JP2003049215A - Instrument for measuring level of molten metal - Google Patents
Instrument for measuring level of molten metalInfo
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P10/00—Technologies related to metal processing
- Y02P10/25—Process efficiency
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、上から順に溶融ス
ラグ層と溶融金属層を成層せしめた溶融金属のレベルを
測定する装置であり、特に、１回のテストで溶融スラグ
層の湯面レベルと溶融金属層の湯面レベルを検出するこ
とにより、溶融スラグ層の厚さを測定する装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for measuring the level of molten metal in which a molten slag layer and a molten metal layer are layered in order from the top, and in particular, the level of molten metal in the molten slag layer is measured by one test. And a device for measuring the thickness of the molten slag layer by detecting the level of the molten metal layer.
【０００２】[0002]
【従来の技術】一般的に、サブランス等の昇降装置によ
り溶融金属に浸漬された後に引き上げられる構成のプロ
ーブは、溶融金属の試料を採取するサンプリング容器を
備え、試料の凝固温度から試料中の炭素量を測定するた
めの測温センサーをサンプリング容器内に設け、溶融金
属浴の温度を測定するための測温センサーをプローブ本
体の先端に設けた試料分析用プローブが公知である。2. Description of the Related Art In general, a probe having a structure in which it is immersed in molten metal by an elevating device such as a sublance and then pulled up is equipped with a sampling container for collecting a sample of the molten metal, and the carbon in the sample is measured from the solidification temperature of the sample. A sample analysis probe is known in which a temperature measuring sensor for measuring the amount is provided inside a sampling container, and a temperature measuring sensor for measuring the temperature of the molten metal bath is provided at the tip of the probe body.
【０００３】そこで、測温センサーにより検出された温
度信号は、プローブ側の信号ラインから昇降装置側の信
号ラインに向けて出力され、外部のコンピュータ等によ
り信号を処理される。前述のようにプローブ本体は、尾
端を昇降装置に対して着脱自在に保持される構成である
ため、着脱手段には電気的接続部を有するコネクタが設
けられ、電気的接続部は接触式の接点により構成されて
いる。Therefore, the temperature signal detected by the temperature measuring sensor is output from the signal line on the probe side to the signal line on the lifting device side, and the signal is processed by an external computer or the like. As described above, since the probe main body is configured such that the tail end thereof is detachably held with respect to the lifting device, the attaching / detaching means is provided with the connector having the electrical connection portion, and the electrical connection portion is the contact type. It is composed of contacts.
【０００４】その一方において、従来より、溶融スラグ
層の厚さを測定するためのプローブとして、電極による
電気抵抗の変動により溶融スラグ層の湯面を検知する第
一レベルセンサーと、磁界の変動により溶融金属層の湯
面を検知する第二レベルセンサーとを備えたレベル測定
用プローブが公知である。On the other hand, conventionally, as a probe for measuring the thickness of the molten slag layer, a first level sensor for detecting the molten metal surface of the molten slag layer by the variation of the electric resistance by the electrode, and a variation of the magnetic field by the variation of the magnetic field. A level measurement probe having a second level sensor for detecting the molten metal layer level is known.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】前述の試料測定用プロ
ーブと昇降装置との間に設けられたコネクタにおける接
点の数は、従来、昇降装置側の電気的接続との取り合い
の制限から６個所に限られている。そこで、試料測定用
プローブに前述のような第一及び第二レベルセンサーを
設け、レベル測定用プローブとして兼用せしめようとす
ると、接点の数が不足することになる。このため、従来
においては、試料測定用プローブとレベル測定用プロー
ブを別々のものとして二種類製作せざるを得ない問題が
ある。The number of contacts in the connector provided between the sample measuring probe and the lifting device has been conventionally set to six places due to the limitation of the electrical connection on the lifting device side. limited. Therefore, if the sample measuring probe is provided with the above-mentioned first and second level sensors so as to be used also as the level measuring probe, the number of contacts becomes insufficient. For this reason, conventionally, there is a problem that two types of sample measurement probe and level measurement probe are manufactured separately.
【０００６】また、従来技術では、コネクタの電気的接
続部が全て接触式の接点により構成されているため、接
点の摩耗やヤニ付きによる接続不良が発生し、多くのト
ラブルを頻発する虞れがあり、接続部の保守作業を欠か
せないという問題がある。Further, in the prior art, since all the electrical connection parts of the connector are composed of contact type contacts, there is a possibility that many contact troubles may occur due to wear of the contact points and poor connection due to sticking. However, there is a problem that maintenance work of the connection part is indispensable.
【０００７】一方、コネクタの接点を増設した場合、試
料測定用プローブとレベル測定用プローブを合体した１
本のプローブを提供することが理論的には可能である
が、この場合でも、従来のレベル測定用プローブの技術
では、第一レベルセンサーにより溶融スラグ層の湯面を
検知し、第二レベルセンサーにより溶融金属層の湯面を
検知することにより得られたデータに基づいて溶融スラ
グ層の厚さを測定するに際しては、設備側におけるコン
ピュータ等の測定機器に対して、個々の第一レベルセン
サーと第二レベルセンサーが有する離間距離を入力でき
ないために計測誤差に大きく影響を及ぼしているという
問題があった。On the other hand, when the contacts of the connector are added, the sample measuring probe and the level measuring probe are combined.
Although it is theoretically possible to provide a book probe, even in this case, in the conventional level measurement probe technology, the first level sensor detects the molten metal surface of the molten slag layer and the second level sensor. When measuring the thickness of the molten slag layer based on the data obtained by detecting the molten metal layer of the molten metal layer, with respect to the measuring device such as the computer on the equipment side, with the individual first level sensor and There is a problem that the measurement error is greatly affected because the separation distance of the second level sensor cannot be input.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決した溶融金属のレベル測定装置を提供することを目的
とするものである。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a molten metal level measuring device which solves the above problems.
【０００９】そこで、本発明が第一の手段として構成し
たところは、上から順に溶融スラグ層と溶融金属層を成
層せしめた溶融金属のレベルを測定する装置において、
溶融金属に浸漬された後に引き上げられるプローブ本体
と、プローブ本体の尾端を着脱手段を介して保持した状
態で昇降せしめる昇降装置とから成り、プローブ本体
に、溶融スラグ層の湯面レベルを検知する第一レベルセ
ンサーと、溶融金属層の湯面レベルを検知する第二レベ
ルセンサーとを設け、第一及び第二レベルセンサーの出
力信号をプローブ側の信号ラインから昇降装置側の信号
ラインに向けて前記着脱手段に設けたコネクタの電気的
接続部を介して出力せしめる構成であり、前記コネクタ
の電気的接続部は、プローブ側の信号ラインに設けた一
次コイルと、昇降装置側の信号ラインに設けた二次コイ
ルとから成る相互誘導回路により構成されて成る点にあ
る。Therefore, the present invention is configured as a first means in an apparatus for measuring the level of molten metal in which a molten slag layer and a molten metal layer are layered in order from the top,
It consists of a probe main body that is pulled up after being immersed in molten metal, and an elevating device that elevates and lowers while holding the tail end of the probe main body through the attachment / detachment means.The probe main body detects the molten metal level of the molten slag layer. A first level sensor and a second level sensor for detecting the molten metal layer level are provided, and the output signals of the first and second level sensors are directed from the signal line on the probe side to the signal line on the lifting device side. It is configured to output through an electrical connection portion of a connector provided in the attachment / detachment means, and the electrical connection portion of the connector is provided in a primary coil provided in a signal line on the probe side and a signal line on the lifting device side. And a secondary induction coil.
【００１０】また、本発明が第二の手段として構成した
ところは、上から順に溶融スラグ層と溶融金属層を成層
せしめた溶融金属のレベルを測定する装置において、溶
融金属に浸漬された後に引き上げられるプローブ本体
と、プローブ本体の尾端を着脱手段を介して保持した状
態で昇降せしめる昇降装置とから成り、プローブ本体
に、溶融スラグ層の湯面レベルを検知する第一レベルセ
ンサーと、溶融金属層の湯面レベルを検知する第二レベ
ルセンサーと、第一及び第二レベルセンサーの出力信号
をデジタル処理する検出手段とを設け、検出手段の検出
信号をプローブ側の信号ラインから昇降装置側の信号ラ
インに向けて前記着脱手段に設けたコネクタの電気的接
続部を介して出力せしめる構成であり、前記検出手段
は、第一レベルセンサーと第二レベルセンサーの離間距
離を予め記憶し、該離間距離データに基づいて、第一レ
ベルセンサーによる溶融スラグ層の湯面レベル検知デー
タと第二レベルセンサーによる溶融金属層の湯面レベル
検知データとから溶融スラグ層の厚さを測定するための
データとなる検出信号を出力するように構成されてお
り、前記コネクタの電気的接続部は、プローブ側の信号
ラインに設けた一次コイルと、昇降装置側の信号ライン
に設けた二次コイルとから成る相互誘導回路により構成
されて成る点にある。The second aspect of the present invention is that an apparatus for measuring the level of molten metal in which a molten slag layer and a molten metal layer are layered in order from above is pulled up after being immersed in the molten metal. A probe main body, and a lifting device that raises and lowers the tail end of the probe main body while holding it through the attaching / detaching means.The probe main body has a first level sensor for detecting the molten metal level of the molten slag layer, and a molten metal. A second level sensor for detecting the molten metal level of the layer and a detection means for digitally processing the output signals of the first and second level sensors are provided, and the detection signal of the detection means is supplied from the signal line on the probe side to the lifting device side. It is configured to output to the signal line through an electrical connection part of a connector provided in the attachment / detachment means, and the detection means is a first level sensor. The separation distance of the second level sensor is stored in advance, and based on the separation distance data, the melt level detection data of the molten slag layer by the first level sensor and the melt level detection data of the molten metal layer by the second level sensor, Is configured to output a detection signal serving as data for measuring the thickness of the molten slag layer, and the electrical connection portion of the connector includes a primary coil provided in a signal line on the probe side, and an elevating device. It is configured by a mutual induction circuit including a secondary coil provided on the signal line on the side.
【００１１】本発明において、第一レベルセンサーは電
気抵抗の変動を検知する一対の電極を備えた電極式セン
サーから成り、第二レベルセンサーは磁界の変動を検知
するコイルを備えた磁気式センサーから成り、第一レベ
ルセンサーと第二レベルセンサーは、直列回路により接
続されている。In the present invention, the first level sensor is an electrode type sensor having a pair of electrodes for detecting a change in electric resistance, and the second level sensor is a magnetic type sensor having a coil for detecting a change in magnetic field. The first level sensor and the second level sensor are connected by a series circuit.
【００１２】[0012]
【発明の実施の形態】以下図面に基づいて本発明の好ま
しい実施形態を詳述する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Preferred embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
【００１３】（全体構成）図１及び図２は、本発明の目
的に基づいて試料測定用プローブとレベル測定用プロー
ブを合体し兼用せしめたプローブ本体１と、該プローブ
本体１の尾端を着脱自在手段を介して保持した状態で昇
降せしめるサブランス等の昇降装置２を示している。溶
湯鍋等の鍋３における溶融金属は、上から順に溶融スラ
グ層４と溶融金属層５を成層せしめている。昇降装置２
を昇降駆動することにより、プローブ本体１は、下降に
より上部雰囲気から溶融スラグ層４を経て溶融金属層５
に浸漬された後、上昇により溶融金属層５から溶融スラ
グ層４を経て上部雰囲気に引き上げられる。(Overall Structure) FIGS. 1 and 2 show a probe main body 1 in which a sample measuring probe and a level measuring probe are combined together for the purpose of the present invention, and a tail end of the probe main body 1 is attached and detached. It shows an elevating device 2 such as a sublance that can be elevated and lowered while being held via a flexible means. Molten metal in a ladle 3 such as a molten metal ladle is formed by laminating a molten slag layer 4 and a molten metal layer 5 in order from the top. Lifting device 2
The probe main body 1 descends from the upper atmosphere through the molten slag layer 4 and the molten metal layer 5 when the probe is driven up and down.
After being soaked in, the molten metal layer 5 is pulled up to the upper atmosphere through the molten slag layer 4 by rising.
【００１４】プローブ本体１は、溶融金属層５に浸漬さ
れたとき溶融金属試料を採取するためのサンプリング容
器６を内装すると共に、試料中の炭素量を測定する目的
で採取試料の凝固温度を測定するための内部測温センサ
ー７をサンプリング容器６の内部に設けている。また、
溶融金属層５の温度を測定するための外部測温センサー
８をプローブ本体１の先端に設けており、これにより試
料測定用プローブとしての機能を具備している。The probe body 1 contains a sampling container 6 for collecting a molten metal sample when immersed in the molten metal layer 5, and measures the solidification temperature of the sample for the purpose of measuring the amount of carbon in the sample. An internal temperature measuring sensor 7 for doing so is provided inside the sampling container 6. Also,
An external temperature measuring sensor 8 for measuring the temperature of the molten metal layer 5 is provided at the tip of the probe main body 1 and thereby has a function as a sample measuring probe.
【００１５】また、プローブ本体１は、電極による電気
抵抗の変動により溶融スラグ層４の湯面４ａを検知する
第一レベルセンサー９をプローブ本体１の先端に設ける
と共に、磁界の変動により溶融金属層５の湯面５ａを検
知する第二レベルセンサー１０をプローブ本体１に内装
しており、これによりレベル測定用プローブとしての機
能を具備している。Further, the probe body 1 is provided with a first level sensor 9 for detecting the molten metal surface 4a of the molten slag layer 4 due to a change in electric resistance due to electrodes, and a molten metal layer due to a change in magnetic field. The second level sensor 10 for detecting the molten metal surface 5a of No. 5 is incorporated in the probe main body 1 and thus has a function as a level measuring probe.
【００１６】プローブ本体１の尾端部と昇降装置２の先
端部は、雄雌嵌合による着脱手段１１を構成している。
図例の場合、図２に示すように、プローブ本体１の尾端
部には、尾端の開口部から軸方向に細長く延びる孔１２
が設けられ、昇降装置２の先端部には、軸方向に細長く
延びるロッド１３が設けられており、ロッド１３を孔１
２に挿脱自在に嵌入せしめる構成とされている。The tail end portion of the probe main body 1 and the tip end portion of the elevating device 2 constitute the attaching / detaching means 11 by male and female fitting.
In the case of the illustrated example, as shown in FIG. 2, in the tail end portion of the probe main body 1, a hole 12 elongated in the axial direction from the opening portion of the tail end.
And a rod 13 extending in the axial direction is provided at the tip of the lifting device 2.
It is configured so that it can be inserted into and removed from the unit 2 freely.
【００１７】前述のような試料測定用プローブを構成す
る内部測温センサー７及び外部測温センサー８並びにそ
の他の電気機器のため、着脱手段１１には電気的接続部
を有するコネクタ１４が設けられている。図例の場合、
図２に示すように、プローブ本体１の孔１２には、同心
状に配置され軸方向に細長く延びるプラグ１５が設けら
れ、昇降装置２のロッド１３には、先端の開口部から軸
方向に細長く延びるソケット１６が設けられており、プ
ラグ１５をソケット１６に挿脱自在に嵌入せしめる構成
とされている。コネクタ１４は、内部測温センサー７及
び外部測温センサー８並びにその他の電気機器等、試料
測定用プローブとしての機能に関する限り、プローブ側
の信号ラインから昇降装置側の信号ラインに向けて信号
を出力するための電気的接続部を接触式の接点により構
成している。即ち、プラグ１５の外周に設けた６個の接
点１５ａ〜１５ｆと、これに対応してソケット１６の内
周に設けた６個の接点１６ａ〜１６ｆとにより、従来技
術と同様の接触式の接続部を構成している。For the internal temperature measuring sensor 7 and the external temperature measuring sensor 8 and other electrical equipment which constitute the sample measuring probe as described above, the attaching / detaching means 11 is provided with the connector 14 having an electrical connecting portion. There is. In the case of the example,
As shown in FIG. 2, the hole 12 of the probe body 1 is provided with a plug 15 arranged concentrically and elongated in the axial direction, and the rod 13 of the lifting device 2 is elongated in the axial direction from the opening at the tip. An extending socket 16 is provided, and the plug 15 is configured to be removably fitted into the socket 16. The connector 14 outputs a signal from the signal line on the probe side to the signal line on the lifting / lowering device side as far as the function as a probe for measuring a sample such as the internal temperature measuring sensor 7, the external temperature measuring sensor 8 and other electric devices is concerned. The electrical connection part for this purpose is constituted by a contact type contact. That is, the contact-type connection similar to that of the prior art is made by the six contact points 15a to 15f provided on the outer circumference of the plug 15 and the six contact points 16a to 16f correspondingly provided on the inner circumference of the socket 16. Make up part.
【００１８】（比較例の構成）本発明の実施形態を詳述
する前に、理解の便宜のため本発明と対比すべき比較例
を説明する。(Structure of Comparative Example) Before describing the embodiments of the present invention in detail, a comparative example to be compared with the present invention for convenience of understanding will be described.
【００１９】図７に示すように、比較例において、レベ
ル測定用プローブを構成するための第一レベルセンサー
９と第二レベルセンサー１０は、直列回路１７により接
続されている。即ち、第一レベルセンサー９を構成する
一対の電極９ａ、９ｂからコネクタ１４に延びるプロー
ブ側の信号ライン１ａ、１ｂのうち、一方の信号ライン
１ｂにより第二レベルセンサー１０のコイル１０ａに対
する直列回路を構成している。従って、プローブ側の信
号ライン１ａ、１ｂと、これにコネクタ１４を介して接
続される昇降装置側の信号ライン２ａ、２ｂが、それぞ
れ２本で足り、従って、それぞれを接続する接点も、プ
ローブ側の信号ライン１ａ、１ｂの接点１５ｇ、１５ｈ
と、昇降装置側の信号ライン１ａ、２ｂの接点１６ｇ、
１６ｈとの２組で足りるという利点がある。As shown in FIG. 7, in the comparative example, the first level sensor 9 and the second level sensor 10 for forming the level measuring probe are connected by the series circuit 17. That is, of the probe-side signal lines 1a and 1b extending from the pair of electrodes 9a and 9b forming the first level sensor 9 to the connector 14, one signal line 1b forms a series circuit for the coil 10a of the second level sensor 10. I am configuring. Therefore, the signal lines 1a and 1b on the probe side and the signal lines 2a and 2b on the lifting device side connected to the signal lines 1a and 1b via the connector 14 need only two, respectively. Therefore, the contacts connecting them are also on the probe side. Contacts 15g and 15h of the signal lines 1a and 1b
And contact points 16g of the signal lines 1a and 2b on the lifting device side,
There is an advantage that two pairs with 16h are sufficient.
【００２０】このように構成したレベル測定用プローブ
によるレベル測定方法を図８に示している。図８（Ａ）
は、ｘ軸方向に経過時間、ｙ軸方向に溶融金属の高さを
示しており、上部雰囲気から下降したプローブ本体が溶
融スラグ層４を経て溶融金属層５に浸漬された後、溶融
金属層５から溶融スラグ層４を経て上部雰囲気に引き上
げられるまでの経過を矢印で示している。FIG. 8 shows a level measuring method using the level measuring probe configured as described above. FIG. 8 (A)
Indicates the elapsed time in the x-axis direction and the height of the molten metal in the y-axis direction. After the probe body descending from the upper atmosphere is immersed in the molten metal layer 5 through the molten slag layer 4, the molten metal layer The progress from 5 to being pulled up to the upper atmosphere through the molten slag layer 4 is shown by an arrow.
【００２１】図７に示す構成としたレベル測定用プロー
ブは、プローブ本体１が上部雰囲気に位置するときは、
第一レベルセンサー９の一対の電極９ａ、９ｂを開放し
ているので抵抗は無限大（Ｒｓ≒∞）となる。そこで、
プローブ本体１が昇降装置２により下降せしめられ、第
一レベルセンサー９が溶融スラグ層４の湯面４ａに接す
ると、一対の電極９ａ、９ｂを短絡するので抵抗が急降
下し（Ｒｓ≒０）、これにより溶融スラグ層４の湯面４
ａを検知する。このとき第二レベルセンサー１０のコイ
ル１０ａはインダクタンス（Ｌｓ）である。更にプロー
ブ本体１が下降し、第二レベルセンサー１０が溶融金属
層５に達すると、コイル１０ａのインダクタンス（Ｌ
ｓ）が急変し、これにより溶融金属層５の湯面５ａを検
知する。そこで、溶融スラグ層４の湯面４ａと溶融金属
層５の湯面５ａを検知したタイミングと、プローブ本体
１の下降速度と、第一レベルセンサー９と第二レベルセ
ンサー１０の離間距離とに基づいて、溶融スラグ層４の
厚さ（ｔ）が算出される。The level measuring probe having the structure shown in FIG.
Since the pair of electrodes 9a and 9b of the first level sensor 9 are open, the resistance becomes infinite (Rs≈∞). Therefore,
When the probe main body 1 is lowered by the lifting device 2 and the first level sensor 9 contacts the molten metal slag layer 4 at the molten metal surface 4a, the pair of electrodes 9a and 9b are short-circuited, and the resistance rapidly drops (Rs≈0). Thereby, the molten metal slag layer 4
a is detected. At this time, the coil 10a of the second level sensor 10 has an inductance (Ls). When the probe body 1 further descends and the second level sensor 10 reaches the molten metal layer 5, the inductance (L
s) suddenly changes, whereby the molten metal layer 5's molten metal surface 5a is detected. Therefore, based on the timing of detecting the molten metal surface 4a of the molten slag layer 4 and the molten metal layer 5a of the molten metal layer 5, the descending speed of the probe body 1, and the distance between the first level sensor 9 and the second level sensor 10. Then, the thickness (t) of the molten slag layer 4 is calculated.
【００２２】図８（Ｂ）及び図８（Ｃ）は、第一レベル
センサー９及び第二レベルセンサー１０の検出信号を出
力するようにした構成の二つの例を示している。FIGS. 8 (B) and 8 (C) show two examples of the configuration in which the detection signals of the first level sensor 9 and the second level sensor 10 are output.
【００２３】図８（Ｂ）は、検出信号をＯＦＦ−ＯＮの
間で変化する接点信号として出力する例を示しており、
プローブ本体１が上部雰囲気に位置するとき、検出信号
は待機状態としてＯＦＦの状態にある。第一レベルセン
サー９が溶融スラグ層４の湯面４ａを検知すると、検出
信号はＯＮとなり、これにより湯面４ａのレベルを検出
する。次いで、第二レベルセンサー１０が溶融金属層５
の湯面５ａを検知すると、検出信号はＯＦＦとなり、こ
れにより湯面５ａのレベルを検出する。そこで、検出信
号のＯＮ状態の長さ（時間）から、溶融スラグ層４の厚
さ（ｔ）を測定することができる。FIG. 8B shows an example in which the detection signal is output as a contact signal that changes between OFF and ON.
When the probe main body 1 is located in the upper atmosphere, the detection signal is in the OFF state as the standby state. When the first level sensor 9 detects the molten metal surface 4a of the molten slag layer 4, the detection signal is turned on, whereby the level of the molten metal surface 4a is detected. Then, the second level sensor 10 melts the molten metal layer 5
When the molten metal surface 5a is detected, the detection signal is turned off, whereby the level of the molten metal surface 5a is detected. Therefore, the thickness (t) of the molten slag layer 4 can be measured from the length (time) of the ON state of the detection signal.
【００２４】図８（Ｃ）は、検出信号を電圧変化に基づ
いて段階的に上昇する波形として出力する例を示してお
り、プローブ本体１が上部雰囲気に位置するとき、検出
信号は待機状態として出力が零又は低の状態にある。第
一レベルセンサー９が溶融スラグ層４の湯面４ａを検知
すると、電圧の増加により出力が上がり、これにより湯
面４ａのレベルを検出する。次いで、第二レベルセンサ
ー１０が溶融金属層５の湯面５ａを検知すると、更に電
圧が増加して出力を上げ、これにより湯面５ａのレベル
を検出する。そこで、最初の湯面４ａの検出タイミング
と次の湯面５ａの検出タイミングとの差（時間）から、
溶融スラグ層４の厚さ（ｔ）を測定することができる。FIG. 8C shows an example in which the detection signal is output as a waveform that rises stepwise based on the voltage change. When the probe body 1 is located in the upper atmosphere, the detection signal is in a standby state. Output is zero or low. When the first level sensor 9 detects the molten metal surface 4a of the molten slag layer 4, the output is increased due to the increase in the voltage, whereby the level of the molten metal surface 4a is detected. Next, when the second level sensor 10 detects the molten metal surface 5a of the molten metal layer 5, the voltage is further increased and the output is increased, whereby the level of the molten metal surface 5a is detected. Therefore, from the difference (time) between the detection timing of the first molten metal surface 4a and the detection timing of the next molten metal surface 5a,
The thickness (t) of the molten slag layer 4 can be measured.
【００２５】（本発明の第１実施形態）図３（Ａ）は、
図７に示した比較例に対する本発明の第１実施形態を示
している。この第１実施形態は、第一レベルセンサー９
と第二レベルセンサー１０を直列回路１７により接続す
ることにより、プローブ側の信号ライン１ａ、１ｂと、
これにコネクタ１４を介して接続される昇降装置側の信
号ライン２ａ、２ｂをそれぞれ２本で足りるように構成
した点においては、上記比較例と同様であるが、コネク
タ１４の電気的接続部を非接触に構成しており、プロー
ブ側の信号ライン１ａ、１ｂに設けた一次コイル１９
と、昇降装置側の信号ライン２ａ、２ｂに設けた二次コ
イル２０とから成る相互誘導回路２１により構成してい
る。(First Embodiment of the Invention) FIG. 3A shows
8 illustrates a first embodiment of the present invention with respect to the comparative example illustrated in FIG. 7. In this first embodiment, the first level sensor 9
By connecting the second level sensor 10 and the second level sensor 10 by the series circuit 17, the signal lines 1a and 1b on the probe side,
This is the same as the comparative example in that the two signal lines 2a and 2b on the lifting device side, which are connected to this via the connector 14, are sufficient, but the electrical connection portion of the connector 14 is A primary coil 19 which is configured in a non-contact manner and is provided on the signal lines 1a and 1b on the probe side.
And a secondary coil 20 provided on the signal lines 2a and 2b on the lifting device side.
【００２６】図３（Ｂ）は、第１実施形態の接続部を具
体化した第１実施例を示しており、一次コイル１９をプ
ラグ１５の内部において軸線上に巻回されたコイルによ
り構成し、二次コイル２０をソケット１６の周壁におい
て軸線上に巻回されたコイルにより構成しており、プラ
グ１５をソケット１６に嵌入した状態で、一次コイル１
９の外周を二次コイル２０により取り囲むように構成し
ている。従って、試料測定用プローブのための接点１５
ａ〜１５ｆ並びに１６ａ〜１６ｆを設けたプラグ１５及
びソケット１６の狭小なスペースにおいても、相互誘導
回路２１を好適に設けることができる。FIG. 3 (B) shows a first embodiment in which the connecting portion of the first embodiment is embodied, and the primary coil 19 is constituted by a coil wound on the axial line inside the plug 15. , The secondary coil 20 is constituted by a coil wound around the axial line on the peripheral wall of the socket 16, and the primary coil 1 is inserted with the plug 15 fitted in the socket 16.
The outer circumference of 9 is surrounded by the secondary coil 20. Therefore, the contact 15 for the sample measuring probe
The mutual induction circuit 21 can be preferably provided even in a narrow space of the plug 15 and the socket 16 provided with a to 15f and 16a to 16f.
【００２７】図３（Ｃ）は、接続部の第２実施例を示し
ており、一次コイル１９をプラグ１５の端部において軸
線と交差する線上に巻回されたコイルにより構成し、二
次コイル２０をソケット１６の底壁において軸線と交差
する線上に巻回されたコイルにより構成しており、プラ
グ１５をソケット１６に嵌入した状態で、一次コイル１
９と二次コイル２０が並設されるように構成している。
この場合も、プラグ１５及びソケット１６の狭小なスペ
ースに相互誘導回路２１を好適に設けることができる。FIG. 3C shows a second embodiment of the connecting portion, in which the primary coil 19 is constituted by a coil wound on a line intersecting the axis at the end of the plug 15, and the secondary coil is formed. 20 is constituted by a coil wound on a line crossing the axis on the bottom wall of the socket 16, and in the state where the plug 15 is fitted in the socket 16, the primary coil 1
9 and the secondary coil 20 are arranged side by side.
Also in this case, the mutual induction circuit 21 can be preferably provided in the narrow space between the plug 15 and the socket 16.
【００２８】図３（Ａ）に示すように、昇降装置側の信
号ライン２ａ、２ｂには検出手段２２が設けられてい
る。検出手段２２は、上述したような第一レベルセンサ
ー９及び第二レベルセンサー１０の検出信号Ｓを出力ラ
イン２３から出力するように構成されており、電源２４
から電力の供給を受ける。As shown in FIG. 3A, detection means 22 is provided on the signal lines 2a and 2b on the lifting device side. The detection means 22 is configured to output the detection signal S of the first level sensor 9 and the second level sensor 10 described above from the output line 23, and the power supply 24
Power is supplied from.
【００２９】（本発明の第２実施形態）図４は、本発明
の第２実施形態を示しており、検出手段２２及び電源２
４をプローブ側の信号ライン１ａ、１ｂに設けている。
従って、コネクタ１４に設けられた非接触式の電気的接
続部は、検出手段２２からの出力ライン２３ａ、２３ｂ
に設けた一次コイル１９と、昇降装置側の信号ライン２
ａ、２ｂに設けた二次コイル２０とから成る相互誘導回
路２１により構成されている。(Second Embodiment of the Present Invention) FIG. 4 shows a second embodiment of the present invention.
4 are provided on the signal lines 1a and 1b on the probe side.
Therefore, the non-contact type electrical connection portion provided on the connector 14 is connected to the output lines 23a and 23b from the detection means 22.
Primary coil 19 provided in the and the signal line 2 on the lifting device side
It is configured by a mutual induction circuit 21 including a secondary coil 20 provided in a and 2b.
【００３０】検出手段２２は、プローブ本体１の実施製
品毎に定められる第一レベルセンサー９と第二レベルセ
ンサー１０の離間距離を予め記憶するメモリを備えると
共に、該離間距離データに基づいて、第一レベルセンサ
ー９による溶融スラグ層４の湯面レベル検知データと、
第二レベルセンサー１０による溶融金属層５の湯面レベ
ル検知データとから、溶融スラグ層の厚さ（ｔ）を測定
するための検出信号Ｓを出力する。従って、従来技術で
は、第一レベルセンサーと第二レベルセンサーが有する
離間距離を入力できないために測定誤差が発生していた
のに対し、プローブごとに固有差のある離間距離の入力
を行えるという利点がある。The detection means 22 is provided with a memory for storing in advance the separation distance between the first level sensor 9 and the second level sensor 10 which is determined for each product of the probe main body 1, and based on the separation distance data, Level detection data of the molten slag layer 4 by the one level sensor 9,
A detection signal S for measuring the thickness (t) of the molten slag layer is output from the molten metal level detection data of the molten metal layer 5 by the second level sensor 10. Therefore, in the prior art, a measurement error occurs because the separation distances of the first level sensor and the second level sensor cannot be input, but the separation distance having an inherent difference for each probe can be input. There is.
【００３１】更に、検出手段２２は、信号ライン２ａ、
２ｂを構成する導線の温度変化又は劣化による抵抗値の
変化や、静電容量変化に起因する測定誤差の影響を受け
ないので、これにより検出信号Ｓは誤差のない精度の高
いものとなる。Further, the detection means 22 includes a signal line 2a,
Since there is no influence of a change in the resistance value due to a temperature change or deterioration of the conductive wire forming 2b or a measurement error caused by a change in the capacitance, the detection signal S becomes error-free and highly accurate.
【００３２】（本発明の第３実施形態）図５（Ａ）は、
本発明の第３実施形態を示しており、図４に示した第２
実施形態と同様に検出手段２２をプローブ側の信号ライ
ン１ａ、１ｂに設けた構成において、電力の供給を昇降
装置側の電源２４から受けるように構成している。コネ
クタ１４には電力供給ラインのための非接触式の電気的
接続部が設けられ、該接続部は、電源２４の供給ライン
２４ａ、２４ｂに設けた一次コイル２５と、検出手段２
２の被供給ライン２２ａ、２２ｂに設けた二次コイル２
６とから成る相互誘導回路２７により構成されている。(Third Embodiment of the Invention) FIG. 5A shows
FIG. 6 shows the third embodiment of the present invention, and the second embodiment shown in FIG.
Similar to the embodiment, in the configuration in which the detection means 22 is provided on the signal lines 1a and 1b on the probe side, the power is supplied from the power source 24 on the lifting device side. The connector 14 is provided with a non-contact type electrical connection part for a power supply line, the connection part including the primary coil 25 provided on the supply lines 24a and 24b of the power supply 24 and the detection means 2.
Secondary coil 2 provided in the two supply lines 22a and 22b
And a mutual induction circuit 27 composed of 6 and 6.
【００３３】図５（Ｂ）は、接続部の実施例を示してお
り、検出手段２２のための信号ラインの接続部を構成す
るように、検出手段２２からの出力ライン２３ａ、２３
ｂに設けた一次コイル１９をプラグ１５の内部において
軸線上に巻回されたコイルにより構成し、昇降装置側の
信号ライン２ａ、２ｂに設けた二次コイル２０をソケッ
ト１６の周壁において軸線上に巻回されたコイルにより
構成しており、プラグ１５をソケット１６に嵌入した状
態で、一次コイル１９の外周を二次コイル２０により取
り囲むように構成している。そして、このような信号ラ
インの接続部に対して電源２４のための供給ラインの接
続部を並設しており、電源２４の供給ライン２４ａ、２
４ｂに設けた一次コイル２５をソケット１６の周壁にお
いて軸線上に巻回されたコイルにより構成し、検出手段
２２の被供給ライン２２ａ、２２ｂに設けた二次コイル
２６をプラグ１５の内部において軸線上に巻回されたコ
イルにより構成しており、プラグ１５をソケット１６に
嵌入した状態で、一次コイル２５の外周を二次コイル２
６により取り囲むように構成している。FIG. 5 (B) shows an embodiment of the connecting portion, and the output lines 23a, 23 from the detecting means 22 so as to constitute the connecting portion of the signal line for the detecting means 22.
The primary coil 19 provided in b is constituted by a coil wound on the axial line inside the plug 15, and the secondary coil 20 provided in the signal lines 2a and 2b on the lifting device side is axially provided on the peripheral wall of the socket 16. It is configured by a wound coil, and in a state where the plug 15 is fitted in the socket 16, the outer periphery of the primary coil 19 is surrounded by the secondary coil 20. Then, the connection portion of the supply line for the power supply 24 is arranged in parallel to the connection portion of such a signal line, and the supply lines 24a, 2 of the power supply 24,
The primary coil 25 provided at 4b is constituted by a coil wound on the axial line on the peripheral wall of the socket 16, and the secondary coil 26 provided at the supply lines 22a and 22b of the detection means 22 is axially provided inside the plug 15. The coil 15 is wound around the primary coil 25 with the plug 15 fitted in the socket 16.
It is constituted so as to be surrounded by 6.
【００３４】（本発明の第４実施形態）図６は、本発明
の第４実施形態を示しており、レベル測定用プローブを
構成するための第一レベルセンサー９と第二レベルセン
サー１０は、それぞれ独立した回路を有し、それぞれの
出力信号を個別に処理する検出手段２２Ａ、２２Ｂを設
けると共に、両検出手段２２Ａ、２２Ｂからの検出信号
を合成することにより検出信号を出力する合成手段２８
を設けている。(Fourth Embodiment of the Present Invention) FIG. 6 shows a fourth embodiment of the present invention in which a first level sensor 9 and a second level sensor 10 for constituting a level measuring probe are The detectors 22A and 22B each having an independent circuit and individually processing each output signal are provided, and the combiner 28 outputs the detection signals by combining the detection signals from the detectors 22A and 22B.
Is provided.
【００３５】そして、コネクタ１４に設けられた非接触
式の電気的接続部は、合成手段２８からの出力ライン２
８ａ、２８ｂに設けた一次コイル１９と、昇降装置側の
信号ライン２ａ、２ｂに設けた二次コイル２０とから成
る相互誘導回路２１により構成されている。尚、図例に
おいて、電源２４はプローブ側に設けているが、図５
（Ａ）に示した例と同様に昇降装置側に設けても良い。The non-contact type electrical connecting portion provided on the connector 14 is connected to the output line 2 from the synthesizing means 28.
The mutual induction circuit 21 is composed of a primary coil 19 provided in each of 8a and 28b and a secondary coil 20 provided in each of the signal lines 2a and 2b on the lifting device side. Although the power source 24 is provided on the probe side in the example shown in FIG.
It may be provided on the lifting device side as in the example shown in FIG.
【００３６】[0036]
【発明の効果】本発明によれば、プローブ本体１に溶融
スラグ層４の湯面レベルを検知する第一レベルセンサー
９と、溶融金属層５の湯面レベルを検知する第二レベル
センサー１０とを設け、第一及び第二レベルセンサー
９、１０の検出信号をプローブ側の信号ラインから昇降
装置側の信号ラインに向けて着脱手段１１に設けたコネ
クタ１４の電気的接続部を介して出力せしめる構成にお
いて、コネクタの電気的接続部を、プローブ側の信号ラ
インに設けた一次コイル１９と、昇降装置側の信号ライ
ンに設けた二次コイル２０とから成る相互誘導回路２１
により構成したものであるから、プラグ１５とソケット
１６から成るコネクタ１４の接触スペースが狭小であっ
ても容易に接続部を設けることができる。その結果、既
に接触式の接点１５ａ〜１５ｆ並びに１６ａ〜１６ｆを
設けた従来の試料測定用プローブに対してレベル測定用
プローブとしての機能を兼備せしめることが容易とな
り、１本のプローブによる１回のテストで試料測定とレ
ベル測定を同時に行うことが可能になるという利点があ
る。According to the present invention, the probe body 1 has the first level sensor 9 for detecting the molten metal level of the molten slag layer 4, and the second level sensor 10 for detecting the molten metal level of the molten metal layer 5. Is provided, and the detection signals of the first and second level sensors 9 and 10 are output from the signal line on the probe side to the signal line on the lifting device side via the electrical connection part of the connector 14 provided on the attachment / detachment means 11. In the configuration, a mutual induction circuit 21 in which an electrical connection portion of the connector is composed of a primary coil 19 provided on a signal line on the probe side and a secondary coil 20 provided on a signal line on the lifting device side.
Therefore, even if the contact space of the connector 14 including the plug 15 and the socket 16 is narrow, the connection portion can be easily provided. As a result, it becomes easy to combine the functions of the conventional sample measuring probe, which already has the contact-type contacts 15a to 15f and 16a to 16f, as a level measuring probe, so that one probe can be used only once. There is an advantage that the sample measurement and the level measurement can be performed simultaneously in the test.
【００３７】しかも、相互誘導回路２１により非接触の
接続部を構成しているので、従来の接触式の接点のよう
な摩耗やヤニ付きによる接続不良の発生を生じることは
なく、メンテナンスフリーによる利点を享受できる。Moreover, since the non-contact connection portion is constituted by the mutual induction circuit 21, there is no occurrence of wear or connection failure due to sticking unlike the conventional contact type contact, and maintenance-free advantage. Can enjoy.
【００３８】また、本発明によれば、個々のプローブご
とに第一レベルセンサー９と第二レベルセンサー１０の
離間距離を予め記憶し、該離間距離データを出力すると
共に、第一レベルセンサー９による溶融スラグ層４の湯
面レベル検知データと第二レベルセンサー１０による溶
融金属層５の湯面レベル検知データとから溶融スラグ層
の厚さ（ｔ）を測定するためのデータとなる検出信号Ｓ
を出力する検出手段２２を設けた構成であるから、従来
技術のように、第一レベルセンサーと第二レベルセンサ
ーの離間距離を固有値として入力することができないこ
とによる測定誤差がなくなるという効果がある。Further, according to the present invention, the distance between the first level sensor 9 and the second level sensor 10 is stored in advance for each individual probe, the distance data is output, and the first level sensor 9 is used. A detection signal S which is data for measuring the thickness (t) of the molten slag layer from the molten metal level detection data of the molten slag layer 4 and the molten metal level detection data of the molten metal layer 5 by the second level sensor 10.
Since the detection means 22 for outputting is provided, there is an effect that the measurement error due to the fact that the separation distance between the first level sensor and the second level sensor cannot be input as the eigenvalue as in the prior art is eliminated. .
【００３９】更に、本発明によれば、第一レベルセンサ
ー９と第二レベルセンサー１０を直列回路１７により接
続した構成であるから、配線数が少なくて済むばかり
か、これにより接続部を相互誘導回路２１により構成可
能としたという実益がある。Furthermore, according to the present invention, since the first level sensor 9 and the second level sensor 10 are connected by the series circuit 17, not only the number of wirings is small, but also the mutual induction of the connecting portions is achieved. The real advantage is that it can be configured by the circuit 21.
【図１】本発明の実施形態に係る装置の使用状態を示す
正面図である。FIG. 1 is a front view showing a usage state of an apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図２】本発明の実施形態に係る装置の要部を示す断面
図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing the main parts of the device according to the embodiment of the present invention.
【図３】本発明の第１実施形態を示しており、（Ａ）は
レベル測定装置を示す回路図、（Ｂ）は接続部の第１実
施例を示す断面図、（Ｃ）は接続部の第２実施例を示す
断面図である。3A and 3B show a first embodiment of the present invention, in which FIG. 3A is a circuit diagram showing a level measuring device, FIG. 3B is a sectional view showing a first embodiment of a connecting portion, and FIG. It is sectional drawing which shows the 2nd Example of.
【図４】本発明の第２実施形態を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention.
【図５】本発明の第３実施形態を示しており、（Ａ）は
レベル測定装置を示す回路図、（Ｂ）は接続部の実施例
を示す断面図である。FIG. 5 shows a third embodiment of the present invention, (A) is a circuit diagram showing a level measuring device, and (B) is a sectional view showing an example of a connecting portion.
【図６】本発明の第４実施形態を示す回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram showing a fourth embodiment of the present invention.
【図７】本発明の実施形態に対する比較例を示す回路図
である。FIG. 7 is a circuit diagram showing a comparative example with respect to the embodiment of the present invention.
【図８】比較例並びに本発明の実施形態に係るレベル測
定装置によるレベル測定方法を示しており、（Ａ）は溶
融スラグ層及び溶融金属層に対するプローブの浸漬経路
を示す説明図、（Ｂ）は検出信号の１例を示す波形図、
（Ｃ）は検出信号の他例を示す波形図である。FIG. 8 shows a level measuring method by a level measuring device according to a comparative example and an embodiment of the present invention, (A) is an explanatory view showing a dipping path of a probe in a molten slag layer and a molten metal layer, (B). Is a waveform diagram showing an example of a detection signal,
(C) is a waveform diagram showing another example of the detection signal.
１ プローブ本体 １ａ、１ｂ プローブ側の信号ライン ２ 昇降装置 ２ａ、２ｂ 昇降装置側の信号ライン ４ 溶融スラグ層 ５ 溶融金属層 ９ 第一レベルセンサー ９ａ、９ｂ 電極 １０ 第二レベルセンサー １０ａ コイル １１ 着脱手段 １４ コネクタ １５ プラグ １６ ソケット １７ 直列回路 １９ 一次コイル ２０ 二次コイル ２１ 相互誘導回路 ２２、２２Ａ、２２Ｂ 検出手段 ２３、２３ａ、２３ｂ 出力ライン ２４ 電源 1 probe body 1a, 1b Signal line on the probe side 2 lifting device 2a, 2b Signal line on the lifting device side 4 Molten slag layer 5 Molten metal layer 9 First level sensor 9a, 9b electrodes 10 Second level sensor 10a coil 11 Detaching means 14 connector 15 plugs 16 socket 17 Series circuit 19 Primary coil 20 secondary coil 21 Mutual induction circuit 22, 22A, 22B Detection means 23, 23a, 23b Output line 24 power
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｃ２１Ｃ 7/00 Ｃ２１Ｃ 7/00 Ｒ ４Ｋ０５６ Ｃ２２Ｂ 9/16 Ｃ２２Ｂ 9/16 ４Ｋ０７０ Ｆ２７Ｄ 21/00 Ｆ２７Ｄ 21/00 Ｄ Ｎ Ｇ０１Ｆ 23/24 Ｇ０１Ｆ 23/24 Ｂ 23/26 23/26 Ｂ Ｆターム(参考） 2F014 AA08 AC06 DA01 DA02 4K001 GA03 GA04 GA06 GA13 GB11 4K012 CA09 CA10 4K013 FA00 FA11 4K014 AD17 CC00 CD18 4K056 AA02 AA05 CA01 FA17 4K070 AB17 BE13 BE14 BE20 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) C21C 7/00 C21C 7/00 R 4K056 C22B 9/16 C22B 9/16 4K070 F27D 21/00 F27D 21/00 DN G01F 23/24 G01F 23/24 B 23/26 23/26 B F term (reference) 2F014 AA08 AC06 DA01 DA02 4K001 GA03 GA04 GA06 GA13 GB11 4K012 CA09 CA10 4K013 FA00 FA11 4K014 AD17 CC00 CD18 4K056 AA02 4A05 CA01 FA01 AB17 BE13 BE14 BE20
Claims (3)
成層せしめた溶融金属のレベルを測定する装置におい
て、 溶融金属に浸漬された後に引き上げられるプローブ本体
と、プローブ本体の尾端を着脱手段を介して保持した状
態で昇降せしめる昇降装置とから成り、 プローブ本体に、溶融スラグ層の湯面レベルを検知する
第一レベルセンサーと、溶融金属層の湯面レベルを検知
する第二レベルセンサーとを設け、第一及び第二レベル
センサーの出力信号をプローブ側の信号ラインから昇降
装置側の信号ラインに向けて前記着脱手段に設けたコネ
クタの電気的接続部を介して出力せしめる構成であり、 前記コネクタの電気的接続部は、プローブ側の信号ライ
ンに設けた一次コイルと、昇降装置側の信号ラインに設
けた二次コイルとから成る相互誘導回路により構成され
て成ることを特徴とする溶融金属のレベル測定装置。1. A device for measuring the level of molten metal in which a molten slag layer and a molten metal layer are layered in order from the top, wherein a probe main body that is pulled up after being immersed in the molten metal and a tail end of the probe main body are attached and detached. It consists of an elevating device that raises and lowers it while holding it through the probe.The probe body has a first level sensor that detects the molten metal level of the molten slag layer and a second level sensor that detects the molten metal layer level. Is provided, the output signal of the first and second level sensor is configured to be output from the signal line on the probe side toward the signal line on the lifting device side through the electrical connection portion of the connector provided on the attachment / detachment means, The electrical connection portion of the connector includes a primary coil provided on a signal line on the probe side and a secondary coil provided on a signal line on the lifting device side. A molten metal level measuring device comprising an inductive circuit.
成層せしめた溶融金属のレベルを測定する装置におい
て、 溶融金属に浸漬された後に引き上げられるプローブ本体
と、プローブ本体の尾端を着脱手段を介して保持した状
態で昇降せしめる昇降装置とから成り、 プローブ本体に、溶融スラグ層の湯面レベルを検知する
第一レベルセンサーと、溶融金属層の湯面レベルを検知
する第二レベルセンサーと、第一及び第二レベルセンサ
ーの出力信号をデジタル処理する検出手段とを設け、検
出手段の検出信号をプローブ側の信号ラインから昇降装
置側の信号ラインに向けて前記着脱手段に設けたコネク
タの電気的接続部を介して出力せしめる構成であり、 前記検出手段は、第一レベルセンサーと第二レベルセン
サーの離間距離を予め記憶し、該離間距離データに基づ
いて、第一レベルセンサーによる溶融スラグ層の湯面レ
ベル検知データと第二レベルセンサーによる溶融金属層
の湯面レベル検知データとから溶融スラグ層の厚さを測
定するためのデータとなる検出信号を出力するように構
成されており、 前記コネクタの電気的接続部は、プローブ側の信号ライ
ンに設けた一次コイルと、昇降装置側の信号ラインに設
けた二次コイルとから成る相互誘導回路により構成され
て成ることを特徴とする溶融金属のレベル測定装置。2. A device for measuring the level of molten metal in which a molten slag layer and a molten metal layer are layered in order from the top, wherein a probe body that is pulled up after being immersed in the molten metal and a tail end of the probe body are attached and detached. It consists of an elevating device that raises and lowers it while holding it through the probe.The probe body has a first level sensor that detects the molten metal level of the molten slag layer and a second level sensor that detects the molten metal layer level. A detection means for digitally processing the output signals of the first and second level sensors, and a connector provided on the attaching / detaching means from the signal line on the probe side to the detection signal on the detection means of the detection means. It is a configuration for outputting via an electrical connection portion, the detection means stores in advance a distance between the first level sensor and the second level sensor, Data for measuring the thickness of the molten slag layer from the molten metal level detection data of the molten slag layer by the first level sensor and the molten metal level detection data of the molten metal layer by the second level sensor based on the distance data It is configured to output a detection signal that becomes, and the electrical connection portion of the connector is composed of a primary coil provided in the signal line on the probe side and a secondary coil provided in the signal line on the lifting device side. A molten metal level measuring device comprising a mutual induction circuit.
検知する一対の電極を備えた電極式センサーから成り、
第二レベルセンサーが磁界の変動を検知するコイルを備
えた磁気式センサーから成り、第一レベルセンサーと第
二レベルセンサーを直列回路により接続して成ることを
特徴とする請求項１又は２に記載の溶融金属のレベル測
定装置。3. The first level sensor comprises an electrode-type sensor having a pair of electrodes for detecting a change in electric resistance,
The second level sensor comprises a magnetic sensor equipped with a coil for detecting fluctuations in a magnetic field, and the first level sensor and the second level sensor are connected by a series circuit. Molten metal level measuring device.
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|---|---|---|---|
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