm or less are 70% or more and 90% or more, respectively, semiconductor laser light of a short wavelength such as blue is used. It can be used for a read / write device for large-capacity media such as a generation DVD.

【0052】また、総Fe含有量がFe23換算値で
0.03質量%以下であり、厚さが0.5mm以下での
波長320nmおよび400nmの光透過率がそれぞれ
70%以上、90%以上である本発明の光半導体用カバ
ーガラスによれば、青色等短波長の半導体レーザー光の
光透過率が高く、安定した光信号の入出力が可能とな
る。
Further, the total Fe content is 0.03 mass% or less in terms of Fe 2 O 3, and the light transmittances at wavelengths of 320 nm and 400 nm at a thickness of 0.5 mm or less are 70% or more and 90%, respectively. According to the cover glass for an optical semiconductor of the present invention having a content of at least%, the optical transmittance of semiconductor laser light having a short wavelength such as blue is high, and stable input / output of optical signals becomes possible.

【0053】また、本発明の光半導体用カバーガラス
は、30〜380℃の温度範囲における熱膨張係数が2
0〜50×10-7/Kであるので、コバール、42鉄ニ
ッケル合金、アルミナ等が用いられるパッケージよりも
少しだけ熱膨張係数小さく、封着後のカバーガラスに圧
縮歪が入るようになっており、カバーガラスの強度を高
く維持することができ、信頼性の高い光半導体のパッケ
ージが可能となる。
The cover glass for optical semiconductors of the present invention has a coefficient of thermal expansion of 2 in the temperature range of 30 to 380.degree.
Since it is 0 to 50 × 10 −7 / K, the coefficient of thermal expansion is slightly smaller than that of the package in which Kovar, 42 iron nickel alloy, alumina, etc. are used, and the cover glass after sealing comes to have compressive strain. Therefore, the strength of the cover glass can be kept high, and a highly reliable optical semiconductor package can be realized.

【0054】さらに、Fe3+の含有量がFe23換算値
で0.03質量%以下または総Fe含有量がFe23
算値で0.03質量%以下であり、質量%で、SiO2
50〜70%、Al23 9〜25%、B23 3〜
25%、MgO 0〜5%、CaO 0〜12%、Ba
O 0〜15%、SrO 0〜12%、ZnO 0〜5
%、ZrO2 0〜5%、TiO2 0〜2%、P25
0〜5% のガラス組成を有する光半導体用カバーガラ
スによれば、紫外線を吸収しソラリゼーションを起こし
てガラスを着色するアルカリ金属酸化物成分を実質的に
含有せず、紫外線透過率の低下、および紫外線ソラリゼ
ーションによる光透過率低下を引き起こす不純物のFe
23を0.03質量%(300ppm)以下に抑えて、
320nmの光透過率がそれぞれ70%以上および40
0nm〜700nmの光透過率が90%以上と近紫外域
から可視域あるいは近赤外までの半導体レーザー光のほ
ぼ全領域に亘って高い光透過率を有するので、従来の半
導体レーザー光から次世代DVD等の大容量メディアの
読み書きに使用される青色等の短波長の半導体レーザー
光まで十分に透過し、かつ紫外線着色等の材質劣化がな
く、長期間に亘って光透過率が安定しており、次世代の
光半導体カバーガラスとして好適である。
Further, the Fe 3+ content is 0.03 mass% or less in terms of Fe 2 O 3, or the total Fe content is 0.03 mass% or less in terms of Fe 2 O 3 , and in mass% , SiO 2
50-70%, Al 2 O 3 9-25%, B 2 O 3 3-
25%, MgO 0-5%, CaO 0-12%, Ba
O 0-15%, SrO 0-12%, ZnO 0-5
%, ZrO 2 0 to 5%, TiO 2 0 to 2%, P 2 O 5
According to the cover glass for an optical semiconductor having a glass composition of 0 to 5%, the cover glass for an optical semiconductor does not substantially contain an alkali metal oxide component that absorbs ultraviolet rays and causes solarization to color the glass, resulting in a decrease in ultraviolet transmittance, and Impurity Fe that causes a decrease in light transmittance due to ultraviolet solarization
2 O 3 is suppressed to 0.03 mass% (300 ppm) or less,
The light transmittance of 320 nm is 70% or more and 40 respectively.
Since the light transmittance from 0 nm to 700 nm is 90% or more, and the high light transmittance over almost the entire range of the semiconductor laser light from the near-ultraviolet region to the visible region or the near-infrared region, the conventional semiconductor laser light can be used for the next generation. It can transmit even short wavelength semiconductor laser light such as blue, which is used for reading and writing large capacity media such as DVD, and has no deterioration of material such as UV coloring, and the light transmittance is stable for a long time. Suitable as a next-generation optical semiconductor cover glass.

【0055】本発明の光半導体用カバーガラスは、光半
導体が波長300〜460nmの光を発光または受光す
るものであるので、短波長の光半導体カバーガラスとし
て好適であり次世代DVD等の大容量メディアに対応し
た、信頼性の高い光半導体部品を作製することができる
実用上優れた効果を奏するものである。
The cover glass for optical semiconductors of the present invention is suitable as a short-wavelength optical semiconductor cover glass because the optical semiconductor emits or receives light having a wavelength of 300 to 460 nm, and has a large capacity for next-generation DVDs and the like. It is possible to produce a highly reliable optical semiconductor component corresponding to a medium, and it has an excellent effect in practical use.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】光半導体用カバーガラスを使用した半導体レー
ザー用金属キャップの断面図。
FIG. 1 is a sectional view of a metal cap for a semiconductor laser using a cover glass for an optical semiconductor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 発光デバイス 2 金属キャップ 2a 透光孔 3 半導体レーザー 4 カバーガラス 5 封着材料 1 Light emitting device 2 metal caps 2a Translucent hole 3 Semiconductor laser 4 cover glass 5 Sealing material

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 実質的にアルカリ金属酸化物を含まない
多成分系の酸化物ガラスからなり、Fe3+の含有量がF
23換算値で0.03質量%以下であり、厚さが0.
3mm以下での波長320nmおよび400nmの光透
過率がそれぞれ70%以上、90%以上であることを特
徴とする光半導体用カバーガラス。
1. A multi-component oxide glass that is substantially free of alkali metal oxides and has a Fe 3+ content of F.
e 2 O 3 is 0.03 mass% or less in terms of value, thickness 0.
A cover glass for optical semiconductors, which has a light transmittance of 70% or more and 90% or more at wavelengths of 320 nm and 400 nm at 3 mm or less, respectively.
【請求項2】 総Fe含有量がFe23換算値で0.0
3質量%以下であり、厚さが0.5mm以下での波長3
20nmおよび400nmの光透過率がそれぞれ70%
以上、90%以上である請求項1に記載の光半導体用カ
バーガラス。
2. The total Fe content is 0.0 in terms of Fe 2 O 3.
3% by mass or less and a wavelength of 3 at a thickness of 0.5 mm or less
70% light transmission at 20 nm and 400 nm respectively
It is 90% or more above, The cover glass for optical semiconductors of Claim 1.
【請求項3】 30〜380℃の温度範囲における熱膨
張係数が20〜50×10-7/Kであることを特徴とす
る請求項1〜2の何れかに記載の光半導体用カバーガラ
ス。
3. The cover glass for an optical semiconductor according to claim 1, which has a coefficient of thermal expansion of 20 to 50 × 10 −7 / K in a temperature range of 30 to 380 ° C.
【請求項4】 質量%で、SiO2 50〜70%、A
23 9〜25%、B23 3〜25%、MgO 0
〜5%、CaO 0〜12%、BaO 0〜15%、S
rO 0〜12%、ZnO 0〜5%、ZrO2 0〜
5%、TiO20〜2%、P25 0〜5% のガラス
組成を有することを特徴とする請求項1〜3の何れかに
記載の光半導体用カバーガラス。
4. SiO 2 50-70% by weight, A
l 2 O 3 9~25%, B 2 O 3 3~25%, MgO 0
~ 5%, CaO 0-12%, BaO 0-15%, S
rO 0-12%, ZnO 0-5%, ZrO 2 0-
5%, TiO 2 0~2%, P 2 O 5 0~5% of the optical semiconductor cover glass according to any one of claims 1 to 3, characterized by having a glass composition.
【請求項5】 光半導体が波長300〜460nmの光
を発光または受光するものであることを特徴とする請求
項1〜4の何れかに記載の光半導体用カバーガラス。
5. The cover glass for an optical semiconductor according to claim 1, wherein the optical semiconductor emits or receives light having a wavelength of 300 to 460 nm.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2004075289A1 (en) * 2003-02-19 2004-09-02 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Cover glass for semiconductor package and method for producing same

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