JP2002327277A - Film forming apparatus - Google Patents

Film forming apparatus

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JP2002327277A
JP2002327277A JP2001135186A JP2001135186A JP2002327277A JP 2002327277 A JP2002327277 A JP 2002327277A JP 2001135186 A JP2001135186 A JP 2001135186A JP 2001135186 A JP2001135186 A JP 2001135186A JP 2002327277 A JP2002327277 A JP 2002327277A
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Japan
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film
electron
tape
forming apparatus
support
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Application number
JP2001135186A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsuhiro Abe
淳博 阿部
Chisato Okina
千里 翁
Hidetoshi Nishiyama
英俊 西山
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a film forming apparatus which enhances a film forming speed without damaging a magnetic film on a magnetic tape or the like, and effectively removes positive charge formed on a coated workpiece with a protective film without damaging the product. SOLUTION: The film forming apparatus 10 comprises a reaction chamber 16 in a vacuum chamber 20, which introduces reactant gas therein and forms a protective film on the magnetic film provided on the tape-shaped support 12 through a plasma reaction, and further an electron emission device 21 for emitting electron current toward the magnetic film on the support 12 held so as to face the reaction chamber 16. Thereby, the apparatus stabilizes generation of plasma in the reaction chamber 16, because it can supply electron current emitted from the electron emission device 21 to the reaction chamber 16 through the magnetic film of the support 12.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマCVD法
等を用いる成膜装置に関し、更に詳細には、磁気テー
プ、磁気ディスク、磁気ヘッド等の被成膜体に形成した
金属薄膜上に保護膜を形成する装置として好適な成膜装
置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a film forming apparatus using a plasma CVD method or the like, and more particularly, to a protective film formed on a metal thin film formed on a film to be formed such as a magnetic tape, a magnetic disk and a magnetic head. The present invention relates to a film forming apparatus suitable as an apparatus for forming a film.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、記録媒体である磁気テープの分野
では、高記録密度の要請に応え、蒸着法やスパッタ法等
によりコバルト(Co)等の強磁性体をフィルム状ベー
スに成膜した、所謂蒸着テープが、酸化物磁性粉を有機
バインダに混入して塗布する塗布型テープに置き換えら
れつつある。蒸着テープは、真空チャンバ内で、Co等
の蒸気をフィルム状ベースに直接付着させ、磁性膜とし
て成膜したテープであり、塗布型テープでは必須のバイ
ンダを不要としている。このため、蒸着テープは、薄膜
の磁性膜を高充填度で形成することができ、高域特性の
改善、高記録密度化、テープ薄形化等を達成することが
できる。
2. Description of the Related Art In recent years, in the field of magnetic tapes as recording media, a ferromagnetic material such as cobalt (Co) has been formed on a film-like base by a vapor deposition method or a sputtering method in response to a demand for high recording density. So-called evaporation tapes are being replaced by coating tapes in which oxide magnetic powder is mixed into an organic binder and applied. The vapor deposition tape is a tape in which a vapor such as Co is directly adhered to a film-like base in a vacuum chamber to form a film as a magnetic film. The coating type tape does not require an essential binder. For this reason, the vapor deposition tape can form a thin magnetic film with a high degree of filling, and can achieve improvement in high-frequency characteristics, high recording density, tape thinning, and the like.

【0003】蒸着テープは、デジタルビデオやコンピュ
ータのデータバックアップ用テープとして、更なる高記
録密度、高信頼性、低価格化をもたらすものとして期待
されている。これに伴い、デジタルビデオやコンピュー
タに使用される磁気ヘッドも、従来のインダクティブ型
から、トラックピッチを更に狭めることができる磁気抵
抗効果型ヘッド(以下、MRヘッドと言う)に置き換え
られつつある。インダクティブ型ヘッドでは、磁性膜の
電磁変換特性に、信号取り出しのための高出力が要求さ
れるが、MRヘッドでは、それ程高い出力が必要になら
ず、従って、蒸着テープの磁性膜の厚みは従来に比べて
約1/3の60nm程度で足りることになる。
[0003] Evaporated tapes are expected to provide higher recording density, higher reliability and lower cost as tapes for data backup of digital video and computers. Along with this, magnetic heads used in digital video and computers are being replaced by magnetoresistive heads (hereinafter, MR heads) capable of further reducing the track pitch from conventional inductive heads. Inductive type heads require high output for signal extraction in the electromagnetic conversion characteristics of the magnetic film, but MR heads do not require so high output. About 1/3 of about 60 nm is sufficient.

【0004】より高い記録密度化の要請に伴い、蒸着テ
ープ側での異常放電、異物付着による異常部分は、相対
的に大きなエラーとなるので、異常放電や異常部分の発
生をより確実に防止できるような成膜装置や成膜方法が
切望される。また、保護膜には、MRヘッドと記録層と
の間のスペーシングロスを低減するために、一層の薄膜
化が要求されると同時に、硬度をより高め、かつ摩擦係
数を低くすることによって耐久性を向上させる要請もあ
り、欠陥の無い均一な厚さの実現が望まれる。
[0004] With the demand for higher recording density, an abnormal discharge on the vapor deposition tape side and an abnormal portion due to the attachment of foreign matter cause a relatively large error, so that the occurrence of the abnormal discharge and the abnormal portion can be more reliably prevented. Such a film forming apparatus and a film forming method are eagerly desired. In addition, the protective film is required to be thinner in order to reduce the spacing loss between the MR head and the recording layer, and at the same time, is durable by increasing the hardness and lowering the friction coefficient. There is also a demand for improving the performance, and realization of a uniform thickness without defects is desired.

【0005】ところで、蒸着テープの保護膜には、ダイ
ヤモンドライクカーボン(以下、DLCとも言う)が広
く使用される。DLCは、主にスパッタ法やプラズマC
VD法によって成膜される。スパッタ法は、真空中で電
離したアルゴンイオンによってカーボンターゲットの炭
素原子を叩き出すが、炭素原子のスパッタリング収率、
即ち1つのイオンによって弾き出されるターゲット原子
の割合が極めて低く、生産性はプラズマCVD法に比べ
て劣る。
By the way, diamond-like carbon (hereinafter, also referred to as DLC) is widely used for a protective film of a vapor deposition tape. DLC is mainly used for sputtering or plasma C
The film is formed by the VD method. In the sputtering method, carbon atoms of a carbon target are struck out by argon ions ionized in a vacuum.
That is, the ratio of target atoms ejected by one ion is extremely low, and the productivity is inferior to that of the plasma CVD method.

【0006】また、プラズマCVD法は、電界や磁界を
用いて発生したプラズマのエネルギーを利用し、反応ガ
ス(原料ガス)の分解、合成等の化学反応を引き起こし
て成膜する化学的プロセスであり、優れた特性のDLC
膜を得ることができる。プラズマCVD装置の一形態と
して、DC方式がある。DC方式では、真空チャンバ内
で、被成膜体に予め成膜された磁性膜を陰極とし、磁性
膜と、反応室内に配設された陽極の放電電極との間でプ
ラズマ放電を発生させ、磁性膜上に保護膜を堆積する。
この方式は、構造的にもシンプルで、工業的大量生産に
適している。しかし、上述したように、MRヘッド用テ
ープは高出力を必要としないため磁性膜が薄く、この電
気抵抗が従来よりも増大しているので、DC方式のよう
に、磁性膜を陰極としたプラズマ放電では放電電流が低
減し、その結果、蒸着テープに保護膜を形成する際の成
膜速度が低下する傾向がある。
[0006] The plasma CVD method is a chemical process in which the energy of plasma generated using an electric field or a magnetic field is used to cause a chemical reaction such as decomposition and synthesis of a reaction gas (raw material gas) to form a film. , DLC with excellent characteristics
A membrane can be obtained. As one mode of a plasma CVD apparatus, there is a DC method. In the DC method, in a vacuum chamber, a plasma discharge is generated between the magnetic film and an anode discharge electrode provided in a reaction chamber, using a magnetic film formed in advance on a film-forming body as a cathode in a vacuum chamber, A protective film is deposited on the magnetic film.
This method is structurally simple and is suitable for industrial mass production. However, as described above, since the MR head tape does not require high output, the magnetic film is thin, and the electric resistance is higher than in the past. In the discharge, the discharge current is reduced, and as a result, the film forming speed when forming the protective film on the vapor deposition tape tends to decrease.

【0007】そこで、成膜速度を高めるために、反応室
を拡張し、或いは、反応室の設置数を増やす等、成膜有
効面積を拡大する手法が試みられている。また、放電電
圧を高くし、反応室内の圧力を高くし、或いは、反応ガ
スに混入するアルゴンガスの割合を増やす等で、反応ガ
スの活性化を促進する等の手法も試みられている。いず
れの手法を採用する場合でも、蒸着テープ表面の磁性膜
に流れる電流、即ち、磁性膜と反応室内の放電電極との
間の放電電流(プラズマ放電電流)を増大させることが
必要である。
Therefore, in order to increase the film formation speed, a method of expanding the effective area of the film formation by expanding the reaction chamber or increasing the number of the reaction chambers has been attempted. In addition, techniques for promoting activation of the reaction gas by increasing the discharge voltage, increasing the pressure in the reaction chamber, or increasing the proportion of argon gas mixed into the reaction gas have been attempted. In either case, it is necessary to increase the current flowing through the magnetic film on the surface of the evaporation tape, that is, the discharge current (plasma discharge current) between the magnetic film and the discharge electrode in the reaction chamber.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のように
放電電圧を高くする等によって、放電電流を無理に増大
させて成膜速度を高めようとすると、安定なグロー放電
からアーク放電を引き起こし、蒸着テープの磁性膜を損
傷する等の結果を招く。また、増大する放電電流を逃が
す方法として、抵抗器を介して蒸着テープに接触させた
金属ローラにより、蒸着テープから正電荷を除去する方
法もある。しかし、この方法では、磁性膜と金属ローラ
との接触面で、ピンポイント状のスパークが発生するこ
とがあり、その場合、蒸着テープを損傷し、製品不良を
招くことになる。そのため、磁性膜に複数の導通ローラ
を接触させることによって電気抵抗を低減するような、
不良削減への取り組みもあったが、製品不良の発生を有
効に防止することはできなかった。また、蒸着テープの
磁性膜の状態、磁性膜の局所的な場所、或いは、蒸着テ
ープのロット等により、電気抵抗が微妙に変化する問題
もあるため、放電電流の変化によって、成膜厚さや品質
にバラツキが生じるおそれがある。
However, if the discharge current is forcibly increased to increase the deposition rate by increasing the discharge voltage as described above, an arc discharge is caused from a stable glow discharge. This results in damage to the magnetic film of the evaporation tape. Further, as a method of releasing the increased discharge current, there is a method of removing a positive charge from the vapor deposition tape by using a metal roller contacting the vapor deposition tape via a resistor. However, in this method, a pinpoint spark may be generated on the contact surface between the magnetic film and the metal roller. In this case, the vapor deposition tape is damaged and a product defect is caused. Therefore, such as reducing the electrical resistance by contacting a plurality of conductive rollers to the magnetic film,
Despite efforts to reduce defects, it was not possible to effectively prevent product defects. In addition, there is a problem that the electric resistance slightly changes depending on the state of the magnetic film of the evaporation tape, the local location of the magnetic film, the lot of the evaporation tape, and the like. May vary.

【0009】更に、プラズマCVD法で保護膜を形成し
た蒸着テープには、正電荷が帯電するので、正電荷の影
響により、蒸着テープをローラに良好に巻き取れないと
いう問題もあった。
Furthermore, since a positive charge is applied to the vapor deposition tape on which the protective film is formed by the plasma CVD method, there is a problem that the vapor deposition tape cannot be satisfactorily wound around a roller due to the influence of the positive charge.

【0010】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、その目的は、磁気テープ等に形成した磁性
膜、即ち被成膜体の金属薄膜を損傷することなく成膜速
度を高めることができ、また、製品不良を招くことな
く、保護膜形成後の被成膜体に帯電する正電荷を有効に
除去できるようにした成膜装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to increase the film forming speed without damaging a magnetic film formed on a magnetic tape or the like, that is, a metal thin film of a film-forming body. Another object of the present invention is to provide a film forming apparatus capable of effectively removing a positive charge charged on a film-formed body after forming a protective film without causing a product defect.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る成膜装置は、反応ガスを導入し、被成
膜体に設けられた金属薄膜上にプラズマ反応によって保
護膜を成膜する反応室を真空チャンバ内に備える成膜装
置において、反応室に対面するように保持された被成膜
体の金属薄膜に向けて電子流を出射する電子放出装置を
備えていることを特徴としている。
In order to achieve the above object, a film forming apparatus according to the present invention introduces a reactive gas, and forms a protective film by a plasma reaction on a metal thin film provided on an object to be formed. In a film forming apparatus having a reaction chamber for forming a film in a vacuum chamber, an electron emission device for emitting an electron flow toward a metal thin film of a film-forming target held so as to face the reaction chamber is provided. Features.

【0012】本発明の成膜装置では、電子放出装置から
出射する電子流を、被成膜体の金属薄膜を介して反応室
に供給することができるので、反応室内でのプラズマの
発生が安定する。同時に、薄膜化によって金属薄膜の電
気抵抗が大幅に増大していても、電子放出装置からの電
子供給により、反応室と金属薄膜との間で放電電流の一
部又は全部を流すことができる。このため、従来のよう
に、被成膜体に接触する金属ローラを介して放電電流を
逃がす手法が要らず、ピンポイント状のスパークの発生
で被成膜体に生じていたような成膜欠損が無く、成膜速
度を向上させることができる。従って、従来のプラズマ
CVD装置で発生した被成膜体の金属薄膜に損傷を与え
るような問題を解消することができる。
In the film forming apparatus of the present invention, the electron flow emitted from the electron emitting device can be supplied to the reaction chamber via the metal thin film of the object to be formed, so that the generation of plasma in the reaction chamber is stable. I do. At the same time, even if the electrical resistance of the metal thin film is greatly increased due to the thinning, a part or all of the discharge current can flow between the reaction chamber and the metal thin film by supplying electrons from the electron emission device. For this reason, there is no need for a method of releasing a discharge current through a metal roller that comes into contact with a film-forming object as in the related art. And the film forming speed can be improved. Therefore, it is possible to solve the problem of damaging the metal thin film of the film-forming object generated by the conventional plasma CVD apparatus.

【0013】また、電子放出装置からの電子供給によっ
て、成膜時に金属薄膜に帯電した正電荷を相殺すること
もできる。本発明で、保護膜を形成することが可能な被
成膜体としては、蒸着テープを含む磁気テープや、磁気
ディスク等の記録媒体、或いは、記録媒体との摺接面
に、金属薄膜として薄型磁性膜を備えたMRヘッド等の
磁気ヘッドを挙げることができる。
Further, by supplying electrons from the electron-emitting device, it is possible to offset the positive charges charged on the metal thin film during film formation. In the present invention, a film-forming object on which a protective film can be formed includes a magnetic tape including a vapor deposition tape, a recording medium such as a magnetic disk, or a thin metal thin film on a sliding contact surface with the recording medium. A magnetic head such as an MR head having a magnetic film can be used.

【0014】本発明の好適な成膜装置では、被成膜体と
して一方の面に金属薄膜を有するテープ状支持体を供給
する供給ローラと、供給ローラによって供給されたテー
プ状支持体の金属膜を反応室に対面させつつ、テープ状
支持体を裏面で接触支持する、回転自在な主ローラと、
主ローラから送られたテープ状支持体を巻き取る巻き取
りローラとを備え、電子放出装置は、保護膜形成前及び
保護膜形成後のいずれか一方の状態のテープ状支持体に
電子流を出射するように配置されている。これにより、
反応室への電子供給を効率良く行うことができ、反応室
でのプラズマ発生が安定する。
In a preferred film forming apparatus of the present invention, a supply roller for supplying a tape-like support having a metal thin film on one surface as a film-forming object, and a metal film of the tape-like support supplied by the supply roller A rotatable main roller that contacts and supports the tape-shaped support on the back surface while facing the reaction chamber,
A winding roller for winding the tape-like support sent from the main roller, and the electron emission device emits an electron stream to the tape-like support in one of a state before and after the formation of the protective film. It is arranged to be. This allows
Electrons can be efficiently supplied to the reaction chamber, and plasma generation in the reaction chamber is stabilized.

【0015】また、本発明の好適な成膜装置では、電子
放出装置は、保護膜形成前及び保護膜形成後のいずれか
一方の状態に加えて、他方の状態のテープ状支持体にも
電子流を出射するように配置されている。これにより、
反応室への電子供給が一層効率良くなり、反応室でのプ
ラズマ発生がより安定する。
Further, in the preferred film forming apparatus of the present invention, the electron-emitting device includes an electron-emitting device on the tape-like support in the other state in addition to one of the states before and after the formation of the protective film. It is arranged to emit a flow. This allows
Electron supply to the reaction chamber becomes more efficient, and plasma generation in the reaction chamber becomes more stable.

【0016】更に、本発明の好適な成膜装置では、被成
膜体として一方の面に金属薄膜を有するテープ状支持体
を供給する供給ローラと、供給ローラによって供給され
たテープ状支持体の金属膜を反応室に対面させつつ、テ
ープ状支持体を裏面で接触支持する、回転自在な主ロー
ラと、主ローラから送られたテープ状支持体を巻き取る
巻き取りローラとを備え、複数個の反応室が、主ローラ
を中心とした放射状位置にそれぞれ配置され、電子放出
装置は、各反応室による保護膜形成前及び保護膜形成後
の状態のテープ状支持体に電子流を出射するように配置
されている。この構成によると、放電電流を増大させて
成膜速度を更に高め、生産性の一層の向上に寄与するこ
とができる。
Further, in the preferred film forming apparatus of the present invention, a supply roller for supplying a tape-like support having a metal thin film on one surface as a film-forming object, and a tape-like support supplied by the supply roller are provided. A rotatable main roller that contacts and supports the tape-shaped support on the back surface while the metal film faces the reaction chamber, and a take-up roller that winds up the tape-shaped support sent from the main roller. Are arranged at radial positions around the main roller, and the electron emission device emits an electron flow to the tape-like support in a state before and after the formation of the protective film by the respective reaction chambers. Are located in According to this configuration, it is possible to further increase the film forming speed by increasing the discharge current, thereby contributing to further improvement in productivity.

【0017】被成膜体の保護膜は、ダイヤモンドライク
カーボンから構成することが硬度の上からも望ましい。
本明細書で言う「ダイヤモンドライクカーボン」は、少
なくともその一部にダイヤモンド構造を有するカーボン
であって、ラマン分光法によりダイヤモンド構造に由来
するピークが観測されるカーボンを意味している。
It is desirable from the viewpoint of hardness that the protective film of the object to be formed is made of diamond-like carbon.
“Diamond-like carbon” referred to in the present specification means carbon having a diamond structure in at least a part thereof and having a peak derived from the diamond structure observed by Raman spectroscopy.

【0018】また、電子放出装置が、電子供給源を有
し、不活性ガスを導入して生成させたプラズマにより電
子流を出射するプラズマ電子銃と、プラズマ電子銃から
の電子流の放射経路を囲んで電子流の放射経路を規制
し、かつ接地電位に保持されて、プラズマ電子銃で生じ
るプラズマ放電を閉じ込めるように構成されている電子
供給室とを備えていることが望ましい。この構成によれ
ば、電子供給室が、プラズマ電子銃からの電子流の放射
経路を規制し、プラズマ電子銃で生じるプラズマ放電を
閉じ込めるので、プラズマ電子銃から電子流の出射が良
好になる。
Further, the electron emission device has an electron supply source, a plasma electron gun for emitting an electron flow by plasma generated by introducing an inert gas, and a radiation path of the electron flow from the plasma electron gun. It is desirable to provide an electron supply chamber which is configured to surround the electron beam emission path and to be kept at the ground potential to confine the plasma discharge generated by the plasma electron gun. According to this configuration, the electron supply chamber regulates the radiation path of the electron flow from the plasma electron gun, and confines the plasma discharge generated by the plasma electron gun, so that the emission of the electron current from the plasma electron gun is improved.

【0019】また、電子供給源は、仕事関数が低く、電
子を放出し易い合金からなるフィラメント、又はタング
ステンからなるフィラメントを加熱し、飛び出した熱電
子をバイアス電圧の印加で出射させるように構成するこ
とができる。この場合、電子供給室に導入される不活性
ガスにより、フィラメントが反応ガスに反応して腐食す
るような問題を防止することができる。電子供給室の電
子流出口と被成膜体との間隙を2mm以下すると、電子
供給室と反応室間での放電の干渉や、電子供給室外での
異常放電を有効に防止することができる。
The electron supply source is configured to heat a filament made of an alloy or a tungsten made of an alloy which has a low work function and easily emits electrons, and emits the emitted thermoelectrons by applying a bias voltage. be able to. In this case, it is possible to prevent a problem that the inert gas introduced into the electron supply chamber causes the filament to react with the reaction gas and corrode. When the gap between the electron outlet of the electron supply chamber and the object to be film-formed is 2 mm or less, interference of discharge between the electron supply chamber and the reaction chamber and abnormal discharge outside the electron supply chamber can be effectively prevented.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下に、添付図面を参照し、実施
形態例に基づいて本発明をより詳細に説明する。実施形態例1 本実施形態例は、本発明に係る成膜装置をプラズマCV
D法を用いる成膜装置に適用した実施形態の一例であっ
て、図1は本実施形態例の成膜装置10を示す概略図で
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in more detail with reference to the accompanying drawings based on embodiments. Embodiment 1 In this embodiment, a film forming apparatus according to the present invention is a plasma CV.
FIG. 1 is a schematic view showing a film forming apparatus 10 according to an embodiment applied to a film forming apparatus using a method D. FIG.

【0021】図1に示すように、成膜装置10は、供給
される非磁性のテープ状支持体(以下、支持体と言う)
12の磁性膜上に、プラズマCVD法により保護膜を成
膜する装置であって、上方に排気装置14を有し、内部
下方に反応室16を有し、内部中央に、反応室16に対
面させるように支持体12を送るテープ送り部18を有
する真空チャンバ20を備えている。真空チャンバ20
の側壁には、本発明の特徴である電子放出装置21が配
設されている。真空チャンバ20内は、排気装置14の
作動により、成膜に必要な圧力に保持される。
As shown in FIG. 1, a film-forming apparatus 10 is supplied with a non-magnetic tape-shaped support (hereinafter referred to as a support).
12, a device for forming a protective film on the magnetic film by a plasma CVD method, having an exhaust device 14 at the upper part, a reaction chamber 16 at the lower part inside, and facing the reaction chamber 16 at the center of the inner part. There is provided a vacuum chamber 20 having a tape feeding section 18 for feeding the support 12 so as to make the support 12 move. Vacuum chamber 20
The electron-emitting device 21 which is a feature of the present invention is disposed on the side wall of. The inside of the vacuum chamber 20 is maintained at a pressure required for film formation by the operation of the exhaust device 14.

【0022】テープ送り部18は、冷却ローラ22と、
冷却ローラ22の上方で水平方向に並ぶ、冷却ローラ2
2より小径の供給ローラ(巻き出しローラ)24、絶縁
ガイドローラ26、28、巻き取りローラ29とを備え
ている。絶縁ガイドローラ26、28は、支持体12を
両側から挟み込むことにより、支持体12に適度のテン
ションを与え、支持体12の円滑な走行を実現してい
る。供給ローラ24、冷却ローラ22、絶縁ガイドロー
ラ26、28、巻き取りローラ29は、それぞれ、支持
体12の幅とほぼ等しい軸方向長さを有する円筒状に形
成されている。供給ローラ24は、矢印A方向に回転し
つつ、絶縁ガイドローラ26を介して、前工程で真空蒸
着法やスパッタ法等によりCo等の磁性膜が成膜された
支持体12を冷却ローラ22に供給する。
The tape feeding section 18 includes a cooling roller 22 and
The cooling roller 2 arranged in a horizontal direction above the cooling roller 22
A supply roller (unwinding roller) 24, an insulating guide roller 26, 28, and a winding roller 29 having a diameter smaller than 2 are provided. The insulating guide rollers 26 and 28 hold the support 12 from both sides to provide an appropriate tension to the support 12 and realize smooth running of the support 12. The supply roller 24, the cooling roller 22, the insulating guide rollers 26 and 28, and the winding roller 29 are each formed in a cylindrical shape having an axial length substantially equal to the width of the support 12. The supply roller 24 rotates the support 12 on which a magnetic film such as Co is formed by a vacuum deposition method, a sputtering method, or the like in a previous process via the insulating guide roller 26, while rotating in the direction of arrow A, to the cooling roller 22. Supply.

【0023】冷却ローラ22は、矢印B方向に定速回転
するように回転自在に支持され、供給ローラ22によっ
て供給された支持体12の磁性膜を反応室16に対面さ
せつつ、支持体12を裏面で接触支持する。冷却ローラ
22は、液状の冷媒が内部を循環することによって表面
が冷却されており、接触支持した支持体12を冷却し、
成膜時の熱で変形や損傷しないように保護する。冷却ロ
ーラ22を経由した支持体12は、更に絶縁ガイドロー
ラ28を経由して、矢印C方向に回転する巻き取りロー
ラ29に巻き取られる。
The cooling roller 22 is rotatably supported so as to rotate at a constant speed in the direction of arrow B. The cooling roller 22 holds the support 12 while the magnetic film of the support 12 supplied by the supply roller 22 faces the reaction chamber 16. Contact support on the back side. The surface of the cooling roller 22 is cooled by a liquid refrigerant circulating therein, and cools the contact-supported support 12.
Protect from deformation and damage caused by heat during film formation. The support 12 having passed through the cooling roller 22 is further taken up by a take-up roller 29 rotating in the direction of arrow C via an insulating guide roller 28.

【0024】反応室16は、ガス導入口28から反応ガ
ス(原料ガス)を導入し、支持体12に形成された磁性
膜上に、プラズマ反応によって保護膜を成膜するもので
あって、放電電極25を内部に有している。また、反応
室16は、石英、パイレックスガラス(商標)、プラス
チック等の絶縁材や、表面が絶縁処理された金属材料に
よって形成することができる。
The reaction chamber 16 is for introducing a reaction gas (raw material gas) through a gas inlet 28 and forming a protective film on the magnetic film formed on the support 12 by a plasma reaction. An electrode 25 is provided inside. The reaction chamber 16 can be formed of an insulating material such as quartz, Pyrex glass (trademark), plastic, or the like, or a metal material whose surface is insulated.

【0025】放電電極25は、真空チャンバ20の外部
に配置された直流電源27に、オン/オフ切り替え可能
に接続されており、直流電源27のオン時には、支持体
12上の磁性膜との間に+500V〜+2000Vの電
圧が印加される。また、放電電極25の形状は、反応ガ
スの透過を良好にし、電界が均一になるようにし、更に
柔軟性が得られるようにするため、例えばメッシュ状に
構成されることが望ましい。放電電極25の使用材料と
して、銅を挙げることができるが、導電性を有する金属
であればいずれでも良く、例えばステンレス鋼、黄銅
(真鍮)、金(Au)等も挙げることができる。また、
本実施形態例では、反応ガスとして、メタン、エタン、
ブタン、エチレン、ブチレン、ベンセン等を用いること
ができ、これらの反応ガスを、保護膜に必要な膜質に応
じて適宜選択することにより、支持体12の磁性膜上
に、硬質のDLC膜等を成膜することができる。
The discharge electrode 25 is connected to a DC power supply 27 disposed outside the vacuum chamber 20 so as to be able to be switched on / off. When the DC power supply 27 is turned on, the discharge electrode 25 is connected to the magnetic film on the support 12. Is applied with a voltage of + 500V to + 2000V. Further, the shape of the discharge electrode 25 is desirably, for example, a mesh shape in order to make the permeation of the reaction gas good, to make the electric field uniform, and to obtain more flexibility. Copper can be used as a material for the discharge electrode 25, but any conductive metal may be used, and examples thereof include stainless steel, brass (brass), and gold (Au). Also,
In the present embodiment, methane, ethane,
Butane, ethylene, butylene, benzene and the like can be used. By appropriately selecting these reaction gases according to the film quality required for the protective film, a hard DLC film or the like is formed on the magnetic film of the support 12. A film can be formed.

【0026】電子放出装置21は、プラズマ電子銃と、
電子供給室30とを備えている。プラズマ電子銃は、電
子供給源32を有し、ガス導入口34からアルゴン等の
不活性ガスを導入して生成させたプラズマにより電子流
を出射する。電子供給室30は、プラズマ電子銃からの
電子流の放射経路を囲んで電子流の放射経路を規制し、
かつ接地電位に保持されて、プラズマ電子銃で生じるプ
ラズマ放電を閉じ込めるように構成されている。
The electron emission device 21 includes a plasma electron gun,
An electron supply chamber 30 is provided. The plasma electron gun has an electron supply source 32, and emits an electron flow by plasma generated by introducing an inert gas such as argon from a gas inlet 34. The electron supply chamber 30 regulates the radiation path of the electron flow by surrounding the radiation path of the electron flow from the plasma electron gun,
Further, it is configured to be held at the ground potential and confine the plasma discharge generated by the plasma electron gun.

【0027】また、電子供給室30には、真空チャンバ
20外部に配設された補助排気装置36が連通してい
る。補助排気装置36は、電子供給室30内を排気する
ことにより、反応室16から流出する反応ガスによって
電子供給源32が汚染されたり、反応室16内の放電と
干渉したりしないようにする。
An auxiliary exhaust device 36 provided outside the vacuum chamber 20 communicates with the electron supply chamber 30. The auxiliary exhaust device 36 exhausts the inside of the electron supply chamber 30 so that the reaction gas flowing out of the reaction chamber 16 does not contaminate the electron supply source 32 or interfere with the discharge in the reaction chamber 16.

【0028】本実施形態例の成膜装置10は、以下のよ
うに作動する。即ち、保護膜の成膜に際して、テープ送
り部18が、支持体12を、供給ローラ24から絶縁ガ
イドローラ26、冷却ロール22、絶縁ガイドロール2
8を経由して、巻き取りローラ29に向けて一定速度で
送る。この際、冷却ローラ22によって反応室16との
対面位置に保持された支持体12の磁性膜と、反応室1
6内の放電電極25との間に直流電源27から電圧が印
加され、反応室16内でプラズマが発生する。
The film forming apparatus 10 of this embodiment operates as follows. That is, when forming the protective film, the tape feeding unit 18 moves the support 12 from the supply roller 24 to the insulating guide roller 26, the cooling roll 22, and the insulating guide roll 2.
8 and is fed at a constant speed toward the take-up roller 29. At this time, the magnetic film of the support 12 held at a position facing the reaction chamber 16 by the cooling roller 22 and the reaction chamber 1
A voltage is applied from a DC power supply 27 to the discharge electrode 25 in the reactor 6, and plasma is generated in the reaction chamber 16.

【0029】これにより、反応室16に導入される反応
ガスが、プラズマのエネルギーによって活性化し、活性
化したガス分子が支持体12上で基底状態に戻り、連鎖
的に分子が繋がる。この際、一部の水素原子がH2ガス
分子となって排気装置14から排気され、アモルファス
状のDLC膜が、支持体12の磁性膜上に保護膜として
被着堆積する。また、反応室16から流出しても成膜に
使われなかった反応ガスは、排気装置14から真空チャ
ンバ20外部に排気される。
As a result, the reaction gas introduced into the reaction chamber 16 is activated by the energy of the plasma, and the activated gas molecules return to the ground state on the support 12, and the molecules are connected in a chain. At this time, some of the hydrogen atoms become H 2 gas molecules and are exhausted from the exhaust device 14, and the amorphous DLC film is deposited and deposited as a protective film on the magnetic film of the support 12. The reaction gas that has flowed out of the reaction chamber 16 but has not been used for film formation is exhausted from the exhaust device 14 to the outside of the vacuum chamber 20.

【0030】反応室16で、プラズマ放電を継続的に安
定して実施するには、陰極、即ち支持体12の磁性膜か
ら放電電極25に電子流が安定に供給されなければなら
ない。本成膜装置10では、磁性膜への電子流の供給源
としての電子放出装置21が、保護膜形成後の状態の支
持体12に電子流を出射するように配置されている。即
ち、電子供給室30では、電子供給源32で発生した電
子が、アルゴン等のガス分子と衝突し、電子励起のプラ
ズマを発生させ、プラズマ中で生成された電子が高電圧
で引き出され、冷却ローラ22で支持されて走行する支
持体12の磁性膜に出射される。
In order to continuously and stably perform the plasma discharge in the reaction chamber 16, the electron flow must be stably supplied to the discharge electrode 25 from the cathode, that is, the magnetic film of the support 12. In the present film forming apparatus 10, an electron emitting device 21 as a supply source of the electron flow to the magnetic film is arranged so as to emit the electron flow to the support 12 after the formation of the protective film. That is, in the electron supply chamber 30, the electrons generated in the electron supply source 32 collide with gas molecules such as argon to generate electron-excited plasma, and the electrons generated in the plasma are extracted at a high voltage and cooled. The light is emitted to the magnetic film of the support 12 that travels while being supported by the rollers 22.

【0031】電子放出装置21の電子供給室30から出
射された電子流は、支持体12の磁性膜を流れ、反応室
16の近傍で電界に引かれて空間に飛び出し、反応室1
6内のプラズマ反応で生じたガス分子と衝突し、反応ガ
スをイオン化し、プラズマを継続的に発生させる。この
際の電流は電子と逆の流れとなる。これにより、支持体
12に流れる接地電流が安定するので、放電電圧が低減
し、グロー放電が安定するとともに、アーク放電が減少
する。その結果、製品の歩留まりの向上が期待できるよ
うになる。また、電子供給室30には、プラズマ発生の
ために不活性ガスが導入されているので、電子供給源3
2にタングステンフィラメントが使用されていても、タ
ングステンフィラメントは、成膜に使われず反応室16
から流出した反応ガスに反応することはなく、腐食等で
使用寿命が短くなることはない。
The electron flow emitted from the electron supply chamber 30 of the electron emission device 21 flows through the magnetic film of the support 12, is attracted by an electric field near the reaction chamber 16, and jumps into the space.
6 collides with gas molecules generated by the plasma reaction, ionizes the reaction gas, and continuously generates plasma. The current at this time has a flow opposite to that of the electrons. As a result, the ground current flowing through the support 12 is stabilized, so that the discharge voltage is reduced, the glow discharge is stabilized, and the arc discharge is reduced. As a result, improvement in product yield can be expected. Further, since an inert gas is introduced into the electron supply chamber 30 for generating plasma, the electron supply source 3
2 uses a tungsten filament, the tungsten filament is not used for film formation and the reaction chamber 16 is not used.
It does not react with the reaction gas flowing out of the reactor, and the service life is not shortened due to corrosion or the like.

【0032】本成膜装置10によれば、テープ状支持体
12以外に、MRヘッドに設けられた薄型磁性膜上に保
護膜を成膜することもできる。その場合、50〜200
nmのように極めて薄い保護膜を得ることができる。こ
れにより、蒸着テープの記録層である磁性膜と、MRヘ
ッドとの間のスペーシングロスを減少することができ
る。
According to the film forming apparatus 10, a protective film can be formed on a thin magnetic film provided on an MR head, in addition to the tape-like support 12. In that case, 50-200
It is possible to obtain an extremely thin protective film such as nm. Thereby, the spacing loss between the magnetic film, which is the recording layer of the vapor deposition tape, and the MR head can be reduced.

【0033】本成膜装置10では、支持体12側の磁性
膜の表面状態によって、成膜する場所やロットによって
電気抵抗が微妙に変化するような問題が解消され、放電
電流の変化で成膜厚さや品質にばらつきが出るという問
題が解消できる。更に、異常放電、異物付着による異常
部分のエラーが少なく、優れた記録メディアを実現する
ことができる。また、本成膜装置10では、支持体12
の磁性膜上にDLC保護膜を形成し、蒸着テープを製造
したが、電子放出装置21を備えない従来型の成膜装置
で蒸着テープを成膜する際に比べて、反応室16内の放
電電極25と磁性膜とに印加する実効電圧が10%低減
し、異常放電の発生頻度が50%以上低減した。また、
成膜速度は、従来型の成膜装置を用いて成膜する場合に
比べて20%向上した。
The film forming apparatus 10 solves the problem that the electric resistance is slightly changed depending on the film forming place or lot depending on the surface condition of the magnetic film on the support 12 side. The problem of variation in thickness and quality can be solved. Furthermore, an error in an abnormal portion due to abnormal discharge or foreign matter adhesion is small, and an excellent recording medium can be realized. Further, in the present film forming apparatus 10, the support 12
Although a DLC protective film was formed on the magnetic film and a vapor deposition tape was manufactured, the discharge in the reaction chamber 16 was smaller than when a vapor deposition tape was formed using a conventional film forming apparatus without the electron emission device 21. The effective voltage applied to the electrode 25 and the magnetic film was reduced by 10%, and the frequency of abnormal discharge was reduced by 50% or more. Also,
The film formation rate was improved by 20% as compared with the case of forming a film using a conventional film forming apparatus.

【0034】実施形態例2 図2は、本実施形態例の成膜装置13を示す概略図であ
る。本実施形態例の成膜装置13の構成のうち実施形態
例1の成膜装置10と異なる構成は、電子放出装置が、
保護膜形成後の状態の支持体12に電子流を出射する位
置に加えて、保護膜形成前の状態の支持体12に電子流
を出射できる位置にも配置されたことである。即ち、本
実施形態例の成膜装置13では、電子放出装置21が、
反応室16の外周を取り囲むように形成された電子供給
室30を備えており、反応室16による保護膜形成前及
び保護膜形成後の状態の支持体12に電子流を同時に出
射することができる。
Embodiment 2 FIG. 2 is a schematic view showing a film forming apparatus 13 of this embodiment. Among the configurations of the film forming apparatus 13 of the present embodiment, the configuration different from the film forming apparatus 10 of the first embodiment is that the electron emission device is
That is, in addition to the position where the electron flow is emitted to the support 12 in a state after the formation of the protective film, it is also arranged at a position where the electron flow can be emitted to the support 12 in a state before the formation of the protective film. That is, in the film forming apparatus 13 of the present embodiment, the electron emitting device 21
An electron supply chamber 30 is formed so as to surround the outer periphery of the reaction chamber 16, and an electron current can be simultaneously emitted to the support 12 before and after the formation of the protective film by the reaction chamber 16. .

【0035】本成膜装置13では、電子供給源32が、
反応室16の外周を取り囲む電子供給室30の、支持体
12への保護膜形成前及び保護膜形成後の位置にそれぞ
れ位置するように設けられている。電子供給室30には
1個の補助排気装置36が連通し、双方の電子供給源3
2にはガス導入口34がそれぞれ連通している。本実施
形態例の電子供給室30も、実施形態例1と同様、接地
電位に保持され、かつ、ガス導入口34から反応ガスが
導入される電子供給源32を含むプラズマ電子銃からの
電子流の放射経路を囲み、電子流の放射経路を規制し
て、プラズマ電子銃で生じるプラズマ放電を閉じ込める
ように構成されている。この構成により、反応室16へ
の電子供給を、実施形態例1の成膜装置10より更に効
率良く行うことができ、放電電流を増大させて成膜速度
を更に高め、生産性の向上に寄与することができる。
In the film forming apparatus 13, the electron supply source 32
The electron supply chamber 30 surrounding the outer periphery of the reaction chamber 16 is provided at positions before and after formation of the protective film on the support 12. One auxiliary exhaust device 36 communicates with the electron supply chamber 30, and both electron supply sources 3
The gas inlets 34 communicate with each other. Similarly to the first embodiment, the electron supply chamber 30 of the present embodiment is also maintained at the ground potential, and the electron flow from the plasma electron gun including the electron supply source 32 into which the reaction gas is introduced from the gas inlet 34. And restricts the radiation path of the electron flow to confine the plasma discharge generated by the plasma electron gun. With this configuration, electrons can be more efficiently supplied to the reaction chamber 16 than in the film forming apparatus 10 of the first embodiment, and the discharge current is increased to further increase the film forming speed, contributing to an improvement in productivity. can do.

【0036】実施形態例3 図3は、実施形態例2の成膜装置13の成膜速度を更に
高めた成膜装置15を示す概略図である。本成膜装置1
5では、電子放出装置として、3個の反応室16A、1
6B、16Cが、冷却ロール22を中心とした放射状位
置にそれぞれ配置され、電子供給室30A、30B、3
0C、30Dが、それぞれ、反応室16A、16B、1
6Cによる保護膜形成前及び保護膜形成後の状態の支持
体12に電子流を出射するように配置されている。
Third Embodiment FIG. 3 is a schematic view showing a film forming apparatus 15 in which the film forming speed of the film forming apparatus 13 of the second embodiment is further increased. Main film forming apparatus 1
5, three reaction chambers 16A, 1
6B and 16C are arranged at radial positions around the cooling roll 22, respectively, and the electron supply chambers 30A, 30B,
0C and 30D are the reaction chambers 16A, 16B and 1 respectively.
The electron flow is arranged to be emitted to the support 12 before and after the formation of the protective film by 6C.

【0037】電子供給室30A〜30Dには、それぞ
れ、電子供給源32と、電子供給源32の不活性ガスを
導入するガス導入口34とが設けられている。電子供給
室30A〜30Dは、それぞれ、実施形態例1と同様、
接地電位に保持され、かつ、電子供給源32を含むプラ
ズマ電子銃からの電子流の放射経路を囲み、電子流の放
射経路を規制して、プラズマ電子銃で生じるプラズマ放
電を閉じ込める。また、絶縁ガイドローラは、実施形態
例2の絶縁ガイドローラ26、28よりも間隔を狭めて
配置され、それぞれ、上部ローラ26A、28A、及び
下部ローラ26B、28Bとして構成されている。この
ような本成膜装置15では、冷却ローラ22の周囲3箇
所の反応室16A〜16Cの存在により、実施形態例2
の成膜装置13よりも更に放電電流が増大し、成膜速度
が更に向上する。
Each of the electron supply chambers 30A to 30D is provided with an electron supply source 32 and a gas inlet 34 for introducing an inert gas from the electron supply source 32. Each of the electron supply chambers 30A to 30D is similar to the first embodiment.
It is maintained at the ground potential and surrounds the radiation path of the electron flow from the plasma electron gun including the electron supply source 32, restricts the radiation path of the electron flow, and confines the plasma discharge generated by the plasma electron gun. The insulating guide rollers are arranged with a smaller interval than the insulating guide rollers 26 and 28 of the second embodiment, and are configured as upper rollers 26A and 28A and lower rollers 26B and 28B, respectively. In such a film forming apparatus 15 according to the second embodiment, three reaction chambers 16 </ b> A to 16 </ b> C around the cooling roller 22 exist.
The discharge current is further increased as compared with the film forming apparatus 13 and the film forming speed is further improved.

【0038】以上のように、本発明に係る実施形態例1
〜3の成膜装置10、13、15によると、磁気テー
プ、磁気ディスク等の記録媒体の磁性膜上に保護膜を成
膜する際、又は磁気ヘッドの薄型磁性膜上に保護膜を成
膜する際に、高生産性、高歩留まり等を実現する成膜装
置として良好に機能し、更なる高記録密度、高信頼性、
低価格化等を実現することができる。
As described above, the first embodiment according to the present invention
According to the film forming apparatuses 10, 13, and 15, the protective film is formed on a magnetic film of a recording medium such as a magnetic tape or a magnetic disk, or the protective film is formed on a thin magnetic film of a magnetic head. In addition, it works well as a film forming device that achieves high productivity, high yield, etc., and achieves higher recording density, higher reliability,
Cost reduction and the like can be realized.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被成膜体の金属薄膜に向けて電子流を出射する電子放出
装置を備えたので、被成膜体の金属薄膜を損傷すること
なく成膜速度を高めることができ、また、製品不良を招
くことなく、保護膜形成後の被成膜体に帯電する正電荷
を有効に除去することができる。
As described above, according to the present invention,
Since the electron emission device that emits an electron stream toward the metal thin film of the film-forming object is provided, the film-forming speed can be increased without damaging the metal thin film of the film-forming object, and product defects are caused. Thus, the positive charges on the object after the formation of the protective film can be effectively removed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る実施形態例1の成膜装置を示す概
略図である。
FIG. 1 is a schematic view showing a film forming apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明に係る実施形態例2の成膜装置を示す概
略図である。
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a film forming apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明に係る実施形態例3の成膜装置を示す概
略図である。
FIG. 3 is a schematic view illustrating a film forming apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、13、15……成膜装置、12……テープ状支持
体、14……排気装置、16、16A、16B、16C
……反応室、18……テープ送り部、20……真空チャ
ンバ、21……電子放出装置、22……冷却ローラ、2
4……供給ローラ、25……放電電極、26、28……
絶縁ガイドローラ、26A、28A……上部ローラ、2
6B、28B……下部ローラ、27……直流電源、2
8、34……ガス導入口、29……巻き取りローラ、3
0、30A、30B、30C、30D……電子供給室、
32……電子供給源、36……補助排気装置。
10, 13, 15 ... film forming device, 12 ... tape-shaped support, 14 ... exhaust device, 16, 16A, 16B, 16C
... Reaction chamber, 18 tape feeding section, 20 vacuum chamber, 21 electron emission device, 22 cooling roller, 2
4 supply roller, 25 discharge electrode, 26, 28
Insulating guide rollers, 26A, 28A ... upper rollers, 2
6B, 28B: Lower roller, 27: DC power supply, 2
8, 34 gas inlet, 29 winding roller, 3
0, 30A, 30B, 30C, 30D ... Electron supply room,
32: an electron supply source, 36: an auxiliary exhaust device.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西山 英俊 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 Fターム(参考) 4K030 BA28 CA07 CA12 DA02 DA08 GA14 LA20 5D006 AA01 DA03 EA03 5D112 AA07 AA22 AA24 BC05 FA10 FB21  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor Hidetoshi Nishiyama 6-35, Kita-Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Sony Corporation F-term (reference) 4K030 BA28 CA07 CA12 DA02 DA08 GA14 LA20 5D006 AA01 DA03 EA03 5D112 AA07 AA22 AA24 BC05 FA10 FB21

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 反応ガスを導入し、被成膜体に設けられ
た金属薄膜上にプラズマ反応によって保護膜を成膜する
反応室を真空チャンバ内に備える成膜装置において、 反応室に対面するように保持された被成膜体の金属薄膜
に向けて電子流を出射する電子放出装置を備えているこ
とを特徴とする成膜装置。
1. A film forming apparatus in which a reaction gas is introduced and a reaction chamber for forming a protective film by a plasma reaction on a metal thin film provided on a film formation object is provided in a vacuum chamber, and the reaction apparatus faces the reaction chamber. A film-forming apparatus which emits an electron stream toward the metal thin film of the film-forming target held as described above.
【請求項2】 被成膜体として一方の面に金属薄膜を有
するテープ状支持体を供給する供給ローラと、 供給ローラによって供給されたテープ状支持体の金属膜
を反応室に対面させつつ、テープ状支持体を裏面で接触
支持する、回転自在な主ローラと、 主ローラから送られたテープ状支持体を巻き取る巻き取
りローラとを備え、 電子放出装置は、保護膜形成前及び保護膜形成後のいず
れか一方の状態のテープ状支持体に電子流を出射するよ
うに配置されていることを特徴とする請求項1に記載の
成膜装置。
2. A supply roller for supplying a tape-like support having a metal thin film on one surface as a film-forming object, and a metal film of the tape-like support supplied by the supply roller facing a reaction chamber. A rotatable main roller that contacts and supports the tape-shaped support on the back surface; and a take-up roller that winds up the tape-shaped support sent from the main roller. 2. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the film forming apparatus is arranged so as to emit an electron current to the tape-shaped support in one of the states after the formation.
【請求項3】 電子放出装置は、保護膜形成前及び保護
膜形成後のいずれか一方の状態に加えて、他方の状態の
テープ状支持体にも電子流を出射するように配置されて
いることを特徴とする請求項2に記載の成膜装置。
3. The electron emission device is arranged so as to emit an electron current to the tape-like support in the other state in addition to one of the states before and after the formation of the protective film. The film forming apparatus according to claim 2, wherein:
【請求項4】 被成膜体として一方の面に金属薄膜を有
するテープ状支持体を供給する供給ローラと、 供給ローラによって供給されたテープ状支持体の金属膜
を反応室に対面させつつ、テープ状支持体を裏面で接触
支持する、回転自在な主ローラと、 主ローラから送られたテープ状支持体を巻き取る巻き取
りローラとを備え、 複数個の反応室が、主ローラを中心とした放射状位置に
それぞれ配置され、 電子放出装置は、各反応室による保護膜形成前及び保護
膜形成後の状態のテープ状支持体に電子流を出射するよ
うに配置されていることを特徴とする請求項1に記載の
成膜装置。
4. A supply roller for supplying a tape-like support having a metal thin film on one surface as a film-forming object, and a metal film of the tape-like support supplied by the supply roller facing the reaction chamber. A rotatable main roller that contacts and supports the tape-shaped support on the back surface, and a take-up roller that winds up the tape-shaped support sent from the main roller, wherein a plurality of reaction chambers are arranged around the main roller. The electron emission device is arranged so as to emit an electron flow to the tape-shaped support in a state before and after the formation of the protective film by each reaction chamber. The film forming apparatus according to claim 1.
【請求項5】 電子放出装置が、 電子供給源を有し、不活性ガスを導入して生成させたプ
ラズマにより電子流を出射するプラズマ電子銃と、 プラズマ電子銃からの電子流の放射経路を囲んで電子流
の放射経路を規制し、かつ接地電位に保持されて、プラ
ズマ電子銃で生じるプラズマ放電を閉じ込めるように構
成されている電子供給室と、 を備えていることを特徴とする請求項1から4のうちの
いずれか1項に記載の成膜装置。
5. An electron emission device comprising: a plasma electron gun having an electron supply source for emitting an electron flow by plasma generated by introducing an inert gas; and a radiation path of the electron flow from the plasma electron gun. And an electron supply chamber configured to restrict a radiation path of the electron flow by being surrounded and to be held at a ground potential to confine a plasma discharge generated by the plasma electron gun. The film forming apparatus according to any one of items 1 to 4.
【請求項6】 電子供給室の電子流出口と被成膜体との
間隙は、2mm以下であることを特徴とする請求項5に
記載の成膜装置。
6. The film forming apparatus according to claim 5, wherein a gap between the electron outlet of the electron supply chamber and the object to be formed is 2 mm or less.
【請求項7】 電子供給源は、仕事関数が低く、電子を
放出し易い合金からなるフィラメント、又はタングステ
ンからなるフィラメントを加熱し、飛び出した熱電子を
バイアス電圧の印加で出射させるように構成されている
ことを特徴とする請求項5又は6に記載の成膜装置。
7. An electron supply source is configured to heat a filament made of an alloy or a tungsten made of an alloy which has a low work function and easily emits electrons, and emits the emitted thermoelectrons by applying a bias voltage. The film forming apparatus according to claim 5, wherein:
【請求項8】 被成膜体の保護膜は、ダイヤモンドライ
クカーボンからなることを特徴とする請求項1から7の
うちのいずれか1項に記載の成膜装置。
8. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the protective film of the object to be formed is made of diamond-like carbon.
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