JP2003166933A - Measuring-chip holder and measuring-chip conveyance system - Google Patents
Measuring-chip holder and measuring-chip conveyance systemInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、測定チップを保護
すると共にハンドリングする際に用いられる測定チップ
ホルダに関し、特に、表面プラズモン共鳴（ｓｕｒｆａ
ｃｅ ｐｌａｓｍｏｎ ｒｅｓｏｎａｎｃｅ：ＳＰＲ）
測定等の全反射減衰を利用した測定に用いられる測定チ
ップを保護する測定チップホルダに関する。また、本発
明は、そのような測定チップホルダを用いた測定チップ
搬送システムに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring tip holder used for protecting and handling a measuring tip, and more particularly to surface plasmon resonance (surfa resonance).
ce plasmon resonance (SPR)
The present invention relates to a measurement chip holder that protects a measurement chip used for measurement using attenuation of total reflection such as measurement. The present invention also relates to a measuring chip transport system using such a measuring chip holder.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来より、全反射減衰を利用して試料中
の物質を定量分析する方法は知られており、特に、表面
プラズモン共鳴測定は、バイオセンサとして広く利用さ
れている。図９は、表面プラズモン共鳴測定の原理を説
明するための図である。プリズム１０１の表面には、金
属薄膜１０２が蒸着等によって形成されている。さら
に、金属薄膜１０２の上には、検出対象である物質を含
む試料１０３が乗せられている。2. Description of the Related Art Conventionally, a method of quantitatively analyzing a substance in a sample by utilizing attenuation of total reflection has been known, and in particular, surface plasmon resonance measurement is widely used as a biosensor. FIG. 9 is a diagram for explaining the principle of surface plasmon resonance measurement. A metal thin film 102 is formed on the surface of the prism 101 by vapor deposition or the like. Further, a sample 103 containing a substance to be detected is placed on the metal thin film 102.
【０００３】このようなプリズム１０１の透明誘電体と
金属薄膜１０２との界面で全反射条件となるように、光
Ｌ１を様々な入射角でプリズム１０１に入射させる。こ
こで、光Ｌ１を様々な入射角でプリズム１０１に入射さ
せるようにするためには、細い光ビームを偏向させなが
らプリズム１０１に入射させても良いし、太い光ビーム
を収束させながらプリズム１０１に入射させても良い。
図９においては、光源１０４から出射された光を、レン
ズ１０５によって収束させてプリズム１０１に入射させ
ている。The light L1 is made incident on the prism 101 at various incident angles so that total reflection conditions are obtained at the interface between the transparent dielectric of the prism 101 and the metal thin film 102. Here, in order to make the light L1 enter the prism 101 at various incident angles, a thin light beam may be incident on the prism 101 while being deflected, or a thick light beam may be incident on the prism 101 while being converged. It may be incident.
In FIG. 9, the light emitted from the light source 104 is converged by the lens 105 and is incident on the prism 101.
【０００４】光Ｌ１を金属薄膜１０２に対して全反射角
以上の入射角で入射させると、金属薄膜１０２に接して
いる試料１０３中に、電界分布を有するエバネッセント
波が生じる。このエバネッセント波により、金属薄膜１
０２と試料１０３との界面に、表面プラズモンが励起さ
れる。このとき、エバネッセント波と表面プラズモンと
の間で波数整合が成立すると共鳴状態となり、エバネッ
セント波のエネルギが表面プラズモンに移行する。これ
により、プリズム１０１と金属薄膜１０２との界面に特
定の入射角θ0で入射して全反射された光の強度が、鋭
く低下する。このような光の強度の低下は、光検出器１
０６により、反射光Ｌ２中の暗線として検出される。な
お、このような表面プラズモン共鳴は、入射光がｐ偏光
であるときに生じるので、入射光Ｌ１がｐ偏光となるよ
うに予め設定しておく。When the light L1 is incident on the metal thin film 102 at an angle of incidence equal to or greater than the total reflection angle, an evanescent wave having an electric field distribution is generated in the sample 103 in contact with the metal thin film 102. Due to this evanescent wave, the metal thin film 1
Surface plasmons are excited at the interface between 02 and the sample 103. At this time, when wave number matching is established between the evanescent wave and the surface plasmon, a resonance state is established, and the energy of the evanescent wave is transferred to the surface plasmon. As a result, the intensity of light that is incident on the interface between the prism 101 and the metal thin film 102 at a specific incident angle θ 0 and is totally reflected is sharply reduced. Such a decrease in light intensity is caused by the photodetector 1.
From 06, it is detected as a dark line in the reflected light L2. Since such surface plasmon resonance occurs when the incident light is p-polarized light, it is set in advance so that the incident light L1 is p-polarized light.
【０００５】表面プラズモンの波数ｋSPは、次の式によ
って決定される。ここで、表面プラズモンの波数を
ｋSP、真空中での光の波数をｋ0、金属の誘電率をεM、
試料の誘電率をεSとする。The wave number k SP of the surface plasmon is determined by the following equation. Here, the wave number of surface plasmon is k SP , the wave number of light in vacuum is k 0 , the dielectric constant of metal is ε M ,
Let the dielectric constant of the sample be ε S.
【数１】
また、エバネッセント波の波数ｋEは、次の式で与えら
れる。ここで、プリズムの屈折率をｎ0、入射角をθと
する。
ｋE＝ｋ0ｎ0ｓｉｎθ …（２）[Equation 1] The wave number k E of the evanescent wave is given by the following equation. Here, the refractive index of the prism is n 0 and the incident angle is θ. k E = k 0 n 0 sin θ (2)
【０００６】エバネッセント波の波数ｋEと、表面プラ
ズモンの波数ｋSPが等しくなるような入射角θ0におい
て表面プラズモン共鳴が起こり、全反射減衰が生じる。
従って、全反射減衰が生じる入射角θ0を観測すること
により、式（１）及び式（２）に基づいて、全反射減衰
が生じるときの誘電率εSを算出することができる。さ
らに、この誘電率εSから、較正曲線等を利用すること
により、試料中の検出対象である物質の濃度を求めるこ
とができる。At the incident angle θ 0 at which the wave number k E of the evanescent wave and the wave number k SP of the surface plasmon are equal, surface plasmon resonance occurs and total reflection attenuation occurs.
Therefore, by observing the incident angle θ 0 at which the attenuated total reflection occurs, the dielectric constant ε S when the attenuated total reflection occurs can be calculated based on the equations (1) and (2). Further, the concentration of the substance to be detected in the sample can be obtained from this dielectric constant ε S by using a calibration curve or the like.
【０００７】表面プラズモン共鳴測定をバイオセンサに
適用するためには、例えば、金属薄膜１０２の上に、検
出対象である物質と特定の反応を起こす媒体（以下、
「センシング媒体」という）を固定しておく。特定の反
応とは、例えば、抗原抗体反応であり、試料に含まれる
抗原を検出する場合に、その抗原に対する抗体をセンシ
ング媒体として用いる。センシング媒体の上に検出対象
である物質を含む試料を置くと、金属薄膜１０２上で、
試料に含まれる抗原の濃度に応じた抗原抗体反応が起こ
る。これにより試料１０３の屈折率が変化するので、金
属薄膜１０２と試料１０３との界面において生じる表面
プラズモンの波数が変化する。これに伴い、上記のよう
な表面プラズモン共鳴が起こる入射角θ0及びその反射
角が変化する。従って、光検出器８によって暗線の位置
（角度）変化を検出することにより、試料中の特定物質
の濃度を間接的に測定することができる。In order to apply the surface plasmon resonance measurement to a biosensor, for example, a medium that causes a specific reaction with a substance to be detected (hereinafter referred to as a metal thin film 102).
"Sensing medium") is fixed. The specific reaction is, for example, an antigen-antibody reaction, and when detecting an antigen contained in a sample, an antibody against the antigen is used as a sensing medium. When a sample containing a substance to be detected is placed on the sensing medium, on the metal thin film 102,
An antigen-antibody reaction occurs depending on the concentration of the antigen contained in the sample. Since this changes the refractive index of the sample 103, the wave number of the surface plasmon generated at the interface between the metal thin film 102 and the sample 103 changes. Along with this, the incident angle θ 0 at which the above-mentioned surface plasmon resonance occurs and the reflection angle thereof change. Therefore, the concentration of the specific substance in the sample can be indirectly measured by detecting the position (angle) change of the dark line by the photodetector 8.
【０００８】ところで、このような表面プラズモン共鳴
測定においては、測定に用いられる光が入射及び出射さ
れるプリズム部分と、液体の試料を入れて抗原抗体反応
を起こさせる容器とが、透明誘電体によって一体成形さ
れた測定チップ（プリズムカップとも呼ばれる）が用い
られることがある。このような測定チップは、プリズム
部分と容器部分とのマッチング等を考慮しなくても良
く、測定においては大変便利である。一方、このような
測定チップは、小さい上に、測定に用いられる光の入射
面又は出射面でもある測定チップの側面が汚染される恐
れがあるため、ハンドリングする際に扱いにくいという
欠点がある。また、測定チップを連続して測定する測定
装置においては、多数の測定チップを手早く測定装置に
セットしなくてはならないが、このような場合でも、測
定チップの扱いにくさが問題となっている。By the way, in such a surface plasmon resonance measurement, a prism portion into and out of which light used for the measurement enters and exits, and a container in which a liquid sample is placed to cause an antigen-antibody reaction to occur are made of a transparent dielectric material. An integrally molded measuring tip (also called a prism cup) may be used. Such a measuring chip does not need to consider matching between the prism portion and the container portion, and is very convenient in measurement. On the other hand, such a measuring chip is small and has a drawback that it is difficult to handle when handling because the side surface of the measuring chip, which is also an incident surface or an emitting surface of light used for measurement, may be contaminated. Further, in a measuring device for continuously measuring the measuring chips, it is necessary to quickly set a large number of measuring chips in the measuring device, but even in such a case, the handling of the measuring chips becomes a problem. .
【０００９】[0009]
【発明が解決しようとする課題】そこで、上記の点に鑑
み、本発明は、測定チップを保護し、直接測定チップに
触れることなくハンドリングすることができると共に、
測定チップの保持及び解放を容易に行うことができる測
定チップホルダを提供することを目的とする。また、本
発明は、そのような測定チップホルダを用いて、測定チ
ップを容易に測定装置にセットすることができる測定チ
ップ搬送システムを提供することを目的とする。Therefore, in view of the above points, the present invention protects the measuring chip and enables handling without directly touching the measuring chip.
An object of the present invention is to provide a measuring tip holder that can easily hold and release the measuring tip. It is another object of the present invention to provide a measuring chip transfer system that can easily set a measuring chip in a measuring device using such a measuring chip holder.
【００１０】[0010]
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
め、本発明に係る測定チップホルダは、全反射減衰を利
用した測定において用いられる測定チップの側面を囲む
ように保持する測定チップホルダであって、向かい合う
ように配置されている１組の側壁部と、１組の側壁部を
連結するように、向かい合うように形成されている１組
の肩部であって、それぞれの内壁に測定チップの落下を
防止する突起が設けられている１組の肩部と、１組の側
壁部を連結するように、向かい合うように形成されてい
る１組の脚部とを具備する。In order to solve the above problems, a measuring chip holder according to the present invention is a measuring chip holder for holding a side surface of a measuring chip used in a measurement utilizing attenuation of total reflection so as to surround the side surface. A pair of side walls arranged to face each other and a pair of shoulders formed to face each other so as to connect the pair of side walls. A pair of shoulders provided with protrusions for preventing the falling of the base and a pair of legs formed to face each other so as to connect the pair of side walls.
【００１１】また、本発明に係る測定チップ搬送システ
ムは、上記の測定チップホルダと、所定の数の測定チッ
プホルダを収納するケースであって、底部の一部に空孔
が形成されているケースと、ケースを搬送する第１の手
段と、測定チップホルダが保持する測定チップが測定チ
ップホルダから解放されるように、ケースに収納されて
いる測定チップホルダの所定の部分に力を加える第２の
手段と、第２の手段によって解放された測定チップを、
全反射減衰を利用した測定装置における測定位置に導く
第３の手段とを具備する。The measuring chip transport system according to the present invention is a case for accommodating the above measuring chip holders and a predetermined number of measuring chip holders, in which a hole is formed in a part of the bottom. A first means for transporting the case, and a second means for applying a force to a predetermined portion of the measuring chip holder housed in the case so that the measuring chip held by the measuring chip holder is released from the measuring chip holder. And the measuring tip released by the second means,
And a third means for guiding to a measurement position in the measuring apparatus using attenuation of total reflection.
【００１２】本発明によれば、上記測定チップホルダ
が、測定チップの側面を囲むような形状を有しているの
で、測定チップを保護すると共に、直接測定チップに触
れることなくハンドリングすることができる。また、測
定チップホルダの一部に力を加えるだけで、測定チップ
を容易に解放できるので、このような測定チップホルダ
と上記の測定チップ搬送システムを用いることにより、
多数の測定チップを手早く測定装置にセットすることが
できる。According to the present invention, since the measuring chip holder has a shape surrounding the side surface of the measuring chip, the measuring chip can be protected and handled without directly touching the measuring chip. . Further, since the measuring chip can be easily released by simply applying a force to a part of the measuring chip holder, by using such a measuring chip holder and the above measuring chip transport system,
A large number of measuring chips can be quickly set in the measuring device.
【００１３】[0013]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、同一の構
成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。
図１は、本発明の第１の実施形態に係る測定チップホル
ダを示す斜視図である。図１に示すように、測定チップ
ホルダ１０は、表面プラズモン共鳴測定等に用いられる
測定チップ１を保持している。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, the same reference numerals are given to the same components, and the description thereof will be omitted.
FIG. 1 is a perspective view showing a measuring chip holder according to the first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the measurement chip holder 10 holds the measurement chip 1 used for surface plasmon resonance measurement or the like.
【００１４】図２は、測定チップ１を示す斜視図であ
る。測定チップ１は、透明誘電体２と金属薄膜３とを含
んでいる。透明誘電体２は、上底よりも下底の面積が小
さい角錘台の形状を有しており、図２においては、四角
錐台となっている。透明誘電体２の上部には、検体が注
入される空孔が形成されている。FIG. 2 is a perspective view showing the measuring chip 1. The measuring chip 1 includes a transparent dielectric 2 and a metal thin film 3. The transparent dielectric 2 has the shape of a truncated pyramid having a lower bottom area smaller than the upper bottom area, and in FIG. Voids into which the sample is injected are formed in the upper part of the transparent dielectric 2.
【００１５】透明誘電体２は、ポリメチルメタクリレー
ト（ｐｏｌｙ ｍｅｔｈｙｌ ｍｅｔｈａ ｃｒｙｌａ
ｔｅ：ＰＭＭＡ）、ポリカーボネート、非晶性ポリオレ
フィン、又は、シクロオレフィンを含む透明樹脂や、ガ
ラス等によって形成されている。透明誘電体２が有して
いる４つの外側面２ａ〜２ｄの内、外側面２ａ及びこれ
に対向する外側面２ｃは、光を乱反射するつや消し面と
なっており、外側面２ｂ及びこれに対向する外側面２ｄ
は、光透過面となっている。金属薄膜３は、透明誘電体
２に形成されている空孔の内底面に蒸着等によって形成
されている。この測定チップ１を表面プラズモン共鳴測
定に用いる際には、金属薄膜３の上にセンシング媒体が
配置される。The transparent dielectric 2 is made of polymethylmethacrylate (polymethylmethacrylate).
te: PMMA), polycarbonate, amorphous polyolefin, or a transparent resin containing cycloolefin, glass, or the like. Out of the four outer surfaces 2a to 2d of the transparent dielectric body 2, the outer surface 2a and the outer surface 2c that faces the outer surface 2a are matte surfaces that diffusely reflect light, and are opposed to the outer surface 2b and the outer surface 2b. Outer surface 2d
Is a light transmitting surface. The metal thin film 3 is formed on the inner bottom surface of the hole formed in the transparent dielectric 2 by vapor deposition or the like. When this measuring chip 1 is used for surface plasmon resonance measurement, a sensing medium is placed on the metal thin film 3.
【００１６】再び、図１を参照すると、測定チップホル
ダ１は、向かい合うように形成されている１組の側壁部
１１と、１組の側壁部１１を連結するように形成されて
いる１組の肩部１２及び１組の脚部１３とを含んでお
り、測定チップ１の周囲を「ロ」の字のように覆ってい
る。これらの各部は、一体成形されることが望ましい。
側壁部１１の一部には、ハンドリング用突起１４が形成
されている。ハンドリング用突起１４は、測定チップホ
ルダ１をハンドリングする際に、測定チップホルダ１を
持ちやすくするもので、図１においては、測定チップホ
ルダ１０の４箇所に形成されている。Referring again to FIG. 1, the measuring tip holder 1 includes a pair of side wall portions 11 formed to face each other and a pair of side wall portions 11 formed to connect the pair of side wall portions 11. It includes a shoulder portion 12 and a pair of legs 13, and covers the circumference of the measuring tip 1 like a "b". It is desirable that each of these parts be integrally molded.
A handling protrusion 14 is formed on a part of the side wall 11. The handling protrusions 14 facilitate the holding of the measurement tip holder 1 when handling the measurement tip holder 1, and are formed at four locations of the measurement tip holder 10 in FIG. 1.
【００１７】図３の（ａ）は、図１に示す一点鎖線Ｘ−
Ｘ’における測定チップホルダ１０及び測定チップ１の
断面を示している。肩部１２の内側には、測定チップ１
の落下を防ぐために、保持用突起１５が形成されてい
る。保持用突起１５は、例えば、測定チップ１の側面の
傾斜に沿うような形状を有している。このように、保持
用突起１５を、上部に比較して下部が突き出るような形
状にすることにより、測定チップ１の落下を防ぐことが
できる。FIG. 3A is a dashed-dotted line X- shown in FIG.
The cross section of the measurement chip holder 10 and the measurement chip 1 at X ′ is shown. Inside the shoulder 12, the measuring tip 1
In order to prevent the falling of the holding projection 15, a holding projection 15 is formed. The holding projection 15 has, for example, a shape that follows the inclination of the side surface of the measuring chip 1. In this way, by making the holding projection 15 have a shape such that the lower portion thereof protrudes as compared with the upper portion, it is possible to prevent the measuring chip 1 from falling.
【００１８】図３の（ｂ）は、図１に示す測定チップホ
ルダ１０及び測定チップ１の一点鎖線Ｙ−Ｙ’における
断面を示している。この断面において、側壁部１１と測
定チップ１との間には隙間が形成されており、側壁部１
１を内側に弾性変形させることが可能となっている。こ
のような測定チップホルダ１０には、例えば、ナイロン
を含む樹脂等の弾性を有する材料が用いられる。FIG. 3B shows a cross section taken along one-dot chain line YY 'of the measuring chip holder 10 and the measuring chip 1 shown in FIG. In this cross section, a gap is formed between the side wall portion 11 and the measuring chip 1, and the side wall portion 1
1 can be elastically deformed inward. An elastic material such as a resin containing nylon is used for the measuring tip holder 10 as described above.
【００１９】測定チップホルダ１０に測定チップ１を保
持させる場合には、測定チップホルダ１０の上から、測
定チップ１を差し入れれば良い。また、測定チップホル
ダ１０から測定チップ１を解放する場合には、図４に示
すように矢印Ｙ１及びＹ２の方向から力を加えると、側
壁部１１は、測定チップ１との隙間を小さくするように
内側にへこむ。これに伴い、肩部１２が、矢印Ｘ１及び
Ｘ２方向に大きく弾性変形し、測定チップ１が保持用突
起１５から解放される。この際、肩部１２は脚部１３と
分離されているので、肩部１２が大きく弾性変形して
も、脚部１３の変形は少なくて済む。或いは、測定チッ
プホルダ１０から測定チップ１を解放する場合に、測定
チップ１の上方から力を加えて、単に押し出すだけでも
良い。測定チップホルダ１０は、容易に弾性変形するの
で、これにより、測定チップ１が解放される。When the measuring chip 1 is held in the measuring chip holder 10, the measuring chip 1 may be inserted from above the measuring chip holder 10. Further, when releasing the measuring tip 1 from the measuring tip holder 10, when a force is applied from the directions of the arrows Y1 and Y2 as shown in FIG. 4, the side wall portion 11 reduces the gap between the measuring tip 1 and the side wall 11. Dent inward. Along with this, the shoulder 12 is largely elastically deformed in the directions of the arrows X1 and X2, and the measuring tip 1 is released from the holding projection 15. At this time, since the shoulder portion 12 is separated from the leg portion 13, even if the shoulder portion 12 is largely elastically deformed, the deformation of the leg portion 13 can be small. Alternatively, when the measuring tip 1 is released from the measuring tip holder 10, a force may be applied from above the measuring tip 1 and simply pushed out. The measuring tip holder 10 is easily elastically deformed, so that the measuring tip 1 is released.
【００２０】次に、本発明の第２の実施形態に係る測定
チップホルダについて、図５及び図６を参照しながら説
明する。図５は、本実施形態に係る測定チップホルダを
示す斜視図である。図５に示すように、測定チップホル
ダ２０は、第１の実施形態に係る測定チップホルダの肩
部１２に、測定チップ１の上面の一部を覆うように設け
られた突起１６を有している。その他の構成について
は、第１の実施形態と同様である。Next, a measuring tip holder according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 5 and 6. FIG. 5 is a perspective view showing the measuring tip holder according to the present embodiment. As shown in FIG. 5, the measurement chip holder 20 has a protrusion 16 provided on the shoulder 12 of the measurement chip holder according to the first embodiment so as to cover a part of the upper surface of the measurement chip 1. There is. Other configurations are similar to those of the first embodiment.
【００２１】図６は、図５に示す測定チップホルダ２０
及び測定チップ１のＸ−Ｘ’における断面図である。図
６に示すように、突起１６を設けることにより、測定チ
ップ１が測定チップホルダ１０の上側に抜けるのを防ぐ
ことができので、より安定して測定チップ１を保持する
ことができる。ここで、両側に配置されている突起１６
の間隔は、測定チップ１の外底部の一辺の長さより大き
くしておくことが望ましい。FIG. 6 shows a measuring tip holder 20 shown in FIG.
3 is a cross-sectional view taken along line XX ′ of the measurement chip 1. As shown in FIG. 6, by providing the protrusion 16, the measuring chip 1 can be prevented from coming off to the upper side of the measuring chip holder 10, so that the measuring chip 1 can be held more stably. Here, the protrusions 16 arranged on both sides
It is desirable that the interval is larger than the length of one side of the outer bottom portion of the measuring chip 1.
【００２２】測定チップホルダ２０に測定チップ１を保
持させるには、測定チップ１を測定チップホルダ２０の
上から押し込めば良い。或いは、側壁部１１の両側から
力を加えて、肩部１２を変形させてから、測定チップ１
を測定チップホルダ２０に入れても良い。測定チップ１
は、図２に示すように四角錐台の形状を有しているの
で、上部よりも下部の方が狭くなっている。従って、測
定チップ１の下部を測定チップホルダに入れて測定チッ
プ１を押し込むことにより、肩部１２及び突起１６が徐
々に押し広げられる。測定チップ１の上面が突起１６の
位置を通過すると、肩部１２及び突起１６は、弾性によ
り元の位置に戻り、測定チップ１が固定される。なお、
測定チップホルダ２０から測定チップ１を解放させる方
法については、第１の実施形態と同様である。To hold the measuring chip 1 in the measuring chip holder 20, the measuring chip 1 may be pushed in from above the measuring chip holder 20. Alternatively, force is applied from both sides of the side wall portion 11 to deform the shoulder portion 12, and then the measuring tip 1
May be placed in the measuring tip holder 20. Measuring chip 1
2 has a shape of a truncated pyramid as shown in FIG. 2, the lower portion is narrower than the upper portion. Therefore, by inserting the lower part of the measuring chip 1 into the measuring chip holder and pushing in the measuring chip 1, the shoulder 12 and the protrusion 16 are gradually spread. When the upper surface of the measuring chip 1 passes the position of the protrusion 16, the shoulder 12 and the protrusion 16 return to their original positions by elasticity, and the measuring chip 1 is fixed. In addition,
The method of releasing the measuring tip 1 from the measuring tip holder 20 is the same as in the first embodiment.
【００２３】次に、図７を参照しながら、本発明の第３
の実施形態に係る測定チップホルダについて説明する。
図７は、本実施形態に係る測定チップホルダの断面を示
している。図７に示すように、測定チップホルダ３０に
は、測定チップ１の上部を覆うように蓋１７が設けられ
ている。蓋１７は、肩部１２の一部を測定チップ１の上
面を覆うように延長したものである。蓋１７によって測
定チップ１が固定されると共に、測定チップ１に埃等が
侵入するのを防ぐことができる。Next, referring to FIG. 7, the third embodiment of the present invention will be described.
The measurement tip holder according to the embodiment will be described.
FIG. 7 shows a cross section of the measuring tip holder according to the present embodiment. As shown in FIG. 7, the measuring chip holder 30 is provided with a lid 17 so as to cover the upper part of the measuring chip 1. The lid 17 extends a part of the shoulder 12 so as to cover the upper surface of the measuring chip 1. The lid 17 fixes the measuring chip 1 and prevents dust and the like from entering the measuring chip 1.
【００２４】測定チップホルダ３０に測定チップを保持
させるには、測定チップホルダの側壁部１１の両側から
力を加えて保持用突起１５を広げた状態で、測定チップ
１の上から測定チップホルダ３０を被せれば良い。或い
は、図７に示すように、保持用突起１５を、先端の角が
欠けるように形成しても良い。保持用突起１５をこのよ
うな形状にして測定チップ１の上から測定チップホルダ
３０を被せると、測定チップ１の上部が保持用突起１５
に当たったときに、保持用突起１５及び肩部１２が自然
に押し広げられる。測定チップ１の上部が保持用突起１
５の先端を通過すると、保持用突起１５及び肩部１２
は、再び元の形状に戻るので、測定チップ１が保持され
る。なお、測定チップホルダ３０から測定チップ１を解
放させる方法については、第１の実施形態と同様であ
る。In order to hold the measuring chip on the measuring chip holder 30, the force is applied from both sides of the side wall portion 11 of the measuring chip holder to spread the holding projections 15 and the measuring chip holder 30 is placed on the measuring chip holder 30. You only have to cover it. Alternatively, as shown in FIG. 7, the holding projections 15 may be formed so that the corners of the tips are chipped. When the holding projection 15 is formed in such a shape and the measurement chip holder 30 is put over the measurement chip 1, the upper part of the measurement chip 1 is held by the holding projection 15.
When hitting, the holding projection 15 and the shoulder 12 are naturally spread. The upper part of the measuring chip 1 is the holding projection 1
When passing the tip of 5, the holding projection 15 and the shoulder 12
Returns to the original shape again, so that the measuring chip 1 is held. The method of releasing the measuring tip 1 from the measuring tip holder 30 is the same as in the first embodiment.
【００２５】第１〜第３の実施形態において、測定チッ
プと測定チップホルダとの向きを決めるために、測定チ
ップの一部を切り欠いて突起やへこみを設けても良い。
これにより、表面プラズモン共鳴測定等を行う際に、測
定チップをセットする向きの間違い等を減らすことがで
きる。In the first to third embodiments, in order to determine the orientation of the measuring tip and the measuring tip holder, a part of the measuring tip may be cut out to provide a protrusion or a dent.
As a result, when performing surface plasmon resonance measurement or the like, it is possible to reduce mistakes in the direction in which the measurement chip is set.
【００２６】次に、本発明の一実施形態に係る測定チッ
プ搬送システムについて説明する。図８は、本実施形態
に係る測定チップ搬送システムを含む表面プラズモン共
鳴測定システム（ＳＰＲ測定システム）を示している。
本実施形態に係る測定チップ搬送システムは、測定チッ
プを連続的に表面プラズモン共鳴測定装置（ＳＰＲ測定
装置）に供給している。また、本実施形態においては、
第２の実施形態に係る測定チップホルダが適用されてい
る。Next, a measuring chip transfer system according to an embodiment of the present invention will be described. FIG. 8 shows a surface plasmon resonance measurement system (SPR measurement system) including the measurement chip transport system according to this embodiment.
The measuring chip transport system according to the present embodiment continuously supplies the measuring chips to the surface plasmon resonance measuring device (SPR measuring device). Further, in the present embodiment,
The measurement tip holder according to the second embodiment is applied.
【００２７】この測定チップ搬送システムは、収納ケー
ス３１と、トレイ３２、３５、４０と、移動台３８と、
モータ３３、３６、３９、４４と、搬送用ベルト３４、
３７と、２つのソレノイド４１と、ターンテーブル４２
と、シューター４３とを含んでいる。また、ＳＰＲ測定
装置５０は、光源５１と、レンズ５２と、光検出器５３
と、処理部５４とを含んでいる。さらに、制御部６０
は、測定チップ搬送システムの各部を制御すると共に、
ＳＰＲ測定装置５０における測定タイミングを制御して
いる。This measuring chip transfer system comprises a storage case 31, trays 32, 35 and 40, a moving base 38,
The motors 33, 36, 39, 44 and the conveyor belt 34,
37, two solenoids 41, and a turntable 42
And a shooter 43. The SPR measurement device 50 also includes a light source 51, a lens 52, and a photodetector 53.
And a processing unit 54. Further, the control unit 60
Controls each part of the measuring chip transfer system,
The measurement timing in the SPR measurement device 50 is controlled.
【００２８】収納ケース３１は、所定数の測定チップホ
ルダ２０を収納する。収納ケース３１の底面には、測定
チップ１が通過できるように、空孔が形成されている。
トレイ３２は、モータ３３によって駆動される搬送用ベ
ルト３４によって±Ｘ方向に移動する。また、トレイ３
５は、モータ３６によって駆動される搬送用ベルト３７
によって±Ｙ方向に移動する。さらに、移動台３８は、
モータ３９によって駆動され、±Ｘ方向に移動する。The storage case 31 stores a predetermined number of measuring chip holders 20. A hole is formed on the bottom surface of the storage case 31 so that the measuring chip 1 can pass therethrough.
The tray 32 is moved in the ± X directions by the conveyor belt 34 driven by the motor 33. Also, tray 3
5 is a conveyor belt 37 driven by a motor 36.
To move in the ± Y direction. Further, the movable table 38 is
It is driven by the motor 39 and moves in the ± X directions.
【００２９】測定チップを保持する複数の空孔が形成さ
れているターンテーブル４２は、モータ４４によって駆
動され、矢印方向に間欠的に回転する。搬送用ベルト３
７の両側に配置された２つのソレノイド４１は、トレイ
３５の上の収納ケースに収納されている測定チップホル
ダ２０に１個ずつ両側から力を加え、測定チップ１を解
放させることによってこれを落下させる。シューター４
３は、トレイ３５によって搬送されている収納ケースか
ら落下する測定チップを、ターンテーブルに形成されて
いる空孔に導く。The turntable 42 having a plurality of holes for holding the measuring tip is driven by a motor 44 and intermittently rotates in the direction of the arrow. Conveyor belt 3
The two solenoids 41 arranged on both sides of 7 apply force to the measuring chip holders 20 stored in the storage case on the tray 35 one by one from both sides to release the measuring chips 1 and drop them. Let Shooter 4
Reference numeral 3 guides the measuring chip falling from the storage case carried by the tray 35 to the hole formed in the turntable.
【００３０】図８において、トレイ３２の上には、複数
の収納ケース３１が乗せられており、それぞれの収納ケ
ース３１には、測定チップ１をそれぞれ保持している複
数の測定チップホルダ２０が収納されている。トレイ３
２は、搬送用ベルト３４によって＋Ｘ方向に所定の位置
まで移動する。次に、搬送用ベルト３７によってトレイ
３５がトレイ３２の隣に並ぶと、１個の収納ケース３１
がトレイ３２からトレイ３５に移される。In FIG. 8, a plurality of storage cases 31 are placed on the tray 32, and a plurality of measurement chip holders 20 holding the measurement chips 1 are stored in the respective storage cases 31. Has been done. Tray 3
2 is moved to a predetermined position in the + X direction by the conveyor belt 34. Next, when the trays 35 are arranged next to the tray 32 by the transport belt 37, one storage case 31
Are transferred from the tray 32 to the tray 35.
【００３１】ここで、トレイ３２からトレイ３５に収納
ケース３１を移動させる手段については、例えば、予め
トレイ３２に傾斜と収納ケース３１が滑り落ちるのを防
止するストッパーとを設け、トレイ３２の移動中には収
納ケース３１が滑り落ちないようにし、トレイ３２とト
レイ３５とが並んだときにストッパーが解除され、収納
ケース３１が滑ってトレイ３５に移動するようにしても
良い。或いは、トレイ３２に収納ケース３１を押し出す
機構を設け、トレイ３２とトレイ３５とが並んだとき
に、収納ケース３１が押し出されてトレイ３５に移動す
るようにしても良い。Here, as a means for moving the storage case 31 from the tray 32 to the tray 35, for example, an inclination and a stopper for preventing the storage case 31 from sliding down are provided in advance on the tray 32 and the tray 32 is moved during the movement. The storage case 31 may be prevented from slipping down, and the stopper may be released when the tray 32 and the tray 35 are lined up so that the storage case 31 slides and moves to the tray 35. Alternatively, the tray 32 may be provided with a mechanism for pushing out the storage case 31, and when the tray 32 and the tray 35 are lined up, the storage case 31 may be pushed out and moved to the tray 35.
【００３２】収納ケース３１を乗せたトレイ３５は、搬
送用ベルト３７によって＋Ｙ方向に移動し、収納ケース
３１の最前に位置する測定チップ１がシューター４３の
上部に至ると停止する。このとき、２つのソレノイド４
１が、最前に位置する測定チップホルダ２０を両側から
押すと、この測定チップホルダ２０から測定チップ１が
解放されてシューター４３の中を落下し、ターンテーブ
ル４３に設けられた空孔に保持される。測定チップ１が
落下を開始すると、トレイ３５は、測定チップホルダ２
０の１個分だけ移動し、次の測定チップホルダ２０がシ
ューター４３の上部に来るようにする。また、このと
き、ターンテーブル４２も、次の空孔がシューター４３
の出口の下に来るように回転する。The tray 35 on which the storage case 31 is placed moves in the + Y direction by the conveyor belt 37, and stops when the measuring tip 1 located at the front of the storage case 31 reaches the upper part of the shooter 43. At this time, the two solenoids 4
When 1 pushes the measuring tip holder 20 located at the forefront from both sides, the measuring tip 1 is released from the measuring tip holder 20 and drops in the shooter 43, and is held in the hole provided in the turntable 43. It When the measuring chip 1 starts to drop, the tray 35 moves to the measuring chip holder 2
It moves by one 0, so that the next measuring tip holder 20 comes to the upper part of the shooter 43. At this time, the turntable 42 also has the following holes in the shooter 43.
Rotate to come under the exit of.
【００３３】このように、トレイ３５の移動と測定チッ
プ１の落下とを繰り返し、収納ケース３１が搬送してい
る測定チップ１が全てターンテーブルに移されると、収
納ケース３１は、空の測定チップホルダ２０を収納した
まま、搬送用ベルト３７によって、再び＋Ｙ方向に移動
する。さらに、収納ケース３１は、モータ３９によって
駆動される移動台３８を介して、トレイ３５からトレイ
４０に移される。このあと、トレイ３５は、−Ｙ方向に
移動し、再びトレイ３２から収納ケース３１受け取って
これを搬送する。In this way, when the movement of the tray 35 and the dropping of the measurement chip 1 are repeated and all the measurement chips 1 carried by the storage case 31 are moved to the turntable, the storage case 31 becomes empty. With the holder 20 stored, it is moved again in the + Y direction by the conveyor belt 37. Further, the storage case 31 is moved from the tray 35 to the tray 40 via the moving table 38 driven by the motor 39. After that, the tray 35 moves in the -Y direction, receives the storage case 31 from the tray 32 again, and conveys it.
【００３４】シューター４３によってターンテーブル４
２の保持台に保持された測定チップ１は、ＳＰＲ測定装
置５０の所定の位置まで搬送される。一方、光源５１か
ら発生した光は、レンズ５２によって収束され、所定の
位置にある測定チップ１のプリズム部分に入射する。プ
リズム部分に入射した光は、測定チップ１の内底部にお
いて反射され、入射した面に対向する面から出射され、
光検出器５３によって検出される。この際に、測定チッ
プにおいて表面プラズモン共鳴が生じていると、検出さ
れた光の中に暗線が観測される。光検出器５３は、検出
した光を表す検出信号を処理部５４に出力する。処理部
５４は、光検出部５３から出力された検出信号に基づい
て暗線が観測された角度を求め、さらに、この角度を用
いて計算処理を行うことにより、試料に含まれる検出対
象である物質の濃度を求める。The turntable 4 by the shooter 43
The measuring chip 1 held on the second holding table is conveyed to a predetermined position of the SPR measuring device 50. On the other hand, the light emitted from the light source 51 is converged by the lens 52 and is incident on the prism portion of the measuring chip 1 at a predetermined position. The light incident on the prism portion is reflected by the inner bottom portion of the measurement chip 1 and emitted from the surface facing the incident surface,
It is detected by the photodetector 53. At this time, if surface plasmon resonance occurs in the measurement chip, a dark line is observed in the detected light. The photodetector 53 outputs a detection signal representing the detected light to the processing unit 54. The processing unit 54 obtains the angle at which the dark line is observed based on the detection signal output from the light detection unit 53, and further performs a calculation process using this angle to detect the substance to be detected contained in the sample. Find the concentration of.
【００３５】このように、本実施形態によれば、測定チ
ップ搬送システムとＳＰＲ測定装置とを組み合わせるこ
とにより、連続的にＳＰＲ測定を行うことができるＳＰ
Ｒ測定システムを実現することができる。As described above, according to this embodiment, the SP capable of continuously performing the SPR measurement by combining the measuring chip transport system and the SPR measuring device.
An R measurement system can be realized.
【００３６】以上の説明において、測定チップは、ター
ンテーブルによって回転しながらＳＰＲ測定装置の所定
の測定位置に搬送されているが、ＳＰＲ測定装置の形態
はこのような形態に限られるものではなく、例えば、測
定チップが直線的に搬送される形態や、測定チップが直
交する２方向に向かって搬送される形態等、様々な形態
が考えられる。In the above description, the measuring chip is conveyed to the predetermined measuring position of the SPR measuring device while being rotated by the turntable, but the form of the SPR measuring device is not limited to such a form. For example, various forms are conceivable, such as a form in which the measurement chip is conveyed linearly and a form in which the measurement chip is conveyed in two orthogonal directions.
【００３７】以上説明したような本発明の好ましい実施
形態をまとめると、次のようになる。本発明に係る測定
チップホルダは、全反射減衰を利用した測定において用
いられる測定チップの側面を囲むように保持する測定チ
ップホルダであって、向かい合うように配置されている
１組の側壁部と、該１組の側壁部を連結するように、向
かい合うように形成されている１組の肩部であって、そ
れぞれの内壁に測定チップの落下を防止する突起が設け
られている１組の肩部と、該１組の側壁部を連結するよ
うに、向かい合うように形成されている１組の脚部とを
具備する。The preferred embodiments of the present invention as described above can be summarized as follows. A measuring chip holder according to the present invention is a measuring chip holder that holds a side surface of a measuring chip used in a measurement using attenuation by total reflection so as to surround the side surface, and a pair of side wall portions arranged to face each other, A set of shoulders formed so as to face each other so as to connect the set of side walls, and a pair of shoulders provided with protrusions for preventing the measuring tip from falling on the inner walls of the shoulders. And a pair of legs formed to face each other so as to connect the pair of side wall portions.
【００３８】このうち、少なくとも１組の側壁部と１組
の肩部とは、弾性変形可能な樹脂材料を含んでおり、１
組の側壁部の所定の部分に力を加えることにより１組の
肩部の突起が開くように形成されても良い。或いは、少
なくとも１組の肩部が、弾性変形可能な樹脂材料を含ん
でおり、測定チップホルダに保持されている測定チップ
に所定の方向から力を加えることにより１組の肩部の突
起が開くように形成されても良い。ここで、上記弾性変
形可能な樹脂材料は、ナイロンを含んでも良い。Of these, at least one set of side wall portions and one set of shoulder portions contain an elastically deformable resin material.
A pair of shoulder protrusions may be formed to open by applying a force to a predetermined portion of the pair of side wall portions. Alternatively, at least one set of shoulders contains an elastically deformable resin material, and a force is applied from a predetermined direction to the measuring tip held by the measuring tip holder to open the pair of shoulder projections. It may be formed as follows. Here, the elastically deformable resin material may include nylon.
【００３９】このような測定チップホルダにおいて、１
組の側壁部と、１組の肩部と、１組の脚部とは、一体成
形されることが望ましい。また、１組の肩部に形成され
ている突起は、測定チップの外形に沿うように傾斜を有
することが望ましい。In such a measuring tip holder, 1
It is preferable that the pair of side wall portions, the pair of shoulder portions, and the pair of leg portions are integrally molded. Further, it is desirable that the projections formed on the pair of shoulders have an inclination so as to follow the outer shape of the measuring tip.
【００４０】この測定チップホルダの１組の肩部は、測
定チップの上面の一部を覆うように形成されている突起
を有しても良い。或いは、１組の肩部が、測定チップの
上面を覆うように形成されている蓋を有しても良い。The set of shoulders of the measuring tip holder may have a protrusion formed so as to cover a part of the upper surface of the measuring tip. Alternatively, the pair of shoulders may have a lid formed so as to cover the upper surface of the measuring chip.
【００４１】また、本発明に係る測定チップ搬送システ
ムは、上記の測定チップホルダと、所定の数の測定チッ
プホルダを収納するケースであって底部の一部に空孔が
形成されているケースと、該ケースを搬送する第１の手
段と、測定チップホルダが保持する測定チップが測定チ
ップホルダから解放されるようにケースに収納されてい
る測定チップホルダの所定の部分に力を加える第２の手
段と、該第２の手段によって解放された測定チップを、
全反射減衰を利用した測定装置における測定位置に導く
第３の手段とを具備する。Further, the measuring chip transfer system according to the present invention comprises the above measuring chip holder, a case for accommodating a predetermined number of measuring chip holders, and a case where a hole is formed in a part of the bottom. A first means for transporting the case, and a second means for applying a force to a predetermined portion of the measuring chip holder housed in the case so that the measuring chip held by the measuring chip holder is released from the measuring chip holder. Means and the measuring tip released by the second means,
And a third means for guiding to a measurement position in the measuring apparatus using attenuation of total reflection.
【００４２】この測定チップ搬送システムは、第１の手
段に複数のケースを順次供給する第４の手段と、第１の
手段から複数のケースを順次受け取る第５の手段とをさ
らに具備しても良い。ここで、第１の手段、第４の手
段、又は、第５の手段が、ケースを乗せるトレイと、該
トレイを移動させる搬送ベルトと、該搬送ベルトを駆動
する駆動手段とを含んでも良い。また、第２の手段は、
ソレノイドを含んでいる。さらに、第３の手段は、シュ
ーターを含んでも良い。The measuring chip transport system further comprises a fourth means for sequentially supplying the plurality of cases to the first means and a fifth means for successively receiving the plurality of cases from the first means. good. Here, the first means, the fourth means, or the fifth means may include a tray on which the case is placed, a transport belt for moving the tray, and a drive means for driving the transport belt. Also, the second means is
Contains a solenoid. Further, the third means may include a shooter.
【００４３】[0043]
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、測
定チップに直接触れることなくハンドリングすることが
できるので、測定チップの汚染を防ぐことができ、精度
の良い測定を行うことが可能となる。また、測定チップ
ホルダから測定チップを簡単に解放することができるの
で、人手にも扱い安く、自動化された測定チップ搬送シ
ステムにも適用することができる。さらに、測定チップ
ホルダに設けられたハンドリング用突起等により、測定
チップの向きを簡単に判別することができるので、測定
の際の作業効率を上げることが可能となる。As described above, according to the present invention, since the measurement chip can be handled without directly touching it, contamination of the measurement chip can be prevented and accurate measurement can be performed. Becomes Further, since the measuring chip can be easily released from the measuring chip holder, it is easy to handle manually and can be applied to an automated measuring chip conveying system. Furthermore, since the orientation of the measuring tip can be easily discriminated by the handling protrusion or the like provided on the measuring tip holder, it is possible to improve the work efficiency during the measurement.
【図１】本発明の第１の実施形態に係る測定チップホル
ダを示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a measuring tip holder according to a first embodiment of the present invention.
【図２】図１に示す測定チップを示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing the measuring chip shown in FIG.
【図３】図３の（ａ）は、図１に示す測定チップホルダ
のＸ−Ｘ’における断面図であり、図３の（ｂ）は、図
１に示す測定チップホルダのＹ−Ｙ’における断面図で
ある。3A is a sectional view taken along line XX ′ of the measurement chip holder shown in FIG. 1, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line YY ′ of the measurement chip holder shown in FIG. 1. FIG.
【図４】本発明の第１の実施形態に係る測定チップホル
ダにおいて、測定チップを解放する動作を説明するため
の図である。FIG. 4 is a view for explaining the operation of releasing the measuring tip in the measuring tip holder according to the first embodiment of the present invention.
【図５】本発明の第２の実施形態に係る測定チップホル
ダを示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing a measuring tip holder according to a second embodiment of the present invention.
【図６】図５に示す測定チップホルダのＸ−Ｘ’におけ
る断面図である。6 is a cross-sectional view taken along line XX ′ of the measurement tip holder shown in FIG.
【図７】本発明の第３の実施形態に係る測定チップホル
ダを示す断面図である。FIG. 7 is a sectional view showing a measuring tip holder according to a third embodiment of the present invention.
【図８】本発明の一実施形態に係る測定チップ搬送シス
テムを含むＳＰＲ測定システムを概略的に示す図であ
る。FIG. 8 is a diagram schematically showing an SPR measurement system including a measurement chip transport system according to an embodiment of the present invention.
【図９】表面プラズモン共鳴測定の原理を説明するため
の図である。FIG. 9 is a diagram for explaining the principle of surface plasmon resonance measurement.
１ 測定チップ ２ 透明誘電体 ２ａ〜２ｄ 外側面 ３ 金属薄膜 １０、２０ 測定チップホルダ １１ 側壁部 １２ 肩部 １３ 脚部 １４ ハンドリング用突起 １５ 保持用突起 １６ 突起 １７ 蓋 ３１ 収納ケース ３２、３５、４０ トレイ ３３、３６、３９、４４ モータ ３４、３７ 搬送用ベルト ３８ 移動台 ４１ ソレノイド ４２ ターンテーブル ４３ シューター ５０ ＳＰＲ測定装置 ５１ 光源 ５２ レンズ ５３ 光検出器 ５４ 処理部 ６０ 制御部 １０１ プリズム １０２ 金属薄膜 １０３ 試料 １０４ 光源 １０５ レンズ １０６ 光検出器 1 measuring chip 2 Transparent dielectric 2a-2d outer surface 3 metal thin film 10, 20 Measuring tip holder 11 Side wall 12 shoulder 13 legs 14 Protrusions for handling 15 Holding projection 16 protrusions 17 Lid 31 storage case 32, 35, 40 trays 33, 36, 39, 44 Motor 34, 37 conveyor belt 38 Mobile platform 41 solenoid 42 turntable 43 shooter 50 SPR measuring device 51 light source 52 lens 53 Photodetector 54 Processing Unit 60 control 101 prism 102 metal thin film 103 samples 104 light source 105 lens 106 photo detector
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０１Ｎ 21/27 Ｇ０１Ｎ 21/27 Ｃ 35/02 35/02 Ａ 35/04 35/04 Ａ Ｈ Ｆターム(参考） 2G057 AA02 AB07 AC01 BA01 BB01 BB06 HA04 2G058 AA01 CA04 CA05 CB03 CB15 CF12 GA02 2G059 AA01 BB04 DD12 DD13 FF11 GG10 JJ11 JJ12 KK01 3F079 AD06 BA05 BA13 CA31 CB25 CB33 DA02 DA06 DA12 DA18 EA01 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) G01N 21/27 G01N 21/27 C 35/02 35/02 A 35/04 35/04 A H F term ( Reference) 2G057 AA02 AB07 AC01 BA01 BB01 BB06 HA04 2G058 AA01 CA04 CA05 CB03 CB15 CF12 GA02 2G059 AA01 BB04 DD12 DD13 FF11 GG10 JJ11 JJ12 KK01 3F079 AD06 BA05 BA13 CA31 CB25 CB33 DA02 DA01 DA12 DA12 DA06 DA12 DA12
Claims (5)
られる測定チップの側面を囲むように保持する測定チッ
プホルダであって、 向かい合うように配置されている１組の側壁部と、 前記１組の側壁部を連結するように、向かい合うように
形成されている１組の肩部であって、それぞれの内壁に
前記測定チップの落下を防止する突起が設けられている
前記１組の肩部と、 前記１組の側壁部を連結するように、向かい合うように
形成されている１組の脚部と、を具備する測定チップホ
ルダ。1. A measurement chip holder for holding a side surface of a measurement chip used in a measurement using attenuation of total reflection so as to surround the side surface of the measurement chip, and a pair of side wall portions arranged so as to face each other. A pair of shoulders formed so as to face each other so as to connect the side wall portions, and a pair of shoulders provided with protrusions for preventing the measurement tip from falling on each inner wall; And a pair of legs formed to face each other so as to connect the pair of side wall portions.
の肩部とが、弾性変形可能な樹脂材料を含み、前記１組
の側壁部の所定の部分に力を加えることにより前記１組
の肩部の突起が開くように形成されている、請求項１記
載の測定チップホルダ。2. At least the one set of side walls and the one set of shoulders include an elastically deformable resin material, and the one set is configured by applying a force to a predetermined portion of the one set of side walls. The measuring tip holder according to claim 1, wherein the protrusion of the shoulder portion of the measuring tip holder is formed to open.
可能な樹脂材料を含み、前記測定チップホルダに保持さ
れている測定チップに所定の方向から力を加えることに
より前記１組の肩部の突起が開くように形成されてい
る、請求項１記載の測定チップホルダ。3. The at least one set of shoulders includes an elastically deformable resin material, and a force is applied from a predetermined direction to the measuring tip held by the measuring tip holder so that the one set of shoulders. The measurement tip holder according to claim 1, wherein the projection is formed so as to open.
チップホルダと、所定の数の前記測定チップホルダを収
納するケースであって、底部の一部に空孔が形成されて
いる前記ケースと、 前記ケースを搬送する第１の手段と、 前記測定チップホルダが保持する測定チップが前記測定
チップホルダから解放されるように、前記ケースに収納
されている前記測定チップホルダの所定の部分に力を加
える第２の手段と、 前記第２の手段によって解放された前記測定チップを、
全反射減衰を利用した測定装置における測定位置に導く
第３の手段と、 を具備する測定チップ搬送システム。4. The measurement chip holder according to claim 1, and a case for accommodating a predetermined number of the measurement chip holders, wherein a hole is formed in a part of a bottom portion. The case, a first means for conveying the case, and a predetermined portion of the measurement tip holder housed in the case so that the measurement tip held by the measurement tip holder is released from the measurement tip holder. A second means for exerting a force on the part and the measuring tip released by the second means,
And a third means for guiding to a measurement position in a measuring apparatus using attenuation of total reflection, and a measuring chip transport system.
給する第４の手段と、 前記第１の手段から前記複数のケースを順次受け取る第
５の手段と、をさらに具備する請求項４記載の測定チッ
プ搬送システム。5. The method according to claim 4, further comprising: fourth means for sequentially supplying the plurality of cases to the first means, and fifth means for sequentially receiving the plurality of cases from the first means. The measuring chip transfer system described.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001364747A JP2003166933A (en) | 2001-11-29 | 2001-11-29 | Measuring-chip holder and measuring-chip conveyance system |
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| JP2001364747A JP2003166933A (en) | 2001-11-29 | 2001-11-29 | Measuring-chip holder and measuring-chip conveyance system |
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