JP2002288822A - Magnetic disk device and defective registration method on magnetic disk medium - Google Patents

Magnetic disk device and defective registration method on magnetic disk medium

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JP2002288822A
JP2002288822A JP2001085859A JP2001085859A JP2002288822A JP 2002288822 A JP2002288822 A JP 2002288822A JP 2001085859 A JP2001085859 A JP 2001085859A JP 2001085859 A JP2001085859 A JP 2001085859A JP 2002288822 A JP2002288822 A JP 2002288822A
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JP
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magnetic disk
temperature
disk device
disk medium
medium
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JP2001085859A
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Masayuki Suzuki
正之 鈴木
Yukio Ota
幸夫 大田
Kiyoshi Makino
潔 牧野
Hiroshi Shimamoto
裕志 嶋本
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance reliability of a magnetic disk device by detecting a defective area on a magnetic disk medium with high sensitivity over large area, registering the defective area and not carrying out the data read/write on a registered area. SOLUTION: This method is a defective registration method on the magnetic disk medium in a magnetic disk device comprising a magnetic disk 2, a spindle motor, and a magneto resistive head 1 utilizing a magneto resistive element as a reading element of data. In this method, a whole magnetic disk device is held in a constant temperature bath 6 used in the temperature performance test, and a temperature in the constant temperature bath is set to the range from 50 deg.C to 60 deg.C higher than a normal operation temperature of the magnetic disk device. An area on the magnetic disk medium where a read error generates in a reading examination by using the magneto resistive head 1 is beforehand registered as the defective area.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
に関し、詳細には、磁気ディスク装置に使用される磁気
ディスク媒体上の欠陥登録方法及び磁気ディスク装置に
関する。
The present invention relates to a magnetic disk drive, and more particularly, to a method for registering a defect on a magnetic disk medium used in the magnetic disk drive and a magnetic disk drive.

【0002】[0002]

【従来の技術】磁気ディスク装置において、磁気ディス
ク媒体上に複数個の磁気記録欠陥部が存在した場合、そ
の箇所は欠陥部として登録する。実際の稼動時には、そ
の登録されたデータに基づいて、欠陥が存在するセクタ
では、データの読書きを行わない制御方式をとってい
た。
2. Description of the Related Art In a magnetic disk drive, when a plurality of magnetic recording defects exist on a magnetic disk medium, those positions are registered as defectives. At the time of actual operation, based on the registered data, a control method in which data is not read / written in a sector having a defect is employed.

【0003】従来の磁気ディスク装置媒体上の欠陥部登
録方法について説明すると、磁気ディスク媒体を磁気デ
ィスク装置に組込む前に、予め磁気ディスク媒体上に欠
陥部が無いことを確認する。確認方法は、通常状態の磁
気ヘッドよりも浮上量の低い接触検出型ヘッドを用い
て、磁気ディスク媒体表面を走査させる。磁気ディスク
媒体上に欠陥が存在すると、ヘッドに搭載した接触検出
センサが反応し、出力信号を発する。磁気ディスク媒体
出荷の際は、その出力信号が判定基準以下になった場合
に、欠陥無しと判定する。
[0003] A conventional method for registering a defective portion on a magnetic disk device medium will be described. Before assembling the magnetic disk medium into the magnetic disk device, it is confirmed in advance that there is no defective portion on the magnetic disk medium. As a checking method, the surface of the magnetic disk medium is scanned using a contact detection type head having a lower flying height than the magnetic head in a normal state. When a defect exists on the magnetic disk medium, the contact detection sensor mounted on the head reacts and generates an output signal. When the magnetic disk medium is shipped, if the output signal falls below the criterion, it is determined that there is no defect.

【0004】次に、前記確認済磁気ディスク媒体を磁気
ディスク装置に組込んだ後、磁気ディスク媒体上の全シ
リンダに磁気ヘッドを走査させ、磁気ディスク媒体の欠
陥部を検索する。欠陥部を発見すると、その位置情報を
磁気ディスク媒体上の所定の位置に記録する。そして、
以上説明した一連の動作は、常温状態で行っていた。
Next, after assembling the confirmed magnetic disk medium into a magnetic disk device, the magnetic head is scanned over all cylinders on the magnetic disk medium to search for a defective portion of the magnetic disk medium. When a defect is found, the position information is recorded at a predetermined position on the magnetic disk medium. And
A series of operations described above were performed in a normal temperature state.

【0005】また、T.A.現象が引き起こすリードエ
ラーを未然に防止する技術が、特開平8ー279239
号公報に開示されている。この公報の開示によれば、高
地における磁気ディスク装置の稼働時の信頼性を確保す
るために、磁気ディスク装置を装置仕様に合った気圧ま
で減圧して磁気ディスク媒体上の異常突起物の検索、登
録を行うことが示されている。
Further, T.I. A. A technique for preventing a read error caused by the phenomenon beforehand is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-279239.
No. 6,086,045. According to the disclosure of this publication, in order to ensure the reliability of the operation of the magnetic disk device at high altitude, the pressure of the magnetic disk device is reduced to a pressure matching the device specifications, and the search for abnormal protrusions on the magnetic disk medium is performed. The registration is shown to be performed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】磁気ディスク装置の小
型高密度化により、磁気ディスク装置に使用する磁気ヘ
ッドは、最近磁気抵抗型ヘッド(以下MRヘッド)が主
流である。媒体上に書かれてある磁気の外部磁界の影響
で、強磁性体であるMR素子の電気抵抗値が変化し、そ
の変化分を信号として再生利用する方式をMRヘッドは
採っている。そのため、磁気抵抗効果型素子(MR素
子)の急激な電気抵抗変化は、再生信号の直流成分の移
動を引き起こすこととなり、リードエラーの発生を招
く。
Due to the miniaturization and high-density of the magnetic disk drive, the magnetic head used in the magnetic disk drive has recently been mainly a magnetoresistive head (hereinafter, MR head). The MR head employs a method in which the electric resistance of the ferromagnetic MR element changes due to the influence of an external magnetic field written on the medium, and the change is reproduced and used as a signal. Therefore, a sudden change in the electric resistance of the magnetoresistive element (MR element) causes a movement of the DC component of the reproduction signal, which causes a read error.

【0007】実際には、磁気ディスク媒体とMRヘッド
素子部が接触した場合に、その接触熱によってMR素子
部に急激な温度上昇が生じて、MR素子の電気抵抗変化
が起こることが多い。この接触によってリードエラーと
なる現象を、サーマルアスペリティ(以下T.A.)現
象と呼んでいる。
Actually, when the magnetic disk medium comes into contact with the MR head element portion, the contact heat often causes a rapid temperature rise in the MR element portion, and the electrical resistance of the MR element often changes. The phenomenon that leads to a read error due to this contact is called a thermal asperity (hereinafter TA) phenomenon.

【0008】T.A.は、MRヘッドと磁気ディスク媒
体との接触で生じるのだが、特に磁気ディスク媒体表面
に存在する突起物との接触によって発生することが多
い。この突起物は、磁気ディスク媒体成膜時の発塵物、
ガラス基板の表面欠陥等、磁気ディスク媒体が初期的に
持っている欠陥である。そのため、初期に行う欠陥部登
録によって、欠陥起因のリードエラーは、ある程度未然
に防ぐことができる。
[0008] T. A. Is caused by the contact between the MR head and the magnetic disk medium. In particular, it often occurs due to the contact with a protrusion existing on the surface of the magnetic disk medium. These protrusions are dust particles generated during film formation on the magnetic disk medium,
These are defects that the magnetic disk medium initially has, such as surface defects of a glass substrate. Therefore, a read error caused by a defect can be prevented to some extent by the initial registration of the defective portion.

【0009】しかし、最近の磁気ディスク装置のMRヘ
ッドと磁気ディスク媒体との間隔は10〜20nmと狭
くなってきている。一方で、磁気ディスク媒体の突起物
の高さは10nm程度であることが多い。そのため、突
起物先端高さとMR素子との隙間は数nm程度のマージ
ンしかない。外的要因によりMRヘッドの浮上量は変動
するために、MR素子と媒体表面の突起物は、ある確率
で接触する可能性があり、その際にT.A.が発生して
しまうことになる。
However, the distance between the MR head of a recent magnetic disk drive and the magnetic disk medium has been reduced to 10 to 20 nm. On the other hand, the height of a protrusion on a magnetic disk medium is often about 10 nm. For this reason, the gap between the protrusion tip height and the MR element has a margin of only several nm. Since the flying height of the MR head fluctuates due to external factors, there is a possibility that the MR element and the protrusion on the medium surface come into contact with a certain probability. A. Will occur.

【0010】また、磁気ディスク媒体は予め接触検出型
ヘッドで突起物が無いことを確認したものであるが、実
際にはヘッドに搭載した接触検出センサからの出力信号
が判定基準出力以下となった場合に、突起物無しと判断
している。そのため、判定基準付近の小さな突起は、あ
る確率ですり抜けてしまうことがある。このような小さ
な突起でも、直接MR素子と接触することで、T.A.
となる場合がある。
Although the magnetic disk medium has been confirmed in advance to be free of protrusions by a contact detection type head, the output signal from the contact detection sensor mounted on the head is actually less than the judgment reference output. In this case, it is determined that there is no protrusion. For this reason, a small protrusion near the determination reference may slip through at a certain probability. Even with such a small protrusion, by directly contacting the MR element, the T.V. A.
It may be.

【0011】初期的に磁気ディスク媒体に突起が無い正
常な状態でも、磁気ディスク装置組込みの際に塵埃等の
異物を磁気ディスク媒体に埋め込み、その埋め込み物に
MR素子が接触して、T.A.が発生してしまう場合も
ある。更に、磁気ディスク装置内に存在する有機物が磁
気ディスク媒体表面に付着し、その付着物とMR素子が
接触して、T.A.となる場合もある。
Even when the magnetic disk medium is initially in a normal state without protrusions, foreign matter such as dust is embedded in the magnetic disk medium when the magnetic disk apparatus is incorporated, and the MR element comes into contact with the buried substance. A. May occur. Further, an organic substance existing in the magnetic disk device adheres to the surface of the magnetic disk medium, and the adhered substance comes into contact with the MR element. A. In some cases,

【0012】更に、前記特開平8ー279239号公報
に開示の技術では、高地における磁気ディスク装置の稼
働時と同等の環境、条件を作り出してこの環境、条件の
元での異常突起の検出を行うものであるが、リードエラ
ー検出の際に減圧槽をわざわざ準備して減圧槽でのチェ
ックを実施する余分の工程を必要とする。
Further, according to the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-279239, an environment and conditions equivalent to those at the time of operation of a magnetic disk drive at a high altitude are created, and abnormal projections are detected under the environment and conditions. However, when a read error is detected, an extra step of preparing the decompression tank and performing a check in the decompression tank is required.

【0013】本発明の目的は、上記T.A.現象による
問題を回避し、磁気ディスク装置の信頼性を向上すると
ともに、MR素子の記録媒体への接触可能性の検出に、
磁気ディスク装置の高温動作試験(必須の試験)に併用
して効率的にリードエラー検出することにある。
An object of the present invention is to provide the above-described T.A. A. In order to avoid the problem caused by the phenomenon and improve the reliability of the magnetic disk drive, and to detect the possibility of contact of the MR element with the recording medium,
An object of the present invention is to efficiently detect a read error in combination with a high-temperature operation test (essential test) of a magnetic disk device.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は次のような構成を採用する。磁気ディスク
と、前記磁気ディスクを一定速度で回転させるスピンド
ルモータと、前記磁気ディスクの記録データの読取り素
子に磁気抵抗効果型素子を用いた磁気抵抗効果型ヘッド
と、を備えた磁気ディスク装置の磁気ディスク媒体上の
欠陥登録方法において、前記磁気ディスク装置全体を温
度動作試験で使用する恒温槽に収容し、前記恒温槽の温
度を磁気ディスク装置の通常動作温度よりも高い50〜
60℃の範囲に設定し、前記磁気抵抗効果型ヘッドの読
み取り検査によってリードエラーの発生する磁気ディス
ク媒体上の箇所を予め欠陥部として登録する磁気ディス
ク媒体上の欠陥登録方法。
In order to solve the above problems, the present invention employs the following configuration. A magnetic disk drive comprising: a magnetic disk; a spindle motor for rotating the magnetic disk at a constant speed; and a magnetoresistive head using a magnetoresistive element as a read element for recording data on the magnetic disk. In the method for registering defects on a disk medium, the entire magnetic disk device is housed in a thermostat used for a temperature operation test, and the temperature of the thermostat is set to 50 to 50 which is higher than a normal operating temperature of the magnetic disk device.
A method for registering a defect on a magnetic disk medium in which the temperature is set in a range of 60 ° C. and a location on the magnetic disk medium where a read error occurs in the reading inspection of the magnetoresistive head is registered as a defective portion in advance.

【0015】また、磁気ディスクと、前記磁気ディスク
を一定速度で回転させるスピンドルモータと、前記磁気
ディスクの記録データの読取り素子に磁気抵抗効果型素
子を用いた磁気抵抗効果型ヘッドと、を備えた磁気ディ
スク装置において、磁気ディスク装置の通常動作温度よ
りも高い50〜60℃の範囲の条件の下で前記磁気抵抗
効果型ヘッドの読み取りでリードエラーの発生する磁気
ディスク媒体上の箇所を予め欠陥部として登録される磁
気ディスク装置。
Further, the magnetic disk includes a magnetic disk, a spindle motor for rotating the magnetic disk at a constant speed, and a magnetoresistive head using a magnetoresistive element as an element for reading recorded data from the magnetic disk. In a magnetic disk drive, a position on a magnetic disk medium where a read error occurs in reading of the magnetoresistive head under a condition of 50 to 60 ° C. higher than a normal operating temperature of the magnetic disk drive is previously determined as a defective portion Disk device registered as.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】本発明の実施形態に係る磁気ディ
スク装置及び磁気ディスク媒体上の欠陥登録方法につい
て、図面を用いて以下説明する。図1は、本発明の実施
形態に係る磁気ディスク媒体上の欠陥部を検索・登録す
るための構成を示すブロック図である。図1において、
磁気ディスク装置5は、1枚以上で構成される磁気ディ
スク媒体2と、高精度位置決めが可能なキャリッジ3
と、キャリッジ3に固定されたMRヘッド1と、キャリ
ッジ位置決め制御、データ記録・再生制御、スピンドル
回転制御等を実施するドライブコントローラ部4と、で
構成される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A magnetic disk drive and a method for registering defects on a magnetic disk medium according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration for searching and registering a defective portion on a magnetic disk medium according to an embodiment of the present invention. In FIG.
The magnetic disk drive 5 includes a magnetic disk medium 2 composed of one or more sheets and a carriage 3 capable of high-precision positioning.
And an MR head 1 fixed to the carriage 3 and a drive controller unit 4 for performing carriage positioning control, data recording / reproduction control, spindle rotation control, and the like.

【0017】磁気ディスク装置5組立後に、磁気ディス
ク媒体2上に存在する突起物等の欠陥部を検索・登録す
るため、磁気ディスク装置5を恒温槽6の中に設置す
る。ここで、恒温槽6は、磁気ディスク装置の種々の試
験の内で必須の試験項目である温度動作試験で使用する
ものであり、本発明の欠陥登録方法のために特別に準備
するものでない。なお、磁気ディスク装置は、高温及び
低温の持続的な動作試験を必須の試験項目として課せら
れており、このために恒温槽は必要な試験設備である。
After assembling the magnetic disk device 5, the magnetic disk device 5 is set in a thermostat 6 in order to search for and register a defective portion such as a protrusion existing on the magnetic disk medium 2. Here, the thermostat 6 is used for a temperature operation test which is an essential test item among various tests of the magnetic disk drive, and is not specially prepared for the defect registration method of the present invention. The magnetic disk device is required to have a high-temperature and low-temperature continuous operation test as an essential test item. Therefore, a thermostat is a necessary test facility.

【0018】そして、恒温槽6の温度は、磁気ディスク
装置における通常の動作温度である25℃よりも高温で
あって、磁気ディスク装置5の仕様に即した温度、例え
ば、50〜60℃の範囲内に設定する。この後、スピン
ドルを回転させた状態で、磁気ディスク媒体2の全シリ
ンダに亘って、MRヘッド1を走査させる。
The temperature of the thermostat 6 is higher than 25 ° C., which is the normal operating temperature of the magnetic disk device, and is in accordance with the specification of the magnetic disk device 5, for example, in the range of 50 to 60 ° C. Set within. Thereafter, the MR head 1 is scanned over all the cylinders of the magnetic disk medium 2 with the spindle rotated.

【0019】こうして、磁気ディスク媒体2の全シリン
ダ上の欠陥部を探索し、その発見された欠陥部の位置情
報として、該当シリンダ番号、セクタ番号等を磁気ディ
スク媒体2上の所定の位置に記録する。以上の一連の動
作は、ドライブコントローラ7によって制御される。な
お、この動作は、磁気ディスク装置5のドライブコント
ロール部4によって制御しても良い。
In this way, the defective portions on all the cylinders of the magnetic disk medium 2 are searched, and the corresponding cylinder number, sector number and the like are recorded at predetermined positions on the magnetic disk medium 2 as the position information of the detected defective portions. I do. The above series of operations is controlled by the drive controller 7. This operation may be controlled by the drive control unit 4 of the magnetic disk device 5.

【0020】図2は、MRヘッドを搭載した磁気ディス
ク装置において、T.A.発生部のリード(Read)
波形を観察した結果であり、上側は通常使用時の常温2
5℃で観察した場合、下側は同一箇所を高温55℃で観
察した場合の波形である。T.A.に相当する波形変化
は、常温では少ないが、高温にすると顕著に変化するこ
とがわかる。このため、高温で磁気ディスク媒体上を検
索した方が、T.A.の原因となる欠陥部を高感度に検
出することができる。
FIG. 2 shows a magnetic disk drive equipped with an MR head. A. Generation part read (Read)
The waveform is the result of observation.
When observed at 5 ° C., the lower side shows a waveform when the same portion is observed at a high temperature of 55 ° C. T. A. It can be seen that the waveform change corresponding to is small at normal temperature, but remarkably changes at high temperature. For this reason, searching on a magnetic disk medium at a high temperature is better for T.V. A. Can be detected with high sensitivity.

【0021】図3に、温度に対する磁気ヘッドスライダ
の浮上量変化を示す。高温になると、空気中分子の平均
自由行程が大きくなるために粘性が低下し、それに伴っ
て、磁気ヘッドスライダの浮上量が低下する。計算によ
れば、現状使用されている浮上量20nm程度の磁気ヘ
ッドスライダの場合、温度が25℃から55℃に変化す
ると、浮上量は0.5〜1.5nm低下する。このた
め、高温にすると、磁気ヘッドスライダと磁気ディスク
媒体欠陥部が接触し易い状態となり、T.A.現象がよ
り顕著となる。また、最近の調査例によると、温度を上
昇させると、MR素子自体が記録媒体側に突出するとい
う物理的現象が生じることも分かってきた。この現象に
よっても、温度上昇でMR素子が記録媒体に接触する可
能性が高くなる。
FIG. 3 shows how the flying height of the magnetic head slider changes with temperature. At a high temperature, the mean free path of the molecules in the air becomes large, so that the viscosity decreases, and accordingly, the flying height of the magnetic head slider decreases. According to calculations, in the case of a magnetic head slider currently used with a flying height of about 20 nm, when the temperature changes from 25 ° C. to 55 ° C., the flying height decreases by 0.5 to 1.5 nm. Therefore, when the temperature is increased, the magnetic head slider and the defective portion of the magnetic disk medium are likely to come into contact with each other. A. The phenomenon becomes more pronounced. Further, according to a recent investigation example, it has been found that when the temperature is increased, a physical phenomenon occurs in which the MR element itself projects toward the recording medium. This phenomenon also increases the possibility that the MR element contacts the recording medium due to a rise in temperature.

【0022】T.A.は、突起物等の磁気ディスク媒体
が初期的に持っている欠陥が原因であることが多かった
が、最近磁気ディスク装置組立後に、装置内の何らかの
有機物、例えば、装置内のガスが固化したもの又は組立
時の治工具からの発塵物などが磁気ディスク媒体に付着
し、その付着物とMRヘッドが接触してT.A.となる
場合がある。この磁気ディスク媒体の付着物を光学顕微
鏡で観察すると、直径1〜3μm、高さ10〜20nm
の核の部分と、核から引き伸ばされた長さ3〜10μm
の尾の部分で構成された形に見えることが多い。この尾
の部分は、前記核の部分が、磁気ヘッドスライダと接触
して、引き摺れられたために生じたと考えられる。
T. A. Most of the problems were caused by initial defects of the magnetic disk medium such as protrusions, but recently, some organic matter in the device after the magnetic disk device was assembled, for example, solidified gas in the device. Alternatively, dust or the like from a jig or a tool at the time of assembly adheres to the magnetic disk medium, and the adhered matter comes into contact with the MR head to cause T.V. A. It may be. Observation of the deposit on the magnetic disk medium with an optical microscope revealed that the diameter was 1 to 3 μm and the height was 10 to 20 nm.
Of the nucleus and a length of 3 to 10 μm stretched from the nucleus
Often looks like a shape composed of tails. It is considered that the tail portion was generated because the core portion was dragged in contact with the magnetic head slider.

【0023】図4に、この媒体付着物の部分を、温度を
変えて欠陥登録した場合の例を示す。図4の左側に示す
例では、〜のシリンダと、〜のセクタにおい
て、黒丸の箇所が欠陥として検出され登録されたことを
示している。常温25℃と高温55℃の場合を比較する
と、高温の方がより広範囲に欠陥登録することがわか
る。理由としては、高温で磁気ヘッドスライダの浮上量
が低下したことにより、欠陥部をより高感度に検出可能
になったことが第1に考えられる。第2に、媒体付着物
は柔らかい有機物で構成されているが、高温により粘性
が低下して、磁気ヘッドスライダに引伸ばされ易くなり
時間経過とともに広がったことが考えられる。
FIG. 4 shows an example of a case where the medium-attached portion is registered as a defect by changing the temperature. In the example shown on the left side of FIG. 4, it is shown that black circles have been detected and registered as defects in cylinders and sectors. Comparing the case of the normal temperature of 25 ° C. and the case of the high temperature of 55 ° C., it can be seen that the defect is registered more widely at the high temperature. The first reason may be that the flying height of the magnetic head slider is reduced at a high temperature, so that a defective portion can be detected with higher sensitivity. Secondly, it is conceivable that the medium deposit is composed of a soft organic substance, but its viscosity is lowered by high temperature, it is easily stretched by the magnetic head slider, and it spreads over time.

【0024】本発明により、T.A.の原因となる磁気
ディスク媒体上の欠陥部を、高感度、広範囲に検出でき
る。この検出された欠陥部を登録し、その登録箇所のデ
ータ読書きを実施しないことにより、磁気ディスク装置
の信頼性が高められる。ここにおいて、磁気ディスク媒
体上の欠陥部の登録についてであるが、周知の登録方法
を採用すればよい。即ち、図2に示すようなMRヘッド
からの出力の内で欠陥信号波形を検出すれば、磁気ディ
スク媒体上の管理エリアに、シリンダ番号、セクタ番
号、ヘッド番号の組み合わせ形式で登録しておく。磁気
ディスク媒体への書き込み時には、管理エリアに登録さ
れた欠陥箇所には書き込まないようにする。
According to the present invention, T.I. A. A defect on a magnetic disk medium that causes the above can be detected with high sensitivity and in a wide range. The reliability of the magnetic disk device is improved by registering the detected defective portion and not reading / writing data at the registered portion. Here, regarding the registration of the defective portion on the magnetic disk medium, a well-known registration method may be adopted. That is, if a defect signal waveform is detected from the output from the MR head as shown in FIG. 2, it is registered in a management area on the magnetic disk medium in the form of a combination of a cylinder number, a sector number, and a head number. At the time of writing to a magnetic disk medium, writing is not performed to a defective portion registered in the management area.

【0025】本発明は、磁気ディスク装置出荷前の出荷
検査を主とするが、パーソナルコンピュータに磁気ディ
スク装置を実装した後でも適用できる。図5に示す様
に、磁気ディスク装置8を実装したパーソナルコンピュ
ータ9を恒温槽6内に設置し、温度を50〜60℃に設
定した状態で欠陥登録をする。長期的に磁気ディスク装
置8を稼動させると、何らかの要因で磁気ディスク媒体
上に後発欠陥が発生することがある。本発明により、後
発欠陥部を予め高感度・広範囲に検出し、その箇所を登
録しておけば、後発欠陥起因によるリードエラーを効率
的に防止することができる。
Although the present invention mainly focuses on shipping inspection before shipping a magnetic disk device, it can be applied even after the magnetic disk device is mounted on a personal computer. As shown in FIG. 5, a personal computer 9 on which a magnetic disk drive 8 is mounted is placed in a thermostat 6 and a defect is registered while the temperature is set at 50 to 60 ° C. If the magnetic disk device 8 is operated for a long period of time, a late defect may occur on the magnetic disk medium for some reason. According to the present invention, a read error caused by a late defect can be efficiently prevented by detecting a late defect portion in advance with high sensitivity and in a wide range and registering the location.

【0026】以上説明したように、本発明の実施形態に
係る磁気ディスク装置は、温度動作試験用の恒温槽を用
いて、50〜60℃の範囲内の高温状態に設定すること
でヘッド浮上量が下がったことにより、通常使用温度で
は発生しなかった箇所にMRヘッド特有のサーマルアス
ペリティ(T.A.)現象が発生することでリードエラ
ーが起こる場所を予め欠陥部として登録し、前記欠陥登
録部のデータ読書きを実施しないことである。ここで、
本実施形態の欠陥登録方法による試験は、温度動作試験
に先立って行うものとするが(後であっても特に差し支
えない)、恒温槽は兼用されることとなる。そして、ヘ
ッド浮上量を下げて、高感度に磁気ディスク媒体上の欠
陥部を検索し、当該箇所を登録することにより、磁気デ
ィスク媒体表面の突起物とMR素子の接触によって発生
するT.A.が原因となるリードエラーを未然に防止で
き、磁気ディスク装置の信頼性向上が実現できる。
As described above, in the magnetic disk drive according to the embodiment of the present invention, the flying height of the head is set by setting the temperature to a high temperature within the range of 50 to 60 ° C. using the constant temperature bath for the temperature operation test. As a result, the location where a read error occurs due to the occurrence of a thermal asperity (TA) phenomenon peculiar to the MR head at a location that did not occur at a normal operating temperature is registered in advance as a defective portion, and the defect registration is performed. That is, the data read / write of the part is not performed. here,
The test according to the defect registration method of the present embodiment is performed before the temperature operation test (there is no problem even if it is performed later), but the thermostat is also used. Then, by lowering the flying height of the head, searching for a defective portion on the magnetic disk medium with high sensitivity, and registering the position, the T.C. A. Thus, a read error caused by the above can be prevented beforehand, and the reliability of the magnetic disk device can be improved.

【0027】[0027]

【発明の効果】本発明によれば、50〜60℃の範囲内
の高温状態に設定することでヘッド浮上量が下がったこ
とにより、通常使用温度では発生しなかった箇所にMR
ヘッド特有のサーマルアスペリティ(T.A.)現象が
発生することで、リードエラーが起こる場所を高感度、
広範囲に検出することが可能となり、この箇所を欠陥部
として登録することで、磁気ディスク装置の信頼性を向
上させることができる。
According to the present invention, by setting the high-temperature state within the range of 50 to 60 ° C., the flying height of the head is reduced, so that the MR at a portion which does not occur at the normal operating temperature is obtained.
When a thermal asperity (TA) phenomenon peculiar to the head occurs, a place where a read error occurs is highly sensitive,
Detection can be performed over a wide range, and by registering this portion as a defective portion, the reliability of the magnetic disk device can be improved.

【0028】また、前記高温状態に設定した恒温槽は、
磁気ディスク装置の必須温度動作試験で使用するもので
あるので、本発明の欠陥登録方法において併用、兼用で
きて効率的な欠陥検出が可能となる。
Further, the constant temperature bath set to the high temperature state includes:
Since it is used in the essential temperature operation test of the magnetic disk drive, the defect registration method of the present invention can be used in combination with the defect registration method, thus enabling efficient defect detection.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係る磁気ディスク媒体上の
欠陥部を検索・登録するための構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration for searching and registering a defective portion on a magnetic disk medium according to an embodiment of the present invention.

【図2】本実施形態に関する常温25℃と高温55℃で
のT.A.部の波形比較を示す図である。
FIG. 2 is a graph showing T.C. at normal temperature of 25.degree. C. and high temperature of 55.degree. A. FIG. 6 is a diagram showing a comparison of waveforms of parts.

【図3】本実施形態に関する温度とヘッド浮上量の関係
を示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a relationship between a temperature and a head flying height according to the embodiment;

【図4】常温25℃と高温55℃での欠陥登録の領域比
較を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a comparison of defect registration areas at a normal temperature of 25 ° C. and a high temperature of 55 ° C.

【図5】本実施形態に関する磁気ディスク装置のPC
(パソコン)へに実装後における欠陥部検索・登録方法
を示す図である。
FIG. 5 is a PC of the magnetic disk device according to the embodiment;
FIG. 9 is a diagram showing a method of searching for and registering a defective part after mounting on a (personal computer).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 MRヘッド 2 磁気ディスク媒体 3 キャリッジ 4 ドライブコントロール部 6 温度動作試験用恒温槽 7 ドライブコントローラ 8 磁気ディスク装置 9 パーソナルコンピュータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 MR head 2 Magnetic disk medium 3 Carriage 4 Drive control part 6 Constant temperature chamber for temperature operation test 7 Drive controller 8 Magnetic disk device 9 Personal computer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11B 20/18 572 G11B 20/18 572D 572F (72)発明者 牧野 潔 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内 (72)発明者 嶋本 裕志 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内 Fターム(参考) 5D044 BC01 CC04 DE64 EF05 5D091 AA10 FF02 HH20 5D112 JJ05 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme court ゛ (Reference) G11B 20/18 572 G11B 20/18 572D 572F (72) Inventor Kiyoshi Makino 2880 Kofu, Odawara City, Kanagawa Pref. Hitachi, Ltd. Storage Systems Division (72) Inventor Hiroshi Shimamoto 2880 Kozu, Odawara-shi, Kanagawa Prefecture F-term in Hitachi Storage Systems Division 5D044 BC01 CC04 DE64 EF05 5D091 AA10 FF02 HH20 5D112 JJ05

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 磁気ディスクと、前記磁気ディスクを一
定速度で回転させるスピンドルモータと、前記磁気ディ
スクの記録データの読取り素子に磁気抵抗効果型素子を
用いた磁気抵抗効果型ヘッドと、を備えた磁気ディスク
装置の磁気ディスク媒体上の欠陥登録方法において、 前記磁気ディスク装置全体を温度動作試験で使用する恒
温槽に収容し、 前記恒温槽の温度を磁気ディスク装置の通常動作温度よ
りも高い50〜60℃の範囲に設定し、 前記磁気抵抗効果型ヘッドの読み取り検査によってリー
ドエラーの発生する磁気ディスク媒体上の箇所を予め欠
陥部として登録することを特徴とする磁気ディスク媒体
上の欠陥登録方法。
A magnetic disk; a spindle motor for rotating the magnetic disk at a constant speed; and a magnetoresistive head using a magnetoresistive element as an element for reading recorded data from the magnetic disk. In the method for registering defects on a magnetic disk medium of a magnetic disk device, the entire magnetic disk device is housed in a thermostat used for a temperature operation test, and the temperature of the thermostat is higher than a normal operating temperature of the magnetic disk device by 50 to 50 ° C. A method for registering a defect on a magnetic disk medium, wherein the temperature is set within a range of 60 ° C., and a location on the magnetic disk medium where a read error occurs by reading inspection of the magnetoresistive head is registered in advance as a defective portion.
【請求項2】 請求項1に記載の磁気ディスク媒体上の
欠陥登録方法において、 前記恒温槽を用いた磁気ディスク装置の温度動作試験に
先立って、前記恒温槽を前記50〜60℃の範囲に設定
して前記読み取り検査を実施することを特徴とする磁気
ディスク媒体上の欠陥登録方法。
2. The method for registering defects on a magnetic disk medium according to claim 1, wherein, prior to a temperature operation test of a magnetic disk device using the constant temperature bath, the temperature of the constant temperature bath is set in the range of 50 to 60 ° C. A method for registering a defect on a magnetic disk medium, wherein the method performs the above-mentioned read inspection after setting.
【請求項3】 請求項1に記載の磁気ディスク媒体上の
欠陥登録方法において、 前記磁気ディスク装置全体に代えて、磁気ディスク装置
を実装したパーソナルコンピュータ全体を恒温槽に収容
することを特徴とする磁気ディスク媒体上の欠陥登録方
法。
3. The method for registering defects on a magnetic disk medium according to claim 1, wherein the entire personal computer on which the magnetic disk device is mounted is housed in a thermostat instead of the entire magnetic disk device. Defect registration method on magnetic disk media.
【請求項4】 磁気ディスクと、前記磁気ディスクを一
定速度で回転させるスピンドルモータと、前記磁気ディ
スクの記録データの読取り素子に磁気抵抗効果型素子を
用いた磁気抵抗効果型ヘッドと、を備えた磁気ディスク
装置において、 磁気ディスク装置の通常動作温度よりも高い50〜60
℃の範囲の条件の下で前記磁気抵抗効果型ヘッドの読み
取りでリードエラーの発生する磁気ディスク媒体上の箇
所を予め欠陥部として登録されることを特徴とする磁気
ディスク装置。
4. A magnetic disk, a spindle motor for rotating the magnetic disk at a constant speed, and a magnetoresistive head using a magnetoresistive element for reading data recorded on the magnetic disk. In the magnetic disk drive, 50 to 60 which is higher than the normal operating temperature of the magnetic disk drive
A magnetic disk device wherein a position on a magnetic disk medium where a read error occurs in reading of the magnetoresistive head under a condition of a temperature range of ° C. is registered in advance as a defective portion.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007328828A (en) * 2006-06-06 2007-12-20 Showa Denko Kk Inspection method for magnetic recording medium and manufacturing method incorporating inspection process for the magnetic recording medium
US7835095B2 (en) 2007-03-09 2010-11-16 Samsung Electronics Co. Ltd Apparatus and method of setting up bit error rate criterion and apparatus and method of performing burn-in test of hard disk drive

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