JP2003097911A - Displacement measuring device and displacement measuring method using the same - Google Patents

Displacement measuring device and displacement measuring method using the same

Info

Publication number
JP2003097911A
JP2003097911A JP2001288397A JP2001288397A JP2003097911A JP 2003097911 A JP2003097911 A JP 2003097911A JP 2001288397 A JP2001288397 A JP 2001288397A JP 2001288397 A JP2001288397 A JP 2001288397A JP 2003097911 A JP2003097911 A JP 2003097911A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
displacement measuring
liquid crystal
lens
measuring device
focal length
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001288397A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2003097911A5 (en
Inventor
Seiichi Osawa
誠一 大澤
Shoji Kokubo
省司 小久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Citizen Watch Co Ltd
Original Assignee
Citizen Watch Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Citizen Watch Co Ltd filed Critical Citizen Watch Co Ltd
Priority to JP2001288397A priority Critical patent/JP2003097911A/en
Publication of JP2003097911A publication Critical patent/JP2003097911A/en
Publication of JP2003097911A5 publication Critical patent/JP2003097911A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a displacement measuring device employing a confocal optical system which has no movable member and can detect the position of focused focal point at a slower speed in order to improve the measurement accuracy, and provide a displacement measuring method using the displacement measuring device. SOLUTION: The displacement measuring device has a laser light source 12 emitting laser light, a beam splitter 13 transmitting or reflecting the laser light, a collimating lens 14, an object lens 15 and a detector 18 detecting the reflected light. In the displacement measuring device and the displacement measuring method using it, a liquid crystal lens 101 is disposed between the collimating lens 14 and the object lens 15.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、共焦点光学系を
採用した光学式変位測定装置に関する。詳しくは測定面
に光を投射する対物レンズと測定面までの距離を検出し
て、測定面の位置を測定する測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical displacement measuring device adopting a confocal optical system. More specifically, the present invention relates to a measuring device that measures the position of a measurement surface by detecting the distance between the objective lens that projects light onto the measurement surface and the measurement surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】共焦点光学系を採用した変位測定装置に
は、例えば特開平7−113617号公報に記載の変位
測定装置がある。特開平7−113617号公報に記載
の変位測定装置を図5に示す。
2. Description of the Related Art As a displacement measuring device adopting a confocal optical system, there is a displacement measuring device described in, for example, JP-A-7-113617. FIG. 5 shows a displacement measuring device described in Japanese Patent Laid-Open No. 7-113617.

【0003】この公報に記載の変位測定装置では、共焦
点光学系を採用しているので、レーザ光を被測定物16
に点で照射し、反射光もピンホール17aを通して検出
器(ホトダイオード18)に集光している。この共焦点
光学系では高解像力が実現され、不要散乱光を大幅に取
り除けるためコントラストの高い映像が得られる。この
共焦点光学系の特徴として、焦点位置において、明るさ
と解像力がピークになる。つまり最大輝度と合焦点位置
とが一致する。
In the displacement measuring device described in this publication, a confocal optical system is adopted, so that the laser light is emitted from the object 16 to be measured.
Is irradiated at a point, and the reflected light is also focused on the detector (photodiode 18) through the pinhole 17a. With this confocal optical system, high resolution is realized, and unnecessary scattered light can be largely removed, so that an image with high contrast can be obtained. As a feature of this confocal optical system, the brightness and the resolution are peaked at the focal position. That is, the maximum brightness and the in-focus position match.

【0004】図5において、レーザパワー制御回路11
で駆動されるレーザパワーダイオード12の出射光は、
ビームスプリッタ13と、コリメートレンズ14と対物
レンズ15とを通過して、被測定物16に投射される。
被測定物16からの反射光は対物レンズ15とコリメー
トレンズ14とを通ってビームスプリッタ13で反射し
て、光絞り部17のピンホール17aを通ってホトダイ
オード18へ入射するようになっている。
In FIG. 5, a laser power control circuit 11
The emitted light of the laser power diode 12 driven by
It passes through the beam splitter 13, the collimator lens 14, and the objective lens 15, and is projected on the DUT 16.
The reflected light from the DUT 16 passes through the objective lens 15 and the collimator lens 14, is reflected by the beam splitter 13, and enters the photodiode 18 through the pinhole 17a of the optical diaphragm 17.

【0005】音叉21の一方の先端には、対物レンズ1
5の周縁部が取り付けられている。そして音叉21の他
方の先端側の側方には、音叉21を振動させるためのソ
レノイド24が配設されている対物レンズ15は、音叉
21の振動により所定振幅で振動させられるようになっ
ている。
The objective lens 1 is attached to one end of the tuning fork 21.
The peripheral edge of 5 is attached. The objective lens 15 having a solenoid 24 for vibrating the tuning fork 21 on the side of the other end of the tuning fork 21 is made to vibrate with a predetermined amplitude by the vibration of the tuning fork 21. .

【0006】すなわち、ソレノイド24には音叉振幅制
御回路25からの制御電流が供給され、音叉振幅制御回
路25には増幅器23の出力信号が与えられて音叉21
の振幅を一定になすべく制御されるようになっている。
なお音叉21は、例えば800Hz、振幅が±0.3m
mで振動するようになっている。
That is, the control current from the tuning fork amplitude control circuit 25 is supplied to the solenoid 24, and the output signal of the amplifier 23 is applied to the tuning fork amplitude control circuit 25 to apply the tuning fork 21.
Is controlled so that the amplitude of is constant.
The tuning fork 21 has, for example, 800 Hz and an amplitude of ± 0.3 m.
It is designed to vibrate at m.

【0007】ここにおいて、対物レンズ15の振幅は、
センサ22により検出している。音叉21の振幅を検出
するセンサ22が検出した検出振幅信号は増幅器23へ
入力され、その出力信号Yは演算部20へ入力される。
Here, the amplitude of the objective lens 15 is
It is detected by the sensor 22. The detection amplitude signal detected by the sensor 22 that detects the amplitude of the tuning fork 21 is input to the amplifier 23, and the output signal Y thereof is input to the calculation unit 20.

【0008】対物レンズ15が振動することにより、対
物レンズ15と被測定物16の距離が変化し、被測定物
16に投射投射した光の合焦点が生じると、ホトダイオ
ード18の受光出力は瞬時に最大になる。ホトダイオー
ド18で光電変換した信号は増幅器19へ入力され、そ
の出力信号Xは演算部20へ入力されるようになってい
る。この変位測定装置にあっては、合焦点が生じたとき
の信号とそのときのセンサ22の信号とから、変位を測
定している。
When the objective lens 15 vibrates, the distance between the objective lens 15 and the object 16 to be measured changes, and when the light projected and projected on the object 16 to be measured is focused, the light receiving output of the photodiode 18 instantaneously. It will be maximum. The signal photoelectrically converted by the photodiode 18 is input to the amplifier 19, and its output signal X is input to the arithmetic unit 20. In this displacement measuring device, the displacement is measured from the signal when the focused point occurs and the signal of the sensor 22 at that time.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
変位測定装置は、対物レンズ15を音叉21に取り付け
振動させて、被測定物16との距離を変化させているの
で、対物レンズ15と被測定物16の変位速度を低速に
して、合焦点位置を検出することはできない。すなわ
ち、音叉21の振幅を一定にして振動させるには、固有
振動数で振動させる必要があるので、変位速度を低速に
することはできない。合焦点位置の検出をより低速でお
こなえば、さらに測定精度は向上する。
However, in the above displacement measuring apparatus, since the objective lens 15 is attached to the tuning fork 21 and vibrated to change the distance from the object 16 to be measured, the objective lens 15 and the object to be measured are changed. It is not possible to detect the in-focus position by reducing the displacement speed of the object 16. That is, in order to vibrate the tuning fork 21 with a constant amplitude, it is necessary to vibrate at the natural frequency, and therefore the displacement speed cannot be reduced. If the in-focus position is detected at a lower speed, the measurement accuracy will be further improved.

【0010】また、対物レンズ15の位置を音叉21で
変化させ、さらに音叉21の位置をセンサ22で検出
し、変位を間接的に測定しているので、誤差が生じ高精
度化に問題がある。さらに、対物レンズ15、音叉2
1、ソレノイド24、及びセンサ22と構成が複雑で装
置が大型化するとともに、可動部が多いので信頼性が問
題である。
Further, since the position of the objective lens 15 is changed by the tuning fork 21 and the position of the tuning fork 21 is detected by the sensor 22 to measure the displacement indirectly, an error occurs and there is a problem in high accuracy. . Furthermore, the objective lens 15 and the tuning fork 2
Since the structure including the solenoid 1, the solenoid 24, and the sensor 22 is complicated and the device becomes large in size, and there are many moving parts, reliability is a problem.

【0011】この発明の目的は、測定精度の向上を図る
ため、可動部がなく、且つ合焦点位置検出をより低速で
行うことのできる、共焦点光学系を採用した小型な変位
測定装置および変位測定方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a small displacement measuring device employing a confocal optical system which does not have a movable part and which can detect the in-focus position at a lower speed in order to improve the measurement accuracy. It is to provide a measuring method.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の、この発明よる変位測定装置およびその変位測定装置
を用いた変位測定方法は、下記記載の手段を採用する。
In order to achieve the above object, a displacement measuring device and a displacement measuring method using the displacement measuring device according to the present invention employ the following means.

【0013】本発明よる変位測定装置は、レーザ光を出
射するレーザ発光源と、該レーザ光を透過と反射するビ
ームスプリッタと、コリメートレンズと、対物レンズ
と、反射光を検出する検出器とを有する変位測定装置で
あって、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間
に液晶レンズを設けたことを特徴とする。
The displacement measuring device according to the present invention comprises a laser emission source for emitting a laser beam, a beam splitter for transmitting and reflecting the laser beam, a collimating lens, an objective lens, and a detector for detecting the reflected light. A displacement measuring apparatus having the above, characterized in that a liquid crystal lens is provided between the collimator lens and the objective lens.

【0014】本発明の変位測定方法は、レーザ光を出射
するレーザ発光源と、レーザ光を透過と反射するビーム
スプリッタと、コリメートレンズと、対物レンズと、反
射光を検出する検出器とを有する変位測定装置であっ
て、前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間に液
晶レンズを設けた変位測定装置を用いた変位測定方法で
あって、前記液晶レンズに第1の電圧を印加して焦点距
離を、第1の速度で所定量変動させ、前記検出器の受光
出力が最大になった焦点距離を第1の焦点距離とし、次
に、前記液晶レンズに第2の電圧を印加して、前記第1
の焦点距離近傍で、前記第1の速度より低速度の第2の
速度で焦点距離を前記液晶レンズで変動させて、前記検
出器の受光量が最大になった焦点距離を第2の焦点距離
とすることにより変位を測定することを特徴とする。
The displacement measuring method of the present invention comprises a laser emission source for emitting a laser beam, a beam splitter for transmitting and reflecting the laser beam, a collimating lens, an objective lens, and a detector for detecting the reflected light. A displacement measuring method using a displacement measuring apparatus in which a liquid crystal lens is provided between the collimator lens and the objective lens, wherein a focal length is obtained by applying a first voltage to the liquid crystal lens. By a predetermined amount at a first speed, the focal length at which the light receiving output of the detector is maximized is set as a first focal length, and then a second voltage is applied to the liquid crystal lens, First
Near the focal length, the liquid crystal lens changes the focal length at a second speed lower than the first speed, and the focal length at which the amount of light received by the detector becomes maximum is the second focal length. The feature is that the displacement is measured by

【0015】[作用]この発明による変位測定装置は、
対物レンズとコリメートレンズの間に、液晶レンズを配
置してある。ここで用いる液晶レンズとは、電圧を印加
することにより光軸と垂直方向の平面上の屈折率分布を
変化させて焦点距離を可変とするものを言い、この液晶
レンズを用いることで変位測定装置の焦点距離を変える
ことができる。
[Operation] The displacement measuring device according to the present invention is
A liquid crystal lens is arranged between the objective lens and the collimating lens. The liquid crystal lens used here is one that changes the focal length by changing the refractive index distribution on a plane perpendicular to the optical axis by applying a voltage. By using this liquid crystal lens, a displacement measuring device is used. The focal length of can be changed.

【0016】また、ここで用いる液晶レンズは、目的と
する測定精度以上に可変焦点距離の分解能をもつものを
言う。これを用いることで目的とする精度の変位測定が
非接触で行える。
The liquid crystal lens used here has a variable focal length resolution that is higher than the desired measurement accuracy. By using this, the desired displacement measurement can be performed without contact.

【0017】被測定物と対物レンズの距離と変位測定装
置の焦点距離が一致したとき変位測定装置の検出器で検
出する受光量が最大になり、そのときの焦点距離が、対
物レンズと被測定物の距離となる。この電圧印加時の焦
点距離は既知であるので、印加電圧により被測定物の距
離が分かる。
When the distance between the object to be measured and the objective lens and the focal length of the displacement measuring device match, the amount of received light detected by the detector of the displacement measuring device becomes maximum, and the focal length at that time is the objective lens and the object to be measured. It becomes the distance of things. Since the focal length at the time of applying the voltage is known, the distance of the object to be measured can be known by the applied voltage.

【0018】さらに、この発明による変位測定装置は、
液晶レンズへの印加電圧を変化させて、距離を測定して
いるので、被測定物に対して対物レンズは移動すること
なく測定できる。よって、被測定物と変位測定装置がぶ
つかる心配なく測定することができるとともに、可動部
が全くないため信頼性が向上する。
Further, the displacement measuring device according to the present invention is
Since the distance is measured by changing the voltage applied to the liquid crystal lens, the objective lens can be measured without moving with respect to the object to be measured. Therefore, the object to be measured and the displacement measuring device can be measured without a risk of collision, and the reliability is improved because there is no movable part.

【0019】さらに、液晶レンズの大きさは縦横で10
ミリメートル、厚さも数ミリメートル以下であり、コリ
メータレンズと対物レンズの間のスペースに難なく挿入
できるため、測定装置全体を小型化できる。
Further, the size of the liquid crystal lens is 10 in length and width.
Since the millimeter and the thickness are several millimeters or less, and it can be easily inserted into the space between the collimator lens and the objective lens, the entire measuring device can be downsized.

【0020】この発明による変位測定方法は、対物レン
ズとコリメートレンズの間に液晶レンズの配置し、液晶
レンズに電圧を印加することによる測定する測定装置を
用いた測定方法である。そして、この測定方法では測定
精度の向上を図り、尚かつ測定時間の増加をおさえるた
めに、測定方法である。高速でおおよその被測定物の距
離を測定し、低速で、高精度に測定する。
The displacement measuring method according to the present invention is a measuring method using a measuring device in which a liquid crystal lens is arranged between an objective lens and a collimator lens and a voltage is applied to the liquid crystal lens for measurement. This measuring method is a measuring method in order to improve the measuring accuracy and to suppress the increase of the measuring time. Measure the approximate distance of the object to be measured at high speed, and measure it at low speed with high accuracy.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の最適
な実施形態を説明する。先ず、図1に基づいて、この発
明の実施の形態における変位測定装置の構成を説明す
る。図1はこの発明の変位測定で用いる変位測定装置の
構成を模式的に示す図面である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An optimum embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, the configuration of a displacement measuring device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a drawing schematically showing a configuration of a displacement measuring device used in displacement measurement of the present invention.

【0022】図1に示すように、レーザパワー制御回路
11で制御されたレーザ発光源であるレーザダイオード
12の出射光は、ビームスプリッタ13とコリメートレ
ンズ14と液晶レンズ101と対物レンズ15とを通過
して、被測定物16に投射されるようになっている。被
測定物16からの反射光は対物レンズ15と液晶レンズ
101とコリメートレンズ14とを通ってビームスプリ
ッタ13で反射し、光絞り部17に設けられたピンホー
ル17aを通って反射光を検出する検出器であるホトダ
イオード18へ入射するようになっている。
As shown in FIG. 1, the emitted light of a laser diode 12 which is a laser emission source controlled by a laser power control circuit 11 passes through a beam splitter 13, a collimator lens 14, a liquid crystal lens 101 and an objective lens 15. Then, the object 16 to be measured is projected. The reflected light from the DUT 16 passes through the objective lens 15, the liquid crystal lens 101, and the collimator lens 14, is reflected by the beam splitter 13, and passes through the pinhole 17a provided in the optical diaphragm 17 to detect the reflected light. The light is incident on the photodiode 18, which is a detector.

【0023】図1より明らかなように、この変位測定装
置は、共焦点光学系を採用しているので、レーザ光を被
測定物16に点で照射し、反射光もピンホール17aを
通して検出器(ホトダイオード18)に集光している。
共焦点光学系では高解像力が実現され、不要散乱光を大
幅に取り除けるためコントラストの高い映像が得られ
る。そして、共焦点光学系の特徴として、焦点位置にお
いて、明るさと解像力がピークになる。つまり最大輝度
と合焦点位置とが一致する。そして、ピンホール17a
の径は、共焦点光学系を構成するのに適した径に形成し
てある。
As is clear from FIG. 1, since this displacement measuring apparatus employs a confocal optical system, laser light is applied to the object 16 to be measured at a point, and reflected light is also detected through the pinhole 17a. The light is focused on the (photodiode 18).
The confocal optical system achieves high resolution and can significantly eliminate unnecessary scattered light, resulting in a high-contrast image. Then, as a feature of the confocal optical system, the brightness and the resolving power have peaks at the focal position. That is, the maximum brightness and the in-focus position match. And the pinhole 17a
Has a diameter suitable for forming a confocal optical system.

【0024】ホトダイオード18で光電変換した信号は
増幅器19へ入力され、その出力信号は制御部103へ
入力される。この変位測定装置においては共焦点光学系
を採用しているので、合焦点が生じたときのみ強い光が
ホトダイオード18に入射するようになっている。
The signal photoelectrically converted by the photodiode 18 is input to the amplifier 19, and its output signal is input to the control unit 103. Since this displacement measuring device employs a confocal optical system, strong light is incident on the photodiode 18 only when a focal point is generated.

【0025】ここで、液晶レンズについて説明する。液
晶レンズとは、印加電圧を変化させることにより屈折率
の変化する液晶の特性を利用した焦点距離の可変なレン
ズである。液晶レンズの一例を図2によって説明する
と、液晶レンズ31は透明基板で形成された球面凹レン
ズ32と同じく透明基板からなる平板ガラス33とを互
いに対向させ、その対向面にそれぞれ透明電極層35お
よび36を設け、これをスペーサ34を介して接着剤で
貼り合わせたときに形成される空間に液晶37を封入し
て構成される。
Here, the liquid crystal lens will be described. The liquid crystal lens is a lens having a variable focal length that utilizes the characteristics of liquid crystal whose refractive index changes by changing the applied voltage. An example of the liquid crystal lens will be described with reference to FIG. 2. In the liquid crystal lens 31, a spherical concave lens 32 formed of a transparent substrate and a flat glass plate 33 also formed of a transparent substrate are opposed to each other, and transparent electrode layers 35 and 36 are provided on the opposing surfaces, respectively. Is provided, and the liquid crystal 37 is enclosed in a space formed when these are bonded together with an adhesive via the spacer 34.

【0026】特定の方向に液晶分子が揃うように両透明
電極層35,36の液晶37に接する側には配向処理が
施されており、図2ではホモジニアス配向にしてある。
この液晶レンズ31に電圧を印加すると液晶レンズ31
中の液晶37の分子は電界方向に分子の長軸方向を揃え
るように回転する。その結果、屈折率を変えることがで
きる。
Alignment treatment is applied to the sides of the two transparent electrode layers 35 and 36 which are in contact with the liquid crystal 37 so that the liquid crystal molecules are aligned in a specific direction, and in FIG.
When a voltage is applied to the liquid crystal lens 31, the liquid crystal lens 31
The molecules of the liquid crystal 37 inside rotate so as to align the major axis direction of the molecules with the direction of the electric field. As a result, the refractive index can be changed.

【0027】図1において、液晶レンズ101は、制御
部103からの指令信号により、焦点距離を変える。す
なわち、制御部103は液晶レンズ制御回路102を介
して指示した焦点距離に対応する印加電圧を液晶レンズ
101に印加する。そして、対物レンズ15と被測定物
16の距離と、制御部103が指示した焦点距離が一致
すると、合焦点になり、強い光がホトダイオード18に
入射し増幅器19へ入力する
In FIG. 1, the liquid crystal lens 101 changes the focal length according to a command signal from the control unit 103. That is, the control unit 103 applies the applied voltage corresponding to the focal length instructed via the liquid crystal lens control circuit 102 to the liquid crystal lens 101. Then, when the distance between the objective lens 15 and the DUT 16 and the focal length instructed by the control unit 103 coincide with each other, the focal point is achieved, and strong light enters the photodiode 18 and is input to the amplifier 19.

【0028】この発明による変位測定装置は、対物レン
ズ15とコリメートレンズ14の間に、液晶レンズ10
1を配置してある。そして、液晶レンズ101の液晶3
7に電圧を印加することにより液晶37の屈折率を変化
させて、変位測定装置の焦点距離を変えることができ
る。
In the displacement measuring device according to the present invention, the liquid crystal lens 10 is provided between the objective lens 15 and the collimator lens 14.
1 is arranged. Then, the liquid crystal 3 of the liquid crystal lens 101
By applying a voltage to 7, the refractive index of the liquid crystal 37 can be changed to change the focal length of the displacement measuring device.

【0029】このことにより、被測定物16と対物レン
ズ15の距離と変位測定装置の焦点距離が一致したとき
変位測定装置の検出器で検出する受光量が最大になり、
そのときの焦点距離が、対物レンズ15と被測定物16
の距離となる。この電圧印加時の焦点距離は既知である
ので、印加電圧により被測定物16の距離が分かる。
As a result, when the distance between the object to be measured 16 and the objective lens 15 and the focal length of the displacement measuring device coincide, the amount of light received detected by the detector of the displacement measuring device becomes maximum,
The focal length at that time is the objective lens 15 and the object 16 to be measured.
It becomes the distance. Since the focal length when this voltage is applied is known, the distance of the DUT 16 can be known from the applied voltage.

【0030】この発明による変位測定装置は、液晶レン
ズ101への印加電圧を変化させて距離を測定している
ので、被測定物16に対して対物レンズ15は移動する
ことなく測定できる。よって、被測定物16と変位測定
装置がぶつかる心配なく測定することができる。
Since the displacement measuring apparatus according to the present invention measures the distance by changing the voltage applied to the liquid crystal lens 101, the objective lens 15 can be measured without moving with respect to the DUT 16. Therefore, it is possible to perform the measurement without the risk of the object to be measured 16 and the displacement measuring device colliding with each other.

【0031】次にこのように構成した、この発明の変位
測定装置の動作を説明する。レーザパワー制御回路11
からレーザダイオード12に駆動電流を供給するとレー
ザダイオード12は、レーザ光を出射する。この出射光
はビームスプリッタ13、コリメータレンズ14、液晶
レンズ101及び対物レンズ15を通って被測定物16
へ投射される。被測定物16で反射した反射光は対物レ
ンズ15、液晶レンズ101及びコリメートレンズ14
を通ってビームスプリッタ13で反射して光絞り部17
側へ投射され、ピンホール17aを透過した光のみがホ
トダイオード18へ入射する。
Next, the operation of the displacement measuring device of the present invention thus constructed will be described. Laser power control circuit 11
When a drive current is supplied to the laser diode 12 from the laser diode 12, the laser diode 12 emits laser light. The emitted light passes through the beam splitter 13, the collimator lens 14, the liquid crystal lens 101, and the objective lens 15, and the DUT 16 is measured.
Is projected to. The reflected light reflected by the DUT 16 is the objective lens 15, the liquid crystal lens 101, and the collimator lens 14.
It is reflected by the beam splitter 13 through the optical diaphragm 17
Only the light projected to the side and transmitted through the pinhole 17a is incident on the photodiode 18.

【0032】この発明による変位測定装置の構成は共焦
点光学系を採用しているので、最大輝度と合焦点位置と
が一致する。つまり、焦点が合っている状態には、光の
大部分がピンホール17aを通過するが、焦点が合って
いない状態では、ピンホール17aを通過する光量が激
減する。
Since the configuration of the displacement measuring device according to the present invention employs the confocal optical system, the maximum brightness and the in-focus position match. That is, most of the light passes through the pinhole 17a in the focused state, but the amount of light passing through the pinhole 17a decreases drastically in the unfocused state.

【0033】レーザ光を被測定物16に点で照射し、反
射光もピンホール17aを通して点で検出器であるホト
ダイオード18に集光している。このため不要散乱光を
大幅に取り除ける。
Laser light is applied to the object 16 to be measured at a point, and the reflected light is also focused on the photodiode 18, which is a detector, at a point through the pinhole 17a. Therefore, unnecessary scattered light can be largely removed.

【0034】この発明で用いる変位測定装置は、液晶レ
ンズ101により、焦点距離は変えることができる。そ
して、被測定物16と対物レンズ15の距離と焦点距離
が一致したとき、すなわち被測定物16に投射した光の
合焦点が被測定物16に生じると、ホトダイオード18
の受光出力は瞬時に最大となり、この受光出力に応じた
信号が増幅器19へ入力され、増幅器19から出力信号
が出力され制御部へ入力される。
In the displacement measuring device used in the present invention, the focal length can be changed by the liquid crystal lens 101. Then, when the distance between the DUT 16 and the objective lens 15 and the focal length match, that is, when the focal point of the light projected on the DUT 16 occurs on the DUT 16, the photodiode 18
The light-receiving output of is instantly maximized, a signal corresponding to this light-receiving output is input to the amplifier 19, and an output signal is output from the amplifier 19 and input to the control unit.

【0035】次に、この発明による変位測定方法につい
て説明する。図3はこの測定方法を説明するための図で
ある。例えば、測定範囲が±0.3mmの変位測定装置
を使った場合の、この変位測定方法の使用方法を説明す
る。
Next, the displacement measuring method according to the present invention will be described. FIG. 3 is a diagram for explaining this measuring method. For example, a method of using this displacement measuring method when a displacement measuring device having a measuring range of ± 0.3 mm is used will be described.

【0036】測定範囲が±0.3mmの変位測定装置は
液晶レンズ101により、焦点距離を基準位置より±
0.3mmの範囲で変化させることができる。図3にお
いて位置201が−0.3mmの位置を示し、位置20
2が+0.3mmの位置を示している。
The displacement measuring device having a measuring range of ± 0.3 mm uses the liquid crystal lens 101 to adjust the focal length from the reference position by ±.
It can be changed in the range of 0.3 mm. In FIG. 3, a position 201 indicates a position of −0.3 mm, and a position 20
2 indicates a position of +0.3 mm.

【0037】先ず、全測定範囲の−0.3mm(図3の
位置201)から+0.3mm(図3の202)まで、
焦点距離を変化させる印加電圧を液晶レンズ101に印
加する。このときの印加電圧の印加時間を例えば0.1
秒として、このときの電圧印加速度を第1の印加速度と
する。
First, from -0.3 mm (position 201 in FIG. 3) to +0.3 mm (202 in FIG. 3) of the entire measurement range,
An applied voltage that changes the focal length is applied to the liquid crystal lens 101. The application time of the applied voltage at this time is, for example, 0.1
In seconds, the voltage application rate at this time is the first application rate.

【0038】そして、ホトダイオード18の受光出力が
瞬時に最大になった焦点距離を求める。その焦点距離を
P1とする。このときの、焦点距離P1には、液晶等の
応答速度の関係で誤差を含んでいる。よってより精度よ
く測定するために、次に、P1の近傍たとえば、(P1
−0.03)mmから(P1+0.03)mmまでを第
1の速度より例えば10倍遅い第2の電圧印加速度で変
化させホトダイオード18の受光出力が瞬時に最大にな
った焦点距離を求める。その焦点距離をP2とする。
Then, the focal length at which the light receiving output of the photodiode 18 instantly becomes maximum is obtained. The focal length is P1. At this time, the focal length P1 includes an error due to the response speed of the liquid crystal or the like. Therefore, in order to perform the measurement with higher accuracy, next, for example, (P1
From -0.03) mm to (P1 + 0.03) mm is changed at a second voltage application speed which is, for example, 10 times slower than the first speed, and the focal length at which the light receiving output of the photodiode 18 instantly becomes maximum is obtained. The focal length is P2.

【0039】さらに、次にP2の近傍たとえば(P2−
0.003)mmから(P2+0.003)mmまで前
記第2の速度より10倍遅い第3の電圧印加速度で変化
させてホトダイオード18の受光出力が瞬時に最大にな
った焦点距離を求めてP3として、P3を測定値とす
る。さらに必要に応じては、P3の近傍についても繰り
返し測定してもよい。
Further, next, for example, (P2-
The focal length at which the light-receiving output of the photodiode 18 instantly becomes maximum is obtained by changing from 0.003) mm to (P2 + 0.003) mm at the third voltage application speed which is 10 times slower than the second speed, and P3 is obtained. Then, let P3 be the measured value. Furthermore, if necessary, the vicinity of P3 may be repeatedly measured.

【0040】この変位測定方法によれば、焦点位置を検
出するときの速度を低速にして検出することができるの
で高精度に測定できる。さらに全測定範囲(±0.3m
m)全長に渡って電圧印加速度を低速にすると測定時間
が増加してしまうが、この測定方法によれば測定時間の
増加を押さえて測定精度を向上させることができる。
According to this displacement measuring method, the speed at which the focus position is detected can be lowered and the detection can be performed with high accuracy. Furthermore, the entire measuring range (± 0.3m
m) When the voltage application speed is reduced over the entire length, the measurement time increases, but this measurement method can suppress the increase in measurement time and improve the measurement accuracy.

【0041】次に図4に基づいて、この発明の変位測定
装置の実施の形態を説明する。図4はこの発明の変位測
定装置の概念図である。
Next, an embodiment of the displacement measuring device of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a conceptual diagram of the displacement measuring device of the present invention.

【0042】図4に示すように、レーザパワー制御回路
11で制御されたレーザダイオード12の出射光は、ビ
ームスプリッタ13とコリメートレンズ14と液晶レン
ズ110と液晶レンズ101と対物レンズ15とを通過
して、被測定物16に投射されるようになっている。被
測定物16からの反射光は対物レンズ15と液晶レンズ
110と液晶レンズ101とコリメートレンズ14とを
通ってビームスプリッタ13で反射し、ピンホール17
aを通ってホトダイオード18へ入射するようになって
いる。図4で、符号17は光絞り部であり、ピンホール
17aは光絞り部17に設けられている。
As shown in FIG. 4, the emitted light of the laser diode 12 controlled by the laser power control circuit 11 passes through the beam splitter 13, the collimator lens 14, the liquid crystal lens 110, the liquid crystal lens 101, and the objective lens 15. And is projected onto the DUT 16. The reflected light from the DUT 16 passes through the objective lens 15, the liquid crystal lens 110, the liquid crystal lens 101, and the collimator lens 14 and is reflected by the beam splitter 13, and the pinhole 17
The light is incident on the photodiode 18 through a. In FIG. 4, reference numeral 17 is an optical stop, and the pinhole 17 a is provided in the optical stop 17.

【0043】図4より明らかなように、この変位測定装
置は、共焦点光学系を採用しているので、レーザ光を被
測定物16に点で照射し、反射光もピンホール17aを
通して検出器(ホトダイオード18)に集光している。
共焦点光学系では高解像力が実現され、不要散乱光を大
幅に取り除けるためコントラストの高い映像が得られ
る。そして、共焦点光学系の特徴として、焦点位置にお
いて、明るさと解像力がピークになる。つまり最大輝度
と合焦点位置とが一致する。そして、ピンホール17a
の径は、共焦点光学系を構成するのに適した径に形成し
てある。
As is clear from FIG. 4, since this displacement measuring device employs a confocal optical system, laser light is applied to the object 16 to be measured at a point, and reflected light is also detected through the pinhole 17a. The light is focused on the (photodiode 18).
The confocal optical system achieves high resolution and can significantly eliminate unnecessary scattered light, resulting in a high-contrast image. Then, as a feature of the confocal optical system, the brightness and the resolving power have peaks at the focal position. That is, the maximum brightness and the in-focus position match. And the pinhole 17a
Has a diameter suitable for forming a confocal optical system.

【0044】ホトダイオード18で光電変換した信号は
増幅器19へ入力され、その出力信号は制御部103へ
入力される。 この変位測定装置は共焦点光学系を採用
しているので、合焦点が生じたときのみ強い光がホトダ
イオード18に入射するようになっている。
The signal photoelectrically converted by the photodiode 18 is input to the amplifier 19, and its output signal is input to the control unit 103. Since this displacement measuring device employs a confocal optical system, strong light is incident on the photodiode 18 only when a focal point is generated.

【0045】また、液晶レンズ101、110は、制御
部103からの指令信号により、焦点距離を変える。す
なわち、制御部は液晶レンズ制御回路102を介して焦
点距離を指示する信号を出力する。 すなわち、対物レ
ンズ15と被測定物16の距離と、制御部が指示した焦
点距離が一致すると、合焦点になり、強い光がホトダイ
オード18に入射する。
The liquid crystal lenses 101 and 110 change the focal length according to a command signal from the control unit 103. That is, the control unit outputs a signal indicating the focal length via the liquid crystal lens control circuit 102. That is, when the distance between the objective lens 15 and the DUT 16 and the focal length instructed by the control unit coincide with each other, the light is focused and intense light is incident on the photodiode 18.

【0046】次にこのように構成した、この発明の変位
測定方法で用いる変位測定装置の動作を説明する。
Next, the operation of the displacement measuring device configured as described above and used in the displacement measuring method of the present invention will be described.

【0047】レーザパワー制御回路11からレーザダイ
オード12に駆動電流を供給すると、レーザダイオード
12はレーザ光を出射する。この出射光はビームスプリ
ッタ13、コリメータレンズ14、液晶レンズ101、
110及び対物レンズ15を通って被測定物16へ投射
される。
When a drive current is supplied from the laser power control circuit 11 to the laser diode 12, the laser diode 12 emits laser light. This emitted light is reflected by the beam splitter 13, the collimator lens 14, the liquid crystal lens 101,
It is projected onto the DUT 16 through the 110 and the objective lens 15.

【0048】被測定物16で反射した反射光は対物レン
ズ15、液晶レンズ101、110及びコリメートレン
ズ14を通ってビームスプリッタ13で反射して光絞り
部17側へ投射され、ピンホール17aを透過した光の
みがホトダイオード18へ入射する。
The reflected light reflected by the DUT 16 passes through the objective lens 15, the liquid crystal lenses 101 and 110, and the collimator lens 14 and is reflected by the beam splitter 13 to be projected to the optical diaphragm 17 side and transmitted through the pinhole 17a. Only the generated light is incident on the photodiode 18.

【0049】この発明による変位測定装置の構成は共焦
点光学系を採用しているので、最大輝度と合焦点位置と
が一致する。つまり焦点が合っている場合には、光の大
部分がピンホール17aを通過するが、焦点が合ってい
ない状態ではピンホール17aを通過する光量が激減す
る。
Since the displacement measuring apparatus according to the present invention employs the confocal optical system, the maximum brightness and the in-focus position match. That is, most of the light passes through the pinhole 17a when in focus, but the amount of light passing through the pinhole 17a decreases drastically when out of focus.

【0050】レーザ光を被測定物16に点で照射し、反
射光もピンホール17aを通して点で検出器であるホト
ダイオード18に集光している。このため不要散乱光を
大幅に取り除ける。
Laser light is applied to the object 16 to be measured at a point, and the reflected light is also focused on the photodiode 18, which is a detector, at a point through the pinhole 17a. Therefore, unnecessary scattered light can be largely removed.

【0051】この発明で用いる変位測定装置は、液晶レ
ンズ101、110により、焦点距離は変えることがで
きる。そして、被測定物16と対物レンズの距離と焦点
距離が一致したとき、すなわち被測定物16に投射した
光の合焦点が被測定物16に生じると、ホトダイオード
18の受光出力は瞬時に最大となり、この受光出力に応
じた信号が増幅器19へ入力され、増幅器19から出力
信号が出力され制御部へ入力される。
In the displacement measuring device used in the present invention, the focal length can be changed by the liquid crystal lenses 101 and 110. When the distance between the DUT 16 and the objective lens and the focal length match, that is, when the focus of the light projected on the DUT 16 occurs on the DUT 16, the light receiving output of the photodiode 18 instantly becomes maximum. A signal corresponding to the received light output is input to the amplifier 19, and an output signal is output from the amplifier 19 and input to the control unit.

【0052】この実施の形態にあっては、液晶層の最大
厚み100μmと液晶層の最大厚み10μmの液晶レン
ズで構成してある。レンズ101は、液晶層の最大厚み
100μmで、曲率半径31.3mmである。ここでガ
ラス基板の屈折率は1.52である。液晶の屈折率は
1.5〜17の範囲で印加電圧により変化する。
In this embodiment, a liquid crystal lens having a maximum liquid crystal layer thickness of 100 μm and a maximum liquid crystal layer thickness of 10 μm is used. The lens 101 has a maximum liquid crystal layer thickness of 100 μm and a radius of curvature of 31.3 mm. Here, the refractive index of the glass substrate is 1.52. The refractive index of the liquid crystal changes in the range of 1.5 to 17 depending on the applied voltage.

【0053】液晶レンズ110は液晶層の厚み10μm
であり曲率半径312mmである。そしてこの変位測定
装置にあっては、液晶レンズ101による測定範囲は±
200μmである。また液晶レンズ110による測定範
囲は±20μmであり、液晶の応答速度は液晶層の厚み
の2乗に比例するので、最大液晶厚み10μmの液晶レ
ンズ110は、最大液晶厚み100μmの液晶よりおよ
そ100倍応答速度が速くなる。
The liquid crystal lens 110 has a liquid crystal layer thickness of 10 μm.
And the radius of curvature is 312 mm. In this displacement measuring device, the measurement range of the liquid crystal lens 101 is ±
It is 200 μm. Further, since the measurement range by the liquid crystal lens 110 is ± 20 μm, and the response speed of the liquid crystal is proportional to the square of the thickness of the liquid crystal layer, the liquid crystal lens 110 having the maximum liquid crystal thickness of 10 μm is about 100 times larger than the liquid crystal having the maximum liquid crystal thickness of 100 μm. Response speed becomes faster.

【0054】図4に示した変位測定装置にあっては、液
晶レンズ101(液晶層の厚み100μm)により、全
測定範囲(±200μm)を確保し、液晶レンズ110
(液晶層の厚み10μm)により全測定範囲内の任意測
定範囲(±20μm)をより高速で高精度に測定するこ
とができる。
In the displacement measuring apparatus shown in FIG. 4, the liquid crystal lens 101 (the thickness of the liquid crystal layer is 100 μm) ensures the entire measurement range (± 200 μm), and the liquid crystal lens 110
By (the thickness of the liquid crystal layer is 10 μm), an arbitrary measurement range (± 20 μm) within the entire measurement range can be measured at higher speed and with high accuracy.

【0055】次に、この発明による変位測定装置による
測定方法について図3を参照して説明する。この変位測
定装置の測定範囲は、液晶レンズ101による測定範囲
が±200μmである。すなわち、液晶レンズ101に
より、焦点距離を基準位置より±200μmの範囲で変
化させることができる。図3において位置201が−2
00μmの位置を示し、位置202が+200μmの位
置を示しているとする。
Next, a measuring method by the displacement measuring device according to the present invention will be described with reference to FIG. The measuring range of this displacement measuring device is ± 200 μm by the liquid crystal lens 101. That is, the liquid crystal lens 101 can change the focal length within a range of ± 200 μm from the reference position. Position 201 is -2 in FIG.
It is assumed that the position of 00 μm is shown and the position 202 shows the position of +200 μm.

【0056】先ず、全測定範囲の−200μm(図3の
位置201)から+200μm(図3の位置202)ま
で液晶レンズ101により焦点距離を変化させホトダイ
オード18の受光出力が瞬時に最大になった焦点距離を
求める。その焦点距離をP1とする。
First, the focus is changed from -200 .mu.m (position 201 in FIG. 3) to +200 .mu.m (position 202 in FIG. 3) of the entire measurement range by the liquid crystal lens 101, and the light receiving output of the photodiode 18 instantly becomes the maximum focus. Find the distance. The focal length is P1.

【0057】ここにおいて、例えば被測定物を交換して
高さ測定をする場合、測定範囲が±20μmの範囲であ
れば、液晶レンズ101(測定範囲±200μm)の印
加電圧は前記P1の位置で保持しておき、液晶レンズ1
10(測定範囲±20μm)の印加電圧を変化させて測
定する。
Here, for example, when the height of the object to be measured is exchanged, if the measurement range is ± 20 μm, the applied voltage of the liquid crystal lens 101 (measurement range ± 200 μm) is at the position P1. Hold it, liquid crystal lens 1
The measurement is performed by changing the applied voltage of 10 (measuring range ± 20 μm).

【0058】[0058]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、共焦点光
学系と液晶レンズを用いた、この発明による変位測定装
置は、対物レンズとコリメートレンズの間に、液晶レン
ズを配置してある。そして、液晶レンズの液晶に電圧を
印加することにより液晶の屈折率を変化させて、変位測
定装置の焦点距離を変えることができる。
As is apparent from the above description, the displacement measuring device according to the present invention using the confocal optical system and the liquid crystal lens has the liquid crystal lens between the objective lens and the collimating lens. Then, by applying a voltage to the liquid crystal of the liquid crystal lens, the refractive index of the liquid crystal can be changed to change the focal length of the displacement measuring device.

【0059】そして被測定物と対物レンズの距離と変位
測定装置の焦点距離が一致したとき変位測定装置の検出
器で検出する受光量が最大になり、そのときの焦点距離
が、対物レンズと被測定物の距離となる。このときの、
印加電圧のときの焦点距離は既知であるので印加電圧に
より被測定物の距離が分かる。
When the distance between the object to be measured and the objective lens and the focal length of the displacement measuring device match, the amount of light received detected by the detector of the displacement measuring device becomes maximum, and the focal length at that time is It is the distance to the object to be measured. At this time,
Since the focal length when the applied voltage is known, the distance of the object to be measured can be known from the applied voltage.

【0060】さらに、この発明による変位測定方法で用
いる変位測定装置は液晶レンズへの印加電圧を変化させ
て、距離を測定しているので、被測定物に対して対物レ
ンズは移動することなく測定できる。よって、被測定物
と変位測定装置がぶつかる心配なく測定することができ
る。
Further, since the displacement measuring device used in the displacement measuring method according to the present invention measures the distance by changing the voltage applied to the liquid crystal lens, the objective lens is measured without moving relative to the object to be measured. it can. Therefore, it is possible to perform measurement without concern that the object to be measured and the displacement measuring device may collide with each other.

【0061】また、この共焦点光学系と液晶レンズを用
いた測定装置による変位測定方法においては、焦点位置
を検出するときの速度と、測定範囲を変えることができ
るので、高精度の変位測定ができる。
Further, in the displacement measuring method using the measuring device using the confocal optical system and the liquid crystal lens, since the speed at which the focal position is detected and the measuring range can be changed, highly accurate displacement measurement can be performed. it can.

【0062】また、この発明における共焦点光学系と液
晶レンズを用いた変位測定装置にあっては、測定範囲の
異なる2枚の液晶レンズを有しているので高精度に測定
することができる。
Further, in the displacement measuring device using the confocal optical system and the liquid crystal lens according to the present invention, since the two liquid crystal lenses having different measurement ranges are provided, the measurement can be performed with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態における変位測定装置およ
びそれを用いた変位測定方法を説明するための図面であ
る。
FIG. 1 is a diagram for explaining a displacement measuring device and a displacement measuring method using the same according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態における変位測定装置およ
びそれを用いた変位測定方法に用いる液晶レンズを説明
するための図面である。
FIG. 2 is a diagram for explaining a displacement measuring device and a liquid crystal lens used in a displacement measuring method using the same according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態における変位測定装置およ
びそれを用いた変位測定方法を説明するための図面であ
る。
FIG. 3 is a diagram for explaining a displacement measuring device and a displacement measuring method using the same according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態における変位測定装置およ
びそれを用いた変位測定方法を説明するための図面であ
る。
FIG. 4 is a diagram for explaining a displacement measuring device and a displacement measuring method using the same according to an embodiment of the present invention.

【図5】従来の技術における変位測定装置を説明するた
めの図面である。
FIG. 5 is a view for explaining a displacement measuring device according to a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 レーザパワー制御回路 12 レーザダイオード 13 ビームスプリッタ 14 コリメートレンズ 15 対物レンズ 16 被測定物 17光絞り部 17a ピンホール 18 ホトダイオード 19 増幅器 101 液晶レンズ 102 液晶レンズ制御回路 103 制御部 110 液晶レンズ 11 Laser power control circuit 12 Laser diode 13 Beam splitter 14 Collimating lens 15 Objective lens 16 DUT 17 Optical diaphragm 17a pinhole 18 photodiodes 19 amplifier 101 liquid crystal lens 102 Liquid crystal lens control circuit 103 control unit 110 LCD lens

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ光を出射するレーザ発光源と、該
レーザ光を透過と反射するビームスプリッタと、コリメ
ートレンズと、対物レンズと、反射光を検出する検出器
とを有する変位測定装置であって、 前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間に液晶レ
ンズを設けたことを特徴とする変位測定装置。
1. A displacement measuring device having a laser emission source for emitting a laser beam, a beam splitter for transmitting and reflecting the laser beam, a collimating lens, an objective lens, and a detector for detecting the reflected light. And a liquid crystal lens provided between the collimator lens and the objective lens.
【請求項2】 前記液晶レンズは複数で構成したことを
特徴とする請求項1に記載の変位測定装置。
2. The displacement measuring apparatus according to claim 1, wherein the liquid crystal lens is composed of a plurality of lenses.
【請求項3】 請求項1に記載の変位測定装置を用いた
変位測定方法であって、 前記液晶レンズに第1の電圧を印加して焦点距離を第1
の速度で所定量変動させ、前記検出器の受光出力が最大
になった焦点距離を第1の焦点距離とし、 次に、前記液晶レンズに第2の電圧を印加して、前記第
1の焦点距離近傍で、前記第1の速度より低速度の第2
の速度で焦点距離を前記液晶レンズで変動させて、前記
検出器の受光量が最大になった焦点距離を第2の焦点距
離とすることにより変位を測定することを特徴とする変
位測定方法。
3. A displacement measuring method using the displacement measuring device according to claim 1, wherein a first voltage is applied to the liquid crystal lens to change a focal length to a first focal length.
The focal length at which the received light output of the detector is maximized is changed to a first focal length by varying a predetermined amount at a speed of, and then a second voltage is applied to the liquid crystal lens to set the first focal length. A second speed lower than the first speed in the vicinity of the distance
The displacement measuring method is characterized in that the displacement is measured by varying the focal length with the liquid crystal lens at a speed of, and setting the focal length at which the amount of light received by the detector is maximum as the second focal length.
JP2001288397A 2001-09-21 2001-09-21 Displacement measuring device and displacement measuring method using the same Pending JP2003097911A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001288397A JP2003097911A (en) 2001-09-21 2001-09-21 Displacement measuring device and displacement measuring method using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001288397A JP2003097911A (en) 2001-09-21 2001-09-21 Displacement measuring device and displacement measuring method using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003097911A true JP2003097911A (en) 2003-04-03
JP2003097911A5 JP2003097911A5 (en) 2008-07-03

Family

ID=19111057

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001288397A Pending JP2003097911A (en) 2001-09-21 2001-09-21 Displacement measuring device and displacement measuring method using the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003097911A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102121819A (en) * 2010-12-15 2011-07-13 浙江大学 Nanometer-resolution total-reflection differential micrometric displacement measurement method and device
CN102735617A (en) * 2012-06-29 2012-10-17 浙江大学 Super-resolution microscopic method and super-resolution microscopic device
CN105487214A (en) * 2015-11-20 2016-04-13 浙江大学 Rapid three-dimensional (3D) super-resolution microscopic method and device
JP2020024126A (en) * 2018-08-07 2020-02-13 株式会社ミツトヨ Non-contact type displacement meter

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001141982A (en) * 1999-11-16 2001-05-25 Olympus Optical Co Ltd Automatic focusing device for electronic camera

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001141982A (en) * 1999-11-16 2001-05-25 Olympus Optical Co Ltd Automatic focusing device for electronic camera

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102121819A (en) * 2010-12-15 2011-07-13 浙江大学 Nanometer-resolution total-reflection differential micrometric displacement measurement method and device
CN102735617A (en) * 2012-06-29 2012-10-17 浙江大学 Super-resolution microscopic method and super-resolution microscopic device
CN105487214A (en) * 2015-11-20 2016-04-13 浙江大学 Rapid three-dimensional (3D) super-resolution microscopic method and device
CN105487214B (en) * 2015-11-20 2018-02-13 浙江大学 A kind of quick three-dimensional super-resolution microscopic method and device
JP2020024126A (en) * 2018-08-07 2020-02-13 株式会社ミツトヨ Non-contact type displacement meter
JP7098474B2 (en) 2018-08-07 2022-07-11 株式会社ミツトヨ Non-contact displacement meter

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2717751C2 (en) Laser sensor for detecting several parameters
US7800750B2 (en) Optical trap utilizing a reflecting mirror for alignment
JP2913984B2 (en) Tilt angle measuring device
US20120300197A1 (en) Scanning mirror device
US7274451B2 (en) Optical beam translation device and method utilizing a pivoting optical fiber
US7546008B2 (en) Variable optical attenuator and ranging apparatus using the same
US5754282A (en) Optical device detecting displacement information using a device for frequency-shifting an incident beam and a system for reducing beam diameter in an application direction
US20190212420A1 (en) LIDAR System Having a Movable Fiber
KR20200031741A (en) Selective light interception module and scanning lidar using the same
JP2003097911A (en) Displacement measuring device and displacement measuring method using the same
KR101093080B1 (en) Surface plasmon bio-sensor using feedback optical source
JP4589931B2 (en) Compact optical scanning device
US6867863B1 (en) Integrated diagnostic for photoelastic modulator
JP2005291900A (en) Lens meter
JP2003279307A (en) Surface displacement measuring apparatus and measuring method using the same
JP3840619B2 (en) Displacement meter
KR20100039227A (en) Photoelastic modulator and photoelastic measuring apparatus including the same
JP2001304831A (en) Optical angle measuring apparatus
JP4316991B2 (en) Refractive index measuring device and concentration measuring device
JP2005107097A (en) Confocal inspection device
US20210132371A1 (en) Method and system for using characterization light to detect fiber position in a fiber scanning projector
US20210382332A1 (en) Opto-mechanical transducer apparatus and corresponding method
JP3967058B2 (en) Method and apparatus for measuring surface shape and thickness of plate-like workpiece
KR20120025257A (en) Surface plasmon resonance sensor system
JP2018146341A (en) Shape measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080521

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080521

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20080521

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100908

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100914

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101029

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101228

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110203

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110607

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111108