JP2002543440A - 気相質量分析計のための疎水性コーティングを有するサンプルホルダー - Google Patents

気相質量分析計のための疎水性コーティングを有するサンプルホルダー

Info

Publication number
JP2002543440A
JP2002543440A JP2000616045A JP2000616045A JP2002543440A JP 2002543440 A JP2002543440 A JP 2002543440A JP 2000616045 A JP2000616045 A JP 2000616045A JP 2000616045 A JP2000616045 A JP 2000616045A JP 2002543440 A JP2002543440 A JP 2002543440A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
analyte
gas phase
mass spectrometer
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000616045A
Other languages
English (en)
Inventor
ジォディ ビーチャー,
フランク シェウフェル,
カーメン ボイボドフ,
スコット ウェインバーガー,
ウィリアム シー. ランドグラフ,
Original Assignee
シファーゲン バイオシステムズ, インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by シファーゲン バイオシステムズ, インコーポレイテッド filed Critical シファーゲン バイオシステムズ, インコーポレイテッド
Priority claimed from PCT/US2000/011499 external-priority patent/WO2000067293A1/en
Publication of JP2002543440A publication Critical patent/JP2002543440A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 本発明は、表面および表面をコートするフィルムを有する支持層を含む、質量分析計のためのサンプルホルダーを提供する。フィルムは、分析物の提示のための特徴を規定する開口を備える。フィルムはまた、支持層表面の表面張力より低い表面張力を有し、そして120°と180°との間の水接触を有する。そしてより詳細には、本発明は、プローブの特徴(feature)に対する液体サンプルの改良された隔離のための、疎水性コーティングを有するサンプルプローブに関する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 (関連出願の引用) この出願は、1999年4月29日に出願された仮出願U.S.S.N.60
/131,652に対して優先権を主張し、これの開示は、本明細書中でその全
体が参考として援用される。
【0002】 (連邦政府で後援されている研究および開発のもとでなされた発明に対する権
利に関する陳述) 適用されない。
【0003】 (発明の背景) 本発明は、質量分析の分野に関し、そしてより詳細には、プローブの特徴(f
eature)に対する液体サンプルの改良された隔離のための疎水性コーティ
ングを有するサンプルプローブに関する。
【0004】 現代のレーザー脱離質量/イオン化質量分析(「LDI−MS」)は、2つの
主なバリエーション:マトリックス補助レーザー脱離/イオン化(「MALDI
」)質量分析および表面増強レーザー脱離/イオン化(「SELDI」)におい
て実施され得る。MALDIにおいて、生物学的分子を含み得る分析物が、マト
リックスを含む溶液と混合され、そして一滴の液体がプローブの表面上に置かれ
る。次いで、マトリックス溶液は、生物学的分子と共結晶化される。プローブが
、質量分析計中に挿入される。レーザーエネルギーは、生物学的分子を有意に断
片化することなく、その分子を脱離し、そしてイオン化するプローブ表面に指向
される。しかし、MALDIは、分析用の道具として制限を有する。サンプルを
分画する手段を提供せず、そしてマトリックス分子は、特に低分子量の分析物に
対して、検出を妨げ得る。例えば、特許出願第5,118,937号(Hill
enkampら)、および同第5,045,694号(BeavisおよびCh
ait)を参照のこと。
【0005】 SELDIにおいて、プローブ表面が修飾され、その結果、そのプローブ表面
は、脱離プロセスにおける活性に関与する。1つのバリアント(variant
)において、表面は、分析物を選択的に結合する親和性試薬を用いて誘導体化さ
れる。別のバリアントにおいて、表面が、レーザーを当てる場合に脱離されない
、エネルギー吸収分子を用いて誘導体化される。別のバリアントにおいて、表面
は、分析物を結合し、そしてレーザーの適用において破壊される光分解性結合を
含む分子を用いて誘導体化される。これらの方法の各々において、誘導体化薬剤
は、一般にサンプルが適用されるプローブ表面上の特異的な位置に局在される。
例えば、米国特許第5,719,060号(HutchensおよびYip)お
よびWO 98/59361(hutchensおよびYip)を参照のこと。
【0006】 2つの方法が、例えば、分析物を捕捉するためのSELDI親和性表面を用い
、そしてエネルギー吸収材料を提供するためのマトリックス含有液体を捕捉され
た分析物に添加することにより、組み合わされ得る。
【0007】 質量分析の実施において、プローブ表面上にサンプルを局在させることは、利
点を提供する。局在は、レーザーの適用の点において、より濃縮されたサンプル
を提供する。SELDIの親和性バージョンにおいて、局在は、重要であり得る
。なぜなら、親和性試薬がその分析物をより多く捕捉することを可能にし、それ
によって検出のより高い感度を提供可能であるからである。しかし、液体サンプ
ルは、プローブの表面に広がる傾向にあり、局在を妨げる。これは、プローブが
複数のサンプルを保有するように設計され、そしてサンプルが特異的な位置に隔
離され得ない場合、問題を特に生じる。
【0008】 液体サンプルをプローブ表面上の位置に隔離するための、より良い手段の必要
性が存在する。
【0009】 (発明の要旨) 本発明は、プローブ表面の特異的な位置または特徴に液体サンプルを隔離可能
にする質量分析プローブを提供する。このプローブは、表面を有する支持層およ
び表面をコートするフィルムを含む。一般に、質量分析において使用されるサン
プルは、水溶液中に溶解される。従って、フィルムは、表面より疎水性であるよ
う選択される(より低い表面張力)。
【0010】 これらのコーティングは、力学的境界と比較して、いくつかの利点を提供する
。第1に、それらは、質量分解能および質量精度を妨げる電界の混乱を避ける。
第2に、コーティングは、可能なサンプルプールの領域およびプローブ化された
領域以外の領域における優先的な結晶化を避ける。第3に、それらは、例えば質
の低い分子量決定精度または正確性を生じ得る、上昇されたサンプルリッジ(r
idge)または押し下げられたサンプルウェルのような、厳密な力学的許容を
維持する必要性を避ける。第4に、それらは、上昇された縁とは異なり、プロー
ブ化された領域を制限する光学的停止を避ける。
【0011】 有効ではないとされる問題の一つの解決策は、プローブ表面に対して、疎水性
サークルを手動で適用することを含む。このサークルは、Polyscienc
es(Warrington,PA,USA)から入手可能なPAPペンを使用
して適用され得る(Warrington,PA,USA)。PAPペンは、ス
タイラス中に含まれる有機溶媒ベースにおいて疎水性材料を含む。このコーティ
ングは、支持層表面上にスタイラスを用いて囲われた線を描くことにより、適用
される。PAPペンにより送達される材料は、約90°の接触角を有する。
【0012】 一つの局面において、本発明は、気相イオン検出器(例えば、質量分析計)中
に、取り外し可能に挿入されるプローブを提供する。このプローブは、a)イオ
ン化源に分析物を提示するために適用された表面を有する支持層およびb)表面
をコートするフィルムを含み、ここでフィルムは、i)表面を曝露する、少なく
とも1つの開口を含み、それにより分析物を含む液体を適用するための特徴を規
定し;ii)120°と180°との間の水との接触角を有し;そしてiii)
支持層表面より小さい表面張力を有し、これによりこの特徴に適用される液体は
、この特徴において隔離される。
【0013】 別の局面において、本発明は、入口ポートを含む気相イオン検出器;および入
口ポート中に挿入される本発明のプローブを備える系を提供する。
【0014】 別の局面において、本発明は、分析物を検出する方法を提供し、この方法は、
a)本発明のプローブの表面の特徴上に分析物を置くこと;b)気相イオン検出
器の入口ポート中にプローブを挿入すること(この気相イオン検出器は、i)プ
ローブ表面から気相中に分析物を脱離し、そして分析物をイオン化するイオン化
源;およびii)脱離されたイオンを検出する、プローブ表面と連絡するイオン
検出器を備える);c)イオン化源を用いて分析物を脱離し、そしてイオン化す
ること;およびd)イオン化分析物をイオン検出器を用いて検出することを含む
【0015】 (発明の詳細な説明) (I.定義) 他に定義されていない場合、本明細書中に使用される全ての技術用語および科
学用語は、本発明が属する分野の当業者により一般的に理解される意味を有する
。以下の参考文献は、本発明で使用される多くの用語の一般的な定義を当業者に
提供する:Singletonら、Dictionary of Microb
iology and Molecular Biology(第2版、199
4);The Cambridge Dictionary of Scien
ce and Technology(Walker編、1988);The
Glossary of Genetics、第5版、R.Riegerら(編
)、Springer Verlag(1991);およびHaleおよびMa
rham、The Harper Collins Dictionary o
f Biology(1991)。本明細書中で使用される場合、以下の用語が
、その他で特定されない場合、それらに帰された意味を有する。
【0016】 「気相イオン分光計」は、サンプルが気相中にイオン化される場合、形成され
たイオンの質量対電荷の比に解釈され得るパラメータを測定する装置をいう。一
般的に、目的のイオンは、単一の電荷を保有し、そして質量対電荷の比は、しば
しば簡単に質量といわれる。
【0017】 「質量分析計」は、入口系、イオン化源、イオン光学的アセンブリ、質量アナ
ライザー、および検出器を含む気相イオン分光計をいう。
【0018】 「レーザー脱離質量分析計」は、分析物を脱離するために、イオン化源として
レーザーを使用する質量分析計をいう。
【0019】 「プローブ」は、気相イオン検出器(例えば、質量分析計)中に取り外し可能
に挿入されるデバイスをいい、このデバイスは支持層を含み、支持層は検出のた
めの分析物の提示に適応された表面を有する。このプローブは、分析の結果とし
て修飾され得、そして使い捨てされ得る。
【0020】 「支持層」は、分析物を支持することが可能である固体材料をいう。
【0021】 「表面」は、本体または支持層の外部境界または上部境界をいう。
【0022】 「フィルム」は、ポリマー材料また分子有機材料(例えば、Langmuir
−Blodgettフィルムまたは自己集合モノマー)の薄いコーティングをい
う。
【0023】 「表面張力」は、一定の温度および圧力および組成における一単位の表面積を
作るのに必要とされる可逆的な仕事をいう。表面張力は、g=(dG/dA)T
,P,nにより測定され、ここでg=表面張力;G=系のギブスの自由エネルギ
ー;A=表面積;T=温度;P=圧力;およびN=組成である。
【0024】 「接触角」は、固体表面の平面と3相の接触(固体/液体/蒸気)の点で起こ
る液体境界に対して接線の方向との間の角度をいう。
【0025】 「ストリップ」は、実質的に扁平かまたは平面である材料の長い狭い1片をい
う。
【0026】 「プレート」は、実質的に扁平かまたは平面である材料の薄い1片をいい、そ
して任意の適切な形(例えば、長方形、正方形、横長の長方形、円など)であり
得る。
【0027】 「実質的に扁平」は、副表面(例えば、ストリップまたはプレート)と本質的
に平行であり、そして明瞭に副表面より大きい主要表面を有する支持層をいう。
【0028】 「電気的に電導」は、電気または電子を伝達することが可能である材料をいう
【0029】 「吸着剤」は、分析物を吸着する結合官能基を含む材料をいう。
【0030】 「結合官能基」は、分析物を結合するものの官能基をいう。結合官能基は、以
下を含むがこれらに限定されない:カルボキシル基、スルホネート基、リン酸基
、アンモニウム基、親水基、疎水基、反応基、金属キレート基、チオエーテル基
、ビオチン基、ボロネート(boronate)基、色素基、コレステロール基
、その誘導体、またはその任意の組み合わせ。結合官能基は、個々の構造特性(
例えば、抗原との抗体の相互作用、基質アナログとの酵素、結合タンパク質との
核酸、およびレセプターとのホルモン)に基づいて分析物に結合し得る他の官能
基をさらに含み得る。
【0031】 「分析物」は、望ましくは検出されるサンプルの成分をいう。この用語は、サ
ンプルにおける単一の成分または1組の成分をいい得る。
【0032】 「吸着」は、溶離液(選択性閾値モディファイアー)を用いた洗浄の前または
後のいずれかで結合官能基と分析物との間での検出可能な結合をいう。
【0033】 「分解する」、「分解」、または「分析物の分解」は、サンプルにおける少な
くとも1つの分析物の検出をいう。分解は、分離および後の差示的検出により、
サンプル中の複数の分析物の検出を含む。分解は、混合物中の全ての他の分析物
からの完全な分離を必要としない。むしろ、少なくとも2つの分析物との間の区
別が可能な、任意の分離で十分である。
【0034】 「検出」は、検出されるべき対象の存在、非存在または量を同定することをい
う。
【0035】 「エネルギー吸収分子」または「EAM」は、質量分析計におけるエネルギー
源からのエネルギーを吸収し、これにより、プローブ表面からの分析物の脱離を
可能にする分子をいう。MALDIにおいて使用されるエネルギー吸収分子は、
しばしば、「マトリックス」という。ケイ皮酸誘導体、シナピン酸(sinap
inic acid)およびジヒドロキシ安息香酸が、生物有機分子のレーザー
脱離におけるエネルギー吸収分子としてしばしば使用される。エネルギー吸収分
子のさらなる説明については、米国特許第5,719,060号(Hutche
nsおよびYip)を参照のこと。
【0036】 (II.プローブ) 本発明は、質量分析計中に取り外し可能に挿入されるプローブを提供する。こ
のプローブは、表面および表面をコートし、そして表面を曝露する開口を含むフ
ィルムを有する支持層を含む。このフィルムは、120°と180°との間の水
接触角を有する。フィルムはまた、支持層表面より低い表面張力を有し、その結
果、曝露された領域に適用される液体が、その領域に隔離される傾向がある。特
定の実施形態において、本発明のコーティングは、手動で適用され得るコーティ
ングより有意に疎水性である。
【0037】 (A.支持層) 支持層は、フィルムおよびサンプルを支持することが可能な任意の適切な材料
から作製され得る。例えば、支持層材料は、以下を含み得るがこれらに限定され
ない:ガラス、セラミック(酸化チタン、酸化シリコン)、有機ポリマー、金属
(例えば、ニッケル、黄銅、鋼、アルミニウム、金)、紙、金属およびポリマー
の複合物、またはそれらの組み合わせ。
【0038】 支持層は、種々の特性を有し得る。支持層は、一般に、非多孔性(例えば、固
体)であり、そして構造的安定性を提供するために実質的に硬い。さらに、支持
層は、電気的に絶縁または電導であり得る。好ましい実施形態において、支持層
は、電気的に電導であり、表面電荷を減少させ、そして質量分解を改善する。電
気的電導性は、電導性ポリマー(例えば、炭化されたポリエーテルエーテルケト
ン、ポリアセチレン、ポリフェニレン、ポリピロール、ポリアニリン、ポリチオ
フェンなど)、または電導性粒子フィラー(例えば、カーボンブラック、金属粉
末、電導性ポリマー粒子、ファイバーガラス充填プラスチック/ポリマー、エラ
ストーマなど)のような材料を用いることにより、達成され得る。
【0039】 支持層は、プローブを、質量分析計中に取り外し可能に挿入されることを可能
にする場合に限り、任意の形であり得る。1つの実施形態において、支持層は、
実質的に扁平であり、そして実質的に硬い。代表的には、プローブは、棒状の形
をとり得、ここでその棒状の一端の表面は、サンプル提示表面(ストリップまた
は長方形もしくは円形のプレート)である。さらに、支持層は、約0.1mm〜
約10cm以上の間、好ましくは約0.5mm〜約1cm以上の間、あるいは最
も好ましくは、約0.8mm〜約0.5cm以上の間の厚さを有し得る。好まし
くは、支持層自体は、手で握ることが可能なほどに十分大きい。例えば、支持層
の最も長い断面寸法は、少なくとも約1cm以上、さらに、より好ましくは、約
2cm以上、さらに最も好ましくは少なくとも約5cm以上であり得る。
【0040】 代表的には、プローブは、質量分析計の入口ポートおよび検出器を用いた使用
に適応される。例えば、プローブは、水平および/または垂直に移動するキャリ
ジに据え付けるのに適応され得、このキャリジは、連続した位置にプローブを水
平および/または垂直に移動する。このようなキャリジは、エネルギービームの
通路にあるべき、複数の特徴をプローブ上に提供し、それにより、プローブの再
配置を必要とすることなく分析物の検出を可能にする。
【0041】 好ましい実施形態において、本発明のプローブは、SELDIに適応される。
従って、特徴を形成する表面の領域は、分析物を選択的に結合する、付着された
吸着剤を有し得る。吸着剤は、分析物に対して非常に特異的であり得るか(例え
ば、抗体)、または吸着剤は、比較的、非特異的であり得る(例えば、陽イオン
交換樹脂または陰イオン交換樹脂)。あるいは、表面は、エネルギー吸収分子ま
たは光不安定性付着基を付着させ得る。各々の例について、米国特許第5,71
9,060号(HutchensおよびYip)およびWO 98/59361
(HutchensおよびおよびYip)を参照のこと。
【0042】 (B.フィルム) 本発明のプローブの支持層は、フィルムを用いてコートされる。フィルムの目
的は、二通りある。第一に、フィルムは、サンプルが置かれるべき位置を規定し
、また特徴と呼ばれる。第二に、高い水接触角を有し、そしてプローブ表面より
小さい表面張力を有することから、フィルムは、特徴上に置かれた液体サンプル
のあふれに対する境界を提供する。
【0043】 フィルムが液体サンプルを隔離するために、プローブの表面より小さい表面張
力を有すべきである。一般に、サンプルは、水性溶液である。この場合、その機
能を実施するために、フィルムは、疎水性である。しかし、本発明は、他の液体
サンプルも同様に意図する。この場合、フィルムは、サンプルの液体中に溶解し
ない材料から作製される。最も良い結果は、フィルムが少なくとも120°およ
び180°の水接触角を有する場合にもまた得られる。最も好ましくは、水接触
角は、160°より大きい。
【0044】 フィルムは、1Åと1mmとの間のプローブ表面上の厚さを有する。好ましく
は、厚さは、1ミクロンと1000ミクロン(1mm)との間である。最も好ま
しくは、フィルムは、約10ミクロンと500ミクロンとの間の厚さを有する。
約100ミクロンの厚さは、特に有用である。
【0045】 フィルムは、コーティングにおいてプローブの表面を曝露する少なくとも1つ
の開口または小腔(lacuna)を残すようにプローブの表面をコートする。
開口は、サンプルが適用される特徴を規定する。従って、フィルムはプローブ全
体をコートする必要がないが、液体の流出に対するバリアを提供する機能を実行
するための十分な広さを有する開口を取り囲むべきである。一般に、小腔を取り
囲むフィルムのバンドは、少なくとも0.3mmの広さであり、そしてより好ま
しくは、少なくとも1.5mmの広さである。
【0046】 より一般的には、フィルムは、連続表面の全体に配置される複数の開口を有し
、プローブの実質的な表面を覆う連続したコーティングを形成する。特徴は、好
ましくは、容易なアドレス可能性のために、線状アレイ、長方形アレイまたは円
形アレイのような規則的な様式で配置される。
【0047】 プローブがSELDIの表面増強親和性捕捉バージョンに適応される場合、フ
ィルムは、一般に、付着された親和性材料を有する特徴を囲む。従って、フィル
ムは、親和性材料の島を囲む疎水性の海として作用する。
【0048】 フィルムは、好ましくは、ポリマーを含む。例えば、ポリマーは、過フッ化(
perfluorinated)炭化水素、ハロゲン化炭化水素、脂肪族炭化水
素、芳香族炭化水素、ポリシラン、オルガノシラン、およびこれらの組み合わせ
から選択され得る。ポリマーコーティングの1つの販売源は、Cytonix、
Beltsville、MD、USAである。他の実施形態において、フィルム
は、分子有機材料である(例えば、Langmuir−Blodgettフィル
ムまたは自己集合単分子層(例えば、金担持デカンチオール))。
【0049】 ポリマーは、好ましくは、過フッ化ポリマーである。例示的なフッ化ポリマー
としては、以下が挙げられる:ポリ(ヘキサフルオロプロピレン);ポリ(テト
ラフルオロエチレン)(例えば、Teflon(登録商標));ポリ(トリフル
オロエチレン);ポリ(フッ化ビニル);ポリ(フッ化ビニリデン);ポリ((
ヘプタフルオロイソプロポキシ)エチレン);ポリ(1−((ヘプタフルオロイ
ソプロポキシ)メチル)プロピレン−stat−マレイン酸);ポリ(1−(ヘ
プタフルオロイソプロポキシ)プロピレン);ポリ((1−クロロジフルオロメ
チル(chlorodiflyoromethyl))テトラフルオロエチルア
クリレート);ポリ(ジ(クロロジフルオロメチル)フルオロメチルアクリレー
ト);ポリ(1,1−ジヒドロヘプタフルオロブチルアクリレート);ポリ(ヘ
プタフルオロイソプロピルアクリレート);ポリ(2−(ヘプタフルオロプロポ
キシ)エチルアクリレート);ポリ(ノナフルオロイソブチルアクリレート)、
およびポリ(t−ノナフルオロブチルメタクリレート)。1つの有用なフッ化ポ
リマーは、米国特許第5,853,891号(Brown)に記載される。
【0050】 例示的なハロゲン化ポリマーは、;ポリ(クロルトリフルオロエチレン(ch
lortrifluoroethylene));ポリ(塩化ビニル);および
ポリ(塩化ビニリデン)を含む。
【0051】 例示的な脂肪族ポリマーとしては、以下が挙げられる:ポリ(イソブテン);
ポリ(エチレン);ポリ(イソプレン);ポリ(4−メチル−l−ペンテン);
ポリ(酪酸ビニル);ポリ(ドデカン酸ビニル);ポリ(ヘキサデカン酸ビニル
);ポリ(プロピオン酸ビニル);ポリ(オクタン酸ビニル);ポリ(メタクリ
ロニトリル);ポリ(ビニルアルコール);およびポリ(ビニルブチラール)。
【0052】 例示的なエポキシ樹脂としては、g−グリシドキシ(glycidoxy)プ
ロピルトリメトキシシランを用いて硬化される0.5%のg−グリシドキシプロ
ピルトリメトキシ−シランを含む、ビスフェノール−Aのグリシジルエーテル、
2,3−ジ(グリシドキシ−1,4−フェニレン)プロパン;およびビスフェノ
ール−Aのジグリシジルエーテルが挙げられる。
【0053】 例示的芳香族ポリマーとしては、ポリ(スチレン);ポリ(2−メチルスチレ
ン);ポリ(キシリレン(xylelene))およびノボラック樹脂のような
フェノールホルムアルデヒド樹脂が挙げられる。
【0054】 例示的なポリシランおよびオルガノシランとしては以下が挙げられる:ポリ(
オキシジエチルシリレン);ポリ(オキシジメチルシリレン);ポリ(オキシメ
チルフェニルシリレン)、縮合したメチルトリメトキシシランおよび縮合したg
−アミノプロピルトリエトキシシラン(aminopropyltiretho
xysilane)。
【0055】 このようなポリマーの堆積は、例えば以下に記載される:Character
ization of Organic Thin Films;Ulman,
A.、編;Manning;Greenwich、1995(ISBN 0−7
506−9467−X)およびPolymer Handbook、第3版;B
randrup,J.およびImmergut,E.H.、編;John Wi
ley & Sons:New York,1989(ISBN 0−471−
81244−7)。
【0056】 ポリマーの表面張力は、一般に、40より少なく、好ましくは30より少なく
、より好ましくは20より少ない。ポリマーの表面張力は、ポリマーを細孔性に
することにより増加され得る。細孔性フィルムは、大きさが約5ミクロの穴を有
する。
【0057】 フィルムは、当該分野で公知の任意の方法(例えば、スクリーン印刷、エレク
トロスプレイ、インクジェット、蒸着、プラズマ堆積またはスピンコーティング
を含む)により支持層に適用され得る。特徴を作製するために、リソグラフィッ
クプロセスが、使用され得る。これは、堆積前に領域をマスクすることによるか
、あるいは電子、レーザーもしくはイオンビームプロセスを用いたエッチングま
たは燃焼により、堆積した材料を除去することによるか、あるいはより高度な感
光性リソグラフィック(photolithographic)プロセスを使用
することにより、なされ得る。
【0058】 (III.検出方法) 本発明のプローブは、プローブの特徴上に置かれた分析物の検出に有用である
。これらの方法において、プローブは、気相イオン分光計と関連して使用される
。これは、例えば、質量分析計、イオン移動分光計または全イオン電流測定デバ
イスを含む。
【0059】 1つの実施形態において、質量分析計は、本発明のプローブを用いて使用され
る。本発明のプローブの特徴上に置かれたサンプルは、質量分析計の入口系に導
入される。次いで、このサンプルは、イオン化源によりイオン化される。代表的
なイオン化源としては、例えば、レーザー、高速原子衝撃、またはプラズマが挙
げられる。生成されたイオンは、イオン光学アセンブリ(ion optic
assembly)により回収され、次いで、質量分析器が、通過イオンを分散
させ、そして分析する。質量分析器を出たイオンは、検出器により検出される。
次いで、検出器は、検出されたイオンの情報を、質量対電荷比に翻訳する。分析
物の検出は、代表的に、シグナル強度を検出することを含む。これは、順番に、
プローブに連結された分析物の量を示す。質量分析計に関するさらなる情報につ
いて、例えば、以下を参照のこと:Principles of Instru
mental Analysis、第3版、Skoog,Saunders C
ollege Publishing,Philadelphia、1985;
およびKirk−Othmer Encyclopedia of Chemi
cal Technology、第4版、第15巻(John Wiley &
Sons,New York 1995)1071〜1094頁。
【0060】 好ましい実施形態において、レーザー脱離飛行時間型質量分析計が本発明のプ
ローブを用いて使用され得る。レーザー脱離質量分析において、プローブ上のサ
ンプルが、入口系に導入される。このサンプルは、イオン化源からのレーザによ
り、脱離され、そして気相にイオン化される。生成されたイオンは、イオン光学
アセンブリにより回収され、次いで、飛行時間型質量分析器において、イオンが
、短い高電圧場を通って加速され、そして高真空箱中に流される。高真空箱の遠
端において、加速されたイオンは、異なる時間に高感度検出器表面に突き当たる
。飛行時間は、イオンの質量の関数であることから、イオン化と衝撃との間の経
過時間は、特定の質量の分子の存在または非存在を同定するために使用され得る
。当業者が理解するように、レーザー脱離飛行時間型質量分析計のこれらの成分
のいずれかは、堆積、加速、検出、時間の測定などの種々の手段を使用する質量
分析計のアセンブリにおいて、本明細書中に記載される他の成分と組み合わされ
得る。
【0061】 さらに、イオン移動度分光計は、サンプルを分析するために使用され得る。イ
オン移動度分光分析の原理は、イオンの異なる移動度に基づく。詳細には、イオ
ン化により生成されるサンプルのイオンは、イオンの違い(例えば、質量、電荷
、または形)に起因して、異なる速度で、電界の影響下で管を通って移動する。
イオン(代表的には電流の形態において)は検出器において記録され、次いでサ
ンプルを同定するのに使用され得る。イオン移動度分光分析の1つの利点は、大
気圧で作動し得る点である。
【0062】 なおさらに、全イオン電流測定デバイスは、サンプルを分析するために使用さ
れ得る。このデバイスは、プローブが、分析物の単一の型のみが結合されること
を可能にする表面化学を有する場合、使用され得る。分析物の単一の型がプロー
ブ上に結合される場合、イオン化された分析物から生成される全電流は、分析物
の性質を反映する。次いで、分析物からの全イオン電流は、公知の化合物の備え
られた全イオン電流と比較され得る。従って、プローブ上に結合された分析物の
同一性が決定され得る。
【0063】 (実施例) 本発明のプローブを、以下のように構築する。(図1を参照のこと)寸法80
mm×9mm×25mmを有するアルミニウムストリップ101を準備した。ポ
リ(テトラフルオロエチレン)が、ストリップの長い表面上にスクリーンプリン
トされ、フィルム102を作製した。フィルムは、特徴103を規定する円(2
.4mm直径)の形の8個の開口を除いて、事実上表面全体を覆った。次いで、
3−(メタクリロイルアミノ)プロピルトリメチルアンモニウムクロライド(1
5wt%)、N,N’−メチレン−ビスアクリルアミド(0.4wt%)、(−
)−リボフラビン(0.01wt%)および過硫酸アンモニウム(0.2wt%
)の水性溶液を、各開口(1つの開口当たり0.5μL)に蓄積した。次いで、
ストリップを、近UV曝露系を用いて5分間照射した(Hgショートアークラン
プ、365nmで、20mW/cm2)。これは、分析物をアンモニウム官能基
と結合するために、プローブ表面を官能基化させる。この表面を、塩化ナトリウ
ム(1M)の溶液で1回、および脱イオン水で2回洗浄後、プローブを使用のた
めに準備した。
【0064】 本発明は、サンプルを隔離する、プローブの表面上にフィルムを有する気相イ
オン検出器のための新規のプローブを提供する。特定の例が提供されるが、上記
の説明は、例証となるが、制限ではない。本発明の多くのバリエーションが、本
明細書の総説において当業者に明らかとなる。従って、本発明の範囲は、上記記
載の参照により決定されるべきではなく、代わりに、均等物の全範囲と共に、添
付される特許請求の範囲により決定されるべきである。
【0065】 本出願に引用される全ての刊行物および特許文書は、各個々の刊行物または特
許文書をこのように個々に示したのと同じ範囲に対して、全ての目的のためにそ
の全体が参考として援用される。この文書における種々の参考文献のこれらの引
用により、本出願人は、いかなる特定の参考文献も、本発明に対して「先行技術
」であるとは認めない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、本発明のサンプル質量分析プローブを示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,SD,SL,SZ,TZ,UG,ZW ),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU, TJ,TM),AE,AG,AL,AM,AT,AU, AZ,BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,C N,CR,CU,CZ,DE,DK,DM,DZ,EE ,ES,FI,GB,GD,GE,GH,GM,HR, HU,ID,IL,IN,IS,JP,KE,KG,K P,KR,KZ,LC,LK,LR,LS,LT,LU ,LV,MA,MD,MG,MK,MN,MW,MX, NO,NZ,PL,PT,RO,RU,SD,SE,S G,SI,SK,SL,TJ,TM,TR,TT,TZ ,UA,UG,US,UZ,VN,YU,ZA,ZW (72)発明者 ビーチャー, ジォディ アメリカ合衆国 カリフォルニア 95125, サン ノゼ, カークランド アベニュ ー 1919 (72)発明者 シェウフェル, フランク アメリカ合衆国 カリフォルニア 94303, パロ アルト, ノーザンプション ド ライブ 809 (72)発明者 ボイボドフ, カーメン アメリカ合衆国 カリフォルニア 94542, ヘイワード, パイン ウッド コート 3382 (72)発明者 ウェインバーガー, スコット アメリカ合衆国 カリフォルニア 94307, モンタラ, ジョージ ストリート 657 (72)発明者 ランドグラフ, ウィリアム シー. アメリカ合衆国 カリフォルニア 94303, パロ アルト, ストーン レーン 762 Fターム(参考) 5C038 EE02 EF15 EF16 EF17 EF21 GG07 GH05

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 気相イオン検出器に取り外し可能に挿入されるプローブであ
    って、以下: a)イオン化源に分析物を提示するために適合された表面を有する支持層;お
    よび b)該表面をコートするフィルムであって、ここで該フィルムは、以下: i)該表面を曝す少なくとも1つの開口を備え、それによって分析物を含む
    液体を適用するための特徴を規定し; ii)120°と180°との間の水接触角を有し;そして iii)該支持層表面より少ない表面張力を有し、 これにより、該特徴に適用された液体は、該特徴において隔離される、フィル
    ム、 を備える、プローブ。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のプローブであって、前記フィルムが過フッ
    化炭化水素、ハロゲン化炭化水素、脂肪族炭化水素、芳香族炭化水素、ポリシラ
    ン、オルガノシランまたはその組み合わせを含む、プローブ。
  3. 【請求項3】 前記フィルムが過フッ化炭化水素を含む、請求項1に記載の
    プローブ。
  4. 【請求項4】 前記フィルムが規則的アレイで配置される複数の開口を備え
    る、請求項1に記載のプローブ。
  5. 【請求項5】 前記フィルムが電気伝導性である、請求項1に記載のプロー
    ブ。
  6. 【請求項6】 前記支持層表面が金属を備える、請求項2に記載のプローブ
  7. 【請求項7】 結合官能基を含む吸着剤が、前記特徴に付着される、請求項
    2に記載のプローブ。
  8. 【請求項8】 システムであって、以下: a)入口ポートを備える気相イオン検出器;および b)該入口ポート中に挿入される請求項1に記載のプローブ、 を備える、システム。
  9. 【請求項9】 前記気相イオン検出器が質量分析計である、請求項8に記載
    のシステム。
  10. 【請求項10】 前記質量分析計がレーザー脱離質量分析計である、請求項
    9に記載のシステム。
  11. 【請求項11】 分析物を検出する方法であって、該方法は、以下: a)特許請求の範囲に記載のプローブの表面の特徴上に該分析物を置く工程; b)気相イオン検出器の入口ポート中に該プローブを挿入する工程であって、
    該気相イオン検出器が、以下: i)該プローブ表面から気相中に該分析物を脱離し、そして該分析物をイオ
    ン化するイオン化源;および ii)脱離されたイオンを検出する、該プローブ表面と連絡するイオン検出
    器; を備える、工程、 c)該分析物を脱離し、そしてイオン化源を用いてイオン化する工程;および d)該イオン化分析物を該イオン検出器を用いて検出する工程、 を含む、方法。
  12. 【請求項12】 前記気相イオン検出器が、質量分析計である、請求項11
    に記載の方法。
  13. 【請求項13】 前記質量分析計がレーザー脱離質量分析計である、請求項
    12に記載の方法。
JP2000616045A 1999-04-29 2000-04-27 気相質量分析計のための疎水性コーティングを有するサンプルホルダー Withdrawn JP2002543440A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13165399P 1999-04-29 1999-04-29
US60/131,653 1999-04-29
PCT/US2000/011499 WO2000067293A1 (en) 1999-04-29 2000-04-27 Sample holder with hydrophobic coating for gas phase mass spectrometers

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002543440A true JP2002543440A (ja) 2002-12-17

Family

ID=22450426

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000616045A Withdrawn JP2002543440A (ja) 1999-04-29 2000-04-27 気相質量分析計のための疎水性コーティングを有するサンプルホルダー

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002543440A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007309860A (ja) * 2006-05-22 2007-11-29 Shimadzu Corp Maldi用サンプル調製方法及び質量分析装置
WO2015178249A1 (ja) * 2014-05-19 2015-11-26 国立大学法人名古屋大学 サンプル中の成分の分析方法、サンプル中の成分の特異的分離方法及び質量分析用サンプル
JP2016531292A (ja) * 2013-08-06 2016-10-06 ウニヴェルズィテート バーゼル Afm用のサンプルホルダー
US11393667B2 (en) 2018-02-09 2022-07-19 Hamamatsu Photonics K.K. Sample support body and production method for sample support body
US11442039B2 (en) 2018-02-09 2022-09-13 Hamamatsu Photonics K.K. Sample support body, production method for sample support body, and sample ionization method

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007309860A (ja) * 2006-05-22 2007-11-29 Shimadzu Corp Maldi用サンプル調製方法及び質量分析装置
JP4732951B2 (ja) * 2006-05-22 2011-07-27 株式会社島津製作所 Maldi用サンプル調製方法及び質量分析方法
JP2016531292A (ja) * 2013-08-06 2016-10-06 ウニヴェルズィテート バーゼル Afm用のサンプルホルダー
US10823756B2 (en) 2013-08-06 2020-11-03 Universität Basel Sample holder for holding a sample for use with an atomic force microscope
WO2015178249A1 (ja) * 2014-05-19 2015-11-26 国立大学法人名古屋大学 サンプル中の成分の分析方法、サンプル中の成分の特異的分離方法及び質量分析用サンプル
JPWO2015178249A1 (ja) * 2014-05-19 2017-04-20 国立大学法人名古屋大学 サンプル中の成分の分析方法、サンプル中の成分の特異的分離方法及び質量分析用サンプル
US9829467B2 (en) 2014-05-19 2017-11-28 National University Corporation Nagoya University Method of analysis of component in sample, method of specific isolation of component in sample, and sample for mass spectrometry
US11393667B2 (en) 2018-02-09 2022-07-19 Hamamatsu Photonics K.K. Sample support body and production method for sample support body
US11442039B2 (en) 2018-02-09 2022-09-13 Hamamatsu Photonics K.K. Sample support body, production method for sample support body, and sample ionization method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6555813B1 (en) Probes with hydrophobic coatings for gas phase ion spectrometers
US7405395B2 (en) Acoustic ejection into small openings
US20080193772A1 (en) Mass spectrometry probes having hydrophobic coatiings
US8421005B2 (en) Systems and methods for transfer of ions for analysis
Jespersen et al. Attomole detection of proteins by matrix‐assisted laser desorption/ionization mass spectrometry with the use of picolitre vials
US7012249B2 (en) High capacity and scanning speed system for sample handling and analysis
US20030138823A1 (en) Sample preparation methods for maldi mass spectrometry
WO2003075307A1 (en) Methods, devices, and systems using acoustic ejection for depositing fluid droplets on a sample surface for analysis
JP2009535631A (ja) 組織切片のmaldiイメージングに有用なマスク、その製造方法と使用
JPWO2006046697A1 (ja) Maldi−tofms用基板及びそれを用いた質量分析方法
Owen et al. Increasing sensitivity and decreasing spot size using an inexpensive, removable hydrophobic coating for matrix‐assisted laser desorption/ionisation plates
Kucherenko et al. Recent advances in the preparation of adsorbent layers for thin‐layer chromatography combined with matrix‐assisted laser desorption/ionization mass‐spectrometric detection
JP2002543440A (ja) 気相質量分析計のための疎水性コーティングを有するサンプルホルダー
Zhang et al. On-line single droplet deposition for MALDI mass spectrometry
US20050242039A1 (en) Deposition of dissolved analyte to hydrophobic surfaces by desolvation of organic solvents
KR20190107779A (ko) 그래핀을 이용한 maldi 질량 분석 플레이트 및 이를 이용하는 질량 분석 방법
WO2023060225A1 (en) Sampling devices with essentially impermeable and non-porous reservoir surfaces
Bian Liquid Chromatography and Mass Spectrometry Based Analytical Method Development Towards Fast and Sensitive Analysis
Wen Small molecule matrix-free laser desorption/ionization mass spectrometry
KR20160058729A (ko) 말디톱 질량분석기에 이용가능한 시료 플레이트 및 상기 시료 플레이트의 제조방법, 그리고 상기 시료 플레이트를 이용한 질량분석 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A625 Written request for application examination (by other person)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625

Effective date: 20070426

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20070711

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20070711

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20080912