JP2003149183A - EPMA IDENTIFICATION METHOD FOR Al-Fe-BASED COMPOUND - Google Patents

EPMA IDENTIFICATION METHOD FOR Al-Fe-BASED COMPOUND

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JP2003149183A
JP2003149183A JP2001345207A JP2001345207A JP2003149183A JP 2003149183 A JP2003149183 A JP 2003149183A JP 2001345207 A JP2001345207 A JP 2001345207A JP 2001345207 A JP2001345207 A JP 2001345207A JP 2003149183 A JP2003149183 A JP 2003149183A
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JP
Japan
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aluminum
epma
electron beam
characteristic
crystallized particles
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Application number
JP2001345207A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiaki Iketani
芳明 池谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Light Metal Co Ltd
Original Assignee
Nippon Light Metal Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an EPMA identification method for an Al-Fe-based compound allowing correct identification on an Al-Fe-based compound included in an aluminum material comprising aluminum or an aluminum alloy, without being influenced by compounds other than aluminum, nor being influenced by a matrix even in the case of micro crystallized grains. SOLUTION: This EPMA identification method for the Al-Fe-based compound existing in the aluminum material comprising aluminum or an aluminum alloy is a method for identifying a plurality of AlFe crystallized grains formed of the same constitutive elements but different in the element composition ratio, by EPMA. The AlFe crystallized grains of the sample to be identified are irradiated with accelerated electron beams, and characteristic X-rays in a region including Lα beams and Lβ beams generated from the Fe element by electron beam irradiation are measured, and the AlFe crystallized grains are identified from a spectrum pattern of the measured characteristic X-ray spectrum.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、試料に電子線を
照射し、その試料から放射される特性X線を測定して試
料中の元素を定性又は定量するエレクトロン・プローブ
・マイクロアナライザー(Electron probe microanalys
er;以下「EPMA」と称する)による同定法に係り、
特に、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるアル
ミニウム材中に存在するAl−Fe系化合物を同定する
Al−Fe系化合物のEPMA同定法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electron probe microanalyzer for irradiating a sample with an electron beam and measuring the characteristic X-rays emitted from the sample to qualitatively or quantitatively analyze the elements in the sample. microanalys
er; hereinafter referred to as “EPMA”),
In particular, the present invention relates to an EPMA identifying method of an Al-Fe compound for identifying an Al-Fe compound present in an aluminum material made of aluminum or an aluminum alloy.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子材料から建築材料に至るまで、幅広
い分野で使用されているアルミニウム材には鉄(Fe)
やシリコン(Si)等の不純物が含まれる。これらの不
純物は、アルミニウムの再結晶特性、集合組織の形成、
結晶粒度等を始め、アルマイト皮膜色や光輝性、強度、
延性等に影響を及ぼすことが知られている。一般に、鉄
は、アルミニウムへの固溶度が小さいため、アルミニウ
ム材中においては、固溶状態だけではなく、金属間化合
物の状態であるAl−Fe系化合物として存在する。と
ころが、このアルミニウム材中に含まれるAl−Fe系
化合物は、アルミニウム材を表面処理する際に行う陽極
酸化工程等において、色抜け、皮膜の透明度低下、ボイ
ドの発生等といったアルミニウム製品に重大な欠陥を生
じさせる原因となる。
2. Description of the Related Art Iron (Fe) is used for aluminum materials used in a wide range of fields from electronic materials to building materials.
And impurities such as silicon (Si) are included. These impurities are responsible for the recrystallization properties of aluminum, the formation of texture,
Including crystal grain size, alumite film color, luster, strength,
It is known to affect ductility and the like. In general, iron has a low solid solubility in aluminum, and therefore, it exists not only in a solid solution state in an aluminum material but also as an Al—Fe-based compound in an intermetallic compound state. However, the Al-Fe-based compound contained in the aluminum material is a serious defect in the aluminum product such as color loss, deterioration of the transparency of the coating, and generation of voids in the anodic oxidation process performed when the aluminum material is surface-treated. Cause to cause.

【0003】これらのAl−Fe系化合物がアルミニウ
ム製品に欠陥を引き起こす原因は、次のように考えられ
ている。即ち、アルミニウム材中に含まれるAl−Fe
系化合物には、AlFe晶出粒子であるAl3Fe、A
6Fe、AlmFe等や、AlFeSi晶出粒子である
α−AlFeSi、β−AlFeSi等があり、アルミ
ニウム材中には、これら複数の種類の晶出粒子が混在し
ていることが多い。しかし、これらの晶出粒子は、その
種類によりそれぞれ化学的特性が異なるため、例えば、
上記のような晶出粒子を硫酸水溶液中で陽極酸化した場
合に、Al3Feやα−AlFeSiは陽極酸化処理に
よって酸化されるが、Al6Feやβ−AlFeSiは
酸化されない。そのため、晶出粒子の種類によって、そ
の表面に形成される陽極酸化皮膜の色調に差が生じ、結
果として、陽極酸化工程を経たアルミニウム材の表面に
は、色抜け等の欠陥が発生してしまう。
The reason why these Al--Fe compounds cause defects in aluminum products is considered as follows. That is, Al-Fe contained in the aluminum material
The system compounds include Al 3 Fe and A which are AlFe crystallized particles.
There are 16 Fe, Al m Fe, etc., and AlFeSi crystallized particles such as α-AlFeSi, β-AlFeSi, etc. In many cases, a plurality of these kinds of crystallized particles are mixed in the aluminum material. However, since these crystallized particles have different chemical characteristics depending on their types, for example,
When the crystallized particles as described above are anodized in a sulfuric acid aqueous solution, Al 3 Fe and α-AlFeSi are oxidized by anodizing treatment, but Al 6 Fe and β-AlFeSi are not oxidized. Therefore, the color tone of the anodized film formed on the surface varies depending on the type of crystallized particles, and as a result, defects such as color loss occur on the surface of the aluminum material that has undergone the anodizing process. .

【0004】このような状況において、アルミニウム材
中に含まれる晶出粒子を同定することができれば、アル
ミニウム製品において製品欠陥を引き起こす原因を特定
することができ、また、従来は見過ごしていた微小な化
合物粒子の存在を検出することができ、アルミニウム材
を使用したアルミニウム製品の製造工程における品質管
理や、製造方法や加工方法の履歴管理を行う面からも非
常に有益である。
In such a situation, if the crystallized particles contained in the aluminum material can be identified, the cause of the product defect in the aluminum product can be identified, and a minute compound that has been overlooked in the past can be identified. The presence of particles can be detected, which is very useful in terms of quality control in the manufacturing process of aluminum products using aluminum materials and history management of manufacturing methods and processing methods.

【0005】ところが、アルミニウム材中に存在するこ
れらの晶出粒子は、微小であるためX線回折法(XR
D)や化学分析、光学顕微鏡観察法等の方法では、アル
ミニウムの欠陥部に存在する晶出粒子を特定することが
難しい。また、試料中に含まれる元素種の判別や、金属
単体とその酸化物、炭化物、窒化物等の特定といった定
性分析に利用されてきたEPMAを用いて、これらの晶
出粒子の同定を行うために、一般的に使われるAl−K
αサテライト線やAl−Kβ線を利用して特性X線スペ
クトルを測定すると、Al6Fe、Al3Fe、α−Al
FeSi、β−AlFeSiから測定されるスペクトル
は、何れも、ピーク波長の位置及びピーク強度ともに純
アルミニウムのものとほぼ同一になり、これらの晶出粒
子の同定を行うことは困難である。また、EPMAを用
いたFe/Al及びFe/Siの相対X線強度比からこ
れら晶出粒子を同定する方法も提案されているが(特開
2000−180393号公報)、この方法では、晶出
粒子が存在するアルミニウム材が、純アルミニウムの場
合には適用することができるが、アルミニウム材がアル
ミニウム合金からなる場合は、アルミニウム以外の化合
物の影響を受けるため、晶出粒子を正しく同定すること
ができない。更に、同定する晶出粒子の粒子径がマイク
ロメータサイズの微小粒子になると、マトリックスの影
響を受けるため、EPMA測定において電子線照射での
加速電圧を下げる必要があるが、加速電圧を低下させる
ことにより、線源から得られる輝度が小さくなり、晶出
粒子像を結ばなくなるばかりでなく、X線強度の不足を
招き、正しく晶出粒子を同定することができないといっ
た問題が生じる。
However, since these crystallized particles present in the aluminum material are minute, they can be analyzed by the X-ray diffraction method (XR
It is difficult to identify crystallized grains existing in the defective portion of aluminum by methods such as D), chemical analysis, and optical microscope observation. In addition, in order to identify these crystallized particles by using EPMA which has been used for qualitative analysis such as discrimination of elemental species contained in a sample and identification of a simple metal and its oxide, carbide, nitride, etc. Commonly used for Al-K
When characteristic X-ray spectra are measured using α satellite rays and Al-Kβ rays, Al 6 Fe, Al 3 Fe, α-Al
The spectra measured from FeSi and β-AlFeSi are almost the same as those of pure aluminum both in terms of peak wavelength position and peak intensity, and it is difficult to identify these crystallized particles. Further, a method of identifying these crystallized particles from the relative X-ray intensity ratio of Fe / Al and Fe / Si using EPMA has been proposed (Japanese Patent Laid-Open No. 2000-180393). The aluminum material in which the particles are present can be applied in the case of pure aluminum, but when the aluminum material is made of an aluminum alloy, it is affected by compounds other than aluminum, so that the crystallized particles can be correctly identified. Can not. Furthermore, when the crystallized particles to be identified have micrometer-sized fine particles, they are affected by the matrix. Therefore, it is necessary to reduce the acceleration voltage in electron beam irradiation in EPMA measurement, but the acceleration voltage must be reduced. As a result, the brightness obtained from the radiation source is reduced, the crystallized grain image is not formed, and the X-ray intensity is insufficient, so that the crystallized grain cannot be correctly identified.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明者ら
は、アルミニウム材中に存在するAl−Fe系化合物に
ついて、アルミニウム材中に含まれるアルミニウム以外
の化合物の影響を受けることなく、また、晶出粒子が微
小な場合であってもマトリックスの影響を受けない同定
方法について鋭意検討した結果、Fe元素についてのL
α線及びLβ線を含む領域の特性X線スペクトルを測定
し、この測定されたスペクトルのスペクトルパターンか
らこれらAl−Fe系化合物の同定を行うことができる
ことを見出し、本発明を完成した。
Therefore, the present inventors have found that the Al--Fe compound present in the aluminum material is not affected by the compounds other than aluminum contained in the aluminum material, and the crystal is not affected. As a result of diligent study on an identification method that is not affected by the matrix even when the emitted particles are minute,
The present invention has been completed by finding that characteristic X-ray spectra in a region including α-rays and Lβ-rays are measured, and that these Al—Fe-based compounds can be identified from the spectrum pattern of the measured spectra.

【0007】従って、本発明の目的は、アルミニウム又
はアルミニウム合金からなるアルミニウム材中に含まれ
るAl−Fe系化合物について、アルミニウム以外の化
合物の影響を受けることなく、また、晶出粒子が微小な
場合であってもマトリックスの影響を受けることなく正
しく同定することができるAl−Fe系化合物のEPM
A同定法を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide an Al--Fe compound contained in an aluminum material made of aluminum or an aluminum alloy without being affected by a compound other than aluminum and when the crystallized particles are minute. EPM of Al-Fe compounds that can be correctly identified without being affected by the matrix
A method of identification.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、ア
ルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミニウム
材中に存在するAl−Fe系化合物であり、同じ構成元
素から形成されると共にその元素組成比が異なる複数の
AlFe晶出粒子、又は同じ構成元素から形成されると
共にその相が異なる複数のAlFeSi晶出粒子をEP
MAで同定する方法であり、同定試料のAlFe晶出粒
子に加速された電子線を照射し、電子線照射によりFe
元素から発生するLα線及びLβ線を含んだ領域の特性
X線を測定し、この測定された特性X線スペクトルのス
ペクトルパターンからこれらAlFe晶出粒子の同定を
行うことを特徴とするAl−Fe系化合物のEPMA同
定法である。
That is, the present invention is an Al-Fe compound present in an aluminum material made of aluminum or an aluminum alloy, which is formed of the same constituent elements and has different elemental composition ratios. EP of a plurality of AlFe crystallized particles, or a plurality of AlFeSi crystallized particles formed from the same constituent element and having different phases
In this method, the AlFe crystallized particles of the identified sample are irradiated with an accelerated electron beam and Fe is irradiated by the electron beam.
Characteristic X-rays in a region containing Lα rays and Lβ rays generated from an element are measured, and these AlFe crystallized particles are identified from the spectrum pattern of the measured characteristic X-ray spectrum. It is an EPMA identification method for system compounds.

【0009】また、本発明は、アルミニウム又はアルミ
ニウム合金からなるアルミニウム材中に存在するAl−
Fe系化合物をEPMAで同定する方法であり、同定試
料のAl−Fe系化合物に加速された電子線を照射し、
電子線照射によりFe元素及びSi元素から発生する特
性X線強度を測定し、この測定された特性X線強度から
これらFe元素及びSi元素の相対X線強度を求め、得
られた相対X線強度からFe元素及びSi元素の間の相
対X線強度比を算出することで、Al−Fe系化合物を
AlFe晶出粒子とAlFeSi晶出粒子とに分別する
判定を行い、この分別されたAlFe晶出粒子に対し
て、加速された電子線を照射し、電子線照射によりFe
元素から発生するLα線及びLβ線を含んだ領域の特性
X線を測定し、この測定された特性X線スペクトルのス
ペクトルパターンからこれらAlFe晶出粒子の同定を
行い、また、分別されたAlFeSi晶出粒子に対し
て、加速された電子線を照射し、電子線照射によりFe
元素から発生するLα線及びLβ線を含んだ領域の特性
X線を測定し、この測定された特性X線スペクトルのス
ペクトルパターンからこれらAlFeSi晶出粒子の同
定を行うことを特徴とするAl−Fe系化合物のEPM
A同定法である。
Further, according to the present invention, Al-present in an aluminum material composed of aluminum or an aluminum alloy is used.
This is a method for identifying a Fe-based compound by EPMA, in which the Al-Fe-based compound of the identified sample is irradiated with an accelerated electron beam,
The characteristic X-ray intensity generated from Fe element and Si element by electron beam irradiation is measured, and the relative X-ray intensity of these Fe element and Si element is determined from the measured characteristic X-ray intensity, and the obtained relative X-ray intensity is obtained. By calculating the relative X-ray intensity ratio between the Fe element and the Si element, the Al—Fe based compound is determined to be separated into AlFe crystallized particles and AlFeSi crystallized particles, and the separated AlFe crystallized particles The particles are irradiated with an accelerated electron beam, and Fe is irradiated by the electron beam.
Characteristic X-rays in a region containing Lα rays and Lβ rays generated from the element are measured, the AlFe crystallized particles are identified from the spectrum pattern of the measured characteristic X-ray spectrum, and the separated AlFeSi crystals are also identified. The emitted particles are irradiated with an accelerated electron beam, and Fe is irradiated by the electron beam.
Characteristic X-rays in a region containing Lα rays and Lβ rays generated from elements are measured, and these AlFeSi crystallized particles are identified from the spectrum pattern of the measured characteristic X-ray spectrum. Compounds EPM
A identification method.

【0010】本発明において、Al−Fe系化合物と
は、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミ
ニウム材中において、不純物として含まれた鉄(Fe)
により形成された化合物であって、Al元素とFe元素
が結合した金属間化合物の状態で存在するものであり、
また、不純物として鉄と共にシリコン(Si)を含有す
る金属間化合物も含まれる。Al−Fe系化合物とし
て、具体的には、構成元素がAlとFeの2種類の元素
からなるAlFe晶出粒子と、構成元素がAlとFeと
SiからなるAlFeSi晶出粒子を挙げることがで
き、AlFe晶出粒子としては、構成元素が同じである
が、その組成比が異なるAl6Fe、Al3Fe、Alm
Fe等が、また、AlFeSi晶出粒子としては、構成
元素が同じであるが、その相が異なるα−AlFeS
i、β−AlFeSi等がそれぞれ例示される。
In the present invention, the Al--Fe compound means iron (Fe) contained as an impurity in an aluminum material made of aluminum or an aluminum alloy.
Which is present in the form of an intermetallic compound in which an Al element and an Fe element are bonded,
Further, an intermetallic compound containing silicon (Si) together with iron as an impurity is also included. Specific examples of the Al-Fe compound include AlFe crystallized particles whose constituent elements are two kinds of elements Al and Fe, and AlFeSi crystallized particles whose constituent elements are Al, Fe and Si. , AlFe crystallized particles have the same constituent elements but different composition ratios, Al 6 Fe, Al 3 Fe, Al m
Further, Fe or the like, and as AlFeSi crystallized particles, α-AlFeS having the same constituent elements but different phases
Examples include i and β-AlFeSi.

【0011】本発明の同定法を実施する際に用いるEP
MAとしては、波長分散型(Wavelength Dispersive X-
ray Analysis)が好ましい。また、電子線照射源につい
ては、タングステンフィラメント電子銃、LaB6(6
−硼化ランタン)カソード搭載電子銃、及びCeBix
(米国FEI社製商品名:セビックス)カソード搭載電
子銃の何れを使用してもよいが、LaB6カソード搭載
電子銃及びCeBixカソード搭載電子銃は、高輝度を
有し、分析空間分解能が高いため直径1μm以下の晶出
粒子でも同定することができる。
EP used in carrying out the identification method of the present invention
As the MA, a wavelength dispersion type (Wavelength Dispersive X-
ray Analysis) is preferred. As for the electron beam irradiation source, a tungsten filament electron gun, LaB 6 (6
- lanthanum boride) cathode equipped with an electron gun, and CeBi x
(US FEI trade name: Sebikkusu) either of the cathode mounting electron gun may be used but, LaB 6 cathode mounting electron gun and CEBI x cathode mounting electron gun has a high brightness, high analysis spatial resolution Therefore, even crystallized particles having a diameter of 1 μm or less can be identified.

【0012】本発明におけるAl−Fe系化合物のEP
MA同定方法について、先ず、同定する試料であるAl
−Fe系化合物に対して、電子銃より加速された電子線
を照射し、電子線照射によりFe元素及びSi元素から
発生する特性X線強度を測定する。この際の電子線照射
条件として、加速電圧は通常10〜20kV、好ましく
は15kV程度であり、試料吸収電流は10nA以上、
好ましくは15nA程度であり、電子線ビーム径は1μ
mφ以下であるのが好ましい。また、特定X線の測定条
件として、測定時間は5秒以上、好ましくは10秒程度
である。この測定された特性X線強度を用いて、計算す
ることにより、Fe元素及びSi元素の相対X線強度を
求め、同定する試料であるAl−Fe系化合物のFe元
素及びSi元素の間の相対X線強度比を算出する。
EP of Al-Fe compound in the present invention
Regarding the MA identification method, first, Al which is a sample to be identified
An -Fe compound is irradiated with an electron beam accelerated by an electron gun, and the characteristic X-ray intensity generated from the Fe element and the Si element by the electron beam irradiation is measured. As electron beam irradiation conditions at this time, the acceleration voltage is usually 10 to 20 kV, preferably about 15 kV, and the sample absorption current is 10 nA or more,
It is preferably about 15 nA and the electron beam diameter is 1 μm.
It is preferably mφ or less. Further, as the measurement condition of the specific X-ray, the measurement time is 5 seconds or more, preferably about 10 seconds. The relative X-ray intensities of the Fe element and the Si element are calculated by using the measured characteristic X-ray intensities, and the relative X-ray intensities of the Fe-element and the Si-element of the Al-Fe compound, which is the sample to be identified, are calculated. Calculate the X-ray intensity ratio.

【0013】上記の方法により算出された相対X線強度
比が20以下の場合は、測定したAl−Fe系化合物が
Al6Fe、Al3Fe、AlmFeの何れかであるAl
Fe晶出粒子と判定することができ、相対X線強度比が
20以上の場合は、α−AlFeSi、β−AlFeS
iの何れかであるAlFeSi晶出粒子と判定すること
ができ、これにより、同定するAl−Fe系化合物が、
AlFe晶出粒子であるかAlFeSi晶出粒子である
かについて分別判定を行うことができる。
When the relative X-ray intensity ratio calculated by the above method is 20 or less, the measured Al--Fe compound is Al 6 Fe, Al 3 Fe, or Al m Fe.
It can be determined as Fe crystallized particles, and when the relative X-ray intensity ratio is 20 or more, α-AlFeSi, β-AlFeS
It can be determined that the AlFeSi crystallized particles are any of i, and thus the Al-Fe compound to be identified is
It is possible to perform a classification determination as to whether the particles are AlFe crystallized particles or AlFeSi crystallized particles.

【0014】次いで、分別判定されたAlFe晶出粒子
に対して、電子銃より加速された電子線を照射する。こ
の際の電子線照射条件として、加速電圧は3〜15k
V、好ましくは5〜10kVである。加速電圧は、低い
ほど測定される特性X線スペクトルのピーク波長位置に
差が見られ、スペクトルの差を判別するのに都合がよい
が、3kV以下では、LaB6カソード搭載電子銃又は
CeBixカソード搭載電子銃を使用した場合でも、得
られる輝度が低下するため、AlFe晶出粒子が微細な
粒子の場合では、スペクトルを判別するのが難しくな
る。反対に、加速電圧が15kVより大きくなると、F
e−Kαの高次線が大きくなるため、測定される特性X
線スペクトルのピーク波長の位置が不明瞭になり、Al
Fe晶出粒子の同定が困難になる。また、試料吸収電流
については、50nAまたはそれ以上であるのがよく、
電子線ビーム径については1μmφ以下であるのがよ
い。特性X線の測定条件としては、測定する特性X線ス
ペクトルは、電子線照射によりFe元素から発生するL
α線及びLβ線を含んだ領域であればよく、波長領域と
しては17.0〜18.0Åであるのがよく、また、測定
時間については10秒以上/ステップであるのがよい。
Next, the separated AlFe crystallized particles are irradiated with an electron beam accelerated by an electron gun. As the electron beam irradiation conditions at this time, the acceleration voltage is 3 to 15 k.
V, preferably 5 to 10 kV. Acceleration voltage is lower as the difference was observed in the peak wavelength position of the measured characteristic X-ray spectrum, but it is convenient to determine the difference between the spectrum, below the 3 kV, LaB 6 cathode mounting electron gun or CEBI x cathode Even when the on-board electron gun is used, the obtained brightness is lowered, so that it is difficult to determine the spectrum when the AlFe crystallized particles are fine particles. On the contrary, when the accelerating voltage becomes higher than 15 kV, F
Since the higher-order line of e-Kα becomes large, the measured characteristic X
The position of the peak wavelength of the line spectrum becomes unclear,
It becomes difficult to identify the Fe crystallized particles. The sample absorption current is preferably 50 nA or more,
The electron beam diameter is preferably 1 μmφ or less. As the characteristic X-ray measurement condition, the characteristic X-ray spectrum to be measured is L generated from Fe element by electron beam irradiation.
The wavelength region may be 17.0 to 18.0Å, and the measurement time may be 10 seconds or more / step, as long as the region includes α rays and Lβ rays.

【0015】上記の方法で測定したFe元素から発生す
るLα線及びLβ線を含んだ特性X線スペクトルのスペ
クトルパターンによれば、測定したAlFe晶出粒子が
Al 6Feであるのか、Al3Feであるのか同定するこ
とができる。即ち、この測定スペクトルにおいて、Fe
元素から発生するLα線に由来するピークとLβ線に由
来するピークの間に、さらにピークが現れる場合はAl
6Feと、この位置にピークが現れない場合はAl3Fe
であると同定することができる。この理由については不
明であるが、AlとFeとの結合状態によってこれらの
スペクトルパターンに違いが生ずるものと思われる。
Generated from the Fe element measured by the above method
Of the characteristic X-ray spectrum including Lα and Lβ
According to the cuttle pattern, the measured AlFe crystallized particles
Al 6Fe or Al3To identify if it is Fe
You can That is, in this measurement spectrum, Fe
Due to the Lα line-derived peak and Lβ line generated from the element
If another peak appears between the incoming peaks, Al
6Fe and Al if no peak appears at this position3Fe
Can be identified as For this reason
Obviously, depending on the bonding state of Al and Fe, these
Differences in spectral patterns are likely to occur.

【0016】また、分別判定されたAlFeSi晶出粒
子に対しても、上記と同様な方法によるEPMA測定を
行えば、AlFeSi晶出粒子を同定することができ
る。即ち、電子線照射条件として、加速電圧は3〜15
kV、好ましくは5〜10kVである。加速電圧は、低
いほど測定される特性X線スペクトルのピーク波長位置
に差が見られ、スペクトルの差を判別するのに都合がよ
いが、3kV以下では、LaB6カソード搭載電子銃又
はCeBixカソード搭載電子銃を使用した場合でも、
得られる輝度が低下するため、AlFeSi晶出粒子が
微細な粒子の場合では、スペクトルを判別するのが難し
くなる。反対に、加速電圧が15kVより大きくなる
と、Fe−Kαの高次線が大きくなるため、測定される
特性X線スペクトルのピーク波長の位置が不明瞭にな
り、AlFeSi晶出粒子の同定が困難になる。また、
試料吸収電流については、50nAまたはそれ以上であ
るのがよく、電子線ビーム径については1μmφ以下で
あるのがよい。特性X線の測定条件としては、測定する
特性X線スペクトルは、電子線照射によりFe元素から
発生するLα線及びLβ線を含んだ領域であればよく、
波長領域としては17.0〜18.0Åであるのがよく、
また、測定時間については10秒以上/ステップである
のがよい。
The AlFeSi crystallized particles can also be identified by performing the EPMA measurement on the AlFeSi crystallized particles determined to be separated by the same method as described above. That is, as the electron beam irradiation condition, the acceleration voltage is 3 to 15
kV, preferably 5-10 kV. Acceleration voltage is lower as the difference was observed in the peak wavelength position of the measured characteristic X-ray spectrum, but it is convenient to determine the difference between the spectrum, below the 3 kV, LaB 6 cathode mounting electron gun or CEBI x cathode Even when using the on-board electron gun,
When the AlFeSi crystallized particles are fine particles, it is difficult to determine the spectrum because the obtained brightness is lowered. On the other hand, when the accelerating voltage is higher than 15 kV, the higher-order line of Fe-Kα becomes large, so that the position of the peak wavelength of the characteristic X-ray spectrum to be measured becomes unclear, which makes it difficult to identify AlFeSi crystallized particles. Become. Also,
The sample absorption current is preferably 50 nA or more, and the electron beam diameter is preferably 1 μmφ or less. As the measurement condition of the characteristic X-ray, the characteristic X-ray spectrum to be measured may be a region containing Lα rays and Lβ rays generated from Fe element by electron beam irradiation,
The wavelength range is preferably 17.0 to 18.0Å,
The measurement time is preferably 10 seconds or more / step.

【0017】上記の方法で測定したFe元素から発生す
るLα線及びLβ線を含んだ特性X線スペクトルのスペ
クトルパターンによれば、測定したAlFeSi晶出粒
子がα−AlFeSiであるのか、β−AlFeSiで
あるのか同定することができる。即ち、この測定スペク
トルにおいて、Fe元素から発生するLα線に由来する
ピークとLβ線に由来するピークの間に、さらにピーク
が現れる場合は、β−AlFeSiと、この位置にピー
クが現れない場合は、α−AlFeSiであると同定す
ることができる。
According to the spectrum pattern of the characteristic X-ray spectrum containing Lα and Lβ rays generated from the Fe element measured by the above method, whether the measured AlFeSi crystallized particles are α-AlFeSi or β-AlFeSi Can be identified. That is, in this measurement spectrum, if a further peak appears between the peak derived from the Lα line and the peak derived from the Lβ line generated from the Fe element, β-AlFeSi, and if no peak appears at this position, , Α-AlFeSi.

【0018】本発明においては、Al−Fe系化合物を
含有したアルミニウム材を熱フェノールに溶解し、次い
で、ベンジルアルコールで希釈し、得られた溶液を濾過
することで、不溶性のAl−Fe系化合物を分離するこ
とができる公知なフェノール法(軽金属Vol.35,No.1
1,P.647〜649、軽金属Vol.39,No.9,P.645〜650)を
採用し、Al−Fe系化合物を分離濃縮し、同定試料と
して用いてもよい。アルミニウム材中に含まれたAl−
Fe系化合物を分離濃縮して、同定試料とすることがで
きるため、EPMAによる測定においては、同定対象で
あるAl−Fe系化合物からの特性X線強度が確保し易
くなり、鮮明なスペクトルを得ることができる。また、
Al−Fe系化合物のみを分離し、同定試料としている
ため、アルミニウム材中に含まれたAl−Fe系化合物
以外の化合物からの特性X線を測定してしまう危険性を
回避することができ、正確なスペクトルを採取すること
ができる。尚、上記フェノール法により分離した同定試
料に対して、EPMA測定における電子線照射条件及び
特性X線測定条件については、特に上記に示した以外に
制限はない。
In the present invention, an aluminum material containing an Al--Fe compound is dissolved in hot phenol, then diluted with benzyl alcohol, and the resulting solution is filtered to obtain an insoluble Al--Fe compound. A well-known phenol method (Light metal Vol.35, No.1)
1, P.647 to 649, Light Metals Vol.39, No.9, P.645 to 650), the Al-Fe compound may be separated and concentrated and used as an identification sample. Al- contained in aluminum material
Since the Fe-based compound can be separated and concentrated to be used as an identification sample, in the measurement by EPMA, the characteristic X-ray intensity from the Al-Fe-based compound to be identified is easily ensured, and a clear spectrum is obtained. be able to. Also,
Since only the Al-Fe-based compound is separated and used as the identification sample, it is possible to avoid the risk of measuring characteristic X-rays from compounds other than the Al-Fe-based compound contained in the aluminum material, Accurate spectra can be collected. There are no restrictions on the electron beam irradiation condition and the characteristic X-ray measurement condition in the EPMA measurement for the identification sample separated by the above-mentioned phenol method other than those shown above.

【0019】また、本発明におけるEPMA同定方法に
おいては、Al−Fe系化合物を含有するアルミニウム
材をアルミニウム材の状態のままで、いわゆるバルク材
試料として測定してもよい。Al−Fe系化合物をアル
ミニウム材に存在する状態で同定することができるた
め、同定試料を調整する等の手間が省け、効率的に測定
することができ、また、アルミニウム材をアルミニウム
製品に加工する実際の製造工程においてAl−Fe系化
合物の同定を行うことで、製品管理における有力な手段
とすることができる。尚、バルク材試料に対して、EP
MA測定における電子線照射条件及び特性X線測定条件
については、フェノール法を採用した同定試料と同様
に、特に制限はない。
In the EPMA identification method of the present invention, the aluminum material containing the Al--Fe compound may be measured as a so-called bulk material sample in the state of the aluminum material. Since the Al-Fe compound can be identified in the state of existing in the aluminum material, the labor for adjusting the identification sample can be saved and the measurement can be performed efficiently, and the aluminum material is processed into the aluminum product. By identifying the Al-Fe compound in the actual manufacturing process, it can be a powerful tool in product management. For bulk material samples, EP
The electron beam irradiation conditions and the characteristic X-ray measurement conditions in MA measurement are not particularly limited, as in the case of the identification sample employing the phenol method.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下、波長分散型EPMA(島津
製作所製電子線マイクロアナライザーEPMA−150
0;X線取出角度δ:52.5°)を用いた実施例に基
づいて、本発明の好適な実施の形態を具体的に説明す
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, a wavelength dispersion type EPMA (electron beam microanalyzer EPMA-150 manufactured by Shimadzu Corporation) is used.
0; X-ray extraction angle δ: 52.5 °), a preferred embodiment of the present invention will be specifically described based on an example.

【0021】実施例1 〔測定試料の調整〕Al3Fe単相材を含んだアルミニ
ウム材、Al6Fe単相材を含んだアルミニウム材、α
−AlFeSi主体材を含んだアルミニウム材、及びβ
−AlFeSi主体材を含んだアルミニウム材につい
て、以下の方法によりアルミニウム材からAl3Fe単
相材、Al6Fe単相材、α−AlFeSi主体材、及
びβ−AlFeSiをそれぞれ分離した。先ず、300
mlのフラスコに120mlのフェノールを仕込み、約
1分間180℃に加熱して水分を除去し、次いでAl3
Fe単相材を含んだアルミニウム材0.1〜1gを細か
に千切ってフラスコ内に投入し、還流冷却器を取り付け
て3〜5分程度加熱して試料アルミニウム材をフェノー
ルに溶解せしめ、次いで80mlのベンジルアルコール
を加えて室温まで冷却し、得られた溶液をPTFE製メ
ンブランフィルター(ポアサイズ0.1μm)により濾
過し、Al3Fe単相材を分離し、測定試料1とした。
同様の方法によりアルミニウム材から分離したAl6
e単相材を測定試料2、α−AlFeSi主体材を測定
試料3、及びβ−AlFeSi主体材を測定試料4とし
た。
Example 1 [Preparation of measurement sample] Aluminum material containing Al 3 Fe single phase material, aluminum material containing Al 6 Fe single phase material, α
-AlFeSi-based aluminum material, and β
Regarding the aluminum material containing the -AlFeSi main material, the Al 3 Fe single phase material, the Al 6 Fe single phase material, the α-AlFeSi main material, and the β-AlFeSi were separated from the aluminum material by the following method. First, 300
120 ml of phenol was charged into a ml flask and heated at 180 ° C. for about 1 minute to remove water, and then Al 3
0.1 to 1 g of the aluminum material containing the Fe single phase material was finely shredded and put into a flask, and a reflux condenser was attached to heat it for about 3 to 5 minutes to dissolve the sample aluminum material in phenol. 80 ml of benzyl alcohol was added and the mixture was cooled to room temperature, and the obtained solution was filtered through a PTFE membrane filter (pore size 0.1 μm) to separate the Al 3 Fe single phase material, which was used as measurement sample 1.
Al 6 F separated from aluminum material by the same method
The single phase material was used as measurement sample 2, the α-AlFeSi main material was used as measurement sample 3, and the β-AlFeSi main material was used as measurement sample 4.

【0022】〔EPMAによる測定〕次に、得られた測
定試料1及び2について、一部を採取して、EPMA試
料台に装着し、Pt蒸着後タングステンフィラメント電
子銃を用いて、加速電圧5kV、試料吸収電流30n
A、電子線ビーム径5μmφの電子線照射条件下で、F
e−Lα線及びFe−Lβ線を含む領域でスペクトルを
測定した。尚、スペクトルの測定条件は、使用した分光
結晶がRAP(酸性フタル酸ルビジウム:Rubidium aci
d phtharate)、分析波長が17.0〜18.0Å、ステ
ップ幅が0.002Å、測定時間が10秒である。
[Measurement by EPMA] Next, a part of the obtained measurement samples 1 and 2 was sampled and mounted on an EPMA sample stage, and after Pt deposition, a tungsten filament electron gun was used to accelerate at an accelerating voltage of 5 kV. Sample absorption current 30n
A, F under electron beam irradiation condition of electron beam diameter 5 μm
A spectrum was measured in a region including e-Lα line and Fe-Lβ line. In addition, the measurement condition of the spectrum is that the used spectroscopic crystal is RAP (Rubidium acid phthalate: Rubidium aci).
d phtharate), the analysis wavelength is 17.0 to 18.0 Å, the step width is 0.002 Å, and the measurement time is 10 seconds.

【0023】上記方法により得られたAl3Fe単相材
及びAl6Fe単相材(測定試料1及び2)のスペクト
ルを図1(A)及び(B)に示す。また、参考として図
2には、純鉄(99.998%Fe)をEPMA測定したスペ
クトルを示す。図1(A)のAl3Fe単相材及び図1
(B)のAl6Fe単相材では、Fe−Lα線に由来す
るピーク1及びFe−Lβ線に由来するピーク2が確認
できる。ところが、図1(B)については、図2に示し
た純鉄のスペクトルにて確認できるFe−Kα高次線の
付近にピーク3が現れる。従って、Fe−Lα線とFe
−Lβ線の間に現れるこのピークの差を利用すれば、A
3Fe単相材とAl6Fe単相材について同定すること
ができる。
The spectra of the Al 3 Fe single phase material and the Al 6 Fe single phase material (measurement samples 1 and 2) obtained by the above method are shown in FIGS. 1 (A) and 1 (B). For reference, FIG. 2 shows a spectrum of pure iron (99.998% Fe) measured by EPMA. The Al 3 Fe single phase material of FIG. 1 (A) and FIG.
In the Al 6 Fe single-phase material (B), peak 1 derived from Fe-Lα line and peak 2 derived from Fe-Lβ line can be confirmed. However, in FIG. 1 (B), peak 3 appears near the Fe—Kα higher-order line which can be confirmed in the spectrum of pure iron shown in FIG. 2. Therefore, Fe-Lα ray and Fe
-By using the difference between the peaks appearing between the Lβ lines, A
It is possible to identify the l 3 Fe single phase material and the Al 6 Fe single phase material.

【0024】また、上記と同様の方法により、測定試料
3及び4から得られたスペクトルを図3(A)及び
(B)に示した。Al3Fe単相材とAl6Fe単相材の
場合と同様に、図3(B)のβ−AlFeSi主体材の
スペクトルについては、Fe−Lα線のサテライトに由
来すると思われるピーク3が確認でき、即ち、Fe−L
α線とFe−Lβ線の間に現れるこのピークの差を利用
すれば、α−AlFeSi主体材とβ−AlFeSi主
体材について同定することができる。
Spectra obtained from measurement samples 3 and 4 by the same method as described above are shown in FIGS. 3 (A) and 3 (B). As in the case of the Al 3 Fe single-phase material and the Al 6 Fe single-phase material, in the spectrum of the β-AlFeSi main material of FIG. 3 (B), peak 3 which is considered to be derived from the satellite of Fe-Lα line was confirmed. Yes, that is, Fe-L
By utilizing the difference in this peak appearing between the α-ray and the Fe-Lβ-ray, it is possible to identify the α-AlFeSi main material and the β-AlFeSi main material.

【0025】実施例2 Al3Fe単相材を含んだアルミニウム材を測定試料5
とし、同様にAl6Fe単相材を含んだアルミニウム
材、α−AlFeSi主体材を含んだアルミニウム材、
及びβ−AlFeSi主体材を含んだアルミニウム材を
バルク材試料の状態のまま、それぞれ測定試料6〜8と
した。次に、測定試料5及び6について、電解研磨後に
Pt蒸着を行い、EPMA試料台に装着して、タングス
テンフィラメント電子銃を用いて、加速電圧10kV、
試料吸収電流50nA、電子線ビーム径1μmφの電子
線照射条件下で、Fe−Lα線及びFe−Lβ線を含む
領域でスペクトルを測定した。尚、スペクトルの測定条
件は、使用した分光結晶がRAP(酸性フタル酸ルビジ
ウム)、分析波長が17.0〜18.0Å、ステップ幅が
0.002Å、測定時間が30秒である。
Example 2 An aluminum material containing an Al 3 Fe single phase material was measured Sample 5
Similarly, an aluminum material containing an Al 6 Fe single phase material, an aluminum material containing an α-AlFeSi main material,
And the aluminum material containing the β-AlFeSi main material were used as measurement samples 6 to 8 in the bulk material sample state. Next, with respect to the measurement samples 5 and 6, Pt vapor deposition was performed after electrolytic polishing, the Pt sample was mounted on the EPMA sample table, and the acceleration voltage was 10 kV using a tungsten filament electron gun.
A spectrum was measured in a region including the Fe-Lα line and the Fe-Lβ line under electron beam irradiation conditions with a sample absorption current of 50 nA and an electron beam diameter of 1 μmφ. The measurement conditions of the spectrum are as follows: the analyzing crystal used is RAP (rubidium acid phthalate), the analysis wavelength is 17.0 to 18.0Å, the step width is 0.002Å, and the measurement time is 30 seconds.

【0026】上記の方法により得られたAl3Fe単相
材及びAl6Fe単相材(測定試料5及び6)のスペク
トルを図4(A)及び(B)に示す。先の図1(A)及
び(B)に示したスペクトルと同様に、図4(B)のA
6Fe単相材のスペクトルには、Fe−Lα線とFe
−Lβ線の間に、Fe−Lα線のサテライトに由来する
と思われるピーク3が確認できる。従って、Fe−Lα
線とFe−Lβ線の間に現れるこのピークの差を利用す
れば、バルク材試料についてもAl3Fe単相材とAl6
Fe単相材について同定することができる。
The spectra of the Al 3 Fe single phase material and the Al 6 Fe single phase material (measurement samples 5 and 6) obtained by the above method are shown in FIGS. 4 (A) and 4 (B). Similar to the spectra shown in FIGS. 1A and 1B above, A in FIG.
The spectrum of the l 6 Fe single phase material includes Fe-Lα rays and Fe.
Between -Lβ line, peak 3 which is considered to be derived from the satellite of Fe-Lα line can be confirmed. Therefore, Fe-Lα
By using the difference between the peaks appearing between the Fe-Lβ line and the Fe-Lβ line, the Al 3 Fe single-phase material and the Al 6 Fe 6
The Fe single phase material can be identified.

【0027】また、上記と同様の方法により、測定試料
7及び8から得られたスペクトルを図5(A)及び
(B)に示した。Al3Fe単相材とAl6Fe単相材の
場合と同様に、図5(B)のβ−AlFeSi主体材の
スペクトルについては、Fe−Lα線のサテライトに由
来すると思われるピーク3が確認できるため、Fe−L
α線とFe−Lβ線の間に現れるこのピークの差を利用
すれば、バルク材試料についてもα−AlFeSi主体
材とβ−AlFeSi主体材について同定することがで
きる。
Spectra obtained from measurement samples 7 and 8 by the same method as described above are shown in FIGS. 5 (A) and 5 (B). As in the case of the Al 3 Fe single-phase material and the Al 6 Fe single-phase material, in the spectrum of the β-AlFeSi main material of FIG. 5 (B), peak 3 which is considered to be derived from the satellite of Fe-Lα line was confirmed. Fe-L
By utilizing the difference in this peak appearing between the α-ray and the Fe-Lβ-ray, it is possible to identify the α-AlFeSi main material and the β-AlFeSi main material also in the bulk material sample.

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明のAl−Fe系化合物のEPMA
同定法によれば、アルミニウム材中に存在するAl−F
e系化合物について、アルミニウム材中に含まれるアル
ミニウム以外の化合物の影響を受けることなく、また、
晶出粒子が微小な場合であってもマトリックスの影響を
受けずに、Al−Fe系化合物の同定を行うことができ
る。
EFFECT OF THE INVENTION EPMA of Al--Fe compound of the present invention
According to the identification method, Al-F existing in the aluminum material
The e-based compound is not affected by compounds other than aluminum contained in the aluminum material, and
Even when the crystallized particles are minute, the Al—Fe compound can be identified without being affected by the matrix.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 図1は本発明のEPMA同定法によるAl3
Fe単相材とAl6Fe単相材の特性X線スペクトルで
あり、(A)はAl3Fe単相材、(B)はAl6Fe単
相材である。
FIG. 1 shows Al 3 by the EPMA identification method of the present invention.
Fe is a characteristic X-ray spectrum of the single-phase material and Al 6 Fe single phase material, (A) is Al 3 Fe single phase material, (B) is Al 6 Fe single phase material.

【図2】 図2は純鉄の特性X線スペクトルである。FIG. 2 is a characteristic X-ray spectrum of pure iron.

【図3】 図3は本発明のEPMA同定法によるα−A
lFeSi主体材とβ−AlFeSi主体材の特性X線
スペクトルであり、(A)はα−AlFeSi主体材、
(B)はβ−AlFeSi主体材である。
FIG. 3 shows α-A according to the EPMA identification method of the present invention.
1A is a characteristic X-ray spectrum of a main material of 1FeSi and a main material of β-AlFeSi, where (A) is a main material of α-AlFeSi,
(B) is a β-AlFeSi main material.

【図4】 図4は本発明のEPMA同定法によるAl3
Fe単相材とAl6Fe単相材の特性X線スペクトルで
あり、(A)はAl3Fe単相材、(B)はAl6Fe単
相材である。
FIG. 4 shows Al 3 by the EPMA identification method of the present invention.
Fe is a characteristic X-ray spectrum of the single-phase material and Al 6 Fe single phase material, (A) is Al 3 Fe single phase material, (B) is Al 6 Fe single phase material.

【図5】 図5は本発明のEPMA同定法によるα−A
lFeSi主体材とβ−AlFeSi主体材の特性X線
スペクトルであり、(A)はα−AlFeSi主体材、
(B)はβ−AlFeSi主体材である。
FIG. 5 shows α-A according to the EPMA identification method of the present invention.
1A is a characteristic X-ray spectrum of a main material of 1FeSi and a main material of β-AlFeSi, where (A) is a main material of α-AlFeSi,
(B) is a β-AlFeSi main material.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・Fe−Lα線に由来するピーク、2・・・Fe−Lβ
線に由来するピーク、3・・・Fe−Lα線のサテライト
に由来するピーク
1 ... Peak derived from Fe-Lα line, 2 ... Fe-Lβ
Line-derived peak, 3 ... Fe-Lα ray satellite-derived peak

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 アルミニウム又はアルミニウム合金から
なるアルミニウム材中に存在するAl−Fe系化合物で
あり、同じ構成元素から形成されると共にその元素組成
比が異なる複数のAlFe晶出粒子をEPMAで同定す
る方法であり、同定試料のAlFe晶出粒子に加速され
た電子線を照射し、電子線照射によりFe元素から発生
するLα線及びLβ線を含んだ領域の特性X線を測定
し、この測定された特性X線スペクトルのスペクトルパ
ターンからこれらAlFe晶出粒子の同定を行うことを
特徴とするAl−Fe系化合物のEPMA同定法。
1. An EPMA is used to identify a plurality of AlFe crystallized particles which are Al-Fe compounds existing in an aluminum material made of aluminum or an aluminum alloy and which are composed of the same constituent elements and have different element composition ratios. In this method, the AlFe crystallized particles of the identified sample are irradiated with an accelerated electron beam, and characteristic X-rays in a region containing Lα and Lβ rays generated from the Fe element by the electron beam irradiation are measured. EPMA identification method for Al-Fe compounds, characterized in that these AlFe crystallized particles are identified from the spectrum pattern of the characteristic X-ray spectrum.
【請求項2】 アルミニウム又はアルミニウム合金から
なるアルミニウム材中に存在するAl−Fe系化合物で
あり、同じ構成元素から形成されると共にその相が異な
る複数のAlFeSi晶出粒子をEPMAで同定する方
法であり、同定試料のAlFeSi晶出粒子に加速され
た電子線を照射し、電子線照射によりFe元素から発生
するLα線及びLβ線を含んだ領域の特性X線を測定
し、この測定された特性X線スペクトルのスペクトルパ
ターンからこれらAlFeSi晶出粒子の同定を行うこ
とを特徴とするAl−Fe系化合物のEPMA同定法。
2. A method of identifying a plurality of AlFeSi crystallized particles, which are Al-Fe compounds existing in an aluminum material made of aluminum or an aluminum alloy, and which are formed of the same constituent element and have different phases by EPMA. Yes, the AlFeSi crystallized particles of the identified sample were irradiated with an accelerated electron beam, and characteristic X-rays in a region containing Lα and Lβ rays generated from the Fe element by the electron beam irradiation were measured, and the measured characteristics EPMA identification method of Al-Fe type compound characterized by identifying these AlFeSi crystallized particles from the spectrum pattern of X-ray spectrum.
【請求項3】 電子線照射における加速電圧が3〜15
kVである請求項1又は2に記載のAl−Fe系化合物
のEPMA同定法。
3. The acceleration voltage in electron beam irradiation is 3 to 15
EPMA identification method of the Al-Fe type compound of Claim 1 or 2 which is kV.
【請求項4】 Al−Fe系化合物を含んだアルミニウ
ム材をフェノールに溶解し、Al−Fe系化合物を分離
濃縮して同定試料とする請求項1〜3の何れかに記載の
Al−Fe系化合物のEPMA同定法。
4. The Al—Fe system according to claim 1, wherein an aluminum material containing an Al—Fe system compound is dissolved in phenol and the Al—Fe system compound is separated and concentrated to obtain an identification sample. EPMA identification method of compounds.
【請求項5】 Al−Fe系化合物を含んだアルミニウ
ム材をバルク材試料として同定試料とする請求項1〜4
の何れかに記載のAl−Fe系化合物のEPMA同定
法。
5. An aluminum sample containing an Al—Fe compound is used as an identification sample as a bulk material sample.
EPMA identification method of the Al-Fe type compound in any one of.
【請求項6】 アルミニウム又はアルミニウム合金から
なるアルミニウム材中に存在するAl−Fe系化合物を
EPMAで同定する方法であり、同定試料のAl−Fe
系化合物に加速された電子線を照射し、電子線照射によ
りFe元素及びSi元素から発生する特性X線強度を測
定し、この測定された特性X線強度からこれらFe元素
及びSi元素の相対X線強度を求め、得られた相対X線
強度からFe元素及びSi元素の間の相対X線強度比を
算出することで、Al−Fe系化合物をAlFe晶出粒
子とAlFeSi晶出粒子とに分別する判定を行い、こ
の分別されたAlFe晶出粒子に対して、加速された電
子線を照射し、電子線照射によりFe元素から発生する
Lα線及びLβ線を含んだ領域の特性X線を測定し、こ
の測定された特性X線スペクトルのスペクトルパターン
からこれらAlFe晶出粒子の同定を行い、また、分別
されたAlFeSi晶出粒子に対して、加速された電子
線を照射し、電子線照射によりFe元素から発生するL
α線及びLβ線を含んだ領域の特性X線を測定し、この
測定された特性X線スペクトルのスペクトルパターンか
らこれらAlFeSi晶出粒子の同定を行うことを特徴
とするAl−Fe系化合物のEPMA同定法。
6. A method for identifying an Al—Fe compound present in an aluminum material made of aluminum or an aluminum alloy by EPMA, which is an identification sample of Al—Fe.
The compound compound is irradiated with an accelerated electron beam, the characteristic X-ray intensity generated from the Fe element and the Si element is measured by the electron beam irradiation, and the relative X of the Fe element and the Si element is measured from the measured characteristic X-ray intensity. The line intensity is obtained, and the relative X-ray intensity ratio between the Fe element and the Si element is calculated from the obtained relative X-ray intensity to separate the Al—Fe compound into AlFe crystallized particles and AlFeSi crystallized particles. Then, the separated AlFe crystallized particles are irradiated with an accelerated electron beam, and the characteristic X-rays in the region including the Lα and Lβ rays generated from the Fe element by the electron beam irradiation are measured. Then, the AlFe crystallized particles were identified from the spectrum pattern of the measured characteristic X-ray spectrum, and the fractionated AlFeSi crystallized particles were irradiated with an accelerated electron beam to obtain an electron beam. L generated from Fe element by irradiation
EPMA of an Al-Fe compound characterized by measuring characteristic X-rays in a region including α-rays and Lβ-rays, and identifying these AlFeSi crystallized particles from the spectrum pattern of the measured characteristic X-ray spectrum. Identification method.
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