JP2003107109A - 光電流センサ - Google Patents

光電流センサ

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JP2003107109A
JP2003107109A JP2001300643A JP2001300643A JP2003107109A JP 2003107109 A JP2003107109 A JP 2003107109A JP 2001300643 A JP2001300643 A JP 2001300643A JP 2001300643 A JP2001300643 A JP 2001300643A JP 2003107109 A JP2003107109 A JP 2003107109A
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unit
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JP2001300643A
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English (en)
Inventor
Koji Kasai
孝二 笠井
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光磁界センサを用い電流計測を行う光電流セ
ンサにおいて、容易な回路方式及び信号処理方式により
安価且つ高性能な光電流センサを提供する。 【解決手段】 本発明に係る光電流センサは、光変調信
号を受光し電気信号処理を行うことで被測定導電体に流
れる電流を計測し電流値を演算算出する電気信号処理回
路において、少なくとも2種類以上の波形処理回路部を
有し、それぞれの波形処理回路部の出力を演算処理する
ことで被測定導電体に流れる電流値を検出するよう構成
した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ファラデー効果を
有する磁気光学素子を用いて磁界を検出し、その磁界強
度を測定する光磁界センサを用いて被測定物に流れる電
流を測定する光電流センサに関するものであり、特に光
磁界センサからの光変調信号を電気信号に変換し、電気
信号処理を行うことで安価かつ高精度に電流を測定する
ことのできる電気信号処理回路を具備した光電流センサ
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、光ファイバ内の光の透過能力や透
過の割合の変化等により計測する光フィバセンサが各種
分野において用いられてきている。特に電力分野におい
ては小型軽量、かつ高絶縁で高精度計測が可能であるた
め、光ファイバセンサの需要が高まってきている。光フ
ァイバセンサの中でも、特に、磁気光学素子のファラデ
ー効果を応用した光方式磁界センサによる光方式電流セ
ンサが実用化されつつある。以下の説明において、上記
の光方式磁界センサによる光方式電流センサを単に光電
流センサと呼ぶ。
【0003】以下、従来の光電流センサについて説明す
る。
【0004】図7は、従来の光電流センサの構成を示す
構成図である。図6に示した従来の光電流センサは、一
部に空隙部分102aを有する環状の鉄心コア102
と、磁界を検知することのできる光磁界センサ103
と、光磁界センサ103からの光信号を電気信号に変換
し種々の演算処理を行う電気信号処理回路100とを具
備している。
【0005】鉄心コア102の貫通孔102bには、被
測定物である導電体101が設置されている。光磁界セ
ンサ103と信号処理回路100は、入力光ファイバ1
04aと出力光ファイバ104bとからなる2芯光ファ
イバケーブル104とにより光伝送できるよう接続され
ている。鉄心コア102は、導電体101に流れる被測
定電流により発生する導電体101の周りの磁界を効率
よく集束させるために軟磁性材料を用いて形成されてい
る。
【0006】光磁界センサ103は鉄心コア102の空
隙部分102aに配置され、この空隙部分102aに発
生する磁界を検知する。信号処理回路100は、発光素
子例えばLED等より構成される発光部100bと、受
光量を電気信号に変換する受光素子例えばフォトダイオ
ード等より構成される受光部100aと、受光部100
aから得られる受光信号より変調度を抽出する変調度抽
出部100cと、変調度抽出部100cより出力された
変調信号を一定の増幅度で増幅する増幅部100dと、
増幅部100dにより増幅された変調信号をアナログ/
デジタル変換するAD変換部100eと、AD変換部1
00eにより変換されたデジタル信号を演算処理する演
算部100fを具備している。また、信号処理回路10
0は、光磁界センサ103により検出された光信号を電
気信号に変換して、被測定電流値を表示出力する表示出
力部(図示なし)を有することもある。
【0007】上記のように構成された従来の光電流セン
サにおいて、信号処理回路100の発光部100bから
出力された光は、入力光ファイバ104aを通過して、
光磁界センサ103に入力される。光磁界センサ103
に入力された光は、磁界強度に比例して光の強度変調を
受ける。強度変調された光は、出力光ファイバ104b
に導かれ、信号処理回路100の受光部100aで受光
される。受光部100aより出力された受光信号Epは
変調度抽出部100cによりバイポーラ信号である変調
信号として増幅部100dに出力される。
【0008】周知の通りAD変換部100eは増幅部1
00dにより増幅された変調信号Emをアナログ/デジ
タル変換(以後、同変換をAD変換と言う)し演算部1
00fに出力する。演算部100fは予め構成された制
御・処理ルーチンに基づき信号処理を行うことで導電体
101に流れる電流値を算出する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来の光電流センサに
おける電気信号処理回路100においては、変調度抽出
部100cから出力された変調信号Emは、増幅部10
0dにより任意の増幅度で増幅された後、バイポーラ信
号としてAD変換部100eに入力される。周知の通り
AD変換部100eにおいては、バイポーラ信号として
の変調信号EmをAD変換する必要が有るため、従来の
AD変換部100e及び同変換部100eにおいて用い
るAD変換器には以下のような特徴を有する必要が生じ
る。
【0010】AD変換器の入力電圧仕様は交流電圧のバ
イポーラ信号であり広電圧範囲となる。よって計測分解
能を向上させるためには、AD変換器のAD分解能を高
分解能化させる必要がある。もしくは広電圧範囲にしな
い場合は、AD変換器の前段に減衰回路部を設け変調信
号Emの信号レベルを減衰される必要がある。が当然信
号レベルが低くなるため高精度な減衰回路部を用いる必
要が生じる。いずれの方式もAD変換部100eにおい
て高精度な機能部品の採用、もしくは複雑且つ高性能な
回路結成を採用する必要が生じ、回路部が複雑になるほ
か、何よりも高価な構成となり光電流センサ自体が非常
に高価なものになってしまう。
【0011】本発明は上記従来技術における問題を解決
することを課題としている。本発明では安価な構成で光
電流センサを構成し、かつ短絡事故等の瞬時現象でも計
測が可能な光電流センサを構成することを目的とするも
のである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る光電流センサは、光磁界センサから得
られる光変調信号を受光し電気信号処理を行うことで、
被測定導電体に流れる電流を計測し電流値を演算算出す
る電気信号処理回路において、少なくとも2種類以上の
波形処理回路部を有し、それぞれの波形処理回路部の出
力を演算処理することで被測定導電体に流れる電流値を
検出するように構成したものである。
【0013】また、本発明に係わる光電流センサは、前
記波形処理回路部のうち平均値算出回路部を含んだ構成
である。
【0014】また、本発明に係わる光電流センサは、前
記波形処理回路部が平均値算出回路部と全波整流回路部
との組合せ構成である。
【0015】また、本発明に係わる光電流センサは、電
流計測値に対し2種類以上の設定値を設けると共に、設
定値条件を満たした場合の計測出力値を、全波整流回路
部より構成された波形処理回路部の演算処理値を用いた
構成としたものである。
【0016】上記構成の光電流センサによると、定常時
には光電流センサの特長である小型かつ高絶縁で高精度
な電流計測が行えると共に、被測定導電体に流れる電流
の瞬時的な状態変化時の電流計測にも対応可能であり、
よって容易且つ安価な構成で高精度計測かつ状態変化時
の瞬時的な電流計測も可能な光電流センサを提供するも
のである。
【0017】また、本発明に係わる光電流センサは、前
記計測出力値に対し平均値算出回路部の時定数に応じ、
所定時限経過後は平均値算出回路部の演算処理値を用い
るように構成したものである。
【0018】上記構成によると、被測定導電体に流れる
電流の状態変化を検出すると共に、状態変化後の電流計
測においても高精度に計測が行えるよう構成したもので
ある。
【0019】本発明のデータ管理システムは、光磁界セ
ンサから得られる光変調信号を受光し電気信号処理を行
うことで、被測定導電体に流れる電流を計測し電流値を
演算算出する電気信号処理回路において、少なくとも2
種類以上の波形処理回路部の出力を演算処理することで
被測定導電体に流れる電流値を検出するようにしたこと
を特徴とする光電流センサと、前記光電流センサが検出
した電流値を所定時間毎に記録し、集計可能なデータ子
局と、前記データ子局と有線または無線によって通信が
可能であって、前記子局から送信されたデータを集計
し、集計結果を子局に返信するデータ親局からなる。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明に係わる光電流センサの一
実施の形態は、光磁界センサからの光変調信号を受光す
ると共に同変調信号を電気信号に変換し、変換後の電気
信号を演算算出することで被測定導電体に流れる電流の
電流値を演算算出する電気信号処理回路において、平均
値算出回路部と全波整流回路部の2種類の波形処理回路
部を有し、それぞれの波形処理回路部から出力された出
力信号を、一定の処理ルーチンに基づき演算処理するこ
とで被測定導電体に流れる電流値を検出するように構成
したものである。
【0021】以下、本発明に係る光電流センサの実施例
について添付の図面を参照しつつ説明する。
【0022】《第1の実施例》以下、本発明に係る第1
の実施例の光電流センサについて、図1を用いて説明す
る。なお、従来例と同じ構成要素には同一番号を付し説
明を行う。
【0023】図1は、本実施例の光電流センサの構成を
示す構成図である。図1に示す光電流センサは、一部に
空隙部分102aを有する環状の鉄心コア102と、磁
界を検知することのできる光磁界センサ103と、光磁
界センサ103からの光信号を電気信号に変換し種々の
演算処理を行う電気信号処理回路108と、光磁界セン
サ103と電気信号処理回路108の間に有って光信号
を伝送する光ファイバケーブル104とを具備してい
る。
【0024】鉄心コア102の貫通孔102bには、被
測定物である導電体101が設置されている。この鉄心
コア102には、導電体101に流れる被測定電流によ
り発生する導電体101の周りの磁界を効率よく集束さ
せるため軟磁性材料を用いて形成されている。光ファイ
バケーブル104は光磁界センサ103と信号処理回路
108の間に有って、入力光ファイバ104aと出力光
ファイバ104bとからなる2芯光ファイバケーブルに
より構成されている。
【0025】光磁界センサ103は鉄心コア102の空
隙部分102aに配置され、この空隙部分102aに発
生する磁界を検知する。
【0026】信号処理回路108は、光磁界センサ10
3に光量を供給する発光素子例えばLED等より構成さ
れる発光部100bと、受光量を電気信号に変換する受
光素子、例えばフォトダイオード等より構成される受光
部100aと、受光部100aから得られる出力信号よ
り変調度を抽出する変調度抽出部100cと、変調度抽
出部100cより出力された出力信号(以降、変調信号
Emと言う)を一定の増幅度で増幅する増幅部100d
と、増幅部100dにより増幅された変調信号を波形整
形し全波整流する波形処理部L105と、波形処理部L
105の出力を入力とし同入力信号の平均値を検出する
波形処理部A106と、波形処理部L105及び波形処
理部A106により波形整形されたそれぞれの変調信号
をアナログ/デジタル変換するAD変換部107aと、
AD変換部107aにより変換されたデジタル信号を演
算処理する演算部107bを具備している。尚、本実施
例では演算部107bにAD変換部107aを内蔵する
演算処理部107を用いている。また、信号処理回路1
08は、測定電流値である演算処理の結果を表示出力す
る表示出力部(図示なし)を有する。
【0027】上記のように構成された本発明における光
電流センサにおいて、信号処理回路108の発光部10
0bから導出された光は、入力光ファイバ104aを通
過して、光磁界センサ103に入力される。光磁界セン
サ103に入力された光は、磁界強度に比例して光の強
度変調を受ける。強度変調された光は、出力光ファイバ
104bに導かれ、信号処理回路108の受光部100
aで「光/電気」変換される。
【0028】受光部100aより出力された受光信号E
pは、一般に下記1式により表される。
【0029】
【式1】
【0030】ここで、κは受光素子の光から電気への変
換効率。すなわち電流変換効率を示す。Pinは受光部の
受光量。Poutは発光部からの発光量αは光経路全般の
透過光量損失量Mは光磁界センサの感度を示し印加磁界
の大きさに比例する。
【0031】変調度抽出部100cは入力された受光信
号Epより図2に示す構成により、変調信号Emを抽出
し増幅部100dに出力する。変調度抽出部100c
は、受光信号Epより直流成分Edを抽出するDCフィ
ルタ部101aと、受光信号Epから直流成分Edを減
算し交流信号Eaを抽出する減算部101bと、減算部
101bからの交流信号EaをDCフィルタ部101a
からの出力である直流成分Edにより除算する除算部1
01cとにより構成されている。
【0032】DCフィルタ部101aより出力される直
流信号Edは1式に示す「κ×α×Pout」を計測する
ものであり、減算部101bより出力される交流信号E
aは同式の「κ×α×Pout×M」を計測するものであ
る。そして、除算部101cにおいて「交流信号Ea÷
直流信号Ed」を実行することにより変調信号Emを抽
出する。1式と照らし合わせると、変調度抽出部100
cは下記式を実行することになり、変調信号Em[Em
=Ea÷(κ×α×Pout)]のバイポーラ信号として
出力される。
【0033】上記に基づき変調度抽出部100cは、入
力された受光信号Epを変調信号Emとして増幅部10
0dに出力する。増幅部100dからの出力信号は、バ
イポーラ信号として出力されるため波形処理部L105
により全波整流し、その出力を変調信号Em1としてA
D変換器107aに出力すると共に波形処理部A106
に同時出力する。ここで波形処理部L105は、周知の
通り演算増幅器及びダイオード等を用い波形整形機能を
構成する。また波形処理部A106は全波整流された変
調信号Em1を積分回路を用い平滑化された平均値出力
が得られるよう構成し、その出力を変調信号Em2とし
てAD変換器107aに同様に出力する。図3に波形処
理部L105及び波形処理部A106の入出力波形関係
を示しておく。
【0034】AD変換部107aは波形処理部L105
及び波形処理部A106により波形整形された2種類の
変調信号Em1及びEm2をAD変換し演算部107b
に出力する。演算部107bは予め構成された制御・処
理ルーチンに基づき2種類に波形整形された変調信号を
信号処理することで導電体101に流れる電流値を算出
する。
【0035】このように変調度抽出部100cで検出さ
れた変調信号Emを2種類の波形処理部にて平滑化され
た平均値出力及び全波整流出力の2種類に波形整形し、
波形整形されたそれぞれの変調信号を信号処理するよう
構成することで、AD変換器の入力電圧信号をユニポ
ーラ信号として処理することが可能。高精度計測を求
める計測においても平滑化された平均値出力の演算値を
用いることで、AD変換器に求める計測分解能を高分解
能化させる必要がなくなる。
【0036】よって、AD変換器に汎用化された同機能
部品を用いることが可能であり、また課題に記すように
AD変換器の前段にバイポーラ信号である変調信号の信
号レベルを減衰させる高精度な減衰回路部を用いる必要
も無く、よってAD変換部を複雑化させることなく、か
つ安価に同機能ブロックを構成することが可能になる。
【0037】さらに、最近の演算処理装置においては汎
用CPUにより高性能な演算処理を実現すると共に、装
置構成に必要なAD変換器等の周辺モジュールをCPU
の内部に構成したものが多く市場に提供されている。本
構成のCPUに内蔵されるAD変換器は一般にユニポー
ラ仕様で分解能10ビット精度のものが多く、本実施例
による構成を用いることで、CPU内蔵AD変換器の使
用が可能となり、高速処理を実現するほか、より低コス
トに装置を構成することが可能になる。
【0038】尚、上記効果からも分かる通り波形処理部
A106に用いる機能は平滑化された信号であればよく
例えば実効値計測機能であってもよい。
【0039】《第2の実施例》以下、本発明に係る第2
の実施例の光電流センサについて図4及び図5を用いて
説明する。
【0040】図4は、第1の実施例により導出された波
形処理部L105による変調信号Em1及び波形処理部
A106による変調信号Em2より演算部107bにお
ける演算処理構成を示すものである。
【0041】本実施例の光電流センサは1周期をn点サ
ンプリングする構成とし、1周期毎にサンプリングデー
タに基づき電流値を算出する。ここで、本実施例におけ
る1周期n点サンプリングの制御を演算サイクルと言
う。そして本演算サイクルに基づきN演算サイクル毎の
算出値からN演算サイクルの平均値を導電体101に流
れる電流値として表示出力する構成とした。ここで1周
期とは商用電源の周波数によるものであり、50Hzな
いしは60Hzの1サイクルを示すものである。またサ
ンプリングデータはもちろん実施例1で導出した変調信
号Em1及び変調信号Em2である。
【0042】図4の演算処理構成図を基に同処理構成部
を説明する。同処理構成部は、実施例1により検出され
た変調信号Em1及び変調信号Em2より1周期毎のデ
ータをサンプリングするデータサンプリング部11と、
同サンプリング部11のサンプリングデータに基づき1
演算サイクル毎の電流値を算出する算出部12と、算出
部12の演算値を保存する演算値保存部15と、予め設
定された設定値1及び設定値2を保存しておく設定値保
存部13と、前述の演算算出部12の演算値と設定値保
存部13の各設定値を比較し電流急変を判定する比較部
14aと、比較部14aの結果によりカウンタ動作する
カウンタ部16と、演算サイクルをNカウントする演算
サイクルカウンタ部17と、演算サイクルカウンタ部1
7のカウンタ値に基づきN演算サイクル分の平均値を算
出する平均値算出部18と、平均値算出部18の算出値
と前述の設定値保存部13の各設定値とを比較する比較
部14bと、カウンタ部16及び比較部14bの結果に
より表示出力値をセットする出力データセット部19
と、時限をカウントする時限カウンタ部20と、時限カ
ウンタ部20の結果により表示出力値の制御を行う表示
出力部21とにより構成されている。
【0043】次に同構成部の動作及び制御・処理内容を
図5の処理フロー図と共に説明する。図5の処理フロー
におけるブロックF1は、前述の構成図で示すデータサ
ンプリング部11の動作を示すものであり、データサン
プリング及び演算サイクルの終了を判定しサンプリング
回数により1演算サイクルの終了を判定する。図5にお
けるF2は図4における演算値算出部12の動作を示す
ものであり、変調信号Em1及び変調信号Em2のそれ
ぞれに対し1演算サイクル毎に演算処理を実行し、1演
算サイクル毎の電流値の算出を行う。次に図4のデータ
比較部14aは、導電体101に流れる電流状態を検出
するブロックであり、算出部12により算出された変調
信号Em1による演算値を2種類の電流急変設定値と比
較判定し電流急変状態を検出するもので、下記判定結果
により電流急変発生とした。
【0044】変調信号Em1による演算値が設定値1
以上 変調信号Em1による演算値が1演算サイクル前値に
対し、一定量以上の変化発生 図5のF3に示す処理フローにて本発明を行う。
【0045】ここで設定値1は過電流要素を考慮した導
電体の電流容量値。本例では800Aとした。また設定
値2は断線等を想定した1演算サイクル前値との変化量
割合。本例では±50%とした。なお、変化量割合の場
合は一旦、同変化量が発生した場合は次演算サイクル以
降も変化量発生前値との比較を行い計測するものであ
る。
【0046】ここでデータ比較部14aにより電流急変
を検出した場合について説明する。図4に示すカウンタ
部16は、図5に示す処理フロー図のF4を判定するブ
ロックであり、図4のデータ比較部14aにおいて判定
された電流急変に基づき、電流急変が演算サイクルにお
いて連続発生した場合はカウンタを更新する構成として
おり、D演算サイクル以上連続して発生した場合は、D
演算サイクル分の平均値を算出し導電体101に流れる
電流値として図4に示す出力データセット部19に出力
値をセットする。
【0047】本実施例では短絡事故時の故障継続時限等
を想定しD演算サイクルを3演算サイクルとしている。
【0048】次に、電流急変の発生がない定常状態と認
識した場合について説明する。図4の演算サイクルカウ
ンタ部17及び平均値算出部18は、導電体101に流
れる電流値としてN演算サイクル分の演算値より平均値
を算出する制御を行っているもので、カウンタ部17に
より演算サイクルをカウントし平均値算出部18により
N演算サイクル分の平均値を算出する。図5のF5部が
その処理フローを示すものである。同処理に基づき算出
された平均値データは、再度演算データ比較部14bに
より設定値保存部13に設定された2種類の設定値と比
較する。ここで本ブロックにおいてはデータ比較部14
aと同様に、変調信号Em1による演算値の結果が、設
定値条件を満たす場合は、変調信号Em1による平均値
の算出結果を出力データセット部19にセットする。反
対にデータ比較部14bにおいて、条件を満たさない場
合は波形処理部A106の変調信号Em2による平均値
の算出結果を出力データセット部19にセットする構成
としている。
【0049】以上の構成によると電流を計測する導電
体、例えば配電線の状態変化時でも応答性がよい計測結
果を出力することが可能であり、精度のよい電流計測が
行えると共に配電線の状態監視にも使用が可能となり、
本構成の光電流センサを3相分用意することで配電線の
監視センサにも適用することが可能である。
【0050】さらに図4に示す時限カウンタ部20は設
定可能なカウンタ部であり、本実施例においては所定時
限として表示出力時の制御用に用いるよう構成してい
る。ここで所定時限及び所定時限のカウントについて説
明を行う。
【0051】所定時限とは波形処理部A106が有する
時定数を示すものである。波形処理部A106の機能は
前述の通りであるが、機能実現のために時定数が生じて
しまい、電流計測値に遅れが生じてしまう。本実施例に
おいては前述の通り電流急変の場合は、波形処理部L1
05より得られる変調信号Em1の演算値を用い電流急
変に対応する制御を行っているが、同時限カウント後は
波形処理部A106より得られる変調信号Em2の演算
値を出力データセット部19にセットし、電流急変後に
ても計測精度向上を図るよう構成している。また所定時
限がセットされた時限カウンタ部20のカウントは、電
流急変時ないしはN演算サイクル平均値の算出値として
変調信号Em1による演算値及び算出値を出力値にセッ
トした後にカウントする構成としており、本実施例では
所定時限を表示出力タイミングに合わせ1表示出力の更
新タイミング、換言すると1表示出力間とした。本処理
フローを図5のF6及びF7以降に示している。
【0052】以上の構成によると状態変化発生時でも応
答性よく表示出力が可能であり、さらに状態変化発生後
の電流計測においても高精度に電流計測が可能になる。
【0053】次に、本実施の形態に係る光電流センサを
用いたデータ管理システムについて説明する。
【0054】図6は本発明のデータ管理システムに係る
実施の形態を示すブロック図である。符号201は高圧
線206に取り付けられた光電流センサ、符号202は
光電流センサ201に接続されるとともに、電流値を連
続して、あるいは、所定時間毎に記録し格納するととも
に日毎、週毎、1時間毎等、単位期間ごとに最大電流
値、平均電流値、最小電流値等の電流値データを抽出編
集可能なデータ子局、符号203は店舗、工場等の顧客
である。光電流センサは顧客毎に設置されても良いし、
建物毎や、複数の顧客が存在するある一定のエリア毎に
設けても良い。
【0055】符号204は通信線で、データ顧客203
と符号205で示されるデータ親局との間で情報通信を
行う。このデータ親局では各顧客毎、または、光電流セ
ンサ設置エリア毎に、電流の最大値、平均値、最小値
を、月ごと、週ごと、日ごと、または、単位時間ごと等
所定間隔ごとに集計し、通信線204を通じて、顧客に
通報する。顧客は、かかるデータを見て個別に電力管理
することが可能になる。
【0056】
【発明の効果】以上、実施例について詳細に説明したと
ころから明らかなように、本発明は次のような効果を有
する。
【0057】本発明によれば、光磁界センサから得られ
る光変調信号を受光し電気信号処理を行うことで、被測
定導電体に流れる電流を計測し電流値を演算算出する電
気信号処理回路において、少なくとも2種類以上の波形
処理回路部を有し、それぞれの波形処理回路部の出力を
演算処理することで被測定導電体に流れる電流を安価か
つ容易な構成で検出することが可能となる。
【0058】また、本発明によれば、電流計測値に対し
2種類以上の設定値を設けると共に、設定値条件を満た
した場合の計測出力値を全波整流回路部より構成された
波形処理回路部の演算処理値を用いたこと。また同計測
出力値に対し所定時限経過後は平均値算出回路部の演算
処理値を用いるようにしたことで、導電体に流れる電流
状態に応じ応答性よく更に高精度な電流計測が可能にな
る。
【0059】よって、以上の構成により光電流センサ装
置自体を容易かつ安価に構成し、さらに瞬時的な電流変
化にも対応可能な高性能な光電流センサを提供すること
が可能となる。
【0060】さらに、昨今の電力動向においては電力損
失の低減、設備利用率の均等化かつ有効活用を図った配
電線ロスのミニマム運転等のシステムが検討されている
が、そこには配電線の電流をリアルタイムに計測する装
置が必要になる。周知の通り光磁界センサを用いた光電
流センサは高絶縁・高信頼性の特長を持つ他、本構成の
光電流センサを3相構成で用いることにより、安価に配
電線監視センサを提供することが可能であり、よって同
センサを用いたシステムの普及を促進することが可能に
なる。
【0061】本発明のデータ管理システムによれば、顧
客が個別に電力管理の効率化を図ることを支援できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による光電流センサ
の構成図
【図2】本発明の第1の実施の形態による光電流センサ
に用いた変調度抽出部の構成図
【図3】本発明の第1の実施の形態による光電流センサ
に用いた波形処理部の入出力関係図
【図4】本発明の第2の実施の形態による光電流センサ
に用いた演算処理構成部の構成図
【図5】本発明の第2の実施の形態による光電流センサ
に用いた演算処理構成部の制御・処理フロー図
【図6】本発明の実施の形態におけるデータ管理システ
ムを示すブロック図
【図7】従来の光電流センサの構成を示す構成図
【符号の説明】
11 データサンプリング部 12 算出部 13 設定値保存部 14a データ比較部 14b データ比較部 15 演算保存部 16 カウンタ部 17 演算サイクルカウンタ部 18 平均値算出部 19 出力データセット部 20 時限カウンタ部 21 表示出力部 100 信号処理回路 100a 受光部 100b 発光部 100c 変調度抽出部 100d 増幅部 100e AD変換部1 100f 演算部 101 導電体 101a DCフィルタ部 101b 減算部 101c 除算部 102 ギャップ付コア 103 光磁界センサ 104 光ファイバケーブル 104a 入力光ファイバ 104b 出力光ファイバ 105 波形処理部L 106 波形処理部A 107 演算処理部 107a AD変換部 107b 演算部

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光磁界センサから得られる光変調信号を
    受光し電気信号処理を行うことで、被測定導電体に流れ
    る電流を計測し電流値を演算算出する電気信号処理回路
    において、少なくとも2種類以上の波形処理回路部を有
    し、それぞれの波形処理回路部の出力を演算処理するこ
    とで被測定導電体に流れる電流値を検出するようにした
    ことを特徴とする光電流センサ。
  2. 【請求項2】 前記波形処理回路部のうち平均値算出回
    路部を含んだ構成であることを特徴とする請求項1記載
    の光電流センサ。
  3. 【請求項3】 前記波形処理回路部が平均値算出回路部
    と全波整流回路部との組合せ構成であることを特徴とす
    る請求項1記載の光電流センサ。
  4. 【請求項4】 電流計測値に対し2種類以上の設定値を
    設けると共に、設定値条件を満たした場合の計測出力値
    を全波整流回路部より構成された波形処理回路部の演算
    処理値を用いたことを特徴とする請求項1記載の光電流
    センサ。
  5. 【請求項5】 前記計測出力値に対し所定時限経過後は
    平均値算出回路部の演算処理値を用いるようにした請求
    項4に係わる光電流センサ。
  6. 【請求項6】 光磁界センサから得られる光変調信号を
    受光し電気信号処理を行うことで、被測定導電体に流れ
    る電流を計測し電流値を演算算出する電気信号処理回路
    において、少なくとも2種類以上の波形処理回路部の出
    力を演算処理することで被測定導電体に流れる電流値を
    検出するようにしたことを特徴とする光電流センサと、
    前記光電流センサが検出した電流値を所定時間毎に記録
    し、集計可能なデータ子局と、前記データ子局と有線ま
    たは無線によって通信が可能であって、前記子局から送
    信されたデータを集計し、集計結果を子局に返信するデ
    ータ親局からなるデータ管理システム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102353825A (zh) * 2011-06-03 2012-02-15 清华大学 一种电阻采样隔离电流检测电路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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