JP2002365247A - Observation image controller - Google Patents

Observation image controller

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JP2002365247A
JP2002365247A JP2001172499A JP2001172499A JP2002365247A JP 2002365247 A JP2002365247 A JP 2002365247A JP 2001172499 A JP2001172499 A JP 2001172499A JP 2001172499 A JP2001172499 A JP 2001172499A JP 2002365247 A JP2002365247 A JP 2002365247A
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JP
Japan
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scanning
observation
image
observation point
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001172499A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Taketoshi Noji
健俊 野地
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To observe images of a plurality of different points by a simple operation in a short time. SOLUTION: There are provided an observation point-designating means 2 for designating at least one observation point on a display screen where a two-dimensional image obtained by two-dimensionally scanning an electron beam illumination is displayed, and for obtaining position data of the designated observation point; a scanning signal-forming means 5 for forming for each observation point, a scanning signal for the two-dimensional scanning centering the designated observation point on the basis of each position data, and an image tone-adjusting means 9 for adjusting an image tone of image data obtained for each observation point at each observation point. In the configuration, images of the plurality of different points are observed by designating a plurality of observation pints on the display screen, forming the scanning signal for two-dimensionally scanning each observation point with the use of position data of the designated observation points, and two-dimensionally scanning each observation point by each scanning signal. Image data of the plurality of observation points are obtained by one scanning operation by designating the plurality of observation points together, so that the image observation is carried out by the simple operation in a short time.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、走査型電子顕微鏡
や電子線マイクロアナライザーで得られる二次元走査画
像を表示し観察するための観察像制御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an observation image control device for displaying and observing a two-dimensional scanning image obtained by a scanning electron microscope or an electron beam microanalyzer.

【0002】[0002]

【従来の技術】走査型電子顕微鏡や電子線マイクロアナ
ライザーでは、電子ビームを二次元走査して試料に照射
し、これによって発生する二次電子や反射電子を検出
し、表示画面上に二次元画像として表示することによっ
て試料の観察を行い、試料の分析を行っている。この像
観察において、試料上の複数の異なる箇所の像を比較す
ることが行われる。この複数箇所の像を比較する場合に
は、従来次のような手順に従って求めた二次元画像を表
示し比較を行っている。
2. Description of the Related Art Scanning electron microscopes and electron beam microanalyzers irradiate a sample by two-dimensionally scanning an electron beam, detect secondary electrons and reflected electrons generated thereby, and display a two-dimensional image on a display screen. The observation of the sample is performed by displaying as, and the sample is analyzed. In this image observation, comparison is made between images at a plurality of different locations on the sample. Conventionally, when comparing images at a plurality of places, a two-dimensional image obtained according to the following procedure is displayed and compared.

【0003】はじめに、観察したい箇所が画像表示用の
表示画面の中央に表示されるように、試料を載置する試
料ステージを移動させたり、あるいは照射する電子ビー
ムに照射位置を調整して一つの観察位置を位置決めした
後、適当な倍率に設定して二次元画像を検出する。コン
トラストやブライトネス等の画調調整を行って検出した
二次元画像を表示画面に表示し、画調調整した画像デー
タを保存する。上記の手順を各観察位置毎に繰り返すこ
とによって観察したい複数箇所の画像データを保存した
後、保存した全ての画像データを読み出し表示画面上に
並べて表示する。
First, a sample stage on which a sample is placed is moved or an irradiation position is adjusted to an electron beam to be irradiated so that a point to be observed is displayed at the center of a display screen for image display. After positioning the observation position, an appropriate magnification is set and a two-dimensional image is detected. A two-dimensional image detected by performing image tone adjustment such as contrast and brightness is displayed on a display screen, and the image data whose image tone has been adjusted is stored. After the above procedure is repeated for each observation position, the image data at a plurality of locations to be observed are stored, and all the stored image data are read out and displayed side by side on a display screen.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
では各観察点毎に観察位置の位置決めに視野移動操作と
画像検出及び画像データの保存操作を繰り返すことによ
って複数箇所の観察画像を比較しているため、像観察の
操作が煩雑で長時間を必要とするという問題がある。そ
こで、本発明は前記した従来の問題点を解決し、異なる
複数箇所の像観察を簡易な操作で短時間で行うことを目
的とする。
As described above, conventionally, the observation images at a plurality of locations are compared by repeating the visual field movement operation, the image detection and the storage operation of the image data for positioning the observation position for each observation point. Therefore, there is a problem that the operation of image observation is complicated and requires a long time. Accordingly, it is an object of the present invention to solve the above-mentioned conventional problems and to perform image observation of a plurality of different places with a simple operation in a short time.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、表示画面上に
おいて複数の観察点を指定し、この指定した観察点の位
置データを用いて各観察点を二次元走査する走査信号を
形成し、この各走査信号によって各観察点を二次元走査
することによって異なる複数箇所の像観察を行うもので
あり、複数箇所の観察点を一括して指定しておき一回の
走査操作で複数の観察点の画像データを得ることで、簡
易な操作で短時間の像観察を行う。
According to the present invention, a plurality of observation points are designated on a display screen, and a scanning signal for two-dimensionally scanning each observation point is formed using position data of the designated observation points. By performing two-dimensional scanning of each observation point with each scanning signal, image observation at a plurality of different points is performed. A plurality of observation points are designated collectively and a plurality of observation points can be obtained by one scanning operation. By obtaining the image data of the above, image observation for a short time is performed by a simple operation.

【0006】本発明の観察像制御装置は、上記の動作を
行う一構成として、電子ビーム照射の二次元走査で得ら
れる二次元画像を画像表示する表示画面上において少な
くとも一つの観察点を指定し、指定した観察点の位置デ
ータを得る観察点指定手段と、各位置データに基づいて
指定した観察点を走査中心として二次元走査する走査信
号を各観察点毎に形成する走査信号形成手段と、各観察
点毎に得られる画像データを観察点毎に画調調整する画
調調整手段を備える構成とする。
The observation image control apparatus according to the present invention, as one configuration for performing the above operation, designates at least one observation point on a display screen for displaying a two-dimensional image obtained by two-dimensional scanning of electron beam irradiation. An observation point designating means for obtaining position data of a designated observation point, and a scanning signal forming means for forming a scanning signal for performing two-dimensional scanning with the designated observation point based on each position data as a scanning center for each observation point, A configuration is provided that includes image tone adjustment means for adjusting the image tone of image data obtained for each observation point for each observation point.

【0007】本発明の観察点指定手段は、表示画面上に
表示される二次元走査画像から観察を行う観察点を指定
し、その位置データを求める。指定する観察点の個数は
複数個とすることができる。
The observation point specifying means of the present invention specifies an observation point to be observed from a two-dimensional scan image displayed on a display screen, and obtains position data thereof. The number of designated observation points can be plural.

【0008】本発明の走査信号形成手段は、観察点指定
手段で指定した観察点を中心とする二次元走査を行うた
めの走査信号を各観察点毎に形成する。走査信号形成手
段の一態様は、基準となる走査信号のベース位置を観察
点指定手段で求めた各位置データに基づいて各観察点毎
にシフトし、観察点を走査中心として二次元走査する走
査信号を形成する。
The scanning signal forming means of the present invention forms a scanning signal for performing two-dimensional scanning around the observation point designated by the observation point designating means for each observation point. One aspect of the scanning signal forming means is a method of shifting a base position of a reference scanning signal for each observation point based on each position data obtained by the observation point designating means, and performing two-dimensional scanning with the observation point as a scanning center. Form a signal.

【0009】従来の二次元走査の走査信号は、電子ビー
ムの照射面の中心を観察点とし、この点を通るx軸及び
y軸をベース位置として正方向及び負方向に電子ビーム
を振らせる信号であり、一回の走査操作で全面を二次元
走査して一つの観察点の画像データを得ている。これに
対して、本発明の走査信号形成手段は、一回の走査操作
内で、指定した観察点を中心として二次元走査し複数の
異なる箇所の画像データを得る。
A conventional two-dimensional scanning signal is a signal for causing the electron beam to oscillate in the positive and negative directions with the center of the irradiation surface of the electron beam as an observation point and the x-axis and the y-axis passing through this point as base positions. Thus, the entire surface is two-dimensionally scanned by one scanning operation to obtain image data of one observation point. On the other hand, the scanning signal forming means of the present invention performs two-dimensional scanning around a designated observation point in one scanning operation to obtain image data at a plurality of different locations.

【0010】本発明の観察点指定手段及び走査信号形成
手段によって、複数の異なる箇所を一操作で指定し、一
回の走査操作内で複数の異なる箇所の画像データを得る
ことができ、リアルタイムで表示することができる。
With the observation point designating means and the scanning signal forming means of the present invention, a plurality of different places can be designated by one operation, and image data of a plurality of different places can be obtained in one scanning operation. Can be displayed.

【0011】また、本発明の画調調整手段は、複数の異
なる箇所の画像データを表示する際のコントラストやブ
ライトネス等の画調を調整するものであり、この一態様
では指定した観察点中心とする二次元走査のタイミング
に同期して得られる画像データを画調調整する。
Further, the image tone adjusting means of the present invention adjusts the image tone such as contrast and brightness when displaying image data at a plurality of different places. The image data obtained in synchronization with the two-dimensional scanning timing is adjusted.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
を参照しながら詳細に説明する。図1,2は本発明の観
察像制御装置の概要を説明するための概略図である。観
察像制御装置1は、表示画面上で観察点を定めその位置
データを求める観察点指定手段2、観察点指定手段2で
求めた位置データを保存する位置データ格納手段3、基
準となる二次元走査信号を形成する二次元走査信号発生
手段4、各観察点の位置データに基づいて基準の二次元
走査信号をシフトさせ各観察点毎の走査信号を形成する
走査信号形成手段5、形成した走査信号に基づいて電子
ビームを振らせる走査コイル6(6x,6y)、電子ビ
ームの照射で発生した二次電子や反射電子を検出する検
出手段7、検出手段7の検出信号に基づいて画像データ
を形成する信号処理手段8、画像のコントラストやブラ
イトネス等の画調を観察点毎に調整する画調調整手段
9、画調調整した画像データを保存する記憶手段10、
画像データを表示する表示手段11を備える。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. 1 and 2 are schematic diagrams for explaining the outline of the observation image control device of the present invention. The observation image control device 1 includes an observation point specifying unit 2 for determining an observation point on the display screen and obtaining the position data, a position data storage unit 3 for storing the position data obtained by the observation point specifying unit 2, a two-dimensional reference. Two-dimensional scanning signal generating means 4 for forming a scanning signal; scanning signal forming means 5 for shifting a reference two-dimensional scanning signal based on position data of each observation point to form a scanning signal for each observation point; A scanning coil 6 (6x, 6y) for oscillating an electron beam based on a signal, detection means 7 for detecting secondary electrons and reflected electrons generated by irradiation of the electron beam, and image data based on a detection signal of the detection means 7 A signal processing unit 8 to be formed; an image adjustment unit 9 for adjusting the image tone such as contrast and brightness of an image for each observation point; a storage unit 10 for storing image data after the image adjustment;
A display unit 11 for displaying image data is provided.

【0013】以下、上記観察像制御装置1による動作例
を図2のフローチャート、図3の表示画面例、図4の各
観察点の走査動作を説明する概略図、図5の走査信号を
説明する信号図を用いて説明する。
An operation example of the observation image control apparatus 1 will be described below with reference to a flowchart of FIG. 2, a display screen example of FIG. 3, a schematic diagram for explaining a scanning operation of each observation point of FIG. 4, and a scanning signal of FIG. This will be described with reference to a signal diagram.

【0014】はじめに、試料に電子ビームを照射して二
次元走査し二次元画像データを求め、表示画面A上に画
像表示する。このときの倍率は所定の設定倍率とする。
図3(a)はこの二次元走査によって表示画面Aに表示
される観察像Bを示している。なお、観察像Bの内で表
示画面A外にある部分は仮に示しており、観察できる像
は表示画面2内にある部分のみである。したがって、観
察像B中に観察点a,b,c,dがあるとしたとき、初
期表示される観察像Bでは観察点b及びdのみが確認さ
れ、表示画面2の表示領域外にある観察点a及びcは確
認されない。なお、ここでは、観察点としてa,b,
c,及びdの4点の場合を示しているが、観察点の個数
は4点に限らず、1点のみとすることも、任意の複数点
とすることもできる(ステップS1,ステップS2)。
First, a sample is irradiated with an electron beam to perform two-dimensional scanning to obtain two-dimensional image data, and an image is displayed on the display screen A. The magnification at this time is a predetermined set magnification.
FIG. 3A shows an observation image B displayed on a display screen A by the two-dimensional scanning. In addition, the part outside the display screen A in the observation image B is tentatively shown, and the image that can be observed is only the part inside the display screen 2. Therefore, when there are observation points a, b, c, and d in the observation image B, only the observation points b and d are confirmed in the observation image B initially displayed, and the observation points outside the display area of the display screen 2 are observed. Points a and c are not identified. Here, as observation points, a, b,
Although the case of four points c and d is shown, the number of observation points is not limited to four, and may be only one point or an arbitrary plurality of points (step S1, step S2). .

【0015】そこで、観察点a及びcについては、倍率
を調整して前記ステップS1,2を行うことで、全ての
観察点a,b,c,dを含む観察領域全体を表示画面A
上に表示する。図3(b)は、倍率調整後に表示画面A
上に表示される観察像Cを示している(ステップS3,
4)。
Therefore, for the observation points a and c, the magnification is adjusted and the steps S1 and S2 are performed, so that the entire observation area including all the observation points a, b, c and d is displayed on the display screen A.
Display above. FIG. 3B shows a display screen A after adjusting the magnification.
The observation image C displayed above is shown (step S3,
4).

【0016】表示画面A上に観察像Cを表示して観察す
べき点を探し指定する。以下では、観察点a,b,c,
dを指定する場合を例にして説明する。観察点の指定
は、例えば、表示画面A上を移動するマーカーDによっ
て行うことができる。マーカーDは、例えばマウス等の
ポンティングデバイスによって表示画面A上を移動し、
移動位置上の位置データをスイッチ操作等で取り込むこ
とができる。例えば、図3(b)に示される観察点a,
b,c,dの位置データはそれぞれ(Xa,Ya),
(Xb,Yb),(Xc,Yc),(Xd,Yd)で表
される。
The observation image C is displayed on the display screen A to search for and designate a point to be observed. In the following, the observation points a, b, c,
The case where d is specified will be described as an example. The specification of the observation point can be performed, for example, by the marker D moving on the display screen A. The marker D is moved on the display screen A by a pointing device such as a mouse, for example.
Position data on the moving position can be captured by a switch operation or the like. For example, observation points a and b shown in FIG.
The position data of b, c and d are (Xa, Ya),
(Xb, Yb), (Xc, Yc), and (Xd, Yd).

【0017】観察点指定手段2で指定して得た位置デー
タは、位置データ格納手段3に保存する。観察点の位置
データは、各表示画面を単位として複数組み保存するこ
とができる。これによって、予め各表示画面毎に複数の
観察点の位置データを格納しておき、この位置データを
読み出して二次元走査することで、観察点を指定する操
作と二次元走査を行う操作とを分離し、操作性を向上さ
せることができる(ステップS5)。
The position data specified by the observation point specifying means 2 is stored in the position data storage means 3. A plurality of sets of observation point position data can be stored for each display screen. By this, the position data of a plurality of observation points are stored in advance for each display screen, and by reading out the position data and performing two-dimensional scanning, the operation of designating the observation point and the operation of performing two-dimensional scanning can be performed. Separation can improve operability (step S5).

【0018】前記ステップS5で格納しておいた観察点
に位置データを位置データ格納手段3から読み出し、こ
の位置データを用いて各観察点の走査信号を形成する
(ステップS6)。各観察点の走査信号の形成は、走査
信号形成手段5において読み出した位置データと二次元
走査信号発生手段4からの基準の走査信号と用いて行
う。
The position data is read from the position data storage means 3 at the observation point stored in step S5, and a scanning signal for each observation point is formed using the position data (step S6). The scanning signal for each observation point is formed using the position data read by the scanning signal forming means 5 and the reference scanning signal from the two-dimensional scanning signal generating means 4.

【0019】図4(a)は観察点における二次元走査の
状態を示している。ここでは、各観察点を中心としてx
方向にX/4の走査幅で走査し、y方向にYの走査幅で
走査する例を示している。したがって、例えば、観察点
a(位置データは(Xa,Ya)については、x方向で
は(Xa−X/8)から(Xa+X/8)の範囲で走査
し、y方向では(Ya−Y/2)から(Ya+Y/2)
の範囲で走査する。なお、表示画面のx方向の幅をXと
しy方向の幅をYとしている。
FIG. 4A shows a state of two-dimensional scanning at the observation point. Here, x around each observation point
An example is shown in which scanning is performed with a scanning width of X / 4 in the direction and scanning with a scanning width of Y in the y direction. Therefore, for example, for the observation point a (position data is (Xa, Ya), scanning is performed in the range of (Xa−X / 8) to (Xa + X / 8) in the x direction, and (Ya−Y / 2) in the y direction. ) To (Ya + Y / 2)
Scan in the range of Note that the width of the display screen in the x direction is X and the width in the y direction is Y.

【0020】同様に、観察点b,c,dはそれぞれ位置
データ(Xb,Yb),(Xc,Yc),(Xd,Y
d)を中心として、x方向では(Xb−X/8)と(X
b+X/8)の範囲,(Xc−X/8)と(Xc+X/
8)の範囲,及び(Xd−X/4)と(Xd+X/4)
の範囲で走査し、y方向では(Yb−Y/4)と(Yb
+Y8)の範囲,(Yc−Y/8)と(Yc+Y/8)
の範囲,及び(Yd−Y/8)と(Yd+Y/8)の範
囲で走査する。
Similarly, observation points b, c, and d are position data (Xb, Yb), (Xc, Yc), (Xd, Y
d), x-direction (Xb−X / 8) and (X
b + X / 8), (Xc−X / 8) and (Xc + X /
8), and (Xd-X / 4) and (Xd + X / 4)
, And in the y direction, (Yb−Y / 4) and (Yb
+ Y8), (Yc−Y / 8) and (Yc + Y / 8)
And (Yd−Y / 8) and (Yd + Y / 8).

【0021】また、4(b)は観察点における他の二次
元走査の例を示している。この走査例では、各観察点を
中心としてx方向にX/4の走査幅で走査し、y方向に
ついてもY/4の走査幅で走査する例を示している。観
察点a(位置データは(Xa,Ya)については、x方
向では(Xa−X/8)から(Xa+X/8)の範囲で
走査し、y方向では(Ya−Y/8)から(Ya+Y/
8)の範囲で走査する。
FIG. 4B shows another example of two-dimensional scanning at the observation point. In this scanning example, an example is shown in which scanning is performed in the x direction with a scanning width of X / 4 around each observation point, and scanning is also performed in the y direction with a scanning width of Y / 4. Observation point a (position data of (Xa, Ya) is scanned in the range of (Xa−X / 8) to (Xa + X / 8) in the x direction, and (Ya−Y / 8) to (Ya + Y) in the y direction. /
Scan in the range of 8).

【0022】この各観察点を中心とする走査を行うため
の走査信号は、通常ベース位置を中心としx方向及びy
方向の正方向及び負方向に電圧を振らせる基準の走査信
号を、観察点の位置データ分だけシフトさせることで形
成することができる。
A scanning signal for performing scanning around each of the observation points is usually in the x direction and y around the base position.
It can be formed by shifting a reference scanning signal that causes a voltage to swing in the positive direction and the negative direction by the position data of the observation point.

【0023】図5は観察点a,b,c,dの走査信号例
を示している。図5(a)はx方向の走査信号の例であ
り、図5(b),(c)はy方向の走査信号の例であ
る。なお、図5中に付したa,b,c,dは各観察点
a,b,c,dの走査信号を示している。図5(a)に
示すx方向の走査信号において、各観察点aの走査信号
は、振幅巾X/4に対応する電圧を0(V)のベース位
置から位置データxa分に相当する分だけシフトさせた
電圧としている。また、観察点b,c,dの走査信号に
ついても、振幅巾X/4の対応する電圧を0(V)のベ
ース位置から位置データxb,xc,xd分相当分だけ
シフトさせた電圧としている。
FIG. 5 shows an example of scanning signals at observation points a, b, c, and d. FIG. 5A shows an example of a scanning signal in the x direction, and FIGS. 5B and 5C show examples of a scanning signal in the y direction. In addition, a, b, c, and d attached in FIG. 5 indicate scanning signals of the observation points a, b, c, and d. In the x-direction scanning signal shown in FIG. 5A, the scanning signal at each observation point a is obtained by increasing the voltage corresponding to the amplitude width X / 4 from the base position of 0 (V) to the position data xa. The voltage is shifted. Also, the scanning signals of the observation points b, c, and d are voltages obtained by shifting the corresponding voltage of the amplitude width X / 4 from the base position of 0 (V) by the position data xb, xc, and xd. .

【0024】ここで、図4の表示画面のx方向の一移動
時間をTとするとき、4点の観察点のx方向の振幅巾を
X/4とすることで、時間Tの間に全観察点のx方向の
移動を完了させることができる。
Here, assuming that one moving time in the x direction of the display screen in FIG. 4 is T, the amplitude width in the x direction of the four observation points is X / 4, so that the total time during the time T is obtained. The movement of the observation point in the x direction can be completed.

【0025】また、図5(b)に示すy方向の走査信号
は、図4(a)の走査例に対応している。各観察点aの
走査信号は、振幅巾Yに対応する電圧を0(V)のベー
ス位置から位置データYa分に相当する電圧だけシフト
させている。また、観察点b,c,dの走査信号につい
ても、振幅巾Y/2に対応する電圧を0(V)のベース
位置から位置データYb,Yc,Yd分に相当する電圧
だけシフトさせ、x方向の各一移動毎に順にずらし最終
的にYだけ移動させる。
The scanning signal in the y direction shown in FIG. 5B corresponds to the scanning example shown in FIG. The scanning signal of each observation point a shifts the voltage corresponding to the amplitude Y from the base position of 0 (V) by the voltage corresponding to the position data Ya. Also, with respect to the scanning signals of the observation points b, c, and d, the voltage corresponding to the amplitude width Y / 2 is shifted from the base position of 0 (V) by the voltage corresponding to the position data Yb, Yc, and Yd, and x It shifts sequentially for each movement in the direction, and finally moves by Y.

【0026】図6(a)は、図4(a)及び図5
(a),(b)に示す走査により得られる表示画面例で
あり、x方向に4分割した各表示画面に各観察点a,
b,c,dの表示画像が表示される。また、図6(b)
は図4(b)に示す走査により得られるx,y方向に4
分割して得られる各観察点a,b,c,dの画像例であ
る。これらの画像は、図6(c)に示すようにx方向に
並べて表示する他、図6(d)に示すようにx,y方向
に拡大し、表示画面上に任意の配置で表示することもで
きる。これによって、各観察点を走査として二次元走査
する走査信号を形成することができる(ステップS
7)。
FIG. 6 (a) is a view similar to FIG. 4 (a) and FIG.
5A is a display screen example obtained by the scanning shown in FIGS. 5A and 5B, and each observation point a,
The display images of b, c, and d are displayed. FIG. 6 (b)
Are the x, y directions obtained by the scanning shown in FIG.
It is an image example of each observation point a, b, c, and d obtained by dividing. These images are displayed side by side in the x direction as shown in FIG. 6 (c), or enlarged in the x and y directions as shown in FIG. 6 (d) and displayed in an arbitrary arrangement on the display screen. You can also. Thus, a scanning signal for performing two-dimensional scanning with each observation point as a scan can be formed (Step S).
7).

【0027】走査コイル6(x方向走査コイル6x,y
方向走査コイル6y)は、走査形成手段5で形成された
走査信号によって電子ビームを走査させる。この走査時
に検出手段7で検出される検出信号によって二次元走査
による観察点での二次元画像データを得ることができる
(ステップS8)。二次元画像データが信号処理手段8
で画像処理が行われる。画像処理としてコントラスト及
びブライトネスの画調調整がある。この画調調整は、検
出信号の強度等に応じて画調調整手段9によって、各観
察点毎に設定する(ステップS9)。
The scanning coil 6 (x-direction scanning coil 6x, y
The direction scanning coil 6y) scans the electron beam according to the scanning signal generated by the scanning forming unit 5. The two-dimensional image data at the observation point by the two-dimensional scanning can be obtained by the detection signal detected by the detection means 7 at the time of this scanning (step S8). The two-dimensional image data is processed by the signal processing means 8
Performs image processing. Image processing includes image adjustment of contrast and brightness. This image tone adjustment is set for each observation point by the image tone adjusting means 9 according to the strength of the detection signal and the like (step S9).

【0028】画調調整した二次元画像データは、観察点
毎に記憶手段10に保存する(ステップS10)。保存
した二次元画像データは、記憶手段10から読み出して
表示手段11に表示する。前記した図6(a),
(c),(d)は表示例であり、観察点を指定する際の
表示画面と走査領域との大きさの比率を一致させて表示
する他、走査領域の大きさを拡大して表示することもで
きる。拡大表示した場合には、その縮尺を示しておくこ
とができる。
The adjusted two-dimensional image data is stored in the storage means 10 for each observation point (step S10). The stored two-dimensional image data is read out from the storage unit 10 and displayed on the display unit 11. As shown in FIG.
(C) and (d) are display examples. In addition to displaying the display screen and the scanning area at the same size ratio when designating the observation point, the scanning area is enlarged and displayed. You can also. When the display is enlarged, the scale of the display can be shown.

【0029】この表示では各種の表示態様とすることが
できる。例えば、同一の表示画面上で指定した観察点の
全てあるいは選択した観察点を並べて表示する他、異な
る表示画面上で指定した観察点の中から選択し並べて表
示することができる。また、各観察点の走査画像と共
に、観察点を指定する際の全体画像を表示することもで
きる(ステップS11)。
In this display, various display modes can be adopted. For example, all of the observation points specified on the same display screen or selected observation points can be displayed side by side, or can be selected from observation points specified on different display screens and displayed side by side. In addition, together with the scan image of each observation point, the entire image when the observation point is designated can be displayed (step S11).

【0030】以下、図7の構成概略図及び図8の信号図
を用いて、観察像制御装置1の詳細な構成例について説
明する。図7において、X方向走査コンバータ20X及
びY方向走査コンバータ20Yは二次元走査信号発生手
段4に対応し、クロック信号によって基準の走査信号を
形成する(図8,9中の)。X方向走査コンバータ2
0Xはクロック信号を計数するカウンタを備える。カウ
ンタは、DATAラインから設定されるカウンタ値を計
数することによって、x方向の端部に達したことを知ら
せるx・END信号をY方向走査コンバータ20Yに送
ってy方向の走査信号を形成させ、また、指定した観察
点に対応するコード信号(図8,9中の)をX方向シ
フト制御手段23X,Y方向シフト制御手段23Y,コ
ントラスト制御手段27,ブライトネス制御手段28を
送る。
Hereinafter, a detailed configuration example of the observation image control device 1 will be described with reference to the schematic configuration diagram of FIG. 7 and the signal diagram of FIG. 7, an X-direction scanning converter 20X and a Y-direction scanning converter 20Y correspond to the two-dimensional scanning signal generating means 4, and form a reference scanning signal by a clock signal (in FIGS. 8 and 9). X direction scanning converter 2
0X has a counter for counting clock signals. By counting the counter value set from the DATA line, the counter sends an x-END signal indicating that the end in the x direction has been reached to the Y-direction scanning converter 20Y to form a scanning signal in the y-direction. The code signal (in FIGS. 8 and 9) corresponding to the designated observation point is sent to the X-direction shift control unit 23X, the Y-direction shift control unit 23Y, the contrast control unit 27, and the brightness control unit 28.

【0031】このコード信号は走査を行う観察点を特定
するものであり、例えば4点の観察点を指定した場合に
は、4つの各観察点を特定する少なくとも4種のコード
信号を出力する。観察点が増える場合には、観察点の個
数に応じた数種のコード信号を出力する。各X方向シフ
ト制御手段23X,Y方向シフト制御手段23Y,コン
トラスト制御手段27,及びブライトネス制御手段28
は、コード信号によって走査中の観察点を認識し、各観
察点に対応する走査信号のシフト制御、コントラスト制
御、及びブライトネス制御を行う。
This code signal specifies an observation point to be scanned. For example, when four observation points are designated, at least four types of code signals for specifying each of the four observation points are output. When the number of observation points increases, several types of code signals corresponding to the number of observation points are output. Each X-direction shift control means 23X, Y-direction shift control means 23Y, contrast control means 27, and brightness control means 28
Recognizes observation points during scanning based on code signals, and performs shift control, contrast control, and brightness control of scanning signals corresponding to each observation point.

【0032】また、X方向走査コンバータ20X及びY
方向走査コンバータ20Yは、クロック信号の周波数に
応じて定まる走査速度の走査信号を形成し、X方向走査
D/A変換器21X及びY方向走査D/A変換器21Y
に送る。この走査信号は、X方向走査D/A変換器21
X及びY方向走査D/A変換器21Yで走査用アナログ
信号(図8,9中の)に変換され、さらに、X方向電
圧制御器22X及びY方向電圧制御器22Yによって倍
率設定等の走査振幅制御が行われる。走査振幅制御され
た信号はX方向走査電源25X,Y方向走査電源25Y
に入力され、X方向走査コイル26X,Y方向走査電源
26Yに出力され、電子ビームの走査が行われる。
The X-direction scanning converters 20X and 20X
The directional scanning converter 20Y forms a scanning signal having a scanning speed determined according to the frequency of the clock signal, and outputs an X-directional scanning D / A converter 21X and a Y-directional scanning D / A converter 21Y.
Send to This scanning signal is supplied to the X-direction scanning D / A converter 21.
Scanning analog signals (in FIGS. 8 and 9) are converted by the X / Y-direction scanning D / A converter 21Y, and further, the scanning amplitude such as magnification setting is set by the X-direction voltage controller 22X and the Y-direction voltage controller 22Y. Control is performed. The signals subjected to the scanning amplitude control are an X-direction scanning power supply 25X and a Y-direction scanning power supply 25Y.
, And output to the X-direction scanning coil 26X and the Y-direction scanning power supply 26Y to perform electron beam scanning.

【0033】一方、X方向シフト制御手段23X,Y方
向シフト制御手段23Y,コントラスト制御手段27,
及びブライトネス制御手段28は、コード信号のタイミ
ングでDATA切替えを行う。X方向シフト制御手段2
3X及びY方向シフト制御手段23Yによって、各観察
点の位置に対応する走査電圧をシフトするシフト量が形
成され、X方向シフトD/A変換器24X及びY方向シ
フトD/A変換器24Yでアナログ信号(図8,9中の
,)に変換され、X方向走査コイル26X,Y方向
走査電源26Yに出力され、電子ビームの走査を行う。
On the other hand, X-direction shift control means 23X, Y-direction shift control means 23Y, contrast control means 27,
The brightness control means 28 performs DATA switching at the timing of the code signal. X direction shift control means 2
A shift amount for shifting the scanning voltage corresponding to the position of each observation point is formed by the 3X and Y direction shift control means 23Y, and the X direction shift D / A converter 24X and the Y direction shift D / A converter 24Y The signals are converted into signals (in FIGS. 8 and 9), output to the X-direction scanning coil 26X and the Y-direction scanning power supply 26Y, and scan the electron beam.

【0034】また、得られた検出信号は、コントラスト
制御手段27からの制御信号によってコントラスト調整
器29で調整された後、ブライトネス制御手段28から
の制御信号によるブライトネス調整器30の調整信号が
加算される(図8,9中の,)。得られた画像デー
タは、A/D変換器31でデジタル信号に変換され記憶
手段32に保存される。記憶手段32に保存された画像
データは読み出された後D/A変換器33でアナログ信
号に変換され、表示手段34に表示される。
The obtained detection signal is adjusted by a contrast adjuster 29 by a control signal from a contrast control means 27, and an adjustment signal of a brightness adjuster 30 by a control signal from a brightness control means 28 is added. (In FIGS. 8 and 9). The obtained image data is converted into a digital signal by the A / D converter 31 and stored in the storage unit 32. After the image data stored in the storage unit 32 is read out, it is converted into an analog signal by the D / A converter 33 and displayed on the display unit 34.

【0035】なお、前記図4,6に示す例は、表示画面
の巾を観察点の個数で除して得られる振幅巾を各観察点
における走査巾として設定しているが、各観察点におけ
る走査巾の設定はこれに限らず他の設定方法で定めるこ
ともできる。
In the examples shown in FIGS. 4 and 6, the amplitude width obtained by dividing the width of the display screen by the number of observation points is set as the scanning width at each observation point. The setting of the scanning width is not limited to this, and can be determined by another setting method.

【0036】図9は走査巾の他の設定例を示すものであ
る。図9の例は、図9(a)に示すように、各観察点の
走査巾を表示画面の巾の半分に設定する例である。この
例によれば、前記例のように拡大することなく、得られ
た走査画像の大きさのままで表示画面上に並べることが
できる。
FIG. 9 shows another example of setting the scanning width. The example of FIG. 9 is an example in which the scanning width of each observation point is set to half the width of the display screen as shown in FIG. According to this example, it is possible to arrange on the display screen the size of the obtained scanned image without enlarging it as in the above example.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の観察像制
御装置によれば、異なる複数箇所の像観察を簡易な操作
で短時間で行うことができる。
As described above, according to the observation image control apparatus of the present invention, it is possible to perform image observation of a plurality of different places by a simple operation in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の観察像制御装置の概要を説明するため
の概略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining an overview of an observation image control device of the present invention.

【図2】本発明の観察像制御装置による動作例を説明す
るためのフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart for explaining an operation example by the observation image control device of the present invention.

【図3】本発明の観察像制御装置による表示画面例を説
明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a display screen by the observation image control device of the present invention.

【図4】本発明の観察像制御装置の各観察点の走査動作
を説明する概略図である。
FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a scanning operation of each observation point of the observation image control device of the present invention.

【図5】本発明の観察像制御装置の走査信号を説明する
信号図である。
FIG. 5 is a signal diagram illustrating a scanning signal of the observation image control device of the present invention.

【図6】本発明の観察像制御装置による表示例を説明す
るための図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining a display example by the observation image control device of the present invention.

【図7】本発明の観察像制御装置の詳細な構成例を説明
するための概略図である。
FIG. 7 is a schematic diagram for explaining a detailed configuration example of the observation image control device of the present invention.

【図8】本発明の観察像制御装置の詳細な構成例を説明
するための信号図である。
FIG. 8 is a signal diagram illustrating a detailed configuration example of an observation image control device according to the present invention.

【図9】本発明の観察像制御装置の各観察点の他の走査
動作を説明する概略図である。
FIG. 9 is a schematic diagram illustrating another scanning operation of each observation point of the observation image control device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…観察像制御装置、2…観察点指定手段、3…位置デ
ータ格納手段、4…二次元走査信号発生手段、5…走査
信号形成手段、6…走査コイル、7…検出手段、8…信
号処理手段、9…画調調整手段、10…記憶手段、11
…表示手段、20X…X方向走査コンバータ、20Y…
Y方向走査コンバータ、21X…X方向走査D/A変換
器、21Y…Y方向走査D/A変換器、22X…X方向
電圧制御器、22Y…Y方向電圧制御器、23X…X方
向シフト制御手段、23Y…Y方向シフト制御手段、2
4X…X方向シフトD/A変換器、24Y…Y方向シフ
トD/A変換器、25X…X方向走査電源、25Y…Y
方向走査電源、26X…X方向走査コイル、26Y…Y
方向走査電源、27…コントラスト制御手段、28…ブ
ライトネス制御手段、29…コントラスト調整器、30
…ブライトネス調整器、31…A/D変換器、32…記
憶手段、33…D/A変換器、34…表示手段、A…表
示画面、B,C…観察像、D…マーク。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Observation image control apparatus, 2 ... Observation point designation means, 3 ... Position data storage means, 4 ... Two-dimensional scanning signal generation means, 5 ... Scanning signal formation means, 6 ... Scanning coil, 7 ... Detection means, 8 ... Signal Processing means, 9: image tone adjustment means, 10: storage means, 11
... Display means, 20X ... X-direction scanning converter, 20Y ...
Y direction scanning converter, 21X ... X direction scanning D / A converter, 21Y ... Y direction scanning D / A converter, 22X ... X direction voltage controller, 22Y ... Y direction voltage controller, 23X ... X direction shift control means , 23Y ... Y-direction shift control means, 2
4X: X direction shift D / A converter, 24Y: Y direction shift D / A converter, 25X: X direction scanning power supply, 25Y: Y
Direction scanning power supply, 26X ... X direction scanning coil, 26Y ... Y
Directional scanning power supply, 27: contrast control means, 28: brightness control means, 29: contrast adjuster, 30
... brightness adjuster, 31 ... A / D converter, 32 ... storage means, 33 ... D / A converter, 34 ... display means, A ... display screen, B, C ... observation image, D ... mark.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子ビーム照射の二次元走査で得られる
二次元画像を画像表示する表示画面上において少なくと
も一つの観察点を指定し、指定した観察点の位置データ
を得る観察点指定手段と、前記各位置データに基づいて
指定した観察点を走査中心として二次元走査する走査信
号を前記各観察点毎に形成する走査信号形成手段と、前
記各観察点毎に得られる画像データを各観察点毎に画調
調整する画調調整手段を備えることを特徴とする観察像
制御装置。
An observation point designating means for designating at least one observation point on a display screen for displaying a two-dimensional image obtained by two-dimensional scanning of electron beam irradiation, and obtaining position data of the designated observation point, Scanning signal forming means for forming, for each of the observation points, a scanning signal for performing two-dimensional scanning with the observation point designated based on each of the position data as a scanning center; and obtaining the image data obtained for each of the observation points for each of the observation points. An observation image control apparatus, comprising: an image tone adjusting unit that adjusts image tone for each image.
【請求項2】 走査信号形成手段は、基準となる走査信
号のベース位置を前記各位置データに基づいて前記各観
察点毎にシフトすることにより、観察点を走査中心とし
て二次元走査する走査信号を形成することを特徴とする
請求項1記載の観察像制御装置。
2. A scanning signal for two-dimensionally scanning the observation point as a scanning center by shifting a base position of a reference scanning signal for each of the observation points based on the position data. The observation image control device according to claim 1, wherein
【請求項3】 画調調整手段は、前記指定した観察点中
心とする二次元走査のタイミングに同期して得られる画
像データを画調調整することを特徴とする請求項1、又
は2記載の観察像制御装置。
3. The image adjusting apparatus according to claim 1, wherein the image adjusting means adjusts the image of the image data obtained in synchronization with the timing of the two-dimensional scanning about the designated observation point center. Observation image control device.
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52109878A (en) * 1976-03-11 1977-09-14 Jeol Ltd Observing method of electron beam image
JPS561454A (en) * 1979-06-18 1981-01-09 Jeol Ltd Picture signal processing device for scanning electron microscope
JPS61190841A (en) * 1985-02-19 1986-08-25 Jeol Ltd X-ray image display device
JPS62168325A (en) * 1985-12-13 1987-07-24 Shimadzu Corp Charged particle beam scanning-type analyzer
JPH01209647A (en) * 1988-02-17 1989-08-23 Hitachi Ltd Scanning type electron microscope
JPH0346743A (en) * 1989-07-14 1991-02-28 Hitachi Ltd Picture quality adjuster of scanning electron microscope, etc.
JPH10283969A (en) * 1997-04-10 1998-10-23 Jeol Ltd Scanning electron microscope
JPH11296680A (en) * 1998-04-14 1999-10-29 Hitachi Ltd Image processor provided with contrast improving function and charged particle ray device
JP2000357481A (en) * 1999-06-14 2000-12-26 Jeol Ltd Specimen image observing method for scan type charged particle beam device

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52109878A (en) * 1976-03-11 1977-09-14 Jeol Ltd Observing method of electron beam image
JPS561454A (en) * 1979-06-18 1981-01-09 Jeol Ltd Picture signal processing device for scanning electron microscope
JPS61190841A (en) * 1985-02-19 1986-08-25 Jeol Ltd X-ray image display device
JPS62168325A (en) * 1985-12-13 1987-07-24 Shimadzu Corp Charged particle beam scanning-type analyzer
JPH01209647A (en) * 1988-02-17 1989-08-23 Hitachi Ltd Scanning type electron microscope
JPH0346743A (en) * 1989-07-14 1991-02-28 Hitachi Ltd Picture quality adjuster of scanning electron microscope, etc.
JPH10283969A (en) * 1997-04-10 1998-10-23 Jeol Ltd Scanning electron microscope
JPH11296680A (en) * 1998-04-14 1999-10-29 Hitachi Ltd Image processor provided with contrast improving function and charged particle ray device
JP2000357481A (en) * 1999-06-14 2000-12-26 Jeol Ltd Specimen image observing method for scan type charged particle beam device

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