JP2003155590A - Method of manufacturing metal fine structure - Google Patents

Method of manufacturing metal fine structure

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JP2003155590A
JP2003155590A JP2001351021A JP2001351021A JP2003155590A JP 2003155590 A JP2003155590 A JP 2003155590A JP 2001351021 A JP2001351021 A JP 2001351021A JP 2001351021 A JP2001351021 A JP 2001351021A JP 2003155590 A JP2003155590 A JP 2003155590A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing metal fine structures having sharp corner edges and high perpendicularity in the depth direction by which large quantities and strong bonding of resin molds is attained, and in which a process for removing a binder in void parts from the resin molds is not needed. SOLUTION: The method of manufacturing the metal fine structures includes a process for forming metal thin films on a substrate and resin molds, a process for forming the resin mold stacked body by contacting the metal thin films of the resin molds with the metal thin film on the substrate and pressing in the thickness direction so as to destroy a contaminated layer on the surface layer of each metal thin film and to joint the resin molds with the substrate, and a process for forming metal layers in void parts of the resin mold stacked body by electroforming.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はマイクロマシンなど
に使用する金属微細構造体の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a metal microstructure used in a micromachine or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】マイクロマシンなどに使用する金属微細
構造体を製造する上で、ダイレクトLIGA(Lithogra
phie Galvanoformung Abformung)法は有益な方法であ
る。ダイレクトLIGA法は数100μmの高さの構造
体の製造やミクロン領域の精度を有する加工が可能であ
り、高いアスペクト比を有する金属微細構造体を容易に
製造することができ、広範な分野での応用が期待されて
いる。
2. Description of the Related Art A direct LIGA (Lithogra
The phie Galvanoformung Abformung method is a useful method. The direct LIGA method is capable of producing a structure having a height of several 100 μm and processing with accuracy in the micron range, and is capable of easily producing a metal microstructure having a high aspect ratio. Applications are expected.

【0003】ダイレクトLIGA法により金属微細構造
体を製造するには、導電性基板上に形成したレジスト膜
に対し、所定の形状パターンを有する吸収体マスクを介
してSR(Synchrotron Radiation)光などのX線を照
射し、吸収体マスクの形状パターンに応じたレジスト構
造体としての樹脂型を有する樹脂型積層体を形成する。
つづいて電鋳により樹脂型積層体の空孔部に金属層を形
成した後、樹脂型と基板を取り除き、目的とする金属微
細構造体を製造する。
To manufacture a metal microstructure by the direct LIGA method, X (SR) light such as SR (Synchrotron Radiation) light is applied to a resist film formed on a conductive substrate through an absorber mask having a predetermined shape pattern. By irradiating a line, a resin type laminate having a resin type as a resist structure corresponding to the shape pattern of the absorber mask is formed.
Then, after forming a metal layer in the voids of the resin-type laminate by electroforming, the resin mold and the substrate are removed to produce the desired metal microstructure.

【0004】したがって、製造できる金属微細構造体の
個数は樹脂型の個数と同じであり、ダイレクトLIGA
法によるときは、得られる金属微細構造体の個数は吸収
体マスク内に入る個数と照射回数により制限されるため
金属微細構造体の大量生産には限界があり、たとえば4
インチのウェハを用いた場合に1回の照射で製造できる
金属微細構造体は数10個から数1000個程度までで
ある。また、SR光などのX線を用いるダイレクトLI
GA法と同様のプロセスにより電子線や紫外線を用いる
こともでき、紫外線を用いる場合は電子線を用いる場合
に比べて照射回数を多くすることができるが、紫外線は
電子線よりも波長が長く、指向性も小さいため、それだ
け大きく光が回折する結果、樹脂型のコーナーエッジが
丸くなったり、深さ方向に光が発散したりする傾向があ
り、シャープな形状が要求される金属微細構造体を製造
することが困難である。
Therefore, the number of metal microstructures that can be manufactured is the same as the number of resin molds, and direct LIGA
According to the method, the number of metal microstructures to be obtained is limited by the number of particles entering the absorber mask and the number of irradiations, and thus there is a limit to mass production of metal microstructures.
When an inch wafer is used, the number of metal microstructures that can be manufactured by one irradiation is from several tens to several thousands. In addition, direct LI using X-ray such as SR light
Electron beams and ultraviolet rays can be used by the same process as the GA method. When ultraviolet rays are used, the number of irradiations can be increased as compared with the case where electron beams are used, but ultraviolet rays have a longer wavelength than electron beams. Since the directivity is small, the light is diffracted so much that the corner edges of the resin mold tend to be rounded and the light tends to diverge in the depth direction. Difficult to manufacture.

【0005】金属微細構造体を製造する方法には、この
ようなダイレクトLIGA法のほかに、微細金型を用い
て射出成形や反応性射出成形などのモールドにより樹脂
型を製造し、この樹脂型を導電性基板に貼り付けて樹脂
型積層体を形成した後、電鋳により樹脂型積層体の空孔
部に金属層を形成し、つづいて樹脂型と基板を取り除
き、目的とする金属微細構造体を製造する方法がある。
この方法によれば、たとえばダイレクトLIGA法によ
り製造した金属微細構造体を金型として用い、1個の金
型から多数の樹脂型を製造することができるため、金属
微細構造体を大量に製造することができる。またダイレ
クトLIGA法に比べて照射工程を含まないためコスト
や製造時間の点で有利であるが、樹脂型を導電性基板上
に堅固に固定しておかなければ、その後の工程において
樹脂型と基板との間で寸法の変化が生じ、製造される金
属微細構造体の精度が落ちやすい。
In addition to the direct LIGA method as described above, a resin mold is manufactured by a mold such as injection molding or reactive injection molding using a fine mold as a method for manufacturing the metal microstructure. After attaching to a conductive substrate to form a resin-type laminate, a metal layer is formed in the holes of the resin-type laminate by electroforming, and then the resin mold and the substrate are removed to obtain the desired metal microstructure. There are ways to make a body.
According to this method, a large number of metal microstructures can be manufactured because a large number of resin molds can be manufactured from one mold by using a metal microstructure manufactured by the direct LIGA method as a mold. be able to. Further, compared to the direct LIGA method, it does not include an irradiation step, which is advantageous in terms of cost and manufacturing time. However, unless the resin mold is firmly fixed on the conductive substrate, the resin mold and the substrate will not be fixed in the subsequent steps. A dimensional change occurs between and, and the precision of the manufactured metal microstructure easily deteriorates.

【0006】樹脂型を導電性基板上に固定する方法とし
ては、接着剤により接合する方法があるが、接着剤によ
り接合した場合には、余剰の接着剤が樹脂型積層体の空
孔部に流れ込み、電鋳が不十分になったり、形成される
金属層にムラが生じたりする。このため、接合後、電鋳
前に空孔部内に流れ込んだ接着剤を溶剤で除去したり、
ドライエッチングで除去したりするなどの処理が必要と
なり、除去の条件が厳し過ぎると樹脂型までダメージを
被ることになる。
As a method of fixing the resin mold on the conductive substrate, there is a method of bonding with an adhesive. However, when the resin is bonded with an adhesive, an excess adhesive is applied to the void portion of the resin-type laminate. It may flow in and the electroforming may become insufficient, or the formed metal layer may be uneven. Therefore, after joining, before the electroforming, the adhesive that has flowed into the holes can be removed with a solvent,
Processing such as removal by dry etching is required, and if the removal conditions are too strict, the resin mold will be damaged.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、コー
ナーエッジが鋭く、深さ方向の垂直性に優れた金属微細
構造体を大量に製造することができる方法を提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method capable of mass-producing metal microstructures having sharp corner edges and excellent verticality in the depth direction.

【0008】また、本発明のさらなる目的は、樹脂型と
基板との強い接合が得られ、かつ樹脂型積層体の形成後
に空孔部内の接着剤を除去する工程を必要としない金属
微細構造体の製造方法を提供することにある。
A further object of the present invention is to obtain a strong bond between the resin mold and the substrate, and which does not require a step of removing the adhesive in the holes after forming the resin mold laminate. It is to provide a manufacturing method of.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の金属微細構造体
の製造方法は、基板上および樹脂型上に金属薄膜を形成
する工程と、基板上の金属薄膜と樹脂型上の金属薄膜と
を接触させて厚さ方向に加圧することにより金属薄膜の
表層にある汚染層を破壊して接合し樹脂型積層体を形成
する工程と、樹脂型積層体の空孔部に電鋳により金属層
を形成する工程と、からなる。
A method of manufacturing a metal microstructure according to the present invention comprises a step of forming a metal thin film on a substrate and a resin mold, a metal thin film on the substrate and a metal thin film on the resin mold. The step of destroying the contaminated layer on the surface layer of the metal thin film by contacting and pressing in the thickness direction to form a resin-type laminate by bonding, and forming a metal layer by electroforming in the pores of the resin-type laminate. And a step of forming.

【0010】金属薄膜を形成する工程は、ドライ方式に
よるときは真空蒸着、スパッタリング、イオンプレーテ
ィングまたは化学蒸着のいずれかにより行なうことが好
ましく、ウェット方式によるときは電気メッキまたは無
電解メッキのいずれかにより行なうことが好ましい。
The step of forming the metal thin film is preferably carried out by any one of vacuum vapor deposition, sputtering, ion plating or chemical vapor deposition when the dry method is used, and either electroplating or electroless plating when the wet method is used. It is preferable to carry out.

【0011】基板上の金属薄膜を構成する金属と樹脂型
上の金属薄膜を構成する金属との格子定数の差は20%
以下であることが好ましい。
The difference in lattice constant between the metal forming the metal thin film on the substrate and the metal forming the metal thin film on the resin mold is 20%.
The following is preferable.

【0012】金属薄膜の表層にある汚染層を破壊して接
合し樹脂型積層体を形成する工程は、10〜1000k
Hzの超音波や200℃以下の局所加熱により行なうこ
とが好ましい。
The step of destroying and joining the contaminated layer on the surface of the metal thin film to form the resin type laminate is 10 to 1000 k.
It is preferable to use ultrasonic waves of Hz or local heating at 200 ° C. or less.

【0013】基板上の金属薄膜を構成する金属と金属微
細構造体を構成する金属との格子定数の差は5%以下で
あることが好ましい。
The difference in lattice constant between the metal forming the metal thin film on the substrate and the metal forming the metal microstructure is preferably 5% or less.

【0014】また、基板上の金属薄膜を構成する金属と
樹脂型上の金属薄膜を構成する金属との格子定数の差が
20%以下であり、基板上の金属薄膜を構成する金属と
金属微細構造体を構成する金属との格子定数の差が5%
以下であるとより好ましい。
Further, the difference in lattice constant between the metal forming the metal thin film on the substrate and the metal forming the metal thin film on the resin mold is 20% or less, and the metal forming the metal thin film on the substrate and the metal fine 5% difference in lattice constant from the metal that constitutes the structure
The following is more preferable.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明の金属微細構造体の製造方
法は、基板上および樹脂型上に金属薄膜を形成する工程
と、基板上の金属薄膜と樹脂型上の金属薄膜とを接触さ
せて厚さ方向に加圧することにより金属薄膜の表層にあ
る汚染層を破壊して接合し樹脂型積層体を形成する工程
と、樹脂型積層体の空孔部に電鋳により金属層を形成す
る工程と、からなることを特徴とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The method for producing a metal microstructure of the present invention comprises the steps of forming a metal thin film on a substrate and a resin mold, and bringing the metal thin film on the substrate and the metal thin film on the resin mold into contact with each other. And pressing in the thickness direction to destroy the contaminated layer on the surface of the metal thin film and bond them together to form a resin-type laminate, and forming a metal layer by electroforming in the holes of the resin-type laminate And a process.

【0016】本発明の金属微細構造体の製造方法につい
て、図1(a)〜(f)に、一実施の形態を概略的に示
す。
An embodiment of the method for producing a metal microstructure of the present invention is schematically shown in FIGS. 1 (a) to 1 (f).

【0017】基板上および樹脂型上に金属薄膜を形成す
る工程では、図1(a)に示す基板11と樹脂型12と
に金属薄膜を形成する。金属薄膜形成後の状態を図1
(b)に示す。基板11の上面に金属薄膜13bが形成
され、樹脂型12の下面に金属薄膜13aが形成されて
いる。本発明では、つぎの工程で基板11と樹脂型12
とが金属薄膜13を介して接合され樹脂型積層体が形成
されるので、金属薄膜の厚さは0.01〜10μmが好
ましい。0.01μmより薄いと十分な接合強度が得ら
れず、一方10μmより厚いと、接合強度が大きくなら
ないにもかかわらず、薄膜形成に時間がかかる。
In the step of forming the metal thin film on the substrate and the resin mold, the metal thin film is formed on the substrate 11 and the resin mold 12 shown in FIG. Figure 1 shows the state after the metal thin film is formed.
It shows in (b). A metal thin film 13b is formed on the upper surface of the substrate 11, and a metal thin film 13a is formed on the lower surface of the resin mold 12. In the present invention, the substrate 11 and the resin mold 12 are
Since the resin-type laminated body is formed by bonding and through the metal thin film 13, the thickness of the metal thin film is preferably 0.01 to 10 μm. If it is thinner than 0.01 μm, sufficient bonding strength cannot be obtained. On the other hand, if it is thicker than 10 μm, it takes time to form a thin film although the bonding strength does not increase.

【0018】金属薄膜を形成する方式としてはドライ方
式とウェット方式とがある。ドライ方式は、基板と樹脂
型とを金属薄膜を介して接合する際に最も問題となる金
属薄膜上の不純物の量を低く抑えることができる点で有
利な方式である。一方ドライ方式は高価な設備が必要で
あり、また少数の金属薄膜についてのバッチ生産になる
という問題がある。この点でウェット方式は大量の金属
薄膜を安価に形成することができる有利な方式である。
As a method for forming the metal thin film, there are a dry method and a wet method. The dry method is an advantageous method in that the amount of impurities on the metal thin film, which is most problematic when joining the substrate and the resin mold via the metal thin film, can be suppressed to a low level. On the other hand, the dry method requires expensive equipment and has a problem of batch production of a small number of metal thin films. In this respect, the wet method is an advantageous method capable of inexpensively forming a large amount of metal thin film.

【0019】ドライ方式としては真空蒸着、スパッタリ
ング、イオンプレーティングまたは化学蒸着が好まし
い。
As the dry method, vacuum vapor deposition, sputtering, ion plating or chemical vapor deposition is preferable.

【0020】真空蒸着は、10-2Pa以下の真空中で、
蒸発源を加熱し蒸発させることにより蒸発した材料を基
板上に堆積させて薄膜を形成する方法であり、装置およ
び取扱いが比較的簡単であり、薄膜および基板の材料は
自由に選択でき、成膜速度が大きくかつ厚い膜も形成で
きる点で好ましい。真空蒸着では基板と薄膜との結合力
が小さいという欠点があるが、基板温度を高くする方法
やイオンビームを併用するなどの方法により結合力を強
くすることができる。
Vacuum deposition is carried out in a vacuum of 10 -2 Pa or less,
It is a method of forming a thin film by depositing the evaporated material on the substrate by heating the evaporation source and evaporating it, and the device and handling are relatively simple, and the materials of the thin film and the substrate can be freely selected. It is preferable in that a high speed and a thick film can be formed. The vacuum deposition has a drawback that the bond strength between the substrate and the thin film is small, but the bond strength can be increased by a method of raising the substrate temperature or a method of using an ion beam together.

【0021】スパッタリングは、真空容器内に導入した
ArやNeなどの不活性ガスをイオン化し、そのイオン
を金属などからなるターゲットに衝突させて、金属の原
子などを中性状態で弾き出し、弾き出した金属の粒子を
基板上に堆積させて成膜する方法であり、いろいろな種
類の材料で成膜することができ、また基板と薄膜との結
合力も大きい点で好ましい。
In sputtering, an inert gas such as Ar or Ne introduced into a vacuum container is ionized, and the ions are made to collide with a target made of metal or the like to eject metal atoms or the like in a neutral state, and then to eject. This is a method of depositing metal particles on a substrate to form a film, which is preferable because various types of materials can be formed and the bonding force between the substrate and the thin film is large.

【0022】イオンプレーティングは、電界により発生
したプラズマを利用し、蒸発源から発生した蒸発粒子を
イオン化し、または励起して、負の電圧を印加した基板
上に付着、堆積させる方法であり、基板と薄膜との結合
力が真空蒸着より大きい点で好ましく、また薄膜の反応
性および結晶性がよい点でも好ましい。
Ion plating is a method in which plasma generated by an electric field is used to ionize or excite evaporated particles generated from an evaporation source to adhere and deposit them on a substrate to which a negative voltage is applied. It is preferable in that the bonding force between the substrate and the thin film is greater than that in vacuum deposition, and that the thin film has good reactivity and crystallinity.

【0023】化学蒸着(CVD;chemical vapor depos
ition)は、薄膜材料のガスを基板上に供給し、基板表
面で熱、プラズマまたは光の作用により分解、還元、酸
化、窒化などの化学反応を起こさせた後、基板上に付
着、成膜させる方法であり、広範囲にわたる材料をその
材料の融点よりもはるかに低い温度で成膜することがで
き、また基板と薄膜との結合力も大きい点で好ましい。
Chemical vapor deposition (CVD)
ition) supplies a thin film material gas onto the substrate, causes chemical reactions such as decomposition, reduction, oxidation and nitridation on the surface of the substrate due to the action of heat, plasma or light, and then deposits and forms a film on the substrate. This method is preferable because it can form a wide range of materials at a temperature much lower than the melting point of the material and has a large bonding force between the substrate and the thin film.

【0024】ウェット方式としては電気メッキまたは無
電解メッキが好ましい。電気メッキは、基板を電解浴に
浸漬し、これをカソードとして、適当なアノードとの間
に直流電流を通じ、電解浴中の金属イオンを電解還元す
ることにより、基板の表面に金属薄膜を形成する方法で
あり、イオンプレーティングなどのドライ方式よりも処
理速度が速い点で好ましい。
The wet method is preferably electroplating or electroless plating. Electroplating forms a metal thin film on the surface of a substrate by immersing the substrate in an electrolytic bath and passing a direct current between the substrate and a suitable anode to electrolytically reduce the metal ions in the electrolytic bath. It is a preferable method because it is faster than a dry method such as ion plating.

【0025】無電解メッキは、金属イオンを含む水溶液
に還元剤としてホルムアルデヒド、次亜リン酸ナトリウ
ムまたは水素化ホウ素ナトリウムなどを加えたメッキ浴
に、脱脂などの前処理を施した基板を浸漬し、電流を流
すことなく90〜100℃に加熱することによりメッキ
する方法であり、析出速度は電気メッキより遅いが、非
導電体にもメッキが可能である点、さらに薄膜の均一性
が優れている点でも好ましい。
In electroless plating, a substrate pretreated by degreasing is immersed in a plating bath prepared by adding formaldehyde, sodium hypophosphite or sodium borohydride as a reducing agent to an aqueous solution containing metal ions, It is a method of plating by heating to 90 to 100 ° C. without passing an electric current. The deposition rate is slower than that of electroplating, but non-conductors can also be plated, and the uniformity of the thin film is excellent. It is also preferable in terms.

【0026】金属薄膜を構成する金属としては、次工程
の接合において十分な反応性を示す金属であることが必
要であり、不動態膜を形成しない金属が好ましい。この
ような金属にはCu、Pd、Ag、Au、Pt、Re、
Rhなどがある。不動態膜とは、金属の表面に形成され
る薄くて緻密な酸化物またはオキシ水酸化物の膜をい
い、不動態膜が形成されると、熱力学的平衡条件から見
れば反応が進行可能であっても、反応が事実上停止す
る。
The metal constituting the metal thin film needs to be a metal that exhibits sufficient reactivity in the bonding in the next step, and a metal that does not form a passivation film is preferable. Such metals include Cu, Pd, Ag, Au, Pt, Re,
Rh, etc. The passivation film is a thin and dense oxide or oxyhydroxide film formed on the surface of a metal. Once the passivation film is formed, the reaction can proceed from the viewpoint of thermodynamic equilibrium conditions. Even so, the reaction virtually stops.

【0027】基板上の金属薄膜を構成する金属と樹脂型
上の金属薄膜を構成する金属との格子定数の差は20%
以下であることが好ましく、10%以下であるとより好
ましく、同種の金属であるとさらに好ましい。両者の格
子定数の差が20%より大きくなると、結晶構造のずれ
が大きくなって接合しにくくなり、接合しても接合強度
が低下する傾向にある。結晶の単位格子の3つの稜の長
さをa、b、cとし、a軸とb軸のなす角をγ、b軸と
c軸のなす角をα、c軸とa軸のなす角をβとすると
き、これらの6つの定数を格子定数というが、格子定数
の差が20%以下であるとは、比較する2種類の金属に
ついて、6つの格子定数のうち対応する格子定数の差が
どの格子定数においても20%以下であることをいう。
The difference in lattice constant between the metal forming the metal thin film on the substrate and the metal forming the metal thin film on the resin mold is 20%.
It is preferably the following, more preferably 10% or less, and further preferably the same kind of metal. If the difference between the lattice constants of both is greater than 20%, the deviation of the crystal structure becomes large, making it difficult to bond, and even if bonded, the bonding strength tends to decrease. The lengths of the three edges of the unit cell of the crystal are a, b, and c, the angle between the a-axis and the b-axis is γ, the angle between the b-axis and the c-axis is α, and the angle between the c-axis and the a-axis is When β, these six constants are called lattice constants, and the difference in lattice constants being 20% or less means that the difference between the corresponding lattice constants of the six lattice constants is two for the two types of metals to be compared. It is 20% or less in any lattice constant.

【0028】基板上の金属薄膜を構成する金属と金属微
細構造体を構成する金属との格子定数の差は5%以下で
あることが好ましい。金属微細構造体は電鋳により数1
0〜数100μm厚さ形成されるが、基板上の金属薄膜
を構成する金属と金属微細構造体を構成する金属との格
子定数の差が5%より大きいと、金属微細構造体中の電
鋳開始部分と電鋳終了部分とで金属の配向や粒径サイズ
が異なり、金属微細構造体がバイメタル構造に近い物性
を示すようになる傾向があるからである。
The difference in lattice constant between the metal forming the metal thin film on the substrate and the metal forming the metal microstructure is preferably 5% or less. Metal microstructure is number 1 by electroforming
If the difference in lattice constant between the metal forming the metal thin film on the substrate and the metal forming the metal microstructure is larger than 5%, the electroforming in the metal microstructure is performed. This is because the metal orientation and grain size are different between the starting portion and the electroforming end portion, and the metal microstructure tends to exhibit physical properties close to those of a bimetal structure.

【0029】したがって、基板上の金属薄膜を構成する
金属と樹脂型上の金属薄膜を構成する金属との格子定数
の差が20%以下であり、かつ基板上の金属薄膜を構成
する金属と金属微細構造体を構成する金属との格子定数
の差が5%以下であるとより好ましい。
Therefore, the difference in lattice constant between the metal forming the metal thin film on the substrate and the metal forming the metal thin film on the resin mold is 20% or less, and the metal forming the metal thin film on the substrate and the metal It is more preferable that the difference in lattice constant from the metal constituting the fine structure is 5% or less.

【0030】基板としては、導電性の基板を使用するこ
とができる。基板の厚さは、用途によって異なり、数1
0μm程度の薄いものから数mm程度の厚いものまであ
り、特に限定されるものではない。導電性の基板の材質
としては、SUS、Al、Cuなどがある。また、導電
性基板として、Si、ガラス、セラミックス、プラスチ
ックなどの非導電性の基板の上に導電性層をスパッタリ
ングなどにより形成した積層体を導電性の基板として使
用することもできる。また、導電性を有する基板上に金
属薄膜を付したものも使用できる。
A conductive substrate can be used as the substrate. The thickness of the substrate depends on the application
There is a thin film having a thickness of about 0 μm to a thick film having a thickness of several mm, and the material is not particularly limited. Examples of the material of the conductive substrate include SUS, Al and Cu. Further, as the conductive substrate, a laminated body in which a conductive layer is formed by sputtering or the like on a non-conductive substrate such as Si, glass, ceramics or plastic can also be used as the conductive substrate. Also, a substrate having a metal thin film on a conductive substrate can be used.

【0031】図1(a)には、樹脂型として、深さ方向
に貫通した空孔を有するものを示しているが、樹脂型を
基板に接合した後、接合面の反対側を研磨して開口させ
た樹脂型積層体も使用することができる。樹脂型の材質
は、ポリメチルメタクリレート、ポリプロピレン、ポリ
カーボネート、エポキシ樹脂などである。
FIG. 1A shows a resin mold having holes penetrating in the depth direction. After the resin mold is bonded to the substrate, the opposite side of the bonding surface is polished. An open resin type laminate can also be used. The resin type material is polymethylmethacrylate, polypropylene, polycarbonate, epoxy resin, or the like.

【0032】本発明においては、図1(b)に示すとお
り、基板11上の金属薄膜13bと樹脂型12上の金属
薄膜13aとを接触させて厚さ方向に加圧することによ
り金属薄膜の表層にある酸化膜や吸着膜などの汚染層を
破壊して接合し、図1(c)に示す樹脂型積層体2を形
成する。すなわち、本発明においては、基板上の金属薄
膜および樹脂型上の金属薄膜を溶融することなく固相状
態のまま接合する固相接合法により基板上に樹脂型を固
定する。固相接合法は、接触界面近傍における塑性変形
により、両面を密着させ、拡散による原子の移動を利用
して接合する。基板と樹脂型を接着剤により接合する場
合は、樹脂型積層体の空孔部に余剰の接着剤が流れ込む
ため、空孔部に均一な金属層を形成する目的で、電鋳前
に空孔部に流れ込んだ接着剤を除去する必要があるが、
本発明では固相接合法を採用するから、空孔部はきれい
な状態にあり、電鋳前に接着剤を除去する作業は不要で
ある。また、接着剤で接合する場合は、接着剤中に溶剤
が含まれているため、乾燥後、完全な接触体が得られ
ず、本発明では固相接合法によるから、溶剤を含まず、
完全な接触体が得られる点でも有利である。さらに、固
相接合法により基板上に樹脂型が堅固に固定されるた
め、その後の工程において寸法変化による精度の低下を
抑えることができる。
In the present invention, as shown in FIG. 1 (b), the metal thin film 13b on the substrate 11 and the metal thin film 13a on the resin mold 12 are brought into contact with each other and pressed in the thickness direction, so that the surface layer of the metal thin film. A contaminated layer such as an oxide film or an adsorbed film is destroyed and bonded to form a resin type laminate 2 shown in FIG. 1 (c). That is, in the present invention, the resin mold is fixed on the substrate by the solid phase bonding method in which the metal thin film on the substrate and the metal thin film on the resin mold are bonded in a solid state without melting. In the solid-phase joining method, both surfaces are brought into close contact with each other by plastic deformation in the vicinity of the contact interface, and joining is performed by utilizing the movement of atoms by diffusion. When bonding the substrate and the resin mold with an adhesive, excess adhesive flows into the holes of the resin-type laminate, so holes are formed before electroforming in order to form a uniform metal layer in the holes. It is necessary to remove the adhesive that has flowed into the part,
Since the solid-phase bonding method is adopted in the present invention, the pores are in a clean state, and the work of removing the adhesive before electroforming is unnecessary. Further, in the case of joining with an adhesive, since a solvent is contained in the adhesive, a complete contact body cannot be obtained after drying, and in the present invention, since the solid phase joining method does not contain a solvent,
It is also advantageous in that a perfect contact body can be obtained. Further, since the resin mold is firmly fixed on the substrate by the solid phase bonding method, it is possible to suppress the deterioration of accuracy due to the dimensional change in the subsequent steps.

【0033】基板上の金属薄膜と樹脂型上の金属薄膜と
を固相接合法により固定する前に、Arなどの不活性ガ
ス中でのスパッタリング、または高速電子線ビームの照
射などにより接合面を平滑化し、洗浄しておくことは、
接合強度を高める上で好ましい。特に、ウェット方式で
はドライ方式に比べて金属薄膜上の不純物量が多いため
接合前に接合面を洗浄しておくことが好ましいが、ドラ
イ方式においても大きな接合強度が得られる点で、接合
前に接合面を平滑化し、洗浄しておく方が好ましい。
Before the metal thin film on the substrate and the metal thin film on the resin mold are fixed by the solid phase bonding method, the bonding surface is sputtered in an inert gas such as Ar or irradiated with a high-speed electron beam. Smoothing and cleaning is
It is preferable for increasing the bonding strength. In particular, since the amount of impurities on the metal thin film in the wet method is larger than that in the dry method, it is preferable to clean the bonding surface before bonding, but even in the dry method, a large bonding strength can be obtained. It is preferable to smooth the joint surface and wash it.

【0034】固相接合法としては、超音波により行なう
超音波接合法や局所加熱により行なう圧接法が好まし
い。
As the solid phase bonding method, an ultrasonic bonding method performed by ultrasonic waves or a pressure welding method performed by local heating is preferable.

【0035】超音波接合法は、固相状態で接触面を加圧
しながら超音波により振動を加えて、そのエネルギによ
り酸化膜や吸着膜からなる汚染層を破壊し、除去して、
接合する方法であり、短時間で強力な接合が得られる点
で好ましい接合法である。加熱しながら超音波接合をす
ることもできるが、加熱しない方が、熱影響部が結晶化
して電気特性が低下するという欠点がないため、より好
ましい。超音波の振動数は10〜1000kHzが好ま
しく、10〜100kHzがより好ましい。10kHz
より小さいと汚染層を十分に破壊することが困難とな
り、十分な接合強度が得られなくなる。一方、1000
kHzより大きいと高エネルギとなるため、樹脂型など
が破損する虞がある。加圧条件は0.01〜100MP
aが好ましく、0.01〜50MPaがより好ましい。
0.01MPaより小さいと接触界面の近傍で塑性変形
が起こりにくいため十分な接合強度が得られない。一
方、100MPaより大きいと樹脂型などが変形し、破
損する虞がある。
In the ultrasonic bonding method, vibration is applied by ultrasonic waves while pressurizing the contact surface in the solid state, and the energy is used to destroy and remove the contaminated layer consisting of an oxide film and an adsorption film,
It is a joining method, and is a preferable joining method in that strong joining can be obtained in a short time. It is possible to perform ultrasonic bonding while heating, but it is more preferable not to heat because there is no drawback that the heat-affected zone is crystallized and the electrical characteristics are deteriorated. The ultrasonic frequency is preferably 10 to 1000 kHz, more preferably 10 to 100 kHz. 10 kHz
If it is smaller, it becomes difficult to sufficiently destroy the contaminated layer, and sufficient bonding strength cannot be obtained. On the other hand, 1000
If the frequency is higher than kHz, the energy will be high, and the resin mold or the like may be damaged. Pressurization condition is 0.01-100MP
a is preferable, and 0.01 to 50 MPa is more preferable.
If it is less than 0.01 MPa, plastic deformation hardly occurs in the vicinity of the contact interface, so that sufficient bonding strength cannot be obtained. On the other hand, if the pressure exceeds 100 MPa, the resin mold or the like may be deformed and damaged.

【0036】圧接法は、基板と樹脂型とを突き合せ加圧
しながら、いずれか一方を回転させて接触面にある金属
薄膜に摩擦熱を発生させることにより局所加熱し、金属
薄膜が適当な軟化状態になったところで回転を停止し、
さらに圧力を加えて接合する。また、接触面を通電加熱
により局所加熱して加圧下、接合することもできる。接
触面の表層の酸化膜や吸着膜などの汚染層は破壊されて
微細化し、分解し、押し出されるため、十分な接合強度
が得られる。局所加熱する際の接触面の温度は200℃
以下が好ましく、150℃以下がより好ましい。温度が
高いと金属薄膜は軟化し、塑性変形しやすくなり、同時
に原子の拡散も活発になるため接合しやすくなるが、2
00℃より高くなると樹脂型が軟化し、所定の形状の樹
脂型積層体を得にくくなる。加圧条件は0.01〜10
0MPaが好ましく、0.01〜50MPaがより好ま
しい。0.01MPaより小さいと接触面で塑性変形が
起こりにくいため十分な接合強度が得られにくい。一
方、100MPaより大きいと樹脂型などが変形し、破
損する虞がある。
In the pressure contact method, while the substrate and the resin mold are butted against each other, one of them is rotated to generate frictional heat in the metal thin film on the contact surface to locally heat the metal thin film, and the metal thin film is appropriately softened. When it comes to a state, stop the rotation,
Further pressure is applied to bond. It is also possible to locally heat the contact surface by electric heating and bond under pressure. A contaminated layer such as an oxide film or an adsorbed film on the surface of the contact surface is destroyed, miniaturized, decomposed, and extruded, so that sufficient bonding strength can be obtained. The temperature of the contact surface during local heating is 200 ℃
The following is preferable, and 150 ° C. or less is more preferable. When the temperature is high, the metal thin film softens and is easily plastically deformed, and at the same time, atomic diffusion becomes active, which facilitates bonding.
When the temperature is higher than 00 ° C, the resin mold is softened and it becomes difficult to obtain a resin mold laminate having a predetermined shape. Pressurization condition is 0.01-10
0 MPa is preferable, and 0.01 to 50 MPa is more preferable. If it is less than 0.01 MPa, it is difficult for plastic deformation to occur on the contact surface, and it is difficult to obtain sufficient bonding strength. On the other hand, if the pressure exceeds 100 MPa, the resin mold or the like may be deformed and damaged.

【0037】樹脂型積層体の空孔部に金属層を形成する
工程は電鋳により行なう。すなわち、図1(d)に示す
とおり、金属イオン溶液を用いて電鋳を行ない、基板1
1上に形成された金属薄膜13b上に金属層14を形成
する。金属層14を形成した後、樹脂型積層体を研磨ま
たは研削により所定の高さに揃える。
The step of forming the metal layer in the void portion of the resin type laminate is performed by electroforming. That is, as shown in FIG. 1D, electroforming is performed using a metal ion solution to obtain a substrate 1
The metal layer 14 is formed on the metal thin film 13b formed on the surface 1. After the metal layer 14 is formed, the resin-type laminate is polished or ground to have a predetermined height.

【0038】つづいて、酸素プラズマなどによりアッシ
ングし、またはX線もしくは紫外線などを照射し、基板
上の樹脂型を除去する。その結果、図1(e)に示す構
造体が得られる。図1(a)に示す樹脂型12は、たと
えばダイレクトLIGA法により製造した金属微細構造
体を親金型として大量に複製できるので、この樹脂型1
2に電鋳することにより金属微細構造体を大量に製造す
ることができる。
Subsequently, the resin mold on the substrate is removed by ashing with oxygen plasma or the like, or irradiating with X-rays or ultraviolet rays. As a result, the structure shown in FIG. 1E is obtained. The resin mold 12 shown in FIG. 1 (a) can be reproduced in large quantities as a master mold of a metal microstructure manufactured by, for example, the direct LIGA method.
By electroforming No. 2, it is possible to produce a large amount of metal microstructures.

【0039】最後に、基板を除去する。図1(e)に示
すとおり、基板11上には金属薄膜13が残っているた
め、基板11の除去に際して、金属薄膜13も除去す
る。これらの除去は、適切な溶媒により溶解するか、ま
たはドライエッチングにより行なう。この結果、図1
(f)に示す金属微細構造体1が得られる。この金属微
細構造体1は、幅が数μm〜数100μm、高さが数1
00μm以下の構造体であり、コーナーエッジが鋭く、
深さ方向の垂直性にも優れ、しかも複雑な形状のものも
製造することができ、微細部品の組立作業が不要であ
る。
Finally, the substrate is removed. As shown in FIG. 1E, since the metal thin film 13 remains on the substrate 11, the metal thin film 13 is also removed when the substrate 11 is removed. These are removed by dissolving with a suitable solvent or by dry etching. As a result,
The metal microstructure 1 shown in (f) is obtained. This metal microstructure 1 has a width of several μm to several 100 μm and a height of several μm.
The structure has a size of 00 μm or less, and has sharp corner edges,
It has excellent verticality in the depth direction, and it can manufacture complicated shapes, and does not require assembly work of fine parts.

【0040】樹脂型の製造方法については、図2(a)
〜(d)に、一実施の形態を示す。図2(a)に示す凸
部25を有する金型を用いて、図2(b)に示すとお
り、射出成形、反応性射出成形などのモールドを行な
い、凹部を有する樹脂型22aを形成する。金型を除い
た後の凹部を有する樹脂型22aを図2(c)に示す。
凹部を有する樹脂型22aは研磨され、図2(d)に示
す貫通状態の樹脂型22が製造される。図2(c)に示
す樹脂型22aの開口部に基板を接合した後、樹脂型2
2aのうち接合面と反対側の面を研磨することにより、
電鋳用の樹脂型(図1(c)に示す構造体と同様のも
の)を製造することもできる。
The method of manufacturing the resin mold is shown in FIG.
An embodiment is shown in (d). As shown in FIG. 2B, a mold having a convex portion 25 shown in FIG. 2A is used to perform molding such as injection molding or reactive injection molding to form a resin mold 22a having a concave portion. A resin mold 22a having a recess after removing the mold is shown in FIG. 2 (c).
The resin mold 22a having the concave portion is polished to manufacture the resin mold 22 in a penetrating state shown in FIG. 2 (d). After bonding the substrate to the opening of the resin mold 22a shown in FIG.
By polishing the surface of 2a opposite to the bonding surface,
It is also possible to manufacture a resin mold for electroforming (similar to the structure shown in FIG. 1C).

【0041】実施例1 幅50μm、高さ50μmのNi製構造体をSiN製の
基板上にエポキシ樹脂を接着剤として貼り付けた。これ
を金型とし、ポリメチルメタクリレートを用いて反応性
射出成形をした。金型をはずした後、凹部を有する樹脂
型を研磨して、深さ方向に貫通した樹脂型を得た。
Example 1 A structure made of Ni having a width of 50 μm and a height of 50 μm was pasted on a SiN substrate using an epoxy resin as an adhesive. Using this as a mold, polymethylmethacrylate was used for reactive injection molding. After removing the mold, the resin mold having the concave portion was polished to obtain a resin mold penetrating in the depth direction.

【0042】この樹脂型の片面に、Arを不活性ガスと
し、CuをターゲットとしてRFスパッタリングを行な
い、樹脂型上に0.5μmのCu製の薄膜を形成した。
同様にSiNからなる基板上にRFスパッタリングを行
ない、0.5μmのCu製の薄膜を形成した。
RF sputtering was carried out on one surface of this resin mold with Ar as an inert gas and Cu as a target to form a Cu thin film of 0.5 μm on the resin mold.
Similarly, RF sputtering was performed on a substrate made of SiN to form a Cu thin film of 0.5 μm.

【0043】樹脂型のCu薄膜面と基板のCu薄膜面と
を接触させ、1MPaで加圧した後、常温で500kH
zの超音波を1秒間かけて接合し、樹脂型積層体を形成
した。この樹脂型積層体の空孔部にはきれいなCuの金
属面が見えていた。
The resin type Cu thin film surface and the substrate Cu thin film surface are brought into contact with each other and pressurized at 1 MPa, and then 500 kH at room temperature.
Ultrasonic waves of z were bonded for 1 second to form a resin type laminate. A clean Cu metal surface was visible in the voids of this resin-type laminate.

【0044】スルファミン酸ニッケル(450g/L)
とホウ酸(30g/L)を用いて、電流密度100mA
/cm2、pH4、温度50℃で60分間かけて、樹脂
型積層体の空孔部を電鋳により埋めた。その後、研磨し
て所定の厚さに揃え、つづいて、酸素プラズマによりア
ッシングし、基板上の樹脂型を除去し、ドライエッチン
グにより基板および金属薄膜を除去すると、目的とする
幅50μm、高さ50μmのNi製構造体が得られた。
この構造体は、エッジがシャープで、かつ深さ方向の垂
直性にも優れ、これにより同形状の金属微細構造体を大
量に製造できることがわかった。
Nickel sulfamate (450 g / L)
And boric acid (30g / L), current density 100mA
/ Cm 2 , pH 4, and temperature of 50 ° C. for 60 minutes to fill the voids of the resin-type laminate by electroforming. After that, it is polished to a predetermined thickness, followed by ashing with oxygen plasma to remove the resin mold on the substrate and dry etching to remove the substrate and the metal thin film. The target width is 50 μm and height is 50 μm. As a result, a structure made of Ni was obtained.
It has been found that this structure has sharp edges and is excellent in verticality in the depth direction, which makes it possible to mass-produce metal microstructures having the same shape.

【0045】実施例2 幅40μm、高さ60μmのNi製構造体をSiC製の
基板上にエポキシ樹脂を接着剤として貼り付けた。これ
を金型とし、ポリプロピレンを樹脂材料として射出成形
をした。金型をはずし、凹部を有する樹脂型を得た。
Example 2 A Ni structure having a width of 40 μm and a height of 60 μm was attached on a SiC substrate by using an epoxy resin as an adhesive. This was used as a mold, and injection molding was performed using polypropylene as a resin material. The mold was removed to obtain a resin mold having a recess.

【0046】この樹脂型のほかに、SiC製の基板を用
意し、樹脂型と基板の双方について、NaOH水溶液
(25kg/m3)、エタノールとアセトンの混合液に
浸漬して脱脂し、ジオキサンにより前エッチングした
後、CrO3(300kg/m3)、H2SO4とH2Oの
混合液に330Kで5分間浸漬して粗面化した。つづい
て、SnCl2水溶液で感応化処理し、PdCl2水溶液
で活性化処理した。これら一連の前処理を終えた後、硫
酸銅(0.04kmol/m3)、酒石酸カリウムナト
リウム(0.18kmol/m3)、NaOH(0.2
5kmol/m3)とホルマリン(10-23/m3)と
からなり、pH12、温度298Kに調整したメッキ浴
に30分間浸漬してCu製の薄膜を形成した。膜厚は
0.1μmであった。
In addition to this resin mold, a SiC substrate was prepared, and both the resin mold and the substrate were immersed in a NaOH aqueous solution (25 kg / m 3 ), a mixed solution of ethanol and acetone to degrease, and then dioxane was used. After pre-etching, it was roughened by immersing it in a mixed solution of CrO 3 (300 kg / m 3 ), H 2 SO 4 and H 2 O at 330 K for 5 minutes. Subsequently, treated sensitized reduction with SnCl 2 solution was treated activated with PdCl 2 solution. After finishing these series of pretreatments, copper sulfate (0.04 kmol / m 3 ), potassium sodium tartrate (0.18 kmol / m 3 ), NaOH (0.2
5 kmol / m 3 ) and formalin (10 −2 m 3 / m 3 ), a Cu thin film was formed by immersing for 30 minutes in a plating bath adjusted to pH 12 and temperature 298K. The film thickness was 0.1 μm.

【0047】つぎに、凹部を有する樹脂型を研磨し、深
さ方向に貫通した樹脂型を得た。つづいて、樹脂型およ
びSiC製基板のCu面を5PaのArガス中でスパッ
タリング処理をし、表面をエッチングした。
Next, the resin mold having the concave portion was polished to obtain a resin mold penetrating in the depth direction. Subsequently, the Cu surfaces of the resin mold and the SiC substrate were subjected to sputtering treatment in Ar gas of 5 Pa to etch the surfaces.

【0048】樹脂型のCu薄膜面と基板のCu薄膜面と
を接触させ、1MPaで加圧した後、常温で500kH
zの超音波を1秒間かけて接合し、樹脂型積層体を形成
した。この樹脂型積層体の空孔部にはきれいなCuの金
属面が見えていた。
The resin type Cu thin film surface and the substrate Cu thin film surface are brought into contact with each other and pressurized at 1 MPa, and then 500 kH at room temperature.
Ultrasonic waves of z were bonded for 1 second to form a resin type laminate. A clean Cu metal surface was visible in the voids of this resin-type laminate.

【0049】スルファミン酸ニッケル(450g/L)
とホウ酸(30g/L)を用いて、電流密度95mA/
cm2、pH4、温度50℃で60分間かけ、樹脂型積
層体の空孔部を電鋳により埋めた。その後、研磨して所
定の厚さに揃え、つづいて、酸素プラズマによりアッシ
ングし、基板上の樹脂型を除去し、ドライエッチングに
より基板および金属薄膜を除去すると、目的とする幅4
0μm、高さ60μmのNi製構造体が得られた。この
構造体は、エッジがシャープで、かつ深さ方向の垂直性
にも優れ、これにより同形状の金属微細構造体を大量に
製造できることがわかった。
Nickel sulfamate (450 g / L)
And boric acid (30 g / L), current density 95 mA /
cm 2, pH 4, over 60 minutes at a temperature 50 ° C., was filled with cast the cavity of the resin-type laminate conductive. After that, the substrate is polished to a predetermined thickness, followed by ashing with oxygen plasma to remove the resin mold on the substrate and dry etching to remove the substrate and the metal thin film.
A Ni-made structure having a size of 0 μm and a height of 60 μm was obtained. It has been found that this structure has sharp edges and is excellent in verticality in the depth direction, which makes it possible to mass-produce metal microstructures having the same shape.

【0050】今回開示された実施の形態および実施例は
すべての点で例示であって制限的なものではないと考え
られるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではな
くて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と
均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれるこ
とが意図される。
The embodiments and examples disclosed this time must be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description but by the claims, and is intended to include meanings equivalent to the claims and all modifications within the scope.

【0051】[0051]

【発明の効果】本発明によれば、コーナーエッジが鋭
く、深さ方向の垂直性にも優れた金属微細構造体を大量
に製造することができる。また、樹脂型と基板との強い
接合が得られ、かつ樹脂型積層体の形成後に空孔部内の
接着剤を除去する工程を必要としない。
According to the present invention, a large amount of metal microstructures having sharp corner edges and excellent verticality in the depth direction can be manufactured. Further, a strong bond between the resin mold and the substrate can be obtained, and the step of removing the adhesive in the pores after forming the resin mold laminate is not required.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の金属微細構造体の製造方法につい
て、一実施の形態を概略的に示す工程図である。
FIG. 1 is a process diagram schematically showing an embodiment of a method for producing a metal microstructure according to the present invention.

【図2】 樹脂型の製造方法について、一実施の形態を
概略的に示す工程図である。
FIG. 2 is a process diagram schematically showing an embodiment of a resin mold manufacturing method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 金属微細構造体、2 樹脂型積層体、11 基板、
12,22 樹脂型、13 金属薄膜、14 金属層、
25 凸部。
1 metal microstructure, 2 resin type laminated body, 11 substrate,
12,22 resin type, 13 metal thin film, 14 metal layer,
25 Convex part.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 羽賀 剛 兵庫県赤穂郡上郡町光都3丁目12番1号 住友電気工業株式会社播磨研究所内   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Tsuyoshi Haga             3-12-1 Koto, Kamigori-cho, Ako-gun, Hyogo             Sumitomo Electric Industries, Ltd. Harima Research Center

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上および樹脂型上に金属薄膜を形成
する工程と、 前記基板上の金属薄膜と前記樹脂型上の金属薄膜とを接
触させて厚さ方向に加圧することにより金属薄膜の表層
にある汚染層を破壊して接合し樹脂型積層体を形成する
工程と、 前記樹脂型積層体の空孔部に電鋳により金属層を形成す
る工程と、 からなる金属微細構造体の製造方法。
1. A step of forming a metal thin film on a substrate and a resin mold; and a step of contacting the metal thin film on the substrate with the metal thin film on the resin mold to pressurize them in the thickness direction. Manufacture of a metal microstructure comprising the steps of forming a resin-type laminate by destroying and joining the contaminated layer on the surface layer, and forming a metal layer by electroforming in the holes of the resin-type laminate. Method.
【請求項2】 前記金属薄膜を形成する工程は、真空蒸
着、スパッタリング、イオンプレーティングまたは化学
蒸着のいずれかにより行なう請求項1記載の金属微細構
造体の製造方法。
2. The method for producing a metal microstructure according to claim 1, wherein the step of forming the metal thin film is performed by any one of vacuum vapor deposition, sputtering, ion plating and chemical vapor deposition.
【請求項3】 前記金属薄膜を形成する工程は、電気メ
ッキまたは無電解メッキのいずれかにより行なう請求項
1記載の金属微細構造体の製造方法。
3. The method for producing a metal microstructure according to claim 1, wherein the step of forming the metal thin film is performed by either electroplating or electroless plating.
【請求項4】 前記基板上の金属薄膜を構成する金属と
前記樹脂型上の金属薄膜を構成する金属との格子定数の
差が20%以下である請求項1記載の金属微細構造体の
製造方法。
4. The production of a metal microstructure according to claim 1, wherein a difference in lattice constant between a metal forming the metal thin film on the substrate and a metal forming the metal thin film on the resin mold is 20% or less. Method.
【請求項5】 前記金属薄膜の表層にある汚染層を破壊
して接合し樹脂型積層体を形成する工程は、10〜10
00kHzの超音波または200℃以下の局所加熱のい
ずれか一つまたは両方により行なう請求項1記載の金属
微細構造体の製造方法。
5. The step of destroying and joining the contaminated layer on the surface layer of the metal thin film to form a resin type laminate is 10 to 10.
The method for producing a metal microstructure according to claim 1, wherein either one of or both of ultrasonic waves at 00 kHz and local heating at 200 ° C. or less are performed.
【請求項6】 前記基板上の金属薄膜を構成する金属と
前記金属微細構造体を構成する金属との格子定数の差が
5%以下である請求項1記載の金属微細構造体の製造方
法。
6. The method for producing a metal fine structure according to claim 1, wherein a difference in lattice constant between a metal forming the metal thin film on the substrate and a metal forming the metal fine structure is 5% or less.
【請求項7】 前記基板上の金属薄膜を構成する金属と
前記樹脂型上の金属薄膜を構成する金属との格子定数の
差が20%以下であり、前記基板上の金属薄膜を構成す
る金属と前記金属微細構造体を構成する金属との格子定
数の差が5%以下である請求項1記載の金属微細構造体
の製造方法。
7. The metal constituting the metal thin film on the substrate, wherein the difference in lattice constant between the metal constituting the metal thin film on the substrate and the metal constituting the metal thin film on the resin mold is 20% or less. The method for producing a metal fine structure according to claim 1, wherein a difference in lattice constant between the metal constituting the metal fine structure and the metal is 5% or less.
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