JP2002296250A

JP2002296250A - 内部欠陥検出方法

Info

Publication number: JP2002296250A
Application number: JP2001097616A
Authority: JP
Inventors: Akihiro Sasaki; 聡洋佐々木; Hajime Takada; 一高田; Takuya Yamazaki; 拓也山崎; Makoto Araya; 誠荒谷
Original assignee: Kawasaki Steel Corp
Current assignee: JFE Steel Corp
Priority date: 2001-03-29
Filing date: 2001-03-29
Publication date: 2002-10-09
Anticipated expiration: 2021-03-29
Also published as: JP3603804B2

Abstract

(57)【要約】【課題】内部欠陥の板厚方向の位置情報を加味した内部
欠陥密度を算出するようにして、従来求めていた内部欠
陥密度からは予想されない不具合の発生を防止し、歩留
りを向上して生産性を良好とした内部欠陥検出方法を提
供する。【解決手段】帯状体Ｓの内部欠陥を超音波探傷装置１を
用いて検出する内部欠陥検出方法。帯状体Ｓの内部欠陥
を検出するとともに当該内部欠陥の帯状体Ｓにおける板
厚方向の位置を求め、当該内部欠陥の板厚方向の位置情
報を加味して帯状体Ｓにおける内部欠陥密度を算出し、
内部欠陥密度の大小により内部欠陥の問題度を判断す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、鋼帯等の金属帯に
代表される帯状体（帯状材ともいう）を被検査対象と
し、当該帯状体に存在する非金属介在物等の内部欠陥を
超音波探傷装置を用いて検出する内部欠陥検出方法に関
する。

【０００２】

【従来の技術】通常、鋼帯をはじめとする金属帯などの
帯状材の内部欠陥の検出方法として、超音波探傷法があ
る。この探傷法には、送受兼用プローブによるパルス反
射法、分割型超音波プローブによるパルス反射法、板を
挟んで上下に超音波プローブを配列して行なわれる透過
法などがある。また特に、表面近くの内部欠陥も含めて
一度に一定幅の領域の探傷を不感帯なく行い、被検査材
中の微細な介在物などの内部欠陥を、被検査材の全面に
わたって高い検出能力で検出する方法として、特開平７
−２５３４１４号及び特開平１１−８３８１５号に記載
の探傷方法及び装置が提案されている。これは、超音波
探傷装置の検出部を、移送される被検材を挟んでライン
フォーカス型送信アレイプローブとラインフォーカス型
受信アレイプローブとを対向配列（配列の方向は被検材
の板幅方向）したもので、送信アレイプローブから送信
された超音波によって生起された内部欠陥からの反射波
を送信アレイプローブと対向配置した受信アレイプロー
ブによって受信することにより、被検材の内部欠陥を表
裏面直下の不感帯なしに検出するものである。

【０００３】すなわち、図７に示すように、送信アレイ
プローブから送信され、被検材（鋼帯Ｓ）を０．５往復
して受信アレイプローブに到達する０．５往復透過波Ｔ
１と被検材を１．５往復して受信アレイプローブに到達
する１．５往復透過波Ｔ２との間にあらわれる欠陥から
の反射波Ｆ１，Ｆ２をゲート回路によって抽出し、反射
波Ｆ１，Ｆ２の振幅が所定レベル以上である場合には、
欠陥反射波があるとして内部欠陥を検出する方法であ
る。

【０００４】一般的に上記のような超音波探傷法を用い
て内部欠陥を探傷する場合、そこから得られる情報は単
位面積当たり欠陥の個数である内部欠陥の密度（個／ｍ
²）である。この欠陥密度の大小により欠陥の問題度が
評価され、欠陥密度が大きい方が内部欠陥の問題度が大
きいと評価される。例えば鋼帯においては、内部欠陥の
存在の程度（清浄度）を評価し、内部欠陥厳格材への充
当規制を行っていた。

【０００５】従来は上記のように、内部欠陥の存在位置
にかかわらず、内部欠陥の密度のみで評価をおこなって
いた。即ち、評価対象となる内部欠陥の密度の算出に際
して、内部欠陥の板厚方向の位置情報が加味されていな
かった。一方、内部欠陥の存在位置が板厚方向の表層に
近いほど、有害度が高い、すなわち加工時の割れにつな
がる可能性が高くなる場合があることが判ってきた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】従来の方法では、板厚
方向の内部欠陥の存在位置を測定しておらず、内部欠陥
の密度の算出に際して、内部欠陥の板厚方向の位置情報
が加味されていないため、検出した欠陥の有害度を正確
には評価できていないという問題があった。すなわち、
内部欠陥位置に関わらず検出された欠陥個数のみに基づ
き内部欠陥の評価を行うことにより、例えば、欠陥密度
は低いが、板厚の表層近くに内部欠陥が顕在化している
場合は、欠陥密度の判定では合格となるものの、実際の
加工において割れが発生してしまう場合があった。この
ような問題を回避するため、欠陥密度の合否のしきい値
を低く設定すると、実際には割れ発生の問題のない帯状
材を不合格としてしまうため、歩留りの低下につなが
る。すなわち欠陥密度は高いものの、板厚中央部に欠陥
が多量に存在する場合は、実際には割れが発生しないに
も関わらず不合格と判定され、歩留りの低下を招いてい
た。

【０００７】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
ものであり、内部欠陥の板厚方向の位置情報を加味した
内部欠陥密度を算出するようにして、従来求めていた内
部欠陥密度からは予想されない不具合の発生を防止し、
歩留りを向上して生産性を良好とした内部欠陥検出方法
を提供することを目的とするものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明者らは、内部欠陥
の検出を行うとともに内部欠陥の板厚方向の存在位置を
求めて、欠陥個数と欠陥の位置情報から総合的に内部欠
陥の問題度を評価することにより、上記課題を解決した
ものである。すなわち本発明のうち請求項１に係る内部
欠陥検出方法は、帯状体の内部欠陥を超音波探傷装置を
用いて検出する内部欠陥検出方法において、前記帯状体
の内部欠陥を検出するとともに当該内部欠陥の前記帯状
体における板厚方向の位置を求め、当該内部欠陥の板厚
方向の位置情報を加味して前記帯状体における内部欠陥
密度を算出し、該内部欠陥密度の大小により内部欠陥の
問題度を判断することを特徴としている。

【０００９】また、本発明のうち請求項２に係る内部欠
陥検出方法は、帯状体の内部欠陥を超音波探傷装置を用
いて検出する内部欠陥検出方法において、前記帯状体の
内部欠陥を検出するとともに当該内部欠陥の前記帯状体
における板厚方向の位置を求め、当該内部欠陥の板厚方
向の位置情報に基づいて板厚中央部から板厚表層に近づ
くほど大きくなる補正係数を設定し、検出された各板厚
方向位置での前記内部欠陥の個数と設定された各板厚方
向位置での前記補正係数とを乗じて各板厚方向位置での
補正された内部欠陥個数を算出し、当該補正された内部
欠陥個数を全ての板厚方向位置で足し合わせて内部欠陥
総個数を求め、この内部欠陥総個数から前記帯状体にお
ける内部欠陥密度を算出し、該内部欠陥密度の大小によ
り内部欠陥の問題度を判断することを特徴としている。

【００１０】更に、本発明のうち請求項３に係る内部欠
陥検出方法は、帯状体の内部欠陥を超音波探傷装置を用
いて検出る内部欠陥検出方法において、第１のしきい値
を用いて前記帯状体の内部欠陥を検出するとともに当該
内部欠陥の前記帯状体における板厚方向の位置を求め、
当該内部欠陥の板厚方向の位置情報に基づいて板厚中央
部から板厚表層に近づくほど小さくなる第２のしきい値
を設定し、第１のしきい値を用いて検出された前記内部
欠陥の超音波波形に対して、前記第２のしきい値を用い
て再度フィルタリング処理を行なって内部欠陥を検出し
直し、検出された内部欠陥の個数に基づいて前記帯状体
における内部欠陥密度を算出し、該内部欠陥密度の大小
により内部欠陥の問題度を判断することを特徴としてい
る。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、被検査材である帯状体を鋼
帯とし、超音波送信子と超音波受信子を対向配置し、該
超音波送信子から超音波ヒ゛ームを鋼帯に向けてほぼ垂直に
送信して内部欠陥からの反射波を受信して欠陥の検出を
行う透過型超音波探傷法を例として、図面を参照して本
発明を詳細に説明する。

【００１２】本発明に係る内部欠陥検出方法の第１実施
形態に適用される透過型超音波探傷装置の概略を図１に
示す。図１に示すように、帯状体である鋼帯Ｓは、左側
（上流側）から右側（下流側）に向けて搬送される。そ
して、上流側から下流側に向けて、上流側デフレクタロ
ール２、水槽７、リンガーロール５、及び下流側デフレ
クタロール６が配置されている。

【００１３】ここで、水槽７中には、超音波伝播媒質と
しての水が収容されると共に、水中の上流側には第１の
搬送ロール３が設置され、水中の下流側には第２の搬送
ロール４が設置されている。そして、第１の搬送ロール
３と第２の搬送ロール４との間には、超音波探傷装置の
センサ部である超音波送信子１ａと超音波受信子１ｂと
が鋼帯Ｓを挟んで当該鋼帯Ｓの板厚方向で対向配置され
ている。超音波送信子１ａ及び超音波受信子１ｂは、そ
れぞれ、図示はしないが、一次元アレイ型ラインセンサ
で構成されている。

【００１４】また、超音波送信子１ａ及び超音波受信子
１ｂは、探傷装置本体１ｃに接続されている。この探傷
装置本体１ｃは、超音波送信子１ａに接続される送信回
路１ｄ及び超音波受信子１ｂに接続される受信回路１ｅ
で構成されている。送信回路１ｄは、超音波送信子１ａ
の各素子（振動子）に接続される複数の電気パルス送信
器（図示せず）と、これら複数の電気パルス送信器に接
続する同期信号発生器（図示せず）とからなり、各電気
パルス送信器は、同期信号発生器からのクロックパルス
を受けて同期をとって電気パルスを対応する各素子に出
力可能となっている。

【００１５】また、受信回路１ｅは、図２に示すよう
に、主な構成要素として、増幅器１１、ゲート回路１
３、ピーク検出器１４、欠陥判定回路１５、及び内部欠
陥密度算出器１７を備えている。図１に示した透過型超
音波探傷装置では、図７に示したように鋼帯Sの表面か
らの透過波及び欠陥からの反射波を用い、内部欠陥の検
出が行われる。すなわち超音波送信子１ａから被検査材
である鋼帯Sに超音波が送信され、鋼帯Sを０．５往復し
て超音波受信子１ｂに到達する０．５往復透過波Ｔ１と
鋼帯Sを１．５往復して超音波受信子１ｂに到達する
１．５往復透過波Ｔ２との間に欠陥からの反射波Ｆ１，
Ｆ２が発生する。これら受信された超音波を増幅器１１
で増幅し、このうち反射波Ｆ１，Ｆ２のみを増幅器１１
に接続されたゲート回路１３で抽出する。ここで、増幅
器１１は、ゲイン設定器１２で設定されたゲインで受信
された超音波を増幅する。

【００１６】ゲート回路１３における抽出方法を、図３
を参照して具体的に説明すると、図３（ｂ）に示すよう
に、透過波T1および透過波T2を検出している間は、図３
（ａ）に示すように、ゲート信号をOFFとして、透過波T
1と透過波T2の間ではゲート信号をONとして、反射波Ｆ
１，Ｆ２のみを抽出できるようにしている。ゲート回路
１３は、抽出した反射波Ｆ１，Ｆ２の出力信号を出力す
る。

【００１７】ピーク検出器１４は、ゲート回路１３の出
力信号を入力し、その出力信号のピーク値を検出して出
力する。欠陥判定回路１５は、ピーク検出器１４の出力
信号が所定レベルのしきい値以上であるときには、欠陥
という判定を出力する。すなわち、図３（ｂ）に示すよ
うに検出したい最小の欠陥体積に応じた反射波F1、F2の
振幅の高さを下限値（しきい値）として設定しておき、
当該下限値以上の振幅を有する反射波が得られた場合、
欠陥が存在するという判定を出力する。前述のしきい値
は、閾値設定器１６によって設定される。

【００１８】内部欠陥密度算出器１７は、欠陥判定回路
１５の出力信号を入力するとともに、内部欠陥の鋼帯Ｓ
における板厚方向の位置を求め、内部欠陥の板厚方向の
位置情報を加味して鋼帯Ｓにおける内部欠陥密度を算出
し、算出結果を出力する。内部欠陥密度算出器１７によ
る板厚方向の欠陥位置の求め方を図３（ｂ）、（ｃ）を
用いて具体的に説明する。透過波T1が検出され始めた時
間を０とし、透過波T2が検出され始めた時間をｔ₀とす
ると、板厚方向の中心位置からの情報はｔ₀／２の時に
検出され、この時に板厚方向の欠陥位置（欠陥深さ）は
極大値である板厚／２をとる。このような時間軸上（板
厚方向位置に対応した時間）での内部欠陥からの反射波
F1あるいはF2の検出時間を求めることにより、内部欠陥
の板厚方向位置を求めることができる。なお、欠陥検出
のための反射波としては、F1、F2があるが、欠陥位置を
求めるのには、どちらか一方の明瞭に検出される反射波
を用いればよい。また、欠陥の板厚方向の位置としては
欠陥位置検出に用いる反射波が最初にしきい値を超えた
時間から求めればよい。具体的に図３を用いて説明する
と、図３（ｂ）において欠陥からの反射波であると明瞭
に検出される反射波F2を用い、図３（ｃ）のように検出
された時間ｔ_xにおける欠陥深さ（板表面からの欠陥位
置）Xが内部欠陥の位置情報として与えられる。

【００１９】次に、内部欠陥密度算出器１７による内部
欠陥密度の算出方法について説明する。先ず、内部欠陥
密度算出器１７は、前述の内部欠陥の位置情報に基づい
て、図４に示すような板厚方向位置に応じて板厚中心即
ち板厚の1／2の場合に極小値を与え、板厚表層に近づく
程大きくなる補正係数を設定する。そして、内部欠陥密
度算出器１７は、検出された各板厚方向位置での内部欠
陥の個数と設定された各板厚方向位置での補正係数とを
乗じて各板厚方向位置での補正された内部欠陥個数を算
出し、当該補正された内部欠陥個数を全ての板厚方向位
置で足し合わせて内部欠陥総個数を求め、この内部欠陥
総個数から鋼帯Ｓにおける内部欠陥密度（個／ｍ²）を
算出する。すなわち各板厚方向位置での補正された内部
欠陥個数＝（各板厚方向位置で検出された内部欠陥個
数）×（各板厚方向位置での補正係数）としてあらわさ
れ、これを全板厚方向位置で足し合せて内部欠陥個数の
総個数を求め、この個数から内部欠陥密度（個／ｍ²）
求めるものである。

【００２０】このようにして算出された内部欠陥密度の
大小により内部欠陥の問題度を判断する。すなわち、補
正された内部欠陥個数から求められた内部欠陥密度は、
板厚中央部に比べ板厚表層に近い欠陥の方が大きくなる
ように重み付けがなされており、板厚中央部に比べ板厚
表層に近い欠陥の方が内部欠陥密度に対する寄与度が大
きく、欠陥の個数が同じであれば板厚中央部に比べ板厚
表層に近い欠陥の方が多ければ多いほど内部欠陥密度が
大きくなり、内部欠陥の問題度が大きいと判断される。

【００２１】なお、図４では、補正係数は板厚中心から
表面に対し直線的に比例して数値を変えるようにしてい
るが、補正係数の与え方はこれに限定されず、用途によ
って特に表面での内部欠陥の有害度が大きくなるような
場合には板厚中心から板厚表面に対し指数関数的に大き
くなるように設定しても良いし、あるいは段階的に大き
くなるように設定してもよい。

【００２２】次に、本発明に係る内部欠陥検出方法の第
２実施形態について図５及び図６を参照して説明する。
この方法に用いられる透過型超音波探傷装置は、図１に
示す装置と基本構成は同様であるが、受信回路１ｅの構
成が異なっている。すなわち、受信回路１ｅは、図５に
示すように、主な構成要素として、増幅器１１、ゲイン
設定器１２、ゲート回路１３、ピーク検出器１４、欠陥
判定回路１５、他の欠陥判定回路１９、第２のしきい値
設定器２０及び内部欠陥算出器２１を備えている。

【００２３】ここで、増幅器１１、ゲイン設定器１２、
ゲート回路１３、ピーク検出器１４及び欠陥判定回路１
５の機能は、図１乃至図３に示した各構成部材の機能と
同一である。なお、欠陥判定回路１５に設定されるしき
い値は、第１のしきい値設定器１８により第１のしきい
値として設定される。従って、欠陥判定回路１５は、第
１のしきい値を用いて鋼帯Ｓの内部欠陥を検出判定し、
その判定結果を他の欠陥判定回路１９に出力する。

【００２４】この透過型超音波探傷装置において、第２
のしきい値設定器２０は、内部欠陥の鋼帯Ｓにおける板
厚方向の位置を図３（ｃ）に示す原理と同様の原理で求
め、この内部欠陥の位置情報に基づいて、図６に示すよ
うな板厚方向位置に応じて板厚中心即ち板厚の1／2の場
合に極大値を与え、板厚表層に近づく程小さくなる第２
のしきい値を設定し、その設定された第２のしきい値の
出力信号を他の欠陥判定回路１９に出力する。

【００２５】そして、他の欠陥判定回路１９は、第１の
しきい値を用いて検出された各内部欠陥の超音波波形に
対し、前記第２のしきい値を用いて再度フィルタリング
処理を行い、内部欠陥を検出判定し直す。そして、他の
欠陥判定回路１９は内部欠陥密度算出器２１に判定結果
を出力する。内部欠陥密度算出器２１は、検出された内
部欠陥の個数に基づいて鋼帯Ｓにおける内部欠陥密度
（個／ｍ²）を算出する。そして、このようにして算出
された内部欠陥密度の大小により内部欠陥の問題度を判
断する。

【００２６】このように、他の欠陥判定回路１９で第２
のしきい値を用いた再度のフィルタリング処理を行なう
ことにより、板厚表層部に比べ板厚中央でより高い波形
から欠陥情報を検出し、すなわち板厚中央部に比べ板厚
表層でより低い波形から内部欠陥情報が検出されるよう
になり、板厚中央部に比べ板厚表層に近い欠陥の方が内
部欠陥の問題度が大きいと判断されるようになってい
る。

【００２７】なお、図６では、第２のしきい値は板厚中
心から表面に対し直線的に比例して数値を変えるように
しているが、第２のしきい値の与え方はこれに限定され
ず、用途によって特に表面での内部欠陥の有害度が大き
くなるような場合には板厚中心から板厚表面に対し指数
関数的に小さくなるように設定しても良いし、あるいは
段階的に小さくなるように設定してもよい。

【００２８】上記のように鋼帯Ｓの内部欠陥を検出する
とともに当該内部欠陥の鋼帯Ｓにおける板厚方向の位置
を求め、当該内部欠陥の板厚方向の位置情報を加味して
鋼帯Ｓにおける内部欠陥密度を算出し、該内部欠陥密度
の大小により内部欠陥の問題度を判断するので、内部欠
陥の有害度を内部欠陥密度を求める際に盛込み、従来求
めていた内部欠陥密度からは予想されなかったような不
具合の発生を防止し、歩留りを向上して生産性を向上で
きる。

【００２９】また、いったん所定のレヘ゛ルのしきい値で判
断した内部欠陥の情報を求めるため、例えば内部欠陥の
発生因子を検討するために製造条件との関係を検討する
際にも、所定の一定のレベルを超えた欠陥の発生情報を
求め、調査することができる。なお、上記説明では、透
過型超音波探傷法による場合を説明したが、この方法に
限定するものではなく、超音波探傷法であれば他の透過
型超音波探傷法であっても、反射型超音波探傷法であっ
ても、板厚表面からの情報と内部欠陥からの情報を分け
て観察することができ、内部欠陥に位置情報を求めるこ
とができ適用できる。

【００３０】

【実施例】本発明の第１実施形態の効果を検証すべく、
補正された内部欠陥個数用いて、具体的には図４に示し
た板厚方向中心で０．５、表面で１．２となる補正係数
を与えて内部欠陥密度を求めた場合と従来の方法で内部
欠陥密度を求めた場合について比較検討をおこなった。

【００３１】検査対象は鋼帯であり、鋼種は低炭素鋼で
あり、用途は深しぼり缶である。本発明の第１実施形態
を採用することにより、従来方法に比べ、実際にプレス
成形した場合の不具合の発生を1／3程度に削減すること
ができ、歩留りも３０％程度向上することができた。ま
た、本発明の第２実施形態の効果を検証すべく、第２の
しきい値を用いて、具体的には第１のしきい値をＡと
し、図６に示した板厚方向中心で１．２Ａ、表面でＡと
なる第２のしきい値を設定して再度のフィルタリング処
理を行ない内部欠陥密度を求めた場合と従来の方法で内
部欠陥密度を求めた場合について比較検討をおこなっ
た。

【００３２】なお、前記第１のしきい値Ａは従来のしき
い値の８０％とし、従来よりも小さな値として小さな欠
陥までも検出した。検査対象は鋼帯であり、鋼種は低炭
素鋼であり、用途は深しぼり缶である。本発明の第２実
施形態を採用することにより、従来方法に比べ、実際に
プレス成形した場合の不具合の発生を１／３程度に削減
することができ、歩留りも３０％程度向上することがで
きた。

【００３３】

【発明の効果】本発明に係る内部欠陥検出方法によれ
ば、本方法により従来と同様の内部欠陥密度による問題
度の判断を行っても、有害度の大きい板厚表層に存在す
る欠陥は検出個数が少なくても問題度が大きいとするこ
とができ、加工時の割れの発生を低下することが出来
る。また、板厚中央付近の内部欠陥については、多少検
出個数が多くても問題度が低いように判断することがで
き歩留りを向上できる。また、前述のように、いったん
所定のレヘ゛ルのしきい値で判断した内部欠陥の情報を求め
るため、例えば内部欠陥の発生因子を検討するために製
造条件と欠陥の発生個数の関係を調査する際にも、所定
の一定レベルを超えた欠陥の発生情報を得た上で検討す
ることができるという利点も有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る内部欠陥検出方法の第１実施形態
及び第２実施形態に適用される透過型超音波探傷装置の
概略図である。

【図２】本発明に係る内部欠陥検出方法の第１実施形態
に適用される受信回路のブロック図である。

【図３】ゲート信号、超音波波形、及び板厚方向の欠陥
位置のタイムチャートである。

【図４】補正係数と板厚方向位置との関係を示すグラフ
である。

【図５】本発明に係る内部欠陥検出方法の第２実施形態
に適用される受信回路のブロック図である。

【図６】第２のしきい値と板厚方向位置との関係を示す
グラフである。

【図７】透過型超音波探傷装置における透過波及び欠陥
からの反射波を示す図である。

【符号の説明】

１透過型超音波探傷装置１ａ超音波送信子１ｂ超音波受信子１ｃ探傷装置本体１ｄ送信回路１ｅ受信回路２上流側デフレクタロール３第１の搬送ロール４第２の搬送ロール５リンガーロール６下流側デフレクタロール７水槽１１増幅器１２ゲイン設定器１３ゲート回路１４ピーク検出器１５欠陥判定回路１６しきい値設定器１７内部欠陥密度算出器１８第１のしきい値設定器１９他の欠陥判定回路２０第２のしきい値設定器２１内部欠陥密度算出器Ｓ鋼帯Ｔ１，Ｔ２透過波Ｆ１，Ｆ２反射波

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者山崎拓也千葉県千葉市中央区川崎町１番地川崎製鉄株式会社千葉製鉄所内 (72)発明者荒谷誠千葉県千葉市中央区川崎町１番地川崎製鉄株式会社千葉製鉄所内Ｆターム(参考） 2G047 AA07 AB04 BA01 BA03 BB06 BC07 EA10 GG17 GG24 GG33

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】帯状体の内部欠陥を超音波探傷装置を用い
て検出する内部欠陥検出方法において、前記帯状体の内部欠陥を検出するとともに当該内部欠陥
の前記帯状体における板厚方向の位置を求め、当該内部
欠陥の板厚方向の位置情報を加味して前記帯状体におけ
る内部欠陥密度を算出し、該内部欠陥密度の大小により
内部欠陥の問題度を判断することを特徴とする内部欠陥
検出方法。
【請求項２】帯状体の内部欠陥を超音波探傷装置を用い
て検出する内部欠陥検出方法において、前記帯状体の内部欠陥を検出するとともに当該内部欠陥
の前記帯状体における板厚方向の位置を求め、当該内部
欠陥の板厚方向の位置情報に基づいて板厚中央部から板
厚表層に近づくほど大きくなる補正係数を設定し、検出
された各板厚方向位置での前記内部欠陥の個数と設定さ
れた各板厚方向位置での前記補正係数とを乗じて各板厚
方向位置での補正された内部欠陥個数を算出し、当該補
正された内部欠陥個数を全ての板厚方向位置で足し合わ
せて内部欠陥総個数を求め、この内部欠陥総個数から前
記帯状体における内部欠陥密度を算出し、該内部欠陥密
度の大小により内部欠陥の問題度を判断することを特徴
とする内部欠陥検出方法。
【請求項３】帯状体の内部欠陥を超音波探傷装置を用い
て検出する内部欠陥検出方法において、第１のしきい値を用いて前記帯状体の内部欠陥を検出す
るとともに当該内部欠陥の前記帯状体における板厚方向
の位置を求め、当該内部欠陥の板厚方向の位置情報に基
づいて板厚中央部から板厚表層に近づくほど小さくなる
第２のしきい値を設定し、第１のしきい値を用いて検出
された前記内部欠陥の超音波波形に対して、前記第２の
しきい値を用いて再度フィルタリング処理を行なって内
部欠陥を検出し直し、検出された内部欠陥の個数に基づ
いて前記帯状体における内部欠陥密度を算出し、該内部
欠陥密度の大小により内部欠陥の問題度を判断すること
を特徴とする内部欠陥検出方法。