JP2003090799A - Tool and method for alignment of samples for grain image reader - Google Patents

Tool and method for alignment of samples for grain image reader

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JP2003090799A
JP2003090799A JP2001284994A JP2001284994A JP2003090799A JP 2003090799 A JP2003090799 A JP 2003090799A JP 2001284994 A JP2001284994 A JP 2001284994A JP 2001284994 A JP2001284994 A JP 2001284994A JP 2003090799 A JP2003090799 A JP 2003090799A
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grain
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alignment jig
hole
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惣一 山本
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Yamamoto Co Ltd
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Yamamoto and Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a sample alignment tool for a grain image reader, with which grains as a sample can be placed simply and quickly on a sample base in an aligned state, and to obtain a sample alignment method using the sample alignment tool. SOLUTION: The sample alignment tool 100 is constituted of a sample- alignment-tool frame 102, in which first through-holes 112 are formed and a moving body 104 in which second through-holes 116 are formed. First, in a state that the holes 112 are deviated from the holes 116, the grains 28 are thrown into the frame 102, and excessive grains 28 are discharged from a discharge port 110. Then, in this state, the tool 100 is set on the sample base, the moving body 104 is moved, and the holes 112 are made to communicate with the holes 116. Thereby, the grains 28 having entered the holes 116 fall into the holes 116, to be mounted on the sample base in the aligned state.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、米粒等の穀粒の品
質を判定する際に使用される穀粒画像読取装置用試料整
列治具及びこれを用いた試料整列方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sample aligning jig for a grain image reading apparatus used when determining the quality of grains such as rice grains, and a sample aligning method using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】特許第
2815633号公報には、米粒を一粒ずつ搬送して光
を照射し、米粒一粒ずつの反射光量を測定することで、
玄米、白米、又は籾米の品位を判定する米粒品位判定装
置が開示されている。しかしながら、米粒一粒ずつに光
を照射して米粒一粒ずつの品位を判定するため、検査時
間が極めて長くかかるという問題がある。
2. Description of the Related Art Japanese Patent No. 2815633 discloses that rice grains are conveyed one by one and irradiated with light, and the amount of light reflected by each rice grain is measured.
A rice grain quality determination device for determining the quality of brown rice, white rice, or paddy rice is disclosed. However, since the quality of each rice grain is judged by irradiating each rice grain with light, there is a problem that the inspection time is extremely long.

【0003】一方、実公平7−33151号公報には、
米粒が一粒ずつ入る凹部が多数穿設された試料皿の凹部
の各々に米粒を入れて米粒に光を照射し、スキャナを走
査して米粒からの反射光又は透過光に基づいて穀粒の画
像を取り込み、米粒の品質を一粒ずつ判定する米粒品質
判定装置が記載されている。
On the other hand, Japanese Utility Model Publication 7-33151 discloses that
Put a rice grain in each of the recesses of the sample dish in which a large number of recesses for each rice grain are made, irradiate the rice grain with light, and scan the scanner to scan the grain based on the reflected or transmitted light from the rice grain. A rice grain quality determination device that captures an image and determines the quality of rice grains one by one is described.

【0004】しかしながら、従来の米粒品質判定装置で
は、米粒からの反射光又は透過光から得られる画像から
米粒の品質を判定しているため、反射光を用いる場合に
は、砕粒米、籾米、死米、茶系着色米、青色未熟米、害
虫被害による着色米については判別することができるも
のの、胴割れ米については精度良く判別することが困難
であり、透過光を用いる場合には胴割れ米については判
別することができるものの他の不良米を判別することが
困難であり、いずれにしても精度良く米粒の品質を判定
することができないという問題があった。
However, in the conventional rice grain quality judging device, since the quality of the rice grain is judged from the image obtained from the reflected light or the transmitted light from the rice grain, when the reflected light is used, crushed rice, paddy rice and dead rice are used. Although rice, tea-colored rice, blue immature rice, and colored rice caused by pest damage can be distinguished, it is difficult to accurately distinguish barrel-cracked rice, and when using transmitted light, barrel-cracked rice However, there is a problem in that it is difficult to determine other defective rice, and in any case, the quality of the rice grain cannot be accurately determined.

【0005】このような背景を踏まえ、本件出願人は、
これらの問題を解決し得る穀粒画像読取装置を開発する
に至ったが、ここにきて種々の観点から更なる改良を加
え、付加価値の高い穀粒画像読取装置を開発することを
検討している。その一つとして、透明ガラス平板で構成
された試料台上に試料となる穀粒を載置する際に、簡単
な方法で迅速に、試料を一定方向に一定の間隔で整列さ
せることができないかどうかが検討されている。という
のも、試料台にランダムに試料を載置するよりは、一定
方向に一定の間隔で試料台に試料を載置できた方が、試
料に対して光を同一条件で照射することができるので、
均質な検査結果が得られる。また、試料台に試料を適当
な密度で重なり合うことなく載置させる手間を省くこと
ができれば、作業時間を短縮できるというメリットもあ
る。
Based on such a background, the applicant of the present application is
Although we have developed a grain image reader that can solve these problems, we have made further improvements from various points of view and studied to develop a grain image reader with high added value. ing. As one of them, when placing the grain to be the sample on the sample table composed of a transparent glass plate, is it possible to quickly and easily arrange the sample in a certain direction at a certain interval with a simple method? Something is being considered. This is because it is possible to irradiate the sample with light under the same conditions when the sample can be placed on the sample table at a constant interval in a certain direction, rather than randomly placing the sample on the sample table. So
Uniform inspection results are obtained. Further, if the labor of placing the samples on the sample table at an appropriate density without overlapping can be eliminated, there is an advantage that the working time can be shortened.

【0006】本発明は上記事実を考慮し、簡単かつ迅速
に、試料となる穀粒を試料台上に整列した状態で載置さ
せることができる穀粒画像読取装置用試料整列治具及び
これを用いた試料整列方法を得ることが目的である。
In view of the above facts, the present invention provides a sample alignment jig for a grain image reading apparatus, which allows simple and quick placement of grains as samples on a sample table in an aligned state, and a sample alignment jig for the same. The purpose is to obtain the sample alignment method used.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の本発明に
係る穀粒画像読取装置用試料整列治具は、底部が透明材
料によって構成されると共に穀粒が二次元状に載置可能
とされた試料台を画像読取位置に有し、当該試料台の底
部に沿って移動可能に設けられかつ穀粒に対して光を照
射する光照射部及び穀粒で反射された反射光を受光する
受光部を含んで構成された走査手段を備えたスキャナ本
体を有する穀粒画像読取装置に適用され、トレイ状に形
成されると共に前記試料台の底部の上面に載置可能とさ
れ、一粒の穀粒が入り込める程度の大きさを有しかつ略
穀粒形状に形成され更に長軸方向が一定方向に向けられ
た多数の第1透孔が所定の間隔で穿設された底壁部を備
えた試料整列治具本体と、この試料整列治具本体の底壁
部の上面に対して摺動可能な大きさに形成されると共に
当該底壁部の上面に載置可能とされ、更に前記多数の第
1透孔と同一形状及び同一パターンで多数の第2透孔が
形成された移動体と、を含むことを特徴としている。
A sample aligning jig for a grain image reading apparatus according to the present invention as set forth in claim 1 has a bottom made of a transparent material, and the grains can be placed two-dimensionally. A light irradiating unit having a fixed sample stand at the image reading position and movably provided along the bottom of the sample stand and irradiating light to the grain, and receiving reflected light reflected by the grain. It is applied to a grain image reading apparatus having a scanner body having a scanning unit configured to include a light receiving unit, is formed in a tray shape, and can be placed on the upper surface of the bottom of the sample table, A bottom wall portion having a size that allows grains to enter and formed in a substantially grain shape, and further having a plurality of first through-holes whose major axis direction is directed in a fixed direction and which are provided at predetermined intervals The sample alignment jig body and the top surface of the bottom wall of the sample alignment jig body. A movable body that has a movable size and can be placed on the upper surface of the bottom wall, and that has a plurality of second through holes formed in the same shape and pattern as the plurality of first through holes. It is characterized by including and.

【0008】請求項2記載の本発明に係る穀粒画像読取
装置用試料整列治具は、請求項1記載の発明において、
前記試料整列治具本体の側壁部には余剰の穀粒を排出す
るための排出口が形成されていると共に、当該試料整列
治具本体及び前記移動体の少なくとも一周辺部側には残
余の穀粒を退けておくための無孔部が設けられている、
ことを特徴としている。
A sample aligning jig for a grain image reading device according to the present invention according to claim 2 is the sample aligning jig according to claim 1,
A discharge port for discharging excess grain is formed in the side wall of the sample alignment jig body, and the residual grain is provided on at least one peripheral side of the sample alignment jig body and the moving body. There is a non-perforated part to keep the grains away,
It is characterized by that.

【0009】請求項3記載の本発明に係る穀粒画像読取
装置用試料整列治具を用いた試料整列方法は、前記試料
整列治具本体の底壁部の上面に前記移動体を載置させ、
第2透孔が第1透孔に対してずれた状態で両者を保持す
る第1工程と、この状態の試料整列治具本体内へ試料と
なる穀粒を投入し、当該穀粒を第2透孔内へ一粒ずつ入
り込ませる第2工程と、この状態で当該試料整列治具本
体及び当該移動体を試料台の底部の上面に載置させる第
3工程と、当該移動体を当該試料整列治具本体の底壁部
に対してスライドさせ、第2透孔を第1透孔に重合させ
る第4工程と、この状態で当該試料整列治具本体及び当
該移動体を持上げて試料台から取り外す第5工程と、を
有することを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a sample alignment method using a sample alignment jig for a grain image reading apparatus, wherein the movable body is placed on the upper surface of the bottom wall of the sample alignment jig body. ,
The first step of holding the second through hole in a state of being displaced from the first through hole, and the grain serving as the sample is put into the sample alignment jig main body in this state, and the grain is moved to the second stage. The second step of inserting the particles into the through holes one by one, the third step of placing the sample alignment jig main body and the movable body on the upper surface of the bottom of the sample table in this state, and the movable body of the sample alignment. A fourth step of sliding the second through hole to the first through hole by sliding it against the bottom wall of the jig body, and in this state, lift the sample aligning jig body and the moving body and remove them from the sample table. And a fifth step.

【0010】請求項1記載の本発明によれば、まず試料
整列治具本体の底壁部の上面に移動体が載置される。こ
の移動体は試料整列治具本体の底壁部の上面に対して摺
動可能な大きさに形成されているため、試料整列治具本
体内で摺動させることが可能である。また、試料整列治
具本体には略穀粒形状に形成されかつ長軸方向が一定方
向に向けられた多数の第1透孔が形成されており、これ
に対応して移動体にも第1透孔と同一形状及び同一パタ
ーンの多数の第2透孔が形成されているため、移動体を
試料整列治具本体に対して若干摺動させることにより、
第2透孔が第1透孔とずれた状態を作り出すことができ
る。第2透孔を第1透孔に対してずらすと、第2透孔の
下側には試料整列治具本体の底壁部における第1透孔非
形成部分が位置される。つまり、第2透孔に底面が形成
される。この状態で、試料整列治具本体内へ試料となる
穀粒を投入して当該試料整列治具本体と移動体とを揺さ
ぶるか、又は投入された穀粒を指先やへら等で掻き均す
と、穀粒が一粒ずつ移動体の第2透孔内へ入り込む。そ
の後、余剰の穀粒を試料整列治具本体から排除してお
く。
According to the first aspect of the present invention, the movable body is first placed on the upper surface of the bottom wall of the sample alignment jig body. Since this moving body is formed so as to be slidable on the upper surface of the bottom wall of the sample alignment jig body, it can be slid in the sample alignment jig body. Further, the sample alignment jig main body is provided with a large number of first through holes formed in a substantially grain shape and having a long axis direction oriented in a fixed direction. Since a large number of second through holes having the same shape and the same pattern as the through holes are formed, by slightly sliding the moving body with respect to the sample alignment jig body,
It is possible to create a state in which the second through holes are displaced from the first through holes. When the second through hole is displaced with respect to the first through hole, the first through hole non-forming portion in the bottom wall portion of the sample alignment jig body is located below the second through hole. That is, the bottom surface is formed in the second through hole. In this state, the grains to be the sample are thrown into the sample aligning jig body and the sample aligning jig body and the moving body are shaken, or the thrown-in grain is scraped with a fingertip or a spatula. , The grains enter the second through hole of the moving body one by one. After that, the excess grain is removed from the sample alignment jig body.

【0011】次に、この状態で、試料整列治具本体及び
移動体を試料台の底部の上面に載置させて、移動体を試
料整列治具本体の底壁部に対して若干摺動させると、第
2透孔が第1透孔に重合される。これにより、第2透孔
と第1透孔とが連通され、試料台の底部の上面が第1透
孔の底面となる。そして、第2透孔内に入り込んでいた
穀粒は第1透孔内へ落下され、試料台の上面に載置され
る。その後、試料整列治具本体及び移動体が持上げられ
て試料台から取外される。取外し後の状態では、多数の
穀粒はその長軸方向が一定方向に向けられ、所定の間隔
で配列される。このように本発明に係る穀粒画像読取装
置用試料整列治具を用いて試料となる穀粒を試料台の上
面に載置させるようにすれば、簡単かつ迅速に穀粒を整
列状態で載置させることができる。
Next, in this state, the main body of the sample alignment jig and the movable body are placed on the upper surface of the bottom of the sample stand, and the movable body is slightly slid with respect to the bottom wall of the main body of the sample alignment jig. Then, the second through holes are polymerized with the first through holes. As a result, the second through hole and the first through hole are communicated with each other, and the upper surface of the bottom portion of the sample table serves as the bottom surface of the first through hole. Then, the grain that has entered the second through hole is dropped into the first through hole and placed on the upper surface of the sample table. After that, the sample alignment jig body and the moving body are lifted and removed from the sample table. In the state after removal, a large number of grains are arranged with their major axes oriented in a fixed direction at predetermined intervals. As described above, by using the sample aligning jig for a grain image reading apparatus according to the present invention to place the grain to be a sample on the upper surface of the sample stand, the grain can be easily and quickly placed in an aligned state. Can be placed.

【0012】なお、上記の如くして試料台の上面に試料
が整列配置されたら、スキャナ本体を用いて穀粒の画像
が読取られる。具体的には、走査手段の光照射部から穀
粒に光を照射させながら、当該走査手段を試料台の底部
に沿って移動させることにより、穀粒で反射された反射
光が受光部に受光される。これにより、穀粒の反射光画
像を読取ることが可能となる。
When the samples are aligned on the upper surface of the sample table as described above, the grain image is read using the scanner body. Specifically, while irradiating light to the grain from the light irradiation unit of the scanning unit, the scanning unit is moved along the bottom of the sample table, so that the reflected light reflected by the grain is received by the light receiving unit. To be done. This makes it possible to read the reflected light image of the grain.

【0013】請求項2記載の本発明によれば、試料整列
治具本体の側壁部に排出口を設けたので、試料となる穀
粒を投入し移動体のすべての第2透孔内に穀粒を入り込
ませた後、排出口が下側にくるように試料整列治具本体
を傾ければ、余剰となった穀粒が排出口から排出され
る。
According to the second aspect of the present invention, since the outlet is provided in the side wall portion of the sample aligning jig main body, the grain serving as the sample is put into the second through holes of the moving body. If the sample alignment jig body is tilted so that the discharge port is located on the lower side after the grains are allowed to enter, the excess grain is discharged from the discharge port.

【0014】また、前記の如くして、余剰となった穀粒
を試料整列治具本体から排出した後も、数粒〜十数粒程
度の穀粒が移動体上に残っていることもある。このよう
な場合にも前記の要領で試料整列治具本体を傾けて残余
の穀粒を排出口から排出しようとすると、却って手間取
り時間がかかる。そこで、このような場合には、試料整
列治具本体及び移動体の少なくとも一周辺部に設けた無
孔部に当該残余の穀粒を退(の)けておくようにする。
Further, as described above, even after the surplus grains are discharged from the sample aligning jig main body, some grains to about a dozen grains may remain on the moving body. . Even in such a case, if the sample aligning jig main body is tilted according to the above-mentioned procedure to try to discharge the remaining grain from the discharge port, it takes time and effort. Therefore, in such a case, the residual grain is set back in the non-hole portion provided in at least one peripheral portion of the sample alignment jig body and the moving body.

【0015】すなわち、本発明によれば、余剰の穀粒に
ついては排出口を使って短時間で排出することができ、
余剰の穀粒排出後の残余の穀粒については無孔部に退け
ておくことができるため、不要な穀粒を効率良く除去す
ることができる。
That is, according to the present invention, excess grain can be discharged in a short time using the discharge port,
The remaining grains after the surplus grains are discharged can be set aside in the non-hole portion, so that unnecessary grains can be efficiently removed.

【0016】請求項3記載の本発明によれば、以下の如
くして、スキャナ本体の試料台の上面に、試料となる穀
粒を整列させた状態で載置させることができる。
According to the third aspect of the present invention, the grain to be the sample can be placed in an aligned state on the upper surface of the sample table of the scanner body as follows.

【0017】まず、第1工程で、試料整列治具本体の底
壁部の上面に移動体が載置される。次いで、移動体の第
2透孔が試料整列治具本体の第1透孔に対してずれた状
態で両者が保持される。これにより、試料整列治具本体
の第1透孔非形成部分が第2透孔の底面となる。次に、
第2工程で、試料整列治具本体内へ試料となる穀粒が投
入される。次いで、試料整列治具本体及び移動体を揺さ
ぶりながら、又は投入された穀粒を指先やへら等で掻き
均しながら、穀粒を第2透孔内へ一粒ずつ入り込ませ
る。次に、第3工程で、試料整列治具本体及び移動体が
試料台の底部の上面に載置される。次に、第4工程で、
移動体が試料整列治具の底壁部に対してスライドされ、
第2透孔が第1透孔に重合される。これにより、第2透
孔と第1透孔とが連通され、試料台の底部の上面が第1
透孔の底面となる。そして、第2透孔内に入り込んでい
た穀粒は第1透孔内へ落下され、試料台の上面に載置さ
れる。次に、第5工程で、試料整列治具本体及び移動体
が持上げられて試料台から取外される。取外し後の状態
では、多数の穀粒はその長軸方向が一定方向に向けら
れ、所定の間隔で配列される。
First, in the first step, the movable body is placed on the upper surface of the bottom wall of the sample alignment jig body. Next, the second through hole of the moving body is held in a state of being displaced from the first through hole of the sample alignment jig body. As a result, the first through hole non-forming portion of the sample alignment jig body becomes the bottom surface of the second through hole. next,
In the second step, grains as a sample are put into the sample alignment jig body. Next, while shaking the sample aligning jig main body and the moving body or scraping the introduced grains with a fingertip, a spatula, or the like, the grains are allowed to enter the second through holes one by one. Next, in the third step, the sample alignment jig body and the moving body are placed on the upper surface of the bottom of the sample table. Next, in the fourth step,
The moving body slides against the bottom wall of the sample alignment jig,
The second through holes are polymerized with the first through holes. As a result, the second through hole and the first through hole are communicated with each other, and the upper surface of the bottom of the sample table is the first through hole.
It will be the bottom of the through hole. Then, the grain that has entered the second through hole is dropped into the first through hole and placed on the upper surface of the sample table. Next, in a fifth step, the sample alignment jig body and the moving body are lifted and removed from the sample table. In the state after removal, a large number of grains are arranged with their major axes oriented in a fixed direction at predetermined intervals.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、図1〜図15を用いて、本
発明に係る穀粒画像読取装置用試料整列治具及びこれを
用いた試料整列方法の実施形態について説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of a sample alignment jig for a grain image reading apparatus and a sample alignment method using the same according to the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0019】図1に示されるように、本実施形態の穀粒
品質判定装置10は、LAN等のネットワーク12に接
続された複数のクライアントコンピュータ14と、管理
用のサーバコンピュータ16と、各クライアントコンピ
ュータ14に接続された「穀粒画像読取装置」としての
カラースキャナ18と、を含んで構成されている。
As shown in FIG. 1, the grain quality judging apparatus 10 of this embodiment has a plurality of client computers 14 connected to a network 12 such as a LAN, a server computer 16 for management, and each client computer. And a color scanner 18 as a “grain image reading device” connected to the printer 14.

【0020】クライアントコンピュータ14には、画像
及び判定結果の集計、データ圧縮、データの暗号化、補
助記憶装置メディアへの記録、印刷、ネットワーク経由
での配信、及びパスワードによるデータ保護の機能が装
備されており、穀粒品質判定システム端末として機能す
るように構成されている。
The client computer 14 is equipped with the functions of totaling images and determination results, data compression, data encryption, recording on auxiliary storage media, printing, distribution via network, and data protection by password. It is configured to function as a grain quality determination system terminal.

【0021】図2及び図3には、カラースキャナ18の
概略構成が断面図にて示されている。これらの図に示さ
れるように、カラースキャナ18は、画像読取面を上端
面に有するスキャナ本体20と、このスキャナ本体20
の画像読取面を覆う蓋体22とによって構成されてい
る。
2 and 3, a schematic structure of the color scanner 18 is shown in a sectional view. As shown in these drawings, the color scanner 18 includes a scanner main body 20 having an image reading surface on the upper end surface, and a scanner main body 20.
And a lid 22 that covers the image reading surface.

【0022】より詳しく説明すると、スキャナ本体20
は、直方体形状のケーシング24を備えている。ケーシ
ング24の上端面の大半は開口されており、この部分に
ガラス製の試料台26が着脱可能に配設されている。な
お、試料台26は必ずしもガラス板である必要はなく、
アクリル板を使用してもよいし、これら以外の透明材料
から成る板材を使用してもよい。上記構成の試料台26
には、多数の穀粒(試料;主に米と麦)28が二次元状
に載置可能とされている。
More specifically, the scanner body 20
Includes a casing 24 having a rectangular parallelepiped shape. Most of the upper end surface of the casing 24 is open, and a sample table 26 made of glass is detachably arranged in this portion. The sample table 26 does not necessarily have to be a glass plate,
An acrylic plate may be used, or a plate material made of a transparent material other than these may be used. Sample table 26 having the above configuration
A large number of grains (samples; mainly rice and wheat) 28 can be placed in a two-dimensional manner.

【0023】また、スキャナ本体20のケーシング24
内には、「走査手段」としての走査装置30が配設され
ている。走査装置30は試料台26に対して対向して配
置されており、試料台26の底面に沿って図2の矢印方
向へ往復移動(二次元走査)可能とされている。また、
走査装置30は、穀粒28に対して光を照射する光照射
部(光源)32と、後述する蓋体22側の光源40から
照射されて試料台26上の穀粒28を透過した透過光並
びに光照射部32から照射されて穀粒28で反射された
反射光を受光する受光部34とを含んで構成されてい
る。なお、図2等においては、光照射部32及び受光部
34を含めた全体を走査装置「30」として表記してい
る。また、走査装置30の受光部34はカラーCCDを
含んで構成されており、試料台26に載置された穀粒2
8の画像をRGBの三色(赤色、緑色、青色)に分解し
て読取ってクライアントコンピュータ14に出力するよ
うになっている。
Further, the casing 24 of the scanner body 20
A scanning device 30 as a "scanning unit" is arranged in the inside. The scanning device 30 is arranged to face the sample table 26, and is capable of reciprocating (two-dimensional scanning) along the bottom surface of the sample table 26 in the direction of the arrow in FIG. Also,
The scanning device 30 is a light irradiation unit (light source) 32 that irradiates the grain 28 with light, and transmitted light that is emitted from the light source 40 on the lid 22 side described later and transmitted through the grain 28 on the sample table 26. And a light receiving section 34 for receiving the reflected light emitted from the light emitting section 32 and reflected by the grain 28. Note that, in FIG. 2 and the like, the whole including the light irradiation unit 32 and the light receiving unit 34 is represented as a scanning device “30”. Further, the light receiving section 34 of the scanning device 30 is configured to include a color CCD, and the grain 2 mounted on the sample table 26 is
The image of No. 8 is decomposed into three colors of RGB (red, green, blue), read, and output to the client computer 14.

【0024】一方、蓋体22は比較的薄型のケーシング
35を備えており、このケーシング35の下端一辺がス
キャナ本体20の上端一辺にヒンジ結合されている。従
って、蓋体22はヒンジ36回りに回動可能とされてお
り、これによりスキャナ本体20の画像読取面を開閉す
るカバーとしての機能を果たしている。なお、蓋体22
の開閉形式は、本実施形態のようにヒンジ形式でもよい
し、スライド形式でもよく、両者の複合形式でもよい。
蓋体22の下端面の大半は開口されており、当該開口3
8の奥側(即ち、蓋体22の内部)には蛍光灯等によっ
て構成された複数の棒状の光源40が所定の間隔で配設
されている(図3(B)参照)。
On the other hand, the lid 22 has a relatively thin casing 35, and one side of the lower end of the casing 35 is hinged to one side of the upper end of the scanner body 20. Therefore, the lid body 22 is rotatable around the hinge 36, and thereby functions as a cover for opening and closing the image reading surface of the scanner body 20. The lid 22
The open / close type may be a hinge type as in the present embodiment, a slide type, or a combined type of both.
Most of the lower end surface of the lid 22 is opened, and the opening 3
A plurality of rod-shaped light sources 40 formed of fluorescent lamps or the like are arranged at predetermined intervals on the inner side of 8 (that is, inside the lid 22) (see FIG. 3B).

【0025】さらに、蓋体22の開口38に臨む位置に
は、プラスチック製の板状部材で構成された斜光ルーバ
42が配設されている。斜光ルーバ42は、蓋体22が
閉止された状態(図3(A)の状態)において、試料台
26の上面に載置された穀粒28に対して傾斜した方向
から光が照射されるように、光源40から照射された光
の方向を斜め方向に均一化する目的で配設されている。
そのため、斜光ルーバ42には、斜め方向に光を透過す
る多数の光路42Aが並設されている。なお、試料台2
6の底面に対する照射光の傾斜角、即ち光路42Aの試
料台26の底面に対する傾斜角度は約30度〜約60度
の範囲に設定するのが好ましく、その中でも約30度に
設定するのが好適である。さらに付言すると、斜光ルー
バ42としては、ライトコントロールパネル(エドモン
ドサイエンティフィックジャパン社製、商品名)を使用
することができる。
Further, an oblique louver 42 made of a plastic plate member is provided at a position facing the opening 38 of the lid 22. The oblique louver 42 is arranged so that light is emitted from the inclined direction to the grain 28 placed on the upper surface of the sample table 26 in the state where the lid 22 is closed (the state of FIG. 3A). In addition, it is provided for the purpose of making the direction of the light emitted from the light source 40 uniform in an oblique direction.
Therefore, the oblique light louver 42 is provided with a large number of optical paths 42A that transmit light obliquely. The sample table 2
The inclination angle of the irradiation light with respect to the bottom surface of No. 6, that is, the inclination angle of the optical path 42A with respect to the bottom surface of the sample table 26 is preferably set within a range of about 30 degrees to about 60 degrees, and among them, about 30 degrees is preferable. Is. In addition, as the oblique light louver 42, a light control panel (trade name, manufactured by Edmond Scientific Japan Co., Ltd.) can be used.

【0026】なお、上記光源40及び斜光ルーバ42
は、広義には「穀粒に対して斜め方向から光を照射する
斜光手段」として把握される要素である。
The light source 40 and the oblique light louver 42 are used.
In a broad sense, is an element understood as "oblique means for irradiating the grain with light from an oblique direction".

【0027】次に、図11〜図15を用いて、本実施形
態の要部である穀粒画像読取装置用の試料整列治具10
0について詳細に説明する。この試料整列治具100
は、上述したカラースキャナ18の試料台26の上面
(試料載置面)に穀粒28を整列状態で載置するための
ものである。
Next, with reference to FIGS. 11 to 15, a sample alignment jig 10 for a grain image reading apparatus, which is an essential part of this embodiment.
0 will be described in detail. This sample alignment jig 100
Is for mounting the grains 28 in an aligned state on the upper surface (sample mounting surface) of the sample table 26 of the color scanner 18 described above.

【0028】図11には上述したカラースキャナ18の
斜視図が示されている。蓋体22をヒンジ36回りに開
放させると、試料台26が現れ、この試料台26の上面
に図12に示される試料整列治具100がセットされる
ようになっている。
FIG. 11 is a perspective view of the color scanner 18 described above. When the lid 22 is opened around the hinge 36, the sample table 26 appears, and the sample alignment jig 100 shown in FIG. 12 is set on the upper surface of the sample table 26.

【0029】試料整列治具100は、略トレイ状に形成
された試料整列治具本体102と、この試料整列治具本
体102に載置される移動体104とによって構成され
ている。なお、試料整列治具本体102及び移動体10
4は樹脂製でもよいし、金属製でもよい。
The sample alignment jig 100 is composed of a sample alignment jig main body 102 formed in a substantially tray shape and a moving body 104 placed on the sample alignment jig main body 102. The sample alignment jig body 102 and the moving body 10
4 may be made of resin or metal.

【0030】試料整列治具本体102は、試料台26の
上面と同一形状の底壁部102Aと、この底壁部102
Aの周縁部から立ち上げられた短辺側の側壁部102
B、102C及び長辺側の側壁部102D、102Eと
を含んで構成されている。一方の長辺側の側壁部102
Dには他方の長辺側の側壁部102Eに向かって延出さ
れた返し106が形成されており、又他方の長辺側の側
壁部102Eには外側へ向けて張り出された把手108
が形成されている。また、一方の短辺側の側壁部102
Bには、返し106に近い位置に矩形状の排出口110
が形成されている。さらに、底壁部102Aには、多数
(一例として、1000個)の第1透孔112が形成さ
れている。図13に示されるように、第1透孔112
は、穀粒28が入り込むことが可能な縦6mm、横3m
mのトラック形状を成している。
The sample alignment jig body 102 has a bottom wall portion 102A having the same shape as the upper surface of the sample table 26, and the bottom wall portion 102.
Side wall portion 102 on the short side, which is raised from the peripheral portion of A
B, 102C and long side wall portions 102D, 102E. Side wall 102 on one long side
A barb 106 extending toward the other long-side side wall portion 102E is formed on the D, and a handle 108 extended outwardly is formed on the other long-side side wall portion 102E.
Are formed. In addition, the side wall portion 102 on one short side
B has a rectangular outlet 110 at a position close to the barb 106.
Are formed. Further, a large number (1000 as an example) of first through holes 112 are formed in the bottom wall portion 102A. As shown in FIG. 13, the first through hole 112
Is 6 mm in height and 3 m in width that can enter the grain 28.
It has a track shape of m.

【0031】図12に戻り、移動体104は、試料整列
治具本体102の底壁部102Aに載置可能な矩形平板
状の基部104Aと、この基部104Aの一方の長辺部
に形成された階段状の把手104Bと、基部104Aの
他方の長辺部に形成された立ち上がり部104Cとによ
って構成されている。図14に示されるように、移動体
104を試料整列治具本体102内に納めた状態では、
移動体104の把手104Bが試料整列治具本体102
の把手108に重合され、又移動体104の立ち上がり
部104Cが試料整列治具本体102の返し106の下
側に潜り込むようになっている。さらに、この状態で移
動体104の立ち上がり部104Cと試料整列治具本体
102の一方の長辺側の側壁部102Dとの間には、所
定の隙間114が形成されており、この隙間114の間
隙寸法が試料整列治具本体102に対する移動体104
の移動ストロークに相当する。なお、移動体104の基
部104Aの横幅は試料整列治具本体102の底壁部1
02Aの上面の横幅に略一致しているため、移動体10
4は試料整列治具本体102に対して図14の矢印A方
向にのみ摺動(スライド)可能とされている。さらに、
この移動体104の基部104Aには、試料整列治具本
体102の第1透孔112と同一形状及び同一パターン
の多数の第2透孔116が形成されている。また、移動
体104の基部104Aの周辺部(四箇所)には(これ
に対応して試料整列治具本体102の底壁部102Aの
周辺部(四箇所)にも)、穀粒28を退けておくことが
できる程度の無孔部118が形成されている。
Returning to FIG. 12, the movable body 104 is formed on a rectangular flat plate-shaped base portion 104A which can be mounted on the bottom wall portion 102A of the sample alignment jig body 102, and one long side portion of the base portion 104A. It is composed of a step-shaped handle 104B and a rising portion 104C formed on the other long side portion of the base portion 104A. As shown in FIG. 14, when the moving body 104 is stored in the sample alignment jig body 102,
The handle 104B of the moving body 104 is the sample alignment jig body 102.
The handle 108 is overlapped with the handle 108, and the rising portion 104C of the moving body 104 sunk under the barb 106 of the sample alignment jig body 102. Further, in this state, a predetermined gap 114 is formed between the rising portion 104C of the moving body 104 and the side wall portion 102D on one long side of the sample alignment jig body 102. A moving body 104 whose dimensions are relative to the sample alignment jig body 102
Is equivalent to the moving stroke of. The width of the base portion 104A of the moving body 104 is the bottom wall portion 1 of the sample alignment jig body 102.
The width of the upper surface of 02A is substantially the same as that of the moving body 10.
Reference numeral 4 is slidable with respect to the sample alignment jig body 102 only in the direction of arrow A in FIG. further,
A large number of second through holes 116 having the same shape and the same pattern as the first through holes 112 of the sample alignment jig body 102 are formed in the base portion 104A of the moving body 104. Further, the grain 28 is moved to the peripheral portion (four locations) of the base portion 104A of the moving body 104 (corresponding to this, also to the peripheral portion (four locations) of the bottom wall portion 102A of the sample alignment jig main body 102). The non-hole portion 118 is formed so that it can be kept.

【0032】次に、本実施形態の作用並びに効果につい
て説明する。
Next, the operation and effect of this embodiment will be described.

【0033】最初に本実施形態に係るカラースキャナ1
8及び穀粒品質判定装置10の基本的な作用(全体的な
作動)を説明しておく。
First, the color scanner 1 according to the present embodiment
8 and the basic operation (overall operation) of the grain quality determination device 10 will be described.

【0034】まず最初に、予め等級が既知の穀粒(良品
の穀粒)28を試料台26の上に載置させて、判定結果
が良品となるようにティーチングを行う。このとき、穀
粒28の品質と判定結果が一致しない場合には、図4〜
図6に示す二色を組み合わせて予め定められた穀粒28
の品質を判定するための判定用テーブルのR信号の最小
値Rmin、R信号の最大値Rmax、二色間の関係を
示す直線の傾きa1、a2、b1、b2等を調整し、穀
粒28の品質と判定結果とが一致するようにティーチン
グを行う。なお、他の等級の穀粒28を判定するときに
は、判定対象の等級に分類された穀粒28を試料台26
の上に載置して、判定結果が良品になるようにテーチィ
ングを行えばよい。このように、テーチィングを行うこ
とにより目的とする等級の穀粒28を良品として判定す
ることができる。
First, grains (grades of non-defective products) 28 whose grades are known in advance are placed on the sample table 26, and teaching is performed so that the judgment result is non-defective. At this time, when the quality of the grain 28 and the determination result do not match, FIG.
A grain 28 that is predetermined by combining the two colors shown in FIG.
The minimum value Rmin of the R signal, the maximum value Rmax of the R signal, and the inclinations a1, a2, b1, b2 of the straight line indicating the relationship between the two colors are adjusted in the determination table for determining the quality of the grain 28. Teaching is performed so that the quality of and the judgment result match. In addition, when determining the grain 28 of another grade, the grain 28 classified into the grade of the determination target is used as the sample table 26.
It may be placed on top of the above and taching is performed so that the determination result is a good product. In this way, the grain 28 of the target grade can be determined as a non-defective product by performing the teaching.

【0035】次に、実際に穀粒28の品質を判定する作
業が行われる。
Next, the work of actually judging the quality of the grain 28 is performed.

【0036】まず、試料台26に載置された穀粒28の
画像の読取作業が行われる。具体的には、蓋体22をヒ
ンジ36回りに開放させて、試料台26の上に多数の穀
粒28を二次元状に載置させた後、蓋体22を閉止する
(なお、試料台26への穀粒8の載置の仕方については
後述する)。この状態で、スキャナ本体20の走査装置
30を駆動して試料台26の底面に沿って移動(二次元
走査)させる。これにより、走査装置30の光照射部3
2から穀粒28へ光が照射され、穀粒28で反射して戻
ってきた反射光が走査装置30の受光部34に受光され
る。反射光の受光結果は、受光部34を構成するカラー
CCDによってRGB(赤色、緑色、青色)に分解して
読取られ、画像(以下、「反射光画像」と称す)情報と
してクライアントコンピュータ14に出力される。上記
により、穀粒28の反射光画像が得られるため、穀粒2
8の外形や色彩といった穀粒表面の状態を読取ることが
可能となり、表面異常の穀粒(砕米、籾米、死米、茶系
着色米、青色未熟米、害虫被害米等の着色米)28を高
精度で見つけることができる。
First, an operation of reading an image of the grain 28 placed on the sample table 26 is performed. Specifically, the lid 22 is opened around the hinge 36, a large number of grains 28 are two-dimensionally placed on the sample table 26, and then the lid 22 is closed (note that the sample table 26 is closed). The method of placing the grain 8 on the 26 will be described later). In this state, the scanning device 30 of the scanner body 20 is driven to move (two-dimensional scanning) along the bottom surface of the sample table 26. Accordingly, the light irradiation unit 3 of the scanning device 30
Light is irradiated from 2 to the grain 28, and the reflected light reflected by the grain 28 and returned is received by the light receiving unit 34 of the scanning device 30. The result of receiving the reflected light is decomposed into RGB (red, green, blue) by the color CCD constituting the light receiving unit 34 and read, and is output to the client computer 14 as image (hereinafter referred to as “reflected light image”) information. To be done. Since the reflected light image of the grain 28 is obtained by the above, the grain 2
It becomes possible to read the state of the grain surface such as the outer shape and color of No. 8, and the grain with abnormal surface (crushed rice, paddy rice, dead rice, tea-colored rice, blue immature rice, colored rice such as pest-damaged rice) 28 Can be found with high precision.

【0037】続いて、蓋体22側の光源40を点灯さ
せ、穀粒28に光を照射させる。このとき、本実施形態
の場合、光源40と試料台26との間に斜光ルーバ42
が介在されているため、光源40からの照射光は穀粒2
8に対して約30度〜約60度の範囲で斜め方向から均
一に照射される。なお、このように斜光ルーバ42を使
って穀粒28に対して斜め方向から光を照射させるの
は、穀粒28の内部に亀裂や破断面等が存在している場
合には、当該亀裂や破断面等により光が遮光され、影が
生じ易くなり、この影を読取ることにより、亀裂や破断
面等の有無といった穀粒内部の状態を読取ることが可能
となり、内部異常の穀粒(胴割れ米)28の検出精度を
上げることができるからである。
Then, the light source 40 on the lid 22 side is turned on to irradiate the grain 28 with light. At this time, in the case of the present embodiment, the oblique louver 42 is provided between the light source 40 and the sample table 26.
Since the light is emitted from the light source 40,
Irradiation is uniformly performed in an oblique direction within a range of about 30 degrees to about 60 degrees. It should be noted that the use of the oblique light louver 42 to irradiate the grain 28 with light in an oblique direction in this way is effective when the grain 28 has cracks, fracture surfaces, or the like. Light is blocked by the fracture surface, and shadows are likely to occur.By reading this shadow, it becomes possible to read the internal state of the grain such as the presence or absence of cracks or fracture surfaces. This is because the detection accuracy of (US) 28 can be improved.

【0038】上記の状態で、前述した場合と同様にして
スキャナ本体20の走査装置30を駆動して試料台26
の底面に沿って移動(二次元走査)させる。これによ
り、蓋体22側の光源40から照射され穀粒28を透過
した透過光、並びに、走査装置30の光照射部32から
穀粒28へ照射されて穀粒28で反射した反射光が走査
装置30の受光部34に受光される。つまり、走査装置
30の受光部34には、蓋体22側の光源40から照射
されて穀粒28を透過した透過光と、走査装置30側の
光照射部32から照射されて穀粒28で反射されて戻っ
てきた反射光とが同時に受光される。透過光と反射光を
同時に受光した受光結果は、受光部34を構成するカラ
ーCCDによってRGB(赤色、緑色、青色)に分解し
て読取られ、画像(以下、「透過光・反射光画像」と称
す)情報としてクライアントコンピュータ14に出力さ
れる。
In the above state, the scanning device 30 of the scanner body 20 is driven in the same manner as described above to drive the sample table 26.
Move (two-dimensional scanning) along the bottom surface of. As a result, the transmitted light emitted from the light source 40 on the lid 22 side and transmitted through the grain 28 and the reflected light emitted from the light irradiation unit 32 of the scanning device 30 to the grain 28 and reflected by the grain 28 are scanned. The light is received by the light receiving unit 34 of the device 30. That is, the light receiving unit 34 of the scanning device 30 is transmitted from the light source 40 on the lid 22 side and transmitted through the grain 28, and the light irradiation unit 32 on the scanning device 30 side is illuminated by the grain 28. The reflected light that has been reflected and returned is received at the same time. The light reception result of simultaneously receiving the transmitted light and the reflected light is decomposed into RGB (red, green, blue) by the color CCD constituting the light receiving unit 34 and read, and an image (hereinafter referred to as “transmitted light / reflected light image”) is read. The information is output to the client computer 14 as information.

【0039】上記の如くして得られた画像情報に基づい
て穀粒28の品質判定処理が行われる。具体的には、透
過光・反射光画像(受光信号値)から反射光画像(受光
信号値)を減算する画像間演算処理が行われる。これに
より、穀粒28の透過光画像(受光信号値)が得られる
ため、穀粒内部の状態(亀裂・破断面等)を読取ること
が可能となり、前述した如く内部異常の穀粒(胴割れ
米)28を高精度で見つけることができる。
The quality judgment processing of the grain 28 is performed based on the image information obtained as described above. Specifically, an inter-image calculation process of subtracting the reflected light image (light reception signal value) from the transmitted light / reflected light image (light reception signal value) is performed. As a result, a transmitted light image (light reception signal value) of the grain 28 can be obtained, so that the inside state of the grain (crack, fracture surface, etc.) can be read, and as described above, the grain having an internal abnormality (body cracking). (US) 28 can be found with high precision.

【0040】つまり、本実施形態によれば、透過光・反
射光画像と反射光画像とで画像間演算を行うことによ
り、穀粒28の内部の画像情報と穀粒28の表面の画像
情報の双方を抽出することができることになる。その場
合、穀粒28の内部の画像情報は前記画像間演算の結果
から求めることができ、穀粒28の表面の画像情報は反
射光画像から求めることができる。その結果、胴割れ粒
と腹白等の部分着色粒とをそれぞれ明確に判別すること
が可能となり、精度の高い品質判定を行うことができ
る。
That is, according to the present embodiment, the inter-image calculation is performed using the transmitted / reflected light image and the reflected light image, so that the image information inside the grain 28 and the image information on the surface of the grain 28 can be obtained. Both can be extracted. In that case, the image information inside the grain 28 can be obtained from the result of the inter-image calculation, and the image information on the surface of the grain 28 can be obtained from the reflected light image. As a result, it is possible to clearly discriminate between the body-splitting grains and the partially colored grains such as the belly, and it is possible to perform highly accurate quality determination.

【0041】なお、上記の画像読取操作では、反射光画
像を先に読取り、透過光・反射光画像を後で読取る場合
を例にして説明したが、これに限らず、逆の手順で穀粒
28の画像の読取りを行ってもよい。
In the above-mentioned image reading operation, the case where the reflected light image is read first and the transmitted light / reflected light image is read later has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and the procedure is the reverse. 28 images may be read.

【0042】上述した穀粒28の品質判定処理の仕方に
ついて補足説明しておくと、各クライアントコンピュー
タ14は、スキャナ本体20から送信された穀粒28の
画像信号を取り込み、各画素のRGB3色の画像信号の
各々について、図4に示すように、a1B>R>a2
B、かつ、Rmin<R<Rmaxの条件を満たし、図
5に示すように、b1B>G>b2B、かつ、Gmin
<G<Gmaxの条件を満たし、更に図6に示すよう
に、c1G>R>c2G、かつ、Rmin<R<Rma
xの条件を満たすか否かを判断する。なお、Rminは
R色の画像信号の最小値、RmaxはR色の画像信号の
最大値、GminはG色の画像信号の最小値、Gmax
はG色の画像信号の最大値を示しており、又a1、a
2、b1、b2、c1、c2は図4〜図6に示す直線の
傾きを示す定数である。
A supplementary explanation of the above-described quality judgment processing of the grain 28 will be given. Each client computer 14 takes in the image signal of the grain 28 transmitted from the scanner main body 20 and outputs the RGB three colors of each pixel. For each of the image signals, as shown in FIG. 4, a1B>R> a2
B and the condition of Rmin <R <Rmax is satisfied, and as shown in FIG. 5, b1B>G> b2B and Gmin.
<G <Gmax is satisfied, and as shown in FIG. 6, c1G>R> c2G and Rmin <R <Rma.
It is determined whether or not the condition of x is satisfied. Rmin is the minimum value of the R color image signal, Rmax is the maximum value of the R color image signal, Gmin is the minimum value of the G color image signal, Gmax
Indicates the maximum value of the G color image signal, and a1, a
2, b1, b2, c1 and c2 are constants indicating the slopes of the straight lines shown in FIGS.

【0043】なお、穀粒28の内部及び表面の両方の情
報を抽出して判定する場合には、穀粒28の内部及び表
面の各々の情報(画像信号)について、上記の条件を満
たすか否かを判断すればよい。
When the information on both the inside and the surface of the grain 28 is extracted for determination, whether or not the above-mentioned conditions are satisfied for each information (image signal) on the inside and the surface of the grain 28. You just have to decide.

【0044】そして、これらのR・G・Bに関する色彩
の条件を満たすとき、当該穀粒28は色彩に関しては良
品であると判定し、上記条件を満たさないとき、当該穀
粒28は色彩に関しては不良品(即ち、死米、茶系着色
米、青色未熟米、害虫被害による着色米、或いは籾米)
であると判定する。なお、同じ不良品でも、砕粒米につ
いては面積比(画素数の多・少)によって判別され(籾
米も基本的には面積比から判別される)、胴割れ米は前
述した如く傾斜光の照射によって米内部に発生した影
(即ち、明度の急激な変化)を読取ることによって判別
される。これにより、穀粒28の等級付けを行うことが
できる。
When the color conditions for R, G, B are satisfied, it is determined that the grain 28 is a good product in terms of color, and when the above conditions are not satisfied, the grain 28 is in terms of color. Defective products (that is, dead rice, tea-colored rice, blue immature rice, colored rice caused by pest damage, or paddy rice)
It is determined that Even with the same defective product, crushed rice is identified by the area ratio (high / small number of pixels) (paddy rice is also basically identified by the area ratio). It is determined by reading the shadow generated inside the rice (that is, a rapid change in brightness). Thereby, the grain 28 can be graded.

【0045】また、定期的に、クライアントコンピュー
タ14からサーバコンピュータ16に、スキャナ本体2
0で取り込んだ画像とクライアントコンピュータ14の
判定結果とを送信し、サーバコンピュータ16の画面に
表示させる。これにより、熟練したオペレータが、スキ
ャナ本体20で取り込んだ画像とクライアントコンピュ
ータ14の判定結果とを目視により比較することで、穀
粒品質判定装置10のクライアントコンピュータ14が
正常に作動しているか、或いは、クライアントコンピュ
ータ14の判定結果にバラツキがないかをチェックし、
統一的な管理を行うことができる。
Further, the scanner main body 2 is periodically sent from the client computer 14 to the server computer 16.
The image captured at 0 and the determination result of the client computer 14 are transmitted and displayed on the screen of the server computer 16. As a result, a skilled operator visually compares the image captured by the scanner body 20 with the determination result of the client computer 14 to check whether the client computer 14 of the grain quality determination device 10 is operating normally, or , Check whether there is any variation in the judgment result of the client computer 14,
Unified management can be performed.

【0046】ここで、本実施形態では、試料整列治具1
00を用いて、以下の要領で、カラースキャナ18の試
料台26の上面(試料載置面)に穀粒28が載置され
る。
Here, in the present embodiment, the sample alignment jig 1
00, the grain 28 is mounted on the upper surface (sample mounting surface) of the sample table 26 of the color scanner 18 in the following manner.

【0047】まず、試料整列治具本体102内に移動体
104が重合され、試料整列治具本体102の底壁部1
02Aの上面に移動体104の基部104Aが載置され
る。次いで、把手104Bを持って移動体104を試料
整列治具本体102の把手108側へ引き寄せる(図1
4図示状態)。これにより、移動体104の第2透孔1
16が試料整列治具本体102の第1透孔112に対し
てずれた状態で両者が保持され、図15(A)に示され
る如く、試料整列治具本体102の第1透孔非形成部分
120が第2透孔116の底面となる(以上、第1工
程)。次に、図14の矢印Bで示されるように、試料整
列治具本体102内へ試料となる穀粒28が投入され
る。次いで、試料整列治具本体102及び移動体104
を揺さぶりながら、又は投入された穀粒28を指先やへ
ら等で掻き均しながら、穀粒28を第2透孔116内へ
一粒ずつ入り込ませる(以上、第2工程)。次に、試料
整列治具100を排出口110が下になるように傾け
て、余剰な穀粒28を試料整列治具本体102の排出口
110から排出する。余剰の穀粒28の多くは排出口1
10から排出されるが、その後も数粒〜十数粒程度の穀
粒28が移動体104の基部104Aの上面に残ること
がある。このような場合には、当該残余の穀粒28を移
動体104の無孔部118に退けておけばよい。
First, the moving body 104 is superposed in the sample alignment jig body 102, and the bottom wall portion 1 of the sample alignment jig body 102 is overlapped.
The base 104A of the moving body 104 is placed on the upper surface of 02A. Then, holding the handle 104B, the movable body 104 is pulled toward the handle 108 side of the sample alignment jig body 102 (FIG. 1).
4 shown). Accordingly, the second through hole 1 of the moving body 104
Both are held in a state in which 16 is displaced with respect to the first through hole 112 of the sample alignment jig main body 102, and as shown in FIG. 15A, the first through hole non-formation portion of the sample alignment jig main body 102. 120 becomes the bottom surface of the second through hole 116 (the above is the first step). Next, as shown by the arrow B in FIG. 14, the grain 28 to be the sample is put into the sample alignment jig body 102. Next, the sample alignment jig body 102 and the moving body 104
The grain 28 is made to enter the second through hole 116 one by one while shaking the grain, or while scratching the introduced grain 28 with a fingertip or a spatula (the above is the second step). Next, the sample alignment jig 100 is tilted so that the discharge port 110 faces downward, and excess grain 28 is discharged from the discharge port 110 of the sample alignment jig body 102. Most of the excess grain 28 is the outlet 1
Although it is discharged from 10, the grains 28 of about several grains to about a dozen grains may remain on the upper surface of the base 104A of the moving body 104 even after that. In such a case, the remaining grain 28 may be moved to the non-hole portion 118 of the moving body 104.

【0048】次に、この状態で、試料整列治具本体10
2及び移動体104が試料台26の上面に載置される
(以上、第3工程)。次に、移動体104の立ち上がり
部104Cが試料整列治具本体102の一方の長辺側の
側壁部102Dに当接するまで、移動体104が試料整
列治具100の底壁部102Aに対してスライドされ、
第2透孔116が第1透孔112に重合される。これに
より、図15(B)に示される如く、第2透孔116と
第1透孔112とが連通され、試料台26の上面が第1
透孔112の底面となる。そして、第2透孔116内に
入り込んでいた穀粒28は第1透孔112内へ落下さ
れ、試料台26の上面に載置される(以上、第4工
程)。次に、試料整列治具本体102及び移動体104
が持上げられて試料台26から取外される。取外し後の
状態では、図11に示される如く、多数の穀粒28はそ
の長軸方向が一定方向に向けられ、所定の間隔で配列さ
れる(以上、第5工程)。
Next, in this state, the sample alignment jig body 10
2 and the moving body 104 are placed on the upper surface of the sample table 26 (the above is the third step). Next, the moving body 104 slides with respect to the bottom wall portion 102A of the sample aligning jig 100 until the rising portion 104C of the moving body 104 contacts the side wall portion 102D on one long side of the sample aligning jig body 102. Is
The second through holes 116 are overlapped with the first through holes 112. As a result, as shown in FIG. 15B, the second through hole 116 and the first through hole 112 are communicated with each other, and the upper surface of the sample table 26 is at the first position.
It becomes the bottom surface of the through hole 112. Then, the grain 28 having entered the second through hole 116 is dropped into the first through hole 112 and placed on the upper surface of the sample table 26 (the above is the fourth step). Next, the sample alignment jig body 102 and the moving body 104
Is lifted and removed from the sample table 26. In the state after removal, as shown in FIG. 11, a large number of grains 28 are arranged with their major axes oriented in a fixed direction and at predetermined intervals (the above is the fifth step).

【0049】このように本実施形態に係る試料整列治具
100を用いて試料となる穀粒28を試料台26の上面
に載置させるようにすれば、簡単かつ迅速に穀粒28を
整列状態で載置させることができる。
As described above, by using the sample aligning jig 100 according to the present embodiment to place the grain 28 to be a sample on the upper surface of the sample table 26, the grain 28 can be easily and quickly aligned. Can be placed at.

【0050】また、本実施形態に係る試料整列治具10
0には、排出口110と無孔部118が形成されている
ため、余剰の穀粒28については排出口110を使って
短時間で排出することができ、余剰の穀粒28を排出し
た後に尚残った残余の穀粒28については無孔部118
に退けておくことができるため、不要な穀粒28を効率
良く除去することができる。その結果、本実施形態によ
れば、試料台26に試料となる穀粒28を載置するまで
の作業時間を短縮化することができる。
Further, the sample alignment jig 10 according to the present embodiment.
Since the discharge port 110 and the non-hole portion 118 are formed at 0, the excess grain 28 can be discharged in a short time by using the discharge port 110, and after the excess grain 28 is discharged. For the remaining residual grain 28, the non-hole portion 118
Therefore, unnecessary grains 28 can be efficiently removed. As a result, according to the present embodiment, it is possible to shorten the working time until the grain 28 to be the sample is placed on the sample table 26.

【0051】〔実施形態の補足〕 <斜光手段のバリエーションについて>上述した本実施
形態に係るカラースキャナ18では、広義には斜光手段
として解釈される構成要素について、光源40及び斜光
ルーバ42を使用したが、これに限らず、種々の構成を
採用することができる。以下、そのバリエーションを幾
つか開示する。なお、説明に際しては、前述した実施形
態と同一構成部分については同一番号を付してその説明
を省略する。
[Supplement to Embodiment] <Variations of Oblique Light Means> In the color scanner 18 according to the present embodiment described above, the light source 40 and the oblique light louver 42 are used for the components that are broadly interpreted as the oblique light means. However, not limited to this, various configurations can be adopted. Some of the variations will be disclosed below. In the description, the same components as those of the above-described embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0052】図7(A)、(B)に示されるカラースキ
ャナ50では、蓋体22側の棒状の光源40に代えて面
発光光源52を用いた点に特徴がある。面発光光源52
は、図7(B)に示されるように、斜光ルーバ42と平
行に配置された矩形状の拡散板52Aと、この拡散板5
2Aの対向する辺に設けられた一対の棒状光源52Bと
によって構成されている。
The color scanner 50 shown in FIGS. 7A and 7B is characterized in that a surface emitting light source 52 is used instead of the rod-shaped light source 40 on the lid 22 side. Surface emitting light source 52
As shown in FIG. 7B, is a rectangular diffusion plate 52A arranged parallel to the oblique light louver 42 and the diffusion plate 5A.
It is constituted by a pair of rod-shaped light sources 52B provided on opposite sides of 2A.

【0053】上記構成によれば、棒状光源52Bを点灯
すると、光は、拡散板52A中を伝搬して拡散板52A
の上下面から拡散光として照射される。かかる拡散光
は、斜光ルーバ42によって光の方向が斜め方向に均一
化され、試料台26の上に載置された穀粒28に対して
傾斜した方向から光が照射される。従って、斜光ルーバ
42に対する照射光が棒状の光源40を用いた場合より
も均一化され、ひいては試料台26に載置された穀粒2
8に対する斜め方向からの光の照射の均一化の精度を高
めることができる。
According to the above configuration, when the rod-shaped light source 52B is turned on, the light propagates through the diffusion plate 52A and the diffusion plate 52A.
It is emitted as diffused light from the upper and lower surfaces. The direction of the diffused light is made uniform by the oblique light louver 42 in an oblique direction, and the grain 28 placed on the sample table 26 is irradiated with the light from the inclined direction. Therefore, the irradiation light with respect to the oblique louver 42 is made more uniform than in the case where the rod-shaped light source 40 is used, and by extension, the grain 2 placed on the sample table 26.
It is possible to improve the accuracy of uniformizing the irradiation of light from 8 in an oblique direction.

【0054】図8(A)、(B)に示されるカラースキ
ャナ60では、蓋体22側の光源40及び斜光ルーバ4
2に代えて、多数の発光ダイオード(LED)62を二
次元状に傾斜した状態で配設した点に特徴がある。具体
的には、各発光ダイオード62の光軸方向は試料台26
の試料載置面に対して約30度〜約60度の範囲、好ま
しくは約30度に設定されており、多数の発光ダイオー
ド62が二次元状(n行×m列)に配列されている。な
お、本実施形態の場合、単色の発光ダイオード62が用
いられているが、RGB3色の発光ダイオード62を交
互に配置して、全体として白色光が得られるようにして
もよい。
In the color scanner 60 shown in FIGS. 8A and 8B, the light source 40 on the lid 22 side and the oblique louver 4 are provided.
Instead of 2, a large number of light emitting diodes (LEDs) 62 are arranged in a two-dimensionally inclined state. Specifically, the direction of the optical axis of each light emitting diode 62 is the sample table 26.
Is set in the range of about 30 degrees to about 60 degrees, preferably about 30 degrees, and a large number of light emitting diodes 62 are arranged two-dimensionally (n rows × m columns). . In the case of the present embodiment, the monochromatic light emitting diodes 62 are used, but the light emitting diodes 62 of RGB three colors may be alternately arranged to obtain white light as a whole.

【0055】上記構成によれば、多数の発光ダイオード
62を所定角度傾斜させた状態で二次元状に配置する構
成としたので、斜光ルーバ42が不要となる。その結
果、本実施形態によれば、蓋体22側の構造の簡素化を
図ることができる。
According to the above structure, the large number of light emitting diodes 62 are arranged in a two-dimensional manner in a state of being inclined by a predetermined angle, so that the oblique light louver 42 becomes unnecessary. As a result, according to this embodiment, the structure on the lid 22 side can be simplified.

【0056】なお、本実施形態の場合、発光ダイオード
62の発光方向(光軸方向)をすべて同一方向に設定し
たが、図9(A)、(B)に示されるように、発光方向
が逆方向となる一次元状の発光ダイオードアレイ64、
66を交互に配列する構成を採ってもよい。この場合、
穀粒28に対して異なる二方向から斜めに光が照射され
るので、更に効果的に穀粒28の品質を判定することが
できる。
In this embodiment, the light emitting directions of the light emitting diodes 62 (optical axis directions) are all set to the same direction, but as shown in FIGS. 9A and 9B, the light emitting directions are opposite. Direction one-dimensional light emitting diode array 64,
A configuration in which 66 are alternately arranged may be adopted. in this case,
Since the grain 28 is irradiated with light obliquely from two different directions, the quality of the grain 28 can be determined more effectively.

【0057】図10(A)、(B)に示されるカラース
キャナ70では、蓋体22側の光源40及び斜光ルーバ
42に代えて、一次元状に配列されかつ各々傾斜された
発光ダイオードアレイ72を配設し、当該発光ダイオー
ドアレイ72をその配列方向と交差(直交)する方向
(図10(A)の矢印方向)へ移動させる構成とした点
に特徴がある。一次元状の発光ダイオードアレイ72を
移動させる機構は、ベルト駆動機構等、公知の駆動機構
を適用することができる。
In the color scanner 70 shown in FIGS. 10A and 10B, instead of the light source 40 and the oblique louver 42 on the lid 22, the light emitting diode array 72 arranged in a one-dimensional manner and inclined respectively. Is provided and the light emitting diode array 72 is moved in a direction intersecting (orthogonal to) the array direction (direction of arrow in FIG. 10A). A known driving mechanism such as a belt driving mechanism can be applied to the mechanism for moving the one-dimensional light emitting diode array 72.

【0058】上記構成によれば、一次元状に配列された
発光ダイオードアレイ72の発光方向が穀粒28に対し
て斜め方向から光が照射されるように設定したので、一
次元的な斜光性は確保される。そして、これを二次元状
に展開していくには、発光ダイオードアレイ72の方を
当該発光ダイオードアレイ72の配列方向と交差する方
向へ移動させればよい。なお、このとき、スキャナ本体
20の光照射部32によって照射される部位と発光ダイ
オードアレイ72によって照射される部位とが一致する
ように、走査装置30と発光ダイオードアレイ72とを
同期させて移動させる。或いは、発光ダイオードアレイ
72についてはそのままにしておき、試料台26の方を
当該発光ダイオードアレイ72の配列方向と交差する方
向へ移動させる方法を採ってもよい。この場合には、走
査装置30は発光ダイオードアレイ72と対応する位置
に保持される。更には、発光ダイオードアレイ72と試
料台26とを相互に反対方向に移動させる構成を採って
もよい。いずれの方法を採ったとしても、本実施形態に
よれば、斜光ルーバ42が不要になるだけでなく、発光
ダイオードアレイ72の使用個数も大幅に削減される。
その結果、本実施形態によれば、大幅にコストを削減す
ることができる。
According to the above configuration, the light emitting direction of the light emitting diode array 72 arranged in a one-dimensional manner is set so that the grain 28 is irradiated with light from an oblique direction, so that the one-dimensional oblique light property is obtained. Is secured. Then, in order to develop this in a two-dimensional manner, the light emitting diode array 72 may be moved in a direction intersecting with the arrangement direction of the light emitting diode array 72. At this time, the scanning device 30 and the light emitting diode array 72 are moved in synchronization with each other so that the portion irradiated by the light irradiation unit 32 of the scanner body 20 and the portion irradiated by the light emitting diode array 72 coincide with each other. . Alternatively, a method may be adopted in which the light emitting diode array 72 is left as it is and the sample stage 26 is moved in a direction intersecting the arrangement direction of the light emitting diode array 72. In this case, the scanning device 30 is held at a position corresponding to the light emitting diode array 72. Furthermore, a configuration may be adopted in which the light emitting diode array 72 and the sample stage 26 are moved in mutually opposite directions. Whichever method is adopted, according to the present embodiment, not only the oblique light louvers 42 are unnecessary, but also the number of light emitting diode arrays 72 used is significantly reduced.
As a result, according to this embodiment, the cost can be significantly reduced.

【0059】なお、上記構成において、発光ダイオード
アレイ72を移動させるときに、当該発光ダイオードア
レイ72からの光の照射方向を往路と復路とで変更して
もよい。この場合、発光ダイオードアレイ72の往復移
動によって、図9で説明したように穀粒28が異なる二
方向から斜めに照明されることになるので、更に効果的
に穀粒28の品質を判定することができる。
In the above structure, when the light emitting diode array 72 is moved, the irradiation direction of the light from the light emitting diode array 72 may be changed between the forward path and the return path. In this case, the reciprocating movement of the light emitting diode array 72 causes the grain 28 to be obliquely illuminated from two different directions as described with reference to FIG. 9, so that the quality of the grain 28 can be determined more effectively. You can

【0060】また、上記構成においては、一つの発光ダ
イオードアレイ72を用いる例について説明したが、図
9(A)に示される構成の発光ダイオードアレイ64、
66(発光方向が相互に逆方向となるように組み合わせ
た発光ダイオードアレイ)を移動可能にしてもよい。
In the above structure, an example in which one light emitting diode array 72 is used has been described, but the light emitting diode array 64 having the structure shown in FIG.
66 (light emitting diode array in which light emitting directions are opposite to each other) may be movable.

【0061】さらに、図8〜図10に示される各実施形
態では、発光ダイオード62、発光ダイオードアレイ6
4、66、72を使用したが、これに限らず、有機EL
素子を使用するようにしてもよい。
Further, in each of the embodiments shown in FIGS. 8 to 10, the light emitting diode 62 and the light emitting diode array 6 are used.
4, 66, 72 were used, but not limited to this, organic EL
The element may be used.

【0062】<画像処理について>上述した本実施形態
に係る穀粒品質判定装置10では、カラースキャナ18
をクライアントコンピュータ14に接続し、当該クライ
アントコンピュータ14をネットワーク12に接続する
構成を採ったが、これに限らず、判定装置として機能す
るスタンドアローン型のコンピュータをクライアントコ
ンピュータ14として用い、ネットワーク12に接続し
ない構成を採ってもよい。
<Regarding Image Processing> In the grain quality judging device 10 according to the present embodiment described above, the color scanner 18 is used.
Is connected to the client computer 14 and the client computer 14 is connected to the network 12. However, the present invention is not limited to this, and a standalone computer that functions as a determination device is used as the client computer 14 to connect to the network 12. A configuration that does not include may be adopted.

【0063】また、上述した本実施形態に係る穀粒品質
判定装置10では、透過光・反射光画像と反射光画像と
を読取り、クライアントコンピュータ14で画像間演算
を行うことにより透過光画像を得る構成を採ったが、こ
れに限らず、以下の方法を採ってもよい。
Further, in the grain quality judging apparatus 10 according to the present embodiment described above, the transmitted light image is obtained by reading the transmitted / reflected light image and the reflected light image and performing the inter-image calculation by the client computer 14. Although the configuration is adopted, the present invention is not limited to this, and the following method may be adopted.

【0064】一つには、上記とは逆に、透過光画像を読
取って画像間演算により反射光画像を得る方法である。
すなわち、走査装置30の光照射部32を投光・消灯切
換可能に構成し、斜光手段の光源及び光照射部32を共
に点灯させた状態で、前者の光源から照射されて穀粒2
8を透過した透過光及び後者から照射されて穀粒28で
反射された反射光の双方を受光部34で受光したときの
画像情報(透過光・反射光画像情報)を得る一方で、斜
光手段の光源を点灯させかつ光照射部32を消灯させた
状態で、前者から照射されて穀粒28を透過した透過光
のみを受光部34で受光したときの画像情報(透過光画
像情報)を得る。そして、これらの画像情報はクライア
ントコンピュータ14に出力され、当該クライアントコ
ンピュータ14において透過光・反射光画像から透過光
画像を減算し、反射光画像を求める。上記方法によって
も、本実施形態と同様に精度の高い品質判定を行うこと
ができる。
One of the methods is, contrary to the above, a method of reading a transmitted light image and performing a calculation between images to obtain a reflected light image.
That is, the light irradiation unit 32 of the scanning device 30 is configured to be capable of projecting and extinguishing the light, and both the light source of the oblique light unit and the light irradiation unit 32 are turned on, and the grains 2 are irradiated by the former light source.
Image information (transmitted light / reflected light image information) obtained when the light receiving unit 34 receives both the transmitted light that has passed through 8 and the reflected light that is emitted from the latter and reflected by the grain 28, while the oblique light means The image information (transmitted light image information) is obtained when the light receiving unit 34 receives only the transmitted light that is emitted from the former and transmitted through the grain 28 in a state where the light source is turned on and the light irradiation unit 32 is turned off. . Then, the image information is output to the client computer 14, and the transmitted light image is subtracted from the transmitted light / reflected light image in the client computer 14 to obtain the reflected light image. Also by the above method, it is possible to perform quality determination with high accuracy as in the present embodiment.

【0065】他の一つの方法は、前記方法と同様に、走
査装置30の光照射部32を投光・消灯切換可能に構成
し、斜光手段の光源を点灯させかつ光照射部32を消灯
させた状態で、前者の光源から照射されて穀粒28を透
過した透過光のみを受光部34で受光したときの画像情
報(透過光画像情報)を得る一方で、斜光手段の光源を
消灯させかつ光照射部32を点灯させた状態で、後者か
ら照射されて穀粒28で反射された反射光のみを受光部
34で受光したときの画像情報(反射光画像情報)を得
る。そして、これらの画像情報はクライアントコンピュ
ータ14に出力される。上記構成によれば、透過光画像
情報と反射光画像情報とが個別に直接得られるため、画
像間演算を行う必要がなくなる。従って、クライアント
コンピュータ14では、入力された二種類の画像情報か
ら直接的に穀粒28の品質を判定することができる。よ
って、画像間演算が不要になる分、短時間で穀粒28の
品質の判定をすることができる。
Another method is similar to the above method, in which the light irradiation unit 32 of the scanning device 30 is configured to be capable of projecting and extinguishing light, and the light source of the oblique light means is turned on and the light irradiation unit 32 is turned off. In this state, while obtaining the image information (transmitted light image information) when only the transmitted light that is emitted from the former light source and transmitted through the grain 28 is received by the light receiving unit 34, the light source of the oblique light means is turned off and With the light irradiation unit 32 turned on, image information (reflected light image information) obtained when only the reflected light emitted from the latter and reflected by the grain 28 is received by the light receiving unit 34 is obtained. Then, the image information is output to the client computer 14. According to the above configuration, the transmitted light image information and the reflected light image information can be directly obtained individually, so that it is not necessary to perform an inter-image calculation. Therefore, the client computer 14 can directly determine the quality of the grain 28 from the two types of input image information. Therefore, the quality of the grain 28 can be determined in a short time because the calculation between images becomes unnecessary.

【0066】<試料整列治具について>上述した本実施
形態では、試料台26及び走査装置30を備えたスキャ
ナ本体20と、斜光手段として機能する光源40及び斜
光ルーバ42を備えた蓋体22とによって構成されたカ
ラースキャナ18に対して試料整列治具100を使用す
る態様を例にして説明したが、本発明に係る穀粒画像読
取装置用試料整列治具は前記構成以外の態様のカラース
キャナに対しても適用可能である。すなわち、蓋体22
側には何らの光源も配設されておらず(従って、この場
合の蓋体は試料台26を覆うカバーとしてのみ機能す
る)、試料台26及び走査装置30を備えたスキャナ本
体20のみによって主要部が構成されたカラースキャナ
に対して本発明を適用してもよい。
<Regarding Sample Alignment Jig> In the above-described embodiment, the scanner main body 20 provided with the sample table 26 and the scanning device 30, the lid 22 provided with the light source 40 and the oblique light louver 42 functioning as the oblique light means. Although the example in which the sample aligning jig 100 is used for the color scanner 18 configured as described above has been described as an example, the sample aligning jig for a grain image reading apparatus according to the present invention is a color scanner having an aspect other than the above configuration. Can also be applied to. That is, the lid 22
No light source is arranged on the side (therefore, the lid body in this case functions only as a cover for covering the sample table 26), and the main body is constituted only by the scanner body 20 including the sample table 26 and the scanning device 30. The present invention may be applied to a color scanner having a unit.

【0067】また、上述した本実施形態では、試料整列
治具本体102に対して移動体104を図14の矢印A
方向にのみ移動可能に構成(両者の寸法関係を設定)し
たが、これに限らず、試料整列治具本体102に対して
移動体104を図14の矢印A方向と直交する方向(試
料整列治具本体102の長辺側の側壁部102D、10
2Eの長手方向)にのみ移動可能に構成してもよいし、
双方向に移動可能に構成してもよい。
Further, in the above-described embodiment, the moving body 104 is attached to the sample aligning jig main body 102 by the arrow A in FIG.
Although the movable body 104 is configured to be movable only in the direction (the dimensional relationship between the two is set), the present invention is not limited to this. Side wall portions 102D, 10 on the long side of the tool body 102
2E) and may be configured to be movable only in the longitudinal direction).
It may be configured to be movable in both directions.

【0068】さらに、上述した実施形態では、移動体1
04の基部104A並びに試料整列治具本体102の底
壁部102Aの周辺部のすべてに無孔部118を形成し
たが、これに限らず、試料整列治具本体102及び移動
体104の少なくとも一周辺部側に無孔部を設ける構成
であればよい。
Further, in the above-described embodiment, the moving body 1
Although the non-hole portion 118 is formed on all of the peripheral portion of the base portion 104A of No. 04 and the bottom wall portion 102A of the sample alignment jig main body 102, the present invention is not limited to this. Any structure may be used as long as it has a non-perforated portion on its side.

【0069】[0069]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の穀
粒画像読取装置用試料整列治具は、トレイ状に形成され
ると共に試料台の底部の上面に載置可能とされ、一粒の
穀粒が入り込める程度の大きさを有しかつ略穀粒形状に
形成され更に長軸方向が一定方向に向けられた多数の第
1透孔が所定の間隔で穿設された底壁部を備えた試料整
列治具本体と、この試料整列治具本体の底壁部の上面に
対して摺動可能な大きさに形成されると共に当該底壁部
の上面に載置可能とされ、更に多数の第1透孔と同一形
状及び同一パターンで多数の第2透孔が形成された移動
体と、を含むため、簡単かつ迅速に、試料となる穀粒を
試料台上に整列した状態で載置させることができるとい
う優れた効果を有する。
As described above, the sample aligning jig for a grain image reading apparatus according to claim 1 is formed in a tray shape and can be mounted on the upper surface of the bottom of the sample stand, and one grain Of the bottom wall portion having a size large enough to allow the grains to enter and formed in a substantially grain shape, and further having a plurality of first through holes formed with a predetermined major axis direction in a predetermined direction. The sample aligning jig body is provided, and the sample aligning jig body is formed so as to be slidable with respect to the upper surface of the bottom wall portion of the body, and can be placed on the upper surface of the bottom wall portion. And a moving body in which a large number of second through holes are formed in the same shape and pattern as the first through holes of the above, the grain to be a sample is easily and quickly placed in a state of being aligned on the sample table. It has an excellent effect that it can be placed.

【0070】請求項2記載の本発明に係る穀粒画像読取
装置用試料整列治具は、請求項1記載の発明において、
試料整列治具本体の側壁部には余剰の穀粒を排出するた
めの排出口を形成すると共に、当該試料整列治具本体及
び移動体の少なくとも一周辺部側には残余の穀粒を退け
ておくための無孔部を設けたので、不要な穀粒を効率良
く除去することができ、その結果、試料台に試料となる
穀粒を載置するまでの作業時間を短縮化することができ
るという優れた効果を有する。
A sample aligning jig for a grain image reading apparatus according to the present invention according to claim 2 is the same as the sample aligning jig according to claim 1,
A discharge port for discharging excess grain is formed on the side wall of the sample alignment jig body, and the residual grain is removed on at least one peripheral side of the sample alignment jig body and the moving body. Since the non-perforated part is provided for storing, unnecessary grains can be efficiently removed, and as a result, the working time until the sample grains are placed on the sample table can be shortened. It has an excellent effect.

【0071】請求項3記載の本発明に係る穀粒画像読取
装置用試料整列治具を用いた試料整列方法は、前記試料
整列治具本体の底壁部の上面に前記移動体を載置させ、
第2透孔が第1透孔に対してずれた状態で両者を保持す
る第1工程と、この状態の試料整列治具本体内へ試料と
なる穀粒を投入し、当該穀粒を第2透孔内へ一粒ずつ入
り込ませる第2工程と、この状態で当該試料整列治具本
体及び当該移動体を試料台の底部の上面に載置させる第
3工程と、当該移動体を当該試料整列治具本体の底壁部
に対してスライドさせ、第2透孔を第1透孔に重合させ
る第4工程と、この状態で当該試料整列治具本体及び当
該移動体を持上げて試料台から取り外す第5工程と、を
有するので、簡単かつ迅速に、試料となる穀粒を試料台
上に整列した状態で載置させることができるという優れ
た効果を有する。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a sample aligning method using the sample aligning jig for a grain image reading apparatus, wherein the moving body is placed on the upper surface of the bottom wall of the sample aligning jig body. ,
The first step of holding the second through hole in a state of being displaced from the first through hole, and the grain serving as the sample is put into the sample alignment jig main body in this state, and the grain is moved to the second stage. The second step of inserting the particles into the through holes one by one, the third step of placing the sample alignment jig main body and the movable body on the upper surface of the bottom of the sample table in this state, and the movable body of the sample alignment. A fourth step of sliding the second through hole to the first through hole by sliding it against the bottom wall of the jig body, and in this state, lift the sample aligning jig body and the moving body and remove them from the sample table. Since it has the fifth step, it has an excellent effect that the grain to be the sample can be easily and quickly placed on the sample table in an aligned state.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本実施形態に係る穀粒品質判定装置のシステム
構成図である。
FIG. 1 is a system configuration diagram of a grain quality determination device according to the present embodiment.

【図2】本実施形態に係る穀粒画像読取装置の全体構成
を蓋体が開いた状態で示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing an overall configuration of a grain image reading apparatus according to the present embodiment with a lid open.

【図3】(A)は図2に示される穀粒画像読取装置の全
体構成を蓋体を閉めた状態で示す断面図、(B)はその
側面図である。
3A is a cross-sectional view showing the entire configuration of the grain image reading apparatus shown in FIG. 2 with a lid closed, and FIG. 3B is a side view thereof.

【図4】良品領域を示す画像情報のRとBとの関係を示
す線図である。
FIG. 4 is a diagram showing a relationship between R and B of image information indicating a non-defective area.

【図5】良品領域を示す画像情報のGとBとの関係を示
す線図である。
FIG. 5 is a diagram showing a relationship between G and B of image information indicating a non-defective area.

【図6】良品領域を示す画像情報のRとGとの関係を示
す線図である。
FIG. 6 is a diagram showing a relationship between R and G of image information indicating a non-defective area.

【図7】(A)は穀粒画像読取装置の別の実施形態(面
発光光源タイプ)を示す図3(A)に対応する断面図、
(B)はその側面図である。
FIG. 7A is a sectional view corresponding to FIG. 3A, showing another embodiment (surface emitting light source type) of the grain image reading device;
(B) is a side view thereof.

【図8】(A)は穀粒画像読取装置の別の実施形態(二
次元発光ダイオードタイプ)を示す図3(A)に対応す
る断面図、(B)はその側面図である。
8A is a sectional view showing another embodiment (two-dimensional light emitting diode type) of the grain image reading apparatus, which corresponds to FIG. 3A, and FIG. 8B is a side view thereof.

【図9】(A)は穀粒画像読取装置の別の実施形態(二
次元発光ダイオードタイプの別例)を示す図3(A)に
対応する断面図、(B)はその側面図である。
9A is a cross-sectional view corresponding to FIG. 3A showing another embodiment (another example of a two-dimensional light emitting diode type) of the grain image reading device, and FIG. 9B is a side view thereof. .

【図10】(A)は穀粒画像読取装置の別の実施形態
(一次元発光ダイオードタイプ)を示す図3(A)に対
応する断面図、(B)はその側面図である。
10A is a sectional view showing another embodiment (one-dimensional light emitting diode type) of the grain image reading apparatus, which corresponds to FIG. 3A, and FIG. 10B is a side view thereof.

【図11】本実施形態に係る穀粒画像読取装置の試料台
に穀粒が載置された状態を示す斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing a state in which the grain is placed on the sample stand of the grain image reading apparatus according to the present embodiment.

【図12】本実施形態に係る試料整列治具を示す斜視図
である。
FIG. 12 is a perspective view showing a sample alignment jig according to the present embodiment.

【図13】図12に示される試料整列治具本体に形成さ
れた第1透孔(及び移動体に形成された第2透孔)を拡
大して示す平面図である。
13 is an enlarged plan view showing a first through hole (and a second through hole formed in a moving body) formed in the sample alignment jig body shown in FIG.

【図14】試料整列治具本体内に移動体が装着された状
態を示す縦断面図である。
FIG. 14 is a vertical cross-sectional view showing a state in which a moving body is mounted in the sample alignment jig body.

【図15】(A)は移動体の第2透孔を試料整列治具本
体の第1透孔に対してずらしたときの穀粒の状態を示す
要部拡大断面図、(B)は当該第2透孔を当該第1透孔
に対して重合させたときの穀粒の状態を示す要部拡大断
面図である。
FIG. 15 (A) is an enlarged cross-sectional view of an essential part showing the state of the grain when the second through hole of the moving body is displaced from the first through hole of the sample alignment jig body, and (B) is the relevant part. It is a principal part expanded sectional view which shows the state of a grain at the time of superposing | polymerizing a 2nd through-hole with respect to the said 1st through-hole.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

18 カラースキャナ(穀粒画像読取装置) 20 スキャナ本体 26 試料台 28 穀粒 30 走査装置(走査手段) 32 光照射部 34 受光部 50 カラースキャナ(穀粒画像読取装置) 60 カラースキャナ(穀粒画像読取装置) 70 カラースキャナ(穀粒画像読取装置) 100 試料整列治具 102 試料整列治具本体 104 移動体 110 排出口 112 第1透孔 116 第2透孔 118 無孔部 18 Color scanner (grain image reader) 20 Scanner body 26 sample table 28 grains 30 Scanning device (scanning means) 32 light irradiation part 34 Light receiving part 50 color scanner (grain image reader) 60 color scanner (grain image reader) 70 Color scanner (grain image reader) 100 Sample alignment jig 102 Sample alignment jig body 104 moving body 110 outlet 112 First through hole 116 Second through hole 118 Non-hole part

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 底部が透明材料によって構成されると共
に穀粒が二次元状に載置可能とされた試料台を画像読取
位置に有し、当該試料台の底部に沿って移動可能に設け
られかつ穀粒に対して光を照射する光照射部及び穀粒で
反射された反射光を受光する受光部を含んで構成された
走査手段を備えたスキャナ本体を有する穀粒画像読取装
置に適用され、 トレイ状に形成されると共に前記試料台の底部の上面に
載置可能とされ、一粒の穀粒が入り込める程度の大きさ
を有しかつ略穀粒形状に形成され更に長軸方向が一定方
向に向けられた多数の第1透孔が所定の間隔で穿設され
た底壁部を備えた試料整列治具本体と、 この試料整列治具本体の底壁部の上面に対して摺動可能
な大きさに形成されると共に当該底壁部の上面に載置可
能とされ、更に前記多数の第1透孔と同一形状及び同一
パターンで多数の第2透孔が形成された移動体と、 を含むことを特徴とする穀粒画像読取装置用試料整列治
具。
1. A sample table having a bottom made of a transparent material and capable of two-dimensionally mounting grains is provided at an image reading position, and is provided so as to be movable along the bottom of the sample table. Further, the present invention is applied to a grain image reading apparatus having a scanner main body including a scanning unit configured to include a light irradiation unit that irradiates a grain with light and a light receiving unit that receives a reflected light reflected by the grain. It is formed in a tray shape and can be placed on the upper surface of the bottom of the sample table, has a size that allows one grain to enter, and is formed in a substantially grain shape, and the major axis direction is constant. A sample alignment jig body having a bottom wall portion in which a large number of first through holes oriented in a predetermined direction are formed at a predetermined interval, and sliding on the upper surface of the bottom wall portion of the sample alignment jig body. It is formed in a size that is possible and can be placed on the upper surface of the bottom wall. A plurality of first through holes having the same shape and grain image reading apparatus for sample alignment jig, characterized in that it comprises a movable body a number of second through holes are formed in the same pattern.
【請求項2】 前記試料整列治具本体の側壁部には余剰
の穀粒を排出するための排出口が形成されていると共
に、当該試料整列治具本体及び前記移動体の少なくとも
一周辺部側には残余の穀粒を退けておくための無孔部が
設けられている、 ことを特徴とする請求項1記載の穀粒画像読取装置用試
料整列治具。
2. A discharge port for discharging excess grain is formed on a side wall portion of the sample alignment jig main body, and at least one peripheral side of the sample alignment jig main body and the moving body. The sample aligning jig for a grain image reading apparatus according to claim 1, wherein a non-hole portion is provided for leaving the remaining grain.
【請求項3】 前記試料整列治具本体の底壁部の上面に
前記移動体を載置させ、第2透孔が第1透孔に対してず
れた状態で両者を保持する第1工程と、 この状態の試料整列治具本体内へ試料となる穀粒を投入
し、当該穀粒を第2透孔内へ一粒ずつ入り込ませる第2
工程と、 この状態で当該試料整列治具本体及び当該移動体を試料
台の底部の上面に載置させる第3工程と、 当該移動体を当該試料整列治具本体の底壁部に対してス
ライドさせ、第2透孔を第1透孔に重合させる第4工程
と、 この状態で当該試料整列治具本体及び当該移動体を持上
げて試料台から取り外す第5工程と、 を有することを特徴とする穀粒画像読取装置用試料整列
治具を用いた試料整列方法。
3. A first step in which the movable body is placed on the upper surface of the bottom wall portion of the sample alignment jig body, and both are held in a state where the second through hole is displaced from the first through hole. The second step is to insert the grains to be the sample into the sample alignment jig main body in this state, and to insert the grains into the second through hole one by one.
And a third step of placing the sample aligning jig body and the moving body on the top surface of the bottom of the sample stand in this state, and sliding the moving body with respect to the bottom wall of the sample aligning jig body. And a fourth step of superimposing the second through hole on the first through hole, and a fifth step of lifting the sample alignment jig main body and the moving body and removing them from the sample table in this state. A sample alignment method using a sample alignment jig for a grain image reader.
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