JP2002303814A - Optical scanner - Google Patents

Optical scanner

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JP2002303814A
JP2002303814A JP2001104538A JP2001104538A JP2002303814A JP 2002303814 A JP2002303814 A JP 2002303814A JP 2001104538 A JP2001104538 A JP 2001104538A JP 2001104538 A JP2001104538 A JP 2001104538A JP 2002303814 A JP2002303814 A JP 2002303814A
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light
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light beam
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Kenji Onishi
健司 大西
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical scanner which can maintain excellent images with simple constitution even when a beam diameter varies owing to the influence of temperature variation, etc. SOLUTION: A detecting means detects beam diameter variation in a vertical scanning direction (100, 102) and when the detection result exceeds a permissible value, stationary light intensity is adjusted (104, 106) by changing the reference voltage of an LD driving circuit. Then the detecting means detects beam diameter variation in a horizontal scanning direction (108); when the detection result exceeds a permissible value, the RLC circuit constant of the LD driving circuit is obtained and resistance R is varied to vary the overshoot quantity in the rising of an LD driving current waveform, thereby adjusting the rising light intensity (110, 112).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光走査装置にかか
り、特に、画像情報に基づき半導体レーザ(LD)等の
発光源を点灯し、該発光源から出力された光ビームによ
って感光体を光走査することにより画像を形成するレー
ザビームプリンタ、デジタル複写機等の電子写真装置に
設けられた光走査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical scanning device, and more particularly, to a light source such as a semiconductor laser (LD) which is turned on based on image information, and a photoreceptor is irradiated with a light beam output from the light source. The present invention relates to an optical scanning device provided in an electrophotographic apparatus such as a laser beam printer and a digital copying machine that forms an image by scanning.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年のレーザビームプリンタやデジタル
複写機には、光ビームを感光材料や感光体上に走査させ
る光走査装置が設けられている。この種の光走査装置と
しては、例えば図8に示すようなものがある。図8に示
す光走査装置は、光源200から射出された光ビーム
を、集光レンズ群202を介して回転多面鏡204へ照
射すると共に、該回転多面鏡204に照射された光ビー
ムを該回転多面鏡204の回転に伴って移動する反射面
204Aによって反射することにより、結像レンズ20
6を介して感光体ドラム208の軸方向に沿って走査露
光するように構成したものである。なお、回転多面鏡2
04の回転によって光ビームが走査される方向を主走査
方向、主走査方向と直交する方向を副走査方向という。
2. Description of the Related Art Recent laser beam printers and digital copiers are provided with an optical scanning device for scanning a light beam on a photosensitive material or a photosensitive member. FIG. 8 shows an example of this type of optical scanning device. The optical scanning device shown in FIG. 8 irradiates a light beam emitted from a light source 200 to a rotating polygon mirror 204 via a condenser lens group 202 and also irradiates the light beam emitted to the rotating polygon mirror 204 to the rotating polygon mirror 204. By being reflected by the reflecting surface 204A that moves with the rotation of the polygon mirror 204, the imaging lens 20
The scanning exposure is carried out along the axial direction of the photosensitive drum 208 via the reference numeral 6. In addition, the rotating polygon mirror 2
The direction in which the light beam is scanned by the rotation of 04 is called the main scanning direction, and the direction orthogonal to the main scanning direction is called the sub-scanning direction.

【0003】近年のデジタル化技術の進歩と画像処理技
術の発達に伴って、光走査装置の高解像度化がますます
進み、一般的な光走査装置のビーム径である50μmか
ら80μmよりも小さいドットで画像を形成する要求が
高まってきている。例えば、1200dpiの解像度を
得るためには21μm、2400dpiの解像度を得る
ためには11μm単位での画像解像力が要求される。そ
こでこのような光走査装置は、半導体レーザ(以下、L
Dという)の光強度や点灯時間等を高精度に調整するこ
とで、高解像度で画像を形成できるようにしている。
[0003] With the recent progress of digitization technology and image processing technology, the resolution of optical scanning devices has been further increased, and dots smaller than the beam diameter of a general optical scanning device of 50 μm to 80 μm have been developed. There is an increasing demand for forming an image on a computer. For example, to obtain a resolution of 1200 dpi, an image resolution of 21 μm is required in units of 11 μm to obtain a resolution of 2400 dpi. Therefore, such an optical scanning device is a semiconductor laser (hereinafter referred to as L
By adjusting the light intensity, lighting time, and the like with high precision, it is possible to form an image with high resolution.

【0004】ところで、レーザプリンタやデジタル複写
機などの画像形成装置は、温度変動等に起因する光走査
装置の変形やレンズの歪により、光ビームの焦点位置が
変動する。焦点位置が変動すると感光体上のビーム径が
変化し、画質としては光走査装置のビーム径よりも小さ
いドットで画像形成するような細線や、ハーフトーン等
の再現性が悪化する。
[0004] In an image forming apparatus such as a laser printer or a digital copier, the focal position of a light beam fluctuates due to deformation of an optical scanning device or distortion of a lens due to temperature fluctuation or the like. When the focal position fluctuates, the beam diameter on the photoreceptor changes, and as image quality, reproducibility of fine lines and halftones that form an image with dots smaller than the beam diameter of the optical scanning device deteriorates.

【0005】図9には、LDの発光パワーを一定にした
場合の種々のビーム径における光強度分布を示す。図9
に示すように、LDの発光パワーが一定でも、焦点位置
がずれてビーム径が太くなると、光ビーム中心での光強
度が低下することがわかる。
FIG. 9 shows light intensity distributions at various beam diameters when the light emission power of the LD is kept constant. FIG.
As shown in the graph, even if the light emission power of the LD is constant, if the focus position is shifted and the beam diameter is increased, the light intensity at the center of the light beam is reduced.

【0006】図10(a)には主走査方向及び副走査方
向のビーム径が適正な場合の描画状態を示し、図10
(b)には主走査方向のビーム径が太くなった場合の描
画状態を示し、図10(c)には副走査方向のビーム径
が太くなった場合の描画状態を示す。
FIG. 10A shows a drawing state when the beam diameters in the main scanning direction and the sub-scanning direction are appropriate.
FIG. 10B shows a drawing state when the beam diameter in the main scanning direction becomes large, and FIG. 10C shows a drawing state when the beam diameter in the sub-scanning direction becomes large.

【0007】図10(a)に示すように、主走査方向の
線幅は副走査方向のビーム径に依存し、副走査方向の線
幅は主走査方向のビーム径とレーザ点灯時間に依存す
る。副走査方向の線幅が1ドット以下のような場合、レ
ーザ点灯時間によって光ビームの中心光強度が異なる。
As shown in FIG. 10A, the line width in the main scanning direction depends on the beam diameter in the sub scanning direction, and the line width in the sub scanning direction depends on the beam diameter in the main scanning direction and the laser lighting time. . When the line width in the sub-scanning direction is 1 dot or less, the central light intensity of the light beam differs depending on the laser lighting time.

【0008】図10(b)に示すように、主走査方向の
ビーム径が太くなると、同じレーザ点灯時間に対する光
ビームの中心強度が低下して画像形成幅が減少するた
め、副走査方向の線幅が細くなる。
As shown in FIG. 10B, when the beam diameter in the main scanning direction increases, the center intensity of the light beam for the same laser lighting time decreases, and the image forming width decreases. The width becomes thin.

【0009】図10(c)に示すように、副走査方向の
ビーム径が太くなると、光ビームの中心強度が低下し、
画像が形成される幅が狭くなるため、主走査方向の線幅
が細くなる。
As shown in FIG. 10C, when the beam diameter in the sub-scanning direction increases, the center intensity of the light beam decreases,
Since the width in which an image is formed becomes narrow, the line width in the main scanning direction becomes narrow.

【0010】また、図10(b)、(c)に示した状態
よりさらにビーム径が太くなると、細線が描画できなく
なってしまう、という問題がある。さらに、同様の理由
により、ビーム径が太くなるとハイライト部の再現性や
ハーフトーンの再現性も悪化する。
Further, if the beam diameter becomes larger than that shown in FIGS. 10B and 10C, there is a problem that a thin line cannot be drawn. Further, for the same reason, when the beam diameter increases, the reproducibility of the highlight portion and the reproducibility of the halftone also deteriorate.

【0011】そこで、この種の問題を解決するために、
特開平1−292311号公報や特開平7−20395
号公報に記載の技術では、ビーム検出手段により走査ビ
ームのビーム径の変動を検出し、該検出結果に基づいて
光走査装置内部の光学部品を移動させて光ビームの焦点
位置を調整して感光体上のビーム径を安定させている。
Therefore, in order to solve this kind of problem,
JP-A 1-292211 and JP-A 7-20395
In the technology described in Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-260, the beam diameter of a scanning beam is detected by a beam detecting unit, and based on the detection result, an optical component inside the optical scanning device is moved to adjust the focal position of the light beam and to expose the light. The beam diameter on the body is stabilized.

【0012】特開平1−292311号公報に記載の技
術では、図11に示すように、感光体210と等価な位
置にCCD212を配置し、レーザ素子216に図12
(A)に示すようなON/OFFする信号を入力するこ
とにより光ビームをCCD212に照射する。CCD2
12上の露光分布は図12(B)に示すように、レーザ
光束のスポット径に応じた強弱分布となるので、CCD
212の各画素の出力は図12(C)に示すような分布
となり、該信号(各画素の出力信号)に基づいて、コン
トラスト比を算出して光ビームのビーム径変動を検出す
る。そして、その結果に基づいてコリメータレンズ21
4を光軸方向に焦点調整手段218としてのステッピン
グモータで移動させて感光体210上のビーム径を安定
化させている。
In the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-292311, as shown in FIG. 11, a CCD 212 is disposed at a position equivalent to the photosensitive member 210, and a laser element 216 is disposed as shown in FIG.
A light beam is applied to the CCD 212 by inputting an ON / OFF signal as shown in FIG. CCD2
As shown in FIG. 12B, the exposure distribution on the light source 12 is a strong and weak distribution according to the spot diameter of the laser beam.
The output of each pixel 212 has a distribution as shown in FIG. 12C, and based on the signal (output signal of each pixel), a contrast ratio is calculated to detect a beam diameter variation of the light beam. Then, based on the result, the collimator lens 21
4 is moved in the optical axis direction by a stepping motor as a focus adjusting unit 218 to stabilize the beam diameter on the photoconductor 210.

【0013】また、特開平7−20395号公報に記載
の技術では、図13に示すように、感光体220と等価
な位置に光センサ222、224を配置し、光センサ2
22、224の出力信号から主走査方向と副走査方向の
ビーム径変動をそれぞれ検出し、その結果に基づいて主
走査方向のビーム径変動はコリメータレンズ226を、
副走査方向のビーム径変動はシリンドリカルレンズ22
8を夫々光軸方向に圧電素子で移動させて感光体上のビ
ーム径を安定化させている。
In the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-20395, as shown in FIG.
22, the beam diameter fluctuation in the main scanning direction and the sub-scanning direction are detected from the output signals.
The beam diameter fluctuation in the sub-scanning direction is controlled by the cylindrical lens 22.
8 are moved by a piezoelectric element in the optical axis direction to stabilize the beam diameter on the photosensitive member.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
1−292311号公報及び特開平7−20395号公
報のいずれについても、光学部品を機械的に移動させる
ため、圧電素子やステッピングモー夕などの移動機構が
必要となり、装置の構成が複雑となるため、小型化、低
コスト化が困難である、という問題がある。
However, in each of Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 1-292311 and 7-20395, since an optical component is mechanically moved, the movement of a piezoelectric element, a stepping motor, or the like is required. Since a mechanism is required and the configuration of the device becomes complicated, it is difficult to reduce the size and cost.

【0015】本発明は、上記問題を解決すべく成された
もので、温度変化などの影響によりビーム径が変動して
も、簡単な構成で良好な画質を維持することができる光
走査装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problem, and an optical scanning device capable of maintaining good image quality with a simple configuration even if the beam diameter fluctuates due to a change in temperature or the like. The purpose is to provide.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1に記載の発明は、画像情報に基づいて光ビー
ムを出力する発光源を点灯し、前記発光源から出力され
る光ビームによって感光体を光走査する光走査装置であ
って、前記光ビームの状態を検出する検出手段と、前記
検出手段の検出結果に基づいて前記光ビームの定常の光
強度が変化するように前記発光源を制御した後、前記光
ビームの立ち上がりの光強度が変化するように前記発光
源を制御する制御手段と、を備えることを特徴としてい
る。
In order to achieve the above object, according to the present invention, a light source for outputting a light beam based on image information is turned on, and a light beam output from the light source is emitted. An optical scanning device that optically scans a photosensitive member by using a light emitting device that detects a state of the light beam; and the light emitting device changes a light intensity of the light beam based on a detection result of the light emitting device. Control means for controlling the light emitting source so that the light intensity at the rise of the light beam changes after controlling the light source.

【0017】請求項1に記載の発明によれば、検出手段
は半導体レーザなどの発光源より出力される光ビームの
状態(例えば、光強度、ビーム径等)を検出する。制御
手段は検出手段の検出結果に基づいて発光源より出力さ
れる光ビームの定常の光強度が変化するように発光源を
制御する。例えば、検出手段による検出結果に変動があ
った場合に、検出手段の検出結果に基づいて半導体レー
ザ等の発光源の駆動電流や駆動電圧を増減させることに
より、ビーム径変動や光量変動により変動した光ビーム
中心での光強度を適正な状態に維持することが可能とな
る。
According to the first aspect of the present invention, the detecting means detects a state (for example, light intensity, beam diameter, etc.) of a light beam output from a light emitting source such as a semiconductor laser. The control unit controls the light source so that the steady light intensity of the light beam output from the light source changes based on the detection result of the detection unit. For example, when there is a change in the detection result of the detection unit, the drive current or the drive voltage of a light emitting source such as a semiconductor laser is increased or decreased based on the detection result of the detection unit, thereby causing a change due to a beam diameter change or a light amount change. The light intensity at the center of the light beam can be maintained in an appropriate state.

【0018】続いて制御手段は光ビームの立上りの光強
度が変化するように発光源を制御する。例えば、発光源
を駆動する駆動電流波形の立上り時のオーバーシュート
量を変化させることにより、ビーム径変動による立上り
時の光強度の低下を改善することが可能となる。
Subsequently, the control means controls the light emitting source so that the light intensity at the rising of the light beam changes. For example, by changing the amount of overshoot at the rise of the drive current waveform for driving the light emitting source, it is possible to improve the decrease of the light intensity at the rise due to the fluctuation of the beam diameter.

【0019】従って、このように制御手段が半導体レー
ザを制御することにより、光学部品を機械的に移動する
ことなく、発光源から出力される光ビームを適正な状態
に維持することができるので、簡単な構成で高解像度の
細線再現性や中間調の再現性を維持することができ、良
好な画質を維持することができる。
Therefore, by controlling the semiconductor laser by the control means as described above, the light beam output from the light emitting source can be maintained in an appropriate state without mechanically moving the optical components. With a simple configuration, high-resolution fine line reproducibility and halftone reproducibility can be maintained, and good image quality can be maintained.

【0020】また、光ビームの立ち上がりの光強度が変
化するように発光源を先に制御すると、光ビームの定常
の光強度が変化するように制御する際に立ち上がりの光
強度を変化させてしまうが、上述のように光ビームの定
常の光強度が変化するように発光源を制御した後に、光
ビームの立上りの光強度が変化するように発光源を制御
することにより、調整精度が悪化することなくビーム径
に対する調整を行なうことができる。
Further, if the light emitting source is controlled first so that the light intensity at the rising of the light beam changes, the light intensity at the rising time will be changed when controlling so that the steady light intensity of the light beam changes. However, as described above, after the light source is controlled so that the steady light intensity of the light beam changes, the control accuracy is deteriorated by controlling the light source so that the light intensity at the rising edge of the light beam changes. Adjustment to the beam diameter can be performed without the need.

【0021】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の発明において、前記検出手段は前記光ビームの状態と
して主走査方向及び副走査方向のビーム径変動を検出
し、前記制御手段は前記検出手段による副走査方向のビ
ーム径変動の検出結果に基づいて前記光ビームの定常の
光強度が変化するように前記発光源を制御した後、前記
検出手段による主走査方向のビーム径変動の検出結果に
基づいて前記光ビームの立ち上がりの光強度が変化する
ように前記発光源を制御することを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the detecting means detects a beam diameter variation in a main scanning direction and a sub-scanning direction as a state of the light beam, and the control means After controlling the light-emitting source so that the steady light intensity of the light beam changes based on the detection result of the beam diameter variation in the sub-scanning direction by the detection unit, the variation of the beam diameter in the main scanning direction by the detection unit is controlled. The light source is controlled so that the light intensity at the rising of the light beam changes based on the detection result.

【0022】請求項2に記載の発明によれば、請求項1
に記載の発明において、検出手段が発光源から出力され
る光ビームの状態として、主走査方向及び副走査方向の
ビーム径変動を検出する。
According to the invention of claim 2, according to claim 1,
In the invention described in (1), the detecting means detects a beam diameter variation in the main scanning direction and the sub-scanning direction as a state of the light beam output from the light emitting source.

【0023】そして、制御手段が、検出手段により検出
された副走査方向のビーム径が変動していれば光ビーム
の定常の光強度が変化するように発光源を制御する。す
なわち、副走査方向のビーム径が大きくなった場合には
半導体レーザ等の発光源の駆動電流を増加し、副走査方
向のビーム径が小さくなった場合には半導体レーザ等の
発光源の駆動電流を減少することにより、副走査方向の
ビーム径変動や光量変動により変動した光ビーム中心で
の光強度を適正な状態に維持することができるので、副
走査方向のビーム径変動による画質の劣化を防止するこ
とができる。
The control means controls the light emission source so that the steady light intensity of the light beam changes if the beam diameter in the sub-scanning direction detected by the detection means fluctuates. That is, when the beam diameter in the sub-scanning direction increases, the driving current of the light emitting source such as a semiconductor laser increases, and when the beam diameter in the sub-scanning direction decreases, the driving current of the light emitting source such as a semiconductor laser decreases. Is reduced, the light intensity at the center of the light beam, which fluctuates due to fluctuations in the beam diameter and the amount of light in the sub-scanning direction, can be maintained in an appropriate state. Can be prevented.

【0024】続いて制御手段が、検出手段により検出さ
れた主走査方向のビーム径が変動していれば光ビームの
立上りの光強度が変化するように発光源を制御する。す
なわち、主走査方向のビーム径が大きくなった場合に
は、半導体レーザ等の発光源の駆動電流波形の立上り時
オーバーシュート量を大きくし、主走査方向のビーム径
が小さくなった場合には、半導体レーザ等の発光源の駆
動電流波形の立上り時オーバーシュート量を小さくする
ことにより、主走査方向のビーム径変動による立上り時
の光強度の低下を改善することができるので、高解像度
の細線再現性やハーフトーンの再現性を維持することが
でき、良好な画質を維持することができる。
Subsequently, the control means controls the light emitting source so that the rising light intensity of the light beam changes if the beam diameter in the main scanning direction detected by the detecting means changes. That is, when the beam diameter in the main scanning direction increases, the rising overshoot amount of the drive current waveform of the light emitting source such as a semiconductor laser increases when rising, and when the beam diameter in the main scanning direction decreases, By reducing the amount of overshoot at the rise of the drive current waveform of the light-emitting source such as a semiconductor laser, it is possible to improve the decrease in light intensity at the rise due to the fluctuation of the beam diameter in the main scanning direction. Characteristics and halftone reproducibility can be maintained, and good image quality can be maintained.

【0025】また、主走査方向のビーム径に対する調整
(立上りの光強度の調整)を先に行なうと、副走査方向
のビーム径に対する調整時に定常の光強度を変化させる
ので、先に調整した立上りの光強度が副走査方向の調整
時に変化してしまうが、上述のように、副走査方向のビ
ーム径に対する調整行なってから主走査方向のビーム径
に対する調整を行なうことにより、調整精度が悪化する
ことなくビーム径に対する調整を行なうことができる。
If the beam diameter in the main scanning direction is adjusted (adjustment of the rising light intensity) first, the steady light intensity is changed when adjusting the beam diameter in the sub-scanning direction. Is changed at the time of adjustment in the sub-scanning direction. However, as described above, the adjustment accuracy deteriorates by adjusting the beam diameter in the sub-scanning direction and then adjusting the beam diameter in the main scanning direction. Adjustment to the beam diameter can be performed without the need.

【0026】請求項3に記載の発明は、請求項1に記載
の発明において、前記検出手段は前記光ビームの状態と
して前記光ビームの光強度変動及び主走査方向のビーム
径変動を検出し、前記制御手段は前記検出手段による前
記光強度変動の検出結果に基づいて前記光ビームの定常
の光強度が変化するように前記発光源を制御した後、前
記検出手段による前記主走査方向のビーム径変動の検出
結果に基づいて前記光ビームの立ち上がりの光強度が変
化するように前記発光源を制御することを特徴として
る。
According to a third aspect of the present invention, in the first aspect, the detecting means detects a light intensity fluctuation of the light beam and a beam diameter fluctuation in a main scanning direction as the state of the light beam. The control means controls the light emitting source so that the steady light intensity of the light beam changes based on the detection result of the light intensity fluctuation by the detection means, and then controls the beam diameter in the main scanning direction by the detection means. The light emitting source is controlled so that the light intensity at the rise of the light beam changes based on the detection result of the fluctuation.

【0027】請求項3に記載の発明によれば、請求項1
に記載の発明において、検出手段が発光源から出力され
る光ビームの状態として、光ビームの光強度及び主走査
方向のビーム径変動を検出する。すなわち、検出手段は
ビーム径の変動量を光量の変動として検出する。
According to the invention described in claim 3, according to claim 1
In the invention described in (1), the detecting means detects the light intensity of the light beam and the beam diameter variation in the main scanning direction as the state of the light beam output from the light emitting source. That is, the detecting means detects the fluctuation amount of the beam diameter as the fluctuation of the light amount.

【0028】そして、制御手段が光量の変動に基づいて
光ビームの定常の光強度を調整するように発光源を制御
することにより、副走査方向のビーム径変動による画質
の劣化を防止することができる。
Then, the control means controls the light emitting source so as to adjust the steady light intensity of the light beam based on the fluctuation of the light amount, thereby preventing the deterioration of the image quality due to the fluctuation of the beam diameter in the sub-scanning direction. it can.

【0029】続いて制御手段が、検出手段により検出さ
れた主走査方向のビーム径が変動していれば光ビームの
立上りの光強度が変化するように発光源を制御する。す
なわち、主走査方向のビーム径が大きくなった場合に
は、半導体レーザ等の発光源の駆動電流波形の立上り時
オーバーシュート量を大きくし、主走査方向のビーム径
が小さくなった場合には、半導体レーザ等の発光源の駆
動電流波形の立上り時オーバーシュート量を小さくする
ことにより、主走査方向のビーム径変動による立上り時
の光強度の低下を改善することができるので、高解像度
の細線再現性やハーフトーンの再現性を維持することが
でき、良好な画質を維持することができる。
Subsequently, the control means controls the light emitting source so that the rising light intensity of the light beam changes if the beam diameter in the main scanning direction detected by the detecting means fluctuates. That is, when the beam diameter in the main scanning direction increases, the rising overshoot amount of the drive current waveform of the light emitting source such as a semiconductor laser increases when rising, and when the beam diameter in the main scanning direction decreases, By reducing the amount of overshoot at the rise of the drive current waveform of the light-emitting source such as a semiconductor laser, it is possible to improve the decrease in light intensity at the rise due to the fluctuation of the beam diameter in the main scanning direction. Characteristics and halftone reproducibility can be maintained, and good image quality can be maintained.

【0030】また、主走査方向のビーム径に対する調整
(立上りの光強度の調整)を先に行なうと、光量の変動
に対する調整時に定常の光強度を変化させるので、先に
調整した立上りの光強度が光量の変動に対する調整を行
なう際に変化してしまうが、上述のように、光量の変動
に対する調整行なってから主走査方向のビーム径に対す
る調整を行なうことにより、調整精度が悪化することな
くビーム径に対する調整を行なうことができる。
Further, if the beam diameter in the main scanning direction is adjusted (adjustment of the rising light intensity) first, the steady light intensity is changed at the time of adjusting for the fluctuation of the light amount, so that the rising light intensity adjusted earlier is adjusted. However, as described above, the beam diameter changes in the main scanning direction after performing the adjustment for the fluctuation in the light amount, so that the beam accuracy is not deteriorated. Adjustments to the diameter can be made.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態の一例を詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0032】図2に本発明の実施の形態に係る光走査装
置の概略構成を示す。
FIG. 2 shows a schematic configuration of an optical scanning device according to an embodiment of the present invention.

【0033】図2に示す光走査装置10は、後述する回
転多面鏡の偏向面に偏向面より幅広の光束を入射させる
オーバーフィルドタイプの光学系を適用している。
The optical scanning device 10 shown in FIG. 2 employs an overfilled optical system in which a light beam wider than the deflecting surface is incident on a deflecting surface of a rotary polygon mirror described later.

【0034】図2において光源部は略ガウシアン分布の
光ビームを発光する本発明の発光源としての半導体レー
ザ(以下、LDという。)12を備え、該LD12の光
ビーム射出側には縦横に異なる広がり角を有する光ビー
ムがその焦点位置から発光された場合に該光ビームを略
平行光とする作用を有するコリメータレンズ14、中央
部の光ビームのみを通過させるビーム整形用のスリット
16、及び入射した光ビームを後述する回転多面鏡の偏
向面近傍に副走査方向に収束させるシリンドリカルレン
ズ18が配置されている。
In FIG. 2, the light source unit includes a semiconductor laser (hereinafter, referred to as an LD) 12 as a light emitting source according to the present invention which emits a light beam having a substantially Gaussian distribution. When a light beam having a divergence angle is emitted from its focal position, a collimator lens 14 has the function of turning the light beam into substantially parallel light, a beam shaping slit 16 for passing only the light beam at the center, and incidence. A cylindrical lens 18 that converges the obtained light beam in the sub-scanning direction near the deflection surface of a rotary polygon mirror described later is arranged.

【0035】なお、前記LD12は、後述する制御装置
に接続されており、この制御装置は、画像情報に基づい
て前記LD12の光ビーム出力を変調するように制御す
る。
The LD 12 is connected to a control device described later, and the control device controls the light beam output of the LD 12 to modulate based on image information.

【0036】また、コリメータレンズ14は、LD12
との間隔がコリメータレンズ14の焦点距離よりも約1
mm短くなる位置に配置されており、この配置により、
コリメータレンズ14を通過した光ビームは、略平行光
とならず緩い発散光となる。
The collimator lens 14 is provided with an LD 12
Is approximately 1 time smaller than the focal length of the collimator lens 14.
mm shorter, and with this arrangement,
The light beam that has passed through the collimator lens 14 does not become substantially parallel light but becomes divergent light.

【0037】シリンドリカルレンズ18の光ビーム射出
側の延長先には、射出された光ビームを反射する平面ミ
ラー20が配置されている。平面ミラー20の反射側に
は、複数の同一面幅の偏向面(鏡面)を側面部に有する
正多角柱の形状をなすと共に、図示しない駆動手段によ
り矢印方向に中心軸を回転中心にして等角速度で回転す
る回転多面鏡22が配置されている。
At the extension of the cylindrical lens 18 on the light beam emission side, a plane mirror 20 for reflecting the emitted light beam is arranged. The reflection side of the plane mirror 20 has a shape of a regular polygonal prism having a plurality of deflecting surfaces (mirror surfaces) having the same surface width on the side surface, and is driven by a driving unit (not shown) with the center axis being the rotation center in the direction of the arrow. A rotating polygon mirror 22 that rotates at an angular velocity is arranged.

【0038】また、平面ミラー20と回転多面鏡22の
間には、二枚組のレンズ24a、24bからなるfθレ
ンズ24が配置されている。オーバーフィルド光学系の
場合、fθレンズ24は、平面ミラー20により反射さ
れた緩い発散光を回転多面鏡22の画幅より広い細長い
線像として主走査方向に収束させる。これにより、複数
の偏向面をまたがるように収束する。
An fθ lens 24 composed of a pair of lenses 24a and 24b is arranged between the plane mirror 20 and the rotary polygon mirror 22. In the case of the overfilled optical system, the fθ lens 24 converges the gentle divergent light reflected by the plane mirror 20 as an elongated line image wider than the image width of the rotary polygon mirror 22 in the main scanning direction. Thereby, the light is converged so as to straddle a plurality of deflection surfaces.

【0039】さらにfθレンズ24は、回転多面鏡22
により偏向された光ビームが再びfθレンズ24を通過
するように配置されており、再度通過した光ビームを後
述する感光体上に光スポットとして収束させると共に、
該光スポットを感光体上で主走査方向に略等速度で移動
させる機能を有する。
Further, the fθ lens 24 includes a rotating polygon mirror 22.
Is arranged so as to pass through the fθ lens 24 again, and converges the light beam that has passed again as a light spot on a photosensitive member, which will be described later.
It has a function of moving the light spot on the photoreceptor at a substantially constant speed in the main scanning direction.

【0040】また、回転多面鏡22に対してfθレンズ
24が配置されている側には、回転多面鏡22により偏
向された画像記録用の光ビームを反射する平面ミラー2
6とシリンドリカルミラー28を有し、光ビームはシリ
ンドリカルミラー28で反射された後、下部に配置され
た感光体30上に至る。なお、図2ではシリンドリカル
ミラー28を用いているが、平面ミラーやシリンドリカ
ルレンズであっても良い。シリンドリカルミラー28及
びシリンドリカルレンズは、副走査方向に光ビームを収
束させるパワーを持ち、回転多面鏡22の偏向面のばら
つきにより生じる感光体30上での副走査方向の位置ず
れ(面倒れ)を補正する機能を持つので好ましい。
On the side of the rotary polygon mirror 22 where the fθ lens 24 is disposed, a plane mirror 2 for reflecting the image recording light beam deflected by the rotary polygon mirror 22 is provided.
6 and a cylindrical mirror 28, and the light beam is reflected by the cylindrical mirror 28, and then reaches a photoreceptor 30 disposed below. Although the cylindrical mirror 28 is used in FIG. 2, a plane mirror or a cylindrical lens may be used. The cylindrical mirror 28 and the cylindrical lens have the power to converge the light beam in the sub-scanning direction, and correct the positional deviation (surface tilt) in the sub-scanning direction on the photoconductor 30 caused by the variation of the deflection surface of the rotary polygon mirror 22. It is preferable because it has the function of performing

【0041】感光体30は、光ビームに感応する感光材
料がその表面に塗布された細長い円柱状の形状を有して
おり、主走査方向が、この感光体の長手方向に一致する
ように配置されている。すなわち、回転多面鏡22の回
転方向と共に感光体30上に収束された光スポットは、
主走査方向に沿って感光体30上を移動し、走査線での
画像記録が可能となる。
The photosensitive member 30 has an elongated columnar shape with a photosensitive material responsive to a light beam applied to its surface, and is arranged such that the main scanning direction coincides with the longitudinal direction of the photosensitive member. Have been. That is, the light spot converged on the photoconductor 30 together with the rotation direction of the rotary polygon mirror 22 is:
It moves on the photoreceptor 30 along the main scanning direction, and the image can be recorded by the scanning line.

【0042】また、感光体30は、その回転軸を中心と
して図示しない駆動手段によりー定の回転速度で回転
し、感光体30上での走査線を副走査方向に順次移動さ
せる。
The photosensitive member 30 is rotated at a constant rotation speed by a driving means (not shown) about its rotation axis to sequentially move the scanning lines on the photosensitive member 30 in the sub-scanning direction.

【0043】さらに、これらの走査線における画像記録
が行われる書き出し位置を設定するために、fθレンズ
24を通過した経路上には、光ビームを折り返す平面ミ
ラー32、副走査方向にビームを結像させるシリンドリ
カルレンズ34、およびSOSセンサ36が配置されて
いる。
Further, in order to set a write start position at which image recording is performed on these scanning lines, a plane mirror 32 which folds a light beam is formed on a path passing through the fθ lens 24, and a beam is formed in the sub-scanning direction. A cylindrical lens 34 to be operated and an SOS sensor 36 are arranged.

【0044】SOSセンサ36は、後述する制御装置に
接続されており、制御装置はSOSセンサ36の出力信
号を検出した時点から所定時間経過した後、画像信号の
変調を開始する。
The SOS sensor 36 is connected to a control device, which will be described later. The control device starts modulating the image signal after a lapse of a predetermined time from when the output signal of the SOS sensor 36 is detected.

【0045】さらに、SOSセンサ36を走査した後の
光路上、かつ感光体へ画像を形成する領域外のシリンド
リカルミラー28を反射した経路上には、光ビームのビ
ーム径変動を検出するために、光ビームを折り返す平面
ミラー38及び検出手段40が配置されている。検出手
段40は、感光体30と略等価な位置に配置されている
ため、感光体30上のビーム径の変化量と、検出手段4
0上でのビーム径の変化量は等しくなる。すなわち、検
出手段40によってビーム径変動を検出することができ
る。
Further, on the optical path after scanning the SOS sensor 36 and on the path that reflects the cylindrical mirror 28 outside the area where an image is formed on the photosensitive member, the fluctuation of the beam diameter of the light beam is detected. A plane mirror 38 that folds the light beam and a detection unit 40 are arranged. Since the detection means 40 is arranged at a position substantially equivalent to the photoconductor 30, the amount of change in the beam diameter on the photoconductor 30 and the detection means 4
The change amount of the beam diameter on 0 becomes equal. That is, the beam diameter fluctuation can be detected by the detecting means 40.

【0046】光源であるLD12は画像情報に基づいて
画像信号の変調が行なわれて光走査を行なうが、検出手
段40は、画像の書き出し位置を設定するためのSOS
センサ36を該LD12によって走査した後で、画像形
成する領域より以前の領域に配置されている。
The LD 12, which is a light source, modulates an image signal based on image information to perform optical scanning. The detecting means 40 detects an SOS for setting an image writing position.
After the sensor 36 is scanned by the LD 12, the sensor 36 is arranged in an area before an area where an image is formed.

【0047】検出手段40は、図3に示すように、ホル
ダ42の内部に素子列の方向が副走査方向と同一となる
ように配置された1次元CCDセンサ44とフォトセン
サ46を配置し、フォトセンサ46の前面にスリット4
8を設けた構成とされている。
As shown in FIG. 3, the detecting means 40 has a one-dimensional CCD sensor 44 and a photo sensor 46 arranged inside the holder 42 so that the direction of the element row is the same as the sub-scanning direction. Slit 4 in front of photo sensor 46
8 is provided.

【0048】図4はビーム径の変動に対する1次元CC
Dセンサ44とフォトセンサ46の出力信号を示したも
のであり、図4(a)はビーム径が適正な状態の電流信
号を示し、図4(b)は主走査方向のビーム径が太くな
った場合の電流信号を示し、図4(c)は副走査方向の
ビーム径が太くなった場合の電流信号を示し、図4
(d)は主走査方向及び副走査方向のビーム径が太くな
った場合の電流信号をそれぞれ示す。このように検出手
段40に入射される光ビームのビーム径を検出手段40
の出力信号から容易に判断することができる。この出力
信号に基づいて、光ビームの定常の光強度と立ち上がり
の光強度を調整することが可能となっている。
FIG. 4 shows a one-dimensional CC with respect to the variation of the beam diameter.
FIGS. 4A and 4B show output signals of the D sensor 44 and the photo sensor 46. FIG. 4A shows a current signal with a proper beam diameter, and FIG. 4B shows a case where the beam diameter in the main scanning direction becomes large. FIG. 4C shows a current signal when the beam diameter in the sub-scanning direction becomes large.
(D) shows a current signal when the beam diameter in the main scanning direction and the beam diameter in the sub-scanning direction is increased. Thus, the beam diameter of the light beam incident on the detecting means 40 is determined by the detecting means 40.
Can be easily determined from the output signal of Based on this output signal, the steady light intensity and the rising light intensity of the light beam can be adjusted.

【0049】検出手段40は、図5に示すように制御装
置80に接続され、検出手段40の検出結果が制御装置
80に出力されるようになっている。また、制御装置8
0は、ROM、RAM、CPU、及び周辺装置からなる
マイクロコンピュータからなり、上述したように画像情
報に基づいてLD12の光ビーム出力を変調する制御や
後述する光ビーム径の調整等の光走査装置の各種制御を
行うようになっている。さらに、制御装置80は、後述
するLD駆動回路90に接続され、LD駆動回路90の
制御も行なうように構成されている。
The detection means 40 is connected to the control device 80 as shown in FIG. 5, and the detection result of the detection means 40 is output to the control device 80. The control device 8
Reference numeral 0 denotes a microcomputer including a ROM, a RAM, a CPU, and a peripheral device, and as described above, an optical scanning device for controlling the modulation of the light beam output of the LD 12 based on image information and adjusting a light beam diameter to be described later. Of various controls. Further, the control device 80 is connected to an LD drive circuit 90 described later, and is configured to control the LD drive circuit 90.

【0050】図6には光ビームの定常の光強度と立上り
の光強度を調整するためのLD駆動回路90を説明する
ための図を示す。なお、制御装置80及びLD駆動回路
90は本発明の制御手段に相当する。
FIG. 6 is a diagram for explaining an LD drive circuit 90 for adjusting the steady light intensity and the rising light intensity of the light beam. Note that the control device 80 and the LD drive circuit 90 correspond to control means of the present invention.

【0051】図6に示すようにLD駆動回路90には、
LD12に所定電流値のバイアス電流を流すためのバイ
アス電流源50とLD12に所定電流値のスイッチング
電流を流すためのスイッチング電流源52が設けられて
いる。
As shown in FIG. 6, the LD drive circuit 90 includes
A bias current source 50 for flowing a bias current having a predetermined current value to the LD 12 and a switching current source 52 for flowing a switching current having a predetermined current value to the LD 12 are provided.

【0052】バイアス電流源50とスイッチング電流源
52は、それぞれ抵抗R1、R2を介して接地されてい
る。また、バイアス電流源50とスイッチング電流源5
2は、それぞれイネーブル(ENB)端子54と接続さ
れており、ENB端子54からENB信号が入力される
ことによって機能するようになっている。
The bias current source 50 and the switching current source 52 are grounded via resistors R1 and R2, respectively. The bias current source 50 and the switching current source 5
2 are connected to an enable (ENB) terminal 54, respectively, and function by receiving an ENB signal from the ENB terminal 54.

【0053】バイアス電流源50はLD12と接続され
ている。また、LD12は立上りの光強度を変化させる
ためのRLC回路56を介して、電源端子58と接続さ
れており、電源端子58から所定の電圧が印加されるよ
うになっている。
The bias current source 50 is connected to the LD 12. The LD 12 is connected to a power supply terminal 58 via an RLC circuit 56 for changing the rising light intensity, and a predetermined voltage is applied from the power supply terminal 58.

【0054】すなわちバイアス電流源50によって、L
D12には所定電流値のバイアス電流が流れるようにな
っている。なお、このバイアス電流源50は、LD12
がコヒーレントな光を出力するために必要な閾値電流未
満となるように設定されている。
That is, the bias current source 50
A bias current having a predetermined current value flows through D12. The bias current source 50 is connected to the LD 12
Is set to be less than a threshold current required for outputting coherent light.

【0055】また、電源端子58には、LD12と並列
に負荷抵抗RLが接続されている。LD12と負荷抵抗
RLは、それぞれnpn型のトランジスタ60、62の
コレクタと接続されている。トランジスタ60、62の
エミッタは、共にスイッチング電流源52と接続され、
ベースはスイッチ64と接続されている。スイッチ64
は、トランジスタ60、62のベース電流を制御するこ
とにより、コレクタからエミッタに流れる電流のON/
OFFを制御するようになっている。
A load resistor RL is connected to the power supply terminal 58 in parallel with the LD 12. The LD 12 and the load resistor RL are connected to the collectors of npn transistors 60 and 62, respectively. The emitters of the transistors 60 and 62 are both connected to the switching current source 52,
The base is connected to the switch 64. Switch 64
Controls ON / OFF of the current flowing from the collector to the emitter by controlling the base currents of the transistors 60 and 62.
OFF is controlled.

【0056】スイッチ64はVIDEO端子66と接続
されている。スイッチ64の駆動はVIDEO端子66
からのVIDEO信号に基づいて行われる。これにより
画像データに基づいて変調された光ビームが生成され
る。
The switch 64 is connected to the VIDEO terminal 66. The switch 64 is driven by a VIDEO terminal 66.
This is performed based on the VIDEO signal from. Thus, a light beam modulated based on the image data is generated.

【0057】一方、LD12のパッケージ内には、LD
12の出力光量をモニタするためのフォトダイオードP
Dが設けられており、フォとダイオードPDはLD12
の出力光量に対応した電流を出力する。この電流は図示
しない電流一電圧変換器によりモニタ電圧に変換され
て、コンパレータ68のプラス端子側に入力される。
On the other hand, the LD 12 package contains an LD
12 is a photodiode P for monitoring the amount of output light.
D is provided, and the diode and the diode PD are connected to the LD12.
And outputs a current corresponding to the output light quantity. This current is converted into a monitor voltage by a current-to-voltage converter (not shown) and input to the plus terminal of the comparator 68.

【0058】コンパレータ68のマイナス側は、基準電
圧端子70と接続されており、基準電圧端子70から所
定の基準電圧が入力されるようになっている。すなわち
コンパレータ68では、モニタ電圧と基準電圧とを比較
し、その結果を出力するようになっている。
The minus side of the comparator 68 is connected to a reference voltage terminal 70, and a predetermined reference voltage is input from the reference voltage terminal 70. That is, the comparator 68 compares the monitor voltage with the reference voltage and outputs the result.

【0059】すなわち、検出手段40の検出結果に基づ
いて制御手段80により基準電圧を変化させることで、
光ビームの定常の光強度を変化させることができる。
That is, by changing the reference voltage by the control means 80 based on the detection result of the detection means 40,
The steady light intensity of the light beam can be changed.

【0060】コンパレータ68の出力は、S/H回路7
2と接続され、S/H回路72はスイッチング電流源5
2と接続されている。S/H回路72は、コンパレータ
68の出力に基づいて、スイッチング電流源52で設定
されているスイッチング電流を変化させ、モニタ電圧が
基準電圧と一致するようなスイッチング電流を生成する
ようになっている。
The output of the comparator 68 is supplied to the S / H circuit 7
S / H circuit 72 is connected to switching current source 5
2 is connected. The S / H circuit 72 changes the switching current set by the switching current source 52 based on the output of the comparator 68, and generates a switching current such that the monitor voltage matches the reference voltage. .

【0061】LD12は閾値電流を超えるとコヒーレン
トな光を出力し、その光強度はLD12を流れる電流
(駆動電流)と比例する特性を有する。従って、S/H
回路72はモニタ電圧が基準電圧と一致するようにスイ
ッチング電流を変化させることにより、基準電圧で設定
される所定の光強度の光ビームを出力するように、LD
12の光出力制御を行うことができる。
The LD 12 outputs coherent light when the threshold current is exceeded, and the light intensity has a characteristic proportional to the current (drive current) flowing through the LD 12. Therefore, S / H
The circuit 72 changes the switching current so that the monitor voltage coincides with the reference voltage, and outputs an optical beam having a predetermined light intensity set by the reference voltage.
Twelve light output controls can be performed.

【0062】また、S/H回路72はS/H(Samp
le/Hold)端子74と接続されており、S/H端
子74からSample信号またはHold信号が入力
されるようになっている。S/H回路72はSampl
e信号が入力されている期間にLD12の光出力を制御
し、それ以外の期間、すなわちHold信号が入力され
ている期間は、光出力制御の結果を保持するようになっ
ている。
Further, the S / H circuit 72 outputs the S / H (Samp
le / Hold) terminal 74, and a Sample signal or a Hold signal is input from the S / H terminal 74. The S / H circuit 72 is Sampl
The optical output of the LD 12 is controlled during the period when the signal e is input, and the result of the optical output control is held during the other period, that is, during the period when the Hold signal is input.

【0063】LD12と接続されたRLC回路56の抵
抗Rには、抵抗値制御端子57が接続され、検出手段4
0の検出結果に基づき、制御手段80の制御により抵抗
Rの抵抗値を変化させることで立上りの光強度を変化さ
せることができるように構成されている。
The resistance R of the RLC circuit 56 connected to the LD 12 is connected to a resistance value control terminal 57.
On the basis of the detection result of 0, the light intensity at the rising edge can be changed by changing the resistance value of the resistor R under the control of the control means 80.

【0064】続いて、上述のように構成された光走査装
置において、光ビームの定常の光強度と立上りの光強度
を変化させる手順を説明する。なお、図1には、本実施
の形態に係る光走査装置の制御装置80における光ビー
ムの定常の光強度と立上りの光強度の補正手順を示すフ
ローチャートである。
Next, a procedure for changing the steady light intensity and the rising light intensity of the light beam in the optical scanning device configured as described above will be described. FIG. 1 is a flowchart showing a procedure for correcting the steady light intensity and the rising light intensity of the light beam in the control device 80 of the optical scanning device according to the present embodiment.

【0065】図1に示すように、制御装置80は、ステ
ップ100でLD12を点灯した後、ステップ102へ
移行する。ステップ102では、検出手段40、本実施
の形態では、副走査方向に素子列を配置した1次元CC
Dセンサ44により、副走査方向のビーム径変動を検出
し、検出結果が制御装置80に入力される。副走査方向
のビーム径変動は、図4に示したようにCCDセンサ4
4の出力レベルの変動と、ビームを受光したCCDセル
の数(図4では副走査方向位置と記載)となってあらわ
れる。すなわち、CCDセンサ44を使用することで、
副走査方向のビーム径変動をビーム径の変動として検出
することもできるし、光量の変動として検出することも
できる。
As shown in FIG. 1, after turning on the LD 12 in step 100, the control device 80 proceeds to step 102. In step 102, the detecting means 40, in the present embodiment, a one-dimensional CC in which the element rows are arranged in the sub-scanning direction.
The D sensor 44 detects a change in the beam diameter in the sub-scanning direction, and the detection result is input to the control device 80. The beam diameter variation in the sub-scanning direction depends on the CCD sensor 4 as shown in FIG.
4 and the number of CCD cells that have received the beam (in FIG. 4, described as the position in the sub-scanning direction). That is, by using the CCD sensor 44,
The change in the beam diameter in the sub-scanning direction can be detected as a change in the beam diameter, or can be detected as a change in the amount of light.

【0066】ステップ104では、ステップ102にお
ける検出結果が、予め図示しないメモリ(制御装置80
に設けられたROM等)内に記憶しておいた許容値を超
えたか否か判定される。該判定が肯定された場合は、ス
テップ106へ移行して、調整用Look Up Ta
ble(LUT)を使用してLD駆動回路の基準電圧を
求め、基準電圧を変化させることで、定常の光強度を調
整する。すなわち、副走査方向のビーム径が大きくなっ
た場合にはLD12の駆動電流を増加させるように基準
電圧端子70に入力する基準電圧を変化させ、ビーム径
が小さくなった場合にはLD12の駆動電流を減少させ
るように基準電圧端子70に入力する基準電圧を変化さ
せることにより、ビーム径変動又は光量変動により変動
した光ビーム中心での光強度を適正な状態に維持するこ
とができる。このようにすることにより、副走査方向の
ビーム径変動による画質の劣化を防止することができ
る。また、ステップ104の判定が否定された場合に
は、ステップ108へ移行する。
In step 104, the detection result in step 102 is stored in a memory (not shown)
It is determined whether or not the allowable value stored in the ROM or the like is exceeded. If the determination is affirmative, the routine proceeds to step 106, where the adjustment Look Up Ta is used.
The reference voltage of the LD drive circuit is obtained using ble (LUT), and the steady light intensity is adjusted by changing the reference voltage. That is, when the beam diameter in the sub-scanning direction increases, the reference voltage input to the reference voltage terminal 70 is changed so as to increase the drive current of the LD 12, and when the beam diameter decreases, the drive current of the LD 12 increases. By changing the reference voltage input to the reference voltage terminal 70 so as to reduce the light intensity, the light intensity at the center of the light beam that has fluctuated due to the fluctuation of the beam diameter or the light quantity can be maintained in an appropriate state. By doing so, it is possible to prevent the image quality from deteriorating due to the beam diameter fluctuation in the sub-scanning direction. If the determination in step 104 is negative, the process proceeds to step 108.

【0067】なお、本実施の形態では、1次元CCDセ
ンサ44を使用して副走査方向のビーム径変動を検出す
るようにしたが、センサは1次元CCDに限るものでは
なく、2次元CCDセンサやフォトセンサ等の他の検出
デバイスを使用してもよい。また、検出対象は、ビーム
径の変動ではなく1ドット分の光ビームを点灯した時の
最大(ピーク)光量を検出し、この最大光量から定常の
光強度の調整値を求めるようにしてもよい。
In this embodiment, the beam diameter fluctuation in the sub-scanning direction is detected by using the one-dimensional CCD sensor 44. However, the sensor is not limited to the one-dimensional CCD, but may be a two-dimensional CCD sensor. Other detection devices such as a photo sensor and a photo sensor may be used. The detection target may detect the maximum (peak) light amount when the light beam for one dot is turned on instead of the fluctuation of the beam diameter, and obtain the steady light intensity adjustment value from the maximum light amount. .

【0068】ステップ108では、検出手段40、本実
施の形態では副走査方向に長手の開口を有するスリット
48が前面に配置されたフォトセンサ46により、主走
査方向のビーム径変動を検出し、検出結果が制御装置8
0に入力されるる。
In step 108, the beam diameter variation in the main scanning direction is detected and detected by the detecting means 40, in this embodiment, the photosensor 46 having a slit 48 having a longitudinal opening in the sub-scanning direction disposed on the front side. The result is the controller 8
Input to 0.

【0069】ステップ110では、ステップ108の検
出結果が、予め図示しないメモリ(制御装置80のRO
M等)内に記憶しておいた許容値を超えたか否か判定さ
れる。該判定が肯定された場合には、ステップ112へ
移行して、調整用LookUp Table(LUT)
を使用してLD駆動回路90のRLC回路定数を求め、
本実施の形態の場合は抵抗Rの抵抗値を変化させる信号
を抵抗値制御端子57に入力することで抵抗Rの値を変
化させ、LD駆動電流波形の立上り時のオーバーシュー
ト量を変化させて立上りの光強度を調整する。すなわ
ち、主走査方向のビーム径が大きくなった場合にはLD
駆動電流波形の立上り時オーバーシュート量を大きく
し、ビーム径が小さくなった場合にはLD駆動電流波形
の立上り時オーバーシュート量を小さくすることによ
り、主走査方向のビーム径変動による立上り時の光強度
の低下を改善することができる。このようにすることに
より、高解像度の細線再現性やハーフトーンの再現性を
維持することができる。また、ステップ110の判定が
否定された場合には、一連の処理を終了する。
In step 110, the detection result in step 108 is stored in a memory (not shown)
M, etc.) is determined. If the determination is affirmative, the routine proceeds to step 112, where a LookUp Table (LUT) for adjustment is used.
Is used to determine the RLC circuit constant of the LD drive circuit 90,
In the case of the present embodiment, the value of the resistor R is changed by inputting a signal for changing the resistance value of the resistor R to the resistance value control terminal 57, and the amount of overshoot at the rise of the LD drive current waveform is changed. Adjust the rising light intensity. That is, when the beam diameter in the main scanning direction increases, the LD
By increasing the amount of overshoot at the rise of the drive current waveform and decreasing the overshoot at the rise of the LD drive current waveform when the beam diameter becomes smaller, the light at the rise due to beam diameter fluctuation in the main scanning direction is reduced. The decrease in strength can be improved. By doing so, high-resolution fine-line reproducibility and half-tone reproducibility can be maintained. If the determination in step 110 is negative, the series of processing ends.

【0070】すなわち、図7に示すビーム径変動に対す
る調整の一例で説明すると、図7(A)に示すノミナル
のビーム径が大きくなり(中心光量が低下)、図7
(B)に示すように、描画状態が変動した(線幅が細く
なった)場合には、LD駆動電流を調整することにより
定常の光強度を調整して副走査方向のビーム径を補正す
る。そして、駆動電流波形のオーバーシュート量を調整
することにより光立上り時の光強度を調整して主走査方
向のビーム径を補正する(図7(C))ことにより、主
走査方向及び副走査方向のビーム径変動に対する補正を
行なうことができる。なお、図7(A)はノミナルの描
画状態、LD駆動波形及び光強度特性を示し、図7
(B)はビーム径が大きくなった場合の描画状態、LD
駆動波形及び光強度特性を示し、図7(C)は図7
(B)を補正した場合の描画状態、LD駆動波形及び光
強度特性を示す。
More specifically, as an example of the adjustment for the beam diameter fluctuation shown in FIG. 7, the nominal beam diameter shown in FIG.
As shown in (B), when the drawing state has changed (the line width has become narrower), the steady light intensity is adjusted by adjusting the LD drive current to correct the beam diameter in the sub-scanning direction. . Then, by adjusting the overshoot amount of the drive current waveform to adjust the light intensity at the time of light rising and correcting the beam diameter in the main scanning direction (FIG. 7C), the main scanning direction and the sub-scanning direction are adjusted. Can be corrected for the variation in the beam diameter. FIG. 7A shows the nominal drawing state, LD drive waveform, and light intensity characteristics.
(B) Drawing state when beam diameter becomes large, LD
FIG. 7C shows driving waveforms and light intensity characteristics, and FIG.
FIG. 14 shows a drawing state, an LD drive waveform, and a light intensity characteristic when (B) is corrected.

【0071】このように副走査方向のビーム径変動に対
する調整を行った後に主走査方向ビーム径の変動に対す
る調整を行うことで、温度の変化などの影響によりビー
ム径が変動しても、主走査方向と副走査方向のビーム径
の調整を精度よく行うことができる。つまり、主走査方
向の調整(立上りの光強度の調整)を先に行うと、副走
査方向の調整時に定常の光強度を変化させるので、先に
調整した立上りの光強度が副走査方向の調整時に変化し
てしまう(定常の光強度の変動分が立上りの光強度に加
算されてしまう)。従って、主走査方向と副走査方向の
調整順序を入替えると調整精度が悪化してしまうが、本
実施の形態では、上述したように、副走査方向のビーム
径変動に対する調整を行った後に主走査方向ビーム径の
変動に対する調整を行うので、調整精度が悪化すること
なく調整を行なうことができ、これにより、高解像度の
細線再現性や中間調の再現性を維持することができ、良
好な画質を維持することができる。
By adjusting the beam diameter in the main scanning direction after adjusting the beam diameter in the sub-scanning direction, even if the beam diameter changes due to a change in temperature or the like, the main scanning direction can be adjusted. The beam diameter in the scanning direction and the sub-scanning direction can be adjusted with high accuracy. In other words, if the adjustment in the main scanning direction (adjustment of the rising light intensity) is performed first, the steady light intensity is changed during the adjustment in the sub-scanning direction, so that the previously adjusted rising light intensity is adjusted in the sub-scanning direction. (The steady light intensity fluctuation is added to the rising light intensity). Therefore, if the order of adjustment in the main scanning direction and the sub-scanning direction is interchanged, the adjustment accuracy will deteriorate. However, in the present embodiment, as described above, after the adjustment for the beam diameter variation in the sub-scanning direction is performed, Since the adjustment for the fluctuation of the beam diameter in the scanning direction is performed, the adjustment can be performed without deteriorating the adjustment accuracy, whereby the fine line reproducibility of high resolution and the reproducibility of the halftone can be maintained, and a favorable Image quality can be maintained.

【0072】なお、上記の実施の形態では、フォトセン
サ46により主走査方向のビーム径変動を検出するよう
にしたが、センサはフォトセンサ46に限るものではな
く、2次元CCDセンサ等の他の検出デバイスを使用す
るようにしてもよい。2次元CCDセンサを使用する場
合には、CCD受光面上で光ビームを1ドット分の時間
だけパルス点灯し、受光画像から主走査方向のビーム径
と副走査方向のビーム径を検出することが可能である。
In the above-described embodiment, the beam diameter fluctuation in the main scanning direction is detected by the photo sensor 46. However, the sensor is not limited to the photo sensor 46, but may be another type such as a two-dimensional CCD sensor. A detection device may be used. When a two-dimensional CCD sensor is used, the light beam is pulsed on the light receiving surface of the CCD for a time corresponding to one dot to detect the beam diameter in the main scanning direction and the beam diameter in the sub-scanning direction from the received image. It is possible.

【0073】また、上記の実施の形態では、CCDセン
サ44によって副走査方向のビーム径変動を検出するよ
うにしたが、これに限定されるものではない。例えば、
主走査方向のビーム径変動を検出するフォトセンサ46
の前面に設けられたスリット48を走査方向に対して傾
けて配置し、フォトセンサから得られる時間と電流の関
係から副走査方向のビーム径も検出することも可能であ
る。
In the above embodiment, the CCD sensor 44 detects the beam diameter fluctuation in the sub-scanning direction. However, the present invention is not limited to this. For example,
Photosensor 46 for detecting beam diameter variation in the main scanning direction
It is also possible to arrange the slit 48 provided on the front surface of the photosensor at an angle with respect to the scanning direction, and to detect the beam diameter in the sub-scanning direction from the relationship between the time and current obtained from the photosensor.

【0074】また、検出手段40は、上記の実施の形態
のようにビームの変動を直接検出してよいし、温度セン
サなどにより温度変動を検出するようにようにしてもよ
い。温度センサを使用する場合には、予め温度変動量に
対するビーム径変動量を求めておき、その関係値をLU
Tとしてメモリ内に記憶しておくことにより、温度変動
量からビーム径変動量、すなわち、調整すべき定常の光
立上りの光強度を推定することが可能となる。
The detecting means 40 may directly detect the fluctuation of the beam as in the above-described embodiment, or may detect the fluctuation of the temperature by a temperature sensor or the like. When a temperature sensor is used, the beam diameter variation with respect to the temperature variation is determined in advance, and the relational value is set to LU.
By storing in the memory as T, it becomes possible to estimate the beam diameter fluctuation amount, that is, the light intensity at the steady light rising to be adjusted, from the temperature fluctuation amount.

【0075】さらに、上記の実施の形態では、検出手段
40を走査開始側に配置するようにしたが、これに限る
ものではなく、走査終端側の画像形成領域外に設けるよ
うにしてもよいし、SOSセンサ36を走査する前の光
路上に設けるようにしてもよい。
Further, in the above-described embodiment, the detecting means 40 is arranged on the scanning start side. However, the present invention is not limited to this. The detecting means 40 may be arranged outside the image forming area on the scanning end side. , SOS sensor 36 may be provided on the optical path before scanning.

【0076】[0076]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、発
光源より出力される光ビームの状態を検出し、該検出結
果に基づいて光ビームの定常の光強度が変化するように
発光源を制御した後に、光ビームの立上りの光強度が変
化するように発光源を制御することにより、光ビーム中
心での光強度を適正な状態に維持することができると共
に、ビーム径変動による立上り時の光強度の低下を改善
することができるので、温度変化などの影響によりビー
ム径が変動しても、簡単な構成で良好な画質を維持する
ことができる、という効果がある。
As described above, according to the present invention, the state of the light beam output from the light emitting source is detected, and the light emitting source is changed so that the steady light intensity of the light beam changes based on the detection result. After controlling the light source, the light intensity at the center of the light beam can be maintained in an appropriate state by controlling the light emission source so that the light intensity at the rising of the light beam changes, and at the time of rising due to fluctuation in the beam diameter. Therefore, even if the beam diameter fluctuates due to a change in temperature or the like, good image quality can be maintained with a simple configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本実施の形態に係る光走査装置における光ビ
ームの定常の光強度と立上りの光強度の補正手順を示す
フローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart showing a procedure for correcting a steady light intensity and a rising light intensity of a light beam in an optical scanning device according to the present embodiment.

【図2】 本発明の実施の形態に係る光走査装置の概略
構成を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a schematic configuration of an optical scanning device according to the embodiment of the present invention.

【図3】 検出手段の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of a detection unit.

【図4】 ビーム径の変動に対する1次元CCDセンサ
とフォトセンサの出力信号を示す図であり、(a)はビ
ーム径が適正な状態の各出力信号を示し、(b)は主走
査方向のビーム径が太くなった場合の各出力を示し、
(c)は副走査方向のビーム径が太くなった場合の各出
力を示し、(d)は主走査方向及び副走査方向のビーム
径が太くなった場合の各出力を示す。
4A and 4B are diagrams showing output signals of a one-dimensional CCD sensor and a photosensor with respect to a change in a beam diameter. FIG. 4A shows each output signal in a state where a beam diameter is appropriate, and FIG. Each output when the beam diameter becomes large,
(C) shows each output when the beam diameter in the sub-scanning direction increases, and (d) shows each output when the beam diameter in the main scanning direction and the sub-scanning direction increases.

【図5】 ビーム径変動の補正を行なう制御系を示すブ
ロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a control system for correcting a beam diameter variation.

【図6】 光ビームの定常の光強度と立上りの光強度を
調整するためのLD駆動回路を説明するための図であ
る。
FIG. 6 is a diagram for explaining an LD drive circuit for adjusting a steady light intensity and a rising light intensity of a light beam.

【図7】 ビーム径変動に対する調整の一例を示す図で
あり、(A)はノミナルの描画状態、LD駆動電流波形
及び光強度特性を示し、(B)はビーム径が大きくなっ
た場合の描画状態、LD駆動電流波形及び光強度特性を
示し、(C)は(B)を補正した場合の描画状態、LD
駆動電流波形及び光強度特性を示す。
FIGS. 7A and 7B are diagrams illustrating an example of adjustment with respect to beam diameter fluctuation, wherein FIG. 7A illustrates a nominal writing state, an LD drive current waveform, and light intensity characteristics, and FIG. 7B illustrates writing when the beam diameter is increased; (C) shows a drawing state when (B) is corrected, and shows an LD driving current waveform and light intensity characteristics.
7 shows a drive current waveform and light intensity characteristics.

【図8】 従来の光走査装置の一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a conventional optical scanning device.

【図9】 LDの発光パワーを一定にした場合の種々の
ビーム径における光強度分布を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing light intensity distributions at various beam diameters when the light emission power of the LD is fixed.

【図10】 主走査方向と副走査方向のビーム径の変動
による描画状態を示す図であり、(a)は主走査方向及
び副走査方向のビーム径が適正な場合の描画状態を示
し、(b)は主走査方向のビーム径が太くなった場合の
描画状態を示し、(c)は副走査方向のビーム径が太く
なった場合の描画状態を示す。
10A and 10B are diagrams illustrating a drawing state due to a change in beam diameter in the main scanning direction and the sub-scanning direction. FIG. 10A illustrates a drawing state when the beam diameter in the main scanning direction and the sub-scanning direction is appropriate. (b) shows the drawing state when the beam diameter in the main scanning direction becomes large, and (c) shows the drawing state when the beam diameter in the sub-scanning direction becomes large.

【図11】 従来の光走査装置におけるビーム径補正手
段の一例を示す図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a beam diameter correcting unit in a conventional optical scanning device.

【図12】 従来の光装置におけるビーム径の補正を説
明するための図であり、(A)はレーザドライバからの
信号を示し、(B)はレーザ光のビーム径と露光分布と
の関係を示し、(C)はCCDからの出力信号を示す。
12A and 12B are diagrams for explaining correction of a beam diameter in a conventional optical device, in which FIG. 12A shows a signal from a laser driver, and FIG. 12B shows the relationship between the laser beam diameter and exposure distribution. (C) shows an output signal from the CCD.

【図13】 従来の光走査装置におけるビーム径補正手
段のその他の例を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing another example of the beam diameter correcting means in the conventional optical scanning device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 光走査装置 12 半導体レーザ 40 検出手段 44 1次元CCDセンサ 46 フォトセンサ 48 スリット 50 バイアス電流源 52 スイッチング電流源 56 RLC回路 68 コンパレータ 70 基準電圧端子 72 S/H回路 80 制御装置 90 LD駆動回路 PD フォとダイオード R 抵抗 Reference Signs List 10 optical scanning device 12 semiconductor laser 40 detection means 44 one-dimensional CCD sensor 46 photo sensor 48 slit 50 bias current source 52 switching current source 56 RLC circuit 68 comparator 70 reference voltage terminal 72 S / H circuit 80 control device 90 LD drive circuit PD F and diode R resistance

フロントページの続き Fターム(参考) 2C362 AA03 AA20 AA28 AA29 AA32 AA33 AA54 AA61 2H045 CB22 CB41 DA02 5C072 AA03 BA13 HA02 HB02 HB04 HB10 XA01 XA05 Continued on the front page F term (reference) 2C362 AA03 AA20 AA28 AA29 AA32 AA33 AA54 AA61 2H045 CB22 CB41 DA02 5C072 AA03 BA13 HA02 HB02 HB04 HB10 XA01 XA05

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 画像情報に基づいて光ビームを出力する
発光源を点灯し、前記発光源から出力される光ビームに
よって感光体を光走査する光走査装置であって、 前記光ビームの状態を検出する検出手段と、 前記検出手段の検出結果に基づいて前記光ビームの定常
の光強度が変化するように前記発光源を制御した後、前
記光ビームの立ち上がりの光強度が変化するように前記
発光源を制御する制御手段と、 を備えた光走査装置。
1. An optical scanning device that turns on a light emitting source that outputs a light beam based on image information, and optically scans a photosensitive member with the light beam output from the light emitting source. Detecting means for detecting, after controlling the light emitting source so that the steady light intensity of the light beam changes based on the detection result of the detecting means, the light intensity at the rising edge of the light beam changes. An optical scanning device comprising: a control unit configured to control a light emitting source.
【請求項2】 前記検出手段は前記光ビームの状態とし
て主走査方向及び副走査方向のビーム径変動を検出し、
前記制御手段は前記検出手段による副走査方向のビーム
径変動の検出結果に基づいて前記光ビームの定常の光強
度が変化するように前記発光源を制御した後、前記検出
手段による主走査方向のビーム径変動の検出結果に基づ
いて前記光ビームの立ち上がりの光強度が変化するよう
に前記発光源を制御することを特徴とする請求項1に記
載の光走査装置。
2. The method according to claim 1, wherein the detecting unit detects a beam diameter variation in a main scanning direction and a sub-scanning direction as a state of the light beam,
The control unit controls the light emitting source so that the steady light intensity of the light beam changes based on the detection result of the beam diameter variation in the sub-scanning direction by the detection unit, and then controls the light source in the main scanning direction by the detection unit. The optical scanning device according to claim 1, wherein the light emitting source is controlled so that the light intensity at the rising of the light beam changes based on the detection result of the beam diameter fluctuation.
【請求項3】 前記検出手段は前記光ビームの状態とし
て前記光ビームの光強度変動及び主走査方向のビーム径
変動を検出し、前記制御手段は前記検出手段による前記
光強度変動の検出結果に基づいて前記光ビームの定常の
光強度が変化するように前記発光源を制御した後、前記
検出手段による前記主走査方向のビーム径変動の検出結
果に基づいて前記光ビームの立ち上がりの光強度が変化
するように前記発光源を制御することを特徴とする請求
項1に記載の光走査装置。
3. The detecting means detects a light intensity fluctuation of the light beam and a beam diameter fluctuation in a main scanning direction as a state of the light beam, and the control means detects a light intensity fluctuation detected by the detecting means. After controlling the light emission source so that the steady light intensity of the light beam changes based on the light intensity at the rising of the light beam based on the detection result of the beam diameter fluctuation in the main scanning direction by the detection means. The optical scanning device according to claim 1, wherein the light source is controlled to change.
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