JP2003122030A - Device and method for multiple exposure drawing - Google Patents

Device and method for multiple exposure drawing

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JP2003122030A JP2001393982A JP2001393982A JP2003122030A JP 2003122030 A JP2003122030 A JP 2003122030A JP 2001393982 A JP2001393982 A JP 2001393982A JP 2001393982 A JP2001393982 A JP 2001393982A JP 2003122030 A JP2003122030 A JP 2003122030A
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    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70425Imaging strategies, e.g. for increasing throughput or resolution, printing product fields larger than the image field or compensating lithography- or non-lithography errors, e.g. proximity correction, mix-and-match, stitching or double patterning

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To connect circuit patterns which are drawn by individual exposure units with high precision with a simple constitution by using an exposure unit which has many modulating elements arranged in matrix. SOLUTION: A plurality of exposure units each having many modulating elements arrayed in matrix are used to draw specific patterns on a drawing surface through multiple exposure. Then FIFO memories 56201 , 56202 , etc., corresponding to the respective exposure units are provided, and the readout timing of exposure data from those FIFO memories 56201 , 56202 , etc., is adjusted to cancel positional shifts of the circuit patterns due to differences in fitting positions of the exposure unit.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はマトリクス状に配置
された多数の変調素子を持つ露光ユニットを用いて描画
面上に所定のパターンを描画する描画装置および描画方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a drawing apparatus and a drawing method for drawing a predetermined pattern on a drawing surface using an exposure unit having a large number of modulators arranged in a matrix.

【0002】[0002]

【従来の技術】上述したような描画装置は一般的には適
当な被描画体の表面に微細なパターンや文字等の記号を
光学的に描画するために使用される。代表的な使用例と
しては、フォトリソグラフィ(photolithography)の手
法によりプリント回路基板を製造する際の回路パターン
の描画が挙げられ、この場合には被描画体はフォトマス
ク用感光フィルム或いは基板上のフォトレジスト層であ
る。
2. Description of the Related Art A drawing apparatus as described above is generally used for optically drawing a fine pattern or a symbol such as a character on the surface of an appropriate object to be drawn. A typical example of use is drawing a circuit pattern when manufacturing a printed circuit board by a photolithography method. In this case, the object to be drawn is a photosensitive film for a photomask or a photomask on the board. It is a resist layer.

【0003】近年、回路パターンの設計プロセスから描
画プロセスに至るまでの一連のプロセスは統合されてシ
ステム化され、描画装置はそのような統合システムの一
翼を担っている。統合システムには、描画装置の他に、
回路パターンを設計するためのCAD(Computer Aided
Design)ステーション、このCADステーションで得
られた回路パターンのベクタデータを編集するCAM
(Computer Aided Manufacturing)ステーション等が設
けられる。CADステーションで作成されたベクタデー
タ或いはCAMステーションで編集されたベクタデータ
は描画装置に転送され、そこでラスタデータに変換され
た後にビットマップメモリに格納される。
In recent years, a series of processes from the circuit pattern design process to the drawing process have been integrated into a system, and the drawing apparatus plays a role in such an integrated system. In addition to the drawing device, the integrated system
CAD (Computer Aided) for designing circuit patterns
Design) station, CAM that edits vector data of circuit patterns obtained at this CAD station
(Computer Aided Manufacturing) Station etc. are provided. The vector data created by the CAD station or the vector data edited by the CAM station is transferred to the drawing device, where it is converted into raster data and then stored in the bitmap memory.

【0004】露光ユニットの一タイプとして、例えばD
MD(Digital Micromirror Device)或いはLCD(Li
quid Crystal Display)アレイ等から構成されるものが
知られている。周知のように、DMDの反射面には、マ
イクロミラーがマトリクス状に配置され、個々のマイク
ロミラーの反射方向が独立して制御されるようになって
おり、このためDMDの反射面の全体に導入された光束
は個々のマイクロミラーによる反射光束として分割され
るようになっており、このため各マイクロミラーは変調
素子として機能する。また、LCDアレイにおいては、
一対の透明基板間に液晶が封入され、その双方の透明基
板には互いに整合させられた多数対の微細な透明電極が
マトリクス状に配置され、個々の一対の透明電極に電圧
を印加するか否かにより光束の透過および非透過が制御
されるようになっており、このため各一対の透明電極が
変調素子として機能する。
As one type of exposure unit, for example, D
MD (Digital Micromirror Device) or LCD (Li
quid Crystal Display) An array or the like is known. As is well known, micromirrors are arranged in a matrix on the reflecting surface of the DMD, and the reflecting directions of the individual micromirrors are independently controlled. Therefore, the entire reflecting surface of the DMD is covered. The introduced luminous flux is split as a luminous flux reflected by each micromirror, and therefore each micromirror functions as a modulation element. In the LCD array,
Liquid crystal is sealed between a pair of transparent substrates, and a large number of pairs of fine transparent electrodes aligned with each other are arranged in a matrix on both transparent substrates, and whether or not a voltage is applied to each pair of transparent electrodes. Thus, the transmission and non-transmission of the light flux is controlled, so that each pair of transparent electrodes functions as a modulation element.

【0005】描画装置には被描画体の感光特性に応じた
適当な光源装置、例えば超高圧水銀灯、キセノンラン
プ、フラッシュランプ、LED(Light Emitting Diod
e)、レーザ等が設けられ、また露光ユニットには結像
光学系が組み込まれる。光源装置から射出した光束は照
明光学系を通して露光ユニットに導入させられ、露光ユ
ニットの個々の変調素子はそこに入射した光束を回路パ
ターンのラスタデータに従って変調し、これにより回路
パターンが被描画体上に露光されて光学的に描画され
る。
For the drawing device, a suitable light source device according to the photosensitivity of the object to be drawn, such as an ultra-high pressure mercury lamp, a xenon lamp, a flash lamp, an LED (Light Emitting Diod) is used.
e), a laser and the like are provided, and an imaging optical system is incorporated in the exposure unit. The light flux emitted from the light source device is introduced into the exposure unit through the illumination optical system, and the individual modulation elements of the exposure unit modulate the light flux incident thereon according to the raster data of the circuit pattern, whereby the circuit pattern is formed on the object. And is optically drawn.

【0006】通常、被描画体に描画されるべき回路パタ
ーンの描画面積は露光ユニットによる露光面積よりも遥
かに大きく、このため被描画体上に回路パターンの全体
を描画するためには、被描画体を露光ユニットで走査す
ることが必要となる。即ち、被描画体に対して露光ユニ
ットを相対的に移動させつつ回路パターンを部分的に描
画してその全体の回路パターンを得ることが必要とな
る。そこで、従来では、描画装置には、例えば所定の走
査方向に沿って移動可能な描画テーブルが設けられ、こ
の描画テーブルの移動経路の上方に露光ユニットが固定
位置に配置される。描画テーブル上には被描画体が所定
の位置に位置決めされ、描画テーブルを走査方向に沿っ
て間欠的に移動させつつ回路パターンを部分的に順次描
画して継ぎ足すことにより、全体の回路パターンが得ら
れることになる。このような露光方式についてはステッ
プ・アンド・リピート(Step & Repeat)方式と呼ばれ
る。
Normally, the drawing area of the circuit pattern to be drawn on the drawing object is much larger than the exposure area by the exposure unit. Therefore, in order to draw the entire circuit pattern on the drawing object, the drawing object is drawn. It is necessary to scan the body with the exposure unit. That is, it is necessary to partially draw the circuit pattern while moving the exposure unit relative to the object to be drawn to obtain the entire circuit pattern. Therefore, conventionally, the drawing apparatus is provided with, for example, a drawing table movable along a predetermined scanning direction, and the exposure unit is arranged at a fixed position above the moving path of the drawing table. The object to be drawn is positioned at a predetermined position on the drawing table, and the circuit pattern is partially sequentially drawn and added while intermittently moving the drawing table along the scanning direction, so that the entire circuit pattern is Will be obtained. Such an exposure method is called a step & repeat method.

【0007】DMDあるいはLCDアレイを含む露光ユ
ニットは、一般にその露光可能な領域が数cm四方と限
られているため、描画テーブルの移動方向に垂直な方向
に露光ユニットを複数個並べ、一度に数十cmの領域を
露光している。
Since an exposure unit including a DMD or LCD array is generally limited to an area of a few cm square that can be exposed, a plurality of exposure units are arranged in a direction perpendicular to the moving direction of the drawing table, and several exposure units are arranged at a time. The area of 10 cm is exposed.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】以上で述べたような従
来の描画装置にあっては、各露光ユニットの描画面に対
する露光位置を正確に位置決めする必要がある。各露光
ユニットの位置ずれはそのまま描画領域のずれ、即ち回
路パターンの位置ずれとなるためである。
In the conventional drawing apparatus as described above, it is necessary to accurately position the exposure position with respect to the drawing surface of each exposure unit. This is because the positional deviation of each exposure unit directly results in the deviation of the drawing area, that is, the positional deviation of the circuit pattern.

【0009】従来では、このような個々の露光ユニット
によって描かれる回路パターンを高精度に繋ぎ合わせる
ために、露光ユニットの取付け位置を専用の器具を用い
て微調整していた。
Conventionally, in order to connect circuit patterns drawn by such individual exposure units with high accuracy, the mounting position of the exposure unit has been finely adjusted using a dedicated tool.

【0010】しかし、露光ユニットの取付け位置を微調
整する作業は極めて煩雑で時間を要する作業であり、効
率化が望まれていた。
However, the work for finely adjusting the mounting position of the exposure unit is a very complicated and time-consuming work, and it has been desired to improve the efficiency.

【0011】従って、本発明の目的は、マトリクス状に
配置された多数の変調素子を持つ露光ユニットを複数個
用いて描画面上に所定のパターンを描画する描画装置で
あって、簡単な構成で個々の露光ユニットによって描画
された回路パターンを高精度に繋ぎ合わせることができ
る多重露光描画装置および多重露光描画方法を提供する
ことである。
Therefore, an object of the present invention is a drawing apparatus which draws a predetermined pattern on a drawing surface by using a plurality of exposure units having a large number of modulation elements arranged in a matrix, and has a simple structure. It is an object of the present invention to provide a multiple-exposure drawing apparatus and a multiple-exposure drawing method capable of joining circuit patterns drawn by individual exposure units with high accuracy.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明に係る多重露光描
画装置は、マトリクス状に配置された多数の変調素子を
持つ露光ユニットを用いて所定のパターンを描画面上に
多重露光により描画する多重露光描画装置であって、複
数の露光ユニットを第1方向に沿って配列する配列手段
と、第1方向とは異なる第2方向に沿って描画面を露光
ユニットに対して相対移動させる移動手段と、個々の露
光ユニットの露光タイミングを調整するタイミング調整
手段とを備え、移動手段によって露光ユニットに対して
描画面を第2方向に沿って相対移動させた時に、描画面
上において個々の露光ユニットによる第1方向に沿う描
画開始位置を一致させることを特徴とする。
A multiple-exposure drawing apparatus according to the present invention uses an exposure unit having a large number of modulators arranged in a matrix to draw a predetermined pattern on a drawing surface by multiple exposure. An exposure drawing apparatus, which comprises an arraying means for arranging a plurality of exposure units along a first direction, and a moving means for moving a drawing surface relative to the exposure unit along a second direction different from the first direction. A timing adjusting means for adjusting the exposure timing of each exposure unit, and when the drawing surface is relatively moved with respect to the exposure unit by the moving means along the second direction It is characterized in that the drawing start positions along the first direction are matched.

【0013】上記多重露光描画装置において、タイミン
グ調整手段は最も露光タイミングの早い露光ユニットに
他の露光ユニットの露光タイミングを一致させることが
好ましい。
In the above multiple exposure drawing apparatus, it is preferable that the timing adjusting means matches the exposure timing of the other exposure unit with the exposure unit of the earliest exposure timing.

【0014】多重露光描画装置において、露光ユニット
が第2方向に関してそれぞれ異なる位置に配列されても
よい。
In the multiple exposure drawing apparatus, the exposure units may be arranged at different positions in the second direction.

【0015】上記多重露光描画装置は、個々の前記露光
ユニットについて所定パターンに対応した露光データを
生成する露光データ生成手段を備え、さらにタイミング
調整手段は、具体的には露光ユニットに与えるべき露光
データを一時的に格納するFIFO(First In First O
ut)メモリを有し、このFIFOメモリに対する読出し
パルスを所定時間だけ間引くことにより露光タイミング
を調整する。このFIFOメモリは露光ユニットの数と
同じ数だけ設けられることが好ましい。
The multiple-exposure drawing apparatus includes exposure data generating means for generating exposure data corresponding to a predetermined pattern for each of the exposure units, and the timing adjusting means specifically for the exposure data to be given to the exposure unit. FIFO (First In First O
ut) has a memory, and adjusts the exposure timing by thinning out a read pulse for this FIFO memory for a predetermined time. This FIFO memory is preferably provided in the same number as the number of exposure units.

【0016】上記多重露光描画装置において、露光ユニ
ットが2列の千鳥格子状に配列され、第1列目の露光ユ
ニットが第2列目の露光ユニットに対して描画面の相対
移動方向に関して所定距離だけ後方に離れて配置されて
もよい。
In the above multiple exposure drawing apparatus, the exposure units are arranged in a two-row zigzag pattern, and the exposure units in the first row are predetermined with respect to the relative movement direction of the drawing surface with respect to the exposure units in the second row. They may be arranged rearward by a distance.

【0017】上記多重露光描画装置は、所定パターンに
対応するラスタデータを生成するラスタデータ生成手段
を備え、さらにタイミング調整手段が、所定パターンの
ラスタデータのうち少なくとも所定距離に相当する長さ
のパターンのラスタデータを一時的に格納するバッファ
メモリを有し、第1列目の露光ユニットに与えるべき露
光データをラスタデータ生成手段から直接得られるラス
タデータに基づいて生成すると共に前記第2列目の露光
ユニットに与えるべき露光データを前記バッファメモリ
を介して得られるラスタデータに基づいて生成すること
により露光タイミングを調整する。
The multiple-exposure drawing apparatus includes raster data generating means for generating raster data corresponding to a predetermined pattern, and the timing adjusting means further includes a pattern having a length corresponding to at least a predetermined distance in the raster data of the predetermined pattern. Has a buffer memory for temporarily storing the raster data of the second column, and generates the exposure data to be given to the exposure unit of the first column based on the raster data directly obtained from the raster data generating means. The exposure timing is adjusted by generating the exposure data to be given to the exposure unit based on the raster data obtained via the buffer memory.

【0018】また、本発明に係る多重露光描画装置は、
マトリクス状に配置された多数の変調素子を持つ露光ユ
ニットを用いて所定のパターンを描画面上に多重露光に
より描画する多重露光描画装置であって、複数の露光ユ
ニットを第1方向に沿って2列の千鳥格子状に配列し、
かつ第1列目の露光ユニットを第2列目の露光ユニット
に対して第1方向とは異なる第2方向に関して所定距離
だけ後方に離れて配置する配列手段と、第2方向に沿っ
て描画面を露光ユニットに対して相対移動させる移動手
段と、第1列目または第2列目の露光ユニットの少なく
とも一方の露光タイミングを調整する露光タイミング調
整手段とを備え、移動手段によって露光ユニットに対し
て描画面を第2方向に沿って相対移動させた時に、露光
タイミング調整手段によって、描画面上において第1列
目および第2列目の露光ユニットによる第1方向に沿う
描画開始位置を一致させることを特徴とする。この多重
露光描画装置において、露光タイミング調整手段は、第
2列目の露光ユニットの露光タイミングを、第1列目お
よび第2列目の露光ユニット間の第2方向における所定
距離を描画面が進む時間だけ遅らせてもよい。
Further, the multiple exposure drawing apparatus according to the present invention is
A multiple-exposure drawing apparatus that draws a predetermined pattern on a drawing surface by multiple exposure using an exposure unit having a large number of modulation elements arranged in a matrix, wherein a plurality of exposure units are arranged along a first direction. Arranged in a staggered array of rows,
Arrangement means for arranging the exposure unit in the first row rearward from the exposure unit in the second row by a predetermined distance in the second direction different from the first direction, and a drawing surface along the second direction. Is provided relative to the exposure unit, and exposure timing adjusting means for adjusting the exposure timing of at least one of the exposure units in the first row or the second row. When the drawing surface is relatively moved in the second direction, the exposure timing adjusting means matches the drawing start positions of the exposure units in the first and second columns on the drawing surface in the first direction. Is characterized by. In this multiple-exposure drawing apparatus, the exposure timing adjusting means advances the exposure timing of the exposure unit in the second row by a predetermined distance in the second direction between the exposure units in the first and second rows. You may delay by time.

【0019】また、本発明の多重露光描画方法は、マト
リクス状に配置された多数の変調素子を有し、第1方向
に沿って配列された複数個の露光ユニットを用いて、所
定のパターンを描画面上に多重露光により描画する多重
露光描画方法であって、第1方向とは異なる第2方向に
沿って描画面を相対移動させる時に、個々の露光ユニッ
トの露光タイミングを調整することによって、第1方向
に沿う描画開始位置を一致させることを特徴としてい
る。
Further, the multiple exposure drawing method of the present invention has a predetermined pattern by using a plurality of exposure units which have a large number of modulation elements arranged in a matrix and are arranged along the first direction. A multiple-exposure drawing method of drawing by multiple exposure on a drawing surface, wherein when the drawing surface is relatively moved along a second direction different from the first direction, by adjusting the exposure timing of each exposure unit, It is characterized in that the drawing start positions along the first direction are matched.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して、本発
明による多重露光描画装置の一実施形態について説明す
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, an embodiment of a multiple exposure drawing apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

【0021】図1には、本発明による多重露光描画装置
の実施形態が斜視図として概略的に示される。この多重
露光描画装置はプリント回路基板を製造するための基板
上に形成されたフォトレジスト層に回路パターンを直接
描画するように構成されている。
FIG. 1 is a perspective view schematically showing an embodiment of a multiple exposure drawing apparatus according to the present invention. This multiple-exposure drawing apparatus is configured to directly draw a circuit pattern on a photoresist layer formed on a substrate for manufacturing a printed circuit board.

【0022】図1に示すように、多重露光描画装置10
は床面上に据え付けられる基台12を備える。基台12
上には一対のガイドレール14が平行に敷設され、さら
にそれらガイドレール14上には描画テーブル16が搭
載される。この描画テーブル16は図示されない適当な
駆動機構、例えばボール螺子等をステッピングモータ等
のモータにより駆動させられ、これにより一対のガイド
レール14に沿ってそれらの長手方向であるX方向に相
対移動する。描画テーブル16上には被描画体30とし
てフォトレジスト層を持つ基板が設置され、このとき被
描画体30は図示されない適当なクランプ手段によって
描画テーブル16上に適宜固定される。
As shown in FIG. 1, the multiple exposure drawing apparatus 10 is shown.
Has a base 12 that is installed on the floor. Base 12
A pair of guide rails 14 are laid in parallel on the top, and a drawing table 16 is mounted on the guide rails 14. The drawing table 16 is driven by a suitable driving mechanism (not shown), such as a ball screw, by a motor such as a stepping motor, so that the drawing table 16 is relatively moved along the pair of guide rails 14 in the longitudinal direction, that is, the X direction. A substrate having a photoresist layer is placed on the drawing table 16 as the drawing target 30, and at this time, the drawing target 30 is appropriately fixed on the drawing table 16 by an appropriate clamp means (not shown).

【0023】基台12上には一対のガイドレール14を
跨ぐようにゲート状構造体18が固設され、このゲート
状構造体18の上面には複数の露光ユニットが描画テー
ブル16の移動方向(X方向)に対して直角なY方向に
2列に配列される。第1列目に配された8個の露光ユニ
ットを図の左側から順に符号2001、2003、2005
2007、2009、2011、2013および2015で示し、
その後方に配された第2列目の7個の露光ユニットを図
の左側から符号2002、2004、2006、20 08、20
10、2012および2014で示している。
A pair of guide rails 14 are provided on the base 12.
The gate-like structure 18 is fixedly installed so as to straddle the gate.
A plurality of exposure units are provided on the upper surface of the structure 18 for drawing.
In the Y direction, which is perpendicular to the movement direction (X direction) of the bull 16.
It is arranged in two columns. Eight exposure units arranged in the first row
20 in order from the left side of the figure01, 2003, 2005,
2007, 2009, 2011, 2013And 2015Indicated by
Illustration of 7 exposure units in the 2nd row arranged behind
20 from the left side of02, 2004, 2006, 20 08, 20
Ten, 2012And 2014It shows with.

【0024】第1列目の露光ユニット2001、2003
2005、2007、2009、2011、2013および2015
と、第2列目の露光ユニット2002、2004、2006
20 08、2010、2012および2014とは所謂千鳥状に
配置される。即ち、隣り合う2つの露光ユニット間の距
離は、全て1つの露光ユニットの幅に略等しく設定さ
れ、第2列目の露光ユニット2002、2004、2006
2008、2010、2012および2014の配列ピッチは第
1列目の露光ユニット2001、2003、2005、2
07、2009、2011、2013および2015の配列ピッ
チに対して半ピッチだけずらされている。
First row exposure unit 2001, 2003,
2005, 2007, 2009, 2011, 2013And 2015
And the exposure unit 20 in the second row02, 2004, 2006,
20 08, 20Ten, 2012And 2014Is so-called staggered
Will be placed. That is, the distance between two adjacent exposure units
The separation is set to be approximately equal to the width of one exposure unit.
Exposure unit 20 in the second row02, 2004, 2006,
2008, 20Ten, 2012And 2014The array pitch of
First row exposure unit 2001, 2003, 2005Two
007, 2009, 2011, 2013And 2015Array of
It is shifted by half a pitch with respect to Ji.

【0025】第1実施形態では、15個の露光ユニット
2001〜2015はそれぞれDMDユニットとして構成さ
れており、各露光ユニットの反射面は例えば1024×
1280のマトリクス状に配列された1310720個
のマイクロミラーから形成される。各露光ユニット20
01〜2015は、X方向に沿って1024個、Y方向に沿
って1280個のマイクロミラーが配列されるように設
置される。
In the first embodiment, the 15 exposure units 20 01 to 20 15 are each configured as a DMD unit, and the reflection surface of each exposure unit is, for example, 1024 ×.
It is formed from 1310720 micromirrors arranged in a matrix of 1280. Each exposure unit 20
01 to 20 15 are installed so that 1024 micromirrors are arranged along the X direction and 1280 micromirrors are arranged along the Y direction.

【0026】ゲート状構造体18の上面の適当な箇所、
例えば第1露光ユニット2001の図中左方には光源装置
22が設けられる。この光源装置22には図示しない複
数のLED(Light Emitting Diode)が含まれ、これら
LEDから発した光は集光されて平行光束として光源装
置22の射出口から射出される。光源装置22にはLE
Dの他、レーザ、超高圧水銀ランプ、キセノンランプお
よびフラッシュランプ等を用いてもよい。
An appropriate place on the upper surface of the gate structure 18,
For example, the light source device 22 is provided on the left side of the first exposure unit 20001 in the drawing. The light source device 22 includes a plurality of LEDs (Light Emitting Diodes) (not shown), and the light emitted from these LEDs is condensed and emitted from the emission port of the light source device 22 as a parallel light flux. The light source device 22 has LE
In addition to D, a laser, an ultra-high pressure mercury lamp, a xenon lamp, a flash lamp or the like may be used.

【0027】光源装置22の射出口には15本の光ファ
イバケーブル束が接続され、個々の光ファイバケーブル
24は15個の露光ユニット2001〜2015のそれぞれ
に対して延設され、これにより光源装置22から各露光
ユニット2001〜2015へ照明光が導入される。各露光
ユニット2001〜2015は、光源装置22からの照明光
を描くべき回路パターンに応じて変調し、図の下方即ち
ゲート状構造体18の内側を進む描画テーブル16上の
被描画体30に向かって出射する。これにより、被描画
体30の上面に形成されたフォトレジスト層において照
明光が照射された部分だけが感光する。
[0027] The exit of the light source device 22 is connected an optical fiber bundle of cables 15 present, each optical fiber cable 24 is extended to each of the fifteen exposure units 20 01 to 20 15, thereby the illumination light is introduced from the light source device 22 to the respective exposure units 20 01 to 20 15. Each of the exposure units 200 1 to 20 15 modulates the illumination light from the light source device 22 according to the circuit pattern to be drawn, and advances on the drawing table 16 below the drawing, that is, inside the gate-shaped structure 18 on the drawing table 30. It emits toward. As a result, only the portion of the photoresist layer formed on the upper surface of the object 30 to be exposed is illuminated with the illumination light.

【0028】図2には、第1露光ユニット2001の主要
構成が概念的に図示されている。他の14個の露光ユニ
ット2002〜2015は第1露光ユニット201と同じ構
成および機能を有しており、ここでは説明を省略する。
第1露光ユニット201には、照明光学系26および結
像光学系28が組み込まれ、両者の間の光路上にはDM
D素子27が設けられる。このDMD素子27は、例え
ばウェハ上にアルミスパッタリングで作りこまれた、反
射率の高い正方形マイクロミラーを静電界作用により動
作させるデバイスであり、このマイクロミラーはシリコ
ンメモリチップの上に1024×1280のマトリクス
状に1310720個敷き詰められている。それぞれの
マイクロミラーは、対角線を中心に回転傾斜することが
でき、安定した2つの姿勢に位置決めできる。
[0028] Figure 2, main components of the first exposure unit 20 01 is conceptually illustrated. The other 14 exposure units 20 02 to 20 15 have the same configuration and function as the first exposure unit 20 1, and the description thereof will be omitted here.
An illumination optical system 26 and an imaging optical system 28 are incorporated in the first exposure unit 20 1 , and DM is provided on the optical path between them.
The D element 27 is provided. The DMD element 27 is a device for operating a square micro mirror having a high reflectance, which is formed by aluminum sputtering on a wafer, by an electrostatic field action. The micro mirror has a size of 1024 × 1280 on a silicon memory chip. 1310720 pieces are spread in a matrix. Each micro mirror can be rotated and tilted about a diagonal line and can be positioned in two stable postures.

【0029】照明光学系26は凸レンズ26Aおよびコ
リメートレンズ26Bを含み、凸レンズ26Aは光源装
置22から延設された光ファイバケーブル24と光学的
に結合される。このような照明光学系26により、光フ
ァイバケーブル24から射出した光束は第1露光ユニッ
ト2001のDMD素子27の反射面全体を照明するよう
な平行光束LBに成形される。結像光学系28には2つ
の凸レンズ28Aおよび28Cと、2つの凸レンズ28
Aおよび28C間に配されるリフレクタ28Bとが含ま
れ、この結像光学系28の倍率は例えば等倍(倍率1)
に設定される。
The illumination optical system 26 includes a convex lens 26A and a collimating lens 26B, and the convex lens 26A is optically coupled to the optical fiber cable 24 extended from the light source device 22. Such illumination optical system 26, the light beam emitted from the optical fiber cable 24 is formed into a parallel beam LB such as to illuminate the entire reflecting surface of the DMD element 27 of the first exposure unit 20 01. The image forming optical system 28 includes two convex lenses 28A and 28C and two convex lenses 28A and 28C.
A reflector 28B disposed between A and 28C is included, and the magnification of the imaging optical system 28 is, for example, 1 × (magnification 1).
Is set to.

【0030】第1露光ユニット2001に含まれる個々の
マイクロミラーはそれぞれに入射した光束を結像光学系
28に向けて反射させる第1の反射位置(以下、露光位
置と記載する)と該光束を結像光学系28から逸らすよ
うに反射させる第2の反射位置(以下、非露光位置と記
載する)との間で回動変位するように動作させられる。
任意のマイクロミラーM(m,n)(1≦m≦102
4,1≦n≦1280)が露光位置に位置決めされる
と、そこに入射したスポット光は一点鎖線LB1で示さ
れるように結像光学系28に向かって反射され、同マイ
クロミラーM(m,n)が非露光位置に位置決めされる
と、スポット光は一点鎖線LB2で示されるように光吸
収版29に向かって反射されて結像光学系28から逸ら
される。
The individual micromirrors included in the first exposure unit 20 01 first reflecting position for reflecting the light beam incident on each imaging optical system 28 (hereinafter referred to as a exposure position) and the light beam Is operated so as to be rotationally displaced between a second reflection position (hereinafter, referred to as a non-exposure position) that reflects the light so as to deviate from the imaging optical system 28.
Any micromirror M (m, n) (1 ≦ m ≦ 102
4, 1 ≦ n ≦ 1280) is positioned at the exposure position, the spot light incident thereon is reflected toward the imaging optical system 28 as indicated by the alternate long and short dash line LB 1 , and the micromirror M (m , N) are positioned in the non-exposure position, the spot light is reflected toward the light absorbing plate 29 and diverted from the image forming optical system 28 as shown by the chain line LB 2 .

【0031】マイクロミラーM(m,n)から反射され
たスポット光LB1は、結像光学系28によって描画テ
ーブル16上に設置された被描画体30の描画面32上
に導かれる。例えば、第1露光ユニット2001に含まれ
る個々のマイクロミラーM(m,n)のサイズがC×C
であるとすると、結像光学系28の倍率は等倍であるか
ら、マイクロミラーM(m,n)の反射面は描画面32
上のC×Cの露光領域U(m,n)として結像される。
Cは例えば20μmである。
The spot light LB 1 reflected from the micromirror M (m, n) is guided by the imaging optical system 28 onto the drawing surface 32 of the object 30 to be drawn placed on the drawing table 16. For example, the size of each micro mirror M (m, n) included in the first exposure unit 20001 is C × C.
Then, since the magnification of the imaging optical system 28 is equal, the reflecting surface of the micromirror M (m, n) is the drawing surface 32.
An image is formed as the upper C × C exposure area U (m, n).
C is, for example, 20 μm.

【0032】なお、1つのマイクロミラーM(m,n)
によって得られるC×Cの露光領域は以下の記載では単
位露光領域U(m,n)として言及され、全てのマイク
ロミラーM(1,1)〜M(1024,1280)によ
って得られる(C×1024)×(C×1280)の露
光領域は、全面露光領域Ua01として言及される。
One micro mirror M (m, n)
The C × C exposure area obtained by the above is referred to as a unit exposure area U (m, n) in the following description, and is obtained by all the micromirrors M (1,1) to M (1024,1280) (C ×). The exposure area of (1024) × (C × 1280) is referred to as the overall exposure area Ua 01 .

【0033】図2の左上隅のマイクロミラーM(1,
1)に対応する単位露光領域U(1,1)は全面露光領
域Ua01の左下隅に位置し、左下隅のマイクロミラーM
(1024,1)に対応する単位露光領域U(102
4,1)は全面露光領域Ua01の左上隅に位置する。ま
た、右上隅のマイクロミラーM(1,1280)に対応
する単位露光領域U(1,1280)は全面露光領域U
01の右下隅に位置し、右下隅のマイクロミラーM(1
024,1280)に対応する単位露光領域U(102
4,1280)は全面露光領域Ua01の右上隅に位置す
る。
The micromirror M (1,
The unit exposure area U (1,1) corresponding to 1) is located in the lower left corner of the entire surface exposure area Ua 01 , and the micromirror M in the lower left corner.
A unit exposure area U (102
4, 1) is located in the upper left corner of the entire exposure area Ua 01 . Further, the unit exposure area U (1,1280) corresponding to the micro mirror M (1,1280) in the upper right corner is the entire surface exposure area U.
It is located in the lower right corner of a 01, and the micromirror M (1
024, 1280) corresponding to the unit exposure area U (102
4, 1280) is located in the upper right corner of the entire exposure area Ua 01 .

【0034】第1露光ユニット2001では、個々のマイ
クロミラーM(m,n)は通常は非露光位置に位置決め
されているが、露光時には非露光位置から露光位置に回
動変位させられる。マイクロミラーM(m,n)の非露
光位置から露光位置への回動変位の制御については、後
述するように回路パターンのラスタデータに基づいて行
われる。なお、結像光学系28から逸らされたスポット
光LB2は描画面32に到達しないように光吸収板29
によって吸収される。
In the first exposure unit 20001 , the individual micro mirrors M (m, n) are normally positioned at the non-exposure position, but during exposure, they are pivotally displaced from the non-exposure position to the exposure position. The control of the rotational displacement of the micro mirror M (m, n) from the non-exposure position to the exposure position is performed based on the raster data of the circuit pattern, as described later. The spot light LB 2 diverted from the image forming optical system 28 is prevented from reaching the drawing surface 32 by the light absorbing plate 29.
Absorbed by

【0035】第1露光ユニット2001に含まれる131
0720個の全てのマイクロミラーが露光位置に置かれ
たときは、全マイクロミラーから反射された全スポット
光が結像光学系28に入射させられ、描画面32上には
第1露光ユニット2001による全面露光領域Ua01が形
成される。全面露光領域Ua01のサイズについては、単
位露光領域U(m,n)の一辺長さCが20μmであれ
ば、25.6mm(=1024×20μm)×20.4
8mm(=1280×20μm)となり、そこに含まれ
る総画素数は勿論1024×1280個となる。
[0035] 131 contained in the first exposure unit 20 01
When all 0720 micromirrors are placed at the exposure position, all the spot lights reflected from all the micromirrors are made incident on the imaging optical system 28, and the first exposure unit 20 01 is placed on the drawing surface 32. Thus, the entire surface exposure area Ua 01 is formed. Regarding the size of the entire surface exposure area Ua 01 , if the side length C of the unit exposure area U (m, n) is 20 μm, it is 25.6 mm (= 1024 × 20 μm) × 20.4.
It becomes 8 mm (= 1280 × 20 μm), and the total number of pixels included therein is of course 1024 × 1280.

【0036】図3(a)〜(c)を参照して、多重露光
描画装置における描画処理について説明する。図3
(a)〜(c)は描画処理の経時変化を段階的に示す図
であり、被描画体30の描画面32の平面図である。以
下の説明の便宜上、描画面32を含む平面上にはX−Y
直交座標系が定義される。破線で囲まれた長方形の領域
は、15個の露光ユニット2001〜2015のそれぞれに
よってX−Y平面上で得られる全面露光領域Ua01〜U
15である。第1列の全面露光領域Ua01、Ua03、U
05、Ua07、Ua09、Ua11、Ua13およびUa15
その図中下辺がY軸に一致するように配置させられ、第
2列の全面露光領域Ua02、Ua04、Ua06、Ua08
Ua10、Ua12およびUa14はその図中下辺がY軸から
負側に距離Sだけ離れた直線に一致するように配され
る。
The drawing process in the multiple exposure drawing apparatus will be described with reference to FIGS. Figure 3
(A)-(c) is a figure which shows a change with time of drawing processing in steps, and is a top view of drawing surface 32 of to-be-drawn object 30. For the sake of convenience of the following description, X-Y is on the plane including the drawing surface 32.
A Cartesian coordinate system is defined. Rectangular area surrounded by a broken line 15 of the exposure unit 20 01-20 15 entire exposure area Ua 01 obtained on the X-Y plane by each ~U
a 15 . 1st row whole surface exposure area Ua 01 , Ua 03 , U
a 05 , Ua 07 , Ua 09 , Ua 11 , Ua 13 and Ua 15 are arranged so that the lower side in the figure coincides with the Y axis, and the entire surface exposure regions Ua 02 , Ua 04 , Ua 06 , Ua 08 ,
Ua 10 , Ua 12 and Ua 14 are arranged so that the lower side in the figure coincides with a straight line separated from the Y axis by a distance S on the negative side.

【0037】X−Y直交座標系のX軸は露光ユニット2
01〜2015の配列方向に対して直角とされ、このため
各露光ユニット2001〜2015内のそれぞれ13107
20(1024×1280)個のマイクロミラーもX−
Y直交座標系のX軸およびY軸に沿ってマトリクス状に
配列される。
The X-axis of the XY Cartesian coordinate system is the exposure unit 2
It is perpendicular to the arrangement direction of 01 01 to 20 15 and therefore 13107 in each exposure unit 20 01 to 20 15 respectively.
20 (1024 x 1280) micromirrors are also X-
They are arranged in a matrix along the X and Y axes of the Y orthogonal coordinate system.

【0038】図3では、X−Y直交座標系の座標原点は
第1列目の第1露光ユニット2001によって得られる全
面露光領域Ua01の図中左下角に一致しているように図
示されているが、正確には、座標原点は第1露光ユニッ
ト2001のY軸に沿う第1ラインのマイクロミラーのう
ちの先頭のマイクロミラーM(1,1)によって得られ
る単位露光領域U(1,1)の中心に位置する。上述し
たように、本実施形態では単位露光領域U(1,1)の
サイズは20μm×20μmであるので、Y軸は第1露
光ユニット20による全面露光領域Ua01の境界から1
0μmだけ内側に進入したものとなっている。換言すれ
ば、第1列目の8つの露光ユニット20 01、2003、2
05、2007、2009、2011、2013および2015
それぞれの第1ラインに含まれる1280個のマイクロ
ミラーM(1,n)(1≦n≦1280)の全ての中心
がY軸上に位置する。
In FIG. 3, the coordinate origin of the XY Cartesian coordinate system is
First exposure unit 20 in the first row01All obtained by
Surface exposure area Ua01Figure as it matches the lower left corner in the figure
Although shown, to be exact, the coordinate origin is the first exposure unit.
2001The first line of the micromirror along the Y axis of the
Obtained by the first micromirror M (1,1)
Is located at the center of the unit exposure area U (1,1). Above
As described above, in the present embodiment, the unit exposure area U (1,1)
The size is 20μm × 20μm, so the Y-axis is the first dew
Overall exposure area Ua by the optical unit 2001From the boundary of
Only 0 μm has entered the inside. In other words
For example, the eight exposure units 20 in the first row 01, 2003Two
005, 2007, 2009, 2011, 2013And 2015of
1280 micros included in each first line
All centers of mirror M (1, n) (1 ≦ n ≦ 1280)
Is on the Y-axis.

【0039】描画面32は描画テーブル16により白抜
き矢印で示すようにX軸に沿ってその負の方向に向かっ
て移動させられるので、全面露光領域Ua01〜Ua15
描画面32に対してX軸の正の方向に相対移動すること
になる。
Since the drawing surface 32 is moved in the negative direction along the X axis by the drawing table 16 as indicated by the white arrow, the entire surface exposure areas Ua 01 to Ua 15 are relative to the drawing surface 32. It will move relative to the positive direction of the X axis.

【0040】描画面32に設定された描画開始位置SL
がY軸、即ち第1列目の8個の露光ユニット2001、2
03、2005、2007、2009、2011、2013および
20 15に対応する第1列目の全面露光領域Ua01、Ua
03、Ua05、Ua07、Ua09、Ua11、Ua13およびU
15の境界に一致すると、まず第1列目の露光ユニット
2001、2003、2005、2007、2009、2011、2
13および2015により描画面32の露光が開始され
る。図3(a)に示すように、第1列目の全面露光領域
Ua01、Ua03、Ua05、Ua07、Ua09、Ua11、U
13およびUa15のY軸に達していない部分に対応する
マイクロミラーについては非露光位置に位置決めされた
まま露光は行われず、また第2列目の全面露光領域Ua
02、Ua04、Ua06、Ua08、Ua10、Ua12およびU
14もY軸に達していないため、露光ユニット2002
2004、2006、2008、2010、2012および2014
による露光も停止させられている。図3では、第1列目
の8個の露光ユニット2001、2003、2005、2
07、2009、2011、2013および2015によって露
光された領域を右上がりのハッチングで示している。
Drawing start position SL set on the drawing surface 32
Is the Y axis, that is, the eight exposure units 20 in the first row01Two
003, 2005, 2007, 2009, 2011, 2013and
20 15The entire surface exposure area Ua of the first column corresponding to01, Ua
03, Ua05, Ua07, Ua09, Ua11, Ua13And U
a15If it coincides with the boundary of, the exposure unit of the first row
2001, 2003, 2005, 2007, 2009, 2011Two
013And 2015The exposure of the drawing surface 32 is started by
It As shown in FIG. 3A, the entire surface exposure area in the first column
Ua01, Ua03, Ua05, Ua07, Ua09, Ua11, U
a13And Ua15Corresponding to the part that has not reached the Y-axis
The micro mirror was positioned in the non-exposure position
No exposure is performed as it is, and the entire surface exposure area Ua in the second row is
02, Ua04, Ua06, Ua08, UaTen, Ua12And U
a14Also does not reach the Y-axis, the exposure unit 2002,
2004, 2006, 2008, 20Ten, 2012And 2014
The exposure by is also stopped. In FIG. 3, the first column
8 exposure units 2001, 2003, 2005Two
007, 2009, 2011, 2013And 2015By dew
The illuminated area is indicated by hatching that rises to the right.

【0041】さらに描画面32が移動し、全面露光領域
Ua02、Ua04、Ua06、Ua08、Ua10、Ua12およ
びUa14の境界がY軸に一致すると、第2列目の7個の
露光ユニット2002、2004、2006、2008、2
10、2012および2014による露光が開始される。図
3(b)に示すように、第2列目の露光ユニット2002
2004、2006、2008、2010、2012および2014
による露光は、第1列目の露光ユニット2001、2
03、2005、2007、2009、2011、2013および
2015による露光よりも常に距離Sだけ遅れて進行す
る。図3では、第2列目の露光ユニット2002、2
04、2006、2008、2010、2012および2014
よって露光された領域を右下がりのハッチングで示して
いる。
When the drawing surface 32 moves further and the boundaries of the entire surface exposure areas Ua 02 , Ua 04 , Ua 06 , Ua 08 , Ua 10 , Ua 12 and Ua 14 coincide with the Y-axis, seven pixels in the second row Exposure units 20 02 , 20 04 , 20 06 , 20 08 , 2
The exposure with 0 10 , 20 12 and 20 14 is started. Figure 3 (b), the second column of the exposure unit 20 02,
20 04 , 20 06 , 20 08 , 20 10 , 20 12 and 20 14
The exposure by means of the exposure unit 20001 , 2
0 03, 20 05, 20 07, 20 09, 20 11, 20 13 and proceeds with a delay always a distance S than the exposure by 20 15. In FIG. 3, the exposure units 20 02 , 2
The areas exposed by 0 04 , 20 06 , 20 08 , 20 10 , 20 12 and 20 14 are indicated by hatching to the lower right.

【0042】さらに描画面32が相対移動して、図3
(c)に示すように第1列目の全面露光領域Ua01、U
03、Ua05、Ua07、Ua09、Ua11、Ua13および
Ua15の境界が描画終了位置ELに達すると、第1列目
の露光ユニット2001、2003、2005、2007、20
09、2011、2013および2015による露光が停止させ
られる。厳密にいえば、描画終了位置ELに達した単位
露光領域U(m,n)に対応するマイクロミラーM
(m,n)から順に非露光位置に静止させられる。図3
(c)の状態からさらに描画面32が距離Sだけ進む
と、第2列目の全面露光領域Ua02、Ua04、Ua06
Ua08、Ua10、Ua12およびUa14の境界が描画終了
位置ELに達し、第2列目の露光ユニット2002、20
04、2006、20 08、2010、2012および2014によ
る露光が停止させられる。
Further, the drawing surface 32 moves relatively, and FIG.
As shown in (c), the entire surface exposure area Ua of the first column01, U
a03, Ua05, Ua07, Ua09, Ua11, Ua13and
Ua15When the border of reaches the drawing end position EL, the first column
Exposure unit 2001, 2003, 2005, 2007, 20
09, 2011, 2013And 2015Stop the exposure by
To be Strictly speaking, the unit that reaches the drawing end position EL
Micromirror M corresponding to exposure area U (m, n)
It is stopped at the non-exposure position in order from (m, n). Figure 3
The drawing surface 32 further advances by the distance S from the state of (c).
And the entire surface exposure area Ua in the second column02, Ua04, Ua06,
Ua08, UaTen, Ua12And Ua14Ends the drawing
Reaching the position EL, the exposure unit 20 in the second row02, 20
04, 2006, 20 08, 20Ten, 2012And 2014By
Exposure is stopped.

【0043】以上のように、15個の露光ユニット20
01〜2015は、X軸に平行な帯状領域をそれぞれ露光
し、この帯状領域の幅はそれぞれ全面露光領域Ua01
Ua15の幅に実質的に一致する。隣り合う2つの帯状領
域の境界部分は微少量だけ重ね合わされている。なお、
同一ライン上に描かれるべき回路パターンを一致させる
ために、第1列目の露光ユニット2001、2003、20
05、2007、2009、2011、2013および2015に所
定ラインの回路パターンに応じた露光データが与えられ
ると、第2列目の露光ユニット2002、2004、2
06、2008、2010、2012および2014には描画面
32が距離Sを移動する時間だけ遅れたタイミングで同
一ラインの露光データが与えられる。
As described above, 15 exposure units 20
01-20 15 each exposing a band-shaped area in the X-axis, the width of the strip-like regions each entire exposure area Ua 01 ~
Substantially matches the width of Ua 15 . The boundary portion between two adjacent strip-shaped regions is overlapped by a small amount. In addition,
In order to match the circuit patterns to be drawn on the same line, the exposure units 20 01 , 200 3 , 20 in the first column
05, 20 07, 20 09, 20 11, 20 when 13 and 20 exposure data corresponding to the circuit pattern of the predetermined line 15 is provided, the second column of the exposure unit 20 02, 20 04, 2
The exposure data of the same line is given to 0 06 , 20 08 , 20 10 , 20 12 and 20 14 at a timing delayed by the time when the drawing surface 32 moves the distance S.

【0044】露光方式としては、描画テーブル16を走
査方向に沿って間欠的に移動させる動作と、描画テーブ
ル16の停止時に回路パターンを部分的に順次描画する
動作とを交互に繰り返すことにより、各描画領域を継ぎ
足して全体の回路パターンを得るステップ・アンド・リ
ピート(Step & Repeat)方式を採用してもよいし、描
画テーブル16を一定速度で移動させつつ同時に描画動
作を行う方式であってもよい。第1実施形態では説明を
容易にするためにステップ・アンド・リピート方式を採
用する。即ち、多重露光描画装置10では、描画テーブ
ル16を所定の移動間隔で間欠的に移動させつつ、回路
パターンのラスタデータに従って回路パターンを多重露
光により描画する描画方法が採用される。以下に、この
ような多重露光描画方法の原理について説明する。
As the exposure method, an operation of intermittently moving the drawing table 16 along the scanning direction and an operation of partially and sequentially drawing the circuit pattern when the drawing table 16 is stopped are alternately repeated, A step-and-repeat (Step & Repeat) method may be adopted in which drawing areas are added to obtain the entire circuit pattern, or a method of simultaneously performing drawing operations while moving the drawing table 16 at a constant speed. Good. In the first embodiment, a step-and-repeat method is adopted to facilitate the explanation. That is, the multiple-exposure drawing apparatus 10 employs a drawing method of drawing the circuit pattern by multiple exposure according to the raster data of the circuit pattern while intermittently moving the drawing table 16 at a predetermined movement interval. The principle of such a multiple-exposure drawing method will be described below.

【0045】図4には、第1露光ユニット2001によっ
て描画面32上に投影される全面露光領域Ua01の一部
が示され、この全面露光領域Ua01は各マイクロミラー
M(m,n)から得られる単位露光領域U(m,n)か
ら成る。ここで、パラメータmは第1露光ユニット20
01のX軸方向に沿うライン番号を示し、パラメータnは
第1露光ユニット2001のY軸方向に沿う行番号を示
し、第1実施形態では1≦m≦1024および1≦n≦
1280となる。
[0045] Figure 4 is a part of the entire exposure area Ua 01 projected onto the drawing surface 32 by the first exposure unit 20 01 is shown, the entire exposure area Ua 01 each micromirror M (m, n ) From the unit exposure area U (m, n). Here, the parameter m is the first exposure unit 20.
Indicates 01 in the X-axis direction along the line number, the parameter n is a line number along the Y-axis direction of the first exposure unit 20 01, in the first embodiment 1 ≦ m ≦ 1024 and 1 ≦ n ≦
It becomes 1280.

【0046】要するに、単位露光領域U(1,1)、U
(1,2)、U(1,3)、U(1,4)、U(1,
5)、…、U(1,1280)は第1露光ユニット20
01のY軸に沿う第1ラインの1280個のマイクロミラ
ーM(1,1)〜M(1,1280)から得られるもの
であり、単位露光領域U(2,1)、U(2,2)、U
(2,3)、U(2,4)、U(2,5)、…、U
(2,1280)は第1露光ユニット2001のY軸に沿
う第2ラインの1280個のマイクロミラーM(2,
1)〜M(2,1280)から得られるものであり、単
位露光領域U(3,1)、U(3,2)、U(3,
3)、U(3,4)、U(3,5)、…、U(3,12
80)は第1露光ユニット2001のY軸に沿う第3ライ
ンのマイクロミラーM(3,1)〜M(3,1280)
から得られるものである。
In short, the unit exposure areas U (1,1), U
(1,2), U (1,3), U (1,4), U (1,
5), ..., U (1,1280) is the first exposure unit 20.
The unit exposure areas U (2,1) and U (2,2) are obtained from 1280 micromirrors M (1,1) to M (1,1280) of the first line along the Y axis of 01. ), U
(2,3), U (2,4), U (2,5), ..., U
(2,1280) is 1280 micro mirrors M (2 of the second line along the Y-axis of the first exposure unit 20 01,
1) to M (2,1280), and unit exposure areas U (3,1), U (3,2), U (3,2).
3), U (3,4), U (3,5), ..., U (3,12)
80) micromirror M of the third line along the Y-axis of the first exposure unit 20 01 (3,1) ~M (3,1280 )
It is obtained from.

【0047】例えば、露光1回当たりの移動距離が単位
露光領域の1つ分のサイズCの整数倍である距離A(例
えばA=4C)と距離a(0≦a<C)との和である場
合について説明すると、描画テーブル16がX軸に沿っ
てその負側に移動させられる、即ち第1露光ユニット2
01が描画テーブル16に対してX軸の正側に向かって
相対移動し、単位露光領域Ua01が描画面32上の描画
開始位置SLに到達すると、そこで一旦停止させられて
第1露光ユニット2001の第1ラインの1280個のマ
イクロミラーM(1,1)〜M(1,1280)が所定
の回路パターンのラスタデータに従って動作させられて
第1回目の露光が行われる。このときの描画面32の相
対位置を第1回目露光位置と定義する。
For example, the sum of the distance A (for example, A = 4C) and the distance a (0 ≦ a <C) in which the moving distance per exposure is an integral multiple of the size C of one unit exposure area. To explain one case, the drawing table 16 is moved to the negative side along the X axis, that is, the first exposure unit 2
When 01 01 moves relative to the drawing table 16 toward the positive side of the X-axis and the unit exposure area Ua 01 reaches the drawing start position SL on the drawing surface 32, it is temporarily stopped there and the first exposure unit 20 of 01 of the first line 1280 of the micro-mirror M (1,1) ~M (1,1280) is the first exposure to be operated in accordance with a raster data of a predetermined circuit pattern is carried out. The relative position of the drawing surface 32 at this time is defined as the first exposure position.

【0048】第1回目の露光が終了すると、第1露光ユ
ニット2001は再びX軸に沿ってその正側に相対移動
し、その単位露光領域Ua01の移動量が(A+a)とな
ったとき、第1露光ユニット2001は第2回目露光位置
に到達したと判断されて停止され、第1露光ユニット2
01の第1〜第5ラインのマイクロミラーM(1,1)
〜M(5,1280)が所定の回路パターンのラスタデ
ータに従って動作させられて第2回目の露光が行われ
る。
When the first exposure is completed, the first exposure unit 20001 again moves relative to the positive side along the X-axis, and the movement amount of the unit exposure area Ua 01 becomes (A + a). , The first exposure unit 20001 is judged to have reached the second exposure position, and is stopped.
0 01 1st to 5th lines of micromirror M (1, 1)
.About.M (5,1280) are operated according to the raster data of a predetermined circuit pattern to perform the second exposure.

【0049】第2回目の露光が終了すると、第1露光ユ
ニット2001は更にX軸に沿ってその正側に移動量(A
+a)だけ移動させられて第3回目露光位置で停止さ
れ、第1露光ユニット2001の第1〜第9ラインのマイ
クロミラーM(1,1)〜M(9,1280)が所定の
回路パターンのラスタデータに従って動作させられて第
3回目の露光が行われる。
When the second exposure is completed, the first exposure unit 20001 further moves to the positive side along the X axis (A
+ A) only be stopped at the third exposure position is moved, the first exposure unit 20 01 of the first to ninth lines micromirror M (1,1) ~M (9,1280) of a predetermined circuit pattern And the third exposure is performed.

【0050】このように第1露光ユニット2001がX軸
に沿ってその正側に移動量(A+a)だけ移動させられ
る度毎に停止されて露光作動が繰り返され、描画面32
の同一領域が第1露光ユニット2001によって多数回に
渡って多重露光されることになる。例えば、a=0の場
合、第1露光ユニット2001はX軸に沿ってその正側に
A(=4C)ずつ移動し、単位露光領域U(m,n)の
中心は常に同一点上に一致する。このため、第1列目の
先頭のマイクロミラーM(1,1)によって露光された
C×Cの領域は、さらに第(4k+1)番目の先頭のマ
イクロミラーM(4k+1,1)によって露光され(た
だし、1≦k≦255)、合計256回(=1024C
/A)だけ多重露光されることになる。一方、a≠0の
場合、重なり合う単位露光領域U(m,n)の中心は距
離aだけ徐々にずれていくため、同一領域が256回多
重露光されるとは限らない。そこで、所定の領域を25
6回露光させるために、各単位露光領域U(m,n)の
中心を256個だけこの所定領域内に均等に配列させ、
実質的に256回多重露光させている。
In this way, each time the first exposure unit 20001 is moved to the positive side along the X axis by the movement amount (A + a), the exposure operation is repeated and the drawing surface 32 is repeated.
That is, the same area is subjected to multiple exposure by the first exposure unit 20001 multiple times. For example, a = 0, the first exposure unit 20 01 is moved to its positive side along the X-axis A (= 4C) by the unit exposure area U (m, n) center is always on the same point of Match. Therefore, the C × C area exposed by the leading micromirror M (1,1) in the first column is further exposed by the (4k + 1) th leading micromirror M (4k + 1,1) ( However, 1 ≦ k ≦ 255, a total of 256 times (= 1024C)
/ A) will be subjected to multiple exposure. On the other hand, when a ≠ 0, the centers of the overlapping unit exposure areas U (m, n) are gradually displaced by the distance a, and therefore the same area is not always subjected to multiple exposure 256 times. Therefore, the predetermined area is set to 25
In order to expose 6 times, 256 centers of each unit exposure area U (m, n) are evenly arranged in this predetermined area,
Substantially 256 times of multiple exposure is performed.

【0051】図3では、被描画体30の移動方向はX軸
に平行であったが、X軸に対して微少角αだけ傾斜させ
て移動させてもよい。このとき、第1露光ユニット20
01はX軸に沿ってその正側に移動量(A+a)だけ移動
させられる度毎に単位露光領域U(m,n)はY軸に沿
ってその負側に所定距離だけ相対的にシフトすることに
なる。
In FIG. 3, the movement direction of the object 30 to be drawn is parallel to the X axis, but it may be moved with a slight angle α with respect to the X axis. At this time, the first exposure unit 20
01 indicates that the unit exposure area U (m, n) is relatively shifted along the Y axis by a predetermined distance every time the unit exposure area U (m, n) is moved by the amount of movement (A + a) along the X axis. It will be.

【0052】図5は、被描画体30をX軸に対して傾斜
させつつ順次移動させたときの単位露光領域U(m,
n)の変位を経時的に示す図である。図5を参照する
と、第1回目露光位置での全面露光領域Ua01の一部が
破線で示され、第2回目露光位置での全面露光領域Ua
01の一部が一点鎖線で示され、第3回目露光位置での全
面露光領域Ua01の一部が実線で示され、各単位露光領
域U(m,n)のY軸の負側に沿う移動距離がbで示さ
れている。
FIG. 5 shows a unit exposure area U (m, when the object 30 to be drawn is sequentially moved while being inclined with respect to the X axis.
It is a figure which shows the displacement of n) with time. Referring to FIG. 5, a part of the entire surface exposure area Ua 01 at the first exposure position is shown by a broken line, and the entire surface exposure area Ua at the second exposure position is shown.
A part of 01 is shown by a dot-dash line, and a part of the entire surface exposure area Ua 01 at the third exposure position is shown by a solid line, and it follows the negative side of the Y axis of each unit exposure area U (m, n). The distance traveled is indicated by b.

【0053】第1回目露光位置において第1露光ユニッ
ト2001の第1ラインのマイクロミラーM(1,1)〜
M(1,1280)によって得られる単位露光領域U
(1,1)、U(1,2)、…U(1,1280)に注
目すると、これら単位露光領域U(1,1)、U(1,
2)、…U(1,1280)に対して、第2回目露光位
置における第1露光ユニット2001の第5ラインのマイ
クロミラーM(5,1)〜M(5,1280)によって
得られる単位露光領域U(5,1)、U(5,2)、…
U(5,1280)がX軸及びY軸に沿ってそれぞれ
(+a)および(−b)だけずれて互いに重なり合い、
さらに第3回目露光位置においては第1露光ユニット2
01の第9ラインのマイクロミラーM(9,1)〜M
(9,1280)によって得られる単位露光領域U
(9,1)、U(9,2)、…U(9,1280)は、
X軸方向及びY軸方向にそれぞれ(+2a)および(−
2b)だけずれて互いに重なり合うことになる。なお、
図5では、3つの互いに重なり合う単位露光領域U
(1,1)、U(5,1)及びU(9,1)がそれぞれ
破線、一点鎖線及び実線の引出し線で例示的に示されて
いる。
[0053] The first time the first exposure unit 20 01 of the first line micromirror M in the exposure position (1, 1) to
Unit exposure area U obtained by M (1,1280)
Focusing on (1,1), U (1,2), ... U (1,1280), these unit exposure regions U (1,1), U (1,2)
2), ... with respect to U (1,1280), units obtained by the first exposure unit 20 01 of the fifth line micromirrors M in the second exposure position (5,1) ~M (5,1280) Exposure areas U (5,1), U (5,2), ...
U (5,1280) overlaps each other with (+ a) and (-b) offset along the X and Y axes, respectively.
Further, at the third exposure position, the first exposure unit 2
0 01 9th line micromirrors M (9,1) to M
Unit exposure area U obtained by (9,1280)
(9,1), U (9,2), ... U (9,1280) are
(+ 2a) and (-) in the X-axis direction and the Y-axis direction, respectively.
2b) and will overlap each other. In addition,
In FIG. 5, three unit exposure areas U that overlap each other
(1,1), U (5,1) and U (9,1) are exemplarily shown by a broken line, a one-dot chain line and a solid lead line, respectively.

【0054】ここで各単位露光領域U(m,n)の相対
位置をその中心である露光点CN(m,n)の位置で代
表して示すと、第2回目露光位置における露光点CN
(5,1)は、第1回目露光位置における露光点CN
(1,1)から(+a,−b)だけ離れており、第3回
目露光位置における露光点CN(9,1)は、第1回目
露光位置における露光点CN(1,1)から(+2a,
−2b)だけ離れて存在することになる。なお、各ライ
ンにおける互いに隣接した露光点間の距離は単位露光領
域U(m,n)のサイズC(=20μm)に一致する。
Here, the relative position of each unit exposure region U (m, n) is represented by the position of the exposure point CN (m, n) which is the center of the unit exposure region U (m, n).
(5, 1) is the exposure point CN at the first exposure position
The exposure point CN (9,1) at the third exposure position is (+ 2a)-(+ 2a) apart from (1,1) at the first exposure position. ,
-2b) will exist. The distance between adjacent exposure points on each line matches the size C (= 20 μm) of the unit exposure area U (m, n).

【0055】上述したように、移動距離が、単位露光領
域U(m,n)の一辺長さCの4倍と距離aとの和とさ
れるとき、距離a及びbを適当に選ぶことにより、個々
の単位露光領域U(m,n)と同じ大きさの面積C×C
内に露光点を均一に分布させることができる。
As described above, when the moving distance is the sum of four times the side length C of the unit exposure area U (m, n) and the distance a, the distances a and b are appropriately selected. , An area C × C of the same size as each unit exposure region U (m, n)
The exposure points can be evenly distributed within.

【0056】例えば、図6に示すように、単位露光領域
U(m,n)と同じ大きさの面積C×C(=20μm×
20μm)内に256個の露光点を分布させるために
は、X軸及びY軸に沿ってそれぞれ256個の単位露光
領域の中心を16個ずつ配列させればよいことになり、
距離a及びbは以下の計算式によって定められる。 a=C/16 =20μm/16 =1.25μm b=C/256=20μm/256=0.078125
μm
For example, as shown in FIG. 6, an area C × C (= 20 μm ×) having the same size as the unit exposure region U (m, n).
In order to distribute 256 exposure points within 20 μm), 16 centers of 256 unit exposure areas should be arranged along the X-axis and the Y-axis, respectively.
The distances a and b are defined by the following calculation formulas. a = C / 16 = 20 μm / 16 = 1.25 μm b = C / 256 = 20 μm / 256 = 0.078125
μm

【0057】なお、言うまでもないが、距離bを0.0
78125μmに設定するということは、描画テーブル
16がX軸の負側に距離(A+a=81.25μm)だ
け移動したとき、個々の単位露光領域U(m,n)がY
軸の負側に0.078125μmだけシフトするように
描画テーブル16の傾斜角度α(約1.68×10
-5度)を設定するということに他ならない。
Needless to say, the distance b is 0.0
Setting to 78125 μm means that when the drawing table 16 is moved to the negative side of the X-axis by a distance (A + a = 81.25 μm), each unit exposure area U (m, n) becomes Y.
The inclination angle α of the drawing table 16 (about 1.68 × 10) so as to shift 0.078125 μm to the negative side of the axis.
-5 degrees) is nothing but setting.

【0058】図6において、参照符号CN(1,1)で
示される露光点が例えば第1回目露光位置における第1
露光ユニット2001の第1ラインの先頭のマイクロミラ
ーM(1,1)によって得られる単位露光領域U(1,
1)のものであるとすると、先の記載から明らかなよう
に、露光点CN(5,1)は第2回目露光位置における
第1露光ユニット2001の第5ラインの先頭のマイクロ
ミラーM(5,1)によって得られる単位露光領域U
(5,1)のものであり、露光点CN(9,1)は第3
回目露光位置における第1露光ユニット2001の第9ラ
インの先頭のマイクロミラーM(9,1)によって得ら
れる単位露光領域U(9,1)のものとなる。
In FIG. 6, the exposure point indicated by reference numeral CN (1,1) is, for example, the first exposure position at the first exposure position.
Units obtained by the beginning of the micro-mirror M of the first line of the exposure unit 20 01 (1,1) exposure area U (1,
When those of 1), as is clear from the foregoing description, the exposure point CN (5,1) is the top of the micromirror M of the fifth line of the first exposure unit 20 01 in the second exposure position ( 5, 1) unit exposure area U obtained by
(5, 1), and the exposure point CN (9, 1) is the third
Becomes round eyes exposed first exposure unit at position 20 01 of the ninth line of the top of the micromirror M (9,1) unit exposure regions obtained by U (9,1).

【0059】さらに、露光点CN(1,1)から距離
(+16a,−16b)だけ離れた露光点CN(61,
1)は、第16回目露光位置における第61ラインの先
頭のマイクロミラーM(61,1)によって得られる単
位露光領域U(61,1)の中心であり、露光点CN
(1,1)から距離(0,−a)だけ離れた露光点CN
(65,1)は第17回目露光位置における第65ライ
ンの先頭のマイクロミラーM(65,1)によって得ら
れる単位露光領域U(65,1)の中心である。同様
に、露光点CN(1,1)から距離(0,−15a)だ
け離れた露光点CN(65,1)は第241回目露光位
置における第961ラインの先頭のマイクロミラーM
(961,1)によって得られる単位露光領域U(96
1,1)の中心であり、露光点CN(1,1)から距離
(15a,−16a)だけ離れた露光点CN(102
1,1)は第256回目露光位置における第1021ラ
インの先頭のマイクロミラーM(1021,1)によっ
て得られる単位露光領域U(1021,1)の中心であ
る。
Further, the exposure point CN (61, 61, distant from the exposure point CN (1, 1) by a distance (+ 16a, -16b)).
1) is the center of the unit exposure area U (61,1) obtained by the micromirror M (61,1) at the head of the 61st line at the 16th exposure position, and the exposure point CN
Exposure point CN distant from (1,1) by a distance (0, -a)
(65,1) is the center of the unit exposure area U (65,1) obtained by the micromirror M (65,1) at the head of the 65th line at the 17th exposure position. Similarly, the exposure point CN (65,1), which is separated from the exposure point CN (1,1) by the distance (0, -15a), is the first micromirror M of the 961th line at the 241st exposure position.
(961,1) unit exposure area U (96
The exposure point CN (102
1, 1) is the center of the unit exposure area U (1021,1) obtained by the micromirror M (1021,1) at the head of the 1021st line at the 256th exposure position.

【0060】かくして、15個の露光ユニット2001
2015に対して描画テーブル16が上述した条件下でX
軸の負側に間欠的に移動させられると、それら露光ユニ
ット2001〜2015の個々のマイクロミラーM(m,
n)よって得られる単位露光領域U(m,n)の中心、
即ち露光点CN(m,n)がX軸及びY軸のそれぞれに
沿ってピッチa及びbで描画面32の全体にわたって配
列されることになる。個々の単位画素領域と同じ大きさ
の領域C×C(20μm×20μm)内には256個の
露光点が均一に分布させられる。
Thus, 15 exposure units 20 01-
20 15 for the drawing table 16 X
When the negative side of the axis is moved intermittently, their exposure unit 20 01-20 15 individual micromirrors M (m,
n) the center of the unit exposure area U (m, n) obtained by
That is, the exposure points CN (m, n) are arranged over the entire drawing surface 32 at the pitches a and b along the X axis and the Y axis, respectively. 256 exposure points are uniformly distributed in a region C × C (20 μm × 20 μm) having the same size as each unit pixel region.

【0061】なお、露光ユニット2001〜2015におけ
る個々の露光点を描画面32の全体にわたって更に高密
度に分布させることももちろん可能であり、例えば、2
0μm×20μmの面積内に512個の単位露光領域の
中心を均一に配列させる場合には、距離Aは単位露光領
域のサイズCの2倍(40μm)に設定され、距離aお
よびbはそれぞれ1.25μm/2、0.078125
μm/2に設定される。
Of course, it is also possible to distribute the individual exposure points in the exposure units 20 01 to 20 15 in a higher density over the entire drawing surface 32.
When the centers of 512 unit exposure areas are uniformly arranged in an area of 0 μm × 20 μm, the distance A is set to twice the size C of the unit exposure area (40 μm), and the distances a and b are 1 respectively. 0.25 μm / 2, 0.078125
It is set to μm / 2.

【0062】また、図6に示す例では16個の露光点は
Y軸に沿って平行に配列されているが、距離a及びbの
値を僅かに変化させることによって、露光点をY軸に沿
って斜めに配列させることも可能である。
Further, in the example shown in FIG. 6, 16 exposure points are arranged in parallel along the Y-axis, but the exposure points can be changed to the Y-axis by slightly changing the values of the distances a and b. It is also possible to arrange them diagonally.

【0063】このように第1実施形態の多重露光描画装
置10においては、回路パターンのラスタデータに基づ
いて回路パターンの描画が行われるとき、該回路パター
ンデータの画素サイズがどのようなサイズであっても、
その回路パターンを描画することが可能である。換言す
れば、多重露光描画装置10側には、描画されるべき回
路パターンに対する画素の概念は存在しないといえる。
As described above, in the multiple-exposure drawing apparatus 10 of the first embodiment, when the circuit pattern is drawn based on the raster data of the circuit pattern, what is the pixel size of the circuit pattern data? Even
It is possible to draw the circuit pattern. In other words, it can be said that the concept of a pixel for a circuit pattern to be drawn does not exist on the side of the multiple exposure drawing apparatus 10.

【0064】例えば、ラスタデータの画素サイズが20
μm×20μmに設定されている場合には、任意の1ビ
ットデータに“1”が与えられると、露光作動時にその
1ビットデータに対応する一画素領域(20μm×20
μm)に含まれる個々の露光点CN(m,n)に対応し
たマイクロミラーM(m,n)が該1ビットデータによ
って動作されて非露光位置から露光位置に回動させら
れ、これによりかかる一画素領域(20μm×20μ
m)が総計256回にわたって多重露光を受けることに
なる。
For example, the pixel size of raster data is 20
In the case of setting to 1 μm × 20 μm, if “1” is given to any 1-bit data, one pixel area (20 μm × 20
.mu.m) corresponding to each exposure point CN (m, n) corresponding to each micromirror M (m, n) is operated by the 1-bit data to rotate from the non-exposure position to the exposure position. One pixel area (20μm × 20μ
m) will receive multiple exposures a total of 256 times.

【0065】また、別の例として、ラスタデータの画素
サイズが10μm×10μmに設定されている場合に
は、任意の1ビットデータに“1”が与えられると、露
光作動時にその1ビットデータに対応する一画素領域
(10μm×10μm)に含まれる個々の露光点CN
(m,n)に対応したマイクロミラーM(m,n)が該
1ビットデータによって動作されて非露光位置から露光
位置に回動させられ、これによりかかる一画素領域(1
0μm×10μm)が総計64回にわたって多重露光を
受けることになる。
As another example, when the pixel size of the raster data is set to 10 μm × 10 μm, if “1” is given to any 1-bit data, the 1-bit data will be added to the 1-bit data during the exposure operation. Individual exposure points CN included in the corresponding one pixel area (10 μm × 10 μm)
The micromirror M (m, n) corresponding to (m, n) is operated by the 1-bit data to be rotated from the non-exposure position to the exposure position, whereby the one pixel area (1
0 μm × 10 μm) will be subjected to multiple exposure a total of 64 times.

【0066】なお、露光時間、即ち個々のマイクロミラ
ーM(m,n)が露光位置に留められる時間について
は、描画面32における一画素領域内での露光回数、被
描画体30(第1実施形態では、フォトレジスト層)の
感度、光源装置22の光強度等に基づいて決められ、こ
れにより各一画素露光領域について所望の露光量が得ら
れるように設定される。
The exposure time, that is, the time during which the individual micromirrors M (m, n) remain at the exposure position is determined by the number of exposures within one pixel area on the drawing surface 32 and the object 30 (first embodiment). In the form, it is determined based on the sensitivity of the photoresist layer), the light intensity of the light source device 22, and the like, and is set so as to obtain a desired exposure amount for each one-pixel exposure region.

【0067】図7は多重露光描画装置10のブロック図
である。同図に示すように、多重露光描画装置10には
マイクロコンピュータから構成されるシステムコントロ
ール回路34が設けられる。詳述すると、システムコン
トロール回路34は中央演算処理ユニット(CPU)、
種々のルーチンを実行するためのプログラムや定数等を
格納する読出し専用メモリ(ROM)、演算データ等を
一時的に格納する書込み/読出し自在なメモリ(RA
M)、および入出力インターフェース(I/O)から成
り、多重露光描画装置10の作動全般を制御する。
FIG. 7 is a block diagram of the multiple exposure drawing apparatus 10. As shown in the figure, the multiple exposure drawing apparatus 10 is provided with a system control circuit 34 including a microcomputer. More specifically, the system control circuit 34 includes a central processing unit (CPU),
A read-only memory (ROM) for storing programs and constants for executing various routines, a writable / readable memory (RA) for temporarily storing operation data, etc.
M) and an input / output interface (I / O), and controls the overall operation of the multiple exposure drawing apparatus 10.

【0068】描画テーブル16は、駆動モータ36によ
ってX軸方向に沿って駆動させられる。この駆動モータ
36は例えばステッピングモータとして構成され、その
駆動制御は駆動回路38から出力される駆動パルスに従
って行われる。描画テーブル16と駆動モータ36との
間には先に述べたようにボール螺子等を含む駆動機構が
介在させられるが、そのような駆動機構については図7
では破線矢印で象徴的に示されている。
The drawing table 16 is driven by the drive motor 36 along the X-axis direction. The drive motor 36 is configured as, for example, a stepping motor, and its drive control is performed according to the drive pulse output from the drive circuit 38. A drive mechanism including a ball screw or the like is interposed between the drawing table 16 and the drive motor 36, as described above.
Is symbolically indicated by a dashed arrow.

【0069】駆動回路38は描画テーブル制御回路40
の制御下で動作させられ、この描画テーブル制御回路4
0は描画テーブル16に設けられた描画テーブル位置検
出センサ42に接続される。描画テーブル位置検出セン
サ42は描画テーブル16の移動経路に沿って設置され
たリニアスケール44からの光信号を検出して描画テー
ブル16のX軸方向に沿うその位置を検出するものであ
る。なお、図7では、リニアスケール44からの光信号
の検出が破線矢印で象徴的に示されている。
The drive circuit 38 is a drawing table control circuit 40.
This drawing table control circuit 4 is operated under the control of
0 is connected to the drawing table position detection sensor 42 provided in the drawing table 16. The drawing table position detection sensor 42 detects an optical signal from the linear scale 44 installed along the movement path of the drawing table 16 to detect the position of the drawing table 16 in the X-axis direction. In FIG. 7, detection of an optical signal from the linear scale 44 is symbolically shown by a broken line arrow.

【0070】描画テーブル16の移動中、描画テーブル
位置検出センサ42はリニアスケール44から一連の光
信号を順次検出して一連の検出信号(パルス)として描
画テーブル制御回路40に対して出力する。描画テーブ
ル制御回路40では、そこに入力された一連の検出信号
が適宜処理され、その検出信号に基づいて一連の制御ク
ロックパルスが作成される。描画テーブル制御回路40
からは一連の制御クロックパルスが駆動回路38に対し
て出力され、駆動回路38ではその一連の制御クロック
パルスに従って駆動モータ36に対する駆動パルスが作
成される。要するに、リニアスケール44の精度に応じ
た正確さで描画テーブル16をX軸方向に沿って移動さ
せることができる。なお、このような描画テーブル16
の移動制御自体は周知のものである。
While the drawing table 16 is moving, the drawing table position detection sensor 42 sequentially detects a series of optical signals from the linear scale 44 and outputs them as a series of detection signals (pulses) to the drawing table control circuit 40. The drawing table control circuit 40 appropriately processes the series of detection signals input thereto, and creates a series of control clock pulses based on the detection signals. Drawing table control circuit 40
Outputs a series of control clock pulses to the drive circuit 38, and the drive circuit 38 creates drive pulses for the drive motor 36 in accordance with the series of control clock pulses. In short, the drawing table 16 can be moved along the X-axis direction with accuracy according to the accuracy of the linear scale 44. Note that such a drawing table 16
The movement control itself is well known.

【0071】図7に示すように、描画テーブル制御回路
40はシステムコントロール回路34に接続され、これ
により描画テーブル制御回路40はシステムコントロー
ル回路34の制御下で行われる。一方、描画テーブル位
置検出センサ42から出力される一連の検出信号(パル
ス)は描画テーブル制御回路40を介してシステムコン
トロール回路34にも入力され、これによりシステムコ
ントロール回路34では描画テーブル16のX軸に沿う
移動位置を常に監視することができる。
As shown in FIG. 7, the drawing table control circuit 40 is connected to the system control circuit 34, so that the drawing table control circuit 40 is controlled by the system control circuit 34. On the other hand, a series of detection signals (pulses) output from the drawing table position detection sensor 42 are also input to the system control circuit 34 via the drawing table control circuit 40, whereby the system control circuit 34 causes the system control circuit 34 to display the X-axis of the drawing table 16. The position of movement along can be constantly monitored.

【0072】システムコントロール回路34はLAN
(Local Area Network)を介してCADステーション或
いはCAMステーションに接続され、CADステーショ
ン或いはCAMステーションからはそこで作成処理され
た回路パターンのベクタデータがシステムコントロール
回路34に転送される。システムコントロール回路34
にはデータ格納手段としてハードディスク装置46が接
続され、CADステーション或いはCAMステーション
から回路パターンのベクタデータがシステムコントロー
ル回路34に転送されると、システムコントロール回路
34は回路パターンのベクタデータを一旦ハードディス
ク装置46に書込んで格納する。また、システムコント
ロール回路34には外部入力装置としてキーボード48
が接続され、このキーボード48を介して種々の指令信
号や種々のデータ等がシステムコントロール回路34に
入力される。
The system control circuit 34 is a LAN
It is connected to a CAD station or a CAM station via (Local Area Network), and the vector data of the circuit pattern created there is transferred to the system control circuit 34 from the CAD station or the CAM station. System control circuit 34
A hard disk device 46 is connected as a data storage means to the HDD, and when the vector data of the circuit pattern is transferred from the CAD station or the CAM station to the system control circuit 34, the system control circuit 34 once outputs the vector data of the circuit pattern to the hard disk device 46. Write to and store. The system control circuit 34 has a keyboard 48 as an external input device.
Are connected, and various command signals, various data, and the like are input to the system control circuit 34 via the keyboard 48.

【0073】ラスタ変換回路50はシステムコントロー
ル回路34の制御下で動作させられる。描画作動に先立
って、ハードディスク装置46から回路パターンのベク
タデータが読み出されてラスタ変換回路50に出力さ
れ、このベクタデータはラスタ変換回路50によって’
0’、’1’から成るビットデータ列即ちラスタデータ
に変換され、このラスタデータはビットマップメモリ5
2に書込まれる。要するに、ビットマップメモリ52に
は回路パターンのラスタデータが格納される。ラスタ変
換回路50でのデータ変換処理およびビットマップメモ
リ52へのデータ書込み処理についてはキーボード48
を介して入力される指令信号により開始される。
The raster conversion circuit 50 is operated under the control of the system control circuit 34. Prior to the drawing operation, the vector data of the circuit pattern is read from the hard disk device 46 and output to the raster conversion circuit 50. This vector data is read by the raster conversion circuit 50.
It is converted into a bit data string consisting of 0'and '1', that is, raster data, and this raster data is stored in the bit map memory 5
Written to 2. In short, the bitmap memory 52 stores the raster data of the circuit pattern. For the data conversion processing in the raster conversion circuit 50 and the data writing processing to the bitmap memory 52, the keyboard 48 is used.
It is started by a command signal input via.

【0074】ビットマップメモリ52の後段には露光デ
ータ生成回路54が接続される。露光データ生成回路5
4は、ビットマップメモリ52から順次読み出されたラ
スタデータに基づいて、各露光ユニット2001〜2015
に与えるべき露光データを生成し、露光タイミング調整
回路56に出力する。この露光データは、各露光ユニッ
ト2001〜2015の個々のマイクロミラーを露光位置ま
たは非露光位置に位置決めさせるための二値データであ
り、露光ユニット2001〜2015による露光作動が繰り
返される毎に書き換えられる。
An exposure data generation circuit 54 is connected to the subsequent stage of the bit map memory 52. Exposure data generation circuit 5
Reference numeral 4 denotes each of the exposure units 20 01 to 20 15 based on the raster data sequentially read from the bitmap memory 52.
Exposure data to be supplied to the exposure timing adjusting circuit 56 is output. The exposure data is binary data for positioning the individual micromirrors of each exposure unit 20 01-20 15 to the exposure position or unexposed position, the exposure unit 20 01-20 15 every exposure operation is repeated by Can be rewritten as

【0075】露光タイミング調整回路56は、後述する
ように各露光ユニット2001〜20 15に露光データを与
えるタイミングを調整し、DMD駆動回路58へ出力す
る。DMD駆動回路58は露光タイミング調整回路56
から得られた露光データに基づいて15個の露光ユニッ
ト2001〜2015を個々に独立して駆動制御し、これに
より各露光ユニット2001〜2015の個々のマイクロミ
ラーは選択的に露光作動を行うことになる。なお、図7
では、個々のマイクロミラーの露光作動が破線矢印で象
徴的に図示されている。また、図7では図の複雑化を避
けるために露光ユニットは1つしか示されていないが、
実際には15個(2001〜2015)存在し、DMD駆動
回路58によってそれぞれ駆動されることは言うまでも
ない。
The exposure timing adjusting circuit 56 will be described later.
Each exposure unit 2001~ 20 15Give exposure data to
Output timing to the DMD drive circuit 58.
It The DMD drive circuit 58 is the exposure timing adjustment circuit 56.
15 exposure units based on the exposure data obtained from
2001~ 2015Drive and control independently,
Each exposure unit 2001~ 2015Individual micromi
The laser will selectively perform the exposure operation. Note that FIG.
Then, the exposure operation of the individual micromirrors is indicated by the dashed arrow.
It is schematically shown. Also, in FIG. 7, avoiding complication of the drawing.
Only one exposure unit is shown to avoid
Actually 15 (2001~ 2015) Existence and DMD drive
It goes without saying that each is driven by the circuit 58.
Absent.

【0076】上述した第1実施形態では、描画作動時、
描画テーブル16が露光位置に到達する度毎に停止さ
れ、その停止位置で露光ユニット2001〜2015による
露光作動が行われている。しかしながら、描画作動時、
描画テーブル16を間欠的に移動させることなく連続的
に一定速度で移動させつつ、所定の条件下で露光ユニッ
ト2001〜2015による露光作動を行うことも可能であ
る。
In the above-described first embodiment, during the drawing operation,
Drawing table 16 is stopped each time it reaches the exposure position, it is carried out exposure operation by the exposure unit 20 01-20 15 at its stop position. However, during drawing operation,
While continuously moving at a constant speed without moving the drawing table 16 intermittently, it is also possible to perform the exposure operation by the exposure unit 20 01-20 15 under predetermined conditions.

【0077】詳述すると、描画テーブル16が距離(A
+a)だけ移動する度毎に露光ユニット2001〜2015
による露光作動が開始されることは上述の第1実施形態
と同じであるが、しかし露光時間については、描画テー
ブル16が各露光ユニットの個々のマイクロミラーによ
って得られる単位露光領域のサイズ(20μm)より小
さい距離dを移動する間の時間とされる。このように露
光時間を設定すれば、上述の場合と同様な態様で回路パ
ターンの描画を行うことができるだけでなく、回路パタ
ーンの描画に必要とされる描画時間も短縮することもで
きる。また、描画作動時、描画テーブル16を連続的に
一定速度で移動させる別の利点として、描画テーブル1
6の駆動系が故障し難いということも挙げられる。
More specifically, the drawing table 16 displays the distance (A
+ A) every time the unit moves, exposure units 20 01 to 20 15
The exposure operation is started in the same manner as in the above-described first embodiment, but with respect to the exposure time, the drawing table 16 has a size (20 μm) of the unit exposure region obtained by the individual micromirrors of each exposure unit. The time taken to travel a smaller distance d. By setting the exposure time in this way, not only the circuit pattern can be drawn in the same manner as in the above case, but also the drawing time required for drawing the circuit pattern can be shortened. Further, as another advantage of continuously moving the drawing table 16 at a constant speed during the drawing operation, the drawing table 1
It can also be mentioned that the drive system of 6 is unlikely to fail.

【0078】図8は、露光データ生成回路54および露
光タイミング調整回路56の一部を詳細に示すブロック
図である。露光データ生成回路54には、15個の露光
ユニット2001〜2015にそれぞれ対応したデータ生成
タイミング調整回路が設けられているが、ここでは第
1、第2露光ユニット2001および2002に対応した第
1、第2データ生成回路5401および5402のみが示さ
れ、残り13個のデータ生成回路については同様の構成
であるため省略される。また、露光タイミング調整回路
56にも露光ユニット2001〜2015にそれぞれ対応し
て15個のタイミング調整回路が設けられているが、図
8では第1、第2タイミング調整回路56 01および56
02のみが示される。
FIG. 8 shows the exposure data generating circuit 54 and the exposure.
A block showing a part of the optical timing adjustment circuit 56 in detail.
It is a figure. The exposure data generation circuit 54 has 15 exposures.
Unit 2001~ 2015Data generation corresponding to each
Although there is a timing adjustment circuit,
1, 2nd exposure unit 2001And 2002Corresponding to
First and second data generation circuit 5401And 5402Only shown
The remaining 13 data generation circuits have the same configuration.
Therefore, it is omitted. Also, the exposure timing adjustment circuit
Exposure unit 20 for 5601~ 2015Corresponding to
15 timing adjustment circuits are provided.
In 8, the first and second timing adjustment circuits 56 01And 56
02Only shown.

【0079】第1データ生成回路5401は、対応する第
1露光ユニット2001の露光すべき領域、厳密には実際
に露光される領域よりも幅の大きい第1分割領域、に対
応するラスタデータをビットマップメモリ52から得
て、露光データメモリ54201に格納する。そして、読
出しアドレス制御回路54401により露光データメモリ
54201からラスタデータを選択的に読み出すことによ
り、第1露光ユニット2001に与えるべき露光データを
生成し、第1タイミング調整回路5601に出力する。座
標変換等を行う場合には、この読出しアドレス制御回路
54401から送出される読出しアドレスデータが変更さ
れる。
The first data generation circuit 54 01 corresponds to the raster data corresponding to the area to be exposed of the corresponding first exposure unit 20001 , strictly speaking, the first divided area having a width larger than the area actually exposed. Is obtained from the bit map memory 52 and stored in the exposure data memory 542 01 . Then, the read address control circuit 544 01 selectively reads the raster data from the exposure data memory 542 01 to generate the exposure data to be given to the first exposure unit 20 01 , and outputs it to the first timing adjustment circuit 56 01 . . When performing coordinate transformation or the like, read address data sent from the read address control circuit 544 01 is changed.

【0080】第1タイミング調整回路5401にはFIF
O(First In First Out)メモリ56201が設けられ、
このFIFOメモリ56201には1024×1280の
マトリクス状に配列されたマイクロミラーM(m,n)
に対応する1310720個の露光データが一時的に保
持される。このFIFOメモリ56201への書込みはシ
ステムコントロール回路34から出力される制御クロッ
クパルスCLK0に同期して行われ、第1データ生成回
路5401から出力された露光データはその読み出された
順に順次FIFOメモリ56201へ書込まれる。そして
FIFOメモリ54201からの読み出しはパルス制御回
路56401から出力された読出しクロックパルスCLK
1に同期して行われ、FIFOメモリ56201に早く入
力された露光データから順に読み出される。
The first timing adjustment circuit 54 01 has a FIF.
O (First In First Out) memory 562 01 is provided,
The FIFO memory 562 01 micromirrors arranged in a matrix of 1024 × 1280 to M (m, n)
Exposure data of 1310720 corresponding to is temporarily stored. The writing to the FIFO memory 562 01 is performed in synchronization with the control clock pulse CLK0 output from the system control circuit 34, and the exposure data output from the first data generation circuit 54 01 is sequentially FIFO-read in the order of reading. It is written to memory 562 01. The read from the FIFO memory 542 01 is the read clock pulse CLK output from the pulse control circuit 564 01.
The exposure data is read in order from the exposure data input in the FIFO memory 562 01 in synchronism with the first data.

【0081】パルス制御回路56401は、システムコン
トロール回路34から入力される制御クロックパルスC
LK0、露光クロックパルスE_CLKおよびパルスデ
ータN01に基づいて読み出しクロックパルスCLK1を
生成する。制御クロックパルスCLK0は、13107
20個の各マイクロミラーを順次作動させるタイミング
を制御するパルスであり、露光クロックパルスE_CL
Kは全ての露光ユニット2001〜2015の露光タイミン
グを統一させるためのパルスである。露光クロックパル
スE_CLKの周期teは制御クロックパルスCLK0
の周期の1310720倍以上とされる。パルスデータ
01については後で詳述する。
The pulse control circuit 564 01 controls the control clock pulse C input from the system control circuit 34.
The read clock pulse CLK1 is generated based on LK0, the exposure clock pulse E_CLK, and the pulse data N 01 . The control clock pulse CLK0 is 13107
The exposure clock pulse E_CL is a pulse for controlling the timing of sequentially operating each of the 20 micromirrors.
K is a pulse for unifying the exposure timing of all the exposure units 20 01 to 20 15 . The period t e of the exposure clock pulse E_CLK is the control clock pulse CLK0.
The period is 1310720 times or more. The pulse data N 01 will be described later in detail.

【0082】第1実施形態においては、読出しクロック
パルスCLK1を制御することによってFIFOメモリ
56201からの露光データの出力タイミングを調整して
おり、これにより第1露光ユニット2001の露光タイミ
ング、即ち描画面32に対する全面露光領域Ua01の相
対位置を調整することができる。
[0082] In the first embodiment, and adjusts the output timing of the exposure data from the FIFO memory 562 01 by controlling the read clock pulse CLK1, thereby exposing the timing of the first exposure unit 20 01, namely drawing The relative position of the entire exposure area Ua 01 with respect to the surface 32 can be adjusted.

【0083】第2タイミング調整回路5602および残り
13個のタイミング調整回路も第1タイミング調整回路
5601と同様の構成を有しており、露光データの出力タ
イミングを各自独立して調整できる。従って、各露光ユ
ニット2001〜2015の取付け位置がX方向にずれてい
たとしても、そのずれを相殺するように各読出しクロッ
クパルス(CLK1、CLK2、…)を調整すれば、描
画面32上における露光領域を同一ライン上に高精度に
一致させることができ、繋ぎ目が目立たないように回路
パターンを描画できる。
The second timing adjusting circuit 56 02 and the remaining 13 timing adjusting circuits also have the same structure as the first timing adjusting circuit 56 01, and the output timing of the exposure data can be adjusted independently. Therefore, even if the mounting position of the exposure unit 20 01-20 15 is deviated in the X direction, the read clock pulses so as to cancel the deviation (CLK1, CLK2, ...) by adjusting the drawing surface 32 on It is possible to accurately match the exposure areas in the same line on the same line, and draw the circuit pattern so that the joints are inconspicuous.

【0084】なお、図8において第2データ生成回路5
02の露光データメモリおよび読出しアドレス制御回路
にはそれぞれ符号54202、54402が付され、第2タ
イミング調整回路5602のFIFOメモリおよびパルス
制御回路にはそれぞれ符号56202および56402が付
されている。
In FIG. 8, the second data generation circuit 5
4 02 exposure data memory and read address control each of the circuits code 542 02, 544 02 are attached, respectively code 562 02 and 564 02 are assigned the FIFO memory and the pulse control circuit of the second timing adjusting circuit 56 02 ing.

【0085】図9は、3つの露光ユニット2001、20
02および2003の相対位置と、描画面32上における各
全面露光領域Ua01、Ua02およびUa03の相対位置を
示す模式図である。図10は、露光クロックパルスE_
CLK、露光番号、パルスデータ、制御クロックパルス
CLK0、各読出しクロックパルスCLK1、CLK2
およびCLK3をそれぞれ示すタイミングチャートであ
る。他の露光ユニット2004〜2015はここでは省略さ
れる。
FIG. 9 shows three exposure units 20 01 , 20.
And 02 and 20 03 of the relative position is a schematic view showing the relative position of each entire exposure area Ua 01, Ua 02 and Ua 03 on drawing surface 32. FIG. 10 shows the exposure clock pulse E_
CLK, exposure number, pulse data, control clock pulse CLK0, each read clock pulse CLK1, CLK2
3 is a timing chart showing CLK3 and CLK3, respectively. The other exposure units 20 04 to 20 15 are omitted here.

【0086】本来であれば第1露光ユニット2001と第
3露光ユニット2003とは同一ライン上に正確に位置決
めされなければならないが、実際には各露光ユニット2
01〜2015をゲート状構造体18に取付ける際に取付
け誤差が生じることがある。例えば図9に示すように、
第3露光ユニット2003が第1露光ユニット2001より
距離TだけX軸の正側に取付けられた場合には、描画面
32がX軸の負側に移動している時に同一タイミングで
露光作動が実行されると、全面露光領域Ua03は全面露
光領域Ua01よりもX軸の正側に距離Tだけずれてしま
う。
Originally, the first exposure unit 20001 and the third exposure unit 20003 must be accurately positioned on the same line, but in reality, each exposure unit 2
A mounting error may occur when mounting 01 to 20 15 on the gate-shaped structure 18. For example, as shown in FIG.
If the third exposure unit 20 03 is attached to the positive side only X axis distance T from the first exposure unit 20 01, the exposure operation at the same timing when the drawing surface 32 is moving to the negative side of the X-axis Is executed, the entire surface exposure area Ua 03 is displaced from the entire surface exposure area Ua 01 by the distance T to the positive side of the X axis.

【0087】そこで、両全面露光領域Ua01およびUa
03のX方向の位置を揃えるために、図10に示すように
第1露光ユニット2001による露光開始タイミングを、
描画面32が距離Tだけ進む間に実行される露光回数分
だけ、第3露光ユニット20 03による露光開始タイミン
グより遅らせている。この最も露光タイミングを早くす
べき露光ユニット2003を基準とする露光回数の遅れが
パルスデータとして定義され、このパルスデータは14
個の露光ユニット2001、2002、2004、…2015
ついてそれぞれシステムコントロール回路34により予
め算出され、個々のパルス制御回路54401、54
02、…に与えられている。
Therefore, both whole surface exposure areas Ua01And Ua
03In order to align the positions in the X direction, as shown in FIG.
First exposure unit 2001The exposure start timing by
The number of exposures performed while the drawing surface 32 advances by the distance T
Only the third exposure unit 20 03Start exposure by
I'm behind it. Make this exposure timing the earliest
Exposure unit 2003The delay in the number of exposures based on
It is defined as pulse data, and this pulse data is 14
Individual exposure unit 2001, 2002, 2004, ... 2015To
The system control circuit 34
Calculated for each individual pulse control circuit 54401, 54
Four02, ...

【0088】パルスデータについて詳述する。全面露光
領域Ua03に対する全面露光領域Ua01のX方向のずれ
量が距離Tであって、露光1回当たりの移動量が(A+
a)であった場合、第1露光ユニット2001による露光
開始タイミングを決定するパルスデータN01は下記の
(1)式により算出される。 N01=INT[T/(A+a)] ・・・(1) ここで、一般的に、除算e/fが行われるとき、演算子
INT[e/f]は除算e/fの商を表し、0≦e<f
のとき、INT[e/f]=0として定義される。
The pulse data will be described in detail. The displacement amount of the entire surface exposure region Ua 01 in the X direction with respect to the entire surface exposure region Ua 03 is the distance T, and the movement amount per exposure is (A +
if it was a), pulse data N 01 for determining the exposure start timing with the first exposure unit 20 01 is calculated by the following equation (1). N 01 = INT [T / (A + a)] (1) Generally, when the division e / f is performed, the operator INT [e / f] represents the quotient of the division e / f. , 0 ≦ e <f
, INT [e / f] = 0 is defined.

【0089】ここで、露光クロックパルスE_CLKの
パルス数を露光番号として定義する。読出しクロックパ
ルスCLK3が露光クロックパルスE_CLKの1番目
の立ち上がりに同期して出力された場合、読出しクロッ
クパルスCLK1は露光クロックパルスE_CLKの
(1+N01)番目の立ち上がりに同期して出力される。
従って、FIFOメモリ54201からの露光データの読
み出しは、FIFOメモリ54203よりも時間(te×
01)だけ遅れることになる。言い換えると、第3露光
ユニット2003が露光番号”1”から露光作動を開始す
れば、第1露光ユニット2001は時間(te×N01)だ
け遅れた露光番号”1+N01”から露光作動を開始する
ことになる。
Here, the number of exposure clock pulses E_CLK is defined as an exposure number. When the read clock pulse CLK3 is output in synchronization with the first rising edge of the exposure clock pulse E_CLK, the read clock pulse CLK1 is output in synchronization with the (1 + N 01 ) th rising edge of the exposure clock pulse E_CLK.
Thus, reading of the exposure data from the FIFO memory 542 01, than the FIFO memory 542 03 Time (t e ×
N 01 ) will be delayed. In other words, if the third exposure unit 20 03 by starting the exposure operation from the exposure number "1", the first exposure unit 20 01 exposure operation from the time (t e × N 01) delayed by exposure number "1 + N 01" Will start.

【0090】このように、システムコントロール回路3
4は、所定周期の制御クロックパルスCLK0を遅らせ
て出力するためのパルスデータを算出して、パルス制御
回路544に出力する。パルス制御回路544は入力さ
れた制御クロックパルスCLK0をパルスデータ分の露
光回数が終了する時間だけ遅らせて読出しクロックパル
スCLK1として出力する。
In this way, the system control circuit 3
Reference numeral 4 calculates pulse data for delaying and outputting the control clock pulse CLK0 having a predetermined cycle, and outputs the pulse data to the pulse control circuit 544. The pulse control circuit 544 delays the input control clock pulse CLK0 by the time when the number of exposures of the pulse data is completed and outputs it as the read clock pulse CLK1.

【0091】なお、(1)式の除算において剰余(T−
01×(A+a))が0でない場合には、図7のビット
マップメモリ52から読み出すべきラスタデータをその
剰余に相当するピクセル数分だけずらせばよい。これに
より、X方向に関して第1露光ユニット2001による露
光位置を第3露光ユニット2003による露光位置とさら
に厳密に一致させることができる。
In addition, the remainder (T-
If N 01 × (A + a)) is not 0, the raster data to be read from the bitmap memory 52 of FIG. 7 may be shifted by the number of pixels corresponding to the remainder. As a result, the exposure position of the first exposure unit 20001 with respect to the X direction can be more closely matched to the exposure position of the third exposure unit 20003 .

【0092】第2露光ユニット2002についても同様、
第1露光ユニット2001よりX軸の負側に距離Sだけ離
れて取付けられていれば、第3露光ユニット2003から
の距離は(S+T)となる。よって、第2露光ユニット
2002の露光開始タイミングを示すパルスデータN02
次の(2)式により決定される。 N02=INT[(S+T)/(A+a)] ・・・(2)
[0092] Similarly, for the second exposure unit 20 02,
If mounted at a distance S on the negative side of the X-axis than the first exposure unit 20 01, a distance from the third exposure unit 20 03 is the (S + T). Thus, the pulse data N 02 indicating the exposure start timing of the second exposure unit 20 02 is determined by the following equation (2). N 02 = INT [(S + T) / (A + a)] (2)

【0093】従って、読出しクロックパルスCLK2は
露光クロックパルスE_CLKの(1+N02)番目の立
ち上がりに同期して出力され、FIFOメモリ56202
からの露光データの読み出しは、FIFOメモリ562
03よりも時間(te×N02)だけ遅れることになる。言
い換えると、第2露光ユニット2002は露光番号”1+
02”から露光作動を開始することになる。なお、同様
に、(2)式の除算における剰余((S+T)−N02×
(A+a))が0でなかった場合、図7のビットマップ
メモリ52からラスタデータを読み出す位置がその剰余
に相当するピクセル数分だけずらされる。これにより描
画面32において、第2露光ユニット2002のX方向に
関する露光開始位置と第1露光ユニット2001による露
光開始位置とが同じになる。
Therefore, the read clock pulse CLK2 is output in synchronization with the (1 + N 02 ) th rising edge of the exposure clock pulse E_CLK, and the FIFO memory 562 02 is output.
The exposure data can be read from the FIFO memory 562.
It will only delay that time also (t e × N 02) than 03. In other words, the second exposure unit 2002 has the exposure number "1+".
The exposure operation starts from N 02 ″. Similarly, the remainder ((S + T) −N 02 ×
If (A + a)) is not 0, the position where the raster data is read from the bitmap memory 52 in FIG. 7 is shifted by the number of pixels corresponding to the remainder. As a result, on the drawing surface 32, the exposure start position of the second exposure unit 2000 in the X direction and the exposure start position of the first exposure unit 20001 become the same.

【0094】このように、第1実施形態の多重露光描画
装置10においては、露光タイミング調整回路56によ
って個々の露光ユニットへの露光データの送出タイミン
グを調整することによりX軸方向における全面露光領域
Ua01〜Ua15の位置ずれを相殺するように構成されて
おり、これにより露光ユニット2001〜2015がX軸方
向にずれて取付けられても個々の露光開始位置を一致さ
せるための微調整が容易に行える。なお、各タイミング
調整回路のパルス制御回路に設定される露光番号は各全
面露光領域の相対位置の実測値に基づいて予め算出され
ている。
As described above, in the multiple-exposure drawing apparatus 10 of the first embodiment, the exposure timing adjusting circuit 56 adjusts the timing of sending the exposure data to each exposure unit, so that the overall exposure area Ua in the X-axis direction is obtained. It is configured to cancel the positional deviation of 01 to Ua 15 , so that even if the exposure units 200 1 to 20 15 are mounted while being displaced in the X-axis direction, fine adjustment for matching the individual exposure start positions can be performed. Easy to do. The exposure number set in the pulse control circuit of each timing adjustment circuit is calculated in advance based on the actual measurement value of the relative position of each entire surface exposure area.

【0095】次に、図11および図12を参照して、本
発明による多重露光描画装置の第2実施形態を説明す
る。図11は多重露光描画装置のブロック図であり、図
12は露光タイミング調整回路を露光データ生成回路の
一部と共に詳細に示すブロック図である。第1実施形態
の多重露光描画装置では個々の露光ユニットの露光タイ
ミングのずれをそれぞれ調整する構成であるのに対し、
第2実施形態の多重露光描画装置では第1列目と第2列
目の露光ユニットの露光タイミングのずれを調整する点
が第1実施形態と異なっており、その他の構成は第1実
施形態と同様である。ここでは第1実施形態と同じ構成
には同符号を付し、説明を省略する。
Next, a second embodiment of the multiple exposure drawing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS. 11 and 12. FIG. 11 is a block diagram of the multiple exposure drawing apparatus, and FIG. 12 is a block diagram showing the exposure timing adjusting circuit in detail together with a part of the exposure data generating circuit. In the multiple-exposure drawing apparatus of the first embodiment, while the configuration is such that the deviation of the exposure timing of each exposure unit is adjusted,
The multiple-exposure drawing apparatus of the second embodiment differs from that of the first embodiment in that the exposure timing deviations of the exposure units in the first and second columns are adjusted, and other configurations are the same as those in the first embodiment. It is the same. Here, the same components as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0096】第2実施形態の多重露光描画装置は、ラス
タ変換回路50と露光データ生成回路54との間に露光
タイミング調整回路156を備えており、この露光タイ
ミング調整回路156には1つのバッファメモリ157
が設けられる。ラスタ変換回路50から露光タイミング
調整回路156へ出力された回路パターンのラスタデー
タは直接露光データ生成回路54に送られる一方、バッ
ファメモリ157において所定時間だけ遅らされて間接
的に露光データ生成回路54に送られる。
The multiple exposure drawing apparatus of the second embodiment is provided with an exposure timing adjusting circuit 156 between the raster conversion circuit 50 and the exposure data generating circuit 54, and this exposure timing adjusting circuit 156 has one buffer memory. 157
Is provided. The raster data of the circuit pattern output from the raster conversion circuit 50 to the exposure timing adjustment circuit 156 is directly sent to the exposure data generation circuit 54, while it is delayed by a predetermined time in the buffer memory 157 and indirectly exposed by the exposure data generation circuit 54. Sent to.

【0097】露光データ生成回路54では、第1列目の
露光ユニット2001、2003、…、2015に対応するデ
ータ生成回路(図12では第1データ生成回路5401
みを示す)が遅延せずに送られたラスタデータに基づい
てそれぞれ露光データを生成し、第2列目の露光ユニッ
ト2002、2004、…、2014に対応するデータ生成回
路(図12では第2データ生成回路5402のみを示す)
がバッファメモリ157により遅延して送られたラスタ
データに基づいてそれぞれ露光データを生成する。バッ
ファメモリ157によるラスタデータの遅延時間は、第
1列目の露光ユニット2001、2003、…、2015に対
する第2列目の露光ユニット2002、2004、…、20
14のX方向におけるずれ量T(図9参照)だけ描画面3
2が進む時間に相当する。
In the exposure data generation circuit 54, the data generation circuits (only the first data generation circuit 54 01 is shown in FIG. 12) corresponding to the exposure units 20001 , 2003 , ..., 20 15 in the first column are delayed. each generates exposure data based on the raster data sent without the second row of the exposure unit 20 02, 20 04, ..., the data generation circuit corresponding to 20 14 (FIG. 12, the second data generating circuit (Only 54 02 is shown)
Generates the exposure data based on the raster data delayed by the buffer memory 157 and sent. The delay time of the raster data by the buffer memory 157, the first column of the exposure unit 20 01, 20 03, ..., the second column of the exposure unit for 20 15 20 02, 20 04, ..., 20
Drawing surface 3 by the amount of deviation T of 14 in the X direction (see FIG. 9)
It corresponds to the time when 2 advances.

【0098】バッファメモリ157の構成および機能に
ついて詳述すると、バッファメモリ157は第1列目の
露光ユニット2001、2003、…、2015と第2列目の
露光ユニット2002、2004、…、2014との取付位置
のX方向ずれ量Tに相当するラスタデータが格納できる
容量を有する。バッファメモリ157の書込み動作およ
び読出し動作はシステムコントロール回路34により制
御される。
[0098] More specifically the configuration and functions of the buffer memory 157, the buffer memory 157 is the first column of the exposure unit 20 01, 20 03, ..., 20 15 and the second row of the exposure unit 20 02, 20 04, .., 20 14, and has a capacity for storing raster data corresponding to the amount T of displacement in the X direction of the mounting position. The write operation and read operation of the buffer memory 157 are controlled by the system control circuit 34.

【0099】このように、第2実施形態の多重露光描画
装置によると、露光ユニット2001、2002、…、20
15をX方向に関して異なる位置に2列に配列させたとき
に、バッファメモリ157によって描画面32の進行方
向に対して前方に位置する第2列目の露光ユニット20
02、2004、…、2014の露光タイミングを遅らせてお
り、これにより両列の露光ユニット2001、2002
…、2015の描画開始位置を一致させることができる。
特に、バッファメモリ157を1つ設けるだけでよいの
で、簡単な構成で2列間の位置ずれを解消できる。
[0099] Thus, according to the multi-exposure drawing apparatus of the second embodiment, the exposure unit 20 01, 20 02, ..., 20
When 15s are arranged in two rows at different positions in the X direction, the buffer memory 157 causes the exposure unit 20 in the second row located in front of the drawing surface 32 in the traveling direction.
The exposure timings of 02 , 20 04 , ..., 20 14 are delayed so that the exposure units 2000 1 , 200 2 ,
The drawing start positions of 20 15 can be matched.
In particular, since it suffices to provide only one buffer memory 157, the positional shift between the two columns can be eliminated with a simple configuration.

【0100】なお、第2実施形態で用いた1個のバッフ
ァメモリを第1実施形態に適用してもよい。即ち、例え
ばバッファメモリをビットマップメモリ(52)と露光
データ生成回路(54)との間に設けてもよい。この構
成によると、1個のバッファメモリによって第1列目に
対する第2列目の位置ずれを大まかに調整し、さらに1
5個のFIFOメモリによって同一列の露光ユニットに
おける位置ずれを細かく調整することができる。バッフ
ァメモリを追加することにより、各FIFOメモリには
同一列の露光ユニット間で調整するだけのメモリ容量で
よいので、そのメモリ容量は第1実施形態に比べて遥か
に小さくて済む。
Note that one buffer memory used in the second embodiment may be applied to the first embodiment. That is, for example, a buffer memory may be provided between the bitmap memory (52) and the exposure data generation circuit (54). According to this configuration, one buffer memory roughly adjusts the positional deviation of the second column with respect to the first column, and
With the five FIFO memories, it is possible to finely adjust the positional deviation in the exposure units in the same column. By adding the buffer memory, each FIFO memory only needs to have a memory capacity for adjustment between the exposure units in the same column, so that the memory capacity can be much smaller than that in the first embodiment.

【0101】[0101]

【発明の効果】以上の記載から明らかなように、本発明
にあっては、パターンデータがどのような大きさの画素
サイズを持っていても、所定のパターンを適正に描画す
ることができるので、本発明による多重露光描画装置を
1台だけ用意するだけでCADステーション或いはCA
Mステーションでの回路パターンの設計の自由度を大巾
に高めることができる。
As is apparent from the above description, according to the present invention, it is possible to properly draw a predetermined pattern regardless of the size of the pixel data of the pattern data. A CAD station or CA can be prepared by preparing only one multiple exposure drawing apparatus according to the present invention.
The degree of freedom in designing the circuit pattern at the M station can be greatly increased.

【0102】また、本発明による多重露光描画装置にあ
っては、各露光ユニットの取付け位置の誤差を露光デー
タの出力タイミングを調整することによって相殺してお
り、これにより高精度な位置決めは必要なく、煩雑な取
付作業を大幅に効率化できる。
Further, in the multiple exposure drawing apparatus according to the present invention, the error of the mounting position of each exposure unit is canceled by adjusting the output timing of the exposure data, and thus high-precision positioning is not necessary. , The complicated installation work can be made much more efficient.

【0103】また、本発明により得られる特徴的な作用
効果の1つとして、露光ユニット内の変調素子の幾つか
が正常に機能しなくなったとしても、画素欠陥を生じさ
せることなくパターンの描画を適正に行い得るという点
も挙げられる。というのは、描画パターン領域は複数回
の露光作動にわたる多重露光によって得られるので、そ
のうちの数回程度の露光作動が正常に行われなかったと
しても、その描画パターン領域の総露光量は十分に得ら
れるからである。
Further, as one of the characteristic effects obtained by the present invention, even if some of the modulation elements in the exposure unit do not function normally, pattern drawing can be performed without causing pixel defects. There is also the point that it can be done properly. Because the drawing pattern area is obtained by multiple exposure over multiple exposure operations, the total exposure amount of the drawing pattern area is sufficient even if the exposure operation of several times is not normally performed. This is because it can be obtained.

【0104】本発明による多重露光描画装置から得られ
る別の作用効果として、個々の露光ユニットに組み込ま
れる結像光学系に起因する露光むらがあったとしても、
その露光むらの影響は多重露光のために小さくされると
いう点も挙げられる。
As another effect obtained from the multiple exposure drawing apparatus according to the present invention, even if there is exposure unevenness due to the imaging optical system incorporated in each exposure unit,
Another effect is that the effect of uneven exposure is reduced due to multiple exposure.

【0105】本発明による多重露光描画装置から得られ
る更に別の作用効果として、光源装置の出力が低くて
も、多重露光のために十分な露光量が確保し得るので、
光源装置を安価に構成し得る点も挙げられる。
As a further effect obtained from the multiple exposure drawing apparatus according to the present invention, a sufficient exposure amount for multiple exposure can be secured even if the output of the light source device is low.
Another point is that the light source device can be constructed at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による多重露光描画装置の概略斜視図で
ある。
FIG. 1 is a schematic perspective view of a multiple exposure drawing apparatus according to the present invention.

【図2】本発明による多重露光描画装置で用いる露光ユ
ニットの機能を説明するための概略概念図である。
FIG. 2 is a schematic conceptual diagram for explaining a function of an exposure unit used in the multiple exposure drawing apparatus according to the present invention.

【図3】図1に示す多重露光描画装置の描画テーブル上
の被描画体の描画面および各露光ユニットによる露光領
域を説明するための平面図である。
3 is a plan view for explaining a drawing surface of an object to be drawn on a drawing table of the multiple-exposure drawing device shown in FIG. 1 and an exposure area by each exposure unit.

【図4】本発明による多重露光描画装置により実行され
る多重露光描画方法の原理を説明するための模式図であ
って、X−Y座標系のX軸に沿う複数の露光位置に露光
ユニットを順次移動させた状態を経時的に示す図であ
る。
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the principle of a multiple-exposure drawing method executed by the multiple-exposure drawing apparatus according to the present invention, in which exposure units are provided at a plurality of exposure positions along the X axis of the XY coordinate system. It is a figure which shows the state moved sequentially.

【図5】図4と同様な模式図であって、X−Y座標系の
X軸に沿う複数の露光位置に露光ユニットを順次移動さ
せた際に該露光ユニットがY軸に沿って所定距離だけ変
位する状態を経時的に示す図である。
FIG. 5 is a schematic view similar to FIG. 4, in which the exposure unit is moved a predetermined distance along the Y axis when the exposure unit is sequentially moved to a plurality of exposure positions along the X axis of the XY coordinate system. It is a figure which shows the state displaced only by time.

【図6】本発明の多重露光方法に従って露光ユニットを
複数の露光位置に順次移動させた際に該露光ユニットの
所定のマイクロミラーによって得られる単位露光領域の
中心が所定領域内にどのように分布するかを示す説明図
である。
FIG. 6 shows how the center of a unit exposure area obtained by a predetermined micromirror of the exposure unit when the exposure unit is sequentially moved to a plurality of exposure positions according to the multiple exposure method of the present invention is distributed within the predetermined area. It is explanatory drawing which shows whether it does.

【図7】本発明による多重露光描画装置のブロック図で
ある。
FIG. 7 is a block diagram of a multiple exposure drawing apparatus according to the present invention.

【図8】図7に示す露光データ生成回路および露光タイ
ミング調整回路の一部を詳細に示すブロック図である。
8 is a block diagram showing a part of the exposure data generation circuit and the exposure timing adjustment circuit shown in FIG. 7 in detail.

【図9】3つの露光ユニットおよび全面露光領域の相対
関係を模式的に示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view schematically showing the relative relationship between the three exposure units and the overall exposure area.

【図10】露光データ生成回路の3つのFIFOメモリ
に対する読出しパルスを時系列的に示すタイミングチャ
ートである。
FIG. 10 is a timing chart showing the read pulses for three FIFO memories of the exposure data generation circuit in time series.

【図11】本発明による多重露光描画装置の第2実施形
態を示すブロック図である。
FIG. 11 is a block diagram showing a second embodiment of a multiple exposure drawing apparatus according to the present invention.

【図12】図11に示す露光タイミング調整回路を露光
データ生成回路の一部と共に詳細に示すブロック図であ
る。
FIG. 12 is a block diagram showing in detail the exposure timing adjustment circuit shown in FIG. 11 together with a part of an exposure data generation circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 多重露光描画装置 2001、2002、…2015 露光ユニット M(1,1)、…M(1024,1280) マイクロ
ミラー(変調素子) 32 描画面 34 システムコントロール回路 50 ラスタ変換回路 54 露光データ生成回路 56、156 露光タイミング調整回路 58 DMD駆動回路 56201、56202 FIFOメモリ 157 バッファメモリ
10 multi-exposure drawing device 20 01, 20 02, ... 20 15 exposure unit M (1,1), ... M ( 1024,1280) micromirror (modulation element) 32 drawing surface 34 system controller 50 raster converter 54 exposure data Generation circuit 56, 156 Exposure timing adjustment circuit 58 DMD drive circuit 562 01 , 562 02 FIFO memory 157 Buffer memory

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 マトリクス状に配置された多数の変調素
子を持つ露光ユニットを用いて所定のパターンを描画面
上に多重露光により描画する多重露光描画装置であっ
て、 複数の前記露光ユニットを第1方向に沿って配列する配
列手段と、 前記第1方向とは異なる第2方向に沿って前記描画面を
前記露光ユニットに対して相対移動させる移動手段と、 個々の前記露光ユニットの露光タイミングを調整する露
光タイミング調整手段とを備え、 前記移動手段によって前記露光ユニットに対して前記描
画面を前記第2方向に沿って相対移動させた時に、前記
露光タイミング調整手段によって、前記描画面上におい
て個々の前記露光ユニットによる前記第1方向に沿う描
画開始位置を一致させることを特徴とする多重露光描画
装置。
1. A multiple-exposure drawing apparatus that draws a predetermined pattern on a drawing surface by multiple exposure using an exposure unit having a large number of modulation elements arranged in a matrix, wherein a plurality of the exposure units are provided. Arrangement means arranged along one direction, moving means for moving the drawing surface relative to the exposure unit along a second direction different from the first direction, and exposure timing of each of the exposure units. Exposure timing adjusting means for adjusting, and when the drawing surface is moved relative to the exposure unit along the second direction by the moving means, the exposure timing adjusting means individually adjusts the drawing surface on the drawing surface. 2. The multiple exposure drawing apparatus, wherein the drawing start positions of the exposure unit along the first direction are made to coincide with each other.
【請求項2】 前記露光タイミング調整手段が、最も露
光タイミングの早い露光ユニットを基準として他の露光
ユニットの露光タイミングを調整することを特徴とする
請求項1に記載の多重露光描画装置。
2. The multiple exposure drawing apparatus according to claim 1, wherein the exposure timing adjusting unit adjusts the exposure timing of another exposure unit with reference to the exposure unit having the earliest exposure timing.
【請求項3】 前記露光ユニットが前記第2方向に関し
てそれぞれ異なる位置に配列されることを特徴とする請
求項1に記載の多重露光描画装置。
3. The multiple-exposure drawing apparatus according to claim 1, wherein the exposure units are arranged at different positions in the second direction.
【請求項4】 個々の前記露光ユニットについて前記所
定パターンに対応した露光データを生成する露光データ
生成手段を備え、さらに前記露光タイミング調整手段
が、前記露光ユニットに与えるべき露光データを一時的
に格納するFIFO(First In First Out)メモリを有
し、このFIFOメモリに対する読出しパルスを所定時
間だけ間引くことにより露光タイミングを調整すること
を特徴とする請求項3に記載の多重露光描画装置。
4. An exposure data generation unit for generating exposure data corresponding to the predetermined pattern for each of the exposure units, and the exposure timing adjustment unit temporarily stores the exposure data to be given to the exposure unit. 4. A multiple exposure drawing apparatus according to claim 3, further comprising a FIFO (First In First Out) memory for adjusting the exposure timing by thinning out a read pulse for the FIFO memory for a predetermined time.
【請求項5】 前記FIFOメモリが前記露光ユニット
の数と同じ数だけ設けられることを特徴とする請求項4
に記載の多重露光描画装置。
5. The number of the FIFO memories provided is the same as the number of the exposure units.
The multiple-exposure drawing apparatus according to item 1.
【請求項6】 前記露光ユニットが2列の千鳥格子状に
配列され、第1列目の露光ユニットが第2列目の露光ユ
ニットに対して前記描画面の相対移動方向に関して所定
距離だけ後方に離れて配置されることを特徴とする請求
項1に記載の多重露光描画装置。
6. The exposure units are arranged in a two-row zigzag pattern, and the first-row exposure units are behind a second-row exposure unit by a predetermined distance in a relative movement direction of the drawing surface. The multiple-exposure drawing apparatus according to claim 1, wherein the multiple-exposure drawing apparatus is arranged separately.
【請求項7】 前記所定パターンに対応するラスタデー
タを生成するラスタデータ生成手段を備え、さらに前記
タイミング調整手段が、前記所定パターンのラスタデー
タのうち少なくとも前記所定距離に相当する長さのパタ
ーンのラスタデータを一時的に格納するバッファメモリ
を有し、前記第1列目の露光ユニットに与えるべき露光
データを前記ラスタデータ生成手段から直接得られるラ
スタデータに基づいて生成すると共に前記第2列目の露
光ユニットに与えるべき露光データを前記バッファメモ
リを介して得られるラスタデータに基づいて生成するこ
とにより露光タイミングを調整することを特徴とする請
求項6に記載の多重露光描画装置。
7. A raster data generating means for generating raster data corresponding to the predetermined pattern is provided, and the timing adjusting means further includes a pattern having a length corresponding to at least the predetermined distance of the raster data of the predetermined pattern. A buffer memory for temporarily storing raster data is provided, and the exposure data to be given to the exposure unit in the first column is generated based on the raster data directly obtained from the raster data generating means, and the second column is also generated. 7. The multiple-exposure drawing apparatus according to claim 6, wherein the exposure timing is adjusted by generating the exposure data to be given to the exposure unit based on the raster data obtained via the buffer memory.
【請求項8】 マトリクス状に配置された多数の変調素
子を持つ露光ユニットを用いて所定のパターンを描画面
上に多重露光により描画する多重露光描画装置であっ
て、 複数の前記露光ユニットを第1方向に沿って2列の千鳥
格子状に配列し、かつ第1列目の露光ユニットを第2列
目の露光ユニットに対して前記第1方向とは異なる第2
方向に関して所定距離だけ後方に離れて配置する配列手
段と、 前記第2方向に沿って前記描画面を前記露光ユニットに
対して相対移動させる移動手段と、 前記第1列目または第2列目の露光ユニットの少なくと
も一方の露光タイミングを調整する露光タイミング調整
手段とを備え、 前記移動手段によって前記露光ユニットに対して前記描
画面を前記第2方向に沿って相対移動させた時に、前記
露光タイミング調整手段によって、前記描画面上におい
て第1列目および第2列目の前記露光ユニットによる前
記第1方向に沿う描画開始位置を一致させることを特徴
とする多重露光描画装置。
8. A multiple-exposure drawing apparatus that draws a predetermined pattern on a drawing surface by multiple exposure using an exposure unit having a large number of modulation elements arranged in a matrix, wherein a plurality of the exposure units are provided. A second row of zigzag patterns arranged in a zigzag pattern along the first direction, wherein the first row exposure unit is different from the first row exposure unit in the first direction.
Arranging means arranged rearward by a predetermined distance with respect to the direction, moving means for moving the drawing surface relative to the exposure unit along the second direction, and the first row or the second row. Exposure timing adjusting means for adjusting the exposure timing of at least one of the exposure units, and the exposure timing adjusting means when the drawing surface is moved relative to the exposure unit along the second direction by the moving means. A multiple-exposure drawing apparatus, characterized in that the drawing start positions of the exposure units in the first and second rows on the drawing surface are aligned in the first direction by means.
【請求項9】 前記露光タイミング調整手段が、前記第
2列目の露光ユニットの露光タイミングを、前記第1列
目および第2列目の露光ユニット間の前記第2方向にお
ける所定距離を前記描画面が進む時間だけ遅らせること
を特徴とする請求項8に記載の多重露光描画装置。
9. The exposure timing adjusting means draws the exposure timing of the exposure unit in the second row and the predetermined distance in the second direction between the exposure units in the first and second rows. 9. The multiple-exposure drawing apparatus according to claim 8, wherein the time for advancing the surface is delayed.
【請求項10】 マトリクス状に配置された多数の変調
素子を有し、第1方向に沿って配列された複数個の露光
ユニットを用いて、所定のパターンを描画面上に多重露
光により描画する多重露光描画方法であって、 前記第1方向とは異なる第2方向に沿って前記描画面を
相対移動させる時に、個々の前記露光ユニットの露光タ
イミングを調整することによって、前記第1方向に沿う
描画開始位置を一致させることを特徴とする多重露光描
画方法。
10. A predetermined pattern is drawn on a drawing surface by multiple exposure using a plurality of exposure units having a large number of modulators arranged in a matrix and arranged in the first direction. A multiple-exposure drawing method, wherein when the drawing surface is relatively moved along a second direction different from the first direction, the exposure timing of each of the exposure units is adjusted so as to follow the first direction. A multiple-exposure drawing method, characterized in that the drawing start positions are matched.
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