JP2002340792A - Method for measuring density of polymer material - Google Patents

Method for measuring density of polymer material

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JP2002340792A
JP2002340792A JP2001147597A JP2001147597A JP2002340792A JP 2002340792 A JP2002340792 A JP 2002340792A JP 2001147597 A JP2001147597 A JP 2001147597A JP 2001147597 A JP2001147597 A JP 2001147597A JP 2002340792 A JP2002340792 A JP 2002340792A
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JP
Japan
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density
polymer material
measuring
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infrared spectrum
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JP2001147597A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazutoshi Tanabe
和俊 田辺
Takatoshi Matsumoto
高利 松本
Kazumitsu Saeki
和光 佐伯
Toshio Amano
敏男 天野
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OPT GIKEN KK
Toyama Prefecture
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
OPT GIKEN KK
Toyama Prefecture
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for measuring a density of a polymer material which is more simple and speedier than conventional method of measuring a mid-infrared spectrum, a nuclear magnetic resonance(NMR) spectrum and the like, and a method for recycling a polymer material waste which utilizes the density measuring method. SOLUTION: A near infrared spectrum in a near infrared wavelength region is measured for the polymer material whose density is to be measured. A data analysis method (neutral network, a main component analysis method or the like) in chemometrics is applied to the near infrared spectral data, and the density of the polymer material is measured on the basis of information obtained by the data analysis method. The polymer material waste to be recycled is detected with the use of the density measuring method in a method for recycling the polymer material.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、近赤外線スペクト
ルのデータに基づいて、プラスチック、繊維、ゴム、塗
料、接着剤等の高分子材料の密度を測定する高分子材料
の密度測定方法及び該密度測定方法を用いる高分子材料
廃棄物のリサイクル方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for measuring the density of polymer materials such as plastics, fibers, rubbers, paints and adhesives based on data of near-infrared spectra, and a method for measuring the density of the polymer materials. The present invention relates to a method for recycling polymer material waste using a measurement method.

【0002】[0002]

【従来の技術】廃プラスチックのリサイクルは技術的に
もここ数年で大きく進展し、容器包装類、家電製品、自
動車、農業用品、建築廃材等いろいろな分野で取り組み
が行なわれている。そのような状況下において、リサイ
クルへの要求が年々高度化しており、最近では、マテリ
アルリサイクルでは樹脂ごとの分別だけではなく、リサ
イクル製品の品質低下を防ぐために同じ樹脂でもグレー
ド別に分別することが要求されている。本発明者らは特
願2000−275693「高分子材料のグレード識別
方法」にてこれらの課題を解決する方法を提案した。さ
らにこれからはリサイクル製品の品質保持のためにグレ
ード別ではなく、さらに細分化して密度ごとに樹脂を分
別することが要求されることが予想される。
2. Description of the Related Art Recycling of waste plastics has made great progress technically in recent years, and various fields such as containers and packaging, home appliances, automobiles, agricultural supplies, and construction wastes have been undertaken. Under such circumstances, the demand for recycling has become increasingly sophisticated year by year. Have been. The present inventors have proposed a method for solving these problems in Japanese Patent Application No. 2000-275693 “Grade identification method for polymer materials”. Further, it is expected that it will be required to separate the resin by density, not by grade, in order to maintain the quality of the recycled product.

【0003】従来、実験室レベルにおいて高分子材料の
密度を測定する方法として、JISK 7112では、
プラスチック−非発泡プラスチックの密度及び比重の測
定方法として水中置換法、ピクノメーター法、浮沈法及
び密度勾配管法の4種類が規定されている。また、赤外
線スペクトル、X線及び中性線回折、示差走査熱量測定
(DSC)、固体NMR測定法等の破壊・非破壊測定の
分析方法が使用されている。しかしこれらの方法は、高
分子材料の密度の測定は可能であるものの、測定及び密
度の測定における迅速性に欠けるため、現時点で、実際
のリサイクルの際に用いることができる実用化レベルに
達しているものはなかった。
Conventionally, as a method of measuring the density of a polymer material at a laboratory level, JISK 7112 describes:
As a method for measuring the density and specific gravity of plastic-non-foamed plastic, four types of methods, namely, an underwater displacement method, a pycnometer method, a floating / sedimentation method, and a density gradient tube method are specified. In addition, analytical methods for destructive / non-destructive measurement such as infrared spectrum, X-ray and neutral ray diffraction, differential scanning calorimetry (DSC), and solid-state NMR measurement are used. However, although these methods can measure the density of a polymer material, they lack the quickness of measurement and density measurement, and have reached a practical level that can be used at the time of actual recycling at present. There was nothing.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記高分子材料の密度
測定方法の中で最も実用化レベルに近い有望な方法は、
赤外線を利用する方法であると考えられる。赤外線の波
長を変えながら高分子材料に照射すると、波長によって
高分子材料に吸収されたり反射されたりする赤外線の割
合が変化する。この赤外線の吸収率又は反射率を照射光
の波長を変えながら測定すると、赤外線スペクトルが得
られる。この赤外線スペクトルは高分子材料に用いられ
るモノマーの種類や密度の違いによって変化するため、
赤外線スペクトルの違いから高分子材料を測定すること
ができる。
Among the above-mentioned methods for measuring the density of a polymer material, a promising method that is closest to the practical level is:
This is considered to be a method using infrared rays. When the polymer material is irradiated while changing the wavelength of the infrared light, the ratio of infrared light absorbed or reflected by the polymer material changes depending on the wavelength. When the absorption or reflectance of the infrared ray is measured while changing the wavelength of the irradiation light, an infrared spectrum is obtained. Since this infrared spectrum changes depending on the type and density of the monomer used for the polymer material,
A polymer material can be measured from a difference in infrared spectrum.

【0005】赤外線スペクトルは、照射する赤外線の波
長によって近赤外線スペクトル(波長範囲:1.0〜
2.5μm)、中赤外線スペクトル(波長範囲:2.5
〜25μm)、遠赤外スペクトル(波長範囲:25〜1
00μm)に大別する事ができる。これらの中で、中赤
外線は高分子材料の密度によって吸収率が異なるため、
中赤外線スペクトルに基づき高分子材料の密度を精度よ
く測定することができる。しかしながら、この中赤外線
の波長範囲では、高分子材料による光の吸収率がかなり
高いため、試料(測定対象物)の厚さを薄くする前処理
を行なった上で透過法測定を行なう必要がある。したが
って、中赤外線の波長範囲での赤外スペクトルを測定す
る方法では、破壊検査となってしまい、しかも上記試料
の前処理という煩雑な作業が必要となるため、簡便で迅
速な密度測定方法とはいえなかった。
The infrared spectrum is a near-infrared spectrum (wavelength range: 1.0 to
2.5 μm), mid-infrared spectrum (wavelength range: 2.5
2525 μm), far-infrared spectrum (wavelength range: 25-1)
00 μm). Among these, the mid-infrared rays have different absorption rates depending on the density of the polymer material,
The density of the polymer material can be accurately measured based on the mid-infrared spectrum. However, in this mid-infrared wavelength range, the light absorption by the polymer material is quite high, so it is necessary to perform a transmission method measurement after performing a pretreatment to reduce the thickness of the sample (object to be measured). . Therefore, the method for measuring the infrared spectrum in the mid-infrared wavelength range is a destructive inspection, and requires a complicated work of pre-processing the sample. I couldn't say it.

【0006】高分子材料の密度を簡便、且つ迅速な方法
で測定するという課題は、プラスチック、繊維、ゴム、
塗料、接着剤等のすべての高分子材料を効率的にリサイ
クル使用とする場合について、同様に発生し得るもので
ある。
The problem of measuring the density of a polymer material by a simple and quick method is that plastic, fiber, rubber,
This can also occur when all polymer materials such as paints and adhesives are efficiently recycled.

【0007】従って、本発明の課題は、以上の問題点に
鑑み、従来の密度測定方法に比して、より簡便、且つ迅
速な高分子材料の密度測定方法を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for measuring the density of a polymer material which is simpler and faster than the conventional methods for measuring the density in view of the above problems.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】そこで、本発明者らは、
上記目的達成のために、鋭意検討を重ねた結果、近赤外
線の波長範囲における近赤外線スペクトルデータに対し
ケモメトリックスにおけるデータ解析手法を適用するこ
とにより高分子材料の密度が迅速に測定することがで
き、高分子材料のリサイクル事業にとって有用であるこ
とに着目し、それらの知見に基づいて本発明に到達し
た。
Means for Solving the Problems Accordingly, the present inventors have:
To achieve the above objectives, as a result of intensive studies, the density of the polymer material can be quickly measured by applying a data analysis method in chemometrics to near-infrared spectral data in the near-infrared wavelength range. Focusing on its usefulness in the polymer material recycling business, the present inventors have arrived at the present invention based on those findings.

【0009】すなわち、請求項1の発明は、密度測定対
象の高分子材料について近赤外線の波長範囲における近
赤外線スペクトルを測定し、該近赤外線スペクトルのデ
ータに対してケモメトリックスにおけるデータ解析手法
を適用し、該データ解析手法で取得された情報に基づい
て該高分子材料の密度を測定することを特徴とする高分
子材料の密度測定方法に関するものである。
That is, the invention of claim 1 measures a near-infrared spectrum in a near-infrared wavelength range of a polymer material to be subjected to density measurement, and applies a data analysis method in chemometrics to data of the near-infrared spectrum. The present invention also relates to a method for measuring the density of a polymer material, comprising measuring the density of the polymer material based on information obtained by the data analysis method.

【0010】ここで、上記「ケモメトリックス」とは数
学的手法や統計学的手法を適用し、最適手順や最適実験
計画の立案・選択を行なうとともに、化学データから得
られる化学情報量の最大化を目的とする化学の一分野を
いう(例えば、相島鐵郎著「ケモメトリックス−新しい
分析化学−」丸善、p.1参照)。また、上記「ケモメ
トリックスにおけるデータ解析手法」としては、ニュー
ラルネットワークのほか、主成分分析法、PLS(Part
ial Least Squares Regression)法、PCR(Principa
l Components Regression)法、階層的クラスター分析
法、SIMCA(Soft Independent Modeling of Class
Analogy)法、KNN(K-Nearest Neighbours)法等を
挙げることができる(例えば、宮下芳勝・佐々木愼一著
「ケモメトリックス 化学パターン認識と多変量解析」
共立出版参照)。
Here, the above-mentioned "chemometrics" means to apply a mathematical method or a statistical method to plan and select an optimal procedure and an optimal experimental plan, and to maximize the amount of chemical information obtained from chemical data. (For example, see Tetsuro Aishima, "Chemometrics-New Analytical Chemistry", Maruzen, p. 1). As the above “data analysis method in chemometrics”, in addition to neural networks, principal component analysis, PLS (Part
ial Least Squares Regression), PCR (Principa
l Components Regression method, hierarchical cluster analysis method, SIMCA (Soft Independent Modeling of Class)
Analogy) method, KNN (K-Nearest Neighbours) method, etc. (for example, Yoshikatsu Miyashita and Shinichi Sasaki, "Chemometrics Chemical Pattern Recognition and Multivariate Analysis")
See Kyoritsu Publishing).

【0011】請求項1の高分子材料の密度測定方法で
は、高分子材料の密度の違いにより光の吸収率や反射率
が異なる波長を含む近赤外線(波長範囲:1.0〜2.
5μm)を用いて測定することにより、高分子材料の密
度に関する情報を含む近赤外線スペクトルデータを得る
ことができる。しかも、上記近赤外線は、中赤外線(波
長範囲:2.5〜25μm)とは異なり、高分子材料に
対して過度に吸収されることなく、また適度な強度の透
過光や反射光となるので、測定対象の高分子材料につい
て前処理を行なう必要がなく、十分な強度の近赤外線ス
ペクトルのデータを得ることができる。
In the method for measuring the density of a polymer material according to the first aspect, near-infrared rays (wavelength range: 1.0 to 2.0) including wavelengths having different light absorptivity and reflectance depending on the density of the polymer material.
5 μm), it is possible to obtain near-infrared spectrum data including information on the density of the polymer material. In addition, unlike the mid-infrared ray (wavelength range: 2.5 to 25 μm), the near-infrared ray is not excessively absorbed by the polymer material and becomes transmitted light or reflected light having an appropriate intensity. In addition, it is not necessary to perform pretreatment on the polymer material to be measured, and it is possible to obtain data of a near-infrared spectrum having a sufficient intensity.

【0012】そして、上記近赤外線スペクトルデータに
対してケモメトリックスにおけるデータ解析手法を適用
することにより、近赤外線スペクトルのデータから高分
子材料の密度に関する情報を抽出する。このデータ解析
手法で取得された情報に基づいて、高分子材料の密度を
測定する。このケモメトリックスにおけるデータ解析手
法に対しては、コンピュータを用いたデータ処理を容易
に適用できるので、簡便且つ迅速な密度測定が可能とな
る。
Then, by applying a data analysis technique in chemometrics to the near-infrared spectrum data, information on the density of the polymer material is extracted from the near-infrared spectrum data. The density of the polymer material is measured based on the information obtained by this data analysis technique. Since data processing using a computer can be easily applied to the data analysis method in chemometrics, simple and quick density measurement can be performed.

【0013】請求項2の発明は、請求項1の高分子材料
の密度測定方法において、上記ケモメトリックスにおけ
るデータ解析手法が、上記近赤外線スペクトルのデータ
についてピークの先鋭化、ベースラインの傾き補正及び
規格化を含む処理を行なう前処理と、該前処理を施した
近赤外線スペクトルのデータに対するニューラルネット
ワークによるデータ処理とから構成されるものである。
ここで、上記「ニューラルネットワーク」とは、脳の行
なう情報処理をまねた数学的モデルであり、神経細胞の
行なうデータ処理をユニットと呼ばれる処理要素に置き
換え、相互に結合させて情報処理を行なうネットワーク
である。上記近赤外線スペクトルのデータ処理に対して
は、特に、階層型パーセプトロンモデルが採用された、
入力層、中間層及び出力層からなる3層構造のニューラ
ルネットワークであって、エラーバックプロパゲーショ
ン方式で学習したニューラルネットワークが好適であ
る。
According to a second aspect of the present invention, in the method for measuring the density of a polymer material according to the first aspect, the data analysis method in the chemometrics includes sharpening of a peak, correction of a baseline slope, It is composed of pre-processing for performing processing including normalization, and data processing by a neural network for near-infrared spectrum data that has been subjected to the pre-processing.
Here, the "neural network" is a mathematical model that mimics information processing performed by the brain, and is a network that performs data processing performed by replacing data processing performed by nerve cells with processing elements called units and interconnecting them. It is. For data processing of the near-infrared spectrum, in particular, a hierarchical perceptron model was adopted,
A neural network having a three-layer structure including an input layer, an intermediate layer, and an output layer, and which is learned by an error back propagation method, is preferable.

【0014】請求項2の高分子材料の密度測定方法で
は、上記近赤外線スペクトルのデータについて2次微分
処理及び規格化処理を含む前処理を行なうとともに、密
度測定対象の複数の高分子材料間でのデータのバラツキ
を抑え、最終的な密度測定の精度を高める。そして、こ
の前処理を施した近赤外線スペクトルのデータを、ニュ
ーラルネットワークに入力し、ニューラルネットワーク
から出力されたデータにより密度予測を行なう。このニ
ューラルネットワークを用いた解析手法の場合は、ニュ
ーラルネットワークのパラメータの最適化を図ることに
より、密度測定の精度が高まる。また、上記近赤外線ス
ペクトルのデータの非線形性が強い場合でも、高分子材
料の密度を精度よく測定することができる。
According to a second aspect of the present invention, the near-infrared spectrum data is subjected to pre-processing including second-order differentiation processing and normalization processing, and is performed between a plurality of high-density polymer materials to be measured. To reduce the variation of the data and increase the accuracy of the final density measurement. The pre-processed near-infrared spectrum data is input to a neural network, and density prediction is performed based on the data output from the neural network. In the case of the analysis method using the neural network, the accuracy of the density measurement is improved by optimizing the parameters of the neural network. Further, even when the near-infrared spectrum data has strong nonlinearity, the density of the polymer material can be accurately measured.

【0015】さらに、請求項2の発明によれば、高分子
材料の密度を近赤外線により測定する方法であって、次
の工程(1)乃至(6); (1) 高分子材料に近赤外線を照射する工程、(2)
上記工程(1)にて得られた拡散反射光を受光する工
程、(3) 上記受光工程にて得られた近赤外線スペク
トルデータを該データの平均化、ピーク先鋭化及び規格
化からなる前処理に供する工程、(4) 上記工程
(3)にて得られた前処理された近赤外線スペクトルデ
ータをニューラルネットワークによる解析処理に供する
工程、(5) 該解析処理において上記ニューラルネッ
トワークの出力層に当該高分子材料の一種以上の密度に
関する値を教師データとして入力し学習する工程 及び
(6) 前記工程(5)にて未知の高分子材料の密度予
測値を算出する工程を含むことを特徴とする高分子材料
の密度測定方法が提供される。
Further, according to the second aspect of the present invention, there is provided a method for measuring the density of a polymer material using near-infrared light, comprising the following steps (1) to (6); Irradiating (2)
(3) receiving the diffuse reflected light obtained in the above step (1), and (3) preprocessing the near infrared spectrum data obtained in the above light receiving step by averaging, peak sharpening and normalizing the data. (4) subjecting the pre-processed near-infrared spectrum data obtained in the above step (3) to analysis processing by a neural network, (5) applying the near-infrared spectrum data to the output layer of the neural network in the analysis processing. A step of learning by inputting at least one value relating to the density of the polymer material as teacher data; and (6) a step of calculating a predicted density value of the unknown polymer material in the step (5). A method for measuring the density of a polymeric material is provided.

【0016】請求項3に記載の発明は、本発明の高分子
材料の密度測定方法において用いられる近赤外線スペク
トルの測定手段として音響光学素子を用いた分光方式に
よる測定装置を特定したものである。また、本発明のう
ち請求項4記載の発明によれば、上記近赤外線スペクト
ルの波長範囲が1.0〜2.5μmとする。このような
波長範囲で迅速に精度良く高分子材料の密度を測定する
ことができるが、さらに望ましくは1.1〜2.2μm
の波長範囲を使用するのがよい。この波長範囲を用いる
ことにより、高分子材料の密度測定精度を低下させるこ
となく、近赤外線のスキャン幅を縮めることができるた
め、より迅速に密度測定を行なうことが可能である。
According to a third aspect of the present invention, a spectroscopic measuring apparatus using an acousto-optic element as a means for measuring a near-infrared spectrum used in the method for measuring the density of a polymer material according to the present invention is specified. According to the fourth aspect of the present invention, the near-infrared spectrum has a wavelength range of 1.0 to 2.5 μm. The density of the polymer material can be quickly and accurately measured in such a wavelength range, but more preferably 1.1 to 2.2 μm
It is preferable to use the wavelength range of By using this wavelength range, the scan width of near-infrared rays can be reduced without lowering the density measurement accuracy of the polymer material, so that the density measurement can be performed more quickly.

【0017】また、請求項4によれば、請求項1の高分
子材料の密度測定方法を用いて高分子材料廃棄物を判別
することを特徴とする高分子材料廃棄物のリサイクル方
法が提供される。高分子材料のリサイクル方法は、通
常、廃棄物の同定、分類、分解、再生、品質検査、最適
化等の工程からなるが、本発明の密度測定方法は、同
定、分類、品質検査等の工程において利用することがで
きる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a method of recycling a high polymer material waste, wherein the high polymer material waste is determined using the method of measuring the density of the high polymer material according to the first aspect. You. The method of recycling polymer materials usually includes the steps of identification, classification, decomposition, regeneration, quality inspection, optimization, etc. of the waste. The density measurement method of the present invention uses the steps of identification, classification, quality inspection, etc. Can be used in

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明をポリエチレンの密
度を測定する密度測定方法に適用した実施形態について
説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment in which the present invention is applied to a density measuring method for measuring the density of polyethylene will be described below.

【0019】ポリエチレンは高分子材料である汎用プラ
スチックの一つとして大量生産されている。ポリエチレ
ンは、軽く(比重:0.91〜0.97)、透明〜半透
明であり、耐寒性(使用可能な温度範囲:−60〜80
℃)が良く電気絶縁性は特に優れており、耐電圧が大き
く、高周波特性も良い。吸水・透水はしないが、空気は
通すという特性を有している。また、ポリエチレンは、
耐水、耐油、耐酸(濃硝酸は除く)、耐アルカリ性、耐
有機溶剤(恒温の場合は除く)に優れており、低コスト
である。ポリエチレンは、強度、剛性、表面硬度、耐熱
性においては劣るものの、これらを上回る特性を有して
いるため、大量に利用されている。これと同時に、大量
消費・大量廃棄されているのも事実である。
Polyethylene is mass-produced as one of general-purpose plastics which is a polymer material. Polyethylene is light (specific gravity: 0.91 to 0.97), transparent to translucent, and cold resistant (usable temperature range: -60 to 80).
° C) is good, the electrical insulation is particularly excellent, the withstand voltage is large, and the high frequency characteristics are good. It does not absorb or permeate water, but has the property of passing air. In addition, polyethylene
Excellent in water resistance, oil resistance, acid resistance (excluding concentrated nitric acid), alkali resistance, and organic solvent resistance (excluding constant temperature), and low cost. Although polyethylene is inferior in strength, rigidity, surface hardness, and heat resistance, it has properties exceeding these properties and is therefore used in large quantities. At the same time, it is true that they are being mass-consumed and discarded.

【0020】一方容器包装リサイクル法や家電リサイク
ル法の本格施行により、プラスチックをリサイクルする
必要性に迫られている。このような状況下で、大量消費
・大量廃棄されているポリエチレンについてもリサイク
ルの必要性に迫られている。ところが、このポリエチレ
ンは用途により密度が異なるものが使用されている。こ
のように密度が異なるポリエチレンが存在するのは、ポ
リエチレンの製法によっては分岐が生じ、これに伴い結
晶化度が低下する場合があるからである。この結晶化度
の低下は剛性の低下や透明度の向上につながる。このよ
うにポリエチレンの剛性(柔軟性)や透明性のような外
見的な特性は、結晶化度により大きく変動する。結晶化
度の指針として密度が用いられている。このような密度
が異なるポリエチレンはそれぞれ特性が異なるため、前
述のように、リサイクルを行なう場合には、密度ごとに
より細かくポリエチレンを分別する必要がある。
On the other hand, with the full enforcement of the Containers and Packaging Recycling Law and the Home Appliance Recycling Law, the need to recycle plastic has been pressing. Under such circumstances, there is a pressing need to recycle polyethylene that has been consumed or discarded in large quantities. However, polyethylene having a different density depending on the application is used. The reason why polyethylenes having different densities are present is that, depending on the method of producing polyethylene, branching may occur, and the degree of crystallinity may decrease accordingly. This decrease in crystallinity leads to a decrease in rigidity and an improvement in transparency. As described above, appearance characteristics such as rigidity (flexibility) and transparency of polyethylene greatly vary depending on crystallinity. Density is used as a guide to crystallinity. Since polyethylenes having different densities have different characteristics, as described above, it is necessary to separate polyethylene more finely for each density when recycling.

【0021】本実施形態では、上記ポリエチレンの密度
を測定するために、ポリエチレンの近赤外線スペクトル
を測定し、近赤外線スペクトルデータに対してケモメト
リックスにおけるデータ解析手法を適用し、このデータ
解析手法で取得された情報に基づいてポリエチレンの密
度を測定する密度測定方法を用いている。
In this embodiment, in order to measure the density of the polyethylene, the near-infrared spectrum of the polyethylene is measured, and a data analysis method in chemometrics is applied to the near-infrared spectrum data, and the data is obtained by this data analysis method. A density measurement method for measuring the density of polyethylene based on the information obtained is used.

【0022】ここで、近赤外線領域の波長を用いるの
は、ポリエチレンの工学的特性によるものである。CH
伸縮振動の第1、第2、第3・・・等の倍音によるバン
ドはどれもタブレットのようになっているが、いずれも
長波長側がメチレン基によるものであり、短波長側がメ
チル基によるものである。1、2、3と倍音の次数が上
がるにつれ、強度は弱くなるものの、バンドの分離能は
よくなるので、化合物の同定には、次数の高い振動に対
応する近赤外線領域は極めて有効である。この近赤外線
領域を用いることのもう1つの長所としては、大きな非
調和定数をもつ振動だけがこの領域に残り、小さな非調
和定数を持つものは観測されないので、スペクトルが比
較的に簡単になるという利点がある。
Here, the wavelength in the near-infrared region is used because of the engineering characteristics of polyethylene. CH
The bands of the first, second, third, etc. of the stretching vibration are all like tablets, but the longer wavelength side is due to the methylene group and the shorter wavelength side is due to the methyl group. It is. As the order of the overtones increases to 1, 2, and 3, the intensity decreases, but the band resolving power improves. Therefore, in the identification of a compound, the near-infrared region corresponding to the higher-order vibration is extremely effective. Another advantage of using this near-infrared region is that the spectrum is relatively simple because only vibrations with large anharmonic constants remain in this region and those with small anharmonic constants are not observed. There are advantages.

【0023】[0023]

【実施例】高分子材料試料として密度0.898〜0.
960にわたる市販のポリエチレンペレット及び粉末を
23種用意した。ポリエチレンの近赤外線スペクトルの
測定には、オプト技研社製の近赤外線スペクトル測定装
置(商品名:PlaScan)を用いた。この近赤外線スペク
トル測定装置は、音響光学変調フィルター(AOTF:
Acousto-Optical Tunable Filter)分光方式を使用して
おり、近赤外線領域(1.0〜2.5μm)における拡
散反射スペクトルを迅速且つ高分解能(0.0005μ
m)で測定できる分光測定装置である。この近赤外線ス
ペクトル測定装置を用いて、まず標準試料であるセラミ
ックスについて波長領域1.1〜2.2μmの1200
点における拡散反射光の強度を積算回数10回で測定し
た。次に密度測定対象の複数のポリエチレンについて、
同じ波長領域1.1〜2.2μmの1200点における
拡散反射光の強度を積算回数20回で測定した。そし
て、各測定波長ポイントについて、セラミックの反射光
強度に対するポリエチレンの反射光強度の比である相対
反射率の対数を、吸光度として算出することにより、波
長領域1.1〜2.2μmにおける近赤外線スペクトル
のデータを得た。前記近赤外線吸収スペクトルは各5回
測定した。
EXAMPLE A polymer material sample having a density of 0.898-0.
23 kinds of 960 commercially available polyethylene pellets and powders were prepared. For the measurement of the near infrared spectrum of polyethylene, a near infrared spectrum measuring device (trade name: PlaScan) manufactured by Opto Giken was used. This near-infrared spectrum measuring apparatus uses an acousto-optic modulation filter (AOTF:
Acousto-Optical Tunable Filter) spectroscopy is used, and the diffuse reflection spectrum in the near-infrared region (1.0 to 2.5 μm) can be quickly and highly resolved (0.0005 μm).
This is a spectrometer that can be measured in m). Using this near-infrared spectrum measuring apparatus, first, a ceramic sample serving as a standard sample has a wavelength range of 1200 to 1200 μm in 1200.
The intensity of the diffuse reflected light at the point was measured after 10 integrations. Next, for a plurality of polyethylenes for density measurement,
The intensity of the diffuse reflected light at 1200 points in the same wavelength region of 1.1 to 2.2 μm was measured with 20 integrations. Then, for each measurement wavelength point, the logarithm of the relative reflectance, which is the ratio of the reflected light intensity of the polyethylene to the reflected light intensity of the ceramic, is calculated as the absorbance, whereby the near-infrared spectrum in the wavelength region of 1.1 to 2.2 μm is calculated. Data was obtained. The near-infrared absorption spectrum was measured five times each.

【0024】次に上記波長と吸光度との関係を示す近赤
外線スペクトルの測定データについてニューラルネット
ワーク等のデータ処理を行なう前に、ノイズ除去のた
め、平均化、ピークの先鋭化、及び規格化のデータ処理
として次の(1)乃至(4)のようなデータの前処理を
行なった。 (1)波長領域1.1〜2.2μmの1200点の実測
スペクトルデータについて、最小値を0、最大値を1と
なるように規格化を行なった。(図1(a)参照。) (2)1200点の規格化スペクトルを10点毎に平均
を取り、120点のデータを作成した。(図1(b)参
照。) (3)120点のデータを用いて、2次微分スペクトル
の計算を行なった。(図1(c)参照。) (4)絶対値の最大値が1となるように、再度規格化を
行なった。(図1(d)参照。)
Next, the data of averaging, peak sharpening, and normalization for noise removal before performing data processing such as a neural network on the near infrared spectrum measurement data indicating the relationship between the wavelength and the absorbance. As processing, the following pre-processing of data (1) to (4) was performed. (1) Standardization was performed so that the minimum value was set to 0 and the maximum value was set to 1 for 1200 measured spectral data in the wavelength region of 1.1 to 2.2 μm. (See FIG. 1 (a).) (2) The normalized spectrum at 1200 points was averaged every 10 points to create data at 120 points. (See FIG. 1 (b).) (3) A second derivative spectrum was calculated using the data at 120 points. (See FIG. 1 (c).) (4) Normalization was performed again so that the maximum value of the absolute value was 1. (See FIG. 1 (d).)

【0025】ここで、上記データの平均化処理を行なっ
たのは、ノイズ除去のためである。また、2次微分処理
を行なったのは、ピークの先鋭化とベースラインの傾き
補正のためである。この種のデータの前処理としては、
ほかにMSC(Multiplicative Scatter Correction)
法等もあるが、本実施形態においては、計算の簡便な2
次微分法を主に使用した。
The reason why the data averaging process is performed is to remove noise. The reason why the second derivative processing is performed is to sharpen the peak and correct the inclination of the baseline. Preprocessing of this type of data includes:
MSC (Multiplicative Scatter Correction)
Although there are methods and the like, in the present embodiment, a simple 2
The second derivative method was mainly used.

【0026】本実施形態では、上記近赤外線スペクトル
のデータを解析するケモメトリックスにおけるデータ解
析手法の一つとして、階層型パーセプトロンモデルが採
択されたニューラルネットワークを用いた。このニュー
ラルネットワークによるデータ処理はパーソナルコンピ
ュータ上にインストールした富士通社製のソフトウェア
(商品名:NEUROSIM/L)を用いた。
In the present embodiment, a neural network employing a hierarchical perceptron model is used as one of the data analysis methods in chemometrics for analyzing the near infrared spectrum data. Data processing by the neural network used software (trade name: NEUROSIM / L) manufactured by Fujitsu Limited installed on a personal computer.

【0027】このニューラルネットワークは、入力層、
中間層、及び出力層がそれぞれ1層である3層構造から
構成され、ニューラルネットワークの学習には、エラー
バックプロパゲーション方式を用いた。このニューラル
ネットワークの入力層に、上記前処理を施した各ポリエ
チレンの近赤外線スペクトル(2次微分スペクトル)の
データを入力し、出力層には、試料の密度の最低値
(0.898)と最大値(0.960)を−0.8と
0.8に規格化した値を教師データとして入力して学習
を行なった。また、本実施形態においては、入力層を1
20ユニット、中間層を5ユニット、出力層を1ユニッ
トに設定した。また、学習定数としてε=5.0、α=
0.1を用い、収束条件を0.1とした。
This neural network has an input layer,
The intermediate layer and the output layer each have a three-layer structure of one layer, and an error back propagation method is used for learning of the neural network. The near-infrared spectrum (second derivative spectrum) data of each pretreated polyethylene is input to the input layer of this neural network, and the minimum value (0.898) and the maximum value of the sample density are input to the output layer. Learning was performed by inputting values (0.960) normalized to -0.8 and 0.8 as teacher data. In the present embodiment, the input layer is 1
20 units, 5 units for the intermediate layer and 1 unit for the output layer were set. As learning constants, ε = 5.0, α =
The convergence condition was set to 0.1 using 0.1.

【0028】上記ニューラルネットワークのポリエチレ
ン密度測定能力を判定するために、5回の測定の内の4
回のデータを用いてネットワークを学習し、収束後のネ
ットワークに未学習の1回のデータを入力して密度の測
定値を求め、実測値と比較した。その結果、図1に示す
ように密度測定値は密度実測値と平均誤差0.003内
で一致し、今回の方法でポリエチレンの密度が迅速に測
定できることがわかった。
To determine the ability of the neural network to measure polyethylene density, four out of five measurements were performed.
The network was learned by using the data of the first round, and the unlearned one data was input to the network after the convergence, the measured value of the density was obtained, and compared with the actually measured value. As a result, as shown in FIG. 1, the measured density value agreed with the measured actual density value within an average error of 0.003, and it was found that the density of polyethylene could be quickly measured by this method.

【0029】なお、上記実施形態においては、ポリエチ
レンの密度を測定する場合について説明したが、本発明
は、ポリスチレン、ポリプロピレン等の他の高分子材料
の密度を測定する場合にも適用できるものである。
In the above embodiment, the case where the density of polyethylene is measured has been described. However, the present invention is also applicable to the case where the density of another polymer material such as polystyrene or polypropylene is measured. .

【0030】[0030]

【発明の効果】請求項1乃至4の発明によれば、近赤外
線スペクトル測定前に高分子材料を前処理する必要がな
いとともに、コンピュータを用いたデータ処理を容易に
適用できるので、従来の密度測定方法に比してより簡
便、且つ迅速に高分子材料の密度測定が可能となる優れ
た効果がある。
According to the first to fourth aspects of the present invention, it is not necessary to preprocess a polymer material before measuring a near infrared spectrum, and data processing using a computer can be easily applied. There is an excellent effect that the density of the polymer material can be measured more easily and quickly than the measuring method.

【0031】特に、請求項2の発明によれば、同一種類
の高分子材料を密度ごとに判別することが可能となり、
また、線形モデルを採用するデータ解析手法に比して、
近赤外線スペクトルのデータの非線形性が強い場合で
も、高分子材料の密度をより精度よく測定できるという
優れた効果がある。特に、請求項3の発明によれば、近
赤外線スペクトルの測定を音響光学変調フィルターAO
TF分光方式で行なうことにより高分子材料の密度をよ
り精度よく判定できるという優れた効果がある。
In particular, according to the invention of claim 2, it becomes possible to determine the same kind of polymer material for each density.
Also, compared to the data analysis method using a linear model,
Even when the nonlinearity of near infrared spectrum data is strong, there is an excellent effect that the density of the polymer material can be measured more accurately. In particular, according to the invention of claim 3, the measurement of the near-infrared spectrum is performed by the acousto-optic modulation filter AO.
By using the TF spectroscopy, there is an excellent effect that the density of the polymer material can be determined with higher accuracy.

【0032】特に、請求項4の発明によれば、近赤外線
スペクトル測定及びデータ処理の波長範囲を限定できる
ので、より簡便、且つ迅速なポリエチレンの密度測定が
可能となるという優れた効果がある。また、請求項5の
発明によれば、高分子材料廃棄物のリサイクルにおい
て、高分子材料の分類、品質評価を正確かつ迅速に行な
うことができるという優れた効果がある。
In particular, according to the fourth aspect of the present invention, the wavelength range of near-infrared spectrum measurement and data processing can be limited, so that there is an excellent effect that the density of polyethylene can be measured more easily and quickly. According to the invention of claim 5, there is an excellent effect that the classification and quality evaluation of the polymer material can be performed accurately and quickly in recycling the polymer material waste.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 波長領域1.1〜2.2μmにおけるポリエ
チレンの近赤外線スペクトルグラフ(a)最小値を0、
最大値を1となるように規格化したグラフ。(b)図1
(a)のデータを10点毎に平均を取り、120点に圧
縮したデータのグラフ。(c)図1(b)のデータを用
いて2次微分処理をしたデータのグラフ。(d)図1
(c)のデータの絶対値の最大値が1となるように再度
規格化を行ったデータのグラフ。
FIG. 1 is a near-infrared spectrum graph (a) of polyethylene in a wavelength range of 1.1 to 2.2 μm;
A graph in which the maximum value is normalized to be 1. (B) FIG.
A graph of data obtained by averaging the data of (a) for every 10 points and compressing the data to 120 points. (C) A graph of data obtained by performing a second-order differentiation process using the data of FIG. (D) FIG.
7C is a graph of data re-normalized so that the maximum absolute value of the data in FIG.

【図2】 市販ポリエチレンの密度実測値と本発明の実
施例による密度測定値との関係図。
FIG. 2 is a graph showing the relationship between measured density values of commercially available polyethylene and measured density values according to examples of the present invention.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田辺 和俊 茨城県つくば市東一丁目1番地1 独立行 政法人産業技術総合研究所つくばセンター 内 (72)発明者 松本 高利 茨城県つくば市東一丁目1番地1 独立行 政法人産業技術総合研究所つくばセンター 内 (72)発明者 佐伯 和光 富山県高岡市二上町150番地 富山県工業 技術センター中央研究所内 (72)発明者 天野 敏男 東京都中央区日本橋本町三丁目1番6号 オプト技研株式会社内 Fターム(参考) 2G059 AA03 AA05 BB08 BB15 EE01 EE02 EE12 HH01 HH06 JJ01 JJ18 MM03 NN01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Kazutoshi Tanabe 1-1 1-1 Higashi 1-chome, Tsukuba City, Ibaraki Prefecture Within the National Institute of Advanced Industrial Science and Technology Tsukuba Center (72) Inventor Takatoshi Matsumoto 1-1-1 Higashi 1-chome, Tsukuba City, Ibaraki Prefecture 1 Tsukuba Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (72) Inventor Wako Saeki 150 Futamicho, Takaoka, Toyama Pref., Central Research Laboratory of Toyama Prefectural Industrial Technology Center (72) Toshio Amano, Nihonbashi Honmachizo, Chuo-ku, Tokyo No. 1-6 Opto Giken Co., Ltd. F term (reference) 2G059 AA03 AA05 BB08 BB15 EE01 EE02 EE12 HH01 HH06 JJ01 JJ18 MM03 NN01

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 密度測定対象の高分子材料について近
赤外線の波長範囲における近赤外線スペクトルを測定
し、該近赤外線スペクトルのデータに対してケモメトリ
ックスにおけるデータ解析手法を適用し、該データ解析
手法で取得された情報に基づいて該高分子材料の密度を
測定することを特徴とする高分子材料の密度測定方法。
1. A near-infrared spectrum in a near-infrared wavelength range is measured for a polymer material to be subjected to density measurement, and a data analysis method in chemometrics is applied to the near-infrared spectrum data. A method for measuring the density of a polymer material, comprising measuring the density of the polymer material based on the acquired information.
【請求項2】 請求項1の高分子材料の密度測定方法
において、上記ケモメトリックスにおけるデータ解析手
法が、上記近赤外線スペクトルのデータについてピーク
の先鋭化、ベースラインの傾き補正及び規格化を含む処
理を行なう前処理と、該前処理を施した近赤外線スペク
トルのデータのニューラルネットワークによるデータ処
理とからなることを特徴とする高分子材料の密度測定方
法。
2. The method for measuring the density of a polymer material according to claim 1, wherein the data analysis method in the chemometrics includes sharpening of a peak, correction of a baseline slope, and normalization of the near infrared spectrum data. And a data processing by a neural network of near-infrared spectrum data subjected to the pre-processing.
【請求項3】 請求項1又は2のいずれかの1項に記
載の高分子材料の密度測定方法において、上記近赤外線
スペクトルの測定を音響光学変調フィルターAOTF分
光方式により行なうことを特徴とする高分子材料の密度
測定方法。
3. The method for measuring the density of a polymer material according to claim 1, wherein the near-infrared spectrum is measured by an acousto-optic modulation filter AOTF spectroscopy. A method for measuring the density of molecular materials.
【請求項4】 請求項1乃至3のいずれかの1項に記
載の高分子材料の密度測定方法において、上記近赤外線
スペクトルの波長範囲が1.0〜2.5μmであること
を特徴とする高分子材料の密度測定方法。
4. The method for measuring the density of a polymer material according to claim 1, wherein the wavelength range of the near-infrared spectrum is 1.0 to 2.5 μm. A method for measuring the density of a polymer material.
【請求項5】 請求項1の高分子材料の密度測定方法
を用いて高分子材料廃棄物を判別することを特徴とする
高分子材料廃棄物のリサイクル方法。
5. A method for recycling polymer material waste, comprising determining the polymer material waste using the method for measuring polymer material density according to claim 1.
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