JP2003036182A - Information processor and method for diagnosing it - Google Patents

Information processor and method for diagnosing it

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JP2003036182A
JP2003036182A JP2001223395A JP2001223395A JP2003036182A JP 2003036182 A JP2003036182 A JP 2003036182A JP 2001223395 A JP2001223395 A JP 2001223395A JP 2001223395 A JP2001223395 A JP 2001223395A JP 2003036182 A JP2003036182 A JP 2003036182A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
mode
diagnostic program
executed
information processing
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001223395A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichiro Imamura
真一郎 今村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2001223395A priority Critical patent/JP2003036182A/en
Publication of JP2003036182A publication Critical patent/JP2003036182A/en
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize an information processor capable of efficiently inspecting a device by integrated operation using a common program in any inspection process. SOLUTION: In an diagnostic program 31 to be carried out in the information processor, first to third three kinds of inspection modes are prepared to carry out inspection corresponding to a selected inspection mode by the program 31 only by selecting a required inspection mode on a display screen. In the first inspection mode, a user can designate an optional device to be an inspecting object. When selecting the second inspection mode, only inspection concerning only the device having an error last time can be carried out automatically. When selecting the third inspection mode, a device having high error occurrence ratio in its past inspection can be tested preferentially.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はパーソナルコンピュ
ータなどの情報処理装置およびその診断方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an information processing device such as a personal computer and a diagnostic method therefor.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、各種電子機器の動作を診断す
るためのシステムが開発されている。例えば特開平5−
304562号公報には、交換システムの機能検証試験
を行うための方法が開示されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, systems for diagnosing the operation of various electronic devices have been developed. For example, Japanese Patent Laid-Open No. 5-
Japanese Patent No. 304562 discloses a method for performing a function verification test of a switching system.

【0003】これは、自動試験装置によって交換システ
ムの機能を検証するものであり、データベースに予め定
義されている複数の試験項目についての試験を自動的に
行うことが出来る。また、異常終了した試験項目につい
てはその再試験が自動的に行われる。
This is to verify the function of the exchange system by an automatic test device, and it is possible to automatically carry out a test for a plurality of test items defined in advance in a database. In addition, retesting is automatically performed for test items that have abnormally ended.

【0004】また、特開平5−21607号公報には、
試験対象ハードウェアに対する複数のテスト項目それぞ
れについて過去のテストにおける異常発生率を記憶して
おき、指定された試験対象ハードウェアに関する複数の
テスト項目のうち、異常発生率の高いテスト項目のみを
自動実行する技術が開示されている。
Further, in Japanese Patent Laid-Open No. 5-21607,
For each of the multiple test items for the hardware to be tested, the anomaly rate in the past test is stored, and of the multiple test items for the specified hardware to be tested, only the test item with a high anomaly rate is automatically executed. Techniques for doing so are disclosed.

【0005】さらに、特開平7−110777号公報に
は、自動振り込み装置等の検査対象装置に対するテスト
方法が開示されている。これは、検査対象装置に対して
データを入力してから出力データが得られるまでの時間
の妥当性に基づいて検査を行うものである。
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 7-110777 discloses a test method for an inspection target device such as an automatic transfer device. This is to perform inspection based on the validity of the time from the input of data to the inspection target device until the output data is obtained.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】このように従来より様
々な検査システムが提案されているが、これらはどれも
特定の検査目的に特化した構成となっており、汎用的な
利用については考慮されていないのが現状である。
As described above, various inspection systems have been proposed in the past, but each of them has a structure specialized for a specific inspection purpose, and general use is considered. The current situation is that it has not been done.

【0007】例えば、パーソナルコンピュータなどの情
報処理装置においては、その製品の設計・製造段階から
出荷段階に至るまでに様々な検査を様々な担当部署で行
うことが必要とされている。この場合、特定のデバイス
についてのみの検査を行う場合もあれば、幾つかまたは
全てのデバイスそれぞれの検査が必要な場合もある。さ
らに、担当部署や検査工程によって検査対象のデバイス
が異なる場合も多い。また出荷時等には全ての部品につ
いての検査がなされ、異常が発見された部品については
再びその部品の担当部署や検査工程等に戻って部品の修
理、交換などを行いながら、繰り返し検査を行うことも
必要となる。よって、汎用的な用途で利用でき、また他
の工程や部署で行われた過去の検査結果を有効利用でき
る検査システムの実現が望まれている。
For example, in an information processing device such as a personal computer, it is necessary to carry out various inspections in various departments from the design / manufacturing stage of the product to the shipping stage. In this case, it may be necessary to inspect only a specific device, or some or all of the devices may be inspected. Furthermore, the device to be inspected often differs depending on the department in charge and the inspection process. In addition, all parts are inspected at the time of shipping, etc., and if an abnormality is found, repeat the inspection while returning to the department in charge of the part or the inspection process to repair or replace the part. It is also necessary. Therefore, it is desired to realize an inspection system that can be used for general purposes and that can effectively use past inspection results of other processes and departments.

【0008】本発明はこのような事情を考慮してなされ
たものであり、様々な工程および検査目的で共通に利用
でき、しかも他の工程や部署で行われた過去の検査結果
を利用して必要な検査を効率よく実行することが可能な
情報処理装置およびその診断方法を提供することを目的
とする。
The present invention has been made in consideration of such circumstances, and can be commonly used for various processes and inspection purposes, and further, by utilizing past inspection results performed in other processes and departments. An object of the present invention is to provide an information processing device capable of efficiently executing a necessary inspection and a diagnostic method thereof.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、本発明は、複数のデバイスそれぞれの検査を実行す
る診断プログラムを有する情報処理装置において、前記
診断プログラムによって実行された前記各デバイスに関
する検査結果の履歴情報を前記情報処理装置内の記憶装
置に蓄積する手段と、前記複数のデバイスの内で利用者
により指定されたデバイスに関する検査を実行する第1
の検査モードと、前記記憶装置に蓄積されている履歴情
報に基づいて前回の検査でエラーが検出されたデバイス
を特定して当該デバイスに関する検査を実行する第2の
検査モードと、前記履歴情報に基づいてエラー発生率が
高いデバイスに関する検査を優先的に実行する第3の検
査モードとを有し、それら検査モードを利用者に選択さ
せる為の画面を提示し、前記画面上で選択された検査モ
ードに従って前記第1乃至第3の検査モードでの検査を
前記診断プログラムに選択的に実行させる制御手段とを
具備することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention relates to each device executed by the diagnostic program in an information processing apparatus having a diagnostic program for executing an inspection of each of a plurality of devices. Means for accumulating history information of inspection results in a storage device in the information processing apparatus, and performing inspection on a device designated by a user among the plurality of devices.
Of the inspection mode, a second inspection mode in which a device in which an error is detected in the previous inspection is specified based on the history information accumulated in the storage device, and the inspection related to the device is executed; And a third inspection mode that preferentially executes inspections on devices with a high error occurrence rate, presents a screen for allowing the user to select the inspection mode, and selects the inspection on the screen. Control means for selectively causing the diagnostic program to perform the inspections in the first to third inspection modes according to the mode.

【0010】この情報処理装置においては、その装置内
で実行される診断プログラムによって各デバイスの検査
が実行されるので、同一の装置であればどの部署または
どの検査工程であっても共通のプログラムを用いた統一
操作で検査を行うことが出来る。この場合、検査には第
1乃至第3の3種類の検査モードが用意されており、表
示画面上で必要な検査モードを選択するだけで、選択さ
れた検査モードに対応する検査が診断プログラムによっ
て実行される。第1検査モードでは利用者により任意の
デバイスを検査対象に指定することができる。また、第
2検査モードを選択すれば前回エラーとなったデバイス
についてのみの検査のみを自動実行でき、さらに第3検
査モードを選択すれば過去の検査でエラー発生率の高い
デバイスの検査を優先的に実行することが可能となる。
よって、様々な工程および検査目的で共通に利用でき、
しかも検査の目的に合わせて検査モードを選択するだけ
で、他の検査工程や部署で行われた過去の検査結果を有
効利用しつつ、必要な検査を効率よく実施することがで
きる。
In this information processing apparatus, since each device is inspected by the diagnostic program executed in the apparatus, a common program can be used in any department or in any inspection process in the same apparatus. Inspection can be performed with the unified operation used. In this case, three types of inspection modes, first to third, are prepared for inspection, and the inspection corresponding to the selected inspection mode can be performed by the diagnostic program by simply selecting the required inspection mode on the display screen. To be executed. In the first inspection mode, the user can designate any device as the inspection target. In addition, if the second inspection mode is selected, only the inspection of the device that caused the error last time can be automatically executed, and if the third inspection mode is selected, the inspection of the device with a high error rate in the past inspection is prioritized. Can be executed.
Therefore, it can be commonly used for various processes and inspection purposes,
Moreover, only by selecting the inspection mode according to the purpose of the inspection, it is possible to efficiently perform the necessary inspection while effectively using the past inspection results performed in other inspection processes and departments.

【0011】さらに、検査に要した時間が長いデバイス
に関する検査を優先して実行するモードを設けたり、あ
るいは正常と判断されたデバイスであっても検査に要し
た時間が通常よりも長い場合にはその検査結果をエラー
とする機能を設けることで、より柔軟性・信頼性の高い
検査を効率よく行うことが可能となる。
In addition, a mode is provided for preferentially executing a test for a device that takes a long time to be inspected, or if a device determined to be normal has a time longer than usual to be inspected. By providing a function of making the inspection result an error, it becomes possible to efficiently perform inspection with higher flexibility and reliability.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を説明する。図1には、本発明の一実施形態に係
る情報処理装置の構成が示されている。この情報処理装
置は例えばパーソナルコンピュータとして実現されたも
のであり、図示のように、CPU11、ホストブリッジ
12、主メモリ13、および表示コントローラ14を初
め、バス1に接続された他の様々な周辺デバイス、例え
ばモデム15、LANコントローラ16、IDEコント
ローラ17、CD−ROMドライブ18、ハードディス
クドライブ(HDD)19、I/Oコントローラ20、
フレキシブルディスクドライブ(FDD)21などから
構成されている。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows the configuration of an information processing apparatus according to an embodiment of the present invention. This information processing apparatus is realized as, for example, a personal computer, and as shown in the figure, includes a CPU 11, a host bridge 12, a main memory 13, and a display controller 14, as well as various other peripheral devices connected to the bus 1. , A modem 15, a LAN controller 16, an IDE controller 17, a CD-ROM drive 18, a hard disk drive (HDD) 19, an I / O controller 20,
The flexible disk drive (FDD) 21 is included.

【0013】ハードディスクドライブ(HDD)19に
は、オペレーティングシステム(OS)30および診断
プログラム31がインストールされている。この診断プ
ログラム31はOS30上で動作するプログラムであ
り、本コンピュータ内の全てのデバイスそれぞれに関す
る検査手順を実行することが出来る。
An operating system (OS) 30 and a diagnostic program 31 are installed in the hard disk drive (HDD) 19. The diagnostic program 31 is a program that operates on the OS 30 and can execute the inspection procedure for each of all devices in the computer.

【0014】診断プログラム31には各デバイスに対す
る検査を行う度にその検査結果を履歴ファイルに蓄積す
る機能が設けられており、この履歴ファイルを用いるこ
とにより前回の検査でエラーとなったデバイスについて
の検査のみを自動的に再実行したり、エラー発生率の高
いデバイスに関する検査を優先して実行するといった処
理を行うことが出来る。履歴ファイルはHDD19上に
作成される。
The diagnostic program 31 is provided with a function of accumulating the inspection result in a history file each time the device is inspected. By using this history file, the device which has an error in the previous inspection can be detected. It is possible to automatically re-execute only the inspection, or to give priority to the inspection for the device having a high error occurrence rate. The history file is created on the HDD 19.

【0015】図2には、診断プログラム31が持つイン
タフェースが示されている。図示のように、診断プログ
ラム31は検査対象となるデバイスそれぞれとの間でデ
ータを入出力するためのインタフェース()を有して
おり、インタフェース()を通じて検査対象となるデ
バイスを直接またはデバイスドライバ等を通じてアクセ
スすることにより、各デバイスの検査を実行する。デバ
イスの検査手順はデバイス毎に予め決められており、通
常はデバイス毎に1以上のテスト項目についての検査が
行われる。すべてのテスト項目についてエラーが検出さ
れなかった場合にはそのデバイスの検査結果は正常(O
K)と判定され、また1つのテスト項目でもエラーがあ
れば、そのデバイスの検査結果はエラー(NG)とな
る。
FIG. 2 shows an interface of the diagnostic program 31. As shown in the figure, the diagnostic program 31 has an interface () for inputting / outputting data to / from each device to be inspected. Through the interface (), the device to be inspected can be directly connected to the device driver or the like. Perform inspection of each device by accessing through. The device inspection procedure is determined in advance for each device, and usually one or more test items are inspected for each device. If no error is detected for all the test items, the inspection result of the device is normal (O
K), and if there is an error in even one test item, the inspection result of the device will be an error (NG).

【0016】また、診断プログラム31は、各デバイス
の検査を実行する度に上述の履歴ファイル32に検査結
果の履歴を書き込むためのインタフェース()と、履
歴ファイル32を参照するためのインタフェース()
を有している。すなわち、まず、で診断プログラム3
1が各デバイスに対する検査を行い、その検査結果を得
る。そして、その検査結果を基に、で診断プログラム
31が履歴ファイル32に情報を格納する。このように
して、履歴ファイル32には過去の検査結果の履歴が随
時蓄積されていく。履歴ファイル32の情報はで診断
プログラム31によって読み込まれ、前回の検査でエラ
ーとなったデバイスや、過去の検査でエラー率が高いデ
バイスなどが特定される。
The diagnostic program 31 also has an interface () for writing the history of the inspection results in the history file 32 and an interface () for referring to the history file 32 each time the device is inspected.
have. That is, first, the diagnostic program 3
1 inspects each device and obtains the inspection result. Then, based on the inspection result, the diagnostic program 31 stores information in the history file 32. In this way, the history of the past inspection results is accumulated in the history file 32 as needed. The information in the history file 32 is read by the diagnostic program 31 to identify the device that has an error in the previous inspection, the device with a high error rate in the past inspection, and the like.

【0017】さらに、診断プログラム31はスクリプト
ファイル33との間の入出力インタフェース()も有
している。ここで、スクリプトファイル33は、診断プ
ログラム31に対してどのデバイスに対する検査を実行
させるかを指定するための一種のバッチファイルであ
る。診断プログラム31は、履歴ファイル32の情報に
基づいて決定した検査対象デバイスそれぞれに対応する
検査番号をその検査順にスクリプトファイル33に登録
し、そしてそのスクリプトファイル33に登録されてい
る検査番号順に従って検査を実行する。
Further, the diagnostic program 31 also has an input / output interface () with the script file 33. Here, the script file 33 is a kind of batch file for designating which device the diagnostic program 31 is to be inspected for. The diagnostic program 31 registers the inspection numbers corresponding to the respective inspection target devices, which are determined based on the information in the history file 32, in the script file 33 in the inspection order, and in accordance with the inspection number order registered in the script file 33. To execute.

【0018】図3には、履歴ファイル32で管理される
検査結果履歴情報が示されている。
FIG. 3 shows inspection result history information managed by the history file 32.

【0019】図3に示されているように、履歴ファイル
32では、各デバイス名またはそのデバイスに対応する
検査番号毎に、「前回の結果(OK/NG)」、「エラ
ー率」、および「平均所要時間」に関する項目が管理さ
れる。
As shown in FIG. 3, in the history file 32, "previous result (OK / NG)", "error rate", and "for each device name or inspection number corresponding to that device" Items related to "average required time" are managed.

【0020】「前回の結果(OK/NG)」は、当該デ
バイスに対する前回の検査結果が正常(OK)と判断さ
れたか、エラー(NG)と判断されたかを示すものであ
り、当該デバイスに対する検査が実行される度に登録さ
れ、次の検査が行われるまで保持される。
The "previous result (OK / NG)" indicates whether the previous test result for the device was judged to be normal (OK) or error (NG). Is registered each time is executed and is held until the next inspection is performed.

【0021】「エラー率」は、当該デバイスに対する過
去全ての検査結果についてのエラー(NG)発生率を示
す値であり、当該デバイスに対する検査が実行される度
にその検査結果に応じて更新される。
The "error rate" is a value indicating an error (NG) occurrence rate of all past inspection results for the device, and is updated according to the inspection result every time the device is inspected. .

【0022】「平均所要時間」は、当該デバイスに対す
る過去全ての検査で要した時間の平均値であり、当該デ
バイスに対する検査が実行される度にその検査で要した
時間が過去の平均所要時間を大きく超過する場合を除
き、検査の度に更新されていく。また、今回の検査で要
した時間が過去の平均所要時間を大きく超過する場合に
は、今回の検査結果が正常(OK)であってもその検査
結果は自動的にエラー(NG)に修正される。
The "average required time" is an average value of the times required for all the past inspections on the device, and the time required for the inspections each time the inspection for the device is executed is the past average required time. It will be updated at each inspection unless it exceeds a large amount. If the time required for this inspection greatly exceeds the average required time in the past, the inspection result is automatically corrected to error (NG) even if the inspection result for this time is normal (OK). It

【0023】図4には、診断プログラム31によるデバ
イス#1〜#4それぞれの検査が過去に3回行われた場
合における検査結果の一例と履歴ファイル32に登録さ
れる「エラー率」および「平均所要時間」との関係が示
されている。
FIG. 4 shows an example of the inspection result when the inspection of each of the devices # 1 to # 4 by the diagnostic program 31 has been performed three times in the past, and the "error rate" and "average" registered in the history file 32. The relationship with "required time" is shown.

【0024】ここでは、1回目の検査(診断#1)で
は、デバイス#1については検査結果はOKでその所要
時間が4T、デバイス#2については検査結果はOKで
その所要時間が8T、デバイス#3については検査結果
はNGでその所要時間が4T、デバイス#4については
検査結果はNGでその所要時間が4Tであり、2回目の
検査(診断#2)では、デバイス#1については検査結
果はOKでその所要時間が4T、デバイス#2について
は検査結果はOKでその所要時間が9T、デバイス#3
については検査結果はNGでその所要時間が5T、デバ
イス#4については検査結果はOKでその所要時間が4
Tであり、3回目の検査(診断#3)では、デバイス#
1については検査結果はOKでその所要時間が4T、デ
バイス#2については検査結果はOKでその所要時間が
10T、デバイス#3については検査結果はNGでその
所要時間が5T、デバイス#4については検査結果はO
Kでその所要時間が4Tである場合を想定している。
In the first inspection (diagnosis # 1), the inspection result is OK and the required time is 4T for the device # 1, and the inspection result is OK and the required time is 8T for the device # 2. For # 3, the inspection result is NG and the required time is 4T. For device # 4, the inspection result is NG and the required time is 4T. In the second inspection (diagnosis # 2), the device # 1 is inspected. The result is OK, the required time is 4T, and for the device # 2, the inspection result is OK, the required time is 9T, the device # 3.
The inspection result is NG and the required time is 5T, and the inspection result is OK and the required time is 4 for the device # 4.
T, and in the third inspection (diagnosis # 3), device #
For 1 the inspection result is OK and the required time is 4T, for device # 2 the inspection result is OK and the required time is 10T, for device # 3 the inspection result is NG and the required time is 5T, for device # 4 Test result is O
It is assumed that the time required for K is 4T.

【0025】なお、Tは任意の単位時間である。この場
合、3回目の検査(診断#3)が終了した段階では、履
歴ファイル32に登録される例えばデバイス#2の「平
均所要時間」は9Tとなり、また例えばデバイス#2の
「エラー率」は100%となる。
Note that T is an arbitrary unit time. In this case, when the third inspection (diagnosis # 3) is completed, the “average required time” of the device # 2 registered in the history file 32 is 9T, and the “error rate” of the device # 2 is It will be 100%.

【0026】図4に示した複数回の診断処理は同一検査
工程で行われることもあれば、各回毎に異なる部署にお
ける異なる検査工程で行われる場合もある。いずれの場
合も前回の検査結果等に関する履歴情報はHDD19に
履歴ファイル32として記憶されているので、どの検査
工程における検査においても、前回以前の検査結果を有
効利用することができる。
The diagnostic processing shown in FIG. 4 may be performed a plurality of times in the same inspection process, or may be performed in different inspection processes in different departments each time. In any case, since the history information regarding the previous inspection result and the like is stored in the HDD 19 as the history file 32, the inspection result before the previous time can be effectively used in the inspection in any inspection process.

【0027】次に、図5を参照して、診断プログラム3
1によって提供されるユーザインタフェースについて説
明する。
Next, referring to FIG. 5, the diagnostic program 3
The user interface provided by 1 will be described.

【0028】図5は診断プログラム31の起動時にその
診断プログラム31によって表示される操作画面の一例
である。この操作画面には、図示のように、検査対象の
デバイスそれぞれに対応する検査番号を入力するための
検査番号入力フィールド101、診断開始を診断プログ
ラム31に指示するための「実行」ボタン102、およ
び全ての検査番号それぞれについて対応するデバイス名
と診断結果を表示するためのリスト表示領域103が設
けられている。
FIG. 5 shows an example of an operation screen displayed by the diagnostic program 31 when the diagnostic program 31 is activated. On this operation screen, as shown in the figure, an inspection number input field 101 for inputting an inspection number corresponding to each device to be inspected, an “execute” button 102 for instructing the diagnostic program 31 to start diagnosis, and A list display area 103 is provided for displaying the device name and the diagnosis result corresponding to all the inspection numbers.

【0029】さらに、この操作画面には、診断プログラ
ム31に実行させるべき診断モードを利用者に選択させ
る為のボタンとして、「前回NG」ボタン104、「エ
ラー率優先」ボタン105、「所要時間優先」ボタン1
06が設けられている。
Further, on this operation screen, as a button for allowing the user to select a diagnostic mode to be executed by the diagnostic program 31, a "previous NG" button 104, an "error rate priority" button 105, and a "required time priority" are given. Button 1
06 is provided.

【0030】「前回NG」ボタン104は診断モードを
「前回NG」モードに設定するためのボタンである。
「前回NG」モードでは、履歴ファイル32の履歴情報
に基づいて前回の検査でエラーが検出されたデバイスが
選択され、その選択されたデバイスに関する検査のみが
自動実行される。
The "previous NG" button 104 is a button for setting the diagnostic mode to the "previous NG" mode.
In the "previous NG" mode, a device in which an error is detected in the previous inspection is selected based on the history information of the history file 32, and only the inspection regarding the selected device is automatically executed.

【0031】「エラー率優先」ボタン105は診断モー
ドを「エラー率優先」モードに設定するためのボタンで
ある。「エラー率優先」モードでは履歴ファイル32の
履歴情報に基づいて各デバイスのエラー発生率の上下関
係が判定され、エラー発生率の高いデバイスの検査が優
先して実行される。すなわち、通常は、複数のデバイス
それぞれに対する検査は予め決められた順番(例えば、
CPU、メモリ、モデム、LAN、……という検査番号
順)で実行されるが、「エラー率優先」モードではエラ
ー発生率の高いデバイスから順に検査が実行され、最も
エラー発生率が低いデバイスに関する検査が最後に実行
されることになる。よって、注目しているデバイスに関
する検査を先に実行できる。
The "error rate priority" button 105 is a button for setting the diagnostic mode to the "error rate priority" mode. In the "error rate priority" mode, the hierarchical relationship of the error occurrence rate of each device is determined based on the history information of the history file 32, and the inspection of the device having a high error occurrence rate is preferentially executed. That is, usually, the inspection for each of the plurality of devices is performed in a predetermined order (for example,
The CPU, memory, modem, LAN, and so on are executed in the order of inspection numbers), but in the "error rate priority" mode, the inspection is executed in order from the device with the highest error rate, and the test with the lowest error rate is performed. Will be executed last. Therefore, the inspection regarding the device of interest can be performed first.

【0032】もちろん、例えばキャンセルボタンなどの
ようにユーザからの指示で診断処理を途中で中断させる
ようにすることも出来、これによってエラー発生率が所
定値以上のデバイスに関する検査のみを行うことも可能
である。
Of course, it is also possible to interrupt the diagnostic processing on the way by an instruction from the user, such as a cancel button, so that it is possible to carry out only the inspection for the devices having an error occurrence rate of a predetermined value or more. Is.

【0033】「所要時間優先」ボタン106は診断モー
ドを「所要時間優先」モードに設定するためのボタンで
ある。「所要時間優先」モードでは、履歴ファイル32
の履歴情報に基づいて検査に要した平均所要時間が基準
値以上のデバイスが選択され、その選択されたデバイス
に関する検査のみが実行される。これは、例えば前回の
検査結果がOKであっても、検査に通常よりも時間のか
かっているデバイスは次の検査ではNGとなるなど、不
安定要素を含む場合があることを考慮した診断モードで
ある。
The "required time priority" button 106 is a button for setting the diagnostic mode to the "required time priority" mode. In the "time required priority" mode, the history file 32
A device whose average required time required for the inspection is equal to or greater than the reference value is selected based on the history information of 1., and only the inspection for the selected device is executed. This is a diagnostic mode that considers that an unstable element may be included, for example, even if the previous inspection result is OK, the device that takes longer than usual to inspect becomes NG in the next inspection. Is.

【0034】なお、検査を実行するたびに、OKと判断
されたデバイスについての今回の検査に要した時間が、
履歴情報から取得した当該デバイスの平均所要時間を所
定時間以上超過しているか否かを検出して、所定時間以
上超過している場合に当該デバイスの検査結果をエラー
に変更するという手法を採用してもよく、この場合には
「所要時間優先」モードを用いずとも、不安定要素に十
分に対応することが出来る。
Each time the inspection is executed, the time required for the current inspection of the device judged to be OK is
A method is adopted that detects whether the average required time of the device acquired from the history information exceeds a predetermined time or more, and changes the inspection result of the device to an error when the average required time exceeds the predetermined time. However, in this case, the unstable element can be sufficiently dealt with without using the “required time priority” mode.

【0035】次に、図6のフローチャートを参照して、
ユーザによって選択される診断モードと実行される診断
処理との関係について説明する。
Next, referring to the flowchart of FIG.
The relationship between the diagnostic mode selected by the user and the diagnostic process executed will be described.

【0036】上述の「前回NG」ボタン104、「エラ
ー率優先」ボタン105、「所要時間優先」ボタン10
6のいずれも押されずに「実行」ボタン102が押され
た場合には、「ノーマル」モードとなり(ステップS1
01,S102)、全ての検査番号の検査またはユーザ
によって検査番号入力フィールド101に入力された検
査番号の検査が実行される(ステップS102)。全て
の検査番号の検査は診断プログラム31のデフォルトモ
ードであり、ユーザが検査番号入力フィールド101に
何もユーザが入力しなければ、自動的に全ての検査番号
の検査が検査番号順に実行される。
The "last NG" button 104, the "error rate priority" button 105, and the "required time priority" button 10 described above.
When none of 6 is pressed and the “execute” button 102 is pressed, the “normal” mode is set (step S1).
01, S102), the inspection of all the inspection numbers or the inspection of the inspection number input in the inspection number input field 101 by the user is executed (step S102). The examination of all examination numbers is the default mode of the diagnostic program 31, and if the user does not input anything in the examination number input field 101, the examinations of all examination numbers are automatically executed in the order of examination numbers.

【0037】「前回NG」ボタン104が押されると
「前回NG」モードとなり(ステップS101)、その
時点で履歴ファイル32の履歴情報に基づいて前回の検
査でNGとなった検査番号が特定され、それが検査番号
入力フィールド101に設定される。そして、「実行」
ボタン102が押されると、前回の検査でNGとなった
検査番号のみの検査が自動実行される(ステップS10
3)。
When the "previous NG" button 104 is pressed, the "previous NG" mode is set (step S101), and at that time, the inspection number which has been NG in the previous inspection is specified based on the history information of the history file 32, It is set in the examination number input field 101. And "execute"
When the button 102 is pressed, the inspection is automatically executed only for the inspection number that has become NG in the previous inspection (step S10).
3).

【0038】「エラー率優先」ボタン105が押される
と「エラー率優先」モードとなり(ステップS10
1)、その時点で履歴ファイル32の履歴情報に基づい
てエラー発生率順に検査番号がソートされ、それが検査
番号入力フィールド101に設定される。そして、「実
行」ボタン102が押されると、エラー発生率の高い検
査番号から順に検査が実行される(ステップS10
4)。
When the "error rate priority" button 105 is pressed, the "error rate priority" mode is set (step S10).
1) At that time, the inspection numbers are sorted in the order of the error occurrence rate based on the history information of the history file 32, and the inspection numbers are set in the inspection number input field 101. Then, when the "execute" button 102 is pressed, the inspections are executed in order from the inspection number with the highest error occurrence rate (step S10).
4).

【0039】「所要時間優先」ボタン106が押される
と「所要時間優先」モードとなり(ステップS10
1)、その時点で履歴ファイル32の履歴情報に基づい
て平均所要時間が基準値以上の検査番号が特定され、そ
れが検査番号入力フィールド101に設定される。そし
て、「実行」ボタン102が押されると、平均所要時間
が基準値以上の検査番号のみの検査が自動実行される
(ステップS105)。
When the "required time priority" button 106 is pressed, the "required time priority" mode is set (step S10).
1) At that time, an examination number having an average required time of at least a reference value is specified based on the history information of the history file 32, and the examination number is set in the examination number input field 101. Then, when the "execute" button 102 is pressed, the inspections of only the inspection numbers whose average required time is equal to or greater than the reference value are automatically executed (step S105).

【0040】次に、「前回NG」モード、「エラー率優
先」モード、および「所要時間優先」モードそれぞれに
おいて実行される診断プログラム31の処理手順につい
て説明する。
Next, the processing procedure of the diagnostic program 31 executed in each of the "previous NG" mode, the "error rate priority" mode, and the "required time priority" mode will be described.

【0041】図7のフローチャートは、「前回NG」モ
ードにおける処理手順を示している。「前回NG」モー
ドでは、まず、診断プログラム31は履歴ファイル32
を開き(ステップS201)、履歴ファイル32の履歴
情報から全ての検査番号(全てのデバイス)それぞれに
対応する「前回の結果(OK/NG)」の情報を取り出
す(ステップS202)。次いで、診断プログラム31
は、検査結果がNGの検査番号を抽出し(ステップS2
03)、その抽出した検査番号をスクリプトファイル3
3に登録する(ステップS204)。そして、診断プロ
グラム31は、スクリプトファイル33に登録された検
査番号それぞれに対応する検査のみを実行する(ステッ
プS205)。
The flowchart of FIG. 7 shows the processing procedure in the "previous NG" mode. In the "previous NG" mode, the diagnostic program 31 first sets the history file 32.
Is opened (step S201), and the information of "previous results (OK / NG)" corresponding to all inspection numbers (all devices) is retrieved from the history information of the history file 32 (step S202). Then, the diagnostic program 31
Extracts an inspection number whose inspection result is NG (step S2
03), the extracted inspection number is the script file 3
3 is registered (step S204). Then, the diagnostic program 31 executes only the inspection corresponding to each inspection number registered in the script file 33 (step S205).

【0042】図8のフローチャートは、「エラー率優
先」モードにおける処理手順を示している。「エラー率
優先」モードでは、まず、診断プログラム31は履歴フ
ァイル32を開き(ステップS211)、履歴ファイル
32の履歴情報から全ての検査番号(全てのデバイス)
それぞれに対応する「エラー率」の情報を取り出す(ス
テップS212)。次いで、診断プログラム31は、エ
ラー率の高い順に検査番号の並べ替えを行い(ステップ
S213)、その並べ替えた検査番号をスクリプトファ
イル33に登録する(ステップS214)。そして、診
断プログラム31は、スクリプトファイル33に登録さ
れた検査番号それぞれに対応する検査をその登録順に実
行する(ステップS215)。
The flowchart of FIG. 8 shows the processing procedure in the "error rate priority" mode. In the "error rate priority" mode, first, the diagnostic program 31 opens the history file 32 (step S211), and from the history information of the history file 32, all the inspection numbers (all devices).
The information of the "error rate" corresponding to each is taken out (step S212). Next, the diagnostic program 31 rearranges the inspection numbers in descending order of error rate (step S213), and registers the rearranged inspection numbers in the script file 33 (step S214). Then, the diagnostic program 31 executes the inspections corresponding to the inspection numbers registered in the script file 33 in the order of registration (step S215).

【0043】図9のフローチャートは、「所要時間優
先」モードにおける処理手順を示している。「所要時間
優先」モードでは、まず、診断プログラム31は履歴フ
ァイル32を開き(ステップS221)、履歴ファイル
32の履歴情報から全ての検査番号(全てのデバイス)
それぞれに対応する「平均所要時間」の情報を取り出す
(ステップS222)。次いで、診断プログラム31
は、平均所要時間が基準値以上の検査番号を抽出し(ス
テップS223)、その抽出した検査番号をスクリプト
ファイル33に登録する(ステップS224)。そし
て、診断プログラム31は、スクリプトファイル33に
登録された検査番号それぞれに対応する検査のみを実行
する(ステップS225)。
The flowchart of FIG. 9 shows the processing procedure in the "required time priority" mode. In the "required time priority" mode, first, the diagnostic program 31 opens the history file 32 (step S221), and from the history information of the history file 32, all the examination numbers (all devices).
The information of the "average required time" corresponding to each is taken out (step S222). Then, the diagnostic program 31
Extracts an inspection number whose average required time is equal to or greater than the reference value (step S223), and registers the extracted inspection number in the script file 33 (step S224). Then, the diagnostic program 31 executes only the inspection corresponding to each inspection number registered in the script file 33 (step S225).

【0044】次に、図10のフローチャートを参照し
て、検査に要した時間と過去の検査の平均所要時間とに
基づいて検査結果を修正する処理を含む所要時間チェッ
ク処理について説明する。
Next, with reference to the flowchart of FIG. 10, a required time check process including a process of correcting the inspection result based on the time required for the inspection and the average required time of the past inspections will be described.

【0045】診断プログラム31は、まず、指定された
診断モードで各デバイスに対する検査を実行する(ステ
ップS231)。そして、個々のデバイスの検査が終了
する毎にその検査結果と検査に要した所要時間を取得す
る(ステップS232)。そして、診断プログラム31
は、履歴ファイル32を開いてその履歴ファイル32内
の該当するデバイスの平均所要時間を取り出し、今回の
検査の所要時間と比較する(ステップS233,S23
4,S235)。
The diagnostic program 31 first executes an inspection for each device in the designated diagnostic mode (step S231). Then, each time the inspection of each device is completed, the inspection result and the time required for the inspection are acquired (step S232). And the diagnostic program 31
Opens the history file 32, extracts the average required time of the corresponding device in the history file 32, and compares it with the required time of this inspection (steps S233, S23).
4, S235).

【0046】今回の検査の所要時間が過去の検査の平均
所要時間を超過している場合(ステップS236のYE
S)、もしその超過時間が所定の許容範囲を越えていれ
ば、たとえ今回の検査結果がOKであってもその検査結
果はNGに修正され、それが履歴ファイル32に登録さ
れる(ステップS237)。
When the time required for the inspection this time exceeds the average time required for the past inspections (YE in step S236)
S) If the excess time exceeds the predetermined allowable range, the inspection result is corrected to NG and registered in the history file 32 even if the inspection result of this time is OK (step S237). ).

【0047】一方、今回の検査の所要時間が過去の検査
の平均所要時間を超過していない場合は(ステップS2
36のNO)、今回の検査の所要時間は許容範囲内であ
ると判断され、履歴ファイル32の平均所要時間に今回
の検査の所要時間の値を反映させるとともに、今回の検
査結果(OKまたはNG)を履歴ファイル32に登録す
る(ステップS238,S239)。
On the other hand, if the required time for this inspection does not exceed the average required time for the past inspections (step S2
No of 36), it is determined that the required time of this inspection is within the allowable range, the value of the required time of this inspection is reflected in the average required time of the history file 32, and the result of this inspection (OK or NG). ) Is registered in the history file 32 (steps S238 and S239).

【0048】なお、ここでは平均所要時間の更新を正し
く行うために、今回の検査結果がOKであるかNGであ
るかに関係なく所要時間の超過判断を行ったが、基本的
には、今回の検査で正常と判定されたデバイスについて
のみ所要時間の超過判断を行えばよい。
Here, in order to correctly update the average required time, it was judged whether the required time was exceeded regardless of whether the inspection result was OK or NG this time. It is only necessary to determine whether the required time is exceeded for devices that have been determined to be normal by the inspection.

【0049】また、本実施形態の診断処理の機能は全て
診断プログラム31によって実現されているので、この
診断プログラム31をコンピュータ読み取り可能な記憶
媒体を通じて通常のコンピュータに導入して実行させる
だけで、本実施形態と同様の効果を容易に得ることが出
来る。
Further, all the functions of the diagnostic processing of this embodiment are realized by the diagnostic program 31, so that the diagnostic program 31 can be executed by installing it in a normal computer through a computer-readable storage medium and executing it. The same effect as that of the embodiment can be easily obtained.

【0050】また、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範
囲で種々に変形することが可能である。更に、上記実施
形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される
複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の
発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構
成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解
決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明
の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、
この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得
る。
Further, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and can be variously modified in an implementation stage without departing from the scope of the invention. Furthermore, the embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements. For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements shown in the embodiment, the problem described in the section of the problem to be solved by the invention can be solved, and the effect described in the section of the effect of the invention can be solved. If you get
A configuration in which this component is deleted can be extracted as an invention.

【0051】[0051]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
様々な工程および検査目的で共通に利用でき、しかも必
要な検査を効率よく実行することが可能となる。
As described above, according to the present invention,
It can be commonly used for various processes and inspection purposes, and the required inspection can be efficiently performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係わる情報処理装置の構
成を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an information processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施形態の情報処理装置で用いられる診断プ
ログラムの機能を説明するための図。
FIG. 2 is an exemplary view for explaining a function of a diagnostic program used in the information processing apparatus of the embodiment.

【図3】図2の診断プログラムによって管理される履歴
ファイルの構造を説明するための図。
3 is a diagram for explaining the structure of a history file managed by the diagnostic program of FIG.

【図4】図2の診断プログラムによって診断処理とその
診断結果の一例を示す図。
4 is a diagram showing an example of a diagnostic process and its diagnostic result by the diagnostic program of FIG.

【図5】図2の診断プログラムによって提供される操作
画面の一例を示す図。
5 is a diagram showing an example of an operation screen provided by the diagnostic program of FIG.

【図6】図2の診断プログラムによって実行される診断
処理の手順を示すフローチャート。
FIG. 6 is a flowchart showing the procedure of a diagnostic process executed by the diagnostic program of FIG.

【図7】図2の診断プログラムによって実行される「前
回NG」モードにおける診断処理手順を示すフローチャ
ート。
7 is a flowchart showing a diagnostic processing procedure in a "previous NG" mode executed by the diagnostic program of FIG.

【図8】図2の診断プログラムによって実行される「エ
ラー率優先」モードにおける診断処理手順を示すフロー
チャート。
8 is a flowchart showing a diagnostic processing procedure in an "error rate priority" mode executed by the diagnostic program of FIG.

【図9】図2の診断プログラムによって実行される「所
要時間優先」モードにおける診断処理手順を示すフロー
チャート。
9 is a flowchart showing a diagnostic processing procedure in a "required time priority" mode executed by the diagnostic program of FIG.

【図10】図2の診断プログラムによって実行される所
要時間チェック処理の手順を示すフローチャート。
10 is a flowchart showing a procedure of required time check processing executed by the diagnostic program of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…CPU 12…ホストブリッジ 13…メモリ 14…表示コントローラ 15…モデム 16…LANコントローラ 19…HDD 31…診断プログラム 32…履歴ファイル 33…スクリプトファイル 11 ... CPU 12 ... Host bridge 13 ... Memory 14 ... Display controller 15 ... Modem 16 ... LAN controller 19 ... HDD 31 ... Diagnostic program 32 ... History file 33 ... Script file

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のデバイスそれぞれの検査を実行す
る診断プログラムを有する情報処理装置において、 前記診断プログラムによって実行された前記各デバイス
に関する検査結果の履歴情報を前記情報処理装置内の記
憶装置に蓄積する手段と、 前記複数のデバイスの内で利用者により指定されたデバ
イスに関する検査を実行する第1の検査モードと、前記
記憶装置に蓄積されている履歴情報に基づいて前回の検
査でエラーが検出されたデバイスを特定して当該デバイ
スに関する検査を実行する第2の検査モードと、前記履
歴情報に基づいてエラー発生率の高いデバイスに関する
検査を優先的に実行する第3の検査モードとを有し、そ
れら検査モードを利用者に選択させる為の画面を提示
し、前記画面上で選択された検査モードに従って前記第
1乃至第3の検査モードでの検査を前記診断プログラム
に選択的に実行させる制御手段とを具備することを特徴
とする情報処理装置。
1. An information processing apparatus having a diagnostic program for executing an inspection of each of a plurality of devices, wherein history information of inspection results regarding each device executed by the diagnostic program is accumulated in a storage device in the information processing apparatus. Means, a first inspection mode for performing an inspection on a device designated by the user among the plurality of devices, and an error detected in the previous inspection based on history information accumulated in the storage device. A second inspection mode in which the identified device is specified and an inspection related to the device is executed, and a third inspection mode in which an inspection related to a device having a high error occurrence rate is preferentially executed based on the history information. , Presents a screen for allowing the user to select one of the inspection modes, and according to the inspection mode selected on the screen, 1 through the information processing apparatus characterized by comprising a control means for selectively performed the inspection in the third test mode in the diagnostic program.
【請求項2】 前記制御手段は、前記記憶装置に蓄積さ
れている履歴情報に基づいて検査に要した時間が基準値
以上のデバイスを特定して当該デバイスに関する検査を
実行する第4の検査モードをさらに有し、前記第1乃至
第4の検査モードを利用者に選択させる為の画面を提示
し、前記画面上で選択された検査モードに従って前記第
1乃至第4の検査モードでの検査を前記診断プログラム
に選択的に実行させるように構成されていることを特徴
とする請求項1記載の情報処理装置。
2. A fourth inspection mode in which the control means specifies a device whose time required for the inspection is equal to or greater than a reference value based on history information accumulated in the storage device and executes the inspection for the device. Further presenting a screen for allowing the user to select the first to fourth inspection modes, and performing the inspection in the first to fourth inspection modes according to the inspection mode selected on the screen. The information processing apparatus according to claim 1, wherein the information processing apparatus is configured to be selectively executed by the diagnostic program.
【請求項3】 前記診断プログラムによって行われた今
回の検査で正常と判定されたデバイスについて、今回の
検査に要した時間が、前記履歴情報から取得した過去の
検査で要した平均所要時間を所定時間以上超過している
か否かを検出し、所定時間以上超過している場合に当該
デバイスの検査結果をエラーに変更する手段をさらに具
備することを特徴とする請求項1記載の情報処理装置。
3. The time required for this inspection for a device determined to be normal by this inspection performed by the diagnostic program is an average required time required for the past inspection acquired from the history information. 2. The information processing apparatus according to claim 1, further comprising means for detecting whether or not the time is exceeded for a predetermined time or more, and changing the inspection result of the device to an error when the time is exceeded for a predetermined time or longer.
【請求項4】 情報処理装置で実行される診断プログラ
ムを用いてその情報処理装置内の複数のデバイスそれぞ
れの検査を実行するための診断方法において、 前記診断プログラムによって実行された前記各デバイス
に関する検査結果の履歴情報を前記情報処理装置内の記
憶装置に蓄積するステップと、 前記複数のデバイスの内で利用者により指定されたデバ
イスに関する検査を実行する第1の検査モードと、前記
記憶装置に蓄積されている履歴情報に基づいて前回の検
査でエラーが検出されたデバイスを特定して当該デバイ
スに関する検査を実行する第2の検査モードと、前記履
歴情報に基づいてエラー発生率の高いデバイスに関する
検査を優先的に実行する第3の検査モードとを有し、そ
れら検査モードを利用者に選択させる為の画面を提示
し、前記画面上で選択された検査モードに従って前記第
1乃至第3の検査モードでの検査を前記診断プログラム
に選択的に実行させるステップとを具備することを特徴
とする情報処理装置の診断方法。
4. A diagnostic method for executing an inspection of each of a plurality of devices in an information processing apparatus using a diagnostic program executed by the information processing apparatus, the inspection being performed for each device by the diagnostic program. Accumulating the resulting history information in a storage device in the information processing device; a first inspection mode for executing an inspection on a device designated by a user among the plurality of devices; and accumulating in the storage device. A second inspection mode in which a device in which an error has been detected in the previous inspection is specified based on the history information that has been detected and the inspection related to the device is executed; And a screen for prompting the user to select one of these inspection modes. And a step of causing the diagnostic program to selectively execute the inspection in the first to third inspection modes according to the inspection mode selected on the screen. .
【請求項5】 前記記憶装置に蓄積されている履歴情報
に基づいて検査に要した時間が基準値以上のデバイスを
特定して当該デバイスに関する検査を実行する第4の検
査モードをさらに有し、前記第1乃至第4の検査モード
を利用者に選択させる為の画面を提示し、前記画面上で
選択された検査モードに従って前記第1乃至第4の検査
モードでの検査を前記診断プログラムに選択的に実行さ
せることを特徴とする請求項4記載の情報処理装置の診
断方法。
5. A fourth inspection mode is further provided, which specifies a device whose time required for inspection is equal to or greater than a reference value based on history information accumulated in the storage device and executes an inspection on the device. Presenting a screen for prompting the user to select the first to fourth inspection modes, and selecting the inspection in the first to fourth inspection modes to the diagnostic program according to the inspection mode selected on the screen. 5. The method for diagnosing an information processing apparatus according to claim 4, wherein the method is executed in a dynamic manner.
【請求項6】 今回の検査で正常と判定されたデバイス
について、今回の検査に要した時間が、前記履歴情報か
ら取得した過去の検査で要した平均所要時間を所定時間
以上超過しているか否かを検出し、所定時間以上超過し
ている場合に当該デバイスの検査結果をエラーに変更す
るステップをさらに具備することを特徴とする請求項4
記載の情報処理装置の診断方法。
6. Whether the time required for the current inspection exceeds the average required time required for the previous inspection obtained from the history information by a predetermined time or more for the device determined to be normal in the current inspection. 5. The method further comprising the step of detecting whether or not a predetermined time has elapsed and changing the inspection result of the device to an error.
A method for diagnosing the information processing apparatus described.
【請求項7】 コンピュータ内の複数のデバイスそれぞ
れの検査を前記コンピュータに実行させるコンピュータ
プログラムであって、 前記各デバイスに関する検査を実施する度にその検査結
果の履歴情報を前記情報処理装置内の記憶装置に蓄積す
るステップと、 前記複数のデバイスの内で利用者により指定されたデバ
イスに関する検査を実行する第1の検査モードと、前記
記憶装置に蓄積されている履歴情報に基づいて前回の検
査でエラーが検出されたデバイスを特定して当該デバイ
スに関する検査を実行する第2の検査モードと、前記履
歴情報に基づいてエラー発生率の高いデバイスに関する
検査を優先的に実行する第3の検査モードとを有し、そ
れら検査モードを利用者に選択させる為の画面を提示
し、前記画面上で選択された検査モードに従って前記第
1乃至第3の検査モードでの検査を選択的に実施するス
テップとを具備することを特徴とするコンピュータプロ
グラム。
7. A computer program for causing a computer to execute an inspection of each of a plurality of devices in a computer, wherein history information of inspection results is stored in the information processing apparatus each time an inspection of each device is performed. A step of accumulating in the device, a first inspection mode for executing an inspection on a device designated by a user among the plurality of devices, and a previous inspection based on history information accumulated in the storage device. A second inspection mode in which a device in which an error is detected is specified and an inspection regarding the device is executed, and a third inspection mode in which an inspection regarding a device with a high error occurrence rate is executed preferentially based on the history information. And presents a screen for allowing the user to select those inspection modes, and the inspection mode selected on the screen is displayed. Computer program characterized by comprising a step of selectively implementing the inspection in the first through third test mode in accordance with.
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